KR20090076127A - 터치스크린의 터치 좌표 보정 방법 및 이를 이용한 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린에서 발생하는 그림자 효과를 제거하기 위해 터치 좌표를 보정하는 방법 및 이를 이용한 장치에 관한 것이다.

보다 구체적으로, 터치스크린 장치에 추가적으로 각 네 변의 정전용량 값의 측정을 위한 복수 개의 전극들을 구비하고, 각 변에서 산출된 정전용량 값을 이용하여 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린에 터치되는 대상 물체의 터치 좌표를 보정하는 방법 및 이를 이용한 장치에 관한 것이다.

싱글 레이어, 터치스크린, 정전용량방식, 터치 좌표, 보정

Description

터치스크린의 터치 좌표 보정 방법 및 이를 이용한 장치{Method for compensating a touch coordinate of touchscreen}

본 발명은 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린에서 발생하는 그림자 효과를 제거하기 위해 터치 좌표를 보정하는 방법 및 이를 이용한 장치에 관한 것이다.

현대 휴대전화단말장치, 예컨대 PDA(Personal Digital Assistant), PMP(Portable Multimedia Player), MP3 플레이어, 셀룰러폰 등은 이동과 휴대에 용이하도록 그 크기가 점점 소형화되고 있다.

따라서, 종래의 키 버튼 입력 방식을 대신하여 사용자가 보다 편리하게 정보 선택과 입력을 할 수 있도록 터치스크린(Touchscreen) 방식이 채용되고 있다. 상기 터치스크린 방식은 스크린을 통해서 컴퓨터와 인터페이스하여 직접 정보를 입력 또는 출력할 수 있는 것으로서, 상기 스크린에 나타난 문자나 특정 위치에 사람의 손 또는 물체의 접촉이 있으면 그 접촉된 위치의 좌표를 파악한다.

그리고 상기 좌표를 이용하여 소프트웨어에 의하여 선택된 좌표의 메뉴에 해당하는 특정 프로세싱이 실행된다. 따라서, 상기 터치스크린은 정보 표시부로서의 기능과 입력부로서의 기능을 함께 제공한다.

상기 터치스크린은 다양한 방식으로 분류할 수 있는데, 그 동작 원리에 따라 크게 정전용량방식(Capacitive Overlay), 저항막방식(Resistive Overlay), 표면초음파방식(Surface Acoustic Wave), 적외선방식(Infrared Beam) 등이 있다.

상기 저항막방식의 터치스크린은 유리나 투명 플라스틱판 위에 저항 성분의 물질을 코팅하고 그 위에 폴리에스테르 필름을 덮어씌운 형태로, 두 면이 서로 닿지 않도록 일정한 간격으로 절연봉이 설치되어 있는데 이때 저항값이 변화하게 되고 전압도 변화하게 되는데 이러한 전압의 변화 정도로 접촉된 손의 위치를 인식한다.

상기 표면초음파방식의 터치스크린은 음파를 발사하는 트랜스미터(Transmitter)를 유리의 한쪽 모서리에 부착하고 일정한 간격으로 음파를 반사시키는 리플렉터(Reflector)를 부착하고 그 반대쪽에 리시버(Reciever)를 부착한 형태로 구성되는데, 손가락 같이 음파를 방해하는 물체가 음파의 진행 경로를 방해하게 될 때 그 시점을 계산하여 터치 지점을 인식한다.

상기 적외선방식의 터치스크린은 사람의 눈에 보이지 않는 적외선의 직진성을 이용하는 방법으로 발광소자인 적외선 LED와 수광소자인 포토트랜지스터를 서로 마주보게 배치하여 매트릭스를 구성하고 이 매트릭스 안에 손가락과 같은 물체에 의해 빛이 차단되는 센서를 감지하여 터치 지점을 인식한다.

상기 정전용량방식의 터치스크린은 유리 양면에 투명한 특수 전도성 금속을 코팅하여 스크린 네 모서리에 전압을 인가하면 터치스크린 표면에 고주파가 생성되 고 손가락 접촉시 변화되는 고주파 파형을 컨트롤러에서 분석하여 터치 지점을 인식한다.

상기 정전용량방식 터치스크린은 크게 두 가지로 나누어 볼 수 있는데, 한 장의 ITO(Indume Tin Oxide) 패널을 사용하는 싱글 레이어(single layer) 방식과 두 장의 ITO 패널을 사용하는 듀얼 레이어(dual layer) 방식이 있다.

상기 듀얼 레이어(dual layer) 방식은 각 축의 좌표를 산출하기 위한 두 개의 ITO 패널을 구비하여 터치되는 지점에 대한 정확도(resolution)를 향상시킬 수 있다.

상기 싱글 레이어 방식의 정전용량방식 터치스크린은 단일 층의 ITO 패널이 하나의 센서를 형성하므로 3D 터치스크린 구현시에 접근도(proximity)를 높일 수 있고 상기 듀얼 레이어(dual layer) 방식에 비해서 제조 원가를 줄일 수 있는 장점이 있으나, 터치되는 지점에 대한 정확도(resolution)가 떨어지고, 터치스크린에 터치를 하기 위해 접근하는 손가락 이외의 부분, 예컨대 손등이나 손목 등에 의해 영향을 많이 받는 단점(이하 '그림자 효과')이 있다.

상기 그림자 효과는 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린에서 터치되는 대상 물체의 터치점 이외의 부분에 영향을 받음으로써 정확한 터치 좌표를 산출할 수 없는 현상을 의미한다.

즉, 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린에서는 대상 물체, 예컨대 손가락이 터치스크린에 터치되면 실제 터치되는 손가락 끝의 위치보다 손목 방향으로 치우진 위치의 좌표가 산출된다. 이는 정전용량의 대부분을 손가락 이 아닌 손바닥 또는 손목이 차지하기 때문이다.

도 1은 종래의 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린에서 발생하는 그림자 효과를 설명하기 위한 도면이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 대상 물체(예컨대, 도 1에는 손가락)가 터치스크린 화면(10)의 특정 지점(11)에 터치를 하면, 상기 그림자 효과로 인해 손목이나 손바닥의 영향을 받아 실제 다른 지점(12)에 터치를 한 것으로 측정되게 된다.

도 1에서와 같이, 실제 터치스크린 사용자가 터치한 지점(11)과 터치스크린 장치에 의해 대상 물체가 터치된 위치라고 판단하는 지점(12)이 상이한 경우에는 기기의 오작동 등과 같은 문제가 발생할 수 있다.

또한, 상기 터치 좌표에서의 오차가 발생함으로 인해 사용자의 터치스크린에 대한 신뢰성을 떨어뜨릴 수 있다.

본 발명은 상기의 문제점을 해결하고자 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린에서 그림자 효과를 제거하여 실제 터치된 터치 좌표를 정확하게 산출할 수 있는 방법 밀 이를 이용한 장치를 제안하는 것이다.

상기의 과제를 해결하기 위해서 본 발명은 터치스크린의 터치 좌표 보정 방법 및 이를 이용한 장치를 제안한다.

본 발명의 실시예에 따른 터치스크린의 터치 좌표 보정 방법은, 하나의 ITO 패널을 포함하는 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린의 터치 좌표를 보정하는 방법에 있어서, 상기 터치스크린에 대상 물체가 터치되면 상기 터치스크린을 구성하는 네 변에서의 정전용량 값을 각각 측정하는 단계; 및 상기 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 터치 좌표를 보정하는 단계를 포함한다.

본 발명의 다른 실시예에 따른 터치스크린에 터치 되는 대상 물체를 감지하는 복수 개의 센서들 및 각 모서리에 위치하는 복수 개의 제1 전극을 포함하는 ITO 패널; 상기 ITO 패널을 구성하는 각 변으로부터 상기 터치스크린의 중심 방향으로 소정의 간격만큼 이격된 변의 양 끝단에 위치하는 복수 개의 제2 전극; 상기 제1 전극에 인가되는 소정 크기의 전압 및 상기 제2 전극에 인가되는 그라운드 전압의 인가를 조정하는 스위치부; 상기 스위치부에 의해 상기 제2 전극에 그라운드 전압을 인가함으로써 형성되는 소정 영역의 정전용량 값을 측정하는 정전용량 측정부; 및 상기 정전용량 측정부에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 터치 좌표를 보정하는 컨트롤러를 포함한다.

종래의 싱글 레이어(single layer) 방식의 터치스크린은 그림자 효과로 인한 좌표상의 오차로 인해서 단말기 등 화면이 작은 기기에서는 사용이 어려웠으나 본 발명이 제안하는 터치 좌표 보정 방법을 이용함으로써 사용 범위가 더 넓어질 수 있다.

또한, 싱글 레이어(single layer) 방식의 경우 한 장의 ITO 패널을 사용하므로 제조 원가를 상당히 감소시켜 저렴한 가격으로 제품을 생산할 수 있다.

본 발명은 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린에서 발생하는 그림자 효과를 제거하기 위해 터치 좌표를 보정하는 방법 및 이를 이용한 장치에 관한 것이다.

본 발명의 실시예에 따른 터치스크린의 터치 좌표 보정 방법은, 하나의 ITO 패널을 포함하는 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린의 터치 좌표를 보정하는 방법에 있어서, 상기 터치스크린에 대상 물체가 터치되면 상기 터치스크린을 구성하는 네 변에서의 정전용량 값을 각각 측정하는 단계; 및 상기 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 터치 좌표를 보정하는 단계를 포함한 다.

바람직하게, 상기 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 터치 좌표를 보정하는 단계는, 상기 터치스크린의 좌변 및 우변에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 x 좌표를 보정하고, 상기 터치스크린의 윗변 및 아랫변에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 y 좌표를 보정한다.

바람직하게, 상기 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 터치 좌표를 보정하는 단계는, 상기 터치스크린의 좌변 및 우변에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 x 좌표를 보정하고, 상기 터치스크린의 윗변 및 아랫변에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 y 좌표를 보정한다.

본 발명의 다른 실시예에 따른 터치스크린에 터치 되는 대상 물체를 감지하는 복수 개의 센서들 및 각 모서리에 위치하는 복수 개의 제1 전극을 포함하는 ITO 패널; 상기 ITO 패널을 구성하는 각 변으로부터 상기 터치스크린의 중심 방향으로 소정의 간격만큼 이격된 변의 양 끝단에 위치하는 복수 개의 제2 전극; 상기 제1 전극에 인가되는 소정 크기의 전압 및 상기 제2 전극에 인가되는 그라운드 전압의 인가를 조정하는 스위치부; 상기 스위치부에 의해 상기 제2 전극에 그라운드 전압을 인가함으로써 형성되는 소정 영역의 정전용량 값을 측정하는 정전용량 측정부; 및 상기 정전용량 측정부에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 터치 좌표를 보정하는 컨트롤러를 포함한다.

바람직하게, 상기 컨트롤러는 상기 터치스크린의 좌변 및 우변에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 x 좌표를 보정하고, 상기 터치스크린의 윗변 및 아랫변에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 y 좌표를 보정한다.

바람직하게, 상기 ITO 패널은 선형화 패턴(linearization pattern)으로 형성되고, 상기 스위치부는 상기 터치스크린을 구성하는 네 변 중 어느 한 변의 양 끝단에 위치하는 두 개의 제1 전극에 소정 크기의 전압을 인가하고 상기 두 개의 제1 전극으로부터 상기 터치스크린의 중심 방향으로 소정 간격만큼 이격된 변의 양 끝단에 위치하는 두 개의 제2 전극에 그라운드 전압을 인가하도록 조정한다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 이해하고 실시할 수 있도록 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하도록 한다.

도 2는 일반적인 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린의 좌표 산출 방법을 설명하기 위한 예시도이다.

상기 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린은 저항막방식과 유사하게 1장의 ITO 패널을 이용하여 저항의 비율에 따라 터치 위치를 산출하는 방식이다.

도 2에 도시된 바와 같이, 터치스크린에 접근하거나 또는 터치되는 대상 물체에 의해 소정의 캐패시터(C)가 생성되고 상기 캐패시터에 전압을 인가하여 충전을 한 후 b1, b2 지점의 전압을 측정해서 일정 전압 이하의 전압으로 하강하는데 걸리는 시간을 구한다.

이때, 저항의 크기가 클수록 RC 회로의 시상수(τ=RC)가 커서 방전되는 시간이 증가한다. 따라서, 상기 캐피시터가 방전되는 시간의 비를 이용하여 R1 저항과 R2 저항의 크기 비율을 산출할 수 있으며, 상기 산출된 저항 비율을 이용하여 b 지점의 위치, 즉 터지 지점에 대한 일 축의 좌표를 산출할 수 있다(예컨대, 도 2에서는 x축 좌표).

동일한 방법으로, 상기 설정된 축과 다른 축의 양쪽에 전압을 상이하게 인가하여 상기와 동일한 방식으로 저항 비율을 측정하면, 다른 축에 대한 좌표를 산출할 수 있다.

상기와 같이 캐패시터를 포함한 RC 회로의 방전 시간을 이용하여 R의 크기 비율로서 터치 지점을 산출하기 위해서는, ITO 패널의 한쪽 변과 반대쪽 변에 서로 다른 전압을 인가한 경우에 그 사이에 등전위선이 균일한 직선 형태로 나타나야한다. 이에 대해서는, 도 3에서 상세히 설명하도록 한다.

도 3a 및 도 3b는 선형화 패턴(linearization pattern)이 형성되지 않은 패널과 본 발명의 실시예에 따라 선형화 패턴이 형성된 패널의 등전위선을 나타낸 그래프이다.

도 3a는 ITO 패널에 선형화 패턴이 형성되지 않은 경우의 등전위선을 나타낸 그래프이다. 도 3a에서와 같이 아랫변의 양 모서리를 기준 전압 GND로 설정하고 윗변의 양 모서리에 Vcc 전압을 인가하면, 선형화 패턴이 형성되지 않은 ITO 패널에 서는 굽은 형태의 등전위선이 나타난다.

이와 같이 선형화 패턴이 형성되지 않은 ITO 패널은, 동일 축 상에 서로 다른 전압값을 포함하므로 상기 저항비의 계산에 따른 좌표값 산출 방법을 사용할 수 없다.

따라서, 도 3b와 같이 선형화 패턴이 형성된 ITO 패널이 구비되어야 하며, 도 3b에 도시된 바와 같이 아랫변의 양 모서리를 기준 전압 GND로 설정하고 윗변의 양 모서리에 Vcc 전압을 인가하면, 거의 균일한 직선 형태의 등전위선이 형성되어 본 발명의 실시예에 따른 좌표 산출법을 구현할 수 있다.

상기 선형화 패턴을 형성하는 방법은 다양할 수 있으며, 예컨대 프린팅 잉크를 형성하기 위해서 은가루 및 탄소가루와 같은 높은 도전성 재료를 접촉 약품 용매와 혼합한 후, 접속 저항기 회로망을 형성하기 위해 터치스크린의 가장자리 영역에 균일한 저항기 라인을 프린팅하도록 잉크를 이용할 수 있다.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 터치 좌표 보정을 위한 ITO 패널의 구성을 개략적으로 나타낸 개략도이다.

도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 ITO 패널은 각 모서리에 위치하는 복수 개의 제1 전극(21) 및 상기 ITO 패널을 구성하는 각 변으로부터 터치스크린의 중심 방향으로 소정의 간격만큼 이격된 변의 양 끝단에 위치하는 복수 개의 제2 전극(22)을 포함한다.

상기 제2 전극(22)은 터치스크린의 각 변에서의 정전용량 값의 측정을 위해 추가적으로 구비한 것이며, 제1 전극(21)의 일부와 제2 전극(22)의 일부로서 소정 영역을 형성하여 각 영역의 정전용량 값을 측정하여 이값을 이용해서 상기의 그림자 효과를 제거하여 좌표를 보정할 수 있다. 이에 대해서는 도 5에서 상술한다.

도 4에서는 ITO 패널이 4개의 제1 전극(21) 및 8개의 제2 전극(22)을 포함하는 것으로 도시하였지만, 이는 본 발명의 용이한 이해를 위해 예시적으로 설명한 것이며, 본 발명은 도 4의 실시예에 한정되지 않는다.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 터치 좌표 보정 방법을 설명하기 위해 터치스크린의 네 변에서 정전용량 값을 측정하는 과정을 개략적으로 도시한 개략도이다.

도 5에서와 같이, ITO 패널을 구성하는 각 변에서의 정전용량 값을 측정할 수 있다. 도 5의 (A) 내지 (D)는 각각 윗변, 아랫변, 왼쪽변, 오른쪽변의 정전용량 값을 측정하기 위하여 제1 전극 및 제2 전극의 전압을 조정한다.

예컨대, 도 5의 (A)와 같이, ITO 패널의 윗변의 정전용량 값을 측정하기 위해서, 윗변의 양 모서리에 위치하는 제1 전극에 Vcc 전압을 인가하고, 상기 윗변으로부터 터치스크린의 중심 방향으로 소정 간격만큼 이격된 변의 양 끝단에 위치하는 제2 전극에 GND를 인가한다.

그러면, 도 5에 도시된 바와 같이, 윗변의 소정 영역에 균일한 직선 형태의 등전위선이 형성되고, 이때 상기 도 2에서 설명한 바와 동일한 방법으로 대상 물체의 터치 지점을 산출하기 위해 정전용량 값을 측정한다. 상기와 동일한 방법으로, 아랫변(B), 왼쪽변(C), 오른쪽변(D)에 대해서도 정전용량 값을 측정한다.

상기 제1 전극 및 제2 전극에 전압을 조정하는 것은 스위치부에 의해 수행될 수 있으며, 예컨대 (A)와 같이 윗변의 정전용량 값을 측정하기 위해서, Vcc 전압 및 윗변의 모서리부에 위치한 제1전극과 연결된 스위치를 닫고, 또한 GND 및 윗변으로부터 터치스크린 중심 방향으로 소정의 간격만큼 이격된 변의 양 끝단에 위치하는 제2 전극과 연결된 스위치를 닫는다.

터치스크린에 터치되는 대상 물체, 예컨대 손가락이 터치스크린 위에 있을 경우, 스크린의 네 변에서의 정전용량 값을 측정하면, 손목이 있는 변의 정전용량 값이 가장 크고, 반대편 변에서의 정전용량 값이 가장 작으며, 각도에 따라 양 옆의 변에서의 정전용량 값이 정해진다.

또한, 정전용량 값의 변화량이 클수록 손바닥의 높이가 낮은 것이라고 판단할 수 있고, 네 변에서의 정전용량 값의 변화를 이용하여 이를 적절하게 연산하면 손의 방향, 높이 등의 정보를 얻을 수 있으며, 이를 이용해 기존의 터치 위치를 보정할 수 있다.

예컨대, 도 5의 (A) 및 (B)에서 산출된 정전용량 값을 비교하여 y좌표를 보정할 수 있으며, 도 5의 (C) 및 (D)에서 산출된 정전용량 값을 비교하여 x좌표를 보정할 수 있다.

도 1에서와 같이, 터치스크린을 터치하는 손가락과 일체된 손목의 방향이 오른쪽 하단부로 치우쳐져 있는 경우, (B)에서 측정된 정전용량 값이 (A)에서 측정된 정전용량 값보다 클 것이고, 그 차이값을 이용해 y축 방향의 좌표를 보정한다.

동일한 방법으로, 도 1에서와 같이, 터치스크린을 터치하는 손가락과 일체된 손목의 방향이 오른쪽 하단부로 치우쳐져 있는 경우, (D)에서 측정된 정전용량 값이 (C)에서 측정된 정전용량 값보다 클 것이고, 그 차이값을 이용해 x축 방향의 좌표를 보정한다.

도 6은 본 발명의 실시예에 따라 네 변에 측정된 정전용량 값을 이용하여 터치 좌표를 보정하는 과정을 개략적으로 도시한 예시도이다.

상기한 바와 같이, 대상 물체가 터치된 터치 좌표의 x축 보정 및 y축 보정 과정을 이용하여, 터치스크린에 의해 인식된 터치 지점(32)을 실제 터치된 지점(31)으로 좌표를 보정할 수 있다.

이제까지 본 발명에 대해서 그 바람직한 실시예를 중심으로 살펴보았으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 본질적 기술 범위 내에서 상기 본 발명의 상세한 설명과 다른 형태의 실시예들을 구현할 수 있을 것이다.

여기서 본 발명의 본질적 기술 범위는 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.

도 1은 종래의 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린에서 발생하는 그림자 효과를 설명하기 위한 도면.

도 2는 일반적인 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린의 좌표 산출 방법을 설명하기 위한 예시도.

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 실시예에 따른 선형화 패턴(linearization pattern)이 형성되지 않은 패널과 형성된 패널의 등전위선을 나타낸 그래프.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 터치 좌표 보정을 위한 ITO 패널의 구성을 개략적으로 나타낸 개략도.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 터치 좌표 보정 방법을 설명하기 위해 터치스크린의 네 변에서 정전용량 값을 측정하는 과정을 개략적으로 도시한 개략도.

도 6은 본 발명의 실시예에 따라 네 변에 측정된 정전용량 값을 이용하여 터치 좌표를 보정하는 과정을 개략적으로 도시한 예시도.

※ 도면의 주요 부분에 대한 설명 ※

Claims (7)

1. 하나의 ITO 패널을 포함하는 싱글 레이어(single layer) 정전용량방식의 터치스크린의 터치 좌표를 보정하는 방법에 있어서,

   상기 터치스크린에 대상 물체가 터치되면 상기 터치스크린을 구성하는 네 변에서의 정전용량 값을 각각 측정하는 단계; 및

   상기 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 터치 좌표를 보정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린의 터치 좌표 보정 방법.
2. 제1항에 있어서,

   상기 터치스크린의 각 변에서의 정전용량 값을 측정하는 단계는,

   상기 각 변의 양 끝단에 소정의 크기를 갖는 전압을 인가하고 상기 각 변으로부터 상기 터치스크린의 중심 방향으로 소정의 간격만큼 이격된 변의 양 끝단에 그라운드 전압을 인가하여 정전용량 값을 측정하는 것을 특징으로 하는 터치스크린의 터치 좌표 보정 방법.
3. 제1항에 있어서,

   상기 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 터치 좌표를 보정하는 단계는,

   상기 터치스크린의 좌변 및 우변에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 x 좌표를 보정하고, 상기 터치스크린의 윗변 및 아랫변에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 y 좌표를 보정하는 것을 특징으로 하는 터치스크린의 터치 좌표 보정 방법.
4. 터치스크린에 터치 되는 대상 물체를 감지하는 복수 개의 센서들 및 각 모서리에 위치하는 복수 개의 제1 전극을 포함하는 ITO 패널;

   상기 ITO 패널을 구성하는 각 변으로부터 상기 터치스크린의 중심 방향으로 소정의 간격만큼 이격된 변의 양 끝단에 위치하는 복수 개의 제2 전극;

   상기 제1 전극에 인가되는 소정 크기의 전압 및 상기 제2 전극에 인가되는 그라운드 전압의 인가를 조정하는 스위치부;

   상기 스위치부에 의해 상기 제2 전극에 그라운드 전압을 인가함으로써 형성되는 소정 영역의 정전용량 값을 측정하는 정전용량 측정부; 및

   상기 정전용량 측정부에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 터치 좌표를 보정하는 컨트롤러를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린의 터치 좌표 보정 장치.
5. 제4항에 있어서,

   상기 컨트롤러는 상기 터치스크린의 좌변 및 우변에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 x 좌표를 보정하고, 상기 터치스크린의 윗변 및 아랫변에서 측정된 정전용량 값을 이용하여 상기 대상 물체의 y 좌표를 보정하는 것을 특 징으로 하는 터치스크린의 터치 좌표 보정 장치.
6. 제4항에 있어서,

   상기 ITO 패널은 선형화 패턴(linearization pattern)으로 형성되는 것을 특징으로 하는 터치스크린의 터치 좌표 보정 장치.
7. 제4항에 있어서,

   상기 스위치부는, 상기 터치스크린을 구성하는 네 변 중 어느 한 변의 양 끝단에 위치하는 두 개의 제1 전극에 소정 크기의 전압을 인가하고 상기 두 개의 제1 전극으로부터 상기 터치스크린의 중심 방향으로 소정 간격만큼 이격된 변의 양 끝단에 위치하는 두 개의 제2 전극에 그라운드 전압을 인가하도록 조정하는 것을 특징으로 하는 터치스크린의 터치 좌표 보정 장치.

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