KR20100012192A - Chemical vapor deposition apparatus for manufacturing thin-film solar cells - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A chemical vapor deposition apparatus for manufacturing thin-film solar cells is provided to reduce the tact time by preventing the waiting time for deposition process. CONSTITUTION: Load lock chambers(100a,100b) supply a substrate of deposition process object. The deposited substrate is drawn out. A transfer module chamber is connected to the load lock chamber. A handling robot(210) is formed in the inside. A plurality of process module chambers is connected to the transfer module chamber. The deposition process is performed.

Description

박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치{Chemical vapor deposition apparatus for manufacturing thin-film solar cells}Chemical vapor deposition apparatus for manufacturing thin-film solar cells

본 발명은, 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 간단하고도 단순한 구조를 가지면서도 종래와 같이 증착 공정을 위한 불필요한 대기 시간이 증가하는 것을 저지하여 택트 타임을 감소시킬 수 있으며, 나아가 동시에 다수개의 기판에 대한 증착 공정을 진행할 수 있어 종래보다 증착 효율 및 생산성을 향상시킬 수 있는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell, and more particularly, to reduce the tact time by preventing an increase in unnecessary waiting time for a deposition process as before while having a simple and simple structure. In addition, the present invention relates to a chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell that can proceed with the deposition process for a plurality of substrates at the same time to improve the deposition efficiency and productivity than conventional.

태양전지(solar cells)는, 반도체의 성질을 이용하여 빛 에너지를 전기 에너지로 변환시키는 장치이다. 이러한 태양전지는 그 종류에 따라 단결정 실리콘 태양전지, 다결정 실리콘 태양전지, 박막 태양전지(thin-film solar cells) 등으로 분류된다.Solar cells are devices that convert light energy into electrical energy using the properties of semiconductors. Such solar cells are classified into monocrystalline silicon solar cells, polycrystalline silicon solar cells, thin-film solar cells, and the like according to their types.

박막 태양전지는 얇은 막 형태로 제작되는 것으로서, 단결정 실리콘 태양전지 등에 비해 그 효율은 낮으나 제조 가격이 저렴하고 대면적화가 가능하며 표면이 불규칙한 곳이나 장치하기 어려운 곳에 용이하게 사용할 수 있다는 장점이 있다. 또한 증착되는 기판의 종류에 따라 장판처럼 둘둘 말아서 운반하거나 보관할 수도 있다.The thin film solar cell is manufactured in the form of a thin film, and its efficiency is lower than that of a single crystal silicon solar cell. However, the manufacturing cost is low, the large area is possible, and the surface is irregular, or it is easy to use in the difficult place. In addition, depending on the type of substrate to be deposited may be transported or stored in a roll like a floor.

이러한 박막 태양전지는 반도체 공정과 유사한 다수의 공정들을 거치면서 제품으로 제작된다.Such thin film solar cells are manufactured into products through a number of processes similar to semiconductor processes.

다수의 공정들 중에는 기판의 표면에 박막 형태의 증착막을 증착시키는 증착 공정이 존재하는데, 이러한 증착 공정은 주로 플라즈마를 이용한 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치(PECVD)를 통해 진행된다.Among many processes, there is a deposition process for depositing a thin film-like deposition film on the surface of the substrate, which is mainly carried out through a chemical vapor deposition apparatus (PECVD) for manufacturing a thin film solar cell using plasma.

박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치에서는, 기판의 표면에 증착막의 종류인 p 막(p-doped a-Si), i 막(a-Si/μc-Si), n 막(n-doped a-Si) 등을 순서대로 혹은 순서와 무관하게 증착시키는 공정이 진행된다. 즉 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치는, 수 내지 수십 마이크로미터(μm) 정도 두께의 증착막을 2~5 mm 정도 두께의 유리(glass) 기판에 증착하는 공정을 진행하는 장치이다.In the chemical vapor deposition apparatus for manufacturing thin-film solar cells, p-doped a-Si, i-film (a-Si / μc-Si), and n-film (n-doped a-Si), which are kinds of deposition films, are formed on the surface of a substrate. ) Is deposited in sequence or in any order. That is, the chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell is a device for performing a process of depositing a deposition film having a thickness of several to several tens of micrometers (μm) on a glass substrate having a thickness of about 2 to 5 mm.

참고로, p 막, i 막, n 막 모두가 기판의 표면에 증착될 수도 있으나 반드시 그러한 것은 아니며, 또한 p 막, i 막, n 막 외의 다른 증착막이 증착되는 경우도 있다.For reference, all of the p film, the i film, and the n film may be deposited on the surface of the substrate, but this is not necessarily the case. In addition, other deposition films other than the p film, the i film, and the n film may be deposited.

기판의 표면에 p 막 및 i 막이 증착되는 경우에 대해 살펴보면, p 막 및 i 막의 증착 공정이 진행되는 종래의 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치는, 증착 공정 대상의 기판이 인입되거나 증착이 완료된 기판이 취출되는 로드락 챔버와, 로드락 챔버와 연결되며 기판 핸들링 로봇이 내부에 구비된 트랜스퍼 모듈 챔버와, 트랜스퍼 모듈 챔버의 일측에 연결되어 실질적인 증착 공정을 진행하는 2개 의 제1 및 제2 프로세스 모듈 챔버를 구비한다.Referring to the case where the p film and the i film is deposited on the surface of the substrate, the conventional chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell in which the deposition process of the p film and the i film is performed, the substrate in which the deposition target substrate is inserted or the deposition is completed The extracted load lock chamber, a transfer module chamber connected to the load lock chamber and a substrate handling robot provided therein, and two first and second processes connected to one side of the transfer module chamber to perform a substantial deposition process. A module chamber.

이러한 구성에 의해, 트랜스퍼 모듈 챔버 내의 기판 핸들링 로봇이 로드락 챔버로부터 증착 대상의 기판을 파지하여 제1 프로세스 모듈 챔버로 공급하면, 제1 프로세스 모듈 챔버 내에서 기판 표면에 p 막이 증착된다.With this configuration, when the substrate handling robot in the transfer module chamber grasps the substrate to be deposited from the load lock chamber and supplies it to the first process module chamber, a p film is deposited on the substrate surface in the first process module chamber.

p 막의 증착이 완료되면, 기판 핸들링 로봇이 제1 프로세스 모듈 챔버 내의 기판을 꺼내어 제2 프로세스 모듈 챔버로 이송시켜 제2 프로세스 모듈 챔버를 통해 p 막 상에 i 막의 증착이 진행되도록 한다. 이 때, 비어있는 제1 프로세스 모듈 챔버의 내부로는 새로운 기판이 다시 인입되어 p 막의 증착 공정을 수행하게 된다.When the deposition of the p film is completed, the substrate handling robot removes the substrate in the first process module chamber and transfers it to the second process module chamber so that the deposition of the i film on the p film through the second process module chamber proceeds. At this time, a new substrate is re-introduced into the empty first process module chamber to perform the deposition process of the p film.

한편, 전술한 바와 같이, 기판의 표면에 증착되는 증착막들(p 막, i 막, n 막)은, 태양전지의 종류 또는 제조사의 요구에 따라 그 증착막 두께, 그 증착막의 배열 순서, 나아가 그 증착막의 층 개수 등이 모두 상이할 수 있으므로 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치의 제조 시 이에 대한 적절한 설계가 요구된다.On the other hand, as described above, the deposition films (p film, i film, n film) deposited on the surface of the substrate, depending on the type of solar cell or the manufacturer's requirements, the thickness of the deposited film, the arrangement order of the deposited film, and further the deposited film Since the number of layers and the like may all be different, an appropriate design thereof is required when manufacturing a chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell.

그런데, 예를 들어 기판의 표면에 p 막, i 막, n 막이 모두 증착함에 있어 i 막의 증착을 위한 증착 시간이 p 막이나 n 막의 증착을 위한 증착 시간에 비해 훨씬 더 많이 소요되는 경우, 종래의 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치는, p 막 및 n 막의 증착 공정이 완료되었음에도 불구하고 i 막의 증착이 완료될 때까지 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버 또는 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버가 대기해야 하기 때문에 전반적으로 택트 타임(tact time) 증가하는 문제가 발생된다.However, for example, when the p film, the i film, and the n film are all deposited on the surface of the substrate, when the deposition time for the deposition of the i film takes much more than the deposition time for the deposition of the p film or the n film, In the chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell, the process module chamber for p film deposition or the process module chamber for n film deposition must wait until the deposition of the i film is completed even though the deposition process of the p film and the n film is completed. In general, a problem of increasing tact time occurs.

그렇다고 해서 이러한 문제를 해소하기 위해, 복수개의 프로세스 챔버를 마련하되 하나의 프로세스 모듈 챔버 내에서 p 막, i 막, n 막 모두에 대한 증착 공 정을 수행하려 하는 경우에는 챔버 내부의 오염 문제 또는 기판 상의 오염 문제가 발생되거나 증착막의 변경을 위한 장치 세팅 등으로 인해 오히려 시간이 더 많이 소요되어 택트 타임(tact time) 감소의 효과가 거의 없기 때문에 이에 대한 적절한 대책이 요구된다 할 수 있다.However, in order to solve this problem, in the case where a plurality of process chambers are provided, and the deposition process for all of the p film, the i film, and the n film is to be performed in one process module chamber, the contamination problem or the substrate inside the chamber is required. Due to the problem of contamination of the phase or the setting of a device for changing the deposition film, etc., it takes more time, so that there is little effect of reducing the tact time. Therefore, an appropriate countermeasure may be required.

본 발명의 목적은, 간단하고도 단순한 구조를 가지면서도 종래와 같이 증착 공정을 위한 불필요한 대기 시간이 증가하는 것을 저지하여 택트 타임을 감소시킬 수 있으며, 나아가 동시에 다수개의 기판에 대한 증착 공정을 진행할 수 있어 종래보다 증착 효율 및 생산성을 향상시킬 수 있는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to reduce the tact time by preventing the increase of unnecessary waiting time for the deposition process, while having a simple and simple structure, and at the same time, the deposition process for a plurality of substrates can be performed. It is to provide a chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell that can improve the deposition efficiency and productivity than conventional.

상기 목적은, 본 발명에 따라, 기판을 핸들링하는 기판 핸들링 로봇이 내부에 마련되는 트랜스퍼 모듈 챔버; 상기 트랜스퍼 모듈 챔버의 일측에 연결되어 상기 기판이 출입되는 적어도 하나의 로드락 챔버; 및 상기 트랜스퍼 모듈 챔버의 타측에 연결되어 상기 기판에 대한 실질적인 증착 공정이 진행되는 다수의 프로세스 모듈 챔버를 포함하며, 상기 다수의 프로세스 모듈 챔버는, 상기 기판의 표면에 증착될 다수의 증착막 중에서 그 증착 시간이 상대적으로 많이 소요되는 증착막의 증착 공정을 위한 프로세스 모듈 챔버의 개수가, 증착 시간이 상대적으로 적게 소요되는 증착막의 증착 공정을 위한 프로세스 모듈 챔버의 개수보다 상대적으로 더 많 게 마련되어 상기 트랜스퍼 모듈 챔버와 연결되는 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치에 의해 달성된다.The object is, according to the present invention, a transfer module chamber provided with a substrate handling robot for handling the substrate therein; At least one load lock chamber connected to one side of the transfer module chamber to allow the substrate to enter and exit the chamber; And a plurality of process module chambers connected to the other side of the transfer module chamber to perform a substantial deposition process on the substrate, wherein the plurality of process module chambers are deposited among a plurality of deposition films to be deposited on the surface of the substrate. The transfer module chamber has a relatively larger number of process module chambers for the deposition process of the deposition film, which takes a relatively longer time than the number of process module chambers for the deposition process of the deposition film, which requires a relatively short deposition time. It is achieved by a chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell, characterized in that connected with.

여기서, 상기 다수의 프로세스 모듈 챔버는 상기 트랜스퍼 모듈 챔버의 둘레 방향을 따라 배열되도록 상기 트랜스퍼 모듈 챔버에 인접하게 배치되어 상기 트랜스퍼 모듈 챔버와 연결될 수 있다.Here, the plurality of process module chambers may be disposed adjacent to the transfer module chamber so as to be arranged along the circumferential direction of the transfer module chamber and connected to the transfer module chamber.

상기 트랜스퍼 모듈 챔버는 평면 투영 시 다각형 구조를 가질 수 있으며, 상기 적어도 하나의 로드락 챔버와 상기 다수의 프로세스 모듈 챔버는 다각형 구조의 상기 트랜스퍼 모듈 챔버의 각 변에 인접하게 배치되어 상기 트랜스퍼 모듈 챔버와 연결될 수 있다.The transfer module chamber may have a polygonal structure in planar projection, and the at least one load lock chamber and the plurality of process module chambers may be disposed adjacent to each side of the transfer module chamber having a polygonal structure, Can be connected.

상기 적어도 하나의 로드락 챔버는, 증착 대상의 기판이 인입되는 인입 로드락 챔버; 및 증착이 완료된 기판이 취출되는 취출 로드락 챔버를 포함할 수 있다.The at least one load lock chamber may include an incoming load lock chamber into which a substrate to be deposited is introduced; And a takeout load lock chamber through which the substrate on which deposition is completed is taken out.

상기 인입 로드락 챔버와 상기 취출 로드락 챔버는 상호 인접하게 배치되어 상기 트랜스퍼 모듈 챔버와 연결될 수 있다.The inlet load lock chamber and the takeout load lock chamber may be disposed adjacent to each other and connected to the transfer module chamber.

상기 다수의 프로세스 모듈 챔버 중에서, 상기 기판의 표면에 최초로 증착되는 증착막의 증착 공정을 위한 프로세스 모듈 챔버는 상기 인입 로드락 챔버에 인접되게 배치되고, 상기 기판의 표면에 마지막으로 증착되는 증착막의 증착 공정을 위한 프로세스 모듈 챔버는 상기 취출 로드락 챔버에 인접되게 배치될 수 있다.Among the plurality of process module chambers, a process module chamber for depositing a deposition film first deposited on a surface of the substrate is disposed adjacent to the incoming load lock chamber, and a deposition process of a deposition film finally deposited on a surface of the substrate. The process module chamber may be disposed adjacent to the takeout load lock chamber.

상기 트랜스퍼 모듈 챔버는 평면 투영 시 8각형 구조를 가질 수 있으며, 상기 증착막의 종류는 3 종류일 수 있으며, 상기 3 종류의 증착막 중에서 그 증착 시간이 가장 많이 소요되는 증착막의 증착 공정을 위한 상기 프로세스 모듈 챔버의 개수는 4개일 수 있으며, 나머지 2 종류의 증착막의 증착 공정을 위한 상기 프로세스 모듈 챔버의 개수는 각각 1개일 수 있다.The transfer module chamber may have an octagonal structure in planar projection, the deposition film may be three types, and the process module for the deposition process of the deposition film that takes the most deposition time among the three types of deposition films. The number of chambers may be four, and the number of process module chambers for the remaining two kinds of deposition films may be one.

상기 다수의 프로세스 모듈 챔버 각각은, 다수의 기판에 대한 증착 공정이 동시에 진행될 수 있도록 다수의 단위 챔버를 구비할 수 있다.Each of the plurality of process module chambers may include a plurality of unit chambers so that deposition processes for a plurality of substrates may be simultaneously performed.

상기 다수의 단위 챔버는 하나의 프로세스 모듈 챔버 내에서 높이 방향을 따라 다층으로 배열될 수 있다.The plurality of unit chambers may be arranged in multiple layers along a height direction in one process module chamber.

상기 다수의 단위 챔버 각각은, 상기 기판이 로딩되는 서셉터; 및 상기 기판의 표면에 상기 증착막이 증착될 수 있도록, 상기 서셉터의 상부에 마련되어 상기 서셉터 상에 로딩된 상기 기판의 표면으로 소정의 반응성 가스 이온을 방출시키는 전극을 포함할 수 있으며, 상기 다수의 프로세스 모듈 챔버 각각은, 그 내부에 마련된 다수의 단위 챔버 각각으로 상기 반응성 가스 이온을 공용으로 공급하는 가스 이온 공용 공급부; 상기 다수의 단위 챔버 각각에 대한 진공압을 공용으로 설정 및 설정해제하는 진공압 공용 펌프; 및 상기 프로세스 모듈 챔버 내의 진공압을 설정 및 설정해제하는 진공압 펌프를 더 포함할 수 있다.Each of the plurality of unit chambers includes: a susceptor on which the substrate is loaded; And an electrode provided on the susceptor to release predetermined reactive gas ions to the surface of the substrate loaded on the susceptor so that the deposition film is deposited on the surface of the substrate. Each of the process module chambers may include: a gas ion common supply unit for supplying the reactive gas ions to each of the plurality of unit chambers provided therein; A vacuum pressure common pump for commonly setting and unsetting a vacuum pressure for each of the plurality of unit chambers; And a vacuum pump that sets and releases the vacuum pressure in the process module chamber.

상기 증착막은, p 막(p-doped a-Si), i 막(a-Si/μc-Si) 및 n 막(n-doped a-Si)일 수 있으며, 상기 기판은 유리(glass) 기판일 수 있다.The deposition film may be a p film (p-doped a-Si), i film (a-Si / μc-Si) and n film (n-doped a-Si), the substrate is a glass (glass) substrate Can be.

본 발명에 따르면, 간단하고도 단순한 구조를 가지면서도 종래와 같이 증착 공정을 위한 불필요한 대기 시간이 증가하는 것을 저지하여 택트 타임을 감소시킬 수 있으며, 나아가 동시에 다수개의 기판에 대한 증착 공정을 진행할 수 있어 종래 보다 증착 효율 및 생산성을 향상시킬 수 있다.According to the present invention, it is possible to reduce the tact time by preventing the increase of unnecessary waiting time for the deposition process, while having a simple and simple structure, and at the same time, the deposition process for a plurality of substrates can be performed. It is possible to improve the deposition efficiency and productivity than conventional.

본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.In order to fully understand the present invention, the operational advantages of the present invention, and the objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings which illustrate preferred embodiments of the present invention and the contents described in the accompanying drawings.

이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, the present invention will be described in detail by explaining preferred embodiments of the present invention with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals in the drawings denote like elements.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치의 개략적인 구성도이고, 도 2는 프로세스 모듈 챔버의 개략적인 구성도이며, 도 3은 도 2의 세부 구조도이다.1 is a schematic configuration diagram of a chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a process module chamber, and FIG. 3 is a detailed structural diagram of FIG. 2.

이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치는, 증착 공정 대상의 기판이 인입되거나 증착이 완료된 기판이 취출되는 로드락 챔버(100a,100b)와, 로드락 챔버(100a,100b)와 연결되며 기판 핸들링 로봇(210)이 내부에 구비된 트랜스퍼 모듈 챔버(200)와, 트랜스퍼 모듈 챔버(200)에 연결되어 실질적인 증착 공정을 진행하는 다수의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)를 구비한다.As shown in these drawings, the chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to the present embodiment includes load lock chambers 100a and 100b into which a substrate of a deposition process is introduced or a substrate on which deposition is completed is taken out, and a load lock A transfer module chamber 200 connected to the chambers 100a and 100b and having a substrate handling robot 210 therein, and a plurality of process module chambers 300a connected to the transfer module chamber 200 to perform a substantial deposition process. And 300b and 300c.

본 실시예의 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치는, 트랜스퍼 모듈 챔버(200)가 평면 투영 시 8각형의 구조를 가지며, 8개의 각 변에, 2개의 로드락 챔버(100a,100b)와 6개의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)가 동심적으로 배열 되면서 트랜스퍼 모듈 챔버(200)에 연결된 구조를 갖는다.In the chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell of the present embodiment, the transfer module chamber 200 has an octagonal structure in planar projection, and two load lock chambers 100a and 100b and six processes on eight sides. The module chambers 300a, 300b, and 300c are arranged concentrically and have a structure connected to the transfer module chamber 200.

하지만, 본 발명의 권리범위가 이에 제한될 필요는 없다. 즉, 로드락 챔버(100a,100b)와 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)가 트랜스퍼 모듈 챔버(200)와 연결되는 구조를 갖는다면 그것으로 충분하므로, 트랜스퍼 모듈 챔버(200)는 8각형의 구조를 떠나 다양한 다각형의 구조를 가질 수도 있는 것이다.However, the scope of the present invention need not be limited thereto. That is, if the load lock chamber (100a, 100b) and the process module chamber (300a, 300b, 300c) has a structure that is connected to the transfer module chamber 200, it is sufficient, the transfer module chamber 200 is of an octagonal shape Apart from the structure, it may have various polygonal structures.

다만, 이하에서는 도 1을 참조하여 8각형 구조의 트랜스퍼 모듈 챔버(200)에 2개의 로드락 챔버(100a,100b)와, 6개의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)가 연결되는 것에 대해 상세히 설명하기로 한다.However, hereinafter, referring to FIG. 1, two load lock chambers 100a and 100b and six process module chambers 300a, 300b and 300c are connected to the transfer module chamber 200 having an octagonal structure in detail. Let's explain.

우선, 2개의 로드락 챔버(100a,100b)는, 증착 대상의 기판이 인입되는 인입 로드락 챔버(100a)와, 증착이 완료된 기판이 취출되는 취출 로드락 챔버(100b)로 구분된다.First, the two load lock chambers 100a and 100b are divided into an inlet load lock chamber 100a through which a substrate to be deposited is introduced and a takeout load lock chamber 100b through which a substrate on which deposition is completed is taken out.

본 실시예에서 인입 로드락 챔버(100a)와 취출 로드락 챔버(100b)는 상호 인접되도록 트랜스퍼 모듈 챔버(200)에 연결되고 있다. 이는 기판 핸들링 로봇(210)의 동작 거리를 가능한 한 줄여 택트 타임(tact time)을 감소시키기 위한 하나의 방편인데, 본 발명이 이에 제한될 필요는 없는 것이다.In this embodiment, the incoming load lock chamber 100a and the extraction load lock chamber 100b are connected to the transfer module chamber 200 so as to be adjacent to each other. This is one way to reduce the tact time by reducing the operating distance of the substrate handling robot 210 as much as possible, but the present invention is not limited thereto.

인입 로드락 챔버(100a) 및 취출 로드락 챔버(100b)에 대해 부연한다. 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)를 통한 기판의 증착 공정이 진행되기 위해 기판 핸들링 로봇(210)이 증착 대상의 기판을 해당 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)로 이송시키게 되는데, 이 때 대기압 상태에 있는 기판을 직접 고온 저압의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)로 진입시키는 과정에 어려움이 있기 때문에, 기판을 해당 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)로 이송하기 전에 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)와 동일한 환경을 조성해줄 필요가 있다. 이를 위해 인입 로드락 챔버(100a)가 마련되는 것이다.It expands with respect to the incoming load lock chamber 100a and the extraction load lock chamber 100b. In order to proceed with the deposition process of the substrate through the process module chambers 300a, 300b and 300c, the substrate handling robot 210 transfers the substrate to be deposited into the corresponding process module chambers 300a, 300b and 300c. Since it is difficult to directly enter the substrate in the atmospheric pressure into the process module chambers 300a, 300b and 300c of the high temperature and low pressure, the process module chamber before transferring the substrate to the corresponding process module chambers 300a, 300b and 300c. It is necessary to create the same environment as (300a, 300b, 300c). For this purpose, the inlet load lock chamber 100a is provided.

다시 말해, 인입 로드락 챔버(100a)는 장치 외측의 로봇(미도시)에 의해 외부로부터 증착 대상의 기판이 인입되면, 내부의 환경을 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)와 실질적으로 동일한 온도와 압력으로 조성하는 역할을 한다. 이처럼 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)와 실질적으로 동일한 환경이 조성된 인입 로드락 챔버(100a) 내의 기판은, 트랜스퍼 모듈 챔버(200)에 마련되는 기판 핸들링 로봇(210)에 의해 핸들링되어 해당 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)로 이송된 후 그 곳에서 해당 증착 공정이 수행된다.In other words, when the substrate to be deposited is introduced from the outside by a robot (not shown) outside the apparatus, the incoming load lock chamber 100a has a temperature substantially the same as that of the process module chambers 300a, 300b, and 300c. It plays a role in composition with pressure. As described above, the substrate in the inlet load lock chamber 100a having substantially the same environment as the process module chambers 300a, 300b, and 300c is handled by the substrate handling robot 210 provided in the transfer module chamber 200. After the transfer to the process module chambers 300a, 300b, and 300c, the deposition process is performed there.

이와는 반대로, 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c) 내에서 증착 공정이 완료된 기판은 기판 핸들링 로봇(210)에 의해 핸들링되어 장치의 외부로 취출되어야 하는데, 이 경우에도 외부와 실질적으로 동일한 온도와 압력을 유지한 채로 기판이 취출되어야 하기 때문에 취출 로드락 챔버(100b)가 마련되는 것이다.On the contrary, the substrate in which the deposition process is completed in the process module chambers 300a, 300b, and 300c must be handled by the substrate handling robot 210 and drawn out of the apparatus, in which case the temperature and pressure are substantially the same as the outside. The takeout load lock chamber 100b is provided because the substrate is to be taken out while maintaining.

결과적으로 인입 로드락 챔버(100a)와 취출 로드락 챔버(100b)는 기판에 대한 출입 통로를 형성하기는 하되, 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치의 내부 및 외부 환경 조건에 기초하여 미리 기판의 상태를 조율하기 위해 마련된다.As a result, the incoming load lock chamber 100a and the extraction load lock chamber 100b form an access passage to the substrate, but the state of the substrate is based on the internal and external environmental conditions of the chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell. Is arranged to coordinate.

하지만, 본 발명의 권리범위가 이에 제한되는 것은 아니므로, 인입 로드락 챔버(100a)와 취출 로드락 챔버(100b)가 반드시 구분되어 마련될 필요는 없다. 다시 말해 하나의 로드락 챔버(미도시)만을 마련하고, 이 로드락 챔버를 통해서 기판 의 출입이 모두 가능하도록 해도 무방하다.However, since the scope of the present invention is not limited thereto, the inlet load lock chamber 100a and the takeout load lock chamber 100b are not necessarily provided separately. In other words, only one load lock chamber (not shown) may be provided, and all of the substrates may be allowed through the load lock chamber.

다만, 본 실시예와 같이 인입 로드락 챔버(100a)와 취출 로드락 챔버(100b)가 별개로 마련될 경우라면 기판의 출입에 따른 로딩(loading) 혹은 대기 시간 등이 줄어들 수 있어 택트 타임 감소의 효과를 기대할 수 있고, 따라서 생산성 향상에 도움이 될 것임에 틀림이 없다.However, when the inlet load lock chamber 100a and the takeout load lock chamber 100b are separately provided as in the present embodiment, loading or waiting time may be reduced according to the entrance and exit of the substrate, thereby reducing tact time. It can be expected to be effective, and therefore must help to increase productivity.

로드락 챔버(100a,100b)에 대해 자세히 도시하고 있지는 않지만, 동시에 다수개의 기판에 대한 증착 공정 진행을 위해, 로드락 챔버(100a,100b)는 그 내부에 높이 방향을 따라 다수의 기판이 수용되는 다단의 단위 챔버(미도시)를 구비하고 있다.Although the load lock chambers 100a and 100b are not shown in detail, the load lock chambers 100a and 100b may accommodate a plurality of substrates in a height direction thereof in order to simultaneously proceed with a deposition process for a plurality of substrates. A multistage unit chamber (not shown) is provided.

로드락 챔버(100a,100b)에는 예컨대, 20장의 기판이 수용될 수 있도록 20단의 단위 챔버가 구비될 수 있다. 하지만, 본 발명의 권리범위가 이의 개수에 제한될 필요는 없다.The load lock chambers 100a and 100b may include, for example, 20 unit chambers to accommodate 20 substrates. However, the scope of the present invention need not be limited to the number thereof.

다만, 로드락 챔버(100a,100b)에, 특히 인입 로드락 챔버(100a)에 20장의 기판이 수용될 경우라면 트랜스퍼 모듈 챔버(200) 내의 기판 핸들링 로봇(210)이 20장의 기판을 한번에 파지하여 핸들링한 후, 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)로 각각 이송시킬 수 있으며, 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)에서는 한번에 동시에 20장의 기판에 대한 증착 공정을 진행해야 할 수 있을 것이며, 이와 같이 장치를 구성할 경우에는 뛰어난 생산성 효과를 기대할 수 있을 것이다.However, when 20 substrates are accommodated in the load lock chambers 100a and 100b, in particular, the incoming load lock chamber 100a, the substrate handling robot 210 in the transfer module chamber 200 grips 20 substrates at once. After handling, it may be transferred to the process module chambers 300a, 300b, and 300c, respectively. In the process module chambers 300a, 300b, and 300c, the deposition process for 20 substrates may be performed at the same time. If you configure the device together, you can expect a great productivity effect.

물론, 이러한 구조가 전혀 불가능한 것은 아니지만, 하나의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)에서 20장의 기판에 대한 증착 공정이 진행되려면 도 2 및 도 3과 같이 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c) 각각의 내부에 20개의 단위 챔버(310a~310e)를 마련해야 하는데, 이러한 경우라면 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)를 비롯한 장치의 높이 및 규모가 과도하게 높아지거나 거대해질 수 있기 때문에 실질적으로 바람직하지만은 않다.Of course, such a structure is not impossible at all, but if the deposition process for 20 substrates is performed in one process module chamber 300a, 300b, or 300c, the process module chambers 300a, 300b, and 300c may be processed as shown in FIGS. Each of the 20 unit chambers 310a to 310e must be provided in each case. In this case, the height and scale of the apparatus including the process module chambers 300a, 300b, and 300c may be excessively high or huge, which is practically desirable. But not.

따라서 후술하는 바와 같이 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c) 각각은 그 내부에서 5장(혹은 많더라도 10장 정도) 정도의 기판에 대한 증착 공정을 동시에 진행할 수 있는 정도의 규모로 제작될 수 있고, 이러한 경우에는 기판 핸들링 로봇(210)이 인입 로드락 챔버(100a) 내에 수용된 20장의 기판 중에서 5장의 기판을 파지하여 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)로 핸들링할 수 있을 것이다.Therefore, as will be described later, each of the process module chambers 300a, 300b, and 300c may be manufactured to such a scale that the deposition process for the substrate of about 5 sheets (or more than 10 sheets) may be simultaneously performed. In this case, the substrate handling robot 210 may grip the five substrates among the 20 substrates accommodated in the inlet load lock chamber 100a to handle the process module chambers 300a, 300b, and 300c.

이처럼 기판 핸들링 로봇(210)이 인입 로드락 챔버(100a) 내에 수용된 20장의 기판 중에서 5장의 기판을 파지하여 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)로 이송시키거나, 반대로 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)로부터 증착이 완료된 5장의 기판을 취출 로드락 챔버(100b)로 이송시키는 경우, 기판 핸들링 로봇(210)의 기판 핸들링 위치와 로드락 챔버(100a,100b) 내의 단위 챔버들 간의 상대적인 높이 차가 수시로 변경되면서 맞춰져야 하므로 이 때는 기판 핸들링 로봇(210)이 승하강 동작되도록 하든지 아니면 로드락 챔버(100a,100b) 내의 단위 챔버들이 승하강 동작되도록 해야 할 것이다.As such, the substrate handling robot 210 grips five substrates among the 20 substrates accommodated in the inlet load lock chamber 100a and transfers the five substrates to the process module chambers 300a, 300b, and 300c, or conversely, the process module chambers 300a and 300b. When the five substrates of which deposition has been completed from 300c are transferred to the take-off load lock chamber 100b, the relative height difference between the substrate handling position of the substrate handling robot 210 and the unit chambers in the load lock chambers 100a and 100b is different. Since it should be changed from time to time, the substrate handling robot 210 is to be moved up or down, or the unit chambers in the load lock chamber (100a, 100b) will have to be moved up and down.

만일, 전자와 같이 기판 핸들링 로봇(210)을 승하강시키려 하는 경우에는 기판 핸들링 로봇(210)의 위치 제어가 사실상 쉽지 않기 때문에 후자와 같이 로드락 챔버(100a,100b) 내의 단위 챔버들이 승하강 동작되도록 구현하는 것이 바람직할 것이다. 이러한 구조는 로드락 챔버(100a,100b) 내에 기판의 승하강 동작을 위한 엘리베이터 구조를 적용함으로써 쉽게 구현이 가능하므로 이에 대한 도면 및 설명은 생략하기로 한다.If the substrate handling robot 210 is to be moved up and down like the former, since the position control of the substrate handling robot 210 is not easy, the unit chambers in the load lock chambers 100a and 100b are moved up and down like the latter. It would be desirable to implement it. This structure can be easily implemented by applying the elevator structure for the lifting operation of the substrate in the load lock chamber (100a, 100b), so the drawings and description thereof will be omitted.

트랜스퍼 모듈 챔버(200)는 6개의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)와 2개의 로드락 챔버(100a,100b)를 연결하는 챔버이다. 트랜스퍼 모듈 챔버(200)는 도시된 바와 같이 평면 투영 시 8각형 구조를 갖는다.The transfer module chamber 200 is a chamber connecting the six process module chambers 300a, 300b, and 300c and the two load lock chambers 100a and 100b. The transfer module chamber 200 has an octagonal structure in planar projection as shown.

앞서도 기술한 바와 같이, 트랜스퍼 모듈 챔버(200)의 내부에는 6개의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)와 2개의 로드락 챔버(100a,100b)로 예컨대 5장의 기판을 동시에 핸들링(handling)하는 기판 핸들링 로봇(210)이 마련되고, 또한 트랜스퍼 모듈 챔버(200)의 내부에서 기판 핸들링 로봇(210)에 의해 가로/세로의 폭이 1.5 미터 내외의 소위, 5세대라 불리는 기판이 이송되어야 하므로 트랜스퍼 모듈 챔버(200)는 거대한 구조물로 마련된다.As described above, the six transfer module chambers 300a, 300b, and 300c and two load lock chambers 100a and 100b, for example, simultaneously handle five substrates inside the transfer module chamber 200. Substrate handling robot 210 is provided, and also because the substrate handling robot 210 inside the transfer module chamber 200, the width of the width / length of 1.5 meters or so, so-called substrate called the fifth generation should be transferred The module chamber 200 is provided in a huge structure.

한편, 6개의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)는 고온 저압의 환경에서 기판에 대한 실질적인 증착 공정을 진행하는 부분이다.Meanwhile, the six process module chambers 300a, 300b, and 300c perform a substantial deposition process on the substrate in an environment of high temperature and low pressure.

즉, 6개의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)를 통해서 기판의 표면에는 p 막(p-doped a-Si), i 막(a-Si/μc-Si), n 막(n-doped a-Si)의 증착막이 증착될 수 있다.That is, the p film (p-doped a-Si), i film (a-Si / μc-Si), and n film (n-doped a) are formed on the surface of the substrate through the six process module chambers 300a, 300b, and 300c. A deposited film of -Si) can be deposited.

물론, p 막, i 막, n 막 모두가 반드시 기판의 표면에 증착되어야 하는 것은 아니며, 경우에 따라 p 막, i 막, n 막 중에서 어느 하나는 제외될 수도 있다. 뿐만 아니라 p 막, i 막, n 막 외의 다른 증착막이 기판의 표면에 증착될 수도 있는 데, 이 경우에는 도 1에 도시된 6개의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c) 중에서 적어도 어느 하나를 선택하여 해당 증착막의 증착을 위한 반응성 가스 이온을 제공하면 된다.Of course, not all of the p film, the i film, and the n film need to be deposited on the surface of the substrate, and in some cases, any one of the p film, the i film, and the n film may be excluded. In addition, other deposition films other than the p film, the i film, and the n film may be deposited on the surface of the substrate, in which case at least one of the six process module chambers 300a, 300b, and 300c shown in FIG. 1 is selected. What is necessary is just to provide the reactive gas ion for vapor deposition of the said vapor deposition film.

이하에서는 기판의 표면에 p 막, i 막, n 막이 모두, 그리고 순서대로 증착되며, p 막, i 막, n 막 중에서 i 막의 증착 시간이 p 막, n 막의 증착 시간보다 훨씬 더 긴 것으로 가정하고 설명하기로 한다. 물론, p 막, i 막, n 막의 증착막 배열 순서와 증착 시간 등은 경우에 따라 달라질 수 있다.In the following description, it is assumed that the p film, the i film, and the n film are all deposited on the surface of the substrate, and in order, and the deposition time of the i film among the p film, the i film, and the n film is much longer than that of the p film and the n film. Let's explain. Of course, the deposition film arrangement order and deposition time of the p film, the i film, and the n film may be changed in some cases.

이와 같이, 기판의 표면에 p 막, i 막, n 막을 증착시킴에 있어 i 막의 증착 시간이 p 막, n 막의 증착 시간보다 훨씬 더 많이 소요됨에도 불구하고 종래와 같이 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a), i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b), n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)가 트랜스퍼 모듈 챔버(200)에 동일한 개수, 특히 하나씩 마련되면, p 막, n 막의 증착 공정이 완료되었음에도 불구하고 i 막의 증착 공정이 완료될 때가지 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a) 및 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)가 대기해야 하기 때문에 전반적으로 택트 타임(tact time) 증가하여 생산성이 저하될 수밖에 없다.As described above, although the deposition time of the i film is much longer than that of the p film and the n film in depositing the p film, the i film, and the n film on the surface of the substrate, the process module chamber for p film deposition as in the prior art ( 300a), if the i film deposition process module chamber 300b and the n film deposition process module chamber 300c are provided in the transfer module chamber 200 in the same number, especially one by one, even though the deposition process of the p film and the n film is completed, Nevertheless, since the process film chamber 300a for p film deposition and the process module chamber 300c for film deposition n have to wait until the deposition process of the i film is completed, the overall tact time increases and productivity is reduced. It must be.

이에, 본 실시예에서는 기판의 표면에 증착될 다수의 증착막(p 막, i 막, n 막) 중에서 그 증착 시간이 상대적으로 많이 소요되는 증착막인 i 막의 증착 공정을 위한 i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)의 개수가, 증착 시간이 상대적으로 적게 소요되는 증착막(p 막, n 막)의 증착 공정을 위한 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a) 및 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)의 개수보다 상대적으로 더 많이 마련되어 트랜스퍼 모듈 챔버(200)와 연결되도록 함으로써 종래의 문제점을 해소하고 있는 것이다.Accordingly, in the present embodiment, a process module chamber for i film deposition for a deposition process of an i film, which is a deposition film that requires a relatively high deposition time among a plurality of deposition films (p film, i film, n film) to be deposited on the surface of the substrate. The number of (300b) of the p film deposition process module chamber 300a and the n film deposition process module chamber 300c for the deposition process of the deposition film (p film, n film) that takes a relatively short deposition time By providing a relatively larger number than the transfer module chamber 200 to solve the conventional problems.

즉, 본 실시예의 경우에는 도 1에 도시된 바와 같이, 6개의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c) 가운데, p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a) 및 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)는 각각 1개씩 마련되고 있는 반면 i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)는 4개 마련되고 있다.That is, in the present embodiment, as shown in FIG. 1, of the six process module chambers 300a, 300b, and 300c, the p film deposition process module chamber 300a and the n film deposition process module chamber 300c. 1 is provided one by one, and four process module chambers 300b for i film deposition are provided.

이처럼 i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)의 개수를 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a) 및 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)의 개수보다 늘리면, 종래와 같이 p 막, n 막의 증착 공정이 완료되었음에도 불구하고 i 막의 증착 공정이 완료될 때가지 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a) 및 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)가 대기해야 하는 불필요한 시간을 줄일 수 있게 된다.As such, when the number of the i film deposition process module chamber 300b is increased to the number of the p film deposition process module chamber 300a and the n film deposition process module chamber 300c, the deposition process of the p film and the n film as in the prior art is performed. Although this is completed, it is possible to reduce unnecessary time for the p film deposition process module chamber 300a and the n film deposition process module chamber 300c to wait until the i film deposition process is completed.

물론, 본 발명의 권리범위가 이에 제한될 필요는 없다. 예컨대, p 막과 n 막의 경우에도 만약, p 막보다 n 막의 증착 시간이 좀 더 길어야 한다면, i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)의 개수를 한 개 줄이면서 대신에 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)의 개수를 한 개 더 늘리는 등 적절한 선택을 하면 된다. 이러한 변경은 p 막, i 막, n 막 외의 다른 증착막에도 동일하게 적용될 수 있으며, 적용의 과정이 어렵지 않기 때문에 현장 상황에 맞게 쉽게 구현될 수 있는 장점이 있다.Of course, the scope of the present invention need not be limited thereto. For example, even in the case of the p film and the n film, if the deposition time of the n film should be longer than that of the p film, the process module chamber for n film deposition is reduced instead of reducing the number of i film deposition process module chambers 300b by one. An appropriate selection may be made, such as increasing the number of (300c) one more. This change can be equally applied to other deposited films other than the p film, the i film, and the n film, and since the application process is not difficult, there is an advantage that can be easily implemented according to the site situation.

한편, 앞서도 기술한 바와 같이, 6개의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)는 트랜스퍼 모듈 챔버(200)의 둘레 방향을 따라 배열된다. 이는 트랜스퍼 모듈 챔 버(200) 내에 구비된 기판 핸들링 로봇(210)의 동작 경로를 단축시켜 택트 타임을 감소시키기 위한 방안이다.Meanwhile, as described above, the six process module chambers 300a, 300b, and 300c are arranged along the circumferential direction of the transfer module chamber 200. This is a method for reducing the tact time by shortening the operation path of the substrate handling robot 210 provided in the transfer module chamber 200.

이와 같이 트랜스퍼 모듈 챔버(200)의 둘레 방향을 따라 1개의 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a), 4개의 i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b), 그리고 1개의 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)를 배치함에 있어, 본 실시예에서는 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a)가 인입 로드락 챔버(100a)에 인접되게, 그리고 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)가 취출 로드락 챔버(100b)에 인접되도록 하고 있다. 이유는 기판에 p 막, i 막, n 막이 순서대로 증착되기 때문이며, 이처럼 인입 로드락 챔버(100a)와 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a)를 가깝게 배치하고, 취출 로드락 챔버(100b)와 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)를 가깝게 배치함으로써 기판이 이송되는 시간을 그만큼 더 단축시켜 택트 타임을 단축시키고자 하는 것이다.As described above, one p film deposition process module chamber 300a, four i film deposition process module chambers 300b, and one n film deposition process module chambers 300 may be disposed along the circumferential direction of the transfer module chamber 200. In the arrangement 300c, in this embodiment, the p film deposition process module chamber 300a is adjacent to the incoming load lock chamber 100a, and the n film deposition process module chamber 300c is a takeout load lock chamber ( Adjacent to 100b). This is because the p film, the i film, and the n film are deposited on the substrate in this order. Thus, the inlet load lock chamber 100a and the process module chamber 300a for p film deposition are disposed close to each other, and the takeout load lock chamber 100b and It is intended to shorten the tact time by further shortening the transfer time of the substrate by arranging the process module chamber 300c for n film deposition in close proximity.

한편, 앞서도 잠시 언급한 바와 같이, 6개의 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c) 각각은, 그 내부에서 5개의 기판에 대한 증착 공정이 동시에 진행될 수 있도록 5개의 단위 챔버(310a~310e)를 구비한다.Meanwhile, as mentioned earlier, each of the six process module chambers 300a, 300b, and 300c includes five unit chambers 310a to 310e so that deposition processes for five substrates may be simultaneously performed therein. do.

도 2 및 도 3을 통해 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a)의 내부 구조에 대해 설명하면 다음과 같다.The internal structure of the process module chamber 300a for p film deposition will be described with reference to FIGS. 2 and 3 as follows.

i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)와 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)의 내부 구조에 대해서는 별도로 도시하고 있지 않지만 도 2 및 도 3의 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a)의 내부 구조와 동일한 것으로 간주하도록 한 다.Although the internal structures of the i film deposition process module chamber 300b and the n film deposition process module chamber 300c are not shown separately, the internal structures of the p film deposition process module chamber 300a of FIGS. 2 and 3 are not shown. To be considered equal.

도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a)의 내부에는 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a)의 높이 방향을 따라 5개의 단위 챔버(310a~310e)가 다층으로 배열되어 있다. 설치 및 유지보수의 편의성을 위해 5개의 단위 챔버(310a~310e)들 간의 간격은 실질적으로 동일한 것이 바람직하다.As illustrated in FIGS. 2 and 3, five unit chambers 310a to 310e are multi-layered in the p film deposition process module chamber 300a along the height direction of the p film deposition process module chamber 300a. Are arranged. For convenience of installation and maintenance, the spacing between the five unit chambers 310a to 310e is preferably substantially the same.

5개의 단위 챔버(310a~310e)들 각각은, 기판이 로딩되는 서셉터(311)와, 기판의 표면에 p 막의 증착막이 증착될 수 있도록 서셉터(311)의 상부에 마련되어 서셉터(311) 상에 로딩된 기판의 표면으로 p 막 증착을 위한 반응성 가스 이온을 방출시키는 전극(312)을 구비한다.Each of the five unit chambers 310a to 310e includes a susceptor 311 on which a substrate is loaded and a susceptor 311 provided on an upper part of the susceptor 311 so that a deposition film of a p film may be deposited on a surface of the substrate. And an electrode 312 that releases reactive gas ions for p film deposition to the surface of the substrate loaded thereon.

물론, 단위 챔버(310a~310e)들 각각에는 서셉터(311) 및 전극(312) 외에도, 서셉터(311) 상으로 기판을 로딩 및 언로딩시키기 위한 리프트 핀(lift pin), 전극(312)을 지지하는 현가지지수단(미도시), 전극(312)의 처짐을 방지하는 처짐방지수단(미도시) 등이 더 갖춰질 수 있는데, 이들에 대해서는 선출원된 기술을 인용하도록 하고, 여기서는 생략하기로 한다.Of course, in addition to the susceptor 311 and the electrode 312 in each of the unit chambers 310a to 310e, a lift pin and an electrode 312 for loading and unloading the substrate onto the susceptor 311. Suspension support means (not shown) for supporting the, and sag prevention means (not shown) for preventing the sag of the electrode 312, etc. may be further provided, for which reference is made to the prior art description, and will be omitted here. .

내부에 5개의 단위 챔버(310a~310e)들이 갖춰진 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a)에는 5개의 단위 챔버(310a~310e)들 각각으로 p 막 증착용 반응성 가스 이온을 공용으로 공급하는 가스 이온 공용 공급부(320)와, 5개의 단위 챔버(310a~310e) 각각에 대한 진공압을 공용으로 설정 및 설정해제하는 진공압 공용 펌프(330)와, p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a) 내의 진공압을 설정 및 설정해제하는 진공압 펌프(340)가 더 마련되어 있다.The p-film deposition process module chamber 300a having five unit chambers 310a to 310e therein is a gas ion that commonly supplies reactive gas ions for p-film deposition to each of the five unit chambers 310a to 310e. A common supply unit 320, a vacuum pressure common pump 330 for setting and releasing a vacuum pressure for each of the five unit chambers 310a to 310e in common, and a vacuum in the process module chamber 300a for p film deposition. There is further provided a vacuum pump 340 for setting and unsetting the pneumatic pressure.

가스 이온 공용 공급부(320)와 5개의 단위 챔버(310a~310e)를 연결하는 라인에는 해당 라인의 단속을 위한 단속밸브(321a~321e)가 마련되어 있으며, 진공압 공용 펌프(330)와 5개의 단위 챔버(310a~310e)를 연결하는 라인에는 해당 라인의 단속을 위한 단속밸브(331a~331e)가 마련되어 있다. 이에 의해, 만일 5개의 단위 챔버(310a~310e) 중 어느 하나에 고장이 발생하면 해당 단위 챔버에 대응하는 단속밸브(321a~321e,331a~331e)를 끊고 나머지 단위 챔버를 통해 증착 공정을 계속 진행할 수 있기 때문에 장치의 가동률을 높일 수 있는 추가의 이점이 있다. 가스 이온 공용 공급부(320), 진공압 공용 펌프(330) 및 진공압 펌프(340)로부터의 연장 라인에는 각각 해당 라인을 개폐하는 개폐기(320a,330a,340a)가 더 구비되어 있다.In the line connecting the gas ion common supply unit 320 and the five unit chambers 310a to 310e, there are intermittent valves 321a to 321e for controlling the line, and the vacuum common pump 330 and five units are provided. In the line connecting the chambers 310a to 310e, there are intermittent valves 331a to 331e for controlling the lines. As a result, if a failure occurs in any one of the five unit chambers 310a to 310e, the intermittent valves 321a to 321e and 331a to 331e corresponding to the unit chambers may be disconnected and the deposition process may continue through the remaining unit chambers. As a result, there is an additional advantage to increase the utilization of the device. The extension lines from the gas ion common supply unit 320, the vacuum pressure common pump 330, and the vacuum pressure pump 340 are further provided with switchgear 320a, 330a, and 340a for opening and closing the corresponding lines, respectively.

이러한 구성에 의해, 박막 태양전지 제조를 위한 하나의 공정으로서 기판에 증착막을 형성시키는 방법에 대해 설명하면 다음과 같다.By such a configuration, a method of forming a deposition film on a substrate as one process for manufacturing a thin film solar cell is as follows.

우선, 외부의 로봇(미도시)이 증착 대상의 기판 20장을 인입 로드락 챔버(100a)로 인입시킨다. 그리고 나서 트랜스퍼 모듈 챔버(200) 내의 기판 핸들링 로봇(210)이 로드락 챔버(100a)로부터 예컨대 5장의 기판을 파지하여 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a) 내의 5개의 단위 챔버(310a~310e)로 각각 이송시킨다.First, an external robot (not shown) draws 20 substrates to be deposited into the incoming load lock chamber 100a. Subsequently, the substrate handling robot 210 in the transfer module chamber 200 holds, for example, five substrates from the load lock chamber 100a, so that the five unit chambers 310a to 310e in the process module chamber 300a for p film deposition. To each of them.

5장의 기판이 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a) 내의 5개의 단위 챔버(310a~310e)로 인입되어 해당 서셉터(311) 상에 로딩되면, 가스 이온 공용 공급부(321)로부터 p 막 증착용 반응성 가스 이온이 공급되어 해당 전극(312)을 통해 기판의 표면으로 공급됨으로써 기판에는 첫 번째 증착막으로서의 p 막이 증착된다.When five substrates are introduced into the five unit chambers 310a to 310e in the process module chamber 300a for p film deposition and loaded on the susceptor 311, the p film deposition from the gas ion common supply 321 is performed. Reactive gas ions are supplied and supplied to the surface of the substrate through the corresponding electrode 312 so that the p film as the first deposition film is deposited on the substrate.

p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a)를 통해 상대적으로 그 증착 시간이 빠른 p 막의 증착이 완료되면, 기판 핸들링 로봇(210)은 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a)로부터 p 막의 증착이 완료된 기판을 꺼내어 어느 한 i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)로 이송시키게 되며, i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)에서는 위의 방법과 동일한 방법으로 p 막 상에 i 막이 증착되도록 한다.When the deposition of the p film, which has a relatively high deposition time, is completed through the process film chamber 300a for p film deposition, the substrate handling robot 210 may complete the deposition of the p film from the process module chamber 300a for p film deposition. The film is taken out and transferred to one of the i film deposition process module chambers 300b, and in the i film deposition process module chamber 300b, the i film is deposited on the p film by the same method as the above method.

한편, 이 때, 비어있는 p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a) 내부로는 새로운 5장의 기판이 인입 로드락 챔버(100a)로부터 다시 인입되어 p 막의 증착 공정을 진행하게 되고, p 막의 증착 공정이 완료되면 다른 i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)로 이송시켜 p 막 상에 i 막이 증착되도록 한다.Meanwhile, at this time, five new substrates are introduced into the empty p film deposition process module chamber 300a from the incoming load lock chamber 100a to proceed with the deposition process of the p film, and the deposition process of the p film is performed. When complete, the process is transferred to another process film chamber 300b for i film deposition to allow the i film to be deposited on the p film.

전술한 바와 같이, i 막의 증착을 위한 증착 시간은 p 막의 증착을 위한 증착 시간보다 훨씬 더 길기 때문에 위의 과정은 반복적으로 진행된다.As described above, the above process is repeated because the deposition time for the deposition of the i film is much longer than the deposition time for the deposition of the p film.

그리고 첫 번째로 i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)의 내부로 인입되어 p 막 상에 i 막이 증착 완료된 기판은 기판 핸들링 로봇(210)에 의해 핸들링되어 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)로 이송되며, n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c) 내에서 i 막 상에 n 막이 증착되도록 한다.Firstly, the substrate which is introduced into the i film deposition process module chamber 300b and the i film is deposited on the p film is handled by the substrate handling robot 210 to the n film deposition process module chamber 300c. Transferred and causes an n film to be deposited on the i film in the n film deposition process module chamber 300c.

n 막의 증착을 위한 증착 시간 역시 빠르기 때문에, 종국적으로 n 막의 증착이 완료된 기판은 취출 로드락 챔버(100b)를 통해 신속하게 취출되며, 기판이 취출되는 과정에서 비어 있는 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c) 내로는, 두 번째로 i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)의 내부로 인입되어 p 막 상에 i 막이 증착 완료된 기판이 다시 이송되어 n 막이 증착되는 동일한 과정을 반복하게 된다.Since the deposition time for the deposition of the n film is also fast, the substrate in which the deposition of the n film is finally taken out is quickly taken out through the take-out load lock chamber 100b, and the process module chamber for n film deposition that is empty in the process of taking out the substrate ( 300c), the second process is introduced into the i film deposition process module chamber 300b, and the substrate on which the i film is deposited on the p film is transferred again to repeat the same process in which the n film is deposited.

이와 같이, 기판 상에 p 막, i 막, n 막을 증착시키되 상대적으로 증착 시간 이 긴 i 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300b)의 개수를 늘여 배열한 본 실시예에 따르면, 간단하고도 단순한 구조를 가지면서도 종래와 같이 증착 공정을 위한 불필요한 대기 시간이 증가하는 것을 저지하여 택트 타임을 감소시킬 수 있으며, 나아가 동시에 다수개의 기판에 대한 증착 공정을 진행할 수 있어 종래보다 증착 효율 및 생산성을 향상시킬 수 있게 된다.As described above, according to the present exemplary embodiment in which a p film, an i film, and an n film are deposited on a substrate, and the number of process module chambers 300b for i film deposition, which has a relatively long deposition time, is increased and arranged, a simple and simple structure is obtained. It is possible to reduce the tact time by preventing the increase of unnecessary waiting time for the deposition process as in the prior art, and furthermore, the deposition process for a plurality of substrates can be performed at the same time, so that the deposition efficiency and productivity can be improved. do.

또한 다각형 구조를 갖는 트랜스퍼 모듈 챔버(200)의 둘레 방향을 따라 인입 및 취출 로드락 챔버(100a,100b)를 비롯하여 프로세스 모듈 챔버(300a,300b,300c)들이 동심적으로 배열되고, 또한 인입 및 취출 로드락 챔버(100a,100b)는 상호 인접되게 마련되며, 인입 로드락 챔버(100a)에 인접되게(가깝게) p 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300a)가, 그리고 취출 로드락 챔버(100b)에 인접되게 n 막 증착용 프로세스 모듈 챔버(300c)가 배치됨에 따라 불필요하게 낭비될 수 있는 시간을 더욱 줄일 수 있어 택트 타임을 감소시킬 수 있게 됨으로써 생산성을 더욱 향상시킬 수 있게 된다.In addition, along the circumferential direction of the transfer module chamber 200 having a polygonal structure, the process module chambers 300a, 300b, and 300c are arranged concentrically, including the lead-in and take-off load lock chambers 100a and 100b. The load lock chambers 100a and 100b are provided adjacent to each other, the process module chamber 300a for p film deposition adjacent to (closely) the incoming load lock chamber 100a and adjacent to the take-off load lock chamber 100b. Therefore, as the n film deposition process module chamber 300c is disposed, it is possible to further reduce unnecessary time, thereby reducing the tact time, thereby further improving productivity.

이와 같이 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.As described above, the present invention is not limited to the described embodiments, and various modifications and changes can be made without departing from the spirit and scope of the present invention, which will be apparent to those skilled in the art. Therefore, such modifications or variations will have to be belong to the claims of the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치의 개략적인 구성도이다.1 is a schematic configuration diagram of a chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell according to an embodiment of the present invention.

도 2는 프로세스 모듈 챔버의 개략적인 구성도이다.2 is a schematic diagram of a process module chamber.

도 3은 도 2의 세부 구조도이다.3 is a detailed structural diagram of FIG. 2.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings

100a,100b : 로드락 챔버 200 : 트랜스퍼 모듈 챔버100a, 100b: load lock chamber 200: transfer module chamber

210 : 기판 핸들링 로봇 300a,300b,300c : 프로세스 모듈 챔버210: substrate handling robot 300a, 300b, 300c: process module chamber

310a~310e : 단위 챔버 310 : 서셉터310a ~ 310e: unit chamber 310: susceptor

312 : 전극 320 : 가스 이온 공용 공급부312 electrode 320 gas ion common supply

330 : 진공압 공용 펌프 340 : 진공압 펌프330: vacuum common pump 340: vacuum pump

Claims (11)

기판을 핸들링하는 기판 핸들링 로봇이 내부에 마련되는 트랜스퍼 모듈 챔버;A transfer module chamber in which a substrate handling robot for handling a substrate is provided; 상기 트랜스퍼 모듈 챔버의 일측에 연결되어 상기 기판이 출입되는 적어도 하나의 로드락 챔버; 및At least one load lock chamber connected to one side of the transfer module chamber to allow the substrate to enter and exit the chamber; And 상기 트랜스퍼 모듈 챔버의 타측에 연결되어 상기 기판에 대한 실질적인 증착 공정이 진행되는 다수의 프로세스 모듈 챔버를 포함하며,A plurality of process module chambers connected to the other side of the transfer module chamber to perform a substantial deposition process on the substrate, 상기 다수의 프로세스 모듈 챔버는, 상기 기판의 표면에 증착될 다수의 증착막 중에서 그 증착 시간이 상대적으로 많이 소요되는 증착막의 증착 공정을 위한 프로세스 모듈 챔버의 개수가, 증착 시간이 상대적으로 적게 소요되는 증착막의 증착 공정을 위한 프로세스 모듈 챔버의 개수보다 상대적으로 더 많게 마련되어 상기 트랜스퍼 모듈 챔버와 연결되는 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.The plurality of process module chambers may include a deposition film in which a number of process module chambers for a deposition process of a deposition film, which requires a relatively long deposition time, among a plurality of deposition films to be deposited on a surface of the substrate, requires a relatively short deposition time. The chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell, characterized in that a relatively larger number than the number of process module chambers for the deposition process is connected to the transfer module chamber. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 다수의 프로세스 모듈 챔버는 상기 트랜스퍼 모듈 챔버의 둘레 방향을 따라 배열되도록 상기 트랜스퍼 모듈 챔버에 인접하게 배치되어 상기 트랜스퍼 모듈 챔버와 연결되는 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.And the plurality of process module chambers are disposed adjacent to the transfer module chamber to be arranged along the circumferential direction of the transfer module chamber and connected to the transfer module chamber. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 트랜스퍼 모듈 챔버는 평면 투영 시 다각형 구조를 가지며,The transfer module chamber has a polygonal structure in planar projection, 상기 적어도 하나의 로드락 챔버와 상기 다수의 프로세스 모듈 챔버는 다각형 구조의 상기 트랜스퍼 모듈 챔버의 각 변에 인접하게 배치되어 상기 트랜스퍼 모듈 챔버와 연결되는 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.The at least one load lock chamber and the plurality of process module chambers are disposed adjacent to each side of the transfer module chamber of a polygonal structure and connected with the transfer module chamber. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 적어도 하나의 로드락 챔버는,The at least one load lock chamber, 증착 대상의 기판이 인입되는 인입 로드락 챔버; 및An incoming load lock chamber into which a substrate to be deposited is introduced; And 증착이 완료된 기판이 취출되는 취출 로드락 챔버를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.A chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell, comprising: a takeout load lock chamber through which a substrate on which deposition is completed is taken out. 제4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 인입 로드락 챔버와 상기 취출 로드락 챔버는 상호 인접하게 배치되어 상기 트랜스퍼 모듈 챔버와 연결되는 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.The incoming load lock chamber and the take-out load lock chamber is disposed adjacent to each other and connected to the transfer module chamber, the chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 다수의 프로세스 모듈 챔버 중에서, 상기 기판의 표면에 최초로 증착되는 증착막의 증착 공정을 위한 프로세스 모듈 챔버는 상기 인입 로드락 챔버에 인접되게 배치되고, 상기 기판의 표면에 마지막으로 증착되는 증착막의 증착 공정을 위한 프로세스 모듈 챔버는 상기 취출 로드락 챔버에 인접되게 배치되는 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.Among the plurality of process module chambers, a process module chamber for depositing a deposition film first deposited on a surface of the substrate is disposed adjacent to the incoming load lock chamber, and a deposition process of a deposition film finally deposited on a surface of the substrate. Process module chamber for the chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell, characterized in that disposed adjacent to the take-out load lock chamber. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 트랜스퍼 모듈 챔버는 평면 투영 시 8각형 구조를 가지며,The transfer module chamber has an octagonal structure in planar projection, 상기 증착막의 종류는 3 종류이며,There are three kinds of vapor deposition film, 상기 3 종류의 증착막 중에서 그 증착 시간이 가장 많이 소요되는 증착막의 증착 공정을 위한 상기 프로세스 모듈 챔버의 개수는 4개이며,The number of the process module chambers for the deposition process of the deposition film that takes the most deposition time among the three kinds of deposition films is four, 나머지 2 종류의 증착막의 증착 공정을 위한 상기 프로세스 모듈 챔버의 개수는 각각 1개인 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.Chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell, characterized in that the number of the process module chamber for the deposition process of the remaining two kinds of deposition film, respectively one. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 다수의 프로세스 모듈 챔버 각각은, 다수의 기판에 대한 증착 공정이 동시에 진행될 수 있도록 다수의 단위 챔버를 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.Each of the plurality of process module chambers includes a plurality of unit chambers so that deposition processes for a plurality of substrates may be simultaneously performed. 제8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 다수의 단위 챔버는 하나의 프로세스 모듈 챔버 내에서 높이 방향을 따라 다층으로 배열되는 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.The plurality of unit chambers are chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell, characterized in that arranged in a multi-layer along the height direction in one process module chamber. 제9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 다수의 단위 챔버 각각은,Each of the plurality of unit chambers, 상기 기판이 로딩되는 서셉터; 및A susceptor on which the substrate is loaded; And 상기 기판의 표면에 상기 증착막이 증착될 수 있도록, 상기 서셉터의 상부에 마련되어 상기 서셉터 상에 로딩된 상기 기판의 표면으로 소정의 반응성 가스 이온을 방출시키는 전극을 포함하며,An electrode provided on the susceptor to release predetermined reactive gas ions to the surface of the substrate loaded on the susceptor so that the deposition film is deposited on the surface of the substrate, 상기 다수의 프로세스 모듈 챔버 각각은,Each of the plurality of process module chambers, 그 내부에 마련된 다수의 단위 챔버 각각으로 상기 반응성 가스 이온을 공용으로 공급하는 가스 이온 공용 공급부;A gas ion common supply unit which commonly supplies the reactive gas ions to each of the plurality of unit chambers provided therein; 상기 다수의 단위 챔버 각각에 대한 진공압을 공용으로 설정 및 설정해제하는 진공압 공용 펌프; 및A vacuum pressure common pump for commonly setting and unsetting a vacuum pressure for each of the plurality of unit chambers; And 상기 프로세스 모듈 챔버 내의 진공압을 설정 및 설정해제하는 진공압 펌프를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.And a vacuum pump for setting and releasing the vacuum pressure in the process module chamber. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 증착막은, p 막(p-doped a-Si), i 막(a-Si/μc-Si) 및 n 막(n-doped a- Si)이며,The deposition film is a p film (p-doped a-Si), i film (a-Si / μc-Si) and n film (n-doped a-Si), 상기 기판은 유리(glass) 기판인 것을 특징으로 하는 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치.The substrate is a chemical vapor deposition apparatus for manufacturing a thin film solar cell, characterized in that the glass (glass) substrate.
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