KR20110109579A - 용접 검사 장치 및 이를 이용한 용접 검사 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 용접 검사 장치에 관한 것으로, 그 구성은 일정한 간격을 가지는 6개의 전극핀과 연속된 두개의 전극핀 사이의 전압을 측정하는 제 1전압계와 연속된 다른 두개의 전극핀 사이의 전압을 측정하는 제 2전압계와 상기 전극핀 사이에 선택적으로 전류를 인가할 수 있는 전류원, 상기 전류원이 상기 전극핀 사이에 선택적으로 전류를 인가할 수 있도록 회로의 단속을 제어하는 스위치, 저항값이 차이에 의해 합격 여부를 판단하는 판단부, 상기 판단부에서의 판단결과를 외부로 디스플레이하는 표시부, 상기 판단부에서의 판단결과, 불합격인 경우에는 합격치와의 차이를 계산하여 차액계산부, 상기 차액계산부의 수치를 백분율로 환산하여 외부로 디스플레이하는 환산부 등으로 구성된다. 이와 같은 본 발명에 의하면, 용접작업의 상태를 효과적으로 판단 가능한 장점이 있다.
Description
본 발명은 용접 검사 장치 및 이를 이용한 용접 검사 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 금속 재료판 들의 용접 후 용접 안정성을 검사하는 용접 검사 장치와 이를 이용하여 용접작업의 합격과 불합격을 판정하고 추가 작업량을 디스플레이하는 용접 검사 방법에 관한 것이다.
금속재료를 용접 한 후에, 그 용접부의 접합 강도를 평가하는 것이 중요하다. 이와 같은 용접부의 접합 강도를 비파괴검사 하는 방법으로, 일반적으로 4개의 전극핀을 이용하여, 양단에 전류를 흘리고, 내부의 2개의 전극핀을 이용하여 용접 부분의 전기 저항을 측정하는 방식으로 접합 강도를 측정하였다.
그러나, 상기한 바와 같은 종래 기술에서는 다음과 같은 문제점이 있다.
종래에는 용접부분을 검사하고 용접하지 않은 부분 서로의 저항을 측정하여, 용접강도를 검사하게 되는데, 이와 같이, 4개의 전극핀으로는 한번은 용접부분을 측정하고, 한번은 용접하지 않은 부분을 측정하여 서로 비교해야 되는 것으로, 그 시간차로 인해 온도와 두께 등의 차이가 발생하여 측정값이 정확하지 않은 문제점이 발생한다.
또한, 전극핀 사이의 간격을 고려하지 않아 측정값이 정확하지 않은 문제점이 발생한다.
따라서, 본 발명의 목적은 상기한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 용접부분과 비용접부분의 저항을 동시에 측정할 수 있는 용접 검사 장치를 제공하는 것이다.
그리고, 본 발명의 다른 목적은 전극핀 사이의 간격을 동일하게 조절할 수 있는 용접 검사 장치를 제공하는 것이다.
또한, 본 발명이 또 다른 목적은, 용접작업의 합격과 불합격 여부를 판단하고, 불합격인 경우에는 추가적으로 필요한 작업량을 외부로 디스플레이하는 용접 검사 방법을 제공하는 것이다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따르면, 본 발명에 의한 용접 검사 장치는, 피측정물의 동일 표면에 선단이 접촉하여 직선형태로 순서대로 동일한 간격으로 배치되는 제 1전극핀, 제 2전극핀, 제 3전극핀 제 4전극핀, 제 5전극핀과 제 6전극핀과; 상기 각각의 전극핀 사이에 전류를 인가하는 전류원과; 상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압을 측정하는 제 1전압계와; 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압을 측정하는 제 2전압계와; 상기 전류원의 일단을 상기 제 1전극핀 또는 상기 제 3전극핀 중 하나와 선택적으로 연결하는 제 1스위치와; 상기 전류원의 타단을 상기 제 4전극핀 또는 상기 제 6전극핀 중 하나와 선택적으로 연결하는 제 2스위치와; 상기 전압계에서 측정된 전압으로 저항값을 계산하여, 저항값이 차이에 의해 합격 여부를 판단하는 판단부와; 상기 판단부에서의 판단결과를 외부로 디스플레이하는 표시부와; 상기 판단부에서의 판단결과, 불합격인 경우에는 합격치와의 차이를 계산하여 차액계산부와; 상기 차액계산부의 수치를 백분율로 환산하여 외부로 디스플레이하는 환산부;를 포함하는 구성을 가지는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 의한 용접 검사 방법은, 상기의 용접 검사 장치에 있어서, 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이에 피측정물의 용접부분이 위치되도록 접촉시키는 제 1단계; 상기 제 1전극핀과 상기 제 6전극핀에 전류를 인가하는 제 2단계; 상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압(V2)을 측정하고 저항값(R2)을 계산하고, 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압(V1)을 측정하여 저항값(R1)을 계산하여, A = ((R2-R1)/R2) *100 에 의해 A값을 측정하는 제 3단계; 상기 제 3단계의 A값과, 검사합격치인 B와 비교하여, 합격과 불합격을 판단하는 판단단계; 상기 판단단계에서의 판단결과, A≥B인 경우에는 합격임을 외부로 알리는 합격표시단계; 상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 불합격임을 외부로 알리는 불합격표시단계; 상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 C=B-A의 값을 계산하는 계산단계; 상기 계산단계에서 계산된 값으로부터 C/B*100의 값을 계산하는 환산단계; 상기 환산단계에서 계산된 값을 외부로 디스플레이하여 추가작업량을 표시하는 추가표시단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의한 용접 검사 장치에서는 다음과 같은 효과가 있다.
6개의 전극핀을 일정한 간격을 유지하여 용접부분과 비용접부분의 저항을 동시에 측정할 수 있도록 하여, 저항값이 다른 변수없이 정확하게 측정되어 본 발명인 용접 검사 장치의 신뢰성이 높아지는 효과가 있다.
그리고, 용접부분의 크기를 고려하여, 전극핀 간격을 조절가능하며, 이때, 다른 전극핀들의 간격도 조절할 수 있도록 하여, 측정값이 다른 변수에 의해 변하지 않도록 함으로써 본 발명인 용접 검사 장치의 신뢰성이 높아지는 효과가 있다.
또한, 본 발명에서는, 용접 작업이 불합격인 경우에는, 미흡한 량을 수치(백분율)로 환산하여 디스플레이하므로, 추가적으로 더 작업할 량을 작업자가 판단할 수 있는 이점이 있다. 따라서, 작업능률이 배가되는 장점이 있다.
도 1은 본 발명에 의한 용접 검사 장치의 구성을 보인 개략도.
도 2 및 도 3은 도 1 용접 검사 장치의 동작과정을 보인 동작과정도.
도 4는 본 발명에 의한 용접 검사 장치의 다른 실시예를 보인 개략도.
도 5 및 도 6은 도 4의 용접 검사 장치의 동작과정을 보인 동작과정도.
도 7는 도 1의 용접 검사 장치의 사용예를 보인 개략도.
도 8은 도 1의 용접 검사 장치의 다른 사용예를 보인 개략도.
도 9는 본 발명에 의한 용접 검사 작업의 일부를 보인 흐름도.
도 2 및 도 3은 도 1 용접 검사 장치의 동작과정을 보인 동작과정도.
도 4는 본 발명에 의한 용접 검사 장치의 다른 실시예를 보인 개략도.
도 5 및 도 6은 도 4의 용접 검사 장치의 동작과정을 보인 동작과정도.
도 7는 도 1의 용접 검사 장치의 사용예를 보인 개략도.
도 8은 도 1의 용접 검사 장치의 다른 사용예를 보인 개략도.
도 9는 본 발명에 의한 용접 검사 작업의 일부를 보인 흐름도.
이하 본 발명에 의한 용접 검사 장치의 바람직한 실시예가 첨부된 도면을 참고하여 상세하게 설명한다.
본 발명에 의한 용접 검사 장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 일정한 간격을 가지는 6개의 전극핀(10)과, 상기 전극핀(10) 중 연속된 두개의 전극핀(10) 사이의 전압을 측정하는 제 1전압계(22)와, 상기 전극핀(10) 중 연속된 다른 두개의 전극핀(10) 사이의 전압을 측정하는 제 2전압계(24)와, 상기 전극핀(10) 사이에 선택적으로 전류를 인가할 수 있는 전류원(30)과, 상기 전류원(30)이 상기 전극핀(10) 사이에 선택적으로 전류를 인가할 수 있도록 단속을 제어하는 스위치(40)를 포함하여 구성될 수 있다.
먼저, 본 발명인 용접 검사 장치에는 피측정물(M)의 표면에 접촉하는 전극핀(10)이 마련된다. 상기 전극핀(10)은 6개로 구성될 수 있으며, 도 1에 도시된 바와 같이, 서로 일렬로 배열되도록 구성될 수 있다.
즉, 상기 전극핀(10)은 도 1에 도시된 바와 같이, 제 1전극핀(12), 제 2전극핀(13), 제 3전극핀(14), 제 4전극핀(15), 제 5전극핀(16)과 제 6전극핀(17)으로 구분될 수 있다.
상기 전극핀(10)은 전류를 흐를수 있는 도체로 구성되는 것이 바람직하며, 예를 들면, Kelvin Plunger Tip으로 구성될 수 있다.
그리고, 상기 전극핀(10)은 서로 동일한 간격(S)으로 이격되도록 구성될 수 있다. 이는 상기 각각의 전극핀(10)들 사이의 전압을 측정하여 저항값을 구할 때, 상기 전극핀(10) 사이의 거리(S)의 차에 의해 각각의 전극핀(10) 사이의 측정값이 달라지는 것을 방지하도록 하기 위함이다.
또한, 상기 전극핀(10) 사이의 간격(S)을 조절하도록 구성될 수 있다. 이는 상기 용접부분(W)의 크기에 따라 상기 전극핀(10) 사이의 간격을 조절하여, 상기 전극핀(10) 사이에 용접부분(S)이 모두 포함되도록 하기 위함이다.
즉, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 전극핀(10) 사이에 상기 용접 부분(W)이 위치되지 않고 상기 전극핀(10)이 상기 용접부분(S)에 접촉하는 경우 그 전압값이 다르게 측정되기 때문이다.
그리고, 본 발명인 용접 검사 장치에는 전류원(30)이 마련된다. 상기 전류원(30)은 상기 전극핀(10) 사이의 전압값을 측정할 수 있도록 전원을 제공하는 역할을 한다.
보다 구체적으로, 상기 전류원(30)은 도 1에 도시된 바와 같이, 제 1전극핀(12), 제 3전극핀(14), 제 4전극핀(15)과 제 6전극핀(17) 사이에 선택적으로 전류를 공급하는 역할을 한다.
그리고, 본 발명인 용접 검사 장치에는 전압계(20)가 마련된다. 상기 전압계(20)는 상기 전극핀(10) 사이에 구비되어 상기 전극핀(10) 사이의 피측정물(M)의 저항에 의해 발생되는 전압을 측정하는 역할을 한다.
상기 전압계(20)는 도 1에 도시된 바와 같이, 두개로 구성될 수 있다. 즉, 상기 전압계(20)는, 상기 제 2전극핀(13)과 상기 제 3전극핀(14) 사이의 전압(V2)을 측정하는 제 1전압계(22)와, 상기 제 4전극핀(15)과 상기 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1)을 측정하는 제 2전압계(24)로 구분될 수 있다.
또한, 본 발명인 용접 검사 장치에는 스위치(40)가 마련된다. 상기 스위치(40)는 상기 전류원(30)의 전류를 상기 각각의 전극핀(10)들 사이에 선택적으로 유입되도록 제어하는 역할을 한다.
보다 구체적으로 설명하면, 상기 스위치(40)는 도 1에 도시된 바와 같이, 두개로 구성될 수 있다. 즉, 상기 스위치(40)는, 제 1스위치(42)와 제 2스위치(44)로 구분된다.
상기 제 1스위치(42)는, 상기 전류원(30)의 일단(X)과 상기 제 1전극핀(A)과 상기 제 3전극핀(B) 중 어느 하나와 접점하여 전류가 흐르는 것을 제어하는 역할을 한다. 상기 제 2스위치(44)는, 상기 전류원(30)의 타단(Y)과 상기 제 4전극핀(C)과 상기 제 6전극핀(D) 중 어느 하나와 접점하여 전류가 흐르는 것을 제어하는 역할을 한다.
그리고, 도 4를 참조하여, 본 발명인 용접 검사 장치의 다른 실시예를 살펴보면, 상술한 도 1의 용접 검사 장치와 기본적인 구성을 유사합니다.
다만, 스위치의 구성이 상이합니다. 이하 스위치의 구성에 대해서 상세하게 설명한다. 먼저, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1스위치(42)가 마련된다.
상기 제 1스위치(42)는 상기 전류원(30)의 타단과 상기 제 1전극핀(12)과, 상기 제 3전극핀(14)과 상기 제 4전극핀(15) 중 어느 하나와 접접하여 전류가 흐르는 것을 제어하는 역할을 한다.
그리고, 제 3스위치(46)가 더 마련된다. 상기 제 2스위치(44)는 제 2전압계(22)가 측정하는 범위를 조절하는 역할을 한다.
즉, 상기 제 3스위치(46)는, 상기 제 2전압계(44)의 일단과 연결되고, 타단은 제 3전극핀(14), 제 4전극핀(15) 중 어느 하나와 선택적으로 연결되도록 하는 역할을 한다.
이하, 상기한 바와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의한 용접 검사 장치의 작용을 상세하게 설명한다.
먼저, 도 1에 도시된 바와 같이, 용접부분을 검사하려는 경우, 본 발명인 용접 검사 장치는 검사하고자 하는 피측정물(M)의 외측표면에 접촉시킨다.
이때, 상기 용접부분(W)이 제 4전극핀(15)과 제 5전극핀(16) 사이에 위치되도록 하여, 접촉시킨다. 그리고, 제 1스위치(42)는 A위치에 접점시키고, 제 2스위치(44)는 D위치에 접점시킨다.
그런후, 전류원(30)을 가동시켜, 전원을 회로에 인가시킨다. 그러면, 용접부분(W)을 측정하는 제 4전극핀(15)과 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1)이 측정되고, 비용접부분을 측정하는 제 2전극핀(13)과 제 3전극핀(14) 사이의 전압(V2)이 측정된다.
상기 제 4전극핀(15)과 상기 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1)에 의해 측정되는 저항(R1)과, 상기 제 2전극핀(13)과 상기 제 3전극핀(14) 사이의 전압(V2)에 의해 측정되는 저항(R2)에 의해 다음과 같은 식에 의해 결과치가 나오게 된다.
A = ((R2-R1)/R2) *100
상술한 과정에 의해 나타나는 A의 값이, 검사합격치인 B와 비교하여, A≥B 인 경우에는, 합격의 표시를, A<B 인 경우에는, 불합격의 표시를 나타내게 된다.
한편, 본 발명인 용접 검사 장치로, 용접부분(W)의 크기를 측정하려는 경우, 용접 검사 장치를 피측정물(M)의 외측표면에 접촉시킨다. 이때, 상기 용접부분(W)이라 판단되는 부분이 제 4전극핀(15)과 제 5전극핀(16) 사이에 위치되도록 접촉시킨다.
그리고, 제 1스위치(42)는 A위치에 접점시키고, 제 2스위치(44)는 D위치에 접점시킨다. 그런후, 전류원(30)을 가동시켜, 전원을 회로에 인가시킨다.
그러면, 용접부분(W)을 측정하는 제 4전극핀(15)과 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1)이 측정되고, 비용접부분을 측정하는 제 2전극핀(13)과 제 3전극핀(14) 사이의 전압(V2)이 측정된다.
이때, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 용접부분(W) 상에 상기 제 4전극핀(15)이 위치하는 경우, 제 4전극핀(15)과 제 5전극핀(16) 사이의 저항값(R1)은 상대적으로 큰 값이 측정된다. 즉, A의 값이 작은 수치로 나타나게 된다.
그러면, 작업자는 본 발명인 용접 검사 장치를 조절하여, 각각의 전극핀(10) 사이의 간격(S)을 조금씩 조절하면서, 상기 제 4전극핀(15)과 상기 제 5전극핀(16) 사이의 저항값(R1)을 측정하면서, 그 값이 최소가 되는 지점을 찾는다.
상기 저항값(R1)이 최소가 되는 지점이, 상기 용접부분(S)의 가장자리 지점이므로, 이 지점 사이를 측정하여, 상술한 바와 같이, A의 값을 구해, 검사합격치인 B와 비교하여 용접 검사 합격여부를 판단하게 된다.
한편, 본 발명인 용접 검사 장치는, 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 제 2전극핀(13)과 상기 제 3전극핀(14) 사이에 용접부분(W)을 위치시키고, 제 1스위치(42)는 A와 접점시키고, 제 2스위치(44)는 C에 접점시켜, 4개의 전극핀(10)으로 구성되는 용접 검사 장치로 사용할 수도 있다.
그리고, 도 1에서와 같이, 제 1스위치(42)를 A위치에 접점시키고, 제 2스위치(44)는 D위치에 접점시켜, 전류원을 가동시켜, 전원을 회로에 인가하면, 상기 전류가 제 1전극핀(12)에서 제 6전극핀(17)까지 일정해야 되나, 실질적으로 전류가 떨어지면서, 차이를 보인다.
이런 문제점을 해결 하기 위해, 먼저, 도 2에 도시된 바와 같이, 제 1스위치(42)를 A위치에 접점시키고, 제 2스위치(44)를 C위치에 접점시킨다. 그리고, 전류원(30)을 가동시켜 전원을 회로에 인가하면, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 전류가 상기 제 1전극핀(12)에서 제 4전극핀(15)으로 흐르면서, 제 1전압계(24)에서 전압(V2)이 측정된다.
한편, 도 3에 도시된 바와 같이, 제 1스위치(42)를 B위치에 접점시키고, 제 2스위치(44)를 D위치에 접점시킨다. 그리고, 전류원(30)을 가동시켜 전원을 회로에 인가하면, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 전류가 상기 제 3전극핀(14)에서 제 6전극핀(17)으로 흐르면서, 제 2전압계(24)에서 전압(V1)이 측정된다.
이때, 상술한 스위칭동작을 순간에 이루어지도록 하면, 상기 제 1전압계(22)에서와 제 2전압계(24)에서의 전압측정이 거의 동시에 이루어지게 된다. 물론, 상술한 바와 같은 전류가 떨어지는 것을 방지하는 것은 물론이다.
그리고, 도 4에 도시된 바와 같은 본 발명인 용접 검사 장치의 다른 실시예로, 용접부분(W)의 크기를 측정하려는 경우, 용접 검사 장치를 피측정물(M)의 외측표면에 접촉시킨다. 이때, 도 5에 도시된 바와 같이, 제 1스위치(42)는 E위치에 접점시키고, 제 2스위치(44)는 D에 접점시키고, 제 3스위치(46)는 G위치에 접점시킨다.
그런후, 전류원(30)을 가동시켜, 전원을 회로에 인가시킨다. 그러면, 용접부분(W)을 측정하는 제 3전극핀(14)과 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1)이 측정된다. 이때, 전류원(30)의 전류가 제 4전극핀(15)에서 제 6전극핀(17)까지만 흐르게 된다. 그러므로, 상기 제 3전극핀(14)에서 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1)을 측정하더라도 실질적으로 제 4전극핀(15)과 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1')이 측정된다.
이때, 용접부분(W)을 측정하는 제 4전극핀(15)과 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1')이 측정된다. 그리고, 순간적으로, 스위칭시켜, 즉, 도 6에 도시된 바와 같이, 제 1스위치(42)를 A위치에 접접시키고, 제 2스위치(44)를 C위치에 접점시키고, 제 3스위치(46)를 F위치에 접접시킨다.
그러면, 비용접부분인 제 1전압계(22)에서의 전압(V2)이 측정된다. 이때, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 제 4전극핀(15)이 용접부분(W) 상에 위치하는 경우, 제 4전극핀(15)과 제 5전극핀(16) 사이의 저항값(R1')은 상대적으로 큰 값이 측정된다. 즉, A의 값이 작은 수치로 나타나게 된다.
그러면, 작업자는 본 발명인 용접 검사 장치를 조절하여, 각각의 전극핀 사이의 간격을 조금씩 조절하면서, 상기 제 4전극핀(15)과 상기 제 5전극핀(16) 사이의 저항값(R1')을 측정하면서, 그 값이 최소가 되는 지점을 찾는다.
상기 저항값(R1')이 최소가 되는 지점이, 상기 용접부분(W)의 가장자리 지점이므로, 이 지점 사이의 전압(V1')을 측정하여, 상술한 바와 같이, A값을 구해, 검사합격치인 B와 비교하여 용접 검사 합격여부를 판단하게 된다.
또한, 상술한 방법과는 달리 비용접부분을 제 1전압계(22)로 측정하기 전에, 제 2전압계(24)에서 제 4전극핀(15)과 상기 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1')을 측정할 때, 상기 제 4전극핀(15) 또는 상기 제 5전극핀(16) 중 어느 하나를 이동시켜, 저항값(R1')이 최소가 되는 지점을 찾은 후, 상술한 바와 같이 스위칭구동시켜, 제 1전압계(22)의 전압(V2)을 측정후, 저항값(R2)을 구해, A값을 구해 검사합격치인 B와 비교하여 용접 검사 합격여부를 판단할 수도 있다.
본 발명의 권리는 위에서 설명된 실시예에 한정되지 않고 청구범위에 기재된 바에 의해 정의되며, 본 발명의 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 청구범위에 기재된 권리범위 내에서 다양한 변형과 개작을 할 수 있다는 것은 자명하다.
그리고, 도 2 및 도 3의 실시예에서, 제 4전극핀(15)과 상기 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1)을 측정하여 피측정물 내의 크랙을 측정할 수도 있다. 즉, 상기 제2전극핀(13)과 상기 제 3전극핀(14) 사이의 전압(V2)보다, 크랙이 있는 상기 제 4전극핀(15)과 상기 제 5전극핀(16) 사이의 전압(V1)이 높게 나타난다. 이를 기초로, 피측정물 내부에 크랙이 있는지 여부를 판단할 수 있게 된다.
또한, 상기의 실시예에 추가하여, 용접 작업이 불합격인 경우에는 더 필요한 용접작업을 수치로 환산하여 외부로 디스플레이하는 기능을 부가하는 것도 가능하다.
이 경우에는, 각 구성을 도시화하지는 않았지만, 상기 전압계에서 측정된 전압으로 저항값을 계산하여 저항값이 차이에 의해 합격 여부를 판단하는 판단부와, 상기 판단부에서의 판단결과를 외부로 디스플레이하는 표시부와, 상기 판단부에서의 판단결과 불합격인 경우에는 합격치와의 차이를 계산하여 차액계산부와, 상기 차액계산부의 수치를 백분율로 환산하여 외부로 디스플레이하는 환산부 등이 더 구비된다.
그리고, 이러한 경우에는, 도 9와 같은 단계가 추가적으로 더 진행된다.
구체적으로 살펴보면, 상기에서 A의 값이 최대가 될 때 측정된 A값과, 검사합격치인 B와 비교하여, 합격과 불합격을 판단하는 판단단계(S100)와; 상기 판단단계(S100)에서의 판단결과, A≥B인 경우에는 합격임을 외부로 알리는 합격표시단계(S110)와; 상기 판단단계(S100)에서의 판단결과, A<B인 경우에는 불합격임을 외부로 알리는 불합격표시단계(S120)와; 상기 판단단계(S100)에서의 판단결과, A<B인 경우에는 C=B-A의 값을 계산하는 계산단계(S130)와; 상기 계산단계(S130)에서 계산된 값으로부터 C/B*100의 값을 계산하는 환산단계(S140)와; 상기 환산단계(S140)에서 계산된 값을 외부로 디스플레이하여 추가작업량을 표시하는 추가표시단계(S150) 등이 더 부가된다.
상기 판단단계(S100)는, 상기에서 설명한 바와 같이, A의 값을 검사합격치인 B와 비교하는 과정이다.
상기 불합격표시단계(S120)에서는, 불합격임을 외부로 디스플레이하는 한편, 부저 등을 이용하여 음향으로도 외부로 불합격임을 알린다.
상기 계산단계(S130)는, A의 값이 합격치인 B의 값에 얼마만큼 부족한가를 계산하는 과정이며, 상기 환산단계(S140)는 계산단계(S130)에서 계산된 차이값을 합격치인 B에 대한 백분율로 환산하는 과정이다.
그리고, 상기 추가표시단계(S150)는, 상기 환산단계(S140)에 의해 계산된 부족한 값을 외부로 디스플레이하는 과정이다. 따라서, 사용자는 외부로 디스플레이되는 환산값을 참고하여 추가 작업을 하게 된다. 즉, 상기 추가표시단계(S150)에서 디스플레이되는 값이 50%인 경우에는 이미 작업한 용접 작업이 필요한 합격치의 1/2 수준임을 의미하므로, 기존에 작업한 양 만큼의 용접을 추가로 더 하여야 함을 의미한다.
10: 전극핀 12: 제 1전극핀
13: 제 2전극핀 14: 제 3전극핀
15: 제 4전극핀 16: 제 5전극핀
17: 제 6전극핀 20: 전압계
22: 제 1전압계 24: 제 2전압계
30: 전류원 40: 스위치
42: 제 1스위치 44: 제 2스위치
46: 제 3스위치 S100. 판단단계
S110. 합격표시단계 S120. 불합격표시단계
S130. 계산단계 S140. 환산단계
S150. 추가표시단계
13: 제 2전극핀 14: 제 3전극핀
15: 제 4전극핀 16: 제 5전극핀
17: 제 6전극핀 20: 전압계
22: 제 1전압계 24: 제 2전압계
30: 전류원 40: 스위치
42: 제 1스위치 44: 제 2스위치
46: 제 3스위치 S100. 판단단계
S110. 합격표시단계 S120. 불합격표시단계
S130. 계산단계 S140. 환산단계
S150. 추가표시단계
Claims (5)
- 피측정물의 동일 표면에 선단이 접촉하여 직선형태로 순서대로 동일한 간격으로 배치되는 제 1전극핀, 제 2전극핀, 제 3전극핀 제 4전극핀, 제 5전극핀과 제 6전극핀과;
상기 각각의 전극핀 사이에 전류를 인가하는 전류원과;
상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압을 측정하는 제 1전압계와;
상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압을 측정하는 제 2전압계와;
상기 전류원의 일단을 상기 제 1전극핀 또는 상기 제 3전극핀 중 하나와 선택적으로 연결하는 제 1스위치와;
상기 전류원의 타단을 상기 제 4전극핀 또는 상기 제 6전극핀 중 하나와 선택적으로 연결하는 제 2스위치와;
상기 전압계에서 측정된 전압으로 저항값을 계산하여, 저항값이 차이에 의해 합격 여부를 판단하는 판단부와;
상기 판단부에서의 판단결과를 외부로 디스플레이하는 표시부와;
상기 판단부에서의 판단결과, 불합격인 경우에는 합격치와의 차이를 계산하여 차액계산부와;
상기 차액계산부의 수치를 백분율로 환산하여 외부로 디스플레이하는 환산부;를 포함하는 구성을 가지는 것을 특징으로 하는 용접 검사 장치. - 제 1 항에 의해 구성되는 용접 검사 장치에 있어서,
상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이에 피측정물의 용접부분이 위치되도록 접촉시키는 제 1단계;
상기 제 1전극핀과 상기 제 6전극핀에 전류를 인가하는 제 2단계;
상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압(V2)을 측정하고 저항값(R2)을 계산하고, 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압(V1)을 측정하여 저항값(R1)을 계산하여, A = ((R2-R1)/R2) *100 에 의해 A값을 측정하는 제 3단계;
상기 제 3단계의 A값과, 검사합격치인 B와 비교하여, 합격과 불합격을 판단하는 판단단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A≥B인 경우에는 합격임을 외부로 알리는 합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 불합격임을 외부로 알리는 불합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 C=B-A의 값을 계산하는 계산단계;
상기 계산단계에서 계산된 값으로부터 C/B*100의 값을 계산하는 환산단계;
상기 환산단계에서 계산된 값을 외부로 디스플레이하여 추가작업량을 표시하는 추가표시단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 용접 검사 방법. - 제 1 항에 의해 구성되는 용접 검사 장치에 있어서,
상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이에 피측정물의 용접부분이라 생각되는 지점에 위치되도록 접촉시키는 제 1단계;
상기 제 1전극핀과 상기 제 6전극핀에 전류를 인가하는 제 2단계;
상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압(V2)을 측정하고 저항값(R2)을 계산하고, 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압(V1)을 측정하여 저항값(R1)을 계산하여, A = ((R2-R1)/R2) *100 에 의해 A값을 측정하는 제 3단계;
상기 A의 값이 최대가 될 때까지 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀을 이동시키는 제 4단계; 그리고,
상기 A의 값이 최대가 될 때 측정된 A값과 검사합격치인 B와 비교하여, 합격과 불합격을 판단하는 판단단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A≥B인 경우에는 합격임을 외부로 알리는 합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 불합격임을 외부로 알리는 불합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 C=B-A의 값을 계산하는 계산단계;
상기 계산단계에서 계산된 값으로부터 C/B*100의 값을 계산하는 환산단계;
상기 환산단계에서 계산된 값을 외부로 디스플레이하여 추가작업량을 표시하는 추가표시단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 용접 검사 방법. - 제 1 항에 의해 구성되는 용접 검사 장치에 있어서,
상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이에 피측정물의 용접부분이 위치되도록 접촉시키는 제 1단계;
제 1스위치를 제 1전극핀에 접점시키고, 제 2스위치를 제 4전극핀에 접점시키고, 전류를 인가시켜, 상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압(V2)을 측정하여 저항값(R2)을 구하는 제 2단계;
제 1스위치를 제 3전극핀에 접점시키고, 제 2스위치를 제 6전극핀에 접점시키고, 전류를 인가시켜, 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압(V1)을 측정하여 저항값(R1)을 구하는 제 3단계;
A = ((R2-R1)/R2) *100 에 의해 A값을 측정하는 제 4단계; 그리고,
상기 제 3단계의 A값과, 검사합격치인 B와 비교하여, 합격과 불합격을 판단하는 판단단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A≥B인 경우에는 합격임을 외부로 알리는 합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 불합격임을 외부로 알리는 불합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 C=B-A의 값을 계산하는 계산단계;
상기 계산단계에서 계산된 값으로부터 C/B*100의 값을 계산하는 환산단계;
상기 환산단계에서 계산된 값을 외부로 디스플레이하여 추가작업량을 표시하는 추가표시단계를 포함하며;
상기 제 2단계와 상기 제 3단계가 순간적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 용접 검사 방법. - 제 1 항에 의해 구성되는 용접 검사 장치에 있어서,
상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이에 피측정물의 용접부분이라 생각되는 지점에 위치되도록 접촉시키는 제 1단계;
제 1스위치를 제 1전극핀에 접점시키고, 제 2스위치를 제 4전극핀에 접점시키고, 전류를 인가시켜, 상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압(V2)을 측정하여 저항값(R2)을 구하는 제 2단계;
제 1스위치를 제 3전극핀에 접점시키고, 제 2스위치를 제 6전극핀에 접점시키고, 전류를 인가시켜, 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압(V1)을 측정하여 저항값(R1)을 구하는 제 3단계;
A = ((R2-R1)/R2) *100 에 의해 A값을 측정하는 제 4단계;
상기 A의 값이 최대가 될 때까지 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀을 이동시키는 제 5단계; 그리고,
상기 A의 값이 최대가 될 때 측정된 A값과 검사합격치인 B와 비교하여, 합격과 불합격을 판단하는 판단단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A≥B인 경우에는 합격임을 외부로 알리는 합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 불합격임을 외부로 알리는 불합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 C=B-A의 값을 계산하는 계산단계;
상기 계산단계에서 계산된 값으로부터 C/B*100의 값을 계산하는 환산단계;
상기 환산단계에서 계산된 값을 외부로 디스플레이하여 추가작업량을 표시하는 추가표시단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 용접 검사 방법.
는 용접 검사 장치.
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