KR20100096400A - Ｒｆｉｄ 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치 및 방법 - Google Patents

Ｒｆｉｄ 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 RFID 미들웨어 관리 시스템에 최적화된 장애 탐지 및 복구 기술을 제공하여, 보다 정교하고 신속한 장애 탐지 및 복구를 지원하기 위한 장치 및 방법을 제공하기 위한 것으로서, 인식된 태그 데이터를 읽어 들이는 다수의 리더와, 상기 리더들로부터 전달받은 태그 데이터에 대한 수집, 분류 과정을 통해 처리된 결과를 정해진 형식에 맞춰 애플리케이션에 전달하는 RFID 미들웨어와, 상기 RFID 미들웨어에서 발생되는 장애를 탐지하고, 재시작 및 작업이동 중 적어도 하나 이상의 수행을 통해 탐지된 장애를 복구하는 MMS(middleware management system)를 포함하여 구성되는데 있다.
RFID, 미들웨어, 시스템 관리, 장애 관리, 장애 복구, 장애 탐지

Description

ＲＦＩＤ 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치 및 방법{Apparatus and Method for failure Management of RFID Middleware Management System}
본 발명은 RFID 미들웨어 관리 시스템에 관한 것으로, 특히 RFID 미들웨어에서 발생한 장애를 탐지하여 애플리케이션에 보고하여 시스템의 장애를 복구하기 위한 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치 및 방법에 관한 것이다.
RFID 미들웨어(RFID middleware)는 이기종 RFID 환경에서 발생하는 대량의 RFID 태그의 데이터를 수집, 정제하고, 가치있는 정보로 요약하여 응용시스템에 전달하는 소프트웨어 시스템이다. 이에 따라, 상기 RFID 미들웨어는 인식된 태그 데이터를 읽어 들이는 다수의 RFID 리더에 연결되고, 정해진 시간 간격마다 상기 태그 데이터를 전달받는다. 또한, RFID 미들웨어는 응용시스템에 연결되어 태그 데이터를 원하는 RFID 리더들에 대한 정보 및 필요한 처리 방법에 대한 정보를 전달받는다. 또한, RFID 미들웨어는 RFID 리더들로부터 전달받은 태그 데이터에 대해 수집, 분류 등의 처리 과정을 거치게 되며, 처리된 결과를 정해진 형식에 맞춰 응용시스템에 전달한다.
이와 같이, RFID 미들웨어는 RFID 리더들에 대해서는 태그 데이터를 요구하 는 클라이언트인 동시에, 태그 데이터를 요청하는 응용시스템에 대해서는 서버의 역할을 수행하고 있다.
최근들어 RFID 미들웨어의 기능에 대한 구현이 충실해지면서, RFID 미들웨어 시스템에 대한 관리의 중요성이 높아지고 있다. 이에 따라, RFID 미들웨어는 하나의 고성능 미들웨어 서버를 사용하기도 하지만, 항만 물류의 경우는 다수의 다양한 미들웨어 서버를 사용하며, 각 미들웨어에 다양한 종류의 리더 및 기기들이 부착되고 있다.
그런데, RFID 미들웨어에서 발생되고 있는 장애로 인해 RFID 애플리케이션이 불완전한 데이터를 근거로 비즈니스 프로세스를 수행하도록 하고, 미들웨어 처리의 효율성을 저해한다. 그러므로 RFID 미들웨어의 성능 향상을 위해서 장애 관리는 반드시 필요가 있다.
그러나 아직 국내외로 RFID 미들웨어 시스템의 관리를 위한 표준화가 이루어져 있지 않고, RFID 미들웨어 시스템을 수동적으로 관리하고 있어, 이러한 장애가 발생하더라도 관리자는 이를 탐지하기가 매우 어려울 뿐만 아니라, 장애를 탐지하더라도 이를 복구하기 위해서 복구 작업을 모두 수동적으로 하나씩 일일이 해주어야 하는 불편함이 있다. 이에 따라 RFID 미들웨어 시스템의 관리에 있어 유지보수가 어렵고, 이에 따른 비용의 증가를 유발시키게 된다.
따라서 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, RFID 미들웨어 관리 시스템에 최적화된 장애 탐지 및 복구 기술을 제공하여, 보다 정교하고 신속한 장애 탐지 및 복구를 지원하기 위한 장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은 RFID 미들웨어에서 발생한 장애를 실시간 모니터링을 통해 중단, 보고 누락, 보고 지체 별로 탐지하여 애플리케이션에 보고하고, 탐지된 미들웨어 장애를 재시작, 작업 이동을 통해 복구하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치 및 방법을 제공하는데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치의 특징은 인식된 태그 데이터를 읽어 들이는 다수의 리더와, 상기 리더들로부터 전달받은 태그 데이터에 대한 수집, 분류 과정을 통해 처리된 결과를 정해진 형식에 맞춰 애플리케이션에 전달하는 RFID 미들웨어와, 상기 RFID 미들웨어에서 발생되는 장애를 탐지하고, 재시작 및 작업이동 중 적어도 하나 이상의 수행을 통해 탐지된 장애를 복구하는 MMS(middleware management system)를 포함하여 구성되는데 있다.
이때 상기 탐지되는 장애는 중단 장애, 보고 누락 장애 및 보고 지체 장애 유형 중 적어도 하나 이상으로 발생되는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법의 특징은 (A) RFID 미들웨어와 애플리케이션 간의 ECReport의 보고에 기반하여 RFID 미들웨어에서 발생하는 유형별 장애를 탐지하는 단계와, (B) 상기 탐지된 RFID 미들웨어의 유형별 장애를 재시작 및 작업 이동 중 적어도 하나 이상을 통해 장애를 복구하는 단계를 포함하는데 있다.
이때, 상기 (A) 단계에서 유형별 장애는 리더나 RFID 미들웨어의 장애로 인해 애플리케이션에 ECReport를 보고하지 못하는 중단 장애와, RFID 미들웨어에서 애플리케이션으로 ECReport 전체가 보고되지 않고, 일부 누락되는 보고 누락 장애와, RFID 미들웨어가 ECSpec에 정의된 repeatPeriod보다 늦게 애플리케이션에 ECReport가 보고되는 보고 지체 장애를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 상기 (A) 단계는 RFID 미들웨어에서 MMS로 ECRReport 생성 정보를 전송하는 단계와, 상기 MMS에서 상기 전송 받은 정보를 바탕으로 장애 정보를 중단, 보고 누락, 보고 지체의 장애 유형별로 장애를 탐지하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 (B) 단계는 관리자가 장애가 탐지된 제 1 RFID 미들웨어 재시작을 수행하는 단계와, 장애가 탐지된 RFID 미들웨어를 중지시키는 단계와, 상기 중지 후, 정의된 시간이 지나면, 상기 중지된 RFID 미들웨어를 다시 시작시켜 상기 RFID 미들웨어의 장애를 복구시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 (B) 단계는 장애가 탐지된 제 1 RFID 미들웨어의 리더에 연결된 모든 리더들을 분리(disconnect)하는 단계와, 상기 분리 후, 작업을 옮길 제 2 RFID 미들웨어에 상기 분리된 리더들을 연결(connect) 시키는 단계와, 리더가 모두 연결된 후에, 제 1 RFID 미들웨어의 LogicalReader, ECSpec을 옮길 제 2 RFID 미들웨어에 등록하는 단계와, 상기 등록된 LogicalReader, ECSpec이 제 2 RFID 미들웨 어로 이동되면, 상기 제 2 RFID 미들웨어에서 작업들이 수행되는 단계와, 장애가 발생한 제 1 RFID 미들웨어는 작업을 멈추고, 작업을 옮겨 받은 상기 제 2 RFID 미들웨어가 추가적인 작업을 모두 수행하여 장애를 복구하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치 및 방법은 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 분산 시스템을 대상으로 한 일반적인 장애 탐지 및 복구 기술이 아니라 RFID 시스템에 최적화된 장애 탐지 및 복구 기술을 제공하여, RFID 미들웨어 시스템 고유의 특성을 반영함으로써 보다 정교하고 보다 신속한 장애 탐지 및 복구를 지원한다.
둘째, RFID 미들웨어 시스템을 실시간으로 장애 관리가 가능하도록 제공하여 장애에 대해 바로 반응할 수 있는 효과가 있다.
셋째, 관리자에게 간단한 인터페이스를 통한 구성관리를 제공하고, 리더 또는 미들웨어의 장애 발생을 실시간으로 관리자에게 알려줌으로써, 구성 관리가 간단해지고, 장애에 대한 관리가 가능해지므로, 유지보수 비용이 절감되는 효과가 있다.
넷째, 복구가 가능한 장애의 경우에는 장애 복구 기능을 수행함으로써, 실시간으로 장애에 대해 처리해주므로, 중단 없이 RFID 미들웨어 시스템을 동작시킬 수 있는 효과가 있다.
본 발명의 다른 목적, 특성 및 이점들은 첨부한 도면을 참조한 실시예들의 상세한 설명을 통해 명백해질 것이다.
본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치 및 방법의 바람직한 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록하며 통상의 지식을 가진자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다. 이하에서는 RFID 미들웨어와 애플리케이션 간의 ECReport의 보고에 중점을 두고 장애 유형을 정의하고, 이에 관한 메트릭을 정의하였다.
도 1 은 본 발명의 실시예에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치를 나타낸 구성도이다.
도 1과 같이, 장애 관리 장치는 인식된 태그 데이터를 읽어 들이는 다수의 리더(100)와, 상기 리더들(100)로부터 전달받은 태그 데이터에 대해 수집, 분류 등의 처리 과정을 통해 처리된 결과를 정해진 형식에 맞춰 애플리케이션(미도시)에 전달하는 RFID 미들웨어(200)와, 실시간 모니터링을 통해 상기 RFID 미들웨어(200) 에서 발생되는 장애를 탐지하고, 재시작 및 작업이동 중 적어도 하나 이상의 수행을 통해 탐지된 장애를 복구하는 MMS(middleware management system)(100)를 포함하여 구성된다. 이때, 상기 RFID 미들웨어(200)에서 발생되고 있는 장애로는 리더 장애와 미들웨어 장애로 나눌 수 있는데, 리더 장애는 RFID 태그(미도시)를 리더(100)가 처리하지 못한 것이며, 미들웨어의 장애는 리더(100)로부터 읽혀진 정보가 상위 레이어로 전달 될 수 없다는 것을 의미한다.
이와 같이 상기 RFID 미들웨어(200)에서 발생되는 리더 장애 및 미들웨어 장애로 인해 중단, 보고 누락, 보고 지체의 3가지 장애 유형이 발생되게 된다. 이때 상기 중단 장애는 리더(100)나 RFID 미들웨어(200)의 장애로 인해 RFID 미들웨어(200)의 상위 레이어인 애플리케이션(미도시)에 ECReport를 보고하지 못하는 경우이고, 상기 보고 누락 장애는 RFID 미들웨어(200)에서 생성된 ECReport 중 일부 ECReport만 애플리케이션에 보고하는 경우이며, 마지막으로 상기 보고 지체 장애는 RFID 미들웨어(200)가 ECSpec에 정의된 repeatperiod 보다 늦게 애플리케이션에 ECReport를 보고하는 경우를 의미한다.
도 2 는 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 장애 유형 중 중단 장애를 설명하기 위한 구성도이다.
도 2와 같이, 중단 장애는 RFID 미들웨어의 장애(210)로 인해 ECReport를 생성하지 못해 애플리케이션에 ECReport를 보고하지 못하는 경우와, 리더의 장애(110)로 인해 RFID 미들웨어(200)가 리더(100)로부터 태그 데이터를 수집하지 못해 애플리케이션에 ECReport를 보고하지 못하는 경우가 있다.
이처럼 리더(100)나 RFID 미들웨어(200)의 장애로 인해 ECReport의 보고가 실패하는 비율을 클러스터 중단율이라고 하면, 상기 클러스터 중단율에 대한 정의는 다음 수학식 1과 같다. 참고로 클러스터는 복수개의 미들웨어를 포함하는 그룹을 말한다.
Figure 112009011345591-PAT00001
이때, 상기 Ei는 ECSpec의 개수이고, Ri는 Reader의 개수이다. 그리고 F(ECSpec)는 ECSpec에 장애가 있는 것을 의미하고, F(Reader)는 Reader에 장애가 있는 것을 의미한다. 따라서 수학식 1과 같이, RFID 미들웨어에 장애가 발생하면 F(ECSpec)=1, 리더에 장애가 발생하면 F(Reader)=1이 된다. 이처럼, 전체 ECSpec에서 장애가 발생한 ECSpec비율, 전체 리더 중 장애가 발생한 리더 비율을 이용하여 클러스터의 중단율을 산출한다.
한편, 수학식 1과 같이 클러스터 단위로의 중단 장애를 좀 더 정확하게 진단하기 위해 메트릭으로 미들웨어 중단율을 측정한다. 즉, 미들웨어 중단율은 각 미들웨어별 측정 수치로서 RFID 미들웨어 시스템의 리더나 RFID 미들웨어의 장애로 인해 RCReport의 보고가 실패하는 비율이 얼마인지 나타낸다. 상기 미들웨어 중단율에 대한 정의는 다음 수학식 2와 같다.
Figure 112009011345591-PAT00002
도 3 은 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 장애 유형 중 보고 누락 장애를 설명하기 위한 구성도이다.
도 3과 같이, 보고 누락 장애는 RFID 미들웨어에서 애플리케이션으로 ECReporrt 전체가 보고되지 않고, 일부 누락되고 있는 경우(220)를 나타낸다.
이처럼 RFID 미들웨어 시스템에서 보고되어야 하는 전체 ECReport 중 보고가 누락된 ECReport의 비율을 클러스터 보고 누락율이라고 하면, 상기 클러스터 보고 누락율에 대한 정의는 다음 수학식 3과 같다.
Figure 112009011345591-PAT00003
이때, 상기 ERi는 RFID 미들웨어에서 애플리케이션으로 보고되어야 하는 ECReport의 개수이고, 상기 ARi는 RFID 미들웨어(200)에서 보고된 ECReport의 개수이고, ORi는 누락된 ECReport의 개수를 나타내며, 상기 ORi는 ERi-ARi의 결과값 이다.
이어, ORi/ERi를 모든 미들웨어에 적용하여 클러스터 보고 누락율을 산출한다.
그리고 보고 누락 장애의 진단을 위해 미들웨어 보고 누락율과 미들웨어 누락 유발율 메트릭을 사용한다. 이때, 상기 미들웨어 보고 누락율은 각 미들웨어별 측정 수치로 RFID 미들웨어(200)에서 애플리케이션에 보고되어야 하는 전체 ECReport 중 보고가 누락된 ECReport의 비율을 나타내며, 상기 미들웨어 누락 유발율은 전체 보고 누락 중 각 RFID 미들웨어(200)가 클러스터 보고 누락율에 영향을 준 비율을 나타낸다.
상기 미들웨어 보고 누락율에 대한 정의는 다음 수학식 4와 같으며, 상기 미들웨어 누락 유발율은 다음 수학식 5와 같다.
Figure 112009011345591-PAT00004
Figure 112009011345591-PAT00005
이처럼 클러스터에 전체에 누락된 ECReport와 한 미들웨어에 누락된 ECReport의 비율로 하여 미들웨어 누락 유발율을 산출한다.
도 4 는 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 장애 유형 중 보고 지체 장애를 설명하기 위한 구성도이다.
도 4와 같이, RFID 미들웨어(200)에서 생성된 ECReport는 ECSpec에 정의된 repeatPeriod 마다 애플리케이션으로 보고가 이루어진다. 이때, repeatPeriod 마다 ECReport 보고가 이루어지지 않는 경우(230) 보고 지체 장애가 발생한다.
이처럼 보고된 ECReport 중 지정된 repeatPeriod에 보고하지 못한 ECReport의 비율을 클러스터 지체된 보고율이라고 하면, 상기 클러스터 지체된 보고율에 대한 정의는 다음 수학식 6과 같다.
Figure 112009011345591-PAT00006
이때, 상기 ARi는 RFID 미들웨어(200)서 보고된 ECReport 개수이며, DRi는 지정된 보고 시간 보다 늦게 보고된 ECReport의 개수이다. 그리고 수학식 6과 같이 DRi/ARi를 모든 미들웨어에 적용하여 클러스터 보고 누락율을 산출한다.
그리고 각 미들웨어별 측정 수치로 RFID 미들웨어(200)에서 애플리케이션으로 repeatPeriod에 보고하지 못한 ECReport의 비율을 미들웨어 지체된 보고율이라 하면, 상기 미들웨어 지체된 보고율에 대한 정의는 다음 수학식 7과 같다.
Figure 112009011345591-PAT00007
그리고 상기 MMS(middleware management system)(100)는 위에서 설명된 바와 같이, RFID 미들웨어 시스템에 중단, 보고 누락, 보고 지체 등의 장애가 발생하여 탐지되게 되면, RFID 미들웨어(200) 재시작과 작업 이동의 방법을 통해서 발생한 장애를 복구한다. 상기 MMS(100)는 이러한 장애 복구를 통해서 RFID 미들웨어 시스템을 중단 없이 계속적으로 작업을 수행하도록 하는데 도움을 줄 수 있다.
도 5 는 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 장애 탐지 및 재시작을 통한 장애 복구를 설명하기 위한 구성도이다.
도 5와 같이, 제 1 RFID 미들웨어(200a)에 장애가 발생하여, MMS(300)는 상기 제 1 RFID 미들웨어(200)로부터 장애가 탐지되면, 이를 복구하고자 MMS(300)는 제 1 RFID 미들웨어(200a)에 재시작 명령을 통해 제 1 RFID 미들웨어(200a) 자체적으로 재시작을 수행시켜 장애가 복구되도록 제어한다.
이때, 자체적으로 재시작을 통한 장애 복구는 실패할 수 있으며, 이처럼 장애 복구가 잘되지 않을 경우에는 도 6과 같이, 다른 미들웨어로 작업을 이동시키는 작업 이동을 통해 장애를 복구할 수도 있다.
도 6 은 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 장애 탐지 및 작업 이동을 통한 장애 복구를 설명하기 위한 구성도이다.
도 6과 같이, RFID 미들웨어(200)에 장애가 발생하여, MMS(300)는 상기 제 RFID 미들웨어(200a)로부터 장애가 탐지되면, 이를 복구하고자 MMS(300)는 장애가 발생하지 않은 제 2 RFID 미들웨어(200b)로 작업을 작업이 이동되도록 제어한다. 그리고 제 1 RFID 미들웨어(200a)의 모든 작업(ECSpec, 리더(100a))을 제 2 RFID 미들웨어(200b)로 옮기면, 제 1 RFID 미들웨어(200a)에서는 이제 어떠한 작업도 수행하지 않는다. 또한 제 1 RFID 미들웨어(200a)의 모든 작업을 상기 제 2 RFID 미 들웨어(200b)에서 수행을 하면서 작업을 정상 동작시킴으로써 장애를 복구하게 된다.
참고로, 상기 RFID 미들웨어(200)는 LIT(Institute of Logistics Information Technology)에서 개발한 ALEManager3.0 제품이다. 이 ALEManager3.0과 LitAgent간의 인터페이스를 통해서 장애 관리를 할 수가 있다.
도 7 은 본 발명의 실시예에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치의 아키텍처를 나타낸 블록도이다.
도 7과 같이, MMS(300)는 LitAgent2MMS 및 MMS2LitAgent 2개의 인터페이스를 통해서 RFID 미들웨어(200)내의 LitAgent(240)와 통신한다. 이 인터페이스를 통해서 RFID 미들웨어(200)와 리더(100)의 구성을 관리하며, 장애 정보를 계산하기 위해 필요한 정보를 수집할 수 있다. 이때 수집한 정보들은 장애 유형별로 각각 계산되어 저장된다.
상기 LitAgent(240)는 RFID 미들웨어(200)와 같은 노드에 존재하며, 상기 RFID 미들웨어(200)와 직접적으로 통신한다. 그리고 상기 MMS(300)로부터 정보를 받아서 RFID 미들웨어(200)로 보내주며, 또한 RFID 미들웨어(200)로부터 정보를 받아서 MMS(300)로 보내준다.
이와 같이 구성된 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치의 동작을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 도 1 내지 도 8과 동일한 참조부호는 동일한 기능을 수행하는 동일한 부재를 지칭한다.
먼저, 첫 번째 단계로 RFID 미들웨어와 애플리케이션 간의 ECReport의 보고에 기반하여 RFID 미들웨어(200)에서 발생한 장애를 중단, 보고 누락, 보고 지체 장애 등의 유형별로 탐지한다.
도 8 은 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법 중 장애 탐지 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 8을 참조하여 설명하면, 장애 탐지 방법은 먼저, RFID 미들웨어(ALEManager)(200)에서 LitAgent(240)를 거쳐 MMS(300)로 ECRReport 생성 정보를 전송한다(S11~S12). 그러면, 상기 MMS(300)에서는 위에서 설명하고 있는 것과 같이 전송 받은 정보를 바탕으로 장애 정보를 중단, 보고 누락, 보고 지체의 3가지 장애 유형별로 수학식 1 내지 수학식 7을 이용하여 주기적으로 산출하여 장애를 탐지한다(S13).
이어, 두 번째 단계로 상기 첫 번째 단계에서 탐지된 RFID 미들웨어(200) 장애를 재시작 및 작업 이동 중 적어도 하나 이상을 통해 장애를 복구한다.
도 9 는 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법 중 재시작을 이용하여 장애를 복구하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 9를 참조하여 설명하면, 관리자가 장애가 탐지된 제 1 RFID 미들웨어(200) 재시작을 수행하게 되면, MMS(300), LitAgent(240), 및 제 1 RFID 미들웨어(200)를 거쳐서 장애가 탐지된 제 1 RFID 미들웨어(200)를 중지시킨다(S21~S22). 그리고 중지 후에, 정의된 시간이 지나면, 상기 MMS(300)는 상기 중지된 제 1 RFID 미들웨어(200)를 다시 시작시킨다(S23~S24). 이처럼 장애가 탐지된 제 1 RFID 미들웨어(200)를 소정 시간 정지시킨 후 재시작 함으로써, 상기 제 1 미들웨어의 장애를 복구한다.
이때, 자체적으로 재시작을 통한 장애 복구는 실패할 수 있으며, 이처럼 장애 복구가 잘되지 않을 경우에는 다른 미들웨어로 작업을 이동시키는 작업 이동을 통해 장애를 복구한다.
도 10 은 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법 중 작업 이동을 이용하여 장애를 복구하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 10과 같이, 먼저 장애가 탐지된 제 1 RFID 미들웨어(200a)의 리더(100)에 연결된 모든 리더들을 분리(disconnect) 한 후에(S31~S32), 작업을 옮길 제 2 RFID 미들웨어(200b)에 상기 분리된 모들 리더들을 연결(connect) 시켜준다(S33~S36).
이어 상기 모든 리더(100)가 연결된 제 2 RFID 미들웨어(200b)로 모두 옮겨진 후에(S37~S38), 제 1 RFID 미들웨어(200a)의 실질적인 작업을 옮기기 위하여 LogicalReader, ECSpec을 옮길 제 2 RFID 미들웨어(200a)에 등록한다(S35~S40). 그리고 상기 등록된 LogicalReader, ECSpec이 제 2 RFID 미들웨어로 이동되면, 상기 제 2 RFID 미들웨어(200b)에서 작업들이 수행된다(S41~42).
그리고 장애가 발생한 상기 제 1 RFID 미들웨어(200a)는 작업을 멈추고, 작업을 옮겨 받은 상기 제 2 RFID 미들웨어(200b)가 추가적인 작업을 모두 수행하여 장애를 복구한다(S43~S44).
상기에서 설명한 본 발명의 기술적 사상은 바람직한 실시예에서 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술적 분야의 통상의 지식을 가진자라면 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
도 1 은 본 발명의 실시예에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치를 나타낸 구성도
도 2 는 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 장애 유형 중 중단 장애를 설명하기 위한 구성도
도 3 은 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 장애 유형 중 보고 누락 장애를 설명하기 위한 구성도
도 4 는 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 장애 유형 중 보고 지체 장애를 설명하기 위한 구성도
도 5 는 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 장애 탐지 및 재시작을 통한 장애 복구를 설명하기 위한 구성도
도 6 은 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 장애 탐지 및 작업 이동을 통한 장애 복구를 설명하기 위한 구성도
도 7 은 본 발명의 실시예에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치의 아키텍처를 나타낸 블록도
도 8 은 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법 중 장애 탐지 방법을 설명하기 위한 흐름도
도 9 는 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법 중 재시작을 이용하여 장애를 복구하는 방법을 설명하기 위한 흐름도
도 10 은 본 발명에 따른 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법 중 작업 이동을 이용하여 장애를 복구하는 방법을 설명하기 위한 흐름도
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
100 : 리더 200 : RFID 미들웨어
240 : LitAgent 300 : MMS

Claims (13)

  1. 인식된 태그 데이터를 읽어 들이는 다수의 리더와,
    상기 리더들로부터 전달받은 태그 데이터에 대한 수집, 분류 과정을 통해 처리된 결과를 정해진 형식에 맞춰 애플리케이션에 전달하는 RFID 미들웨어와,
    상기 RFID 미들웨어에서 발생되는 장애를 탐지하고, 재시작 및 작업이동 중 적어도 하나 이상의 수행을 통해 탐지된 장애를 복구하는 MMS(middleware management system)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 RFID 미들웨어에서 발생되고 있는 장애는 리더 장애 및 미들웨어 장애중 적어도 하나 이상인 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 탐지되는 장애는 중단 장애, 보고 누락 장애 및 보고 지체 장애 유형 중 적어도 하나 이상으로 발생되는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 MMS는 LitAgent2MMS 및 MMS2LitAgent 2개의 인터페이스를 통해서 RFID 미들웨어내의 LitAgent와 통신하여, RFID 미들웨어 및 리더의 구성을 관리하며, 장애 정보를 계산하기 위해 필요한 정보를 수집하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 LitAgent는 RFID 미들웨어와 같은 노드에 존재하여, 상기 RFID 미들웨어와 직접적으로 통신하며, 상기 MMS로부터 정보를 받아서 RFID 미들웨어로 보내주고, RFID 미들웨어로부터 정보를 받아서 MMS로 보내주는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치.
  6. (A) RFID 미들웨어와 애플리케이션 간의 ECReport의 보고에 기반하여 RFID 미들웨어에서 발생하는 유형별 장애를 탐지하는 단계와,
    (B) 상기 탐지된 RFID 미들웨어의 유형별 장애를 재시작 및 작업 이동 중 적어도 하나 이상을 통해 장애를 복구하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 장치.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 (A) 단계에서 유형별 장애는
    리더나 RFID 미들웨어의 장애로 인해 애플리케이션에 ECReport를 보고하지 못하는 중단 장애와,
    RFID 미들웨어에서 애플리케이션으로 ECReport 전체가 보고되지 않고, 일부 누락되는 보고 누락 장애와,
    RFID 미들웨어가 ECSpec에 정의된 repeatPeriod보다 늦게 애플리케이션에 ECReport가 보고되는 보고 지체 장애를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법.
  8. 제 6 항에 있어서, 상기 (A) 단계는
    RFID 미들웨어에서 MMS로 ECRReport 생성 정보를 전송하는 단계와,
    상기 MMS에서 상기 전송 받은 정보를 바탕으로 장애 정보를 중단, 보고 누락, 보고 지체의 장애 유형별로 장애를 탐지하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법.
  9. 제 7 항 또는 제 8 항에 있어서,
    상기 중단 장애는 리더 또는 RFID 미들웨어의 장애로 인해 RCReport의 보고가 실패하는 비율인 미들웨어 중단율을 계산하기 위한 수식
    Figure 112009011345591-PAT00008
    를 이용하여 산출하며, 이때, 상기 Ei는 ECSpec의 개수이고, Ri는 Reader의 개수이다. 그리고 F(ECSpec)는 ECSpec에 장애가 발생한 개수이고, F(Reader)는 Reader에 장애가 발생한 개수를 의미하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법.
  10. 제 7 항 또는 제 8 항에 있어서,
    상기 보고 누락 장애는 전체 ECReport 중 보고가 누락된 ECReport의 비율인 클러스터 보고 누락율을 계산하기 위한 수식
    Figure 112009011345591-PAT00009
    를 이용하여 산출하며, 이때, 상기 ERi는 RFID 미들웨어에서 애플리케이션으로 보고되어야 하는 ECReport의 개수이고, 상기 ARi는 RFID 미들웨어에서 보고된 ECReport이 개수이고, ORi는 누락된 ECReport의 개수인 것을 나타내며, 상기 ORi는 ERi-ARi의 결과값인 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법.
  11. 제 7 항 또는 제 8 항에 있어서,
    상기 보고 지체 장애는 보고된 ECReport 중 지정된 repeatPeriod에 보고하지 못한 ECReport의 비율인 클러스터 지체된 보고율을 계산하기 위한 수식
    Figure 112009011345591-PAT00010
    를 이용하여 산출하며, 이때 상기 ARi는 RFID 미들웨어에서 보고된 ECReport의 개수이고, DRi는 지정된 보고 시간 보다 늦게 보고된 ECReport의 개수인 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법.
  12. 제 6 항에 있어서, 상기 (B) 단계는
    관리자가 장애가 탐지된 제 1 RFID 미들웨어 재시작을 수행하는 단계와,
    장애가 탐지된 RFID 미들웨어를 중지시키는 단계와,
    상기 중지 후, 정의된 시간이 지나면, 상기 중지된 RFID 미들웨어를 다시 시작시켜 상기 RFID 미들웨어의 장애를 복구시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법.
  13. 제 6 항 또는 제 12 항에 있어서, 상기 (B) 단계는
    장애가 탐지된 제 1 RFID 미들웨어의 리더에 연결된 모든 리더들을 분리(disconnect)하는 단계와,
    상기 분리 후, 작업을 옮길 제 2 RFID 미들웨어에 상기 분리된 리더들을 연결(connect) 시키는 단계와,
    리더가 모두 연결된 후에, 제 1 RFID 미들웨어의 LogicalReader, ECSpec을 옮길 제 2 RFID 미들웨어에 등록하는 단계와,
    상기 등록된 LogicalReader, ECSpec이 제 2 RFID 미들웨어로 이동되면, 상기 제 2 RFID 미들웨어에서 작업들이 수행되는 단계와,
    장애가 발생한 제 1 RFID 미들웨어는 작업을 멈추고, 작업을 옮겨 받은 상기 제 2 RFID 미들웨어가 추가적인 작업을 모두 수행하여 장애를 복구하는 단계를 포 함하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어 관리 시스템의 장애 관리 방법.
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