KR20090072176A - A nondestructive inspection apparatus for arbitrary shape structures using radiation source - Google Patents

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Abstract

A nondestructive inspection device of an arbitrary shape structure using a radiation source is provided to reduce the time and cost for the inspection. A nondestructive inspection device of an arbitrary shape structure comprises: a sensor unit(110) sensing radiation, generating the optical signal; a radiation source(150) generating the radiation; a radiation source inducing unit(151) transferring the radiation source to the direction in which the sensor unit is extended; and a signal collecting unit(160) collecting the optical signal outputted from the sensor unit. The sensor unit extends to the specific direction with being closely to the surface of the structure. The sensor unit includes: a plurality of radiation detectors(111) generating the light corresponding to the incident radiation; and a plurality of light transmitting members(112) consisting of the transparent material.

Description

방사선원을 이용한 임의 형상 구조물의 비파괴 검사장치{A nondestructive inspection apparatus for arbitrary shape structures using radiation source}A nondestructive inspection apparatus for arbitrary shape structures using radiation source}

본 발명은 배관 등 임의 형상 구조물에 대하여 방사선원을 이용하여 그 구조적 결함 여부를 비파괴적으로 측정할 수 있는 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 입사 방사선에 대응하는 광을 발생시키는 다수개의 방사선센서와, 투명 소재로 이루어진 다수개의 광투과체가 각각 하나씩 서로 번갈아가며 배열되어 선형으로 구성되는 센서부와; 상기 센서부와 대향하는 위치의 구조물 내부 또는 외부에서 측정 방향을 따라 이동 가능하도록 구비되는 방사선원;으로 구성되어, 방사선원으로부터 조사되어 구조물을 통과한 방사선이 각 방사선센서에 입사됨에 따라 각 방사선센서에서 발생되는 광을 방사선센서의 위치에 따라 변동하는 광신호로 수집하여 분석함으로써, 공간적인 제약으로 인해 비파괴 검사가 난해한 구조물의 내부 구조를 용이하게 판별할 수 있는 비파괴 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a device capable of nondestructively measuring the structural defects of any shape structure, such as piping using a radiation source, and more particularly, a plurality of radiation sensors for generating light corresponding to incident radiation; A plurality of light transmitting members made of a transparent material, each of which is linearly arranged alternately with each other; A radiation source provided to be movable along the measurement direction in or out of the structure at a position opposite to the sensor part, wherein the radiation emitted from the radiation source and passing through the structure is incident to each radiation sensor and is generated in each radiation sensor. The present invention relates to a non-destructive inspection device that can easily determine an internal structure of a structure that is difficult to destructive inspection due to spatial constraints by collecting and analyzing the light as a variable optical signal according to the position of the radiation sensor.

일반적으로 임의의 단면 형상을 가지는 선형 구조물에 대한 비파괴 검사에는 엑스선 또는 감마선과 같은 방사선을 구조물에 조사시킨 후 구조물을 투과한 방사선을 방사선 측정기로 측정하여 특정 지점에서 구조물의 내부 결함을 판별하는 검 사장치가 널리 이용되고 있다.In general, non-destructive testing of linear structures having arbitrary cross-sectional shapes is performed by irradiating a structure such as X-rays or gamma rays to the structure, and then measuring the radiation transmitted through the structure by using a radiometer to determine internal defects of the structure at specific points. Chi is widely used.

이러한 종래의 검사장치로는 엑스선을 이용하여 대상물을 여러 각도로 반복하여 촬영한 후, 촬영된 필름을 3차원적으로 해석하여 대상물의 결함 구조를 측정하는 방법이 있다.Such a conventional inspection apparatus includes a method of repeatedly photographing an object at various angles using X-rays, and then analyzing the photographed film in three dimensions to measure a defect structure of the object.

그러나, 이러한 엑스선을 이용한 종래의 검사장치는 구조물의 길이를 따라 결함 구조를 측정하기 위해서는 반복적으로 구조물의 측정 위치에 접근해야 하므로, 배관과 같이 복잡하게 배치되어 있는 구조물의 경우 측정을 위해 접근하는데 소요되는 시간과 노력이 많이 요구되고, 구조물 촬영 이후 별도의 해석 장비가 구비된 장소로 이동하여 촬영된 필름을 일일이 해석해야 하므로, 실시간적으로 구조물의 결함을 판별하기 어려우며 측정에 오랜 시간이 소요된다는 문제점이 있다.However, in the conventional inspection apparatus using such X-rays, it is necessary to approach the measurement position of the structure repeatedly in order to measure the defective structure along the length of the structure, so it is necessary to approach for the measurement of a structure that is complicatedly arranged such as a pipe. It takes a lot of time and effort, and it is difficult to determine the defects of the structure in real time, and it takes a long time to measure because it is necessary to analyze the photographed film by moving to a place equipped with separate analysis equipment after the structure is photographed. There is this.

또다른 종래의 검사장치로는, 대한민국 등록특허공보 제 10-0726341호에 기재된 평행 주사형 산업공정 진단용 감마선 단층 촬영장치가 있다. 상기 촬영장치는 가동중인 반응기 또는 배관 등의 단면 밀도 측정이 가능하도록, 방사선원 및 방사선 검출기가 대상물의 둘레를 따라 마주보면서 평행하게 이동가능하도록 구성되어, 이동시 자동적으로 반복 측정된 방사선 세기를 이용하여 단면 밀도 이미지를 복원할 수 있는 장치이다.Another conventional inspection apparatus is a gamma ray tomography apparatus for diagnosing parallel scan type industrial processes described in Korean Patent Publication No. 10-0726341. The photographing apparatus is configured such that the radiation source and the radiation detector can be moved in parallel while facing the circumference of the object so that the cross-sectional density of the reactor or pipe in operation can be measured. It is a device that can restore density images.

그러나, 상기 촬영장치 역시 대상물의 길이 방향으로 여러 지점에서의 단면 밀도를 측정하기 위해서는 구조적으로 복잡하고 중량이 많이 나가는 장치 전체를 대상물의 길이 방향으로 옮겨가면서 위치 고정을 반복해주어야 하므로, 길이 방향으로 긴 구조물, 특히 굴뚝과 같이 수직으로 배치된 구조물의 경우 장치 전체를 길 이 방향으로 이동시키면서 측정하기가 매우 난해하다는 문제점이 있다.However, in order to measure the cross-sectional density at various points in the longitudinal direction of the object, the photographing apparatus also has to repeat the position fixing while moving the entire structurally heavy and heavy device in the longitudinal direction of the object. In the case of a structure, especially a vertically arranged structure such as a chimney, there is a problem that it is very difficult to measure while moving the entire device in the length direction.

본 발명은 상기한 종래 기술에 따른 방사선원을 이용한 비파괴 검사장치의 문제점을 해결하기 위한 것이다. 즉, 본 발명의 목적은, 입사 방사선에 대응하는 광을 발생시키는 다수개의 방사선센서와, 투명 소재로 이루어진 다수개의 광투과체가 각각 하나씩 서로 번갈아가며 배열되어 선형으로 구성되는 센서부와; 상기 센서부와 대향하는 위치의 구조물 내부 또는 외부에서 측정 방향을 따라 이동 가능하도록 구비되는 방사선원;으로 구성되어, 방사선원으로부터 조사되어 구조물을 통과한 방사선이 각 방사선센서에 입사됨에 따라 각 방사선센서에서 발생되는 광을 방사선센서의 위치에 따라 변동하는 광신호로 수집하여 분석함으로써, 작업자가 접근이 어려운 환경에서도 배관 등의 구조물에 대한 비파괴 검사를 용이하게 수행할 수 있고, 검사에 소요되는 시간을 대폭 단축시킬 수 있는 비파괴 검사장치를 제공하는 데에 있다.The present invention is to solve the problem of the non-destructive inspection device using a radiation source according to the prior art. That is, an object of the present invention, a plurality of radiation sensors for generating light corresponding to the incident radiation, and a plurality of light transmitting body made of a transparent material each one alternately arranged alternately arranged with each other; A radiation source provided to be movable along the measurement direction in or out of the structure at a position opposite to the sensor part, wherein the radiation emitted from the radiation source and passing through the structure is incident to each radiation sensor and is generated in each radiation sensor. By collecting and analyzing the light as an optical signal that varies according to the position of the radiation sensor, non-destructive inspection of structures such as piping can be easily performed even in an environment where workers cannot access easily, and the time required for inspection is greatly reduced. It is to provide a non-destructive inspection device that can be made.

상기의 목적을 달성하기 위한 기술적 사상으로서의 본 발명은, 구조물의 표면에 밀착되어 일방향으로 연장되도록 구비되어, 입사된 방사선을 감지하여 광신호를 발생시키는 센서부와; 방사선을 발생시키는 방사선원과; 구조물을 사이에 두고 상기 센서부의 반대측에서, 상기 센서부가 연장된 방향과 평행하게 상기 방사선원을 이송시키는 방사선원 유도장치와; 상기 센서부의 일단에 형성된 신호인출단에 광인출선으로 연결되어 상기 센서부로부터 출력되는 광신호를 수집하는 신호수집 부;를 포함하여 구성되되, 상기 센서부는, 입사 방사선에 대응하는 광을 발생시키는 다수개의 방사선센서와, 투명 소재로 이루어진 다수개의 광투과체가 각각 하나씩 서로 번갈아가며 배열되어 구성되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치를 제공한다.The present invention as a technical idea for achieving the above object, the sensor unit is provided to be in close contact with the surface of the structure to extend in one direction, to detect the incident radiation to generate an optical signal; A radiation source for generating radiation; A radiation source inducing device for transferring the radiation source in parallel with the direction in which the sensor portion extends, on the opposite side of the sensor portion with a structure therebetween; And a signal collection unit connected to a signal extraction end formed at one end of the sensor unit to collect an optical signal output from the sensor unit, wherein the sensor unit is configured to generate light corresponding to incident radiation. It provides a non-destructive inspection device, characterized in that the radiation sensor and a plurality of light transmitting bodies made of a transparent material are arranged alternately one by one each.

본 발명에 따른 방사선원을 이용한 임의 형상 구조물의 비파괴 검사장치는, 일정 방향을 따라 순차적으로 배치된 방사선센서에서 입사 방사선을 감지하여 발생시킨 광으로부터 얻어지는 광신호를 분석하여 방사선센서의 배치 방향에 따른 방사선 분포를 측정할 수 있어, 복잡한 배관이나 굴뚝 등과 같이 작업자가 접근이 어려운 구조물에 대해서도 용이하게 비파괴 검사를 효율적으로 수행할 수 있고, 이에 따라 검사에 소요되는 시간과 비용을 단축시키는 효과가 있다.Non-destructive inspection device for any shape structure using a radiation source according to the present invention, by analyzing the optical signal obtained from the light generated by detecting the incident radiation in the radiation sensor sequentially arranged along a certain direction radiation according to the arrangement direction of the radiation sensor Since the distribution can be measured, the non-destructive inspection can be easily performed efficiently even on structures inaccessible to workers such as complicated pipes or chimneys, thereby reducing the time and cost required for the inspection.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부 도면에 의거하여 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명은 방사선을 이용하여 임의의 단면 형상을 가지는 선형 구조물의 구조적 결함을 비파괴적으로 검사할 수 있는 비파괴 검사장치로서, 이하에서는 크랙과 같은 결함과, 관로 내 구조체의 이상 여부 등에 대한 비파괴 검사가 필수적으로 요구되는 배관, 증류탑 등의 원통형 구조물에 적용되는 경우에 대하여 설명하기로 한다.The present invention is a non-destructive inspection device capable of non-destructively inspection of structural defects of linear structures having arbitrary cross-sectional shape using radiation, hereinafter, non-destructive inspection for defects such as cracks, abnormality of the structure in the pipeline, etc. It will be described a case where it is applied to the cylindrical structure, such as a pipe, a distillation column, which is essentially required.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 비파괴 검사장치의 구성을 나타내는 도 면이다.1 is a view showing the configuration of a non-destructive inspection device according to a first embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 비파괴 검사장치는 구조물(5)의 표면에 밀착되어 일방향으로 연장되도록 구비되어 입사된 방사선을 감지하여 광신호를 발생시키는 센서부(110)와, 방사선을 발생시키는 방사선원(150)과, 구조물(5)을 사이에 두고 센서부(110)의 반대측에서, 센서부(110)가 연장된 방향과 평행하게 방사선원(150)을 이송시키는 방사선원 유도장치(151)와, 센서부(110)의 일단에 형성된 신호인출단에 광인출선(191)으로 연결되어 센서부(110)로부터 출력되는 광신호를 수집하는 신호수집부(160)와, 신호수집부(160)로부터 광신호를 전달받아 위치별로 방사선량을 분석하고, 분석 결과를 사용자에게 출력해주는 분석표시부(170)를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 1, the non-destructive inspection device according to the first embodiment of the present invention is provided to be in close contact with the surface of the structure 5 and extends in one direction to detect an incident radiation to generate an optical signal ( On the opposite side of the sensor unit 110 with the radiation source 150 generating radiation and the structure 5 interposed therebetween, the sensor unit 110 transports the radiation source 150 in parallel with the extending direction. A signal collecting unit 160 connected to the radiation source inducing apparatus 151 and a signal extraction end formed at one end of the sensor unit 110 by a light lead line 191 to collect an optical signal output from the sensor unit 110; It is configured to include an analysis display unit 170 for receiving the optical signal from the signal collector 160 to analyze the radiation dose for each position, and output the analysis result to the user.

센서부(110)는 입사 방사선에 대응하는 광을 발생시키는 다수개의 방사선센서(111)와 투명 소재로 이루어진 다수개의 광투과체(112)가 각각 하나씩 서로 번갈아가며 배열되어 선형으로 구성되며, 방사선원(150)이 이송되면서 방출하는 방사선을 각 방사선센서(111)에서 감지하여 일측 끝단에 위치한 신호인출단을 통해 연속적인 광신호를 출력한다.The sensor unit 110 includes a plurality of radiation sensors 111 for generating light corresponding to incident radiation and a plurality of light transmitting bodies 112 made of a transparent material alternately arranged one by one, and are linearly configured. The radiation emitted by 150 is detected by each radiation sensor 111 and outputs a continuous optical signal through a signal extraction end located at one end.

방사선센서(111)는 방사선원(150)으로부터 조사되어 구조물(5)을 투과한 후 입사되는 방사선을 감지하여 가시광을 발생시키는 센서로서, 입사되는 방사선을 흡수하여 흡수된 방사선량에 비례하는 광을 방출하는 섬광체 물질, 또는 외부의 광자극에 의해 누적된 입사 방사선량에 비례하는 광을 방출하는 광자극형광(Optically Stimulated Luminescence; OSL) 물질의 센서가 사용될 수 있다.The radiation sensor 111 is a sensor for generating visible light by detecting incident radiation after being transmitted from the radiation source 150 and passing through the structure 5. The radiation sensor 111 absorbs incident radiation and emits light in proportion to the amount of radiation absorbed. A sensor of scintillator material or an optically stimulated luminescence (OSL) material that emits light in proportion to the amount of incident radiation accumulated by an external photostimulus may be used.

방사선센서(111)가 섬광체 물질로 이루어진 경우, 측정 방향을 따라 방사선원(150)이 이송되면서 방사선원(150)의 바로 상부에 위치하게 되는 방사선센서(111)에서 입사 방사선에 대응되는 광을 순차적으로 발생시키기 때문에, 분석표시부(170)에서 방사선량 분포를 분석하기 위해서는 방사선원(150)이 이송되는 시간동안 센서부(110)로부터 출력된 전체 광신호를 누적시켜 처리해야 한다.When the radiation sensor 111 is made of a scintillator material, light corresponding to incident radiation is sequentially generated by the radiation sensor 111, which is positioned directly above the radiation source 150 while being transported along the direction of measurement. In order to analyze the radiation dose distribution in the analysis display unit 170, the entire optical signal output from the sensor unit 110 must be accumulated and processed during the time that the radiation source 150 is transferred.

한편, 방사선센서(111)가 OSL 물질로 이루어진 경우에는, 센서부(110)의 신호인출단과 광공급선(192)으로 연결되어 광공급선(192)을 통해 센서부(110)측으로 광을 전송해주기 위한 광자극원(180)이 추가적으로 구비되어야 하며, 이 경우 측정하고자 하는 전체 구간을 따라 방사선원(150)의 이송이 완료된 후, 즉 방사선 스캔이 완료된 후에 광자극원(180)를 가동하여 센서부(110)의 모든 방사선센서(111)에 동시에 광자극을 줌으로써, 원하는 시점에 각 방사선센서(111)에서 누적된 방사선량에 비례하여 각각 출력하는 광신호를 분석표시부(170)에서 연속적으로 수집하여 처리하게 된다.On the other hand, when the radiation sensor 111 is made of an OSL material, it is connected to the signal extraction end of the sensor unit 110 and the light supply line 192 to transmit the light to the sensor unit 110 side through the light supply line 192. The photo stimulation source 180 should be additionally provided. In this case, after the transfer of the radiation source 150 is completed along the entire section to be measured, that is, after the radiation scan is completed, the photo stimulation source 180 is operated to operate the sensor unit 110. By simultaneously providing a photo stimulus to all the radiation sensors 111 of), the analysis display unit 170 continuously collects and processes the optical signals respectively output in proportion to the amount of radiation accumulated in each radiation sensor 111 at a desired point in time. do.

누적 방사선량 인출을 위한 광자극원(180)은 레이저나 LED를 이용한 발광장치로 구성되어 광자극을 위해 발생시킨 광을 광공급선(192)을 통해 센서부(110) 측으로 전송해준다. 또한, 센서부(110)의 타단, 즉 신호인출단의 반대측 단에는 광자극원(180)으로부터 입사된 광의 반사를 제어하여 광자극원(180)으로부터 입사된 광이 다시 방사선센서(111)에서 발생된 광신호와 함께 광인출선(191)을 통해 신호수집부(160)로 유입되는 것을 방지하기 위한 광투과 반사체(115)가 구비되는 것이 좋다. 광투과 반사체(115)는 일정한 파장의 대역을 선택적으로 투과시키거나 투과하 지 못하도록 막는 광필터가 사용되는데, 레이저 또는 LED 장치로 구성된 광자극원(180)으로부터 발생되어 센서부(110) 내부를 통과해 도달하는 광은 통과시키고, 각 방사선센서(111)에서 방사선에 대응하여 발생시킨 광은 반사시켜주는 파장에 따른 광 반사 기능을 수행하여 광인출선(191)을 통해 분석표시부(170)로 전송되는 광신호의 신호대노이즈(S/N)비를 극대화할 수 있다. 여기서, OSL 물질로는 내부에 탄소 성분이 포함된 알루미나(Al2O3), 석영 또는 장석 등을 예로 들 수 있다.The photostimulation source 180 for extracting the cumulative radiation dose is configured as a light emitting device using a laser or an LED and transmits the light generated for photostimulation to the sensor unit 110 through the light supply line 192. In addition, at the other end of the sensor unit 110, that is, the opposite side of the signal extraction end, the reflection of the light incident from the photo-stimulation source 180 is controlled so that the light incident from the photo-stimulation source 180 is again emitted from the radiation sensor 111. The light transmission reflector 115 may be provided to prevent the inflow into the signal collecting unit 160 through the light leader line 191 together with the generated light signal. The light transmissive reflector 115 is an optical filter that selectively transmits or prevents the transmission of a band of a predetermined wavelength is used, it is generated from the light stimulation source 180 composed of a laser or LED device to the inside of the sensor unit 110 The light passing through the light is passed, and the light generated by the radiation sensor 111 in response to the radiation reflects the light according to the wavelength to be transmitted to the analysis display unit 170 through the light lead line 191. It is possible to maximize the signal-to-noise (S / N) ratio of the optical signal. Here, the OSL material may include alumina (Al 2 O 3 ), quartz, or feldspar having carbon components therein.

상술한 바와 같이, 본 발명에서는 섬광체 물질이나 OSL 물질의 방사선센서(111)를 모두 사용할 수 있으나, 방사선 스캔 도중에 즉각적으로 광을 발생시키는 섬광체 물질보다는, 스캔이 완료된 후 광신호 수집 시점을 임의로 조절할 수 있는 OSL 물질의 방사선센서(111)를 사용하는 것이 더욱 바람직하다.As described above, in the present invention, both the radiation sensor 111 of the scintillator material or the OSL material may be used, but rather than the scintillator material which immediately generates light during the radiation scan, the timing of collecting the optical signal may be arbitrarily adjusted after the scan is completed. It is more preferable to use the radiation sensor 111 of the OSL material.

광투과체(112)는 방사선센서(111)와는 달리 방사선원(150)으로부터 구조물(5)을 통과하여 입사되는 방사선과 반응하지 않고 그대로 투과시켜주기 때문에, 인접한 두 방사선센서(111)에서 각각 출력되는 광신호 사이에 크기가 '0'인 신호 구간을 생성하여 센서부(110) 전체에서 출력되는 일련의 광신호 내에 인접한 방사선센서(111)에서 출력된 광신호를 구별할 수 있는 위치 정보를 포함시켜 주게 된다. 여기서, 센서부(110) 전체에서 출력되는 광신호에 대한 구체적인 예는 후술하여 상세히 설명하기로 한다.Unlike the radiation sensor 111, the light penetrating body 112 transmits the radiation from the radiation source 150 through the structure 5 without reacting with the incident radiation, so that light is output from two adjacent radiation sensors 111. Generate a signal section having a magnitude of '0' between the signals and include position information for distinguishing the optical signal output from the adjacent radiation sensor 111 in a series of optical signals output from the entire sensor unit 110. do. Here, a specific example of the optical signal output from the entire sensor unit 110 will be described in detail later.

광투과체(112)의 재질로는, 다양한 형태의 구조물 표면을 따라 굴곡 가능하면서, 양측에 각각 배치된 방사선센서(111)에서 발생된 광을 신호인출단 측으로 투 과시켜 줄 수 있도록 가요성(flexibility)을 가진 아크릴과 같은 투명 플라스틱 계열이 사용되는 것이 바람직하다.As the material of the light transmitting body 112, it is bent along the surface of the structure of various forms, while being flexible so as to transmit the light generated by the radiation sensor 111 disposed on each side to the signal extraction end side ( It is preferable to use a transparent plastic series such as acrylic having flexibility.

위에서 설명한 센서부(110)의 방사선센서(111) 및 광투과체(112)의 센서부(110) 연장 방향에 따른 폭은 구조물(5)의 내부 구조를 길이 방향을 따라 정밀하게 측정할 수 있도록 수 내지 수십 마이크로미터 범위로 구성하는 것이 좋다.The width according to the extending direction of the radiation sensor 111 and the light transmitting body 112 of the sensor unit 110 described above so that the internal structure of the structure 5 can be accurately measured along the longitudinal direction. It is preferable to configure it in the range of several to several tens of micrometers.

방사선원 유도장치(151)는 방사선원(150)과 체결되어 방사선원(150)을 구조물(5)의 센서부(110)가 연장된 방향과 평행하게 이송시키는 케이블과, 케이블을 지지하는 롤러와, 롤러를 회동시키는 구동장치를 포함하여 구성되는데, 이러한 구성은 방사선 측정 분야에서 통상적으로 적용되는 구성이므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.The radiation source induction apparatus 151 is fastened to the radiation source 150 to transport the radiation source 150 in parallel with the direction in which the sensor unit 110 of the structure 5 extends, a roller supporting the cable, and the roller It is configured to include a driving device to rotate, this configuration is a configuration that is commonly applied in the field of radiation measurement, detailed description thereof will be omitted.

분석표시부(170)는 신호수집부(160)를 통해 전송되는 광신호를 저장해두고, 이로부터 구조물(5)의 측정 방향에 따른 신호 분포를 분석하며, 분석된 결과를 모니터나 프린터와 같은 출력 수단을 통해 사용자에게 출력해준다. 또한, 동일한 구조물(5)에 대하여 구조물(5) 둘레를 따라 센서부(110)의 위치를 변경시켜가며 측정한 후에, 각 측정시마다 저장되어 있는 광신호를 각각 처리하여 그 결과를 조합함으로써 구조물(5)의 내부 구조를 영상화하여 출력해줄 수도 있다.The analysis display unit 170 stores the optical signal transmitted through the signal collecting unit 160, analyzes the signal distribution according to the measurement direction of the structure 5 therefrom, and outputs the analyzed result as a monitor or a printer. Output to the user via In addition, after measuring the position of the sensor unit 110 by changing the position of the sensor unit 110 around the structure 5 with respect to the same structure (5), by processing the respective optical signals stored in each measurement and combines the results ( The internal structure of 5) may be imaged and output.

도 2는 도 1에 도시된 비파괴 검사장치를 내부 구조체가 포함된 일정 두께의 선형 구조물에 적용하였을 때 출력되는 광신호의 예를 보여주는 도면이다.FIG. 2 is a diagram illustrating an example of an optical signal output when the non-destructive inspection device illustrated in FIG. 1 is applied to a linear structure having a predetermined thickness including an internal structure.

도 2에 도시된 바와 같이, 증류탑과 같은 선형 구조물(5) 내에는 증류기와 같은 다양한 내부 구조체(6a, 6b)가 다수 포함되어 있는데, 이러한 내부 구조체(6a, 6b)가 포함된 선형 구조물(5)에 본 실시예에 따른 비파괴 검사장치를 적용하여 출력되는 광신호를 살펴보면, 내부 구조체(6a, 6b)와 인접한 위치의 방사선센서(111)에서 출력되는 신호 크기가 타 구간에서의 신호 크기보다 감소하게 된다.As shown in FIG. 2, the linear structure 5 such as a distillation column includes a plurality of various internal structures 6a and 6b such as a still, and the linear structure 5 including such internal structures 6a and 6b. Referring to the optical signal output by applying the non-destructive inspection device according to the present embodiment), the signal size output from the radiation sensor 111 in the position adjacent to the internal structure (6a, 6b) is reduced than the signal size in the other section Done.

즉, 길이 방향으로 이동되는 방사선원(150)으로부터 방출된 방사선이 배관 내부를 지나 각 방사선센서(111)로 입사되는 과정에서 내부 구조체(6a, 6b)를 통과하였는지 여부에 따라 각 방사선센서(111)로부터 출력되는 광신호의 크기가 달라지게 되는데, 출력되는 광신호는 입사 방사선량에 비례하여 증가하므로, 입사 방사선이 내부 구조체(6a, 6b)를 전혀 통과하지 않은 경우, 입사 방사선의 일부가 내부 구조체(6a, 6b)를 통과한 경우, 입사 방사선 모두가 내부 구조체(6a, 6b)를 통과한 경우의 순으로 광신호의 크기가 결정된다. 또한, 광신호의 크기는 입사 방사선이 통과한 내부 구조체(6a, 6b)의 크기 또는 밀도에도 영향을 받는데, 크기나 밀도가 더 큰 내부 구조체(6b)를 통과한 경우가 크기나 밀도가 더 작은 내부 구조체(6a)를 통과한 경우보다 광신호의 크기가 더 작아지게 된다.That is, each radiation sensor 111 depends on whether the radiation emitted from the radiation source 150 moving in the longitudinal direction has passed through the internal structures 6a and 6b while passing through the pipe into the radiation sensors 111. The magnitude of the optical signal outputted from the image is changed. Since the output optical signal increases in proportion to the incident radiation dose, when the incident radiation does not pass through the internal structures 6a and 6b, a part of the incident radiation is internal structure. In the case of passing through 6a and 6b, the magnitude of the optical signal is determined in the order in which both incident radiation passes through the internal structures 6a and 6b. In addition, the magnitude of the optical signal is also affected by the size or density of the internal structures 6a and 6b through which the incident radiation passes, and the size or density of the optical signal is smaller when passing through the larger internal structures 6b. The size of the optical signal is smaller than when passing through the internal structure 6a.

여기서, 앞서 설명한 바와 같이, 광투과체(112)의 위치에 대응되는 구간에서는 광신호의 크기가 '0'이 되기 때문에, 분석표시부(170)에서는 광신호의 크기가 '0'인 구간을 체크하여 각 신호 구간에 해당하는 방사선센서(111)와 그 위치 정보를 산출할 수 있으며, 산출된 위치 정보를 기준으로 전체 측정 영역에서의 방사선량 분포를 분석할 수 있다.As described above, since the magnitude of the optical signal becomes '0' in the section corresponding to the position of the light transmitting body 112, the analysis display unit 170 checks the section in which the magnitude of the optical signal is '0'. The radiation sensor 111 corresponding to each signal section and its position information may be calculated, and the radiation dose distribution in the entire measurement area may be analyzed based on the calculated position information.

이상에서와 같이, 본 실시예에 따른 비파괴 검사장치는 선형 구조물(5)의 길 이 방향에 따른 방사선 분포를 측정하기 위하여 매 측정 지점마다 장비 전체를 이동시킬 필요 없이, 센서부(110)와 신호 수집 및 분석을 위한 장비는 고정시킨 채로 방사선원(150)만을 이동시켜가며 용이하게 측정을 수행할 수 있고, 그 측정 결과를 현장에서 즉시 수집하여 분석하거나 출력해볼 수 있다.As described above, the non-destructive inspection device according to the present embodiment does not need to move the entire equipment at every measurement point in order to measure the radiation distribution along the length direction of the linear structure 5, and the signal unit 110 and the signal The equipment for collection and analysis can be easily carried out while moving only the radiation source 150 while being fixed, and the measurement results can be immediately collected and analyzed or output in the field.

도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 비파괴 검사장치의 구성을 나타내는 도면이다.3 is a view showing the configuration of a non-destructive inspection device according to a second embodiment of the present invention.

본 발명의 제2 실시예에 따른 비파괴 검사장치는 전술한 제1 실시예에서 센서부와 이에 따른 광인출선의 개수만을 증가시켜 특히 배관과 같이 중공부가 형성되어 있는 선형 구조물의 내부 구조를 측정하기 위한 것으로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 구조물(5)의 외부에서 구조물(5)의 길이 방향으로 연장되도록 구비되어 입사된 방사선을 감지하여 광신호를 발생시키는 센서부와, 방사선을 발생시키는 방사선원(250)과, 방사선원(250)을 구조물(5)의 중공부 내에서 구조물(5)의 길이 방향을 따라 이송시키는 방사선원 유도장치(251)와, 센서부의 일단에 형성된 신호인출단에 광인출선(291)으로 연결되어 센서부로부터 출력되는 광신호를 수집하는 신호수집부(260)와, 신호수집부(260)로부터 광신호를 전달받아 위치별로 방사선량을 분석하고, 분석 결과를 사용자에게 출력해주는 분석표시부(270)를 포함하여 구성된다.The non-destructive inspection device according to the second embodiment of the present invention increases the number of sensor parts and the light lead-out line according to the first embodiment described above to measure the internal structure of a linear structure in which a hollow part is formed, such as a pipe. As shown in FIG. 3, the sensor unit is provided to extend in the longitudinal direction of the structure 5 from the outside of the structure 5 to detect incident radiation to generate an optical signal, and a radiation source to generate radiation ( 250, a radiation source induction device 251 for transferring the radiation source 250 in the hollow portion of the structure 5 along the longitudinal direction of the structure 5, and a light lead line 291 at a signal lead end formed at one end of the sensor portion; ) Is connected to the signal collecting unit 260 for collecting the optical signal output from the sensor unit, and receives the optical signal from the signal collecting unit 260 to analyze the radiation dose for each location, the analysis result to the user It is configured to include an analysis display portion 270 that output.

본 실시예에 따른 센서부는 전술한 제1 실시예의 센서부(110)와 동일하게, 입사 방사선에 대응하는 광을 발생시키는 다수개의 방사선센서(211)와, 투명 소재 로 이루어진 다수개의 광투과체(212)가 각각 하나씩 서로 번갈아가며 배열되어 구성되며, 바람직하게는 구조물(5)의 둘레를 따라 각기 다른 위치에 배치되는 다수개의 선형 센서부(210, 220)로 구성되어, 한번의 스캔만으로도 각 센서부(210, 220)에서 출력되는 광신호로부터 구조물(5)의 둘레 방향에 따른 3차원적인 분석을 수행할 수 있도록 하는 것이 좋다.In the same way as the sensor unit 110 of the first embodiment, the sensor unit according to the present embodiment includes a plurality of radiation sensors 211 for generating light corresponding to incident radiation, and a plurality of light transmitting bodies made of a transparent material ( 212 is arranged alternately one by one each, preferably composed of a plurality of linear sensor units (210, 220) disposed at different positions along the periphery of the structure (5), each sensor with only one scan It is preferable to be able to perform a three-dimensional analysis according to the circumferential direction of the structure 5 from the optical signal output from the unit (210, 220).

여기서, 방사선센서(211)는, 전술한 제1 실시예에서와 같이 섬광체 물질 또는 OSL 물질의 센서가 사용될 수 있는데, OSL 물질의 센서인 경우에는, 센서부(210, 220)의 신호인출단과 광공급선으로 연결되어 광공급선을 통해 센서부(210, 220)측으로 광을 전송해주기 위한 광자극원이 추가적으로 구비되어야 한다.Here, the radiation sensor 211, as in the first embodiment described above may be used a sensor of the scintillator material or OSL material, in the case of the sensor of the OSL material, the signal extraction end and the light of the sensor unit 210, 220 Photoelectric stimulation source to be connected to the supply line to transmit the light to the sensor unit (210, 220) side through the light supply line should be additionally provided.

방사선원 유도장치(251)는 구조물(5)의 중공부를 그 길이 방향을 따라 관통하도록 구비되어 방사선원(250)을 구조물(5)의 길이 방향과 평행하게 이송시키는 케이블과, 케이블을 지지하는 롤러와, 롤러를 회동시키는 구동장치를 포함하여 구성된다.The radiation source induction device 251 is provided to penetrate the hollow portion of the structure 5 along its longitudinal direction to transport the radiation source 250 in parallel with the longitudinal direction of the structure 5, a roller supporting the cable, And a drive device for rotating the roller.

그 외에 신호수집부(260) 및 분석표시부(270)는 그 구성 및 작용에 있어서 전술한 제 1실시예와 동일하므로, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.In addition, since the signal collecting unit 260 and the analysis display unit 270 are the same as the first embodiment in the configuration and operation thereof, detailed description thereof will be omitted.

이상에서와 같이 본 실시예에서는 구조물(5)의 둘레를 따라 다수개의 센서부(210, 220)가 배치되어 있어, 방사선원 유도장치(251)에 의해 그 중공부를 따라 방사선원(250)을 이동시키면서 방사선 스캔을 수행하면, 이동되는 방사선원(250)으로부터 구조물(5)의 반경 방향을 따라 등방적으로(isotropically) 조사되는 방사선이 구조물(5)을 통과한 후 구조물(5)의 둘레를 따라 배치된 각 센서부(210, 220)의 방사선센서(211)에 각각 입사하게 된다. 따라서, 센서부의 위치를 변경해가면서 방사선 스캔을 반복할 필요 없이 한번의 스캔만으로도 각 센서부(210, 220)의 방사선센서(211)에서 출력되는 광신호를 조합하여 방사선 분포의 3차원 영상을 구함으로써 구조물(5)의 내부 구조를 용이하게 파악할 수 있다.As described above, in the present embodiment, a plurality of sensor parts 210 and 220 are disposed along the circumference of the structure 5, and the radiation source guide device 251 moves the radiation source 250 along the hollow part while the radiation source 250 is disposed. When the scan is performed, the radiation isotropically irradiated from the moving radiation source 250 along the radial direction of the structure 5 passes through the structure 5 and then is disposed along the circumference of the structure 5. Incident on the radiation sensor 211 of the sensor unit (210, 220), respectively. Therefore, the three-dimensional image of the radiation distribution is obtained by combining the optical signals output from the radiation sensor 211 of each sensor unit 210 and 220 with only one scan without having to repeat the radiation scan while changing the position of the sensor unit. The internal structure of the structure 5 can be grasped | ascertained easily.

도 4는 본 발명의 제3 실시예에 따른 비파괴 검사장치의 구성을 나타내는 도면이다.4 is a view showing the configuration of a non-destructive inspection device according to a third embodiment of the present invention.

본 발명의 제3 실시예에 따른 비파괴 검사장치는, 전술한 제2 실시에에서와 같이 배관과 같이 중공부가 형성되어 있는 선형 구조물의 내부 구조를 측정하기 위한 것으로서, 도 4에 도시된 바와 같이, 구조물의(5) 외주면 상에 밀착되어 구조물(5)의 길이 방향으로 이동 가능하도록 구비되어, 입사된 방사선을 감지하여 광신호를 발생시키는 환형 센서부(310)와, 방사선을 발생시키는 방사선원(350)과, 방사선원(350)과 환형 센서부(310)를 구조물(5)의 길이 방향을 따라 동기화하여(synchronously) 이송시키는 방사선원 유도장치(351)와, 환형 센서부(310)에 광인출선(391)으로 연결되어 환형 센서부(310)로부터 출력되는 광신호를 수집하는 신호수집부(360)와, 신호수집부(360)로부터 광신호를 전달받아 위치별로 방사선량을 분석하고, 분석 결과를 사용자에게 출력해주는 분석표시부(370)를 포함하여 구성된다.The non-destructive inspection device according to the third embodiment of the present invention is for measuring the internal structure of the linear structure in which the hollow portion is formed, such as a pipe, as in the second embodiment, as shown in FIG. It is provided on the outer peripheral surface of the structure (5) to be movable in the longitudinal direction of the structure (5), the annular sensor unit 310 for detecting the incident radiation to generate an optical signal, and the radiation source 350 for generating radiation ), A radiation source induction device 351 for synchronously transferring the radiation source 350 and the annular sensor unit 310 along the longitudinal direction of the structure 5, and a light lead line 391 to the annular sensor unit 310. ) Is connected to the signal collecting unit 360 to collect the optical signal output from the annular sensor unit 310, and receives the optical signal from the signal collecting unit 360 to analyze the radiation dose for each location, the analysis result user Who prints to It is configured to include a display unit 370. The

환형 센서부(310)는 입사 방사선에 대응하는 광을 발생시키는 다수개의 방사선센서(311)와, 투명 소재로 이루어진 다수개의 광투과체(312)가 각각 하나씩 서로 번갈아가며 배열되며, 광인출선(391)과 연결되어 상기 다수개의 방사선센서(311)로부터 발생되는 광신호를 신호수집부(360) 측으로 출력하는 신호인출전극(314)이 형성되어 있어, 구조물(5)의 중공부 내에서 환형 센서부(310)에 둘러싸이는 영역 내에 위치한 방사선원(350)에서 방출하는 방사선을 각 방사선센서(311)에서 감지하여 광신호로 출력한다.The annular sensor 310 has a plurality of radiation sensors 311 for generating light corresponding to incident radiation, and a plurality of light transmitting bodies 312 made of a transparent material are alternately arranged one by one, light leader line 391 ) Is connected to the signal extraction electrode 314 for outputting the optical signals generated from the plurality of radiation sensors 311 to the signal collecting unit 360 side, the annular sensor unit in the hollow portion of the structure (5) The radiation emitted from the radiation source 350 positioned in the area surrounded by 310 is detected by each radiation sensor 311 and output as an optical signal.

이와 같이 본 실시예에서는, 방사선원(350)에서 등방적으로 조사되는 방사선이 구조물(5)을 통과하여 방사선원(350)을 둘러싸는 환형 센서부(310)의 방사선센서(311) 전체에 입사하게 된다. 따라서, 전술한 각 실시예에서는 센서부 하나에서 출력되는 광신호를 분석하면 구조물의 길이 방향에 따른 방사선 분포가 얻어지는 데 반하여, 본 실시에에서는 환형 센서부(310)에서 출력되는 광신호로부터 구조물(5)의 둘레 방향에 따른 방사선 분포를 얻을 수 있다.As described above, in this embodiment, the radiation isotropically irradiated from the radiation source 350 passes through the structure 5 and enters the entire radiation sensor 311 of the annular sensor unit 310 surrounding the radiation source 350. . Therefore, in the above-described embodiments, when the optical signal output from one sensor unit is analyzed, the radiation distribution along the longitudinal direction of the structure is obtained, whereas in the present embodiment, the structure (from the optical signal output from the annular sensor unit 310) is obtained. 5) radiation distribution along the circumferential direction can be obtained.

본 실시예에 따른 방사선센서(311)는, 전술한 각 실시예에서와 같이 섬광체 물질, 또는 OSL 물질의 센서가 사용될 수 있는데, OSL 물질의 센서인 경우에는, 환형 센서부(310)의 신호인출전극(314)에 광공급선(392)으로 연결되어 광공급선(392)을 통해 환형 센서부(310)측으로 광을 전송해주기 위한 광자극원(380)이 추가적으로 구비되어야 한다. 또한, 광자극원(380)으로부터 입사된 광이 다시 방사선센서(311)에서 발생된 광신호와 함께 광인출선(391)을 통해 신호수집부(360)로 유입되는 것을 방지하기 위하여 환형 센서부(310)의 임의 위치에 형성된 신호인출전극(314)의 일측에 거울등의 반사 물질이 부착되어 있는 반사격벽(319)을 사이에 두고 밀착되는 광투과 반사체(315)가 구비되는 것이 바람직하다.In the radiation sensor 311 according to the present embodiment, a scintillator material or a sensor of an OSL material may be used as in the above-described embodiments. In the case of the sensor of the OSL material, the signal extraction of the annular sensor unit 310 is performed. An optical stimulation source 380 is additionally provided to be connected to the electrode 314 by a light supply line 392 to transmit light to the annular sensor unit 310 through the light supply line 392. In addition, in order to prevent the light incident from the photo-stimulation source 380 is introduced back into the signal collection unit 360 through the light lead line 391 together with the optical signal generated from the radiation sensor 311 (an annular sensor unit ( On one side of the signal extraction electrode 314 formed at any position of the 310 is preferably provided with a light transmitting reflector 315 in close contact with a reflective partition wall 319 to which a reflective material such as a mirror is attached.

방사선원 유도장치(351)는 구조물의 중공부 내에서 구조물의 길이 방향으로 방사선원(350)과 환형 센서부(310)를 동기화하여 이동시킴으로써, 방사선 스캔시 방사선원(350)이 항상 환형 센서부(310)의 중심부에 위치하도록 해준다.The radiation source inducing device 351 moves in synchronization with the radiation source 350 and the annular sensor unit 310 in the longitudinal direction of the structure within the hollow part of the structure, so that the radiation source 350 is always annular sensor unit 310 during the radiation scan. To be located in the center of the

그 외에, 신호수집부(360) 및 분석표시부(370)는 그 구성 및 작용에 있어서 전술한 제 2실시예와 동일하므로, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.In addition, since the signal collecting unit 360 and the analysis display unit 370 are the same as the above-described second embodiment in the configuration and operation thereof, a detailed description thereof will be omitted.

본 실시예에서는 환형 센서부(310)가 구조물(5)의 외주면 상에 끼워진 상태로 방사선원 유도장치(351)에 의해 구조물(5)의 길이 방향을 따라 방사선원(350)과 함께 이송되므로, 특정 위치에서 구조물(5)의 둘레 방향에 따른 방사선 분포를 측정한 후, 환형 센서부(310)와 방사선원(350)을 구조물(5)의 길이 방향을 따라 다음 측정 위치로 이동시킨 후 해당 위치에서의 구조물(5) 둘레 방향에 따른 방사선 분포를 측정하는 방식으로 구조물(5)의 둘레 방향과 길이 방향에 따른 3차원적인 방사선 분포를 구할 수 있다.In this embodiment, the annular sensor unit 310 is transported together with the radiation source 350 along the longitudinal direction of the structure 5 by the radiation source induction device 351 in a state of being fitted on the outer peripheral surface of the structure 5, the specific position After measuring the radiation distribution in the circumferential direction of the structure (5), the annular sensor unit 310 and the radiation source 350 is moved to the next measurement position along the longitudinal direction of the structure (5) and then the structure at that position (5) The three-dimensional radiation distribution along the circumferential direction and the longitudinal direction of the structure 5 can be obtained by measuring the radiation distribution along the circumferential direction.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백하다 할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and changes are possible in the art without departing from the technical spirit of the present invention. It will be clear to those of ordinary knowledge.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 비파괴 검사장치의 구성을 나타내는 도면.1 is a view showing the configuration of a non-destructive inspection device according to a first embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 비파괴 검사장치를 내부 구조체가 포함된 일정 두께의 선형 구조물에 적용하였을 때 출력되는 광신호의 예를 보여주는 도면.FIG. 2 is a view showing an example of an optical signal output when the non-destructive inspection device shown in FIG. 1 is applied to a linear structure having a predetermined thickness including an internal structure.

도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 비파괴 검사장치의 구성을 나타내는 도면.3 is a view showing the configuration of a non-destructive inspection device according to a second embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 제3 실시예에 따른 비파괴 검사장치의 구성을 나타내는 도면.4 is a view showing the configuration of a non-destructive inspection device according to a third embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

5 : 구조물 110, 210, 310 : 센서부5: structure 110, 210, 310: sensor unit

111, 211, 311 : 방사선센서 112, 212, 312 : 광투과체111, 211, 311: radiation sensor 112, 212, 312: light transmitting body

150, 250, 350 : 방사선원 151, 251, 351 : 방사선원 유도장치150, 250, 350: radiation source 151, 251, 351: radiation source induction device

160, 260, 360 : 신호수집부 170, 270, 370 : 분석표시부160, 260, 360: signal collection section 170, 270, 370: analysis display section

180, 280, 380 : 광자극원 191, 291, 391 : 광인출선180, 280, 380: photostimulation sources 191, 291, 391: light leader

192, 292, 392 : 광공급선 314 : 신호인출전극192, 292, 392: light supply line 314: signal extraction electrode

319 : 반사격벽319: reflective bulkhead

Claims (11)

방사선을 이용하여 임의 형상 구조물을 비파괴적으로 측정하는 장치에 있어서,A device for nondestructively measuring arbitrary shape structures using radiation, 구조물의 표면에 밀착되어 일방향으로 연장되도록 구비되어, 입사된 방사선을 감지하여 광신호를 발생시키는 센서부(110)와;A sensor unit 110 which is provided to be in close contact with the surface of the structure and extends in one direction and detects incident radiation to generate an optical signal; 방사선을 발생시키는 방사선원(150)과;A radiation source 150 for generating radiation; 구조물을 사이에 두고 상기 센서부(110)의 반대측에서, 상기 센서부(110)가 연장된 방향과 평행하게 상기 방사선원(150)을 이송시키는 방사선원 유도장치(151)와;A radiation source induction device (151) for transferring the radiation source (150) in parallel with the direction in which the sensor portion (110) extends from the opposite side of the sensor portion (110) with a structure therebetween; 상기 센서부(110)의 일단에 형성된 신호인출단에 광인출선(191)으로 연결되어 상기 센서부(110)로부터 출력되는 광신호를 수집하는 신호수집부(160);A signal collecting unit 160 connected to the signal extracting end formed at one end of the sensor unit 110 by a light leader line 191 to collect an optical signal output from the sensor unit 110; 를 포함하여 구성되되,Consists of including 상기 센서부(110)는,The sensor unit 110, 입사 방사선에 대응하는 광을 발생시키는 다수개의 방사선센서(111)와, 투명 소재로 이루어진 다수개의 광투과체(112)가 각각 하나씩 서로 번갈아가며 배열되어 구성되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.Non-destructive inspection device, characterized in that the plurality of radiation sensors 111 for generating light corresponding to the incident radiation, and a plurality of light transmitting body (112) made of a transparent material are arranged alternately one by one each. 방사선을 이용하여 중공부가 형성되어 있는 선형 구조물을 비파괴적으로 측정하는 장치에 있어서,In the device for non-destructively measuring the linear structure in which the hollow portion is formed using radiation, 구조물의 외부에서 구조물의 길이 방향으로 연장되도록 구비되어, 입사된 방사선을 감지하여 광신호를 발생시키는 센서부와;A sensor unit provided to extend in the longitudinal direction of the structure from the outside of the structure to detect an incident radiation to generate an optical signal; 방사선을 발생시키는 방사선원(250)과;A radiation source 250 for generating radiation; 상기 방사선원(250)을 구조물의 중공부 내에서 구조물의 길이 방향을 따라 이송시키는 방사선원 유도장치(251)와;A radiation source inducing device 251 for transferring the radiation source 250 along the longitudinal direction of the structure within the hollow portion of the structure; 상기 센서부의 일단에 형성된 신호인출단에 광인출선(291)으로 연결되어 상기 센서부로부터 출력되는 광신호를 수집하는 신호수집부(260);A signal collecting unit 260 connected to a signal extraction end formed at one end of the sensor unit by a light leader line 291 to collect an optical signal output from the sensor unit; 를 포함하여 구성되되,Consists of including 상기 센서부는,The sensor unit, 입사 방사선에 대응하는 광을 발생시키는 다수개의 방사선센서(211)와, 투명 소재로 이루어진 다수개의 광투과체(212)가 각각 하나씩 서로 번갈아가며 배열되어 구성되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.A non-destructive inspection device, characterized in that the plurality of radiation sensors 211 for generating light corresponding to the incident radiation, and a plurality of light transmitting bodies 212 made of a transparent material are arranged alternately one by one each. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 센서부는,The sensor unit, 구조물의 둘레를 따라 각기 다른 위치에 배치되는 다수개의 선형 센서부(210, 220)로 구성되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.Non-destructive inspection device, characterized in that consisting of a plurality of linear sensor unit 210, 220 disposed in different positions along the circumference of the structure. 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 방사선센서는,The radiation sensor, 섬광체 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.Non-destructive testing device, characterized in that made of a scintillator material. 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 방사선센서는,The radiation sensor, 광자극형광(Optically Stimulated Luminescence; OSL) 물질로 이루어지고,Made up of Optically Stimulated Luminescence (OSL) material, 상기 비파괴 검사장치는,The non-destructive inspection device, 상기 센서부의 신호인출단과 광공급선으로 연결되어 상기 광공급선을 통해 상기 센서부측으로 광을 전송해주기 위한 광자극원을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.And a light stimulation source connected to the signal extraction end of the sensor unit and a light supply line to transmit light to the sensor unit through the light supply line. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 센서부의 타단에는,At the other end of the sensor unit, 파장에 따라 광을 투과 또는 반사시키는 광투과 반사체가 구비되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.Non-destructive inspection device, characterized in that provided with a light transmission reflector for transmitting or reflecting light according to the wavelength. 방사선을 이용하여 중공부가 형성되어 있는 선형 구조물을 비파괴적으로 측정하는 장치에 있어서,In the device for non-destructively measuring the linear structure in which the hollow portion is formed using radiation, 구조물의 외주면 상에 밀착되어 구조물의 길이 방향으로 이동 가능하도록 구비되어, 입사된 방사선을 감지하여 광신호를 발생시키는 환형 센서부(310)와;An annular sensor unit 310 disposed on the outer circumferential surface of the structure to be movable in the longitudinal direction of the structure and detecting an incident radiation to generate an optical signal; 방사선을 발생시키는 방사선원(350)과;A radiation source 350 for generating radiation; 상기 방사선원(350)과 상기 환형 센서부(310)를 구조물(5)의 길이 방향을 따라 동기화하여(synchronously) 이송시키는 방사선원 유도장치(351)와;A radiation source inducing device (351) for synchronously transferring the radiation source (350) and the annular sensor unit (310) along the longitudinal direction of the structure (5); 상기 환형 센서부(310)에 광인출선(391)으로 연결되어 환형 센서부(310)로부터 출력되는 광신호를 수집하는 신호수집부(360)와;A signal collecting unit 360 connected to the annular sensor unit 310 by a light leader line 391 to collect an optical signal output from the annular sensor unit 310; 를 포함하여 구성되되,Consists of including 상기 환형 센서부(310)는,The annular sensor unit 310, 입사 방사선에 대응하는 광을 발생시키는 다수개의 방사선센서(311)와, 투명 소재로 이루어진 다수개의 광투과체(312)가 각각 하나씩 서로 번갈아가며 배열되며, 상기 광인출선(391)과 연결되어 상기 다수개의 방사선센서(311)로부터 발생되는 광신호를 출력하는 신호인출전극(314)이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.A plurality of radiation sensors 311 for generating light corresponding to incident radiation and a plurality of light transmitting bodies 312 made of a transparent material are alternately arranged one by one, and are connected to the light leader line 391 and the plurality of radiation sensors 311. Non-destructive inspection device, characterized in that the signal extraction electrode (314) for outputting the optical signal generated from the two radiation sensor (311). 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 방사선센서(311)는,The radiation sensor 311, 섬광체 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.Non-destructive testing device, characterized in that made of a scintillator material. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 방사선센서(311)는,The radiation sensor 311, 광자극형광(Optically Stimulated Luminescence; OSL) 물질로 이루어지고,Made up of Optically Stimulated Luminescence (OSL) material, 상기 비파괴 검사장치는,The non-destructive inspection device, 상기 센서부(310)의 신호인출전극(314)과 광공급선(392)으로 연결되어 상기 광공급선(392)을 통해 상기 센서부(310)측으로 광을 전송해주기 위한 광자극원(380)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.The signal stimulating electrode 314 of the sensor 310 and the light supply line 392 is connected to the light stimulation source 380 for transmitting the light to the sensor unit 310 side through the light supply line 392 Non-destructive inspection device comprising a. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 비파괴 검사장치는,The non-destructive inspection device, 반사 물질이 부착되어 있는 반사격벽(319)을 사이에 두고 상기 신호인출전극(314)의 일측에 밀착되어, 파장에 따라 광을 투과 또는 반사시키는 광투과 반사체(315)를 구비하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.It is characterized in that it comprises a light transmitting reflector 315 is in close contact with one side of the signal extraction electrode 314 with a reflective partition wall 319 to which the reflective material is attached, and transmits or reflects light depending on the wavelength. Non-destructive testing device. 제 1항, 제 2항, 제 3항 및 제 7항 중의 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1, 2, 3 and 7, 상기 비파괴 검사장치는,The non-destructive inspection device, 상기 신호수집부에 연결되어 상기 신호수집부로부터 전달되는 광신호를 분석하고, 분석 결과를 사용자에게 출력해주는 분석표시부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사장치.And an analysis display unit connected to the signal collecting unit for analyzing an optical signal transmitted from the signal collecting unit and outputting an analysis result to a user.
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