KR20100037909A

KR20100037909A - 무선 장비 테스트 장치

Info

Publication number: KR20100037909A
Application number: KR1020080097249A
Authority: KR
Inventors: 이한신
Original assignee: 삼성전기주식회사
Priority date: 2008-10-02
Filing date: 2008-10-02
Publication date: 2010-04-12
Also published as: KR101022908B1

Abstract

본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치는 무선 장비 테스트를 위해 무선주파수(RF) 신호를 송신하는 시험 대상 장비(DUT)와, 상기 시험 대상 장비(DUT)로부터 송신된 상기 무선주파수(RF) 신호를 수신하여 이를 분석하고 검증하기 위한 계측기와, 상기 계측기에 다수의 DUT를 연결하기 위한 분배기와, 그리고 상기 시험 대상 장비(DUT) 및 상기 계측기를 제어하기 위한 제어 신호를 송신하는 컴퓨터를 포함하여 구성된다.

무선랜, 블루투스, 테스트 장비, 무선 계측기, DUT

Description

무선 장비 테스트 장치{TEST DEVICE FOR WIRELESS EQUIPMENT}

본 발명은 무선 장비 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 자세하게는 계측기에 두 대 이상의 시험 대상 장비를 연결하여 동시에 테스트가 가능하도록 하는 무선 장비 테스트 장치에 관한 것이다.

복잡한 전자, 전자-기계 및 기계 제품은 일반적으로 자동화된 테스트 장치를 사용하여 테스트한다. 이러한 테스트는, 시험 대상 장비(Device Under Test: DUT)에 수행할 수 있는 다양한 작동을 통해서 실행되고, 각 작동이 적절하게 수행되는지 여부에 대해 기록하는 타당성 테스트와, DUT를 온도, 압력 및 습도의 다양한 조합에 노출시키고 그 결과를 기록하는 환경 테스트와, 생산성 테스트 등을 포함할 수 있다.

일반적으로, DUT 및 DUT 상에 환경 및 여타 제약 조건을 제공하는 장치는 모두 전자적으로 제어된다. 최근 10년여 동안, 본 기술 분야에서 '테스트 실행' 프로그램으로 지칭되는 다양한 자동화 테스트를 제어할 수 있는 컴퓨터화된 프로그램이 개발되어 왔다.

일반적으로, 테스트는 DUT와 비교되는 일단의 규칙 또는 사양으로 정의된다. 규칙 또는 사양은 일반적으로, 테스트가 수행되는 조건인 환경적 파라미터(예, 온도, 습도, 압력 및 파라미터가 적용되는 시간 주기 등)뿐만 아니라 DUT에 인가된 전기 및 기계적 파라미터(예, 전압 전력, 특정한 제어 취급법 및 장치 부품 등)로 정의되는 다양한 입력(input)을 포함한다. 각각의 테스트는 DUT의 각 요소에 인가된 파라미터의 여러 조합을 포함할 것이며, 종종 여러 번 반복될 것이다.

파라미터의 각 조합은 하나 이상의 데이터 포인트(datapoints)(이들은 기록되어 사양을 정의하는 수치적 한계 또는 불리언(boolean) 한계와 비교됨)를 생성하는 측정치를 정의할 것이다.

그러므로, 장비 및 제품이 더 복잡해질수록, 전자 테스트 프로그램은 매우 길고 복잡해져서, 테스트를 완료하기 위해서는 종종 며칠, 심지어 일주일 또는 그 이상의 기간이 소요되기도 한다.

도 1은 종래의 무선 장비 테스트 장치(10)의 일례를 도시한다. 도 1을 참조하면, 종래의 무선 장비 테스트 장치(10)는 컴퓨터(PC)(11), 계측기(12), 및 시험 대상 장비(Device Under Test: DUT)(13)로 구성된다.

도 1을 참조하면, 종래의 테스트 장비(예, 에질런트 테크놀로지스사(Agilent Technologies)의 N4010 등)에는 하나의 무선(RF) 포트가 구비되어 있으며, 이 무선(RF) 포트에 시험 대상 장비(DUT)를 연결하여 테스트를 실행한다.

따라서, 종래의 계측기를 이용하면 한 번에 한 대의 시험 대상 장비(DUT)만을 테스트할 수 있다.

따라서, 본 발명은 위와 같은 문제를 해결하기 위하여 분배기(divider)를 이용하여 한 대의 계측기에 두 대 이상의 시험 대상 장비(DUT)를 연결하여 상기 테스트 장비를 휴지 기간 없이 계속 가동시킴으로써 동일한 시간 동안 보다 많은 시험 대상 장비(DUT)를 테스트 할 수 있는 무선 장비 테스트 장치를 제공하는 데 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치는 무선 장비 테스트를 위해 무선주파수(RF) 신호를 송신하는 시험 대상 장비(DUT)와, 상기 시험 대상 장비(DUT)로부터 송신된 상기 무선주파수(RF) 신호를 수신하여 이를 분석하고 검증하기 위한 계측기와, 상기 계측기에 다수의 DUT를 연결하기 위한 분배기와, 그리고 상기 시험 대상 장비(DUT) 및 상기 계측기를 제어하기 위한 제어 신호를 송신하는 컴퓨터를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치의 상기 분배기는 무선주파수(RF) 스위치로서 동작 가능한 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치의 상기 컴퓨터는 상기 시험 대상 장비(DUT) 및 상기 계측기를 제어하기 위한 펌웨어(firmware)를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치의 상기 계측기는 상기 무선주 파수(RF) 신호를 송신할 수 있는 벡터 신호 생성기(Vector Signal Generator: VSG)와 상기 송신된 무선주파수(RF) 신호를 수신하여 분석할 수 있는 벡터 신호 분석기(Vector Signal Analyzer: VSA)를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치의 상기 시험 대상 장비(DUT)는 무선랜(wireless LAN) 장비인 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치의 상기 시험 대상 장비(DUT)는 블루투스(bluetooth) 장비인 것을 특징으로 한다.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 무선 장비 테스트 장치 및 방법은 한번에 다수의 시험 대상 장비(DUT)들을 테스트함으로써 테스트 시간 및 생산 효율을 증대하는 효과가 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치에 대해 보다 상세하게 설명하기로 한다.

도 2는 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치(20)의 일 실시예를 나타낸다.

도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치(20)는 컴퓨터(PC)(21), 계측기(22), 분배기(23) 및 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)로 구성된다.

상기 컴퓨터(21)는 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)를 테스트하기 위한 펌웨 어(firmware: F/W)가 설치되어 있으며, 이를 통하여 상기 계측기(12)와 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)를 각각 컨트롤하도록 제어신호를 각각 송출한다.

상기 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)는 상기 컴퓨터(21)로부터 송출된 제어 신호에 따라, 상기 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)의 각 무선주파수(RF) 신호를 상기 계측기(12)로 송출한다.

상기 계측기(22)는 상기 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)로부터 수신된 각 무선주파수(RF) 신호를 분석하고 검증하여 해당 DUT(24, 25)를 각각 테스트하기 위하여 상기 컴퓨터(21)로부터 해당 펌웨어를 각각 다운로딩한다.

이 때, 각각의 펌웨어의 다운로딩은 약간의 시간 차를 두고 진행한다. 이에 대한 설명은 하기에 보다 자세히 설명될 것이다.

또한, 상기 계측기(22)는, 각각의 펌웨어 다운로딩 완료 후, 각 DUT(24, 25)에 해당하는 무선주파수(RF) 신호를 최적화하여 해당 DUT(24, 25)의 교정(Calibration)에 대한 검증 과정을 거쳐 테스트된다.

상술한 바와 같은 계측기(22)에서의 각 DUT(24, 25)의 테스트 과정을 살펴보면 다음과 같다:

(1)단계: F/W 다운로드 - 구동 F/W 로딩 단계 (소요시간: 10초)

(2)단계: RF 교정(RF Calibration) - 해당 DUT의 무선주파수(RF)를 최적화하기 위한 단계 (소요시간: 10초)

(3)단계: RF 테스트 - 해당 DUT의 교정에 대한 검증 단계 (소요시간: 10초)

상기와 같이 종래의 무선 장비 테스트 장치(10)는 한 대의 시험 대상 장 비(DUT)(13)를 테스트하기 위해선 총 30초의 시간이 소요된다.

여기서, (1)단계는 상기 컴퓨터(PC)(21)로부터 펌웨어를 다운로드하는 과정으로서, 상기 계측기(22)의 다운로딩부(도시하지 않음)에서 수행되며, 본원에서는 이를 '비-RF(NON-RF) 과정'이라 칭한다.

(2)단계 및 (3)단계는 상기 계측기(22)와 상기 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)가 무선주파수(RF) 신호를 송수신하여 각 해당 무선주파수(RF) 신호의 분석 및 검증을 통해 테스트하는 과정으로서, 상기 계측기(22)의 RF 모듈부(도시하지 않음)에서 수행되며, 본원에서는 이를 'RF 과정'이라 칭한다.

상기 분배기(23)는 적어도 두 대 이상의 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)를 동시에 테스트할 수 있도록 일단에는 상기 계측기(22)를, 다른 단에는 상기 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)를 연결한다.

또한, 상기 분배기(23)는 무선주파수(RF) 스위치(도시하지 않음)를 포함하여 구성될 수 있으며, 상기 무선주파수(RF) 스위치는 상기 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)의 RF 테스트가 끝나거나 새롭게 테스트를 시작할 때 상기 해당 시험 대상 장비(DUT)(24, 25)에 연결된 단의 스위치를 온/오프(ON/OFF)시킴으로써 상기 계측기(22)와 연결 또는 차단되도록 동작한다.

상기 무선 장비 테스트 장치(20)에서, 상기 계측기(11 및 21)는 에질런트 테크놀로지스(Agilent Technologies) 사의 계측기인, N4010(모델명)을 사용하였다. 상기 N4010은 무선 주파수 신호를 송신할 수 있는 벡터 신호 생성기(Vector Signal Generator: VSG)와 반대로 신호를 수신하여 분석할 수 있는 벡터 신호 분석기 (Vector Signal Analyzer: VSA)로 구성되어 있는 최신 계측기이다.

도 3의 (a)는 종래의 무선 장비 테스트 장치(10)의 계측기(12)에서 시간에 따른 DUT 테스트 과정을 나태내는 도면이고, 도 3의 (b)는 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치(20)에서의 계측기(22)에서 시간에 따른 다수의 DUT 테스트 과정을 나타내는 도면이다.

도 3의 (a)를 참조하면, 도시된 바와 같이, 종래의 계측기(12)에서는 한 대의 DUT(13)에 대한 테스트 과정인 (1), (2), (3) 과정을 모두 거친 이후에 그 다음 DUT(13)에 대한 테스트 과정이 순차적으로 수행된다는 것을 알 수 있다.

이처럼, 종래의 계측기(12)에서는 비-RF 과정인 (1)단계 동안 상기 계측기(12)를 활용할 수 없어 비효율적이다.

그러나, 도 3의 (b)를 참조하면, 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치(20)에서는 적어도 두 대 이상의 DUT(24, 25)를 동시에 테스트할 수 있음을 알 수 있다.

상기 분배기(23)의 한 단에 연결된 DUT를 세트 A(24)라하고 또 다른 한 단에 연결된 DUT를 세트 B(25)라고 한다면, 세트 A(24)에서의 테스트 과정은 첫 번째 DUT의 테스트를 위해 (1), (2), (3)단계를 마친 다음, 두 번째 DUT의 테스트를 위해 (1)단계, 즉, F/W를 다운로딩하는 단계 이후, 유휴 단계(4)를 거쳐 RF 과정인 (2), (3) 단계를 진행한다 (여기서 유휴 단계(4)는 DUT가 장비를 점유하기 위해 대기하는 시간, 즉, 테스트가 끝난 DUT를 상기 분배기(23)에서 제거하고 새로운 DUT를 연결하는 시간을 말한다).

이 때, 세트 B(25)에서의 테스트 과정은 세트 A(24)에서의 첫 번째 DUT의 테스트 과정 중 (2)단계에서 세트 B(25)에서의 첫 번째 DUT의 테스트를 위한 (1)단계와 유휴 단계(4)를 거친 다음 RF 과정인 (2), (3) 단계를 진행한다.

즉, 세트 A(24)의 비-RF 과정(도 3의 (b)에서 (1), (4) 단계에 해당됨) 동안 세트 B(25)에서 RF 과정(도 3의 (b)에서 (2), (3) 단계에 해당됨)을 진행하고, 마찬가지로 세트 B(25)의 비-RF 과정 동안 세트 A(24)에서 RF 과정을 번갈아 진행한다.

상술한 바와 같이, 상기 분배기(23)를 이용하면 두 대 이상의 DUT(24, 25)를 상기 계측기(22)에 연결하여 한 세트에서의 유휴 기간(비-RF 과정) 동안 다른 세트의 RF 테스트 과정(RF 과정)을 진행함으로써 상기 계측기(22)를 계속 가동시켜 활용할 수 있다.

따라서, 도 3의 (a)와 (b)를 비교해 보면, 동일한 시간(T0-T3) 동안 종래의 장치(10)에서는 두 대의 DUT만을 테스트 완료한 반면, 본 발명에 따른 장치(20)에서는 3 대의 DUT를 테스트 완료했음을 알 수 있다.

또한, 각 DUT의 테스트가 완료될 때마다 그 결과를 상기 컴퓨터로 전송하여 저장하며, 상기 컴퓨터의 출력장치(예, 모니터, 프린터 등)를 통해 출력할 수도 있다.

상술한 바와 같이 본 발명에 따른 무선 장비 테스트 장치(20)는 상기 분배기(23)를 이용하여 두 대 이상의 DUT(24, 25)를 상기 계측기(22)에 연결하는 간단한 환경 구성만으로, 다수의 DUT 테스트 시간을 단축시킬 수 있다.

이로 인해, 이를 개발 및 양산 라인에 적용시 기존 대비 생산 효율을 30% 이상 증가시킬 수 있으며, 고가의 장비에 대한 투자를 현격히 줄임으로써 비용 또한 절감할 수 있다.

이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

도 1은 종래의 무선 장비 테스트 장치의 일례를 도시하는 전체 구성도.

도 2은 본 발명의 일 실시예에 따른 무선 장비 테스트 장치를 도시하는 전체 구성도.

도 3의 (a)는 종래의 무선 장비 테스트 장치의 계측기에서 시간에 따른 DUT 테스트 과정을 도시하는 도면.

도 3의 (b)는 본 발명의 일 실시예에 따른 무선 장비 테스트 장치의 계측기에서 시간에 따른 다수의 DUT 테스트 과정을 도시하는 도면.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

10, 20: 무선 장비 테스트 장치

11, 21: 컴퓨터(PC)

12, 22: 계측기

13, 24, 25: 시험 대상 장비(DUT)

23: 분배기(Divider)

Claims

무선 장비 테스트를 위해 무선주파수(RF) 신호를 송신하는 시험 대상 장비(DUT);

상기 시험 대상 장비(DUT)로부터 송신된 상기 무선주파수(RF) 신호를 수신하여 이를 분석하고 검증하기 위한 계측기;

상기 계측기에 다수의 DUT를 연결하기 위한 분배기; 및

상기 시험 대상 장비(DUT) 및 상기 계측기를 제어하기 위한 제어 신호를 송신하는 컴퓨터를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 장비 테스트 장치.
제1항에 있어서, 상기 분배기는 무선주파수(RF) 스위치로 구성되는 것을 특징으로 하는 무선 장비 테스트 장치.
제1항에 있어서, 상기 컴퓨터는 상기 시험 대상 장비(DUT) 및 상기 계측기를 제어하기 위한 펌웨어(firmware)를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 장비 테스트 장치.
제1항에 있어서, 상기 계측기는 상기 무선주파수(RF) 신호를 송신할 수 있는 벡터 신호 생성기(Vector Signal Generator: VSG)와 상기 송신된 무선주파수(RF) 신호를 수신하여 분석할 수 있는 벡터 신호 분석기(Vector Signal Analyzer: VSA)를 포함하는 하는 것을 특징으로 하는 무선 장비 테스트 장치.
제1항에 있어서, 상기 시험 대상 장비(DUT)는 무선랜(wireless LAN) 장비인 것을 특징으로 하는 무선 장비 테스트 장치.
제1항에 있어서, 상기 시험 대상 장비(DUT)는 블루투스(bluetooth) 장비인 것을 특징으로 하는 무선 장비 테스트 장치.