KR20090100674A - 스팀을 이용한 기판 표면 검사 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (21)
- 평판표시패널용 기판의 표면 검사 장치에 있어서:기판이 놓여지는 테이블 유닛;상기 테이블 유닛보다 아래에 배치되고, 상기 스테이지에 놓여진 기판으로 스팀을 제공하는 스팀 공급부를 포함하되;상기 테이블 유닛은기판이 놓여지는 스테이지; 및상기 기판의 검사면이 상기 스팀 공급부가 위치하는 아래를 향하도록 상기 스테이지를 반전시키는 턴 오버 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제1항에 있어서,상기 턴 오버 유닛은상기 스테이지의 반전을 위한 개구를 갖는 사각형상의 프레임;상기 프레임의 서로 마주보는 측면들에 설치되고 상기 스테이지의 측면에 각각 결합되는 반전축을 갖는 반전 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제1항에 있어서,상기 기판 표면 검사 장치는상기 테이블 유닛의 기울기를 조절하는 틸팅 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제3항에 있어서,상기 틸팅 유닛은상기 프레임의 중앙에 설치되는 힌지부; 및상기 프레임의 모퉁이들 중에서 작업자와 가까운 양쪽 모퉁이에 연결되는 승강부를 포함하여, 상기 승강부에 의한 승강구동으로 상기 프레임이 상기 힌지부를 중심으로 상기 작업자 방향으로 기울어지는 것을 특징으로 하는 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제4항에 있어서,상기 힌지부는상기 프레임의 양쪽 모퉁이가 업다운될 때 전후 방향으로 이동 가능하도록 레일상에 설치되는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제1항에 있어서,상기 테이블 유닛은상기 스테이지에 제공되고, 기판을 진공으로 고정하기 위한 진공 패드들;상기 스테이지의 가장자리에 설치되고, 기판이 반전되었을 때 기판의 낙하 방지를 위해 기판의 가장자리를 척킹하는 척킹부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제1항에 있어서,상기 스팀 공급부는물을 가열하여 1차 스팀을 생성하는 일반 스팀 발생기;상기 일반 스팀 발생기로부터 제공받은 1차 스팀을 열원으로 순수를 간접 가열(열교환)하여 순수의 2차 스팀을 생성하는 크린 스팀 발생기;상기 크린 스팀 발생기로부터 순수의 2차 스팀을 제공받아 기판의 검사면으로 분사하는 노즐들을 갖는 매니폴더를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제7항에 있어서,상기 스팀 공급부는상기 일반 스팀 발생기로부터 상기 1차 스팀을 제공받으며, 상기 2차 스팀이 지나가는 배관을 감싸는 보온 배관을 더 포함하여, 상기 1차 스팀을 이용하여 상기 2차 스팀의 응결을 방지하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제7항에 있어서,상기 기판 표면 검사 장치는스팀의 증착 효과를 향상시키기 위해 기판의 온도를 낮추는 쿨링 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제9항에 있어서,상기 쿨링 유닛은냉각기의 냉각수와 열교환을 통해 상온 이하로 낮아진 크린 건조 에어(CDA;clean dry air)를 기판으로 분사하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제1항에 있어서,상기 기판 표면 검사 장치는기판의 검사면으로 광을 조사하는 조명 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제1항에 있어서,상기 기판 표면 검사 장치는작업자가 기판의 표면을 육안으로 검사하기 위해 위치하는 작업자 테이블; 및상기 작업자 테이블을 승하강 시켜주는 승강장치를 더 포함하는 것을 특징으 로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 평판표시패널용 기판의 표면 검사 장치에 있어서:기판이 놓여지는 테이블 유닛;상기 테이블 유닛의 기울기를 조절하는 틸팅 유닛을; 및상기 테이블 유닛보다 아래에 배치되고, 상기 스테이지에 놓여진 기판으로 스팀을 제공하는 스팀 공급부를 포함하되;상기 테이블 유닛은기판이 놓여지는 스테이지;상기 기판의 검사면이 상기 스팀 공급부가 위치하는 아래를 향하도록 상기 스테이지를 반전시키는 턴 오버 유닛;상기 스테이지의 가장자리에 설치되고, 기판이 반전되었을 때 기판의 낙하 방지를 위해 기판의 가장자리를 척킹하는 척킹부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제13항에 있어서,상기 틸팅 유닛은상기 프레임의 중앙에 설치되는 힌지부; 및상기 프레임의 모퉁이들 중에서 작업자와 가까운 양쪽 모퉁이에 연결되는 승강부를 포함하여, 상기 승강부에 의한 승강구동으로 상기 프레임이 상기 힌지부를 중심으로 상기 작업자 방향으로 기울어지는 것을 특징으로 하는 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제13항에 있어서,상기 스팀 공급부는물을 가열하여 1차 스팀을 생성하는 일반 스팀 발생기;상기 일반 스팀 발생기로부터 제공받은 1차 스팀을 열원으로 순수를 간접 가열(열교환)하여 순수의 2차 스팀을 생성하는 크린 스팀 발생기; 및상기 크린 스팀 발생기로부터 순수의 2차 스팀을 제공받아 기판의 검사면으로 분사하는 매니폴더를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 제15항에 있어서,상기 매니폴더는상기 2차 스팀이 제공되는 그리고 다수의 노즐들이 설치된 스팀 배관;상기 1차 스팀이 제공되며, 상기 스팀 배관을 감싸는 보온 배관을 포함하여, 상기 1차 스팀을 이용하여 상기 2차 스팀의 응결을 방지하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 장치.
- 평판표시패널용 기판의 표면 검사 방법에 있어서:기판의 검사면이 위를 향하도록 스테이지에 로딩하는 단계;기판의 검사면이 아래를 향하도록 상기 스테이지를 반전하는 단계;기판의 검사면을 향해 스팀을 상향 분사하여 기판의 검사면에 스팀을 증착하는 단계;기판의 검사면이 위를 향하도록 상기 스테이지를 반전하는 단계;기판의 검사면을 검사하는 단계;상기 스테이지로부터 기판을 언로딩하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 방법.
- 제17항에 있어서,상기 스팀 증착 단계는기판으로 쿨링 에어를 분사하여 기판의 온도를 낮춘 상태에서 스팀을 분사하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 방법.
- 제17항에 있어서,상기 스팀 증착 단계에서 사용되는 스팀은히터에 의해 직접 가열된 일반 증기를 열원으로 순수를 간접 가열(열교환)하여 만들어진 순수의 스팀인 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 방법.
- 제15항에 있어서,상기 검사 단계에서는상기 스테이지를 전후 좌우 기울기를 조절하면서 검사하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 방법.
- 평판표시패널용 기판의 표면 검사 방법에 있어서:스테이지에 기판이 로딩되면, 기판의 검사면이 아래를 향하도록 상기 스테이지를 반전한 후, 기판의 검사면을 향해 스팀을 상향 분사하여 기판의 검사면에 스팀을 증착하고, 기판의 검사면이 위를 향하도록 다시 상기 스테이지를 반전하여 표면 검사를 실시하는 것을 특징으로 하는 기판 표면 검사 방법.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101305089B1 (ko) * | 2011-10-26 | 2013-09-16 | 주식회사 제우스 | 평판표시패널용 글라스의 표면 검사장치 |
WO2014029144A1 (zh) * | 2012-08-21 | 2014-02-27 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶显示器中玻璃基板的检测方法及检测装置 |
KR20160063609A (ko) * | 2014-11-27 | 2016-06-07 | 주식회사 에스에프에이 | 정전척 플립장치 |
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