KR20110068938A - 터치패널 장치 및 터치패널의 터치 검출방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 조작자가 Pressed－Cap식의 터치 패널을 사용했을 때 터치 감도의 위화감을 없게 하고 스트레스 프리의 사용감을 제공할 수 있는 터치패널 장치 및 터치패널의 터치 검출 방법에 관한 것으로서, 유리면에 가해지는 압압력에 의해 변화하는 정전 용량의 값이 소정 역치 이하가 되는 것으로 터치 위치의 검출을 실시하는 터치 판별 처리부를 구비한 터치 패널 장치이고, 상기 정전 용량 값의 피크 값을 산출하는 피크 판단부와, 상기 피크 판단부에서 산출된 상기 피크 값 근거하여 히스테리시스를 갖게 한 역치를 최신의 역치로서 산출하는 역치 컨트롤부를 더 구비하고, 상기 터치 판별 처리부는 상기 역치 컨트롤부에서 산출된 상기 최신의 역치를 상기 소정의 역치로서 역치 처리를 실행하는 것으로 상기 터치 위치의 검출을 실시하는 것이다.

Description

터치패널 장치 및 터치패널의 터치 검출방법{touch panel device and touch detection method for touch panel}

본 발명은 터치 감도의 개선을 실현하는 터치패널 장치 및 터치패널의 터치 검출방법에 관한 것이다.

먼저, 터치 패널에 있어서 Pressed cap 방식에 의한 종래의 터치 패널 장치에 관해서 도면을 이용하여 설명한다.

도 5는 종래의 터치패널 장치에 있어서 Pressed cap 방식에 의한 터치 검출 방법의 설명도이다.

도 5에 나타낸 바와 같이, Pressed cap 방식에 의한 터치 검출 방법에 관해서는 액정 패널내에 용량 성분이 설치되어 있다. 그리고, 이 용량은 손가락 또는 펜 등에 의한 압력(압압력)에 의해서 변이한 패널간 거리에 의해 변화하고, 그 변화량을 검출하는 것에 의해 화면으로의 터치 입력을 판정하고 있다.

구체적으로는 손가락이나 펜으로 유리면(도 5에 있어서 상판 Glass에 해당)을 누르는 것에 의해서 유리가 튄다. 이것에 의해, CLC2를 형성하는 Gap가 변이하게 된다. 여기서, 유전율을ε, 전극의 면적을 S, CLC2를 형성하는 Gap를 d, CLC2의 전하(정전 용량)를 C로 하면, C와 d의 관계는 하기의 수학식 1로 나타낼 수 있다.

즉, 상기 수학식 1로 나타낸 바와 같이, 유리를 누른 것에 의한 굴곡으로 d가 변화하는 것에 의해서 CLC2의 전하가 변화한다. 따라서, CLC2의 전하 변화를 검출하는 것에 의해 터치의 유무를 검출하는 것이 가능하게 된다.

이와 같은 원리로 터치의 유무를 검출하기 위해 도 5에 나타낸 바와 같은 CLC2는, 패널내의 매트릭스(matrices)상에 다수 배치되어 있다. 예를 들면, 1280×800의 해상도의 액정 패널내 4×4 도트(dot)에 대해서 1개의 비율로 센서를 배치한 경우에는, 1 패널당 320×200의 센서가 필요하다. 따라서, 각 센서에 의한 터치의 유무를 검출하는 것으로 센서 위치에 따른 터치 위치의 특정을 행할 수 있다.

이어, 손가락으로 유리를 누르는 것에 의한 센서 신호의 변화에 관해서, 도면을 이용하여 설명한다. 도 6은 종래의 터치 검출 방법에 있어서 센서 신호의 변화를 나타낸 설명도이다.

도 6의 상단은 손가락으로 터치했을 경우 센서 데이터의 이미지 도면을 나타내고 있다. 시각적으로 알기 쉽게, 아무것도 접하지 않은 상태의 데이터에 오프셋(off set)을 설정하고, 접했을 때의 데이터를 어둡게 되도록하여 예시하고 있다.

즉, 도 6에 있어서 검은 원으로 나타낸 암부는 터치에 의한 데이터 변이가 있던 것을 나타내 보이고 있다.

한편, 도 6의 하단은 터치 부분의 컷 라인(cut line)에 있어서 센서 신호의 데이터 레벨을 나타내고 있다. 그리고, 종래의 터치 검출 방법에서는 데이터 레벨이 소정의 역치(threshold value)를 초과한 경우에 터치라고 판정하고 있다.

또한, 종래 기술의 다른 실시예로서, 일정 레벨 이상의 조작 압력이 센서에 의해 검지되었을 경우에 패널 압하 조작이라고 판단하여 광학적으로 검지한 패널 압하 위치 정보를 입력 정보라고 판단하는 감압식 터치 패널이 있다.

그리고, 이와 같은 터치 패널에서, 조작 압력을 검출하는 센서의 설치 위치와, 조작자의 패널 압압 위치와의 관계에서 검출 감도가 다른 것을 방지하는 방법이 제안되고 있다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).

보다 구체적으로는, 이 특허 문헌 1의 터치패널 장치는 터치 조작에 의한 압압력에 기인하는 압전소자의 출력을 판별하는 콤퍼레이터(comparator)와, 조작위치 검지장치에 의해 패널의 조작 위치를 검지하여 소정의 처리를 실시하는 처리 장치와, 콤퍼레이터에 소정의 역치를 출력하는 역치 설정부를 구비하고 있다.

그리고 이 처리 장치는 콤퍼레이터에 설정하는 역치를 압전 소자로부터 패널의 조작 위치까지의 거리에 반비례하도록 설정하는 기능을 가지고 있다. 이 결과, 패널체의 조작 위치에 의한 압전 소자의 출력 변동을 지우는 것을 가능하게 하고 있다.

특허문헌 1: 일본공개 특개 2008-287575호 공보

그러나, 종래 기술에는, 이하와 같은 과제가 있다.

Pressed－cap에 의한 터치 검출 방법에서는, 상술한 바와 같이 눌린 것에 의한 패널간 거리의 변화를 용량의 변화로 바꾸고, 그 용량 값을 읽어내고 있다. 그렇지만, 패널의 탄력 등의 영향에 의해 동일 압력을 가했을 경우에도 동일 장소에 힘을 계속 더하는 시간에 의해서 패널간 거리가 변화해 버리는 특성이 있다. 가령, 손가락을 움직이는 등의 동작을 시키면, 손가락을 움직이지 않을 때(정지시)와 동일 압력을 가하고 있어도, 패널간 거리의 변화가 적다고 하는 특성이 있다.

이 때문에, 일정한 역치 처리에 의해 터치 검출을 실시하고 있는 종래 방법에 있어서, 조작자는 단순하게 누르는 동작과 손가락을 움직이는 동작으로 검출 감도가 다르므로 스트레스를 느끼게 된다. 바꾸어 말하면, 동일 압력으로 누르고 있음에도 불구하고 버튼을 누르는 동작과 글자를 쓰는 동작에서는 터치 검출율(검출 감도)이 다르다. 이 결과, 조작자는 힘의 가감(加減)에 관해서 곤혹스럽고 부드러운 사용감을 얻을 수 없게 된다.

또한, 상술한 특허 문헌 1에서는, 패널체의 조작 위치에 의한 검출 감도의 보정을 행하고 있지만, 동일 압력을 가했을 경우에도 동일 장소에 힘을 계속 가하는 시간에 의해서 패널간 거리가 변화해 버린다고 하는 특성에 관해서는 어떤 고려도 하고 있지 않다.

본 발명은 상기와 같은 과제를 해결하기 위한 것으로 조작자가 Pressed－Cap식의 터치 패널을 사용했을 때 터치 감도의 위화감을 없게 하고 스트레스 프리의 사용감을 제공할 수 있는 터치패널 장치 및 터치패널의 터치 검출 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

본 발명에 관한 터치패널 장치는 유리면에 가해지는 압압력에 의해 변화하는 정전 용량의 값이 소정 역치 이하가 되는 것으로 터치 위치의 검출을 실시하는 터치 판별 처리부를 구비한 터치 패널 장치이고, 상기 정전 용량 값의 피크 값을 산출하는 피크 판단부와, 상기 피크 판단부에서 산출된 상기 피크 값 근거하여 히스테리시스를 갖게 한 역치를 최신의 역치로서 산출하는 역치 컨트롤부를 더 구비하고, 상기 터치 판별 처리부는 상기 역치 컨트롤부에서 산출된 상기 최신의 역치를 상기 소정의 역치로서 역치 처리를 실행하는 것으로 상기 터치 위치의 검출을 실시하는 것이다.

또한, 본 발명에 의한 터치패널의 터치 검출방법은 유리면에 가해지는 압압력에 의해 변화하는 정전 용량의 값이 소정 역치 이하가 되는 것으로 터치 위치의 검출을 실시하는 터치 판별 처리 스텝을 구비한 터치 패널의 터치 검출 방법이고, 상기 정전 용량의 값의 피크 값을 산출하는 피크 판단 스텝과, 상기 피크 판단 스텝에서 산출된 상기 피크 값에 근거하여 히스테리시스를 갖는 역치를 최신의 역치로서 산출하는 역치 컨트롤 스텝을 더 구비하고, 상기 터치 판별 처리 스텝은 상기 역치 컨트롤 스텝에서 산출된 상기 최신의 역치를 상기 소정의 역치로서 역치 처리를 실행하는 것으로 상기 터치 위치의 검출을 실시하는 것이다.

본 발명에 관한 터치 패널의 터치 검출 방법에 의하면, 터치 패널의 터치 위치 검출에 이용되는 역치를 압압력의 피크 값의 변화에 근거한 조건으로 히스테리시스 특성을 갖도록 변화시키는 구성을 구비하는 것에 의해 조작자가 Pressed－Cap식의 터치 패널을 사용했을 때 터치 감도의 위화감을 없게 하고, 스트레스 프리의 사용감을 제공할 수 있는 터치패널 장치 및 터치패널의 터치 검출 방법을 얻을 수 있다.

도 1a 및 도 1b는 패널에 추를 올려놨을 때 센서 신호의 데이터 레벨의 시간 변화를 3개의 경과시간에 대해서 나타낸 이미지 도면
도 2a 및 도 2b는 본 발명의 실시형태에 있어서 터치 검출 방법을 설명하기 위한 이미지 도면
도 3은 본 발명의 실시형태에 있어서 터치 검출 방법을 실현하기 위한 터치 패널 장치의 구성도
도 4는 본 발명의 실시형태에 있어서 역치 컨트롤부의 내부 구성도
도 5는 종래의 터치패널 장치에 있어서 Pressed cap 방식에 의한 터치 검출 방법의 설명도
도 6은 종래의 터치 검출 방법에 있어서 센서 신호의 변화를 나타낸 설명도

이하, 본 발명의 터치패널의 터치 검출방법의 실시형태에 관해 도면을 이용하여 설명한다.

먼저, 본 발명을 설명하기 전에, 상술한 종래기술의 과제에 관련하여 터치패널이 갖는 특성에 관해서 도면을 이용하여 설명한다.

유리의 변이량은 패널의 탄성력 등의 영향에 의해 유리에 가해지는 압력뿐만 아니라, 그 장소에 압력이 가해지고 있는 시간에도 해당한다. 즉, 어느 힘을 가했을 때 유리 변이량의 균형 상태가 되기까지는 어느 정도의 시간이 걸리는 것이다.

도 1a 및 도 1b는 패널에 추를 올려놨을 때 센서 신호의 데이터 레벨의 시간 변화를 3개의 경과시간에 대해서 나타낸 이미지 도면이다. 구체적으로는, 추를 실은 초기 상태를 t1로 하고, 유리 변이량이 균형 상태가 되었을 때를 t3로 하며, t1과 t3 사이의 균형 상태에 이르기까지 과도 상태의 시간을 t2라고 하고, 그것들 3개의 시간에 있어서 센서 신호의 데이터 레벨을 나타내고 있다.

또한, 도 1a와 도 1b에서는 패널에 놓여진 추의 무게가 다르는데, 도 1a의 쪽이 보다 무거운 추가 놓여져 있다. 그리고, 도 1a에 있어서 과도 상태인 시각 t2에서 센서 신호의 데이터 레벨과 도 1b에 있어서 균형 상태인 시각 t3에서 센서 신호의 데이터 레벨이, 동등한 경우를 예시하고 있다.

도 1a 및 도 1b에 나타낸 바와 같이, 압력이 가해진 면적 및 센서 신호의 데이터 레벨의 피크 값은 시간 경과와 함께 변화한다. 더구나 패널에 가해지는 압력의 차이에 의해서, 각각 다른 값을 나타낸 것을 알 수 있다.

따라서 도 1a와 도 1b에서 동일 값의 역치를 이용한 경우에는 도 1a에서는 t2의 과도상태에서 터치 위치의 검출이 행해지고, 도 1b에서는 t2의 과도상태에서는 터치위치를 검출할 수 없고 t3의 균형상태에서 터치위치의 검출이 행해지게 된다.

이와 같이 압압력에 따라 검출에 걸리는 시간이 다른 것을 근거로 하여 역치를 적절하게 설정하는 것으로 조작자가 소정의 압압력에 못 미친 힘을 가했을 경우에는 터치 위치를 검출하지 않도록 할 수 있다.

이것에 대해서, 글자를 쓰는 동작과 같이 터치 위치가 이동해 가는 경우를 생각한다. 이 경우에는 이동했을 때에 통과하는 각각의 위치에서는 충분한 시간, 압압 되는 상태가 생기지 않게 된다. 이 결과, 통과 위치에 있어서 센서 신호는 균형 상태에까지 도달하지 않는 시각 t2와 같은 과도 상태가 된다.

따라서, 터치 위치의 이동에 따라 각각의 위치에서 검출되는 센서 신호의 데이터 레벨은 도 1a 혹은 도 1b의 t2에 있어서 데이터 레벨 정도 상태의 피크 값까지 밖에 도달하지 않게 된다.

이 결과, 조작자는 동일 힘을 가하고 있음에도 불구하고 동작에 의해서(즉, 일정한 위치에서 압압 되는 것으로 센서 신호가 균형 상태에까지 달하는 경우와 터치 위치가 이동하는 것에 따라 센서 신호가 과도 상태까지 밖에 달하지 않는 경우에 의해서) 다른 터치 감도를 느껴 버리게 된다.

예를 들면, 도 1b에 나타낸 예에 있어서, 이동 개시의 초기 위치에서는 균형 상태에 이르고 있기 때문에 터치 위치를 검출할 수 있었을 경우를 생각한다. 이 경우에, 동일 압압력으로 터치 위치를 이동시키면 통과 위치에 있어서 센서 신호는 압압 시간이 충분하지 않기 때문에 t2의 과도 상태에서 얻을 수 있는 피크 값까지 밖에 달하지 않으므로 터치 위치를 검출할 수 없는 결과가 된다.

그래서, 본 발명에서는 동일 압압력으로 터치 위치를 이동시켰을 경우에 초기 위치에서 검출 결과를 유지하고, 통과 위치에 있어서도 터치 위치를 계속해서 검출할 수 있는 터치 검출 방법을 실현하고 있다. 본 본 발명에 의한 터치 검출 방법으로 대해서, 도 2를 이용하여 상세하게 설명한다.

도 2a 및 도 2b는 본 발명의 실시형태에 있어서 터치 검출 방법을 설명하기 위한 이미지 도면이다. 구체적으로는, 도 1a 및 도 1b와 동일하게, 추를 실은 초기 상태를 t1로 하고, 유리 변이량이 균형 상태가 되었을 때를 t3으로 하며, t1과 t3 사이의 균형 상태에 이르기까지 과도 상태의 시간을 t2로 하고, 그것들 3개의 시간에 있어서 센서 신호의 데이터 레벨을 나타내고 있다.

더구나 도 2a에 있어서는 터치 위치를 이동시켰을 때의 통과 위치에 있어서의 이미지 도면을 t4로 나타내고 있다.

먼저, 도 2a에 나타낸 바와 같이 소정 값 이상의 압압력이 주어졌을 경우에는 균형 상태인 t3에 이르렀을 때에 터치 위치를 검출하고, 도 2b에 나타낸 바와 같이 소정 값 미만의 압압력이 주어졌을 경우에는 균형 상태인 t3에 이르더라도 터치 위치를 검출하지 않도록 적절한 역치이 초기 값으로서 설정되어 있다.

이와 같은 초기 역치를 이용하는 것으로 조작자가 소정의 압압력에 만족할 수 없는 힘을 가했을 경우(도 2b 상태에 해당하는 경우)에는 터치 위치를 검출하지 않도록 할 수 있다.

그러나, 도 2a의 t3에서 한 번 터치 위치가 검출된 후에, 터치 위치를 이동시키는 경우를 생각한다. 통과 위치 상태를 나타낸 도 2a에 있어서 t4의 이미지 도면은 도 1을 이용하여 설명한 것처럼, 도 2a에 있어서 과도 상태를 나타내는 t2의 이미지 도면과 동일하다고 생각할 수 있다.

이와 같이 이동 중에, 초기 역치를 그대로 이용하여 위치 검출을 실시했을 경우에는, 도 2a의 t2로 나타낸 바와 같이, 센서 신호의 데이터 레벨의 피크 값이 과도 상태와 동일한 레벨이 되어 버리므로 터치 위치를 검출할 수 없게 된다.

그래서 본 발명에서는 도 2a의 t4로 나타낸 바와 같이, 이동 중의 터치 위치를 검출할 수 있도록, 역치를 초기 반응을 일으키는 최소의 물리량보다 큰 값으로 변경하고 있다.

이 결과, 한 번 터치 위치가 검출된 후에, 동일한 압압력으로 터치 위치를 이동시켰을 때에, 통과 위치에 있어서 피크 값이 변화했을 경우에도 터치 위치의 검출을 확실히 유지하는 것이 가능해진다.

이어서, 이와 같은 역치의 변경 처리를 실현하기 위한 구체적인 구성에 관해서 구성도를 이용하여 상세하게 설명한다.

도 3은 본 발명의 실시형태에 있어서 터치 검출 방법을 실현하기 위한 터치 패널 장치의 구성도이다. 구체적으로는, 터치 패널 장치는 터치 판별 처리부(10) 및 반응을 일으키는 최소의 역치 컨트롤부(20)를 구비하고 있다. 그리고, 이것들 터치 판별 처리부(10) 및 역치 컨트롤부(20)는 터치 패널 장치에 탑재되는 IC내부의 처리로 실현 가능하다.

터치 판별 처리부(10)는 각 위치의 센서로부터 정전 용량을 센서 신호로서 입력하고, 입력 신호를 역치와 비교 처리하여 역치 이하가 되는 입력 신호가 검출되었을 경우에는, 그 입력 신호에 대응하는 센서 위치를 터치 위치로서 검출하여 좌표 데이터를 출력한다.

더구나, 본 발명의 실시형태에 있어서 터치 판별 처리부(10)는 반응을 일으키는 역치 컨트롤부(20)에 대해서, 각 센서의 센서 신호의 피크 값을 출력하는 것과 동시에, 역치 컨트롤부(20)로부터 주어지는 최신의 역치를 이용하고 비교 처리를 실시한다. 한편, 각 센서의 센서 신호의 피크 값을 출력하는 기능은, 반드시 터치 판별 처리부(10)가 가질 필요는 없고, 별도의 피크 판단부로서 구성하는 것도 가능하다.

한편, 역치 컨트롤부(20)는 터치 판별 처리부(10)로부터 넣어진 각 센서의 센서 신호의 피크 값에 근거하여 최신의 역치를 산출하고, 산출한 역치를 터치 판별 처리부(10)에 대해서 출력한다. 역치 컨트롤부(20)는 터치 위치가 미검출 상태에 있어서는, 최신의 역치로서 초기 역치를 출력하고, 한번 터치 위치가 검출된 다음은 초기 역치보다 높은 값인 갱신 역치(도 2a의 t4에 있어서 역치 B 참조)을 최신의 역치로서 출력한다.

도 4는 본 발명의 실시형태에 있어서 역치 컨트롤부 의 내부 구성도이다.

본 발명의 실시형태에 있어서 역치 컨트롤부(20)는 비교기(21), 절환 신호 제어부(22) 및 역치 설정부(23)를 구비하고 있다.

비교기(21)는 터치 판별 처리부(10)로부터 넣어진 각 센서의 센서 신호 피크 값에 대해서, 초기 역치(이하, 역치 A라고 한다) 및 갱신 역치(이하, 역치 B라고 한다)의 각각과 비교하여 그 비교 결과를 출력한다.

여기서, 초기 역치인 역치 A와 갱신 역치인 역치 B에 관해서는, 도 2에 나타내고 있어, A＜B의 관계를 가지고 있다. 그리고, 비교기(21)는 일례로서 도 4에 나타낸 바와 같이, 피크 값이 역치 A보다 큰 경우를 나타내는 제 1 신호(Peak＞A)와, 피크 값이 역치 B보다 작은 경우를 나타내는 제 2 신호(Peak＜B)의 2개의 신호를 출력할 수 있다.

절환 신호 제어부(22)는 제 1 신호(Peak＞A)가 OFF 상태로부터 ON상태로 절환되고, 제 2 신호(Peak＜B)가 ON 상태인 기간은, 최신의 역치로서 갱신 역치인 역치 B를 선택하기 위한 절환 신호를 출력한다. 한편, 절환 신호 제어부(22)는 상기 조건이 성립하지 않는 경우에는 초기 역치인 역치 A를 선택하기 위해 절환신호를 출력한다.

바꾸어 말하면, 절환 신호 제어부(22)는 이하의 출력을 행한다.

(1) 터치 위치를 검출한 후는 갱신 역치인 역치 A를 선택하기 위해 절환신호를 출력한다.

(2) 한번 터치 위치를 검출한 후는 갱신 역치인 역치 B를 선택하기 위해 절환신호를 출력하고, 제 2 신호가 ON상태의 기간은 역치 B를 선택하기 위해 절환신호를 출력한다.

(3) 제 2 신호가 ON상태에서 OFF상태로 절환하는 것으로, 다시 역치 A를 선택하기 위해 절환신호를 출력한다.

그 결과 역치 A를 초기 역치로서 역치 B를 갱신 역치로 하는 히스테리시스를 갖는 역치 처리를 실현할 수 있다.

이어서, 역치 설정부(23)는 절환 신호 제어부(22)로부터의 절환 신호에 따라 역치 A 혹은 역치 B의 어느 쪽을 선택하고, 최신의 역치로서 터치 판별 처리부(10)에 대해서 출력한다. 이와 같은 절환 처리를 실시하는 것으로, 먼저 처음은 초기 역치(역치 A)에 의한 터치 위치의 검출을 실시한다.

그리고, 한번 터치 위치가 검출된 후에는 갱신 역치(역치 B)으로 절환하고, 그 후 갱신 역치(역치 B)에 의해서도 터치 위치를 검출할 수 없는 상태가 되었을 경우에는, 다시 역치를 초기 역치(역치 A)으로 되돌리는 이른바 히스테리시스 특성을 갖는 역치 처리를 실시할 수 있다.

이 결과, 소정의 압압력 이상(초기 역치 이상)으로 눌리지 않는 한 터치 위치를 검출하지 않으면, 한번 터치 위치가 검출된 다음은 동일 압압력으로 터치 위치를 이동시켰을 경우에, 초기 위치에서의 검출 결과를 유지하고, 통과 위치에 있어서도 터치 위치를 계속하여 검출할 수 있는 터치 검출 방법을 실현할 수 있다.

한편, 갑자기 라인을 쓰기 시작했을 경우의 감도는 초기 역치로 판정되므로 둔해지는 것처럼 느끼는 것을 생각할 수 있다. 그러나 실동작에 있어서 라인을 쓸 때 등은 반드시 단시간 움직임이 멈추는 상태가 발생하고 있다.

따라서, 이 시간이 도 2a의 t3으로 나타낸 바와 같은 균형 상태를 얻기 위한 시간으로서 확보할 수 있으면, 터치 감도의 위화감을 없게 하여 스트레스 프리의 사용감을 제공하는 것이 가능하게 된다.

이상과 같이 본 발명의 실시형태에 의하면 터치 패널의 터치 위치 검출에 이용되는 역치를, 압압력의 피크 값 변화에 근거하는 조건으로 변화시키는 구성을 구비하고 있다. 이것에 의해, 조작자가 Pressed－Cap식의 터치 패널을 사용했을 때에 터치 위치를 이동시켰을 경우에도 터치 감도의 위화감을 없게 하여 스트레스 프리의 사용감을 제공할 수 있는 터치 패널의 터치 검출 방법을 얻을 수 있다.

10 : 터치 판별 처리부 20 : 역치 컨트롤부
21 : 비교기 22 : 절환 신호 제어부
23 : 역치 설정부

Claims (2)

1. 유리면에 가해지는 압압력에 의해 변화하는 정전 용량의 값이 소정 역치 이하가 되는 것으로 터치 위치의 검출을 실시하는 터치 판별 처리부를 구비한 터치 패널 장치이고,
   상기 정전 용량 값의 피크 값을 산출하는 피크 판단부와,
   상기 피크 판단부에서 산출된 상기 피크 값 근거하여 히스테리시스를 갖게 한 역치를 최신의 역치로서 산출하는 역치 컨트롤부를 더 구비하고,
   상기 터치 판별 처리부는 상기 역치 컨트롤부에서 산출된 상기 최신의 역치를 상기 소정의 역치로서 역치 처리를 실행하는 것으로 상기 터치 위치의 검출을 실시하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 장치.
2. 유리면에 가해지는 압압력에 의해 변화하는 정전 용량의 값이 소정 역치 이하가 되는 것으로 터치 위치의 검출을 실시하는 터치 판별 처리 스텝을 구비한 터치 패널의 터치 검출 방법이고,
   상기 정전 용량의 값의 피크 값을 산출하는 피크 판단 스텝과,
   상기 피크 판단 스텝에서 산출된 상기 피크 값에 근거하여 히스테리시스를 갖는 역치를 최신의 역치로서 산출하는 역치 컨트롤 스텝을 더 구비하고,
   상기 터치 판별 처리 스텝은 상기 역치 컨트롤 스텝에서 산출된 상기 최신의 역치를 상기 소정의 역치로서 역치 처리를 실행하는 것으로 상기 터치 위치의 검출을 실시하는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 터치 검출 방법.

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