KR20100111470A - Backlight module for cell and inspecting apparatus having the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A backlight module for the cell check and a cell inspection apparatus including the same are provided to check a variety of sizes of cells by the enhancing of the structures of a backlight unit and a slant light source. CONSTITUTION: A backlight module(240) for the cell check comprises a backlight unit(241), a lower slant light source(242), a base member(243) and a frame(244). The backlight unit is installed under the cell and irradiates the light to the cell. The lower slant light source generates the light, which is irradiated to slope to the bottom of the cell. The backlight unit and the lower slant light source is provided by one module. The base member supports the backlight unit. One end of the frame is connected to the base member and the other end is connected to the lower slant light source.

Description

셀 검사용 백라이트 모듈 및 이를 구비한 셀 검사장치{Backlight module for cell and Inspecting apparatus having the same}Backlight module for cell inspection and cell inspection apparatus having same {Backlight module for cell and Inspecting apparatus having the same}

본 발명은 셀 검사용 백라이트 모듈 및 이를 구비한 셀 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a backlight module for cell inspection and a cell inspection apparatus having the same.

카메라를 이용하여 LCD 셀을 촬영한 후, 촬영된 영상을 통해 LCD 셀의 불량 여부를 판단하는 기술이 다양한 부분에서 시행되고 있다.After photographing an LCD cell using a camera, a technique of determining whether an LCD cell is defective based on the captured image has been implemented in various parts.

LCD 셀(Liquid crystal display cell)은 TFT판과 칼라필터판을 접합한 후 절단공정을 통해 각 단위패널로 분리함으로써 얻어지게 되며, 이러한 LCD 셀의 얼룩이나 스크래치 등의 결함은 촬영을 통해 검출된다.An LCD cell is obtained by bonding a TFT plate and a color filter plate to each unit panel through a cutting process, and defects such as stains or scratches of the LCD cell are detected by photographing.

이와 같이, 카메라를 이용하여 LCD 셀 불량 여부를 검출하는 기술로 한국등록특허 0779135호(명칭 : 액정패널 검사장치)가 개시되어 있다.As such, Korean Patent No. 0779135 (name: liquid crystal panel inspection device) has been disclosed as a technology for detecting an LCD cell defect using a camera.

상기 종래기술은 도 1에 도시된 바와 같이, 검사대상 패널(3)이 안착되는 테이블(10)과, 테이블(10)의 하부에 구비되고 관통공(12)을 통해 패널(30)에 광을 선택적으로 제공하는 백라이트(14)를 구비하고 있다.As shown in FIG. 1, the conventional technology includes a table 10 on which an inspection object panel 3 is seated, and a light provided to the panel 30 through a through hole 12 and provided at a lower portion of the table 10. Back light 14 provided selectively is provided.

그리고, 테이블(10)의 관통공(12) 측면에 구비되어 패널(3)의 후면에 경사지게 조사되는 광을 제공하는 후면 측광원(20)과, 테이블(10)의 상부에 구비되어 패널(3)의 전면에 경사지게 조사되는 광을 제공하는 전면 측광원(30)과, 테이블(10)의 상부에 구비되어 패널(3)의 이미지를 획득하는 카메라(40)를 구비하고 있다.In addition, a rear side light source 20 is provided at a side of the through hole 12 of the table 10 to provide light irradiated obliquely to the rear surface of the panel 3, and is provided at an upper portion of the table 10. And a front side light source 30 for providing the light irradiated obliquely to the front side of the camera), and a camera 40 provided on the table 10 to acquire an image of the panel 3.

이와 같은 구성들을 통해, 패널(3)의 전면과 후면에 있는 이물이 카메라(40)에 의해 모두 검출되고, 백라이트(14)를 사용하여 조명하면 카메라(40)에 의해 이물과 내부 결함이 동시에 검출되므로, 검출된 이미지를 비교하여 내부 결함만을 확실하게 찾을 수 있도록 하고 있다.Through these configurations, foreign materials on the front and rear of the panel 3 are both detected by the camera 40, and when illuminated using the backlight 14, the foreign matter and internal defects are simultaneously detected by the camera 40. Therefore, by comparing the detected image, it is possible to reliably find only internal defects.

그러나, 상기 종래기술은 후면 측광원(20)이 테이블(10)의 내부에 고정 설치되는 구조를 가지므로, 특정 사이즈의 검사 패널(30)만을 검사할 수 있었다.However, since the rear side light source 20 has a structure in which the rear side light source 20 is fixedly installed in the interior of the table 10, only the inspection panel 30 having a specific size can be inspected.

이에 따라, 검사 패널(30)의 사이즈가 달라지는 경우, 측광원(20)이 설치된 테이블(10) 전체를 교체하여야만 하는 문제점이 있다.Accordingly, when the size of the inspection panel 30 is changed, there is a problem in that the entire table 10 on which the light metering source 20 is installed must be replaced.

본 발명은 백라이트 유닛 및 경사광원의 구조를 개선하여 다양한 사이즈의 셀을 검사할 수 있는 셀 검사용 백라이트 모듈 및 이를 구비한 셀 검사장치를 제공하기 위한 것이다.An object of the present invention is to provide a cell inspection backlight module and a cell inspection apparatus having the same, which can inspect cells of various sizes by improving the structures of the backlight unit and the inclined light source.

이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 셀 검사용 백라이트 모듈은, 셀의 하측에 구비되어 셀로 광을 조사하는 백라이트 유닛; 및 셀의 하면에 경사지게 조사되는 광을 발생시키는 하부 경사광원; 을 포함하며, 상기 백라이트 유닛과 상기 하부 경사광원은 하나의 모듈로 마련되는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the cell inspection backlight module according to the present invention includes a backlight unit provided under the cell to irradiate light to the cell; And a lower oblique light source for generating light irradiated obliquely to a lower surface of the cell; And the backlight unit and the lower oblique light source are provided as one module.

또한, 상기 백라이트 유닛을 지지하는 베이스부재; 및 일단이 상기 베이스부재와 결합되고, 타단이 상기 하부 경사광원과 결합되는 프레임을 더 포함하는 것을 를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, a base member for supporting the backlight unit; And one end coupled to the base member and the other end coupled to the lower oblique light source.

또한, 상기 베이스부재에는 상기 백라이트 유닛을 승하강 시키기 위한 승강장치가 마련되는 것을 특징으로 한다.In addition, the base member is characterized in that the lifting device for raising and lowering the backlight unit is provided.

또한, 상기 베이스부재 및 상기 프레임 중 적어도 어느 하나에 설치되어 상기 하부 경사광원의 각도를 조절하는 각도조절장치를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, at least one of the base member and the frame is characterized in that it further comprises an angle adjusting device for adjusting the angle of the lower oblique light source.

또한, 상기 베이스부재 및 상기 프레임 중 적어도 어느 하나에 설치되어 상기 프레임을 승하강시키는 높이조절장치를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, at least one of the base member and the frame is characterized in that it further comprises a height adjusting device for raising and lowering the frame.

또한, 본 발명에 따른 셀 검사용 백라이트 모듈은, 셀의 하측에 구비되어 피셀로 광을 수직하게 조사하는 백라이트 유닛; 및 셀의 하부에서 상측 방향으로 경사지게 조사되는 광을 셀 측으로 반사시키는 반사부재; 를 포함하며, 상기 백라이트 유닛과 상기 반사부재는 하나의 모듈로 마련되는 것을 특징으로 한다.In addition, the backlight module for cell inspection according to the present invention, the backlight unit is provided on the lower side of the cell to irradiate light vertically to the pixel; And a reflecting member reflecting the light irradiated obliquely upward from the lower part of the cell toward the cell side. It includes, The backlight unit and the reflective member is characterized in that it is provided as one module.

또한, 본 발명에 따른 셀 검사장치는, 셀을 지지하는 셀 지지수단; 셀의 상측에 구비되어 셀을 검사하는 카메라; 셀의 상면으로 경사지게 조사되는 광을 발생 시키는 상부 경사광원; 셀의 하측에 구비되어 셀로 광을 조사하는 백라이트 유닛; 및 셀의 하면에 경사지게 조사되는 광을 발생시키는 하부 경사광원; 을 포함하며, 상기 백라이트 유닛과 상기 하부 경사광원은 하나의 모듈로 마련되는 것을 특징으로 한다.In addition, the cell inspection apparatus according to the present invention, the cell support means for supporting the cell; A camera provided above the cell to inspect the cell; An upper oblique light source generating light irradiated obliquely to an upper surface of the cell; A backlight unit provided below the cell to irradiate light to the cell; And a lower oblique light source for generating light irradiated obliquely to a lower surface of the cell; And the backlight unit and the lower oblique light source are provided as one module.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 셀 검사용 백라이트 모듈 및 이를 구비한 셀 검사장치는, 백라이트 유닛과 하부 경사광원이 하나의 모듈로 마련되고, 하부 경사광원의 각도 및 높이가 조절되는 구조를 통하여 다양한 크기의 셀을 검사할 수 있는 효과가 있다.As described above, the cell inspection backlight module and the cell inspection apparatus having the same according to the present invention have a structure in which the backlight unit and the lower oblique light source are provided as one module, and the angle and height of the lower oblique light source are adjusted. Through this, it is possible to inspect cells of various sizes.

또한, 백라이트 유닛이 승강되는 구조를 통해 셀과 백라이트 유닛간의 간격이 조절됨에 따라 셀의 검사 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, as the distance between the cell and the backlight unit is adjusted through the structure in which the backlight unit is elevated, there is an effect of improving the inspection efficiency of the cell.

이하, 본 발명에 따른 하나의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명하되, 중복되는 설명이나 자명한 사항에 대한 설명은 가급적 생략하거나 압축하기로 한다.Hereinafter, one preferred embodiment according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, description of overlapping description or obvious matters will be omitted or compressed as possible.

도 2는 본 발명의 제 1실시예에 따른 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.2 is a schematic diagram schematically showing an inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.

도 2를 참조하여 설명하면, 본 발명에 따른 검사장치(200)는 카메라(210)와, 셀 지지수단(220)과, 상부 경사광원(230)과, 백라이트 모듈(240)을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 2, the inspection apparatus 200 according to the present invention includes a camera 210, a cell support unit 220, an upper oblique light source 230, and a backlight module 240. .

카메라(210)는 셀(P)의 상부에 설치되며, 셀(P)의 이미지를 획득하는 기능을 수행한다. 카메라(210)에서 획득된 이미지는 이미지처리부(250)에서 처리되는데, 이러한 이미지처리부(250)는 카메라(210)에서 획득된 이미지들을 비교 분석하여 셀(P)의 결함을 찾아내게 된다.The camera 210 is installed above the cell P and performs a function of acquiring an image of the cell P. The image acquired by the camera 210 is processed by the image processor 250, and the image processor 250 compares the images acquired by the camera 210 to find defects of the cells P.

여기서, 셀(P)은 TFT판과 칼라필터판을 접한한 후 절단공정을 통해 각 단위패널로 분리되어 얻어진 LCD 셀(Liquid crystal display cell) 등이 될 수 있으며, 셀(P)의 결함은 셀(P)의 얼룩, 스크래치, 기포, 이물질, 유리조각, 파티클 등을 포함한다.Here, the cell P may be an LCD cell (Liquid Crystal Display Cell) obtained by contacting the TFT plate and the color filter plate and then separated into each unit panel through a cutting process, the defect of the cell (P) is a cell (P) stains, scratches, bubbles, foreign matter, glass pieces, particles and the like.

셀 지지수단(220)은 셀(P)를 지지하기 위한 것으로, 셀(P)의 양단을 지지함으로써 셀(P)의 하면으로 광이 조사될 수 있도록 한다.The cell support unit 220 is for supporting the cell P. The cell supporting means 220 supports both ends of the cell P so that light can be irradiated to the lower surface of the cell P.

상부 경사광원(230)은 셀(P)의 상측에 구비되며, 셀(P)의 상면에 경사지게 조사되는 광을 발생시킨다. 이러한 상부 경사광원(230)은 셀(P)의 양단과 대응되는 위치에 배치되는 것이 바람직하며, 보다 균일하게 광을 조사하기 위해 셀(P)의 가장자리를 따라 배치될 수 있다.The upper oblique light source 230 is provided on the upper side of the cell P, and generates light irradiated obliquely to the upper surface of the cell P. The upper oblique light source 230 is preferably disposed at a position corresponding to both ends of the cell (P), it may be disposed along the edge of the cell (P) to irradiate light more uniformly.

백라이트 모듈(240)은 백라이트 유닛(241)과, 하부 경사광원(242)을 포함하여 구성된다.The backlight module 240 includes a backlight unit 241 and a lower oblique light source 242.

백라이트 유닛(241)은 셀(P)의 하측에 구비되어서, 셀(P)의 하면에 수직하게 조사되는 광을 발생시킨다.The backlight unit 241 is provided below the cell P to generate light irradiated perpendicularly to the lower surface of the cell P.

하부 경사광원(242)은 셀(P)의 하측에 구비되며, 셀(P)의 하면에 경사지게 조사되는 광을 발생시킨다. 이러한 하부 경사광원(242)은 셀(P)의 양단과 대응되는 위치에 배치되는 것이 바람직하며, 균일하게 광을 조사하기 위해 셀(P)의 가장자리를 따라 배치될 수 있다.The lower oblique light source 242 is provided below the cell P, and generates light irradiated obliquely to the lower surface of the cell P. The lower oblique light source 242 is preferably disposed at a position corresponding to both ends of the cell P, and may be disposed along the edge of the cell P to uniformly irradiate light.

한편, 본 발명에 따른 백라이트 모듈(240)은 베이스부재(243)와, 프레임(244)과, 각도조절장치(245)와, 높이조절장치(246)를 더 포함하여 구성된다.Meanwhile, the backlight module 240 according to the present invention further includes a base member 243, a frame 244, an angle adjusting device 245, and a height adjusting device 246.

이하, 본 발명에 따른 백라이트 모듈을 도 3 및 도 4를 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the backlight module according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 3 and 4.

도 3 및 도 4를 참조하면, 베이스부재(243)는 백라이트 유닛(241)을 지지하기 위한 것으로, 베이스부재(243)의 상면에 백라이트 유닛(241)의 하면이 고정 결합된다.3 and 4, the base member 243 is for supporting the backlight unit 241, and the lower surface of the backlight unit 241 is fixedly coupled to the upper surface of the base member 243.

프레임(244)은 일단이 베이스부재(243)와 결합되고, 타단이 하부 경사광원(242)과 결합된다.One end of the frame 244 is coupled to the base member 243, and the other end is coupled to the lower inclined light source 242.

그리고, 프레임(244)에는 하부 경사광원(242)의 각도(??1)를 조절하기 위한 각도조절장치(245)가 설치된다.The frame 244 is provided with an angle adjusting device 245 for adjusting the angle ?? of the lower inclined light source 242.

각도조절장치(245)는 프레임(244)에 하부 경사광원(242)을 회전 가능하도록 설치하기 위한 힌지축(245a)을 구비한다. 이러한 힌지축(245a)은 일단이 하부 경사광원(242)과 결합되며, 타단이 프레임(244)에 형성된 힌지홀(244a)에 삽입된다.The angle adjusting device 245 includes a hinge shaft 245a for rotatably installing the lower inclined light source 242 on the frame 244. One end of the hinge shaft 245a is coupled to the lower inclined light source 242, and the other end is inserted into the hinge hole 244a formed in the frame 244.

또한, 각도조절장치(245)는 힌지축(245a)에 고정되는 피니언(245b)과, 피니언(245b)과 맞물려 회전하는 기어(245c)와, 프레임(244)에 설치되어 기어(245c)에 회전력을 제공하는 모터(245d)를 더 구비한다.In addition, the angle adjusting device 245 is provided with a pinion 245b fixed to the hinge shaft 245a, a gear 245c rotating in engagement with the pinion 245b, and a frame 244 for rotating force on the gear 245c. It further includes a motor (245d) for providing.

본 실시예에서는 모터(245d)가 프레임(244)에 설치되고 있으나, 모터(245d)를 베이스부재(243)에 설치하고, 벨트 또는 체인 등을 이용하여 힌지축(245a)을 회전 시킬 수도 있다.In this embodiment, the motor 245d is installed in the frame 244. However, the motor 245d may be installed in the base member 243, and the hinge shaft 245a may be rotated using a belt or a chain.

한편, 높이조절장치(246)는 하부 경사광원(242)의 높이(h1)를 조절하기 위한 것으로, 베이스부재(243)에 고정 설치되어 프레임(244)의 승하강을 안내하는 가이드부재(246a)와, 프레임(244)과 결합되는 랙바(246b)와, 랙바(246b)와 맞물려 회전하는 구동기어(246c)와, 베이스부재(243)에 고정되어서 구동기어(246c)에 회전력을 제공하는 구동모터(246d)로 마련된다.On the other hand, the height adjusting device 246 is to adjust the height (h1) of the lower inclined light source 242, is fixed to the base member 243 guide member 246a for guiding the lifting and lowering of the frame 244 And a rack bar 246b coupled to the frame 244, a drive gear 246c rotating in engagement with the rack bar 246b, and a drive motor fixed to the base member 243 to provide rotational force to the drive gear 246c. 246d.

이와 같이 구성된 검사장치는 셀(PA)의 크기에 따라 각도조절장치(245) 및 높이조절장치(246)를 작동시켜, 하부 경사광원(242)의 각도(??) 및 높이(h)를 조절할 수 있게 된다.The inspection device configured as described above operates the angle adjusting device 245 and the height adjusting device 246 according to the size of the cell PA to adjust the angle and height h of the lower inclined light source 242. It becomes possible.

즉, 본 발명에 따른 검사장치는 백라이트 유닛(241)과 하부 경사광원(242)이 하나의 모듈(240)을 이루고, 하부 경사광원(242)의 각도(??) 및 높이(h)가 조절되는 구조를 통하여 다양한 크기의 셀(P)을 검사할 수 있게 된다.That is, in the inspection apparatus according to the present invention, the backlight unit 241 and the lower inclined light source 242 form one module 240, and the angle ?? and the height h of the lower inclined light source 242 are adjusted. Through the structure to be able to inspect the cells (P) of various sizes.

다음은 도 5를 참조하여, 본 발명의 제 1실시예에 따른 검사장치의 검사방법을 설명한다.Next, the inspection method of the inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention with reference to FIG.

먼저, 셀 지지수단(220)에 의해 셀(P)이 지지되도록 한다.First, the cell P is supported by the cell support means 220.

이와 같은 상태에서, 상부 경사광원을 켜고(S510), 카메라(210)를 작동시켜서 제 1이미지를 획득한다(S520). 이러한 제 1이미지는 상부 경사광원(230)으로부 터 셀(P)의 상면에 경사지게 조사되는 광을 통하여 획득되는 점을 포함하며, 여기서 점은 셀(P)의 상면에 존재하는 이물을 나타내는 것이다.In this state, the upper oblique light source is turned on (S510) and the camera 210 is operated to obtain a first image (S520). This first image includes a point obtained through light irradiated obliquely from the upper oblique light source 230 to the upper surface of the cell P, where the dot represents a foreign material present on the upper surface of the cell P. .

이후, 상부 경사광원(230)을 끄고(S530), 하부 경사광원(242)을 켠다(S540). 그리고, 카메라(210)를 작동시켜서 제 2이미지(S550)를 획득한다.Thereafter, the upper oblique light source 230 is turned off (S530), and the lower oblique light source 242 is turned on (S540). Then, the camera 210 is operated to acquire the second image S550.

제 2이미지는 하부 경사광원(242)으로부터 셀(P)의 하면에 경사지게 조사되는 광을 통하여 획득되는 점을 포함하며, 여기서 점은 셀(P)의 하면에 존재하는 이물을 나타내는 것이다.The second image includes a point obtained through light irradiated obliquely to the lower surface of the cell P from the lower oblique light source 242, where the dot represents a foreign material present on the lower surface of the cell P.

다음으로, 하부 경사광원(242)을 끄고(S560), 백라이트 유닛(241)을 켠다(S770). 그리고, 카메라(210)를 작동시켜서 제 3이미지를 획득한다(S580).Next, the lower oblique light source 242 is turned off (S560), and the backlight unit 241 is turned on (S770). In operation S580, the camera 210 is operated to acquire a third image.

제 3이미지는 셀(P)의 하면으로 수직하게 조사되는 광을 통하여 획득되는 점을 포함하며, 여기서 점은 셀(P)의 상면 및 하면에 존재하는 이물과, 셀(P)의 내부에 존재하는 결함을 나타내는 것이다.The third image includes a point obtained through light irradiated perpendicularly to the lower surface of the cell P, wherein the point is present in the upper and lower surfaces of the cell P and the inside of the cell P. It is to indicate a defect.

본 실시예에서는 제 1이미지 내지 제 3이미지가 이물 또는 결함을 나타내는 점을 포함하는 것으로 설명하였으나, 상기 점은 이물 및 결함의 형태에 따라 그에 대응되는 형태로 표시될 수 있다.In the present exemplary embodiment, the first to third images have been described as including a point representing a foreign material or a defect, but the point may be displayed in a form corresponding to the shape of the foreign material and the defect.

이와 같은 과정을 통해, 획득된 제 1이미지 내지 제 3이미지는 이미지처리부(250)로 전달되고, 이미지처리부(250)에서는 이미지들을 비교하여(S790), 셀(P) 내부의 존재하는 결함만을 검출하게 된다(S600). 즉, 제 1이미지 또는 제 2이미지 상에 표시되는 점과, 제 3이미지 상에 표시되는 점 중 겹치는 위치에 있는 점은 이물이고, 제 3이미지에만 존재하는 점은 셀(P)의 내부 결함인 것이다.Through this process, the obtained first to third images are transferred to the image processor 250, and the image processor 250 compares the images (S790) to detect only defects existing in the cell P. It is made (S600). That is, the point displayed on the first image or the second image and the point displayed at the overlapping position among the points displayed on the third image are foreign materials, and the point present only on the third image is an internal defect of the cell P. will be.

본 실시예에서는 상부 경사광원(230), 하부 경사광원(242) 그리고 백라이트 유닛(241)을 순차적으로 점등하도록 하고 있으나, 그 순서는 바뀌어도 무방하다.In the present exemplary embodiment, the upper inclined light source 230, the lower inclined light source 242, and the backlight unit 241 are sequentially turned on, but the order may be changed.

도 6은 본 발명의 제 2실시예에 따른 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.6 is a schematic view schematically showing an inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.

도 6을 참조하여 설명하면, 본 실시예에 따른 검사장치는 카메라(610)와, 셀 지지수단(620)과, 상부 경사광원(630)과, 백라이트 모듈(640)을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 6, the inspection apparatus according to the present exemplary embodiment includes a camera 610, a cell support unit 620, an upper oblique light source 630, and a backlight module 640.

여기서, 카메라(610)와, 상부 경사광원(630)과, 백라이트 모듈(640)의 구성은 제 1실시예의 구성과 실질적으로 동일함으로 그 상세한 설명은 생략한다.Here, the configuration of the camera 610, the upper oblique light source 630, and the backlight module 640 is substantially the same as the configuration of the first embodiment, the detailed description thereof will be omitted.

셀 지지수단(620)은 다양한 크기의 셀(P)을 지지할 수 있도록 셀(P)의 양 측면을 지지하는 지지부재(621)와, 지지부재(621)를 가압하기 위한 피스톤(622) 및 실린더(623)로 마련될 수도 있다.Cell support means 620 is a support member 621 for supporting both sides of the cell (P) to support the cell (P) of various sizes, a piston 622 for pressing the support member 621 and It may be provided as a cylinder 623.

도 7은 도 6의 셀(P)과 다른 크기의 셀(P1)을 검사하는 경우를 도시한 것으로, 셀(P1)의 양측면은 지지부재(621)에 의해 지지되며, 지지부재(621)는 피스톤(622) 및 실린더(623)에 의해 셀(P1)측으로 가압된다.FIG. 7 illustrates a case of inspecting a cell P1 having a different size from the cell P of FIG. 6, wherein both sides of the cell P1 are supported by the support member 621, and the support member 621 is The piston 622 and the cylinder 623 are pressed to the cell P1 side.

그리고, 백라이트 모듈(640)의 하부 경사광원(641)의 각도(??1) 및 높이(h1)가 조절된다.Then, the angle ?? and the height h1 of the lower inclined light source 641 of the backlight module 640 are adjusted.

즉, 본 실시예에 따른 검사장치(600)는 셀 지지수단(620)을 통하여 다양한 크기의 셀(P, P1)을 지지할 수 있게 되는 것이다.That is, the inspection apparatus 600 according to the present embodiment may support the cells P and P1 of various sizes through the cell support means 620.

도 8은 본 발명의 제 3실시예에 따른 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이 다.8 is a schematic view schematically showing an inspection apparatus according to a third embodiment of the present invention.

도 8을 참조하여 설명하면, 본 실시예에 따른 검사장치는 카메라(810)와, 셀 지지수단(820)과, 상부 경사광원(830)과, 백라이트 모듈(840)을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 8, the inspection apparatus according to the present exemplary embodiment includes a camera 810, a cell support unit 820, an upper oblique light source 830, and a backlight module 840.

여기서, 카메라(810)와, 셀 지지수단(820)과, 상부 경사광원(830)의 구성은 제 1실시예의 구성과 실질적으로 동일함으로 그 상세한 설명은 생략한다.Here, the configuration of the camera 810, the cell support means 820, and the upper oblique light source 830 is substantially the same as the configuration of the first embodiment, the detailed description thereof will be omitted.

백라이트모듈(840)은 백라이트 유닛(841)과, 하부 경사광원(842)과, 베이스부재(843)와, 승강장치(844)와, 프레임(845)과, 각도조절장치(846)와, 높이조절장치(847)를 포함하여 구성된다.The backlight module 840 includes a backlight unit 841, a lower inclined light source 842, a base member 843, a lifting device 844, a frame 845, an angle adjusting device 846, and a height. And an adjusting device 847.

백라이트 유닛(841)은 셀(P)의 하측에 구비되어서, 셀(P)의 하면에 수직하게 조사되는 광을 발생시킨다.The backlight unit 841 is provided below the cell P to generate light irradiated perpendicularly to the lower surface of the cell P.

베이스부재(843)는 백라이트 유닛(841)을 지지하기 위한 것으로, 베이스부재(841)에는 백라이트 유닛을 승하강시키기 위한 승강장치(844)가 설치된다. The base member 843 is for supporting the backlight unit 841, and the base member 841 is provided with a lifting device 844 for lifting up and down the backlight unit.

승강장치(844)는 백라이트 유닛(841)을 지지하기 위한 지지부재(844a)와, 지지부재를 승하강시키기 위한 구동장치(844b)를 포함하며, 구동장치(844b)는 모터 및 기어 등을 이용하여 마련되는 것이 바람직하다.The lifting device 844 includes a support member 844a for supporting the backlight unit 841, and a driving device 844b for lifting and lowering the support member. The driving device 844b uses a motor, a gear, and the like. It is preferable to provide.

본 실시예에 따른 하부 경사광원(842)과, 프레임(845)과, 각도조절장치(846)와, 높이조절장치(847)의 구성은 제 1실시예의 구성과 실질적으로 동일함으로 그 상세한 설명은 생략한다.The configuration of the lower inclined light source 842, the frame 845, the angle adjusting device 846, and the height adjusting device 847 according to the present embodiment is substantially the same as that of the first embodiment. Omit.

도 9는 본 발명의 제 4실시예에 따른 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이 다.9 is a schematic diagram schematically showing an inspection apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.

도 9를 참조하여 설명하면, 본 실시예에 따른 검사장치는 카메라(910)와, 상부 경사광원(920)과, 백라이트 모듈(930)을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 9, the inspection apparatus according to the present exemplary embodiment includes a camera 910, an upper oblique light source 920, and a backlight module 930.

여기서, 카메라(910)와, 상부 경사광원(920)의 구성은 제 1실시예의 구성과 실질적으로 동일함으로 그 상세한 설명은 생략한다.Here, the configuration of the camera 910 and the upper oblique light source 920 is substantially the same as the configuration of the first embodiment, the detailed description thereof will be omitted.

백라이트 모듈(930)은 케이스(931)와, 백라이트 유닛(932)과, 하부 경사광원(934)과, 프레임(935)과, 각도조절장치(936)와, 높이조절장치(937)를 포함하여 구성된다.The backlight module 930 includes a case 931, a backlight unit 932, a lower inclined light source 934, a frame 935, an angle adjusting device 936, and a height adjusting device 937. It is composed.

케이스(931)는 바닥부(931a)와, 바닥부(931a)로부터 연장되어 셀(P)을 지지하기 위한 지지부(931b)를 포함하여 구성된다. 여기서, 지지부(931b)는 한 쌍으로 마련되는데, 바닥부(931a)로부터 상측으로 연장되고, 연장된 끝단이 내측으로 절곡되도록 마련되어 셀(P)의 양단을 지지하는 기능을 수행한다. The case 931 includes a bottom portion 931a and a support portion 931b extending from the bottom portion 931a to support the cell P. As shown in FIG. Here, the support part 931b is provided in a pair, and extends upward from the bottom part 931a, and the extended end is bent inward to support both ends of the cell P.

케이스(931)의 바닥부(931a)의 상면에는 백라이트 유닛(932)과, 프레임(935)이 설치된다. 그리고, 프레임(935)에는 하부 경사광원(934)과, 각도조절장치(936)와, 높이조절장치(937)가 각각 설치된다.The backlight unit 932 and the frame 935 are provided on an upper surface of the bottom portion 931a of the case 931. The frame 935 is provided with a lower inclined light source 934, an angle adjusting device 936, and a height adjusting device 937, respectively.

여기서, 백라이트 유닛(932)과, 하부 경사광원(934)와, 프레임(935)과, 각도조절장치(936)와, 높이조절장치(937)의 구성은 제 1실시예의 구성과 실질적으로 동일함으로 그 상세한 설명은 생략한다.Here, the configuration of the backlight unit 932, the lower oblique light source 934, the frame 935, the angle adjusting device 936, and the height adjusting device 937 are substantially the same as the configuration of the first embodiment. The detailed description is omitted.

도 10은 본 발명의 제 5실시예에 따른 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.10 is a schematic diagram schematically showing an inspection apparatus according to a fifth embodiment of the present invention.

도 10을 참조하여 설명하면, 본 실시예에 따른 검사장치(1100)는 카메라(1110)와, 상부 경사광원(1120)과, 하부 경사광원(1130)과, 백라이트 모듈(1140)을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 10, the inspection apparatus 1100 according to the present exemplary embodiment includes a camera 1110, an upper oblique light source 1120, a lower oblique light source 1130, and a backlight module 1140. do.

여기서, 카메라(1110)와, 상부 경사광원(1120)의 구성은 제 1실시예의 구성과 실질적으로 동일함으로 그 상세한 설명은 생략한다.Here, the configuration of the camera 1110 and the upper oblique light source 1120 is substantially the same as the configuration of the first embodiment, and a detailed description thereof will be omitted.

하부 경사광원(1130)은 셀(P)의 하면에 광을 조사시키기 위한 것으로, 셀(P)의 하측에 구비된다.The lower oblique light source 1130 is for irradiating light onto the lower surface of the cell P, and is provided below the cell P.

백라이트 모듈(1140)은, 케이스(1141)와, 백라이트 유닛(1142)과, 반사부재(1143)를 포함하여 구성된다.The backlight module 1140 includes a case 1141, a backlight unit 1142, and a reflecting member 1143.

케이스(1141)는 바닥부(1141a)와, 바닥부(1141a)로부터 연장되어 셀(P)을 지지하기 위한 지지부(1141b)로 마련된다.The case 1141 is provided with a bottom part 1141a and a support part 1141b extending from the bottom part 1141a to support the cell P. As shown in FIG.

여기서, 지지부(1141b)는 한 쌍으로 마련되는데, 바닥부(1141a)로부터 상측으로 연장되고, 연장된 끝단이 내측으로 절곡되도록 마련되어 셀(P)의 양단을 지지하는 기능을 수행한다. Here, the support part 1141b is provided in a pair, and extends upward from the bottom part 1141a, and the extended ends are bent inward to support both ends of the cell P.

백라이트 유닛(1142)은 케이스(1141)의 바닥부(1141a) 상면에 설치되며, 셀(P)의 하면에 수직하게 조사되는 광을 발생시킨다.The backlight unit 1142 is installed on the top surface of the bottom portion 1141a of the case 1141 and generates light irradiated perpendicularly to the bottom surface of the cell P.

반사부재(1143)는 지지부(1141b)의 내측면에 설치되며, 하부 경사광원(1130)으로부터 경사지게 조사되는 광을 셀(P) 측으로 반사시키는 기능을 수행한다.The reflective member 1143 is installed on the inner surface of the support part 1141b and performs a function of reflecting light irradiated obliquely from the lower inclined light source 1130 to the cell P side.

이상과 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예 에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 등가개념으로 이해되어져야 할 것이다.As described above, the detailed description of the present invention has been made by the embodiments with reference to the accompanying drawings. However, since the above-described embodiments have only been described with reference to preferred examples of the present invention, the present invention is limited to the above embodiments. It is not to be understood that the scope of the invention should be understood by the claims and equivalent concepts described below.

도 1은 종래 액정패널 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.1 is a schematic view showing a conventional liquid crystal panel inspection apparatus.

도 2는 본 발명의 제 1실시예에 따른 셀 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.2 is a schematic diagram schematically showing a cell inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 제 1실시예에 따른 셀 검사용 백라이트 모듈을 보인 사시도이다.3 is a perspective view illustrating a backlight module for inspecting a cell according to a first embodiment of the present invention.

도 4는 도 3의 'A' 부분을 발췌하여 확대한 개략도이다.FIG. 4 is an enlarged schematic view of an 'A' part of FIG. 3.

도 5는 본 발명의 제 1실시예에 따른 셀 검사장치를 이용하여 셀의 결함을 검출하는 방법을 도시한 흐름도이다.5 is a flowchart illustrating a method of detecting a defect of a cell by using a cell inspecting apparatus according to a first exemplary embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 제 2실시예에 따른 셀 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.6 is a schematic diagram schematically showing a cell inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.

도 7은 본 발명의 제 2실시예에 따른 셀 검사장치의 작동을 보인 개략도이다.7 is a schematic view showing the operation of a cell inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.

도 8은 본 발명의 제 3실시예에 따른 셀 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.8 is a schematic diagram schematically showing a cell inspection apparatus according to a third embodiment of the present invention.

도 9는 본 발명의 제 4실시예에 따른 셀 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.9 is a schematic diagram schematically showing a cell inspection apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.

도 10은 본 발명의 제 5실시예에 따른 셀 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.10 is a schematic view showing a cell inspection apparatus according to a fifth embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

200 : 검사장치 210 : 카메라200: inspection device 210: camera

220 : 셀 지지수단 230 : 상부 경사광원220: cell support means 230: upper oblique light source

240 : 백라이트 모듈 241 : 백라이트 유닛240: backlight module 241: backlight unit

242 : 하부 경사광원 243 : 베이스부재242: lower oblique light source 243: base member

244 : 프레임 245 : 각도조절장치244: frame 245: angle adjusting device

246 : 높이조절장치246: height adjustment device

Claims (7)

셀(cell)의 하측에 구비되어 셀로 광을 조사하는 백라이트 유닛; 및A backlight unit provided below the cell to irradiate light to the cell; And 셀의 하면에 경사지게 조사되는 광을 발생시키는 하부 경사광원; 을 포함하며,A lower oblique light source for generating light irradiated obliquely to a lower surface of the cell; Including; 상기 백라이트 유닛과 상기 하부 경사광원은 하나의 모듈로 마련되는 것을 특징으로 하는 셀 검사용 백라이트 모듈.And the backlight unit and the lower oblique light source are provided as one module. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 백라이트 유닛을 지지하는 베이스부재; 및A base member supporting the backlight unit; And 일단이 상기 베이스부재와 결합되고, 타단이 상기 하부 경사광원과 결합되는 프레임을 더 포함하는 것을 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는One end is further coupled to the base member, and the other end further comprises a frame coupled to the lower oblique light source 셀 검사용 백라이트 모듈. Backlight module for cell inspection. 제 2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 베이스부재에는 상기 백라이트 유닛을 승하강 시키기 위한 승강장치가 마련되는 것을 특징으로 하는The base member is provided with a lifting device for raising and lowering the backlight unit 셀 검사용 백라이트 모듈.Backlight module for cell inspection. 제 2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 베이스부재 및 상기 프레임 중 적어도 어느 하나에 설치되어서 상기 하부 경사광원의 각도를 조절하는 각도조절장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 셀 검사용 백라이트 모듈.And an angle adjusting device installed on at least one of the base member and the frame to adjust an angle of the lower inclined light source. 제 2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 베이스부재 및 상기 프레임 중 적어도 어느 하나에 설치되어서 상기 프레임을 승하강시키는 높이조절장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 셀 검사용 백라이트 모듈.And a height adjusting device installed on at least one of the base member and the frame to raise and lower the frame. 셀(cell)의 하측에 구비되어 셀로 광을 수직하게 조사하는 백라이트 유닛; 및A backlight unit provided below the cell to vertically irradiate light into the cell; And 셀의 하부에서 상측 방향으로 경사지게 조사되는 광을 셀 측으로 반사시키는 반사부재; 를 포함하며,A reflecting member reflecting the light irradiated obliquely upward from the lower part of the cell toward the cell side; Including; 상기 백라이트 유닛과 상기 반사부재는 하나의 모듈로 마련되는 것을 특징으로 하는 셀 검사용 백라이트 모듈.And the backlight unit and the reflective member are provided as one module. 셀(cell)을 지지하는 셀 지지수단;Cell support means for supporting a cell; 셀의 상측에 구비되어 셀을 검사하는 카메라;A camera provided above the cell to inspect the cell; 셀의 상면으로 경사지게 조사되는 광을 발생시키는 상부 경사광원;An upper oblique light source generating light irradiated obliquely to an upper surface of the cell; 셀의 하측에 구비되어 셀로 광을 조사하는 백라이트 유닛; 및A backlight unit provided below the cell to irradiate light to the cell; And 셀의 하면에 경사지게 조사되는 광을 발생시키는 하부 경사광원; 을 포함하며,A lower oblique light source for generating light irradiated obliquely to a lower surface of the cell; Including; 상기 백라이트 유닛과 상기 하부 경사광원은 하나의 모듈로 마련되는 것을 특징으로 하는 셀 검사장치.And the backlight unit and the lower oblique light source are provided in one module.
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