KR20110092078A - 불량 화소 제거 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 5×5 마스크에서 각 화소의 위치좌표를 나타낸 도면,
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 베이어 패턴의 화소의 종류를 도시한 도면,
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 불량화소 제거 장치의 내부블록 구성도,
도 5는 본 발명의 실시예에 따라 인터채널에서 이용되는 각 라인을 도시한 도면,
도 6은 본 발명의 실시예에 따라 화소값들의 배치를 나타낸 도면,
도 7은 본 발명의 실시예에 따라 2개의 불량화소들의 위치를 나타낸 도면.
Claims (22)
- 불량화소 제거 장치에 있어서,
중심화소의 값과, 상기 중심화소의 컬러와 동일한 컬러의 주변화소들의 평균값을 이용하여 인터채널의 출력값을 결정하는 인터채널 결함 제거부와,
상기 중심화소와 다른 컬러를 가지는 상기 중심화소와 인접한 주변화소들의 값을 이용하여 크로스채널의 출력값을 결정하는 크로스채널 결함 제거부와,
상기 중심화소의 값을 출력하는 센터 처리부와,
상기 인터채널의 출력값, 상기 크로스채널의 출력값 및 상기 중심화소의 값 중에서 최종 중앙값을 산출하는 중앙값 산출부와,
상기 산출된 최종 중앙값과 상기 중심화소의 값 간의 차이를 근거로 불량화소를 제거하는 불량화소 판단부를 포함함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 인터채널 결함 제거부는,
상기 중심화소의 값과 상기 평균값 간의 차이가 임계값 이상일 경우 상기 중심화소의 값 및 상기 동일한 컬러의 주변화소들의 값을 이용하여 상기 중심화소를 중심으로 하는 제1방향 라인, 제2방향 라인, 제3방향 라인, 제4방향 라인에 대한 각각의 중앙값을 산출하고, 상기 산출된 중앙값들을 이용하여 상기 인터채널의 중앙값을 산출하고, 상기 산출된 인터채널의 중앙값을 상기 인터채널의 출력값으로 결정함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 인터채널 결함 제거부는,
상기 각각의 중앙값이 산출되면, 상기 제1방향 라인의 중앙값과 상기 제3방향 라인의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 중앙값, 상기 제2방향 라인의 중앙값과 상기 제4방향 라인의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 최종 중앙값을 상기 인터채널의 출력값으로 결정함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 인터채널 결함 제거부는,
상기 중심화소의 값과 상기 평균값 간의 차이가 임계값 이하일 경우 상기 중심화소의 값을 상기 인터채널의 출력값으로 결정함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 크로스채널 결함 제거부는,
상기 중심화소의 값 및 상기 인접한 주변화소들의 값을 이용하여 상기 중심화소를 중심으로 하는 제1방향 라인, 제2방향 라인, 제3방향 라인, 제4방향 라인에 대한 각각의 중앙값을 산출하고, 상기 산출된 중앙값들을 이용하여 상기 크로스채널의 출력값을 결정함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제5항에 있어서, 상기 크로스채널 결함 제거부는,
상기 각각의 중앙값이 산출되면, 상기 제1방향 라인의 중앙값과 상기 제3방향 라인의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 중앙값, 상기 제2방향 라인의 중앙값과 상기 제4방향 라인의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 최종 중앙값을 상기 크로스 채널의 출력값으로 결정함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제2항 또는 제5항에 있어서,
상기 제1방향 라인은 수직방향 라인이며, 상기 제2방향 라인은 45도 방향 라인이며, 상기 제3방향 라인은 90도 방향 라인이며, 상기 제4방향 라인은 135도 방향 라인임을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 불량화소 판단부는,
상기 산출된 최종 중앙값과 상기 중심화소의 값 간의 차이가 상기 평균값과 상기 산출된 최종 중앙값과의 차이보다 클 경우, 상기 중심화소를 불량화소라고 판단함으로써 상기 불량화소를 제거함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제8항에 있어서, 상기 불량화소 판단부는,
상기 산출된 최종 중앙값과 상기 중심화소의 값 간의 차이가 상기 평균값과 상기 산출된 최종 중앙값과의 차이보다 작을 경우, 추가로 제거해야 할 불량화소가 있다고 판단함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제9항에 있어서, 상기 추가로 제거해야 할 불량화소가 있는 경우 상기 인터채널 결함 제거부는,
상기 중심화소의 컬러와 동일한 컬러의 주변화소들 중에서 상기 중심화소의 값과 가장 가까우면서 상기 평균값과 가장 차이가 큰 화소를 추가 불량화소로 판단하고, 상기 평균값을 상기 추가 불량화소의 값으로 대체함으로써 새로운 평균값을 결정함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제10항에 있어서, 상기 인터채널 결함 제거부는,
상기 중심화소의 값, 상기 동일한 컬러의 주변화소들 및 상기 새로운 평균값을 이용하여 상기 인터채널의 새로운 출력값을 결정함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 제11항에 있어서, 상기 중앙값 산출부는, 상기 인터채널의 새로운 출력값, 상기 크로스채널의 출력값 및 상기 중심화소의 값 중에서 새로운 중앙값을 산출하고,
상기 불량화소 제거부는, 상기 산출된 새로운 중앙값과 상기 중심화소의 값 간의 차이를 근거로 추가 불량화소를 제거함을 특징으로 하는 불량화소 제거 장치.
- 불량 화소 제거 장치에서 불량 화소 제거를 위한 방법에 있어서,
중심화소의 값과, 상기 중심화소의 컬러와 동일한 컬러의 주변화소들의 평균값을 이용하여 인터채널의 출력값을 결정하는 과정과,
상기 중심화소와 다른 컬러를 가지는 상기 중심화소와 인접한 주변화소들의 값을 이용하여 크로스채널의 출력값을 결정하는 과정과,
상기 중심화소의 값을 출력하는 과정과,
상기 인터채널의 출력값, 상기 크로스채널의 출력값 및 상기 중심화소의 값 중에서 최종 중앙값을 산출하는 과정과,
상기 산출된 최종 중앙값과 상기 중심화소의 값 간의 차이를 근거로 불량화소를 제거하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 불량 화소 제거를 위한 방법.
- 제13항에 있어서, 상기 인터채널의 출력값을 결정하는 과정은,
상기 중심화소의 값과 상기 평균값 간의 차이가 임계값 이상인지를 판단하는 과정과,
상기 임계값 이상일 경우 상기 중심화소의 값 및 상기 동일한 컬러의 주변화소들의 값을 이용하여 상기 중심화소를 중심으로 하는 제1방향 라인, 제2방향 라인, 제3방향 라인, 제4방향 라인에 대한 각각의 중앙값을 산출하는 과정과,
상기 산출된 중앙값들을 이용하여 상기 인터채널의 중앙값을 산출하는 과정과,
상기 산출된 인터채널의 중앙값을 상기 인터채널의 출력값으로 결정하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 불량 화소 제거를 위한 방법.
- 제14항에 있어서, 상기 인터채널의 출력값은,
상기 제1방향 라인의 중앙값과 상기 제3방향 라인의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 중앙값, 상기 제2방향 라인의 중앙값과 상기 제4방향 라인의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 최종 중앙값인 것을 특징으로 하는 불량 화소 제거를 위한 방법.
- 제14항에 있어서,
상기 중심화소의 값과 상기 평균값 간의 차이가 임계값 이하일 경우 상기 중심화소의 값을 상기 인터채널의 출력값으로 출력하는 과정을 더 포함함을 특징으로 하는 불량 화소 제거를 위한 방법.
- 제13항에 있어서, 상기 크로스채널의 출력값을 결정하는 과정은,
상기 중심화소의 값 및 상기 인접한 주변화소들의 값을 이용하여 상기 중심화소를 중심으로 하는 제1방향 라인, 제2방향 라인, 제3방향 라인, 제4방향 라인에 대한 각각의 중앙값을 산출하는 과정과,
상기 산출된 중앙값들을 이용하여 상기 크로스채널의 출력값을 결정하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 불량 화소 제거를 위한 방법.
- 제17항에 있어서, 상기 크로스채널의 출력값은,
상기 제1방향 라인의 중앙값과 상기 제3방향 라인의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 중앙값, 상기 제2방향 라인의 중앙값과 상기 제4방향 라인의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 중앙값 및 상기 중심화소의 값 중에서의 최종 중앙값인 것을 특징으로 하는 불량 화소 제거를 위한 방법.
- 제14항 또는 제17항에 있어서,
상기 제1방향 라인은 수직방향 라인이며, 상기 제2방향 라인은 45도 방향 라인이며, 상기 제3방향 라인은 90도 방향 라인이며, 상기 제4방향 라인은 135도 방향 라인임을 특징으로 하는 불량 화소 제거를 위한 방법.
- 제13항에 있어서, 상기 불량화소를 제거하는 과정은,
상기 산출된 최종 중앙값과 상기 중심화소의 값 간의 차이가 상기 평균값과 상기 산출된 최종 중앙값과의 차이보다 큰 지를 판단하는 과정과,
상기 산출된 최종 중앙값과 상기 중심화소의 값 간의 차이가 상기 평균값과 상기 산출된 최종 중앙값과의 차이보다 큰 경우 상기 중심화소를 불량화소라고 판단함으로써 상기 불량화소를 제거하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 불량 화소 제거를 위한 방법.
- 제20항에 있어서,
상기 산출된 최종 중앙값과 상기 중심화소의 값 간의 차이가 상기 평균값과 상기 산출된 최종 중앙값과의 차이보다 작을 경우, 추가로 제거해야 할 불량화소가 있다고 판단하는 과정과,
상기 중심화소의 컬러와 동일한 컬러의 주변화소들 중에서 상기 중심화소의 값과 가장 가까우면서 상기 평균값과 가장 차이가 큰 화소를 추가 불량화소로 판단하는 과정과,
상기 평균값을 상기 추가 불량화소의 값으로 대체함으로써 새로운 평균값을 결정하는 과정을 더 포함함을 특징으로 하는 불량 화소 제거를 위한 방법.
- 제21항에 있어서,
상기 중심화소의 값, 상기 동일한 컬러의 주변화소들 및 상기 새로운 평균값을 이용하여 상기 인터채널의 새로운 출력값을 결정하는 과정과,
상기 인터채널의 새로운 출력값, 상기 크로스채널의 출력값 및 상기 중심화소의 값 중에서 새로운 중앙값을 산출하는 과정과,
상기 산출된 새로운 중앙값과 상기 중심화소의 값 간의 차이를 근거로 추가 불량화소를 제거하는 과정을 더 포함함을 특징으로 하는 불량 화소 제거를 위한 방법.
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Families Citing this family (12)
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US9007495B1 (en) * | 2011-08-12 | 2015-04-14 | Immedia Semiconductor, Inc. | Image processing |
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CN109472078B (zh) * | 2018-10-31 | 2023-05-09 | 天津大学 | 一种基于2×2像素子阵列的3d图像传感器缺陷检测修复方法 |
CN110035281B (zh) * | 2019-04-29 | 2021-04-13 | 昆山丘钛微电子科技有限公司 | 一种坏点检测方法、装置及电子设备 |
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US6965395B1 (en) * | 2000-09-12 | 2005-11-15 | Dialog Semiconductor Gmbh | Methods and systems for detecting defective imaging pixels and pixel values |
US6904169B2 (en) * | 2001-11-13 | 2005-06-07 | Nokia Corporation | Method and system for improving color images |
JP4453332B2 (ja) * | 2003-10-17 | 2010-04-21 | ソニー株式会社 | 欠陥画素検出方法、検出装置および撮像装置 |
KR100782812B1 (ko) * | 2005-06-15 | 2007-12-06 | 삼성전자주식회사 | 에지 적응적 컬러 보간 방법 및 장치 |
KR100683415B1 (ko) * | 2005-12-29 | 2007-02-22 | 엠텍비젼 주식회사 | 불량픽셀 처리 장치 |
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JP4399494B2 (ja) * | 2006-12-28 | 2010-01-13 | シャープ株式会社 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、イメージセンサデバイスおよびイメージセンサモジュール |
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US20090040343A1 (en) * | 2007-08-06 | 2009-02-12 | Mediatek Inc. | Methods and apparatuses for defective pixel detection and correction |
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JP5056501B2 (ja) * | 2008-03-12 | 2012-10-24 | 株式会社Jvcケンウッド | 撮像装置及びこれに用いる欠陥画素補正方法 |
US7983511B1 (en) * | 2010-11-29 | 2011-07-19 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for noise reduction in digital images |
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