KR20100060700A - System and method for antenna alignment - Google Patents

System and method for antenna alignment Download PDF

Info

Publication number
KR20100060700A
KR20100060700A KR1020080119410A KR20080119410A KR20100060700A KR 20100060700 A KR20100060700 A KR 20100060700A KR 1020080119410 A KR1020080119410 A KR 1020080119410A KR 20080119410 A KR20080119410 A KR 20080119410A KR 20100060700 A KR20100060700 A KR 20100060700A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
antenna
probe
measurement target
laser beam
set point
Prior art date
Application number
KR1020080119410A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101065479B1 (en
Inventor
문정익
오순수
김종면
전순익
김창주
Original Assignee
한국전자통신연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국전자통신연구원 filed Critical 한국전자통신연구원
Priority to KR1020080119410A priority Critical patent/KR101065479B1/en
Publication of KR20100060700A publication Critical patent/KR20100060700A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101065479B1 publication Critical patent/KR101065479B1/en

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/005—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system using remotely controlled antenna positioning or scanning
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/10—Radiation diagrams of antennas
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S11/00—Systems for determining distance or velocity not using reflection or reradiation
    • G01S11/02—Systems for determining distance or velocity not using reflection or reradiation using radio waves
    • G01S11/04—Systems for determining distance or velocity not using reflection or reradiation using radio waves using angle measurements
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/02—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system using mechanical movement of antenna or antenna system as a whole

Abstract

PURPOSE: A system and a method for aligning an antenna are provided to accurately measure the performance of a target antenna by automatically aligning the target antenna and a probe antenna. CONSTITUTION: A target antenna(120) is mounted on an antenna mounting device(100). A probe antenna(140) receives an electromagnetic wave radiated from the target antenna. The probe antenna moves on a prove antenna driver(150) according to a control signal of a position controller. A measuring device(160) receives a laser beam reflected from the target antenna or probe antenna. The position controller aligns the target antenna or probe antenna using the position information of the target antenna or probe antenna.

Description

안테나 정렬 시스템과 그 방법{SYSTEM AND METHOD FOR ANTENNA ALIGNMENT}Antenna alignment system and its method {SYSTEM AND METHOD FOR ANTENNA ALIGNMENT}

본 발명은 안테나 정렬 시스템과 그 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 안테나 성능 측정을 위한 안테나 정렬 시스템과 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an antenna alignment system and method, and more particularly, to an antenna alignment system and method for measuring antenna performance.

일반적으로 무선 통신 시스템에서는 소정의 주파수를 이용하여 데이터 또는 시그널을 송/수신한다. 이때, 무선 통신 시스템에서 신호를 송신 및 수신하기 위한 중요한 요소로 안테나가 있다. 이러한 안테나는 전자파를 효율적으로 송신 및 수신할 수 있도록 구성되어야 하며, 안테나에 대한 많은 연구와 개발이 이루어지고 있다.In general, a wireless communication system transmits / receives data or signals using a predetermined frequency. At this time, an antenna is an important element for transmitting and receiving signals in a wireless communication system. Such antennas should be configured to efficiently transmit and receive electromagnetic waves, and many researches and developments have been made on antennas.

이러한 안테나들은 안테나를 만드는 소재와, 안테나의 형태 등에 따라 다양한 성능을 가지게 된다. 따라서 안테나의 성능을 정확히 파악하는 것은 매우 중요한 요소가 된다. 특정한 소재 또는 형태를 가지는 안테나를 구현하는 경우에 안테나의 성능을 측정하기 위해서는 이론적인 검증 뿐 아니라 실제적인 전자파 형성에 대한 성능의 측정을 필요로 한다.These antennas have various performances depending on the material of the antenna and the shape of the antenna. Therefore, it is very important to know exactly the performance of the antenna. In the case of implementing an antenna having a specific material or shape, in order to measure the performance of the antenna, not only the theoretical verification but also the measurement of the actual electromagnetic wave formation performance is required.

안테나의 성능을 측정하는 여러 가지 방법 중에서 근역장(Near-Field)에서 안테나의 성능을 측정하는 방법이 있다. 이러한 근역장에서의 안테나 성능 측정 방법에 있어서, 측정 대상 안테나(Antenna Under Test, AUT)와 프로브 안테나(Probe Antenna)는 서로 정렬(또는 정합, Alignment)이 되어야 한다. 측정 대상 안테나와 프로브 안테나가 정렬되기 위해서는 두 안테나의 개구면이 평행해야 하고, 두 안테나의 개구면의 중심이 한 직선 상에 위치해야 한다. 따라서 근역장에서 측정 대상 안테나와 프로브 안테나의 정렬이 측정 대상 안테나의 방사패턴을 정확하게 측정하는데 있어서 필수적인 요소이다.Among the various methods of measuring the performance of the antenna, there is a method of measuring the performance of the antenna in the near-field. In the method of measuring antenna performance in the near field, the antenna under test (AUT) and the probe antenna should be aligned (or aligned) with each other. In order for the antenna to be measured and the probe antenna to be aligned, the apertures of the two antennas must be parallel, and the centers of the apertures of the two antennas must be located on a straight line. Therefore, alignment of the antenna to be measured and the probe antenna in the near field is an essential factor in accurately measuring the radiation pattern of the antenna to be measured.

이러한 측정 대상 안테나와 프로브 안테나를 정렬시키는 방법이 대한민국공개특허 제2005-0058044호에 개시되어 있다. 대한민국공개특허 제2005-0058044호에 개시된 방법은, 측정 대상 안테나와 프로브 안테나간 정렬을 수행하기 위해 측정 대상 안테나에서 RF 신호를 복사하고, 프로브 안테나를 통해 수신되는 RF 신호의 수식 편파와 수평 편파를 동시에 측정하여 신호처리 한다. 이를 통해 최적의 측정 대상 안테나와 프로브 안테나간 정렬을 수행한다. 하지만, 이러한 방법은 측정 대상 안테나와 프로브 안테나에서 측정되는 RF 신호의 신호 대 잡음비(SNR)가 낮은 경우에는 신호의 측정에서 오차를 가지게 된다. 따라서 측정 대상 안테나와 프로브 안테나간 정렬의 정밀도가 떨어진다. 또한, 이러한 방법은 측정 대상 안테나가 특정 방향으로 주빔(main beam)이 편향되는 안테나인 경우에는 신호의 최대값을 찾아 정렬하므로, 근역장 측정을 통해 주빔의 편향 정도를 측정하기 어렵다.The method of aligning the antenna to be measured and the probe antenna is disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 2005-0058044. In the method disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 2005-0058044, the RF signal is copied from the measurement target antenna to perform alignment between the measurement antenna and the probe antenna, and the modified and horizontal polarization of the RF signal received through the probe antenna is Simultaneously measure and signal. Through this, the optimal alignment between the antenna to be measured and the probe antenna is performed. However, this method has an error in signal measurement when the signal-to-noise ratio (SNR) of the RF signal measured by the antenna to be measured and the probe antenna is low. Therefore, the accuracy of alignment between the antenna to be measured and the probe antenna is inferior. In addition, this method finds and aligns the maximum value of the signal when the antenna to be measured is the antenna in which the main beam is deflected in a specific direction, and thus it is difficult to measure the degree of deflection of the main beam through near field measurement.

또한, 측정 대상 안테나와 프로브 안테나를 정렬시키는 방법이 대한민국등록 특허 제 10-0864832호에 개시되어 있다. 대한민국등록특허 제 10-0864832호에 개시된 방법은, 근역장 측정을 위한 카메라 기반 위치 조정기 및 그 방법과 근역장 측정시스템에 관한 것으로, 2개 이상의 레이저 광원과 영상처리 방법을 이용하여 측정 대상 안테나와 프로브 안테나의 정렬을 2개축에 대해 할 수 있는 방법이다. 이러한 방법은 수신용 프로브 안테나에 광원, 카메라, 레이저 및 전자석 등이 부착되므로, 부피가 작은 프로브 안테나에 비해 부착장비의 부피가 상당히 커지게 된다. 또한, 영상정보를 수신하는 카메라의 성능에 따라서 정렬의 정확도가 많은 영향을 받는다. 또한, 측정 대상 안테나와 프로브 안테나간 정렬 후, 프로브 안테나의 후면에 전자파 흡수체를 부착해야 하므로, 전자파 흡수체와 주변 장치간의 격리장치가 더 필요하다. 또한, 영상정보를 통한 자동 정렬의 정확도는 측정 대상 안테나의 종류와 모양에 따라 많이 다르므로, 사용자의 판단과 확인 절차가 결국 필요하게 되어 순수한 자동 정렬로 보기 어렵다.In addition, a method of aligning the antenna to be measured and the probe antenna is disclosed in Korean Patent Registration No. 10-0864832. The method disclosed in Korean Patent No. 10-0864832 relates to a camera-based position adjuster for near field measurement, and a method and a near field measurement system. The probe antenna can be aligned on two axes. In this method, since a light source, a camera, a laser, an electromagnet, etc. are attached to the receiving probe antenna, the volume of the attachment equipment is considerably larger than that of the small probe antenna. In addition, the accuracy of the alignment is greatly affected by the performance of the camera receiving the image information. In addition, since the electromagnetic wave absorber must be attached to the rear surface of the probe antenna after the alignment between the measurement target antenna and the probe antenna, an isolation device between the electromagnetic wave absorber and the peripheral device is required. In addition, since the accuracy of the automatic alignment through the image information is very different depending on the type and shape of the antenna to be measured, it is difficult to see the pure automatic alignment because the user's judgment and confirmation procedure is necessary eventually.

이에 본 발명에서는, 측정 대상 안테나와 프로브 안테나를 자동으로 정렬할 수 있는 안테나 정렬 시스템을 제공한다.Accordingly, the present invention provides an antenna alignment system capable of automatically aligning a measurement target antenna and a probe antenna.

또한, 본 발명에서는, 측정 대상 안테나와 프로브 안테나를 자동으로 정렬할 수 있는 안테나 정렬 방법을 제공한다.In addition, the present invention provides an antenna alignment method capable of automatically aligning the antenna to be measured and the probe antenna.

본 발명에 따른 시스템은, 안테나 정렬 시스템으로서, 전자파의 방사가 가능한 측정 대상 안테나를 탈착할 수 있는 안테나 장착 장치와, 측정 대상 안테나로부터 방사되는 전자파를 수신하는 프로브 안테나와, 안테나 장착 장치와 프로브 안테나 사이의 특정 위치에서 측정 대상 안테나 또는 프로브 안테나로 레이저 광선을 방사하는 광원부를 포함하고 측정 대상 안테나 또는 프로브 안테나에서 반사된 레이저 광선을 수신하는 측정 장치와, 측정 장치로 수신된 레이저 광선을 이용하여 광원부로부터 측정 대상 안테나 또는 프로브 안테나까지의 거리와 각도를 계산하고, 계산된 거리와 각도를 이용하여 측정 대상 안테나 또는 프로브 안테나의 위치정보를 계산하고, 계산된 위치정보들을 이용하여 측정 대상 안테나 또는 프로브 안테나를 정렬하는 위치 제어부를 포함한다.The system according to the present invention is an antenna alignment system, comprising: an antenna mounting apparatus capable of detaching a measurement target antenna capable of radiating electromagnetic waves, a probe antenna receiving electromagnetic waves emitted from the measurement target antenna, an antenna mounting apparatus and a probe antenna A light source unit that emits a laser beam from the measurement target antenna or the probe antenna at a specific position therebetween and receives a laser beam reflected from the measurement target antenna or the probe antenna, and a light source unit using the laser beam received by the measurement device The distance and angle from the measured antenna to the measurement antenna or probe antenna, calculate the position information of the measurement antenna or probe antenna using the calculated distance and angle, and calculate the position information of the measurement antenna or probe antenna using the calculated position information Where to sort It includes a control unit.

또한, 본 발명에 따른 방법은, 안테나 정렬 방법으로서, 전자파의 방사가 가능한 측정 대상 안테나를 안테나 장착 장치에 부착하는 과정과, 안테나 장착 장치와 상기 전자파를 수신하는 프로브 안테나 사이의 특정 위치에서 측정 대상 안테나 또는 프로브 안테나로 레이저 광선을 방사하는 과정과, 측정 대상 안테나 또는 프로브 안테나에서 반사된 레이저 광선을 수신하는 과정과, 레이저 광선을 방사하는 광원부로부터 측정 대상 안테나 또는 프로브 안테나까지의 거리를 계산하여 측정 대상 안테나의 위치정보와 프로브 안테나의 위치정보를 계산하는 과정과, 계산된 위치정보들을 이용하여 측정 대상 안테나와 프로브 안테나를 정렬하는 과정을 포함한다.In addition, the method according to the present invention, as an antenna alignment method, attaching a measurement target antenna capable of radiating electromagnetic waves to the antenna mounting device, and the measurement target at a specific position between the antenna mounting device and the probe antenna for receiving the electromagnetic wave Measuring by measuring the laser beam to the antenna or probe antenna, receiving the laser beam reflected from the measuring antenna or probe antenna, and calculating the distance from the light source unit emitting the laser beam to the measuring antenna or probe antenna Computing the position information of the target antenna and the position information of the probe antenna, and the process of aligning the measurement target antenna and the probe antenna using the calculated position information.

본 발명에 따른 시스템과 방법을 이용하면, 측정 대상 안테나와 프로브 안테나를 자동으로 정렬시킬 수 있고, 이에 따라 측정 대상 안테나의 성능을 정확하게 측정할 수 있는 이점이 있다. 또한, 측정 대상 안테나가 개구면 안테나인 경우에 개구면의 기울기와 회전각을 측정할 수 있는 이점이 있다.Using the system and method according to the present invention, it is possible to automatically align the antenna to be measured and the probe antenna, there is an advantage that can accurately measure the performance of the antenna to be measured. In addition, when the antenna to be measured is an aperture antenna, there is an advantage of measuring the inclination and rotation angle of the aperture.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 설명한다. 본 발명을 설명함에 있어 당업자에게 자명한 부분에 대하여는 본 발명의 요지를 흩뜨리지 않도록 생략하기로 한다. 또한 이하에서 설명되는 각 용어들은 본 발명의 이해를 돕기 위해 사용된 것일 뿐이며, 각 제조 회사 또는 연구 그룹에서는 동일한 용도임에도 불구하고 서로 다른 용어로 사용될 수 있음에 유의해야 한다.Hereinafter, the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, a part obvious to those skilled in the art will be omitted so as not to disturb the gist of the present invention. In addition, it is to be noted that each of the terms described below are only used to help the understanding of the present invention, and may be used in different terms despite the same purpose in each manufacturing company or research group.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템의 정면도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템의 평면도이다. 여기서, 도 1은 측정 대상 안테나와 프로브 안테나가 정렬된 상태를 도시한 것이다. 여기서, 정렬이라 함은, 측정 대상 안테나와 프로브 안테나의 개구면이 평행하고, 개구면의 중심이 한 직선 상에 위치시키는 것을 말한다.1 is a front view of an antenna measurement system according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view of an antenna measurement system according to an embodiment of the present invention. 1 illustrates a state in which a measurement target antenna and a probe antenna are aligned. Here, alignment means that the opening surface of a measuring object antenna and a probe antenna is parallel, and the center of an opening surface is located on a straight line.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템은, 안테나 장착 장치(100), 프로브 안테나(140), 측정 장치(160), 위치 제어부(미도시)를 포함한다.1 and 2, an antenna measuring system according to an exemplary embodiment of the present disclosure includes an antenna mounting apparatus 100, a probe antenna 140, a measuring apparatus 160, and a position controller (not shown). .

안테나 장착 장치(100)는 측정 대상 안테나(Antenna Under Test, AUT)(120)를 탈착할 수 있다. 측정 대상 안테나(120)는 사용자가 측정하고자 하는 안테나로서, 프로브 안테나(140)와 정렬되도록 안테나 장착 장치(100)에 부착된다. 여기서, 측정 대상 안테나(120)와 프로브 안테나(140)를 정렬하는 방법은 이후에서 구체적으로 서술하겠다. 또한, 안테나 장착 장치(100)는 Z축 방향으로 이동이 가능하다.The antenna mounting apparatus 100 may detach the antenna under test (AUT) 120. The measurement target antenna 120 is an antenna to be measured by a user and is attached to the antenna mounting apparatus 100 to be aligned with the probe antenna 140. Here, the method of aligning the measurement target antenna 120 and the probe antenna 140 will be described in detail later. In addition, the antenna mounting apparatus 100 is movable in the Z-axis direction.

프로브 안테나(140)는 측정 대상 안테나(120)에서 방사되는 전자파를 수신한다. 이러한 프로브 안테나(140)는 위치 제어부(미도시)의 제어 신호에 의해 지면과 수직인 프로브 안테나 구동부(150) 위를 움직일 수 있다. 프로브 안테나(140)가 개구면 안테나인 경우에는 프로브 안테나(140)의 개구면은 프로브 안테나 구동부(150)와 수직이다.The probe antenna 140 receives electromagnetic waves emitted from the antenna 120 to be measured. The probe antenna 140 may move on the probe antenna driver 150 perpendicular to the ground by a control signal of a position controller (not shown). When the probe antenna 140 is an aperture antenna, the aperture of the probe antenna 140 is perpendicular to the probe antenna driver 150.

측정 장치(160)는 레이저 광선을 방사하는 광원부(165)를 포함한다. 그리고 광원부(165)로부터 방사된 레이저 광선이 특정 물체에 반사되어 돌아오는 레이저 광선을 수신한다. 이를 통해 측정 장치(160)와 연결된 위치 제어부(미도시)에서는 광원부(165)로부터 특정 물체까지의 거리를 계산할 수 있다. 이러한 측정 장치(160)는 측정 대상 안테나(120)와 프로브 안테나(140) 사이를 이동할 수 있고, 사용자에 의하여 소정의 특정 위치에 고정된다. 여기서, 특정 위치는 측정 대상 안테나(120)와 프로브 안테나(140)의 정렬을 위해, 측정 대상 안테나(120)의 개구면과 프로브 안테나(140)의 개구면에서 동일 거리에 있는 지점인 것이 바람직하다. 이러한 측정 장치(160)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 제 1 레일(170)의 소정 부분에 부착되어 X축 방향으로 이동할 수 있다. 또한, 측정 장치(160)는 제 2 레 일(180)을 따라 Z축 방향으로 이동할 수 있다. 또한, 측정 장치(160)는 X축 또는 Y축을 회전축으로 하여 회전할 수 있다. 따라서 측정 장치(160)는 광원부(165)에서 방사된 레이저 광선을 측정 대상 안테나(120)로 조사할 수 있고, 프로브 안테나(140)로도 조사할 수 있다.The measuring device 160 includes a light source unit 165 for emitting a laser beam. The laser beam radiated from the light source unit 165 receives the laser beam reflected by the specific object and returned. Through this, a position controller (not shown) connected to the measuring device 160 may calculate a distance from the light source unit 165 to a specific object. The measurement device 160 may move between the measurement target antenna 120 and the probe antenna 140 and is fixed at a predetermined specific position by the user. Here, the specific position is preferably a point at the same distance from the opening surface of the antenna 120 to be measured and the opening surface of the probe antenna 140 to align the antenna 120 and the probe antenna 140 to be measured. . As shown in FIG. 2, the measuring device 160 may be attached to a predetermined portion of the first rail 170 and move in the X-axis direction. In addition, the measuring device 160 may move along the second rail 180 in the Z-axis direction. In addition, the measuring device 160 can rotate using the X axis or the Y axis as the rotation axis. Therefore, the measuring device 160 may irradiate the laser beam radiated from the light source unit 165 to the measurement target antenna 120 and may also irradiate the probe antenna 140.

위치 제어부(미도시)는 레이저 광선을 이용하여 측정 장치(160)의 광원부(165)에서 측정 대상 안테나(120)까지의 거리, 레이저 광선과 지면(XZ 평면)이 이루는 각도, 레이저 광선과 지면(XZ 평면)과 수직한 제 1 수직면(YZ 평면) 또는 제 2 수직면(XY 평면)이 이루는 각도를 계산하고, 계산된 거리와 각도들을 이용하여 측정 대상 안테나(120)의 위치를 계산한다. 여기서, 측정 대상 안테나(120)의 위치는 측정 장치(160)에서 방사된 레이저 광선이 측정 대상 안테나(120)에서 지시하는 위치를 말한다. 또한, 위치 제어부는 위와 같은 방법을 이용하여 프로브 안테나(140)의 위치를 계산한다.The position controller (not shown) may use a laser beam to measure the distance from the light source unit 165 of the measuring device 160 to the measurement target antenna 120, the angle formed by the laser beam and the ground (XZ plane), the laser beam and the ground ( The angle formed by the first vertical plane (YZ plane) or the second vertical plane (XY plane) perpendicular to the XZ plane) is calculated, and the position of the measurement target antenna 120 is calculated using the calculated distances and angles. Here, the position of the measurement target antenna 120 refers to a position that the laser beam radiated from the measurement device 160 indicates from the measurement target antenna 120. In addition, the position controller calculates the position of the probe antenna 140 using the above method.

또한, 위치 제어부는 측정 대상 안테나(120)의 위치와 프로브 안테나(140)의 위치를 이용하여 측정 대상 안테나(120)와 프로브 안테나(140)를 정렬한다. 이러한 측정 대상 안테나(120)와 프로브 안테나(140)를 정렬하는 방법에 대하여는 이하에서 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 설명하겠다.In addition, the position controller aligns the measurement target antenna 120 and the probe antenna 140 by using the position of the measurement target antenna 120 and the position of the probe antenna 140. A method of aligning the measurement target antenna 120 and the probe antenna 140 will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1 및 도 2에 도시된 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템을 이용하여 측정 대상 안테나(120)와 프로브 안테나(140)를 정렬하는 방법을 설명하기에 앞서, 측정 대상 안테나(120)가 개구면 안테나인 경우에, 안테나 장착 장치(100)에 부착된 측정 대상 안테나(120)의 개구면이 프로브 안테나(140)의 개구면 과 평행하는지를 확인해야 한다. 이하에서 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다.Before the method of aligning the measurement target antenna 120 and the probe antenna 140 by using the antenna measurement system according to an embodiment of the present invention shown in FIGS. 1 and 2, the measurement target antenna 120 is described. If is an aperture antenna, it should be checked whether the aperture of the measurement target antenna 120 attached to the antenna mounting apparatus 100 is parallel to the aperture of the probe antenna 140. Hereinafter, with reference to the drawings will be described in detail.

도 3 내지 도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템을 이용하여 측정 대상 안테나(120)의 개구면 기울기 및 회전각을 측정하고, 측정된 기울기 및 회전각을 바탕으로 측정 대상 안테나(120)를 정렬하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.3 to 5 are measured the inclination and rotation angle of the opening plane of the measurement target antenna 120 using the antenna measurement system according to an embodiment of the present invention, and the measurement target antenna (based on the measured tilt and rotation angle) 120 is a view for explaining how to align.

먼저 사용자는 측정 대상 안테나(120)를 안테나 장착 장치(100)에 부착시킨다. 이 때, 사용자는 프로브 안테나(140)와 측정 대상 안테나(120)의 중심점을 대략적으로 일치시키도록 하는 것이 바람직하다. 그리고 사용자는 미리 측정 대상 안테나(120)와 프로브 안테나(140)의 개구면간 거리를 결정하고, 프로브 안테나(140)와 측정 대상 안테나(120)를 미리 특정된 개구면간 거리만큼 이격시킨다.First, the user attaches the measurement target antenna 120 to the antenna mounting apparatus 100. At this time, it is preferable that the user approximately matches the center point of the probe antenna 140 and the measurement target antenna 120. In addition, the user determines a distance between the opening surfaces of the measurement target antenna 120 and the probe antenna 140 and spaces the probe antenna 140 and the measurement target antenna 120 by a predetermined distance between the opening surfaces.

다음으로, 측정 장치(160)를 도 1에 도시된 바와 같이, 프로브 안테나(140)의 개구면과 측정 대상 안테나(120)의 개구면에서 동일 거리에 있는 지점에 가깝게 위치시킨다. 그리고 측정 장치(160)의 광원부(165)에서 방사되는 레이저 광선을 지면과 평행하도록 조정한다.Next, as shown in FIG. 1, the measuring device 160 is positioned close to a point at the same distance from the opening face of the probe antenna 140 and the opening face of the measurement target antenna 120. The laser beam emitted from the light source unit 165 of the measuring device 160 is adjusted to be parallel to the ground.

그런 후, 도 3 및 도 5에 도시된 바와 같이, 측정 대상 안테나(120)의 제 1 설정점(320)에 레이저 광선을 조사한다. 그런 후, 위치 제어부에서는 광원부(165)를 기준점으로 하여, 기준점에서 제 1 설정점(320)까지의 거리(d1), 지면과 레이저 광선 사이의 각도(a1) 및 제 2 평면(XY 평면)과 레이저 광선 사이의 각도(b1)를 계산한다. 여기서, 제 2 평면(XY 평면)은 지면(XZ 평면)과 수직한 평면이고, 제 1 수직면(YZ 평면)과도 수직한 평면이다. 그런 후, 위치 제어부에서는 거리(d1), 각 도(a1) 및 각도(b1)를 이용하여 기준점을 영점으로 한 제 1 설정점(320)의 좌표(x1, y1, z1)를 계산한다.3 and 5, the laser beam is irradiated to the first set point 320 of the antenna 120 to be measured. Then, the position control unit uses the light source unit 165 as a reference point, the distance d1 from the reference point to the first set point 320, the angle a1 between the ground surface and the laser beam, and the second plane (XY plane); The angle b1 between the laser beams is calculated. Here, the second plane (XY plane) is a plane perpendicular to the ground (XZ plane) and is also a plane perpendicular to the first vertical plane (YZ plane). Thereafter, the position controller calculates the coordinates x1, y1, and z1 of the first set point 320 with the reference point as zero using the distance d1, the angle a1, and the angle b1.

다음으로, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 측정 대상 안테나(120)의 제 2 설정점(420)에 레이저 광선을 조사한다. 그런 후, 위치 제어부에서는 광원부(165)를 기준점으로 하여, 기준점에서 제 2 설정점(420)까지의 거리(d2), 지면과 레이저 광선 사이의 각도(a2) 및 제 2 평면(XY 평면)과 레이저 광선 사이의 각도(b2)를 계산한다. 그런 후, 위치 제어부에서는 거리(d2), 각도(a2) 및 각도(b2)를 이용하여 기준점을 영점으로 한 제 2 설정점(420)의 좌표(x2, y2, z2)를 계산한다.Next, as shown in FIGS. 4 and 5, the laser beam is irradiated to the second set point 420 of the antenna 120 to be measured. Then, the position control unit uses the light source unit 165 as a reference point, the distance d2 from the reference point to the second set point 420, the angle a2 between the ground surface and the laser beam, and the second plane (XY plane) and The angle b2 between the laser beams is calculated. Then, the position controller calculates the coordinates (x2, y2, z2) of the second set point 420 with the reference point as zero using the distance d2, the angle a2 and the angle b2.

그러면, 위치 제어부에서는 제 1 설정점(320)의 좌표(x1, y1, z1)와 제 2 설정점(420)의 좌표(x2, y2, z2)를 이용하여 측정 대상 안테나(120)의 개구면 기울기와 회전각을 계산한다. 이렇게 계산된 기울기와 회전각을 이용하여 위치 제어부에서는 안테나 장착 장치(100)를 제어하여 측정 대상 안테나(120)의 개구면이 XY 평면과 평행하도록 정렬한다.Then, the position control unit uses the coordinates (x1, y1, z1) of the first set point 320 and the coordinates (x2, y2, z2) of the second set point 420 to measure the opening surface of the antenna 120 to be measured. Calculate the tilt and rotation angle. Using the calculated tilt and rotation angle, the position controller controls the antenna mounting apparatus 100 to align the opening surface of the antenna 120 to be measured to be parallel to the XY plane.

이하에서는 도 6 내지 도 9를 참조하여 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템을 이용하여 측정 대상 안테나(120)와 프로브 안테나(140)를 정렬하는 방법을 설명하겠다.Hereinafter, a method of aligning the measurement target antenna 120 and the probe antenna 140 using the antenna measurement system according to an exemplary embodiment of the present disclosure will be described with reference to FIGS. 6 to 9.

도 6 내지 도 9는 도 1 및 도 2에 도시된 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템을 이용하여 측정 대상 안테나와 프로브 안테나를 정렬하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.6 to 9 are diagrams for describing a method of aligning a measurement target antenna and a probe antenna using an antenna measurement system according to an exemplary embodiment shown in FIGS. 1 and 2.

먼저, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 사용자는 측정 장치(160)의 광원 부(165) 방사되는 레이저 광선을 측정 대상 안테나(120)의 제 3 설정점(620)으로 조사한다. 여기서, 제 3 설정점(620) 위치는 측정 대상 안테나(120)의 형태에 따라 달라진다. 예를 들어 설명하면, 측정 대상 안테나(120)가 일반적인 다이폴 안테나인 경우에는 다이폴 안테나의 중심점을 설정점으로 설정한다. 하지만, 도 3에 도시된 바와 같이, 측정 대상 안테나(120)가 개구면 안테나인 경우에는 개구면 안테나의 중심은 공간상의 점이므로, 레이저 광선을 방사하여 거리 측정이 가능한 개구면 상의 지점을 제 3 설정점(620)으로 한다. 이하에서는 측정 대상 안테나(120)가 개구면 안테나인 경우를 예정하여 설명한다.First, as illustrated in FIGS. 6 and 7, the user irradiates the laser beam radiated from the light source unit 165 of the measurement apparatus 160 to the third set point 620 of the antenna to be measured 120. Here, the position of the third set point 620 depends on the shape of the antenna 120 to be measured. For example, when the measurement target antenna 120 is a general dipole antenna, the center point of the dipole antenna is set as a set point. However, as shown in FIG. 3, when the measurement target antenna 120 is an aperture antenna, since the center of the aperture antenna is a spatial point, a third point on the aperture surface at which the distance can be measured by emitting a laser beam is emitted. Set point 620. Hereinafter, a case where the measurement target antenna 120 is an aperture antenna will be described.

이렇게 광원부(165)에서 방사되는 레이저 광선을 측정 대상 안테나(120)의 제 3 설정점(620)으로 조사하면, 위치 제어부에서는 제 3 설정점(620)에 반사되어 측정 장치(160)로 수신되는 레이저 광선을 이용하여 광원부(165)에서 제 3 설정점까지의 거리(d3), 지면과 레이저 광선 사이의 각도(a3) 및 제 2 평면(XY 평면)과 레이저 광선 사이의 각도(b3)를 계산한다. 그러면, 위치 제어부에서는 계산된 거리(d3), 각도(a3) 및 각도(b3)를 이용하여 광원부(165)를 기준점으로 한 제 3 설정점(620)의 좌표(x3, y3, z3)를 계산한다. 이렇게 계산된 제 3 설정점(620)의 좌표를 위치 제어부에서는 오프셋(offset) 값으로 설정하여 저장한다.When the laser beam emitted from the light source unit 165 is irradiated to the third set point 620 of the measurement target antenna 120, the position controller is reflected by the third set point 620 and received by the measuring device 160. The distance d3 from the light source unit 165 to the third set point, the angle a3 between the ground and the laser beam, and the angle b3 between the second plane (XY plane) and the laser beam are calculated using the laser beam. do. Then, the position controller calculates coordinates (x3, y3, z3) of the third set point 620 based on the light source unit 165 using the calculated distance d3, angle a3, and angle b3. do. The coordinates of the third set point 620 calculated as described above are stored as an offset value by the position controller.

다음으로, 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 사용자는 측정 장치(160)의 광원부(165) 방사되는 레이저 광선을 프로브 안테나(120)의 제 4 설정점(720)으로 조사한다. 여기서, 제 4 설정점(720) 위치는 프로브 안테나(140)의 형태에 따라 달라진다. 예를 들어 설명하면, 프로브 안테나(140)가 일반적인 다이폴 안테나인 경우 에는 다이폴 안테나의 중심점을 설정점으로 설정한다. 하지만, 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 프로브 안테나(140)가 개구면 안테나인 경우에는 개구면 안테나의 중심은 공간상의 점이므로, 레이저 광선을 방사하여 거리 측정이 가능한 개구면 상의 지점을 제 4 설정점(720)으로 한다. 이하에서는 프로브 안테나(140)가 개구면 안테나인 경우를 예정하여 설명한다.Next, as illustrated in FIGS. 8 and 9, the user irradiates the laser beam emitted from the light source unit 165 of the measuring device 160 to the fourth set point 720 of the probe antenna 120. Here, the position of the fourth set point 720 depends on the shape of the probe antenna 140. For example, when the probe antenna 140 is a general dipole antenna, the center point of the dipole antenna is set as a set point. However, as shown in FIGS. 8 and 9, when the probe antenna 140 is an aperture antenna, the center of the aperture antenna is a spatial point, and thus, a point on the aperture surface where the distance can be measured by radiating a laser beam is provided. A fourth set point 720 is used. Hereinafter, a case where the probe antenna 140 is an aperture antenna will be described.

이렇게 광원부(165)에서 방사되는 레이저 광선을 프로브 안테나(140)의 제 4 설정점(720)으로 조사하면, 위치 제어부에서는 제 4 설정점(720)에 반사되어 측정 장치(160)로 수신되는 레이저 광선을 이용하여 광원부(165)에서 제 4 설정점까지의 거리(d4), 지면과 레이저 광선 사이의 각도(a4) 및 제 2 평면(XY 평면)과 레이저 광선 사이의 각도(b4) 를 계산한다. 그러면, 위치 제어부에서는 계산된 거리(d4), 각도(a4) 및 각도(b4)를 이용하여 광원부(165)를 기준점으로 한 제 4 설정점(720)의 좌표(x4, y4, z4)를 계산한다. 이렇게 계산된 제 4 설정점(720)의 좌표를 위치 제어부에서는 오프셋(offset) 값으로 설정하여 저장한다.When the laser beam radiated from the light source unit 165 is irradiated to the fourth set point 720 of the probe antenna 140, the position controller reflects the fourth set point 720 and is received by the measuring device 160. The distance d4 from the light source unit 165 to the fourth set point, the angle a4 between the ground and the laser beam, and the angle b4 between the second plane (XY plane) and the laser beam are calculated using the light beam. . Then, the position controller calculates the coordinates (x4, y4, z4) of the fourth set point 720 based on the light source unit 165 using the calculated distance d4, angle a4, and angle b4. do. The position control unit calculates the coordinates of the fourth set point 720 as an offset value and stores the coordinates.

다음으로, 위치 제어부는 저장된 측정 대상 안테나(120)의 제 3 설정점(620) 좌표(x3, y3, z3)와 프로브 안테나(140)의 제 4 설정점(720) 좌표(x4, y4, z4)를 이용하여 측정 대상 안테나(120)의 중심점 좌표(x3', y3', z3')와 프로브 안테나(140)의 중심점 좌표(x4', y4', z4')를 계산한다. 측정 대상 안테나(120)의 중심점 좌표(x3', y3', z3')와 프로브 안테나(140)의 중심점 좌표(x4', y4', z4')를 계산하는 방법을 구체적으로 설명하면, 위치 제어부에서는 측정 대상 안테나(120)의 제 3 설정점(620)에서 측정 대상 안테나(120)의 중심점 사이의 거리와, 프로브 안 테나(140)의 제 4 설정점(720)에서 프로브 안테나(140)의 중심점 사이의 거리를 미리 사용자에 의해 입력받아 저장하고 있다. 따라서 위치 제어부는 미리 저장된 측정 대상 안테나(120)의 제 3 설정점(620)에서 측정 대상 안테나(120)의 중심점 사이의 거리와, 측정 대상 안테나(120)의 제 3 설정점(620) 좌표(x3, y3, z3)를 이용하여 측정 대상 안테나(120)의 중심점 좌표(x3', y3', z3')를 계산할 수 있다. 이와 같은 방법으로 위치 제어부에서는 프로브 안테나(140)의 중심점 좌표(x4', y4', z4')를 계산한다.Next, the position control unit stores the coordinates (x3, y3, z3) of the third set point 620 of the stored measurement target antenna 120 and the coordinates (x4, y4, z4) of the fourth set point 720 of the probe antenna 140. ), The center point coordinates (x3 ', y3', z3 ') of the measurement target antenna 120 and the center point coordinates (x4', y4 ', z4') of the probe antenna 140 are calculated. The method of calculating the center point coordinates (x3 ', y3', z3 ') of the measurement target antenna 120 and the center point coordinates (x4', y4 ', z4') of the probe antenna 140 will be described in detail. In FIG. 3, the distance between the third set point 620 of the antenna 120 to be measured and the center point of the antenna 120 to be measured and the probe antenna 140 at the fourth set point 720 of the probe antenna 140 are described. The distance between the center points is input by the user in advance and stored. Therefore, the position controller is configured to store the distance between the center point of the measurement target antenna 120 and the third set point 620 of the measurement target antenna 120 and the coordinates of the third set point 620 of the measurement target antenna 120. By using x3, y3, and z3, the center point coordinates (x3 ', y3', z3 ') of the measurement target antenna 120 may be calculated. In this way, the position controller calculates the center point coordinates (x4 ', y4', z4 ') of the probe antenna 140.

그러면, 위치 제어부는 x3'과 x4', y3'과 y4'가 같아지도록 프로브 안테나(140)를 이동시킨다. 또한, 위치 제어부는 안테나 장착 장치(100)를 제어하여 사용자에 의해 미리 정해진 개구면간 거리를 만족시키도록 측정 대상 안테나(120)를 정렬한다. 또한, 앞서 설명한 과정을 반복하여 올바르게 정렬이 되었는지 재차 확인할 수 있다.Then, the position controller moves the probe antenna 140 such that x3 'and x4', y3 'and y4' are the same. In addition, the position controller controls the antenna mounting apparatus 100 to align the antenna 120 to be measured to satisfy the distance between the opening surfaces predetermined by the user. In addition, the above-described process may be repeated to check whether the alignment is correct.

이와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템은, 측정 대상 안테나(120)와 프로브 안테나(140)를 정렬시킬 수 있다. 또한, 측정 대상 안테나(120)가 개구면 안테나인 경우에 개구면의 기울기와 회전각을 측정하고, 측정된 기울기와 회전각을 이용하여 측정 대상 안테나(120)의 개구면을 프로브 안테나(140)의 개구면과 평행하도록 정렬할 수 있다.As described above, the antenna measurement system according to an exemplary embodiment may align the measurement target antenna 120 and the probe antenna 140. In addition, when the measurement target antenna 120 is an aperture antenna, the inclination and rotation angle of the aperture surface are measured, and the probe antenna 140 uses the measured slope and rotation angle to measure the opening surface of the measurement target antenna 120. It can be aligned to be parallel to the opening surface of the.

또한, 본 발명의 일 실시 예에 다른 안테나 측정 시스템은, 도 5에 도시된 바와 같이, 측정 대상 안테나(120)의 개구면 지름이 측정 장치(160)가 X축으로 이동할 수 있는 거리(d)보다 큰 경우에도, 측정 장치(160)는 X축 또는 Y축을 회전축 으로 하여 회전이 가능하므로, 측정 대상 안테나(120)를 정렬할 수 있다.In another antenna measuring system according to an embodiment of the present invention, as shown in FIG. 5, the diameter d of the opening surface of the antenna 120 to be measured may be moved by the measuring device 160 along the X axis. Even larger, the measurement device 160 can be rotated by using the X-axis or Y-axis as the rotation axis, it is possible to align the antenna 120 to be measured.

이제까지 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시 예를 중심으로 살펴보았다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 실시 예는 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.So far I looked at the center of the preferred embodiment for the present invention. Those skilled in the art will appreciate that the present invention can be implemented in a modified form without departing from the essential features of the present invention. The disclosed embodiments should, therefore, be considered in an illustrative rather than a restrictive sense. The scope of the present invention is shown in the claims rather than the foregoing description, and all differences within the scope will be construed as being included in the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템의 정면도이다.1 is a front view of an antenna measurement system according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템의 평면도이다.2 is a plan view of an antenna measurement system according to an exemplary embodiment.

도 3 내지 도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템을 이용하여 측정 대상 안테나(120)를 정렬하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.3 to 5 are views for explaining a method of aligning the antenna to be measured 120 using the antenna measurement system according to an embodiment of the present invention.

도 6 내지 도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 안테나 측정 시스템을 이용하여 측정 대상 안테나와 프로브 안테나를 정렬하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.6 to 9 are diagrams for describing a method of aligning a measurement target antenna and a probe antenna using an antenna measurement system according to an exemplary embodiment.

Claims (6)

안테나 정렬 시스템에 있어서,In the antenna alignment system, 전자파의 방사가 가능한 측정 대상 안테나를 탈착할 수 있는 안테나 장착 장치와,An antenna mounting apparatus which can attach and detach the antenna to be measured which can radiate electromagnetic waves, 상기 측정 대상 안테나로부터 방사되는 전자파를 수신하는 프로브 안테나와,A probe antenna for receiving electromagnetic waves emitted from the measurement target antenna; 상기 안테나 장착 장치와 상기 프로브 안테나 사이의 특정 위치에서 상기 측정 대상 안테나 또는 상기 프로브 안테나로 레이저 광선을 방사하는 광원부를 포함하고, 상기 측정 대상 안테나 또는 상기 프로브 안테나에서 반사된 상기 레이저 광선을 수신하는 측정 장치와,A measurement unit including a light source unit emitting a laser beam to the measurement target antenna or the probe antenna at a specific position between the antenna mounting device and the probe antenna, and receiving the laser beam reflected from the measurement target antenna or the probe antenna Device, 상기 측정 장치로 수신된 레이저 광선을 이용하여 상기 광원부로부터 상기 측정 대상 안테나 또는 상기 프로브 안테나까지의 거리와 각도를 계산하고, 상기 계산된 거리와 각도를 이용하여 상기 측정 대상 안테나 또는 상기 프로브 안테나의 위치정보를 계산하고, 상기 계산된 위치정보들을 이용하여 상기 측정 대상 안테나 또는 상기 프로브 안테나를 정렬하는 위치 제어부를 포함하는, 안테나 정렬 시스템.The distance and the angle from the light source unit to the measurement target antenna or the probe antenna are calculated using the laser beam received by the measurement device, and the position of the measurement target antenna or the probe antenna using the calculated distance and angle. And a position controller which calculates information and aligns the measurement target antenna or the probe antenna using the calculated position information. 제 1 항에 있어서, 상기 위치 제어부는,The method of claim 1, wherein the position control unit, 상기 광원부로부터 상기 측정 대상 안테나로 조사되는 제 1 레이저 광선이 지시하는 제 1 설정점과, 상기 광원부로부터 상기 측정 대상 안테나로 조사되는 제 2 레이저 광선이 지시하는 제 2 설정점의 위치정보를 계산하고, 상기 제 1 설정점과 상기 제 2 설정점의 위치정보를 이용하여 상기 측정 대상 안테나의 개구면 기울기 및 회전각을 계산하고, 상기 프로브 안테나의 개구면과 평행하도록 상기 측정 대상 안테나를 정렬하는, 안테나 정렬 시스템.Calculating position information of a first set point indicated by a first laser beam radiated from the light source unit to the measurement target antenna and a second set point indicated by a second laser beam radiated from the light source unit to the measurement target antenna; Calculating an opening slope and a rotation angle of the antenna to be measured by using position information of the first set point and the second set point, and aligning the antenna to be measured to be parallel to the opening of the probe antenna. Antenna alignment system. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 위치 제어부는,The method of claim 1 or 2, wherein the position control unit, 상기 광원부로부터 상기 측정 대상 안테나로 조사되는 제 3 레이저 광선이 지시하는 제 3 설정점의 위치정보와, 미리 저장된 상기 측정 대상 안테나의 중심점부터 상기 제 3 설정점까지의 거리를 이용하여 상기 측정 대상 안테나의 중심점을 계산하고,The measurement target antenna by using position information of a third set point indicated by a third laser beam radiated from the light source unit to the measurement target antenna and a distance from a center point of the measurement target antenna to the third set point; Calculate the center point of, 상기 광원부로부터 상기 프로브 안테나로 조사되는 제 4 레이저 광선이 지시하는 제 4 설정점의 위치정보와, 미리 저장된 상기 프로브 안테나의 중심점부터 상기 제 4 설정점까지의 거리를 이용하여 상기 프로브 안테나의 중심점을 계산하고,A center point of the probe antenna is determined by using position information of a fourth set point indicated by a fourth laser beam radiated from the light source unit to the probe antenna and a distance from a center point of the probe antenna stored in advance to the fourth set point. Calculate, 상기 측정 대상 안테나의 중심점과 상기 프로브 안테나의 중심점이 일 직선 상에 위치하도록 상기 측정 대상 안테나와 상기 프로브 안테나를 정렬하는, 안테나 정렬 시스템.And aligning the antenna to be measured with the probe antenna such that the center point of the antenna to be measured and the center point of the probe antenna are on a straight line. 안테나 정렬 방법에 있어서,In the antenna alignment method, 전자파의 방사가 가능한 측정 대상 안테나를 안테나 장착 장치에 부착하는 과정과,Attaching a measurement target antenna capable of radiating electromagnetic waves to an antenna mounting apparatus; 상기 안테나 장착 장치와 상기 전자파를 수신하는 프로브 안테나 사이의 특정 위치에서 상기 측정 대상 안테나 또는 상기 프로브 안테나로 레이저 광선을 방사하는 과정과,Radiating a laser beam to the measurement target antenna or the probe antenna at a specific position between the antenna mounting device and the probe antenna receiving the electromagnetic wave; 상기 측정 대상 안테나 또는 상기 프로브 안테나에서 반사된 상기 레이저 광선을 수신하는 과정과,Receiving the laser beam reflected from the measurement target antenna or the probe antenna; 상기 레이저 광선을 방사하는 광원부로부터 상기 측정 대상 안테나 또는 상기 프로브 안테나까지의 거리와 각도를 계산하여 상기 측정 대상 안테나의 위치정보와 상기 프로브 안테나의 위치정보를 계산하는 과정과,Calculating position information of the antenna to be measured and position information of the probe antenna by calculating a distance and an angle from the light source unit emitting the laser beam to the measurement target antenna or the probe antenna; 상기 계산된 위치정보들을 이용하여 상기 측정 대상 안테나와 상기 프로브 안테나를 정렬하는 과정을 포함하는, 안테나 정렬 방법.And aligning the probe antenna with the probe antenna using the calculated position information. 제 4 항에 있어서, 상기 측정 대상 안테나와 상기 프로브 안테나를 정렬하는 과정은,The method of claim 4, wherein the aligning the antenna to be measured with the probe antenna comprises: 상기 광원부로부터 상기 측정 대상 안테나로 조사되는 제 1 레이저 광선이 지시하는 제 1 설정점과, 상기 광원부로부터 상기 측정 대상 안테나로 조사되는 제 2 레이저 광선이 지시하는 제 2 설정점의 위치정보를 계산하는 과정과,Calculating position information of a first set point indicated by a first laser beam radiated from the light source unit to the measurement target antenna and a second set point indicated by a second laser beam radiated from the light source unit to the measurement target antenna; Process, 상기 제 1 설정점과 상기 제 2 설정점의 위치정보를 이용하여 상기 측정 대상 안테나의 개구면 기울기와 회전각을 계산하는 과정과,Calculating an opening slope and a rotation angle of the antenna to be measured by using position information of the first set point and the second set point; 상기 프로브 안테나의 개구면과 평행하도록 상기 측정 대상 안테나를 정렬하는, 안테나 정렬 방법.And aligning the antenna to be measured so as to be parallel to an opening surface of the probe antenna. 제 4 항 또는 제 5 항에 있어서, 상기 측정 대상 안테나와 상기 프로브 안테나를 정렬하는 과정은,The method of claim 4 or 5, wherein the aligning the probe antenna with the probe antenna comprises: 상기 광원부로부터 상기 측정 대상 안테나로 조사되는 제 3 레이저 광선이 지시하는 제 3 설정점의 위치정보와, 미리 저장된 상기 측정 대상 안테나의 중심점부터 상기 제 3 설정점까지의 거리를 이용하여 상기 측정 대상 안테나의 중심점을 계산하는 과정과,The measurement target antenna by using position information of a third set point indicated by a third laser beam radiated from the light source unit to the measurement target antenna and a distance from a center point of the measurement target antenna to the third set point; The process of calculating the center point of, 상기 광원부로부터 상기 프로브 안테나로 조사되는 제 4 레이저 광선이 지시하는 제 4 설정점의 위치정보와, 미리 저장된 상기 프로브 안테나의 중심점부터 상기 제 4 설정점까지의 거리를 이용하여 상기 프로브 안테나의 중심점을 계산하는 과정과,A center point of the probe antenna is determined by using position information of a fourth set point indicated by a fourth laser beam radiated from the light source unit to the probe antenna and a distance from a center point of the probe antenna stored in advance to the fourth set point. Calculation process, 상기 측정 대상 안테나의 중심점과 상기 프로브 안테나의 중심점이 일 직선 상에 위치하도록 상기 측정 대상 안테나와 상기 프로브 안테나를 정렬하는 과정을 포함하는, 안테나 정렬 방법.And aligning the antenna to be measured with the probe antenna such that the center point of the antenna to be measured and the center point of the probe antenna are located on one straight line.
KR1020080119410A 2008-11-28 2008-11-28 System and method for antenna alignment KR101065479B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080119410A KR101065479B1 (en) 2008-11-28 2008-11-28 System and method for antenna alignment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080119410A KR101065479B1 (en) 2008-11-28 2008-11-28 System and method for antenna alignment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100060700A true KR20100060700A (en) 2010-06-07
KR101065479B1 KR101065479B1 (en) 2011-09-19

Family

ID=42361586

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080119410A KR101065479B1 (en) 2008-11-28 2008-11-28 System and method for antenna alignment

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101065479B1 (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101322416B1 (en) * 2012-11-16 2013-10-28 한국표준과학연구원 Antenna alignment apparatus
CN108196133A (en) * 2017-12-26 2018-06-22 北京无线电计量测试研究所 A kind of adjustment system and method for three-axle table and Spherical surface scanning device spacial alignment
KR102122761B1 (en) * 2019-06-25 2020-06-15 주식회사 제이씨에프테크놀러지 Shuttle Apparatus of Linear Movable Antenna
KR102137260B1 (en) * 2020-01-23 2020-07-23 국방과학연구소 Movable test apparatus of antenna
KR20210061213A (en) * 2019-11-19 2021-05-27 엘아이지넥스원 주식회사 System and method for planar array antenna alignment
KR102546338B1 (en) * 2022-12-26 2023-06-21 국방과학연구소 Device for electromagnetic performance analysis

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101498153B1 (en) * 2013-06-24 2015-03-04 주식회사 이레테크 Electromagnetic measurement system with positioning part

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US711328A (en) * 1902-06-25 1902-10-14 Toledo Asphalt Patcher Company Sand-drier.
KR20020020529A (en) * 2000-09-09 2002-03-15 정연태 Alignment apparatus and method for microwave antenna using laser beam
KR100839629B1 (en) 2006-12-29 2008-06-19 한국기초과학지원연구원 A removable laser pointer for alignment of microwave horn-antenna system
KR100864832B1 (en) 2007-04-24 2008-10-23 한국전자통신연구원 Carmer based positioner and method for near-field antenna measurement, and near-field measurement system

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101322416B1 (en) * 2012-11-16 2013-10-28 한국표준과학연구원 Antenna alignment apparatus
CN108196133A (en) * 2017-12-26 2018-06-22 北京无线电计量测试研究所 A kind of adjustment system and method for three-axle table and Spherical surface scanning device spacial alignment
CN108196133B (en) * 2017-12-26 2021-03-16 北京无线电计量测试研究所 System and method for adjusting space alignment of three-axis turntable and spherical scanning device
KR102122761B1 (en) * 2019-06-25 2020-06-15 주식회사 제이씨에프테크놀러지 Shuttle Apparatus of Linear Movable Antenna
KR20210061213A (en) * 2019-11-19 2021-05-27 엘아이지넥스원 주식회사 System and method for planar array antenna alignment
KR102137260B1 (en) * 2020-01-23 2020-07-23 국방과학연구소 Movable test apparatus of antenna
KR102546338B1 (en) * 2022-12-26 2023-06-21 국방과학연구소 Device for electromagnetic performance analysis

Also Published As

Publication number Publication date
KR101065479B1 (en) 2011-09-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101065479B1 (en) System and method for antenna alignment
US7474256B2 (en) Position detecting system, and transmitting and receiving apparatuses for the position detecting system
US6813015B2 (en) Adjusting device with an optical regulating device having a reflector
EP3864430B1 (en) Radome measuring system and method
JP7337705B2 (en) Method and measurement system for accurately evaluating a device under test
US8410987B2 (en) Method and device for measuring a radiation field
CN109520425B (en) Precise tracking error testing device and testing method
US20110115683A1 (en) High-Frequency Measurement Setup and Method for Measuring a High-Frequency Test Object
US8171771B2 (en) Calibration for a nondestructive material testing system
CN108955537A (en) A kind of system and method for achievable off axis reflector mirror height position precise measurement
US9568593B2 (en) Method, system and calibration target for the automatic calibration of an imaging antenna array
CN104037486A (en) Antenna stand of anechoic chamber testing system of quasi single station
CN112946588B (en) Test platform and channel error determination method
CN110954755A (en) Automatic measuring system for antenna radiation pattern
TWI674416B (en) An automatic system for antenna measurement
US7088287B2 (en) Antenna aligning apparatus for near-field measurement
KR101322416B1 (en) Antenna alignment apparatus
CN110596628A (en) Far-field antenna test system alignment method
CN112578327B (en) Calibration method, device and storage medium of spherical scanning test system
US7091922B2 (en) Laser alignment apparatus and method
JPH11304860A (en) Measurement device
CN110954882A (en) Radar installation calibration device and calibration method thereof
JP5544701B2 (en) Aiming method of radio wave type object detection device
CN111198304A (en) Automation system for measuring antenna
CN211855277U (en) Indoor visual axis azimuth angle measuring device utilizing laser projection transmission

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee