KR20090080217A - Nitride light emitting device - Google Patents

Nitride light emitting device Download PDF

Info

Publication number
KR20090080217A
KR20090080217A KR20080006072A KR20080006072A KR20090080217A KR 20090080217 A KR20090080217 A KR 20090080217A KR 20080006072 A KR20080006072 A KR 20080006072A KR 20080006072 A KR20080006072 A KR 20080006072A KR 20090080217 A KR20090080217 A KR 20090080217A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
layer
electrode
light emitting
emitting device
semiconductor layer
Prior art date
Application number
KR20080006072A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101420214B1 (en
Inventor
김선정
Original Assignee
엘지전자 주식회사
엘지이노텍 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지전자 주식회사, 엘지이노텍 주식회사 filed Critical 엘지전자 주식회사
Priority to KR1020080006072A priority Critical patent/KR101420214B1/en
Publication of KR20090080217A publication Critical patent/KR20090080217A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101420214B1 publication Critical patent/KR101420214B1/en

Links

Images

Landscapes

  • Led Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

A nitride-based light emitting device is provided to improve an optical extraction effect by forming a phosphor layer and an electrode in patterns. A nitride-based light emitting device includes a reflective layer(40), a first electrode(20), a semiconductor layer(10), a second electrode, and a phosphor layer(60). The first electrode is positioned on the reflective layer. The semiconductor layer is positioned on the first electrode. The second electrode is positioned on the semiconductor layer. The phosphor layer is positioned on a part except for the second electrode on the semiconductor layer. The phosphor layer is formed to change a wavelength of the light emitted from the semiconductor layer. The reflective layer is positioned on a supporting layer(50) which is composed of a metal or a semiconductor.

Description

질화물계 발광 소자{Nitride light emitting device}Nitride-based light emitting device

본 발명은 질화물계 발광 소자에 관한 것으로 특히, 다양한 색상을 발광하는 발광 소자를 제공할 수 있고, 발광 소자의 색 변환 효율과 신뢰성을 향상시킬 수 있는 질화물계 발광 소자에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a nitride based light emitting device, and more particularly, to a nitride based light emitting device capable of providing a light emitting device that emits a variety of colors and improving color conversion efficiency and reliability of the light emitting device.

발광 다이오드(Light Emitting Diode: LED)는 전류를 빛으로 변환시키는 잘 알려진 반도체 발광 소자로서, 1962년 GaAsP 화합물 반도체를 이용한 적색 LED가 상품화 된 것을 시작으로 GaP:N 계열의 녹색 LED와 함께 정보 통신기기를 비롯한 전자장치의 표시 화상용 광원으로 이용되어 왔다.Light Emitting Diodes (LEDs) are well-known semiconductor light emitting devices that convert current into light.In 1962, red LEDs using GaAsP compound semiconductors were commercialized, along with GaP: N series green LEDs. It has been used as a light source for display images of electronic devices, including.

이러한 LED에 의해 방출되는 광의 파장은 LED를 제조하는데 사용되는 반도체 재료에 따른다. 이는 방출된 광의 파장이 가전자대(valence band) 전자들과 전도대(conduction band) 전자들 사이의 에너지 차를 나타내는 반도체 재료의 밴드갭(band-gap)에 따르기 때문이다. The wavelength of light emitted by such LEDs depends on the semiconductor material used to make the LEDs. This is because the wavelength of the emitted light depends on the band-gap of the semiconductor material, which represents the energy difference between the valence band electrons and the conduction band electrons.

질화 갈륨 화합물 반도체(Gallium Nitride: GaN)는 높은 열적 안정성과 폭넓은 밴드갭(0.8 ~ 6.2eV)을 가지고 있어, LED를 포함한 고출력 전자부품 소자 개발 분야에서 많은 주목을 받아왔다. Gallium nitride compound semiconductors (Gallium Nitride (GaN)) have high thermal stability and wide bandgap (0.8 to 6.2 eV), which has attracted much attention in the development of high-power electronic components including LEDs.

이에 대한 이유 중 하나는 GaN이 타 원소들(인듐(In), 알루미늄(Al) 등)과 조합되어 녹색, 청색 및 백색광을 방출하는 반도체 층들을 제조할 수 있기 때문이다.One reason for this is that GaN can be combined with other elements (indium (In), aluminum (Al), etc.) to produce semiconductor layers that emit green, blue and white light.

이와 같이 방출 파장을 조절할 수 있기 때문에 특정 장치 특성에 맞추어 재료의 특징들에 맞출 수 있다. 예를 들어, GaN를 이용하여 광기록에 유익한 청색 LED와 백열등을 대치할 수 있는 백색 LED를 만들 수 있다. In this way, the emission wavelength can be adjusted to match the material's characteristics to specific device characteristics. For example, GaN can be used to create white LEDs that can replace incandescent and blue LEDs that are beneficial for optical recording.

이러한 GaN 계열 물질의 이점들로 인해, GaN 계열의 LED 시장이 급속히 성장하고 있다. 따라서, 1994년에 상업적으로 도입한 이래로 GaN 계열의 광전자장치 기술도 급격히 발달하였다. Due to the advantages of these GaN-based materials, the GaN-based LED market is growing rapidly. Therefore, since commercial introduction in 1994, GaN-based optoelectronic device technology has rapidly developed.

상술한 바와 같은 GaN 계열 물질을 이용한 LED의 휘도 또는 출력은 크게, 활성층의 구조, 빛을 외부로 추출할 수 있는 광 추출 효율, LED 칩의 크기, 램프 패키지 조립 시 몰드(mold)의 종류 및 각도, 형광물질 등에 의해서 좌우된다.The brightness or output of the LED using the GaN-based material as described above is large, the structure of the active layer, the light extraction efficiency to extract light to the outside, the size of the LED chip, the type and angle of the mold (mold) when assembling the lamp package , Fluorescent material and the like.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 칩 단위에서 형광체에 의한 색 변환이 효율적으로 이루어질 수 있는 발광 소자를 제공할 수 있는 질화물계 발광 소자를 제공하는 데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in an effort to provide a nitride-based light emitting device capable of providing a light emitting device capable of efficiently performing color conversion by a phosphor in a chip unit.

상기 기술적 과제를 이루기 위한 제1관점으로서, 본 발명은, 질화물계 발광 소자에 있어서, 반사층과; 상기 반사층 상에 위치하는 제1전극과; 상기 제1전극 상에 위치하는 반도체층과; 상기 반도체층 상에 위치하는 제2전극과; 상기 반도체층 상에, 상기 제2전극 이외의 부분에 위치하여, 상기 반도체층에서 발광된 빛의 파장을 변환시키는 형광체층을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.As a first aspect for achieving the above technical problem, the present invention provides a nitride-based light emitting device comprising: a reflective layer; A first electrode on the reflective layer; A semiconductor layer on the first electrode; A second electrode on the semiconductor layer; And a phosphor layer positioned on a portion other than the second electrode on the semiconductor layer to convert wavelengths of light emitted from the semiconductor layer.

상기 기술적 과제를 이루기 위한 제2관점으로서, 본 발명은, 질화물계 발광 소자에 있어서, 반사층과; 상기 반사층 상에 위치하는 제1형광체층과; 상기 제1형광체층 상에 위치하는 기판과; 상기 기판 상에 위치하며, 제1노출면 및 제2노출면을 가지는 반도체층과; 상기 반도체층의 제1노출면 상에 위치하는 제1전극과; 상기 반도체층의 제2노출면 상에 위치하는 제2전극과; 상기 제1노출면 및/또는 제2노출면 상에 상기 제1전극 및/또는 제2전극을 제외한 부분에 위치하는 제2형광체층을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.As a second aspect for achieving the above technical problem, the present invention provides a nitride-based light emitting device comprising: a reflective layer; A first phosphor layer positioned on the reflective layer; A substrate positioned on the first phosphor layer; A semiconductor layer on the substrate, the semiconductor layer having a first exposure surface and a second exposure surface; A first electrode on the first exposure surface of the semiconductor layer; A second electrode on the second exposed surface of the semiconductor layer; And a second phosphor layer positioned on the first exposure surface and / or the second exposure surface except for the first electrode and / or the second electrode.

본 발명은 패키징 공정이 아닌 칩 제조 단계에서 형광체층을 포함한 색 변환 이 가능한 발광 소자를 제공할 수 있고, 따라서 다양한 색의 빛을 발광하는 발광 소자 패키지를 용이하게 제작할 수 있으며, 이 과정에서 발광되는 색이 효과적으로 변환되어, 순도가 높은 색을 발광할 수 있고, 이러한 색의 변환을 다양하게 할 수 있다. 또한, 형광체층과 전극이 패턴을 이루어 형성되어 광 추출 효과를 향상시킬 수 있는 효과가 있는 것이다.The present invention can provide a light emitting device capable of color conversion including a phosphor layer in a chip manufacturing step rather than a packaging process, and thus can easily produce a light emitting device package that emits light of various colors, The color can be effectively converted to emit light of high purity, and the conversion of such a color can be varied. In addition, the phosphor layer and the electrode are formed in a pattern is to improve the light extraction effect.

이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명에 의한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명이 여러 가지 수정 및 변형을 허용하면서도, 그 특정 실시예들이 도면들로 예시되어 나타내어지며, 이하에서 상세히 설명될 것이다. 그러나 본 발명을 개시된 특별한 형태로 한정하려는 의도는 아니며, 오히려 본 발명은 청구항들에 의해 정의된 본 발명의 사상과 합치되는 모든 수정, 균등 및 대용을 포함한다. While the invention allows for various modifications and variations, specific embodiments thereof are illustrated by way of example in the drawings and will be described in detail below. However, it is not intended to be exhaustive or to limit the invention to the precise forms disclosed, but rather the invention includes all modifications, equivalents, and alternatives consistent with the spirit of the invention as defined by the claims.

층, 영역 또는 기판과 같은 요소가 다른 구성요소 "상(on)"에 존재하는 것으로 언급될 때, 이것은 직접적으로 다른 요소 상에 존재하거나 또는 그 사이에 중간 요소가 존재할 수도 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 표면과 같은 구성 요소의 일부가 '내부(inner)'라고 표현된다면 이것은 그 요소의 다른 부분들 보다도 소자의 외측으로부터 더 멀리 있다는 것을 의미한다고 이해할 수 있을 것이다. When an element such as a layer, region or substrate is referred to as being on another component "on", it will be understood that it may be directly on another element or there may be an intermediate element in between. . If a part of a component, such as a surface, is expressed as 'inner', it will be understood that this means that it is farther from the outside of the device than other parts of the element.

나아가 '아래(beneath)' 또는 '중첩(overlies)'과 같은 상대적인 용어는 여기에서는 도면에서 도시된 바와 같이 기판 또는 기준층과 관련하여 한 층 또는 영역과 다른 층 또는 영역에 대한 한 층 또는 영역의 관계를 설명하기 위해 사용될 수 있다. Furthermore, relative terms such as "beneath" or "overlies" refer to the relationship of one layer or region to one layer or region and another layer or region with respect to the substrate or reference layer, as shown in the figures. Can be used to describe.

이러한 용어들은 도면들에서 묘사된 방향에 더하여 소자의 다른 방향들을 포함하려는 의도라는 것을 이해할 수 있을 것이다. 마지막으로 '직접(directly)'라는 용어는 중간에 개입되는 어떠한 요소가 없다는 것을 의미한다. 여기에서 사용되는 바와 같이 '및/또는'이라는 용어는 기록된 관련 항목 중의 하나 또는 그 이상의 어느 조합 및 모든 조합을 포함한다.It will be understood that these terms are intended to include other directions of the device in addition to the direction depicted in the figures. Finally, the term 'directly' means that there is no element in between. As used herein, the term 'and / or' includes any and all combinations of one or more of the recorded related items.

비록 제1, 제2 등의 용어가 여러 가지 요소들, 성분들, 영역들, 층들 및/또는 지역들을 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 이러한 요소들, 성분들, 영역들, 층들 및/또는 지역들은 이러한 용어에 의해 한정되어서는 안 된다는 것을 이해할 것이다. Although the terms first, second, etc. may be used to describe various elements, components, regions, layers, and / or regions, such elements, components, regions, layers, and / or regions It will be understood that it should not be limited by these terms.

본 발명의 실시예들은 예를 들어, 사파이어(Al2O3)계 기판과 같은 비도전성 기판상에 형성된 질화갈륨(GaN)계 발광 소자를 참조하여 설명될 것이다. 그러나 본 발명은 이러한 구조에 한정되는 것은 아니다. Embodiments of the present invention will be described with reference to a gallium nitride (GaN) based light emitting device formed on a nonconductive substrate such as, for example, a sapphire (Al 2 O 3 ) based substrate. However, the present invention is not limited to this structure.

본 발명의 실시예들은 도전성 기판을 포함하여 다른 기판을 사용할 수 있다. 따라서 GaP 기판상의 AlGaInP 다이오드, SiC 기판상의 GaN 다이오드, SiC 기판상의 SiC 다이오드, 사파이어 기판상의 SiC 다이오드, 및/또는 GaN, SiC, AlN, ZnO 및/또는 다른 기판상의 질화물계 다이오드 등의 조합이 포함될 수 있다. 더구나 본 발명은 활성영역은 다이오드 영역의 사용에 한정되는 것은 아니다. 또한 활성영역의 다른 형태들이 본 발명의 일부 실시예들에 따라서 사용될 수도 있다.Embodiments of the invention may use other substrates, including conductive substrates. Thus, combinations of AlGaInP diodes on GaP substrates, GaN diodes on SiC substrates, SiC diodes on SiC substrates, SiC diodes on sapphire substrates, and / or GaN, SiC, AlN, ZnO and / or nitride based diodes on other substrates may be included. have. Moreover, the present invention is not limited to the use of the diode region. Other forms of active area may also be used in accordance with some embodiments of the present invention.

본 발명은 발광 소자를 이루는 반도체층 상에 반도체층에서 발광된 빛의 파장을 변화시키는 형광체층이 적층된 칩 단위의 발광 소자를 제공할 수 있다. 이러한 발광 소자는 형광체층이 패키지 공정에서 몰딩으로 채워지는 것이 아니라 발광 소자 칩 제작 공정 중 칩 구조의 한 층으로서 적층될 수 있는 것이다.The present invention can provide a light emitting device in a chip unit in which a phosphor layer for changing a wavelength of light emitted from a semiconductor layer is stacked on a semiconductor layer forming a light emitting device. Such a light emitting device may be laminated as a layer of a chip structure during a light emitting device chip fabrication process instead of being filled with a molding in a package process.

이러한 발광 소자와 형광체층은 구현하려는 빛의 색상에 따라 다양하게 조합될 수 있다. 즉, 백색 발광을 위해서는 청색 발광 소자와 황색 형광체층, UV 발광 소자와 적색, 녹색, 및 청색 형광체층 등의 조합으로 제작이 가능하고, 기타 다양한 색을 발광하는 발광 소자와 형광체층의 조합이 가능하고, 현실적으로 모든 색상을 발광하는 발광 소자 칩을 제작할 수 있다.The light emitting device and the phosphor layer may be variously combined according to the color of light to be implemented. That is, for white light emission, it is possible to manufacture a combination of a blue light emitting element and a yellow phosphor layer, a UV light emitting element and a red, green, and blue phosphor layer, and a combination of a light emitting element and a phosphor layer that emits various other colors. In addition, it is possible to fabricate a light emitting device chip that emits virtually all colors.

따라서, 다양한 색의 빛을 발광하는 발광 소자 패키지를 용이하게 제작할 수 있으며, 이 과정에서 발광되는 색이 효과적으로 변환되어, 순도가 높은 색을 발광할 수 있고, 이러한 색의 변환을 다양하게 할 수 있다.Therefore, a light emitting device package which emits light of various colors can be easily manufactured, and the color emitted in this process can be effectively converted to emit light of high purity, and the conversion of such colors can be varied. .

<제1실시예>First Embodiment

도 1에서 도시하는 바와 같이, 지지층(50) 상에 반사층(40)이 위치하고, 이 반사층(40) 상에는 제1전극(20)과 반도체층(10)이 위치한다. 이러한 반도체층(10)은 p-형 반도체층(11), 활성층(12), 및 n-형 반도체층(13)으로 이루어질 수 있다. 즉, n-형 반도체층(13)이 광추출면을 이루게 된다. 그러나 반대로 p-형 반도체층(11)이 광추출면을 이루도록 적층될 수 있음은 물론이다.As shown in FIG. 1, the reflective layer 40 is positioned on the support layer 50, and the first electrode 20 and the semiconductor layer 10 are positioned on the reflective layer 40. The semiconductor layer 10 may be formed of a p-type semiconductor layer 11, an active layer 12, and an n-type semiconductor layer 13. That is, the n-type semiconductor layer 13 forms a light extraction surface. However, of course, the p-type semiconductor layer 11 may be stacked to form a light extraction surface.

경우에 따라 반사층(40)과 제1전극(20; 이 경우 p-형 전극)은 반사형 오믹 전극으로서 하나의 층으로 형성될 수도 있다.In some cases, the reflective layer 40 and the first electrode 20 (in this case, a p-type electrode) may be formed as one layer as a reflective ohmic electrode.

지지층(50)은 금속 또는 반도체로 이루어지며, 도금 또는 본딩과 같은 방법으로 반사층(40)에 결합되며, 이때, 반사층(40)과 지지층(50) 사이에 결합금속층(도시되지 않음) 및/또는 확산방지층(도시되지 않음)이 더 포함될 수 있다.The support layer 50 is made of a metal or semiconductor and is bonded to the reflective layer 40 by a method such as plating or bonding, wherein a bonding metal layer (not shown) and / or is between the reflective layer 40 and the support layer 50. A diffusion barrier layer (not shown) may be further included.

n-형 반도체층(13) 상에는 제2전극(30; 이 경우 n-형 전극)이 위치하게 되며, 광추출면을 이루는 n-형 반도체층(13) 상의 제2전극(30) 주변부에는 형광체층(60)이 위치하게 된다(도 2 참고). A second electrode 30 (in this case, an n-type electrode) is positioned on the n-type semiconductor layer 13, and a phosphor is disposed around the second electrode 30 on the n-type semiconductor layer 13, which forms a light extraction surface. Layer 60 is located (see FIG. 2).

상술한 바와 같이, 형광체층(60)은 반도체층(10)의 활성층(12)에서 발광된 빛을 흡수하여 파장이 변경된 빛을 방출하게 되며, 이와 같이 파장이 변경된 빛은 활성층(12)에서 발광된 빛과 혼합되어 다른 색의 광, 예를 들면 백색광이 만들어질 수 있다.As described above, the phosphor layer 60 absorbs light emitted from the active layer 12 of the semiconductor layer 10 to emit light having a changed wavelength, and the light having the changed wavelength is emitted from the active layer 12. The mixed light can be mixed with light of different colors, for example white light.

이러한 형광체층(60)은 CVD(chemical vapor deposition), PVD(sputtering, e-beam evaporation 등) 등의 방법으로 증착하여 형성할 수 있고, YAG, TAG, Silicate 계열, SAM 계열 등의 물질이 이용될 수 있다. 또한, 이러한 형광체층(60)은 전도성을 띨 수도 있다.The phosphor layer 60 may be formed by deposition by a method such as CVD (chemical vapor deposition), PVD (sputtering, e-beam evaporation, etc.), and materials such as YAG, TAG, Silicate series, and SAM series may be used. Can be. In addition, the phosphor layer 60 may be conductive.

이때, 박막을 10 ㎛ 두께 이하의 막으로 정의한다면, 상술한 형광체층(60)은 형광체 박막으로서 진공 증착되는 것이다.At this time, if the thin film is defined as a film having a thickness of 10 μm or less, the above-described phosphor layer 60 is vacuum deposited as the phosphor thin film.

한편, 도 3에서와 같이, 형광체층(62)은 제2전극(30)보다 높게 형성될 수 있고, 또한, 제2전극(30)의 일부를 덮을 수 있다.On the other hand, as shown in Figure 3, the phosphor layer 62 may be formed higher than the second electrode 30, and may cover a portion of the second electrode 30.

또한, 도 4에서와 같이, 제1전극(20)과 반사층(40) 사이에도 형광체층(63)이 더 위치할 수 있다. 이와 같이, 제2전극(30)을 일부 덮는 형광체층(62)나 제1전 극(20)과 반사층(40) 사이에 위치하는 형광체층(63)은 빛의 파장 변환 효율을 향상시킬 수 있다.In addition, as shown in FIG. 4, the phosphor layer 63 may be further positioned between the first electrode 20 and the reflective layer 40. As such, the phosphor layer 62 partially covering the second electrode 30 or the phosphor layer 63 positioned between the first electrode 20 and the reflective layer 40 may improve the wavelength conversion efficiency of light. .

<제2실시예>Second Embodiment

도 5에서와 같이, 지지층(50) 상에 순차적으로 반사층(40), 제1전극(20), 및 n-형 반도체층(11), 활성층(12), 및 p-형 반도체층(13)을 포함하는 반도체층(10)이 위치한다.As shown in FIG. 5, the reflective layer 40, the first electrode 20, and the n-type semiconductor layer 11, the active layer 12, and the p-type semiconductor layer 13 are sequentially disposed on the support layer 50. The semiconductor layer 10 including the is positioned.

이때, p-형 반도체층(13) 상에 위치하는 제2전극(31)은 다수개로 분할되어 형성될 수 있으며, 이러한 다수개의 제2전극(31)은 도 6에서와 같이, 격자 패턴을 이룰 수 있다. 이러한 제2전극(31)의 패턴은 도 6에서 도시된 사각 격자 패턴 이외에 삼각 격자 패턴 등 다양한 패턴을 이룰 수 있다.In this case, the second electrode 31 positioned on the p-type semiconductor layer 13 may be divided into a plurality of cells, and the plurality of second electrodes 31 may form a lattice pattern as shown in FIG. 6. Can be. The pattern of the second electrode 31 may form various patterns such as a triangular lattice pattern in addition to the square lattice pattern shown in FIG. 6.

이때, 이러한 패턴을 이루는 제2전극(31) 사이의 반도체층(10) 상의 면에는 형광체층(61)이 채워질 수 있다. 이러한 형광체층(61)의 특성은 제1실시예와 동일할 수 있다. 이와 같이, 패턴을 형성하는 제2전극(31) 및 형광체층(61)은 광결정과 같은 역할을 수행하여 반도체층(10)에서 발광되는 광의 추출 효율을 향상시킬 수 있다.In this case, the phosphor layer 61 may be filled on the surface of the semiconductor layer 10 between the second electrodes 31 forming the pattern. The characteristics of the phosphor layer 61 may be the same as in the first embodiment. As such, the second electrode 31 and the phosphor layer 61 forming the pattern may play a role as a photonic crystal to improve extraction efficiency of light emitted from the semiconductor layer 10.

경우에 따라, 이러한 제2전극(31)과 형광체층(61)이 형성된 면 상에는 투명 전극(70)이 더 위치할 수 있다.In some cases, the transparent electrode 70 may be further positioned on the surface on which the second electrode 31 and the phosphor layer 61 are formed.

한편, 도 7에서 도시하는 바와 같이, 제2전극(32)은 서로 연결된 격벽 구조를 이룰 수 있다. 즉, 반도체층(10) 상에서 도 8에서 도시하는 상태로 구획되어 형성될 수 있으며, 이와 같이 구획되어 형성된 제2전극(32) 사이의 반도체층(10) 상 의 면에는 형광체층(64)이 채워질 수 있다.On the other hand, as shown in Figure 7, the second electrode 32 may form a partition structure connected to each other. That is, the phosphor layer 64 may be partitioned and formed on the semiconductor layer 10 in the state shown in FIG. 8, and the phosphor layer 64 may be formed on the surface of the semiconductor layer 10 between the second electrodes 32 partitioned and formed as described above. Can be filled.

이때, 격벽 구조의 제2전극(32)의 일부분에는 와이어 본딩을 위한 전극 패드를 형성하기 위한 패드부(32a)를 형성할 수 있다. 이는, 도 8에서 도시하는 바와 같이, 제2전극(32)이 격벽 구조를 이루는 경우에는 제2전극(32) 중 패드를 형성할 면적이 좁을 수 있기 때문이다.In this case, a part of the second electrode 32 of the barrier rib structure 32 may be formed with a pad portion 32a for forming an electrode pad for wire bonding. This is because, as shown in FIG. 8, when the second electrode 32 has a partition structure, an area for forming the pad of the second electrode 32 may be small.

이와 같이 패턴 또는 격벽 구조를 이루는 제2전극(31, 32)은 반도체층(10)에서 전류의 퍼짐이 효과적으로 이루어질 수 있도록 할 수 있다.As described above, the second electrodes 31 and 32 forming the pattern or barrier rib structure may effectively spread current in the semiconductor layer 10.

그 외에 설명되지 않은 부분은 제1실시예와 동일할 수 있다.Parts other than those described above may be the same as in the first embodiment.

<제3실시예>Third Embodiment

도 9에서와 같이, 지지층(500) 상에 반사층(400), 제1전극(200), 및 p-형 반도체층(110), 활성층(120), 및 n-형 반도체층(130)으로 이루어지는 반도체층(100)이 순차적으로 위치하는 구조에서, 형광체층(600)은 n-형 반도체층(130) 상의 발광면 뿐 아니라 반도체층(100)의 측면을 포함한 부분에 형성될 수 있다.As shown in FIG. 9, the reflective layer 400, the first electrode 200, and the p-type semiconductor layer 110, the active layer 120, and the n-type semiconductor layer 130 are formed on the support layer 500. In the structure in which the semiconductor layer 100 is sequentially positioned, the phosphor layer 600 may be formed on a portion including the side surface of the semiconductor layer 100 as well as the light emitting surface on the n-type semiconductor layer 130.

즉, 도시하는 바와 같이, 형광체층(600)이 발광면 상의 제2전극(300)의 외측과 반도체층(100)의 측면을 덮는 구조로 형성될 수 있고, 이러한 형광체층(600)은 제1전극(200)과 반사층(400)의 측면에 이르도록 형성될 수 있다.That is, as shown, the phosphor layer 600 may be formed to cover the outer side of the second electrode 300 and the side surface of the semiconductor layer 100 on the light emitting surface, the phosphor layer 600 is a first It may be formed to reach the side of the electrode 200 and the reflective layer 400.

이때, 형광체층(600)은 제2전극(300)보다 높은 위치로 형성되어, 이 제2전극(300)을 일부 덮는 구조로 형성될 수 있다.In this case, the phosphor layer 600 may be formed at a position higher than that of the second electrode 300, and may be formed to cover a portion of the second electrode 300.

한편, 도 10에서와 같이, 형광체층(610)이 반도체층(100)의 보다 넓은 면적을 덮는 구조로 형성될 수 있다.Meanwhile, as shown in FIG. 10, the phosphor layer 610 may be formed to cover a larger area of the semiconductor layer 100.

즉, 반사층(410) 상에는 중앙측에 홈(411)으로 구분되는 접촉부가 위치하여, 이 접촉부 상에 제1전극(210)이 접촉되어 위치할 수 있다. 이때, 제1전극(210)은 홈(411)의 일부를 덮는 구조가 되어, 도 10에서와 같이, 반사층(410)의 측부에 공간이 형성된다. 이와 같이 형성된 반사층(410) 측면 위치까지 형광체층(610)이 형성될 수 있다.That is, the contact portion divided by the groove 411 is positioned on the reflective layer 410, and the first electrode 210 may be in contact with the contact portion. In this case, the first electrode 210 has a structure covering a part of the groove 411, and as shown in FIG. 10, a space is formed at the side of the reflective layer 410. The phosphor layer 610 may be formed up to the side surface of the reflective layer 410 formed as described above.

이때, 반도체층(100)의 노출면, 즉, 반도체층(100)의 측면과 상면, 및 하부에 일부 드러난 부분에는 절연층(700)이 위치할 수 있다. 이와 같이 형성된 절연층(700) 상에 형광체층(610)이 감싸는 구조로 형성되는 것이다.In this case, the insulating layer 700 may be positioned on an exposed surface of the semiconductor layer 100, that is, a portion of the semiconductor layer 100 that is partially exposed to the side and top surfaces of the semiconductor layer 100. The phosphor layer 610 is formed on the insulating layer 700 formed as described above.

이러한 절연층(700)은 도시하는 바와 같이, 제2전극(300)의 측면 및 상면 일부를 덮을 수 있다. As illustrated, the insulating layer 700 may cover a portion of the side surface and the upper surface of the second electrode 300.

그 외에 설명되지 않은 부분은 제1실시예 또는 제2실시예와 동일할 수 있다.Other parts that are not described may be the same as the first embodiment or the second embodiment.

<제4실시예>Fourth Embodiment

도 11에서 도시하는 바와 같이, 상술한 반도체층 상에 형광체층을 구비하는 구성은 수평형 발광 소자 구조에도 적용될 수 있다.As shown in FIG. 11, the above-described configuration including the phosphor layer on the semiconductor layer can also be applied to the horizontal light emitting device structure.

즉, 기판(80) 상에 n-형 반도체층(13), 활성층(12), 및 p-형 반도체층(11)으로 이루어지는 반도체층(10)이 위치하고, p-형 반도체층(11) 상에는 제1전극(21)이 위치하며, 이 제1전극(21)의 주변부에는 형광체층(65)이 위치한다.That is, the semiconductor layer 10 including the n-type semiconductor layer 13, the active layer 12, and the p-type semiconductor layer 11 is positioned on the substrate 80, and on the p-type semiconductor layer 11. The first electrode 21 is positioned, and the phosphor layer 65 is positioned at the periphery of the first electrode 21.

또한, n-형 반도체층(13)이 개구된 부분에는 제2전극(33)이 위치한다. 이때, 형광체층은 이러한 제2전극(33)의 외측에도 위치할 수 있다(도시되지 않음).In addition, the second electrode 33 is positioned at a portion where the n-type semiconductor layer 13 is opened. In this case, the phosphor layer may be located outside the second electrode 33 (not shown).

이때, 기판(80)의 하측에는 반사층(41)이 위치할 수 있고, 이러한 반사 층(41)은 활성층(12)에서 발광되는 빛이 반사되어 상측으로 진행할 수 있도록 할 수 있다. 따라서, 이 과정에서 빛의 파장 변화가 일어날 수 있도록 기판(80)과 반사층(41) 사이에 형광체층(67)이 더 위치할 수 있다.In this case, the reflective layer 41 may be positioned below the substrate 80, and the reflective layer 41 may allow the light emitted from the active layer 12 to be reflected and travel upward. Therefore, the phosphor layer 67 may be further positioned between the substrate 80 and the reflective layer 41 so that a wavelength change of light may occur in this process.

또한, 도 12에서와 같이, 형광체층(68)은 반도체층(10)의 드러난 면을 모두 덮는 구조로 형성될 수 있다. 도시하는 바와 같이, 반도체층(10) 및 기판(80)은 형광체층(68)으로 모두 둘러싸인 구조가 될 수 있다.In addition, as shown in FIG. 12, the phosphor layer 68 may be formed to have a structure covering all exposed surfaces of the semiconductor layer 10. As illustrated, the semiconductor layer 10 and the substrate 80 may have a structure surrounded by both the phosphor layer 68.

즉, 제1전극(21)의 외측 및 제2전극(33)의 외측과, 반도체층(10) 및 기판(80)의 측면 상에 형광체층(68)이 위치하게 되어, 활성층(12)에서 발광되는 빛의 파장 변환을 야기시킬 수 있다.That is, the phosphor layer 68 is positioned on the outer side of the first electrode 21 and the outer side of the second electrode 33, and on the side surfaces of the semiconductor layer 10 and the substrate 80. It can cause wavelength conversion of the emitted light.

한편, 도 13에서와 같이, 도 12와 같은 구조에서, 형광체층(69)과 반도체층(10) 사이에는 절연층(90)이 위치할 수 있다. 또한 이러한 절연층(90)은 형광체층(69)과 기판(80)의 사이에도 위치할 수 있다.On the other hand, as shown in Figure 13, in the structure as shown in Figure 12, the insulating layer 90 may be located between the phosphor layer 69 and the semiconductor layer 10. In addition, the insulating layer 90 may be positioned between the phosphor layer 69 and the substrate 80.

이와 같은 절연층(90)은 소자 구동시 누설전류를 방지하고 제조과정에서 반도체층(10)을 보호하는 역할을 수행할 수 있다.The insulating layer 90 may serve to prevent leakage current when driving the device and protect the semiconductor layer 10 during the manufacturing process.

그 외에 설명되지 않은 부분은 제1실시예 내지 제3실시예와 동일할 수 있다.Parts other than those described above may be the same as the first to third embodiments.

상기 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 구체적으로 설명하기 위한 일례로서, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않으며, 다양한 형태의 변형이 가능하고, 이러한 기술적 사상의 여러 실시 형태는 모두 본 발명의 보호범위에 속함은 당연하다.The above embodiment is an example for explaining the technical idea of the present invention in detail, and the present invention is not limited to the above embodiment, various modifications are possible, and various embodiments of the technical idea are all protected by the present invention. It belongs to the scope.

도 1 내지 도 4는 본 발명의 제1실시예를 도시하는 도이다.1 to 4 are diagrams showing a first embodiment of the present invention.

도 5 내지 도 8은 본 발명의 제2실시예를 도시하는 도이다.5 to 8 are diagrams showing a second embodiment of the present invention.

도 9 및 도 10은 본 발명의 제3실시예를 도시하는 도이다.9 and 10 are diagrams showing a third embodiment of the present invention.

도 11 내지 도 13은 본 발명의 제4실시예를 도시하는 도이다.11 to 13 are diagrams showing a fourth embodiment of the present invention.

Claims (13)

질화물계 발광 소자에 있어서,In the nitride-based light emitting device, 반사층과;A reflective layer; 상기 반사층 상에 위치하는 제1전극과;A first electrode on the reflective layer; 상기 제1전극 상에 위치하는 반도체층과;A semiconductor layer on the first electrode; 상기 반도체층 상에 위치하는 제2전극과;A second electrode on the semiconductor layer; 상기 반도체층 상에, 상기 제2전극 이외의 부분에 위치하여, 상기 반도체층에서 발광된 빛의 파장을 변환시키는 형광체층을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.And a phosphor layer positioned on a portion of the semiconductor layer other than the second electrode to convert wavelengths of light emitted from the semiconductor layer. 제 1항에 있어서, 상기 반사층은, 금속 또는 반도체로 이루어지는 지지층 상에 위치하는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device according to claim 1, wherein the reflective layer is located on a support layer made of a metal or a semiconductor. 제 1항에 있어서, 상기 형광체층은, 상기 제2전극의 일부를 덮는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device according to claim 1, wherein the phosphor layer covers a part of the second electrode. 제 1항에 있어서, 상기 형광체층은, 상기 반도체층, 제1전극, 및 반사층 중 적어도 어느 하나의 측면에 더 형성된 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device according to claim 1, wherein the phosphor layer is further formed on at least one side surface of the semiconductor layer, the first electrode, and the reflective layer. 제 4항에 있어서, 상기 형광체층과, 상기 반도체층, 제1전극, 및 반사층 중 적어도 어느 하나의 사이에는 절연층이 위치하는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device according to claim 4, wherein an insulating layer is positioned between the phosphor layer and at least one of the semiconductor layer, the first electrode, and the reflective layer. 제 1항에 있어서, 상기 제1전극과 반사층 사이에는 형광체층이 더 포함된 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device of claim 1, further comprising a phosphor layer between the first electrode and the reflective layer. 제 4항에 있어서, 상기 반사층 상의 중앙측에는 홈으로 구분된 접촉부가 위치하고, 상기 제1전극은 상기 접촉부에 접촉된 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device according to claim 4, wherein a contact portion divided by a groove is positioned at a center side of the reflective layer, and the first electrode is in contact with the contact portion. 제 7항에 있어서, 상기 형광체층은, 상기 반사층의 홈에 연결되어 위치하는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device of claim 7, wherein the phosphor layer is connected to a groove of the reflective layer. 질화물계 발광 소자에 있어서,In the nitride-based light emitting device, 반사층과;A reflective layer; 상기 반사층 상에 위치하는 제1형광체층과;A first phosphor layer positioned on the reflective layer; 상기 제1형광체층 상에 위치하는 기판과;A substrate positioned on the first phosphor layer; 상기 기판 상에 위치하며, 제1노출면 및 제2노출면을 가지는 반도체층과;A semiconductor layer on the substrate, the semiconductor layer having a first exposure surface and a second exposure surface; 상기 반도체층의 제1노출면 상에 위치하는 제1전극과;A first electrode on the first exposure surface of the semiconductor layer; 상기 반도체층의 제2노출면 상에 위치하는 제2전극과;A second electrode on the second exposed surface of the semiconductor layer; 상기 제1노출면 및/또는 제2노출면 상에 상기 제1전극 및/또는 제2전극을 제외한 부분에 위치하는 제2형광체층을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.And a second phosphor layer positioned on the first exposure surface and / or the second exposure surface except for the first electrode and / or the second electrode. 제 9항에 있어서, 상기 제2형광체층은, 상기 반도체층 및/또는 기판의 측면에 더 형성된 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device according to claim 9, wherein the second phosphor layer is further formed on side surfaces of the semiconductor layer and / or the substrate. 제 9항에 있어서, 상기 제2형광체층과, 상기 반도체층 및/또는 기판의 측면 사이에는 절연층이 위치하는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device according to claim 9, wherein an insulating layer is positioned between the second phosphor layer and the side surfaces of the semiconductor layer and / or the substrate. 제 1항 또는 9항에 있어서, 상기 제2전극은, 다수개의 격자 패턴을 이루는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device according to claim 1 or 9, wherein the second electrode forms a plurality of lattice patterns. 제 1항 또는 9항에 있어서, 상기 제2전극은, 서로 연결된 격벽 구조를 이루는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자.The nitride-based light emitting device according to claim 1 or 9, wherein the second electrode has a partition structure connected to each other.
KR1020080006072A 2008-01-21 2008-01-21 Nitride light emitting device KR101420214B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080006072A KR101420214B1 (en) 2008-01-21 2008-01-21 Nitride light emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080006072A KR101420214B1 (en) 2008-01-21 2008-01-21 Nitride light emitting device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090080217A true KR20090080217A (en) 2009-07-24
KR101420214B1 KR101420214B1 (en) 2014-07-17

Family

ID=41291351

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080006072A KR101420214B1 (en) 2008-01-21 2008-01-21 Nitride light emitting device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101420214B1 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101007145B1 (en) * 2010-01-14 2011-01-10 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device chip, light emitting device package and method for fabricating the light emitting device chip
KR101034211B1 (en) * 2009-04-16 2011-05-12 (재)나노소자특화팹센터 Vertical light emitting device
KR101039974B1 (en) * 2010-03-26 2011-06-09 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, method for fabricating the same, and light emitting device package
KR20110128007A (en) * 2010-05-20 2011-11-28 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device
KR20120136814A (en) * 2011-06-10 2012-12-20 엘지이노텍 주식회사 A light emitting device package
KR101232069B1 (en) * 2012-03-21 2013-02-12 고려대학교 산학협력단 Light emitting device and method fabricating the same
KR20130137814A (en) * 2012-06-08 2013-12-18 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, light emitting device package, and light unit
WO2017074095A1 (en) * 2015-10-30 2017-05-04 주식회사 썬다이오드코리아 Light-emitting element comprising wavelength conversion structure

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI241728B (en) * 2004-09-01 2005-10-11 Epistar Corp Semiconductor light-emitting device and production method thereof
KR100613273B1 (en) * 2003-12-30 2006-08-18 주식회사 이츠웰 Light emitting diode with vertical electrode structure and manufacturing method of the same
KR100901369B1 (en) * 2007-11-19 2009-06-05 일진반도체 주식회사 White light emitting diode chip and manufacturing method therof

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101034211B1 (en) * 2009-04-16 2011-05-12 (재)나노소자특화팹센터 Vertical light emitting device
KR101007145B1 (en) * 2010-01-14 2011-01-10 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device chip, light emitting device package and method for fabricating the light emitting device chip
US9136445B2 (en) 2010-01-14 2015-09-15 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device chip, light emitting device package
KR101039974B1 (en) * 2010-03-26 2011-06-09 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, method for fabricating the same, and light emitting device package
KR20110128007A (en) * 2010-05-20 2011-11-28 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device
EP2388839A3 (en) * 2010-05-20 2015-11-25 LG Innotek Co., Ltd. Wavelength conversion layer between a reflective layer and the light-emitting diode layers.
US9224926B2 (en) 2010-05-20 2015-12-29 Lg Innotek Co., Ltd. Light-emitting device and lighting system
KR20120136814A (en) * 2011-06-10 2012-12-20 엘지이노텍 주식회사 A light emitting device package
KR101232069B1 (en) * 2012-03-21 2013-02-12 고려대학교 산학협력단 Light emitting device and method fabricating the same
KR20130137814A (en) * 2012-06-08 2013-12-18 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, light emitting device package, and light unit
WO2017074095A1 (en) * 2015-10-30 2017-05-04 주식회사 썬다이오드코리아 Light-emitting element comprising wavelength conversion structure

Also Published As

Publication number Publication date
KR101420214B1 (en) 2014-07-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10043955B2 (en) Light emitting diode chip having wavelength converting layer and method of fabricating the same, and package having the light emitting diode chip and method of fabricating the same
US6744196B1 (en) Thin film LED
JP6248431B2 (en) Manufacturing method of semiconductor light emitting device
KR100896282B1 (en) LED package and method of manufacturing the same
US20050093004A1 (en) Thin film light emitting diode
KR101420214B1 (en) Nitride light emitting device
KR20090034590A (en) Light emitting device having vertical topology
US20150372195A1 (en) Semiconductor light emitting device and manufacturing method of the same
KR20190104692A (en) Semiconductor light emitting device
JP2011129921A (en) Light-emitting element, method of manufacturing the same, light-emitting element package, and illumination system
US20140256071A1 (en) Method of manufacturing light-emitting diode package
JP5276680B2 (en) Light emitting device package, lighting system
JP2011129922A (en) Light emitting element, light emitting element manufacturing method, light emitting element package, and lighting system
TW201526282A (en) Light emitting diode chip
KR100850945B1 (en) LED package and method of manufacturing the same
JP5778466B2 (en) Light emitting device, light emitting device package, and lighting system
KR101646261B1 (en) Light emitting device and method for fabricating the same
KR20180059157A (en) Light emitting diode having plurality of wavelength converter
US20110233590A1 (en) Light emitting device, method for fabricating light emitting device, and light emitting device package
KR102618107B1 (en) Light emitting device and light module
KR102572515B1 (en) Semiconductive device and lighting apparatus having the same
KR20090057713A (en) Light emitting device having vertical topology and method for manufacturing the same
KR20180029606A (en) Semiconductor device, light emitting device and lighting apparatus having the same
KR102592990B1 (en) Smeiconductor device and method for manufacturing the same
KR102451120B1 (en) Light emitting device and method of fabricating the same

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170605

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190612

Year of fee payment: 6