KR20090020350A - A solid state disk test handler - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 에스에스디(SSD) 테스트 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 컴퓨터나 이동 단말기 등에서 데이터를 저장하기 위해 사용되는 SSD를 베어(bare) 상태에서 자동으로 테스트할 수 있는 에스에스디(SSD) 테스트 핸들러에 관한 것이다. The present invention relates to an SSD test handler, and more particularly, to test an SSD used for storing data in a computer or a mobile terminal in a bare state. It's about a handler.
에스에스디(Solid State Disk: 이하, SSD로 칭함)는 컴퓨터에 사용되는 하드디스크(hard disk)나 이동 단말기에 사용되는 미니(mini) 하드디스크를 대체하기 위해 사용된다. SSD는 플래쉬 메모리(flash memory)와 같은 소자를 사용하여 데이터를 저장함으로써 프로그램의 실행속도가 빠르고, 부팅 디스크(booting disk)로 사용 시 하드디스크에 비해 부팅시간이 단축되는 장점을 가지고 있다. Solid State Disk (hereinafter referred to as SSD) is used to replace a hard disk used in a computer or a mini hard disk used in a mobile terminal. SSD has the advantage of fast program execution speed by using data such as flash memory and faster booting time compared to hard disk when used as a boot disk.
SSD의 구성 및 작용을 첨부된 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The configuration and operation of the SSD will be described with reference to FIG. 1.
도 1에 도시된 SSD는 케이스(case)(도시 않음)가 조립되지 않은 베어(bare) 상태의 SSD를 나타내며, 베어 상태의 SSD는 인쇄회로기판(1), 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(connector)(5)로 구성된다. 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(5)는 각각 인쇄회 로기판(1)에 실장되며, 각각을 실장 시 SSD의 데이터의 저장 용량에 따라 인쇄회로기판(1)의 일면에 제어기(3)와 입출력제어기(4)를 실장하고, 타면에 데이터를 저장하는 플래쉬 메모리(2)를 실장하여 구성할 수 있다. The SSD shown in FIG. 1 represents a bare SSD in which a case (not shown) is not assembled, and the bare SSD represents a
SSD를 구성하는 제어기(3)는 SSD를 전반적으로 제어하며, 입출력제어기(4)는 커넥터(5)를 통해 입출력되는 데이터의 입출력을 제어한다. 다수개의 플래쉬 메모리(2)는 제어기(3)의 제어에 따라 입출력제어기(4)에서 입력되는 데이터를 저장하고, 출력할 데이터를 입출력제어기(4)로 출력한다. 입출력제어기(4)는 입력되거나 출력되는 데이터를 커넥터(5)로 전송하거나 수신되도록 제어한다. 데이터가 입출력되는 커넥터(5)는 다수개의 핀(5a)이 구비되어 컴퓨터나 이동단말기의 입출력단자(도시 않음)에 연결된다. The
케이스(도시 않음)가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD는 커넥터(5)에 구비되는 다수개의 핀(5a)으로 인해 종래의 테스트 핸들러를 이용하여 자동으로 테스트를 실시할 수 없어 SSD의 전기적인 특성 테스트 시 작업자가 수작업이나 반자동으로 테스터에 SSD를 장착하여 테스트를 실시하였다. The bare state of the SSD (not shown) can not be automatically tested using a conventional test handler due to the plurality of pins (5a) provided in the connector (5) electrical characteristics of the SSD The tester carried out the test by attaching the SSD to the tester manually or semi-automatically.
종래와 같이 베어 상태의 SSD를 수작업을 이용하여 테스트하는 경우 작업자의 숙련도에 따라 테스트 작업의 생산성이 결정되며, 숙련도가 낮은 경우에 테스트 작업의 생산성이 저하되는 문제점이 있었다.When the SSD in the bare state is tested using a manual process as in the related art, the productivity of the test task is determined according to the skill of the operator, and there is a problem in that the productivity of the test task is deteriorated when the skill is low.
본 발명은 이러한 종래기술의 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 그 목적은 케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD를 자동으로 테스트할 수 있는 SSD 테스트 핸들러를 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the problems of the prior art, and an object thereof is to provide an SSD test handler capable of automatically testing a bare SSD in which a case is not assembled.
본 발명의 다른 목적은 SSD를 자동으로 테스트할 수 있도록 함으로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 SSD 테스트 핸들러를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide an SSD test handler that can improve the productivity of the SSD test by allowing the SSD to be automatically tested.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 SSD를 테스트(test)하기 위해 다수개의 테스트 트레이 접촉부가 수직방향으로 배열되어 설치되는 테스트부와; 테스트부의 일측에 설치되어 테스트 트레이(test tray)를 다수개의 테스트 트레이 접촉부중 하나의 테스트 트레이 접촉부로 로딩(loading) 및 언로딩(unloading)시키는 제1테스트 트레이 이송부와, 테스트부의 일측에 제1테스트 트레이 이송부와 대향되도록 설치되어 나머지 테스트 트레이 접촉부로 테스트 트레이를 로딩/언로딩시키는 제2테스트 트레이 이송부로 이루어지는 제1트레이 이송부와; 제1트레이 이송부의 일측에 설치되어 SSD의 커넥터 핀(connect pin)이 테스트 트레이 접촉부를 향하거나 저면을 향하도록 회전시켜 테스트될 SSD를 테스트 트레이에 수납하거나 테스트 트레이에서 테스트된 SSD를 배출하는 제1셔틀 회전이송부와; 제1셔틀(shuttle) 회전이송부의 일측에 설치되어 테스트될 SSD를 제1셔틀 회전이송부로 이송하여 로딩시키는 제1SSD 로딩부와; 제1셔틀 회전이송부의 일측에 제1SSD 로딩부와 대향되도록 설치되어 제1셔틀 회전이송부에 수납된 테스트된 SSD를 이송받아 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 언로딩시키는 제1SSD 언로딩부로 구비됨을 특징으로 한다.The SSD test handler of the present invention includes: a test unit in which a plurality of test tray contacts are arranged in a vertical direction to test an SSD; A first test tray transfer unit installed at one side of the test unit to load and unload a test tray to one of the plurality of test tray contacts, and a first test to one side of the test unit A first tray transfer unit installed to face the tray transfer unit, the first tray transfer unit including a second test tray transfer unit configured to load / unload the test tray to the remaining test tray contacts; A first tray installed at one side of the first tray transfer unit to rotate the connector pin of the SSD toward the test tray contact portion or the bottom surface to accommodate the SSD to be tested in the test tray or to discharge the tested SSD from the test tray; A shuttle rotation transfer unit; A first SSD loading unit which is installed on one side of the first shuttle rotating transfer unit and transfers and loads the SSD to be tested to the first shuttle rotating transfer unit; The first SSD unloading is installed on one side of the first shuttle rotation transfer unit so as to face the first SSD loading unit, and receives the tested SSD stored in the first shuttle rotation transfer unit to classify and unload it into good or bad according to the test result. Characterized in that provided.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD를 자동으로 테스트할 수 있도록 함으로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 이점을 제공한다. The SSD test handler of the present invention provides an advantage of improving the productivity of the SSD test operation by automatically testing the SSD in a bare state where the case is not assembled.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다. Embodiments of the SSD test handler of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
(제1실시예)(First embodiment)
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도이고, 도 3은 도 2에 도시된 제1트레이 이송부의 확대 정면도이며, 도 4는 도 2에 도시된 제1트레이 이송부의 확대 측면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 제1실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(100)는 테스트부(110), 제1트레이 이송부(120), 제1셔틀 회전이송부(130), 제1SSD 로딩부(140) 및 제1SSD 언로딩부(150)로 구비되며 각각의 구성을 순차적으로 설명하면 다음과 같다.2 is a plan view illustrating a configuration of an SSD test handler according to a first exemplary embodiment of the present invention, FIG. 3 is an enlarged front view of the first tray transfer unit illustrated in FIG. 2, and FIG. 4 is a first tray illustrated in FIG. 2. An enlarged side view of the conveying part. As shown, the
테스트부(110)는 SSD를 테스트하기 위해 다수개의 테스트 트레이 접촉부(111)가 Z축방향 즉, 수직방향으로 배열되어 설치되며, 테스트부(110)는 테스트 트레이(T)와 전기적으로 접촉되기 위해 테스트 트레이(T)가 테스트 트레이 접촉부(111)에 접촉되도록 구성하거나 직선이송기구(도시 않음)등을 이용하여 테스트부(110)를 테스트 트레이(T)로 이송시켜 테스트 트레이 접촉부(111)와 테스트 트레이(T)가 전기적으로 접촉될 수 있도록 구성할 수 있다.In order to test the SSD, the
제1트레이 이송부(120)는 테스트부(110)의 일측에 설치되며, 제1테스트 트레이 이송부(121)와 제2테스트 트레이 이송부(122)로 이루어진다. The first
제1테스트 트레이 이송부(121)는 테스트 트레이(T)를 다수개의 테스트 트레이 접촉부(111)중 하나의 테스트 트레이 접촉부(111)로 로딩 및 언로딩시키기 위해 테스트부(110)의 일측에 설치되며, 제1테스트 트레이 승강기구(121a)와 제1테스트 트레이 직선이송기구(121b)로 구성된다. 제1테스트 트레이 승강기구(121a)는 테스트 트레이(T)를 Z축방향 즉, 수직방향으로 이송시키기 위해 테스트부(110)의 일측에 위치되도록 설치되며, 제1테스트 트레이 직선이송기구(121b)는 테스트 트레이(T)를 X축 방향 즉, 수평방향으로 이송시키기 위해 제1테스트 트레이 승강기구(121a)의 상단에 설치된다. The first test
제2테스트 트레이 이송부(122)는 나머지 테스트 트레이 접촉부(111)로 테스트 트레이(T)를 로딩/언로딩시키기 위해 테스트부(110)의 일측에 제1테스트 트레이 이송부(121)와 대향되도록 설치되며, 제2테스트 트레이 승강기구(122a)와 제2테스트 트레이 직선이송기구(122b)로 구성된다. 제2테스트 트레이 승강기구(122a)는 테스트 트레이(T)를 수직방향으로 이송시키기 위해 테스트부(110)의 일측에 제1테스트 트레이 승강기구(121a)와 대향되도록 설치되며, 제2테스트 트레이 직선이송기구(122b)는 테스트 트레이(T)를 수평방향으로 이송시키기 위해 제2테스트 트레이 승강기구(122a)의 하단에 설치된다. The second test
제1셔틀 회전이송부(130)는 SSD의 커넥터 핀(5a)이 테스트 트레이 접촉부(111)를 향하거나 저면을 향하도록 회전시켜 테스트될 SSD를 테스트 트레이(T)에 수납하거나 테스트 트레이(T)에서 테스트된 SSD를 배출하기 위해 제1트레이 이송부(120)의 일측에 설치되며, 제1X-Y축 이송로봇(131), 다수개의 Z축 이송로봇(132), 다수개의 셔틀회전부(133) 및 다수개의 셔틀(134)로 구성된다. The first shuttle
제1X-Y축 이송로봇(131)은 테스트부(110)의 일측에 설치되고, 다수개의 Z축 이송로봇(132)은 X-Y축 방향으로 이송되도록 제1X-Y축 이송로봇(131)에 설치되며, 다수개의 셔틀회전부(133)는 Z축 방향으로 이송되도록 다수개의 Z축 이송로봇(132)에 각각 설치된다. 다수개의 셔틀(134)은 다수개의 셔틀회전부(133)에 의해 수납된 SSD의 커넥터 핀(5a: 도 1에 도시됨)이 테스트 트레이 접촉부(111)를 향하거나 저면을 향하도록 회전되어 테스트될 SSD를 테스트 트레이(T)에 수납하거나 테스트 트레이(T)에서 테스트된 SSD를 배출할 수 있도록 하는 다수개의 셔틀회전부(133)에 각각 설치된다.The first X-Y
제1SSD 로딩부(140)는 테스트될 SSD를 제1셔틀 회전이송부(130)로 이송하기 위해 제1셔틀 회전이송부(130)의 일측에 설치되며, 다수개의 로딩적재부(141), 다수개의 카세트 로딩이송기구(142) 및 제1SSD 로딩헤드부(143)로 구성된다.The first
다수개의 로딩적재부(141)는 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 카세트(C)를 각각 적재하기 위해 제1SSD 로딩부(140)는 제1셔틀 회전이송부(130)의 일측에 설치되며, 다수개의 카세트 로딩이송기구(142)는 다수개의 로딩적재부(141)에 적재된 테스트될 SSD가 수납된 카세트(C)를 제1셔틀 회전이송부(130)측으로 이송시키기 위해 다수개의 로딩적재부(141)의 타측에 각각 설치된다. 제1SSD 로딩헤드부(143)는 다수개의 카세트 로딩이송기구(142)에 의해 제1셔틀 회전이송부(130)측으로 이송된 테스트될 SSD가 수납된 카세트(C)에서 테스트될 SSD를 제1셔틀 회전이송부로 이송하기 위해 다수개의 카세트 로딩이송기구(142) 중 어느 하나의 일측에 설치된다. 제1SSD 로딩헤드부(143)는 테스트될 SSD를 이송하기 위해 X-Y축 이송로봇(143a) 및 SSD를 파지하는 헤드(143b)로 이루어진다. The
제1SSD 언로딩부(150)는 제1셔틀 회전이송부(130)에 수납된 테스트된 SSD를 이송받아 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 언로딩시키기 위해 제1셔틀 회전이송부(130)의 일측에 제1SSD 로딩부(140)와 대향되도록 설치되며, 다수개의 언로딩적재부(151), 다수개의 카세트 언로딩이송기구(152), 다수개의 불량품 언로딩적재부(153), 다수개의 불량품 카세트 언로딩이송기구(154) 및 제1SSD 언로딩헤드부(155)로 구성된다. The first
다수개의 언로딩적재부(151)는 테스트된 SSD를 수납하기 위한 다수개의 카세트(C)를 적재하기 위해 제1SSD 언로딩부(150)는 제1셔틀 회전이송부(130)의 일측에 제1SSD 로딩부(140)와 대향되도록 설치되며, 다수개의 카세트 언로딩이송기구(152)는 다수개의 언로딩적재부(151)에 적재된 카세트(C)를 테스트된 SSD중 양품을 수납하기 위해 제1셔틀 회전이송부(130)측으로 이송되도록 다수개의 언로딩적재부(151)의 타측에 각각 설치된다. 다수개의 불량품 언로딩적재부(153)는 테스트된 SSD 중 불량품 SSD를 수납하기 위한 다수개의 카세트(C)를 적재하기 위해 다수개의 언로딩 적재부(151) 중 어느 하나의 타측에 설치되며, 다수개의 불량품 카세트 언로딩이송기구(154)는 다수개의 불량품 언로딩적재부(153)에 적재된 카세트(C)를 테스트된 SSD 중 불량품을 수납하기 위해 제1셔틀 회전이송부(130)측으로 이송되도록 다수개 의 불량품 언로딩적재부(153)의 타측에 각각 설치된다. 제1SSD 언로딩헤드부(155)는 다수개의 카세트 언로딩이송기구(152)와 다수개의 불량품 카세트 언로딩이송기구(154)에 의해 각각 제1셔틀 회전이송부(130)측으로 이송된 카세트(C)에 제1셔틀 회전이송부(130)에 수납된 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 수납할 수 있도록 다수개의 카세트 언로딩이송기구(152) 중 어느 하나의 타측에 설치된다. 제1SSD 언로딩헤드부(155)는 테스트된 SSD를 분류하기 위해 X-Y축 이송로봇(155a) 및 SSD를 파지하는 헤드(155b)로 이루어진다.The plurality of unloading
제1SSD 로딩부(140)와 제1SSD 언로딩부(150)는 각각의 타측에 제1SSD 로딩부(140)에서 테스트될 SSD가 배출된 빈 카세트(C)를 제1SSD 언로딩부(150)로 이송하기 위해 빈 카세트 이송기구(156)가 더 구비되어 설치된다. 또한 본 발명의 제1실시예의 SSD 테스트 핸들러(100)에 적용되는 적재부들은 스택커가 적용되며, 이송기구나 승강기구는 볼 스크류나 리니어모터가 적용된다. The first
상기 구성을 갖는 본 발명의 제1실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(100)의 작용을 첨부된 도 2 내지 도 4를 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the
제1SSD 로딩부(140)에 테스트될 SSD가 수납된 카세트(C)가 적재되면 이를 제1셔틀 회전이송부(130)로 이송한다. 제1셔틀 회전이송부(130)는 이송된 테스트될 SSD를 테스트 트레이(T)로 수납될 수 있도록 회전시켜 테스트부(110)를 기준으로 양측 중 어느 하나에 위치한 테스트 트레이(T)에 수납한다. 테스트 트레이(T)에 테스트될 SSD를 수납시 테스트 트레이(T)나 셔틀(134) 중 어느 하나를 Z축방향으로 스텝 이송시켜 테스트될 SSD를 수납시킨다. 테스트 트레이(T)에 테스트될 SSD가 모 두 수납되면 제1트레이 이송부(120)는 테스트 트레이(T)를 테스트부(110)로 이송하고, 테스트부(110)에서 테스트가 완료된 SSD가 수납된 테스트 트레이(T)를 이송한다. 즉, 제1트레이 이송부(120)는 테스트부(110)의 일측에서 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이(T)가 이송되면 테스트부(110)에서 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(T)를 타측으로 이송시킨다. 제1트레이 이송부(120)는 두 개의 테스트 트레이(T)가 설치되며, 도 2 내지 도 5에 도시된 점선으로 도시된 테스트 트레이(T)는 테스트 트레이(T)의 이송방향을 설명하기 위해 도시한 것이다. When the cassette C containing the SSD to be tested is loaded in the first
테스트부(110)의 타측으로 이송된 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(T)가 이송되면 이를 제1셔틀 회전이송부(130)에서 수납하여 SSD의 커넥터 핀(5a)이 저면 즉, Z축방향에서 하측을 향하도록 회전시킨다. 테스트된 SSD가 회전되면 테스트될 SSD를 테스트 트레이(T)에 수납하는 방법과 동일하게 제1셔틀 회전이송부(130)에서 이송 받는다. 여기서, 테스트 트레이(T)에 테스트될 SSD를 수납하는 과정과 테스트된 SSD를 배출하는 과정은 테스트 트레이(T)에서 한 열에 수납된 테스트된 SSD가 배출되면 그 위치에 테스트될 SSD를 수납하는 과정을 반복하여 테스트 트레이(T)에 테스트될 SSD를 수납하거나 테스트된 SSD를 배출한다. 제1셔틀 회전이송부(130)로 테스트된 SSD가 수납되면 제1SSD 언로딩부(150)는 이를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 빈 카세트(C)에 수납하게 된다.When the test tray T containing the tested SSD transferred to the other side of the
(제2실시예)Second Embodiment
도 5는 본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도이고, 도 6은 도 5에 도시된 제2트레이 이송부의 확대 정면도이며, 도 7은 도 5에 도시된 제2트레이 이송부의 확대 측면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 SSD 테스트 핸들러(200)는 테스트부(210), 제2트레이 이송부(220), 제2셔틀 회전이송부(230), 제2SSD 로딩부(240) 및 제2SSD 언로딩부(250)로 구성되며, 각각의 구성을 순차적으로 설명하면 다음과 같다.5 is a plan view illustrating a configuration of an SSD test handler according to a second embodiment of the present invention, FIG. 6 is an enlarged front view of a second tray transfer unit illustrated in FIG. 5, and FIG. 7 is a second tray illustrated in FIG. 5. An enlarged side view of the conveying part. As shown, the
테스트부(210)는 SSD를 테스트하기 위해 다수개의 테스트 트레이 접촉부(211)가 수직방향으로 배열되어 설치되며, 본 발명의 제1실시예에 따른 테스트부(110)와 동일하게 구성된다. The
제2트레이 이송부(220)는 테스트부(210)의 일측에 설치되며, 제3테스트 트레이 이송부(221)와 제4테스트 트레이 이송부(222)로 이루어지며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다. The second
제3테스트 트레이 이송부(221)는 테스트될 SSD를 수납하거나 테스트된 SSD를 배출하기 위해 테스트 트레이(T)를 수직방향으로 스텝 이송시키며, 스텝 이송되는 동안 테스트 트레이(T)에 테스트될 SSD가 수납되거나 테스트된 SSD가 배출되면 테스트 트레이(T)를 테스트부(210)의 다수개의 테스트 트레이 접촉부(211)중 하나로 로딩하거나 언로딩시키기 위해 테스트부(210)의 일측에 설치된다. 제4테스트 트레이 이송부(222)는 테스트될 SSD를 수납하거나 테스트된 SSD를 배출하기 위해 테스트 트레이(T)를 수직방향으로 스텝 이송시키며, 스텝 이송되는 동안 테스트 트레이(T)에 테스트될 SSD가 수납되거나 테스트된 SSD가 배출되면 테스트 트레이(T)를 테스트부(210)의 다수개의 테스트 트레이 접촉부(211)중 나머지로 로딩하거나 언로딩시키기 위해 테스트부(210)의 일측에 제3테스트 트레이 이송부(221)와 대향되도 록 설치된다. The third test
테스트 트레이(T)를 이송시키는 제3 및 제4테스트 트레이 이송부(221,222)는 각각 제3테스트 트레이 승강기구(221a,222a), 제4테스트 트레이 승강기구(221b,222b), 제3테스트 트레이 직선이송기구(221c,222c), 제4테스트 트레이 직선이송기구(221d,222d) 및 제5테스트 트레이 직선이송기구(221e,222e)로 구성되며 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.The third and fourth test
제3테스트 트레이 승강기구(221a,222a)는 테스트 트레이(T)를 수직방향으로 이송시키기 위해 테스트부(210)의 일측에 설치되며, 제4테스트 트레이 승강기구(221b,222b)는 테스트될 SSD를 수납하거나 테스트된 SSD를 배출하기 위해 테스트 트레이(T)를 수직방향으로 스텝 이송시키기 위해 제3테스트 트레이 승강기구(221a,222a)와 대향되도록 설치된다. 제3테스트 트레이 직선이송기구(221c,222c)는 테스트 트레이(T)를 제3테스트 트레이 승강기구(221a,222a)에서 제4테스트 트레이 승강기구(221b,222b)로 이송시키기 위해 제3테스트 트레이 승강기구(221a,222a)와 제4테스트 트레이 승강기구(221b,222b)의 상측에 설치된다. 제4테스트 트레이 직선이송기구(221d,222d)는 테스트 트레이(T)를 제4테스트 트레이 승강기구(221b,222b)에서 제3테스트 트레이 승강기구(221a,222a)로 이송시키기 위해 4테스트 트레이 승강기구(221a,222a)와 제4테스트 트레이 승강기구(221b,222b)의 하측에 설치된다. 제5테스트 트레이 직선이송기구(221e,222e)는 테스트될 SSD가 수납되거나 테스트된 SSD가 수납되는 테스트 트레이(T)를 테스트부(210)의 다수개의 테스트 트레이 접촉부(211)중 하나로 로딩하거나 언로딩시키기 위해 제4테스트 트 레이 직선이송기구(221d,222d)에 설치된다. The third test
제2셔틀 회전이송부(230)는 SSD의 커넥터 핀(5a)이 테스트 트레이 접촉부(211)를 향하거나 저면을 향하도록 회전시켜 테스트될 SSD를 테스트 트레이(T)에 수납하거나 테스트 트레이(T)에서 테스트된 SSD를 배출하기 위해 제2트레이 이송부(220)의 일측에 설치되며, 제2X-Y축 이송로봇(231), 다수개의 셔틀회전부(232) 및 다수개의 셔틀(233)로 구성된다. The second shuttle
제2X-Y축 이송로봇(231)은 테스트부(210)의 일측에 설치되고, 다수개의 셔틀회전부(232)는 X-Y축 방향으로 이송될 수 있도록 제2X-Y축 이송로봇(231)에 설치된다. 다수개의 셔틀(233)은 셔틀회전부(232)에 의해 수납된 SSD의 커넥터 핀(5a)이 테스트 트레이 접촉부(211)를 향하거나 저면을 향하도록 회전되어 테스트될 SSD를 테스트 트레이(T)에 수납하거나 테스트 트레이(T)에서 테스트된 SSD를 배출되도록 하기 위해 다수개의 셔틀회전부(232)에 각각 설치된다. The second X-Y
제2SSD 로딩부(240)는 테스트될 SSD를 제2셔틀 회전이송부(230)로 이송하여 로딩시키기 위해 제2셔틀 회전이송부(230)의 일측에 설치되며, 다수개의 로딩적재부(241), 다수개의 카세트 로딩이송기구(242) 및 제2SSD 로딩헤드부(243)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.The second
다수개의 로딩적재부(241)는 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 카세트(C)를 각각 적재하기 위해 제2SSD 로딩부(240)는 제2셔틀 회전이송부(230)의 일측에 설치되며, 다수개의 카세트 로딩이송기구(242)는 다수개의 로딩적재부(241)에 적재된 테스트될 SSD가 수납된 카세트(C)를 제2셔틀 회전이송부(230)측으로 이송시키기 위 해 다수개의 로딩적재부(241)의 타측에 각각 설치된다. 제2SSD 로딩헤드부(243)는 다수개의 카세트 로딩이송기구(242)에 의해 제2셔틀 회전이송부(230)측으로 이송된 테스트될 SSD가 수납된 카세트(C)에서 테스트될 SSD를 제2셔틀 회전이송부로 이송하기 위해 다수개의 카세트 로딩이송기구(242) 중 어느 하나의 일측에 설치된다. SSD를 이송시키기 위해 제2SSD 로딩헤드부(243)는 X-Y축 이송로봇(243a) 및 SSD를 파지하는 헤드(243b)로 구성된다.The plurality of
제2SSD 언로딩부(250)는 제2셔틀 회전이송부(230)에 수납된 테스트된 SSD를 이송받아 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 언로딩시키기 위해 제2셔틀 회전이송부(230)의 일측에 제2SSD 로딩부(240)와 대향되도록 설치되며, 다수개의 언로딩적재부(251), 다수개의 카세트 언로딩이송기구(252), 다수개의 불량품 언로딩적재부(253), 다수개의 불량품 카세트 언로딩이송기구(254) 및 제2SSD 언로딩헤드부(255)로 구성된다.The second
다수개의 언로딩적재부(251)는 테스트된 SSD를 수납하기 위한 다수개의 카세트(C)를 적재하기 위해 제2SSD 언로딩부(250)는 제2셔틀 회전이송부(230)의 일측에 제2SSD 로딩부(240)와 대향되도록 설치되며, 다수개의 카세트 언로딩이송기구(252)는 다수개의 언로딩적재부(251)에 적재된 카세트(C)를 테스트된 SSD중 양품을 수납하기 위해 제2셔틀 회전이송부(230)측으로 이송시키기 위해 다수개의 언로딩적재부(251)의 타측에 각각 설치된다. 다수개의 불량품 언로딩적재부(253)는 테스트된 SSD 중 불량품 SSD를 수납하기 위한 다수개의 카세트(C)를 적재하기 위해 다수개의 로딩 적재부(251) 중 어느 하나의 타측에 설치되며, 다수개의 불량품 카세트 언로 딩이송기구(254)는 다수개의 불량품 언로딩적재부(253)에 적재된 카세트(C)를 테스트된 SSD 중 불량품을 수납하기 위해 제2셔틀 회전이송부(230)측으로 이송시키기 위해 다수개의 불량품 언로딩적재부(253)의 타측에 각각 설치된다. 제2SSD 언로딩헤드부(255)는 다수개의 카세트 언로딩이송기구(252)와 다수개의 불량품 카세트 언로딩이송기구(254)에 의해 각각 제2셔틀 회전이송부(230)측으로 이송된 카세트(C)에 제2셔틀 회전이송부(230)에 수납된 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 수납하기 위해 다수개의 카세트 언로딩이송기구(252) 중 어느 하나의 타측에 설치된다. 테스트된 SSD를 이송시키는 제2SSD 언로딩헤드부(255)는 X-Y축 이송로봇(255a)과 테스트된 SSD를 파지하는 헤드(255b)로 구성된다.The plurality of unloading
테스트될 SSD를 로딩하거나 테스트된 SSD를 언로딩하는 제2SSD 로딩부(240)와 제2SSD 언로딩부(250)는 각각의 타측에 제2SSD 로딩부(240)에 위치한 빈 카세트(C)를 제2SSD 언로딩부(250)로 이송하기 위한 빈 카세트 이송기구(256)가 더 구비되어 설치된다. 또한 본 발명의 제2실시예의 SSD 테스트 핸들러(200)에 적용되는 적재부들은 스택커가 적용되며, 이송기구나 승강기구는 볼 스크류나 리니어모터가 적용된다. The second
상기 구성을 갖는 본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(200)의 작용을 첨부된 도 5 내지 도 7을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the
본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(200)에서 테스트부(210), 제2셔틀 회전이송부(230), 제2SSD 로딩부(240) 및 제2SSD 언로딩부(250)의 작용은 제1실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(100)의 작용과 동일하므로 상세한 설명은 생략 한다. 제2트레이 이송부(220)는 적어도 4개 이상의 테스트 트레이(T)를 적용할 수 있다. 따라서, 테스트부(210)에 두개의 테스트 트레이(T)에 수납된 SSD가 테스트하는 동안 제2트레이 이송부(220)는 두개의 테스트 트레이(T)에 테스트될 SSD를 수납하게 된다.Actions of the
테스트될 SSD를 수납하는 방법은 테스트 트레이(T)를 수직방향으로 스텝 이송시켜 수납한다. 테스트될 SSD를 수납 시 테스트 트레이(T)에 수납된 테스트된 SSD를 배출하고, 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납하게 된다. 두개의 테스트 트레이(T)에 모두 테스트될 SSD가 수납되면 제2트레이 이송부(220)는 테스트부(210)에서 테스트된 SSD가 수납된 두개의 테스트 트레이(T)를 배출시키고 테스트될 SSD가 수납된 두개의 테스트 트레이(T)를 테스트부(210)로 이송시켜 SSD를 테스트하게 된다. 테스트부(210)에서 배출된 두개의 테스트 트레이(T)에 수납된 테스트된 SSD는 제2SSD 언로딩부(250)에 의해 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류되어 적재된다.In the method of accommodating the SSD to be tested, the test tray T is transported in a vertical direction to accommodate the SSD. When storing the SSD to be tested, the tested SSD stored in the test tray T is discharged, and the SSD to be tested is stored in the discharged position. When the SSD to be tested is accommodated in both test trays T, the second
(제3실시예)(Third Embodiment)
도 8은 본 발명의 제3실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도이고, 도 9는 도 8에 도시된 제3트레이 이송부의 확대 정면도이며, 도 10은 도 8에 도시된 제3트레이 이송부의 확대 측면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 제3실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(300)는 테스트부(310), 제3트레이 이송부(320), 셔틀 이송부(330), 카세트 로딩 및 언로딩부(340) 및 SSD 이송 로봇(350)으로 구성되며, 각각의 구성을 순차적으로 설명하면 다음과 같다. 8 is a plan view illustrating a configuration of an SSD test handler according to a third embodiment of the present invention, FIG. 9 is an enlarged front view of a third tray transfer unit illustrated in FIG. 8, and FIG. 10 is a third tray illustrated in FIG. 8. An enlarged side view of the conveying part. As shown, the
테스트부(310)는 SSD를 테스트하기 위해 다수개의 테스트 트레이 접촉부(311)가 수직방향으로 배열되어 설치되며, 상세한 구성 및 작용은 본 발명의 제1 및 제2실시예에 따른 테스트부(110,210)와 동일한 구성을 가지므로 상세한 설명은 생략한다. The
제3트레이 이송부(320)는 테스트부(310)의 일측에 설치되며, 제1테스트 트레이 회전이송부(321)와 제2테스트 트레이 회전이송부(322)로 이루어지며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.The third
제1테스트 트레이 회전이송부(321)는 테스트 트레이(T)를 수평이나 수직이 되도록 회전시키거나 수직으로 회전된 테스트 트레이(T)를 이송시키고, 테스트 트레이(T)에 테스트될 SSD가 수납되거나 테스트된 SSD가 수납되면 다수개의 테스트 트레이 접촉부(311)중 하나의 테스트 트레이 접촉부(311)로 로딩 및 언로딩시키기 위해 테스트부(310)의 일측에 설치된다. 제2테스트 트레이 회전이송부(322)는 테스트 트레이(T)를 수평이나 수직이 되도록 회전시키거나 수직으로 회전된 테스트 트레이(T)를 이송시키고, 테스트 트레이(T)에 테스트될 SSD가 수납되거나 테스트된 SSD가 수납되면 다수개의 테스트 트레이 접촉부(311)중 나머지 하나의 테스트 트레이 접촉부(311)로 로딩 및 언로딩시키기 위해 테스트부(310)의 일측에 제1테스트 트레이 회전이송부(321)와 대향되도록 설치된다. The first test tray
테스트 트레이(T)를 이송시키는 제1 및 제2테스트 트레이 회전이송부(321,322)는 테스트 트레이 회전기구(321a,322a), 제5테스트 트레이 승강기구(321b,322b) 및 제6테스트 트레이 이송기구(321c,322c)로 구성되며, 각각의 구성 을 설명하면 다음과 같다. The first and second test tray
테스트 트레이 회전기구(321a,322a)는 각각 테스트 트레이(T)를 수평 및 수직으로 회전시키며, 제5테스트 트레이 승강기구(321b,322b)는 테스트 트레이(T)를 수직방향으로 이송시키기 위해 테스트 트레이 회전기구(321a,322a)의 사이에 위치되도록 설치된다. 제6테스트 트레이 이송기구(321c,322c)는 테스트될 SSD가 수납되거나 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(T)를 다수개의 테스트 트레이 접촉부(311)로 로딩 및 언로딩시키기 위해 제5테스트 트레이 승강기구(321b,322b)의 각각의 일측이나 타측에 설치된다. The test
셔틀 이송부(330)는 테스트될 SSD를 수납하거나 테스트된 SSD를 수납하기 위해 제3트레이 이송부(320)의 일측에 설치되며, 다수개의 셔틀(331)과 Y축 이송로봇(332)으로 구성된다. The
다수개의 셔틀(331)은 테스트될 SSD나 테스트된 SSD를 수납하며, Y축 이송로봇(332)은 다수개의 셔틀(331)에 테스트될 SSD나 테스트된 SSD가 수납되도록 다수개의 셔틀(331)을 각각 카세트 로딩 및 언로딩부(340)측과 제3트레이 이송부(320)측으로 이송시키기 위해 다수개의 셔틀(331)이 직선 이송되도록 설치된다. The plurality of
카세트 로딩 및 언로딩부(340)는 셔틀 이송부(330)로 이송되는 테스트될 SSD를 수납하는 다수개의 카세트(C)와 테스트된 SSD를 수납하는 다수개의 카세트(C)를 적재하기 위해 셔틀 이송부(330)의 일측에 설치되며, 다수개의 로딩적재부(341), 다수개의 언로딩적재부(342) 및 다수개의 불량품 언로딩적재부(343)로 구성된다. The cassette loading and
다수개의 로딩적재부(341)는 테스트될 SSD가 수납되는 다수개의 카세트(C)를 적재하기 위해 셔틀 이송부(330)의 일측에 설치되며, 다수개의 언로딩적재부(342)는 테스트된 SSD중 양품 SSD를 수납할 수 있도록 다수개의 카세트(C)를 적재하기 위해 셔틀 이송부(330)의 일측에 다수개의 로딩적재부(341)와 대향되도록 설치된다. 다수개의 불량품 언로딩적재부(343)는 테스트된 SSD중 불량품 SSD를 수납하기 위한 다수개의 카세트(C)를 적재하기 위해 다수개의 로딩적재부(341)와 다수개의 언로딩적재부(342) 사이에 설치된다. 상기 구성을 갖는 카세트 로딩 및 언로딩부(340)는 또한 타측에 셔틀 이송부(330)로 이송되는 테스트될 SSD를 임시로 수납하기 위한 다수개의 SSD 버퍼부(360)가 더 구비되어 설치된다. The plurality of
SSD 이송 로봇(350)은 제3트레이 이송부(320)에 위치한 테스트 트레이(T)와 셔틀 이송부(330)와 카세트 로딩 및 언로딩부(340)로 각각 테스트될 SSD와 테스트된 SSD를 이송시키기 위해 제3트레이 이송부(320)와 카세트 로딩 및 언로딩부(340)의 양측에 각각 설치되며, 다수개의 Y축 이송로봇(351), 제1SSD 이송헤드부(352), 제2SSD 이송헤드부(353), 제3SSD 이송헤드부(354) 및 제4SSD 이송헤드부(355)로 구성된다. The
다수개의 Y축 이송로봇(351)은 제3트레이 이송부(320)와 카세트 로딩 및 언로딩부(340)의 양측에 각각 설치되며, 제1SSD 이송헤드부(352)는 카세트 로딩 및 언로딩부(340)에 수납된 테스트될 SSD를 셔틀 이송부(330)로 이송시키기 위해 다수개의 Y축 이송로봇(351)중 어느 하나에 설치된다. 제2SSD 이송헤드부(353)는 셔틀 이송부(330)에 수납된 테스트될 SSD를 제3트레이 이송부(320)에 의해 수평으로 회전된 테스트 트레이(T)로 이송시켜 수납하기 위해 다수개의 Y축 이송로봇(351)중 어느 하나에 설치되며, 제3SSD 이송헤드부(354)는 제3트레이 이송부(320)에 의해 수평으로 회전된 테스트 트레이(T)에 수납된 테스트된 SSD를 셔틀 이송부(330)로 이송시키기 위해 다수개의 Y축 이송로봇(351)중 나머지 하나에 설치된다. 제4SSD 이송헤드부(355)는 셔틀 이송부(330)에 수납된 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 카세트 로딩 및 언로딩부(340)에 수납하기 위해 다수개의 Y축 이송로봇(351)중 나머지 하나에 설치된다. 여기서, 이송헤드부들은 각각 X축 이송로봇(352a,353a,354a,355a)과 SSD를 파지하는 헤드(352b,353b,354b,355b)로 구성된다. A plurality of Y-
상기 구성을 갖는 본 발명의 제3실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(300)의 작용을 첨부된 도 8 내지 도 10을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the
본 발명의 제3실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(300)는 제1 및 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러(100,200)와의 상이한 점은 제1 및 제2셔틀 회전이송부(130,230)가 적용되지 않고 셔틀 이송부(330)가 적용되는 점에 있다. 즉, 카세트 로딩 및 언로딩부(340)로부터 SSD 이송 로봇(350)에 의해 테스트될 SSD를 테스트 트레이(T)로 수납하거나 테스트된 SSD를 카세트 로딩 및 언로딩부(340)로 배출시 SSD를 회전시키기 않고 테스트 트레이(T)를 수평 상태로 회전시킨 상태에서 SSD를 수납하거나 배출하게 된다. 배출되는 테스트된 SSD는 SSD 이송 로봇(350)에 의해 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류되어 카세트 로딩 및 언로딩부(340)로 적재하며, 본 발명에 적용되는 회전기구들은 모터, 풀리(pulley) 또는 벨트(belt)로 구성된다. The
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 플래쉬 메모리나 제어기 등과 같이 부품을 인쇄회로기판에 실장한 후 케이스를 조립하지 않은 베어 상태의 SSD 케이스가 조립된 SSD를 테스트하여 양품과 불량품으로 분류하는 분야에 적용할 수 있다.The SSD test handler of the present invention can be applied to a field of testing a SSD assembled with a bare SSD case in which a case is not assembled after mounting a component on a printed circuit board such as a flash memory or a controller and classifying it as good or bad. have.
도 1은 SSD의 정면도,1 is a front view of an SSD,
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도,2 is a plan view showing the configuration of an SSD test handler according to a first embodiment of the present invention;
도 3은 도 2에 도시된 제1트레이 이송부의 확대 정면도,3 is an enlarged front view of the first tray transfer unit illustrated in FIG. 2;
도 4는 도 2에 도시된 제1트레이 이송부의 확대 측면도, 4 is an enlarged side view of the first tray transfer unit illustrated in FIG. 2;
도 5는 본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도,5 is a plan view showing the configuration of an SSD test handler according to a second embodiment of the present invention;
도 6은 도 5에 도시된 제2트레이 이송부의 확대 정면도,6 is an enlarged front view of the second tray transfer unit illustrated in FIG. 5;
도 7은 도 5에 도시된 제2트레이 이송부의 확대 측면도, FIG. 7 is an enlarged side view of the second tray transfer unit illustrated in FIG. 5;
도 8은 본 발명의 제3실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도,8 is a plan view showing the configuration of an SSD test handler according to a third embodiment of the present invention;
도 9는 도 8에 도시된 제3트레이 이송부의 확대 정면도,9 is an enlarged front view of the third tray transfer unit illustrated in FIG. 8;
도 10은 도 8에 도시된 제3트레이 이송부의 확대 측면도.FIG. 10 is an enlarged side view of the third tray transfer unit illustrated in FIG. 8.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
110,210,310: 테스트부 120: 제1트레이 이송부110, 210, 310: test unit 120: first tray transfer unit
121: 제1테스트 트레이 이송부 122: 제2테스트 트레이 이송부121: first test tray transfer unit 122: second test tray transfer unit
130: 제1셔틀 회전이송부 140: 제1SSD 로딩부130: first shuttle rotation transfer unit 140: first SSD loading unit
150: 제1SSD 언로딩부 220: 제2트레이 이송부 150: first SSD unloading unit 220: second tray transfer unit
221: 제3테스트 트레이 이송부 222: 제4테스트 트레이 이송부221: third test tray transfer unit 222: fourth test tray transfer unit
230: 제2셔틀 회전이송부 240: 제2SSD 로딩부230: second shuttle rotation transfer unit 240: second SSD loading unit
250: 제2SSD 언로딩부 320: 제3트레이 이송부250: second SSD unloading unit 320: third tray transfer unit
321: 제1테스트 트레이 회전이송부 322: 제2테스트 트레이 회전이송부321: first test tray rotational transfer unit 322: second test tray rotational transfer unit
320: 제3트레이 이송부 330: 셔틀 이송부320: third tray transfer unit 330: shuttle transfer unit
340: 카세트 로딩 및 언로딩부 350: SSD 이송 로봇340: cassette loading and unloading unit 350: SSD transfer robot
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KR20150140890A (en) * | 2014-06-07 | 2015-12-17 | 미래산업 주식회사 | Apparatus for Testing Electronic Component and Test Handler for Electronic Component |
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