KR20110102361A - 곡률 보정을 위한 이미지 처리 - Google Patents

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KR20110102361A
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카를로스 세르반테스 토랄
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Abstract

곡률 보정 체계를 이용하여 서식을 판독하는 시스템 및 프로세스가 개시된다. 공지된 서식의 모델 이미지는 적어도 3개의 얼라인먼트 마크에 의해 정의되는 섹터로 분할되고, 서식의 포획된 미판독 이미지 상의 얼라인먼트 마크의 위치를 모델 이미지 상의 얼라인먼트 마크의 위치와 비교함으로써, 각각의 섹터에 대한 전달 함수 혹은 보정 함수가 발생된다. 이 후, 전달 함수는 섹터 내부의 다른 마크에도 적용되어 마크의 보정된 위치를 계산해낸다. 곡률 왜곡이 확실하게 처리될 수 있도록 하기 위해 각각의 섹터가 사이즈 조정됨으로써, 서식 상의 모든 마크는 적절히 발견 및 해석될 수 있다. 오류가 검사될 것이고, 만약 오류가 없어지지 않고 계속되면, 가능한 더 작은 섹터가 정의 및 채용될 수도 있다.

Description

곡률 보정을 위한 이미지 처리{IMAGE PROCESSING FOR CURVATURE CORRECTION}
관련 출원
본 출원은 2005년 3월 24일자로 출원된 미국 임시 특허 출원 번호 제 60/661,698호를 우선권 주장하여 "SYSTEM AND METHOD FOR PROCESSING A FORM"이라는 명칭으로 2006년 3월 14일자로 출원된 미국 특허 출원 번호 제 11/376,052호의 일부 계속 출원이다. 이 특허 출원은 본 발명과 공동 소유권을 갖는 것으로, 이들은 본원에서 참조로 포함된다.
본 발명은, 미판독 서식(unread form)의 디지털 데이터 이미지를 포획하기 위한 카메라와, 이 디지털 데이터로부터 왜곡을 보정하고 정보를 유도 및 해석하기 위해 이 디지털 데이터를 처리하는 컴퓨터 시스템을 채용하는 광학 판독 시스템(optical reader system)에 관한 것이다. 여기에서 "카메라"는 컴퓨터 처리 시스템에 의해 다운로드 혹은 판독될 수 있는 장면(scene)을 감광성 매체에 포획하는 모든 감광성 장치를 포함하는데, 이때 컴퓨터 처리 시스템은 이 장면을 나타내는 디지털 데이터를 메모리에 저장한다. 장면 이미지를 보유하기 위한 렌즈, 필터, 조리개 등등과, 감광성 표면, 어레이 혹은 어레이들이 "카메라"라는 용어에 포함될 수도 있다.
인쇄된 문서, 놀이 쪽지(play slips), 스크래치형 복권, 즉석 복권 등은 본 명세서에서 총괄하여 "서식(form)"이라고 정의된다. 서식은 종종 사람의 특정 의도를 나타내는 위치들에 사람이 만든 마크(mark)를 갖는다. 서식을 정확하게 식별하고, 인쇄되고 사람이 만든 마킹(marking)을 판독 또는 처리하는 것은 단순한 태스크가 아니다.
이러한 태스크 중 일부는, 서식의 존재를 검출하고, 그 서식이 정지되어 있거나 움직임이 없다고 결정하고, 서식 상에 마크가 존재하는지 식별하고, 서식 상에서 마크의 위치를 찾아낸 뒤, 마크의 의미를 해석하는 것을 포함한다. 각각의 태스크에 대하여, 그 마크를 검출하고 식별하기 위해 배경에 대해 충분한 콘트라스트(contrast)로 서식을 조명하도록 충분한 광이 있어야만 한다.
서식을 식별하기 위해, 인쇄된 마킹이 검출 및 해석될 수도 있고, 또는 사람이 서식 유형을 나타낼 수도 있다. 인쇄된 마킹은 보통 서식 유형을 식별하는데 이용되는 로고 또는 다른 특정 마크를 포함할 것이다. 또한, 얼라인먼트 마크(alignment marks)가 인쇄되어 처리 시스템에 의해 이용됨으로써, 서식 상의 위치들을 정확하게 식별할 수 있다. 이렇게 되면, 서식 상에서 마킹의 위치가 정확하게 파악되어 그 의미가 정확하게 해석될 수 있을 것이다.
서식 상에서 마크를 처리 및 식별하는 것은 그 서식의 이미지를 포획하는 카메라와 함께 시작된다. 포획된 이미지는 컴퓨팅 시스템에 의해 다운로드, 저장 및 해석될 것이다. 이미지를 해석하는 것은 "애플리케이션"에 의해 수행될 수 있는데, 이런 애플리케이션은 컴퓨터 시스템에서 실행되는 소프트웨어, 하드웨어 프레임워크에 내장된 펌웨어, 하드웨어 스테이트 머신(hardware state machine) 또는 이들의 조합일 수 있다.
서식을 판독할 때 한 가지 중요한 공통 문제점은, 서식이 구부러지거나 구겨지거나 말리거나 또는 접혀서 왜곡(distortion)이 만들어질 때 발생한다. 왜곡은 서식의 판독시 오류를 유발하거나 서식의 거부를 유발하는 오류의 주요 원인이다. 왜곡은 적어도 위치 찾기 오류 및 해상도 오류를 나타낸다.
몇몇 종래 기술의 판독기는 밀폐된 챔버 내에 서식을 편평하게 위치시키는 드라이브 메커니즘을 갖는다. 이러한 드라이브 메커니즘은 비싸며, 이를 유지하기 위해 규칙적인 서비스와 기술 지원을 필요로 하고, 이러한 모든 것들은 소유시에 추가 비용과 경비를 초래한다.
왜곡을 보상하려는 종래의 시도는 성공적이지 않았으며, 이러한 왜곡을 보정하거나 감소시키거나 그리고/또는 보상하는 판독기를, 편리하고 신뢰성 있으면서 비교적 저렴하고 쉽게 이용하는 것이 산업에 유익할 것이다.
본 발명은 서식의 방대한 종류의 각종 서식을 판독할 수 있는 광학 판독기에 관한 것으로, 더 구체적으로, 왜곡 보정을 위한 시스템과 프로세서를 이용함으로써, 구부러지거나 말리거나 구겨지거나 접힌 서식을 판독할 수 있는 광학 판독기에 관한 것이다. 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 따르면, 예컨대 인쇄된 문서, 놀이 쪽지, 스크래치형 복권 혹은 즉석 복권처럼 공지된 서식 유형의 모델 이미지는 컴퓨터 시스템에 저장된다. 모델 이미지와 함께, 공지의 로고나 다른 서식 식별 마크, 얼라인먼트 마크를 포함하는 정보가 컴퓨터 시스템에 저장되는데, 이들은 각각의 모델 이미지를 적어도 세 개의 비 공직선성(non-colinear) 얼라인먼트 마크(alignment marks)에 의해 정의되는 영역 혹은 섹터로 분할한다. 위치, 속성(아래 참조), 그에 대응하는 얼라인먼트 마크의 의미, 로고, 다른 이런 식별 마크, 그리고 손으로 그렸을 가능성 있는 마크의 위치와 그 의미도 각각의 모델 이미지와 함께 저장된다.
예컨대 데카르트(Cartesian) 좌표계, 극좌표계 같은 좌표계가 모델 이미지 상의 위치와 미판독 서식의 어떤 포획된 이미지 상의 위치를 기술한다. 데카르트 좌표계에서, 예컨대 x, y가 모델 이미지 상의 위치들을 정의할 수도 있고, x', y'가 서식의 미판독 이미지 상의 위치들에 대해 이용될 수도 있다.
보정된 위치를 산출하기 위해, 미판독 이미지의 섹터 내에서 명백한 위치에 있는 모든 마크에 대해서 전달 함수(transfer function)가 적용될 것이다. 이때 이러한 명백한 위치는 모델 이미지상의 그에 대응하는 위치와 비교될 것이고, 그 위치는 마크의 의미를 결정할 것이다. 그 속에 마크를 갖는 모든 섹터가 이런 방식으로 처리될 것이다.
"전달 함수"는 본 명세서에서 이용하는 구절로, 본 기술분야에서 찾아볼 수 있듯이 그 외에도 "전달 함수", "방정식", "보정 함수", "요인", 혹은 다른 이러한 용어들이나 용어들의 조합으로 불릴 수도 있다.
속성은 형상, 크기, 마크 무리의 중심(the center of mass the mark) 등을 말한다. 마크의 위치와 속성은 얼라인먼트 마크나 로고를 정의할 것이다. 서식의 유형은 로고나 일부 다른 인쇄된 마크(들)에 의해 결정될 수도 있고, 대리인에 의해 수동으로 행해질 수도 있다. 예를 들어, 서식 상의 특정 위치에 있는 연필 마크는 예컨대 게임을 할 때 사람이 서식을 채우기 위해 선택한 것임을 나타낼 것이다.
미판독 이미지 상의 얼라인먼트 마크는 컴퓨터 시스템에 의해 쉽게 검출 및 인식된다. 특정 위치에서 발견된 마크는 속성(크다, 둥글다, 정사각형이다, 직사각형이다, 긴 직선이다, 혹은 어떤 형상이다 등등)을 가지고 있고, 이러한 속성은 얼라인먼트 마크처럼 검출에 협조한다. 로고는 검출 및 식별의 용이성에 있어서 얼라인먼트 마크와 유사한 역할을 하는 마크이고, 전술한 바와 같이 서식의 유형을 식별하는데 이용될 것이다.
서식을 섹터로 분할하는 것은 섹터의 사이즈 조정에 의한 곡률 왜곡 보정을 허용한다. 더 작은 섹터가 비교적 더 평탄할 것이고, 이러한 섹터에서 마크를 판독할 때 이런 섹터의 곡선은 오류를 발생하지 않는다.
섹터가 3개의 비 공직선성 포인트에 의해 정의되는 경우, 다음의 방정식은 해당 섹터 내부의 마크의 스케일링, 변환 및 회전을 보정하는 전달함수를 나타낼 것이다.
Figure pct00001
식 (1)
Figure pct00002
식 (2)
일단 6개의 계수(A', B', C', D', E', F')가 포획된 특정 서식 이미지와 관련해 유도되면, 식 (1), (2)는 모델 이미지의 어떤 위치(x, y)를 서식의 미판독 이미지의 대응 좌표(x', y')로 변환하는데 이용될 수 있다.
4면 섹터 영역(four sided sector area)을 정의하는 4개의 비 공직선성 포인트에 의해 섹터가 정의되는 경우에, 다음 방정식은 스케일링, 변환, 회전, 그리고 서식의 미판독 섹터를 포획하는 카메라와 연관된 원근법 문제를 보정하는 전달함수를 나타낼 것이다.
Figure pct00003
식 (3)
Figure pct00004
식 (4)
일단, 서식의 특정 미판독 이미지와 관련해 8개의 계수(A, B, C, D, E, F, G, H)가 유도되면, 식 (3), (4)는 모델 이미지의 어떤 위치(x, y)를 서식의 미판독 이미지의 대응 좌표(x', y')로 변환하는데 이용될 수 있다.
전술한 전달 함수 방정식의 계수들은 미판독 이미지의 특정 마크의 실제 x', y' 위치를 모델 이미지의 그에 대응하는 위치 x, y와 비교함으로써 찾을 수 있다. 서식의 영역을 다루기 위해, 적어도 3개의 비 공직선성의 공지된 얼라인먼트 마크가 처리될 것이지만, 4개 혹은 그 이상의 마크가 유리하게 이용될 수도 있다. 행렬 대수 기법을 이용함으로써 계수를 찾을 수 있는 방정식 결과의 좌표는 아래에 예시된다.
다음 설명에서, 8개의 얼라이먼트 마크가 섹터를 정의하는데 이용된다. 이 설명에 따르면, 8개의 얼라인먼트 마크가 섹터를 정의하는데 이용될 때, 다음의 4차 전달 함수 방정식(식 (7))이 적용되어, 스케일링, 변환, 회전, 그리고 서식의 미판독 섹터를 포획하는 카메라와 연관된 원근법 문제를 보정할 수 있다.
Figure pct00005
식 (7)
서식 유형이 공지되고, 서식 내의 모든 섹터에 대해 전달 함수가 유도된 이후, 저장된 미판독 이미지에 대해 동일한 섹터 분할이 적용될 것이고, 이 미판독 이미지 상의 모든 섹터 내부에서 마크의 위치에 대해 전달 함수가 적용될 것이다. 만약 각 섹터내에 마크가 존재한다면, 이것은 마크에 대해 보정된 위치를 야기한다. 이후, 이 다른 마크의 보정된 위치가 모델 이미지 상의 대응 위치와 비교될 것이다. 모델 이미지 상의 위치는 의미를 담고 있는데, 이 의미는 보정된 위치가 모델 이미지의 위치와 일치하는 그 다른 마크의 의미를 결정한다.
그러나 일부 애플리케이션에서, 전달 함수는 이 영역에 근접한 외부 영역들에 인가될 수도 있다.
만약 섹터가 공지된 위치의 다른 얼라인먼트 마크(들)를 포함한다면, 이 다른 마크들은 오류를 계산하는데 이용될 수도 있다. 저장된 미판독 이미지에서 이들 다른 마크의 위치들이 검출될 것이고, 그 위치들은 전달 함수의 적용에 의해 보정될 수 있다. 보정된 위치는 모델 이미지로부터의 실제 위치와 비교될 수 있고 오류가 계산될 수 있다. 오류 임계치가 확립될 수도 있고, 만약 어떤 섹터의 오류가 임계치를 초과하면, 그 서식은 거부될 것이다.
다른 애플리케이션에서, 다른 더 근접한 얼라인먼트 마크가 또 다른 섹터를 형성하는데 이용될 수도 있고, 다른 전달 함수가 적용될 수도 있다. 이 프로세스는 허용 가능한 오류를 갖는 더 작은 섹터가 존재하지 않을 때까지 계속될 것이고, 이런 경우가 되면 그 서식은 거부될 것이다. 만약 마크가 존재하는 서식 내의 모든 섹터에 대해 허용 가능한 오류가 생긴다면, 이 마크된 서식은 수용되어 시스템에 의해 처리될 것이다.
비록 다음의 상세한 설명이 예시된 실시예, 도면 및 설명된 이용 방법을 참조하여 진행될 것이지만, 본 발명이 이 실시예나 이용 방법에만 한정되는 것이 아님을 본 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 사람이라면 인지할 것이다. 오히려 본 발명의 범주는 더 넓으며, 첨부된 특허청구의 범위에 설정된 범주에 의해서만 정의될 것이다.
본 발명에 따르면, 곡률 보정을 위한 이미지 처리를 제공할 수 있다.
이후의 본 발명의 설명은 첨부 도면을 참조한다.
도 1은 본 발명을 구현한 시스템의 시스템 블록도이다.
도 2A, 2B 및 2C는 일련의 곡률 문제의 예시하는 도면이다.
도 3은 본 발명의 프로세스를 예시하는 흐름도이다.
도 4는 마킹을 갖는 서식의 레이아웃을 도시한다.
도 5A, 6A 및 7A는 본 발명의 하나 이상의 프로세스를 이용하여 판독될 수 있는 서식의 예들을 도시한다.
도 5B, 6B 및 7B는 본 발명에 설명된 하나 이상의 프로세스에 따라 도 5A, 6A 및 7A에 도시된 서식을 섹터로 분할하는 것을 예시하는 도면이다.
도 1은 광원(4)에 의해 조사되고 있는 서식(2)을 예시하는 것으로, 서식(2)으로부터 반사된 광(6)은 카메라(18)에 의해 수신되고 있다. 서식은, 예를 들어, 인쇄된 문서, 놀이 쪽지, 스크래치형 복권 혹은 즉석식 복권을 나타낼 수 있다. 서식(2)은 카메라(18)로부터 몇 인치 내지 한 발짝 이상 떨어져서 놓여있는 평판(5) 위에 위치되어 있다. 비록 카메라 장면의 섹션들이 그리고 따라서 서식(2)이 순서대로 처리되더라도, 이런 배열은 전체 서식(2)이 카메라에 조망될 수 있게 한다. 이미지는 카메라의 감광성 표면에 새겨지고, 이 이미지는 카메라 전자장치(8)에 의해 다운로드되어, 픽셀 혹은 픽셀 데이터로 디지털화 및 저장될 비디오 신호(10)를 발생하게 되는데, 이때 컴퓨터 처리 시스템(12)의 프로세서(14), 바람직하게는 마이크로 프로세서가 이 픽셀 데이터에 대해 동작한다. 컴퓨터 처리 시스템(12)은 적어도 메모리(18)와 I/O 장치 드라이버(16)를 포함하고, 이 I/O 장치 드라이버는 디스플레이, 키보드, 버튼, 프린터 및 통신을 다룬다. 컴퓨터 처리 시스템(12)은 그 다음에 컴퓨터 네트워크(17)에 연결될 것이다.
메모리(18)는 최소한 하나 이상의 이미지 버퍼와, 다른 버퍼, 캐시 등을 포함할 것이다. 운영 체계와 소프트웨어 애플리케이션은 메모리(18)에 저장될 것이다. 이후에 논의되는 처리 애플리케이션(13)은 굴곡진 서식의 곡률 혹은 왜곡을 보정 혹은 보상하는 프로세스를 포함한다. 일 실시예로, 외장 분리형 플래시 메모리(19)는 소유 소프트웨어(proprietary software)를 포함할 수도 있고, 이 소프트웨어는 컴퓨터 프로세서 시스템(12)으로 업로드된다. 이 실시예에서, 플래시 메모리(19)를 제거하는 것은 컴퓨터 프로세서 시스템(12)에서 소유 소프트웨어를 제거하는 것이다.
컴퓨터 네트워크(17)는 예컨대 인터넷 같은 공중망일 수도 있고 사설망일 수도 있는데, 어떤 경우이든 예컨대 금융 정보 같은 정보는 외부 간섭을 차단하고 보안을 위해 암호화될 수도 있다. 이 예에서, 정보는 서식으로부터 유도되어, 네트워크(17)를 통해 중앙 제어기(15)로 전송될 것이다. 그 다음에 중앙 제어기(15)는 금융 정보를 확인하고, 그에 따라 행동하는 에이젠트(agents)를 인증한다.
도 2A 및 2B(비규격 축척임)는 구부러지거나 말리거나 접히거나 구겨진 서식(2)이 사전에 놓여져 카메라(18)에 의해 조망될 때 발생하는 일부 문제를 예시한다. 이 예에서, 단일 굴곡부(bend)(20)를 갖는 서식(2)이 평판(5) 위에 놓여지고, 예컨대 LED 어레이(22) 같은 광원으로부터 광(4)이 조사된다. 이 예에서, 정사각형 마크(24)가 서식(2)의 굴곡부에 놓여있고, 광원의 광(26)이 이 정사각형(24)으로부터 카메라(18)에 반사된다. 광 빔(26)은 각도 θ를 정의하고, 이것은 서식(2)이 없을 경우에 광이 위치(24')에서 평판(5)을 타격하는 각도 θ와 동일한 것이다. 그러나 광 빔(26)의 확산으로 인해 서식(2) 위의 정사각형(24)의 사이즈는 평판(5) 위의 정사각형(24')의 사이즈보다 더 작다. 컴퓨터 프로세서 시스템(12)은 굴곡(20)을 모르고, 마치 위치(24')에 마크처럼 큰 표시가 있었던 것처럼 위치(24)에서 마크를 처리한다. 만약 카메라 이미지 해석이 마크를 해석함에 있어 사이즈를 요인으로 이용할 경우, 굴곡은 이미지에 사이즈 오류를 도입시킬 것이다.
도 2B는 도 2A에 제시된 것과 동일한 실시예의 측면도로, 광 빔(26)이 정사각형(24)에서 굴곡진 서식(2)을 교차하고, 정사각형(24')에서 평판(5)을 교차한다. 정사각형(24)의 측면관의 길이는 정사각형(24')의 측면관의 길이보다 훨씬 더 짧다. 그러나 도 2C의 도면에 예시된 것처럼 또 다른 문제점이 존재한다.
도 2C에서, 단일 점 A는 서식(2)의 굴곡부에 위치한다. 작은 광 빔(26)이 A로부터 카메라(18)에 반사된다. 전술한 바와 같이, 점 A는 투영 점 A'보다 사이즈가 더 작을 것이다. 하지만, 굴곡부가 평판(5)에 대해 편평해지면(28), 점 A는 위치 A'에 위치된다. 투영점 A'와 A'' 사이에 오프셋(30), 즉 위치 오류가 존재한다. 이미지 분석기는 A가 마치 위치 A'에 위치했던 것처럼 마크 A를 처리할 것이지만, 진짜 위치는 위치 A''이다.
서식(2)의 굴곡(20)은 적어도 사이즈 오류와 위치 오류를 생성한다. 만약 서식(2)이 곡선으로 감겨있거나 혹은 다수의 굴곡을 가지면, 최종 오류는 수용하기 훨씬 더 어려울 것이다.
도 3은 본 발명에 따라 공지의 서식의 픽셀 데이터를 처리하는 방법을 예시한다. 이 프로세스에 따르면, 넓은 의미로, 미판독 이미지의 픽셀 데이터는 처리 시스템 메모리(18)(도 1)에 저장된 해당 서식의 모델 이미지와 비교된다. 모델 이미지는 모든 얼라인먼트 마크의 위치를 포함하는 견본처럼 이용된다. 모델 이미지 서식은 섹터로 나뉘는데, 이때 다수의 얼라인먼트 마크가 각각의 섹터를 정의하고 각 섹터에 대해 전달 함수를 포함한다. 포획 및 저장된 이미지에서 얼라인먼트 마크의 위치와 모델 이미지는 전달 함수의 계수를 결정한다. 이때 전달 함수는 미판독 이미지의 대응하는 섹터에서 마크의 위치에 적용되어, 보정된 위치를 발생하고, 이들 마크의 의미는 모델 이미지의 대응 위치를 참고하여 결정된다. 모델 이미지 상에서 마크의 위치가 갖는 의미는 저장된다.
더 구체적으로 말하면, 도 3에 예시된 프로세스는, 마크 예컨대 얼라인먼트 점 혹은 마크를 포함하고 있는 공지의 서식 유형의 포획된 미판독 이미지로 시작한다(31). 특정 서식의 미판독 이미지에 대응하는 저장된 모델 이미지가 검색된다(32). 포획된 이미지 상에서 얼라인먼트 마크의 위치가 발견되고(33), 모델 이미지 상의 대응하는 얼라인먼트 마크의 위치를 이용하여 전달 함수의 계수들이 도출된다(34).
전달 함수가 섹터에 대해 결정되면, 이 전달 함수는 해당 섹터 혹은 그 근처에서 다른 얼라인먼트 마크에 적용된다. 포획된 이미지의 얼라인먼트 마크의 보정된 위치와 모델 이미지의 얼라인먼트 마크의 위치를 비교하면, 오류가 계산될 것이다(35). 오류 임계치는 허용가능한 오류에 대해 설정될 수 있을 것이고, 만약 오류가 임계치 내에 있다면, 서식은 본 원에 설명되는 것처럼 추가 처리될 것이다. 만약 오류가 너무 크면, 본 원에서 설명되듯이, 허용가능한 오류가 발견될 때까지 다른 근접한 얼라인먼트 마크가 이용될 것이다. 만약 허용 불가능한 오류만 남아 있다면, 이 서식은 거부될 것이다(46).
허용 가능한 오류란, 해석 시스템이 서식 상에 허용할 수 있는 공지의 위치를 할당하는 위치 오류보다 더 작은 오류일 것이다. 예를 들어, 마크가 만들어질 수 있는 영역은 옆면으로 정사각형의 0.1 인치까지일 수 있다. 0.05 인치 위치 오류는 허용 가능한 오류일 것이다.
만약 오류가 모두 허용가능한 것이라면(40), 각각의 섹터에 대한 전달 함수가 섹터 내 모든 마크에 대해 적용되고(42), 포획된 이미지의 모든 마크에 대해 보정된 위치가 발생한다(44). 전술한 것처럼, 모든 마크의 의미는 모델 이미지의 대응 위치를 참조하여 파악된다(48).
만약 오류가 허용 불가능한 상태라면, 전달 함수가 서식의 모든 섹터의 마크에 대해 허용가능 오류를 도출할 때까지, 다른 얼라인먼트 마크를 이용해 더 작은 섹터가 연속적으로 채용될 것이다(45). 만약 허용 가능 오류가 발견되지 않으면, 서식은 거부된다(46).
예시적으로, 서식이 삼각형 및 직사각형 섹터로 나뉠 수도 있지만, 이런 영역을 포함하는 도면은 도시되지 않는다.
다른 응용에서, 서식의 거부율이 허용가능할 때까지 샘플 혹은 테스트 서식을 제공함으로써 허용가능 오류가 결정될 수 있다. 일부 응용에서, 허용 가능 오류는 간단히 추정될 수도 있다.
다음은 선형 보정 프로세스의 적용을 예시하는 매우 단순화한 예를 설명한다. 도 4는 편평하게 놓인 서식(50)의 평면도를 예시한다. 얼라인먼트 마크(54a, 54b, 54c, 54d)와 얼라인먼트 마크(54a', 54b', 54c', 54d')가 도시된 바와 같이 정렬된다. 예를 들어, 예시적인 기본 선형 보정 계수인 경우, 얼라인먼트 마크(54a, 54b) 사이의 포획 및 저장된 이미지의 계산된 거리는 모델 이미지의 해당 거리의 80%밖에 안될 것이다. 이 계수를 이용하여, 마크 C에서 마크(54a)까지의 포획된 이미지 상의 거리는 거리에 1/0.8 즉 1.25를 곱함으로써 보정될 것이다. 다음, 마크 C는 모델 이미지 상의 해당 위치에 있는 마크로서 해석될 것이고, 모델 이미지 상의 해당 위치의 중요도가 마크 C에 배정될 것이다. 마크 C는 로고이거나, 다른 얼라인먼트 마크일 수도 있고, 혹은 사람이 만든 마크일 수도 있다. 만약 얼라인먼트 마크들이 서로 더 근접한다면, 실제 거리 오류는 그만큼 줄일 수 있음에 유의하라. 즉, 만약 5 인치 거리가 1%로 보정될 경우, 보정은 0.05 인치이지만, 만약 거리가 2.5 인치라면, 동일한 보정 계수는 단지 0.025 인치일 것이다. 따라서 얼라인먼트 마크가 더 가까울수록 오류는 더 작아진다.
서식 상에서 어떤 유형의 마크의 검출은 마크의 에지를 정하는 콘트라스트를 수반하고, 이때 마크의 특성 혹은 속성이 발견될 수 있다. 전형적으로, 모든 서식 유형은 로고를 갖는데, 이 로고는 쉽게 발견 및 인식될 정도로 상당히 다른 속성을 가질 것이고, 만약 발견되지 않으면, 서식 유형이 대리인에 의해 입력되거나 혹은 서식이 거부될 수 있다. 마찬가지로 얼라인먼트 마크는 쉽게 검출되도록 특색을 갖는다.
에지 혹은 마크를 검출하고, 마크의 속성을 계산하는 공지된 기술이 존재하지만, 이것은 본 원에서 더 이상 논의되지 않는다.
도 4의 실시예에서, 포획 및 저장된 이미지와 모델 이미지 서식의 4개의 코너에서 4개의 얼라인먼트 마크(54a, 54b, 54c, 54d)를 해석하는 것은 전달 함수를 발생하고, 이 전달 함수는 적용시에 허용 가능 오류를 초래한다. 만약 그렇다면, 포획 및 저장된 이미지의 다른 마크는 전달 함수에 의해 처리될 수 있을 것이다. 이런 예는 서식의 처리를 빨라지게 한다.
만약 어떤 오류가 너무 큰 것으로 여겨지면, 일부 응용에서, 추가의 얼라인먼트 마크(예컨대 54a', 54b', 54c', 54d')가 채용될 수도 있다. 이러한 8개의 얼라인먼트 마크가 이용될 경우, 서식은 3개의 섹터(52, 53, 55)로 나뉠 것이다. 전달 함수는 각각의 섹터에 대해 전개될 것이고, 각 섹터 내부에서 발견되는 모든 마크는 해당 전달 함수를 이용하여 보정될 것이다. 더욱이, 얼라인먼트 마크는 만약 허용될 수 있는 경우라면 서식의 중앙부분 D 내부에 위치될 수도 있다. 이용되는 섹션이 많을수록 서식 처리가 더 오래 걸릴 것이다. 그러나 만약 섹터 내에 다른 마크가 전혀 없다면, 이 섹터는 처리될 필요가 없음을 유의하라.
도 5A, 6A 및 7A는 3개의 예시적인 서식을 예시한다. 도 5A는 서식의 외곽 주변부에 분포된 11개의 얼라인먼트 마크(60)를 갖는다. 각각의 얼라인먼트 마크(60)는 해당 서식 유형에 대해 공지된 형상을 갖는다. 도 6A는 서식의 중앙부에도 분포된 얼라인먼트 마크(70)를 갖는 다른 서식 유형을 도시한다. 이 서식 유형은 10개의 주변 얼라인먼트 마크(72)와 함께 2개의 중앙 얼라인먼트 마크(70)를 갖는다.
도 7A는 또 다른 서식 유형이다. 여기에서 얼라인먼트 마크는 도 6A의 것과 유사하게 위치되어 있지만, 중앙 마크(76)와 주변 마크(74)가 도 6A와 비교해서 더 얇으며, 굵은 활자체가 아니다. 도 7A에서, 얼라인먼트 마크는 덜 선명하므로, 평상시에 보는 사람에게 덜 방해가 된다.
도 5B, 6B 및 7B는 도 5A, 6A 및 7A에 도시된 해당 서식 유형에 적용될 수 있는 섹터 분할을 예시한다. 도 5B에서, 5개의 삼각형 섹터(81, 82, 83, 84, 85)가 존재하고, 각각은 3개의 포인트로 형성되며, 본 원에 도시된 것과 같은 3-포인트 전달 함수를 가질 것이다. 도 5B는 1개의 사각형 섹터(87)와, 다른 4면 섹터(86)를 갖는다. 이러한 4면 섹터는 적용되는 4-포인트 전달 함수를 가질 것이다.
도 6B 및 7B는 6개 직사각형 혹은 정사각형 섹터(90, 92)를 각기 갖고 있는 것으로 도시된다. 4-포인트 전달 함수는 이들 섹터의 각각에 대해 전개된다.
전달 함수는, 전술했듯이, 예컨대 직사각형 서식이 종이 한 장이므로, 종종 판독 문제를 유발시키는 왜곡이 일어날 수 있다. 종이 서식 위의 직선들이 포획 이미지에서 반드시 직선일 필요는 없을 것이다. 그러나 서식의 견본 혹은 모델 이미지는 왜곡되지 않은 마크와 선들을 갖는 편평한 보통의 직사각형 서식을 나타낼 것이다. 본 발명은 포획된 이미지 상의 곡률 왜곡에 대해 보상 혹은 보정을 제공하는 비선형 전달 함수를 제공한다.
전술한 바와 같이, 본 발명의 하나 이상의 실시예에 따르면, 서식의 각 모델 이미지는 다수의 섹터로 분할될 것인데, 이 섹터의 일부 섹터는 3개 얼라인먼트 마크로 정의될 수도 있고, 다른 섹터들은 4개의 얼라인먼트 마크로 정의될 수도 있으며, 또 다른 섹터들은 4개 이상의 마크로 정의될 수도 있다.
3-포인트 방정식 및 해답
만약 섹터가 3개의 얼라인먼트 마크로 정의된다면, 섹터 내부의 위치에 적용되는 전달 함수는 다음과 같다.
x'=A'x+B'y+C' 식 (1)
y'=D'x+E'y+F' 식 (2)
일단 6개의 계수(A, B, C, D, E, F)가 포획된 특정 서식 이미지와 관련해 유도되면, 식 (1), (2)는 모델 이미지의 어떤 위치(x, y)를 포획된 이미지의 대응 좌표(x', y')로 변환하는데 적용될 수 있다.
다음의 논의는 이 방정식을 풀이하는 한 가지 방법을 예시한다. 식 (1) 및 (2)는 다음의 행렬 형태로 배열될 수 있다.
A, B 및 C를 풀기 위해,
Figure pct00006
D, E 및 F를 풀기 위해
Figure pct00007
행렬을 간단히 하기 위해, 크래머 공식(Cramer's Rule)을 이용하여 이것을 쉽게 해결할 수 있다. 예를 들면,
Figure pct00008
4-포인트 방정식 및 해답
만약 섹터가 4개의 얼라인먼트 마크로 정의된다면, 이 섹터 내부 위치에 적용될 수 있는 전달 함수는 다음과 같이 정의될 것이다.
Figure pct00009
식 (3)
Figure pct00010
식 (4)
일단, 8개의 계수(A, B, C, D, E, F, G, H)가 포획된 특정 이미지와 관련하여 유도되면, 식 (3), (4)는 모델 이미지의 어떤 위치(x, y)를 포획된 이미지의 대응 좌표(x', y')로 변환하는데 이용될 수 있다.
다음의 논의는 이 식을 풀이하는 한 가지 방법을 예시한다. 식 (3), (4)는 다음과 같이 오히려 행렬에 가까운 형태로 배열될 수 있다.
Figure pct00011
식 (5)
Figure pct00012
식 (6)
식 (5) 및 (6)은 가우스 소거법을 이용하여 연립 방정식으로 풀이될 수 있다. 가우스 소거법에 따르면, 다음의 8x9 첨가 행렬의 어셈블리가 필요하고, 상부 삼각화 및 후위 대입이 적용된다.
Figure pct00013
곡률 보정에 적용되는 쌍 이차 변환( biquadratic transformation )
섹터를 정의하는데 4개 이상의 얼라인먼트 마크가 이용될 때, 이 섹터 내부의 위치에 적용될 수 있는 전달 함수는 다음의 쌍 이차 방정식에 의해 정의될 수 있는데, 이것은 쌍 이차 변환을 나타내는 것이다.
Figure pct00014
식 (7)
여기에서 A'' 및 B''는 변환의 계수 행렬이고, 두 개의 1x8 행렬로 각기 표현될 수 있다.
Figure pct00015
그리고 U는 1x8 행렬이고, 그 전치행렬 UT는 8x1 행렬이다. U 대신에 UT는 다음과 같이 간단히 정의된다.
Figure pct00016
이것은 un=un(x,y)(이때, n=1, 2, ..., 8)이 x와 y의 함수임을 의미한다.
이 8-포인트 전달 함수는 계수 행렬 A''와 B''를 결정하는데 8개의 기준 포인트를 필요로 한다.
이것이 견본 혹은 모델 이미지에 8개의 기준 포인트를 갖는다고 가정하자.
Figure pct00017
그리고 포획된 공간의 8개의 대응 포인트는 다음과 같다.
Figure pct00018
이 8개의 포인트를 식 (1)에 대입하면, 이것은 다음을 갖는다(j=1, 2, ..., 8)
Figure pct00019
혹은 행렬 형태에서, 전술한 두 개의 직선은 다음과 같이 된다.
Figure pct00020
식 (8)
여기에서 행렬 A 및 B는 전술한 것과 동일하고, 행렬 X', Y' 및 Q는 다음과 같이 정의된다.
Figure pct00021
식 (8)에서, X', Y' 및 Q는 모두 공지된 것이지만, A, B는 풀어야할 공지되지 않은 것이다.
만약 행렬 Q가 특이행렬(singular)이면, 식 (2)에 주어진 전술한 두 개의 1차 방정식은 해가 없으며, 이것은 전술한 것이 아닌 서로 다른 8개의 기준 포인트를 선택해야 한다.
만약 행렬 Q가 특이행렬이 아니라면, 이것은 식 (2)로부터 계수 행렬 A 및 B를 풀이할 수 있고 다음을 얻는다.
Figure pct00022
식 (9)
여기에서 Q-1은 행렬 Q의 역행렬이다.
A 및 B를 식 (1)에 대입하면 다음과 같이 된다.
Figure pct00023
식 (10)
혹은 그와 등가인
Figure pct00024
식 (11)
여기에서, x'j, y'j(여기에서 j=1, 2, ..., 8)는 포획된 공간에서 사전 선택된 8개의 기준 포인트의 공지된 좌표들이다. Q-1도 공지된 것인데, 이것은 견본 혹은 모델 이미지의 사전 선택된 8개의 기준 포인트의 좌표들(xj,yj)에만 의존하기 때문이다. 견본에서 소정의 포인트(x,y)와 관련하여, un(x,y)(n=1, 2, ..., 8)이 계산될 수 있다. 그러므로, 견본에서 어떤 포인트와 관련하여, 포획된 공간의 대응하는 포인트(x',y')를 전술한 두 개의 식에서 얻을 수 있다.
실제로 Q- 1는 속도를 높이기 위해 오프라인으로 계산될 수 있다. 이것은 우리가 모든 (x,y) 대(x',y') 변환 쌍에 대해 Q- 1를 계산할 필요가 없음을 의미한다. 이것은 견본 내에서 8개의 기준 포인트가 선택된 이후에 한 번만 계산될 수 있다.
전술한 실시예들은 본 원에서 예를 들어 제공되는 것으로, 이에 대한 많은 변화와 대안이 가능함을 이해해야 한다. 따라서, 본 발명은 첨부된 특허청구범위에 제시된 것처럼 정의됨에 있어서 광범위하게 여겨져야 한다.

Claims (20)

  1. 미판독 서식(unread form) 상의 정보를 판독하는 프로세스에 있어서,
    미판독 서식의 모델 이미지―상기 모델 이미지는 얼라인먼트 마크(alignment marks)를 포함함―를 컴퓨터 시스템에 저장하는 단계와,
    미판독 서식의 이미지―상기 미판독 이미지는 상기 모델 이미지 상의 상기 얼라인먼트 마크에 대응하는 얼라인먼트 마크를 포함함―를 상기 컴퓨터 시스템에 저장하는 단계와,
    상기 모델 이미지를 섹터들의 그룹(group of sectors)―각각의 섹터는 적어도 3개의 얼라인먼트 마크의 위치에 의해 정의됨―으로 분할하는 단계와,
    상기 모델 이미지 상의 얼라인먼트 마크를 상기 미판독 이미지상의 대응하는 얼라인먼트 마크와 비교함으로써, 상기 모델 이미지 상의 섹터에 대응하는 상기 미판독 이미지 상의 섹터를 검출하는 단계와,
    상기 모델 이미지 및 상기 미판독 이미지의 대응하는 얼라인먼트 마크의 위치로부터 상기 미판독 이미지의 각각의 섹터에 대해 전달 함수를 발생시키는 단계와,
    상기 미판독 서식의 판독이 가능해지도록 상기 마크의 보정된 위치를 발생시키기 위해, 상기 미판독 이미지의 대응하는 섹터 상의 마크의 위치에 대해 각각의 섹터의 전달 함수를 적용하는 단계를 포함하는 정보 판독 프로세스.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 미판독 이미지의 각각의 섹터―각각의 섹터에 대한 상기 전달 함수는 상기 미판독 이미지의 왜곡(distortion)을 보상함―에 대해 좌표계를 형성하는 단계와,
    상기 모델 이미지의 각각의 섹터 내부의 대응하는 위치를 참조하여, 상기 미판독 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크의 보정된 위치의 의미(meanings)를 결정하는 단계를 더 포함하는 정보 판독 프로세스.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 섹터는 3개의 얼라인먼트 마크의 위치에 의해 정의되고,
    상기 프로세스는,
    상기 3개의 얼라인먼트 마크에 의해 정의된 각각의 섹터에 3-포인트 전달 함수 방정식(three point transfer function equation)을 적용하는 단계를 더 포함하는 정보 판독 프로세스.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 모델 이미지에서의 마크의 위치에 대해 x, y 좌표계를 구성하고, 상기 미판독 이미지에서의 마크에 대해 x', y' 좌표계를 구성하는 단계를 더 포함하며, 3-마크 전달 함수는
    Figure pct00025
    및
    Figure pct00026
    인 것인 정보 판독 프로세스.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 섹터는 4개의 얼라인먼트 마크의 위치에 의해 정의되고,
    상기 프로세스는,
    상기 4개의 얼라인먼트 마크에 의해 정의된 각각의 섹터에 4-포인트 전달 함수 방정식(four point transfer function equation)을 적용하는 단계를 더 포함하는 정보 판독 프로세스.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 모델 서식 이미지에서의 마크의 위치에 대해 x, y 좌표계를 구성하고, 상기 미판독 서식 이미지에서의 마크에 대해 x', y' 좌표계를 구성하는 단계를 더 포함하며, 4-마크 전달 함수는
    Figure pct00027

    및
    Figure pct00028

    인 것인 정보 판독 프로세스.
  7. 제 2 항에 있어서,
    8개의 얼라인먼트 마크에 의해 정의되는 상기 미판독 서식 이미지의 각각의 섹터에 다중-마크 전달 함수(multi-mark transfer function)를 적용하는 단계를 더 포함하며, 상기 전달 함수는
    Figure pct00029

    및
    Figure pct00030

    인 것인 정보 판독 프로세스.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 미판독 이미지 상의 특정 마크의 보정된 위치―상기 모델 이미지 상의 특정 마크의 위치는 공지되어 있음―를 발생시키는 단계와,
    상기 미판독 이미지 상의 특정 마크의 보정된 위치와, 상기 모델 이미지 상의 특정 마크의 대응하는 공지된 위치 사이의 거리차를 계산하는 단계와,
    오류 임계치(error threshold)를 설정하는 단계와,
    상기 임계치와 상기 거리차를 비교하고, 상기 거리차가 상기 임계치를 초과하면, 상기 서식을 거부하는 단계를 더 포함하는 정보 판독 프로세스.
  9. 공지의 서식(known form) 상의 마킹(markings)을 처리 및 보정하는 시스템에 있어서,
    서식에 조사되는 광―상기 광의 일부는 서식에 의해 반사됨―과,
    상기 서식으로부터 반사되는 광을 수신하도록 배열된 카메라와,
    상기 서식의 미판독 이미지―상기 미판독 이미지는 다수의 위치에 얼라인먼트 마크를 가짐―를 추출 및 저장하는 카메라 전자장치와,
    얼라인먼트 마크를 갖는 상기 서식의 모델 이미지와,
    얼라인먼트 마크의 위치에 의해 정의되는 섹터와,
    상기 저장된 미판독 이미지와 상기 모델 이미지의 대응하는 얼라인먼트 마크의 위치로부터의, 각각의 섹터에 대한 전달 함수와,
    상기 저장된 미판독 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크에 대한 상기 전달 함수의 적용에 의해, 상기 저장된 미판독 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크의 보정된 위치를 발생시키는 애플리케이션을 포함하는 시스템.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 저장된 미판독 이미지 및 상기 모델 이미지 상의 위치에 대한 좌표계와,
    상기 모델 이미지 상의 대응하는 위치를 참조하여, 보정된 위치를 갖는 마크의 의미를 결정하는 애플리케이션을 더 포함하는 시스템.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 저장된 미판독 이미지 상의 보정된 위치를 갖는 특정 마크 및 상기 모델 이미지 상의 대응하는 특정 마크―상기 모델 이미지 상의 특정 마크의 위치는 공지된 것임―와,
    상기 미판독 이미지 상의 특정 마크의 보정된 위치와, 상기 모델 이미지 상의 특정 마크의 대응하는 공지된 위치 사이의 거리차를 계산하는 계산기와,
    오류 임계치와,
    상기 거리차를 상기 오류 임계치와 비교하고, 상기 거리차가 상기 임계치를 초과하면 상기 서식을 거부하는 비교기를 더 포함하는 시스템.
  12. 공지된 유형의 서식 상에서 마크의 위치를 결정하기 위해 실행가능한 프로그램 명령어들을 포함하는 컴퓨터 판독 가능 매체에 있어서,
    상기 실행가능한 프로그램음 하나 이상의 프로그램 명령어들을 포함하며, 상기 하나 이상의 프로그램 명령어들은,
    미판독 서식의 모델 이미지―상기 모델 이미지는 얼라인먼트 마크를 포함함―를 컴퓨터 시스템에 저장하는 프로그램 명령어와,
    미판독 서식의 이미지―상기 미판독 이미지는 상기 모델 이미지 상의 상기 얼라인먼트 마크에 대응하는 얼라인먼트 마크를 포함함―를 상기 컴퓨터 시스템에 저장하는 프로그램 명령어와,
    상기 모델 이미지를 섹터들의 그룹―각각의 섹터는 적어도 3개의 얼라인먼트 마크의 위치에 의해 정의됨―으로 분할하는 프로그램 명령어와,
    상기 모델 이미지 상의 얼라인먼트 마크를 상기 미판독 이미지 상의 대응하는 얼라인먼트 마크와 비교함으로써, 상기 모델 이미지 상의 섹터에 대응하는 상기 미판독 이미지 상의 섹터를 검출하는 프로그램 명령어와,
    상기 모델 이미지와 상기 미판독 이미지의 대응하는 얼라인먼트 마크의 상기 위치로부터 상기 미판독 이미지의 각각의 섹터에 대해 전달 함수를 발생시키는 프로그램 명령어와,
    상기 미판독 서식의 판독이 가능해지도록 상기 마크의 보정된 위치를 발생시키기 위해, 상기 미판독 이미지의 대응하는 섹터 상의 마크의 위치에 대해 각각의 섹터의 전달 함수를 적용하는 프로그램 명령어를 포함하는 것인 컴퓨터 판독 가능 매체.
  13. 제 12 항에 있어서,
    각각의 섹터에 대해 좌표계를 형성―각각의 섹터에 대한 전달 함수는 왜곡을 보상함―하는 프로그램 명령어와,
    상기 모델 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크의 대응하는 위치를 참조하여, 상기 미판독 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크의 보정된 위치의 의미를 결정하는 프로그램 명령어와,
    3개의 얼라인먼트 마크에 의해 정의되는 각각의 섹터에 3-마크 전달 함수(a three mark transfer function)를 적용하는 프로그램 명령어를 더 포함하는 컴퓨터 판독 가능 매체.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 3-마크 전달 함수는
    Figure pct00031
    이고,
    Figure pct00032
    인 것인 컴퓨터 판독 가능 매체.
  15. 제 12 항에 있어서,
    각각의 섹터에 대해 좌표계를 형성―각각의 섹터에 대한 상기 전달 함수는 왜곡을 보상함―하는 프로그램 명령어와,
    상기 모델 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크의 대응하는 위치를 참조하여, 상기 미판독 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크의 보정된 위치의 의미를 결정하는 프로그램 명령어와,
    4개의 얼라인먼트 마크에 의해 정의되는 각각의 섹터에 4-마크 전달 함수를 적용하는 프로그램 명령어를 더 포함하는 컴퓨터 판독 가능 매체.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 4-마크 전달 함수는,
    Figure pct00033

    및
    Figure pct00034

    인 것인 컴퓨터 판독 가능 매체.
  17. 제 12 항에 있어서,
    각각의 섹터에 대해 좌표계를 형성―각각의 섹터에 대한 상기 전달 함수는 왜곡을 보상함―하는 프로그램 명령어와,
    상기 모델 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크의 대응하는 위치를 참조하여, 상기 미판독 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크의 보정된 위치의 의미를 결정하는 프로그램 명령어와,
    8개의 얼라인먼트 마크에 의해 정의된 각각의 섹터에 다중-마크 전달 함수를 적용하는 프로그램 명령어를 더 포함하며, 상기 다중-마크 전달 함수는
    Figure pct00035

    및
    Figure pct00036

    인 것인 컴퓨터 판독 가능 매체.
  18. 제 12 항에 있어서,
    상기 모델 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크의 대응하는 위치를 참조하여, 상기 미판독 이미지의 각각의 섹터 내부의 상기 마크의 보정된 위치의 의미를 결정하는 프로그램 명령어를 더 포함하는 컴퓨터 판독 가능 매체.
  19. 제 1 항에 있어서,
    상기 미판독 서식은, 인쇄된 문서, 놀이 쪽지(a play slip), 스크래치형 복권(a lottery scratch ticket) 및 즉석 복권(a lottery instant ticket)으로 구성된 그룹에서 선택되는 것인 정보 판독 프로세스.
  20. 제 9 항에 있어서,
    상기 공지된 서식은, 인쇄된 문서, 놀이 쪽지, 스크래치형 복권 및 즉석 복권으로 구성된 그룹에서 선택되는 것인 시스템.
KR1020117014521A 2008-11-26 2009-11-24 곡률 보정을 위한 이미지 처리 KR20110102361A (ko)

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US12/323,701 US8233200B2 (en) 2005-03-14 2008-11-26 Curvature correction and image processing
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