KR20100007971A - 스위치 디바운싱(ｄｅ-ｂｏｕｎｃｉｎｇ) 장치 및 방법 - Google Patents

스위치 디바운싱(ｄｅ-ｂｏｕｎｃｉｎｇ) 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20100007971A
KR20100007971A KR1020097025595A KR20097025595A KR20100007971A KR 20100007971 A KR20100007971 A KR 20100007971A KR 1020097025595 A KR1020097025595 A KR 1020097025595A KR 20097025595 A KR20097025595 A KR 20097025595A KR 20100007971 A KR20100007971 A KR 20100007971A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
switch
state
sample
counter value
voltage
Prior art date
Application number
KR1020097025595A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101094016B1 (ko
Inventor
존 필립 테일러
Original Assignee
키오세라 와이어리스 코포레이션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 키오세라 와이어리스 코포레이션 filed Critical 키오세라 와이어리스 코포레이션
Publication of KR20100007971A publication Critical patent/KR20100007971A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101094016B1 publication Critical patent/KR101094016B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/125—Discriminating pulses
    • H03K5/1252—Suppression or limitation of noise or interference
    • H03K5/1254—Suppression or limitation of noise or interference specially adapted for pulses generated by closure of switches, i.e. anti-bouncing devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

스위치 디바운싱(de-bouncing) 장치가 샘플러에 의해 발생된 샘플들을 계수하는 다수의 계수기를 포함하며, 상기 샘플러는 계수기 값이 제 1 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대하여 증가되고 제 2 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대하여 감소되는 한 스위치 출력을 샘플링한다. 한 제어기가 계수기 값이 제 1 상태 한계 값을 초과한 때 스위치가 제 1 스위치 상태에 있는 가를 결정하도록 하며, 계수기 값이 제 2 상태 한계 값 이하인 때 스위치가 제 2 스위치 상태에 있는 가를 결정하도록 한다.

Description

스위치 디바운싱(ｄｅ-ｂｏｕｎｃｉｎｇ) 장치 및 방법{SWITCH DE-BOUNCING DEVICE AND METHOD}
본 발명은 스위치에 대한 것이며, 특히 스위치 디바운싱(de-bouncing) 장치 및 방법에 대한 것이다.
전기 스위치는 잡음, 바운스(bounce), 또는 다른 원인들로 인해 스위치 출력이 오류 판독을 일으키는 문제를 갖는다. 가령, 기계적 스위치 접촉은 스위치가 한 상태에서 다른 한 상태로 트리거된 후에 접촉들이 바운스되기 때문에 개방되고 닫혀 질 수 있다. 그 결과의 스위치 출력은 스위치의 멀티플 활동(스위치가 열렸다 닫혔다 하는)으로 해석될 수 있거나, 결국 바람직하지 않은 판독에 이르도록 할 수 있다. 용량성 터치 스위치와 같은 다른 타입의 스위치들은 바운스를 만드는 다른 기계적 이동 접촉을 갖지 않지만, 잡음과 같은 다른 원인으로 인해 부정확한 출력을 일으킬 수 있다. 전기-자기 신호 및 정전기가 가령, 용량성 터치 스위치에서의 전하가 잡음 등의 원인이 없었을 때 보다 더욱 빨리 또는 느리게 방전되도록 할 수 있으며, 상기 감지 회로가 상기 스위치 상태를 부정확하게 해석하게 할 수 있다. 그러나, 스위치 바운스 및 잡음을 처리하기 위한 종래의 기술은 장치 크기와 비용을 부담시키는 추가의 하드웨어 컴포넌트가 요구되는 문제가 있었다. 또한, 고정된 타이밍이 설정되어야 하고 상기 스위치 출력에 대한 정보가 추적되어야 했으며 이는 복잡성을 증가시키고 자원을 소비하는 문제로 이어졌다. 가령, 스위치 바운스 및 잡음을 처리하기 위한 종래의 기술은 스위치 출력 신호가 안정적이며, 일시적인 결과가 아님을 입증시키기 위해 주기적인 간격으로 스위치 출력의 멀티플 샘플을 얻는 것을 포함한다. 대개 이 같은 소프트웨어 솔루션은 저항기-콘덴서(RIC) 필터와 같은 외부의 하드웨어 엘리먼트와 쌍을 이루게 결성된다. 따라서, 스위치 디바운싱 장치 및 방법의 필요가 있다.
스위치 디바운싱(de-bouncing) 장치는 샘플러에 의해 발생된 샘플들을 계수하는 다수의 계수기를 포함하며, 상기 샘플러는 계수기 값이 제 1 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대하여 증가되고 제 2 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대하여 감소되는 한 스위치 출력을 샘플링한다. 한 제어기가 계수기 값이 제 1 상태 한계 값을 초과한 때 스위치가 제 1 스위치 상태에 있는 가를 결정하도록 하며, 계수기 값이 제 2 상태 한계 값 이하인 때 스위치가 제 2 스위치 상태에 있는 가를 결정하도록 한다.
도 1은 예시적 실시 예에 따른 스위치 디바운싱 장치의 블록도이다.
도 2는 스위치 디바운싱(de-bouncing) 장치에 의해 수신되고, 처리되며, 발생된 신호를 그래프로 도시한 도면이다.
도 3은 계수기 값 신호 그리고 그에 상응하는 디바운싱 장치 출력 신호를 그 래프로 도시한 도면이다.
도 4는 스위치 디바운싱 장치가 용량성 터치 스위치 디바운싱 장치인 용량성 터치 스위치에 연결된 스위치 디바운싱 장치를 포함하는 스위치 시스템 블록도를 도시한 도면이다.
도 5는 용량성 터치 스위치 샘플 주기 각각에 대하여 스위치 전압과 시간간의 관계를 그래프로 도시한 도면이다.
도 6은 실시 예에 따라 스위치를 디바운싱 하는 방법을 흐름도로 도시한 도면이다.
도 1은 스위치(102)에 연결된 스위치 디바운싱(de-bouncing) 장치의 블록도이다. 상기 스위치 디바운싱 장치(100)는 잡음, 바운스, 또는 다른 원인들로 인해 스위치 출력의 오류 판독을 줄이거나 제거하도록 하기 위해, 다수의 스위치(102) 중 어느 하나 출력을 필터하고, 처리하거나 해석하도록 사용될 수 있다. 상기 스위치(102)는 기계적 스위치이거나, 용량성 터치 스위치와 같은 다른 타입의 스위치일 수 있다. 상기 스위치 디바운싱 장치(100)는 스위치 타입 및 크기에 따라 그리고 다수의 오류 판독에 대한 예상 원인에 따라 디자인된다. 가령, 상기 스위치 디바운싱 장치에 대한 샘플링 속도는 용량성 터치 스위치에 존재하는 잡음 주파수를 기초로 하여 선택될 수 있다. 상기 스위치 디바운싱 장치(100)는 샘플러(104), 계수기(106), 그리고 제어기(108)에 의해 실시되는, 본원 명세서에서 설명된 기능을 수행하기 위해 하드웨어, 소프트웨어, 또는 폼웨어 조합을 사용하여 실시 될 수 있 다. 샘플러(104), 계수기(106), 그리고 제어기(108)의 예시적 실시가 하기에서 설명된다. 기능 블록으로 수행되는 설명된 기능들이 멀티플 장치 또는 블록에 의해 수행될 수 있다. 또한 한 블록에서 수행되는 설명된 기능은 상황에 따라 다른 블록에 의해 수행될 수 있기도 하다. 가령, 상기 계수기(106)는 상황에 따라 제어기(108)의 일부로서 실시 될 수 있기도 하다.
샘플러(104)는 샘플 가능 신호(SAMPLEN)(112)에 의해 결정된 샘플링 속도로 스위치(102) 출력으로부터 수신된 출력 신호(110)를 샘플한다. 상기 샘플러(104)에 의해 발생된 다수 샘플(114)은 상기 계수기(106)에 의해 수신되며, 샘플 각각은 상기 스위치가 온 상태와 오프 상태와 같은 두 상태 중 한 상태에 있음을 나타낸다. 상기 계수기(106)는 상기 상태 중 한 상태에 대한 계수기 값을 증가시키고 다른 상태에 대한 계수기 값을 감소시키는 계수기이다. 하기 설명된 예에서, 상기 계수기 값은 온 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대하여 증가되며 오프 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대하여 감소된다. 일정 경우, 상기 계수기 값은 오프 상태 샘플의 경우 증가될 수 있으며 온 상태 샘플 각각에 대하여 감소될 수 있다. 이 같은 실시 경우, 그 한계 값과 출력 신호들이 본원 명세서에서 설명된 예시적인 신호 그리고 값과 비교하여 리버스(reverse)된다. 상기 계수기 값은 최소 계수기 값 이하로 감소되지 않으며 최대 계수기 값 이상으로 증가되지 않는다.
상기 제어기(108)는 상기 계수기(106)로부터 수신된 계수기 값 신호(116)를 바탕으로 한 출력 신호(118)를 발생시킨다. 상기 제어기(108)는 상기 계수기 값이 제 1 상태 한계 값을 초과한 때 스위치(102)가 제 1 스위치 상태에 있으며, 상기 계수기 값이 제 2 상태 한계 값 이하로 떨어지는 때 제 2 스위치 상태에 있음을 결정한다. 따라서 상기 설명된 예에서, 상기 계수기(108)는 상기 계수기 값이 상한 한계 값을 초과하는 때 상기 스위치가 온 상태임을 나타내는 한 출력 신호(118)를 발생시키며, 상기 계수기 값이 하한 한계 값 이하로 떨어지는 때 상기 스위치(102)가 오프 상태임을 나타내는 한 출력 신호(118)를 발생시킨다.
도 2는 상기 제 1 스위치 상태가 온 상태이고 제 2 스위치 상태가 오프 상태인 상기 스위치 디바운싱 장치(100)에 의해 수신되고, 처리되며, 발생된 신호를 그래프로 도시한 도면이다. 상기 스위치 출력 신호(SWITCHOUT)(110)는 스위치(102)의 의도된 상태를 변경시키는 잡음, 바운싱, 또는 다른 사건 조합을 가질 수 있다. 따라서, 도 2에서 도시된 상기 스위치 출력 신호(110)는 기계적 스위치 그리고 용량성 터치 스위치 출력을 표시한다. 실시 예에서, 상기 샘플러(104)는 샘플 가능 신호(SAMPLEN)(112)를 통해 상기 제어기(108)에 의해 표시된 샘플 시간에 상기 스위치 출력(110)을 샘플 하도록 한다. 일정 상황에서, 상기 샘플러(104)는 상기 제어기(108)로부터 제어 없이 샘플할 수 있다. 가령, 상기 샘플러(104)는 제어기(108)로부터의 지시 없이 주기적 간격으로 신호를 샘플 할 수 있다. 상기 결과의 샘플러 출력 신호(114)는 다수의 샘플을 포함하며, 샘플 각각은 스위치(102)의 한 상태를 나타낸다. 도 2에서 도시된 바와 같이, 상기 스위치의 온(on) 상태로서 해석되는 높은 스위치 출력 신호(202)는 포지티브 펄스(204)로서 표시된다. 오프 상태로서 해석되는 낮은 스위치 출력 신호(206)는 제로 레벨 출력(208)으로서 표시된다. 한 샘플 시간에서 한 스위치 상태를 결정하기 위해, 상기 스위치 출력(110)을 해석하기 위한 여러 기술 중 어느 한 기술이 사용될 수 있다. 한 적절한 기술에 따라 상기 신호 진폭이 한 한계 값 이상 인 때 온 상태 펄스(204)를 발생시키고, 상기 스위치 출력 신호 진폭이 상기 한계 값 이하 인 때 한 오프 상태 신호를 발생시킨다.
계수기 방향 상태(CNTDIR)(210)는 상기 샘플러 출력 신호(114) 다수의 샘플들에 해당하는 상기 계수기 방향을 도시한다. 상기 샘플러 출력 신호(114) 포지티브 펄스 각각에 대하여, 도 2는 상기 계수기 값(116)이 1씩 증가됨을 나타내는 상측을 향하는 화살표를 도시한다. 제로 샘플 각각의 경우, 상기 계수기 방향 상태는 상기 계수기(116)가 1씩 감소됨을 나타내는 하측을 향하는 화살표를 도시한다. 상기에서 언급한 바와 같이, 상기 방향은 일정 실시에서는 리버스(reverse)될 수 있다. 도 3과 관련하여 하기에서 더욱 상세히 설명되는 바와 같이, 상기 스위치 디바운싱 장치(100) 출력(118)은 계수기 값이 상대적으로 높은 한계 값(제 1 상태 한계 값)을 초과 할 때까지 낮은 레벨 출력(212)을 갖는 오프 상태로 있게 되며, 상기 계수기 값이 상대적으로 낮은 한계 값(제 2 상태 한계 값) 이하로 감소하는 때까지 높은 레벨 출력(214)을 갖는 온 상태로 있게 된다. 따라서, 상기 장치(100) 출력은 히스테리시스 함수관계를 따른다.
도 3은 계수기 값 신호(116) 그리고 그에 상응하는 디바운싱 장치 출력 신호(118)를 그래프로 도시한 도면(300)이다. 상기 도 3에 도시된 값은 도 2에서 표 시된 값에 일치할 필요는 없다. 상기에서 설명된 바와 같이, 상기 계수기 값은 상기 샘플러(104)에 의해 발생된 샘플을 바탕으로 증가되고 감소된다. 상기 계수기 값(116)은 제 1 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대하여 증가되고, 제 2 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대하여 감소된다. 상기 실시 예에서, 상기 계수기 값(116)은 스위치가 온 상태임을 나타내는 샘플 각각에 대해 1 씩 증가(306)되며, 상기 스위치가 오프 상태임을 나타내는 샘플 각각에 대해 1 씩 감소(308)된다. 상기 계수기 값(116)은 최소 계수기 값(COUNTMIN)(302)에서 최대 계수기 값(COUNTMAX)(304)에 이르기 까지 있다. 따라서, 상기 계수기 값은 최소 계수기 값(302) 이하로 감소되지 않으며 최대 계수기 값(304) 이상으로 증가되지 않는다. 상기 계수기 값이 제 1 상태 한계 값(310)을 초과하는 때, 상기 제어기(108)가 상기 스위치(102)가 제 1 스위치 상태에 있음을 결정하고 상기 제 1 스위치 상태를 나타내는 한 출력(118)을 발생시킨다. 상기 실시 예에서, 상기 제 1 상태 한계 값(310)은 온 상태 한계 값이며 상기 제어기(108)는 상기 스위치가 온임을 나타내는 높은 레벨 출력(214)을 발생시킨다. 상기 계수기 값(116)이 제 2 스위치 상태(312)로 줄어드는 때, 상기 제어기(108)가 상기 스위치(102)가 제 2 스위치 상태에 있음을 나타내는 한 출력(118)을 발생시킨다. 상기 실시 예에서, 상기 제 2 상태 한계 값(312)은 오프 상태 한계 값이며 상기 제어기(108)는 상기 스위치가 오프임을 나타내는 낮은 레벨 출력(212)을 발생시킨다. 따라서, 상기 스위치 디바운싱 장치(100) 출력 신호(118)는 히스테리시스 함수를 따른다. 잡음, 바운싱, 그리고 오류 판독의 다른 잠정적인 원인은 상기 해석된 스위치 출력에 대해 최소 또는 아무런 영향도 미치지 않는다. 이 같은 대다수 계수기를 사용하는 실시 예 디바운싱 장치(100)는 계수기 값 평균을 기반으로 하는 종래의 디바운싱 장치보다 오류 판독을 일으킬 개연성이 적은데, 이는 큰 외부 신호가 평균 계수기 값이 영향을 미치는 것만큼 대다수 계수기에 영향을 미치지 않기 때문이다. 비록 상기 스위치 디바운싱 장치(100)가 다양한 타입의 스위치와 함께 사용될 수 있으나, 상기 실시 예 디바운싱 장치(100)는 특히 용량성 터치 스위치와 함께 사용할 때 유용하다.
도 4는 스위치 디바운싱(de-bouncing) 장치(100)가 용량성 터치 스위치 디바운싱 장치(400)인 용량성 터치 스위치(402)에 연결된 스위치 디바운싱(de-bouncing) 장치(100)를 포함하는 스위치 시스템 블록도를 도시한 도면이다. 상기 용량성 터치 스위치(402)는 콘덴서(404)를 형성하기 위해 유리 또는 프린트 회로 기판과 같은 절연 재 위에 두 개의 인접한 전도성 영역을 포함한다. 상기 전도성 층들은 상기 영역이 손가락이 이들 위에 올려 놓이는 때와 같이 이들 영역들이 브리지 되는 때 커패시턴스 증가를 발생시킨다. 상기 스위치(402)의 상태는 상기 영역들이 브리지되기 전 그리고 그 후 커패시턴스 차이를 결정함에 의해 결정된다. 상기 실시 예에서, 저항기(406) 그리고 커패시터(404)는 일정 시정수를 갖는 RC 회로를 형성시키는 데, 상기 시정수는 상기 RC 회로에서 걸리는 스위치 전압(VSW)(408)의 감쇠 시간을 측정함으로써 결정된다. 제어기(108)에 의해 제공된 샘플 가능 신호(SAMPLEN)(112)에 응답하여, 일반 목적 입출력(GPIP) 포트(410)가 한 전압을 상기 RC 회로에 적용하며, 다음에 높은 임피던스를 상기 회로에 제공한다. 따라서, 상기 GPIO 포트(410)가 높은 임피던스를 제공하도록 오프(off)되어, 저항기(406)를 통해 상기 콘덴서(404)가 방전되도록 하기 전에, 콘덴서(404)를 충전하기 위한 충분한 시간 동안 한 초기 전압이 스위치(402)로 공급된다. 한 비교기(412)가 스위치(402)에서의 전압 그리고 기준 전압을 바탕으로 하여 한 논리 신호를 발생시킨다. 스위치 전압(408)이 기준 전압 보다 큰 때, 상기 비교기(412)가 높은 논리 신호를 발생시킨다. 그렇지 않으면, 상기 비교기(412)로부터의 출력 신호는 저 논리 신호를 발생시킨다. 한 클록 신호 그리고 상기 비교기(412)의 출력은 AND 게이트(414)에서 수신된다. 결과적으로 상기 AND 게이트(414)의 출력은 커패시턴스(404)에서의 전압(VSW)(408)이 저항(406)을 통해 기준 전압(VREF)이하로 감쇠될 때 까지, 상기 GPIP 포트(410)가 고(high)로 정해진 때 시작되는 일련의 클록 펄스이다. 타이머(416)가 샘플 각각에서 리세트되며, 클록 주기 수에 의해 경과한 감쇠 시간을 측정한다. 상기 제어기(108)는 상기 시간이 스위치(402)가 터치되었음을 나타내는 지를 결정한다. 상기 시간이 한계 시간보다 길면, 상기 제어기(108)가 스위치(108)가 터치되었음을 나타내는 출력을 제공한다. 상기 시간이 한계값 보다 작으면, 상기 제어기(108)가 스위치(410)가 터치되지 않았음을 스위치 출력(110)이 나타내도록 결정한다. 그러나, 상기 스위치 출력(110)에 의한 표시는 스위치(402)의 정확한 상태를 정확하게 나타내지 않을 수 있다. 잡음은 콘덴서(404)에서의 전압(VSW) (408)을 변경시키며, 잡음이 없었다면 발생되었을 전압 감쇠 시간보다 짧거 나 긴 전압 감쇠 시간을 일으킨다. 어떤 경우에는 상기 잡음이 상기 전압(VSW) (408)을 충분히 변경시키어, 잡음이 존재하지 않았다면 표시되었을 상태와는 반대인 스위치 상태를 나타내도록 시간이 경과되도록 한다.
본 발명 실시 예에 따라, 상기 제어기(108)는 상기 계수기 값을 모니터하여 상기 스위치(402) 상태를 결정하도록 한다. 상기 설명된 바와 같이, 계수기(106)는 샘플 각각에 의해 표시된 상태를 기초로 하여 계수기 값을 증가시키고 또한 감소시킴으로써 상기 샘플들을 계수한다. 샘플 각각은 상기 계수기의 방향을 결정하도록 평가되며, 상기 계수기가 증가 또는 감소되며, 상기 계수기 값은 적절한 출력(118)을 결정하도록 평가된다.
샘플 평가기(418)가 타이머에 의해 수집된 데이터를 처리하여, 샘플 각각이 제 1 스위치 상태 또는 제 2 스위치 상태를 나타내는 지를 결정하도록 한다. 상기 샘플 평가기(418)는 한 샘플에 대하여 타이머에 의해 측정된 전압 감쇠 시간이 샘플 한계 값 보다 큰지 혹은 작은지를 결정한다. 샘플 감쇄 시간이 상기 샘플 한계 값보다 크다면, 상기 샘플 평가기(418)는 온(on) 상태 샘플과 같은 제 1 상태 샘플을 나타내는 것임을 결정한다. 만약 상기 샘플 기간이 상기 샘플 한계 값 이하이거나 같다면, 상기 샘플 평가기는 오프(off) 상태 샘플과 같은 제 2 상태 샘플을 나타내는 것임을 결정한다. 상기 샘플 평가기는 본 발명 실시 예에서 제어기(108)의 일부로 실시된다.
샘플 평가기(418) 결정에 따라, 상기 계수기(106)가 증가되거나 감소된다. 계수기 값 평가기(420)는 계수기 값을 평가하여 출력(118)을 결정하도록 한다.
스위치 디바운싱(de-bouncing) 장치(400) 다양한 컴포넌트가 하드웨어, 소프트웨어 또는 폼웨어의 조합을 사용하여 실시 될 수 있다. 도 4와 관련하여 설명된 하나 또는 둘 이상의 기능 블록이 단일 장치 내에 또는 여러 장치에서 실시 될 수 있다. 가령, 계수기(106), 샘플러, 평가기, 계수기 평가기(420) 그리고 일정 수의 샘플러 컴포넌트가 단일 처리기 또는 주문형 반도체(ASIC)로 실시 될 수 있다. 적절한 실시의 예로서 발진기, GPIP 제어기, 비교기, 게이트 논리, 타이머 및 메모리 하드웨어 실시를 포함하는 단일 마이크로 처리기를 사용함을 포함한다. ROM과 같은 메모리의 일부에 포함된 폼웨어 코드는 다양한 하드웨어 장치를 제어하여, 계수된 타이머로부터 샘플들을 발생시키도록한다. 상기 계수는 RAM과 같은 상기 메모리의 다른 부분에 저장된다. 상기 폼웨어는 사전에 정해진 한계 값을 바탕으로 하여 상기 결과의 계수에 따른 작용을 처리하고 구하며, 그 결과를 다른 외부 장치로 연락하도록 한다. 특정 컴포넌트 값 및 장치의 선택은 스위치의 크기와 잡음의 특징에 달려있다. 포터블 통신 장치에서 사용하기 위한 전형적인 용량성 터치 스위치(402) 예는 10-200 pF 범위 커패시턴스 그리고 4.7MΩ 저항을 포함한다. 스위치(402)와 같은 경우, 적절한 타이머가 16 비트 타이머를 포함하며, 클록 주파수는 약 8 MHz이다. 최소 계수기 값(302) 그리고 최대 계수기 값(304)에 대한 적절한 값은 0과 31이다. 적절한 제 1 상태 한계 값(상한)(310)은 25이고 적절한 제 2 상태 값(하한)(312)은 6이다.
도 5는 용량성 터치 스위치(402) 샘플 주기 각각에 대하여 스위치 전압과 시 간간의 관계를 그래프로 도시한 도면이다. 스위치 전압(408)과 시간간의 곡선(502, 504, 506)은 각기 다른 상황에서 전압(408)과 시간간의 일반적인 관계를 도시한 것으로서 그 크기가 정확한 것은 아니다. 가장 빠른 감쇄 곡선(502)은 T1 감쇄 시간 내에 기준 전압(VREF)에 도달한다. 가장 느린 감쇄 곡선(506)은 T3 감쇄 시간 내에 기준 전압(VREF)에 도달한다. 중간 곡선(504)은 두 다른 시간 사이인 T2 감쇄 시간 내에 기준 전압(VREF)에 도달한다. 상기 실시 예에서, 샘플 평가기(418)는 샘플 각각에 대하여 감쇄 시간을 비교하며 한 샘플 한계 값(TTHRESH)(508)보다 큰가 여부를 결정한다. 상기 샘플 주기가 샘플 한계 값보다 크다면, 상기 샘플 평가기(418)는 상기 샘플이 온(on) 상태 샘플임을 결정한다. 만약 상기 샘플 주기가 샘플 한계 값보다 작거나 같다면, 상기 샘플 평가기(418)는 상기 샘플이 오프(off) 상태 샘플임을 결정한다. 따라서, 도 5에서의 실시 예에서, 가장 빠른 감쇄 곡선(502)은 타이머(416)에 의해 시간이 정해질 수 있으며 오프 상태 샘플인 것으로 결정된다. T2 및 T3의 샘플 주기를 갖는 다른 곡선들은 온 상태 샘플인 것으로 결정된다. 상기에서 설명한 바와 같이, 계수기(106) 값은 상기 결과의 샘플 상태에 따라 증가되고 감소된다.
도 6은 실시 예에 따라 스위치를 디바운싱하는 방법의 흐름도이다. 상기 방법은 하드웨어, 소프트웨어 또는 폼웨어 조합에 의해 실행될 수 있으나, 본 발명 실시 예에서 상기 제어기(108)에서의 소프트웨어 코드를 실행함으로써 수행된다.
단계(602)에서, 다수의 샘플이 제 1 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대해 계수기 값(116)을 증가시키고 제 2 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대해서는 상기 계수기 값(116)을 감소시키어 계수된다. 샘플러에 의해 발생된 샘플들이 평가되어 샘플 각각에 의해 표시된 스위치 상태를 결정하도록 한다. 상기 샘플이 온 상태와 같은 제 1 상태를 나타내면, 상기 계수기 값(116)은 증가된다.
만약 샘플이 오프 상태와 같은 제 2 스위치 상태를 나타내면, 상기 계수기 값(116)은 감소된다. 상기 계수기 값(116)은 최소 계수기 값(302)과 최대 계수기 값(304) 사이에서 유지된다. 따라서 상기 계수기 값(116)이 최대 계수기 값(304)과 같다면 상기 계수기 값(116)은 증가되지 않으며, 만약 상기 계수기 값(116) 상기 최소 계수기 값(302)과 같다면 증가되지 않는다.
단계(604)에서, 상기 계수기 값(116)이 제 1 상태 한계 값(310)을 초과하는 가가 결정된다. 상기 계수기 값(116)이 제 1 상태 한계 값(310)보다 크다면, 상기 방법은 단계(606)에서 계속된다. 그렇지 않다면, 상기 방법은 단계(608)로 진행된다.
단계(606)에서, 스위치(402)의 상태가 제 1 스위치 상태임을 나타내는 장치 출력 신호(118)가 발생된다. 따라서, 제 1 스위치 상태가 온 상태이라면, 그리고 계수기 값(116)이 단계(604)에서 온 상태 한계 값(제 1 상태 한계 값)보다 큰 것으로 결정된다면, 상기 스위치 디바운싱 장치(100)는 상기 스위치(402)가 활성화 되었으며 온 상태에 있음을 나타내는 한 출력 신호(118)를 발생시킨다. 상기 출력 신호(118)는 상기 방법이 변경을 필요로 하는 때까지 유지된다. 따라서 상기 방법은 단계(602)로 되돌아 가서 상기 샘플들을 계속해서 계수한다.
단계(608)에서, 상기 계수기 값(116)이 제 2 상태 한계 값(312)이하인가 가 결정된다. 만약 상기 한계 값이 제 2 상태 한계 값(312) 이하이라면, 상기 방법은 단계(610)에서 계속된다. 그렇지 않다면, 상기 방법은 단계(212)로 진행된다.
단계(610)에서, 스위치(402)의 상태가 제 2 스위치 상태임을 나타내는 장치 출력 신호(118)가 발생된다. 따라서, 단계(608)에서 제 2 스위치 상태가 오프 상태이라면, 그리고 상기 계수기 값(116)이 상기 오프 상태 한계 값(제 2 상태 한계 값(312) 보다 작은 것으로 결정된다면, 상기 스위치 디바운싱 장치(100)는 상기 스위치(402)가 활성화되었으며 오프 상태임을 나타내는 출력 신호(118)를 발생시킨다. 상기 출력 신호(118)는 상기 방법이 변경을 필요로 하는 때까지 유지된다. 따라서, 상기 방법은 단계(602)로 되돌아가서 상기 샘플을 계속해서 계수한다.
단계(612)에서, 스위치(402)의 이전 상태를 나타내는 상기 장치 출력 신호(118)가 발생된다. 상기 방법은 계수기 값(116)이 제 1 상태 한계 값(310) 보다 크지 않은 때 그리고 제 2 상태 한계 값(312)보다 크지 않은 때 단계(612)에 도달한다. 따라서, 상기 계수기 값(116)은 단계(612)에서 두 한계 값(310, 3112) 사이에 있다. 상기 출력 신호가 표시된 바로 이전 상태로부터 변경되지 않으며, 상기 방법은 단계(602)로 되돌아 가서 계속해서 샘플들을 계수한다.
상기 실시 예 방법의 단계들을 수행하기 위해 다수의 소프트웨어 코드 단계들이 실행될 수 있다. 상기 방법을 수행하기에 적절한 코드 예가 하기에서 제공된다. 다음의 예에서, 최소 계수기 값(302)은 0과 같으며, 최대 계수기 값(304)은 31 에 해당한다. 상기 제 1 상태 한계 값은 25이며, 제 2 상태 한계 값은 6이다. 상기 앞서 설명된 장치 그리고 방법은 잡음에 민감한 어떠한 신호에 대해서도 적용될 수 있다.
하기 실시 예 코드의 경우, 라인에서의 잡음으로 인해 간단한 비교기가 발생시킬 오류 레벨을 제거하는 동안, AC 신호가 샘플되어 라인 주파수 클록 소스를 발생시킬 목적을 위해 극성을 결정하도록 한다. 디바운서(Debouncer)는 상기 샘플된 AC 신호 고 상태(세어 올라가기) 또는 저 상태(세어 내려가기)를 계수하기 위해 가변적이다.
"Sine_level_was"는 상기 디바운서 계수로부터 결정된 AC 신호의 이전 상태이다. "Sine_level_is"는 상기 디바운서 계수로부터 결정된 AC 신호의 현재 상태이다. "Sine_counter"는 "Sine_level_was"와 "Sine_level_is"의 저 및 고 상태 사이 변경에 대한 한 간단한 계수이다. 숫자 0, 6, 25 및 31은 디바운서의 최소 값, 제 2 한계 값, 제 1 한계 값 그리고 최대 값에 대한 예로서 정해진다.
하기 코드의 실행 뒤에, 상기 샘플된 AC 신호가 하이(고)인 것으로 결정되고 상기 디바운서가 그 최대 값 31에 도달하지 않았다면, 디바운서는 증가된다. 만약 상기 샘플된 AC 신호가 로우(저) 인 것으로 결정되고 상기 디바운서가 그 최소 값 0에 도달되지 않았다면, 디바운서는 감소된다. 디바운서가 제 2 한계 값 6 이하이면, 상기 AC 라인이 현재 로우(저)인 것으로 판단된다. 즉 Sine_level_is은 로우(또는 0)이다.
디바운서가 제 1 한계 값 25보다 크다면, 상기 AC 라인은 현재 하이(고)인 것으로 판단된다. 즉 Sine_level_is은 하이(또는 1)이다. 만약 Sine_level_is이 Sine_level_was와 다르다면, 즉 상태의 변경이 있다면, 가변 Sine_counter는 증가되며, Sine_level_was는 다음의 상태 변경을 준비하기 위해 Sine_level_is와 같도록 된다. 모듈로-60 계수기는 60Hz 라인 주파수를 초(second)로 변환시킬 목적으로 실시된다.
Figure 112009075576902-PCT00001
Figure 112009075576902-PCT00002
따라서, 상기 실시 예 스위치 디바운싱 장치(100) 및 방법은 상기 계수기 값(116)이 제 1 스위치 상태를 나타내는 샘플의 경우 증가되고, 제 1 상태 한계 값(310)이 제 2상태 한계 값(312)보다 큰 제 2 스위치 상태를 나타내는 샘플의 경우에는 감소되는, 샘플들에 대한 계수를 유지시킴으로써 스위치(102)의 오류 판독을 최소로 한다. 상기 두 한계 값(310, 312)은 한 히스테리시스 한계 값 범위를 만든다. 샘플링은 예기된 잡음 소스에 비동기인 것으로 판단되는 주파수로 발생될 수 있으며, 상한 및 하한으로의 계수가 상기 입력의 예측된 응답 시간 보다 빨리 발생하는 속도로 발생될 수 있다.
처리 자원(processing resources)은 샘플링이 주기적일 것으로 요구되지 않기 때문에 효율적으로 사용되며 처리 작업은 언제 상기 자원에 대한 부담이 최소인 때 샘플링하기 위해 사용될 수 있다. 상호 관련된 판독들 사이에 어떠한 고정된 타이밍도 설정되지 않아야 하며, 대다수 계수기 값을 초과하는 입력에 대한 어떠한 정보도 한 입력 샘플링으로부터 다음 입력 샘플링으로 간직되어야 할 필요는 없다. 히스테리시스 및 응답들이 최대 계수기 값(304), 상기 제 1 상태 한계 값 그리고 제 2 상태 한계 값 선택에 의해 동적으로 프로그램될 수 있다. 외부 필터링은 요구되지 않는다. 임의의 한계 값을 갖는 하드 논리 슈미트 트리거 입력들이 느린 에지 속도 신호(slow edge rate signals)들을 처리하기 위해 필요하지 않다.
본 발명에 대한 다른 실시 예 및 수정이 본 발명기술 분야에서 통상의 기술을 가진가에게 용이하게 가능할 것이다. 상기 설명은 본 발명에 대한 예시의 목적인 것이며, 제한의 목적을 갖는 것은 아니다. 본 발명은 상기 명세서 설명 및 첨부 도면을 감안하여 판단되는 모든 실시 및 수정을 포함하는 다음의 청구범위에 의해서만 제한될 것이다. 따라서 본 발명의 범위는 상기 설명을 참고로 결정될 것이 아니라, 본원 청구범위 및 그 균등 발명에 대하여 결정되어야 한다.

Claims (18)

  1. 제 1 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대한 계수기 값을 증가시키고 제 2 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대한 계수기 값을 감소시킴으로써 스위치 출력 다수의 샘플을 계수하도록 구성된 계수기, 그리고 계수기 값이 제 1 상태 한계 값을 초과한 때 스위치가 제 1 스위치 상태에 있는 가를 결정하도록 하며,
    계수기 값이 제 2 상태 한계 값 이하인 때 스위치가 제 2 스위치 상태에 있는 가를 결정하도록 구성된 제어기를 포함함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱(de-bouncing) 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 다수의 샘플을 발생시키기 위해 상기 스위치 출력을 샘플하도록 구성된 샘플러(sampler)를 더욱 포함함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 장치.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 계수기 값이 제 1 상태 한계 값 이하인 때 그리고 제 2 상태 한계 값 이상인 때 이전의 스위치 상태에 있는 것임을 결정하도록 상기 제어기가 구성됨을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 장치.
  4. 제 3항에 있어서, 상기 제 1 상태가 온(on) 상태이고 제 2 상태가 오프(off) 상태임을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 샘플러가 다수의 샘플 중 샘플 각각에 대한 전압 감쇠 시간을 결정하도록 구성된 타이머를 포함하며, 상기 전압 감쇠 시간은 용량성 터치 스위치의 스위치 전압이 초기 전압에서 기준 전압으로 방전되는 데 필요한 시간에 해당함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 장치.
  6. 제 5항에 있어서, 상기 샘플러가 용량성 터치 스위치의 커패시턴스를 초기 전압으로 충전하도록 하고, 그리고 샘플 각각을 발생시키기 위해 상기 커패시턴스와 병렬 구성된 저항을 통해 상기 커피시턴스의 충전이 방전되도록 구성된 일반목적 입출력(GPIP) 포트를 더욱 포함함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 장치.
  7. 제 5항에 있어서, 샘플 한계 값보다 크거나 같은 전압 감쇠 시간 각각에 대하여 온(on) 상태 샘플을 발생시키도록 하며, 상기 샘플 한계 값 보다 작은 전압 감쇠 시간 각각에 대해 오프(off) 상태 샘플을 발생시키도록 구성된 샘플 평가기를 더욱 포함함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 장치.
  8. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 상태 한계 값이 제 2 상태 한계 값보다 큼을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 장치.
  9. 제 1 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대한 계수기 값을 증가시키고 제 2 스위치 상태를 나타내는 샘플 각각에 대한 계수기 값을 감소시킴으로써 스위치 출력 다수의 샘플을 계수하도록하며; 그리고 계수기 값이 제 1 상태 한계 값을 초과한 때 스위치가 제 1 스위치 상태에 있는 가를 결정하도록 하며,
    계수기 값이 제 2 상태 한계 값 이하인 때 스위치가 제 2 스위치 상태에 있는 가를 결정하도록 함을 포함함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱(de-bouncing) 방법.
  10. 제 9 항에 있어서, 다수의 샘플을 발생시키기 위해 상기 스위치 출력을 샘플함을 더욱 포함함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 방법.
  11. 제 8항에 있어서, 상기 계수기 값이 제 1 상태 한계 값 이하인 때 그리고 제 2 상태 한계 값 이상인 때 상기 스위치가 이전의 스위치 상태에 있는 것임을 결정함을 더욱 포함함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 방법.
  12. 제 11항에 있어서, 상기 제 1 상태가 온(on) 상태이고 제 2 상태가 오프(off) 상태임을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 방법.
  13. 제 9 항에 있어서, 다수의 샘플 중 샘플 각각에 대한 전압 감쇠 시간을 측정함을 더욱 포함하고, 상기 전압 감쇠 시간은 용량성 터치 스위치의 스위치 전압이 초기 전압에서 기준 전압으로 방전되는 데 필요한 시간에 해당함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 방법.
  14. 제 13항에 있어서, 일반목적 입출력(GPIP) 포트를 사용하여 상기 샘플러가 용량성 터치 스위치의 커패시턴스를 초기 전압으로 충전하고, 그리고 샘플 각각을 발생시키기 위해 상기 커패시턴스와 병렬 구성된 저항을 통해 상기 커피시턴스의 충전이 방전되도록 함을 더욱 포함함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 방법.
  15. 제 14항에 있어서, 샘플 한계 값보다 크거나 같은 전압 감쇠 시간 각각에 대하여 온(on) 상태 샘플을 발생시키며, 상기 샘플 한계 값 보다 작은 전압 감쇠 시간 각각에 대해 오프(off) 상태 샘플을 발생시킴을 더욱 포함함을 특징으로 하는 스위치 디바운싱 방법.
  16. 샘플 각각이 온(on) 상태와 오프(off) 상태를 포함하는 2 스위치 상태 중 한 상태를 나타내는, 다수의 샘플을 발생시키기 위해 용량성 터치 스위치 출력을 샘플하도록 구성되는 샘플러(sampler);
    상기 온 상태를 나타내는 샘플 각각에 대한 계수기 값을 증가시키고 상기 오프 상태를 나타내는 샘플 각각에 대한 계수기 값을 감소시킴으로써 다수의 샘플을 계수하도록 구성된 계수기; 그리고
    계수기 값이 온 상태 한계 값을 초과한 때 스위치가 온 상태에 있는 가를 결정하도록 하며, 계수기 값이 오프 상태 한계 값 이하인 때 스위치가 오프 상태에 있는 가를 결정하도록 구성된 제어기를 포함함을 특징으로 하는 스위치 장치.
  17. 제 16항에 있어서, 상기 계수기 값이 상기 온 상태 한계 값 이하인 때 그리고 오프 상태 한계 값 이상인 때 이전의 스위치 상태에 있는 것임을 결정하도록 상기 제어기가 구성됨을 특징으로 하는 스위치 장치.
  18. 제 16항에 있어서, 상기 샘플러가 다수의 샘플 중 샘플 각각에 대한 전압 감쇠 시간을 결정하도록 구성된 타이머를 포함하며, 상기 전압 감쇠 시간은 용량성 터치 스위치의 스위치 전압이 초기 전압에서 기준 전압으로 방전되는 데 필요한 시간에 해당함을 특징으로 하는 스위치 장치.
KR1020097025595A 2007-05-30 2008-05-29 스위치 디바운싱(ｄｅ-ｂｏｕｎｃｉｎｇ) 장치 및 방법 KR101094016B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/755,674 US7847614B2 (en) 2007-05-30 2007-05-30 Switch noise reduction device and method using counter
US11/755,674 2007-05-30
PCT/US2008/065173 WO2008150931A2 (en) 2007-05-30 2008-05-29 Switch de-bouncing device and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100007971A true KR20100007971A (ko) 2010-01-22
KR101094016B1 KR101094016B1 (ko) 2011-12-15

Family

ID=40011361

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020097025595A KR101094016B1 (ko) 2007-05-30 2008-05-29 스위치 디바운싱(ｄｅ-ｂｏｕｎｃｉｎｇ) 장치 및 방법

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7847614B2 (ko)
EP (1) EP2151053B1 (ko)
JP (1) JP2010530661A (ko)
KR (1) KR101094016B1 (ko)
AT (1) ATE549721T1 (ko)
WO (1) WO2008150931A2 (ko)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101503684B1 (ko) * 2007-06-18 2015-03-19 삼성디스플레이 주식회사 타이밍 컨트롤러, 이를 포함하는 액정 표시 장치 및 액정표시 장치의 구동 방법
CN101150309B (zh) * 2007-10-31 2010-12-08 启攀微电子（上海）有限公司 一种自适应电容触摸传感控制电路
US8072356B2 (en) * 2007-12-13 2011-12-06 Kyocera Corporation Capacitive sensing user interfaces and implementation thereof
CN101968530B (zh) * 2010-09-30 2012-10-17 江苏惠通集团有限责任公司 按键检测方法及装置
EP2464008A1 (en) * 2010-12-08 2012-06-13 Fujitsu Semiconductor Limited Sampling circuitry
US8872676B2 (en) 2011-08-01 2014-10-28 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Systems and methods for switching
TWI463800B (zh) * 2011-11-22 2014-12-01 Inventec Corp 除彈跳裝置及其方法
CN104052452A (zh) * 2013-03-12 2014-09-17 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 按键模组
US9411755B2 (en) 2013-04-21 2016-08-09 Microsoft Technology Licensing, Llc Software debouncing and noise filtering modules for interrupts
US9484899B2 (en) 2014-09-24 2016-11-01 Dialog Semiconductor (Uk) Limited Debounce circuit with dynamic time base adjustment for a digital system
SG11201810905PA (en) * 2016-06-28 2019-01-30 Razer Asia Pacific Pte Ltd Devices, methods for controlling a device, and computer-readable media
TW201828599A (zh) * 2017-01-25 2018-08-01 原相科技股份有限公司 用來改善按鍵彈跳誤判的校正電路
CN108399019B (zh) * 2017-02-07 2021-06-01 原相科技股份有限公司 用来改善按键弹跳误判的校正电路
EP3698235B1 (en) * 2017-10-20 2023-05-03 Razer (Asia-Pacific) Pte. Ltd. User input devices and methods for identifying a user input in a user input device
CN109428578B (zh) * 2018-11-30 2023-08-08 珠海巨晟科技股份有限公司 一种电容式触摸按键抗干扰检测装置及检测方法
DE102019109653A1 (de) 2019-04-11 2020-10-15 Zf Automotive Germany Gmbh Verfahren zum Entprellen eines elektrischen Eingangssignals sowie Entprellmodul
FR3108460A1 (fr) * 2020-03-18 2021-09-24 Psa Automobiles Sa Procédé et système pour filtrer un signal électrique analogique généré par un dispositif de surveillance de la présence d’un conducteur d’un véhicule automobile

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS515079A (ko) * 1974-06-29 1976-01-16 Nippon Electric Co
US4185210A (en) * 1977-05-24 1980-01-22 Rca Corporation Contact de-bouncing circuit with common mode rejection
US4348758A (en) * 1980-06-04 1982-09-07 International Standard Electric Corporation Digital debouncing and storage apparatus for use in a telephone switching system
US4348785A (en) 1980-09-08 1982-09-14 Jordan Gerald J Wheel assembly
JPS6020114A (ja) * 1983-07-14 1985-02-01 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 測長器の表示装置
JPS6382124A (ja) * 1986-09-26 1988-04-12 Toshiba Corp アナログスイツチ回路
EP0274035B1 (fr) * 1986-12-03 1991-01-23 Eta SA Fabriques d'Ebauches Circuit de mise en forme du signal produit par un contact
JPS63202120A (ja) * 1987-02-17 1988-08-22 Fujitsu Ltd チヤタリング防止回路
US4926072A (en) * 1987-09-18 1990-05-15 Aisin Seiki Kabushikikaisha Noise elimination circuit
US4956637A (en) * 1988-04-29 1990-09-11 Baker Industries, Inc. System for detecting irregular operation of switch state verification circuit
US4853685A (en) * 1988-04-29 1989-08-01 Baker Industries, Inc. Switch monitoring arrangement with remote adjustment capability having debounce circuitry for accurate state determination
JPH02283120A (ja) * 1989-04-25 1990-11-20 Toshiba Corp 雑音除去装置
US5315539A (en) * 1992-09-24 1994-05-24 Xerox Corporation Method and apparatus for debouncing signals
US5296750A (en) * 1992-10-02 1994-03-22 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Measurand transient signal suppressor
US5469364A (en) * 1993-03-15 1995-11-21 Hughey; Bradley W. Apparatus and methods for measuring and detecting variations in the value of a capacitor
CH684622B5 (fr) * 1993-03-18 1995-05-15 Ebauchesfabrik Eta Ag Circuit pour supprimer les effets de rebonds d'un contacteur et montre comprenant un tel circuit.
JP2000137048A (ja) * 1998-10-30 2000-05-16 Sony Corp ノイズレベル判別回路
JP2003348600A (ja) * 2002-05-24 2003-12-05 Mitsubishi Electric Corp Ｐａｌ／ｎｔｓｃ方式判別回路
US8502593B2 (en) 2004-10-13 2013-08-06 Broadcom Corporation Balanced debounce circuit with noise filter for digital system
JP2006172333A (ja) * 2004-12-20 2006-06-29 Fuji Photo Film Co Ltd プリント注文処理システムおよびプリント注文処理方法
DE102005023511A1 (de) 2005-05-21 2006-11-30 Conti Temic Microelectronic Gmbh Verfahren zum Betreiben einer elektronischen Einheit und elektronische Einheit
JP4215748B2 (ja) * 2005-06-13 2009-01-28 Ｎｅｃシステムテクノロジー株式会社 デジタル信号出力装置およびデジタル信号出力方法

Also Published As

Publication number Publication date
US7847614B2 (en) 2010-12-07
ATE549721T1 (de) 2012-03-15
KR101094016B1 (ko) 2011-12-15
WO2008150931A3 (en) 2009-05-14
WO2008150931A2 (en) 2008-12-11
EP2151053A2 (en) 2010-02-10
JP2010530661A (ja) 2010-09-09
US20080297205A1 (en) 2008-12-04
EP2151053B1 (en) 2012-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101094016B1 (ko) 스위치 디바운싱(ｄｅ-ｂｏｕｎｃｉｎｇ) 장치 및 방법
KR100982282B1 (ko) 센서, 센서의 센싱 방법, 및 센서의 필터
US7986153B2 (en) Method and apparatus for sensing
JP5862257B2 (ja) サンプリング
CN101799734B (zh) 电容式触摸屏按键检测方法
US20130120053A1 (en) Touch pad capacitive sensor circuit
US20090225044A1 (en) Determining touch on keys of touch sensitive input device
US8217666B2 (en) Capacitance detection apparatus
CN208461792U (zh) 一种应用于fpga/cpld的按键消抖逻辑电路
TW201601040A (zh) 電容電壓資訊感測電路及其相關抗雜訊觸控電路
US11481072B2 (en) Capacitance detection circuit, touch detection apparatus and electronic device
CN109313518B (zh) 压电传感器元件检测
Mohamed et al. Efficient algorithm for accurate touch detection of large touch screen panels
CN110739953B (zh) 一种电容触摸按键的场景式信号自适应处理方法及电子装置
CN108777574A (zh) 一种电容触摸按键电路
KR101912383B1 (ko) 지문 검출 회로 및 전자 디바이스
WO2014020380A1 (en) Method for performing touch detection and touch detection module therefor
KR101015785B1 (ko) 접촉 감지 센서 및 감지 방법
KR100531800B1 (ko) 터치 스크린의 노이즈 필터링 방법
CN116203411A (zh) 一种应用于mcu中触摸按键电容检测方法及其系统
EP2722988B1 (en) A method of the touch detection for capacitive touch sensors
CN113949373A (zh) 使用不同电流进行充放电的接触检测电路及其运行方法
KR100917999B1 (ko) 가변 환경을 고려한 접촉 감지 센서 및 감지 방법
KR101085403B1 (ko) 근접 터치를 센싱하는 방법 및 그 장치
JP2007235286A (ja) 静電容量検出式スイッチ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N234 Change of applicant [patent]: notification of change of applicant and registration of full transfer of right
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee