KR20090051379A - 플라즈마 표시 장치 및 이의 구동 방법 - Google Patents

플라즈마 표시 장치 및 이의 구동 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 방전 불량 대책 모드별 구동 파형들을 미리 탑재하여, 제조 공정 또는 사용중에 방전 불량 발생시 간단한 키조작을 통해 방전 불량에 대한 최적화된 구동 파형으로 변경할 수 있는 플라즈마 표시 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 플라즈마 표시 장치 및 이의 구동방법은 모드 신호를 발생하는 모드 입력부; 외부로부터 영상신호와 상기 모드 입력부로부터 상기 모드 신호를 수신하며, 한 프레임을 복수의 서브 필드로 분할하여 구동하는 제어부; 상기 제어부에 의해 제어되며, 구동 파형을 출력하는 구동부; 및 상기 구동 파형이 인가되어 구동되는 플라즈마 표시 패널을 포함하며, 상기 제어부는 상기 모드 신호에 따라 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 상기 구동 파형을 정규 양산 파형으로 정의된 모(母)파형 모드에서 방전 불량 대책 파형으로 정의된 복수의 자(子)파형 모드 중 선택된 어느 하나로 변경하는 모드 설정 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
구동 파형, 방전 불량 대책 모드, 마이컴, ASIC부, 메모리

Description

플라즈마 표시 장치 및 이의 구동 방법{PLASMA DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF}
본 발명은 방전 불량 대책 모드별 구동 파형들을 미리 탑재하여, 제조 공정 또는 사용중에 방전 불량 발생시 간단한 키조작을 통해 방전 불량에 대한 최적화된 구동 파형으로 변경할 수 있는 플라즈마 표시 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.
플라즈마 표시 장치는 기체 방전에 의해 생성된 플라즈마를 이용하여 문자 또는 영상을 표시하는 플라즈마 표시 패널을 이용한 표시 장치이다. 이러한 플라즈마 표시 패널에는 그 크기에 따라 수십에서 수백 만개 이상의 화소(방전 셀)가 매트릭스 형태로 배열되어 있다.
플라즈마 표시 장치의 플라즈마 표시 패널은 한 프레임이 각각의 가중치를 가지는 복수의 서브필드로 분할되어 구동되며, 각 서브필드는 리셋 기간(reset period), 어드레스 기간(address period) 및 서스테인 기간(sustain period)으로 이루어진다. 리셋 기간은 어드레스 방전을 안정적으로 수행하기 위해 방전 셀을 초기화하는 기간이다. 어드레스 기간은 플라즈마 표시 패널에서 켜지는 셀과 켜지 지 않는 셀을 선택하는 기간이다. 그리고 서스테인 기간은 켜지는 셀에 대해서 실제로 화상을 표시하기 위한 서스테인 방전을 수행하는 기간이다.
종래의 플라즈마 표시 장치는 플라즈마 표시 패널을 구동하기 위한 구동 파형을 한 종류로 탑재하여 생산되고 있다. 그런데, 제조 공정에서 생산되는 플라즈마 표시 패널들은 제조 공정 중에 여러 가지 제조 공정환경 등으로 인해 특성이 변화할 수 있기 때문에, 특성이 변화된 플라즈마 표시 패널들에 한 종류의 구동 파형을 일괄적으로 적용할 경우 플라즈마 표시 패널의 특성이 고려되지 않아 플라즈마 표시 패널에 방전 불량이 발생될 수 있다. 따라서, 제조 공정상에서는 기존 구동 파형을 방전 불량 현상에 최적화된 또다른 파형으로 다시 수정하고 셋팅하여 대응하였지만, 이러한 대응은 번거로워 플라즈마 표시 장치의 제조시간을 증가시키며, 제조 수율을 떨어뜨리는 문제점이 있다.
또한, 종래의 플라즈마 표시 장치는 장시간 사용될 경우 방전 특성에 직접적인 영향을 주는 방전개시전압 및 방전딜레이 특성이 경시 변화를 일으키게 되므로, 플라즈마 표시 패널에 방전 불량이 발생될 수 있다. 따라서, 플라즈마 표시 장치에 대한 고객의 신뢰성이 떨어지는 문제점이 있다.
본 발명의 목적은 방전 불량 대책 모드별 구동 파형들을 미리 탑재하여, 제조 공정 또는 사용중에 방전 불량 발생시 간단한 키조작을 통해 방전 불량에 대한 최적화된 구동 파형으로 변경할 수 있는 플라즈마 표시 장치 및 이의 구동 방법을 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 모드 신호를 발생하는 모드 입력부; 외부로부터 영상신호와 상기 모드 입력부로부터 상기 모드 신호를 수신하며, 한 프레임을 복수의 서브 필드로 분할하여 구동하는 제어부; 상기 제어부에 의해 제어되며, 구동 파형을 출력하는 구동부; 및 상기 구동 파형이 인가되어 구동되는 플라즈마 표시 패널을 포함하며, 상기 제어부는 상기 모드 신호에 따라 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 상기 구동 파형을 정규 양산 파형으로 정의된 모(母)파형 모드에서 방전 불량 대책 파형으로 정의된 복수의 자(子)파형 모드 중 선택된 어느 하나로 변경하는 모드 설정 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 모드 설정 제어부는 모(母)파형 모드의 주소번지에 모(母)파형 모드 데이터를 저장하고 복수의 자(子)파형 모드의 주소번지에 복수의 자(子)파형 모드 데이터를 저장하고 특정 주소번지에 상기 모드 신호를 저장하는 마이컴 메모리를 구비하며, 상기 모드 신호에 따라 상기 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母) 파형 모드 데이터를 복수의 자(子)파형 모드 데이터 중 선택된 어느 하나의 자(子)파형 모드 데이터로 변경하는 마이컴; 및 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터가 전송되어 저장되는 ASIC 메모리를 구비하며, 상기 제어부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대해 제어신호를 생성하여 상기 구동부에 전송하도록 하여 상기 구동부가 상기 제어 신호에 의해 상기 구동 파형을 출력하도록 하는 ASIC(Applictaion Specific Interrated Circuit)부를 포함할 수 있다.
상기 모드 입력부는 선택버튼에 의해 선택되는 상기 모드 신호를 상기 모드 설정 제어부에 전송하는 키스캔일 수 있으며, 상기 모(母)파형 모드 데이터는 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형을 생성하기 위한 데이터일 수 있으며, 상기 자(子)파형 모드 데이터는 상기 자(子)파형 모드의 구동 파형을 생성하기 위한 데이터이며 방송모드 정보를 포함하는 것일 수 있다.
상기 모드 신호는 상기 플라즈마 표시 장치의 제조 공정에서 상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 발생된 경우 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형을 상기 복수의 자(子)파형 모드 중 상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량의 대책 모드에 해당하는 자(子)파형 모드의 구동 파형으로 변경하기 위한 명령신호일 수 있다.
또한, 상기 모드 설정 제어부는 수신부 메모리를 구비하며 상기 모드 입력부로부터 상기 모드 신호를 수신하여 상기 수신부 메모리에 저장하는 모드 수신부; 및 ASIC 메모리를 구비하며 상기 수신부 메모리에 저장된 상기 모드 신호를 상기 ASIC 메모리에 할당된 특정 주소번지 저장하는 ASIC부; 및 모(母)파형 모드의 주소 번지에 모(母)파형 모드 데이터를 저장하고 복수의 자(子)파형 모드의 주소번지에 복수의 자(子)파형 모드 데이터를 저장하는 마이컴 메모리를 구비하며 상기 ASIC 메모리 중 특정 주소번지에 저장된 상기 모드 신호에 따라 상기 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 복수의 자(子)파형 모드 데이터 중 선택된 어느 하나의 자(子)파형 모드 데이터로 변경하는 마이컴을 포함하며, 상기 마이컴은 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 상기 ASIC부에 전송하며, 상기 ASIC부는 상기 제어부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호를 생성하여 상기 구동부에 전송하도록 하여 상기 구동부가 상기 제어 신호에 의해 상기 구동 파형을 출력하도록 하는 것일 수 있다.
상기 모드 입력부는 선택버튼에 의해 선택되는 상기 모드 신호를 상기 모드 설정 제어부에 무선통신으로 전송하는 리모컨일 수 있으며, 상기 모(母)파형 모드 데이터는 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형을 생성하기 위한 데이터일 수 있으며,상기 자(子)파형 모드 데이터는 상기 자(子)파형 모드의 구동 파형을 생성하기 위한 데이터이며 방송모드 정보를 포함하는 것일 수 있다.
상기 구동부에 의한 구동 파형은 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간의 파형을 포함하고, 상기 복수의 자(子)파형 모드의 구동 파형은 상기 리셋 기간, 상기 어드레스 기간 및 서스테인 기간에 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 파형 중 적어도 어느 하나의 파형이 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형에 대해 변환된 것일 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따라 모드 입력부와 연결 된 제어부의 제어에 의해 구동부로부터 구동 파형이 인가되어 구동되는 플라즈마 표시 패널을 구비하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법은 상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량 대책 모드에 대한 모드 신호를 입력하는 모드 신호 입력 단계; 상기 모드 신호에 따라 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 상기 구동 파형을 정규 양산 파형으로 정의된 모(母)파형 모드에서 방전 불량 대책 파형으로 정의된 복수의 자(子)파형 모드 중 선택된 어느 하나로 변경하는 구동 파형 변경 단계; 및 상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 개선됐는지 확인하는 방전 불량 개선 확인 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 모드 신호 입력 단계는 상기 모드 입력부가 상기 모드 신호를 상기 제어부에 포함된 모드 설정 제어부에 전송하는 단계; 및 모(母)파형 모드의 주소번지에 모(母)파형 모드 데이터를 복수의 자(子)파형 모드의 주소번지에 복수의 자(子)파형 모드 데이터를 저장하는 마이컴 메모리를 구비하고 상기 모드 설정 제어부에 포함되는 마이컴이, 상기 마이컴 메모리에 할당된 특정 주소번지에 상기 모드 신호를 저장하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 구동 파형 변경 단계는 상기 플라즈마 표시 장치의 전원을 오프 시켰다 온 시켜, 상기 마이컴이 상기 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 상기 모(母)파형 모드 데이터를 상기 특정 주소 번지에 저장된 상기 모드 신호에 해당하는 자(子)파형 모드 데이터로 변경하는 단계; 상기 모드 설정 제어부에 포함되며 상기 마이컴에 연결된 ASIC부의 ASIC 메모리에 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 저장하는 단계; 상기 제어부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신 호를 생성하여 상기 구동부에 전송하는 단계; 및 상기 구동부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호에 의해 생성한 구동 파형을 상기 플라즈마 표시 패널에 인가하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 방전 불량 개선 확인 단계는 상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 발생된 것이 확인되면 상기 구동 파형 변경 단계를 다시 수행하고, 상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 개선된 것이 확인되면 상기 플라즈마 표시 장치의 제조 공정 투입을 계속적으로 진행하는 것으로 결정하는 것일 수 있다.
또한, 상기 모드 신호 입력 단계는 상기 모드 입력부가 상기 모드 신호를 상기 제어부에 포함된 모드 설정 제어부에 전송하는 단계; 및 상기 모드 설정 제어부에 포함되며 수신부 메모리를 구비하는 모드 수신부에 상기 모드 신호를 저장하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 구동 파형 변경 단계는 상기 플라즈마 표시 장치의 전원을 오프 시켰다 온 시켜, 상기 모드 설정 제어부에 포함되며 상기 모드 수신부와 연결된 ASIC부의 ASIC 메모리에 할당된 특정 주소번지에 상기 모드 신호를 저장하고, 상기 모드 설정 제어부에 포함되며 상기 ASIC와 연결된 마이컴이 상기 ASIC 메모리의 특정 주소번지에 저장된 상기 모드 신호를 읽어 들여 마이컴 메모리에 할당된 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 상기 모드 신호에 해당하는 자(子)파형 모드 데이터로 변경하는 단계; 상기 모드 설정 제어부에 포함되며 상기 마이컴에 연결된 상기 ASIC부의 ASIC 메모리에 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 저장하는 단계; 상기 제어부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호를 생성하여 상기 구동부에 전송하는 단계; 및 상기 구동부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호에 의해 생성한 구동 파형을 상기 플라즈마 표시 패널에 인가하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 방전 불량 개선 확인 단계는 상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 발생된 것이 확인되면 상기 구동 파형 변경 단계를 다시 수행하고, 상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 개선된 것이 확인되면 상기 플라즈마 표시 장치를 재사용하는 것으로 결정하는 것일 수 있다.
상기 복수의 자(子)파형 모드의 구동 파형은 한 프레임이 분할되어 나뉜 복수의 서브 필드 중 적어도 하나의 서브 필드의 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간 동안에 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 파형을 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형에 대해 변환한 것일 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치 및 이의 구동 방법은 플라즈마 표시 장치의 제조 공정중에 플라즈마 표시 패널에 방전 불량이 발생할 경우 키스캔을 이용해 플라즈마 표시 패널의 구동 파형을 방전 불량 대책 모드로 정의된 자(子)파형 모드의 구동 파형으로 간단히 변경함으로써 플라즈마 표시 패널의 방전 불량에 대응할 수 있다. 이에 따라, 플라즈마 표시 장치의 제조 공정에서 발생하는 제조 불량을 줄임으로써 제조 수율을 높일 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치 및 이의 구동 방법은 사용중에 플라즈마 표시 패널에 방전 불량이 발생할 경우 리모컨을 이용해 플라즈마 표시 패의 구동 파형을 방전 불량 대책 모드로 정의된 자(子)파형 모드의 구동 파형으로 간단히 변경함으로써 플라즈마 표시 패널의 방전 불량에 대응할 수 있다. 이에 따라, 플라즈마 표시 장치에 대한 고객의 신뢰성을 높일 수 있다.
이하 도면을 참조하면서 실시예를 통해 본 발명을 보다 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치를 개략적으로 보여주는 블럭도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 플라즈마 표시 패널(100), 제어부(200), 구동부(300,400,500), 및 모드 입력부(600)를 포함한다. 또한, 제어부(200)는 모드 설정 제어부(220)를 포함하며, 구동부(300,400,500)는 구체적으로 어드레스 구동부(300), 스캔 구동부(400) 및 서스테인 구동부(500)로 구분된다. 이러한 플라즈마 표시 장치는 제조 공정 중에 플라즈마 표시 패널(100)에 방전 불량이 발생할 경우, 플라즈마 표시 패널(100)에 인가되는 구동 파형을 방전 불량 대책 모드에 맞는 구동 파형으로 변경함으로써 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량을 개선하도록 한다.
도 1에 도시된 바와 같이, 플라즈마 표시 패널(100)은 열 방향으로 뻗어있는 복수의 어드레스 전극(이하 "A 전극"이라 함)(A1~Am), 그리고 행 방향으로 서로 쌍을 이루면서 뻗어 있는 복수의 서스테인 전극(이하, "X 전극"이라 함)(X1~Xn) 및 스 캔 전극(이하 "Y 전극"이라 함)(Y1~Yn)을 포함한다. 일반적으로 X 전극(X1~Xn)은 각 Y 전극(Y1~Yn)에 대응해서 형성되어 있으며, X 전극(X1~Xn)과 Y 전극(Y1~Yn)이 서스테인 기간에서 화상을 표시하기 위한 표시 동작을 수행한다. Y 전극(Y1~Yn)과 X 전극(X1~Xn)은 A 전극(A1~Am)과 직교하도록 배치된다. 이때, A 전극(A1~Am)과 X 전극(X1~Xn)및 Y 전극(Y1~Yn)의 교차부에 있는 방전 공간이 방전 셀(12)을 형성한다. 이러한 플라즈마 표시 패널(100)의 구조는 일 예이며, 이후에 설명하는 구동 파형이 적용될 수 있는 다른 구조의 패널도 본 발명에 적용될 수 있다.
제어부(200)는 한 프레임을 복수의 서브 필드로 분할하여 구동하며, 각 서브 필드는 리셋 기간, 어드레스 기간, 및 서스테인 기간을 포함한다. 또한, 제어부는 외부로부터 영상신호(R, G, B data)와 동기신호를 수신하여 어드레스 전극 구동제어신호(SA), 스캔 전극 구동제어신호(SY) 및 서스테인 전극 구동제어신호(SX)를 출력한다.
제어부(200)에 포함된 모드 설정 제어부(220)는 후술될 모드 입력부(600)로부터 전송된 모드 신호에 따라 플라즈마 표시 패널(100)에 인가되는 구동 파형을 정규 양산 파형으로 정의된 모(母)파형 모드에서 방전 불량 대책 파형으로 정의된 복수의 자(子)파형 모드 중 선택된 어느 하나로 변경하는 것을 제어한다. 여기서, 모드 설정 제어부(220)는 제어부(200)에 포함되는 것으로 도시되었지만, 제어부(200)와는 별도로 구현될 수도 있다. 그리고, 모드 신호는 플라즈마 표시 장치 의 제조 공정에서 플라즈마 표시 패널(100)에 방전 불량이 발생된 경우 플라즈마 표시 패널(100)에 인가되는 모(母)파형 모드의 구동 파형을 복수의 자(子)파형 모드 중 선택된 어느 하나의 구동 파형으로 변경하기 위한 명령신호이다. 여기서, 선택된 자(子)파형 모드의 구동 파형은 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량에 대한 대책 모드의 구동 파형이다. 모드 설정 제어부(220)에 대해서는 추후에 자세히 설명하기로 한다.
어드레스 구동부(300)는, 제어부(200)로부터의 구동 제어 신호들(SA,SY,SX) 중에서 어드레스 전극 구동제어신호(SA)를 처리하여 표시 데이터 신호를 발생시키고, 발생된 표시 데이터 신호를 A 전극들에 인가한다. 여기서, 구동 제어 신호들(SA,SY,SX)는 모(母)파형 모드의 구동 파형에 대한 제어 신호들이다.
상기 스캔 구동부(400)는 상기 제어부(200)로부터의 구동 제어 신호들(SA,SY,SX) 중에서 스캔 전극 구동제어신호(SY)를 처리하여 발생된 스캔펄스를 Y 전극들에 인가한다.
서스테인 구동부(500)는 상기 제어부(200)로부터의 구동 제어 신호들(SA,SY,SX) 중에서 서스테인 전극 구동제어신호(SX)를 처리하여 발생된 서스테인 펄스를 X 전극들에 인가한다.
모드 입력부(600)는 상술한 바와 같이 모드 설정 제어부(220)에 전송하는 모드 신호를 발생하며, 플라즈마 표시 장치의 제조 공정에서 탈부착 가능한 키스캔을 사용한다. 키스캔은 사용자, 즉 공정 작업자가 플라즈마 표시 장치의 제조 공정 중에 플라즈마 표시 패널(100)에 방전 불량이 발생될 경우 공정 작업자가 플라즈마 표시 패널(100)의 구동 파형을 방전 불량 대책 모드인 복수의 자(子)파형 모드 중 어느 하나를 선택하기 위해 모드 신호를 모드 설정 제어부(220)에 전송하기 위한 명령어 입력 수단인 선택버튼을 구비한다.
도 2는 도 1의 플라즈마 표시 패널에 인가되는 모(母)파형 모드의 구동 파형의 일 예를 도시한 파형도이다.
아래에서는 편의상 하나의 셀을 형성하는 Y 전극, X 전극 및 A 전극에 인가되는 구동 파형에 대해서만 설명한다. 그리고, 서스테인 기간에서 서스테인 방전이 일어나는 셀을 발광 셀이라 정의하고, 서스테인 기간에서 서스테인 방전이 일어나지 않는 셀을 비발광 셀이라 정의한다.
도 2에 도시된 바와 같이, 플라즈마 표시 패널(100)은 기본적으로 하나의 서브필드(SF)에서 리셋 기간(RP), 어드레스 기간(AP) 및 서스테인 기간(SP)이 차례로 수행됨으로써 소정의 화상을 표시한다.
한 서브필드의 리셋 기간(RP)은 상승 구간과 하강 구간을 구비하여 이루어질 수 있다.
리셋기간(RP)의 상승구간에서는, Y 전극에 Vs 전압부터 Vset 전압까지 점진적으로 증가하는 상승 리셋 펄스가 인가된다. 이때, X 전극과 A 전극에는 접지 전압(도 2에서 0V)이 인가된다. 이에 따라, Y 전극과 X 전극 사이에 약한 방전이 일 어나는 한편, Y 전극과 A 전극 사이에 더욱 약한 방전이 일어난다. 이러한 미약한 방전에 의해 Y 전극에는 (-) 벽전하가 형성되고, X 전극 및 A 전극에는 (+) 벽전하가 형성된다. 그리고, Y 전극의 전압이 도 2와 같이 점진적으로 변하는 경우에는 셀에 미약한 방전이 일어나면서 외부에서 인가된 전압과 셀의 벽전압의 합이 방전 개시 전압 상태를 유지하도록 벽 전하가 형성된다. 이러한 원리에 대해서는 웨버(Weber)의 미국등록특허 제 5,745,086에 개시되어 있다. 리셋기간에서는 모든 셀의 상태를 초기화하여야 하므로 Vset 전압은 모든 조건의 셀에서 방전이 일어날 수 있을 정도의 높은 전압이다.
다음에 이어지는 리셋 기간(RP)의 하강 구간에서는, X 전극에 인가되는 전압이 Ve 전압으로 유지된 상태에서, Y 전극에는 Vs 전압으로부터 Vnf 전압까지 지속적으로 하강하는 하강 리셋 펄스가 인가된다. 이때, A 전극에는 접지 전압(0V)이 유지된다. 그러면, Y 전극의 전압이 감소하는 중에 Y 전극과 X 전극 사이 및 Y 전극과 A 전극 사이에서 약한 방전이 일어나면서 Y 전극에 형성된 (-) 벽전하와 X 전극 및 A 전극에 형성된 (+) 벽전하가 소거된다. 일반적으로, ｜Vnf- Ve｜의 크기는 Y 전극과 X 전극 사이의 방전 개시 전압 근처로 설정된다. 그러면, Y 전극과 X 전극 사이의 벽 전압이 거의 0V가 되어, 어드레스 기간에서 어드레스 방전이 일어나지 않은 셀이 서스테인 기간에서 오방전하는 것을 방지할 수 있다. 도 2에서는 램프 형태의 리셋 펄스 파형을 도시하였으나, 동일 또는 유사한 기능을 수행하는 다른 형태의 리셋 펄스 파형으로 대체될 수 있다.
이어지는 어드레스 기간(AP)에서는, 발광 셀을 선택하기 위해서, X 전극에 Ve 전압을 인가한 상태에서, 복수의 Y 전극에 순차적으로 VscL 전압을 가지는 스캔 로우 펄스를 인가한다. 이때, VscL 전압이 인가된 Y 전극에 의해 형성되는 복수의 방전 셀 중에서 선택하고자 하는 발광 셀을 통과하는 A 전극에 Va 전압을 인가한다. 그러면, Y 전극에 (+) 벽전하가 형성되고 X 전극에는(-) 벽전하가 형성된다. 또한, A 전극에도 (-) 벽전하가 형성된다. 여기서, VscL 전압은 Vnf 전압과 같게 설정되거나 낮은 레벨로 설정될 수 있다. 그리고, VscL 전압이 인가되지 않는 Y 전극에는 VscL 전압보다 높은 VscH 전압이 인가되고, 선택되지 않는 비발광 셀의 A 전극에는 접지 전압(0V)이 인가된다. 어드레스 기간(AP)에서 이러한 동작을 수행하기 위해, 스캔 구동부(400)는 Y 전극(Y1~Yn) 중 VscL 전압의 스캔 로우 펄스가 인가될 Y 전극을 선택한다. 예를 들어 싱글 구동에서는 수직 방향으로 배열된 순서대로 Y 전극을 선택할 수 있다. 그리고, 하나의 Y 전극이 선택되는 경우, 어드레스 구동부(300)는 Y 전극에 의해 형성된 방전 셀 중 발광 셀을 선택한다. 즉, 어드레스 구동부(300)는 A 전극(A1~Am) 중 Va 전압의 어드레스 펄스가 인가될 셀을 선택한다. 이와 같이, 어드레스 기간(AP)은 비발광 셀 상태의 셀을 방전시켜서 해당 셀에 벽 전하를 형성하여 발광 셀 상태로 설정하는 방식으로 이루어진다.
다음으로, 서스테인 기간(SP)에서는, A 전극에 접지 전압(0V)을 인가한 상태에서 Y 전극과 X 전극에 Vs 전압과 접지전압(0V)을 교대로 가지는 서스테인 펄스가 반대 위상으로 인가되어 Y 전극과 X 전극 사이에서 서스테인 방전을 일으킨다. 이 후, Y 전극에 Vs 전압의 서스테인 펄스를 인가하는 과정과 X 전극에 Vs 전압의 서스테인 펄스를 인가하는 과정을 해당 서브필드가 표시하는 가중치에 대응하는 횟수만큼 반복한다. 도면에서는 서스테인 펄스의 하이레벨을 Vs 전압으로, 서스테인 펄스의 로우레벨을 접지 전압(0V)으로 도시하고 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 서스테인 펄스의 로우레벨을 부극성의 서스테인 전압(-Vs)으로 사용하는 것도 가능하다.
도 3은 도 1의 모드 설정 제어부의 상세 구성을 나타내는 블럭도이고, 도 4는 자(子)파형 모드 데이터가 할당된 주소번지의 예를 도시한 예시도이고, 도 5는 자(子)파형 모드를 선택하기 위한 명령어 구성의 예를 도시한 예시도이고, 도 6a 및 도 6b는 자(子)파형 모드의 구동 파형을 예시적으로 보여주는 예시도들이다.
도 3을 참조하면, 모드 설정 제어부(220)는 마이컴(222) 및 ASIC(Applictaion Specific Interrated Circuit)부(224)를 포함한다.
마이컴(222)은 마이컴 메모리(223)를 구비하며, 사용자로부터 모드 입력부(600)를 통해 모드 신호를 수신하여 마이컴 메모리(223)에 저장한다. 마이컴 메모리(223)는 플래쉬 메모리(flash memory)로 구현될 수 있으며, 다수의 주소번지로 분할되어 모(母)파형 모드의 주소번지에 모(母)파형 모드 데이터를, 복수의 자(子)파형 모드의 주소번지에 복수의 자(子)파형 모드 데이터를 저장한다. 여기서, 모(母)파형 모드 데이터는 모(母)파형 모드의 구동 파형을 생성하기 위한 데이터이며, 자(子)파형 모드 데이터는 자(子)파형 모드의 구동 파형을 생성하기 위한 데이터이다. 복수의 자(子)파형 모드 데이터는, 예를 들어 도 4에 도시된 바와 같이, 복수의 자(子)파형 모드의 주소번지에 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량 대책 모드 정보뿐 아니라 방송 모드 정보에 따라 세분화되어 저장될 수 있다. 이에 따라, 방송 모드 별로 다양하게 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량에 대응할 수 있다.
또한, 마이컴 메모리(223)는 마이컴(222)이 수신한 모드 신호를 특정 주소번지에 저장한다. 사용자로부터 모드 입력부(600)를 통해 수신된 모드 신호를 마이컴 메모리(223)의 특정 주소번지에 저장하기 위한 명령어 구성은, 예를 들어 도 5에 도시된 바와 같이, 특정 주소번지에 16비트(bits)를 할당하여 이 중 최상위 비트(MSB)인 b15에 파형 설정 모드를 전체적으로 온/오프(on/off)할 수 있는 기능을 지정하고, b14~b12에 각각의 방송모드에 따라 방전 불량 대책 모드를 온/오프(on/off)할 수 있는 기능을 지정하고, b11~b0까지는 각각 4비트(bits)씩 할당하여 각각의 방송모드에 따라 8개의 방전 불량 대책 모드를 설정할 수 있도록 구성될 수 있다. 마이컴(222)은 모드 입력부(600)로부터 모드 신호를 수신하기 위해, 범용 비동기화 송수신기(Universal Asynchronous Receiver/Trasmitter; UART)를 통해 모드 입력부(600)와 통신한다. 상기와 같이, 마이컴 메모리(223)의 특정 주소번지에 모드 신호가 저장되면, 마이컴(222)은 마이컴 메모리(223)의 특정 주소번지에 저장된 모드 신호에 따라 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 자(子)파형 모드 데이터로 변경한다.
ASIC부(224)는 ASIC 메모리(225)를 구비한다. ASIC 메모리(225)는 램(RAM)으로 구현될 수 있으며, ASIC부(224)는 마이컴 메모리(223)의 모(母)파형 모드의 주 소번지에 저장된 자(子)파형 모드 데이터를 수신하여 ASIC 메모리(225)에 저장한다. 그리고, ASIC부(224)는 제어부(200)가 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호를 생성하여 구동부(300,400,500)로 전송하도록 한다. 그럼, 구동부(300,400,500)는 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호에 의해 자(子)파형 모드의 구동 파형을 생성하여 플라즈마 표시 패널(100)에 인가한다. 따라서, 플라즈마 표시 패널(100)은 방전 불량 대책 모드인 자(子)파형 모드의 구동 파형에 의해 구동되므로, 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량이 개선될 수 있다.
자(子)파형 모드의 구동 파형은 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량에 따라 도 2에 도시된 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형에서 변형된 것으로, 예를 들어 도 6a 및 도 6b에 도시된 구동 파형을 들 수 있다. 여기서, 도 6a 및 도 6b에 도시된 자(子)파형 모드의 구동 파형은 수직주파수가 60Hz인 방송모드의 경우를 예로 들고 있다.
도 6a에 도시된 자(子)파형 모드의 구동 파형은 리셋 기간(RP)의 하강 구간 동안 Y 전극에 인가되는 파형이 도 2에 도시된 모(母)파형 모드의 구동 파형에 대해 변환되어 이루어진다. 즉, 도 6a에 도시된 자(子)파형 모드의 구동 파형에서 리셋 기간(RP)의 하강 구간 동안 Y 전극에 인가되는 파형의 Vnf1 전압이 유지되는 기간(T11)이 도 2에 도시된 모(母)파형 모드의 구동 파형에서 리셋 기간(RP)의 하강 구간 동안 Y 전극에 인가되는 파형의 Vnf 전압이 유지되는 기간(T1)보다 짧다. 이러한 도 6a에 도시된 자(子)파형 모드의 구동 파형은 고온의 환경에서 리셋 방전시 벽전하의 과도한 손실로 인해 어드레스 방전이 잘 일어나지 않는 어드레스 저방 전을 방지하기 위한 방전 불량 대책 파형으로서, 고온의 환경에서 리셋 기간(RP)의 하강 구간 동안 일어나는 리셋 방전시 전극에 분포되어 있는 벽전하의 과도한 손실을 줄여 벽전하의 분포를 적정하게 함으로써 이어지는 어드레스 방전시 저방전의 발생을 줄일 수 있다.
도 6b에 도시된 자(子)파형 모드의 구동 파형은 어드레스 기간(AP) 동안 Y 전극에 인가되는 파형이 도 2에 도시된 모(母)파형 모드의 구동 파형에 대해 변환되어 이루어진다. 즉, 도 6b에 도시된 자(子)파형 모드의 구동 파형에서 어드레스 기간(AP) 동안 Y 전극에 인가되는 파형의 VscL1 전압이 유지되는 기간(T21)이 도 2에 도시된 모(母)파형 모드의 구동 파형에서 어드레스 기간(AP) 동안 Y 전극에 인가되는 파형의 VscL 전압이 유지되는 기간(T2)보다 길다. 이러한 도 6b에 도시된 자(子)파형 모드의 구동 파형은 시간이 지남에 따라 발생할 수 있는 방전 딜레이의 증가로 인해 어드레스 방전시 발생하는 저방전을 방지하기 위한 방전 불량 대책 파형으로서, 어드레스 방전의 시간을 충분히 길게 만들어 어드레스 방전의 저방전의 발생을 줄일 수 있다.
상기와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 방전 불량 대책 모드별 구동 파형들을 미리 탑재하여, 플라즈마 표시 장치의 제조 공정중에 플라즈마 표시 패널(100)의 산포 등에 의해 방전 불량이 발생할 경우 키스캔을 이용해 플라즈마 표시 패널(100)의 구동 파형을 방전 불량 대책 모드로 정의된 자(子)파형 모드의 구동 파형으로 간단히 변경함으로써 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량에 대응할 수 있다. 이에 따라, 플라즈마 표시 장치의 제조 공정에서 발 생하는 제조 불량을 줄임으로써 제조 수율을 높일 수 있다.
다음은 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치에 대해 설명하기로 한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치와 비교하여 제어부의 모드 설정 제어부 구성과 모드 입력부의 구성이 다를 뿐 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치와 동일한 구성요소를 가지므로, 동일한 구성요소에 대해 동일한 도면부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다. 이에 따라, 본 발명의 다른 실시예에서는, 본 발명의 일 실시예와 차이를 갖는 모드 설정 제어부와 모드 입력부에 대해서 중점적으로 설명하기로 한다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 모드 설정 제어부의 상세 구성을 나타내는 블럭도이다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 플라즈마 표시 패널(100), 제어부(700), 구동부(300,400,500), 및 모드 입력부(800)를 포함한다. 또한, 제어부(700)는 모드 설정 제어부(720)를 포함하며, 구동부(300,400,500)는 구체적으로 어드레스 구동부(300), 스캔 구동부(400) 및 서스테인 구동부(500)로 구분된다. 이러한 플라즈마 표시 장치는 사용중에 플라즈마 표시 패널(100)에 방전 불량이 발생할 경우, 방전 불량 대책 모드에 맞는 구동 파형을 선택하여 플라즈마 표시 패널(100)에 인가함으로써 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량을 개선하도록 한다.
제어부(700) 및 모드 설정 제어부(720)는 도 1에 도시된 제어부(200) 및 모드 설정 제어부(220)와 동일한 작용을 한다. 다만, 제어부(700)의 모드 설정 제어부(720)의 구성이 제어부(200)의 모드 설정 제어부(220)의 구성과 다르므로 작용 과정에 있어서 다른 점이 있다.
도 7을 참조하면, 모드 설정부 제어부(720)는 모드 수신부(722), ASIC부(724) 및 마이컴(726)을 포함한다.
모드 수신부(722)는 수신부 메모리(723)를 구비하며, 사용자, 즉 플라즈마 표시 장치의 수리자로부터 모드 입력부(800)를 통해 모드신호를 수신하여 수신부 메모리(723)에 저장한다. 여기서, 수신부 메모리(723)는 이이피롬(EEPROM; Electrically Erasable Programmable Read Only Memory)으로 구현될 수 있다. 모드 수신부(722)는 모드 입력부(800)로부터 모드 신호를 수신하기 위해 아이스퀘어시(I-square-C; I2C)통신을 통해 모드 입력부(800)와 통신한다. 이와 같이, 사용자로부터 모드 입력부(800)를 통해 모드 신호를 수신부 메모리(723)에 저장하기 위한 명령어 구성은, 사용자로부터 모드 입력부(600)를 통해 모드 신호를 마이컴(222)의 마이컴 메모리(223)에 할당된 특정 주소번지에 저장하기 위한 명령어 구성과 동일하다.
ASIC부(724)는 ASIC 메모리(725)를 포함하며, 모드 수신부(722)의 수신부 메모리(723)에 저장된 모드 신호를 수신하여 ASIC 메모리(725)의 특정 주소번지에 저장한다. 여기서, ASIC 메모리(725)는 램(RAM; Random Access Memory)로 구현될 수 있다.
마이컴(726)은 마이컴 메모리(727)를 포함하여 ASIC부(724)와 연결되며, 마이컴 메모리(727)의 구성은 도 2에 도시된 마이컴(222)의 마이컴 메모리(223)의 구성과 동일하다. 다만, 마이컴(726)은, 마이컴(222)이 모드 입력부(600)와 직접 연결되어 모드 신호를 직접 수신함으로써 모드 신호에 따라 마이컴 메모리(223)의 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 자(子)파형 모드 데이터로 변경하는 것과 달리, 플라즈마 표시 장치의 사용시 ASIC부(724)의 ASIC 메모리(725) 중 특정 주소번지에 저장된 모드 신호를 체크하여 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 자(子)파형 모드 데이터로 변경한다. 이는, 모드 입력부(800)가, 제조 공정에서 모드 입력부(600)가 마이컴(222)에 직접 액세스(access)할 수 있는 것과 달리, 마이컴(726)에 직접 액세스(access) 할 수 없으므로, 모드 수신부(722)를 통해 마이컴(726)에 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량 모드에 대한 모드 신호를 제공하는 것이다.
그리고, 마이컴(726)은 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 ASIC부(724)에 전송한다. 그럼, ASIC부(724)는 ASIC 메모리(725)에 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 저장하고 제어부(700)가 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호를 생성하여 구동부(300,400,500)로 전송하도록 한다. 그럼, 구동부(300,400,500)는 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호에 의해 자(子)파형 모드의 구동 파형을 생성하여 플라즈마 표시 패널(100)에 인가한다. 따라서, 플라즈마 표시 패널(100)은 방전 불량 대책 모드인 자(子)파형 모드의 구동 파형에 의해 구동되므로, 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량이 개선될 수 있다.
모드 입력부(800)는 상술한 바와 같이 모드 설정 제어부(720), 구체적으로 모드 수신부(722)에 전송하는 모드 신호를 발생하며, 무선 통신 가능한 리모컨을사용한다. 리모컨은 플라즈마 표시 장치의 사용시 플라즈마 표시 패널(100)에 방전 불량이 발생될 경우 사용자가 플라즈마 표시 패널(100)의 구동 파형을 방전 불량 대책 모드인 복수의 자(子)파형 모드 중 어느 하나를 선택하기 위해 모드 신호를 모드 설정 제어부(720)에 전송하기 위한 명령어 입력 수단인 선택버튼을 구비한다.
상기와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 방전 불량 대책 모드별 구동 파형들을 미리 탑재하여, 플라즈마 표시 패널(100)의 산포 또는 경시 변화에 의해 방전 불량이 발생할 경우 리모컨을 이용해 플라즈마 표시 패널(100)의 구동 파형을 방전 불량 대책 모드로 정의된 자(子)파형 모드의 구동 파형으로 간단히 변경함으로써 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량에 대응할 수 있다. 이에 따라, 플라즈마 표시 장치에 대한 고객의 신뢰성을 높일 수 있다.
다음은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법에 대해 도 1 내지 도 6b를 결부하여 도 8을 참조하여 설명하기로 한다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법은 모드 신호 입력 단계(S10), 구동 파형 변경 단계(S20), 및 방전 불량 개선 확인 단계(S30)를 포함한다.
우선, 플라즈마 표시 장치의 제어부(200)에는 플라즈마 표시 패널(100)에 인 가되는 구동 파형으로서 정규 양산 파형으로 정의된 모(母)파형 모드와 방전 불량 대책 파형으로 정의된 복수의 자(字)파형 모드가 저장되어 있으며, 현재 플라즈마 표시 패널(100)에 인가되는 구동 파형이 모(母)파형 모드로 설정되어 있는 상태에서 플라즈마 표시 장치의 제조 공정 중 작업자의 육안검사에 의해 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량이 검출된 것으로 가정한다.
모드 신호 입력 단계(S10)는 모드 입력부(600)를 모드 설정 제어부(220), 구체적으로 마이컴(222)에 연결하여, 공정 작업자가 모드 입력부(600)를 통해 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량 대책 모드에 대한 모드 신호를 마이컴(222)에 전송하는 단계이다. 여기서, 모드 신호는 마이컴(222)의 마이컴 메모리(223) 중 특정 주소번지에 저장된다.
다음으로, 구동 파형 변경 단계(S20)는 모드 설정 제어부(220)가 모드 입력부(600)로부터 수신한 모드 신호에 따라 플라즈마 표시 패널(100)에 인가되는 구동 파형을 모(母)파형 모드에서 방전 불량 대책 파형으로 정의된 복수의 자(子)파형 모드 중 선택된 어느 하나로 변경하는 단계이다.
구체적으로, 마이컴(222)은 플라즈마 표시 장치의 전원을 오프시켰다 온 하면, 초기화 구간동안 마이컴 메모리(223)의 특정 주소번지에 저장된 모드 신호로부터 파형 설정 모드 기능의 온/오프를 체크하고, 파형 설정 모드 기능이 온 되어 있으면 다음으로 방송 모드의 온/오프를 체크한다. 만약, 파형 설정 모드 기능이 오프되어 있으면, 마이컴(222)은 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 그대로 ASIC부(224)에 전송한다.
이어서, 마이컴(222)은 해당 방송 모드의 방전 불량 대책 모드를 체크하여 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 해당 방송 모드의 방전 불량 대책 모드에 대한 자(子)파형 모드 데이터로 변경한다. 그리고, 마이컴(222)은 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 ASIC부(224)로 전송하고, ASIC부(224)는 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 ASIC 메모리(225)에 저장한다. 그럼, 제어부(200)는 ASIC부(224)의 ASIC 메모리(225)에 저장된 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호를 생성하여 구동부(300,400,500)로 전송한다. 그럼, 구동부(300,400,500)는 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호에 의해 변경된 (子)파형 모드의 구동 파형을 생성하여 플라즈마 표시 패널(100)에 인가한다. 이에 따라, 플라즈마 표시 패널(100)은 변경된 (子)파형 모드의 구동 파형에 의해 구동된다.
다음으로, 방전 불량 개선 확인 단계(S30)는 변경된 자(子)파형 모드의 구동 파형에 의해 구동되는 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량이 개선됐는지 확인하는 단계이다.
이를 위해, 방전 불량 개선 확인 단계(S30)에서는, 변경된 자(子)파형 모드의 구동 파형에 의해 구동되는 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량을 육안검사로 확인한다. 육안 검사를 통해 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량이 개선된 것이 확인되면 플라즈마 표시 장치의 제조 공정 투입을 계속적으로 진행하는 것으로 결정한다. 만약, 상기 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량이 개선되지 않은 것을 확인되면 상기 구동 파형 변경 단계(S20)를 다시 수행하여 플라즈마 표시 패 널(100)의 방전 불량을 개선한다.
다음은 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법에 대해 도 7을 결부하여 도 9를 참조하여 설명하기로 한다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 9를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법은 모드 신호 입력 단계(S110), 구동 파형 변경 단계(S120), 및 방전 불량 개선 확인 단계(S130)를 포함한다.
우선, 플라즈마 표시 장치의 제어부(700)에는 플라즈마 표시 패널(100)에 인가되는 구동 파형으로서 정규 양산 파형으로 정의된 모(母)파형 모드와 방전 불량 대책 파형으로 정의된 복수의 자(字)파형 모드가 저장되어 있고, 현재 플라즈마 표시 패널(100)에 인가되는 구동 파형이 모(母)파형 모드로 설정되어 있는 상태이고, 플라즈마 표시 장치의 사용고객은 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량이 발생됨을 확인하여 플라즈마 표시 장치의 수리자에게 플라즈마 표시 장치의 수리를 요청한 상태인 것으로 가정한다.
모드 신호 입력 단계(S110)는 플라즈마 표시 장치의 수리자가 모드 입력부(800)를 통해 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량 대책 모드에 대한 모드 신호를 무선통신으로 모드 설정 제어부(720), 구체적으로 모드 수신부(722)에 전송하는 단계이다. 여기서, 모드 신호는 모드 수신부(722)의 수신부 메모리(723)에 저장된다.
다음으로, 구동 파형 변경 단계(S120)는 모드 설정 제어부(720)가 모드 입력부(800)로부터 수신한 모드 신호에 따라 플라즈마 표시 패널(100)에 인가되는 구동 파형을 모(母)파형 모드에서 방전 불량 대책 파형으로 정의된 복수의 자(子)파형 모드 중 선택된 어느 하나로 변경하는 단계이다.
구체적으로, 플라즈마 표시 장치의 전원을 오프 시켰다 온 하면 모드 수신부(722)의 수신부 메모리(723)에 저장된 모드 신호가 모드 수신부(722)와 ASIC부(724)간의 아이스퀘어시(I-square-C; I2C) 통신을 통해 ASIC부(724)의 ASIC 메모리(725)에 할당된 특정 주소번지에 저장된다. 그리고, 마이컴(726)은 ASIC부(724)의 메모리 (725)에 할당된 특정 주소번지에 저장된 모드 신호를 읽어들여 모드 신호로부터 파형 설정 모드 기능의 온/오프를 체크하고, 파형 설정 모드 기능이 온 되어 있으면 다음으로 방송 모드의 온/오프를 체크한다. 만약, 파형 설정 모드 기능이 오프되어 있으면, 마이컴(726)은 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 그대로 ASIC부(724)에 다시 전송한다.
이어서, 마이컴(726)은 해당 방송 모드의 방전 불량 대책 모드를 체크하여 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 해당 방송 모드의 방전 불량 대책 모드에 대한 자(子)파형 모드 데이터로 변경한다. 그리고, 마이컴(726)은 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 ASIC부(724)로 전송하고, ASIC부(724)는 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 ASIC 메모리(725)에 저장한다. 그럼, 제어부(700)는 ASIC부(724)의 ASIC 메모리(725)에 저장된 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호를 생성하여 구동부(300,400,500)로 전송한다. 그럼, 구동 부(300,400,500)는 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호에 의해 변경된 (子)파형 모드의 구동 파형을 생성하여 플라즈마 표시 패널(100)에 인가한다. 이에 따라, 플라즈마 표시 패널(100)은 변경된 (子)파형 모드의 구동 파형에 의해 구동된다.
다음으로, 방전 불량 개선 확인 단계(S130)는 변경된 자(子)파형 모드의 구동 파형에 의해 구동되는 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량이 개선됐는지 확인하는 단계이다.
이를 위해, 방전 불량 개선 확인 단계(S130)에서는, 변경된 자(子)파형 모드의 구동 파형에 의해 구동되는 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량을 육안검사로 확인한다. 육안 검사를 통해 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량이 개선된 것이 확인되면 플라즈마 표시 장치의 수리자는 사용고객에게 플라즈마 표시 장치를 재사용하도록 한다. 만약, 상기 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량이 개선되지 않은 것을 확인되면 상기 구동 파형 변경 단계(S120)를 다시 수행하여 플라즈마 표시 패널(100)의 방전 불량을 개선한다.
본 발명은 첨부된 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치를 개략적으로 보여주는 블럭도이다.
도 2는 도 1의 플라즈마 표시 패널에 인가되는 모(母)파형 모드의 구동 파형의 일 예를 도시한 파형도이다.
도 3은 도 1의 모드 설정 제어부의 상세 구성을 나타내는 블럭도이다.
도 4는 자(子)파형 모드 데이터가 할당된 주소번지의 예를 도시한 예시도이다.
도 5는 자(子)파형 모드를 선택하기 위한 명령어 구성의 예를 도시한 예시도이다.
도 6a 및 도 6b는 자(子)파형 모드의 구동 파형을 예시적으로 보여주는 예시도들이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 파형 모드 설정부의 상세 구성을 나타내는 블럭도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 흐름도이다.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
100: 플라즈마 표시 패널 200, 700: 제어부
220, 720: 모드 설정 제어부 300: 어드레스 구동부
400: 스캔 구동부 500: 서스테인 구동부

Claims (17)

  1. 모드 신호를 발생하는 모드 입력부;
    외부로부터 영상신호와 상기 모드 입력부로부터 상기 모드 신호를 수신하며, 한 프레임을 복수의 서브 필드로 분할하여 구동하는 제어부;
    상기 제어부에 의해 제어되며, 구동 파형을 출력하는 구동부; 및
    상기 구동 파형이 인가되어 구동되는 플라즈마 표시 패널을 포함하며,
    상기 제어부는 상기 모드 신호에 따라 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 상기 구동 파형을 정규 양산 파형으로 정의된 모(母)파형 모드에서 방전 불량 대책 파형으로 정의된 복수의 자(子)파형 모드 중 선택된 어느 하나로 변경하는 모드 설정 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 모드 설정 제어부는
    모(母)파형 모드의 주소번지에 모(母)파형 모드 데이터를 저장하고 복수의 자(子)파형 모드의 주소번지에 복수의 자(子)파형 모드 데이터를 저장하고 특정 주소번지에 상기 모드 신호를 저장하는 마이컴 메모리를 구비하며, 상기 모드 신호에 따라 상기 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 상기 모(母)파형 모드 데이터를 상기 복수의 자(子)파형 모드 데이터 중 선택된 어느 하나의 자(子)파형 모드 데이터로 변경하는 마이컴; 및
    상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터가 전송되어 저장되는 ASIC 메모리를 구비하며, 상기 제어부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대해 제어신호를 생성하여 상기 구동부에 전송하도록 하여 상기 구동부가 상기 제어 신호에 의해 상기 구동 파형을 출력하도록 하는 ASIC(Applictaion Specific Interrated Circuit)부를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 모드 입력부는 선택버튼에 의해 선택되는 상기 모드 신호를 상기 모드 설정 제어부에 전송하는 키스캔인 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 모(母)파형 모드 데이터는 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형을 생성하기 위한 데이터이며,
    상기 자(子)파형 모드 데이터는 상기 자(子)파형 모드의 구동 파형을 생성하기 위한 데이터이며, 방송모드 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 모드 신호는 상기 플라즈마 표시 장치의 제조 공정에서 상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 발생된 경우 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형을 상기 복수의 자(子)파형 모드 중 상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량의 대책 모드에 해당하는 자(子)파형 모드의 구동 파형으로 변경하기 위한 명령신호인 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 모드 설정 제어부는
    수신부 메모리를 구비하며, 상기 모드 입력부로부터 상기 모드 신호를 수신하여 상기 수신부 메모리에 저장하는 모드 수신부;
    ASIC 메모리를 구비하며, 상기 수신부 메모리에 저장된 상기 모드 신호를 상기 ASIC 메모리에 할당된 특정 주소번지 저장하는 ASIC부; 및
    모(母)파형 모드의 주소번지에 모(母)파형 모드 데이터를 저장하고 복수의 자(子)파형 모드의 주소번지에 복수의 자(子)파형 모드 데이터를 저장하는 마이컴 메모리를 구비하며, 상기 ASIC 메모리 중 특정 주소번지에 저장된 상기 모드 신호에 따라 상기 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 복수의 자(子)파형 모드 데이터 중 선택된 어느 하나의 자(子)파형 모드 데이터로 변경하는 마이컴을 포함하며,
    상기 마이컴은 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 상기 ASIC부에 전송하며, 상기 ASIC부는 상기 제어부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호를 생성하여 상기 구동부에 전송하도록 하여 상기 구동부가 상기 제어 신호에 의해 상기 구동 파형을 출력하도록 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장 치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 모드 입력부는 선택버튼에 의해 선택되는 상기 모드 신호를 상기 모드 설정 제어부에 무선통신으로 전송하는 리모컨인 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 모(母)파형 모드 데이터는 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형을 생성하기 위한 데이터이며,
    상기 자(子)파형 모드 데이터는 상기 자(子)파형 모드의 구동 파형을 생성하기 위한 데이터이며, 방송모드 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 구동부에 의한 구동 파형은 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간의 파형을 포함하고,
    상기 복수의 자(子)파형 모드의 구동 파형은 상기 리셋 기간, 상기 어드레스 기간 및 서스테인 기간에 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 파형 중 적어도 어느 하나의 파형이 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형에 대해 변환된 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  10. 모드 입력부와 연결된 제어부의 제어에 의해 구동부로부터 구동 파형이 인가되어 구동되는 플라즈마 표시 패널을 구비하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법에 있어서,
    상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량 대책 모드에 대한 모드 신호를 입력하는 모드 신호 입력단계;
    상기 모드 신호에 따라 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 상기 구동 파형을 정규 양산 파형으로 정의된 모(母)파형 모드에서 방전 불량 대책 파형으로 정의된 복수의 자(子)파형 모드 중 선택된 어느 하나로 변경하는 구동 파형 변경 단계; 및
    상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 개선됐는지 확인하는 방전 불량 개선 확인 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 모드 신호 입력 단계는
    상기 모드 입력부가 상기 모드 신호를 상기 제어부에 포함된 모드 설정 제어부에 전송하는 단계; 및
    모(母)파형 모드의 주소번지에 모(母)파형 모드 데이터를 복수의 자(子)파형 모드의 주소번지에 복수의 자(子)파형 모드 데이터를 저장하는 마이컴 메모리를 구비하고 상기 모드 설정 제어부에 포함되는 마이컴이, 상기 마이컴 메모리에 할당된 특정 주소번지에 상기 모드 신호를 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 구동 파형 변경 단계는
    상기 플라즈마 표시 장치의 전원을 오프 시켰다 온 시켜, 상기 마이컴이 상기 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 상기 모(母)파형 모드 데이터를 상기 특정 주소 번지에 저장된 상기 모드 신호에 해당하는 자(子)파형 모드 데이터로 변경하는 단계;
    상기 모드 설정 제어부에 포함되며 상기 마이컴에 연결된 ASIC부의 ASIC 메모리에 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 저장하는 단계;
    상기 제어부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호를 생성하여 상기 구동부에 전송하는 단계; 및
    상기 구동부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호에 의해 생성한 구동 파형을 상기 플라즈마 표시 패널에 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 방전 불량 개선 확인 단계는
    상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 발생된 것이 확인되면 상기 구동 파형 변경 단계를 다시 수행하고,
    상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 개선된 것이 확인되면 상기 플라즈마 표시 장치의 제조 공정 투입을 계속적으로 진행하는 것으로 결정하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  14. 제 10 항에 있어서,
    상기 모드 신호 입력 단계는
    상기 모드 입력부가 상기 모드 신호를 상기 제어부에 포함된 모드 설정 제어부에 전송하는 단계; 및
    상기 모드 설정 제어부에 포함되며 수신부 메모리를 구비하는 모드 수신부에 상기 모드 신호를 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 구동 파형 변경 단계는
    상기 플라즈마 표시 장치의 전원을 오프 시켰다 온 시켜, 상기 모드 설정 제어부에 포함되며 상기 모드 수신부와 연결된 ASIC부의 ASIC 메모리에 할당된 특정 주소번지에 상기 모드 신호를 저장하고, 상기 모드 설정 제어부에 포함되며 상기 ASIC와 연결된 마이컴이 상기 ASIC 메모리의 특정 주소번지에 저장된 상기 모드 신 호를 읽어 들여 마이컴 메모리에 할당된 모(母)파형 모드의 주소번지에 저장된 모(母)파형 모드 데이터를 상기 모드 신호에 해당하는 자(子)파형 모드 데이터로 변경하는 단계;
    상기 모드 설정 제어부에 포함되며 상기 마이컴에 연결된 상기 ASIC부의 ASIC 메모리에 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터를 저장하는 단계;
    상기 제어부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호를 생성하여 상기 구동부에 전송하는 단계; 및
    상기 구동부가 상기 변경된 자(子)파형 모드 데이터에 대한 제어신호에 의해 생성한 구동 파형을 상기 플라즈마 표시 패널에 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 방전 불량 개선 확인 단계는
    상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 발생된 것이 확인되면 상기 구동 파형 변경 단계를 다시 수행하고,
    상기 플라즈마 표시 패널의 방전 불량이 개선된 것이 확인되면 상기 플라즈마 표시 장치를 재사용하는 것으로 결정하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  17. 제 10 항에 있어서,
    상기 복수의 자(子)파형 모드의 구동 파형은 한 프레임이 분할되어 나뉜 복수의 서브 필드 중 적어도 하나의 서브 필드의 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간 동안에 상기 플라즈마 표시 패널에 인가되는 파형을 상기 모(母)파형 모드의 구동 파형에 대해 변환한 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
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