KR20090115455A - 접촉식 평탄도 검사장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 프레임(15)의 상부에 위치하여 커버 부품(1)을 안착시키기 위한 테스트 베드(6)와;상기 테스트 베드(6)의 상부에 위치하여 커버 부품(1)을 고정시키기 위한 고정부(10)와;상기 테스트 베드(6)의 하부에 위치하여 커버 부품(1)의 평탄도를 측정하도록 된 측정부(9)와;상기 측정부(9)에서 측정된 데이터를 분석하여 커버 부품(1)의 평탄도를 판단하는 프로세서(16)로 구성된 것을 특징으로 하는 접촉식 평탄도 검사장치.
- 청구항 1에 있어서,상기 테스트 베드(6)는 상기 측정부(9)에 위치하는 검사핀(4)과 같은 위치에 구멍이 형성되어 있으며, 상기 고정부(10)는 부품의 볼트구멍(8)과 결합 고정되도록 볼트구멍(8)과 동일한 위치에 배열 설치된 고정핀(3)이 지지판(13) 아래에 다수 부착되어 있고 구동 실린더(2)에 의해 상하 구동되도록 되며, 상기 측정부(9)는 커버 부품(1)의 볼트구멍(8)과 구멍 사이에 배열되어 있고 상단에 변위센서(7)가 부착된 검사핀(4)이 지지대(14) 위에 다수 결합되어 있고 구동 실린더(5)에 의해 상하 구동되며, 상기 프로세서(16)는 각 검사핀(4)에서 측정된 거리값의 차이에 의해 평탄도를 판단하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 접촉식 평탄도 검사장치.
- 청구항 2에 있어서,상기 평탄도의 판단은 측정된 거리값의 최소값과 최대값을 잇는 기준선(12)과 상기 기준선(12)의 상하에 위치한 규격선(11)을 비교하여 각 측정된 거리값이 두 개의 규격선(11) 내부에 위치하는지 여부로 판단하고, 구간 평탄도는 인접한 두 검사핀(4)의 거리값의 차이를 이용하여 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 평탄도 검사장치.
- 프레임(15)의 상부에 위치하여 커버 부품(1)을 안착시키기 위한 테스트 베드(6)와;상기 테스트 베드(6) 위에 안착 된 커버 부품(1)을 고정하면서 측정하기 위한 고정핀(3)과 검사핀(4)이 다수개 결합 된 지지판(13)과;상기 지지판(13)의 검사핀(4)에서 측정된 데이터를 분석하여 커버 부품(1)의 평탄도를 판단하는 프로세서(16)로 구성된 것을 특징으로 하는 접촉식 평탄도 검사장치.
- 청구항 4에 있어서,구동 실린더(2)에 의해 상하 이동되는 상기 지지판(13) 아래에 부착된 다수 개의 상기 고정핀(3)은 부품의 볼트구멍(8)과 결합하도록 볼트구멍(8)과 동일한 위치에 배열되어 있고, 상기 지지판(13) 아래에 다수 개가 부착된 상기 검사핀(4)은 커버 부품(1)의 볼트구멍(8)과 구멍 사이에 배열되고 상단에 변위센서(7)가 부착되어 있으며, 상기 프로세서(16)는 각 검사핀(4)에서 측정된 거리값의 차이에 의해 평탄도를 판단하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 접촉식 평탄도 검사장치.
- 청구항 5에 있어서,상기 평탄도의 판단은 측정된 거리값의 최소값과 최대값을 잇는 기준선(12)과 상기 기준선(12)의 상하에 위치한 규격선(11)을 비교하여 각 측정된 거리값이 두 개의 규격선(11) 내부에 위치하는지 여부로 판단하고, 구간 평탄도는 인접한 두 검사핀(4)의 거리값의 차이를 이용하여 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 평탄도 검사장치.
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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KR101221110B1 (ko) * | 2010-12-29 | 2013-01-11 | 이훈호 | 평판기판의 평탄도 측정장치 |
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