KR20080107016A - 막오염속도를 이용한 화학세정 자동 제어 장치 및 그 방법 - Google Patents
막오염속도를 이용한 화학세정 자동 제어 장치 및 그 방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
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- 가압식 막여과부를 통해 원수를 여과시켜 처리수 탱크에 보관하는 '여과공정'인 운전모드에서 상기 가압식 막여과부의 막오염속도를 이용하여 화학세정을 자동으로 제어하는 시스템으로서,상기 가압식 막여과부를 모니터링하면서 측정된 총여과저항(Rt)에 따라 자동제어가 가능한 상수값(γ)을 계산하고, 상기 계산된 자동제어가 가능한 상수값(γ)의 범위를 판단하여 화학세정주기를 도출하여 운전모드를 설정하는 제어부와,상기 도출된 화학세정주기에 따라 상기 설정된 운전모드가 'CIP공정' 주기인 경우, 역세밸브를 자동으로 개방시켜 수집된 처리수를 이송시키는 처리수 탱크부와,상기 처리수를 펌핑시키는 역세 펌프부와,상기 펌핑되는 처리수가 내부 보관된 화학약품에 혼합되어 이송되는 CIP 탱크부와,상기 화학약품이 혼합된 처리수를 상기 가압식 막여과부를 통해 여과되도록 순환 펌핑시키는 여과 펌프부를 포함하는 막오염속도를 이용한 화학세정 자동 제어 시스템.
- 제 3 항에 있어서,상기 TMP의 한계압력은, 200∼300Kpa의 범위 이내인 것을 특징으로 하는 막 오염속도를 이용한 화학세정 자동 제어 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 제어부는, 'CIP공정' 주기에 맞게 반복 진행하도록 자동 제어하면서 상기 'CIP공정' 주기가 끝나면, 상기 '여과공정'으로 리턴시키는 것을 특징으로 하는 막오염속도를 이용한 화학세정 자동 제어 시스템.
- 가압식 막여과부를 통해 원수를 여과시켜 처리수 탱크에 보관하는 '여과공정'인 운전모드에서 상기 가압식 막여과부의 막오염속도를 이용하여 화학세정을 자동으로 제어하는 방법으로서,상기 가압식 막여과부를 실시간으로 모니터링하면서 TMP를 측정하고, 상기 측정된 TMP와, 온도보정계수(점성계수)(μ) 및 플럭스(투과유량/단위막면적)(J)를 검출하여 총여과저항(Rt)을 계산하는 단계와,상기 총여과저항(Rt)을 모니터링한 후, 기설정된 PLC 프로그램상의 단위시간당 총여과저항(Rt)의 차이(ΔR)(Rt2-Rt1) 및 단위시간당 시간간격(ΔT)(t2-t1)과, 유입원수농도의 상수(α)를 검출하여 자동제어가 가능한 상수값(γ)을 계산하는 단계와,상기 계산된 자동제어가 가능한 상수값(γ)의 범위를 판단하여 화학세정주기를 도출하여 운전모드를 설정하고, 상기 설정된 운전모드에 따라 막여과 공정을 자동 제어하는 단계를 포함하는 막오염속도를 이용한 화학세정 자동 제어 방법.
- 제 6 항에 있어서,상기 방법은,상기 도출된 화학세정주기에 따라 상기 설정된 운전모드가 'CIP공정' 주기인 경우, 역세밸브를 자동으로 개방시켜 수집된 처리수를 이송시키는 단계와,상기 처리수를 펌핑시키는 단계와,상기 펌핑되는 처리수가 내부 보관된 화학약품에 혼합시켜 이송시키는 단계와,상기 화학약품이 혼합된 처리수를 상기 가압식 막여과부를 통해 여과되도록 순환 펌핑시키는 단계를 더 포함하는 막오염속도를 이용한 화학세정 자동 제어 방법.
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