KR20120006812A - 광학 소자 및 이를 포함하는 노광 장치 - Google Patents

광학 소자 및 이를 포함하는 노광 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20120006812A
KR20120006812A KR1020100067472A KR20100067472A KR20120006812A KR 20120006812 A KR20120006812 A KR 20120006812A KR 1020100067472 A KR1020100067472 A KR 1020100067472A KR 20100067472 A KR20100067472 A KR 20100067472A KR 20120006812 A KR20120006812 A KR 20120006812A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
beams
doe
lens array
lenses
lens
Prior art date
Application number
KR1020100067472A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101714005B1 (ko
Inventor
최진
김병국
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020100067472A priority Critical patent/KR101714005B1/ko
Priority to US13/180,776 priority patent/US8817234B2/en
Publication of KR20120006812A publication Critical patent/KR20120006812A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101714005B1 publication Critical patent/KR101714005B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0037Arrays characterized by the distribution or form of lenses
    • G02B3/0062Stacked lens arrays, i.e. refractive surfaces arranged in at least two planes, without structurally separate optical elements in-between
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • G02B27/0905Dividing and/or superposing multiple light beams
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • G02B27/0938Using specific optical elements
    • G02B27/0944Diffractive optical elements, e.g. gratings, holograms
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/4233Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having a diffractive element [DOE] contributing to a non-imaging application
    • G02B27/425Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having a diffractive element [DOE] contributing to a non-imaging application in illumination systems
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/4272Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having plural diffractive elements positioned sequentially along the optical path
    • G02B27/4277Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having plural diffractive elements positioned sequentially along the optical path being separated by an air space
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/18Diffraction gratings
    • G02B5/1876Diffractive Fresnel lenses; Zone plates; Kinoforms
    • G02B5/188Plurality of such optical elements formed in or on a supporting substrate
    • G02B5/1885Arranged as a periodic array
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/29Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the position or the direction of light beams, i.e. deflection
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/29Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the position or the direction of light beams, i.e. deflection
    • G02F1/31Digital deflection, i.e. optical switching
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70208Multiple illumination paths, e.g. radiation distribution devices, microlens illumination systems, multiplexers or demultiplexers for single or multiple projection systems
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70275Multiple projection paths, e.g. array of projection systems, microlens projection systems or tandem projection systems
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/50Optics for phase object visualisation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0037Arrays characterized by the distribution or form of lenses
    • G02B3/0056Arrays characterized by the distribution or form of lenses arranged along two different directions in a plane, e.g. honeycomb arrangement of lenses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)

Abstract

단일 빔을 빔 다발로 변형하는 광학 소자, 및 이러한 광학 소자를 이용하는 노광 장치가 개시된다. 본 발명에 따른 광학 소자는 제 1 평면에 2차원으로 배열되고 제 1 평행 빔을 복수의 제 2 빔들로 분할하도록 집광하는 복수의 제 1 DOE 렌즈들을 포함하는 제 1 렌즈 어레이, 및 복수의 제 1 DOE 렌즈들에 각각 대응하도록 제 1 평면에 평행한 제 2 평면에 배열되고 복수의 제 2 빔들을 복수의 제 3 빔들로 각각 변형하는 복수의 제 2 DOE 렌즈들을 포함하는 제 2 렌즈 어레이를 포함한다.

Description

광학 소자 및 이를 포함하는 노광 장치{Optical device and exposure apparatus including the same}
본 발명은 단일 빔을 빔 다발로 변형하는 광학 소자, 및 이러한 광학 소자를 이용하는 노광 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 반도체 소자, 촬상 소자, 액정 표시 소자, 박막 자기 헤드 등의 디바이스의 제조에 사용될 수 있는 리소그래픽 공정을 위한 노광 장치, 및 이에 채용될 수 있는 광학 소자에 관한 것이다.
많은 빔 분할 장치(beam spitting apparatus)가 본 기술분야에 공지되어 있다. 예를 들면, 미국 등록 공보 US 4,707,696는 부분적으로 코팅된 거울들을 사용하여 단일 빔을 복수의 빔으로 변형하는 빔 분할 장치를 개시하고 있다. 그러나 이러한 빔 분할 장치는 다수의 광학 요소들을 사용하기 때문에 광학요소들의 정렬의 어려움, 구조적 복잡성의 문제, 빔 개수를 늘임에 따라 거울의 개수가 늘어나는 어려움을 가지고 있다.
따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 구조적으로 단순한 구성을 가지면서 단일 빔을 빔 다발로 변형하는 광학 소자를 제공하는 것이다.
또한, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 이러한 광학 소자를 이용하는 노광 장치를 제공하는 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 광학 소자는 제 1 평면에 2차원으로 배열되고 제 1 평행 빔을 복수의 제 2 빔들로 분할하도록 집광하는 복수의 제 1 DOE(diffractive optical element) 렌즈들을 포함하는 제 1 렌즈 어레이, 및 상기 복수의 제 1 DOE 렌즈들에 각각 대응하도록 상기 제 1 평면에 평행한 제 2 평면에 배열되고 상기 복수의 제 2 빔들을 복수의 제 3 빔들로 각각 변형하는 복수의 제 2 DOE 렌즈들을 포함한다.
상기 광학 소자의 일 예에 따르면, 상기 제 1 평면과 상기 제 2 평면 사이의 이격 거리는 상기 제 1 DOE 렌즈들의 초점거리와 상기 제 2 DOE 렌즈들의 초점거리의 합과 동일할 수 있으며, 이 때, 상기 제 3 빔들은 상기 제 2 평면에 수직한 평행 빔들일 수 있다. 또한, 상기 제 1 DOE 렌즈들의 초점거리는 상기 제 2 DOE 렌즈들의 초점거리보다 클 수 있다. 또한, 상기 제 3 빔들과 상기 제 1 평행 빔의 단위 면적당 세기의 비는 상기 제 1 DOE 렌즈와 상기 제 2 DOE 렌즈의 초점거리의 비의 제곱에 비례할 수 있다.
상기 광학 소자의 다른 예에 따르면, 상기 제 1 렌즈 어레이와 상기 제 2 렌즈 어레이 사이에 배치되는 압전 소자를 더 포함할 수 있다. 또한, 상기 압전 소자에 인가되는 전압을 조절함으로써 상기 제 1 렌즈 어레이와 상기 제 2 렌즈 어레이 간의 이격 거리를 조절하여 상기 제 3 빔들의 발산 각도가 조절되도록 할 수 있다.
상기 광학 소자의 또 다른 예에 따르면, 상기 제 1 DOE 렌즈들 또는 상기 제 2 DOE 렌즈들은 프레넬 존 플레이트(Fresnel zone plate)로 이루어지거나 키노폼 렌즈(Kinoform lens)들일 수 있으며, 공정 및 식각 공정을 포함하는 포토마스크 제조 공정에 의해 제조될 수 있다.
상기 광학 소자의 또 다른 예에 따르면, 상기 복수의 제 1 DOE 렌즈들 각각의 중심에 대응하는 위치에 개구(aperture)들이 형성되고, 상기 제 1 평면에 평행하고 상기 제 1 평면으로부터 상기 제 1 DOE 렌즈들의 초점 거리만큼 상기 제 2 평면 방향으로 이격된 제 3 평면에 배치되는 필터를 더 포함할 수 있다.
상기 광학 소자의 또 다른 예에 따르면, 편광된 빔의 위상을 액정의 구동에 따라 가변시키는 복수의 액정 셀들을 포함하는 액정 패널, 및 상기 가변된 빔의 위상에 따라 상기 빔의 세기를 조절하는 후방 편광판을 더 포함할 수 있으며, 상기 액정 패널은 상기 제 2 빔들의 광 경로 또는 상기 제 3 빔들의 광 경로 상에 배치되고, 상기 액정 셀들은 상기 제 2 빔들 또는 상기 제 3 빔들이 각각 통과하도록 배치될 수 있다. 또한, 상기 제 2 빔들 각각의 세기가 독립적으로 조절되도록, 상기 액정 셀들 각각은 독립적으로 제어될 수 있다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 노광 장치는 제 1 평행 빔을 방출하는 빔 방출부, 상기 제 1 평행 빔을 복수의 제 2 빔들로 분할하도록 집광하는 복수의 제 1 DOE 렌즈들을 포함하는 제 1 렌즈 어레이, 상기 제 1 렌즈 어레이에 의해 분할된 상기 복수의 제 2 빔들을 복수의 제 3 빔들로 각각 변형하는 복수의 제 2 DOE 렌즈들을 포함하는 제 2 렌즈 어레이, 및 상기 복수의 제 3 빔들로부터 이미지를 감광 재료 상에 결상하는 결상부를 포함한다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 다른 측면에 따른 광학 소자는 제 1 평면에 2차원으로 배열된 복수의 제 1 DOE 렌즈들을 포함하는 제 1 렌즈 어레이, 및 상기 복수의 제 1 DOE 렌즈들에 각각 대응하도록 상기 제 1 평면에 평행한 제 2 평면에 배열된 복수의 제 2 DOE 렌즈들을 포함하는 제 2 렌즈 어레이를 포함한다. 여기서, 상기 제 1 렌즈 어레이에 수직으로 입사하는 제 1 평행 빔은 상기 제 1 렌즈 어레이를 통과하면서 상기 복수의 제 1 DOE 렌즈들의 개수로 분할되고 집광됨으로써 제 2 빔들로 변형되고, 상기 제 2 빔들은 상기 제 2 렌즈 어레이를 통과하면서 상기 개수의 제 3 빔들로 이루어진 빔 다발로 변형된다.
본 발명의 광학 소자는 포토마스크 제조 기법을 활용하여 정밀하게 제조될 수 있는 DOE(Diffractive Optical Element, 회절 광학 소자) 렌즈들, 및 이러한 DOE 렌즈들을 포함하는 렌즈 어레이를 이용함으로써, 오직 2개의 플레이트(plate)만으로 단일 빔을 복수의 빔들로 이루어진 빔 다발로 변형할 수 있다. 따라서 본 발명의 광학 소자는 구조적으로 단순하며 정렬의 어려움을 제거할 수 있을 뿐만 아니라, 구조적 단순함으로 인하여 빔의 품질을 개선할 수 있다. 또한, 빔 다발의 개수의 조절도 렌즈 어레이의 DOE 렌즈들의 개수를 조절함으로써 쉽게 달성할 수 있을 뿐만 아니라, 압전 소자를 이용함으로써 손 쉬운 광학 정렬을 달성할 수도 있다. 또한, 필요에 따라, 렌즈 어레이의 DOE 렌즈들의 크기(또는 직경) 및 초점거리를 조절함으로써 빔 다발의 굵기나 빔 다발의 세기를 조절하는 것도 쉽게 달성할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 소자의 개념도이다.
도 2 및 도 3은 도 1에 도시된 제 1 렌즈 어레이 및 제 2 렌즈 어레이의 일 예들을 도시한다.
도 4a 및 도 4b는 도 2에 도시된 제 1 DOE 렌즈들의 일 예를 도시한다.
도 5a 및 도 5b는 도 3에 도시된 제 2 DOE 렌즈들의 일 예를 도시한다.
도 6은 도 2 및 도 3에 각각 도시되는 제 1 DOE 렌즈와 제 2 DOE 렌즈의 광학적 관계를 나타내기 위한 개념도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 광학 소자를 도시한다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 광학 소자를 도시한다.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 광학 소자를 도시한다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 노광 장치를 개념적으로 도시한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
본 발명의 실시예들은 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이며, 하기 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다. 오히려, 이들 실시예는 본 개시를 더욱 충실하고 완전하게 하고, 당업자에게 본 발명의 사상을 완전하게 전달하기 위하여 제공되는 것이다.
도면에서 각 층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장된 것이며, 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다. 또한, 아래의 설명에서 어떤 요소가 다른 요소의 위에 존재한다고 기술될 때, 이는 다른 요소의 바로 위에 존재할 수도 있고, 그 사이에 제3의 요소가 개재될 수도 있다.
본 명세서에서 사용된 용어는 특정 실시예를 설명하기 위하여 사용되며, 본 발명을 제한하기 위한 것이 아니다. 본 명세서에서 사용된 바와 같이, 단수 형태는 문맥상 다른 경우를 분명히 지적하는 것이 아니라면, 복수의 형태를 포함할 수 있다. 또한, 본 명세서에서 사용되는 경우 "포함한다(comprise)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급한 형상들, 숫자, 단계, 동작, 부재, 요소 및/또는 이들 그룹의 존재를 특정하는 것이며, 하나 이상의 다른 형상, 숫자, 동작, 부재, 요소 및/또는 그룹들의 존재 또는 부가를 배제하는 것이 아니다. 본 명세서에서 사용되는 용어 "및/또는"은 해당 열거된 항목 중 어느 하나 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.
본 명세서에서 제 1, 제 2 등의 용어가 다양한 요소, 부재, 부품, 영역, 층들 및/또는 부분들을 설명하기 위하여 사용되지만, 이들 요소, 부재, 부품, 영역, 층들 및/또는 부분들은 이들 용어에 의해 한정되어서는 안됨은 자명하다. 이들 용어는 하나의 요소, 부재, 부품, 영역, 층 또는 부분을 다른 요소, 영역, 층 또는 부분과 구별하기 위하여만 사용된다. 따라서, 이하 상술할 제 1 요소, 부재, 부품, 영역, 층 또는 부분은 본 발명의 가르침으로부터 벗어나지 않고서도 제 2 요소, 부재, 부품, 영역, 층 또는 부분을 지칭할 수 있다.
이하, 본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들을 개략적으로 도시하는 도면들을 참조하여 설명한다. 도면들에 있어서, 예를 들면, 제조 기술 및/또는 공차(tolerance)에 따라, 도시된 형상의 변형들이 예상될 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예는 본 명세서에 도시된 영역의 특정 형상에 제한된 것으로 해석되어서는 아니 되며, 예를 들면 제조상 초래되는 형상의 변화를 포함하여야 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 소자의 개념도이다.
도 1을 참조하면, 광학 소자(100)는 서로 평행하게 배치되는 제 1 렌즈 어레이(10) 및 제 2 렌즈 어레이(20)를 포함한다.
제 1 렌즈 어레이(10)는 제 1 투명 플레이트(12)의 제 1 면에 형성될 수 있다. 제 1 렌즈 어레이(10)는 2차원으로 배열된 복수의 제 1 DOE(diffractive optical element, 회절 광학 소자) 렌즈들을 포함할 수 있다. 제 1 DOE 렌즈들(16, 도 2 참조)은 제 1 투명 플레이트(12)를 통해 입사되는 제 1 평행 빔(90)을 복수의 제 2 빔들(92)로 분할하기 위한 집광 렌즈일 수 있다. 평행 광이 집광 렌즈에 입사하는 경우, 집광 렌즈의 초점으로 응집된다. 따라서 도 1의 좌측에서 우측으로 진행하는 제 1 평행 빔(90)은 제 1 렌즈 어레이(10)을 통과하면서 제 1 DOE 렌즈들(16)의 개수로 분할되며 제 1 DOE 렌즈들(16)의 초점들을 향하여 진행한다. 용이한 설명과 이해에 도움을 주기 위하여 제 1 DOE 렌즈들(16)을 통과하여 제 1 DOE 렌즈들(16)의 초점을 향하여 응집하고 있는 빔을 제 2 빔(92)로 지칭한다. 제 2 빔(92)은 제 1 DOE 렌즈들(16)의 초점을 지나면 발산하게 될 것이다.
제 1 투명 플레이트(12)는 제 1 평행 빔(90)이 투과할 수 있는 투명 물질로 이루어질 수 있다. 예컨대, 제 1 투명 플레이트(12)는 석영 기판, 유리 기판, 또는 투명 플라스틱 기판일 수 있다.
제 1 투명 플레이트(12)의 제 1 면의 반대 면인 제 2 면에는 반사 방지막(14)이 형성될 수 있다. 반사 방지막(14)은 제 1 평행 빔(90)이 입사할 때 반사를 최소화하고 투과를 증가시키기 위한 것으로서, 제 1 평행 빔(90)이 반사에 의해 손실됨으로써 광 세기가 감소하는 것을 방지할 수 있다. 반사 방지막(14)은 크롬, 탄탈륨, 루세늄, 플래티늄 등과 같은 전이금속을 주성분으로 가질 수 있으며, 여기에 질소, 산소, 탄소 및 불소 중에서 선택된 1종 이상을 더 포함할 수 있다.
제 2 렌즈 어레이(20)는 제 2 투명 플레이트(14)의 제 1 면에 형성될 수 있다. 제 2 렌즈 어레이(20)는 제 1 DOE 렌즈들(16)에 대응하도록 배열된 제 2 DOE 렌즈들(26, 도 3 참조)을 포함할 수 있다. 제 2 렌즈 어레이(20)는 제 1 렌즈 어레이(10)와 평행하게 배치되며, 제 2 DOE 렌즈들(26)은 제 1 DOE 렌즈들(16)과 일대일로 대응하도록 배치된다. 제 2 DOE 렌즈들(26)은 제 1 DOE 렌즈들(16)의 초점을 통과하여 발산하는 제 2 빔들(92)을 제 3 빔들(94)로 변형하기 위한 집광 렌즈일 수 있다. 여기서 제 3 빔들(94)은 제 2 렌즈 어레이(20)를 통과한 빔들을 지칭한다. 광원이 집광 렌즈의 초점에 위치하는 경우, 상기 광원으로부터 방출되어 상기 집광 렌즈를 통과한 광은 상기 집광 렌즈에 수직한 방향으로 평행하게 진행한다. 따라서, 만약 제 1 DOE 렌즈들(16)의 초점과 제 2 DOE 렌즈들(26)의 초점이 일치하는 경우, 제 2 빔(92)은 제 2 DOE 렌즈들(26)을 통과하면서 제 2 렌즈 어레이(20)에 수직한 평행 빔으로 변형되며, 이러한 평행 빔은 도 1의 제 3 빔(94)으로 표시될 수 있다. 즉, 제 1 DOE 렌즈들(16)의 초점 거리와 제 2 DOE 렌즈들(26)의 초점 거리의 합만큼 제 1 렌즈 어레이(10)와 제 2 렌즈 어레이(20)가 이격된 경우, 제 2 렌즈 어레이(20)를 통과하여 방출되는 제 3 빔(94)은 평행 빔일 수 있다. 그러나, 뒤에서 자세히 설명되겠지만, 제 1 렌즈 어레이(10)와 제 2 렌즈 어레이(20)의 이격 거리가 제 1 DOE 렌즈들(16)의 초점 거리와 제 2 DOE 렌즈들(26)의 초점 거리의 합보다 작거나 큰 경우, 제 3 빔들(94)은 제 2 DOE 렌즈들(26)의 축을 향하여 응집하거나 상기 축으로부터 발산할 수 있다.
제 2 투명 플레이트(22)는 제 1 투명 플레이트(12)와 같이 제 3 빔들(94)이 투과할 수 있는 투명 물질, 예컨대, 석영, 유리, 투명 플라스틱으로 이루어질 수 있다. 또한, 제 2 투명 플레이트(22)의 제 2 면에도 제 1 투명 플레이트(12)와 마찬가지로 반사 방지막(24)이 형성될 수 있다. 반사 방지막(24)은 제 2 투명 플레이트(22)로부터 제 3 빔들(94)이 방출되는 면에 배치되며, 제 2 투명 플레이트(22)와 대기 사이의 계면에서 발생할 수 있는 반사를 최소화시킬 수 있다. 반사 방지막(24)은 반사 방지막(14)와 실질적으로 동일한 재료와 방법으로 형성될 수 있다.
광학 소자(100)는 제 1 렌즈 어레이(10)와 제 2 렌즈 어레이(20) 사이에 배치되는 압전 소자(30)를 더 포함할 수 있다. 압전 소자(30)는 압전기 현상을 나타내는 소자로서, 결정체에 일정한 방향에서 압력을 가하면 판의 양면에 외력에 비례하는 양 또는 음의 전하가 나타나는 소자이다. 또한, 반대로, 압전 소자(30)에 일정한 방향으로 전압을 가하게 되면 압전 소자(30)의 결정체가 변형을 일으켜 크기가 변할 수 있다. 압전 소자(30)에 인가되는 전압에 따라서, 제 1 렌즈 어레이(10)와 제 2 렌즈 어레이(20) 사이의 이격 거리가 조절될 수 있다. 상기 이격 거리가 조절됨에 따라, 상술한 바와 같이 제 3 빔들(94)이 응집 또는 발산하는 각도가 조절될 수 있다. 예컨대, 온도나 습도와 같은 주변 환경의 변화에 따라 제 1 렌즈 어레이(10)와 제 2 렌즈 어레이(20) 사이의 이격 거리는 달라질 수 있지만, 압전 소자(30)를 제 1 렌즈 어레이(10)와 제 2 렌즈 어레이(20) 사이에 배치함으로써 상기 이격 거리를 쉽게 조절할 수 있다. 뿐만 아니라, 필요에 따라 제 3 빔들(94)이 응집 빔 또는 발산 빔이 되도록 조절할 수도 있다.
제 1 평행 빔(90), 제 2 빔들(92) 및 제 3 빔들(94)은 세기가 강하고 멀리까지 퍼지지 않고 전달되는 광을 지칭한다. 예컨대, 제 1 평행 빔(90), 제 2 빔들(92) 및 제 3 빔들(94)은 레이저 빔일 수 있다. 제 1 평행 빔(90), 제 2 빔들(92) 및 제 3 빔들(94)은 모두 도 1에서 좌측으로부터 우측으로 진행하는 빔들이다. 제 1 평행 빔(90)은 동일한 파장을 갖는 광일 수 있으며, 편광된 광일 수도 있다.
도 2 및 도 3은 도 1에 도시된 제 1 렌즈 어레이(10) 및 제 2 렌즈 어레이(20)의 일 예를 도시한다. 도 2 및 도 3에 도시된 제 1 DOE 렌즈들(16) 및 제 2 DOE 렌즈들(26)은 프레넬 존 플레이트 렌즈(Fresnel zone plate lens)인 것으로 도시되어 있지만, 이는 오로지 예시적이며, 본 발명이 이러한 예로 한정되는 것은 아니다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 제 1 렌즈 어레이(10)는 8x8로 배열된 제 1 DOE 렌즈들(16)을 포함한다. 또한, 제 2 렌즈 어레이(20)는 제 1 렌즈 어레이(10)에 대응하여 8x8로 배열된 제 2 DOE 렌즈들(26)을 포함한다. 제 2 DOE 렌즈들(26) 간의 피치는 제 1 DOE 렌즈들(16) 간의 피치와 동일하다. 또한, 제 2 DOE 렌즈들(26)의 배열은 제 1 DOE 렌즈들(16)의 배열과 동일하다. 따라서, 제 2 DOE 렌즈들(26)의 중심들은 제 1 DOE 렌즈들(16)의 중심들과 정확히 일치할 수 있다.
다만, 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 제 1 DOE 렌즈들(16)의 크기가 제 2 DOE 렌즈들(26)의 크기보다 클 수 있다. 또한, 제 2 DOE 렌즈들(26)의 내부 링들은 제 1 DOE 렌즈들(16)의 내부 링들보다 조밀할 수 있으며, 그에 따라 제 2 DOE 렌즈들(26)의 초점거리는 제 1 DOE 렌즈들(16)의 초점거리보다 짧을 수 있다. 이 경우, 제 1 DOE 렌즈들(16)에 입사하는 평행 빔의 단위 면적당 세기에 대한 제 2 DOE 렌즈들(26)을 통과하여 방출되는 평행 빔의 단위 면적당 세기의 비는, 제 2 DOE 렌즈들(26)의 초점거리에 대한 제 1 DOE 렌즈들(16)의 초점거리의 비의 제곱에 비례할 수 있다. 따라서, 광학 소자(100)를 통해 생성되는 복수의 빔들이 특정 세기를 갖는 것이 요구되는 경우, 제 1 DOE 렌즈들(16)의 초점거리 및 제 2 DOE 렌즈들(26)의 초점거리를 조절하여 광학 소자(100)의 설계에 반영함으로써, 원하는 세기의 빔들이 생성되게 할 수 있다.
단일 평행 빔이 도 2 및 도 3에 각각 도시된 제 1 렌즈 어레이(10) 및 제 2 렌즈 어레이(20)를 통과하는 경우 64개의 빔이 형성될 것이며, 제 1 렌즈 어레이(10)와 제 2 렌즈 어레이(20)의 이격 간격이 적절히 조절함으로써, 64개의 평행 빔이 형성될 수 있을 것이다. 이러한 과정은 상술한 바와 같이 단순한 구조로도 가능하며 광학 요소들 간의 정렬도 상대적으로 용이하다.
도 4a 및 도 4b는 도 2에 도시된 제 1 DOE 렌즈들(16)의 일 예를 도시한다. 도 4a는 제 1 DOE 렌즈(16)를 바라본 평면도이며, 도 4b는 제 1 DOE 렌즈(16)의 중심을 따라 절취한 제 1 DOE 렌즈(16)의 측단면을 도시한다. 도 4a 및 도 4b에 도시된 제 1 DOE 렌즈들(16)은 프레넬 존 플레이트 렌즈(Fresnel zone plate lens)이다.
프레넬 존 플레이트 렌즈는 광의 굴절이 아닌 광의 회절을 이용하여 광을 포커싱(focus)할 수 있다. 도 4a에 도시된 바와 같이, 제 1 DOE 렌즈(16)는 방사상으로 대칭적인 링들로 이루어질 수 있으며, 상기 링들은 동일한 중심을 갖는다. 제 1 DOE 렌즈(16)의 중심 원 부분이 투명인 것으로 도시되어 있지만, 상기 중심 원 부분이 불투명이고, 불투명한 링 부분과 투명한 링 부분이 서로 바뀌어 배치될 수도 있다.
도 4a에 도시된 제 1 DOE 렌즈(16)의 링들은 다음과 같은 반지름을 갖는다.
Figure pat00001
여기서, rn은 링들의 반지름을 의미하는데, 도 4a에 도시된 바와 같이, r1은 첫번째 링의 내부 반지름을 의미하며, r2는 첫번째 링의 외부 반지름을 의미한다. 이러한 방식으로 rn은 n이 짝수인 경우, n/2 번째 링의 외부 반지름을 의미하며, n이 홀수인 경우, (n+1)/2번째 링의 내부 반지름을 의미한다. 또한, λ는 제 1 DOE 렌즈(16)에 입사하는 빔의 파장을 의미하며, f는 제 1 DOE 렌즈(16)의 초점 거리를 의미한다.
따라서, 광학 소자(100)에 사용되는 빔의 파장과 제 1 DOE 렌즈(16)의 초점 거리에 따라서, 제 1 DOE 렌즈(16)의 링들의 반지름을 계산할 수 있다. 즉, 필요에 따라, 사용될 빔의 파장과 필요한 초점거리가 정해진다면, 이에 적합한 제 1 DOE 렌즈(16)를 용이하게 설계할 수 있다.
도 4b를 참조하면, 제 1 투명 플레이트(12) 상에 불투명 물질로 이루어진 링들의 패턴이 형성될 수 있다. 이를 위해, 제 1 투명 플레이트(12) 상에 상기 불투명 물질을 형성할 수 있다. 불투명 물질은 금속이나 수지와 같은 물질일 수 있으며, 포토마스크에 주로 사용되는 크롬일 수 있다. 그 후, 포토리소그래픽 공정 및 식각 공정을 이용하여 불투명 물질층을 원하는 반지름을 갖는 링들의 패턴으로 패터닝할 수 있다. 그 결과, 도 4b에 도시된 바와 같은 제 1 DOE 렌즈(16)가 형성될 수 있다. 제 1 DOE 렌즈(16)는 상술된 반도체 제조 공정을 이용하여 정밀하게 제조될 수 있다. 뿐만 아니라, 반도체 제조 공정을 이용하는 경우, 수십 나노미터의 선폭으로 패터닝할 수 있으므로, 제 1 DOE 렌즈(16)의 직경을 줄일 수 있을 뿐만 아니라, 원하는 초점 거리를 갖도록 설계할 수 있다. 뿐만 아니라, 제 1 DOE 렌즈(16)는 일반 광학 렌즈가 아니기 때문에 판형으로 제조될 수 있다. 따라서 광학 소자(100)의 전체 크기를 줄일 수 있다. 또한, 제 1 DOE 렌즈(16)가 프레넬 존 플레이트 렌즈이기 때문에, 비구면을 적용할 수 있으며, 색수차, 구면수차, 비점수차, 코마수차, 왜곡수차, 화상만곡과 같은 다양한 수차들의 문제로부터 자유로울 수 있다.
도 4a 및 도 4b에서는 제 1 DOE 렌즈(16)가 프레넬 존 플레이트 렌즈인 것으로 도시하였지만, 제 2 DOE 렌즈(26)도 프레넬 존 플레이트 렌즈일 수 있다는 것에 주의하여야 한다.
도 5a 및 도 5b는 도 3에 도시된 제 2 DOE 렌즈들(26)의 일 예를 도시한다. 도 5a는 제 2 DOE 렌즈(26)를 바라본 평면도이며, 도 5b는 제 2 DOE 렌즈(26)의 중심을 따라 절취한 제 2 DOE 렌즈(26)의 측단면을 도시한다. 도 5a 및 도 5b에 도시된 제 2 DOE 렌즈들(26)은 키노폼 렌즈(Kinoform lens)이다.
도 5a 및 도 5b를 참조하면, 제 2 DOE 렌즈(26)는 각각의 영역(R1 내지 R6)마다 단차가 있는 표면을 갖는다. 또한 영역들(R1 내지 R6)은 제 1 영역(R1)으로부터 제 6 영역(R6)으로 갈수록 폭이 줄어들게 되며, 그에 따라 표면의 기울기도 급해진다. 이러한 제 2 DOE 렌즈(26)도 집광 렌즈로 기능할 수 있다. 제 2 DOE 렌즈(26)의 초점을 지나 제 2 DOE 렌즈(26)에 입사한 광은 제 2 DOE 렌즈(26)의 평면에 수직한 방향으로 제 2 DOE 렌즈(26)의 축에 평행하게 진행한다. 또한, 제 2 DOE 렌즈(26)에 수직으로 입사한 광은 제 2 DOE 렌즈(26)의 초점으로 진행한다.
도 5a 및 도 5b에 도시된 제 2 DOE 렌즈(26)는 반도체 제조 공정을 이용하여 제조될 수 있다. 예컨대, 제 2 투명 플레이트(22) 상에 투명 물질을 적층한 후, 포토리소그래픽 공정 및 식각 공정을 반복적으로 수행함으로써 도 5b에 도시된 연속적인 표면을 양자화한 것과 같은 불연속적인 표면을 형성할 수 있다. 그 후, 상기 불연속적인 표면을 등방성 식각하여 연속적인 표면으로 바꿈으로써 도 5a 및 도 5b에 도시된 키노폼 렌즈를 제조할 수 있다. 상술한 바와 같이 반도체 공정을 이용하여 키노폼 렌즈를 제조함으로써 정밀한 DOE 렌즈를 제조할 수 있을 뿐만 아니라, 일반 광학 렌즈, 예컨대 볼록 렌즈에 비해 얇은 두께로 제조할 수 있다. 뿐만 아니라, 빛의 굴절성이 아닌 빛의 회절성을 이용함으로써, 비구면 수차나 색 수차와 같은 수차들의 문제도 해결될 수 있다.
도 5a 및 도 5b에서는 제 2 DOE 렌즈(26)가 키노폼 렌즈인 것으로 도시하였지만, 제 1 DOE 렌즈(16)도 역시 키노폼 렌즈일 수 있다는 것에 주의하여야 한다.
도 6은 도 2 및 도 3에 각각 도시되는 제 1 DOE 렌즈(16)와 제 2 DOE 렌즈(26)의 광학적 관계를 나타내기 위한 개념도이다. 도 6에서 제 1 DOE 렌즈(16') 및 제 2 DOE 렌즈(26')가 마치 일반 광학 렌즈, 즉, 볼록 렌즈인 것처럼 도시되어 있지만, 이는 용이한 이해를 위한 기호(symbol)의 의미를 가질 뿐이며, 실제로는 볼록 렌즈가 아니라는 점에 주의하여야 한다.
도 6을 참조하면, 제 1 DOE 렌즈(16')와 제 2 DOE 렌즈(26')는 서로 d의 거리만큼 이격되어 있다. 제 1 DOE 렌즈(16')의 초점거리는 f1이며, 제 2 DOE 렌즈(26')의 초점거리는 f2이다. 만약 d가 f1과 f2의 합과 같다면, 도 6에 도시된 바와 같이, 제 1 DOE 렌즈(16')에 입사한 제 1 평행 빔(90)은 제 1 DOE 렌즈(16')와 제 2 DOE 렌즈(26') 모두의 초점(F)을 지나는 제 2 빔(92)로 변형되며, 제 2 빔(92)은 제 2 DOE 렌즈(26')을 통과하면서 제 2 DOE 렌즈(26') 면에 수직한 제 3 평행 빔(94)로 변형될 것이다.
그러나, 만약 d가 f1과 f2의 합보다 작다면, 제 2 DOE 렌즈(26')의 초점은 제 1 DOE 렌즈(16')의 초점(F)보다 좌측에 위치할 것이며, 초점(F)을 지나는 제 2 빔(92)은 제 2 DOE 렌즈(26')의 초점을 지나는 빛보다 큰 입사각으로 제 2 DOE 렌즈(26')에 입사할 것이다. 그에 따라, 제 3 빔(94)은 제 2 DOE 렌즈(26')의 축으로부터 발산할 것이다. 또한, 이격 거리(d)가 점점 작아지는 경우, 제 3 빔(94)은 상기 축에 대해 더 큰 각으로 발산하게 될 것이다.
반대로, 만약 d가 f1과 f2의 합보다 크다면, 제 2 DOE 렌즈(26')의 초점은 제 1 DOE 렌즈(16')의 초점(F)보다 우측에 위치할 것이며, 초점(F)을 지나는 제 2 빔(92)은 제 2 DOE 렌즈(26')의 초점을 지나는 빛보다 작은 입사각으로 제 2 DOE 렌즈(26')에 입사할 것이다. 그에 따라, 제 3 빔(94)은 제 2 DOE 렌즈(26')의 축을 향하여 응집할 것이다. 또한, 이격 거리(d)가 점점 커지는 경우, 제 3 빔(94)은 상기 축에 대해 더 큰 각으로 응집하게 될 것이다.
도 1을 참조로 상술한 바와 같이, 이격 거리(d)는 도 1의 압전 소자(30)를 이용하여 조절될 수 있기 때문에, 광학 소자(100)로부터 방출되는 제 3 빔(94)의 발산 각도는 쉽게 조절될 수 있다. 본 명세서에서 발산 각도는 제 3 빔(94)이 평행 빔이 아닌 경우, 즉, 제 2 DOE 렌즈(26')의 축을 향하여 응집하거나 상기 축으로부터 발산하는 경우 모두에 대하여, 상기 축과의 각도를 의미한다. 따라서, 발산 각도가 양인 경우에는 제 3 빔(94)이 발산 빔이라는 것을 의미하며, 발산 각도가 음인 경우에는 제 3 빔(94)이 응집 빔이라는 것을 의미한다.
또한, 초점(F)을 기준으로 제 1 DOE 렌즈(16')에 의해 한정되는 좌측 원뿔과 초점(F)을 기준으로 제 2 DOE 렌즈(26')에 의해 한정되는 우측 원뿔은 서로 대칭이며, 그 비율은 제 1 DOE 렌즈(16')의 초점거리(f1)와 제 2 DOE 렌즈(26')의 초점 거리(f2)의 비율과 관련된다. 따라서, 제 1 평행 빔(90)의 직경이 d1인 경우, 제 3 평행 빔(94)의 직경은 d1*(f2/f1)으로 결정된다. 또한, 광학적으로 제 1 평행 빔(90)의 에너지는 제 1 및 제 2 DOE 렌즈(16', 26')을 거쳐서 제 3 빔(94)의 에너지로 변환된다. 따라서, 제 1 평행 빔(90)의 단위 면적당 세기에 대한 제 3 평행 빔(94)의 단위 면적당 세기의 비는 (f1/f2)2으로 결정된다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 광학 소자를 도시한다. 도 7의 광학소자(200)는 도 1의 광학 소자(100)와 대부분 실질적으로 동일하며, 오직 제 1 렌즈 어레이(10a) 및 제 2 렌즈 어레이(20a) 부분만 상이하다. 동일한 구성요소에 대한 설명은 생략한다.
도 7을 참조하면, 제 1 렌즈 어레이(10a)와 제 2 렌즈 어레이(20a)는 도 1의 제 1 렌즈 어레이(10)와 제 2 렌즈 어레이(20)과 비교할 때, 일부분, 예컨대, 도 7에서는 중앙 부분에 다른 DOE 렌즈들과는 다른 크기를 갖는 DOE 렌즈들이 배치되어 있다. 그러나, 상기 다른 크기를 갖는 DOE 렌즈들도 상기 다른 DOE 렌즈들과 동일한 초점거리를 가질 수 있다.
도 7에 도시된 바와 같이, 일부의 DOE 렌즈들이 다른 크기를 가질 수 있으며, 그에 따라 제 2 렌즈 어레이(20a)를 통해 방출되는 제 3 빔들(94)도 다른 직경을 가질 수 있다. 즉, 제 1 렌즈 어레이(10a)의 DOE 렌즈들의 초점거리가 모두 동일하고, 제 2 렌즈 어레이(20a)의 DOE 렌즈들의 초점거리가 모두 동일한 경우, 제 3 빔들(94)의 직경은 상기 제 3 빔들(94) 각각이 통과한 DOE 렌즈들의 크기에 의해 한정된다. 또한, 상술한 바와 같이, DOE 렌즈들의 크기는 이를 통과할 빔의 파장과 상기 DOE 렌즈들의 초점 거리와 무관하므로, DOE 렌즈들의 크기를 쉽게 변화시킬 수 있다. 그에 따라, 다양한 산업분야의 다양한 요구에 적극적으로 대응할 수 있는 광학 소자(200)가 제조될 수 있다.
그러나, 상술한 바와 같이, 제 3 빔들(94)의 직경이 변화되더라도 이들의 단위 면적당 세기는 초점 거리들의 비율에 의해 결정되므로, 초점 거리들을 유지하는 한 상기 단위 면적당 세기는 변화될 수 없다.
제 3 빔들(94)의 단위 면적당 세기를 변화시키기는 것은 제 1 렌즈 어레이(10)의 DOE 렌즈들과 제 2 렌즈 어레이(20)의 DOE 렌즈들의 초점 거리의 합을 동일하게 유지하도록 설계함으로써 달성될 수 있다. 즉, 제 1 렌즈 어레이(10a)의 일부 DOE 렌즈들의 초점거리가 d1이고, 이에 대응하는 제 2 렌즈 어레이(20a)의 일부 DOE 렌즈들의 초점거리가 d2인 경우, 상기 일부 DOE 렌즈들을 통과한 제 3 빔들(94)의 단위 면적당 세기는 제 1 빔(90)의 단위 면적당 세기에 (d1/d2)2을 곱한 크기일 것이다. 그러나, 제 1 렌즈 어레이(10a)의 다른 DOE 렌즈들의 초점거리가 (d1+a)이고, 이에 대응하는 제 2 렌즈 어레이(20a)의 다른 DOE 렌즈들의 초점거리가 (d2-a)인 경우, 초점거리들의 합은 모두 d1+d2로 동일하지만, 상기 다른 DOE 렌즈들을 통과한 제 3 빔들(94)의 단위 면적당 세기는 제 1 빔(90)의 단위 면적당 세기에 ((d1+a)/(d2-a))2을 곱한 크기일 것이다. 이러한 방식으로 제 3 빔들(94)의 단위 면적당 세기를 용이하게 조절할 수 있다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 광학 소자를 도시한다. 도 8의 광학 소자(300)는 도 1의 광학 소자(100)와 대부분 실질적으로 동일하며, 오직 필터(40)를 더 포함한다는 점이 다르다. 동일한 구성요소에 대한 설명은 생략한다. 발명 사상의 용이한 이해를 위하여, 반복되는 부분은 생략하여 도시하였음에 주의하여야 한다.
도 8을 참조하면, 광학 소자(300)는 필터(40)를 더 포함한다. 필터(40)에는 제 1 렌즈 어레이(10) 및 제 2 렌즈 어레이(20)의 DOE 렌즈들의 중심에 각각 대응하는 개구들(42)이 형성된다. 필터(40)는 제 1 렌즈 어레이(10)로부터 제 2 렌즈 어레이(20)를 향하여 대략 제 1 렌즈 어레이(10)의 DOE 렌즈들의 초점거리만큼 이격되어 있다. 따라서 제 1 렌즈 어레이(10)의 DOE 렌즈들의 초점은 필터(40)의 개구들(42) 내에 형성될 수 있다. 제 1 렌즈 어레이(10)로부터 방출된 제 2 빔들(92)은 이론적으로 모두 제 1 렌즈 어레이(10)의 DOE 렌즈들의 초점을 통과하여야 하지만, 실제적으로 존재하는 오차들로 인하여 초점을 통과하지 않는 경우가 존재한다. 필터(40)는 제 2 빔들(92)이 개구들(42)을 통과하도록 배치됨으로써, 상기 초점을 통과하지 않는 제 2 빔들(92)을 차단할 수 있다. 이를 통해 제 2 렌즈 어레이(20)를 통과한 제 3 빔들(94, 도 1 참조)의 품질은 향상될 수 있다.
특히, 제 1 렌즈 어레이(10) 및 제 2 렌즈 어레이(20)의 DOE 렌즈들이 프레넬 존 플레이트 렌즈들인 경우, 프레넬 존 플레이트 렌즈들이 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이 투명 영역과 불투명 영역으로 이진적으로 구분되는 경우, 계획했던 초점(f)보다 앞쪽에서, 예컨대, f/3, f/5, f/7 등에서 고조파들의 초점이 형성하게 된다. 이 경우에도, 고조파들을 필터(40)로 차단함으로써 높은 품질의 빔을 획득할 수 있다.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 광학 소자를 도시한다. 도 9의 광학 소자(400)는 도 1의 광학 소자(100)와 대부분 실질적으로 동일하며, 오직 광량 조절부(50)를 더 포함한다는 점이 다르다. 동일한 구성요소에 대한 설명은 생략한다. 발명 사상의 용이한 이해를 위하여, 반복되는 부분은 생략하여 도시하였음에 주의하여야 한다.
도 9를 참조하면, 광학 소자(400)는 광량 조절부(50)를 더 포함한다. 광량 조절부(50)는 제 2 빔들(92)의 광 경로 상에 수직하게 배치될 수 있다. 그러나 이러한 배치로 한정되지 않으며, 제 2 렌즈 어레이(22)의 후단, 즉, 도 1의 제 3 빔들(94)의 광 경로 상에 수직하게 배치될 수 있다.
광량 조절부(50)는 액정 패널(52)을 포함한다. 액정 패널(52)은 제 1 렌즈 어레이(10) 및 제 2 렌즈 어레이(20)의 DOE 렌즈들에 대응하도록 배치되는 복수의 액정 셀들(54)을 포함한다. 각각의 액정 셀들(54)은 각각의 제 2 빔들(92)의 광 경로 상에 배치되어, 제 2 빔들(92)은 각각 대응하는 액정 셀들(54)을 통과하도록 배치된다.
액정 셀들(54)은 액정의 구동에 따라 액정 셀들(54)에 입사한 제 2 빔들(92)의 위상을 가변시킬 수 있다. 상기 액정은 전압이 인가되지 않은 상태에서 빔들의 위상을 0도만큼 회전시키고 전압이 인가됨에 따라 90도만큼 회전시킬 수 있다. 또한, 반대로 상기 액정은 전압이 인가되지 않은 상태에서 빔들의 위상을 90도만큼 회전시키고, 전압이 인가됨에 따라 위상이 변하는 정도가 감소될 수도 있다. 어떠한 액정도 본 발명의 사상을 한정하지 않으며, 본 발명의 사상을 용이하게 이해할 수 있도록 액정 셀들(54)의 액정은 전압이 인가되지 않은 상태에서 위상을 변화시키지 않고 전압이 인가됨에 따라 위상이 변하는 정도가 증가하는 것으로 가정하여 설명한다.
광량 조절부(50)는 액정 패널(52)의 후단에 후방 편광판(58)을 더 포함할 수 있다. 후방 편광판(58)은 액정 셀들(54)을 통과한 빔들의 변화된 위상에 따라 빔의 세기를 조절할 수 있다.
광량 조절부(50)는 액정 패널(52)의 전단에 전방 편광판(56)을 더 포함할 수 있다. 전방 편광판(56)은 입사되는 빔을 제 1 방향으로 편광시킬 수 있다. 그러나, 제 1 렌즈 어레이(10)를 통과한 제 2 빔들(92)은 특정 방향의 위상으로 편광되어 있을 수 있으며, 이 경우, 전방 편광판(56)은 상기 특정 방향과 동일한 방향으로 편광시키는 것이어야 한다. 또한, 이러한 경우, 전방 편광판(56)는 제거될 수 있다.
전방 편광판(56)을 통과한 제 2 빔들(54)은 제 1 방향으로 편광될 수 있다. 제 1 방향으로 편광된 제 2 빔들(54)은 각각 대응하는 액정 셀들(54)을 통과하면서 각각 독립적으로 위상이 변할 수 있다. 후방 편광판(58)은 제 1 방향에 수직한 제 2 방향으로 편광시킬 수 있으며, 액정 셀들(54)에서 위상이 변한 제 2 빔들(54)은 제 2 방향 성분만이 통과할 수 있다. 즉, 액정 셀들(54)에서 θ만큼 위상이 변한 경우, 후방 편광판(58)을 통과하면서 sin(θ)를 곱한 양으로 광량이 줄어들게 된다.
액정 패널(52)과 전방 편광판(56) 사이에, 그리고 액정 패널(52)과 후방 편광판(58) 사이에 애노드 전극과 캐소드 전극이 배치될 수 있으며, 애노드 전극은 액정 셀들(54)마다 독립적으로 전압이 인가될 수 있도록 배치될 수 있으며, 캐소드 전극은 액정 셀들(54) 모두에 대해 공통적으로 사용될 수 있다. 액정 셀들(54)을 제어하기 위한 제어 신호는 상기 애노드 전극을 통해 인가될 수 있다. 액정 셀들(54)은 직접 연결된 배선에 의해 동시에 독립적으로 제어될 수도 있다. 또한, 액정 셀들(54)은 박막 트랜지스터 어레이를 이용하여 순차적으로 제어될 수도 있다. 이 경우, 액정 셀들은 각각 하나의 박막 트랜지스터를 포함할 수 있다.
광학 소자(400)가 광량 조절부(50)를 포함함으로써 단일 평행 빔을 복수의 빔들로 분할하면서, 제어 신호에 따라 분할된 상기 복수의 빔들의 세기를 조절할 수 있다. 또한, 종래의 마이크로 미러 어레이와 같이 복잡한 구조를 갖는 장치와 함께 사용하지 않아도, 필요에 따라 빔들을 쉽게 변조시킬 수 있으므로, 더 많은 장치들에서 광학 소자(400)를 채용할 수 있을 것이다.
도 7 내지 도 9에 도시된 실시예들에 나타난 발명적 특징들은 단독으로 채용될 수도 있지만, 이러한 특징들은 조합하여 채용될 수도 있다는 것에 주의하여야 한다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 노광 장치를 개념적으로 도시한다.
도 10을 참조하면, 노광 장치(500)는 빔 발생부(110), 다중 빔 생성 광학 소자(100) 및 결상부(120)를 포함한다. 노광 장치(500)에 의해 노광되는 피노광 물체는 기판(130)으로 도시하였으나, 이 외에도 다른 물체들이 노광될 수도 있다. 기판(130)은 감광 물질을 포함한다.
빔 발생부(110)는 제 1 평행 빔(90)을 생성할 수 있다. 제 1 평행 빔(90)은 제 3 빔(94)에 비하여 직경이 크다. 이를 위해 빔 발생부(110)는 레이저 빔을 오목 렌즈로 발산 시킨 후, 다시 볼록 렌즈로 집광 함으로써 직경이 큰 평면 빔을 생성할 수 있다.
제 1 평행 빔(90)은 다중 빔 생성 광학 소자(100)를 통과함으로써 복수의 제 3 빔들(94)로 변형된다. 다중 빔 생성 광학 소자(100)는 도 1을 참조로 위에서 설명하였으므로 반복되는 설명은 생략한다. 다만, 다중 빔 생성 광학 소자(100)는 도 7 내지 도 9에 설명한 광학 소자들(200, 300, 400)로 대체될 수 있다.
결상부(120)는 복수의 제 3 빔들(94)로부터 이미지를 기판(130) 상에 결상시킴으로써, 기판(130)의 감광 물질을 노광시킬 수 있다. 결상부(120)는 제 3 빔들(94)을 입사 받아, 외부 신호에 의해 선택적으로 반사시키는 복수개의 마이크로미러들이 배열되어 있는 디지털 마이크로미러 소자(미 도시), 및 상기 디지털 마이크로미러 소자에서 반사된 빔의 해상도를 조정하여 기판(130)의 감광 물질 상으로 출사하는 프로젝션 렌즈(미 도시)를 포함할 수 있다.
제 3 빔들(94)은 결상부(120)를 통과함으로써 제 4 빔들(96)으로 변형되며, 제 4 빔들(96)은 기판(130)의 감광 물질 상에 결상될 수 있다. 이에 따라 상가 감광 물질은 포토마스크 없이 직접 노광될 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명이 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
10: 제 1 렌즈 어레이 12: 제 1 투명 플레이트
14: 반사 방지막 16: 제 1 DOE 렌즈
20: 제 2 렌즈 어레이 22: 제 2 투명 플레이트
26: 제 2 DOE 렌즈 30: 압전 소자
40: 필터 50: 광량 조절부
52: 액정 패널 54: 액정 셀
56: 전방 편광판 58: 후방 편광판
90: 제 1 평행 빔 92: 제 2 빔들
94: 제 3 빔들 100: 광학 소자

Claims (10)

  1. 제 1 평면에 2차원으로 배열되고 제 1 평행 빔을 복수의 제 2 빔들로 분할하도록 집광하는 복수의 제 1 DOE(diffractive optical element) 렌즈들을 포함하는 제 1 렌즈 어레이; 및
    상기 복수의 제 1 DOE 렌즈들에 각각 대응하도록 상기 제 1 평면에 평행한 제 2 평면에 배열되고 상기 복수의 제 2 빔들을 복수의 제 3 빔들로 각각 변형하는 복수의 제 2 DOE 렌즈들을 포함하는 제 2 렌즈 어레이를 포함하는 광학 소자.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 평면과 상기 제 2 평면 사이의 이격 거리는 상기 제 1 DOE 렌즈들의 초점거리와 상기 제 2 DOE 렌즈들의 초점거리의 합과 동일하며, 상기 제 3 빔들은 상기 제 2 평면에 수직한 평행 빔들인 것을 특징으로 하는 광학 소자.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 렌즈 어레이와 상기 제 2 렌즈 어레이 사이에 배치되는 압전 소자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 소자.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 압전 소자에 인가되는 전압을 조절함으로써 상기 제 1 렌즈 어레이와 상기 제 2 렌즈 어레이 간의 이격 거리를 조절하여 상기 제 3 빔들의 발산 각도가 조절되도록 하는 것을 특징으로 하는 광학 소자.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 DOE 렌즈들 또는 상기 제 2 DOE 렌즈들은 프레넬 존 플레이트(Fresnel zone plate)로 이루어진 것을 특징으로 하는 광학 소자.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 DOE 렌즈들 또는 상기 제 2 DOE 렌즈들은 키노폼 렌즈(Kinoform lens)들인 것을 특징으로 하는 광학 소자.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 렌즈 어레이 또는 상기 제 2 렌즈 어레이는 포토리소그래픽 공정 및 식각 공정을 포함하는 포토마스크 제조 공정에 의해 제조되는 것을 특징으로 하는 광학 소자.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수의 제 1 DOE 렌즈들 각각의 중심에 대응하는 위치에 개구(aperture)들이 형성되고 상기 제 1 평면에 평행한 제 3 평면에 배치되는 필터를 더 포함하며,
    상기 제 3 평면은 상기 제 1 평면으로부터 상기 제 1 DOE 렌즈들의 초점 거리만큼 상기 제 2 평면 방향으로 이격된 것을 특징으로 하는 광학 소자.
  9. 제 1 항에 있어서,
    편광된 빔의 위상을 액정의 구동에 따라 가변시키는 복수의 액정 셀들을 포함하는 액정 패널; 및
    상기 가변된 빔의 위상에 따라 상기 빔의 세기를 조절하는 후방 편광판을 더 포함하며,
    상기 액정 패널은 상기 제 2 빔들의 광 경로 또는 상기 제 3 빔들의 광 경로 상에 배치되고, 상기 액정 셀들은 상기 제 2 빔들 또는 상기 제 3 빔들이 각각 통과하도록 배치되는 것을 특징으로 하는 광학 소자.
  10. 제 1 평행 빔을 방출하는 빔 방출부;
    상기 제 1 평행 빔을 복수의 제 2 빔들로 분할하도록 집광하는 복수의 제 1 DOE 렌즈들을 포함하는 제 1 렌즈 어레이;
    상기 제 1 렌즈 어레이에 의해 분할된 상기 복수의 제 2 빔들을 복수의 제 3 빔들로 각각 변형하는 복수의 제 2 DOE 렌즈들을 포함하는 제 2 렌즈 어레이; 및
    상기 복수의 제 3 빔들로부터 이미지를 감광 재료 상에 결상하는 결상부를 포함하는 노광 장치.
KR1020100067472A 2010-07-13 2010-07-13 광학 소자 및 이를 포함하는 노광 장치 KR101714005B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100067472A KR101714005B1 (ko) 2010-07-13 2010-07-13 광학 소자 및 이를 포함하는 노광 장치
US13/180,776 US8817234B2 (en) 2010-07-13 2011-07-12 Optical device and exposure apparatus including the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100067472A KR101714005B1 (ko) 2010-07-13 2010-07-13 광학 소자 및 이를 포함하는 노광 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120006812A true KR20120006812A (ko) 2012-01-19
KR101714005B1 KR101714005B1 (ko) 2017-03-09

Family

ID=45466717

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100067472A KR101714005B1 (ko) 2010-07-13 2010-07-13 광학 소자 및 이를 포함하는 노광 장치

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8817234B2 (ko)
KR (1) KR101714005B1 (ko)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104679281B (zh) * 2013-11-29 2017-12-26 联想(北京)有限公司 一种投影方法、装置及电子设备
US20170075205A1 (en) * 2015-09-13 2017-03-16 Apple Inc. Integrated light pipe for optical projection
US10302585B2 (en) * 2016-01-07 2019-05-28 Apple Inc. Capacitive DOE integrity monitor
DE102017115964B4 (de) 2017-07-14 2020-04-02 LIMO GmbH Vorrichtung zur Erzeugung einer linienförmigen Intensitätsverteilung einer Laserstrahlung
CN107976873A (zh) * 2018-01-02 2018-05-01 京东方科技集团股份有限公司 掩膜板及曝光方法
DE102018211972B4 (de) * 2018-07-18 2020-04-23 Trumpf Laser Gmbh Optische Anordnung zur variablen Erzeugung eines Multifoki-Profils, sowie Verfahren zum Betrieb und Verwendung einer solchen Anordnung
US10667341B1 (en) 2018-09-16 2020-05-26 Apple Inc. Light projector with integrated integrity sensor
KR20200038663A (ko) * 2018-10-04 2020-04-14 삼성전자주식회사 광학 위상 어레이의 위상 최적화 방법

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06230294A (ja) * 1993-01-29 1994-08-19 Olympus Optical Co Ltd 内視鏡照明光学系
KR20050001086A (ko) * 2003-06-27 2005-01-06 한재원 2차원 광변조 미세 개구 어레이 장치 및 이를 이용한 고속미세패턴 기록시스템
KR20060043529A (ko) * 2004-03-09 2006-05-15 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 리소그래피 장치 및 디바이스 제조방법
KR20080106264A (ko) * 2006-02-17 2008-12-04 칼 짜이스 에스엠테 아게 마이크로리소그래피 투영 노광 장치용 조명 시스템

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6381072B1 (en) * 1998-01-23 2002-04-30 Proxemics Lenslet array systems and methods
JP4647820B2 (ja) 2001-04-23 2011-03-09 キヤノン株式会社 荷電粒子線描画装置、および、デバイスの製造方法
US6960773B2 (en) * 2002-07-22 2005-11-01 Massachusetts Institute Of Technology System and method for maskless lithography using an array of improved diffractive focusing elements
US7081947B2 (en) * 2004-02-27 2006-07-25 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
JP4871662B2 (ja) 2006-07-18 2012-02-08 キヤノン株式会社 光学系、描画装置、及びデバイス製造方法
US7932993B2 (en) * 2006-09-16 2011-04-26 Wenhui Mei Divided sub-image array scanning and exposing system
KR20080064400A (ko) 2007-01-05 2008-07-09 엘지전자 주식회사 조명장치, 노광 장치 및 표시 패널 상부의 막을 노광하는방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06230294A (ja) * 1993-01-29 1994-08-19 Olympus Optical Co Ltd 内視鏡照明光学系
KR20050001086A (ko) * 2003-06-27 2005-01-06 한재원 2차원 광변조 미세 개구 어레이 장치 및 이를 이용한 고속미세패턴 기록시스템
KR20060043529A (ko) * 2004-03-09 2006-05-15 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 리소그래피 장치 및 디바이스 제조방법
KR20080106264A (ko) * 2006-02-17 2008-12-04 칼 짜이스 에스엠테 아게 마이크로리소그래피 투영 노광 장치용 조명 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
US20120013880A1 (en) 2012-01-19
KR101714005B1 (ko) 2017-03-09
US8817234B2 (en) 2014-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101714005B1 (ko) 광학 소자 및 이를 포함하는 노광 장치
CN108780165B (zh) 基于阵列的相机透镜系统
US10126466B2 (en) Spatially multiplexed dielectric metasurface optical elements
WO2020140392A1 (zh) 线偏振光转换元件、制备方法和线偏振光转换系统
US20190025463A1 (en) Substrate-formed metasurface devices
JP5058561B2 (ja) 光走査装置、画像形成装置、光束分割用回折光学素子、並びに回折光学素子の作成方法
US6986587B2 (en) Variable-shape reflection mirror and method of manufacturing the same
US7450283B2 (en) Multi-beam light source unit, optical scanning device, image formation apparatus, light beam combining unit, optical system, optical apparatus
US20060086898A1 (en) Method and apparatus of making highly repetitive micro-pattern using laser writer
US20120140194A1 (en) Maskless Exposure Apparatus
JP2007057622A (ja) 光学素子及びその製造方法、光学素子用形状転写型の製造方法及び光学素子用転写型
US20190215069A1 (en) Mode division multiplexing optical communication system
CN112859534A (zh) 一种基于边缘光抑制阵列的并行直写装置和方法
WO2014129514A1 (ja) 露光光学系、露光ヘッドおよび露光装置
CN102023386A (zh) 阵列全环光子筛匀光器及其制作方法
JP4188611B2 (ja) マイクロレンズアレイの製造方法
CN113671606A (zh) 超构透镜、摄像模组和电子设备
WO2020153319A1 (ja) 拡散板
JP2586703B2 (ja) 光学レンズ
KR20040010337A (ko) 결정화 장치, 결정화 방법, 박막 트랜지스터 및 표시장치
CN102023388A (zh) 阵列光子筛匀光器及其制作方法
CN102023387A (zh) 阵列环带光子筛匀光器及其制作方法
CN102023389B (zh) 阵列部分环带光子筛匀光器
CN102681170A (zh) 一种制作阵列部分环带光子筛匀光器的方法
US20060186355A1 (en) Phase-shift masked zone plate array lithography

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
X091 Application refused [patent]
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200228

Year of fee payment: 4