KR20100016279A - 검출기들 및 이온 소스들 - Google Patents
검출기들 및 이온 소스들 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20100016279A KR20100016279A KR1020097023188A KR20097023188A KR20100016279A KR 20100016279 A KR20100016279 A KR 20100016279A KR 1020097023188 A KR1020097023188 A KR 1020097023188A KR 20097023188 A KR20097023188 A KR 20097023188A KR 20100016279 A KR20100016279 A KR 20100016279A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- sources
- ion
- flow path
- ions
- analyte
- Prior art date
Links
- 239000012491 analyte Substances 0.000 claims abstract description 20
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000000766 differential mobility spectroscopy Methods 0.000 claims abstract 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 64
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 7
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 claims description 6
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 6
- 239000013626 chemical specie Substances 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 10
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- 239000000383 hazardous chemical Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000002808 molecular sieve Substances 0.000 description 1
- 230000003472 neutralizing effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- URGAHOPLAPQHLN-UHFFFAOYSA-N sodium aluminosilicate Chemical compound [Na+].[Al+3].[O-][Si]([O-])=O.[O-][Si]([O-])=O URGAHOPLAPQHLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/14—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0095—Particular arrangements for generating, introducing or analyzing both positive and negative analyte ions
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/14—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
- H01J49/145—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers using chemical ionisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/107—Arrangements for using several ion sources
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/168—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission field ionisation, e.g. corona discharge
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
FAIMS 이온 이동도 분광계(1)는 분석 대상 이온 소스 조립체(4)를 가지며, 이온 소스 조립체(4)에 의해 분석 대상 물질이 이온화되고 분광계의 유입구(2)로 공급된다. 이온 소스 조립체(4)는 상류에 위치되는 청결한 건조 공기의 소스(41) 및 유동로를 따라 동일한 거리에 배열되면서 서로 반대되는 극성을 갖는 두 개의 이온 소스들(43 및 44)을 갖는다. 이온 소스들(43 및 44)은, 생성되는 플라즈마의 전체 전하가 실질적으로 중성을 띠도록, 배열된다. 분석 대상 물질은 이온 소스들(43 및 44)의 하류에서 유입구(61)를 경유하여 유입되며, 유동을 늦추고 분석 대상 분자들이 플라즈마에 노출되는 시간을 증가시키기 위해 확대된 횡간 단면적을 갖는, 반응 영역(63) 내로 유동한다.
FAIMS, 이온 이동도 분광계, 분석 대상 물질, 이온 소스 조립체, 플라즈마
Description
본 발명은 그 길이를 따라 혼합 영역을 갖는 유동로를 포함하는 종류의 이온 소스 조립체들에 관한 것이다.
폭발물들, 위험한 화학물질들 및 기타 증기들의 존재를 검출하기 위해 사용되는 검출기들은 종종, 검출 전에 분석 대상물의 분자들을 이온화하기 위한 이온화 소스를 포함한다. 이온 이동도 분광계(ion mobility spectrometer) 또는 IMS에 있어서, 이온화된 분자들은 정전기 게이트에 의해 표류 영역으로 유입되고, 상기 표류 영역에서 상기 이온화된 분자들은 전기장 하에 놓여지며, 이러한 전기장은 상기 게이트에 대향되는 단부에 있는 수집 플레이트를 향하여 상기 표류 영역의 길이를 따라 이온들을 잡아 당기기 위해 배열된다. 이온들이 표류 영역을 따라 이동하는 시간은 이온들의 이동도에 따라 변화하며, 이 것이 분석 대상물의 본질적인 특징이다. 비대칭 장 이온 이동도 분광계(field asymmetric ion mobility spectrometer: FAIMS) 또는 차동 이동도 분광계(differential mobility spectrometer: DMS)에 있어서, 이온들은 이온들의 이동 경로를 횡단하는 비대칭 교류 장 하에 놓여지며, 이러한 비대칭 교류 장은 검출을 위하여 선택된 이온 종을 걸러내기 위해 그리고 다른 이온 종들은 통과시키기 위해 조정된다.
분석 대상 분자들을 이온화하기 위해 다양한 기법들이 통상적으로 사용된다. 이러한 기법들은 방사능 소스, UV 또는 다른 방사 소스, 또는 코로나 방전원을 포함할 수 있다. US6225623은 서로 다른 극성들에서 작동하는 두 개의 코로나 지점 소스들을 갖는 이온화 소스를 구비하는 IMS를 기재하고 있다. 상기 지점 소스들은 분석 대상 분자들의 유동로를 따라 순차적으로 배열된다.
본 발명의 목적은 대안적인 검출기 및 이온 소스 조립체를 제공함에 있다.
본 발명의 일 견지에 따라, 그 길이를 따라 혼합 영역을 갖는 유동로를 포함하는 종류의 이온 소스 조립체가 제공되고: 이 이온 소스 조립체는, 양이온들 및 음이온들 모두를 포함하는 플라즈마를 생성하여 분석 대상 물질이 상기 플라즈마에 노출될 수 있도록 하기 위해 상기 혼합 영역 내로 각각 개방되는, 양이온들 및 음이온들의, 제 1 및 제 2 소스들을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 1 및 제 2 소스들은 바람직하게는, 상기 플라즈마 상의 전체 전하가 실질적으로 중성을 띠도록, 배열된다. 상기 이온 소스들은 코로나 지점 이온화 소스들을 포함할 수 있다. 상기 분석 대상 물질은 바람직하게는 상기 이온 소스들의 하류 위치에서 상기 유동로 내로 도입된다. 상기 조립체는 바람직하게는 상기 이온 소스들의 상류 위치에서 상기 유동로 내로 개방되는, 청결한 건조 공기의, 소스를 포함한다. 상기 제 1 및 제 2 소스들은 바람직하게는 상기 유동로의 길이를 따라 동일한 거리에서 상기 유동로 내로 개방된다. 상기 제 1 및 제 2 소스들은 동 소스들로부터 상기 유동로 내로 이온들을 구동하기 위한 수단을 포함할 수 있다. 이온들을 구동하기 위한 상기 수단은 전기장을 설정하기 위한 수단을 포함할 수 있고 또는/그리고, 이온 형성을 촉진하거나 형성되는 이온 종을 조정하기 위한 화학 종을 포함할 수 있는, 개스 공급물을 포함할 수 있다. 상기 혼합 영역은 바람직하게는 반응 영역 내로 내로 개방되고, 상기 반응 영역은 동 반응 영역 내에서 유속을 감소시키도록 배열된다. 상기 반응 영역의 횡간 단면적은 그 반응 영역을 관통한 유속을 감소시키기 위해 확대될 수 있다.
본 발명의 다른 일 견지에 따라, 본 발명의 상기 일 견지에 따른 조립체 및 상기 조립체로부터 분석 대상 이온들을 수납하도록 배열되는 검출기를 포함하는 검출 장치가 제공된다.
상기 검출기는 바람직하게는 이온 이동도 분광계 또는 FAIMS 분광계와 같은 분광계이다. 상기 검출기의 출력은 상기 조립체로부터 이온들의 유동을 제어하기 위해 사용될 수 있다.
본 발명에 따른 FAIMS 검출 장치를, 동 장치를 개략적으로 나타내는, 첨부 도면을 참조하여 일 예로서 이하에 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에 의한 이온 소스 조립체를 개략적으로 나타낸 것이다.
장치는 유입 이온 소스 조립체(4)의 배출 단부(3)에 연결되는 유입 단부(2)를 갖는 검출기 또는 분석기 유닛(1)을 포함하고, 상기 이온 소스 조립체(4)는 상기 검출기 유닛(1)에 이온화된 분석 대상 분자들의 공급물을 제공한다.
상기 유입 조립체(4)는, 펌프 및 분자 체(molecular sieve)에 의해 제공되는 것과 같은, 청결한 건조 공기의 소스(41)에 연결되는 그 상단부에서 유입 개구부(40)를 갖는다. 유입 개구부(40)는 혼합 영역(42) 내로 일렬로 개방된다. 상기 유입 조립체(4)는 또한, 상기 유입 개구부(40)를 경유하여 유입되는 개스의 유동로를 따라 동일한 위치에서, 상기 혼합 영역(42)의 대향 측면들로 개방되는 두 개의 이온 소스들(43 및 44)을 포함한다.
좌측 양이온 소스(43)는, 코로나 방전을 유발하기에 효과적인 지점에 약 3kV의 양전압 펄스들을 인가하기 위해 작동가능한 전압원(47)에 연결되는 이중 지점 코로나(dual point corona)(46)를 포함하는 체임버(45)를 갖는다. 단일 지점 직류 코로나와 같은 대안적인 이온 소스들도 사용가능하다. 상기 체임버(45)는 비교적 소형이며 상기 혼합 영역(42)으로의 이온들의 정상적인 전달을 가능하게 하도록 선택된다. 상기 코로나 지점(46)은 전형적으로 약 +4kV 및 +50V에 각각 유지되는 두 개의 격자들(48 및 49) 사이에 배치된다. 저전압 격자(49)는 체임버(45)가 혼합 영역(42) 내로 개방되는 부분에 배치된다. 이러한 방식으로, 전기장이 체임버(45)의 길이를 따라 설정되어, 코로나 지점(46)에 의해 창출되는 양이온들을 우측으로 저전압 격자(49)를 통하여 혼합 영역(42) 내로 효과적으로 방출시키게 된다. 이온들을 혼합 영역(42) 내로 방출시키기 위해 전기장을 사용하는 것을 대신하여 또는 그 전기장의 사용과 동시에, 개스 유량을 사용하는 것이 가능하다. 그러한 개스는 이온 형성을 촉진하거나 형성되는 이온 종을 조정하기 위한 화학 종을 포함할 수 있다. 이러한 방법은 요구되는 이온 종이 중앙 혼합 영역으로 전달되는 것을 돕기 위해 사용될 수 있다. 상기 개스 유량은 전기장에 의해 발생되는 이온 유동을 돕도록 또는 이온 유동에 거스르도록 배열될 수 있다.
마찬가지로, 우측의 음이온 소스(44)는 동일한 3kV 크기의 음전압 펄스들이 공급되는 이중 지점 코로나(52)를 포함하는 체임버(51)를 갖는다. 상기 음 코로나 지점(52)은 -4kV 및 -50V에 각각 유지되는 두 개의 격자들(53 및 54) 사이에 배치된다. 이에 따라, 체임버(51)를 따라 장이 설정되어, 지점(52)에 의해 생성되는 음이온들을 좌측으로 저전압 격자(54)를 통하여 혼합 영역(42) 내로 효과적으로 방출시키게 된다. 서로 다른 화학 종들이 상기 두 개의 이온 소스들(43 및 44)에 도입될 수 있다.
상기 음이온들 및 양이온들은 상기 유입 조립체(4)를 관통한 유동로를 따라 동일한 지점에서 상기 혼합 영역(42) 내로 유입되어, 양이온들 및 음이온들 모두의 혼합물을 포함하는 플라즈마를 세팅하게 된다. 대안적으로, 상기 이온들은 서로 다른 지점들에서 상기 혼합 영역 내로 유입될 수 있다. 상기 플라즈마 상의 전체 전하는 중성을 띠며, 그에 의해, 장치 내에서의 공간 전하 반발 효과들(space-charge repulsion effects)을 최소화한다. 그러나, 양이온들 및 음이온들의 상대적인 개수들 및 그러므로 상기 플라즈마 상의 전체 전하는 요구될 경우 중성과는 다르도록 제어될 수 있다는 것을 이해할 수 있다. 이 것은 상기 이온 소스들(43 및 44) 중의 하나 또는 모두 내에서 장을 변경시킴으로써 달성될 수 있다.
상기 혼합 영역(42)은 분석 대상 샘플 영역(60)으로 직접적으로 개방되며, 상기 분석 대상 샘플 영역(60)에서는 샘플 분석 대상물이 개스 유량 내의 플라즈마 에 의해 하류 방향으로 반송된다. 상기 영역(60)은 유입구(61)를 갖는 것으로 도시되고, 상기 유입구(61)에 의해 개스 또는 증기의 형태를 취하는 분석 대상물이 막, 핀 홀 또는 모세관 등을 경유하여 상기 영역 내로 유입된다. 대안적으로, 상기 분석 대상 샘플은 고체 또는 액체의 형태를 취할 수 있고 개구부(도시안됨)를 경유하여 상기 분석 대상물 영역(60) 내에 위치될 수 있다. 상기 분석 대상물 영역(60)은 이온 반응 체임버(63)와 연통하며, 상기 이온 반응 체임버(63)는 상기 분석 대상물 영역(60)보다 큰 횡간 단면적을 가져서 개스 유량이 감소되도록 하고 중성을 띠는 분석 대상 분자들이 증가된 체류 시간동안 플라즈마에 노출되도록 한다. 그러나, 큰 횡간 단면적을 갖는 영역을 제공하는 것이 필수적인 것은 아니다. 중성을 띠는 분석 대상 개스 또는 증기 분자들과 플라즈마 사이의 반응은 대전된 분석 대상 종(species)이 상기 반응 영역(63) 내에 생성되도록 한다. 이 종은 그리고나서 개스 유동이나 정전기 수단에 의해 상기 분석기 유닛(1)으로 전달된다.
상기 분석 대상물 영역(60) 및, 또는 대안적으로는, 상기 이온 반응 체임버(63)는, 이들 영역을 떠나는 플라즈마가 중성 전하 평형을 이루는 것을 보장하도록 구성될 수 있다. 이 것은, 시간 주기당 공간 전하 반발력들이 어느 극성의 잉여 이온들을 중성화 전도 표면들로 밀어내도록 허용함으로써 달성된다.
상기 분석기 유닛(1)은, 이온 이동도 분광계 또는 US5227628에 기재되어 있는 종류의 분광계의 표류 영역을 포함하는 특정의 통상적인 종류일 수 있다. 상기 유닛이 양이온들 및 음이온들 모두에 의해 작동한다면 두 개의 표류 튜브들 또는 영역들이 필요하게 된다. 대안적으로, 도시한 바와 같이, 상기 분석기 유닛은 FAIMS (field asymmetric ion mobility spectrometer) 또는 DMS (differential mobility spectrometer) 필터(65)에 의해 제공된다. 상기 필터(65)는, 이온 유동 방향에 대체로 평행하게 배열되고 필터 구동 유닛(67)에 연결되는, 두 개의 근접-격설된 플레이트들(66)에 의해 제공되고, 상기 필터 구동 유닛(67)은 직류 전압 상에서 중첩되는 두 개의 플레이트들(66) 사이에 비대칭 교류장을 인가한다. 이들 플레이트들(66) 사이의 장을 제어함으로써, 어떤 이온들이 상기 필터(65)를 관통하여 통과하고 어떤 이온들이 상기 필터(65)를 통과하지 않을 것인가를 선택하는 것이 가능하다. 분석기 유닛(1)의 원 단부(far end)에 있는 두 개의 검출 플레이트들(68 및 69)이 필터(65)를 통과한 이온들을 수집하며 프로세서(70)에 신호들을 제공한다. 상기 프로세서(70)는 분석 대상 물질의 특질을 나타내는 출력을 디스플레이 또는 다른 이용 수단(71)으로 제공한다.
상기 프로세서(70)의 응답은 상기 이온 소스들로부터의 이온들의 유동을 변화시키기 위해 사용되어 요구되는 검출 특성들을 달성할 수 있다.
본 발명에 따른 장치가 코로나 지점들을 대신하는 대안적인 이온 소스들을 가질 수 있다는 것을 이해할 수 있다.
Claims (17)
- 그 길이를 따라 혼합 영역(42)을 갖는 유동로를 포함하는 이온 소스 조립체(4)에 있어서,양이온들 및 음이온들 모두를 포함하는 플라즈마를 생성하여 분석 대상 물질이 상기 플라즈마에 노출될 수 있도록 하기 위해 상기 혼합 영역(42) 내로 각각 개방되는, 양이온들 및 음이온들의, 제 1 및 제 2 소스들(43 및 44)을 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 제 1 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 소스들(43 및 44)이, 상기 플라즈마 상의 전체 전하가 실질적으로 중성을 띠도록, 배열되는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 이온 소스들(43 및 44)이 코로나 지점 이온화 소스들(46 및 52)을 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 선행 항들 중 어느 한 항에 있어서,상기 분석 대상 물질이 상기 이온 소스들(43 및 44)의 하류 위치에서 상기 유동로 내로 도입되는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 선행 항들 중 어느 한 항에 있어서,상기 조립체가, 상기 이온 소스들(43 및 44)의 상류 위치에서 상기 유동로 내로 개방되는, 청결한 건조 공기의, 소스(41)를 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 선행 항들 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 소스들(43 및 44)이 상기 유동로의 길이를 따라 동일한 거리에서 상기 유동로 내로 개방되는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 선행 항들 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 소스들(43 및 44)이 동 소스들로부터 상기 유동로 내로 이온들을 구동하기 위한 수단(48, 49, 53 및 54)을 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 제 7 항에 있어서,이온들을 구동하기 위한 상기 수단이 전기장을 설정하기 위한 수단(48, 49, 53 및 54)을 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 제 7 항 또는 제 8 항에 있어서,이온들을 구동하기 위한 상기 수단이 개스 공급물을 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 제 9 항에 있어서,상기 개스 공급물이 이온 형성을 촉진하거나 형성되는 이온 종을 조정하기 위한 화학 종을 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 선행 항들 중 어느 한 항에 있어서,상기 혼합 영역(42)이 반응 영역(63) 내로 내로 개방되고, 상기 반응 영역은 동 반응 영역 내에서 유속을 감소시키도록 배열되는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 제 11 항에 있어서,상기 반응 영역(63)의 횡간 단면적이 그 반응 영역을 관통한 유속을 감소시키기 위해 확대되는 것을 특징으로 하는 이온 소스 조립체.
- 선행 항들 중 어느 한 항에 따른 조립체(4) 및 동 조립체로부터 분석 대상 이온들을 수납하도록 배열되는 검출기(1)를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 장치.
- 제 13 항에 있어서,상기 검출기가 분광계(1)인 것을 특징으로 하는 검출 장치.
- 제 14 항에 있어서,상기 분광계가 이온 이동도 분광계(1)인 것을 특징으로 하는 검출 장치.
- 제 13 항 또는 제 14 항에 있어서,상기 검출기가 FAIMS 분광계(1)인 것을 특징으로 하는 검출 장치.
- 제 13 항 내지 제 16 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 검출기(1)의 출력이 상기 조립체(4)로부터 이온들의 유동을 제어하기 위해 사용되는 것을 특징으로 하는 검출 장치.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB0707254.9 | 2007-04-14 | ||
| GBGB0707254.9A GB0707254D0 (en) | 2007-04-14 | 2007-04-14 | Detectors and ion sources |
| PCT/GB2008/001153 WO2008125804A2 (en) | 2007-04-14 | 2008-04-01 | Detectors and ion sources |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20100016279A true KR20100016279A (ko) | 2010-02-12 |
| KR101461481B1 KR101461481B1 (ko) | 2014-11-13 |
Family
ID=38116758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020097023188A KR101461481B1 (ko) | 2007-04-14 | 2008-04-01 | 검출기들 및 이온 소스들 |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US8299428B2 (ko) |
| EP (1) | EP2156461B1 (ko) |
| JP (1) | JP5242673B2 (ko) |
| KR (1) | KR101461481B1 (ko) |
| CN (1) | CN101663726B (ko) |
| CA (2) | CA2683913C (ko) |
| GB (1) | GB0707254D0 (ko) |
| MX (1) | MX2009010876A (ko) |
| PL (1) | PL2156461T3 (ko) |
| RU (1) | RU2009139407A (ko) |
| WO (1) | WO2008125804A2 (ko) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB0707254D0 (en) * | 2007-04-14 | 2007-05-23 | Smiths Detection Watford Ltd | Detectors and ion sources |
| WO2017094178A1 (ja) * | 2015-12-04 | 2017-06-08 | 株式会社島津製作所 | 液体試料分析システム |
| CN105403616A (zh) * | 2015-12-08 | 2016-03-16 | 南京信息工程大学 | 一种气态硫酸及硫酸盐的检测方法及检测用离子源 |
| CN105655228B (zh) * | 2015-12-31 | 2017-07-28 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种电晕放电组件、离子迁移谱仪和电晕放电方法 |
| FI20175460L (fi) * | 2016-09-19 | 2018-03-20 | Karsa Oy | Ionisaatiolaite |
| US11043370B2 (en) | 2018-07-20 | 2021-06-22 | Battelle Memorial Institute | Device and system for selective ionization and analyte detection and method of using the same |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9602158D0 (en) * | 1996-02-02 | 1996-04-03 | Graseby Dynamics Ltd | Corona discharge ion sources for analytical instruments |
| CA2299439C (en) * | 1997-09-12 | 2007-08-14 | Bruce A. Andrien | Multiple sample introduction mass spectrometry |
| WO2000078447A1 (en) * | 1999-06-18 | 2000-12-28 | Tsi Incorporated | Aerosol charge adjusting apparatus employing a corona discharge |
| US6690005B2 (en) * | 2000-08-02 | 2004-02-10 | General Electric Company | Ion mobility spectrometer |
| GB2369487A (en) * | 2000-11-24 | 2002-05-29 | Secr Defence | Radio frequency ion source |
| JP3840417B2 (ja) * | 2002-02-20 | 2006-11-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
| US7095019B1 (en) * | 2003-05-30 | 2006-08-22 | Chem-Space Associates, Inc. | Remote reagent chemical ionization source |
| JP4513488B2 (ja) * | 2004-10-06 | 2010-07-28 | 株式会社日立製作所 | イオンモビリティー分析装置及びイオンモビリティー分析方法 |
| US20060255261A1 (en) * | 2005-04-04 | 2006-11-16 | Craig Whitehouse | Atmospheric pressure ion source for mass spectrometry |
| GB0707254D0 (en) * | 2007-04-14 | 2007-05-23 | Smiths Detection Watford Ltd | Detectors and ion sources |
-
2007
- 2007-04-14 GB GBGB0707254.9A patent/GB0707254D0/en not_active Ceased
-
2008
- 2008-04-01 RU RU2009139407/07A patent/RU2009139407A/ru not_active Application Discontinuation
- 2008-04-01 MX MX2009010876A patent/MX2009010876A/es not_active Application Discontinuation
- 2008-04-01 PL PL08718965T patent/PL2156461T3/pl unknown
- 2008-04-01 CN CN2008800120576A patent/CN101663726B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-04-01 JP JP2010503571A patent/JP5242673B2/ja active Active
- 2008-04-01 CA CA2683913A patent/CA2683913C/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-04-01 US US12/595,014 patent/US8299428B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-04-01 WO PCT/GB2008/001153 patent/WO2008125804A2/en active Application Filing
- 2008-04-01 CA CA2915927A patent/CA2915927C/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-04-01 KR KR1020097023188A patent/KR101461481B1/ko active IP Right Grant
- 2008-04-01 EP EP08718965.0A patent/EP2156461B1/en not_active Not-in-force
-
2012
- 2012-10-24 US US13/659,586 patent/US8748812B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB0707254D0 (en) | 2007-05-23 |
| CN101663726B (zh) | 2012-10-03 |
| PL2156461T3 (pl) | 2019-05-31 |
| US20100276587A1 (en) | 2010-11-04 |
| EP2156461B1 (en) | 2018-10-24 |
| US20130056632A1 (en) | 2013-03-07 |
| US8299428B2 (en) | 2012-10-30 |
| CA2683913C (en) | 2017-11-07 |
| EP2156461A2 (en) | 2010-02-24 |
| CA2915927A1 (en) | 2008-10-23 |
| JP5242673B2 (ja) | 2013-07-24 |
| KR101461481B1 (ko) | 2014-11-13 |
| MX2009010876A (es) | 2010-04-01 |
| CN101663726A (zh) | 2010-03-03 |
| WO2008125804A3 (en) | 2009-07-30 |
| WO2008125804A2 (en) | 2008-10-23 |
| RU2009139407A (ru) | 2011-05-27 |
| US8748812B2 (en) | 2014-06-10 |
| CA2683913A1 (en) | 2008-10-23 |
| JP2010524199A (ja) | 2010-07-15 |
| CA2915927C (en) | 2017-11-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101489682B1 (ko) | 두 개의 표류 챔버들을 구비하는 이온 이동도 분광계 | |
| US8610057B2 (en) | Ion selection apparatus and method | |
| KR101461481B1 (ko) | 검출기들 및 이온 소스들 | |
| US6495823B1 (en) | Micromachined field asymmetric ion mobility filter and detection system | |
| RU2474915C2 (ru) | Спектрометры подвижности ионов | |
| JP5738997B2 (ja) | イオン移動度分光計を用いた気体の検出及び同定のための方法及び装置 | |
| KR20100103624A (ko) | 가스를 검출 및 확인하기 위한 방법 및 장치 | |
| CA2663975A1 (en) | Faims apparatus comprising source of dry gas | |
| US8008617B1 (en) | Ion transfer device | |
| US20100308216A1 (en) | FAIMS Ion Mobility Spectrometer With Multiple Doping | |
| KR20090104034A (ko) | 검출 장치 및 예비-농축기 | |
| KR101496176B1 (ko) | 결합 이온 게이트 및 변형기 | |
| US9324552B2 (en) | Periodic field differential mobility analyzer | |
| KR101274020B1 (ko) | 분석장치 | |
| KR20090037434A (ko) | 검출 장치 및 방법 | |
| KR20180100805A (ko) | 이온 선별 센서 | |
| WO2008047156A1 (en) | Spectrometer apparatus |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0105 | International application |
Patent event date: 20091105 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20130215 Comment text: Request for Examination of Application |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20140121 Patent event code: PE09021S01D |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20140822 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20141107 Patent event code: PR07011E01D |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20141107 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171018 Year of fee payment: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20171018 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181018 Year of fee payment: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20181018 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191016 Year of fee payment: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20191016 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20210818 |