KR20090098057A - Apparatus for picking up semiconductor chips - Google Patents

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KR20090098057A
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Abstract

An apparatus for picking up semiconductor chips stored in a tray using a plurality of short screw rods are provided to simplify the assembly process by easily controlling the pitch of the absorbers absorbing the above semiconductor chip. A semiconductor chip pickup device(1) is located in the upper of the tray(2) including pocket(2a) formed with a constant pitch. A semiconductor chip(3) having the pitch like the pitch of pockets is accepted to the single in pockets. The above semiconductor chip pick up device comprises the base(10) which was to the front. The above semiconductor chip pick up device comprises the first and second screws(20,30) pivotally installed by the bearing(12) of the upper part of the base in the top of the base. The above semiconductor pickup device comprises absorbers(51,52,53,54,55) of the single having the pitch controlled according to the rotation ratio of the first and the second screw. The above semiconductor chip located in each pocket is absorbed with absorbers with the vacuum pressure. The driving unit rotates the first and the second screw.

Description

반도체칩 픽업장치{APPARATUS FOR PICKING UP SEMICONDUCTOR CHIPS}Semiconductor Chip Pickup Device {APPARATUS FOR PICKING UP SEMICONDUCTOR CHIPS}

본 발명은, 반도체칩 픽업장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 트레이에 정렬 수납된 한 열의 반도체칩들을 픽업하여 이송하기 위한 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor chip pick-up apparatus, and more particularly, to an apparatus for picking up and transferring a row of semiconductor chips arranged in a tray.

반도체 공정에 있어서, 반도체칩(특히, 패키지된 반도체칩)의 운반을 위해 다수의 반도체칩을 수납하는 트레이(즉, 제덱 트레이)가 이용된다. 위와 같은 트레이는 반도체칩들이 수납되는 복수의 포켓들을 구비하며, 그 복수의 포켓들은 복수의 열 내에 있다.In the semiconductor process, a tray (ie, a seed tray) for receiving a plurality of semiconductor chips is used for transporting a semiconductor chip (particularly a packaged semiconductor chip). Such a tray has a plurality of pockets in which semiconductor chips are stored, the plurality of pockets being in a plurality of rows.

반도체칩 운반 중에, 반도체칩이 흔들려서 손상되는 것을 막기 위해, 트레이의 포켓 크기는 반도체의 크기와 실질적으로 같게 결정된다. 제품별로 반도체칩의 크기는 다르며, 따라서, 반도체칩을 수납하는 트레이 또한 다양한 규격의 것들이 이용되고 있다. 트레이의 규격에 따라, 반도체칩들이 수납되는 포켓들의 피치는 달라진다.During semiconductor chip transport, the pocket size of the tray is determined to be substantially the same as that of the semiconductor in order to prevent the semiconductor chip from shaking and being damaged. The size of the semiconductor chip is different for each product, and therefore, trays for storing semiconductor chips are also used in various standards. Depending on the size of the tray, the pitch of the pockets in which the semiconductor chips are accommodated varies.

반도체 공정 중, 특히, 반도체칩의 검사를 위해, 트레이의 한 열에 있는 여러 개의 반도체칩들을 한번에 픽업하여 이송하기 위한 장치가 필요하다. 통상, 이러한 장치는 일열로 배열된 복수의 진공흡착기를 포함하며, 그 복수의 진공흡착기 가 일열의 반도체칩들을 동시에 픽업하여 이송시킨다. 그러나, 운반될 반도체칩의 종류가 바뀜에 따라 트레이의 규격 및 이에 따른 포켓의 피치도 바뀌므로, 진공흡착기들 사이의 피치 변화도 요구된다.During the semiconductor process, in particular for the inspection of semiconductor chips, an apparatus for picking up and transferring several semiconductor chips in a row of trays at a time is needed. Typically, such an apparatus includes a plurality of vacuum adsorbers arranged in a row, and the plurality of vacuum adsorbers simultaneously pick up and transport a series of semiconductor chips. However, as the type of semiconductor chip to be transported changes, the size of the tray and the pitch of the pocket accordingly change, so that the pitch change between the vacuum absorbers is also required.

위와 같은 요구 조건에 따라, 트레이의 포켓 피치 변화에 따라, 진공흡착기들 사이의 피치 조절이 가능하도록 한 장치들이 종래에 개발된 바 있다. 그와 같은 장치로는 일 예로, 2004. 01. 31. 자, "진공흡착패드의 피치 조절이 자유로운 반도체 칩 패키지 이송장치"의 명칭으로 공개된 국내 특허공개 제10-2004-0009803호에 개시된 것이 있다. In accordance with the above requirements, in accordance with the change in the pocket pitch of the tray, devices that enable the pitch adjustment between the vacuum adsorber has been developed in the past. Such an apparatus is disclosed in Korean Patent Publication No. 10-2004-0009803 published under the name of "Semiconductor Chip Package Transfer Device with Free Pitch Adjustment of Vacuum Absorption Pad" as an example. have.

위 종래의 문헌은, 단일 나사봉에 복수의 진공흡착패드들이 나사식으로 끼워지되, 진공흡착패드들을 양분하는 중심을 기준으로, 서로 반대방향의 나사선들이 각각 복수개로 단일 나사봉에 형성된 구조를 개시한다. 또한, 종래의 기술은, 상기 중심을 기준으로 한편에 형성된 복수개의 나사선들은 첫번째 나사선으로부터 n번째의 나사산까지 나사산의 피치 비율이 2n-1로 되어 있어, 진공흡착패드들의 피치는 항상 일정 비율로 가변된다.The prior art document discloses a structure in which a plurality of vacuum adsorption pads are threadedly inserted into a single screw rod, and a plurality of threads in opposite directions are formed on the single screw rod, respectively, based on a center dividing the vacuum adsorption pads. do. In addition, the conventional technology, the plurality of threads formed on the one hand relative to the center has a pitch ratio of the thread from the first thread to the nth thread is 2n-1, so that the pitch of the vacuum adsorption pads is always variable at a constant ratio. do.

그러나 종래의 기술은 반도체칩의 픽업에 이용되는 모든 진공흡착패드들이 피치 조절 가능하게 하나의 단일 나사봉에 설치되므로, 단일 나사봉의 길이 증가와 그에 따른 픽업장치의 폭 증가를 야기한다. 픽업장치의 폭 증가는 반도체 픽업장치가 반도체 제조 공장 내에서 불필요하게 많은 점유 면적을 차지하게 하므로 실용성이나 경제성이 크게 떨어진다. 또한, 서로 다른 피치의 많은 나사산이 형성된 나사봉에 많은 수의 진공흡착패드들을 끼우는 조립 공정은 현실적으로 매우 어려우며, 나사봉 등의 특수 설계에 의해 그것이 가능하더라도 진공흡착패드의 부정밀한 조립에 의해 많은 문제점을 내포한다. 또한, 불필요하게 긴 나사봉에 여러개의 무거운 진공흡착패드가 설치되므로, 큰 하중에 의해 나사봉의 변형이 야기된다. However, the conventional technique causes all the vacuum suction pads used for the pickup of the semiconductor chip to be pitch-adjustable to one single screw rod, thereby causing an increase in the length of the single screw rod and thus the width of the pickup device. Increasing the width of the pickup device causes the semiconductor pickup device to occupy an unnecessarily large occupied area in the semiconductor manufacturing plant, thereby greatly reducing practicality and economy. In addition, the assembly process of inserting a large number of vacuum adsorption pads into a threaded rod with a large number of threads of different pitches is very difficult in reality, and many problems are caused by the inaccurate assembly of the vacuum adsorption pads even though it is possible by a special design such as a screw rod. Implies In addition, since several heavy vacuum adsorption pads are installed on an unnecessarily long screw rod, deformation of the screw rod is caused by a large load.

따라서, 본 발명의 기술적 과제는, 종래 반도체칩 픽업장치에서 진공흡착기(또는, 진공흡착패드)의 피치 조절에 이용되던 하나의 긴 나사봉 대신에, 상대적으로 짧은 복수의 나사봉을 상하로 배치하여 이용하는 구조를 포함하는 반도체칩 픽업장치를 제공하는 것이다.Accordingly, the technical problem of the present invention is to place a plurality of relatively short screw rods up and down instead of one long screw rod used in the conventional semiconductor chip pick-up apparatus for pitch adjustment of a vacuum absorber (or vacuum suction pad). It is to provide a semiconductor chip pick-up apparatus including a structure to be used.

본 발명의 일 측면에 따른 반도체칩 픽업장치는, 베이스와, 상기 베이스 상에서 세로방향으로 나란히 회전가능하게 설치되는 제 1 및 제 2 나사봉과, 가로방향으로 나란히 이웃하게 위치하며, 상기 제 1 및 제 2 나사봉 각각의 정방향 나사산에 나사 이송식으로 설치되는 제 1 및 제 2 가변 흡착기와, 상기 제 1 및 제 2 나사봉을 회전시키는 구동수단을 포함하되, 상기 제 1 및 제 2 나사봉의 회전비 또는 나사 피치비에 따라, 상기 제 1 가변 흡착기와 상기 제 2 가변 흡착기 사이의 간격이 조절되도록 구성된다.In accordance with an aspect of the present invention, a semiconductor chip pickup device includes a base, first and second screw rods rotatably installed side by side in a longitudinal direction on the base, and adjacent to each other in a horizontal direction. The first and second variable adsorbers which are installed in a threaded manner in each of the forward threads of each of the two threaded rods, and driving means for rotating the first and second threaded rods, the rotational ratio of the first and second threaded rods or According to the screw pitch ratio, the distance between the first variable adsorber and the second variable adsorber is configured to be adjusted.

바람직하게는, 상기 제 1 진공흡착기와 가깝게 그리고 상기 제 2 진공흡착기와 멀게 상기 베이스에 고정 설치되는 고정형 흡착기를 더 포함하되, 상기 고정형 흡착기는, 상기 제 1 가변 흡착기에 대한 간격이, 상기 제 1 가변 흡착기와 상기 제 2 가변 흡착기 사이의 간격과 같게 조절되도록 배치된다.Preferably, further comprising a fixed adsorber fixed to the base close to the first vacuum adsorber and away from the second vacuum adsorber, wherein the fixed adsorber has a gap with respect to the first variable adsorber, the first And is arranged to be equal to the distance between the variable adsorber and the second variable adsorber.

바람직하게는, 상기 제 1 및 제 2 나사봉 각각은 상기 고정형 흡착기를 기준으로 반대측에 상기 정방향 나사산과 같은 나사 피치의 역방향 나사산을 갖되, 상기 제 1 및 제 2 나사봉 각각의 역방향 나사산에는 상기 제 1 가변 흡착기 및 상기 제 2 흡착기와 대칭되게 제 3 및 제 4 가변 흡착기가 나사 이송식으로 설치된다.Preferably, each of the first and second threaded rods has reverse threads of the same thread pitch as the forward threads on opposite sides of the fixed adsorber, and each of the first and second threaded rods has reverse threads. The third and fourth variable adsorbers are installed in a screw feed manner symmetrically with the first variable adsorber and the second adsorber.

본 발명의 일 실시예에 따라, 상기 제 1 나사봉과 상기 제 2 나사봉의 나사 피치비는 같고, 상기 제 1 나사봉과 상기 제 2 나사봉의 회전비는 2:1로 이루어진다. 이때, 상기 제 1 나사봉에는 제 1 기어가 설치되고 상기 제 2 나사봉에는 상기 제 1 기어와 치형 맞물림되는 제 2 기어가 설치되며, 상기 제 1 및 제 2 기어의 회전을 위해 상기 제 1 또는 상기 제 2 기어와 치형 맞물림되는 제 3 기어가 구동축에 설치되되, 상기 제 1기어에 대한 제 2 기어의 기어비율(gear ratio)은 1/2로 이루어진다.According to one embodiment of the invention, the screw pitch ratio of the first screw rod and the second screw rod is the same, the rotation ratio of the first screw rod and the second screw rod is 2: 1. In this case, a first gear is installed on the first screw rod, and a second gear is tooth-engaged with the first gear on the second screw rod, and the first or second gear is rotated for the rotation of the first and second gears. A third gear that is tooth-engaged with the second gear is provided on the drive shaft, wherein a gear ratio of the second gear to the first gear is 1/2.

대안적으로, 상기 제 1 나사봉과 상기 제 2 나사봉의 회전비를 같게 하고, 상기 제 1 나사봉과 상기 제 2 나사봉의 나사 피치비를 1:2로 하여, 고정형 흡착기와 가변형 흡착기들 사이의 간격들, 즉 피치를 조절할 수 있다. Alternatively, the gaps between the fixed adsorber and the variable adsorbers may be made equal by a rotation ratio of the first screw rod and the second screw rod, and the screw pitch ratio of the first screw rod and the second screw rod is 1: 2, That is, the pitch can be adjusted.

바람직하게는, 상기 반도체칩 픽업장치는, 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 가변 흡착기를 가로 방향으로 슬라이딩 가능하게 지지하는 LM 가이드 수단을 더 포함한다.Preferably, the semiconductor chip pickup device further includes LM guide means for slidably supporting the first, second, third, and fourth variable adsorbers in a horizontal direction.

바람직하게는, 상기 고정형 흡착기와 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 가변 흡착기 각각은, 베이스 블록과, 상기 베이스 블록에 설치되는 공압실린더와, 상기 공 압실린더에 의해 상하로 승강되는 진공흡착헤드를 포함하되, 상기 고정형 흡착기의 베이스 블록은 상기 베이스에 고정 체결되고, 상기 제 1 및 제 3 가변 흡착기의 베이스 블록 각각은 상기 제 1 나사봉의 정방향 나사산과 역방향 나사산에 나사식으로 연결되며, 상기 제 2 및 제 4 가변 흡착기의 베이스 블록은 상기 제 2 나사봉의 정방향 나사산과 역방향 나사산에 나사식으로 연결된다. Preferably, the fixed adsorption unit and the first, second, third, and fourth variable adsorbers each include a base block, a pneumatic cylinder provided in the base block, and a vacuum lifted up and down by the pneumatic cylinder. Including a suction head, the base block of the fixed adsorber is fixedly fastened to the base, each of the base block of the first and third variable adsorber is threadedly connected to the forward and reverse threads of the first screw rod, The base blocks of the second and fourth variable adsorbers are threadedly connected to the forward and reverse threads of the second screw rod.

본 발명에 따르면, 일열 내에 있는 반도체칩들의 피치 변화에 따라, 그 반도체칩을 흡착하는 흡착기들의 피치 조절이 쉽게 이루어질 수 있다. 또한, 긴 단일 나사봉을 이용하여 진공 흡착기의 피치를 조절하는 종래의 반도체칩 픽업장치와 달리, 상대적으로 짧은 복수의 나사봉을 이용하여 진공 흡착기의 피치를 조절하므로, 나사봉의 긴 길이로 인해 픽업장치의 폭이 불필요하게 커지는 문제점을 해결할 수 있다. 또한, 종래의 픽업장치는 하나의 나사봉에 서로 다른 피치를 갖는 복수의 나사산이 형성된 구조이므로, 그 서로 다른 피치의 나사산에 맞게 흡착기를 연결하는 조립 공정이 매우 어렵다는 문제점이 있지만, 본 발명에 따르면, 좌우 반대 방향인 동일 피치의 나사산이 이용되므로, 위 조립의 어려움과 같은 종래의 문제점을 해결할 수 있다.According to the present invention, according to the change in the pitch of the semiconductor chips in a row, the pitch of the adsorber adsorbing the semiconductor chip can be easily made. In addition, unlike the conventional semiconductor chip pick-up device that adjusts the pitch of the vacuum adsorber by using a long single screw rod, the pitch of the vacuum adsorber is adjusted by using a plurality of relatively short screw rods, so the pick-up is caused by the long length of the screw rod. The problem that the width of the device becomes unnecessarily large can be solved. In addition, the conventional pickup device has a structure in which a plurality of threads having different pitches are formed on one screw rod, so that an assembly process of connecting the adsorber to the threads of different pitches is very difficult, but according to the present invention. Since the threads of the same pitch in opposite directions are used, it is possible to solve conventional problems such as difficulty in assembling.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 한다. 다음에 소개되는 실시예들은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 설명되는 실시 예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 그리고, 도면들에 있어서, 구성요소의 폭, 길이, 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The following embodiments are provided as examples to ensure that the spirit of the present invention can be fully conveyed to those skilled in the art. Therefore, the present invention is not limited to the embodiments described below and may be embodied in other forms. And, in the drawings, the width, length, thickness, etc. of the components may be exaggerated for convenience. Like numbers refer to like elements throughout.

도 1에는 본 발명의 일 실시예에 다른 반도체칩 픽업장치와 그 픽업장치에 의해 픽업되는 반도체칩들이 수납된 트레이가 도시되어 있으며, 도 2에는 반도체 픽업장치의 흡착기들의 일부가 각각 제거된 채 도시되어 있다.1 shows another semiconductor chip pick-up apparatus and a tray containing semiconductor chips picked up by the pick-up apparatus in one embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a portion of the absorbers of the semiconductor pick-up apparatus removed. It is.

도 1 및 도 2를 참조하면, 일정 피치로 형성된 일열의 포켓(2a)들을 포함하는 트레이(2)의 상측에 반도체칩 픽업장치(1)가 위치하고 있다. 상기 포켓(2a)들에는 복수의 반도체칩(3)들이 상기 포켓(2a)들의 피치와 같은 피치로서 일열로 수납되어 있다. 1 and 2, the semiconductor chip pick-up apparatus 1 is positioned above the tray 2 including the row of pockets 2a formed at a predetermined pitch. In the pockets 2a, a plurality of semiconductor chips 3 are arranged in a row at the same pitch as the pitches of the pockets 2a.

상기 반도체칩 픽업장치(1)는, 전방을 향해 있는 베이스(10)와, 상기 베이스(10) 상의 축받이(12)들에 의해 상기 베이스(10) 상에서 회전가능하게 설치되는 제 1 및 제 2 나사봉(20, 30)을 포함한다. 또한, 상기 반도체 픽업장치(1)는, 트레이(2)의 교체에 따른 포켓(2a)의 피치 변화가 있는 경우, 상기 제 1 및 제 2 나사봉(20, 30)의 회전비에 의해, 피치가 조절될 수 있는 일열의 흡착기(51, 52, 53, 54, 55)들을 포함하며, 상기 흡착기(51, 52, 53, 54, 55)들은 진공압에 의해 각 포켓(2a)에 위치한 반도체칩(3)을 흡착하여 운반하는 용도로 이용된다. 상기 흡착기(51, 52, 53, 54, 55)들 및 그것의 피치 조절 구조에 대해서는 이하에서 보다 구 체적으로 설명하기로 한다.The semiconductor chip pick-up apparatus 1 includes first and second screws rotatably installed on the base 10 by the base 10 facing forward and the bearings 12 on the base 10. And four fours (20, 30). In the semiconductor pickup device 1, when the pitch of the pocket 2a changes due to the replacement of the tray 2, the pitch is changed by the rotation ratio of the first and second screw rods 20 and 30. A row of adsorbers 51, 52, 53, 54, 55 that can be adjusted are included, and the adsorbers 51, 52, 53, 54, 55 are semiconductor chips located in each pocket 2a by vacuum pressure. 3) It is used for adsorption and transport. The adsorbers 51, 52, 53, 54, 55 and their pitch control structures will be described in more detail below.

상기 제 1 나사봉(20)과 상기 제 2 나사봉(30)은 세로방향으로 나란하게 설치된다. 상기 제 1 및 상기 제 2 나사봉(20, 30)은 중앙을 기준으로 좌우 양측에 정방향 나사산(22, 32)과 역방향 나사산(24, 34)이 대칭적으로 형성되어 있다. 이때, 상기 제 1 나사봉(20)과 상기 제 2 나사봉(30)은, 나사 방향과 상관없이, 나사 피치가 모두 같다(도 2에 잘 도시됨).The first screw rod 20 and the second screw rod 30 are installed side by side in the longitudinal direction. The first and second screw rods 20 and 30 are symmetrically formed with forward threads 22 and 32 and reverse threads 24 and 34 on both left and right sides with respect to the center. At this time, the first screw rod 20 and the second screw rod 30, the thread pitch is the same regardless of the screw direction (shown well in Figure 2).

상기 제 1 나사봉(20)과 상기 제 2 나사봉(30)은 모터(미도시함)를 포함하는 구동수단(40)에 의해 회전하도록 구성된다. 상기 구동수단은, 상기 제 1 나사봉(20)에 설치된 제 1 기어(42)와, 상기 제 2 나사봉(30)에 설치된 제 2 기어(44)와, 모터의 주동축(47)에 설치된 제 3 기어(46)를 포함한다. 상기 제 1 기어(42)는 상기 제 2 기어(44)와 치형 맞물림되고, 상기 제 3 기어(46)는 상기 제 1 기어(42)와 치형 맞물림된다. 따라서, 모터 구동에 의해 상기 주동축(47)이 회전하면, 상기 제 1 나사봉(20)과 상기 제 2 나사봉(30)이 모두 회전한다.The first screw rod 20 and the second screw rod 30 are configured to rotate by a driving means 40 including a motor (not shown). The driving means includes a first gear 42 provided on the first screw rod 20, a second gear 44 provided on the second screw rod 30, and a main shaft 47 of the motor. And a third gear 46. The first gear 42 is tooth engaged with the second gear 44, and the third gear 46 is tooth engaged with the first gear 42. Therefore, when the main shaft 47 is rotated by the motor drive, both the first screw rod 20 and the second screw rod 30 rotates.

또한, 상기 제 1 기어(42)에 대한 상기 제 2 기어(44)의 기어비율은 1/2이며, 따라서, 상기 제 1 나사봉(20)과 상기 제 2 나사봉(30)의 회전비는 1: 2이다. 이에 따라, 상기 제 1 나사봉(20)의 1 회전할 때, 상기 제 2 나사봉(30)은 2 회전한다.In addition, the gear ratio of the second gear 44 to the first gear 42 is 1/2, so, the rotation ratio of the first screw rod 20 and the second screw rod 30 is 1 2 is. Accordingly, when the first screw rod 20 rotates one time, the second screw rod 30 rotates two times.

앞서 언급된 일열의 흡착기들은 고정형 흡착기(51)와, 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 가변 흡착기(52, 53, 54, 55)를 포함한다. 고정형 흡착기(51)는, 베이스(10)에 고정 설치되는 것으로서, 가로방향으로의 이동이 없다. 반면에, 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 가변 흡착기(52, 53, 54, 55)는 전술한 제 1 나사봉(20) 또는 제 2 나사봉(30)에 나사 이송식으로 설치되어, 가로 방향으로 이송되며, 그 가로 방향 이송에 의해, 이하 설명되는 것과 같이, 흡착기(51, 52, 53, 54, 55)의 피치 조절에 기여한다. 가변형 흡착기(52, 53, 54 또는 55)가 나사봉(20 또는 30)에 맞물린 부분 점선의 나사산에 의해 나타내었다.The aforementioned series of adsorbers includes a stationary adsorber 51 and first, second, third and fourth variable adsorbers 52, 53, 54, 55. The fixed adsorber 51 is fixed to the base 10 and has no movement in the lateral direction. On the other hand, the first, second, third, and fourth variable adsorbers 52, 53, 54, 55 are screw-mounted to the first screw rod 20 or the second screw rod 30 described above. , It is conveyed in the transverse direction, and contributes to the pitch adjustment of the adsorbers 51, 52, 53, 54, 55 by the transverse conveyance as described below. The variable adsorbers 52, 53, 54 or 55 are represented by threads of partial dashed lines engaged with the screw rods 20 or 30.

상기 고정형 흡착기(51)를 기준으로, 좌측에는 차례대로 제 1 및 제 2 가변 흡착기(52, 53)가 배치되고, 상기 고정형 흡착기(51)를 기준으로 우측에는 차례대로 제 3 및 제 4 가변 흡착기(54, 55)가 배치된다. 또한, 상기 제 1 가변 흡착기(52)와 상기 제 3 가변 흡착기(54)는, 상기 고정형 흡착기(51)를 기준으로 좌우 대칭되게 상기 제 1 나사봉(20)의 정방향 나사산(22)과 역방향 나사산(24)에 각각 나사 이송식으로 설치된다. 또한, 상기 제 2 가변 흡착기(53)와 상기 제 4 가변 흡착기(55)는, 상기 고정형 흡착기(51)를 기준으로 좌우 대칭되게 상기 제 2 나사봉(30)의 정방향 나사산(32)과 역방향 나사산(34)에 각각 나사 이송식으로 설치된다.  The first and second variable adsorbers 52 and 53 are disposed in order on the left side of the fixed adsorber 51, and the third and fourth variable adsorbers in order on the right side of the fixed adsorber 51. 54 and 55 are arranged. In addition, the first variable adsorber 52 and the third variable adsorber 54 are laterally symmetrical with respect to the fixed adsorber 51 and the forward thread 22 and the reverse thread of the first screw rod 20. Each screw 24 is screwed. In addition, the second variable adsorber 53 and the fourth variable adsorber 55 may be laterally symmetrical with respect to the fixed adsorber 51 and the forward thread 32 and the reverse thread of the second screw rod 30. 34 are screw-mounted respectively.

이때, 상기 고정형 흡착기(51)는 상기 제 1 가변형 흡착기(52)에 대한 간격이 상기 제 1 가변형 흡착기(52)와 상기 제 2 가변형 흡착기(53) 사이의 간격과 같게 배치된다. 또한, 상기 고정형 흡착기(51)는 상기 3 가변형 흡착기(54)에 대한 간격이 상기 제 3 가변형 흡착기와 상기 제 4 가변형 흡착기(55) 사이의 간격과 같게 배치된다. 따라서, 흡착기들의 피치는 그것들의 가로 방향 이송 전에 일정하다. In this case, the fixed adsorption unit 51 is disposed such that the interval with respect to the first variable adsorption unit 52 is equal to the interval between the first variable adsorption unit 52 and the second variable adsorption unit 53. In addition, the fixed adsorber 51 is arranged such that the interval with respect to the three variable adsorber 54 is equal to the interval between the third variable adsorber and the fourth variable adsorber 55. Thus, the pitch of the adsorbers is constant before their transverse conveyance.

상기 고정형 흡착기(51), 제 1 가변형 흡착기(52), 제 2 가변형 흡착기(53) 사이의 관계를 살펴보면, 상기 제 1 나사봉(20)과 상기 제 2 나사봉(30)의 회전비가 1: 2이고 제 1 및 제 2 나사봉(20, 30)의 정방향 나사 피치들은 같으므로, 상기 제 1 및 제 2 나사봉(20, 30)의 회전에 의해, 이웃하는 흡착기들 사이의 간격이 변하더라도, 상기 고정형 흡착기(51)에 대한 상기 제 1 가변형 흡착기(52)와 상기 제 2 가변형 흡착기(53)의 간격비는 항상 1:2를 유지한다. 이는 고정형 흡착기(51)를 기준으로 좌측에 있는 흡착기(52, 53)들의 피치 조절이 가능하다는 것을 의미한다.Looking at the relationship between the fixed adsorber 51, the first variable adsorber 52, the second variable adsorber 53, the rotation ratio of the first screw rod 20 and the second screw rod 30 is 1: 2 and the forward thread pitches of the first and second threaded rods 20 and 30 are the same, so that the distance between neighboring adsorbers is changed by the rotation of the first and second threaded rods 20 and 30. The ratio of the distance between the first variable type adsorber 52 and the second variable type adsorber 53 to the fixed adsorber 51 is always maintained at 1: 2. This means that the pitch of the adsorbers 52 and 53 on the left side can be adjusted based on the fixed adsorber 51.

반대로, 상기 고정형 흡착기(51), 제 3 가변형 흡착기(54), 제 4 가변형 흡착기(55) 사이의 관계를 살펴보면, 상기 제 1 나사봉(20)과 상기 제 2 나사봉(30)의 회전비가 1: 2이고 제 1 및 제 2 나사봉(20, 30)의 역방향 나사 피치들은 같으므로, 상기 제 1 및 제 2 나사봉(20, 30)의 회전에 의해, 이웃하는 흡착기들 사이의 간격이 변하더라도, 상기 고정형 흡착기(51)에 대한 상기 제 3 가변형 흡착기(54)와 상기 제 4 가변 흡착기(55)의 간격비는 항상 1:2를 유지한다. 이는 고정형 흡착기(51)를 기준으로 우측에 있는 흡착기(54, 55)들의 피치 조절이 가능하다는 것을 의미한다.On the contrary, looking at the relationship between the fixed adsorber 51, the third variable adsorber 54, and the fourth variable adsorber 55, the rotation ratio of the first screw rod 20 and the second screw rod 30 is 1: 2 and the reverse thread pitches of the first and second threaded rods 20, 30 are the same, so that the spacing between neighboring adsorbers is reduced by the rotation of the first and second threaded rods 20, 30. Even if it varies, the ratio of the distance between the fixed variable absorber 51 and the third variable absorber 54 and the fourth variable absorber 55 is always maintained at 1: 2. This means that the pitch of the adsorbers 54 and 55 on the right side of the fixed adsorber 51 can be adjusted.

전체적으로 보면, 상기 고정형 흡착기(51)를 기준으로, 좌측의 제 1 및 제 2 가변 흡착기(52, 53)와 우측의 제 3 및 제 4 가변 흡착기(54, 55)가 대칭을 이루면서 간격 조절되며, 이는 일열로 정렬되어 있는 상기 흡착기(51, 52, 53, 54, 55)의 전체적인 피치 조절이 가능하다는 것을 의미한다.  As a whole, based on the fixed adsorber 51, the first and second variable adsorbers 52 and 53 on the left side and the third and fourth variable adsorbers 54 and 55 on the right side are symmetrically adjusted, This means that the overall pitch adjustment of the adsorbers 51, 52, 53, 54, 55 arranged in a row is possible.

도면에는 2개의 나사봉(20, 30)을 포함하는 반도체칩 픽업장치만이 도시되어 있지만, 3개 이상의 나사봉을 포함하는 반도체칩 픽업장치도 본 발명의 범위 내에 있으며, 이때, 나사봉의 회전비는 1: 2n이고, n은 가장 빠르게 회전하는 나사봉의 순서이다.Although only a semiconductor chip pick-up device including two screw rods 20 and 30 is shown in the drawing, a semiconductor chip pick-up apparatus including three or more screw rods is also within the scope of the present invention. 1: 2n, where n is the fastest rotating screw rod order.

도 1에 잘 도시된 바와 같이, 상기 고정형 흡착기(51)와 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 가변 흡착기(52, 53, 54, 55) 각각은, 베이스 블록(512, 522, 532, 542, 552)과, 상기 베이스 블록에 설치되는 공압실린더(514, 524, 534, 544, 554)와, 상기 공압실린더에 의해 상하로 승강되는 진공흡착헤드(516, 526, 536, 546, 556)를 포함한다. As shown in FIG. 1, the fixed adsorber 51 and the first, second, third, and fourth variable adsorbers 52, 53, 54, and 55 each have a base block 512, 522, 532. , 542, 552, pneumatic cylinders 514, 524, 534, 544, 554 installed in the base block, and vacuum suction heads 516, 526, 536, 546, 556 that are lifted up and down by the pneumatic cylinders. ).

상기 고정형 흡착기(51)의 베이스 블록은 상기 베이스(10)에 고정되고, 상기 제 1 및 제 3 가변 흡착기(52 54)의 베이스 블록(522, 542) 각각은 상기 제 1 나사봉(20)의 정방향 나사산(22)과 역방향 나사산(24)에 나사식으로 연결되며, 상기 제 2 및 제 4 가변 흡착기(53, 55)의 베이스 블록(532, 552) 각각은 상기 제 2 나사봉(30)의 정방향 나사산(32)과 역방향 나사산(34)에 나사식으로 연결된다.The base block of the fixed adsorption unit 51 is fixed to the base 10, and each of the base blocks 522 and 542 of the first and third variable adsorption units 52 54 is formed of the first screw rod 20. It is threadedly connected to the forward thread 22 and the reverse thread 24, each of the base blocks 532, 552 of the second and fourth variable adsorbers 53, 55 each of the second threaded rod 30 It is threadedly connected to the forward thread 32 and the reverse thread 34.

상기 진공흡착헤드(516, 526, 536, 546, 556)들은, 상기 공압실린더(514, 524, 534, 544, 554)들에 의해 하강한 후, 진공압으로 트레이(2)의 각 포켓(2a)에 수납된 반도체칩(3)들을 흡착한 후, 상기 공압실린더(514, 524, 534, 544, 554)들의 상승 구동에 의해, 상기 반도체칩(3)들을 들어올린다. 그 다음, 흡착기(51, 52, 53, 54, 55)들이 설치되어 있는 베이스(10)가 이동하여, 상기 반도체칩(3)들을 원하는 위치로 운반한다.The vacuum suction heads 516, 526, 536, 546, 556 are lowered by the pneumatic cylinders 514, 524, 534, 544, 554, and then each pocket 2a of the tray 2 under vacuum pressure. After adsorbing the semiconductor chips 3 stored therein, the semiconductor chips 3 are lifted by the upward driving of the pneumatic cylinders 514, 524, 534, 544, and 554. Then, the base 10, on which the adsorbers 51, 52, 53, 54, 55 are installed, moves to carry the semiconductor chips 3 to a desired position.

또한, 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 가변 흡착기(52, 53, 54, 55)는 베이스(10) 상의 LM(linear motion) 가이드 수단에 의해 가로 방향으로 슬라이딩 가능 하게 지지된다. 본 실시예에서, 상기 LM 가이드 수단은 상하 나란하게 배치된 채, 상기 제 1 및 제 4 가변 흡착기(52, 55)를 지지하는 제 1 LM 가이드(72)와 제 2 및 제 3 가변 흡착기(53, 54)를 지지하는 제 2 LM 가이드(74)로 구성된다.In addition, the first, second, third, and fourth variable adsorbers 52, 53, 54, 55 are slidably supported in the horizontal direction by linear motion (LM) guide means on the base 10. In this embodiment, the LM guide means are arranged side by side up and down, the first LM guide 72 and the second and third variable adsorber 53 supporting the first and fourth variable adsorbers 52, 55. And a second LM guide 74 supporting 54.

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체칩 픽업장치를 설명하기 위한 도면이다. 도 3을 참조하면, 제 1 나사봉(20)에 설치된 제 1 기어(42)와, 제 2 나사봉(30)에 설치된 제 2 기어(44)가 같은 지름, 같은 치형을 가져서, 상기 제 1 나사봉(20)과 상기 제 2 나사봉(30)은 1:1의 회전비로 회전한다. 대신에, 상기 제 1 나사봉(20)과 상기 제 2 나사봉(30)의 나사 피치비는 1: 2로 되어 있다. 따라서, 상기 제 1 나사봉(20)과 상기 제 2 나사봉(30)이 1:1로 회전할 때, 상기 흡착기(51, 52, 53, 54)들의 피치는 각 간격들이 같게 유지되면서 증감 조절될 수 있다. 이때, 나사봉의 개수를 3개 이상으로 하는 것도 가능하며, 이 경우, 나사 피치비는 1: 2N이고, N은 가장 큰 피치를 갖는 나사봉의 순서이다. 3 is a view for explaining a semiconductor chip pick-up apparatus according to another embodiment of the present invention. Referring to FIG. 3, the first gear 42 provided in the first screw rod 20 and the second gear 44 provided in the second screw rod 30 have the same diameter and the same tooth shape, and thus the first gear The screw rod 20 and the second screw rod 30 rotate at a rotation ratio of 1: 1. Instead, the screw pitch ratio of the first threaded rod 20 and the second threaded rod 30 is 1: 2. Therefore, when the first screw rod 20 and the second screw rod 30 rotates 1: 1, the pitch of the adsorbers 51, 52, 53, and 54 are increased and decreased while the intervals remain the same. Can be. At this time, the number of screw rods may be three or more, in this case, the screw pitch ratio is 1: 2N, and N is the order of the screw rods having the largest pitch.

도 1은 본 발명의 일 실시에예 따른 반도체칩 픽업장치를 설명하기 위한 도면.1 is a view for explaining a semiconductor chip pickup device according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 도시딘 반도체칩 픽업장치의 흡착기 각각의 일부 구성요소를 제거하여 도시한 도면.FIG. 2 is a view illustrating the removal of some components of each of the adsorbers of the semiconductor chip pickup apparatus shown in FIG.

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체칩 픽업장치를 설명하기 위한 도면.3 is a view for explaining a semiconductor chip pickup device according to another embodiment of the present invention.

Claims (8)

베이스와;A base; 상기 베이스 상에서 세로방향으로 나란히 회전가능하게 설치되는 제 1 및 제 2 나사봉과;First and second screw rods rotatably installed side by side on the base; 가로방향으로 나란히 이웃하게 위치하며, 상기 제 1 및 제 2 나사봉 각각의 정방향 나사산에 나사 이송식으로 설치되는 제 1 및 제 2 가변 흡착기와;First and second variable adsorbers positioned side by side in the lateral direction and installed in a threaded manner on the forward threads of each of the first and second threaded rods; 상기 제 1 및 제 2 나사봉을 회전시키는 구동수단을 포함하되,It includes a drive means for rotating the first and second screw rods, 상기 제 1 및 제 2 나사봉의 회전비 또는 나사 피치비에 따라, 상기 제 1 가변 흡착기와 상기 제 2 가변 흡착기 사이의 간격이 조절되는 것을 특징으로 하는 반도체칩 픽업장치.The semiconductor chip pick-up apparatus, wherein the distance between the first variable adsorber and the second variable adsorber is adjusted according to the rotation ratio or the screw pitch ratio of the first and second screw rods. 청구항 1에 있어서, 상기 제 1 진공흡착기와 가깝게 그리고 상기 제 2 진공흡착기와 멀게 상기 베이스에 고정 설치되는 고정형 흡착기를 더 포함하되, 상기 고정형 흡착기는, 상기 제 1 가변 흡착기에 대한 간격이, 상기 제 1 가변 흡착기와 상기 제 2 가변 흡착기 사이의 간격과 같게 조절되도록 배치된 것을 특징으로 하는 반도체칩 픽업장치.The method of claim 1, further comprising a fixed adsorber fixed to the base close to the first vacuum adsorber and away from the second vacuum adsorber, wherein the fixed adsorber is, the spacing with respect to the first variable adsorber, the first The semiconductor chip pick-up apparatus, characterized in that arranged so as to be equal to the interval between the first variable adsorber and the second variable adsorber. 청구항 2에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 나사봉 각각은 상기 고정형 흡착기를 기준으로 반대측에 상기 정방향 나사산과 같은 나사 피치의 역방향 나사산을 갖되, 상기 제 1 및 제 2 나사봉 각각의 역방향 나사산에는 상기 제 1 가변 흡착기 및 상기 제 2 흡착기와 대칭되게 제 3 및 제 4 가변 흡착기가 나사 이송식으로 설치되는 것을 특징으로 하는 반도체칩 픽업장치.The method of claim 2, wherein each of the first and second threaded rod has a reverse thread of the same thread pitch as the forward thread on the opposite side relative to the fixed adsorber, the reverse thread of each of the first and second threaded rod And a third and fourth variable adsorber are installed in a screw transfer manner symmetrically with the first variable adsorber and the second adsorber. 청구항 3에 있어서, 상기 제 1 나사봉과 상기 제 2 나사봉의 회전비는 같고, 상기 제 1 나사봉과 상기 제 2 나사봉의 나사 피치비는 1:2인 것을 특징으로 하는 반도체칩 픽업장치.The semiconductor chip pickup device according to claim 3, wherein a rotation ratio of the first screw rod and the second screw rod is the same, and a screw pitch ratio of the first screw rod and the second screw rod is 1: 2. 청구항 3에 있어서, 상기 제 1 나사봉과 상기 제 2 나사봉의 나사 피치비는 같고, 상기 제 1 나사봉과 상기 제 2 나사봉의 회전비는 2:1인 것을 특징으로 하는 반도체칩 픽업장치.The semiconductor chip pickup device according to claim 3, wherein a screw pitch ratio of the first screw rod and the second screw rod is the same, and a rotation ratio of the first screw rod and the second screw rod is 2: 1. 청구항 5에 있어서, 상기 제 1 나사봉에 설치된 제 1 기어와 상기 제 2 나사봉에 설치된 채 상기 제 1 기어와 치형 맞물림되는 제 2 기어와, 상기 제 1 및 제 2 기어의 회전을 위해 상기 제 1 또는 상기 제 2 기어와 치형 맞물림되는 구동축 상의 제 3 기어를 포함하되, 상기 제 1기어에 대한 제 2 기어의 기어비율(gear ratio)은 1/2인 것을 특징으로 하는 반도체칩 픽업장치.6. The method of claim 5, wherein the first gear provided to the first screw rod and the second gear tooth-engaged with the first gear while installed on the second screw rod, and the first gear for rotation of the first and second gear And a third gear on the drive shaft that is tooth-engaged with the second gear, wherein a gear ratio of the second gear to the first gear is 1/2. 청구항 3에 있어서, 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 가변 흡착기를 가로 방향으로 슬라이딩 가능하게 지지하는 LM 가이드 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하 는 반도체칩 픽업장치. 4. The semiconductor chip pickup device according to claim 3, further comprising LM guide means for slidably supporting the first, second, third, and fourth variable adsorbers in a horizontal direction. 청구항 3에 있어서, The method according to claim 3, 상기 고정형 흡착기와 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 가변 흡착기 각각은, 베이스 블록과, 상기 베이스 블록에 설치되는 공압실린더와, 상기 공압실린더에 의해 상하로 승강되는 진공흡착헤드를 포함하되, The fixed adsorption unit and the first, second, third and fourth variable adsorption units each include a base block, a pneumatic cylinder installed on the base block, and a vacuum adsorption head which is lifted up and down by the pneumatic cylinder. , 상기 고정형 흡착기의 베이스 블록은 상기 베이스에 고정 체결되고, The base block of the fixed adsorber is fixed to the base, 상기 제 1 및 제 3 가변 흡착기의 베이스 블록 각각은 상기 제 1 나사봉의 정방향 나사산과 역방향 나사산에 나사식으로 연결되며, Each of the base blocks of the first and third variable adsorbers is threadedly connected to the forward and reverse threads of the first screw rod, 상기 제 2 및 제 4 가변 흡착기의 베이스 블록은 상기 제 2 나사봉의 정방향 나사산과 역방향 나사산에 나사식으로 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체칩 픽업장치.And the base blocks of the second and fourth variable adsorbers are threadedly connected to the forward and reverse threads of the second screw rod.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101272442B1 (en) * 2012-11-14 2013-06-07 최무송 Routing apparatus with variably locating type vacuum pad
KR101674539B1 (en) * 2015-10-15 2016-11-09 주식회사 이오테크닉스 Laser processing system, picker apparatus and method for transporting workpieces using the same
CN114472072A (en) * 2021-12-30 2022-05-13 合肥鑫丰科技有限公司 Adhesive dispensing device for packaging multiple semiconductor chips

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102486822B1 (en) 2018-03-29 2023-01-10 삼성전자주식회사 Chip transfer device and chip transfering method using the same
KR102642736B1 (en) 2022-03-29 2024-03-04 이재웅 pickup system of semiconductor package

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200197283Y1 (en) 1999-12-06 2000-09-15 삼성전자주식회사 Hand of variable pitch
KR100349942B1 (en) 1999-12-06 2002-08-24 삼성전자 주식회사 Rambus handler

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101272442B1 (en) * 2012-11-14 2013-06-07 최무송 Routing apparatus with variably locating type vacuum pad
KR101674539B1 (en) * 2015-10-15 2016-11-09 주식회사 이오테크닉스 Laser processing system, picker apparatus and method for transporting workpieces using the same
CN114472072A (en) * 2021-12-30 2022-05-13 合肥鑫丰科技有限公司 Adhesive dispensing device for packaging multiple semiconductor chips
CN114472072B (en) * 2021-12-30 2023-09-08 合肥鑫丰科技有限公司 Glue dispensing device for packaging multiple semiconductor chips

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