KR20100123056A - Light emitting diode display device and method for driving the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: The fault according to the luminescent display device and manufacturing method thereof lice static electricity is prevented. In that way the fabrication Yield of the luminescence display panels is improved. CONSTITUTION: In order to the lower part and upper plate include the image display region and non-display area and it is each other opposite it is attached. A plurality of cell driving parts is formed in the non-emitting area of the image display region. A plurality of light emitting cells is formed in the light emission region of the image display region. The first electrode(19), and the organic light-emitting layer(21) and the second electrode(22) form one light emitting cell.

Description

발광 표시장치 및 이의 제조방법{LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING THE SAME}LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING THE SAME}

본 발명은 발광 표시장치에 관한 것으로, 특히 발광 표시패널의 제조과정 중 스크라이빙(scribing) 공정이나 커팅(cutting) 공정에서 빈번하게 발생되는 정전기에 따른 불량을 방지함으로써, 발광 표시패널들의 제조 수율을 향상시킬 수 있도록 한 발광 표시장치 및 이의 제조방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light emitting display device. In particular, a manufacturing yield of light emitting display panels is prevented by preventing defects caused by static electricity frequently generated during a scribing process or a cutting process during a manufacturing process of the light emitting display panel. The present invention relates to a light emitting display device and a method of manufacturing the same.

최근, 퍼스널 컴퓨터, 휴대용 단말기 및 각종 정보기기의 모니터 등에 사용되는 영상 표시장치로 경량 박형의 평판 표시장치(Flat Panel Display)가 주로 이용되고 있다. 이러한, 평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 발광 표시장치(Light Emitting Display), 플라즈마 표시패널(Plasma Display Panel), 전계방출 표시장치(Field Emission Display) 등이 대두되고 있다.Recently, a lightweight thin flat panel display is mainly used as a video display device used for a personal computer, a portable terminal, a monitor of various information apparatuses, and the like. Such flat panel displays include liquid crystal displays, light emitting displays, plasma display panels, field emission displays, and the like.

이 중, 발광 표시장치는 스스로 빛을 내는 자체 발광형 표시패널을 사용하기 때문에 명암대비(Contrast Ratio)가 크고, 초박형 디스플레이의 구현이 가능하며, 응답시간이 수 마이크로초(㎲) 정도로 동화상 구현이 용이하다. Among them, a light emitting display device uses a self-luminous display panel that emits light of its own, thereby resulting in high contrast ratio, ultra-thin display, and a response time of several microseconds. It is easy.

이에, 최근에는 자체 발광형 표시패널인 AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode) 패널에 대한 연구가 활발하게 이루어지고 있는데, AMOLED 패널은 하나의 기판에 3색(R,G,B) 서브 화소로 구성된 복수의 화소들이 매트릭스 형태로 배열되고, 다른 하나의 기판이 상기 서브 화소들이 구성된 기판을 캡슐레이션한 형태로 이루어진다. 여기서, 상기 각각의 서브 화소는 유기 전계 발광 셀과, 그 발광 셀을 독립적으로 구동하는 셀 구동부로 이루어진다. 아울러, 최근에는 발광 셀과 셀 구동부를 서로 다른 기판에 각각 형성한 후 각 기판들을 서로 마주보도록 결합시킨 듀얼 패널타입(dual panel type)의 AMOLED 패널에 대한 연구도 활발하게 이루어지고 있다. Recently, research on active matrix organic light emitting diode (AMOLED) panels, which are self-luminous display panels, has been actively conducted. The AMOLED panel is composed of three color (R, G, B) sub-pixels on one substrate. A plurality of pixels are arranged in a matrix form, and another substrate is formed by encapsulating a substrate including the sub pixels. Here, each of the sub-pixels includes an organic electroluminescent cell and a cell driver for driving the light emitting cells independently. In addition, recently, studies on dual panel type AMOLED panels, in which light emitting cells and cell drivers are formed on different substrates and then coupled to face each other, have been actively conducted.

상기의 발광 표시패널들은 도전성 금속층이나 절연층 등을 증착하는 공정, 상기 금속층이나 절연층 등을 패터닝 하는 공정, 적어도 하나의 기판들을 합착하는 공정, 합착된 상기의 기판들을 크기별로 스크라이빙 하거나 커팅하는 등의 공정 과정들을 통해 제품화된다. 여기서, 상기의 스크라이빙 공정이나 커팅 공정은 기판들을 크기별로 커팅하는 경우 외에도, 발광 표시패널들을 테스트하기 위해 각 발광 표시패널에 형성된 더미 회로(dummy circuit)들을 분리하는 경우에도 수행된다. The light emitting display panels may be formed by depositing a conductive metal layer or an insulating layer, patterning the metal layer or the insulating layer, bonding the at least one substrate, or scribing or cutting the bonded substrates by size. It is commercialized through the process. Here, the scribing process or the cutting process is performed in the case of separating the dummy circuits formed in each of the light emitting display panels in order to test the light emitting display panels in addition to the case of cutting the substrates by size.

하지만, 발광 표시패널을 스크라이빙 하거나 커팅하는 공정은 스크라이빙 기기 및 커팅 기기들과 발광 표시패널 간의 마찰이 심하기 때문에 정전기 발생이 잦아 발광 표시패널들의 불량률 또한 높아지는 문제점이 있다. 다시 말해, 정전기가 크고 빈번하게 발생하게 되면, 그에 따른 과전류들이 발광 표시패널들의 서브화소들을 빈번하게 손상시켜 발광 표시패널들의 불량률을 높이게 된다. 이 경우, 발광 표시패널들의 제조 공정 수율 또한 저하되는 문제가 발생한다. However, in the process of scribing or cutting the light emitting display panel, since the friction between the scribing device and the cutting devices and the light emitting display panel is severe, static electricity is frequently generated, thereby increasing the defective rate of the light emitting display panels. In other words, when static electricity is generated largely and frequently, overcurrents frequently damage sub-pixels of the light emitting display panels, thereby increasing the defective rate of the light emitting display panels. In this case, there is a problem that the manufacturing process yield of the light emitting display panels is also lowered.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 발광 표시패널의 제조과정 중 스크라이빙 공정이나 커팅 공정에서 빈번하게 발생되는 정전기에 따른 불량을 방지함으로써 발광 표시패널들의 제조 수율을 향상시킬 수 있도록 한 발광 표시장치 및 이의 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다. The present invention is to solve the above problems, to improve the manufacturing yield of the light emitting display panel by preventing the defect caused by the static electricity frequently generated in the scribing process or the cutting process during the manufacturing process of the light emitting display panel It is an object of the present invention to provide a light emitting display device and a method of manufacturing the same.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 발광 표시장치는 영상 표시영역 및 비 표시 영역을 포함하고 서로 마주보도록 합착된 하부 및 상부 기판; 상기 영상 표시 영역의 비 발광 영역에 형성된 복수의 셀 구동부; 상기 영상 표시 영역의 발광 영역에 형성된 복수의 발광 셀; 및 상기 하부 및 상부 기판의 상기 비 표시 영역에 형성되는 기판 커팅 라인과 중첩되도록 상기 기판 커팅 라인을 따라 상기 상부 및 하부 기판 중 적어도 하나의 기판에 형성된 적어도 하나의 정전기 방지 패턴을 포함한 것을 특징으로 한다. A light emitting display device according to an embodiment of the present invention for achieving the above object includes a lower and upper substrate bonded to face each other and including an image display area and a non-display area; A plurality of cell drivers formed in the non-emission area of the image display area; A plurality of light emitting cells formed in the light emitting area of the image display area; And at least one antistatic pattern formed on at least one of the upper and lower substrates along the substrate cutting line to overlap the substrate cutting lines formed in the non-display areas of the lower and upper substrates. .

상기 적어도 하나의 정전기 방지 패턴은 상기 하부 및 상부 기판의 더미 영역들에 형성된 정전기 방지 패턴부와 일체로 형성된 패턴으로써, 상기의 더미 영역들의 제거시 상기 정전기 방지 패턴부가 커팅되어 상기 비 표시 영역의 상부 및 하부 기판 중 적어도 하나의 기판에 잔류한 패턴인 것을 특징으로 한다. The at least one antistatic pattern is a pattern formed integrally with the antistatic pattern portions formed in the dummy regions of the lower and upper substrates, and the antistatic pattern portion is cut when the dummy regions are removed to form an upper portion of the non-display region. And a pattern remaining on at least one of the lower substrates.

상기 정전기 방지 패턴부는 상기 비 표시 영역과 더미 영역 중 일부 또는 전체 영역에 형성되며, 상기 비 표시 영역과 더미 영역의 하부 기판 상에 적어도 하 나의 도전성 금속 물질로 형성된 하부 정전기 방지패턴, 상기 더미 영역의 상부 기판에 상기 상부 기판과 일체로 형성된 적어도 하나의 돌기 및 상기 적어도 하나의 돌기를 모두 덮도록 상기 상부 기판의 비 표시 영역과 더미 영역에 형성되어 상기 상부 기판과 상기 하부 기판의 합착시 상기 적어도 하나의 돌기에 의해 상기 하부 정전기 방지패턴과 전기적으로 접속되는 상부 정전기 방지패턴을 포함한 것을 특징으로 한다. The antistatic pattern portion may be formed on a portion or the entire area of the non-display area and the dummy area, and the lower antistatic pattern may be formed of at least one conductive metal material on the lower substrate of the non-display area and the dummy area. The upper substrate is formed in the non-display area and the dummy area of the upper substrate so as to cover at least one protrusion integrally formed with the upper substrate and the at least one protrusion, and the at least one when the upper substrate and the lower substrate are bonded together. It characterized in that it comprises an upper antistatic pattern electrically connected to the lower antistatic pattern by the projection of.

상기 하부 정전기 방지패턴은 상기 셀 구동부의 게이트 전극 또는 소스/드레인 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성되거나 상기 발광 셀의 제 1 또는 제 2 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성될 수 있으며, 상기 상부 정전기 방지 패턴은 상기 상부 기판에 별도로 형성되거나 상기 상기 발광 셀의 제 1 또는 제 2 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성될 수도 있는 것을 특징으로 한다. The lower antistatic pattern may be formed through the same process for forming the gate electrode or the source / drain electrode of the cell driver or through the same process for forming the first or second electrode of the light emitting cell. The antistatic pattern may be separately formed on the upper substrate or may be formed through the same process when forming the first or second electrode of the light emitting cell.

상기 적어도 하나의 돌기는 상기 상부 기판의 더미 영역에 상기 상부기판과 일체로 형성되거나 상기 복수의 발광 셀 및 셀 구동부의 형성시 버퍼층과 컨택 스페이서 및 세퍼레이터 중 적어도 하나의 구조물과 동일한 공정 과정을 통해 형성되는 것을 특징으로 한다. The at least one protrusion is formed integrally with the upper substrate in the dummy region of the upper substrate or through the same process as the structure of at least one of the buffer layer, the contact spacer and the separator when the plurality of light emitting cells and the cell driver are formed. It is characterized by.

또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 발광 표시장치의 제조방법은 상부 및 하부 기판을 각각 준비하는 단계; 상기 하부 기판의 영상 표시 영역에 복수의 셀 구동부를 형성하는 단계; 상기 상부 또는 하부 기판의 영상 표시 영역에 복수의 발광 셀을 형성하는 단계; 상기 상부 및 하부 기판의 비 표시 영역에 형성되는 기판 커팅 라인과 중첩되도록 상기 기판 커팅 라인을 따라 상기 상부 및 하부 기판 중 적어도 하나의 기판에 적어도 하나의 정전기 방지 패턴을 형성하는 단계; 및 상기 상부 및 하부 기판을 합착하는 단계를 포함한 것을 특징으로 한다. In addition, a method of manufacturing a light emitting display device according to an embodiment of the present invention for achieving the above object comprises the steps of preparing an upper and a lower substrate; Forming a plurality of cell drivers in the image display area of the lower substrate; Forming a plurality of light emitting cells in an image display area of the upper or lower substrate; Forming at least one antistatic pattern on at least one of the upper and lower substrates along the substrate cutting line to overlap the substrate cutting lines formed in the non-display areas of the upper and lower substrates; And bonding the upper and lower substrates together.

상기 적어도 하나의 정전기 방지 패턴 형성 단계는 상기 상부 및 하부 기판 더미 영역에 정전기 방지 패턴부를 형성하는 단계 및 상기 상부 및 하부 기판 더미 영역들의 커팅하여 제거하는 단계를 포함하고, 상기 더미 영역들의 제거시에는 상기 더미 영역에 형성된 정전기 방지 패턴부가 커팅되도록 하여 상기 비 표시 영역의 상부 및 하부 기판 중 적어도 하나의 기판에 잔류시키는 것을 특징으로 한다. The forming of the at least one antistatic pattern may include forming an antistatic pattern portion in the upper and lower substrate dummy regions, and cutting and removing the upper and lower substrate dummy regions. The antistatic pattern portion formed in the dummy region may be cut and left on at least one of the upper and lower substrates of the non-display region.

상기 정전기 방지 패턴부 형성 단계는 상기 하부 기판의 비 표시 영역과 더미 영역의 상에 적어도 하나의 도전성 금속 물질로 하부 정전기 방지패턴을 형성하는 단계 및 상기 더미 영역의 상부 기판에 상기 상부 기판과 일체로 형성된 적어도 하나의 돌기를 모두 덮도록 함과 아울러 상기 상부 기판과 상기 하부 기판의 합착시 상기 적어도 하나의 돌기에 의해 상기 하부 정전기 방지패턴과 전기적으로 접속되도록 상기 상부 기판 상에 상부 정전기 방지패턴을 형성하는 단계를 포함한 것을 특징으로 한다. The forming of the antistatic pattern portion may include forming a lower antistatic pattern with at least one conductive metal material on the non-display area and the dummy area of the lower substrate and integrally with the upper substrate on the upper substrate of the dummy area. An upper antistatic pattern is formed on the upper substrate to cover all of the at least one protrusion formed and to be electrically connected to the lower antistatic pattern by the at least one protrusion when the upper substrate and the lower substrate are bonded together. Characterized in that it comprises a step.

상기 하부 정전기 방지패턴은 상기 셀 구동부의 게이트 전극 또는 소스/드레인 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성되거나 상기 발광 셀의 제 1 또는 제 2 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성될 수 있으며, 상기 상부 정전기 방지 패턴은 상기 상부 기판에 별도로 형성되거나 상기 상기 발광 셀의 제 1 또는 제 2 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성될 수도 있는 것을 특징으로 한다. The lower antistatic pattern may be formed through the same process for forming the gate electrode or the source / drain electrode of the cell driver or through the same process for forming the first or second electrode of the light emitting cell. The antistatic pattern may be separately formed on the upper substrate or may be formed through the same process when forming the first or second electrode of the light emitting cell.

상기 적어도 하나의 돌기는 상기 상부 기판의 더미 영역에 상기 상부기판과 일체로 형성되거나 상기 복수의 셀 구동부 형성시 버퍼층과 컨택 스페이서 및 세퍼레이터 중 적어도 하나의 구조물과 동일한 공정 과정을 통해 형성되는 것을 특징으로 한다. The at least one protrusion may be formed integrally with the upper substrate in the dummy region of the upper substrate or may be formed through the same process as at least one structure of a buffer layer, a contact spacer and a separator when the plurality of cell drivers are formed. do.

상기와 같은 특징을 갖는 본 발명의 실시 예에 따른 발광 표시장치 및 이의 제조 방법은 발광 표시패널의 제조과정 중 스크라이빙 공정이나 커팅 공정에서 빈번하게 발생되는 정전기에 따른 불량을 방지함으로써, 발광 표시패널들의 제조 공정 수율을 향상시킬 수 있다. A light emitting display device and a method of manufacturing the same according to an embodiment of the present invention having the above characteristics by preventing the failure caused by the static electricity frequently generated in the scribing process or the cutting process during the manufacturing process of the light emitting display panel, It is possible to improve the manufacturing process yield of the panels.

이하, 상기와 같은 특징을 갖는 본 발명의 실시 예에 따른 발광 표시장치 및 이의 제조 방법을 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, a light emitting display device and a method of manufacturing the same according to an exemplary embodiment of the present invention having the above characteristics will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 발광 표시장치를 나타낸 구성 회로도이다. 그리고, 도 2는 도 1에 도시된 표시 패널의 한 서브 화소를 나타낸 등가 회로도이다. 1 is a circuit diagram illustrating a light emitting display device according to an exemplary embodiment of the present invention. 2 is an equivalent circuit diagram illustrating one sub-pixel of the display panel illustrated in FIG. 1.

도 1에 도시된 발광 표시장치는 복수의 화소영역을 구비하여 형성된 표시패널(1), 표시패널(1)의 게이트 라인(GL1 내지 GLn)들을 구동하는 게이트 구동부(2), 표시패널(1)의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)들을 구동하는 데이터 구동부(3), 표시패널(1)의 전원라인(PLn 내지 PLm)들에 제 1 및 제 2 전원신호(VDD,GND)를 인가하는 전원 공급부(4), 및 외부로부터 입력되는 RGB 데이터(RGB)를 표시패널(1)의 크기 및 해상도에 알맞게 정렬하여 데이터 구동부(3)에 공급함과 아울러 데이터 및 게이트 제어신호(DVS,GVS)를 생성하여 상기 데이터 및 게이트 구동부(3,2)를 제어하는 타이밍 제어부(5)를 구비한다. 1 includes a display panel 1 formed with a plurality of pixel regions, a gate driver 2 driving the gate lines GL1 to GLn of the display panel 1, and a display panel 1. A data driver 3 for driving the data lines DL1 to DLm of the power supply unit and a power supply unit for applying the first and second power signals VDD and GND to the power lines PLn to PLm of the display panel 1. 4) and RGB data (RGB) input from the outside are aligned to the size and resolution of the display panel 1 and supplied to the data driver 3, and the data and gate control signals DVS and GVS are generated. And a timing controller 5 for controlling the data and gate drivers 3 and 2.

표시패널(1)은 복수의 서브 화소(P)들이 상기 각 화소영역에 매트릭스 형태로 배열되어 영상을 표시하게 되는데, 각 서브 화소(P)는 발광 셀과 그 발광 셀을 독립적으로 구동하는 셀 구동부를 구비한다. 구체적으로, 도 2에 도시된 바와 같이, 한 서브 화소(P)는 어느 한 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL) 및 전원 라인(PL)에 접속된 셀 구동부(DRV), 셀 구동부(DRV)와 제 2 전원신호(GND)의 사이에 접속되어 등가적으로는 다이오드로 표현되는 발광 셀(OEL)을 구비한다. In the display panel 1, a plurality of sub-pixels P are arranged in a matrix form in each pixel area to display an image. Each of the sub-pixels P drives a light emitting cell and a cell driver for driving the light emitting cells independently. It is provided. Specifically, as shown in FIG. 2, one sub-pixel P includes a cell driver DRV and a cell driver DRV connected to any one of the gate line GL, the data line DL, and the power supply line PL. ) And a second power supply signal GND, the light emitting cell OEL equivalently represented by a diode.

셀 구동부(DRV)는 어느 한 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)과 접속된 제 1 스위칭 소자(T1), 제 1 스위칭 소자(T1)와 전원 라인(PL) 및 발광 셀(OEL) 사이에 접속된 제 2 스위칭 소자(T2), 전원 라인(PL)과 제 1 스위칭 소자(T1) 사이에 접속된 스토리지 커패시터(C)를 구비한다. The cell driver DRV is disposed between the first switching element T1, the first switching element T1, the power line PL, and the light emitting cell OEL connected to any one of the gate line GL and the data line DL. A second switching element T2 connected to the power supply line PL and a storage capacitor C connected between the power supply line PL and the first switching element T1 are provided.

제 1 스위칭 소자(T1)의 게이트 전극은 게이트 라인(GL)에 접속되고, 소스 전극은 데이터 라인(DL)에 접속되며, 드레인 전극은 제 2 스위칭 소자(T2)의 게이트 전극에 접속된다. 이러한, 제 1 스위칭 소자(T1)는 게이트 라인(GL)에 게이트 온 신호가 공급되면 턴-온되어 데이터 라인(DL)에 공급된 데이터 신호를 스토리지 커패시터(C) 및 제 2 스위칭 소자(T2)의 게이트 전극으로 공급한다. The gate electrode of the first switching element T1 is connected to the gate line GL, the source electrode is connected to the data line DL, and the drain electrode is connected to the gate electrode of the second switching element T2. When the gate-on signal is supplied to the gate line GL, the first switching element T1 turns on and supplies the data signal supplied to the data line DL to the storage capacitor C and the second switching element T2. It is supplied to the gate electrode of.

제 2 스위칭 소자(T2)의 소스 전극은 전원 라인(PL)과 접속되고 드레인 전극은 발광 셀(OEL)에 접속된다. 이러한, 제 2 스위칭 소자(T2)는 제 1 스위칭 소자 로부터의 데이터 신호에 응답하여 전원 라인(PL)으로부터 발광 셀(OEL)로 공급되는 전류(I)을 제어함으로써 발광 셀(OLE)의 발광량을 조절하게 된다. The source electrode of the second switching element T2 is connected to the power supply line PL and the drain electrode is connected to the light emitting cell OEL. The second switching element T2 controls the amount of light emitted from the light emitting cell OLE by controlling the current I supplied from the power supply line PL to the light emitting cell OEL in response to a data signal from the first switching element. Will be adjusted.

스토리지 커패시터(C)는 전원 라인(PL)과 제 2 스위칭 소자(T2)의 게이트 전극 사이에 접속된다. 그리고, 제 2 스위칭 소자(T2)는 제 1 스위칭 소자(T1)가 턴-오프 되더라도 스토리지 커패시터(C)에 충전된 전압에 의해 온 상태를 유지하여 다음 프레임의 데이터 신호가 공급될 때까지 발광 셀(OEL)의 발광을 유지시킨다. 여기서, 제 1 및 제 2 스위칭 소자(T1, T2)는 PMOS 또는 NMOS 트랜지스터가 사용될 수 있으나 상기에서는 NMOS 트랜지스터가 사용된 경우만을 설명하였다. The storage capacitor C is connected between the power supply line PL and the gate electrode of the second switching element T2. The second switching element T2 remains on by the voltage charged in the storage capacitor C even when the first switching element T1 is turned off, until the data signal of the next frame is supplied. The emission of (OEL) is maintained. Here, the first and second switching elements T1 and T2 may use PMOS or NMOS transistors, but the above description has been made only when NMOS transistors are used.

도 1의 게이트 구동부(2)는 타이밍 제어부(5)로부터의 게이트 제어신호(GVS) 예를 들어, 게이트 스타트 펄스(GSP; Gate Start Pulse)와 게이트 쉬프트 클럭(GSC; Gate Shift Clock)에 응답하여 게이트 온 신호를 순차적으로 생성하고, 게이트 출력 인에이블(GOE; Gate Output Enable) 신호에 따라 게이트 온 신호의 펄스 폭 제어한다. 그리고, 게이트 온 신호들을 게이트 라인들(GL1 내지 GLn)에 순차적으로 공급한다. 여기서, 게이트 라인들(GL1 내지 GLn)에 게이트 온 전압이 공급되지 않는 기간에는 게이트 오프 전압이 공급된다. The gate driver 2 of FIG. 1 responds to a gate control signal GVS from the timing controller 5, for example, a gate start pulse GSP and a gate shift clock GSC. The gate on signal is sequentially generated and the pulse width of the gate on signal is controlled according to a gate output enable (GOE) signal. The gate-on signals are sequentially supplied to the gate lines GL1 to GLn. Here, the gate off voltage is supplied to the gate lines GL1 to GLn during the period when the gate on voltage is not supplied.

데이터 구동부(3)는 타이밍 제어부(5)로부터의 데이터 제어신호(DVS) 중 소스 스타트 펄스(SSP; Source Start Pulse)와 소스 쉬프트 클럭(SSC; Source Shift Clock) 등을 이용하여 타이밍 제어부(5)로부터 입력되는 확장 RGB 데이터(MData)를 아날로그 전압 즉, 아날로그의 영상신호로 변환한다. 그리고, 소스 출력 인에이블(SOE; Source Output Enable) 신호에 응답하여 영상신호를 각 데이터 라인(DL1 내지 DLm)에 공급한다. 구체적으로, 데이터 구동부(3)는 SSC에 따라 입력되는 확장 RGB 데이터(MData)를 래치한 후, SOE 신호에 응답하여 각 게이트 라인(GL1 내지 GLn)에 스캔펄스가 공급되는 1수평 주기마다 1수평 라인분의 영상신호를 각 데이터 라인(DL1 내지 DLm)에 공급한다. The data driver 3 uses the source start pulse SSP, the source shift clock SSC, and the like among the data control signals DVS from the timing controller 5. The expanded RGB data (MData) input from the digital signal is converted into an analog voltage, that is, an analog video signal. The video signal is supplied to each of the data lines DL1 to DLm in response to a source output enable (SOE) signal. Specifically, the data driver 3 latches the extended RGB data MData input according to the SSC, and then horizontally one horizontal cycle in which scan pulses are supplied to the gate lines GL1 to GLn in response to the SOE signal. The video signal for the line is supplied to each of the data lines DL1 to DLm.

전원 공급부(4)는 표시패널(1)에 제 1 전원신호(VDD)과 제 2 전원신호(GND)를 공급한다. 여기서, 제 1 전원신호(VDD)는 발광 셀(OEL)을 구동하기 위한 구동전압을 의미하며, 제 2 전원신호(GND)는 그라운드 전압 또는 로우 전압을 의미하기도 한다. 이러한, 제 1 전원신호(VDD)과 제 2 전원신호(GND)의 차이에 의해 각 서브 화소(P)에서는 영상 신호에 대응되는 전류가 흐르기도 한다. The power supply unit 4 supplies the first power signal VDD and the second power signal GND to the display panel 1. Here, the first power signal VDD means a driving voltage for driving the light emitting cell OEL, and the second power signal GND may mean a ground voltage or a low voltage. Due to the difference between the first power signal VDD and the second power signal GND, a current corresponding to an image signal may also flow in each sub-pixel P. FIG.

타이밍 제어부(5)는 외부로부터 입력되는 RGB 데이터(RGB)를 표시패널(1)의 크기 및 해상도 등에 알맞게 정렬하고 정렬된 영상 데이터(Data)를 데이터 구동부(3)에 공급한다. 또한, 타이밍 제어부(5)는 외부로부터 입력되는 동기신호들(MCLK,DE,Hsync,Vsync)을 이용하여 게이트 및 데이터 제어신호(GVS,DVS)를 생성하고 이를 게이트 구동부(2)와 데이터 구동부(3)에 공급한다. The timing controller 5 aligns the RGB data RGB input from the outside according to the size and resolution of the display panel 1 and supplies the aligned image data Data to the data driver 3. In addition, the timing controller 5 generates the gate and data control signals GVS and DVS using the synchronization signals MCLK, DE, Hsync, and Vsync input from the outside, and generates the gate driver 2 and the data driver ( Supply to 3).

도 3은 도 1에 도시된 표시 패널의 제조 과정을 설명하기 위한 구성 회로도이다. 3 is a circuit diagram illustrating a manufacturing process of the display panel illustrated in FIG. 1.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 표시 패널(1)은 영상이 표시되는 표시 영역(1a)과 영상이 비 표시되는 비 표시 영역(1b)으로 이루어진다. 표시 패널(1)의 제조 과정에 있어서, 상기의 표시 패널(1)에는 적어도 하나의 더미 영역(DU1,DU2)들이 일체로 형성되기도 하는데 각 더미 영역(DU1,DU2)에는 표시 패 널(1)을 검사 및 테스트하기 위한 더미 회로들이 형성된다. 이에 따라, 소정의 검사 및 테스트 과정을 거친 표시 패널(1)에서 각각의 더미 영역(DU1,DU2)들은 스크라이빙 공정 및 커팅 공정을 통해 제거된다. 여기서, 도 3에 도시된 A 및 A' 화살표는 제 1 더미 영역(DU1) 분리하기 위한 스크라이빙 방향을 각각 나타내고 있으며, B 및 B' 화살표는 제 2 더미 영역(DU2)을 분리하기 위한 스크라이빙 방향을 각각 나타낸다. 각 더미 영역(DU1,DU2)들이 커팅된 후의 표시 패널(1)은 도 1에서와 같이 발광 표시패널로 사용된다. As shown in FIG. 3, the display panel 1 of the present invention includes a display area 1a in which an image is displayed and a non-display area 1b in which an image is not displayed. In the manufacturing process of the display panel 1, at least one dummy region DU1 and DU2 may be integrally formed in the display panel 1, and the display panel 1 may be formed in each dummy region DU1 and DU2. Dummy circuits for inspecting and testing are formed. Accordingly, the dummy regions DU1 and DU2 are removed from the scribing process and the cutting process in the display panel 1 that have undergone a predetermined inspection and test process. Here, the arrows A and A 'shown in FIG. 3 indicate scribing directions for separating the first dummy region DU1, respectively, and the arrows B and B' indicate slicing directions for separating the second dummy region DU2. The creeping direction is shown respectively. After the dummy regions DU1 and DU2 are cut, the display panel 1 is used as a light emitting display panel as shown in FIG. 1.

상술한 바와 같이, 표시패널(1)에서 적어도 하나의 더미 영역(DU1,DU2)들을 커팅하는 경우에는 스크라이빙 기기나 커팅기기들과의 마찰로 인해 표시 영역(1a)의 각 서브 화소(P)들에 정전기로 인한 과전류들이 공급될 수도 있다. 이 경우, 표시 패널(1)의 불량이 발생할 수도 있기 때문에, 본 발명의 표시 패널(1)에는 스크라이빙 공정이나 커팅 공정시 발생되는 정전기를 외부로 분산시키기 위한 정전기 방지 패턴들이 더 구비된다. As described above, when cutting at least one dummy area DU1 and DU2 in the display panel 1, each sub-pixel P of the display area 1a may be caused by friction with a scribing device or cutting devices. ) May be supplied with overcurrents due to static electricity. In this case, since the defect of the display panel 1 may occur, the display panel 1 of the present invention further includes antistatic patterns for distributing static electricity generated during the scribing process or the cutting process to the outside.

구체적으로, 영상의 표시 영역(1a)과 비 표시 영역(1b)을 포함하는 표시 패널(1)은 서로 마주보는 하부 및 상부 기판으로 이루어지는데, 상기 비 표시 영역(1b)의 상부 및 하부 기판 중 적어도 하나의 기판에는 각 기판의 커팅 지점인 커팅 라인과 중첩되도록 커팅 지점들을 따라 적어도 하나의 정전기 방지 패턴이 형성된다. 이러한, 정전기 방지 패턴은 상기의 더미 영역(DU1 DU2)에 형성된 정전기 방지 패턴부와 일체로 형성되었던 패턴으로써 상기의 더미 영역(DU1 DU2)들의 커팅시 상기 정전기 방지 패턴부가 커팅되어 비 표시 영역(1b)의 상부 및 하부 기판 중 적어도 하나의 기판에 잔류한 패턴이다. 이와 같은 본 발명의 정전기 방지패턴에 대해서는 첨부된 도 4 내지 도 6c를 참조하여 좀 더 구체적으로 설명하기로 한다. In detail, the display panel 1 including the display area 1a and the non-display area 1b of the image includes lower and upper substrates facing each other, and among the upper and lower substrates of the non-display area 1b. At least one antistatic pattern is formed on the at least one substrate along the cutting points to overlap the cutting line, which is the cutting point of each substrate. The antistatic pattern is a pattern that is integrally formed with the antistatic pattern portion formed in the dummy region DU1 DU2, and the antistatic pattern portion is cut when the dummy regions DU1 DU2 are cut to display the non-display region 1b. The pattern remains on at least one of the upper and lower substrates of the substrate. Such an antistatic pattern of the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 4 to 6C.

도 4는 도 3에 도시된 I-I' 영역을 나타낸 공정 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a region II ′ shown in FIG. 3.

도 4에 도시된 바와 같이, 제조 공정과정에 있어서의 본 발명의 표시 패널(1)은 표시 영역(1a)에 셀 구동부(DRV)와 발광 셀(OEL)들이 형성되고, 비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)에는 정전기 방지 패턴부가 형성된다. As shown in FIG. 4, in the display panel 1 of the present invention during the manufacturing process, the cell driver DRV and the light emitting cells OEL are formed in the display area 1a, and the non-display area 1b is provided. The antistatic pattern portion is formed in the dummy regions DU1 and DU2.

여기서, 셀 구동부(DRV)와 발광 셀(OEL)들은 하부 기판(10) 상에 모두 형성될 수 있으며 이 경우, 하부 기판(10) 상에는 셀 구동부(DRV)와 발광 셀(OEL)들을 인캡슐레이션하기 위한 인캡슐레이션 기판 즉, 상부 기판(EC)이 더 형성된다. 이러한, 하부 기판(10)은 상부 기판(EC)과 실런트(sealant, SL)에 의해 서로 합착되는데, 실런트(SL)는 상부 및 하부 기판(EC,10)의 외곽부 즉, 비 표시 영역(1b)에 형성된다. Here, both the cell driver DRV and the light emitting cells OEL may be formed on the lower substrate 10. In this case, the cell driver DRV and the light emitting cells OEL may be encapsulated on the lower substrate 10. An encapsulation substrate, that is, an upper substrate EC, is further formed. The lower substrate 10 is bonded to each other by the upper substrate EC and the sealant SL, and the sealant SL is an outer portion of the upper and lower substrate EC 10, that is, the non-display area 1b. Is formed.

비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)에 걸쳐 형성되는 정전기 방지 패턴부는 비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)의 하부 기판(10) 상에 적어도 하나의 도전성 금속 물질로 형성된 하부 정전기 방지패턴(27a), 더미 영역(DU1,DU2)의 상부 기판(EC)에 상기 상부 기판(EC)과 일체로 형성된 적어도 하나의 돌기(L), 및 상기 적어도 하나의 돌기(L)를 모두 덮도록 상기 상부 기판(EC)의 비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)에 형성되어 상기 상부 기판(EC)과 상기 하부 기판(10)의 합착시 상기 적어도 하나의 돌기(L)에 의해 상기 하부 정전기 방지패턴(27a)과 전기적으로 접속되는 상부 정전기 방지패턴(27b)을 포함한다. 여기서, 상기 상부 정전 기 방지패턴(27b)에 전기적으로 접속되지 않는 상기 하부 정전기 방지패턴(27a)의 일부영역 상에는 절연 패턴(28)이 더 형성되기도 한다. The antistatic pattern portion formed over the non-display area 1b and the dummy areas DU1 and DU2 includes at least one conductive metal material on the lower substrate 10 of the non-display area 1b and the dummy areas DU1 and DU2. The lower antistatic pattern 27a formed on the upper substrate EC of the dummy regions DU1 and DU2, at least one protrusion L integrally formed with the upper substrate EC, and the at least one protrusion L. ) Are formed in the non-display area 1b and the dummy areas DU1 and DU2 of the upper substrate EC so that the at least one protrusion is formed when the upper substrate EC and the lower substrate 10 are bonded together. And an upper antistatic pattern 27b electrically connected to the lower antistatic pattern 27a by (L). Here, an insulating pattern 28 may be further formed on a portion of the lower antistatic pattern 27a that is not electrically connected to the upper antistatic pattern 27b.

상술한 바와 같이, 표시 패널(1)의 더미 영역(DU1,DU2)에는 정전기 방지패턴 외에 표시 패널(1)을 검사 및 테스트하기 위한 더미 회로들이 형성된다. 따라서, 표시 패널(1)의 검사 및 테스트 후, 각 더미 영역(DU1,DU2)들은 스크라이빙 공정 및 커팅 공정을 통해 제거된다. 상술한 바와 같이, A 및 A' 화살표 지점은 스크라이빙 및 커팅이 이루어지는 지점이다. As described above, dummy circuits for inspecting and testing the display panel 1 are formed in the dummy regions DU1 and DU2 of the display panel 1 in addition to the antistatic pattern. Therefore, after the inspection and testing of the display panel 1, the dummy regions DU1 and DU2 are removed through a scribing process and a cutting process. As described above, the A and A 'arrow points are the points where scribing and cutting are made.

한편으로, 표시 영역(1a)의 하부 기판(10)에 형성되는 복수의 스위칭 소자는 아몰퍼스 실리콘(a-Si)을 사용한 바텀 게이트(bottom gate) 구조가 될 수 있으며, 도시하지 않았지만 상기 각각의 스위칭 소자는 폴리 실리콘을 사용한 탑 게이트(top gate) 구조를 가질 수도 있다. 여기서, 표시 영역(1a)의 하부 기판(10) 구조를 좀 더 상세히 설명하면 다음과 같다. On the other hand, the plurality of switching elements formed on the lower substrate 10 of the display area 1a may have a bottom gate structure using amorphous silicon (a-Si), and although not shown, the respective switching The device may have a top gate structure using polysilicon. Here, the structure of the lower substrate 10 of the display area 1a will be described in more detail as follows.

표시 영역(1a)의 하부 기판(10)에는 이 하부 기판(10)의 비 발광영역에 형성된 게이트 전극(11), 게이트 전극(11)을 포함한 하부 기판(10)의 전면에 형성된 게이트 절연막(12), 게이트 전극(11)과 중첩되도록 게이트 절연막(12) 상에 형성된 반도체 층(13), 반도체층(13)의 양측 가장자리에 중첩되도록 형성된 오믹 접촉층(14), 오믹 접촉층(14) 상에 형성된 소스/드레인 전극(15,16), 상기 소스/드레인 전극(15,16)을 포함한 하부 기판(10)의 전면에 형성된 보호막(17)을 포함한다. 여기서, 게이트 전극(11), 소스/드레인 전극(15, 16), 반도체층(13), 오믹 접촉층(14), 게이트 절연막(12), 및 보호막(17)은 하나의 스위칭 소자를 형성한다. In the lower substrate 10 of the display area 1a, the gate insulating layer 12 formed on the entire surface of the lower substrate 10 including the gate electrode 11 and the gate electrode 11 formed in the non-light emitting region of the lower substrate 10. ), The semiconductor layer 13 formed on the gate insulating layer 12 to overlap the gate electrode 11, the ohmic contact layer 14 and the ohmic contact layer 14 formed to overlap both edges of the semiconductor layer 13. And a passivation layer 17 formed on the entire surface of the lower substrate 10 including the source / drain electrodes 15 and 16. Here, the gate electrode 11, the source / drain electrodes 15 and 16, the semiconductor layer 13, the ohmic contact layer 14, the gate insulating film 12, and the protective film 17 form one switching element. .

또한, 보호막(17)에는 서브 화소 영역별로 보호막(17)을 관통하는 콘택홀(18)이 형성되어 드레인 전극(16)의 일부를 노출시키며, 각 콘택홀(18)에는 제 1 전극(19)이 형성되어 드레인 전극과 전기적으로 접촉된다. 아울러, 하부 기판(10)에는 콘택홀(18)을 포함한 하부 기판(10)의 비 발광영역에 형성된 화소 정의층(23), 발광영역의 제 1 전극(19) 표면 상에 형성된 유기 발광층(21), 상기 유기 발광층(21)을 포함한 하부 기판(10)의 전면에 형성된 제 2 전극(22)이 더 형성된다. 이러한, 제 1 전극(19), 유기 발광층(21) 및 제 2 전극(22)은 하나의 발광 셀(OEL)을 형성한다. 여기서, 정전기 방지 패턴부를 이루는 하부 정전기 방지패턴(27a) 및 절연 패턴(28)은 스위칭 소자들의 형성시 동일한 공정 과정을 통해 상기 스위칭 소자와 함께 형성될 수 있으면서도 상기의 발광 셀(OEL) 형성시에 동일한 공정 과정을 통해 상기 발광 셀(OEL)과 함께 형성될 수도 있다. In addition, a contact hole 18 penetrating the passivation layer 17 is formed in each passivation layer in the passivation layer 17 to expose a portion of the drain electrode 16, and the first electrode 19 is formed in each contact hole 18. Is formed and is in electrical contact with the drain electrode. In addition, the lower substrate 10 includes a pixel defining layer 23 formed in the non-emission region of the lower substrate 10 including the contact hole 18 and an organic emission layer 21 formed on the surface of the first electrode 19 of the emission region. ), A second electrode 22 formed on the entire surface of the lower substrate 10 including the organic emission layer 21 is further formed. The first electrode 19, the organic emission layer 21, and the second electrode 22 form one light emitting cell OEL. Here, the lower antistatic pattern 27a and the insulating pattern 28 constituting the antistatic pattern portion may be formed together with the switching element through the same process during the formation of the switching elements, while the light emitting cell OEL is formed. It may be formed together with the light emitting cell OEL through the same process.

다시 말해, 하부 정전기 방지패턴(27a) 및 절연 패턴(28)이 스위칭 소자들의 형성시 함께 형성되도록 한다면, 하부 정전기 방지패턴(27a)은 스위칭 소자의 게이트 전극(11)이나 소스/드레인 전극(15,16) 형성시 동일한 물질과 공정 과정을 통해 비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)의 하부 기판(10) 상에 형성될 수 있다. 이때, 절연 패턴(28)은 보호막(17) 형성시 동일한 과정을 통해 동일한 물질로 형성될 수 있다. In other words, if the lower antistatic pattern 27a and the insulating pattern 28 are formed together when the switching elements are formed, the lower antistatic pattern 27a may be the gate electrode 11 or the source / drain electrode 15 of the switching element. 16 may be formed on the lower substrate 10 of the non-display area 1b and the dummy areas DU1 and DU2 through the same material and process. In this case, the insulating pattern 28 may be formed of the same material through the same process when forming the protective film 17.

만일, 하부 정전기 방지패턴(27a) 및 절연 패턴(28)이 상기의 발광 셀(OEL) 형성시에 함께 형성되도록 한다면, 하부 정전기 방지패턴(27a)은 상기 발광 셀(OEL)의 제 1 전극(19) 또는 제 2 전극(22) 형성시 동일한 물질로 동일한 공정 과정을 통해 비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)의 하부 기판(10) 상에 형성될 수도 있다. 이때, 절연 패턴(28)은 화소 정의층(23) 형성시 동일한 과정을 통해 동일한 물질로 형성될 수도 있다. If the lower antistatic pattern 27a and the insulating pattern 28 are formed together at the time of forming the light emitting cell OEL, the lower antistatic pattern 27a is formed on the first electrode of the light emitting cell OEL. 19 or the second electrode 22 may be formed on the lower substrate 10 of the non-display area 1b and the dummy areas DU1 and DU2 through the same process using the same material. In this case, the insulating pattern 28 may be formed of the same material through the same process when the pixel defining layer 23 is formed.

적어도 하나의 돌기(L)가 형성된 상부 기판(EC)의 비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)에는 별도로 상부 정전기 방지패턴(27b)을 형성한다. 여기서, 적어도 하나의 돌기(L)들은 상부 기판(EC)의 성형 생산과정에서 상부 기판(EC)과 일체로 형성될 수 있다. 그리고, 하부 및 상부 정전기 방지 패턴(27a,27b) 각각은 상기 각각의 돌기(L)들을 포함한 상부 및 하부 기판(EC,10)의 비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)의 전면에 모두 형성될 수도 있고, 상기 각각의 돌기(L)들과 스트라이빙 및 커팅 지점을 포함한 일부 영역에만 형성될 수도 있다. An upper antistatic pattern 27b is separately formed in the non-display area 1b and the dummy areas DU1 and DU2 of the upper substrate EC on which the at least one protrusion L is formed. Here, the at least one protrusion L may be integrally formed with the upper substrate EC in a molding production process of the upper substrate EC. Each of the lower and upper antistatic patterns 27a and 27b may have a front surface of the non-display area 1b and the dummy areas DU1 and DU2 of the upper and lower substrates EC and 10 including the protrusions L, respectively. It may be formed on all, or may be formed only in some areas including the respective projections (L) and striving and cutting point.

한편, 도면으로 도시되지 않았지만, 하부 기판(10)의 외곽부 비 표시 영역(1b)에 위치한 게이트 절연막 상에는 전원 라인(PL)이 형성된다. 전원 라인(PL)은 제 1 전원신호 또는 제 2 전원신호를 전송하는 라인으로서, 상기 전원 라인(PL)을 통해 인가되는 제 1 전원신호 또는 제 2 전원신호는 발광 셀(OEL)들의 각 제 1 또는 제 2 전극(19,22)에 인가되는 전원을 의미한다. 전원 라인(PL)은 소스/드레인 전극(15, 16)과 동일한 재질로 형성된다. 다시 말하여, 상기 전원 라인(PL)과 소스/드레인 전극(15, 16)은 동일한 마스크 공정을 통해 동시에 제조될 수도 있다. 이와 같은, 전원 라인(PL)은 도시되지 않은 패드 전극을 통해 발광 셀(OEL)들의 각 제 1 또는 제 2 전극(19, 22)에 전기적으로 연결된다. 따라서, 보호막(17)에는 드레인 전극(16)과 접속되는 콘택홀(18) 외에 전원 라인(PL)과 접속되는 콘택홀들이 더 형성되기도 한다. Although not shown in the drawings, a power line PL is formed on the gate insulating layer positioned in the outer non-display area 1b of the lower substrate 10. The power line PL is a line for transmitting a first power signal or a second power signal, and the first power signal or the second power signal applied through the power line PL is the first of each of the light emitting cells OEL. Or it means a power applied to the second electrode (19, 22). The power line PL is formed of the same material as the source / drain electrodes 15 and 16. In other words, the power line PL and the source / drain electrodes 15 and 16 may be simultaneously manufactured through the same mask process. As such, the power line PL is electrically connected to each of the first or second electrodes 19 and 22 of the light emitting cells OEL through a pad electrode, which is not shown. Therefore, in addition to the contact hole 18 connected to the drain electrode 16, the contact layer connected to the power line PL may be further formed in the passivation layer 17.

제 1 전극(19)은 각 서브 화소 영역의 콘택홀(18)을 포함한 발광영역들의 전면에 형성된다. 이러한, 제 1 전극(19)은 애노드 또는 캐소드 전극이 될 수 있으며, 하부 발광을 이루고자 하는 경우에는 ITO(Induim Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), AZO(Al- dopped Zinc Oxide) 중 적어도 하나의 투명 도전성 물질로 형성될 수 있다. 여기서, ITO는 일 함수가 비교적 균일하여 유기 발광층(21)에 대한 정공 주입 장벽이 작은 투명 도전막이다. 반면, 제 1 전극(19)은 상부 발광을 이루고자 하는 경우 저 저항 금속물질로 분류된 ITO/Ag, ITO/Ag/ITO, ITO/Ag/IZO(Indium Zinc Oxide), 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 은(Ag), 구리 합금 중 적어도 하나의 금속물질로 형성될 수 있다. The first electrode 19 is formed in front of the emission areas including the contact holes 18 of each sub pixel area. The first electrode 19 may be an anode or a cathode and at least one of Induim Tin Oxide (ITO), Indium Zinc Oxide (IZO), and Al-dopped Zinc Oxide (AZO) may be used to achieve lower emission. It may be formed of a transparent conductive material. Here, ITO is a transparent conductive film having a relatively uniform work function and a small hole injection barrier for the organic light emitting layer 21. On the other hand, the first electrode 19 is ITO / Ag, ITO / Ag / ITO, ITO / Ag / IZO (Indium Zinc Oxide), aluminum (Al), and aluminum alloy to achieve upper emission. It may be formed of at least one metal material of (AlNd), copper (Cu), silver (Ag), and a copper alloy.

하부 정전기 방지패턴(27a)은 제 1 전극(19)과 동시에 형성될 수 있으므로, 하부 정전기 방지패턴(27a) 형성 물질 또한 제 1 전극(19) 형성 물질과 동일할 수 있다. Since the lower antistatic pattern 27a may be formed at the same time as the first electrode 19, the material for forming the lower antistatic pattern 27a may also be the same as the material for forming the first electrode 19.

화소 정의층(23)은 각 서브 화소를 감싸는 격벽으로써 발광영역의 개구율을 높이기 위해 상기 비 발광영역에 형성되는데, 상기 스위칭 소자들 각각의 위치에 대응되도록 형성될 수 있다. 이러한 화소 정의층(23)은 각 발광영역에 위치한 발광 셀(OEL) 간의 경계를 명확히 구별되게 하여 발광영역 사이의 발광 경계 영역이 명확해지도록 한다. 상기 화소 정의층(23)은 상기 제 1 전극(19)에 비스듬하게 형성되는 경사면을 포함한다. 상기 경사면은 제 1 전극(19)과 이루는 각도 즉, 테이퍼(taper) 각도가 10도 내지 20도(degree) 일 수 있다. 이러한, 화소 정의층(23) 은 산화 실리콘(SiOx), 질화 실리콘(SiNx), 포토 아크릴(photo acryl), 벤조사이클로부텐(BCB) 등의 절연 물질이 도포된 후 패터닝되어 형성될 수 있다. 마찬가지로, 절연 패턴(28) 또한 화소 정의층(23)과 동시에 형성될 수 있으므로, 절연 패턴(28) 형성 물질 또한 화소 정의층(23) 형성 물질과 동일할 수 있다. The pixel defining layer 23 is formed in the non-light emitting area to increase the aperture ratio of the light emitting area as a partition wall surrounding each sub-pixel, and may be formed to correspond to each position of the switching elements. The pixel defining layer 23 makes the boundary between the light emitting cells OEL located in each light emitting area clearly distinguished so that the light emitting boundary areas between the light emitting areas are clear. The pixel defining layer 23 includes an inclined surface formed obliquely on the first electrode 19. The inclined surface may have an angle formed with the first electrode 19, that is, a taper angle of 10 degrees to 20 degrees. The pixel defining layer 23 may be formed by coating an insulating material such as silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), photo acryl, benzocyclobutene (BCB), and the like. Similarly, since the insulating pattern 28 may also be formed at the same time as the pixel defining layer 23, the insulating pattern 28 forming material may also be the same as the pixel defining layer 23 forming material.

유기 발광층(21)은 도면으로 자세히 도시하진 않았지만 정공 주입층(HIL), 정공 수송층(HTL), 발광층(OEL), 전자 주입층(EIL) 및 전자 수송층(ETL)을 포함한다. 정공 주입층(HIL)은 제 1 전극(19)의 표면에 형성된 산화 박막(20) 상에 형성되며, 정공 수송층(HTL)은 정공 주입층(HIL)의 상부 전면에 형성된다. 그리고, 발광층(OEL)은 발광영역의 정공 수송층(HTL) 상에 형성되며, 전자 주입층(EIL)은 발광층(OEL)의 상부 전면에 형성된다. 아울러 전자 수송층(ETL)은 전자 주입층(EIL)의 상부면에 형성된다. Although not shown in detail in the drawings, the organic light emitting layer 21 includes a hole injection layer HIL, a hole transport layer HTL, a light emitting layer OEL, an electron injection layer EIL, and an electron transport layer ETL. The hole injection layer HIL is formed on the oxide thin film 20 formed on the surface of the first electrode 19, and the hole transport layer HTL is formed on the entire upper surface of the hole injection layer HIL. The emission layer OEL is formed on the hole transport layer HTL of the emission region, and the electron injection layer EIL is formed on the entire upper surface of the emission layer OEL. In addition, the electron transport layer ETL is formed on the upper surface of the electron injection layer EIL.

제 2 전극(22)은 상기의 화소 정의층(23)과 유기 발광층(21)을 포함한 하부 기판(10)의 전면을 덮도록 형성된다. 이러한, 제 2 전극(22)은 캐소드 또는 애노드 전극이 될 수 있으며, 하부 발광을 이루고자 하는 경우에는 일 함수값이 비교적 작은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리 합금, ITO, ITO/Ag/ITO, ITO/Ag/IZO(Indium Zinc Oxide) 및 그 등가물 중 적어도 하나의 물질로 형성될 수 있다. 반면, 상부 발광을 이루고자 하는 경우에는 ITO, IZO, AZO 중 적어도 하나의 투명 도전성 물질로 형성될 수 있다. The second electrode 22 is formed to cover the entire surface of the lower substrate 10 including the pixel defining layer 23 and the organic emission layer 21. The second electrode 22 may be a cathode or an anode, and in order to achieve lower emission, aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, It may be formed of at least one material of ITO, ITO / Ag / ITO, ITO / Ag / IZO (Indium Zinc Oxide) and its equivalents. On the other hand, in order to achieve top emission, at least one of ITO, IZO, and AZO may be formed of a transparent conductive material.

도 5a 및 5b는 도 1 및 도 3에 도시된 표시 패널의 제조 방법을 설명하기 위한 공정 단면도이다. 5A and 5B are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the display panel illustrated in FIGS. 1 and 3.

도 5a 및 5d를 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 제조방법을 설명하면 다음과 같다. A method of manufacturing a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 5A and 5D.

도 5a를 참조하면, 먼저 하부 기판(10)으로 사용되는 유리 기판상에 게이트 금속물질을 증착하고 패터닝하여 게이트 전극(11)을 형성한다. 그리고, 게이트 전극(11)을 포함한 하부 기판(10)의 전면에 게이트 절연막(12)을 증착한 후, 게이트 절연막(12) 상에 반도체 층 형성물질과 오믹 접촉층 형성물질 및 소스/드레인 형성물질을 순차적으로 증착한다. Referring to FIG. 5A, first, a gate metal material is deposited and patterned on a glass substrate used as the lower substrate 10 to form a gate electrode 11. After the gate insulating film 12 is deposited on the entire surface of the lower substrate 10 including the gate electrode 11, the semiconductor layer forming material, the ohmic contact layer forming material, and the source / drain forming material on the gate insulating film 12. Are deposited sequentially.

이 후, 상기의 반도체 층 형성물질과 오믹 접촉층 형성물질 및 소스/드레인 형성물질을 동시 또는 순차적으로 패터닝함으로써 반도체 층(13)과 오믹 접촉층(14) 및 소스/드레인 전극(15, 16) 등으로 이루어진 스위칭 소자를 형성한다.Thereafter, the semiconductor layer 13 and the ohmic contact layer 14 and the source / drain electrodes 15 and 16 are patterned by simultaneously or sequentially patterning the semiconductor layer forming material, the ohmic contact layer forming material, and the source / drain forming material. To form a switching element.

다음으로, 도 5b를 참조하면, 상기 스위칭 소자와 게이트 절연막(12)을 포함한 하부 기판(10)의 전면에 보호막(17)을 형성한 후 패터닝함으로써 스위칭 소자의 드레인 전극(16)이 소정 영역 노출되도록 콘택홀(18)을 형성한다. Next, referring to FIG. 5B, the protective layer 17 is formed on the entire surface of the lower substrate 10 including the switching element and the gate insulating layer 12 and then patterned to expose the drain electrode 16 of the switching element. The contact hole 18 is formed as much as possible.

그리고, 하부 기판(10) 상에 PPECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposion) 또는 스퍼터링 등의 증착 방법으로 ITO, IZO, AZO 또는 그 등가 물질 즉, 제 1 전극(19) 형성 물질을 증착하고 이를 패터닝하여 상기의 제 1 전극(19)과 함께 하부 정전기 방지 패턴(27a)을 형성한다. 여기서, 제 1 전극(19)은 컨택홀(18)을 통해 스위칭 소자의 드레인 전극(16)과 전기적으로 접촉된다. The ITO, IZO, AZO, or equivalent material, that is, the first electrode 19 forming material is deposited and patterned on the lower substrate 10 by a deposition method such as plasma enhanced chemical vapor deposition (PPECVD) or sputtering. The lower antistatic pattern 27a is formed together with the first electrode 19. Here, the first electrode 19 is in electrical contact with the drain electrode 16 of the switching element through the contact hole 18.

다음으로, 제 1 전극(19)과 하부 정전기 방지 패턴(27a)이 형성된 하부 기판(10)의 전면에 PECVD, 스핀 코팅(Spin Coating), 스핀리스 코팅(Spinless Coating) 등의 방법으로 산화 실리콘(SiOx), 질화 실리콘(SiNx), 포토 아크릴(photo acryl), 벤조사이클로부텐(BCB) 등의 절연 물질을 증착하고. 이를 패터닝하여 스위칭 소자가 형성된 비 발광영역에 대응하도록 화소 정의층(23)을 형성함과 아울러 절연 패턴(28)을 함께 형성한다. Next, the silicon oxide (PE oxide, spin coating, spinless coating, etc.) on the entire surface of the lower substrate 10 on which the first electrode 19 and the lower antistatic pattern 27a are formed. Insulating materials such as SiOx), silicon nitride (SiNx), photo acryl, and benzocyclobutene (BCB). By patterning this, the pixel defining layer 23 is formed to correspond to the non-emission area in which the switching element is formed, and the insulating pattern 28 is formed together.

이 후, 프린팅 방법이나 섀도우 마스크 방법 또는 열전사법(Laser Induced Thermal Imaging) 등을 이용하여 제 1 전극(19)이 형성된 발광영역의 제 1 전극(19)의 전면에 유기 발광층(21)을 형성한다. 즉, 도면으로 자세히 도시하진 않았지만 유기 발광층(21)은 섀도우 마스크 방법이나 열전사법 등으로 정공 주입층(HIL), 정공 수송층(HTL), 발광층(OEL), 전자 주입층(EIL) 및 전자 수송층(ETL)을 순차적으로 증착함으로써 형성된다. Thereafter, the organic light emitting layer 21 is formed on the entire surface of the first electrode 19 of the light emitting region in which the first electrode 19 is formed by using a printing method, a shadow mask method, a thermal transfer method, or the like. . That is, although not shown in detail in the drawings, the organic light emitting layer 21 may be a hole injection layer (HIL), a hole transport layer (HTL), a light emitting layer (OEL), an electron injection layer (EIL), and an electron transport layer (by a shadow mask method or a thermal transfer method). ETL) is formed by sequentially depositing.

이 후, 유기 발광층(21)이 형성된 하부 기판(10)의 전면에 PECVD나 스퍼터링 공정을 수행하여 일 함수값이 비교적 작은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리 합금 중 적어도 하나의 금속물질에 은/칼슘(Ag/Ca) 등이 적층된 구조의 제 2 전극(22)을 형성한다. 이러한, 제 2 전극(22)은 상기의 화소 정의층(23)을 포함한 유기 발광층(21)의 전면을 모두 덮도록 형성된다. Thereafter, PECVD or sputtering is performed on the entire surface of the lower substrate 10 on which the organic light emitting layer 21 is formed, and among the aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), and copper alloy having a relatively small work function value, A second electrode 22 having a structure in which silver / calcium (Ag / Ca) or the like is stacked on at least one metal material is formed. The second electrode 22 is formed to cover the entire surface of the organic light emitting layer 21 including the pixel defining layer 23.

한편으로, 적어도 하나의 돌기(L)들이 형성된 상부 기판(EC)의 비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)에 PECVD나 스퍼터링 공정을 수행하여 일 함수값이 비교적 작은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리 합금 중 적어도 하나의 금속물질을 증착하고 이를 패터닝하여 상부 정전기 방지 패턴(27b)을 형성한다. Meanwhile, aluminum (Al) having a relatively small work function value is performed by performing PECVD or sputtering on the non-display area 1b and the dummy areas DU1 and DU2 of the upper substrate EC on which the at least one protrusion L is formed. At least one metal material of aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), and copper alloy is deposited and patterned to form an upper antistatic pattern 27b.

이 후, 도 5c에 도시한 바와 같이, 상부 또는 하부 기판(10,EC)의 비 표시 영역(1b)에 실런트(SL)를 형성한 다음, 적어도 하나의 돌기(L)들에 의해 상기 상부 기판(EC)의 비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)에 형성된 상부 정전기 방지 패턴(27b)이 하부 정전기 방지 패턴(27a)과 전기적으로 접속하도록 합착 시킨다. Thereafter, as shown in FIG. 5C, the sealant SL is formed in the non-display area 1b of the upper or lower substrate 10 (EC), and then the upper substrate is formed by at least one protrusion L. FIG. The non-display area 1b of the EC and the upper antistatic pattern 27b formed in the dummy regions DU1 and DU2 are bonded to the lower antistatic pattern 27a to be electrically connected to each other.

그리고, 도 5d에 도시한 바와 같이, 상기 비 표시 영역(1b)의 미리 설정된 어느 한 지점 예를 들어, A 및 A' 화살표 지점을 스크라이빙 한 후, 커팅 공정을 수행하여 더미 영역(DU1,DU2)을 제거한다. As shown in FIG. 5D, after scribing any one predetermined point of the non-display area 1b, for example, the A and A 'arrow points, the cutting process is performed to perform the dummy area DU1, DU2) is removed.

따라서, 완성된 본 발명의 표시 패널(1)의 일부 영역 즉, 비 표시 영역(1b)의 일부 영역에는 컨팅 된 이후의 상부 정전기 방지 패턴(27b)과 하부 정전기 방지 패턴(27a)이 각각 남아있게 된다. Accordingly, the upper antistatic pattern 27b and the lower antistatic pattern 27a after the contact remain in some areas of the completed display panel 1 of the present invention, that is, some areas of the non-display area 1b. do.

이와 같이, 본 발명의 표시 패널(1) 커팅시에는 더미 영역(DU1,DU2) 및 비 표시 영역(1b)에 형성되었던 정전기 방지 패턴부가 동시에 커팅되도록 함으로써 커팅시 발생되는 정전기들이 정전기 방지 패턴부를 통해 외부로 분산되도록 할 수 있다. As described above, when cutting the display panel 1 of the present invention, the static electricity prevention patterns formed in the dummy areas DU1 and DU2 and the non-display area 1b are simultaneously cut so that the static electricity generated during the cutting may be transferred through the antistatic pattern parts. It can be distributed to the outside.

도 6a 및 6c는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 표시 패널의 제조 방법을 설명하기 위한 공정 단면도이다. 6A and 6C are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a display panel according to another exemplary embodiment of the present invention.

도 6a 및 6c는 듀얼 패널타입(dual panel type)의 AMOLED 패널 예를 들어, DOD 구조의 AMOLED 패널에 본 발명에 따른 정전기 방지 패턴부가 적용되는 일 예를 나타낸 것으로써, 도 6a 및 6c를 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 표시 패널 제조방법을 설명하면 다음과 같다. 6A and 6C illustrate an example in which an antistatic pattern portion according to the present invention is applied to an AMOLED panel of a dual panel type, for example, a DOD structure, with reference to FIGS. 6A and 6C. Referring to the display panel manufacturing method according to an embodiment of the present invention.

도 6a 및 6c에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 표시 패널(1)은 서로 마주보도록 합착 된 하부 및 상부 기판(10,30)을 포함하며, 상부 및 하부 기판(10,30)의 표시 영역(1a)에는 발광 셀(OEL)들과 각각의 발광 셀(OEL)들을 동작시키는데 필요한 각종 신호를 제공하는 셀 구동부(DRV)가 구비된다. 이러한, 하부 및 상부 기판(10,30)은 실런트에 의해 서로 합착되는데, 실런트는 하부 및 상부 기판(10, 30)의 비 표시 영역(1b)에 형성된다. As shown in FIGS. 6A and 6C, the display panel 1 according to another exemplary embodiment includes lower and upper substrates 10 and 30 bonded to face each other, and upper and lower substrates 10 and 30. In the display area 1a, a cell driver DRV is provided to provide light emitting cells OEL and various signals required to operate the light emitting cells OEL. The lower and upper substrates 10 and 30 are bonded to each other by sealants, which are formed in the non-display area 1b of the lower and upper substrates 10 and 30.

여기서, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 하부 기판(10)은 도 5a 내지 도 5d에 도시된 하부 기판(10)과는 제 1 전극(19) 및 컨택 전극(25)을 제외한 나머지 구성이 모두 동일하다. 따라서, 하부 기판(10)에 대한 구성 및 제조방법에 대한 설명은 도 5a 및 도 5d 등을 참조한 설명으로 대신하기로 한다. 다만, 도 6a 내지 6c에 도시된 하부 기판(10)에는 도 5a 내지 도 5d의 제 1 전극(19)이 형성되지 않고 대신 동일한 형태의 컨택 전극(25)이 형성된다. 여기서, 더미 영역(DU1,DU2)과 비 표시 영역(1b)에 형성된 하부 정전기 방지 패턴(27a) 및 절연 패턴(28) 또한 도 5a 내지 도 5d에 도시된 바와 동일하다. Here, the lower substrate 10 according to another embodiment of the present invention is the same as the lower substrate 10 shown in Figures 5a to 5d except for the first electrode 19 and the contact electrode 25 all the same configuration Do. Therefore, the description of the configuration and manufacturing method for the lower substrate 10 will be replaced by the description with reference to FIGS. 5A and 5D. However, the first electrode 19 of FIGS. 5A to 5D is not formed on the lower substrate 10 illustrated in FIGS. 6A to 6C, and instead, the same contact electrode 25 is formed. Here, the lower antistatic pattern 27a and the insulating pattern 28 formed in the dummy regions DU1 and DU2 and the non-display area 1b are also the same as those shown in FIGS. 5A to 5D.

도 6a 내지 6c을 참조하여 발광 셀(OEL)이 형성된 상부 기판(30)과 상부 정전기 방지 패턴(27b)의 구조를 상세히 설명하면 다음과 같다. 6A to 6C, the structures of the upper substrate 30 and the upper antistatic pattern 27b on which the light emitting cells OEL are formed will be described in detail as follows.

상부 기판(30)에는 표시 영역(1a)의 비 발광영역에 형성되는 보조 전극(31), 보조 전극(31)을 포함한 상부 기판(30)의 하부 전면에 형성된 제 1 전극(32), 제 1 전극(32)이 형성된 상부 기판(30)의 비 발광 영역에 무기 절연물질로 형성된 버퍼층(33), 하부 기판(10)의 컨택 전극(25)과 대응하도록 상부 기판(30)의 비 발광 영 역에 형성되는 컨택 스페이서(35), 발광 영역을 서브 화소 단위로 구분하기 위해 보조 전극(31)에 대응하도록 형성되는 세퍼레이터(34), 제 1 전극(32)과 세퍼레이터(34) 및 컨택 스페이서(35)를 모두 덮도록 상부 기판(30)의 하부 전면에 형성된 유기 발광층(37), 상기 유기 발광층(37)의 하부 전면에 형성된 제 2 전극(38)이 형성된다. The upper substrate 30 includes an auxiliary electrode 31 formed in the non-light emitting region of the display area 1a, a first electrode 32 formed on the entire lower surface of the upper substrate 30 including the auxiliary electrode 31, and a first electrode. Non-light emitting area of the upper substrate 30 to correspond to the buffer layer 33 formed of an inorganic insulating material in the non-light emitting region of the upper substrate 30 on which the electrode 32 is formed, and the contact electrode 25 of the lower substrate 10. A contact spacer 35 formed in the first electrode 32, a separator 34 formed to correspond to the auxiliary electrode 31, and a first electrode 32 and the separator 34 and the contact spacer 35. ) Are formed on the lower front surface of the upper substrate 30 and the second electrode 38 formed on the lower front surface of the organic light emitting layer 37.

아울러, 상부 기판(30)의 더미 영역(DU1,DU2) 중 상기 하부 정전기 방지 패턴(27a)과 대응되는 어느 한 영역에는 컨택 스페이서(35) 또는 세퍼레이터(34)와 동일한 물질로 형성되는 복수의 돌기(L)가 형성된다. 그리고, 상기 각각의 돌기(L)를 포함한 더미 영역(DU1,DU2)과 비 표시 영역(1b)의 일부 또는 전면에는 제 1 또는 제 2 전극(34,38)과 동일한 물질로 상부 정전기 방지 패턴(27b)이 형성된다. In addition, a plurality of protrusions formed of the same material as the contact spacer 35 or the separator 34 may be formed in any one of the dummy regions DU1 and DU2 of the upper substrate 30 corresponding to the lower antistatic pattern 27a. (L) is formed. In addition, a portion of the dummy areas DU1 and DU2 including the protrusions L and the non-display area 1b may be formed of the same material as the first or second electrodes 34 and 38 on the upper surface of the upper antistatic pattern. 27b) is formed.

상부 기판(30)의 보조 전극(31)은 제 1 전극(31)의 저항 성분을 보상하여 더욱 효과적인 전압을 인가하기 위해 저 저항 금속물질로 형성되는데, 이러한 보조 전극(31)은 상부 기판(30)의 비 발광영역에 형성된다. 보조 전극(31)을 이루는 저 저항 금속물질로는 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 은(Ag), 구리 합금 중 적어도 하나의 금속물질이 사용될 수 있다. The auxiliary electrode 31 of the upper substrate 30 is formed of a low resistance metal material to compensate for the resistance component of the first electrode 31 and apply a more effective voltage. The auxiliary electrode 31 is formed of the upper substrate 30. Is formed in the non-light emitting region. As the low resistance metal material constituting the auxiliary electrode 31, at least one metal material of aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), silver (Ag), or a copper alloy may be used.

제 1 전극(32)은 보조 전극(31)을 모두 덮도록 상부 기판(30)의 하부 전면에 형성된다. 이러한, 제 1 전극(32)은 애노드 전극이 될 수 있으며, ITO, IZO, AZO 중 적어도 하나의 투명 도전성 물질로 형성될 수 있다. 여기서, 제 1 전극(32)의 일측은 비 발광영역의 패드 전극(미도시)을 통해 공통 전원배선에 접속되기 때문에 제 1 전극(32)과 보조 전극(31)은 공통 전원배선으로부터 공통전원을 공급받는다. The first electrode 32 is formed on the lower front surface of the upper substrate 30 to cover all of the auxiliary electrodes 31. The first electrode 32 may be an anode electrode and may be formed of at least one transparent conductive material among ITO, IZO, and AZO. Here, since one side of the first electrode 32 is connected to the common power line through a pad electrode (not shown) of the non-light emitting area, the first electrode 32 and the auxiliary electrode 31 are connected to the common power line from the common power line. To be supplied.

버퍼층(33)은 보조 전극(31)이 형성된 비 발광영역에 무기 절연물질로 형성된다. 이러한, 버퍼층(33)은 컨택 스페이서(35)나 세퍼레이터(34)의 두께, 높이 및 접착력을 보완하기 위한 것으로, SiNx, SiOx, SiON, SiOy 중 어느 하나의 무기 절연물질로 이루어질 수 있다. The buffer layer 33 is formed of an inorganic insulating material in the non-light emitting region where the auxiliary electrode 31 is formed. The buffer layer 33 is to compensate for the thickness, height, and adhesion of the contact spacer 35 or the separator 34 and may be made of any one of inorganic insulating materials of SiNx, SiOx, SiON, and SiOy.

컨택 스페이서(35)는 상부 기판(30)의 제 2 전극(38)과 하부 기판(10)의 전기적인 접촉이 필요한 영역에 기둥 형태로 형성되는데, 컨택 스페이서(35)는 역 테이퍼 즉, 역 사다리꼴 형태로 형성될 수 있다. 구체적으로, 컨택 스페이서(35)는 상부 기판(30)의 가장 하부면에 형성된 제 2 전극(38)이 하부 기판(10)의 컨택 전극(25)과 전기적으로 접촉되도록 하기 위한 것으로, 하부 기판(10)의 컨택 전극(25) 형성영역과 일부 대응되는 위치에 역 사다리꼴 형태로 형성된다. 컨택 스페이서(35)는 가시광 대역의 굴절율을 가지는 투명한 유기물질 예를 들어, poly styrenr, poly 2-vinylthiophene, poly vinylcarbazole 중 적어도 하나의 물질로 패터닝되어 형성될 수 있다. The contact spacer 35 is formed in a columnar shape in an area in which electrical contact between the second electrode 38 and the lower substrate 10 of the upper substrate 30 is required. The contact spacer 35 is an inverse taper, that is, an inverted trapezoid. It may be formed in the form. Specifically, the contact spacer 35 is to allow the second electrode 38 formed on the lowermost surface of the upper substrate 30 to be in electrical contact with the contact electrode 25 of the lower substrate 10. It is formed in an inverted trapezoidal shape at a position corresponding to a part of the contact electrode 25 forming region of 10). The contact spacer 35 may be formed by patterning at least one of a transparent organic material having a refractive index of the visible light band, for example, poly styrenr, poly 2-vinylthiophene, and poly vinylcarbazole.

세퍼레이터(34)는 각 서브 화소를 감싸는 격벽 형태로 상기 보조 전극(31)과 대응되는 영역에 형성되는데, 보조 전극(31)의 위치에 따라 하부 기판(10)의 게이트 라인(GL) 또는 데이터 라인(DL)에 대응되도록 형성될 수도 있다. 세퍼레이터(34)는 감광성 유기물질 예를 들어, 포토 레지스트(PR), 포토 아크릴(photo acryl) 또는 벤조사이클로부텐(BCB) 등이 도포된 후 패터닝되어 형성될 수 있다. The separator 34 is formed in a region corresponding to the auxiliary electrode 31 in the form of a partition wall surrounding each sub-pixel. The gate line GL or the data line of the lower substrate 10 depends on the position of the auxiliary electrode 31. It may be formed to correspond to the DL. The separator 34 may be formed by applying a photosensitive organic material, for example, photoresist (PR), photo acryl, or benzocyclobutene (BCB), and then patterning the photoresist.

상술한 버퍼층(33)과 컨택 스페이서(35) 및 세퍼레이터(34) 중 적어도 하나 의 구조물 형성시에는 상기에서 상술한 본 발명의 돌기(L)들이 동일한 물질과 동일한 공정과정으로 함께 형성될 수도 있다. In the formation of at least one structure of the buffer layer 33, the contact spacer 35, and the separator 34, the protrusions L of the present invention described above may be formed together in the same process with the same material.

유기 발광층(37)은 정공 주입층(HIL), 정공 수송층(HTL), 발광층(OEL), 전자 주입층(EIL) 및 전자 수송층(ETL)을 포함한다. 정공 주입층(HIL)은 제 1 전극(32) 예를 들어, 애노드 전극과 컨택 스페이서(35) 등을 포함한 상부 기판(30)의 하부 전면에 형성되며, 정공 수송층(HTL)은 정공 주입층(HIL)을 포함한 상부 기판(30)의 하부 전면에 형성된다. 아울러, 발광층(OEL)은 발광영역의 정공 수송층(HTL) 상에 형성되며, 전자 주입층(EIL)은 발광층(OEL) 및 정공 수송층(HTL)을 포함한 상부 기판(30)의 하부 전면에 형성된다. 그리고 전자 수송층(ETL)은 전자 주입층(EIL)을 포함한 상부 기판(30)의 전면에 형성된다. The organic light emitting layer 37 includes a hole injection layer HIL, a hole transport layer HTL, a light emitting layer OEL, an electron injection layer EIL, and an electron transport layer ETL. The hole injection layer HIL is formed on the lower front surface of the upper substrate 30 including the first electrode 32, for example, the anode electrode and the contact spacer 35, and the hole transport layer HTL is formed in the hole injection layer H. HIL) is formed on the lower front surface of the upper substrate 30. In addition, the emission layer OEL is formed on the hole transport layer HTL of the emission region, and the electron injection layer EIL is formed on the lower front surface of the upper substrate 30 including the emission layer OEL and the hole transport layer HTL. . The electron transport layer ETL is formed on the entire surface of the upper substrate 30 including the electron injection layer EIL.

제 2 전극(38)은 상기의 세퍼레이터(34) 등에 의해 서브 화소 단위로 분리된 유기 발광층(37)을 덮도록 형성된다. 이러한, 제 2 전극(38)은 캐소드 전극이 될 수 있으며, 일 함수값이 비교적 작은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리 합금, ITO, ITO/Ag/ITO, ITO/Ag/IZO(Indium Zinc Oxide) 및 그 등가물 중 적어도 하나의 물질로 형성될 수 있다. 여기서, 은(Ag)은 상부 발광방식에서 유기 발광층(37)으로부터의 빛을 상면으로 반사시키기도 한다. 이러한, 제 2 전극(38)의 형성 시에는 상기에서 상술한 본 발명의 상부 정전기 방지 패턴(27b)이 동시에 형성될 수 있다. The second electrode 38 is formed to cover the organic light emitting layer 37 separated by sub-pixel units by the separator 34 or the like. The second electrode 38 may be a cathode electrode, and aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, ITO, ITO / Ag / ITO, or ITO having a relatively small work function value. / Ag / IZO (Indium Zinc Oxide) and the equivalent may be formed of at least one material. Here, silver (Ag) may reflect light from the organic light emitting layer 37 to the upper surface in the upper light emission method. When the second electrode 38 is formed, the upper antistatic pattern 27b of the present invention described above may be simultaneously formed.

이 후, 도 6b를 참조하면, 상부 또는 하부 기판(10,30)의 비 표시 영역(1b)에는 실런트(SL)가 형성되고, 적어도 하나의 돌기(L)들에 의해 상부 기판(EC)의 비 표시 영역(1b)과 더미 영역(DU1,DU2)에 형성된 상부 정전기 방지 패턴(27b)이 하부 정전기 방지 패턴(27a)과 전기적으로 접속되도록 합착된다. 그리고, 도 6c와 같이, 상기 비 표시 영역(1b)의 미리 설정된 어느 한 지점 이 스크라이빙 및 커팅되어 더미 영역(DU1,DU2)이 제거된다. 6B, a sealant SL is formed in the non-display area 1b of the upper or lower substrates 10 and 30, and the sealant SL is formed by the at least one protrusion L. Referring to FIG. The upper antistatic pattern 27b formed in the non-display area 1b and the dummy regions DU1 and DU2 is bonded to be electrically connected to the lower antistatic pattern 27a. 6C, a predetermined point of the non-display area 1b is scribed and cut to remove the dummy areas DU1 and DU2.

따라서, 완성된 본 발명의 표시 패널(1)의 일부 영역 즉, 비 표시 영역(1b)의 일부 영역에는 컨팅 된 이후의 상부 정전기 방지 패턴(27b)과 하부 정전기 방지 패턴(27a)이 각각 남아있게 된다. Accordingly, the upper antistatic pattern 27b and the lower antistatic pattern 27a after the contact remain in some areas of the completed display panel 1 of the present invention, that is, some areas of the non-display area 1b. do.

이와 같이, 본 발명의 표시 패널(1) 커팅시에는 더미 영역(DU1,DU2) 및 비 표시 영역(1b)에 형성되었던 정전기 방지 패턴부가 동시에 커팅되도록 함으로써 커팅시 발생되는 정전기들이 정전기 방지 패턴부를 통해 외부로 분산되도록 할 수 있다. 따라서, 표시 패널(1)의 제조 공정시 불량률을 감소시켜 공정 수율을 더욱 향상시밀 수 있게 된다. As described above, when cutting the display panel 1 of the present invention, the static electricity prevention patterns formed in the dummy areas DU1 and DU2 and the non-display area 1b are simultaneously cut so that the static electricity generated during the cutting may be transferred through the antistatic pattern parts. It can be distributed to the outside. Therefore, the defect rate during the manufacturing process of the display panel 1 can be reduced to further improve the process yield.

이상에서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술 분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술 될 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음이 자명하다. Although the detailed description of the present invention described above has been described with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art or those skilled in the art have ordinary skill in the art. It is apparent that the present invention can be variously modified and changed without departing from the spirit and technical scope.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 발광 표시장치를 나타낸 구성 회로도이다. 그리고, 도 2는 도 1에 도시된 표시 패널의 한 서브 화소를 나타낸 등가 회로도1 is a circuit diagram illustrating a light emitting display device according to an exemplary embodiment of the present invention. 2 is an equivalent circuit diagram illustrating one sub-pixel of the display panel illustrated in FIG. 1.

도 3은 도 1에 도시된 표시 패널의 제조 과정을 설명하기 위한 구성 회로도FIG. 3 is a circuit diagram illustrating a manufacturing process of the display panel illustrated in FIG. 1.

도 4는 도 3에 도시된 I-I' 영역을 나타낸 공정 단면도4 is a cross-sectional view illustrating a region II ′ shown in FIG. 3;

도 5a 및 5b는 도 1 및 도 3에 도시된 표시 패널의 제조 방법을 설명하기 위한 공정 단면도5A and 5B are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the display panel illustrated in FIGS. 1 and 3.

도 6a 및 6c는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 표시 패널의 제조 방법을 설명하기 위한 공정 단면도6A and 6C are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a display panel according to another exemplary embodiment of the present invention.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 간단한 설명** Brief description of symbols for the main parts of the drawings.

1: 표시 패널 2: 게이트 구동부1: display panel 2: gate driver

3: 데이터 구동부 4: 전원 공급부3: data driver 4: power supply

5: 타이빙 제어부 11: 게이트 전극5: moving control part 11: gate electrode

19: 제 1 전극 22: 제 2 전극19: first electrode 22: second electrode

27a: 하부 정전기 방지 패턴 27b: 상부 정전기 방지 패턴27a: lower antistatic pattern 27b: upper antistatic pattern

L: 돌기 EC: 상부 기판L: projection EC: upper substrate

SL: 실런트 28: 절연 패턴SL: sealant 28: insulation pattern

Claims (10)

영상 표시영역 및 비 표시 영역을 포함하고 서로 마주보도록 합착된 하부 및 상부 기판; Lower and upper substrates including an image display area and a non-display area and bonded to face each other; 상기 영상 표시 영역의 비 발광 영역에 형성된 복수의 셀 구동부; A plurality of cell drivers formed in the non-emission area of the image display area; 상기 영상 표시 영역의 발광 영역에 형성된 복수의 발광 셀; 및 A plurality of light emitting cells formed in the light emitting area of the image display area; And 상기 하부 및 상부 기판의 상기 비 표시 영역에 형성되는 기판 커팅 라인과 중첩되도록 상기 기판 커팅 라인을 따라 상기 상부 및 하부 기판 중 적어도 하나의 기판에 형성된 적어도 하나의 정전기 방지 패턴을 포함한 것을 특징으로 하는 발광 표시장치. And at least one antistatic pattern formed on at least one of the upper and lower substrates along the substrate cutting line so as to overlap the substrate cutting lines formed in the non-display areas of the lower and upper substrates. Display. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 적어도 하나의 정전기 방지 패턴은 The at least one antistatic pattern is 상기 하부 및 상부 기판의 더미 영역들에 형성된 정전기 방지 패턴부와 일체로 형성된 패턴으로써, 상기의 더미 영역들의 제거시 상기 정전기 방지 패턴부가 커팅되어 상기 비 표시 영역의 상부 및 하부 기판 중 적어도 하나의 기판에 잔류한 패턴인 것을 특징으로 하는 발광 표시장치. The pattern is formed integrally with the antistatic pattern portions formed in the dummy regions of the lower and upper substrates. When the dummy regions are removed, the antistatic pattern portion is cut to remove at least one of the upper and lower substrates of the non-display region. A light emitting display device, characterized in that the remaining pattern. 제 2 항에 있어서, The method of claim 2, 상기 정전기 방지 패턴부는 The antistatic pattern portion 상기 비 표시 영역과 더미 영역 중 일부 또는 전체 영역에 형성되며, Is formed in some or all of the non-display area and the dummy area, 상기 비 표시 영역과 더미 영역의 하부 기판 상에 적어도 하나의 도전성 금속 물질로 형성된 하부 정전기 방지패턴, A lower antistatic pattern formed of at least one conductive metal material on the lower substrates of the non-display area and the dummy area; 상기 더미 영역의 상부 기판에 상기 상부 기판과 일체로 형성된 적어도 하나의 돌기, 및 At least one protrusion integrally formed with the upper substrate on the upper substrate of the dummy region, and 상기 적어도 하나의 돌기를 모두 덮도록 상기 상부 기판의 비 표시 영역과 더미 영역에 형성되어 상기 상부 기판과 상기 하부 기판의 합착시 상기 적어도 하나의 돌기에 의해 상기 하부 정전기 방지패턴과 전기적으로 접속되는 상부 정전기 방지패턴을 포함한 것을 특징으로 하는 발광 표시장치. An upper portion formed in the non-display area and the dummy area of the upper substrate to cover all of the at least one protrusion and electrically connected to the lower antistatic pattern by the at least one protrusion when the upper substrate and the lower substrate are bonded together A light emitting display device comprising an antistatic pattern. 제 3 항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 하부 정전기 방지패턴은 The lower antistatic pattern is 상기 스위칭 소자의 게이트 전극 또는 소스/드레인 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성되거나 상기 발광 셀의 제 1 또는 제 2 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성될 수 있으며, It may be formed through the same process for forming the gate electrode or the source / drain electrode of the switching device or through the same process for forming the first or second electrode of the light emitting cell, 상기 상부 정전기 방지 패턴은 상기 상부 기판에 별도로 형성되거나 상기 상기 발광 셀의 제 1 또는 제 2 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성될 수도 있는 것을 특징으로 하는 발광 표시장치. The upper antistatic pattern may be formed separately on the upper substrate or may be formed through the same process when forming the first or second electrode of the light emitting cell. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 적어도 하나의 돌기는 The at least one protrusion 상기 상부 기판의 더미 영역에 상기 상부기판과 일체로 형성되거나 상기 복수의 발광 셀 및 셀 구동부의 형성시 버퍼층과 컨택 스페이서 및 세퍼레이터 중 적어도 하나의 구조물과 동일한 공정 과정을 통해 형성되는 것을 특징으로 하는 발광 표시장치. Light emission, which is formed integrally with the upper substrate in the dummy region of the upper substrate or is formed through the same process as at least one structure of a buffer layer, a contact spacer and a separator when the plurality of light emitting cells and the cell driver are formed. Display. 상부 및 하부 기판을 각각 준비하는 단계; Preparing upper and lower substrates, respectively; 상기 하부 기판의 영상 표시 영역에 복수의 셀 구동부를 형성하는 단계; Forming a plurality of cell drivers in the image display area of the lower substrate; 상기 상부 또는 하부 기판의 영상 표시 영역에 복수의 발광 셀을 형성하는 단계; Forming a plurality of light emitting cells in an image display area of the upper or lower substrate; 상기 상부 및 하부 기판의 비 표시 영역에 형성되는 기판 커팅 라인과 중첩되도록 상기 기판 커팅 라인을 따라 상기 상부 및 하부 기판 중 적어도 하나의 기판에 적어도 하나의 정전기 방지 패턴을 형성하는 단계; 및Forming at least one antistatic pattern on at least one of the upper and lower substrates along the substrate cutting line to overlap the substrate cutting lines formed in the non-display areas of the upper and lower substrates; And 상기 상부 및 하부 기판을 합착하는 단계를 포함한 것을 특징으로 하는 발광 표시장치의 제조 방법. And bonding the upper and lower substrates together. 제 6 항에 있어서, The method of claim 6, 상기 적어도 하나의 정전기 방지 패턴 형성 단계는 The at least one antistatic pattern forming step 상기 상부 및 하부 기판 더미 영역에 정전기 방지 패턴부를 형성하는 단계, 및 Forming an antistatic pattern portion on the upper and lower substrate dummy regions, and 상기 상부 및 하부 기판 더미 영역들의 커팅하여 제거하는 단계를 포함하고, Cutting and removing the upper and lower substrate dummy regions, 상기 더미 영역들의 제거시에는 상기 더미 영역에 형성된 정전기 방지 패턴부가 커팅되도록 하여 상기 비 표시 영역의 상부 및 하부 기판 중 적어도 하나의 기판에 잔류시키는 것을 특징으로 하는 발광 표시장치의 제조 방법. And removing the dummy regions so that the antistatic pattern portion formed on the dummy regions is cut and left on at least one of the upper and lower substrates of the non-display region. 제 7 항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 정전기 방지 패턴부 형성 단계는 The antistatic pattern portion forming step 상기 하부 기판의 비 표시 영역과 더미 영역의 상에 적어도 하나의 도전성 금속 물질로 하부 정전기 방지패턴을 형성하는 단계, 및Forming a lower antistatic pattern on at least one conductive metal material on the non-display area and the dummy area of the lower substrate, and 상기 더미 영역의 상부 기판에 상기 상부 기판과 일체로 형성된 적어도 하나의 돌기를 모두 덮도록 함과 아울러 상기 상부 기판과 상기 하부 기판의 합착시 상기 적어도 하나의 돌기에 의해 상기 하부 정전기 방지패턴과 전기적으로 접속되도록 상기 상부 기판 상에 상부 정전기 방지패턴을 형성하는 단계를 포함한 것을 특징으로 하는 발광 표시장치의 제조 방법. The upper substrate of the dummy region covers all of the at least one protrusion integrally formed with the upper substrate, and is electrically connected to the lower antistatic pattern by the at least one protrusion when the upper substrate and the lower substrate are bonded together. And forming an upper antistatic pattern on the upper substrate such that the upper substrate is connected to the upper substrate. 제 8 항에 있어서, The method of claim 8, 상기 하부 정전기 방지패턴은 The lower antistatic pattern is 상기 셀 구동부의 게이트 전극 또는 소스/드레인 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성되거나 상기 발광 셀의 제 1 또는 제 2 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성될 수 있으며, It may be formed through the same process for forming the gate electrode or the source / drain electrode of the cell driving unit or the same process for forming the first or second electrode of the light emitting cell, 상기 상부 정전기 방지 패턴은 상기 상부 기판에 별도로 형성되거나 상기 상기 발광 셀의 제 1 또는 제 2 전극 형성시 동일한 공정 과정을 통해 형성될 수도 있는 것을 특징으로 하는 발광 표시장치의 제조 방법. The upper antistatic pattern may be formed separately on the upper substrate or may be formed through the same process when forming the first or second electrode of the light emitting cell. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 적어도 하나의 돌기는 The at least one protrusion 상기 상부 기판의 더미 영역에 상기 상부기판과 일체로 형성되거나 상기 복수의 셀 구동부 형성시 버퍼층과 컨택 스페이서 및 세퍼레이터 중 적어도 하나의 구조물과 동일한 공정 과정을 통해 형성되는 것을 특징으로 하는 발광 표시장치의 제조 방법. Fabrication of a light emitting display device, characterized in that formed in the dummy region of the upper substrate integrally with the upper substrate or through the same process as at least one structure of a buffer layer, a contact spacer and a separator when the plurality of cell drivers are formed. Way.
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