KR20090009713A - Liquid crystal display device of in-plane switching mode and method for manufacturing the same - Google Patents

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이원호
한상훈
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Abstract

A liquid crystal display device of an in-plane switching mode and a method for manufacturing the same are provided to improve the uniformity of the field direction by forming edge patterns without making a space. A plurality of gate lines(32) and data line(34) defines the pixel region. The thin film transistor(TFT) is formed in each intersection of data line and plurality of gate lines. The common line(36) is made of the same layer as the gate line. A common electrode finger part(39) is branched into a plural number. A pixel electrode finger part(38a) is formed with the common electrode finger by turns. The first edge pattern(35) is protruded to L shape at the end of common electrode finger parts. The second edge patterns(38c,37a,37b) are protruded to L shape in one end of the pixel electrode finger part.

Description

인플레인 스위칭 모드의 액정표시장치 및 그 제조 방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE OF IN-PLANE SWITCHING MODE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME}Liquid crystal display of in-plane switching mode and manufacturing method therefor {LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE OF IN-PLANE SWITCHING MODE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME}

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 액정표시장치의 투과율 및 컨트라스트 비를 개선할 수 있는 인플레인 스위칭 모드의 액정표시장치에 관한 것이다. The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to an in-plane switching mode liquid crystal display device that can improve the transmittance and contrast ratio of the liquid crystal display device.

액정표시장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시한다. 이러한 액정표시장치는 액정 분자의 배열에 따라서 다양한 모드가 존재한다. 예를 들면, 액정표시장치는 수직 전계에 의해 액정 방향자를 제어하는 TN 모드(Twisted Nematic Mode)와, 수평 전계에 의해 액정의 방향자를 제어하는 인플레인 스위칭 모드(In-Plane Switching Mode)로 구분된다.The liquid crystal display device displays an image by adjusting the light transmittance of the liquid crystal using an electric field. Such a liquid crystal display has various modes according to the arrangement of liquid crystal molecules. For example, the liquid crystal display is divided into a twisted nematic mode for controlling the liquid crystal director by a vertical electric field and an in-plane switching mode for controlling the director of the liquid crystal by a horizontal electric field. .

TN 모드 액정표시장치는 상하부 기판에 대향하게 배치된 화소 전극과 공통 전극 사이에 형성되는 수직 전계에 의해 액정을 구동한다. 이러한 TN 모드 액정표시장치는 개구율이 큰 장점을 가지는 반면 시야각이 좁은 단점을 가진다. The TN mode liquid crystal display drives a liquid crystal by a vertical electric field formed between a pixel electrode and a common electrode disposed to face the upper and lower substrates. The TN mode liquid crystal display device has an advantage of large aperture ratio but a narrow viewing angle.

인플레인 스위칭 모드 액정표시장치는 서로 대향 배치되어 그 사이에 액정층 을 구비한 컬러필터 어레이 기판과 박막 어레이 기판으로 구성된다. 컬러필터 어레이 기판에는 빛샘을 방지하기 위한 블랙 매트릭스와, 블랙 매트릭스 상에 색상을 구현하기 위한 컬러필터층이 형성된다. 박막 트랜지스터 어레이 기판에는 단위 화소를 정의하는 게이트 라인 및 데이터 라인과, 게이트 라인 및 데이터 라인의 교차 지점에 형성된 박막 트랜지스터와, 서로 나란하게 형성되어 수평 전계를 발생시키는 공통 전극 및 화소 전극이 형성된다.The in-plane switching mode liquid crystal display device includes a color filter array substrate and a thin film array substrate disposed opposite to each other and having a liquid crystal layer therebetween. A black matrix for preventing light leakage and a color filter layer for implementing colors on the black matrix are formed on the color filter array substrate. The thin film transistor array substrate includes a gate line and a data line defining a unit pixel, a thin film transistor formed at an intersection point of the gate line and the data line, and a common electrode and a pixel electrode formed to be parallel to each other to generate a horizontal electric field.

이러한 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치는 공통 전극 및 화소 전극의 수평 전계에 의한 액정 구동 방법으로 시야각 특성이 우수하다. The in-plane switching mode liquid crystal display device has excellent viewing angle characteristics by a liquid crystal driving method using a horizontal electric field of a common electrode and a pixel electrode.

도 1을 참조하면, 수평 전계 인가형 액정표시장치는 액정(9)을 사이에 두고 대향하는 박막 트랜지스터 어레이(10) 및 칼라 필터 어레이(15)를 포함한다. 컬러필터 어레이(15)는 상부 기판(1) 상에 순차적으로 형성된 블랙 매트릭스(3), 컬러 필터(5), 오버코트층(7)을 포함한다. 블랙 매트릭스(3)는 빛 샘을 방지하고 이웃하는 컬러 필터 간의 광 간섭을 방지하는 역할을 한다. 컬러 필터(5)는 적색(R), 녹색(G), 청색(B)을 포함함으로써 칼라 필터(5)를 투과한 빛이 색상을 표시할 수 있게 한다. 오버코트층(7)은 블랙 매트릭스(3)와 칼라 필터(5)가 형성된 상부 기판(1)을 평탄화시키는 역할을 한다.Referring to FIG. 1, a horizontal field application type liquid crystal display includes a thin film transistor array 10 and a color filter array 15 facing each other with a liquid crystal 9 interposed therebetween. The color filter array 15 includes a black matrix 3, a color filter 5, and an overcoat layer 7 sequentially formed on the upper substrate 1. The black matrix 3 serves to prevent light leakage and to prevent light interference between neighboring color filters. The color filter 5 includes red (R), green (G), and blue (B), so that light transmitted through the color filter 5 can display colors. The overcoat layer 7 serves to planarize the upper substrate 1 on which the black matrix 3 and the color filter 5 are formed.

박막 트랜지스터 어레이(10)는 하부 기판(11) 상에서 서로 교차하여 화소 영역을 정의하는 게이트 라인(12) 및 데이터 라인(14)과, 게이트 라인(12) 및 데이터 라인(14) 각각에 접속된 박막 트랜지스터(TFT)와, 박막 트랜지스터(TFT)에 접속된 화소 전극(18)과, 화소 전극(18)에 나란한 공통전극(19)과, 공통전극(19)에 접속된 공통 라인(16)을 포함한다.The thin film transistor array 10 is a thin film connected to each of the gate line 12 and the data line 14 and the gate line 12 and the data line 14 that cross each other on the lower substrate 11 to define a pixel region. The transistor TFT includes a pixel electrode 18 connected to the thin film transistor TFT, a common electrode 19 parallel to the pixel electrode 18, and a common line 16 connected to the common electrode 19. do.

박막 트랜지스터(TFT)는 게이트 라인(12)으로부터의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(14)으로부터의 데이터 신호를 화소 전극(18)으로 공급한다. 박막 트랜지스터(TFT)를 통해 데이터 신호가 공급된 화소 전극(18)과 공통 라인(16)을 통해 기준전압이 공급된 공통전극(19) 사이에는 전계가 형성된다. 공통 전극(19)은 화소 전극(18)과 다른 층에 또는 동일층에 형성될 수 있다. 공통 전극(19)이 화소 전극과 다른 층에 형성되면, 공통 전극(19)은 공통 라인(16)에 연결되어 공통 라인(16)으로부터 기준 전압을 공급받는다. 반면, 공통 전극(19)이 화소 전극(18)과 동일층에 형성되면, 공통 전극(19)은 공통 라인(16)을 노출시키는 콘택홀을 통해 공통 라인(16)에 접속되어 공통 라인(16)으로부터 기준 전압을 공급받는다.The thin film transistor TFT supplies the data signal from the data line 14 to the pixel electrode 18 in response to the gate signal from the gate line 12. An electric field is formed between the pixel electrode 18 supplied with the data signal through the thin film transistor TFT and the common electrode 19 supplied with the reference voltage through the common line 16. The common electrode 19 may be formed on a different layer or on the same layer as the pixel electrode 18. When the common electrode 19 is formed on a layer different from the pixel electrode, the common electrode 19 is connected to the common line 16 to receive a reference voltage from the common line 16. On the other hand, when the common electrode 19 is formed on the same layer as the pixel electrode 18, the common electrode 19 is connected to the common line 16 through a contact hole exposing the common line 16 and is connected to the common line 16. The reference voltage is supplied.

이와 같은, 화소 전극(18)과 공통 전극(16) 사이에 전계가 형성되면, 그 전계에 의해 액정(9)이 회전하게 된다. 액정(9)의 회전 정도는 데이터 신호에 따라 조절된다.When an electric field is formed between the pixel electrode 18 and the common electrode 16 as described above, the liquid crystal 9 rotates by the electric field. The degree of rotation of the liquid crystal 9 is adjusted in accordance with the data signal.

상부 기판(1)의 외부면과 하부 기판(11)의 외부면 각각에는 특정방향으로 진동하는 빛을 투과시키는 상부 편광판(2a)과 하부 편광판(2b)이 부착된다. 일반적으로 상부 편광판(2a)의 투과축(x)과 하부 편광판(2b)의 투과축(y)은 서로 수직을 이루도록 배치된다.An upper polarizing plate 2a and a lower polarizing plate 2b for transmitting light oscillating in a specific direction are attached to each of an outer surface of the upper substrate 1 and an outer surface of the lower substrate 11. In general, the transmission axis x of the upper polarizing plate 2a and the transmission axis y of the lower polarizing plate 2b are disposed to be perpendicular to each other.

편광판(2a, 2b)들의 투과축(x,y)과 액정(9)의 초기 배향상태는 액정표시장치의 표시 모드를 결정하는 요소가 된다. 일반적으로 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치는 전계가 형성되지 않으면 화면에 블랙(black)을 표시하는 노멀리 블 랙(normally black) 모드이다. The transmission axes x and y of the polarizing plates 2a and 2b and the initial alignment state of the liquid crystal 9 become an element that determines the display mode of the liquid crystal display. In general, the in-plane switching mode liquid crystal display is a normally black mode in which black is displayed on a screen when an electric field is not formed.

노멀리 블랙 모드에서 화소 전극(18)과 공통 전극(19) 사이에 전계가 형성되면, 액정(9)은 전계에 나란하게 배열한다. 여기서, 액정(9)은 전계에 의해 초기 배향 상태에서 특정 각도 이상으로 구동하여야 투과율에 기여할 수 있다. 전계에 나란하게 배열된 액정(9)을 투과한 광은 대부분 상부 편광판(2b)을 투과하여 계조를 구현하지만, 일부 액정(9)을 투과한 광은 상부 편광판(2b)을 투과하지 못하여 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치의 투과율에 기여하지 못한다. 투과율에 기여하지 못하는 액정(9)이 발생하는 이유는 화소 전극(18), 공통 전극(19) 및 공통 라인(16)의 구조적 특징으로 인하여 일부 영역에서 전계가 원하지 않는 방향으로 형성되기 때문이다.When an electric field is formed between the pixel electrode 18 and the common electrode 19 in the normally black mode, the liquid crystals 9 are arranged side by side in the electric field. Here, the liquid crystal 9 may be driven at a specific angle or more in an initial alignment state by an electric field to contribute to transmittance. Most of the light transmitted through the liquid crystal 9 arranged side by side in the electric field is transmitted through the upper polarizing plate 2b to realize gradation. However, the light passing through some of the liquid crystals 9 does not pass through the upper polarizing plate 2b. It does not contribute to the transmittance of the switching mode liquid crystal display. The reason why the liquid crystal 9 does not contribute to the transmittance occurs is due to the structural characteristics of the pixel electrode 18, the common electrode 19, and the common line 16.

도 2a 및 도 2b는 전계가 원하지 않는 방향으로 형성되는 영역을 확대하여 나타내는 도면이다. 또한, 도 2a 및 도 2b에서 전계 방향은 양방향 화살표(↔)로 표시한다.2A and 2B are enlarged views of regions in which an electric field is formed in an undesired direction. 2A and 2B, the electric field direction is indicated by a double arrow (↔).

도 2a 및 도 2b를 참조하면, 화소 전극(18) 및 공통 전극(19)은 화소 영역에서 서로 나란하게 형성된 다수의 핑거부(18a, 19a)를 포함한다. 한편, 화소 전극 핑거부(18a)들과 공통 전극 핑거부(19a)들에 신호가 인가되기 위해서는 각 전극의 핑거부들(18a, 19a)에 대해 수직한 방향으로 형성되어 각 전극의 핑거부들(18a, 19a)을 연결하고 각각의 신호를 공급하는 연결부가 필요하다.2A and 2B, the pixel electrode 18 and the common electrode 19 include a plurality of fingers 18a and 19a formed in parallel with each other in the pixel area. Meanwhile, in order for a signal to be applied to the pixel electrode finger portions 18a and the common electrode finger portions 19a, the finger portions 18a of each electrode are formed in a direction perpendicular to the finger portions 18a and 19a of each electrode. , 19a), and a connection for supplying each signal is required.

예를 들어 도 2a에 도시된 바와 같이 화소 전극(18)과 공통 전극(19)은 동일한 층에 형성될 수 있다. 이 경우, 화소 전극(18)은 다수의 화소 전극 핑거 부(18a)와 화소 전극 핑거부(18a)에 수직한 방향으로 형성되어 다수의 화소 전극 핑거부(18a)를 연결하는 화소 전극 연결부(18b)를 포함한다. 또한 공통 전극(19)은 다수의 공통 전극 핑거부(19a)를 포함한다.For example, as illustrated in FIG. 2A, the pixel electrode 18 and the common electrode 19 may be formed on the same layer. In this case, the pixel electrode 18 is formed in a direction perpendicular to the plurality of pixel electrode finger portions 18a and the pixel electrode finger portions 18a to connect the pixel electrode finger portions 18a to the pixel electrode connection portions 18b. ). The common electrode 19 also includes a plurality of common electrode fingers 19a.

다른 예를 들어 도 2b에 도시된 바와 같이 화소 전극(18)과 공통 전극(19)은 서로 다른 층에 형성될 수 있다. 이 경우, 공통 전극(19)은 서로 나란한 다수의 공통 전극 핑거부(19a)를 구비한다. 이러한 공통 전극 핑거부(19a)는 공통 전극 핑거부(19a)에 수직한 방향으로 형성된 공통 라인(16)에 연결되어 기준 전압을 공급받는다. 또한 화소 전극(18)은 공통 전극 핑거부(19a)에 나란한 화소 전극 핑거부(18a)와 화소 전극 핑거부(18a)에 수직한 방향으로 형성되어 화소 전극 핑거부(18a)를 연결하는 화소 전극 연결부를 포함한다.For example, as illustrated in FIG. 2B, the pixel electrode 18 and the common electrode 19 may be formed on different layers. In this case, the common electrode 19 includes a plurality of common electrode finger portions 19a parallel to each other. The common electrode finger 19a is connected to a common line 16 formed in a direction perpendicular to the common electrode finger 19a to receive a reference voltage. In addition, the pixel electrode 18 is formed in a direction perpendicular to the pixel electrode finger portion 18a and the pixel electrode finger portion 18a parallel to the common electrode finger portion 19a to connect the pixel electrode finger portion 18a. It includes a connection.

상술한 바와 같은 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치의 화소 전극(18)과 공통 전극(19)에 신호가 공급되면, 대부분의 화소 영역에 인가된 전계 방향은 화소 전극 핑거부(18a)와 공통 전극 핑거부(19a)를 향한다. 그러나 공통 라인(16), 화소 전극 연결부(18b)에 인접한 영역에서 전계 방향은 공통 라인(16)과 화소 전극 연결부(18b)를 향한다. 이는 공통 라인(16)과 화소 전극 연결부(18b)가 핑거부들(18a, 19a)에 대해 수직한 방향으로 형성되어 공통 전극 핑거부(19a)와 화소 전극 핑거부(18a) 사이에 형성되는 전계를 왜곡시키기 때문이다. 이러한 공통 라인(16)과 화소 전극 연결부(18b)에 의한 전계 왜곡으로 공통 라인(16)과 화소 전극 연결부(18b)에 인접한 영역 즉, 화소 영역 에지(edge)에서는 전계의 방향성이 균일하지 못하게 된다. 전계 방향이 균일하지 못한 영역에서는 액정이 투과율에 기여하지 못하는 방향으로 구동되게 하는 비효율 구동영역(A)과 액정이 서로 대향된 방향으로 구동되게 하여 그 경계에서 빛이 투과되지 못하게 되는 디스크리네이션(disclination)(disclination) 영역(B)을 발생시킨다. When signals are supplied to the pixel electrode 18 and the common electrode 19 of the in-plane switching mode liquid crystal display as described above, the electric field direction applied to most pixel areas is the pixel electrode finger portion 18a and the common electrode ping. Towards rejection 19a. However, in the region adjacent to the common line 16 and the pixel electrode connector 18b, the electric field direction is directed toward the common line 16 and the pixel electrode connector 18b. This is an electric field formed between the common line 16 and the pixel electrode connecting portion 18b in a direction perpendicular to the fingers 18a and 19a so as to be formed between the common electrode finger portion 19a and the pixel electrode finger portion 18a. This is because it is distorted. Due to the electric field distortion caused by the common line 16 and the pixel electrode connector 18b, the direction of the electric field is not uniform in the region adjacent to the common line 16 and the pixel electrode connector 18b, that is, the pixel region edge. . In an area where the electric field is not uniform, an inefficient driving region A for driving the liquid crystal in a direction that does not contribute to the transmittance and a discrimination for allowing the liquid crystal to be driven in directions opposite to each other so that light cannot be transmitted at the boundary thereof ( Disclination (disclination) region (B) is generated.

비효율 구동영역(A) 및 디스크리네이션(disclination) 영역(B)은 액정표시장치의 투과율 저하 및 컨트라스트 비(Contrast Ratio) 저하시켜 결과적으로 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치는 표시품질을 저하시킨다. The inefficient driving region A and the disclination region B lower the transmittance and contrast ratio of the liquid crystal display, and as a result, the in-plane switching mode liquid crystal display lowers the display quality.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명은 액정표시장치에 있어서 투과율 및 컨트라스트 비를 개선할 수 있는 인플레인 스위칭 모드의 액정표시장치를 제공하는데 그 목적이 있다.In order to solve the above problems, an object of the present invention is to provide an in-plane switching mode liquid crystal display device that can improve the transmittance and contrast ratio in the liquid crystal display device.

상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 특징에 따른 인플레인 스위칭 모드의 액정표시장치는, 기판 상에, 서로 교차하여 화소 영역을 정의하는 게이트 라인 및 데이터 라인;과, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에 형성된 박막 트랜지스터;와, 상기 게이트 라인과 동일층으로 이루어진 제 1 공통 라인;과, 상기 화소 영역에, 각각 복수개로 분기된 제 1 핑거들을 가지며, 상기 제 1 핑거들의 일측 끝에 "L"자 돌출 패턴을 포함하며 형성된 제 1 전극 핑거부; 및 상기 화소 영역에, 상기 제 1 핑거들과 각각 교번하여 형성된 제 2 핑거들을 가지며, 상기 제 2 핑거들의 일측 끝은 "|" 자 패턴으로 형성된 제 2 전극 핑거부를 포함하여 이루어지며, 상기 "L"자 돌출 패턴 및 상기 "|" 자 패턴은 상기 제 1 공통 라인과 이격없이 형성되는 것에 그 특징이 있다. In order to achieve the above technical problem, the liquid crystal display device of the in-plane switching mode according to the characteristics of the present invention, a gate line and a data line on the substrate to define a pixel area crossing each other; and the gate line and the data line A thin film transistor formed at an intersection of the first thin film transistor; a first common line formed of the same layer as the gate line; and a plurality of first fingers branched in the pixel area, respectively; &Quot; a first electrode finger portion including a protruding pattern; And second fingers formed alternately with the first fingers, respectively, in the pixel area, and one end of the second fingers includes a second electrode finger part formed in a “|” pattern. The "child projection pattern" and the "|" child pattern are characterized in that they are formed without being spaced apart from the first common line.

상기 "L"자 돌출 패턴은, 상기 제 1 핑거부로부터 연장된 제 1 에지부와, 상기 제 1 에지부와 둔각을 이루도록 경사되어 형성된 제 2 에지부로 이루어진다. The “L” shaped protruding pattern includes a first edge portion extending from the first finger portion, and a second edge portion inclined to form an obtuse angle with the first edge portion.

여기서, 상기 제 1 전극 핑거부는 상기 게이트 라인과 동일층의 금속으로 이루어지며, 상기 제 2 전극 핑거부는 투명 금속층으로 이루어진다. 또한, 상기 제 1 전극 핑거부는 상기 제 1 공통 라인과 일체형으로 형성되며, 그 "L" 자 돌출 패턴은 상기 제 1 공통 라인으로부터 돌출된 형상을 갖는다. 그리고, 상기 제 2 전극 핑거부의 일측 끝은, 상기 " |"자 패턴이, 좌측의 인접한 "L"자 돌출 패턴과 오버랩도록 상기 제 1 공통 라인측으로 연장되어 형성되며, 상기 "|" 자 패턴의 끝에서, 우측의 "L"자 돌출 패턴과 오버랩되도록, "-"자 패턴이 연장되어 더 형성되며, 상기 "|"자 패턴과, "- "자 패턴은 "L"자 형상을 이루어진다. 이 때, 상기 제 1 공통 라인은 제 2 핑거부의 "-"자 패턴과 만나며, 그 폭이 줄어든 축소부를 구비하여, 상기 "L"자 돌출 패턴과 상기 축소부는 평면상에서 계단 형상의 단차를 갖도록 할 수 있다. Here, the first electrode finger portion is made of the same layer of metal as the gate line, and the second electrode finger portion is made of a transparent metal layer. The first electrode finger portion is integrally formed with the first common line, and the “L” shaped protruding pattern has a shape protruding from the first common line. One end of the second electrode finger portion may be formed to extend toward the first common line such that the "|" character pattern overlaps with the adjacent "L" character protruding pattern on the left side. At the end, the "-" character pattern is further extended and formed to overlap the "L" character protrusion pattern on the right side, and the "|" character pattern and the "-" character pattern have an "L" character shape. At this time, the first common line meets the "-" pattern of the second finger portion, and has a reduced portion having a reduced width, so that the "L" shaped protrusion pattern and the reduced portion have a stepped step shape on a plane. Can be.

경우에 따라, 상기 제 1 전극 핑거부와, 상기 제 2 전극 핑거부는 동일층의 투명 금속층으로 이루어진다. In some cases, the first electrode finger portion and the second electrode finger portion are made of the same transparent metal layer.

이 경우, 상기 제 1 공통 라인은, 상기 제 2 핑거부의 일측 끝의 "|"자 패턴과 이격이 없도록, 상기 제 1 공통 라인의 수평부에서 상기 "|" 자 패턴과 오버랩하는 형상으로 돌출된 제 1 돌출 패턴을 더 구비하여 이루어질 수 있다. In this case, the first common line protrudes in a shape overlapping with the "|" character pattern in the horizontal portion of the first common line so that the first common line is not spaced apart from the "|" character pattern of one end of the second finger part. It may be further provided with a first protruding pattern.

상기 제 1 돌출 패턴과 상기 제 1 공통 라인의 수평부가 이루는 형상은, 상기 제 1 핑거부 일측 끝의 "L"자 패턴과 동일 형상이며, 상기 제 1 돌출 패턴은, 상기 제 2 전극 핑거부의 일측 끝의 "|" 자 패턴과 부분적으로 오버랩하여 형성될 수 있다. 여기서, 상기 제 1 공통 라인은 상기 제 2 전극 핑거부와 전기적으로 연결된다. The shape of the first protrusion pattern and the horizontal part of the first common line is the same shape as the “L” pattern at one end of the first finger part, and the first protrusion pattern is one side of the second electrode finger part. It may be formed by partially overlapping the end of the "|" character pattern. Here, the first common line is electrically connected to the second electrode finger.

한편, 상기 제 2 에지부가 상기 제 1 공통 라인의 수평부와 다른 각도를 갖 고 꺽여지며, 상기 제 1 에지부와 상기 제 2 에지부 사이의 둔각이, 상기 제 1 에지부와 상기 제 1 공통 라인의 수평부 사이의 각도보다 크게 이루어질 수 있다. Meanwhile, the second edge portion is bent at an angle different from the horizontal portion of the first common line, and an obtuse angle between the first edge portion and the second edge portion is different from the first edge portion and the first common portion. It may be made larger than the angle between the horizontal portions of the line.

그리고, 상기 "L" 자 돌출 패턴은, 상기 제 2 에지부로 연결되며 상기 게이트 라인과 나란하게 형성된 제 3 에지부를 추가로 구비하여 이루어질 수 있다. The “L” shaped protruding pattern may further include a third edge portion connected to the second edge portion and formed to be parallel to the gate line.

상기 화소 영역을 지나며, 상기 제 1 공통 라인과 평행하며 동일층에 대칭 위치에 제 2 공통 라인이 더 형성되며, 상기 제 1 핑거들 및 제 2 핑거들의 타측 끝은 상기 제 2 공통 라인과 이격없이, 상기 제 1 핑거들 및 제 2 핑거들의 일측 끝과 대칭적으로 형성되어 이루어질 수 있다. A second common line is further formed to pass through the pixel area, parallel to the first common line, and at a symmetrical position on the same layer. The other ends of the first fingers and the second fingers are spaced apart from the second common line. It may be formed symmetrically with one end of the first fingers and the second fingers.

혹은, 상기 화소 영역을 지나며, 상기 제 1 공통 라인과 평행하며 동일층에 대칭 위치에 제 2 공통 라인이 더 형성되며, 상기 제 1 핑거들 및 상기 제 2 핑거들의 타측 끝은 상기 제 2 공통 라인과 이격없이 바(bar) 형상으로 형성되며, 상기 제 1 핑거들의 타측 끝 또는 상기 제 2 핑거들의 타측 끝은, 상기 제 2 공통 라인과 오버랩되어 이루어질 수 있다. Alternatively, a second common line is further formed to pass through the pixel area, parallel to the first common line, and at a symmetrical position on the same layer, and the other end of the first fingers and the second fingers is the second common line. A bar shape may be formed without being spaced apart from each other, and the other end of the first fingers or the other end of the second fingers may overlap with the second common line.

상기 바 형상의 제 1 핑거들 및 제 2 핑거들의 타측 끝은 상기 제 2 핑거들의 진행방향과 다른 각도로 꺽여, 상기 제 2 공통 라인으로 진입하여 이루어질 수 있다. The other ends of the bar-shaped first fingers and the second fingers may be bent at an angle different from the direction in which the second fingers travel, and enter the second common line.

한편, 상기 제 1 공통 라인은 상기 데이터 라인과 평행하게 형성되며, 상기 제 1 전극 핑거부 및 상기 제 2 전극 핑거부는 상기 게이트 라인에 예각으로 경사를 갖도록 형성될 수도 있다. The first common line may be formed to be parallel to the data line, and the first electrode finger portion and the second electrode finger portion may be formed to be inclined at an acute angle to the gate line.

또한, 동일한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따른 인플레인 스위칭 모드의 액정표시장치의 제조 방법은, 기판 상에, 제 1 금속을 선택적으로 제거하여, 일 방향으로 게이트 라인 및 제 1 공통 라인을 형성하고, 각각 복수개로 분기된 제 1 핑거들을 가지며, 상기 제 1 핑거들의 일측 끝에 "L"자 돌출 패턴을 포함하는 제 1 전극 핑거부를 형성하는 단계;와, 제 2 금속을 선택적으로 제거하여, 상기 게이트 라인과 교차하여 화소 영역을 정의하도록 데이터 라인을 형성하고, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에 박막 트랜지스터를 형성하는 단계;와, 투명 도전 금속을 선택적으로 제거하여, 상기 각 화소 영역에, 상기 제 1 핑거들과 각각 교번하여 형성된 제 2 핑거들을 가지며, 상기 제 2 핑거들의 일측 끝은 인접하는 상기 제 1 핑거들의 "L" 자 돌출 패턴과 오버랩하는 "|" 자 패턴을 포함하는 제 2 전극 핑거부를 형성하는 단계를 포함하여 이루어지며, 여기서, 상기 "L" 자 돌출 패턴 및 상기 "|"자 패턴은 상기 제 1 공통 라인과 이격없이 형성되는 것에 그 특징이 있다. 여기서, 상기 제 2 전극 핑거부의 일측 끝의 "|"자 패턴은, 좌측의 인접한 "L" 자 돌출 패턴과 오버랩도록 상기 제 1 공통 라인측으로 연장하고, 우측의 "L" 자 돌출 패턴과 오버랩되도록, "-" 자 패턴이 연장되어 더 형성된다. In addition, a method of manufacturing an in-plane switching mode liquid crystal display device according to a feature of the present invention for achieving the same object, by selectively removing the first metal on the substrate, the gate line and the first common line in one direction And forming a first electrode finger having a plurality of first fingers, each of which has a plurality of branches, and including a “L” shaped protruding pattern at one end of the first fingers; and selectively removing the second metal. Forming a data line to define a pixel area crossing the gate line, and forming a thin film transistor at an intersection of the gate line and the data line; and selectively removing a transparent conductive metal to remove the pixel area. Have second fingers alternately formed with the first fingers, respectively, wherein one end of the second fingers is an "L" magnetic stone of the adjacent first fingers; And forming a second electrode finger portion including a “|” character pattern overlapping the exit pattern, wherein the “L” character protrusion pattern and the “|” character pattern are formed with the first common line. It is characterized by being formed without being separated. Here, the "|" pattern of one end of the second electrode finger portion extends to the first common line side so as to overlap the adjacent "L" ruled pattern on the left side, and to overlap the "L" ruled pattern on the right side. , The "-" character pattern is extended to further form.

또한, 동일한 목적을 달성하기 위한 또 다른 본 발명의 특징에 따른 인플레인 스위칭 모드의 액정표시장치의 제조 방법은, 기판 상에, 제 1 금속을 선택적으로 제거하여, 일 방향으로 게이트 라인 및 제 1 공통 라인을 형성하는 단계;와, 제 2 금속을 선택적으로 제거하여, 상기 게이트 라인과 교차하여 화소 영역을 정의하도록 데이터 라인을 형성하고, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에 박막 트랜지스터를 형성하는 단계;와, 투명 도전 금속을 선택적으로 제거하여, 상기 각 화소 영역에, 각각 복수개로 분기된 제 1 핑거들을 가지며, 상기 제 1 핑거들의 일측 끝에 "L"자 돌출 패턴을 포함하는 제 1 전극 핑거부와, 상기 제 1 핑거들과 각각 교번하여 형성된 제 2 핑거들을 가지며, 상기 제 2 핑거들의 일측 끝은 "L"자 패턴을 포함하는 제 2 전극 핑거부를 형성하는 단계를 포함하여 이루어지며, 여기서, 상기 "L"자 돌출 패턴 및 상기 "L"자 패턴은 상기 제 1 공통 라인과 이격없이 형성되는 것에 또 다른 특징이 있다. In addition, a method of manufacturing an in-plane switching mode liquid crystal display device according to another aspect of the present invention for achieving the same object, by selectively removing the first metal on the substrate, the gate line and the first in one direction Forming a common line by selectively removing the second metal to form a pixel region crossing the gate line, and forming a thin film transistor at an intersection of the gate line and the data line; And a first electrode ping selectively removing the transparent conductive metal, each having a plurality of first fingers branched to each pixel area, the first electrode ping including an L-shaped protruding pattern at one end of the first fingers. A second electrode finger having a rejection and second fingers alternately formed with the first fingers, respectively, wherein one end of the second fingers comprises an “L” shaped pattern; It is made to include a step, wherein the "L" shaped protrusion pattern and the "L" shaped pattern is another feature that is formed without being spaced apart from the first common line.

본 발명에 따른 인플레인 스위칭 모드의 액정표시장치는 다음과 같은 효과가 있다. The liquid crystal display of the in-plane switching mode according to the present invention has the following effects.

화소 영역의 하부 에지부에서 핑거부들과 연장되어 형성된 "L"자 형태의 에지 패턴들을 교대로 배치되도록 형성하거나, 혹은 "L"자와 "|"자 패턴을 교번하여 이들의 연장부를 통해 서로 오버랩하여 이격없이 형성함으로써, 전계 방향의 균일성을 향상시켜 비효율 구동영역 및 디스크리네이션(disclination) 영역을 현저히 감소시킬 수 있다. 이에 따라 본 발명의 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판은 수평 전계 인가형 액정표시장치의 투과율 및 컨트라스트 비를 개선할 수 있다. In the lower edge portion of the pixel area, the edge patterns of the "L" shape formed by extending with the fingers are formed to be alternately arranged, or the "L" and "|" character patterns are alternately overlapped with each other through their extension portions. In this case, the uniformity in the electric field direction can be improved to significantly reduce the inefficient driving region and the disclination region. Accordingly, the thin film transistor substrate of the in-plane switching mode according to the embodiment of the present invention can improve the transmittance and contrast ratio of the horizontal field application liquid crystal display.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 액정표시장치를 상세히 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, an LCD in an in-plane switching mode according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

* 제 1 실시예 *First Embodiment

도 3은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치의 박막 트랜지스터 기판을 나타내는 평면도이다. 또한 도 4는 도 3에 도시된 박막 트랜지스터 기판을 I―I' 및 Ⅱ―Ⅱ' 선에 따른 단면도이다.3 is a plan view illustrating a thin film transistor substrate of an in-plane switching mode liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention. 4 is a cross-sectional view taken along lines II ′ and II-II ′ of the thin film transistor substrate illustrated in FIG. 3.

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치의 박막 트랜지스터 기판은, 박막 트랜지스터 기판(41) 상에, 서로 교차하여 화소 영역을 정의하는 복수개의 게이트 라인(32) 및 데이터 라인(34)과, 상기 복수개의 게이트 라인(32)과 데이터 라인(34)의 각 교차부에 형성된 박막 트랜지스터(TFT)와, 상기 게이트 라인(32)과 동일층으로 이루어진 공통 라인(36)과, 상기 화소 영역에, 각각 복수개로 분기된 공통 전극 핑거부(39)와, 상기 공통 전극 핑거부(39)과 각각 교번하여 형성된 화소 전극 핑거부(38a)과, 상기 공통 전극 핑거부(39)들의 일측 끝에 "L" 자로 돌출된 제 1 에지 패턴(35)과, 이와 동일 형상으로, 상기 화소 전극 핑거부(38a)의 일측 끝에 "L" 자로 돌출된 제 2 에지 패턴(38c: 37a, 37b)을 포함하여 이루어진다. 여기서, 상기 공통 전극 핑거부(39)의 제 1 에지 패턴(35) 및 화소 전극(38)의 각 핑거부들(38a)의 제 2 에지 패턴(38c)은 각각 상기 공통 라인(36)과 이격없이 형성된다.3 and 4, a plurality of thin film transistor substrates of an in-plane switching mode liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention may be arranged on the thin film transistor substrate 41 to define pixel regions crossing each other. A thin film transistor (TFT) formed at each intersection of the gate line 32 and the data line 34, the plurality of gate lines 32 and the data line 34, and the same layer as the gate line 32. A common line 36 formed in the pixel region, a common electrode finger portion 39 branched into a plurality of pixels, a pixel electrode finger portion 38a formed alternately with the common electrode finger portion 39, and A first edge pattern 35 protruding with an "L" shape at one end of the common electrode finger parts 39 and a second edge protruding with an "L" shape at one end of the pixel electrode finger part 38a in the same shape. Pattern 38c: 37a, 37b. Here, the first edge pattern 35 of the common electrode finger portion 39 and the second edge pattern 38c of each of the finger portions 38a of the pixel electrode 38 are each spaced apart from the common line 36. Is formed.

또한, 상기 공통 전극 핑거부(39)은 그 일측의 상기 제 1 에지 패턴(35)이, 공통 라인(36)과 일체형으로 형성된다. 그리고, 상기 화소 영역에 상기 공통 라인(36)은, 상기 해당 화소 영역을 정의하는 게이트 라인들(32) 각각과 이격하며 서로 대칭적으로 상하에 형성된 제 1 공통 라인과 제 2 공통 라인을 포함하여 이루어 진다. 이하에서는 편의상 제 1, 제 2 공통 라인을 통칭하여 공통 라인(36)이라 한다.In addition, in the common electrode finger portion 39, the first edge pattern 35 on one side thereof is integrally formed with the common line 36. The common line 36 may include a first common line and a second common line which are spaced apart from each of the gate lines 32 defining the pixel area, and are symmetrically formed up and down. Is done. Hereinafter, for convenience, the first and second common lines are collectively referred to as a common line 36.

그리고, 화소 전극(38)은 공통 라인(36)의 수평부에 나란한 화소 전극 연결부(38b)와, 화소 전극 연결부(38b)에 연결되어 공통 전극 핑거부(39)에 나란하게 형성된 다수의 화소 전극 핑거부(38a) 및 상기 화소 전극 핑거부(38a)의 일측 끝에서, 제 2 에지 패턴(38c)을 포함하여 이루어진다.In addition, the pixel electrode 38 is connected to the pixel electrode connector 38b parallel to the horizontal portion of the common line 36 and the pixel electrode connector 38b to be connected to the common electrode finger 39 to form the plurality of pixel electrodes. At one end of the finger portion 38a and the pixel electrode finger portion 38a, a second edge pattern 38c is included.

여기서, 상기 제 1 에지 패턴(35) 및 제 2에지 패턴(38c)은 상하에 위치한 공통 라인에 대칭적으로 대응되어 이격없이 형성하는 것으로, 공통 전극 핑거부(39)와 화소 전극 핑거부(38a)의 타측 끝에도 동일한 "L"자 패턴이 대응되어 형성된다. Here, the first edge pattern 35 and the second edge pattern 38c are formed to be spaced apart from each other by symmetrically corresponding to upper and lower common lines, and the common electrode finger portion 39 and the pixel electrode finger portion 38a. The same "L" pattern is also formed in correspondence with the other end of).

그리고, 상기 공통 라인(36)과, 이와 오버랩되는 상기 화소 전극 연결부(38b) 사이에 스토리지 캐패시터(Cst)가 형성된다. In addition, a storage capacitor Cst is formed between the common line 36 and the pixel electrode connection portion 38b overlapping the common line 36.

이와 같이, 형성된 상기 화소 전극(38)의 화소 전극 핑거부(38a)과 상기 공통 전극 핑거부(39)은 각각에 전압 인가시 그 사이에 수평 전계를 형성하여 구동된다. As such, the pixel electrode finger 38a and the common electrode finger 39 of the pixel electrode 38 formed are driven by forming a horizontal electric field therebetween when a voltage is applied to each of them.

여기서, 상기 기판(41) 상에 게이트 절연막(43)을 사이에 두고 서로 교차되어 화소 영역들을 정의하는 다수의 게이트 라인(32) 및 다수의 데이터 라인(34)은 게이트 절연막(43)을 사이에 두고 형성되며, 상기 박막 트랜지스터(TFT)는 게이트 라인(32)과 데이터 라인(34)에 접속되며된 박막 트랜지스터(TFT), 상기 화소 전극 (38)은 상기 박막 트랜지스터(TFT)에 접속되어 형성된다. Here, a plurality of gate lines 32 and a plurality of data lines 34 intersecting each other with the gate insulating layer 43 interposed therebetween on the substrate 41 define a gate insulating layer 43 therebetween. The thin film transistor TFT is connected to the gate line 32 and the data line 34, and the thin film transistor TFT and the pixel electrode 38 are connected to the thin film transistor TFT. .

상기 게이트 라인(32) 및 데이터 라인(34)은 박막 트랜지스터 어레이 외곽부에서 구동 회로부와 접속된 패드 단자에 접속됨으로써 박막 트랜지스터(TFT)에 게이트 신호 및 데이터 신호를 공급한다. 또한 공통 라인(36)은 게이트 라인(32)과 분리되어 게이트 라인(32)과 동일층에 형성되어 액정을 구동하기 위한 기준 전압을 공통 전극 핑거부(39)에 공급한다. The gate line 32 and the data line 34 are connected to a pad terminal connected to the driving circuit unit outside the thin film transistor array to supply a gate signal and a data signal to the thin film transistor TFT. In addition, the common line 36 is separated from the gate line 32 to be formed on the same layer as the gate line 32 to supply the common electrode finger 39 with a reference voltage for driving the liquid crystal.

박막 트랜지스터(TFT)는 게이트 라인(32)의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(34)의 데이터 신호를 화소 전극(38)에 공급한다. 이를 위하여, 박막 트랜지스터(TFT)는 게이트 라인(32)에 연결된 게이트 전극(32G), 데이터 라인(34)에 연결된 소스 전극(34S), 화소 전극(38)에 접속된 드레인 전극(34D), 및 게이트 절연막(43)을 사이에 두고 게이트 전극(32G)에 중첩됨과 아울러 소스 전극(34S) 및 드레인 전극(34D)에 접속된 반도체 패턴(48)을 구비한다. The thin film transistor TFT supplies the data signal of the data line 34 to the pixel electrode 38 in response to the gate signal of the gate line 32. To this end, the thin film transistor TFT includes a gate electrode 32G connected to the gate line 32, a source electrode 34S connected to the data line 34, a drain electrode 34D connected to the pixel electrode 38, and A semiconductor pattern 48 overlapping the gate electrode 32G with the gate insulating film 43 interposed therebetween and connected to the source electrode 34S and the drain electrode 34D is provided.

반도체 패턴(48)은 활성층(46) 및 활성층(46) 상에 형성된 오믹 접촉층(47)을 포함한다. 활성층(46)은 소스 전극(34S)과 드레인 전극(34D) 사이에서 노출되어 반도체 채널을 형성한다. 오믹 접촉층(47)은 활성층(46)과 소스 전극(34S) 사이, 및 활성층(46)과 드레인 전극(34D) 사이를 오믹 접촉시킨다. 이러한 반도체 패턴(48)은 제조 공정상 특징으로 인하여 소스 전극(34S), 드레인 전극(34D) 및 데이터 라인(34)을 포함한 소스/드레인 도전 패턴군 하부에 중첩된다.The semiconductor pattern 48 includes an active layer 46 and an ohmic contact layer 47 formed on the active layer 46. The active layer 46 is exposed between the source electrode 34S and the drain electrode 34D to form a semiconductor channel. The ohmic contact layer 47 makes ohmic contact between the active layer 46 and the source electrode 34S, and between the active layer 46 and the drain electrode 34D. The semiconductor pattern 48 overlaps the source / drain conductive pattern group including the source electrode 34S, the drain electrode 34D, and the data line 34 due to the manufacturing process.

상기 공통 라인(36)은 게이트 라인(32)과 분리되어 나란하게 형성되고, 공통 라인(36)과 공통 전극 핑거부(39) 사이에서 제 1 에지 패턴(35)이 형성된다. 상기 제 1 에지 패턴(35)은 공통 전극 핑거부(39)로부터 연장된 제 1 에지부(35a)와, 공 통 라인(36)의 수평부로 형성되며, 상기 제 1 에지부(35a)와 둔각을 이루는 제 2 에지부(35b)를 포함한다. 제 1 및 제 2 에지부 사이의 각도는 100∼115도의 각도로 "L"자 형태를 이룬다. 이러한 제 1 에지 패턴(35)은 제 2 에지 패턴(38c)과 함께 전계 방향의 균일성을 개선한다. The common line 36 is formed to be parallel to the gate line 32, and a first edge pattern 35 is formed between the common line 36 and the common electrode finger 39. The first edge pattern 35 is formed of a first edge portion 35a extending from the common electrode finger portion 39 and a horizontal portion of the common line 36, and an obtuse angle with the first edge portion 35a. It comprises a second edge portion 35b constituting. The angle between the first and second edge portions is shaped like an "L" at an angle of 100 to 115 degrees. This first edge pattern 35 together with the second edge pattern 38c improves the uniformity of the electric field direction.

상기 화소 전극(38)은 소스/드레인 도전 패턴을 덮는 보호막(45)을 관통하여 드레인 전극(34D)을 노출시키는 화소 콘택홀(30)을 통해 드레인 전극(34D)에 접속된다. 이에 따라 화소 전극(38)은 드레인 전극(34D)을 경유한 데이터 신호를 공급받는다.The pixel electrode 38 is connected to the drain electrode 34D through the pixel contact hole 30 that exposes the drain electrode 34D through the passivation layer 45 covering the source / drain conductive pattern. Accordingly, the pixel electrode 38 receives a data signal via the drain electrode 34D.

상기 화소 전극 연결부(38b)와 화소 전극 핑거부(38a) 사이에서 제 2 에지 패턴(38c)은 화소 전극 핑거부(38a)부로부터 연장된 제 1 에지부(37a)와, 화소 전극 연결부와 나란하게 형성되며 제 1 에지부(37a)와 둔각을 이루는 제 2 에지부(37b)를 포함한다. 제 1 및 제 2 에지부(37a, 37b)는 100∼115도의 각도로 "L"자 형태를 이룬다. Between the pixel electrode connection portion 38b and the pixel electrode finger portion 38a, the second edge pattern 38c is parallel to the pixel electrode connection portion and the first edge portion 37a extending from the pixel electrode finger portion 38a portion. And a second edge portion 37b formed obtuse with the first edge portion 37a. The first and second edge portions 37a and 37b form an "L" shape at an angle of 100 to 115 degrees.

여기서, 상기 공통 라인(36)측은 제 2 에지 패턴(38c)의 제 2 에지부(37b)와 만나며, 그 폭이 줄어든 축소부(36a)를 구비하여, 좌우에 인접한 상기 제 1 에지 패턴(35)의 제 2 에지부(35b)와 상기 축소부(36a)는 평면상에서 계단 형상의 단차를 갖는다. Here, the common line 36 side meets the second edge portion 37b of the second edge pattern 38c and includes a reduction portion 36a having a reduced width, and thus the first edge pattern 35 adjacent to the left and right sides. The second edge portion 35b and the contraction portion 36a of step) have stepped steps in the plane.

제 1 에지 패턴(35)과 제 2 에지 패턴(38c)은 서로 교대로 배치되고, 공통 전극 핑거부(39)와 화소 전극 핑거부(38a) 또한 교대로 배치된다. 이에 따라 화소 전극(38)과 공통 라인(36)에 신호가 인가되면 도 5에 도시된 바와 같이 공통 전극 핑거부(39)와 화소 전극 핑거부(38a) 사이에 수평 전계가 형성된다. The first edge pattern 35 and the second edge pattern 38c are alternately disposed, and the common electrode finger portion 39 and the pixel electrode finger portion 38a are alternately disposed. Accordingly, when a signal is applied to the pixel electrode 38 and the common line 36, a horizontal electric field is formed between the common electrode finger portion 39 and the pixel electrode finger portion 38a as shown in FIG. 5.

또한, 제 1 에지 패턴(35)과 제 2 에지 패턴(38c) 사이에도 공통 전극 핑거부(39)와 화소 전극 핑거부(38a) 사이에 형성된 전계와 유사한 방향의 전계가 형성된다. 참고로, 도 5에서 양방향 화살표(↔)는 공통 라인(36)에 기준 전압이 공급되고, 화소 전극(38)에 임의의 데이터 전압이 공급된 경우 전계 방향을 표시한 것이다. In addition, an electric field in a direction similar to an electric field formed between the common electrode finger portion 39 and the pixel electrode finger portion 38a is also formed between the first edge pattern 35 and the second edge pattern 38c. For reference, in FIG. 5, the double arrow ↔ indicates the electric field direction when the reference voltage is supplied to the common line 36 and an arbitrary data voltage is supplied to the pixel electrode 38.

스토리지 캐패시터(Cst)는 화소 전극 연결부(38b)와 공통 라인(36)이 보호막(45) 및 게이트 절연막(43)을 사이에 두고 중첩됨으로써 구성된다. 이러한 스토리지 캐패시터(Cst)는 박막 트랜지스터(TFT)를 경유하여 화소 전극(38)에 충전된 데이터 신호가 화소 전극(38)에 안정적으로 유지될 수 있게 한다. The storage capacitor Cst is configured by the pixel electrode connection 38b and the common line 36 overlapping each other with the passivation layer 45 and the gate insulating layer 43 interposed therebetween. The storage capacitor Cst allows the data signal charged in the pixel electrode 38 to be stably maintained at the pixel electrode 38 via the thin film transistor TFT.

상술한 바와 같이 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판은 공통 전극 핑거부(39)와, 화소 전극 핑거부(38a)의 끝에 "L"자 형태로 각각 접속된 제 1 에지 패턴(35)과 제 2 에지 패턴(38c)을 형성함으로써 화소 전극 연결부(38b)와 공통 라인(36)에 인접한 영역 즉, 화소 영역의 하부 에지부에서도 다른 영역과 유사한 방향으로 전계가 형성되게 할 수 있다. 여기서, 화소 영역의 하부 에지부는 제 1 및 제 2 에지 패턴(35, 38c)의 각 제 1 에지부(35a, 37a) 끝 단과 제 2 에지부(35b, 37b)의 일측단으로부터의 거리(d)가 26∼28㎛인 영역을 말한다. As described above, the thin film transistor substrate of the in-plane switching mode according to the first embodiment of the present invention may be formed by connecting the common electrode finger 39 and the pixel electrode finger 38a to each other in the form of an "L" shape. By forming the first edge pattern 35 and the second edge pattern 38c, an electric field is formed in a region similar to the other region in the region adjacent to the pixel electrode connecting portion 38b and the common line 36, that is, the lower edge portion of the pixel region. It can be done. Herein, the lower edge portion of the pixel area is the distance d from the end of each of the first edge portions 35a and 37a of the first and second edge patterns 35 and 38c and the one end of the second edge portions 35b and 37b. ) Is an area of 26 to 28 µm.

이에 따라, 화소 영역에 형성된 전계 방향의 균일성이 향상되고, 비효율 구동영역 및 디스크리네이션(disclination) 영역이 현저히 줄어든다. As a result, the uniformity of the electric field direction formed in the pixel region is improved, and the inefficient driving region and disclination region are significantly reduced.

* 제 2 실시예 *Second Embodiment

도 6은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판을 나타내는 평면도이다. 또한 도 7은 도 6에 도시된 박막 트랜지스터 기판을 Ⅲ―Ⅲ', Ⅳ―Ⅳ' 및 Ⅴ―Ⅴ'선에 따라 나타내는 단면도이다. 6 is a plan view illustrating a thin film transistor substrate in an in-plane switching mode according to a second embodiment of the present invention. FIG. 7 is a cross-sectional view of the thin film transistor substrate illustrated in FIG. 6 along the lines III-III ', IV-IV', and V-V '.

도 6 및 도 7을 참조하면, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 박막 트랜지스터 기판은 기판(71) 위에서 게이트 절연막(73)을 사이에 두고 서로 교차되어 화소 영역들을 정의하는 다수의 게이트 라인(62) 및 다수의 데이터 라인(64), 게이트 라인(62)과 데이터 라인(64)에 접속된 박막 트랜지스터(TFT), 박막 트랜지스터(TFT)에 접속된 화소 전극(68), 화소 전극(68)과 수평 전계를 형성하는 공통 전극(69), 공통 전극(69)에 접속된 공통 라인(66), 및 화소 전극(68)과 공통 라인(66)의 중첩으로 구성된 스토리지 캐패시터(Cst)를 포함한다. 6 and 7, the thin film transistor substrate according to the second exemplary embodiment of the present invention crosses each other with the gate insulating layer 73 interposed therebetween on the substrate 71 to define a plurality of gate lines 62. And a plurality of data lines 64, a thin film transistor TFT connected to the gate line 62 and the data line 64, a pixel electrode 68 connected to the thin film transistor TFT, and a pixel electrode 68; A common electrode 69 forming a horizontal electric field, a common line 66 connected to the common electrode 69, and a storage capacitor Cst configured by overlapping the pixel electrode 68 and the common line 66 are included.

본 발명의 제 2 실시예에 따른 게이트 라인(62), 데이터 라인(64), 박막 트랜지스터(TFT), 스토리지 캐패시터(Cst)에 대한 상세한 설명은 상술한 본 발명의 제 1 실시 예에서와 동일하다.Detailed descriptions of the gate line 62, the data line 64, the thin film transistor TFT, and the storage capacitor Cst according to the second embodiment of the present invention are the same as those of the first embodiment of the present invention. .

공통 라인(66)은 게이트 라인(62)과 분리되어 형성된다. 또한 공통 라인(66)은 후술할 공통 전극 핑거부(69a) 및 화소 전극 핑거부(68a)들이 형성될 영역을 사이에 두고 마주하는 제 1 수평부(166) 및 제 2 수평부(266)를 포함하며, 상기 제 1 및 제 2 수평부(166, 266)는 화소 영역의 가장자리에서 쉴드 패턴(366)에 의해 서로 연결된다. 여기서, 공통 전극 핑거부(69a) 및 화소 전극 핑거부(68a)들 은 투명 전극 성분으로 동일층에 형성된다.The common line 66 is formed separately from the gate line 62. In addition, the common line 66 may include the first horizontal portion 166 and the second horizontal portion 266 facing each other with a region where the common electrode finger portion 69a and the pixel electrode finger portions 68a to be formed interposed therebetween. The first and second horizontal parts 166 and 266 are connected to each other by the shield pattern 366 at the edge of the pixel area. Here, the common electrode fingers 69a and the pixel electrode fingers 68a are formed on the same layer as the transparent electrode component.

여기서, 제 1 에지 패턴(165)은 공통 전극 핑거부(69a)로부터 연장방향의 제 1 에지부(165a)와, 상기 공통 라인(66)의 제 1 수평부(166)의 진행 방향이며, 이로부터 돌출한 제 2 에지부(165b)를 포함하여 이루어진다. 이 때, 상기 제 1 에지부(165a)와 제 2 에지부(165b)는 둔각을 이룬다. 제 1 및 제 2 에지부(165a, 165b)는 100∼115도의 각도로 "L"자 형태를 이룬다. 이러한 제 1 에지 패턴(165)은 후술할 화소 전극(68)의 제 2 에지 패턴(68c)과 함께 전계 방향의 균일성을 개선한다.Here, the first edge pattern 165 is a traveling direction of the first edge portion 165a extending from the common electrode finger portion 69a and the first horizontal portion 166 of the common line 66. It comprises a second edge portion 165b protruding from the. At this time, the first edge portion 165a and the second edge portion 165b form an obtuse angle. The first and second edge portions 165a and 165b form an "L" shape at an angle of 100 to 115 degrees. The first edge pattern 165 improves the uniformity of the electric field direction together with the second edge pattern 68c of the pixel electrode 68 which will be described later.

공통 전극(69)은 제 2 수평부(266)에 중첩된 공통 전극 연결부(69b)와 공통 전극 연결부(69b)에 연결되어 서로 나란하게 형성된 다수의 공통 전극 핑거부(69a)들을 포함한다. The common electrode 69 includes a common electrode connecting portion 69b overlapping the second horizontal portion 266 and a plurality of common electrode finger portions 69a formed in parallel with each other by being connected to the common electrode connecting portion 69b.

그리고, 상기 화소 영역 가장 자리에서, 상기 제 1 수평부(166)와 쉴드 패턴(366)과의 사이에, 도 3에서 설명한 바와 같은, "L"자 돌출 패턴이 형성되며, 상기 화소 영역 내에는, 상기 공통 전극 핑거부(69a)의 일측 끝이 "|" 자 패턴으로 형성되며, 상기 제 1 수평부(166)로부터 돌출하여 상기 공통 전극 핑거부(69a)와 오버랩하여 이격없이 형성된 제 1 에지 패턴(165)이 형성된다. 이러한 상기 제 1 에지 패턴(165)은 제 1 수평부(166)와 일체형으로 형성되어 차광성 금속으로 이루어진다. At the edge of the pixel region, an “L” shaped protrusion pattern, as described with reference to FIG. 3, is formed between the first horizontal portion 166 and the shield pattern 366, and within the pixel region. One end of the common electrode finger portion 69a is formed in a “|” shape, and the first edge protrudes from the first horizontal portion 166 to overlap the common electrode finger portion 69a without being spaced apart. Pattern 165 is formed. The first edge pattern 165 is formed integrally with the first horizontal portion 166 and is formed of a light blocking metal.

공통 전극 연결부(69b)는 보호막(75)과 게이트 절연막(73)을 관통하는 공통 콘택홀(70)을 통해 공통 라인(66)에 접속된다. 공통 전극 핑거부(69a)들 중 공통 전극 연결부(69b)의 최외곽에 연결된 핑거부(69a)는 효율적인 유효 개구 영역 확보를 위해 쉴드 패턴공통 라인 핑거부(366) 상에 오버랩하여 형성된다. The common electrode connector 69b is connected to the common line 66 through the common contact hole 70 passing through the passivation layer 75 and the gate insulating layer 73. Finger parts 69a connected to the outermost part of the common electrode connection part 69b among the common electrode finger parts 69a are overlapped on the shield pattern common line finger part 366 to secure an effective effective opening area.

이 경우, 상기 제 1 에지 패턴(165)과 상기 공통 전극 핑거부(69a)과 이격없이 형성되며, 상기 제 1 에지 패턴(165)은 상기 제 1 수평부(166)로부터 공통 전압 신호를 공급받는 것으로, 상기 제 1 에지 패턴(165) 형성 부위에서도 상기 화소 전극 핑거부(68a)와의 사이에 균일한 전계 효과를 갖게되어, 디스클리네이션 영역을 최소화할 수 있다. In this case, the first edge pattern 165 and the common electrode finger portion 69a are formed without being spaced apart from each other, and the first edge pattern 165 receives a common voltage signal from the first horizontal portion 166. As a result, even in a portion where the first edge pattern 165 is formed, a uniform electric field effect may be provided between the pixel electrode finger portion 68a, thereby minimizing the disclination region.

화소 전극(68)은 제 1 수평부(166)에 나란하게 형성된 화소 전극 연결부(68b)와 화소 전극 연결부(68b)에 연결되어 공통 전극 핑거부들(69a)에 나란하게 형성된 다수의 화소 전극 핑거부들(68a)을 포함한다. 화소 전극 연결부(68b)와 화소 전극 핑거부(68a) 사이에는 제 2 에지 패턴(68c)들이 형성된다. 제 2 에지 패턴(68c)은 화소 전극 핑거부(68a)로부터 연장된 제 1 에지부(67a)와, 화소 전극 연결부(68b)와 나란하게 형성되며 제 1 에지부(67a)와 둔각을 이루는 제 2 에지부(67b)를 포함한다. 제 1 및 제 2 에지부(67a, 67b)는 100∼115도의 각도로 "L"자 형태를 이룬다. 이러한 화소 전극(68)은 소스/드레인 도전 패턴을 덮는 보호막(75)을 관통하여 드레인 전극(64D)을 노출시키는 화소 콘택홀(60)을 통해 드레인 전극(64D)에 접속된다. 이에 따라 화소 전극(68)은 드레인 전극(64D)을 경유한 데이터 신호를 공급받는다.The pixel electrode 68 is connected to the pixel electrode connecting portion 68b and the pixel electrode connecting portion 68b formed in parallel with the first horizontal portion 166, and the plurality of pixel electrode finger portions formed in parallel with the common electrode finger portions 69a. (68a). Second edge patterns 68c are formed between the pixel electrode connection portion 68b and the pixel electrode finger portion 68a. The second edge pattern 68c is formed in parallel with the first edge portion 67a extending from the pixel electrode finger portion 68a and the pixel electrode connection portion 68b and forms an obtuse angle with the first edge portion 67a. Two edge portions 67b. The first and second edge portions 67a and 67b form an "L" shape at an angle of 100 to 115 degrees. The pixel electrode 68 is connected to the drain electrode 64D through the pixel contact hole 60 through which the drain electrode 64D is exposed through the passivation layer 75 covering the source / drain conductive pattern. Accordingly, the pixel electrode 68 receives a data signal via the drain electrode 64D.

여기서, 상기 제 1 수평부(166)는 쉴드 패턴(366)과 일체형으로 연결되며, 그 연결 부위에서, "L"자 돌출 패턴을 구비하는데, 상기 제 2 에지 패턴(68c)의 수 평부인 제 2 에지부(67b)와 만나는 부위에서, 그 폭이 줄어든 축소부(166a)를 구비하여, 좌우에 인접한 상기 "L"자 돌출 패턴 또는 제 1 에지 패턴(165)의 수평부와 상기 축소부(166a)는 평면상에서 계단 형상의 단차를 갖는다. Here, the first horizontal portion 166 is integrally connected to the shield pattern 366, and at the connection portion, the first horizontal portion 166 has an “L” shaped protruding pattern, which is a horizontal portion of the second edge pattern 68c. At the portion where the second edge portion 67b meets, a reduction portion 166a having a reduced width is provided, and the horizontal portion and the reduction portion of the “L” protruding pattern or the first edge pattern 165 adjacent to the left and right sides ( 166a has a stepped step shape on the plane.

여기서, 제 1 에지 패턴(165)과 제 2 에지 패턴(68c)은 서로 교대로 배치되고, 공통 전극 핑거부(69a)와 화소 전극 핑거부(68a) 또한 교대로 배치된다. 이에 따라 화소 전극(68)과 공통 라인(66)에 신호가 인가되면 도 8에 도시된 바와 같이 공통 전극 핑거부(69a)와 화소 전극 핑거부(68a) 사이에 수평 전계가 형성된다. 또한, 제 1 에지 패턴(165)과 제 2 에지 패턴(68c) 사이에도 공통 전극 핑거부(69a)와 화소 전극 핑거부(68a) 사이에 형성된 전계와 유사한 방향의 전계가 형성된다. 참고로, 도 8에서 양방향 화살표(↔)는 공통 라인(66)에 기준 전압이 공급되고, 화소 전극(68)에 임의의 데이터 전압이 공급된 경우 전계 방향을 표시한 것이다.Here, the first edge pattern 165 and the second edge pattern 68c are alternately disposed, and the common electrode finger portion 69a and the pixel electrode finger portion 68a are alternately disposed. Accordingly, when a signal is applied to the pixel electrode 68 and the common line 66, a horizontal electric field is formed between the common electrode finger portion 69a and the pixel electrode finger portion 68a as shown in FIG. 8. In addition, an electric field in a direction similar to an electric field formed between the common electrode finger portion 69a and the pixel electrode finger portion 68a is formed between the first edge pattern 165 and the second edge pattern 68c. For reference, in FIG. 8, the double arrow ↔ indicates the electric field direction when the reference voltage is supplied to the common line 66 and an arbitrary data voltage is supplied to the pixel electrode 68.

본 발명의 제 2 실시 예에서는 공통 전극 핑거부(69a)와 화소 전극 핑거부(68a)를 투명 도전 금속으로 형성함으로써 화소 영역의 투과율을 더욱 개선할 수 있다.In the second embodiment of the present invention, the transmittance of the pixel region may be further improved by forming the common electrode finger portion 69a and the pixel electrode finger portion 68a with a transparent conductive metal.

상술한 바와 같이 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판은 공통 전극 핑거부(69a) 및 화소 전극 핑거부(68a)에 "L"자 형태로 각각 접속된 제 1 에지 패턴(165)과 제 2 에지 패턴(68c)을 형성함으로써 화소 전극 연결부(68b)와 공통 라인 제 1 수평부(166)에 인접한 영역 즉, 화소 영 역의 하부 에지부에서도 다른 영역과 유사한 방향으로 전계가 형성되게 할 수 있다. 이에 따라 화소 영역에 형성된 전계 방향의 균일성이 향상되고, 비효율구동영역 및 디스크리네이션(disclination) 영역이 현저히 줄어든다. 여기서, 화소 영역의 하부 에지부는 제 1 및 제 2 에지 패턴(165, 68c)의 각 제 1 에지부(165a, 67a) 끝 단과 제 2 에지부(165b, 67b)의 일측단으로부터의 거리(d)가 26∼28㎛인 영역을 말한다. As described above, the thin film transistor substrate of the in-plane switching mode according to the second embodiment of the present invention has a first edge connected to the common electrode finger portion 69a and the pixel electrode finger portion 68a in the form of an “L” shape, respectively. By forming the pattern 165 and the second edge pattern 68c, the region adjacent to the pixel electrode connection 68b and the common line first horizontal portion 166, that is, the lower edge portion of the pixel region, may be in a similar direction to other regions. An electric field can be formed. As a result, the uniformity of the electric field direction formed in the pixel region is improved, and the inefficient driving region and the disclination region are significantly reduced. Here, the lower edge portion of the pixel area is the distance d from the end of each of the first edge portions 165a and 67a of the first and second edge patterns 165 and 68c and the one end of the second edge portions 165b and 67b. ) Is an area of 26 to 28 µm.

실험 결과, 본 발명의 제 1 및 제 2 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터를 포함하는 액정표시장치의 하부 에지부의 투과율은 종래에 비해 50%이상 증가하였고, 전체적인 투과율은 표 1에 도시된 바와 같이 액정표시장치의 모델에 따라 다양한 정도로 증가했음을 알 수 있다.As a result, the transmittance of the lower edge portion of the liquid crystal display including the thin film transistors of the in-plane switching mode according to the first and second embodiments of the present invention increased by more than 50% compared to the conventional, the overall transmittance is shown in Table 1 As can be seen that it increased to varying degrees depending on the model of the liquid crystal display.

크기size 제품군product family 화면비Aspect ratio 해상도resolution 단위화소크기Unit pixel size 적용효과 Effect of application H(가로)H (horizontal) V(세로)V (vertical) H(mm)H (mm) V(mm)V (mm) 47인치47 inches Full HDFull HD 16:916: 9 19201920 10801080 0.180500.18050 0.541500.54150 ~5.0%~ 5.0% 47인치47 inches HDHD 16:916: 9 13661366 768768 0.761250.76125 0.253750.25375 ~10.6%~ 10.6% 42인치42 inches Full HDFull HD 16:916: 9 19201920 10801080 0.161500.16150 0.484500.48450 ~5.6%~ 5.6% 42인치42 inches HDHD 16:916: 9 13661366 768768 0.681000.68100 0.227000.22700 ~11.9%~ 11.9% 37인치37 inches Full HDFull HD 16:916: 9 19201920 10801080 0.142250.14225 0.426750.42675 ~6.3%~ 6.3% 37인치37 inches HDHD 16:916: 9 13661366 768768 0.60.6 0.20.2 ~13.5%~ 13.5%

이하, 도 9a 내지 도 12b를 참조하여 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막 트랜지스터 기판의 제조방법에 대해 설명한다.Hereinafter, a method of manufacturing a thin film transistor substrate according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 9A to 12B.

도 9a 및 도 9b를 참조하면, 기판(41) 상에 제 1 마스크 공정으로 게이트 라인(32), 게이트 전극(32G), 공통 라인(36), 공통 전극 핑거부(39) 및 제 1 에지 패턴(35)을 포함하는 제 1 도전 패턴이 형성된다. 이 때, 상기 공통 라인(36)은 상기 공통 전극 핑거부(39)와의 사이에 "L"자 돌출된 제 1 에지 패턴(35)을 갖고, 인접한 제 1 에지 패턴(35)들간의 사이에 상대적으로 상기 제 1 에지 패턴(35)의 수평부보다 폭이 들어간 수축부(36a)를 갖는다. 9A and 9B, a gate line 32, a gate electrode 32G, a common line 36, a common electrode finger 39, and a first edge pattern are formed on a substrate 41 by a first mask process. A first conductive pattern including 35 is formed. At this time, the common line 36 has a first edge pattern 35 protruding from the letter “L” between the common electrode finger portion 39, and is disposed between the adjacent first edge patterns 35. Therefore, it has a contraction portion 36a having a width larger than that of the horizontal portion of the first edge pattern 35.

제 1 도전 패턴은 기판(41) 상에 게이트 금속층을 형성한 후, 포토리쏘그래피 공정 및 식각공정을 포함하는 제 1 마스크 공정으로 게이트 금속층을 패터닝함으로써 형성된다. 게이트 금속층은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 알루미늄-네오디미늄(Al-Nd), 구리(Cu), 크롬(Cr), 티타늄(Ti) 등의 금속과 이들의 합금이 단일층 또는 복수층 구조로 형성된다.The first conductive pattern is formed by forming a gate metal layer on the substrate 41 and then patterning the gate metal layer by a first mask process including a photolithography process and an etching process. The gate metal layer may be formed of a single layer or a plurality of metals such as molybdenum (Mo), aluminum (Al), aluminum-neodymium (Al-Nd), copper (Cu), chromium (Cr), titanium (Ti), and alloys thereof. It is formed into a layer structure.

도 10a 및 도 10b를 참조하면, 제 1 도전 패턴을 덮도록 기판(41) 상에 게이트 절연막(43)을 형성한다. 이 후, 게이트 절연막(43) 상에 제 2 마스크 공정으로 반도체 패턴(48) 및, 데이터 라인(34), 소스 전극(34S), 드레인 전극(34D)을 포함하는 제 2 도전 패턴이 형성된다.10A and 10B, a gate insulating layer 43 is formed on the substrate 41 to cover the first conductive pattern. Thereafter, a second conductive pattern including the semiconductor pattern 48, the data line 34, the source electrode 34S and the drain electrode 34D is formed on the gate insulating film 43 by a second mask process.

게이트 절연막(43)은 산화 실리콘(SiOx) 또는 질화 실리콘(SiNx) 등의 무기 절연물질이 이용된다. As the gate insulating layer 43, an inorganic insulating material such as silicon oxide (SiOx) or silicon nitride (SiNx) is used.

반도체 패턴(48) 및 제 2 도전 패턴은 게이트 절연막(43) 상에 반도체층 및 소스/드레인 금속층을 적층한 후, 포토리쏘그래피 공정 및 식각공정을 포함하는 제 2 마스크 공정으로 반도체층 및 소스/드레인 금속층을 패터닝함으로써 형성된다. The semiconductor pattern 48 and the second conductive pattern may be formed by stacking a semiconductor layer and a source / drain metal layer on the gate insulating layer 43, and then performing the semiconductor layer and the source / drain by a second mask process including a photolithography process and an etching process. It is formed by patterning the drain metal layer.

반도체층으로는 비정질 실리콘 및 불순물(n+ 또는 p+)이 도핑된 비정질 실리콘이 적층되어 이용된다. 소스/드레인 금속층은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 알루미늄-네오디미늄(Al-Nd), 구리(Cu), 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 몰리티타늄 합금(MoTi), 몰리니오븀 합금(MoNb), 타이아늄니오븀 합금(TiNb) 등의 금속과 이들의 합금이 단일층 또는 복수층 구조로 형성된다.As the semiconductor layer, amorphous silicon and amorphous silicon doped with impurities (n + or p +) are stacked and used. Source / drain metal layers include molybdenum (Mo), aluminum (Al), aluminum-neodymium (Al-Nd), copper (Cu), chromium (Cr), titanium (Ti), molybdenum alloys (MoTi), and molybdenum Metals such as alloys (MoNb) and titanium niobium alloys (TiNb) and alloys thereof are formed in a single layer or in a multiple layer structure.

제 2 마스크 공정은 하프 톤 마스크 또는 회절 노광 마스크를 이용함으로써 하나의 마스크 공정으로 반도체 패턴(48) 및 제 2 도전 패턴을 형성할 수 있다. 이에 따라 제 2 도전 패턴 하부에는 반도체 패턴(48)이 중첩된다. The second mask process may form the semiconductor pattern 48 and the second conductive pattern in one mask process by using a halftone mask or a diffraction exposure mask. As a result, the semiconductor pattern 48 overlaps the lower portion of the second conductive pattern.

도 11a 및 도 11b를 참조하면, 게이트 절연막(43) 상에 반도체 패턴(48) 및 제2 도전 패턴을 덮도록 보호막(45)이 형성된다. 이어서 제 3 마스크 공정으로 화소 콘택홀(30) 이 형성된다.11A and 11B, a passivation layer 45 is formed on the gate insulating layer 43 to cover the semiconductor pattern 48 and the second conductive pattern. Subsequently, the pixel contact hole 30 is formed by the third mask process.

보호막(45)으로는 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx) 등과 같은 무기 절연 물질이 PECVD 등의 증착 방법으로 증착되어 형성되거나, 유전상수가 작은 아크릴(acryl)계 유기 화합물, BCB(benzo cyclobutene), PFBC(Perfluorocyclobutane), 테프론(teflon), 사이토프(Cytop)와 같은 유기 절연물질이 스핀 또는 스핀리스 등의 코팅 방법으로 코팅되어 형성된다. As the passivation layer 45, an inorganic insulating material such as a silicon oxide film (SiOx), a silicon nitride film (SiNx), or the like is deposited by a deposition method such as PECVD, or an acryl-based organic compound having a low dielectric constant, benzo cyclobutene (BCB) ), An organic insulating material such as PFBC (Perfluorocyclobutane), Teflon, Cytop, is formed by coating with a spin or spinless coating method.

화소 콘택홀(30)은 포토리쏘그래피 공정 및 식각 공정을 포함하는 제 3 마스크 공정을 통해 보호막(45)을 패터닝함으로써 형성된다.The pixel contact hole 30 is formed by patterning the passivation layer 45 through a third mask process including a photolithography process and an etching process.

도 12a 및 도 12b를 참조하면, 제 4 마스크 공정으로 보호막(45) 상에 화소 전극 핑거부(38a), 화소 전극 연결부(38b) 및 제 2 에지 패턴(38c)을 포함하는 제 3 도전 패턴이 형성된다.12A and 12B, the third conductive pattern including the pixel electrode finger portion 38a, the pixel electrode connection portion 38b, and the second edge pattern 38c may be formed on the passivation layer 45 by a fourth mask process. Is formed.

제 3 도전 패턴은 보호막(45) 상에 투명 도전 금속층을 형성한 후, 포토리쏘그래피 공정 및 식각 공정을 포함하는 제 4 마스크 공정으로 투명 도전 금속층을 패터닝함으로써 형성된다.The third conductive pattern is formed by forming a transparent conductive metal layer on the protective film 45 and then patterning the transparent conductive metal layer by a fourth mask process including a photolithography process and an etching process.

투명 금속층으로는 인듐 틴 옥사이드(ITO ; Indium Tin Oxide), 틴 옥사이드(TO ; Tin Oxide), 인듐 징크 옥사이드 (IZO ; Indium Zinc Oxide), 인듐 틴 징크 옥사이드(ITZO ; Indium Tin Zinc Oxide) 등이 이용된다.As the transparent metal layer, indium tin oxide (ITO), tin oxide (TO; tin oxide), indium zinc oxide (IZO; indium zinc oxide), and indium tin zinc oxide (ITZO; indium tin zinc oxide) are used. do.

이하, 도 19a 내지 도 20c를 참조하여, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 박막 트랜지스터 기판의 제조방법에 대해 설명한다.Hereinafter, a method of manufacturing a thin film transistor substrate according to a second exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 19A to 20C.

도 19a 내지 도 19c는, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 제조 방법을 나타낸 공정 평면도이며, 도 20a 내지 도 20c는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 제조 방법을 나타낸 공정 단면도이다.19A to 19C are process plan views showing the manufacturing method according to the second embodiment of the present invention, and FIGS. 20A to 20C are process cross-sectional views showing the manufacturing method according to the second embodiment of the present invention.

도 19a 내지 도 20a와 같이, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 제 1 도전 패턴은, 기판 (71) 상에 제 1 금속을 선택적으로 제거하여, 게이트 라인(62), 게이트 전극(62G), 화소 영역의 하측과 상측에 각각 수평한 방향으로 형성된 제 1 수평부(166) 및 제 2 수평부(266)로 이루어진 공통 라인(66) 및 상기 제 1, 제 2 수평부(166, 266)를 잇는 쉴드 패턴(366)과, 화소 영역 중앙부에서 상기 제 1 수평부(166)로부터 화소 영역 측으로 돌출된 제 1 에지 패턴(165)을 포함하여 형성한다. 상기 제 1 도전 패턴은 기판(71) 상에 게이트 금속층을 형성한 후, 포토리쏘그래피 공정 및 식각공정을 포함하는 제 1 마스크 공정으로 게이트 금속층을 패터닝함으로써 형성된다. 게이트 금속층은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 알루미늄-네오디미늄(Al-Nd), 구리(Cu), 크롬(Cr), 티타늄(Ti) 등의 금속과 이들의 합금이 단일층 또는 복수층 구조로 형성된다.19A to 20A, the first conductive pattern according to the second exemplary embodiment of the present invention selectively removes the first metal on the substrate 71 so that the gate line 62, the gate electrode 62G, The common line 66 and the first and second horizontal portions 166 and 266 formed of the first horizontal portion 166 and the second horizontal portion 266 formed in the horizontal direction on the lower side and the upper side of the pixel area, respectively, may be disposed. The shield pattern 366 and the first edge pattern 165 protruding from the first horizontal portion 166 toward the pixel region at the center of the pixel region are formed. The first conductive pattern is formed by forming a gate metal layer on the substrate 71 and then patterning the gate metal layer by a first mask process including a photolithography process and an etching process. The gate metal layer may be formed of a single layer or a plurality of metals such as molybdenum (Mo), aluminum (Al), aluminum-neodymium (Al-Nd), copper (Cu), chromium (Cr), titanium (Ti), and alloys thereof. It is formed into a layer structure.

이어, 도 19b및 도 20b와 같이, 상기 제 1 도전 패턴을 덮도록 상기 기판(71) 상에 실리콘 질화막이나 실리콘 산화막 성분의 게이트 절연막(73)이 형성된다. 이어, 반도체 패턴(78) 및 제 2 도전 패턴은 게이트 절연막(73) 상에 반도체층 및 소스/드레인 금속층(64와 동일층)을 적층한 후, 포토리쏘그래피 공정 및 식각공정을 포함하는 제 2 마스크 공정으로 반도체층 및 소스/드레인 금속층을 패터닝함으로써 형성된다. 여기서, 제 2 도전 패턴은 데이터 라인(64), 소오스 전극 (64S), 드레인 전극(64D)을 포함한다.19B and 20B, a gate insulating film 73 of a silicon nitride film or a silicon oxide film component is formed on the substrate 71 so as to cover the first conductive pattern. Subsequently, the semiconductor pattern 78 and the second conductive pattern may be formed by stacking a semiconductor layer and a source / drain metal layer 64 on the gate insulating layer 73, and then including a photolithography process and an etching process. It is formed by patterning a semiconductor layer and a source / drain metal layer by a mask process. Here, the second conductive pattern includes a data line 64, a source electrode 64S, and a drain electrode 64D.

반도체층으로는 비정질 실리콘 및 불순물(n+ 또는 p+)이 도핑된 비정질 실리콘이 적층되어 이용된다. 소스/드레인 금속층은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 알루미늄-네오디미늄(Al-Nd), 구리(Cu), 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 몰리티타늄 합금(MoTi), 몰리니오븀 합금(MoNb), 타이아늄니오븀 합금(TiNb) 등의 금속과 이들의 합금이 단일층 또는 복수층 구조로 형성된다.As the semiconductor layer, amorphous silicon and amorphous silicon doped with impurities (n + or p +) are stacked and used. Source / drain metal layers include molybdenum (Mo), aluminum (Al), aluminum-neodymium (Al-Nd), copper (Cu), chromium (Cr), titanium (Ti), molybdenum alloys (MoTi), and molybdenum Metals such as alloys (MoNb) and titanium niobium alloys (TiNb) and alloys thereof are formed in a single layer or in a multiple layer structure.

제 2 마스크 공정은 하프 톤 마스크 또는 회절 노광 마스크를 이용함으로써 하나의 마스크 공정으로 반도체 패턴(78) 및 제 2 도전 패턴을 형성할 수 있다. 이에 따라 제 2 도전 패턴 하부에는 반도체 패턴(78)이 중첩된다.The second mask process may form the semiconductor pattern 78 and the second conductive pattern in one mask process by using a halftone mask or a diffraction exposure mask. As a result, the semiconductor pattern 78 overlaps the lower portion of the second conductive pattern.

이어, 플라즈마 증착(PECVD: Plasma enhanced chemical vapor deposition) 방법에 의해, 실리콘 산화막(SiOx)이나 실리콘 질화막(SiNx)의 무기 절연막을 증착하여 보호막(75)을 형성한다. 혹은, 상기 보호막(75)으로 유전상수가 작은 아크릴(acryl)계 유기 화합물, BCB(benzo cyclobutene), PFBC(Perfluorocyclobutane), 테프론(teflon), 사이토프(Cytop)와 같은 유기 절연물질이 스핀 또는 스핀리스 등의 코팅 방법으로 코팅하여 더 형성할 수도 있다. Subsequently, a protective film 75 is formed by depositing an inorganic insulating film of a silicon oxide film (SiOx) or a silicon nitride film (SiNx) by a plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) method. Alternatively, an organic insulating material such as an acryl-based organic compound having a low dielectric constant, a benzo cyclobutene (BCB), a perfluorocyclobutane (PFBC), a teflon, and a cytop may be used as the passivation layer 75. It may be further formed by coating by a coating method such as lease.

도 19c 및 도 20c와 같이, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 화소 콘택홀(60) 및 공통 콘택홀(70)은 포토리쏘그래피 공정 및 식각 공정을 포함하는 제 3 마스크를 이용하여 보호막(75) 및 게이트 절연막(73) 중 적어도 어느 하나를 식각함으로써 형성된다. As shown in FIGS. 19C and 20C, the pixel contact hole 60 and the common contact hole 70 according to the second exemplary embodiment of the present invention may include a passivation layer 75 using a third mask including a photolithography process and an etching process. And at least one of the gate insulating film 73 is etched.

본 발명의 제 2 실시 예에 따른 제 3 도전 패턴은 화소 전극(68) 및 공통 전극(69)을 포함하여 이루어진다. 여기서, 제 3 도전 패턴은 ITO나 IZO 등의 투명 금속으로 이루어진다. 그리고, 상기 화소 전극(68)은 상기 제 1 수평부(166) 상부에 형성된 화소 전극 연결부(68b)와, 화소 영역에서 인접한 데이터 라인(64)과 평행한 화소 전극 핑거부(68a)와, 상기 화소 전극 핑거부(68a)와 상기 화소 전극 연결부(68b) 사이에 "L"자 돌출 패턴으로 형성된 제 2 에지 패턴(68c)을 포함한다. 여기서, 상기 제 2 에지 패턴(68c)은 상기 제 1 에지 패턴(165)과 나란하며, 상기 화소 전극 핑거부(68a)와 상기 화소 전극 연결부(68b)와 일체형으로 형성된다. 그리고, 공통 전극(69)은 상기 화소 전극 핑거부(68a)와 평행한 공통 전극 핑거부(69)와, 상기 제 2 수평부(266)의 상부에 형성된 공통 전극 연결부(69b)를 포함하여 이루어진다. 그리고, 상기 공통 전극 핑거부(69) 중 하나는 상기 제 1 에지 패턴(165)와 이격하지 않고 오버랩하여 " |"자 형상의 일측 끝을 구비한다. The third conductive pattern according to the second embodiment of the present invention includes the pixel electrode 68 and the common electrode 69. Here, the third conductive pattern is made of a transparent metal such as ITO or IZO. The pixel electrode 68 includes a pixel electrode connecting portion 68b formed on the first horizontal portion 166, a pixel electrode finger portion 68a parallel to an adjacent data line 64 in the pixel region, and A second edge pattern 68c is formed between the pixel electrode finger portion 68a and the pixel electrode connection portion 68b in an “L” protruding pattern. The second edge pattern 68c may be parallel to the first edge pattern 165 and may be integrally formed with the pixel electrode finger portion 68a and the pixel electrode connection portion 68b. The common electrode 69 includes a common electrode finger 69 parallel to the pixel electrode finger 68a and a common electrode connection 69b formed on the second horizontal portion 266. . One of the common electrode fingers 69 overlaps the first edge pattern 165 without being spaced apart from each other, and has one end having a “|” shape.

이러한 공통 전극 핑거부(69a)와 제 1 에지 패턴(165)의 제 1 에지부(165a)는 게이트 절연막(73) 및 보호막(75)을 사이에 두고 중첩되어 형성된다.  The common electrode finger portion 69a and the first edge portion 165a of the first edge pattern 165 overlap each other with the gate insulating layer 73 and the passivation layer 75 interposed therebetween.

* 제 3 실시예 * Third Embodiment

도 13은 본 발명의 제 3 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판을 나타내는 평면도이고, 도 14는 도 13의 화소 영역의 하부 에지부를 나타낸 확대도이다. 본 발명의 제 3 실시 예에 따른 박막 트랜지스터 기판의 단면도는 제 2 실시 예와 동일하다. 따라서, 제 2 실시 예와 대비하여 중복된 구성 요소들에 대한 설명은 생략하기로 한다. FIG. 13 is a plan view illustrating a thin film transistor substrate in an in-plane switching mode according to a third exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 14 is an enlarged view illustrating a lower edge portion of the pixel area of FIG. 13. The cross-sectional view of the thin film transistor substrate according to the third embodiment of the present invention is the same as that of the second embodiment. Therefore, description of overlapping components will be omitted in comparison with the second embodiment.

도 13 및 도 14를 참조하면, 공통 라인(66)의 제 1 수평부(166)와 공통 전극 핑거부(69a) 사이에서 제 1 에지 패턴(186)이 형성된다. 제 1 에지 패턴(186)은 공통 전극 핑거부(69a)로부터 연장된 제 1 에지부(186a)와, 공통 라인(66)의 제 1 수평부(166)와 접속되며 제 1 에지부(186a)와 120∼130도의 둔각을 이루도록 경사되어 형성된 제 2 에지부(186b)를 포함한다. 13 and 14, a first edge pattern 186 is formed between the first horizontal portion 166 of the common line 66 and the common electrode finger portion 69a. The first edge pattern 186 is connected to the first edge portion 186a extending from the common electrode finger portion 69a and the first horizontal portion 166 of the common line 66 and is connected to the first edge portion 186a. And a second edge portion 186b inclined to form an obtuse angle of 120 to 130 degrees.

화소 전극 연결부(68b)와 화소 전극 핑거부(68a) 사이에서 제 2 에지 패턴(96)이 형성된다. 제 2 에지 패턴(96)은 화소 전극 핑거부(68a)로부터 연장된 제 1 에지부(96a)와, 화소 전극 연결부(68b)와 접속되며 제 1 에지부(96a)와 120∼130도의 둔각을 이루도록 경사되어 형성된 제 2 에지부(96b)를 포함한다. A second edge pattern 96 is formed between the pixel electrode connection portion 68b and the pixel electrode finger portion 68a. The second edge pattern 96 is connected to the first edge portion 96a extending from the pixel electrode finger portion 68a and the pixel electrode connection portion 68b, and has an obtuse angle of 120 to 130 degrees with the first edge portion 96a. It comprises a second edge portion 96b inclined to form.

즉, 상기 제 2 에지부(96b)가 상기 제 1 수평부(166)와 다른 각도를 갖고 꺽여지며, 상기 제 1 에지부(96a)와 상기 제 2 에지부(96b) 사이의 둔각이, 상기 제 1 에지부(96a)와 상기 제 1 수평부(166) 사이의 각도보다 크게 하여 형성한다. That is, the second edge portion 96b is bent at an angle different from the first horizontal portion 166, and an obtuse angle between the first edge portion 96a and the second edge portion 96b is obtained. It is formed to be larger than the angle between the first edge portion 96a and the first horizontal portion 166.

이와 같이, 제 1 및 제 2 에지 패턴(186, 96)의 각 제 1 에지부(186a, 96a) 및 제 2 에지부(186b, 96b)의 각도를 제 1 및 제 2 실시 예보다 크게 형성함으로써, 제 1 및 제 2 에지 패턴(186, 96) 사이에서도 공통 전극 핑거부(69a)와 화소 전극 핑거부(68a) 사이에 형성된 수평 전계와 유사한 방향의 전계가 형성된다. 즉, 제 1 및 제 2 실시 예에서의 화소 영역 하부 에지부에서의 투과율보다 9∼11%증가하며 이에 따라, 하부 에지부에서의 비효율구동영역 및 디스크리네이션(disclination) 영역이 현저히 줄어든다.As such, by forming the angles of the first edge portions 186a and 96a and the second edge portions 186b and 96b of the first and second edge patterns 186 and 96 to be larger than those of the first and second embodiments. The electric field in a direction similar to the horizontal electric field formed between the common electrode finger portion 69a and the pixel electrode finger portion 68a is also formed between the first and second edge patterns 186 and 96. That is, the transmittance in the lower edge portion of the pixel region in the first and second embodiments increases by 9 to 11%, thereby reducing the inefficient driving region and disclination region in the lower edge portion.

* 제 4 실시예 *Fourth Embodiment

도 15는 본 발명의 제 4 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판을 나타내는 평면도이고, 도 16은 도 15의 화소 영역의 하부 에지부를 나타낸 확대도이다. 본 발명의 제 4 실시 예에 따른 박막 트랜지스터 기판의 단면도는 제 2 실시 예와 동일하다. 따라서, 제 2 실시 예와 대비하여 중복된 구성 요소들에 대한 설명은 생략하기로 한다. FIG. 15 is a plan view illustrating a thin film transistor substrate in an in-plane switching mode according to a fourth exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 16 is an enlarged view illustrating a lower edge portion of the pixel area of FIG. 15. The cross-sectional view of the thin film transistor substrate according to the fourth embodiment of the present invention is the same as that of the second embodiment. Therefore, description of overlapping components will be omitted in comparison with the second embodiment.

도 15 및 도 16을 참조하면, 공통 라인(66)의 제 1 수평부(166)와 공통 전극 핑거부(69a) 사이에서 제 1 에지 패턴(176)이 형성된다. 제 1 에지 패턴(176)은 공통 전극 핑거부(69a)로부터 연장된 제 1 에지부(176a)와, 제 1 에지부(176a)와 135∼160도의 둔각을 이루도록 경사되어 형성된 제 2 에지부(176b)와, 제 2 에지부와 접속되어 공통 라인(66)의 제 1 수평부(166)와 나란하게 형성되는 제 3 에지부(176c)를 포함한다. 15 and 16, a first edge pattern 176 is formed between the first horizontal portion 166 and the common electrode finger portion 69a of the common line 66. The first edge pattern 176 has a first edge portion 176a extending from the common electrode finger portion 69a and a second edge portion formed to be inclined to form an obtuse angle of 135 to 160 degrees with the first edge portion 176a ( 176b and a third edge portion 176c connected to the second edge portion and formed in parallel with the first horizontal portion 166 of the common line 66.

화소 전극 연결부(68b)와 화소 전극 핑거부(68a) 사이에서 제 2 에지 패턴(85)이 형성된다. 제 2 에지 패턴(85)은 화소 전극 핑거부(68a)로부터 연장된 제 1 에지부(85a)와, 제 1 에지부(85a)와 135∼160도의 둔각을 이루도록 경사되어 형성된 제 2 에지부(85b)와, 제 2 에지부(85b)와 접속되어 화소 전극 연결부(68b)와 나란하게 형성되는 제 3 에지부(85c)를 포함한다. A second edge pattern 85 is formed between the pixel electrode connection portion 68b and the pixel electrode finger portion 68a. The second edge pattern 85 may be inclined to form an obtuse angle of 135 to 160 degrees with the first edge portion 85a extending from the pixel electrode finger portion 68a and the first edge portion 85a ( 85b and a third edge portion 85c connected to the second edge portion 85b to be parallel to the pixel electrode connection portion 68b.

이와 같이, 제 1 및 제 2 에지 패턴(176, 85)의 제 1 에지부(176a, 85a) 및 제 2 에지부(176b, 85b)의 각도를 제 1 내지 3 실시 예보다 큰 각도로 형성함으로써, 제 1 및 제 2 에지 패턴(176, 85) 사이에서도 공통 전극 핑거부(69a)와 화소 전극 핑거부(68a) 사이에 형성된 수평 전계와 유사한 방향의 전계가 형성된다. 즉, 제 1 및 제 2 실시 예에서의 화소 영역 하부 에지에서의 투과율보다 11∼13%증가하며 이에 따라, 하부 에지에서의 비효율구동영역 및 디스크리네이션(disclination) 영역이 현저히 줄어든다.As such, the angles of the first edge portions 176a and 85a and the second edge portions 176b and 85b of the first and second edge patterns 176 and 85 are formed at an angle greater than those in the first to third embodiments. The electric field in a direction similar to the horizontal electric field formed between the common electrode finger portion 69a and the pixel electrode finger portion 68a is also formed between the first and second edge patterns 176 and 85. That is, the transmittance at the lower edge of the pixel region in the first and second embodiments is increased by 11 to 13%, thereby significantly reducing the inefficient driving region and disclination region at the lower edge.

* 제 1-4 실시예의 변형예 *Modifications of Embodiments 1-4

공통 전극 핑거부와 화소 전극 핑거부의 일측 끝은 상술한 바와 같이 적어도 하나의 일측 끝에, "L"자 돌출 패턴을 포함하여 이루어지며, 타측 끝은, 일측 끝과 대칭형으로 형성할 수도 있고, 혹은, 제 2 내지 제 4 실시예들(도 6, 도 13 및 도 15 참조)에서 도시된 바와 같이, 상기 공통 전극 핑거부와 화소 전극 핑거부들의 타측 끝은 상기 공통 라인의 제 2 수평부(266)와 이격없이 바(bar) 형상으로 형성될 수 있다. As described above, one end of the common electrode finger and the pixel electrode finger may include an “L” shaped protruding pattern at at least one end, and the other end may be formed symmetrically with one end, or As shown in the second to fourth embodiments (refer to FIGS. 6, 13, and 15), the other end of the common electrode finger portion and the pixel electrode finger portions may have a second horizontal portion 266 of the common line. It may be formed in a bar shape without being spaced apart from.

도 6을 참조하면, 상기 공통 전극 핑거부(69a)와, 화소 전극 핑거부(68a)은 서로 평행하게 형성되며, 각각의 핑거부(69a, 68a)의 타측 끝이 핑거부들(69a, 68a)의 진행방향으로 연장되는 바(bar) 형상을 가지며, 각각 제 2 수평부(266)과 이격없이 형성됨을 알 수 있다. Referring to FIG. 6, the common electrode finger portion 69a and the pixel electrode finger portion 68a are formed in parallel with each other, and the other ends of the respective finger portions 69a and 68a are the finger portions 69a and 68a. It can be seen that it has a bar shape extending in the advancing direction of and is formed without being spaced apart from the second horizontal portion 266, respectively.

그리고, 상기 화소 전극 핑거부(68a)의 타측 끝은 상기 제 2 수평부 (266)과 이격없이 바(bar) 형상으로 형성되며, 상기 공통 전극 핑거부(69a)는 상기 제 2 수평부(266) 상의 공통 전극 연결부(69b)와 연결되어 일체로 형성된다. 이 경우, 상기 화소 전극 핑거부(68a)의 타측 끝은 상기 제 2 수평부(266)과 이격하지 않은 수준으로 형성하는 것으로, 경우에 따라 오버랩하지 않고, 상기 제 2 수평부(266)의 경계선과 닿아있게 형성할 수도 있다. The other end of the pixel electrode finger portion 68a is formed in a bar shape without being spaced apart from the second horizontal portion 266, and the common electrode finger portion 69a is formed in the second horizontal portion 266. It is connected to the common electrode connecting portion 69b on the () is formed integrally. In this case, the other end of the pixel electrode finger portion 68a is formed at a level not spaced apart from the second horizontal portion 266. In some cases, the edge of the second horizontal portion 266 is not overlapped. It can also be formed in contact with.

이와 같이, 상기 화소 전극 핑거부(68a)와 공통 라인으로 기능하는 상기 제 2 수평부(266)를 이격없이 형성하는 이유는 각각 전기적으로 화소 전압, 공통 전압이 공간적으로 빠짐없이, 고르게 전계 방향을 형성하여 디스클레이네이션을 최소화하기 위함이다. As such, the reason for forming the pixel electrode finger portion 68a and the second horizontal portion 266 functioning as a common line without being spaced apart from each other is that the pixel voltage and the common voltage are not spatially separated. To minimize disclaimation.

여기서, 상기 공통 전극 핑거부(69a)는 동일층의 투명 금속으로 이루어진 공통 전극 연결부(69b)와 일체형으로 형성되며, 상기 공통 전극 연결부(69b)는 상기 제 2 수평부(266)과 오버랩하고, 상기 화소 전극 핑거부(68a)와 이격하여, 상기 화소 전극 핑거부(68a)와 만나는 상기 제 2 수평부(266)의 경계선 안쪽에 형성된다. 이 경우, 상기 공통 전극 핑거부(69a)는, 상기 제 2 수평부(266) 상의 상기 공통 전극 연결부(69b)와 일체형으로 형성되는 것으로, 평면적으로 상기 제 2 수평부(266)와 오버랩된 형상을 갖는다.Here, the common electrode finger portion 69a is integrally formed with the common electrode connecting portion 69b made of the transparent metal of the same layer, and the common electrode connecting portion 69b overlaps the second horizontal portion 266, A gap between the pixel electrode finger part 68a and the pixel electrode finger part 68a may be formed inside the boundary line of the second horizontal part 266. In this case, the common electrode finger portion 69a is formed integrally with the common electrode connection portion 69b on the second horizontal portion 266, and has a shape overlapping the second horizontal portion 266 in a plane. Has

한편, 상술한 변형예는 제 2 내지 제 4 실시예에서 설명한 도면을 근거로 설명하였으나, 제 1 실시예에서도 화소 영역의 상부측 공통 라인에 대응되는 화소 전극 핑거부와 공통 전극 핑거부의 형상을 변경하여 적용하여 동일 효과를 꾀할 수 있다. On the other hand, the above-described modification is described based on the drawings described in the second to fourth embodiments, but in the first embodiment, the shape of the pixel electrode finger portion and the common electrode finger portion corresponding to the upper common line of the pixel region is changed. Can be applied to achieve the same effect.

* 제 5 실시예 *Fifth Embodiment

도 17은 본 발명의 제 5 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판을 나타내는 평면도이고, 도 18은 도 17의 화소 영역의 상부 에지부를 나타낸 확대도이다. 본 발명의 제 5 실시 예에 따른 박막 트랜지스터 기판의 단면도는 제 2 실시 예와 동일하다. 따라서, 제 2 실시 예와 대비하여 중복된 구성 요소들에 대한 설명은 생략하기로 한다. 17 is a plan view illustrating a thin film transistor substrate in an in-plane switching mode according to a fifth embodiment of the present invention, and FIG. 18 is an enlarged view illustrating an upper edge portion of the pixel area of FIG. 17. The cross-sectional view of the thin film transistor substrate according to the fifth embodiment of the present invention is the same as that of the second embodiment. Therefore, description of overlapping components will be omitted in comparison with the second embodiment.

도 17 및 도 18을 참조하면, 화소 영역의 상부 에지부에서 공통 전극 연결부(69b)와 공통 전극 핑거부(69a) 사이에서 제 3 에지 패턴(89)이 형성된다. 제 3 에지 패턴(89)은 공통 전극 핑거부(69b)의 진행 방향과 다른 방향으로 경사지도록 형성된다. 이 때, 상기 제 3 에지 패턴(89)의 방향은, 상기 공통 전극 핑거부(69b)의 진행방향을 기준으로 23∼26도의 각도로 경사지도록 형성된다. 17 and 18, a third edge pattern 89 is formed between the common electrode connecting portion 69b and the common electrode finger portion 69a at the upper edge portion of the pixel region. The third edge pattern 89 is formed to be inclined in a direction different from the traveling direction of the common electrode finger 69b. At this time, the direction of the third edge pattern 89 is formed to be inclined at an angle of 23 to 26 degrees with respect to the traveling direction of the common electrode finger 69b.

또한, 화소 전극 핑거부(68a)에서 연장되어 공통 라인(66)의 제 2 수평부(266)와 중첩되도록 제 4 에지 패턴(99)이 형성된다. 여기서, 공통 라인(66)의 제 2 수평부(266)와의 중첩 부분을 제외한 제 4 에지 패턴(99)의 길이는 8∼10㎛이며, 화소 전극 핑거부(68a)기준으로 20~30°, 보다 바람직하게는 23∼26도의 각도로 경사지도록 형성된다. In addition, a fourth edge pattern 99 is formed to extend from the pixel electrode finger portion 68a to overlap the second horizontal portion 266 of the common line 66. Here, the length of the fourth edge pattern 99 excluding the overlapping portion with the second horizontal portion 266 of the common line 66 is 8 to 10 µm, and is 20 to 30 degrees based on the pixel electrode finger portion 68a. More preferably, it is inclined at an angle of 23 to 26 degrees.

제 3 및 제 4 에지 패턴(89, 99)은 서로 교대로 나란하게 배치되어 형성되며, 제 3 및 제 4 에지 패턴(89, 99) 사이에서 공통 전극 핑거부(69a)와 화소 전극 핑거부(68a) 사이에 형성된 전계와 유사한 방향의 전계가 형성된다. The third and fourth edge patterns 89 and 99 are alternately arranged side by side, and are formed between the common electrode finger portion 69a and the pixel electrode finger portion (between the third and fourth edge patterns 89 and 99). An electric field in a direction similar to the electric field formed between 68a) is formed.

이와 같이, 화소 영역 상부 에지에서 공통 전극 핑거부(69a)와 연장되도록 형성된 제 3 에지 패턴(89)과, 화소 전극 핑거부(68a)와 연장되도록 형성된 제 4 에지 패턴(99)을 공통 전극 핑거부(69a) 및 화소 전극 핑거부(68a)를 기준으로 23∼26도의 각도로 경사지도록 형성함으로써 종래의 화소 영역의 상부 에지부에서의 투과율이 48∼50%의 상승률을 갖는다. As such, the common electrode pings the third edge pattern 89 formed to extend with the common electrode finger portion 69a at the upper edge of the pixel region, and the fourth edge pattern 99 formed to extend with the pixel electrode finger portion 68a. By forming inclined at an angle of 23 to 26 degrees with respect to the rejection 69a and the pixel electrode finger portion 68a, the transmittance at the upper edge portion of the conventional pixel region has an increase rate of 48 to 50%.

여기서, 제 1 및 제 2 에지 패턴(165, 68c)은 제 1 내지 제 4 실시 예에서 어느 하나의 제 1 및 제 2 에지 패턴의 구조로도 형성할 수도 있다. 이때, 제 3 및 제 4 에지 패턴과 제 4 실시예에서의 제 1 및 제 2 에지 패턴의 구조를 구비할 경우, 제 1 및 제 2 실시 예에서의 제 1 및 제 2 에지 패턴을 구비할 경우에 비해 투과율이 12.6% 증가한다. Here, the first and second edge patterns 165 and 68c may also be formed in the structure of any one of the first and second edge patterns in the first to fourth embodiments. In this case, when the third and fourth edge patterns and the structures of the first and second edge patterns in the fourth embodiment are provided, the first and second edge patterns in the first and second embodiments are provided. Compared with this, the transmittance is increased by 12.6%.

상술한 바와 같이 본 발명의 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판은 화소 영역의 하부 에지부에서 핑거부들과 연장되어 형성된 "L"자 형태의 에지 패턴들을 교대로 배치되도록 형성하고, 화소 영역의 상부 에지부에서 핑거부들과 연장되어 경사를 갖도록 형성된 에지 패턴들을 교대로 배치되도록 형성함으로써 전계 방향의 균일성을 향상시켜 비효율 구동영역 및 디스크리네이션(disclination) 영역을 현저히 감소시킬 수 있다. 이에 따라 본 발명의 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판은 수평 전계 인가형 액정표시장치의 투과율 및 컨트라스트 비를 개선할 수 있다.As described above, the thin film transistor substrate of the in-plane switching mode according to the exemplary embodiment of the present invention is formed so that the edge patterns of the “L” shape formed by extending with the fingers at the lower edge portion of the pixel region are alternately arranged, and the pixels are alternately arranged. By forming the edge patterns extending from the upper edge portion of the region to be inclined so as to be inclined alternately, the uniformity in the electric field direction may be improved to significantly reduce the inefficient driving region and the disclination region. Accordingly, the thin film transistor substrate of the in-plane switching mode according to the embodiment of the present invention can improve the transmittance and contrast ratio of the horizontal field application liquid crystal display.

상술한 제 5 실시예는, 앞서 설명한 제 1 내지 제 4 실시예의 변형예에서, 공통 전극 핑거부와 화소 전극 핑거부의 타측 끝의 경사를 준 것으로, 제 1 내지 제 4 실시예에서 설명한 구조와 병행하여 적용할 수 있다. 즉, 화소 영역 상측에서 상기 제 5 실시예에서 설명한 구조를 적용하고, 하측에 제 1 내지 제 4 실시예 혹은, 이들의 변형예를 적용하여 동일 효과를 꾀할 수 있을 것이다.The fifth embodiment described above is inclined at the other end of the common electrode finger portion and the pixel electrode finger portion in the modified examples of the first to fourth embodiments described above, and is parallel to the structure described in the first to fourth embodiments. Can be applied. In other words, the same effect can be achieved by applying the structure described in the fifth embodiment above the pixel region and applying the first to fourth embodiments or modified examples thereof below.

상술한 본 발명의 각 실시예의 공통 특징을 살펴본다. It looks at the common features of each embodiment of the present invention described above.

본 발명의 인플레인 스위칭 모드의 액정표시장치의 박막 트랜지스터 기판은, 서로 교차하여 화소 영역을 정의하는 게이트 라인 및 데이터 라인과, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에 형성된 박막 트랜지스터와, 상기 게이트 라인과 동일층으로 이루어진 제 1 공통 라인과, 상기 화소 영역에, 각각 복수개로 분기된 제 1 핑거들을 가지며, 상기 제 1 핑거들의 일측 끝에 "L"자 돌출 패턴을 포함하며 형성된 제 1 전극 핑거부 및 상기 화소 영역에, 상기 제 1 핑거들과 각각 교번하여 형성된 제 2 핑거들을 가지며, 상기 제 2 핑거들의 일측 끝은 " |" 자 패턴으로 형성된 제 2 전극 핑거부를 포함하여 이루어지며, 상기 "L"자 돌출 패턴 및 상기 " |"자 패턴은 실질적으로 상기 제 1 공통 라인과 이격없이 형성된다. 여기서, 제 1 전극 핑거부와 제 2 전극 핑거부는 각각 공통 전극과 화소 전극으로 정의되거나 혹은 그 역으로 정의될 수도 있다. The thin film transistor substrate of the liquid crystal display device of the in-plane switching mode of the present invention includes a gate line and a data line crossing each other to define a pixel region, a thin film transistor formed at an intersection of the gate line and the data line, and the gate line. A first electrode finger having a first common line formed of the same layer and a plurality of first fingers branched into the pixel area, each of the first fingers having an L-shaped protrusion pattern at one end of the first fingers; The pixel area includes second fingers alternately formed with the first fingers, respectively, and one end of the second fingers includes a second electrode finger part formed in a “|” pattern. The ruler pattern and the "|" ruler pattern are formed substantially without being spaced apart from the first common line. Here, the first electrode finger portion and the second electrode finger portion may be defined as the common electrode and the pixel electrode, or vice versa.

이 때, 상기 "L"자 돌출 패턴과 일자 패턴이 상기 제 1 공통 라인과 이격없이 형성되기 위하여, 상기 "L"자 돌출 패턴이나 "|"자 패턴은 상기 제 1 공통 라인측으로 더 연장하여 형성할 수도 있다. In this case, in order to form the “L” shaped protrusion pattern and the straight pattern without being spaced apart from the first common line, the “L” shaped protrusion pattern or the “|” shaped pattern is further extended to the first common line side. You may.

상기 " |"자 패턴이 바 형상인 경우, 상기 제 1 공통 라인을 화소 영역측으로 연장하여, 상기 "L"자 돌출 패턴이나 " |"자 패턴과 이격없이 또는 오버랩하게 더 연장하여 형성할 수도 있다. When the "|" character pattern has a bar shape, the first common line may be extended toward the pixel region, and may be further extended without being spaced apart from or overlapping with the "L" protruding pattern or the "|" character pattern. .

그리고, 제 2 전극 핑거부도 상기 제 1 전극 핑거부와 동일 형상으로, 상기 제 2 전극 핑거부의 일측 끝의 바 패턴은, 좌측의 인접한 "L"자 돌출 패턴과 오버랩도록 상기 제 1 공통 라인측으로 연장되어 형성되며, 우측의 "L"자 돌출 패턴과 오버랩되도록, "-"자 패턴이 연장되어 더 형성된다. 이 경우, 상기 제 1 전극 핑거부와 제 2 핑거부의 일측 끝의 형상이 모두 "L"자 돌출 패턴을 갖게 된다. In addition, the second electrode finger portion has the same shape as the first electrode finger portion, and the bar pattern at one end of the second electrode finger portion extends toward the first common line side so as to overlap the adjacent “L” protruding pattern on the left side. And a "-" character pattern is further extended to overlap with the "L" character protrusion pattern on the right side. In this case, the shape of one end of each of the first electrode finger portion and the second finger portion has an “L” shaped protruding pattern.

특히, 상기 제 1 공통 라인과 일체형이며 동일층으로 제 1 전극 핑거부가 형성되는 경우에는 상기 제 2 전극 핑거부의 일측 끝은 "L"자 돌출 패턴을 포함하는 것이 바람직하다.In particular, when the first electrode finger portion is formed integrally with the first common line and is formed in the same layer, one end of the second electrode finger portion may include an “L” shaped protruding pattern.

그리고, 상기 제 1 공통 라인은 상기 제 2 전극 핑거부의 "-" 자 패턴 형성부에 대응되어, 그 폭이 줄어든 축소부를 구비하여, 좌우에 인접한 상기 제 1 핑거부의 "L"자 돌출 패턴의 수평부와 상기 축소부는 평면상에서 계단 형상의 단차를 갖는다. The first common line corresponds to the “−” shaped pattern forming portion of the second electrode finger portion and includes a reduced portion having a reduced width, so that the “L” shaped protruding pattern of the first finger portion adjacent to the left and right is horizontal. The portion and the reduction portion have stepped steps in the plane.

한편, 상기 제 1 전극 핑거부와 제 2 전극 핑거부가 평면도에서 도시된 바와 같이, 데이터 라인과 평행한 방향으로부터 약 90°회전하는 방향으로 형성되는 형태로 형성될 수도 있다. 이 경우, 상기 제 1 공통 라인은 상기 데이터 라인과 평행하게 형성되며, 90도 회전된 상기 제 1 전극 핑거부 및 상기 제 2 전극 핑거부는 상기 게이트 라인에 경사를 갖도록 형상을 취하며, 이에 따라 핑거 에지부에서 비구동 영역을 최소화할 수 있다.On the other hand, as shown in the plan view, the first electrode finger portion and the second electrode finger portion may be formed in a shape that is rotated by about 90 ° from the direction parallel to the data line. In this case, the first common line is formed in parallel with the data line, and the first electrode finger portion and the second electrode finger portion rotated by 90 degrees have a shape so as to be inclined to the gate line. The non-driven area at the edge can be minimized.

그리고, 이러한 인플레인 스위칭 모드의 액정표시장치의 박막 트랜지스터 기판에는, 상기 화소 영역을 지나며, 상기 제 1 공통 라인과 평행하며 동일층의 대칭 위치에 제 2 공통 라인이 더 형성될 수 있다. In addition, a second common line may be further formed on the thin film transistor substrate of the liquid crystal display of the in-plane switching mode, passing through the pixel region, parallel to the first common line, and at a symmetrical position of the same layer.

이 경우, 제 1 실시예와 같이, 상기 제 1 핑거들 및 제 2 핑거들의 타측 끝은 상기 제 2 공통 라인과 이격없이, 상기 제 1 핑거들 및 제 2 핑거들의 일측 끝과 대칭적으로, 각각 "L"자 돌출 패턴을 포함하여 형성될 수 있고, 혹은 경우에 따라서 타측은 바 형상을 가지며, 제 1 핑거들 또는 제 2 핑거들이 상기 제 2 공통 라인과 이격없이 형성될 수도 있다. In this case, as in the first embodiment, the other ends of the first fingers and the second fingers are symmetrically with one end of the first fingers and the second fingers, without being spaced apart from the second common line, respectively. It may be formed by including a "L" protruding pattern, or if the other side has a bar shape, the first fingers or second fingers may be formed without being spaced apart from the second common line.

이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다. The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and it is common in the art that various substitutions, modifications, and changes can be made without departing from the technical spirit of the present invention. It will be apparent to those who have knowledge.

도 1은 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치를 개략적으로 나타내는 도면.1 is a schematic view of an in-plane switching mode liquid crystal display;

도 2a 및 도 2b는 종래 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치의 화소 영역 하부 에지부에 형성되는 전계를 설명하기 위한 도면.2A and 2B illustrate an electric field formed at a lower edge portion of a pixel region of a conventional in-plane switching mode liquid crystal display device.

도 3은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치의 박막 트랜지스터 기판을 나타내는 평면도. 3 is a plan view illustrating a thin film transistor substrate of an in-plane switching mode liquid crystal display according to a first exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 도 3에 도시된 박막 트랜지스터 기판을 I―I' 및 Ⅱ―Ⅱ' 선에 따른 단면도.4 is a cross-sectional view taken along lines II ′ and II-II ′ of the thin film transistor substrate illustrated in FIG. 3.

도 5는 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판의 화소 영역 하부 에지부에 형성된 전계를 설명하기 위한 도면.FIG. 5 is a view for explaining an electric field formed at a lower edge portion of a pixel region of a thin film transistor substrate in an in-plane switching mode according to a first embodiment of the present invention; FIG.

도 6은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판을 나타내는 평면도. 6 is a plan view illustrating a thin film transistor substrate in an in-plane switching mode according to a second embodiment of the present invention.

도 7은 도 6에 도시된 박막 트랜지스터 기판을 Ⅲ―Ⅲ', Ⅳ―Ⅳ' 및 Ⅴ―Ⅴ'선에 따라 나타내는 단면도. FIG. 7 is a cross-sectional view of the thin film transistor substrate of FIG. 6 taken along lines III-III ', IV-IV', and V-V '. FIG.

도 8은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판의 화소 영역 하부 에지부에 형성된 전계를 설명하기 위한 도면.FIG. 8 is a view for explaining an electric field formed at a lower edge portion of a pixel region of a thin film transistor substrate in an in-plane switching mode according to a second embodiment of the present disclosure; FIG.

도 9a 내지 도 12b는 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 박막 트랜지스터 기판의 제조방법을 설명하기 위한 도면.9A to 12B are views for explaining a method of manufacturing a thin film transistor substrate according to the first embodiment of the present invention.

도 13은 본 발명의 제 3 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판을 나타내는 평면도.13 is a plan view illustrating a thin film transistor substrate in an in-plane switching mode according to a third embodiment of the present invention.

도 14는 도 13의 화소 영역의 하부 에지부를 나타낸 확대도.14 is an enlarged view illustrating a lower edge portion of the pixel area of FIG. 13.

도 15는 본 발명의 제 4 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판을 나타내는 평면도.15 is a plan view illustrating a thin film transistor substrate in an in-plane switching mode according to a fourth embodiment of the present invention.

도 16은 도 15의 화소 영역의 하부 에지부를 나타낸 확대도.16 is an enlarged view illustrating a lower edge portion of the pixel area of FIG. 15.

도 17은 본 발명의 제 5 실시 예에 따른 인플레인 스위칭 모드의 박막 트랜지스터 기판을 나타내는 평면도.17 is a plan view illustrating a thin film transistor substrate in an in-plane switching mode according to a fifth embodiment of the present invention.

도 18은 도 17의 화소 영역의 상부 에지부를 나타낸 확대도.FIG. 18 is an enlarged view of an upper edge portion of the pixel area of FIG. 17; FIG.

도 19a 내지 도 19c는, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 제조 방법을 나타낸 공정 평면도.19A to 19C are process plan views showing the manufacturing method according to the second embodiment of the present invention.

도 20a 내지 도 20c는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 제조 방법을 나타낸 공정 단면도.20A to 20C are cross-sectional views showing a manufacturing method according to a second embodiment of the present invention.

Claims (19)

기판 상에, 서로 교차하여 화소 영역을 정의하는 게이트 라인 및 데이터 라인;A gate line and a data line on the substrate, the gate line and the data line crossing each other to define a pixel region; 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에 형성된 박막 트랜지스터;A thin film transistor formed at an intersection of the gate line and the data line; 상기 게이트 라인과 동일층으로 이루어진 제 1 공통 라인;A first common line formed of the same layer as the gate line; 상기 화소 영역에, 각각 복수개로 분기된 제 1 핑거들을 가지며, 상기 제 1 핑거들의 일측 끝에 "L"자 돌출 패턴을 포함하며 형성된 제 1 전극 핑거부; 및A first electrode finger portion having a plurality of first fingers branched in the pixel area, the first electrode finger portion including an “L” shaped protruding pattern at one end of the first fingers; And 상기 화소 영역에, 상기 제 1 핑거들과 각각 교번하여 형성된 제 2 핑거들을 가지며, 상기 제 2 핑거들의 일측 끝은 "|" 자 패턴으로 형성된 제 2 전극 핑거부를 포함하여 이루어지며, In the pixel area, second fingers are formed alternately with the first fingers, respectively, and one end of the second fingers includes a second electrode finger part formed in a “|” pattern. 상기 "L"자 돌출 패턴 및 상기 "|" 자 패턴은 상기 제 1 공통 라인과 이격없이 형성되는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.And the “L” protruding pattern and the “|” character pattern are formed without being spaced apart from the first common line. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 "L"자 돌출 패턴은, 상기 제 1 핑거부로부터 연장된 제 1 에지부와, 상기 제 1 에지부와 둔각을 이루도록 경사되어 형성된 제 2 에지부로 이루어진 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.The L-shaped protrusion pattern includes a first edge portion extending from the first finger portion and a second edge portion inclined to form an obtuse angle with the first edge portion. Display device. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 1 전극 핑거부는 상기 게이트 라인과 동일층의 금속으로 이루어지며, The first electrode finger portion is made of the same layer of metal as the gate line, 상기 제 2 전극 핑거부는 투명 금속층으로 이루어진 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.And the second electrode finger portion is formed of a transparent metal layer. 제 3항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 제 1 전극 핑거부는 상기 제 1 공통 라인과 일체형으로 형성되며, 그 "L"자 돌출 패턴은 상기 제 1 공통 라인으로부터 돌출된 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.And the first electrode finger unit is integrally formed with the first common line, and the “L” protruding pattern has a shape protruding from the first common line. 제 4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 제 2 전극 핑거부의 일측 끝은, One end of the second electrode finger portion, 상기 " |"자 패턴이, 좌측의 인접한 "L"자 돌출 패턴과 오버랩도록 상기 제 1 공통 라인측으로 연장되어 형성되며, The "|" character pattern is formed extending to the said 1st common line side so that it may overlap with the adjacent "L" character protrusion pattern of the left side, 상기 "|" 자 패턴의 끝에서, 우측의 "L"자 돌출 패턴과 오버랩되도록, "-"자 패턴이 연장되어 더 형성되며, At the end of the "|" character pattern, the "-" character pattern is further extended so as to overlap with the "L" character protrusion pattern on the right side, 상기 "|"자 패턴과, "- "자 패턴은 "L"자 형상을 이루는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치The "|" pattern and the "-" pattern form an "L" shape, wherein the liquid crystal display of the in-plane switching mode 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 제 1 공통 라인은 제 2 핑거부의 "-"자 패턴과 만나며, 그 폭이 줄어든 축소부를 구비하여, 상기 "L"자 돌출 패턴과 상기 축소부는 평면상에서 계단 형상의 단차를 갖는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.Wherein the first common line meets the "-" pattern of the second finger portion, the width of the reduced portion is reduced, the "L" shaped projection pattern and the reduced portion is characterized in that the step-shaped step in the plane Liquid crystal display in in-plane switching mode. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 전극 핑거부와, 상기 제 2 전극 핑거부는 동일층의 투명 금속층으로 이루어진 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.And the first electrode finger portion and the second electrode finger portion are made of a transparent metal layer of the same layer. 제 7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 제 1 공통 라인은, 상기 제 2 핑거부의 일측 끝의 "|" 자 패턴과 이격이 없도록, 상기 제 1 공통 라인의 수평부에서 상기 "|" 자 패턴과 오버랩하는 형상으로 돌출된 제 1 돌출 패턴을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시장치.The first common line protrudes from the horizontal portion of the first common line in a shape overlapping with the “|” ruled pattern so that the first common line is not spaced apart from the “|” ruled pattern at one end of the second finger portion. An in-plane switching mode liquid crystal display further comprising a pattern. 제 8항에 있어서, The method of claim 8, 상기 제 1 돌출 패턴과 상기 제 1 공통 라인의 수평부가 이루는 형상은, 상기 제 1 핑거부 일측 끝의 "L"자 패턴과 동일 형상이며, The shape formed by the horizontal portion of the first protruding pattern and the first common line is the same shape as the “L” shaped pattern at one end of the first finger part. 상기 제 1 돌출 패턴은, 상기 제 2 전극 핑거부의 일측 끝의 "|"자 패턴과 부분적으로 오버랩하여 형성된 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.And the first protruding pattern is partially overlapped with a "|" pattern of one end of the second electrode finger portion. 제 8항에 있어서, The method of claim 8, 상기 제 1 공통 라인은 상기 제 2 전극 핑거부와 전기적으로 연결된 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.And the first common line is electrically connected to the second electrode finger. 제 2항에 있어서, The method of claim 2, 상기 제 2 에지부가 상기 제 1 공통 라인의 수평부와 다른 각도를 갖고 꺽여지며, The second edge portion is bent at an angle different from the horizontal portion of the first common line, 상기 제 1 에지부와 상기 제 2 에지부 사이의 둔각이, 상기 제 1 에지부와 상기 제 1 공통 라인의 수평부 사이의 각도보다 큰 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치. The obtuse angle between the first edge portion and the second edge portion is larger than the angle between the first edge portion and the horizontal portion of the first common line. 제 2항에 있어서, The method of claim 2, 상기 "L"자 돌출 패턴은, 상기 제 2 에지부로 연결되며 상기 게이트 라인과 나란하게 형성된 제 3 에지부를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드 액정표시장치.The L-shaped protrusion pattern further includes a third edge portion connected to the second edge portion and formed in parallel with the gate line. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 화소 영역을 지나며, 상기 제 1 공통 라인과 평행하며 동일층에 대칭 위치에 제 2 공통 라인이 더 형성되며, A second common line is further formed at the symmetrical position on the same layer and parallel to the first common line passing through the pixel area; 상기 제 1 핑거들 및 제 2 핑거들의 타측 끝은 상기 제 2 공통 라인과 이격없이, 상기 제 1 핑거들 및 제 2 핑거들의 일측 끝과 대칭적으로 형성된 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.The other ends of the first fingers and the second fingers are formed symmetrically with one end of the first fingers and the second fingers, without being spaced apart from the second common line. Device. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 화소 영역을 지나며, 상기 제 1 공통 라인과 평행하며 동일층에 대칭 위치에 제 2 공통 라인이 더 형성되며, A second common line is further formed at the symmetrical position on the same layer and parallel to the first common line passing through the pixel area; 상기 제 1 핑거들 및 상기 제 2 핑거들의 타측 끝은 상기 제 2 공통 라인과 이격없이 바(bar) 형상으로 형성되며, The other ends of the first fingers and the second fingers are formed in a bar shape without being spaced apart from the second common line. 상기 제 1 핑거들의 타측 끝 또는 상기 제 2 핑거들의 타측 끝은, 상기 제 2 공통 라인과 오버랩되는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.The other end of the first fingers or the other end of the second fingers, overlap with the second common line, the liquid crystal display of the in-plane switching mode. 제 14항에 있어서, The method of claim 14, 상기 바 형상의 제 1 핑거들 및 제 2 핑거들의 타측 끝은 상기 제 2 핑거들의 진행방향과 다른 각도로 꺽여, 상기 제 2 공통 라인으로 진입하는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치.The other ends of the bar-shaped first fingers and the second fingers are bent at an angle different from the advancing direction of the second fingers to enter the second common line. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 1 공통 라인은 상기 데이터 라인과 평행하게 형성되며, The first common line is formed parallel to the data line, 상기 제 1 전극 핑거부 및 상기 제 2 전극 핑거부는 상기 게이트 라인에 예각으로 경사를 갖도록 형성된 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드 액정 표시 장치.And the first electrode finger portion and the second electrode finger portion are formed to be inclined at an acute angle to the gate line. 기판 상에, 제 1 금속을 선택적으로 제거하여, 일 방향으로 게이트 라인 및 제 1 공통 라인을 형성하고, 각각 복수개로 분기된 제 1 핑거들을 가지며, 상기 제 1 핑거들의 일측 끝에 "L"자돌출 패턴을 포함하는 제 1 전극 핑거부를 형성하는 단계;Selectively removing the first metal to form a gate line and a first common line in one direction, each having a plurality of branched first fingers, and " L " end projections at one end of the first fingers; Forming a first electrode finger portion comprising a pattern; 제 2 금속을 선택적으로 제거하여, 상기 게이트 라인과 교차하여 화소 영역을 정의하도록 데이터 라인을 형성하고, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에 박막 트랜지스터를 형성하는 단계;Selectively removing a second metal to form a data line to cross the gate line to define a pixel region, and to form a thin film transistor at an intersection of the gate line and the data line; 투명 도전 금속을 선택적으로 제거하여, 상기 각 화소 영역에, 상기 제 1 핑거들과 각각 교번하여 형성된 제 2 핑거들을 가지며, 상기 제 2 핑거들의 일측 끝은 인접하는 상기 제 1 핑거들의 "L"자 돌출 패턴과 오버랩하는 "|"자 패턴을 포함하는 제 2 전극 핑거부를 형성하는 단계를 포함하여 이루어지며, Selectively removing the transparent conductive metal so that each pixel region has second fingers formed alternately with the first fingers, and one end of the second fingers is an "L" character of the adjacent first fingers; And forming a second electrode finger portion including a "|" character pattern overlapping the protruding pattern, 여기서, 상기 "L"자 돌출 패턴 및 상기 "|"자 패턴은 상기 제 1 공통 라인과 이격없이 형성되는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치의 제조 방법.The L-shaped protruding pattern and the “|” shaped pattern are formed without being spaced apart from the first common line, wherein the liquid crystal display device of the in-plane switching mode is used. 제 17항에 있어서, The method of claim 17, 상기 제 2 전극 핑거부의 일측 끝의 "|"자 패턴은, 좌측의 인접한 "L"자 돌출 패턴과 오버랩도록 상기 제 1 공통 라인측으로 연장하고, 우측의 "L"자 돌출 패턴과 오버랩되도록, "-" 자 패턴이 연장되어 더 형성되는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치의 제조방법.The "|" pattern of one end of the second electrode finger portion extends to the first common line side to overlap with the adjacent "L" shaped protrusion pattern on the left side, and is overlapped with the "L" shaped protrusion pattern on the right side, -"Is a manufacturing method of the liquid crystal display device of the in-plane switching mode characterized in that the elongated pattern is further formed. 기판 상에, 제 1 금속을 선택적으로 제거하여, 일 방향으로 게이트 라인 및 제 1 공통 라인을 형성하는 단계, Selectively removing the first metal on the substrate to form a gate line and a first common line in one direction, 제 2 금속을 선택적으로 제거하여, 상기 게이트 라인과 교차하여 화소 영역을 정의하도록 데이터 라인을 형성하고, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에 박막 트랜지스터를 형성하는 단계;Selectively removing a second metal to form a data line to cross the gate line to define a pixel region, and to form a thin film transistor at an intersection of the gate line and the data line; 투명 도전 금속을 선택적으로 제거하여, 상기 각 화소 영역에, 각각 복수개로 분기된 제 1 핑거들을 가지며, 상기 제 1 핑거들의 일측 끝에 "L"자 돌출 패턴을 포함하는 제 1 전극 핑거부와, 상기 제 1 핑거들과 각각 교번하여 형성된 제 2 핑거들을 가지며, 상기 제 2 핑거들의 일측 끝은 "L"자 패턴을 포함하는 제 2 전극 핑거부를 형성하는 단계를 포함하여 이루어지며, Selectively removing the transparent conductive metal, each of the pixel regions having a plurality of first fingers, each of which has a plurality of first fingers, and a first electrode finger portion including an L-shaped protruding pattern at one end of the first fingers; And having second fingers alternately formed with the first fingers, respectively, wherein one end of the second fingers comprises forming a second electrode finger portion including an “L” shaped pattern, 여기서, 상기 "L"자 돌출 패턴 및 상기 "L"자 패턴은 상기 제 1 공통 라인과 이격없이 형성되는 것을 특징으로 하는 인플레인 스위칭 모드의 액정 표시 장치의 제조 방법.The L-shaped protrusion pattern and the “L” shaped pattern may be formed without being spaced apart from the first common line.
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