KR20100098350A - 광원들을 디밍하기 위한 방법, 관련 장치 및 컴퓨터 프로그램 물건 - Google Patents

광원들을 디밍하기 위한 방법, 관련 장치 및 컴퓨터 프로그램 물건 Download PDF

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KR20100098350A
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프란세스코 비안코
알레산드로 비죠토
알레산드로 스코르디노
니콜라 쟌포르린
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오스람 게젤샤프트 미트 베쉬랭크터 하프퉁
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Abstract

광원(L) 자체의 전력 공급 신호(I)를 제어함으로써 광원(L)의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법이 제공된다. 상기 방법은:
상기 광원(L)의 온도(TLED)를 검출하는 단계(S);
상기 온도(TLED)의 함수로서 상기 광원(L)의 노화를 나타내는 파라미터(C)를 결정하는 단계(3000 내지 3052); 및
상기 광원(L)의 노화를 나타내는 상기 파라미터(C)의 함수로서 상기 전력 공급 신호(I)를 변화시키는 단계(2000 내지 2004)를 포함한다.

Description

광원들을 디밍하기 위한 방법, 관련 장치 및 컴퓨터 프로그램 물건{METHOD FOR DIMMING LIGHT SOURCES, RELATED DEVICE AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT}
본 설명은 조명 장치들, 특히 거리 조명을 최적화하기 위한 기술들을 언급한다.
본 설명은 적어도 하나의 LED 모듈을 이용하여 조명 장치의 발광 효율을 최적화함에 있어서 그것의 잠재적인 이용에 대한 관심에 초점을 맞추도록 준비되어 왔다.
LED 모듈의 서비스 수명 동안에, LED 모듈의 발광 효율이 감소할 수 있고, 이는 연속적으로 방출되는 광의 세기를 감소시킨다.
예컨대, 다수의 LED 모듈들을 포함하는 시스템에서의 모듈들 중 하나를 교체함으로써, "새로운" 모듈은 더 높은 효율을 가질 수 있어서 "구형" 모듈들보다 더 발광하며, 이는 고르지 않은 광 방출을 야기한다. 이러한 효과는 특히 거리 조명 어플리케이션들에서 나타나는데, 상기 거리 조명은 높은 레벨들의 세기를 필요로 하고, 결함 있는 LED 모듈들만을 교체한 병렬로 연결된 다수의 LED 모듈들을 일반적으로 이용한다.
시장에서 현재 이용가능한 다양한 상업적 제품들은 광학 피드백을 이용하여 광 세기를 제어하는 것을 가능하게 한다. 특히, 상기 모듈의 전체 수명을 위한 일정한 값을 보장하기 위해서, 광원에 의해 방출되는 광의 세기가 측정된다.
문서 WO 2007/019663은 광학 피드백을 이용하여 제어의 성능을 향상시키는 것을 가능하게 하는 조명 시스템을 기술한다.
이전에 기술된 해결책들을 이용하여 성취되는 주목할 만한 결과들에도 불구하고, 본 발명자들은 이러한 해결책이 구현하기에 다소 고가이고 복잡하다는 것을 주목하여왔다. 게다가, 상기 모듈에 의해 방출되는 광의 세기의 측정은 동일한 영역에서 다른 광원들에 의해 변경될 수 있다.
그러므로, 본 발명의 범위는 이러한 결점들을 극복하는 것이다.
본 발명에 따르면, 이러한 범위는 이하의 청구항들에 기재된 특징들을 갖는 방법을 이용하여 성취된다. 본 발명은 또한 컴퓨터 프로그램 물건뿐만 아니라 대응하는 장치와 관련되고, 상기 컴퓨터 프로그램 물건은 적어도 하나의 프로세서의 메모리로 로드 가능하고, 물건이 적어도 하나의 프로세서 상에서 동작할 때에 상기 방법의 단계들을 구현할 수 있는 소프트웨어 코드의 부분들을 포함한다. 본 명세서에서 이용되는 바로서, 그러한 컴퓨터 프로그램 물건에 대한 지칭은, 본 발명에 따른 방법의 구현을 조정하기 위해서 프로세싱 시스템을 제어하기 위한 명령들을 포함하는 프로세서에 의해 판독가능한 지원에 대한 지칭과 균등한 것으로 이해되어야 한다. "적어도 하나의 프로세서"에 대한 지칭은 모듈러 및/또는 분산 방식으로 구현되는 본 발명의 가능성을 강조하게 하도록 명확하게 의도된다.
청구항들은 본 발명과 관련하여 본 명세서에서 제공되는 기술적인 설명의 필수적인 부분이다.
일 실시예에서, 상기 LED 모듈의 전력 공급 신호가 광원 자체의 온도의 함수로서 제어되고, 광학 피드백에는 기초하지 않는다. 이러한 것과 관련하여, 본 발명자들은 방출되는 광의 세기가 실제로 이용 시간뿐만 아니라 광원의 동작 온도(주로)에 종속된다는 것에 주목해 왔다.
일 실시예에서, 예컨대 상기 LED 모듈의 온도에 대한 표시 값을 측정하기 위해서, 상기 LED 모듈에 근처에 위치하는 적어도 하나의 온도 센서가 존재한다.
일 실시예에서, 상기 LED 모듈의 전력 공급 신호는 상기 LED 모듈의 온도의 함수로서 선택적으로 변화한다. 일 실시예에서, 상기 LED 모듈의 상기 전력 공급 신호가 제어된다.
일 실시예에서, 상기 LED 모듈의 노화(ageing)를 추적하기 위해서 노화 카운터(ageing counter)가 이용된다. 이러한 경우에, 상기 LED 모듈의 상기 전력 공급 신호가 상기 노화 카운터의 값의 함수로서 결정될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 노화 카운터는 상기 LED 모듈의 동작 온도의 함수로서 증가한다(또는 감소한다).
일 실시예에서, 상기 노화 카운터의 값에 기초하여 상기 LED 모듈의 전원 전류를 결정하기 위해서, 수학식 또는 룩업 테이블(LUT; look-up table)이 이용된다.
일 실시예에서, 적어도 하나의 "최상" 동작 조건(낮은 동작 온도에서) 및 "최악" 동작 조건(높은 동작 온도에서)이 결정된다. 그 결과로서 상기 노화 카운터는 선택된 조건에 종속하는 노화 값을 이용하여 증가된다.
일 실시예에서, 상기 노화 값은 최악의 조건에 대해서 더 큰 한편, 그 값은 최상의 조건에 대해서는 더 작다.
일 실시예에서, 상기 노화 카운터가 미리 결정된 임계치에 도달하면(또는 초과하면 또는 그 이하가 되면), 상기 LED 모듈의 전력 공급 전류가 증가한다.
본 명세서에 기술되는 해결책의 어플리케이션의 잠재적이고 바람직한 분야들은 거리 조명, 작업장 조명 및 일반 조명(램프들로서 알려짐)이다.
본 발명이 첨부된 도면들을 참조하여 순전히 비제한적인 예로서 기술된다.
도 1은 LED 광원들에 대한 구동 회로의 블록도이다.
도 2는 도 1의 회로에 대한 가능한 제어 방법을 도시하는 순서도이다.
이하의 기술은 본 실시예들의 보다 포괄적인 이해를 제공하기 위해서 다양한 상세한 설명들을 기술한다. 본 실시예들은 하나 이상의 상세 설명들이 없이도 실현될 수 있거나, 또는 다른 방법들, 구성요소들, 물질들 등을 이용하여 실현될 수 있다. 다른 경우들에, 본 실시예들의 다른 양상들을 불명료하게 하지 않기 위해서, 기지의 구조들, 물질들 또는 동작들이 상세하게 도시되거나 기술되지 않는다.
이러한 설명에서 "일 실시예"에 대한 지칭은, 본 실시예와 관련되어 기술된 특정한 구성, 구조 또는 특징이 적어도 하나의 실시예에 포함된다는 것을 나타낸다. 그러므로, 본 설명에서 많은 곳에서 나타낼 수 있는 "일 실시예에서"와 같은 구들이 반드시 동일한 실시예를 지칭하는 것은 아니다. 게다가, 특정한 형태들, 구조들 또는 특징들은 하나 이상의 실시예들에서 적절하게 결합될 수 있다.
본 명세서에서 이용되는 참조들은 단지 편의를 위해 이용되는 것이고, 그러므로 본 실시예들의 보호 또는 범위의 정도를 정의하지 않는다.
도 1의 블록도들은 LED 광원과 같은 광원을 위한 구동 회로이다.
도 1에 도시된 블록도에서, 참조 100은 변환 모듈을 나타낸다. 전력 공급 라인 M(일반적으로 전원 전압)에 의해 표시되는 입력으로부터 시작하여, 상기 모듈(100)은 상기 LED 모듈(L)(하나 이상의 LED들을 포함함)로 공급될 연속 전류(I)를 생성한다.
본 명세서에 기술된 실시예에서, 예컨대 상기 LED 모듈의 온도를 나타내는 온도 값(TLED)을 측정하기 위해서, 상기 LED 모듈의 근처에 위치하는 적어도 하나의 온도 센서(S)가 존재한다.
이러한 값(TLED)은 변환기(100)의 동작을 제어하는 제어 모듈(200)로 공급된다. 상기 모듈(200)은 예컨대 마이크로프로세서를 이용하여 아날로그 방식으로 및/또는 디지털 방식으로 구현될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 모듈의 전체 수명 동안에 상기 LED에 의해 실제로 생성되는 광 세기를 실질적으로 안정적으로 유지하기 위해서 상기 변환기(100)가 상기 LED 모듈에 급전하는 것을 보장하기 위해, 상기 모듈(200)은 기준 신호(Iref)를 생성한다. 그러므로, 상기 LED 모듈의 전력 공급 신호는 예컨대 증가 때문에 변화할 수 있다.
전술한 동작은 상기 LED 모듈의 상기 전력 공급 전류의 세기를 조종함으로써 수행될 수 있다.
당업자들은, 본 명세서에서 고려되는 타입의 광원의 광도가 그것을 통과하는 전류의 평균 세기의 함수일 때에 열화의 효과가 다른 방식으로: 예컨대 광원들의 광도를 제어하는데 이용되는 정규 PWM 방법들에 따라 펄스 전력 공급 신호의 펄스 폭을 변화시키거나 그리고/또는 상기 전력 공급 전압을 조종함으로써 보상될 수 있다는 것을 또한 인정할 것이다("디밍(dimming)"으로서 알려짐).
본 발명자들은 LED 모듈과 같은 광원의 광도가 동작 시간 및 동작 온도의 함수로서 감소하는 경향이 있음을 주목하여 왔다. 그러므로, 상기 LED 모듈의 광도는 상기 전력 공급 전류(I)의 세기를 증가시킴으로써 시간이 지남에 따라 안정적으로 유지될 수 있다.
일 실시예에서, 광도를 일정하게 유지시키는 것을 가능하게 하는데에 이용되는 새로운 기준 신호(Iref)의 값을 (서브) 모듈(220)에서 계산하고 상기 LED 모듈의 노화를 결정하기 위해서, 상기 모듈(200)은 상기 LED 모듈의 온도, 및 (누적적) 동작 온도 모두를 검출한다.
일 실시예에서, 상기 모듈(200)은 새로운 기준 신호(Iref)를 재귀적으로 계산하고, 특정한 시간 구간들에서 상기 LED 모듈의 온도(TLED)를 측정하며, 상기 온도(TLED)의 함수로서 상기 기준 신호(Iref)를 증가시킨다.
참조 목적들을 위해(그 때문에 본 발명의 범위를 제한하는 것으로 이해됨이 없이), 본 발명자들은 보통의 LED 모듈이 극단적 조건들, 예컨대 최대 동작 온도에서의 1년의 동작 이후에, 광도에서의 뚜렷한 변화를 나타낸다는 것을 주목하여 왔다. 하지만, 최적 조건들, 예컨대 낮은 온도들에서는 광도가 유사한 동작 기간 동안에 실질적으로 변화하지 않고 유지된다.
그러므로, 일 실시예는 상기 LED 모듈의 노화를 추적하기 위해서 노화 카운터(210)의 이용을 제공한다.
일 실시예는 상기 LED 모듈의 동작 온도(TLED)의 함수로서 증가될 카운터(210)를 제공하고, 상기 카운터는 주어진 시간 기간 동안에 동작 조건들(예컨대, 동작 온도에 따라)에 종속되는 노화의 관점에서 상이한 "가중치(weight)"를 갖는다.
일 실시예에서, 상기 카운터의 동작이 다음의 기준을 이용하여 조정된다.
적어도 하나의 최적 또는 최상 동작 조건(낮은 동작 온도에서) 및 최악 동작 조건(높은 동작 온도에서)이 결정된다.
이후에, 광원의 동작 온도(TLED)가 측정되고 상기 동작 조건들 중 하나가 선택된다. 상기 동작 조건은 적어도 하나의 기준 온도와의 비교에 기초하여 선택될 수 있고, 예컨대 현재 동작 온도에 가장 가까운 온도에 대응하는 동작 조건을 선택한다.
그러므로, 상기 카운터(210)는 상기 LED 모듈의 노화를 고려하기 위해서 조종된다.
일 실시예에서, 상기 카운터는 선택된 동작 조건에 기초하여 선택된 노화 값을 이용하여 증가한다. 예컨대, 상기 노화 값은 최악의 조건에 대해서는 더 크고 최상의 조건에 대해서는 더 작다.
당업자는 전체적인 아날로그 기능이 카운터를 증가시키는 대신에 상기 카운터를 감소시킴으로써 수행될 수 있다는 것을 또한 인정할 것이다.
임의의 경우에, 상기 노화 카운터(210)의 새로운 값(C)으로부터 시작하여, 상기 모듈(220)에서 기준 값(Iref)을 업데이트하는 것이 가능하다.
상기 카운터(210)의 노화 값의 경우, 및 상기 기준 값(Iref)의 경우 모두에서, 업데이팅이 필수적으로 값 변화를 야기할 필요가 없다는 것이 또한 보여질 것이다. 전술한 바와 같이, 본 발명자들은 많은 양상들에서 기준 값의 수정이 오직 1년의 실제 동작 이후에 필요할 수 있음을 주목하여 왔다.
일 실시예에서, 업데이트 기능을 수행하기 위해서, 즉 상기 노화 카운터(210)의 값(C)에 기초하여 업데이트된 기준 값(Iref)을 결정하기 위해서, 상기 모듈(220)에서 구현되는 계산 기능이 이용된다. 일 실시예에서, 룩업 테이블(LUT)이 상기 업데이트 기능을 수행하기 위해서 이용된다.
일 실시예에서, 상기 노화 카운터(210)가 특정한 미리 정의된 임계치에 도달하면(또는 초과하거나 또는 그 이하로 떨어지면), 상기 기준 값(Iref)이 증가한다. 예컨대, 상기 기준 값(Iref)은 상기 카운터가 상기 임계치를 초과할 때마다 특정한 퍼센트만큼 증가할 수 있고, 이후에 새로운 "노화 사이클(ageing cycle)"을 트리거링한다.
일 실시예에서, 보상 동작의 해결책이 상기 카운터의 임계치 및/또는 상기 기준 값(Iref)의 증가의 퍼센트를 변화시킴으로써 조절된다.
일 실시예에서, 상기 LED 모듈의 동작 조건 또는 노화를 결정하기 위해서, 순간 값이 아닌 평균 온도 값이 이용된다.
예컨대, 시간마다 취해진 값들에 기초하여 결정된, 하루 종일 동안의 상기 LED 모듈의 평균 온도가 이용될 수 있다. 이는, 평균적 매일의 동작 온도의 함수로서 노화를 가중함으로써 상기 LED 모듈의 매일의 노화를 고려하는 카운터를 구현하는 것을 가능하게 한다.
도 2는 하루 종일 동안에 동작 온도에 기초하여 상기 LED 모듈의 노화를 계산하고 그러므로 상기 기준 값(Iref)을 결정하기 위한 방법의 순서도를 나타낸다.
시작 단계(1000) 이후에, 상기 노화 카운터(210)가 단계 1002에서 0으로 리셋된다(즉, C = 0).
이후에, 전체적으로 2000으로 표시되는 단계에서, 업데이트된 기준 값(Iref)이 결정된다(장치 제조 단계 동안에 초기 기준 값이 상기 모듈(220)에 기억되는 것으로 가정함).
본 명세서에서 고려되는 실시예에서, 단계(2000)는 상기 LED 모듈의 노화가 상기 기준 값(Iref)의 수정을 필요로 하는지 여부가 결정되는 검증 단계(2002)를 포함한다.
예컨대, 단계(2002)는 상기 카운터의 값(C)과 임계치 간의 비교 단계로서 실현될 수 있다(예컨대, 1년의 실제 동작 또는 C≥365).
어떠한 수정도 필요하지 않으면, 상기 프로세스는 상기 LED 모듈의 노화가 상기 센서(S)에 의해 측정된 동작 온도(TLED)에 기초하여 결정되는 단계(3000)로 진행한다.
본 명세서에서 기술된 실시예에서, 단계(3000)는 예컨대 상이한 온도들에서의 5개의 가능한 동작 조건들을 포함하는 일련의 조건들을 체크하는 것을 수반한다.
특히, 단계(3010)에서, 상기 LED 모듈의 온도(TLED)가 그것이 -20℃ 이하인지 여부(즉, TLED < -20℃)를 결정하기 위해 체크된다.
그 결과가 긍정적이면(Y), 상기 프로세스는 최상의 조건을 나타내는 단계(3012)로 진행하고, 여기서는 상기 카운터의 카운팅 값이 변화하지 않고 유지된다(예컨대, C = C + 0).
그 결과가 부정적이면(N), 상기 프로세스는 상기 온도(TLED)가 0℃ 이하인지 여부(즉, TLED < 0℃)를 결정하기 위해 체크되는 단계(3020)로 진행한다.
그 결과가 긍정적이면(Y), 상기 프로세스는 상기 카운터의 카운팅 값이 예컨대 하루의 실세 동작의 ¼에 대응하는 값만큼 증가(C = C + 0.25)하는 단계(3022)로 진행한다.
그 결과가 부정적이면(N), 상기 프로세스는 단계(3030)로 진행한다.
도 2의 순서도에서, 단계들(3030 및 3040)은 온도(TLED)가 0℃ 및 20℃ 사이(예컨대, TLED < 20℃) 또는 20℃ 및 40℃ 사이(예컨대, TLED < 40℃) 인 동작 조건들을 식별하도록 의도된 단계들을 나타낸다.
예컨대, 온도(TLED)가 0℃ 및 20℃ 사이이면, 단계 3032에서 상기 카운터는 하루의 실제 동작의 절반에 대응하는 값만큼 증가한다(예컨대, C = C + 0.5). 온도(TLED)가 20℃ 및 40℃ 사이이면, 단계 3042에서 상기 카운터는 하루의 실제 동작의 3/4에 대응하는 값만큼 증가한다(예컨대, C = C + 0.75).
단계(3050)는 온도(TLED)가 40℃를 초과하는지 여부(예컨대, TLED ≥ 40℃)를 체크하는 것을 가능하게 한다. 이러한 조건은 상기 카운터가 최대 노화 값을 이용해 증가하는 최악의 경우를 나타낸다. 예컨대, 본 명세서에서 고려된 실시예에서, 상기 카운터(210)는 단계 3052에서 하루의 실제 동작에 대응하는 값만큼 증가된다(예컨대, C = C + 1).
그러므로, 단계(3000)의 결과는, 상기 LED 모듈의 노화 값을 업데이트하고, 상기 프로세스는 상기 기준 값(Iref)을 업데이트하기 위해서 상기 단계(2000)로 복귀한다.
주어진 기간 이후에, 상기 카운터(210)의 값(C)은 조건(2002)에서 미리 정의된 임계치를 초과할 수 있고, 이는 상기 기준 값(Iref)을 수정하는 것을 필요하게 만든다. 이러한 수정이, 상기 기준 값(Iref)이 증가되는 단계(2004)에서 실현된다.
예컨대, 본 명세서에 기술된 실시예에서, 상기 기준 값이 미리 정의된 퍼센트만큼 증가하고, 상기 방법은 상기 노화 카운터를 리셋하기 위해서(예컨대, C = 0) 단계(1002)로 복귀한다.
도 2에 기술된 방법은 다음의 결과를 가져올 수 있다:
- 상기 LED 모듈이 1년 전체 동안에 허용된 최대 온도에서(예컨대, 40℃ 이상) 이용되면, 상기 기준 값(Iref)이 증가하고;
- 상기 모듈이 최상의 조건들에서만 이용되면(예컨대, -20℃ 미만), 상기 기준 값(Iref)이 변하지 않고 유지된다.
다른 조건들(3020, 3030 및 3040)은 두 개의 극단적 경우들 사이의 중간 경우들을 나타내고, 여기에서는 상기 LED 모듈의 효율의 감소가 최악의 경우에서보다 작다.
이용의 일 방법은 상기 LED 모듈과 함께 대체되는 제어 모듈(200)을 제공한다.
이용의 다른 방법에서, 오직 LED 모듈만이(그리고 어쩌면 온도 센서(S)) 대신 교체된다. 이러한 경우에, 상기 제어 모듈(200)은 새로운 제어 사이클이 새로운 LED 모듈에 대해 시작되는 것을 가능하게 하기 위해서 회복된다.
본 명세서에 기술된 실시예들은 다음의 다양한 장점들을 갖는다:
- 본 방법은 예컨대 현대의 거리 조명 장치들에서 종종 이미 이용가능한 마이크로프로세서를 이용하여 구현될 수 있고: 그러므로, 본 방법은 LED 모듈 드라이버의 제어 시스템에 의해 구현되는 소프트웨어 코드의 부분들과의 이용에 대해 적합하고;
- 본 방법은, 적용가능한 경험적으로 상기 광원의 열화를 결정하고 따라서 파라미터들을 부과하는, 임의의 타입의 LED 모듈에(그리고 명목적으로 유사한 노화 거동을 갖는 임의의 광원에) 적용될 수 있으며;
- 본 해결책은 어떠한 광학 피드백도 필요하지 않기 때문에 비용이 적게 들고; 그리고
- 주변 광과 같은 임의의 외부 요인들의 영향이 없이, 보상이 오직 상기 광원의 열화에만 기초하여 달성된다.
본래, 본 발명 원리에도 불구하고, 상세설명들 및 실시예들이 본 발명의 사상에서 벗어남이 없이 첨부된 청구항들에서 정의된 바와 같이 순전히 예시로서 주어진 설명들로부터 상당히 변화할 수 있다.

Claims (14)

  1. 광원(L)의 전력 공급 신호(I)를 제어함으로써 상기 광원(L)에서의 노화(aging)에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법으로서,
    상기 광원(L)의 온도(TLED)를 검출하는 단계(S);
    상기 온도(TLED)의 함수로서 상기 광원(L)의 노화를 나타내는 파라미터(C)를 결정하는 단계(3000 내지 3052); 및
    상기 광원(L)의 노화를 나타내는 상기 파라미터(C)의 함수로서 상기 전력 공급 신호(I)를 변화시키는 단계(2000 내지 2004)를 포함하는,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 노화를 나타내는 상기 파라미터(C)를 카운터(210)의 카운팅 값으로서 결정하는 단계(3000 내지 3052); 및
    차별화된 방식으로 상기 온도(TLED)의 함수로서 상기 카운팅 값(210)을 업데이트하는 단계를 포함하는,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 카운팅 값(210)에 대한 다수의 가능한 업데이트 값들(C + 0, C + 0.25, C + 0.5, C + 0.75, C + 1)을 정의하는 단계; 및
    상기 온도(TLED)의 함수로서 상기 다수의 가능한 업데이트 값들(C + 0, C + 0.25, C + 0.5, C + 0.75, C + 1) 중 선택된 업데이트 값을 이용하여 상기 카운팅 값(210)을 업데이트하는 단계를 포함하는,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    온도(TLED)를 증가시킴에 따라 증가하는 값을 이용하여 상기 카운팅 값(210)을 업데이트하는 단계를 포함하는,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  5. 제2항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 카운터(210)가 미리 결정된 카운팅 임계치에 도달할 때에(2002) 상기 전력 공급 신호(I)를 변화시키는 단계(2004); 및
    상기 카운터(210)를 리셋하는 단계(1002)를 포함하는,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광원(L)의 서로 다른 온도들에 대한 다수의 가능한 동작 조건들을 정의하는 단계;
    서로 다른 온도들에 대한 상기 다수의 가능한 동작 조건들 중에서, 상기 광원(L)의 상기 검출된 온도(TLED)의 함수로서 각각의 동작 조건을 식별하는 단계(3010, 3020, 3030, 3040, 3050); 및
    상기 식별된 동작 조건의 함수로서 상기 전력 공급 신호(I)를 변화시키는 단계(3012, 3022, 3032, 3042, 3052)를 포함하는,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    한 쌍의 가능한 동작 조건들을 정의하는 단계를 포함하고, 상기 쌍은 낮은 온도들에 대한 동작 조건(3010) 및 높은 온도들에 대한 동작 조건(3050)을 포함하는,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
    미리 정의된 퍼센트를 이용해 상기 전력 공급 신호(I)를 변화시키는 단계(2004)를 포함하는,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  9. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
    시간 간격 동안의 상기 온도(TLED)의 평균 값으로서 상기 광원(L)의 상기 온도(TLED)를 검출하는 단계를 포함하는,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 파라미터(C)의 함수로서 상기 전력 공급 신호(I)를 변화시키는 단계(2000 내지 2004)는:
    상기 파라미터(C)의 함수로서 상기 광원(L)의 전력 공급 전류(I)의 세기를 변화시키는 단계;
    상기 파라미터(C)의 함수로서 상기 광원(L)의 전력 공급 전압의 세기를 변화시키는 단계; 및
    상기 파라미터(C)의 함수로서 상기 광원(L)의 펄싱된(pulsed) 전력 공급 신호의 펄스 폭을 변화시키는 단계
    중 적어도 하나를 포함하는,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  11. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광원(L)은 LED 광원인,
    광원에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하는 방법.
  12. 전력 공급 신호(I)에 의해서 전력을 공급받는 적어도 하나의 광원(L); 및
    제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 따른 방법을 이용하여 상기 전력 공급 신호(I)를 제어함으로써 상기 광원(L)에서의 노화에 기인한 광도의 열화를 보상하도록 구성되는 제어 모듈(200, 210, 220)을 포함하는,
    조명 장치.
  13. 제12항에 있어서,
    각각의 전력 공급 신호(I)에 의해서 각각 전력을 공급받는 적어도 한 쌍의 광원들(L); 및
    상기 적어도 한 쌍의 광원들(L)의 광도를 일정하게 유지하기 위해서, 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 따른 방법을 이용하여 상기 전력 공급 신호(I)를 제어하도록 구성되는 적어도 하나의 제어 모듈(200, 210, 220)을 포함하는,
    조명 장치.
  14. 컴퓨터의 메모리에 로드 가능하고, 컴퓨터 상에서 실행될 때에 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 따른 단계들을 수행하도록 적응되는(adapted) 소프트웨어 코드 부분들을 포함하는,
    컴퓨터 프로그램 물건.
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