KR20090052488A - Apparatus and method of fabricating substrate - Google Patents

Apparatus and method of fabricating substrate Download PDF

Info

Publication number
KR20090052488A
KR20090052488A KR1020070119009A KR20070119009A KR20090052488A KR 20090052488 A KR20090052488 A KR 20090052488A KR 1020070119009 A KR1020070119009 A KR 1020070119009A KR 20070119009 A KR20070119009 A KR 20070119009A KR 20090052488 A KR20090052488 A KR 20090052488A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
gate
signal transmission
transmission member
coating
Prior art date
Application number
KR1020070119009A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR100933027B1 (en
Inventor
윤순영
이연
Original Assignee
세메스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 세메스 주식회사 filed Critical 세메스 주식회사
Priority to KR1020070119009A priority Critical patent/KR100933027B1/en
Publication of KR20090052488A publication Critical patent/KR20090052488A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100933027B1 publication Critical patent/KR100933027B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D7/00Processes, other than flocking, specially adapted for applying liquids or other fluent materials to particular surfaces or for applying particular liquids or other fluent materials
    • B05D7/02Processes, other than flocking, specially adapted for applying liquids or other fluent materials to particular surfaces or for applying particular liquids or other fluent materials to macromolecular substances, e.g. rubber
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/133509Filters, e.g. light shielding masks
    • G02F1/133514Colour filters
    • G02F1/133516Methods for their manufacture, e.g. printing, electro-deposition or photolithography
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254Checking; Testing

Abstract

기판 제조 장치는 기판과 신호전송 부재 간의 결합 상태를 검사하는 촬상부와 도포부의 상부에 배치되어 보호막을 형성하는 도포부를 구비한다. 이와 같이, 도포부가 촬상부의 상부에 배치되므로, 기판 제조 장치는 공간 활용률을 향상시키고, 제조 원가를 절감하며, 생산성을 향상시킬 수 있다.The substrate manufacturing apparatus includes an imaging unit for inspecting a bonding state between the substrate and the signal transmission member and an application unit disposed on the application unit to form a protective film. In this way, since the coating unit is disposed above the imaging unit, the substrate manufacturing apparatus can improve the space utilization rate, reduce the manufacturing cost, and improve the productivity.

Description

기판 제조 장치 및 그 방법{APPARATUS AND METHOD OF FABRICATING SUBSTRATE}Substrate manufacturing apparatus and its method {APPARATUS AND METHOD OF FABRICATING SUBSTRATE}

본 발명은 평판 표시 장치를 제조하는 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 영상처리장치용 기판의 압흔 검사와 실리콘 도포를 수행하는 기판 제조 장치 및 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for manufacturing a flat panel display, and more particularly, to a substrate manufacturing apparatus and method for performing indentation inspection and silicon coating of a substrate for an image processing apparatus.

최근 들어, 정보 처리 기기는 다양한 형태의 기능과 더욱 빨라진 정보 처리 속도를 갖도록 급속하게 발전하고 있다. 이러한 정보 처리 장치는 소정의 정보를 표시하는 표시패널(display panel)을 갖는다. 지금까지 표시패널로는 주로 브라운관(cathode ray tube) 모니터가 사용되었으나, 최근에는 기술의 급속한 발전에 따라 가볍고 공간을 작게 차지하는 액정표시장치(LCD)와 같은 평판표시장치의 사용이 급격히 증대하고 있다.Recently, information processing devices have been rapidly developed to have various types of functions and faster information processing speeds. Such an information processing apparatus has a display panel which displays predetermined information. Until now, a cathode ray tube monitor has been mainly used as a display panel. However, in recent years, with the rapid development of technology, the use of flat panel display devices such as liquid crystal displays (LCDs), which are light and occupy small space, is rapidly increasing.

일반적으로, 액정표시장치는 게이트 신호와 데이터 신호를 제공받아 영상을 표시하는 액정표시패널을 구비한다. 액정표시패널의 게이트 측에는 다수의 게이트 테이프 캐리어 패키지(Tape Carrier Package : 이하, TCP)가 부착되고, 소오스 측에는 다수의 데이터 TCP가 부착된다. 게이트 TCP들은 액정표시패널에 게이트 신호 를 출력하고, 데이터 TCP들은 액정표시패널에 데이터 신호를 출력한다.In general, a liquid crystal display includes a liquid crystal display panel that receives a gate signal and a data signal to display an image. A plurality of gate tape carrier packages (TCPs) are attached to the gate side of the liquid crystal display panel, and a plurality of data TCPs are attached to the source side. The gate TCPs output a gate signal to the liquid crystal display panel, and the data TCPs output a data signal to the liquid crystal display panel.

이러한 액정표시장치를 제조하는 공정은 게이트 및 데이터 TCP들과 액정표시패널의 결합 오류를 검사하는 압흔 검사 공정과 게이트 TCP와 데이터 TCP의 각 출력 리드선에 보호막을 형성하는 보호막 코팅 공정을 포함한다.The manufacturing process of the liquid crystal display includes an indentation inspection process for inspecting a coupling error between the gate and data TCPs and the liquid crystal display panel, and a protective film coating process for forming a protective film on each output lead of the gate TCP and data TCP.

일반적으로, 압흔 검사 공정을 위한 장치와 보호막 코팅 공정을 위한 장치는 별도의 공간에 각각 설치되므로, 공간 활용률이 저하된다. 또한, 압흔 검사 공정과 보호막 코팅 공정이 순차적으로 이루어지며, 압흔 검사에 많은 시간이 소요된다. 이로 인해, 공정 시간이 증가하고, 생산성이 저하된다.In general, the device for the indentation inspection process and the device for the protective film coating process is installed in a separate space, respectively, the space utilization rate is lowered. In addition, the indentation inspection process and the protective film coating process is made sequentially, it takes a lot of time for the indentation inspection. For this reason, process time increases and productivity falls.

본 발명의 목적은 공간 활용률을 향상시킬 수 있는 기판 제조 장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a substrate manufacturing apparatus capable of improving the space utilization.

또한, 본 발명의 다른 목적은 상기한 기판 제조 장치를 이용하여 기판을 제조하는 방법을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a substrate using the substrate manufacturing apparatus described above.

상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 하나의 특징에 따른 기판 제조 장치는, 기판에 신호를 출력하는 신호전송 부재가 부착된 기판을 제조하고, 워크벤치와 적어도 하나의 도포부 및 적어도 하나의 촬상부로 이루어진다.According to one aspect of the present invention, there is provided a substrate manufacturing apparatus comprising: a substrate having a signal transmission member for outputting a signal to the substrate; It is made of wealth.

구체적으로, 워크벤치는 상기 기판이 안착된다. 도포부는 상기 워크벤치에 놓인 기판의 상부에 배치되고, 상기 신호전송 부재와 상기 기판에 상기 신호전송 부재의 리드선을 보호하기 위한 보호막을 코팅한다. 촬상부는 상기 워크벤치의 하부에 배치되고, 상기 기판과 상기 신호전송 부재의 결합 상태를 검사한다.Specifically, the workbench is seated on the substrate. The applicator is disposed on the substrate placed on the workbench, and coats the protective film for protecting the lead wire of the signal transmission member and the substrate. The imaging unit is disposed under the workbench and inspects a coupling state between the substrate and the signal transmission member.

여기서, 상기 도포부와 상기 촬상부는 동시에 구동된다.Here, the applicator and the imaging unit are driven at the same time.

또한, 상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 하나의 특징에 따른 기판 제조 방법은 다음과 같다. 먼저, 상기 기판을 워크벤치에 안착시킨다. 이어, 상기 기판과 상기 신호전송 부재 간의 결합 상태를 검사하고, 이와 동시에, 상기 신호전송 부재의 리드선을 보호하기 위한 보호막을 상기 기판과 상기 신호전송 부재에 코팅한다.In addition, the substrate manufacturing method according to one feature for realizing the above object of the present invention is as follows. First, the substrate is placed on the workbench. Then, the bonding state between the substrate and the signal transmission member is inspected, and at the same time, a protective film for protecting the lead wire of the signal transmission member is coated on the substrate and the signal transmission member.

여기서, 상기 기판과 상기 신호전송 부재의 결합 상태 검사는 상기 기판의 하부에 배치된 적어도 하나의 촬상부를 이용하여 이루어지고, 상기 보호막의 코팅은 상기 기판의 상부에 배치된 적어도 하나의 도포부를 이용하여 이루어진다.Here, the bonding state inspection of the substrate and the signal transmission member is performed by using at least one imaging unit disposed under the substrate, and the coating of the protective layer is performed by using at least one coating unit disposed on the substrate. Is done.

또한, 상기 신호전송 부재는 도전 입자들을 갖는 이방성 도전 부재를 매개로 하여 상기 기판에 부착된다.In addition, the signal transmission member is attached to the substrate via an anisotropic conductive member having conductive particles.

상기 기판과 상기 신호전송 부재의 결합 상태 검사와 상기 보호막을 코팅하는 과정을 살펴보면 다음과 같다. 상기 촬상부를 상기 신호전송 부재가 부착된 상기 기판의 본딩 영역을 따라 이동시키면서 상기 도전 입자들에 의해 상기 기판에 형성된 압흔을 상기 기판의 배면에서 촬상한다. 이와 동시에, 상기 코팅부를 상기 본딩 영역을 따라 이동시키면서 실리콘을 토출하여 상기 신호전송 부재와 상기 기판에 상기 보호막을 형성한다.Looking at the bonding state of the substrate and the signal transmission member and the process of coating the protective film as follows. The indentation formed on the substrate by the conductive particles is imaged on the rear surface of the substrate while the imaging unit is moved along the bonding region of the substrate to which the signal transmission member is attached. At the same time, the protective layer is formed on the signal transmission member and the substrate by discharging silicon while moving the coating unit along the bonding region.

상술한 본 발명에 따르면, 압흔 검사와 보호막의 코팅이 동시에 이루어지므로, 공정 시간이 단축되고, 생산성이 향상된다. 또한, 압흔 검사를 하는 촬상부가 보호막을 코팅하는 도포부의 아래에 배치되므로, 공간 활용률을 향상시키고, 제조 원가를 절감할 수 있다.According to the present invention described above, since the indentation inspection and the coating of the protective film are simultaneously performed, the process time is shortened and the productivity is improved. In addition, since the imaging unit for indentation inspection is disposed under the coating unit for coating the protective film, it is possible to improve the space utilization rate and reduce the manufacturing cost.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치 제조 시스템을 나타낸 평면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 표시장치 제조 시스템에 제공되는 액정표시장치를 나타낸 평면도이다.1 is a plan view illustrating a display device manufacturing system according to an exemplary embodiment, and FIG. 2 is a plan view illustrating a liquid crystal display device provided in the display device manufacturing system of FIG. 1.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 표시장치 제조 시스템(500)은 영상을 표시하는 액정표시장치(100)를 제조한다. 이하, 도 2 내지 도 4를 참조하여 상기 액정표시장치(100)에 대해 설명한 후 상기 표시장치 제조 시스템(500)의 구성에 대해 구체적으로 설명한다.1 and 2, the display device manufacturing system 500 of the present invention manufactures a liquid crystal display device 100 displaying an image. Hereinafter, the liquid crystal display device 100 will be described with reference to FIGS. 2 to 4, and then the configuration of the display device manufacturing system 500 will be described in detail.

도 3은 도 2의 절단선 I-I'에 따른 단면도이고, 도 4는 도 2의 절단선 Ⅱ-Ⅱ'에 따른 단면도이다.3 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 2, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along the line II-II ′ of FIG. 2.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 상기 액정표시장치(100)는 상기 영상을 표시하는 액정표시패널(110), 게이트 신호를 출력하는 다수의 게이트 테이프 캐리어 패키지(Tape Carrier Package : 이하, TCP), 및 데이터 신호를 출력하는 다수의 데이터 TCP를 포함한다.2 to 4, the liquid crystal display device 100 includes a liquid crystal display panel 110 displaying the image, a plurality of gate tape carrier packages (hereinafter, TCP) outputting a gate signal, And a plurality of data TCPs for outputting data signals.

상기 액정표시패널(110)은 상기 게이트 TCP들로부터 상기 게이트 신호를 입력받고 상기 데이터 TCP들로부터 상기 데이터 신호를 입력받아 상기 영상을 표시한다. 구체적으로, 상기 액정표시패널(110)은 어레이 기판(111), 상기 어레이 기판(111)과 마주하는 대향 기판(112), 및 상기 어레이 기판(111)과 상기 대향 기판(112)과의 사이에 개재된 액정층(113)을 구비한다.The liquid crystal display panel 110 receives the gate signal from the gate TCPs and the data signal from the data TCPs to display the image. Specifically, the liquid crystal display panel 110 includes an array substrate 111, an opposing substrate 112 facing the array substrate 111, and the array substrate 111 and the opposing substrate 112. The interposed liquid crystal layer 113 is provided.

상기 어레이 기판(111)은 제1 베이스 기판(111a), 상기 게이트 신호를 전송하는 다수의 게이트 라인, 및 상기 데이터 신호를 전송하는 다수의 데이터 라인을 포함한다.The array substrate 111 includes a first base substrate 111a, a plurality of gate lines for transmitting the gate signal, and a plurality of data lines for transmitting the data signal.

상기 각 게이트 라인(111b)은 상기 제1 베이스 기판(111a)의 상면에 형성되고, 상기 게이트 라인(111b)의 패드부는 상기 게이트 TCP(120)와 전기적으로 연결되어 상기 게이트 신호를 제공받는다.Each gate line 111b is formed on an upper surface of the first base substrate 111a, and a pad portion of the gate line 111b is electrically connected to the gate TCP 120 to receive the gate signal.

상기 게이트 라인들이 형성된 상기 제1 베이스 기판(111a)의 상면에는 게이트 절연막(111c)이 형성되고, 상기 게이트 절연막(111c)의 상면에는 상기 데이터 라인들이 형성된다. 상기 각 데이터 라인(111d)은 상기 게이트 라인(111b)의 길이 방향과 직교하는 방향으로 연장되어 형성되고, 상기 게이트 라인(111b)의 길이 방향으로 배치된다. 상기 데이터 라인(111d)의 패드부는 상기 데이터 TCP(130)와 전기적으로 연결되어 상기 데이터 신호를 제공받는다.A gate insulating layer 111c is formed on an upper surface of the first base substrate 111a on which the gate lines are formed, and the data lines are formed on an upper surface of the gate insulating layer 111c. Each of the data lines 111d extends in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the gate line 111b and is disposed in the longitudinal direction of the gate line 111b. The pad part of the data line 111d is electrically connected to the data TCP 130 to receive the data signal.

도면에는 도시하지 않았으나, 상기 어레이 기판(111)은 상기 게이트 라인들 및 상기 데이터 라인들과 연결된 다수의 박막 트랜지스터가 형성된다. 상기 박막 트랜지스터들은 상기 제1 베이스 기판(111a) 상에 어레이 형태로 배치되고, 화소 전압을 스위칭한다.Although not shown in the drawing, the array substrate 111 includes a plurality of thin film transistors connected to the gate lines and the data lines. The thin film transistors are arranged in an array on the first base substrate 111a and switch pixel voltages.

상기 데이터 라인들의 형성된 상기 게이트 절연막(111c)의 상면에는 적어도 하나의 절연막(111e)이 형성된다. 상기 절연막(111e)의 상부에는 다수의 화소 전극이 형성되고, 각 화소전극(111f)은 상기 박막 트랜지스터로부터 상기 화소 전압을 인가받는다.At least one insulating layer 111e is formed on an upper surface of the gate insulating layer 111c on which the data lines are formed. A plurality of pixel electrodes are formed on the insulating layer 111e, and each pixel electrode 111f receives the pixel voltage from the thin film transistor.

상기 어레이 기판(111)의 상부에는 상기 대향 기판(112)이 구비된다. 상기 대향 기판(112)은 제2 베이스 기판(112a), 상기 제2 베이스 기판(112a) 상에 형성 되고 광을 이용하여 소정의 색을 발현하는 컬러필터(112b), 및 상기 컬러필터(112b) 상에 형성되어 공통 전압을 인가받는 공통 전극(112c)을 포함한다.The opposing substrate 112 is provided on the array substrate 111. The opposing substrate 112 is formed on the second base substrate 112a, the second base substrate 112a, the color filter 112b expressing a predetermined color using light, and the color filter 112b. It is formed on the common electrode 112c is applied to the common voltage.

상기 액정층(113)은 상기 화소 전극들과 상기 공통 전극(112c)과의 사이에 형성된 전계에 따라 광 투과율을 조절하고, 조절된 광을 상기 컬러필터(112b)에 제공한다. 이로써, 상기 영상이 표시된다.The liquid crystal layer 113 adjusts light transmittance according to an electric field formed between the pixel electrodes and the common electrode 112c, and provides the adjusted light to the color filter 112b. Thus, the image is displayed.

상기 어레이 기판(111)의 단부에는 상기 게이트 TCP들과 상기 데이터 TCP들이 부착된다.The gate TCPs and the data TCPs are attached to an end portion of the array substrate 111.

구체적으로, 상기 게이트 TCP들은 상기 어레이 기판(111)의 게이트 영역들(GA1, GA2)에 부착되고, 상기 게이트 영역들(GA1, GA2)에는 상기 게이트 라인들의 패드부들이 형성된다. 이 실시예에 있어서, 상기 어레이 기판(111)은 두 개의 게이트 영역(GA1, GA2)을 구비하고, 상기 게이트 TCP들은 상기 게이트 라인(111b)의 양 단부에 위치한다. 그러나, 상기 어레이 기판(111)은 하나의 게이트 영역(GA1)을 구비할 수도 있다. 이러한 경우, 상기 게이트 TCP들은 상기 게이트 라인(111b)의 일 단부에만 위치한다.In detail, the gate TCPs are attached to gate regions GA1 and GA2 of the array substrate 111, and pad portions of the gate lines are formed in the gate regions GA1 and GA2. In this embodiment, the array substrate 111 has two gate regions GA1 and GA2, and the gate TCPs are located at both ends of the gate line 111b. However, the array substrate 111 may also include one gate region GA1. In this case, the gate TCPs are located only at one end of the gate line 111b.

각 게이트 TCP(120)는 제1 베이스 필름(121), 상기 제1 베이스 필름(121) 상에 형성된 다수의 게이트 리드선, 및 게이트 칩(123)을 포함한다. 각 게이트 리드선(122)은 상기 게이트 칩(123)으로부터 상기 게이트 신호를 입력받아 출력한다.Each gate TCP 120 includes a first base film 121, a plurality of gate lead lines formed on the first base film 121, and a gate chip 123. Each gate lead line 122 receives the gate signal from the gate chip 123 and outputs the gate signal.

상기 게이트 TCP(120)와 상기 어레이 기판(111)과의 사이에는 이방성 도전필름(Anisotropic Conductive Film : ACF)(140)이 개재되어 상기 게이트 TCP(120)와 상기 게이트 라인(111b)을 도전시킨다. 상기 게이트 라인(111b)의 패드부와 상기 이방성 도전필름(140)과의 사이에는 게이트 패드 전극(GPE)가 형성된다. 상기 게이트 패드 전극(GPE)은 인듐 틴 옥사이드(Indium Tin Oxide: ITO) 또는 인듐 징크 옥사이드(Indium Zinc Oxide: IZO)와 같은 투명한 도전성 물질로 이루어진다. 상기 게이트 리드선(122)으로부터 출력된 상기 게이트 신호는 상기 이방성 도전필름(140) 및 상기 게이트 패드 전극(GPE)을 통해 상기 게이트 라인(111b)의 패드부에 인가된다.An anisotropic conductive film (ACF) 140 is interposed between the gate TCP 120 and the array substrate 111 to electrically conduct the gate TCP 120 and the gate line 111b. A gate pad electrode GPE is formed between the pad portion of the gate line 111b and the anisotropic conductive film 140. The gate pad electrode GPE is made of a transparent conductive material such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO). The gate signal output from the gate lead line 122 is applied to the pad portion of the gate line 111b through the anisotropic conductive film 140 and the gate pad electrode GPE.

상기 어레이 기판(111)의 소오스 영역(SA)에는 상기 데이터 TCP들이 부착된다. 상기 데이터 TCP(130)는 제2 베이스 필름(131), 상기 제2 베이스 필름(131) 상에 형성된 다수의 데이터 리드선, 및 데이터 칩(133)을 포함한다. 각 데이터 리드선(132)은 상기 데이터 칩(133)으로부터 상기 데이터 신호를 입력받아 출력한다.The data TCPs are attached to the source area SA of the array substrate 111. The data TCP 130 includes a second base film 131, a plurality of data leads formed on the second base film 131, and a data chip 133. Each data lead line 132 receives the data signal from the data chip 133 and outputs the data signal.

상기 데이터 TCP(130)와 상기 어레이 기판(111)과의 사이에는 상기 이방성 도전필름(140)이 개재되어 상기 데이터 TCP(130)와 상기 데이터 라인(111d)을 도전시킨다. 상기 데이터 라인(111d)의 패드부와 상기 이방성 도전필름(140)과의 사이에는 데이터 패드 전극(DPE)가 형성된다. 상기 데이터 패드 전극(DPE)은 상기 게이트 패드 전극(GPE)과 동일한 재질로 이루어진다. 상기 데이터 리드선(132)으로부터 출력된 상기 데이터 신호는 상기 이방성 도전필름(140) 및 상기 데이터 패드 전극(DPE)을 통해 상기 데이터 라인(111d)의 패드부에 인가된다.The anisotropic conductive film 140 is interposed between the data TCP 130 and the array substrate 111 to electrically conduct the data TCP 130 and the data line 111d. The data pad electrode DPE is formed between the pad portion of the data line 111d and the anisotropic conductive film 140. The data pad electrode DPE is made of the same material as the gate pad electrode GPE. The data signal output from the data lead line 132 is applied to the pad portion of the data line 111d through the anisotropic conductive film 140 and the data pad electrode DPE.

다시, 도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 표시장치 제조 시스템(500)은 워크벤치(200), 도포 모듈(300), 및 검사 모듈을 포함한다.Referring back to FIGS. 1 and 2, the display device manufacturing system 500 includes a workbench 200, an application module 300, and an inspection module.

구체적으로, 상기 워크벤치(200)는 평면상에서 볼 때 일부분이 오픈 된 사각 링 형상을 갖고, 상기 액정표시장치(100)를 지지한다. 도 1에서 도면 번호 PA는 상기 액정표시장치(100)의 액정표시패널(110)이 안착되는 영역을 나타낸다.In detail, the work bench 200 has a rectangular ring shape with a portion thereof open in plan view, and supports the liquid crystal display device 100. In FIG. 1, reference numeral PA denotes a region in which the liquid crystal display panel 110 of the liquid crystal display device 100 is seated.

상기 워크벤치(200)의 외측에는 상기 도포 모듈(300)과 상기 검사 모듈이 설치된다. 이하, 도 5 및 도 6을 참조하여 상기 도포 모듈(300)과 상기 검사 모듈의 구성에 대해 구체적으로 설명한다.The coating module 300 and the inspection module are installed outside the work bench 200. Hereinafter, the configuration of the application module 300 and the inspection module will be described in detail with reference to FIGS. 5 and 6.

도 5는 도 1에 도시된 도포 모듈과 검사 모듈을 나타낸 사시도이고, 도 6은 도 1에 도시된 표시장치 제조 시스템을 나타낸 단면도이다.5 is a perspective view illustrating an application module and an inspection module illustrated in FIG. 1, and FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a display device manufacturing system illustrated in FIG. 1.

도 1 및 도 5를 참조하면, 상기 도포 모듈(300)은 제1, 제2 및 제3 도포 유닛(310, 320, 330)을 포함하고, 상기 게이트 TCP(120)(도 2 참조)와 상기 데이터 TCP(130)(도 2 참조)를 보호하기 위한 보호막을 형성한다.1 and 5, the application module 300 includes first, second and third application units 310, 320, and 330, and the gate TCP 120 (see FIG. 2) and the A protective film for protecting the data TCP 130 (see Fig. 2) is formed.

이 실시예에 있어서, 상기 도포 모듈(300)은 세 개의 도포 유닛(310, 320, 330)을 구비하나, 상기 도포 유닛(310, 320, 330)의 개수는 상기 액정표시장치(100)(도 2 참조)의 크기와 상기 게이트 및 데이터 TCP들(120, 130)(도 2 참조)이 부착된 영역에 따라 증가하거나 감소할 수도 있다.In this embodiment, the coating module 300 includes three coating units 310, 320, 330, but the number of the coating units 310, 320, 330 is the liquid crystal display device 100 (Fig. 2) may increase or decrease depending on the size and the area where the gate and data TCPs 120, 130 (see FIG. 2) are attached.

평면상에서 볼 때, 상기 제1 및 제2 도포 유닛(310, 320)은 상기 워크벤치(200)를 사이에 두고 서로 마주하며, 상기 워크벤치(200)의 양 단변(210, 220) 측에 각각 배치된다. 상기 제3 도포 유닛(330)은 상기 워크벤치(300)의 장변(230) 측에 배치되고, 양 단부가 상기 제1 및 제2 도포 유닛(310, 320)과 각각 인접한다.When viewed in a plan view, the first and second coating units 310 and 320 face each other with the work bench 200 therebetween, respectively, on both short sides 210 and 220 of the work bench 200. Is placed. The third coating unit 330 is disposed on the long side 230 side of the workbench 300, and both ends thereof are adjacent to the first and second coating units 310 and 320, respectively.

상기 제1 도포 유닛(310)은 가이드 프레임(311)과 이동부(312) 및 도포부(313)를 포함한다.The first coating unit 310 may include a guide frame 311, a moving part 312, and an coating part 313.

구체적으로, 상기 가이드 프레임(311)은 상기 워크벤치(200)의 제1 단변(220)과 인접하게 위치하고, 상면이 상기 워크벤치(200)의 제1 단변(220)과 동일한 방향으로 연장된다. 상기 가이드 프레임(311)의 측면에는 가이드 레일(311a)이 형성되고, 상기 가이드 레일(311a)은 상기 가이드 프레임(311)의 길이 방향을 따라 연장되어 형성된다.In detail, the guide frame 311 is positioned adjacent to the first short side 220 of the work bench 200 and has an upper surface extending in the same direction as the first short side 220 of the work bench 200. A guide rail 311a is formed at a side surface of the guide frame 311, and the guide rail 311a extends along the length direction of the guide frame 311.

상기 이동부(312)는 상기 가이드 프레임(311)에 결합되고, 상기 가이드 레일(311a)을 따라 이동한다. 상기 이동부(312)는 연결부(31), 수직바(32) 및 수평바(33)를 포함한다. 상기 연결부(31)는 고리 형상을 갖고, 양 단부가 상기 가이드 레일(311a)에 결합되어 상기 가이드 레일(311a)을 따라 이동한다. 상기 수직바(32)는 상기 연결부(31)의 상면으로부터 수직하게 연장되어 막대 형상을 갖고, 상기 수평바(33)는 상기 수직바(32)의 일 측면으로부터 연장되어 상기 워크벤치(200)와 마주한다. 상기 수평바(33)는 상하로 이동하여 상기 수직바(32)와의 상대적인 위치가 변경된다.The moving part 312 is coupled to the guide frame 311 and moves along the guide rail 311a. The moving part 312 includes a connection part 31, a vertical bar 32, and a horizontal bar 33. The connection portion 31 has a ring shape, and both ends thereof are coupled to the guide rail 311a to move along the guide rail 311a. The vertical bar 32 extends vertically from the top surface of the connecting portion 31 to have a rod shape, and the horizontal bar 33 extends from one side of the vertical bar 32 to the workbench 200. Face to face The horizontal bar 33 moves up and down to change its position relative to the vertical bar 32.

도 5 및 도 6을 참조하면, 상기 수평바(33)의 일 단부에는 상기 도포부(312)가 구비된다. 상기 도포부(312)는 상기 워크벤치(200)의 상부에서 상기 워크벤치(200)와 마주하게 배치되고, 상기 워크벤치(200)에 안착된 액정표시패널(110)의 상부에 배치된다.5 and 6, the application part 312 is provided at one end of the horizontal bar 33. The applicator 312 may be disposed to face the work bench 200 at an upper portion of the work bench 200, and may be disposed at an upper portion of the liquid crystal display panel 110 seated on the work bench 200.

이 실시예에 있어서, 상기 도포부(312)는 상기 워크벤치(200)의 상부에 배치되나, 상기 워크벤치(200)의 하부에 배치될 수도 있다.In this embodiment, the applicator 312 is disposed above the work bench 200, but may be disposed below the work bench 200.

상기 도포부(312)는 상기 게이트 TCP(120)가 부착된 상기 액정표시패널(110) 의 본딩 영역(BA)을 따라 이동하면서 실리콘(30)을 토출하여 상기 액정표시장치(100)에 상기 보호막을 형성한다.The coating part 312 moves along the bonding area BA of the liquid crystal display panel 110 to which the gate TCP 120 is attached and discharges silicon 30 to the protective layer 100 on the liquid crystal display device 100. To form.

즉, 상기 실리콘(30) 코팅 시, 상기 이동부(312)는 상기 가이드 프레임(311)의 가이드 레일(311a)을 따라 이동하고, 이에 따라, 상기 이동부(312)에 연결된 도포부(312)가 상기 액정표시패널(110)의 본딩 영역(BA)을 따라 이동한다. 따라서, 상기 실리콘(30)이 상기 액정표시패널(100)과 상기 게이트 TCP(120)에 코팅된다. 또한, 상기 도포부(312)는 상기 수평바(33)의 상하 이동에 의해 상기 액정표시패널(110)과의 거리가 조절된다.That is, when the silicon 30 is coated, the moving part 312 moves along the guide rail 311a of the guide frame 311, and thus, the coating part 312 connected to the moving part 312. Moves along the bonding area BA of the liquid crystal display panel 110. Therefore, the silicon 30 is coated on the liquid crystal display panel 100 and the gate TCP 120. In addition, the applicator 312 may adjust the distance from the liquid crystal display panel 110 by vertically moving the horizontal bar 33.

이 실시예에 있어서, 상기 제1 도포 유닛(310)은 하나의 이동부(312)와 하나의 도포부(313)를 구비하나, 상기 도포부 상기 액정표시패널(110)의 크기 및 공정 효율에 따라 증가할 수도 있다.In the present exemplary embodiment, the first coating unit 310 includes one moving part 312 and one coating part 313, but the coating part has a size and a process efficiency of the liquid crystal display panel 110. It may increase accordingly.

또한, 이 실시예에 있어서, 상기 제2 및 제3 도포 유닛(320, 330)은 상기 제1 도포 유닛(310)과 동일한 구성을 가지므로, 그 중복된 설명은 생략한다. 단, 상기 제3 도포 유닛(330)은 공정 효율 및 공정 시간 단축을 위해 상기 제1 도포 유닛(310)과 달리 두 개의 이동부(332a, 332b)와 두 개의 도포부(333a, 333b)를 구비한다. 이는, 상기 액정표시패널(110)의 소오스 측이 게이트측 보다 더 길고, 상기 제3 도포 유닛(330)이 상기 액정표시패널(110)의 소오스측에 배치되어 상기 액정표시패널(110)의 소오스측에 상기 보호막을 형성하기 때문이다. 이하, 설명의 편의를 위해, 상기 제1 및 제2 도포 유닛(310, 320)의 도포부들(313, 323)을 게이트 도포부들(313, 323)이라 하고, 상기 제3 도포 유닛(330)의 도포부들(333a, 333b)을 소 오스 도포부들(333a, 333b)이라 한다.In addition, in this embodiment, since the second and third coating unit 320, 330 has the same configuration as the first coating unit 310, the duplicated description thereof will be omitted. However, unlike the first coating unit 310, the third coating unit 330 includes two moving parts 332a and 332b and two coating parts 333a and 333b to reduce process efficiency and process time. do. The source side of the liquid crystal display panel 110 is longer than the gate side, and the third coating unit 330 is disposed on the source side of the liquid crystal display panel 110 so that the source of the liquid crystal display panel 110 can be provided. This is because the protective film is formed on the side. Hereinafter, for convenience of description, the coating parts 313 and 323 of the first and second coating units 310 and 320 are referred to as gate coating parts 313 and 323, and the third coating unit 330 The application parts 333a and 333b are referred to as source application parts 333a and 333b.

다시, 도 1 및 도 5를 참조하면, 상기 검사 모듈은 상기 도포 모듈들(310, 320, 330)의 이동부들(312, 322, 332a, 332b) 보다 아래에 위치하고, 두 개의 게이트 촬상부(410, 420)와 소오스 촬상부(430)를 포함한다. 이하, 설명의 편의를 위해 상기 게이트 촬상부들(410, 420)을 제1 게이트 촬상부(410)와 제2 게이트 촬상부(420)라 한다.Referring again to FIGS. 1 and 5, the inspection module is located below the moving parts 312, 322, 332a, and 332b of the application modules 310, 320, and 330, and two gate imaging units 410. , And 420 and a source imaging unit 430. Hereinafter, for convenience of description, the gate imaging units 410 and 420 are referred to as a first gate imaging unit 410 and a second gate imaging unit 420.

이 실시예에 있어서, 상기 검사 모듈은 세 개의 촬상부(410, 420, 430)를 구비하나, 상기 촬상부(410, 420, 430)의 개수는 상기 액정표시패널(110)의 크기와 상기 TCP들(120, 130)이 부착된 영역에 따라 증가하거나 감소할 수도 있다.In this embodiment, the inspection module includes three imaging units 410, 420, and 430, but the number of the imaging units 410, 420, and 430 is the size of the liquid crystal display panel 110 and the TCP. It may increase or decrease depending on the area to which the fields 120 and 130 are attached.

평면상에서 볼 때, 상기 제1 게이트 촬상부(410)는 상기 제1 도포 유닛(310)의 가이드 프레임(311)과 상기 워크벤치(200)와의 사이에 위치하고, 상기 제2 게이트 촬상부(420)는 상기 제2 도포 유닛(320)의 가이드 프레임(321)과 상기 워크벤치(200)와 사이에 위치하며, 상기 소오스 촬상부(430)는 상기 제3 도포 유닛(330)의 가이드 프레임(331)과 상기 워크벤치(200)와의 사이에 위치한다.In a plan view, the first gate imaging unit 410 is positioned between the guide frame 311 of the first coating unit 310 and the work bench 200, and the second gate imaging unit 420. Is positioned between the guide frame 321 of the second coating unit 320 and the work bench 200, and the source imaging unit 430 is a guide frame 331 of the third coating unit 330. Located between and the workbench 200.

도 1 및 도 6을 참조하면, 상기 제1 및 제2 게이트 촬상부(410, 420)와 상기 소오스 촬상부(430)는 상기 워크벤치(200)에 안착된 상기 액정표시패널(110)의 아래에 배치된다. 평면상에서 볼 때, 상기 워크벤치(200)에 안착된 액정표시패널(110)은 상기 본딩 영역(BA)이 상기 워크벤치(200)의 외측에 위치한다.1 and 6, the first and second gate image capturing units 410 and 420 and the source image capturing unit 430 are disposed under the liquid crystal display panel 110 mounted on the work bench 200. Is placed on. In a plan view, the bonding area BA is positioned outside the work bench 200 in the liquid crystal display panel 110 mounted on the work bench 200.

상기 촬상부들(410 ~ 430)은 상기 액정표시패널(110)의 게이트 및 소오스 영역(GA, SA)(도 2 참조)을 따라 이동하면서 상기 TCP들(120, 130)과 상기 액정표 시패널(110) 간의 결합 상태를 촬상한다. The imaging units 410 ˜ 430 move along the gate and source regions GA and SA (see FIG. 2) of the liquid crystal display panel 110, and the TCPs 120 and 130 and the liquid crystal display panel (see FIG. 2). It captures the state of coupling between the 110.

구체적으로, 상기 TCP들(120, 130)을 상기 액정표시패널(110)에 부착시키는 이방성 도전필름(140)은 도전 입자들(141)(도 3 및 도 4 참조)을 포함하고, 상기 도전 입자들(141)(도 3 및 도 4 참조)은 상기 게이트 및 데이터 TCP(120, 130)와 상기 액정표시패널(110)을 도전시킨다. 상기 게이트 및 데이터 TCP(120, 130)을 상기 액정표시패널(110)에 부착 시, 상기 게이트 및 데이터 TCP(120, 130)에 적정 압력과 열이 제공된다. 이에 따라, 상기 이방성 도전필름(140)의 도전 입자들(141)에 의해 상기 게이트 패드 전극(GPE)(도 3 참조) 및 상기 데이터 패드 전극(DPE)(도 4를 참조)에 상기 압흔이 형성된다.Specifically, the anisotropic conductive film 140 attaching the TCPs 120 and 130 to the liquid crystal display panel 110 includes conductive particles 141 (see FIGS. 3 and 4), and the conductive particles. Fields 141 (see FIGS. 3 and 4) conduct the gate and data TCPs 120 and 130 and the liquid crystal display panel 110. When the gate and data TCPs 120 and 130 are attached to the liquid crystal display panel 110, appropriate pressure and heat are provided to the gate and data TCPs 120 and 130. Accordingly, the indentation is formed on the gate pad electrode GPE (see FIG. 3) and the data pad electrode DPE (see FIG. 4) by the conductive particles 141 of the anisotropic conductive film 140. do.

상기 촬상부들(410 ~ 430)은 상기 액정표시패널(110)의 배면에서 상기 도전 입자들(141)에 의해 형성된 상기 압흔을 촬상한다. 즉, 상기 제1 및 제2 게이트 촬상부(410, 420)는 상기 액정표시패널(110)의 게이트 영역들(GA)을 촬상하고, 상기 소오스 촬상부(430)는 상기 액정표시패널(110)의 소오스 영역(SA)을 촬상한다.The imaging units 410 to 430 image the indentations formed by the conductive particles 141 on the rear surface of the liquid crystal display panel 110. That is, the first and second gate image capturing units 410 and 420 image the gate regions GA of the liquid crystal display panel 110, and the source image capturing unit 430 is the liquid crystal display panel 110. The source area SA of the image is captured.

상기 게이트 및 데이터 TCP(120, 130)와 상기 액정표시패널(110) 간의 결합 오류 여부는 상기 촬상부들(410 ~ 430)에서 촬상한 이미지를 통해 인지된 상기 압흔의 위치 및 개수 등을 통해 결정된다.The coupling error between the gate and data TCPs 120 and 130 and the liquid crystal display panel 110 is determined based on the location and number of the indentations recognized through the images captured by the imaging units 410 to 430. .

상기 촬상부들(410 ~ 430)의 아래에는 상기 촬상부들(410 ~ 430)에 일대일 대응하여 제1 내지 제3 가이드 라인(441 ~ 443)이 형성된다. 평면상에서 볼 때, 상기 제1 가이드 라인(441)은 상기 제1 도포 유닛(310)의 가이드 프레임(311)과 상기 워크벤치(200)와의 사이에 위치하고, 상기 제2 가이드 라인(442)은 상기 제2 도포 유닛(320)의 가이드 프레임(321)과 상기 워크벤치(200)와의 사이에 위치하며, 상기 제3 가이드 라인(443)은 상기 제3 도포 유닛(330)의 가이드 프레임(331)과 상기 워크벤치(200)와의 사이에 위치한다.First to third guide lines 441 to 443 are formed below the imaging units 410 to 430 in one-to-one correspondence with the imaging units 410 to 430. When viewed in plan view, the first guide line 441 is positioned between the guide frame 311 of the first coating unit 310 and the work bench 200, and the second guide line 442 may be Located between the guide frame 321 of the second coating unit 320 and the work bench 200, the third guide line 443 is the guide frame 331 of the third coating unit 330 and Located between the workbench 200 and.

상기 제1 및 제2 게이트 촬상부(410, 420)는 각각 상기 제1 및 제2 가이드 라인(441, 442)을 따라 이동하여 상기 액정표시패널(110)의 배면에서 게이트측의 본딩 영역(BA)을 촬상하고, 상기 소오스 촬상부(430)는 상기 제3 가이드 라인(443)을 따라 이동하면서 상기 액정표시패널(110)의 배면에서 소오스측의 본딩 영역(BA)을 촬상한다.The first and second gate imaging units 410 and 420 move along the first and second guide lines 441 and 442, respectively, and the bonding area BA of the gate side is formed on the rear surface of the liquid crystal display panel 110. ), And the source imaging unit 430 moves along the third guide line 443 to capture the bonding area BA on the source side from the back of the liquid crystal display panel 110.

이와 같이, 상기 표시장치 제조 시스템(500)은 한 공간에서 상기 액정표시장치(100)의 압흔 검사와 상기 보호막의 도포 공정이 이루어지므로, 공간 활용률을 향상시키고, 제조 원가를 절감할 수 있다.As such, since the display device manufacturing system 500 performs the indentation inspection of the liquid crystal display device 100 and the application of the protective film in one space, the display device manufacturing system 500 can improve the space utilization rate and reduce the manufacturing cost.

이하, 도면을 참조하여 상기 액정표시장치(100)의 압흔 검사와 보호막 도포 공정을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, an indentation inspection and a protective film applying process of the liquid crystal display device 100 will be described in detail with reference to the drawings.

도 7은 도 1에 도시된 표시장치 제조 시스템에서 액정표시장치의 제조 공정을 나타낸 평면도이고, 도 8은 도 7에 도시된 액정표시장치에 보호막이 형성된 상태를 나타낸 단면도이다.FIG. 7 is a plan view illustrating a manufacturing process of a liquid crystal display device in the display device manufacturing system shown in FIG. 1, and FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a protective film formed on the liquid crystal display device shown in FIG. 7.

도 6 및 도 7을 참조하면, 먼저, 상기 워크벤치(200)에 상기 액정표시장치(100)가 안착된다. 6 and 7, first, the liquid crystal display 100 is mounted on the work bench 200.

상기 제1 및 제2 게이트 촬상부(410, 420)와 상기 소오스 촬상부(430)는 상 기 액정표시패널(110)의 아래에 배치된다. 이와 동시에, 상기 도포부들(313, 323, 333a, 333b)은 상기 제1 내지 제3 도포 유닛(310 ~ 330)의 이동부들(312, 322, 332a, 332b)에 의해 상기 액정표시장치(100)의 상부에서 배치된다. 이때, 상기 제1 및 제2 게이트 도포부들(313, 323)은 상기 액정표시패널(110)의 게이트 측에 배치되고, 상기 소오스 도포부들(333a, 333b)은 상기 액정표시패널(110)의 소오스 측에 배치된다.The first and second gate imaging units 410 and 420 and the source imaging unit 430 are disposed under the liquid crystal display panel 110. At the same time, the coating parts 313, 323, 333a and 333b are moved by the moving parts 312, 322, 332a and 332b of the first to third coating units 310 to 330. It is placed at the top of the. In this case, the first and second gate applicators 313 and 323 are disposed on the gate side of the liquid crystal display panel 110, and the source applicators 333a and 333b are arranged on the source of the liquid crystal display panel 110. Is placed on the side.

상기 제1 및 제2 게이트 촬상부(410, 420)와 상기 소오스 촬상부(430)는 각각 제1 내지 제3 가이드 라인(441 ~ 443)을 따라 이동하면서 상기 이방성 도전필름(140)에 의해 상기 액정표시패널(110)에 형성된 압흔을 촬상한다.The first and second gate imaging units 410 and 420 and the source imaging unit 430 move along the first to third guide lines 441 to 443, respectively, by the anisotropic conductive film 140. The indentation formed in the liquid crystal display panel 110 is imaged.

이와 동시에, 상기 제1 내지 제3 도포 유닛(310 ~ 330)의 이동부들(312, 322, 332a, 332b)은 각각 해당 프레임(311, 321, 331)의 가이드 레일(311a, 321a, 331a)을 따라 이동하고, 이동부들(312, 322, 332a, 332b)에 결합된 도포부들(313, 323, 333a, 333b)은 상기 액정표시장치(100)에 상기 실리콘(10)을 토출한다. 즉, 상기 제1 및 제2 게이트 도포부(313, 323)는 상기 액정표시패널(110)의 게이트 영역들(GA1, GA2)에 상기 실리콘(10)을 도포하고, 상기 소오스 도포부들(333a, 333b)은 상기 액정표시패널(110)의 소오스 영역(SA)에 상기 실리콘(10)을 도포한다. 이에 따라, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 액정표시장치(100)에 상기 보호막(150)이 형성된다. 상기 보호막(150)은 상기 게이트 TCP(120)의 상단부 및 측면을 커버하여 상기 게이트 TCP(120)의 측면에 노출된 게이트 리드선(122)을 코팅한다. 이에 따라, 상기 보호막(150)은 상기 게이트 리드선(122)의 산화를 방지한다.At the same time, the moving parts 312, 322, 332a, and 332b of the first to third application units 310 to 330 respectively move the guide rails 311a, 321a, and 331a of the corresponding frames 311, 321, and 331. The coating parts 313, 323, 333a, and 333b coupled to the moving parts 312, 322, 332a, and 332b discharge the silicon 10 to the liquid crystal display 100. That is, the first and second gate coating parts 313 and 323 apply the silicon 10 to the gate areas GA1 and GA2 of the liquid crystal display panel 110, and the source coating parts 333a, 333b applies the silicon 10 to the source area SA of the liquid crystal display panel 110. Accordingly, as shown in FIG. 8, the passivation layer 150 is formed on the liquid crystal display device 100. The passivation layer 150 covers the top and side surfaces of the gate TCP 120 to coat the gate lead line 122 exposed on the side surface of the gate TCP 120. Accordingly, the passivation layer 150 prevents oxidation of the gate lead line 122.

도면에는 도시하지 않았으나, 상기 보호막(150)은 상기 액정표시장치(100)의 데이터 TCP(130)에도 상기 게이트 TCP(120)와 동일하게 형성되어 데이터 리드선(132)(도 4참조)의 산화를 방지한다.Although not shown, the passivation layer 150 is formed on the data TCP 130 of the liquid crystal display device 100 in the same manner as the gate TCP 120 to oxidize the data lead line 132 (see FIG. 4). prevent.

이와 같이, 상기 표시장치 제조 시스템(500)은 상기 압흔 검사와 상기 보호막(150)의 코팅이 동시에 이루어진다. 이에 따라, 상기 표시장치 제조 시스템(500)은 공정 시간을 단축하고, 생산성을 향상시킨다.As such, in the display device manufacturing system 500, the indentation test and the protective film 150 are simultaneously coated. Accordingly, the display device manufacturing system 500 shortens the process time and improves productivity.

이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described with reference to the embodiments above, those skilled in the art will understand that the present invention can be variously modified and changed without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. Could be.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치 제조 시스템을 나타낸 평면도이다.1 is a plan view illustrating a display device manufacturing system according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 표시장치 제조 시스템에 제공되는 액정표시장치를 나타낸 평면도이다.FIG. 2 is a plan view illustrating a liquid crystal display device provided in the display device manufacturing system illustrated in FIG. 1.

도 3은 도 2의 절단선 I-I'에 따른 단면도이다.3 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 2.

도 4는 도 2의 절단선 Ⅱ-Ⅱ'에 따른 단면도이다.4 is a cross-sectional view taken along the line II-II ′ of FIG. 2.

도 5는 도 1에 도시된 검사 모듈과 도포 모듈을 나타낸 사시도이다.5 is a perspective view showing the inspection module and the application module shown in FIG.

도 6은 도 1에 도시된 표시장치 제조 시스템을 나타낸 단면도이다.6 is a cross-sectional view illustrating the display device manufacturing system illustrated in FIG. 1.

도 7은 도 1에 도시된 표시장치 제조 시스템에서 액정표시장치의 제조 공정을 나타낸 평면도이다.FIG. 7 is a plan view illustrating a manufacturing process of a liquid crystal display device in the display device manufacturing system shown in FIG. 1.

도 8은 도 7에 도시된 액정표시장치에 보호막이 형성된 상태를 나타낸 단면도이다.FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a protective film formed on the liquid crystal display shown in FIG. 7.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

100 : 액정표시장치 110 : 액정표시패널100 liquid crystal display device 110 liquid crystal display panel

120, 130 : 테이프 캐리어 패키지 140 : 이방성 도전필름120, 130: tape carrier package 140: anisotropic conductive film

200 : 워크벤치 300 : 도포 모듈200: workbench 300: coating module

410, 420, 440 : 촬상부410, 420, 440: imaging unit

Claims (11)

기판에 신호를 출력하는 신호전송 부재가 부착된 기판을 제조하는 장치에 있어서,An apparatus for manufacturing a substrate having a signal transmission member for outputting a signal to the substrate, 상기 기판이 안착되는 워크벤치;A workbench on which the substrate is seated; 상기 워크벤치에 놓인 기판의 상부 또는 하부에 배치되고, 상기 신호전송 부재와 상기 기판에 상기 신호전송 부재의 리드선을 보호하기 위한 보호막을 코팅하는 적어도 하나의 도포부; 및At least one coating part disposed on an upper portion or a lower portion of the substrate placed on the workbench and coating a protective layer on the signal transmission member and the substrate to protect a lead wire of the signal transmission member; And 상기 워크벤치의 하부에 배치되고, 상기 기판과 상기 신호전송 부재의 결합 상태를 검사하는 적어도 하나의 촬상부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 제조 장치.And at least one imaging unit disposed under the work bench and inspecting a coupling state between the substrate and the signal transmission member. 제 1 항에 있어서, 상기 도포부와 상기 촬상부는 동시에 구동되는 것을 특징으로 하는 기판 제조 장치.The substrate manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the applicator and the imaging unit are driven at the same time. 제 1 항에 있어서, 상기 도포부는 상기 신호전송 부재가 부착된 상기 기판의 본딩 영역을 따라 이동하면서 실리콘을 토출하여 상기 보호막을 형성하는 것을 특징으로 하는 기판 제조 장치.The apparatus of claim 1, wherein the applicator forms the passivation layer by discharging silicon while moving along a bonding area of the substrate to which the signal transmission member is attached. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 신호전송 부재는 도전 입자들을 갖는 이방성 도전 부재를 매개로 하여 상기 기판에 부착되고,The signal transmission member is attached to the substrate via an anisotropic conductive member having conductive particles, 상기 촬상부는 상기 기판의 배면에서 상기 도전 입자들에 의해 상기 기판에 형성된 압흔을 촬상하는 것을 특징으로 하는 기판 제조 장치.And the imaging unit picks up an indentation formed in the substrate by the conductive particles on the rear surface of the substrate. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 촬상부는 다수 구비되고,The imaging unit is provided with a plurality, 상기 다수의 촬상부는 상기 기판의 소오스 측에 배치된 적어도 하나의 소오스 촬상부와 상기 기판의 게이트 측에 배치된 적어도 하나의 게이트 촬상부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 제조 장치.And the plurality of imaging units includes at least one source imaging unit disposed on a source side of the substrate and at least one gate imaging unit disposed on a gate side of the substrate. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 도포부는 다수 구비되고,The applicator is provided with a plurality, 상기 다수의 도포부는 상기 기판의 소오스 측에 배치된 적어도 하나의 소오스 도포부와 상기 기판의 게이트 측에 배치된 적어도 하나의 게이트 도포부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 제조 장치.And the plurality of applicators comprises at least one source applicator disposed on a source side of the substrate and at least one gate applicator disposed on a gate side of the substrate. 기판에 신호를 출력하는 신호전송 부재가 부착된 기판을 제조하는 방법에 있어서,In the method of manufacturing a substrate with a signal transmission member for outputting a signal to the substrate, 상기 기판을 워크벤치에 안착시키는 단계; 및Mounting the substrate on a workbench; And 상기 기판과 상기 신호전송 부재 간의 결합 상태를 검사하고, 이와 동시에, 상기 신호전송 부재의 리드선을 보호하기 위한 보호막을 상기 기판과 상기 신호전송 부재에 코팅하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 제조 방법.Inspecting a bonding state between the substrate and the signal transmission member, and at the same time, coating a protective film on the substrate and the signal transmission member to protect a lead wire of the signal transmission member. . 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 기판과 상기 신호전송 부재의 결합 상태 검사는 상기 기판의 하부에 배치된 적어도 하나의 촬상부를 이용하여 이루어지고,Inspection of the bonding state of the substrate and the signal transmission member is performed by using at least one imaging unit disposed under the substrate, 상기 보호막의 코팅은 상기 기판의 상부에 배치된 적어도 하나의 도포부를 이용하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 기판 제조 방법.Coating of the protective film is a substrate manufacturing method, characterized in that using at least one coating disposed on the upper portion of the substrate. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 신호전송 부재는 도전 입자들을 갖는 이방성 도전 부재를 매개로 하여 상기 기판에 부착되고,The signal transmission member is attached to the substrate via an anisotropic conductive member having conductive particles, 상기 기판과 상기 신호전송 부재의 결합 상태 검사와 상기 보호막을 코팅하는 단계는,Examining the bonding state of the substrate and the signal transmission member and coating the protective film, 상기 촬상부를 상기 신호전송 부재가 부착된 상기 기판의 본딩 영역을 따라 이동시키면서 상기 도전 입자들에 의해 상기 기판에 형성된 압흔을 상기 기판의 배면에서 촬상하고, 이와 동시에, 상기 코팅부를 상기 본딩 영역을 따라 이동시키면서 실리콘을 토출하여 상기 신호전송 부재와 상기 기판에 상기 보호막을 형성하는 것을 특징으로 하는 기판 제조 방법.The indentation formed on the substrate by the conductive particles is imaged on the back surface of the substrate while the imaging unit is moved along the bonding region of the substrate to which the signal transmission member is attached, and at the same time, the coating unit is along the bonding region. And discharging silicon while moving to form the protective film on the signal transmission member and the substrate. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 기판과 상기 신호전송 부재의 결합 상태 검사는 상기 기판의 하부에서 기판의 소오스측에 배치된 적어도 하나의 소오스 촬상부와 상기 기판의 게이트측에 배치된 적어도 하나의 게이트 촬상부를 이용하여 이루어지고,The bonding state inspection of the substrate and the signal transmission member is performed by using at least one source imaging unit disposed on the source side of the substrate and at least one gate imaging unit disposed on the gate side of the substrate, 상기 보호막의 코팅은 상기 기판의 상부에서 상기 기판의 소오스측에 배치된 적어도 하나의 소오스 도포부와 상기 기판의 게이트측에 배치된 적어도 하나의 게이트 도포부를 이용하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 기판 제조 방법.The coating of the protective film is a substrate manufacturing method characterized in that using the at least one source coating portion disposed on the source side of the substrate on the top of the substrate and at least one gate coating portion disposed on the gate side of the substrate. 제 10 항에 있어서, The method of claim 10, 상기 신호전송 부재는 도전 입자들을 갖는 이방성 도전 부재를 매개로 하여 상기 기판에 부착되고,The signal transmission member is attached to the substrate via an anisotropic conductive member having conductive particles, 상기 기판과 상기 신호전송 부재의 결합 상태 검사와 상기 보호막을 코팅하는 단계는,Examining the bonding state of the substrate and the signal transmission member and coating the protective film, 상기 게이트 촬상부를 상기 기판의 게이트측 본딩 영역을 따라 이동시키고 상기 소오스 촬상부를 상기 기판의 소오스측 본딩 영역을 따라 이동시키면서 각각 상기 도전 입자들에 의해 상기 기판에 형성된 압흔을 상기 기판의 배면에서 촬상하고, 이와 동시에, 상기 게이트 코팅부를 상기 게이트측 본딩 영역을 따라 이동시키고 상기 소오스 도포부를 상기 소오측 본딩 영역을 따라 이동시키면서 각각 실리콘을 토출하여 상기 신호전송 부재와 상기 기판에 상기 보호막을 형성하는 것 을 특징으로 하는 기판 제조 방법.The indentation formed on the substrate by the conductive particles is imaged on the rear surface of the substrate while the gate imaging unit is moved along the gate side bonding region of the substrate and the source imaging unit is moved along the source side bonding region of the substrate. And at the same time, discharging silicon while moving the gate coating part along the gate side bonding area and moving the source coating part along the source side bonding area to form the protective film on the signal transmission member and the substrate. A substrate manufacturing method characterized by the above-mentioned.
KR1020070119009A 2007-11-21 2007-11-21 Substrate manufacturing apparatus and method KR100933027B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070119009A KR100933027B1 (en) 2007-11-21 2007-11-21 Substrate manufacturing apparatus and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070119009A KR100933027B1 (en) 2007-11-21 2007-11-21 Substrate manufacturing apparatus and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090052488A true KR20090052488A (en) 2009-05-26
KR100933027B1 KR100933027B1 (en) 2009-12-21

Family

ID=40860213

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070119009A KR100933027B1 (en) 2007-11-21 2007-11-21 Substrate manufacturing apparatus and method

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100933027B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101109078B1 (en) * 2009-11-17 2012-03-13 (주)엘이티 Substrate supporting unit, substrate inspecting apparatus including the unit, and substrate inspecting method using the apparatus

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4741897B2 (en) * 2005-01-12 2011-08-10 芝浦メカトロニクス株式会社 Photocurable resin coating apparatus and coating method
KR20070037794A (en) * 2005-10-04 2007-04-09 삼성전자주식회사 Method for discriminating alignment between contact terminals and apparatus for inspecting the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101109078B1 (en) * 2009-11-17 2012-03-13 (주)엘이티 Substrate supporting unit, substrate inspecting apparatus including the unit, and substrate inspecting method using the apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
KR100933027B1 (en) 2009-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103296489B (en) Jockey, board device, imageing sensor, display and touch apparatus
CN101999095B (en) Active matrix substrate, display device, method for inspecting active matrix substrate, and method for inspecting display device
CN101097364B (en) Liquid crystal display device
US9274631B2 (en) Display device
CN102597924B (en) Display device with attached touch panel
US20100177313A1 (en) Inspecting method using an electro optical detector
CN106526918A (en) Display substrate and testing method thereof
KR100528697B1 (en) Method and Apparatus for Testing Liquid Crystal Display
US10754209B2 (en) Display device and inspection method of display device
CN112562552A (en) Display device
KR101271525B1 (en) Array substrate for Liquid crystal display device
JP6989696B2 (en) PSVA LCD panel manufacturing set
KR100933027B1 (en) Substrate manufacturing apparatus and method
JP4992774B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
KR100734927B1 (en) Lcd
CN109491166B (en) Array substrate
JP2000089241A (en) Planar display device
KR100895863B1 (en) Apparatus and method for fabricating substrate
TWI402562B (en) Method of fabricating liquid crystal display device
US6961081B2 (en) Positioning and inspecting system and method using same
US11302765B2 (en) Display device
KR100901489B1 (en) Apparatus and method of fabricating substrate
KR101736921B1 (en) Liquid crystal display device and method testing thereof
KR101127837B1 (en) Apparatus for Bonding Liquid Crystal Display Device and Flexible Print Circuit, Method for Inspection of the Same
US20170332493A1 (en) Mounting substrate manufacturing apparatus and method of manufacturing mounting substrate

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121211

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131212

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141202

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151119

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161209

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171211

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181211

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191203

Year of fee payment: 11