KR20110013432A - 가스 방전 램프를 동작하기 위한 방법 및 가스 방전 램프를 포함하는 조명 시스템 - Google Patents

가스 방전 램프를 동작하기 위한 방법 및 가스 방전 램프를 포함하는 조명 시스템 Download PDF

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키르스텐 후치스
아힘 힐셔
토마스 놀
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오스람 게젤샤프트 미트 베쉬랭크터 하프퉁
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Abstract

본 발명은 가스 방전 램프(1)를 동작하기 위한 방법에 관한 것으로, 상기 가스 방전 램프(1)가 동작될 때, 전기 가열 전류(IH)와 전기 방전 전류(Id)는 전극(6, 7)으로 적어도 일시적으로 공급된다. 전극(6, 7)에 연결되는 전류 공급 라인들(8, 9, 10, 11)을 통하여 공급되는 전류들(I1, I2)의 제곱들의 합의 값(SoS1, SoS2)은 상기 가스 방전 램프(1)의 공칭 동작에서, 상기 가스 방전 램프(1)에 대하여 제공되는 테스트 전류(IT)의 제곱의 1.2배와 상기 테스트 전류(IT)의 제곱의 2배 사이의 간격으로 조정된다. 또한 본 발명은 가스 방전 램프 및 상기 가스 방전 램프용 동작 디바이스를 포함하는 조명 시스템에 관한 것이다.

Description

가스 방전 램프를 동작하기 위한 방법 및 가스 방전 램프를 포함하는 조명 시스템{METHOD FOR OPERATING A GAS DISCHARGE LAMP AND LIGHTING SYSTEM COMPRISING A GAS DISCHARGE LAMP}
본 발명은 방전 램프의 동작 동안에, 적어도 일시적으로 방전 램프의 전극들로 전기 가열 전류 및 전기 방전 전류가 공급되는 방전 램프를 동작하기 위한 방법에 관한 것이다. 더욱이, 본 발명은 방전 램프의 동작 동안에 적어도 일시적으로 전기 가열 전류 및 전기 방전 전류가 상기 방전 램프의 전극들로 공급될 수 있는, 방전 램프용 동작 디바이스 및 방전 램프를 갖는 조명 시스템에 관한 것이다.
광범위한 설계들과 사용들에 대한 방전 램프들이 알려진다. 방전 램프의 동작 동안에, 방전 램프의 광 발생의 결과로 인하여 다수의 물리 효과들이 발생한다. 이런 맥락에서, 방전관 및 램프 전극들 사이에 위치하는 가득찬 가스의 방전 사이의 상호작용이 또한 발생한다. 또한 이런 물리 효과들은 상기 방전 램프 또는 이들의 서브컴포넌트들의 수명에 더 크게 또는 더 적게 영향을 준다.
본 발명의 목적은 방전 램프의 수명이 연장될 수 있는, 방전 램프를 갖는 조명 시스템 및 방전 램프를 동작하기 위한 방법을 제공하기 위함이다.
이런 목적은 청구항 제 1항에 따른 특징들을 갖는 방법 및 청구항 제 9항에 따른 특징들을 갖는 조명 시스템에 의하여 달성된다.
방전 램프를 동작하기 위한 본 발명에 따른 방법에서, 상기 방전 램프의 동작 동안에, 전기 가열 전류 및 전기 방전 전류가 방전 램프의 적어도 하나의 전극으로 일시적으로 공급된다. 본 발명의 필수 개념은, 상기 방전 램프의 정격 동작 동안에, 상기 방전 램프의 동작 동안에 상기 전극에 연결되는 파워 서플라이 라인들을 통하여 공급되는 전기 전류들의 제곱의 합의 값은 전기 테스트 전류의 값의 제곱의 두 배와 상기 방전 램프에 대하여 미리결정되는 테스트 전류의 값의 제곱의 1.2 배 사이의 간격으로 세팅되는 것에 있다. 동작의 이런 모드에 의하여 그리고 전자 연산 파라미터들, 즉 전류들의 특정 매칭에 의하여 매우 특정한 동작 단계에서 즉 방전 램프의 (일반적으로 정격 전류에서) 언디밍되는(undimmed) 동작 또는 정격 동작 동안에, 상기 방전 램프의 수명의 상당한 연장을 가져오는 동작 모드를 달성하는 것이 가능하다.
바람직하게, 상기 파워 서플라이 라인들을 통하여 전극으로 공급되는 상기 전류들은 상기 방전 램프에 대하여 미리결정되는 전기 테스트 전류의 제곱의 1.3배와 이런 테스트 전류의 제곱의 1.8배 사이의 간격에 세팅된다. 이는 상기 파워 서플라이 라인을 통하여 상기 전극으로 공급되는 전류들이 상기 방전 램프에 대하여 미리결정되는 전기 테스트 전류의 제곱의 1.35배와 이런 테스트 전류의 제곱의 1.5배 사이의 간격에 세팅되는 경우가 특히 바람직한 것으로 증명되었다. 엄밀하게는 이것은 첫째로, 상기 램프의 수명이 실질적으로 증가될 수 있고, 그리고 둘째로 단지 상대적으로 낮게 공급되는 에너지 요구가 상기 전극 가열을 위하여 필요하기 때문에 상기 시스템의 효율이 매우 높아지는 값들의 특히 바람직한 간격이다.
그러므로 상기 램프의 수명은 정격 동작 동안에 달성되는 것이 가능한, 적절한 방식으로 매칭되는 전자 연산 파라미터 즉, 전류, 특히 상기 가열 전류들 및 상기 방전 전류들에 의하여 증가될 수 있다.
바람직하게, 제 2 파워 서플라이 라인을 통하여 공급되는 상기 방전 전류의 제 2 부분과 상이한 값을 갖는 상기 방전 전류의 제 1 부분은 제 1 파워 서플라이 라인을 통하여 상기 전극으로 공급된다. 그러므로, 상기 전극으로의 상기 방전 전류의 불균형 공급이 바람직하게 구현되고, 그 결과로서 상기 램프 수명의 연장 및 한편으로는 부가적으로 요구되는 에너지 공급이 달성되는 점에서 상기 시스템 효율에 상당히 긍정적인 영향을 미친다.
특히 바람직한 방식에서, 상기 방전 전류의 적어도 90%가 파워 서플라이 라인을 통하여 상기 전극으로 공급되고, 특히 상기 방전 전류의 전부가 상기 파워 서플라이 라인들 중 단 하나만을 통하여 상기 전극으로 공급된다.
바람직하게, 동일한 파워 서플라이 라인을 통하여 완전하게 각각 공급될 상기 방전 전류 및 상기 가열 전류 둘 모두가 준비(provision)될 수 있다. 이것은 상기 램프의 수명을 연장하고 그리고 에너지의 최소한의 추가 공급을 제공하려고 동작의 모드를 개선하기 위한 특히 효과적인 절차이다.
특히, 상기 전기 테스트 전류는 IEC 표준에 의하여 규정된 바와 같이, 4.75의 냉온(warm-to-cold) 저항 비의 값으로 상기 전극을 가열하도록 램프-특정 방식으로 미리결정된다.
상기 테스트 전류는 램프-특정 방식으로 고정된 전류 값이고, 그 결과로서 이런 기본적인 파라미터는 단순하고 약간의 복잡도를 포함하는 방식으로, 상기 테스트 전류의 제곱의 1.3 및 2, 바람직하게는 1.3 및 1.5, 더욱 바람직하게는 1.35 및 1.5의 간격 사이의 상기 전류들의 제곱들의 합에 대하여 상기 값을 세팅하는 것이 가능하도록 쉽사리 이용될 수 있다.
상기 방전 램프의 정격 동작은 특히 상기 방전 전류의 범위에 의하여 특성화되는데, 상기 방전 전류는 IEC 표준에 의하여 또한 규정된 바와 같이, 상기 방전 램프의 상기 테스트 전류의 80%와 같거나 또는 이보다 더 크다. 엄밀하게는 상기 정격 동작의 이런 특정 범위에 대하여, 지금까지는 어떠한 준비도 이루어지지 않았거나 또는 발생하는 물리 효과들을 기초로 하여 상기 램프 수명의 연장을 달성할 수 있도록 상기 가열 전류 및 상기 방전 전류의 특정 세팅을 수행하는 것이 지금까지는 알려지지 않았다.
바람직하게, 상기 가열 전류는 상기 방전 램프의 동작 동안에 상기 전극으로 지속적으로 공급된다. 지속적인 전극 가열 및 필라멘트 가열에 의하여, 상기 램프 수명의 연장에 특히 긍정적인 효과가 달성될 수 있다.
바람직하게, 파워 서플라이 라인을 통하여 상기 전극으로 공급되는 전류는 가열 전류 및/또는 방전 전류를 갖는다. 상기 에너지, 특히 상기 전극으로 공급되는, 상기 전류를 통하여, 두 개의 파워 서플라이 라인들에 연결될 전극이 준비된다. 그러므로 상기 공급되는 전류들의 합의 값은 제 1 파워 서플라이 라인을 통하여 상기 전극으로 공급되는 전류들에 의하여 첫 번째로 그리고 제 2 파워 서플라이 라인을 통하여 상기 전극으로 공급되는 전류들에 의하여 두 번째로 형성되는 합으로부터 형성될 수 있다. 특히 불균형하도록 설계되는 상기 공급 및 상기 동작에 따라, 예를 들어 상기 제 1 파워 서플라이 라인을 통하여 공급되는 상기 전류가 상기 가열 전류의 부분 및 상기 방전 전류의 부분을 갖게 하는 것이 가능하다. 바람직하게, 상기 불균형 설계에 기초하여, 상기 가열 전류의 전부 및 상기 방전 전류의 전부를 포함하기 위하여 상기 제 1 파워 서플라이 라인을 통하는 전류가 준비된다. 이러한 설계를 이용하여, 상기 제 2 파워 서플라이 라인을 통하여 전도되는 전류가 상기 가열 전류와 같아진다.
하지만, 또한 단지 상기 방전 전류의 100% 미만의 부분만을 상기 전극으로 공급하기 위하여 상기 제 1 파워 서플라이 라인을 통하여 공급되는 상기 전류에 대하여 준비될 수 있고, 이 경우 상기 제 2 파워 서플라이 라인을 통하여 상기 전극으로 공급되는 전류는 상기 가열 전류를 포함하여 100%에 이르기까지 각각 잔여 부분을 상기 전극으로 공급한다.
그러므로 본 발명은 상기 방전 램프의 수명을 상당히 연장하는 것을 가능하게 하는 방전 램프의 전기 동작 동안에, 상기 바람직한 지속적인 필라멘트 가열 전류에 대한 범위를 열거한다. 이런 경우에, 상기 전류는 상기 전극에 연결되는 파워 서플라이 라인을 통하여 공급되는 상기 전류들의 제곱의 합의 값으로 표현하는,소위 SoS(제곱의 합)의 관점으로 표현된다. 4.57과 동일한 RW/RC의 바람직한 냉온 저항 비로 상기 전극 또는 상기 램프 필라멘트를 가열하는 상기 전류의 제곱에 대한 이런 SoS 값의 상기 바람직한 표준화에 의하여, 최적화된 램프 수명에 대한 상기 SoS 범위는 일반적으로 상기 전류 값이 알려지는 각각의 방전 램프에 대하여 특정될 수 있다. 이런 전류 값은 일반적으로 테스트 전류(IT)로서 지칭되고 그리고 많은 IEC 60081 및 IEC 60901 방전 램프들에 대한 데이터 시트들에 열거된다.
본 발명에 따라 언디밍 램프 동작 동안에 상기 SoS 값에 대한 적절한 범위의 선택에 의하여, 그러므로 상기 램프의 정격 동작 동안에, 상기 램프 설계에 필요로 하는 임의의 변화들 없이 상기 램프 수명은 2배까지 증가될 수 있다. 이런 SoS 값의 바람직한 범위에서, 특히 상기 테스트 전류의 제곱의 1.3배와 상기 테스트 전류의 제곱의 1.5배 사이의 간격에서, 상기 방전 램프용 동작 디바이스 및 상기 전극의 추가적인 가열을 위하여 요구되는 상기 방전 램프를 포함하는 조명 시스템의 추정되는 전력 손실은 1 와트 미만이다.
이는 상기 방전 램프의 제 1 필라멘트에 대한 SoS 값이 상기 방전 램프의 제 2 필라멘트의 SoS 값과 다르다면, 특히 바람직할 것으로 증명된다. 이것은 상기 방전 램프의 전극 또는 램프 필라멘트가 정의된 방식으로 상기 램프의 수명을 제한하는 것을 의미하고, 그 결과로서 스티퍼 쇠퇴 곡선(steeper failure curve)이 달성될 수 있다.
바람직하게, 상기 방전 램프의 정격 동작 동안에, 상기 방전 램프의 제 1 전극에 연결되는 파워 서플라이 라인들을 통하여 공급되는 상기 전류들의 제곱들의 합의 값은 상기 방전 램프의 제 2 전극에 연결되는 파워 서플라이 라인들을 통하여 공급되는 상기 전류들의 제곱들의 합의 값과 적어도 부분적으로 다르게 세팅된다. 또한 이는 필라멘트 가열의 불균형 설계에 의하여, 쇠퇴 곡선의 변화도(gradient)가 확대될 수 있기 때문에, 상기 램프 수명의 연장과 상기 시스템의 효율 사이의 비를 개선하는 것을 가능하게 한다.
본 발명에 따라 조명 시스템은 적어도 하나의 방전 램프 및 상기 방전 램프를 동작하기 위한 적어도 하나의 동작 디바이스를 포함하고, 상기 방전 램프의 동작 동안에 상기 동작 디바이스에 의하여 적어도 하나의 전극으로 전기 가열 전류 및 전기 방전 전류가 적어도 일시적으로 공급될 수 있다. 본 발명의 필수 개념은, 상기 방전 램프의 정격 동작 동안에, 전극에 연결되는 파워 서플라이 라인들을 통하여 공급되는 전류들의 제곱들의 합의 값이 상기 방전 램프에 대하여 미리결정되는 전기 테스트 전류의 값의 제곱의 1.3배와 상기 테스트 전류의 값의 제곱의 2배 사이의 간격으로 세팅될 수 있다는 것에 있다. 이에 의하여 램프 수명은 상당히 증가될 수 있고, 더욱이 상기 시스템의 효율이 역시 높게 유지될 수 있다.
본 발명에 따른 본 방법의 유리한 구성들은 본 발명에 따른 조명 시스템의 유리한 구성들로 되기 위하여 고려될 수 있다.
개략적인 도면들을 참조하여 본 발명의 예시적인 실시예가 이하에서 더욱 상세하게 설명될 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 조명 시스템의 예시적인 실시예의 개략도를 도시한다.
도 2는 상기 SoS 값의 함수로서 도시되는 램프 수명(L)을 간략화한 그래프로 도시한다.
도 3은 정격 동작의 외부에서 정격 방전 전류의 함수로서 도시되는 SoS 값을 간략화한 그래프로 도시한다.
도 1은 조명 시스템(Ⅰ)의 간략화된, 개략적인 예를 도시하고, 상기 조명 시스템은 예시적인 실시예에서 컴팩트 형광등의 형태인, 적어도 하나의 방전 램프(1)를 갖는다. 상기 방전 램프(1)는 예시적인 실시예에서 구부러진 서브영역(subregion)들을 갖고, 상기 구부러진 서브 영역들은 관 모양(tubular)으로 설계되는 방전관(2)을 포함한다. 더욱이, 상기 조명 시스템(Ⅰ)은 상기 방전 램프(1)를 동작하기 위한 동작 디바이스(3)를 포함하고, 상기 동작 디바이스(3)가 상기 방전 램프(1)로부터 떨어져서 설계될 수 있지만, 그러나 상기 동작 디바이스(3)는 상기 방전 램프(1)의 하우징(미도시) 내에서 통합될 수 있다. 이런 경우에, 상기 방전관(2)의 단부들(4 및 5)은 하우징 내로 또한 확장한다.
예시적인 실시예에서, 상기 방전 램프(1)는 램프 필라멘트들(6 및 7)의 형태로 전극들을 포함하고, 제 1 전극(6)은 상기 방전관(2)의 일 단부(4)의 영역 내에 배치되고 상기 방전관(2)의 내부로 또는 상기 방전관(2)의 방전 공간 내로 확장한다. 이와 상응하게, 제 2 램프 필라멘트(7)는 또한 상기 방전관(2)의 다른 단부(5)의 영역 내에 가스가-꽉 찬 방식으로 퓨즈-실링되고(fuse-sealed), 상기 방전관(2)의 방전 공간 내로 확장한다.
제 1 램프 필라멘트(6)는 두 개의 파워 서플라이 라인들(8 및 9)과 연결되고, 상기 두 개의 파워 서플라이 라인들은 상기 램프 필라멘트(6)로 에너지를 공급하기 위한 상기 동작 디바이스(3)와 차례로 연결된다. 더욱이, 제 2 램프 필라멘트(7)는 파워 서플라이 라인들(10 및 11)과 연결되고, 또한 상기 파워 서플라이 라인들은 상기 램프 필라멘트(7)로 에너지를 공급하기 위한 상기 동작 디바이스(3)와 전기적으로 연결된다.
상기 조명 시스템(Ⅰ)은 상기 방전 램프(1)의 동작 동안에 전기 가열 전류(IH) 및 전기 방전 전류(Id)가 상기 전극들(6 및 7)로 적어도 일시적으로 공급될 수 있는 방식으로 설계된다.
상기 방전 램프(1)는 또한 고정 또는 표준화된 테스트 전류(IT)를 갖는다는 사실에 의한 자신의 특정 설계에 있어서 특성화되거나 또는 상기 테스트 전류(IT)에 의하여 특성화된다. 더욱이, 상기 방전 램프(1) 및 상기 조명 시스템(Ⅰ)은 정격 동작을 특성화하기 위하여 이용될 수 있는, 연관되는 정격 전류 또는 정격 방전 전류를 갖는 범위로 특정(specify)된다. 상기 정격 전류(Id , rated)는 특정 방전 램프(1) 및 특정 조명 시스템(Ⅰ)에 대하여 미리결정된다.
상기 방전 램프(1) 및 상기 조명 시스템(Ⅰ)의 정격 동작 동안에, 제 1 전극(6)에 연결되는 파워 서플라이 라인들(8 및 9)을 통하여 공급되는 전류들의 제곱의 합의 값은 상기 방전 램프(1)에 대하여 미리결정되는 테스트 전류 값(IT)의 제곱의 1.3배와 상기 테스트 전류 값(IT)의 제곱의 두 배 사이의 간격에서 세팅될 수 있다.
상기 제 1 전극(6)에 대한 상기 SoS1 값에 의하여 미리결정되는 제곱의 합의 값은 이하의 공식에 의하여 제공된다:
SoS1=
Figure pct00001
Figure pct00002
;
I11 = I11d + I11H
I12 = I12d + I12H
그러므로 상기 SoS1 값은 상기 파워 서플라이 라인들(8 및 9)을 통하여 상기 제 1 전극(6)으로 공급되는 전류들을 표시한다. 이런 맥락에서, 상기 전류(I11)는 상기 파워 서플라이 라인(8)을 통하여 공급되는 전류에 관한 것이고, 상기 전류는 상기 파워 서플라이 라인(8)을 통하여 공급되는 상기 방전 전류(I11d) 및 상기 파워 서플라이 라인(8)을 통하여 공급되는 상기 가열 전류(I11H)를 포함할 수 있다. 이와 상응하게, 상기 전류(I12)는 상기 제 2 파워 서플라이 라인(9)을 통하여 상기 제 1 전극(6)으로 공급될 수 있는 전류를 표시하고, 상기 전류는 상기 파워 서플라이 라인(9)을 통하여 공급되는 상기 방전 전류(I12d) 및 상기 파워 서플라이 라인(9)을 통하여 공급되는 상기 가열 전류(I12H)를 유사하게 포함할 수 있다.
상기 방전 전류의 상이한 부분들이 상기 파워 서플라이 라인들(8 및 9)을 통하여 상기 전극(6)으로 인가되는 것을 의미하는, 상기 제 1 전극(6)으로의 상기 전류들의 불균형 공급이 있는 점에 대하여 바람직하게 준비된다. 상기 두 개의 파워 서플라이 라인들(8 및 9) 중 하나를 통하여 공급될 상기 방전 전류(Id)의 전부가 바람직하게 준비된다.
이와 상응하게, 상기 방전 램프(1)의 정격 동작 동안에, 상기 제 2 전극(7)에 연결되는 파워 서플라이 라인들(10 및 11)을 통하여 공급되는 상기 전류들(I21 및 I22)의 제곱의 합의 값을 나타내는 값(SoS2)이 세팅되는 반면에 상기 전류(I21)는 상기 파워 서플라이 라인(10)을 통하여 공급될 수 있는 전류를 표시하고 상기 전류(I22)는 상기 파워 서플라이 라인(11)을 통하여 공급될 수 있는 전류를 표시한다. 상기 SoS2 값은 이하의 공식에 의하여 표현될 수 있다:
SoS2 =
Figure pct00003
+
Figure pct00004
I21 = I21d + I21H
I22 = I22d + I22H
상기 파워 서플라이 라인(10)을 통하여 차례로 공급될 수 있는 상기 전류(I21)는, 만약 해당한다면, 방전 전류(I21d)의 부분을 그리고 만약 해당한다면, 가열 전류(I21H)의 부분을 포함한다. 유사하게, 상기 파워 서플라이 라인(11)을 통하여 공급될 수 있는 상기 전류(I22)는 방전 전류(I22d)의 부분을 그리고 만약 해당한다면, 가열 전류(I22H)의 부분을 포함한다. 이런 경우에서, 또한, 상기 제 2 전극(7)에의 파워 인가는 상기 제 1 전극(6)에의 파워 인가에 관한 설명에 대응하는 방식으로, 불균형 설계를 가질 수 있고, 이는 바람직하게 상기 방전 전류의 모두가 상기 두 개의 파워 서플라이 라인들(10 및 11) 중 하나를 통하여 상기 제 2 전극(7)에 인가된다는 것을 의미한다.
특히, 적어도 하나의 파워 서플라이 라인(10 및/또는 11)을 통하여 상기 제 2 전극(7)으로 공급되는 상기 방전 전류들 및 가열 전류들과 바람직하게 상이할 적어도 하나의 파워 서플라이 라인(8 및/또는 9)을 통하여 공급되는 상기 방전 전류들 및 가열 전류들에 대하여 또한 준비될 수 있다. 결과적으로, 상기 쇠퇴 곡선의 변화도는 확대될 수 있고 그러므로 상기 램프 수명은 다시 한 번 연장될 수 있다.
전극(6 및 7)에 각각 연결되는 파워 서플라이 라인들(8, 9 및 10, 11)을 통하여 공급되는 전류들의 제곱의 합의 값은 상기 방전 램프(1)에 대하여 미리결정되는 테스트 전류(IT)의 제곱의 1.35배와 상기 테스트 전류(IT)의 제곱의 1.5배 사이의 간격에 있다. 바람직하게 이하의 것을 적용한다:
1.35
Figure pct00005
< SoS < 1.5
Figure pct00006
이런 정격 동작 동안, 상기 방전 전류는 전기 테스트 전류(IT)의 80%와 같거나 또는 80%보다 더 큰 동안에, 지속적인 필라멘트 가열은 또한 수행된다. 냉온 저항 비 (RW/RC) = 4.75로 상기 램프 필라멘트들(6 및 7)을 가열하는 상기 전류의 제곱에 대한 SoS 값의 표준화에 의하여, 최적화된 램프 수명에 대한 상기 SoS 범위는 일반적으로 상기 전류 값이 알려지는 임의의 방전 램프에 대하여 특정될 수 있다.
도 2는 상기 램프 수명이 상기 표준화된 SoS 값의 함수로서 특정되는 그래프를 도시한다. 상기 램프 수명의 상당한 연장이 1.2와 2, 특히 1.3과 1.8, 특히 1.35와 1.5 사이의 특정 값 범위에서 달성될 수 있다는 것이 명확하게 도시될 것이다.
도 3은 상기 SoS 값이 상기 정격 방전 전류(Id , rated)의 함수로서 도시되는 그래프를 도시한다. 도시에서 IT의 80% 미만인, 정격 동작의 외부 범위에 대하여, 세 개의 떨어지고 선형의 특성들이 예로서 플롯팅(plot)된다. 이와는 대조적으로, 본 발명은 IT의 80%보다 더 큰 범위에 관한 것이고, 그 때에 상기 SoS 값은 1.35 배의
Figure pct00007
과 1.5배의
Figure pct00008
사이로 바람직하게 세팅된다.

Claims (9)

  1. 방전 램프(1)를 동작하기 위한 방법으로서,
    상기 방전 램프(1)의 동작 동안에, 전기 가열 전류(IH) 및 전기 방전 전류(Id)는 전극(6, 7)으로 적어도 일시적으로 공급되고,
    상기 방전 램프(1)의 언디밍되는(undimmed) 동작 동안에, 전극(6, 7)에 연결된 파워 서플라이 라인들(8, 9, 10, 11)을 통하여 공급되는 전류들(I1, I2)의 제곱의 합의 값(SoS1, SoS2)은 상기 방전 램프(1)에 대하여 미리결정되는 테스트 전류(IT)의 제곱의 1.2배와 상기 테스트 전류(IT)의 제곱의 2배 사이의 간격에서 세팅되는,
    방전 램프를 동작하기 위한 방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 파워 서플라이 라인들(8 내지 11)을 통하여 전극(6, 7)으로 공급되는 상기 전류들(I1, I2)은 상기 방전 램프(1)에 대하여 미리결정되는 상기 테스트 전류(IT)의 제곱의 1.3배와 상기 테스트 전류(IT)의 제곱의 1.8배 사이의 간격에서 세팅되는,
    방전 램프를 동작하기 위한 방법.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 파워 서플라이 라인들(8 내지 11)을 통하여 상기 전극(6, 7)으로 공급되는 상기 전류들(I1, I2)은 상기 방전 램프(1)에 대하여 미리결정되는 상기 테스트 전류(IT)의 제곱의 1.35배와 상기 테스트 전류(IT)의 제곱의 1.5배 사이의 간격에서 세팅되는,
    방전 램프를 동작하기 위한 방법.
  4. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    연관되는 제 2 파워 서플라이 라인(8 내지 11)을 통하여 공급되는 상기 방전 전류(Id)의 제 2 부분과 상이한 값을 갖는 상기 방전 전류(Id)의 제 1 부분은 연관되는 제 1 파워 서플라이 라인(8 내지 11)을 통하여 공급되는,
    방전 램프를 동작하기 위한 방법.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 방전 전류(Id)의 적어도 90%가 파워 서플라이 라인(8 내지 11)을 통하여 연관되는 전극(6, 7)으로 공급되고, 특히 상기 방전 전류(Id)의 전부가 상기 전극에 연관되는 상기 파워 서플라이 라인들(8 내지 11) 중 단 하나만을 통하여 공급되는,
    방전 램프를 동작하기 위한 방법.
  6. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 방전 램프(1)의 정격 동작 동안에, 상기 방전 램프(1)의 제 1 전극(6, 7)에 연결된 파워 서플라이 라인들(8 내지 11)을 통하여 공급되는 전류들(I11, I12)의 제곱의 합의 값(SoS1, SoS2)은 상기 방전 램프(1)의 제 2 전극(6, 7)에 연결된 파워 서플라이 라인들(8 내지 11)을 통하여 공급되는 전류들(I21, I22)의 제곱의 합의 값(SoS1, SoS2)과 적어도 일시적으로 상이하도록 세팅되는,
    방전 램프를 동작하기 위한 방법.
  7. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 가열 전류(IH)는 상기 방전 램프(1)의 동작 동안에 상기 전극(6, 7)으로 지속적으로 공급되는,
    방전 램프를 동작하기 위한 방법.
  8. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    파워 서플라이 라인 (8 내지 11)을 통하여 상기 전극(6, 7)으로 공급되는, 전류(I1, I2)는 가열 전류(IH) 및/또는 방전 전류(Id)를 갖는,
    방전 램프를 동작하기 위한 방법.
  9. 방전 램프(1) 및 상기 방전 램프(1)용 동작 디바이스(3)를 갖는 조명 시스템으로서,
    상기 조명 시스템에 의하여 전기 가열 전류(IH) 및 전기 방전 전류(Id)는 상기 방전 램프(1)의 전극(6, 7)으로 동작 동안에 적어도 일시적으로 공급될 수 있고,
    상기 방전 램프(1)의 언디밍되는(undimmed) 동작 동안에, 전극(6, 7)에 연결된 파워 서플라이 라인들(8 내지 11)을 통하여 공급되는 전류들(I1, I2)의 제곱의 합의 값(SoS1, SoS2)은 상기 방전 램프(1)에 대하여 미리결정되는 테스트 전류(IT)의 제곱의 1.2배와 상기 테스트 전류(IT)의 제곱의 2배 사이의 간격에서 세팅될 수 있는,
    조명 시스템.
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