KR20080086126A - Lcd, fabricating method of the same including test process - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 오토-프로브 공정단계에서의 액정패널의 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.1 is a view schematically showing the structure of a liquid crystal panel in an auto-probe process step.
도 2는 본 발명의 실시예에 의한 액티브 매트릭스 타입 액정표시장치의 제조방법을 도시한 순서도이다.2 is a flowchart illustrating a manufacturing method of an active matrix type liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 실시예에 의한 액정표시장치를 개략적으로 도시한 도면이다.3 is a schematic view of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 4는 본 발명의 실시예에 의한 액정표시장치 및 오토-프로브 검사장비의 일부를 도시한 도면이다.4 is a view showing a part of the liquid crystal display device and the auto-probe inspection equipment according to an embodiment of the present invention.
도 5는 도 3의 A 부분을 확대한 도면이다.FIG. 5 is an enlarged view of a portion A of FIG. 3.
도 6은 본 발명의 실시예에 의한 액정표시장치의 게이트드라이버의 일 스테이지를 도시한 도면이다.6 is a diagram illustrating one stage of a gate driver of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 드라이버가 내장된 액정표시장치와, 이의 검사공정을 포함하는 액정표시장치의 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
최근, 디스플레이 산업의 급속한 기술 발전에 의하여 보다 소형, 경량화된 제품들이 개발되고 있다. 특히, 정보 디스플레이 장치에 널리 사용되고 있는 CRT(cathode ray tube)가 성능이나 가격적인 측면에서 많은 장점을 갖고 있지만, 소형화 또는 휴대성의 측면에서는 단점을 갖고 있다. 이에 반하여, 액정표시장치는 소형, 경량, 저전력 소비 등의 장점을 갖고 있어 CRT의 단점을 극복할 수 있는 대체 수단으로 점차 주목받고 있으며, 현재는 디스플레이 장치를 필요로 하는 거의 모든 정보 처리 기기에 적용되고 있다.Recently, due to the rapid technological development of the display industry, smaller and lighter products are being developed. In particular, the CRT (cathode ray tube), which is widely used in information display devices, has many advantages in terms of performance and price, but has disadvantages in terms of miniaturization or portability. On the other hand, liquid crystal display devices are gaining attention as an alternative means to overcome the shortcomings of CRT because they have advantages such as small size, light weight and low power consumption, and are currently applied to almost all information processing devices requiring display devices. It is becoming.
액정표시장치는 액정의 특정한 분자배열에 전압을 인가하여 다른 분자배열로 변환시키고 이러한 분자 배열에 의해 발광하는 액정 셀의 복굴절성, 선광성, 2색성 및 광산란 특성 등의 광학적 성질의 변화를 시각 변화로 변환하는 것으로, 액정 셀에 의한 빛의 변조를 이용한 디스플레이 장치이다.The liquid crystal display converts optical properties such as birefringence, photoreactivity, dichroism, and light scattering characteristics of a liquid crystal cell that apply voltage to a specific molecular array of liquid crystals and converts them into other molecular arrays, and emits light by the molecular array. By converting, it is a display apparatus using modulation of the light by a liquid crystal cell.
이러한 액정표시장치는 액정 셀의 구동방식에 따라 크게 액티브 매트릭스(Active matrix) 타입과, 패시브 매트릭스(Passive matrix) 타입으로 나누어지는 데, 이중 액티브 매트릭스 타입은 콘트라스트와 화질재현 특성이 패시브 매트릭스 타입보다 우수한 것으로 알려져 있다.The liquid crystal display is classified into an active matrix type and a passive matrix type according to the driving method of the liquid crystal cell. The active matrix type has better contrast and image quality characteristics than the passive matrix type. It is known.
이중에서 가장 널리 사용되는 액티브 매트릭스 구동방식 액정표시장치는, 기 판 세정과, 패턴 형성, 배향막 형성, 기판합착/액정주입, 오토-프로브(Auto-Probe) 공정, 드라이버IC 본딩 공정을 거쳐 완성된다.The most widely used active matrix drive type liquid crystal display device is completed through substrate cleaning, pattern formation, alignment film formation, substrate bonding / liquid crystal injection, auto-probe process, and driver IC bonding process. .
상기와 같은 공정 중, 특히 오토-프로브 공정은 액정패널을 검사하는 과정으로서, 형성된 각 신호라인의 단선 또는 단락, 컨택불량 등의 검사를 위해 액정패널의 일면에 각 신호라인과 연결되는 스위칭소자를 구성하고, 상기 스위칭소자를 통해 액정패널에 턴-온 전압을 공급함으로서 검사를 수행하게 된다. Among the above processes, in particular, the auto-probe process is a process of inspecting the liquid crystal panel. The switching element connected to each signal line is connected to one surface of the liquid crystal panel for inspection of disconnection, short circuit, and contact failure of each formed signal line. The inspection is performed by supplying a turn-on voltage to the liquid crystal panel through the switching device.
도 1은 오토-프로브 공정단계에서의 액정패널의 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.1 is a view schematically showing the structure of a liquid crystal panel in an auto-probe process step.
도 1에 도시한 바와 같이, 액정패널(10)은 다수의 박막트랜지스터(미도시)가 구비되어 영상을 표시하는 표시영역(12)과, 표시영역(12)을 둘러싸는 비표시영역(13)으로 구성된다.As shown in FIG. 1, the
비표시영역(13)에는 상기 표시영역(12)과 전기적으로 접속되는 게이트접속라인(14) 및 데이터접속라인(15)이 형성되며, 또한 비표시영역(13)의 일면에는 상기 접속라인(14, 15)과 연결되는 다수의 스위칭소자(25)가 구비되는 단락검사부(20)가 형성된다.The
이러한 구조의 액정패널(10)은 오토-프로브 공정단계에서 스위칭소자(25)를 턴-온하고, 상기 접속라인(14, 15)을 통해 전원전압(VDD), 접지전압(VSS)등을 공급하여 표시영역(12)의 박막트랜지스터(미도시)의 이상유무를 검사한 뒤, 검사가 마무리되면, 단락검사부(20)를 제거하고 이후 액정패널을 구동하기 위한 드라이버IC를 TAB(Tape Automated Bonding), COG(Chip on Glass)방식으로 본딩하게 된다.The
여기서, 상술한 TAB, COG 방식은 별도의 드라이버IC를 구비하고, 이를 액정패널에 본딩하는 방식이다.Here, the above-described TAB and COG methods include a separate driver IC and bond the same to the liquid crystal panel.
그런데, 최근에는 드라이버, 특히 게이트드라이버를 액정패널의 기판상에 박막트랜지스터와 동일 공정에서 형성하여 액정패널의 면적을 줄이고, 제작단가를 절감하는 게이트-인-패널(Gate In Panel, GIP)구조가 제안되었다. 이러한 GIP 구조에서는 액정패널(10)상에 박막트랜지스터(미도시), 접속라인(14, 15) 등과 동시에 형성되므로, 액정패널의 완성 이후 상기 오토-프로브 공정을 진행하기 어려운 문제점이 있다.However, recently, a gate-in-panel (GIP) structure is provided in which a driver, particularly a gate driver, is formed on a substrate of a liquid crystal panel in the same process as a thin film transistor to reduce the area of the liquid crystal panel and reduce manufacturing cost. Proposed. In such a GIP structure, the thin film transistor (not shown) and the
또한, 종래의 오토-프로브 공정은 공정 이후 제거되는 스위칭소자를 별도로 더 구비하여야 하며, 이에 따른 비용증가의 단점도 있다.In addition, the conventional auto-probe process should be further provided with a switching device that is removed after the process, there is also a disadvantage of increased cost accordingly.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 드라이버가 액정패널의 내부에 형성되는 액정표시장치에서 오토-프로브 검사가 용이한 액정표시장치와, 이의 검사공정을 포함하는 액정표시장치의 제조방법을제공하는 데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems, the liquid crystal display device having a driver is easy to auto-probe inspection in the liquid crystal display device formed inside the liquid crystal panel, and a liquid crystal display device comprising the inspection process thereof The purpose is to provide a manufacturing method.
상기의 목적을 달성하기 위해 본 발명의 실시예에 의한 액정표시장치는, 다수의 박막트랜지스터가 구비되는 표시영역 및 상기 표시영역을 둘러싸는 비표시영 역으로 나누어지는 기판과; 상기 비표시영역상의 일면에 형성되는 드라이버와; 상기 박막트랜지스터와 상기 드라이버를 전기적으로 연결하는 접속라인과; 상기 비표시영역상의 일면에 본딩되는 FPC와; 상기 드라이버와 상기 FPC를 전기적으로 연결하는 연결라인과; 상기 연결라인의 상부에 형성되는 패드를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention includes a substrate divided into a display area including a plurality of thin film transistors and a non-display area surrounding the display area; A driver formed on one surface of the non-display area; A connection line electrically connecting the thin film transistor and the driver; An FPC bonded to one surface of the non-display area; A connection line electrically connecting the driver and the FPC; It characterized in that it comprises a pad formed on top of the connection line.
상기 드라이버는, 상기 박막트랜지스터를 턴-온/오프하는 게이트구동신호를 생성하는 게이트드라이버인 것을 특징으로 한다.The driver may be a gate driver that generates a gate driving signal for turning on / off the thin film transistor.
상기 패드는 상기 게이트드라이버의 제1 및 제2 전원신호와, 시작신호와, 클럭신호를 공급하는 상기 연결라인의 상부에 형성되는 것을 특징으로 한다.The pad may be formed on an upper portion of the connection line for supplying first and second power signals, a start signal, and a clock signal of the gate driver.
상기 비표시영역상에는 상기 박막트랜지스터에 공급되는 영상신호를 생성하는 데이터 드라이버가 더 형성되는 것을 특징으로 한다.A data driver for generating an image signal supplied to the thin film transistor is further formed on the non-display area.
상기의 목적을 달성하기 위해 본 발명의 실시예에 의한 검사공정을 포함하는 액정표시장치의 제조방법은, 제1 기판의 표시영역에 다수의 박막트랜지스터와, 게이트 및 데이터라인을 형성하고, 비표시영역에 게이트드라이버와, 상기 게이트드라이버의 입력단의 연결라인 상부에 패드를 형성하는 단계와; 제2 기판에 컬러필터, 블랙매트릭스, 공통전극을 형성하는 단계와; 상기 제1 및 제2 기판상에 배향막을 형성하는 단계와; 상기 제1 및 제2 기판과, 액정을 이용하여 액정패널을 형성하는 단계와; 상기 액정패널을 검사하는 단계와; 상기 액정패널의 일단에 상기 연결라인과 접속하는 FPC를 본딩하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a method of manufacturing a liquid crystal display device including an inspection process according to an exemplary embodiment of the present invention includes: forming a plurality of thin film transistors, gates, and data lines in a display area of a first substrate, and performing non-display. Forming a pad on a region of the gate driver and a connection line of an input terminal of the gate driver; Forming a color filter, a black matrix, and a common electrode on the second substrate; Forming an alignment layer on the first and second substrates; Forming a liquid crystal panel using the first and second substrates and a liquid crystal; Inspecting the liquid crystal panel; Bonding an FPC to the connection line at one end of the liquid crystal panel.
상기 액정패널을 검사하는 단계는, 상기 연결라인 중 제1 전원전압, 시작신 호, 클럭신호라인에 하이레벨의 전압을 인가하고, 제2 전원전압신호라인에 하이레벨 또는 로우레벨의 전압신호를 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The inspecting of the liquid crystal panel may include applying a high level voltage to a first power supply voltage, a start signal, and a clock signal line among the connection lines, and applying a high level or low level voltage signal to a second power supply voltage signal line. Characterized in that it comprises the step of applying.
상기 액정패널을 검사하는 단계는, 니들 및 프로브를 포함하는 오토-프로브 검사장치를 구비하고, 상기 액정패널의 측면에 근접되게 상기 니들을 위치시키는 단계와; 상기 니들을 이동하여 상기 패드와 상기 프로브를 전기적으로 접촉시키는 단계와; 상기 패드에 DC신호를 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The inspecting the liquid crystal panel may include: an auto-probe inspection apparatus including a needle and a probe, and positioning the needle proximate a side of the liquid crystal panel; Moving the needle to electrically contact the pad and the probe; And applying a DC signal to the pad.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 의한 액정표시장치와, 이의 검사공정을 포함하는 액정표시장치의 제조방법에 대하여 설명하도록 한다.Hereinafter, a liquid crystal display device according to a preferred embodiment of the present invention and a manufacturing method of the liquid crystal display device including the inspection process thereof will be described with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 실시예에 의한 액티브 매트릭스 타입 액정표시장치의 제조방법을 도시한 순서도이다.2 is a flowchart illustrating a manufacturing method of an active matrix type liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도시한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 의한 액티브 매트릭스 타입 액정표시장치의 제조공정은 기판 세정과, 패턴 형성, 배향막 형성, 기판합착/액정주입, 오토-프로브 공정, FPC 본딩공정으로 이루어진다.As shown, the manufacturing process of the active matrix type liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention comprises substrate cleaning, pattern formation, alignment film formation, substrate bonding / liquid crystal injection, auto-probe process, FPC bonding process.
먼저, 기판세정 공정단계(S1)에서는 상/하부기판의 패터닝 전후에 기판들의 이물질을 세정제를 이용하여 제거하게 된다.First, in the substrate cleaning process step (S1), foreign substances on the substrates are removed using a cleaning agent before and after patterning the upper and lower substrates.
패턴 형성단계(S2)는 상부기판의 패터닝과 하부기판의 패터닝으로 나누어진다. 패터닝 공정을 통해 상부기판에는 칼라필터, 블랙 매트릭스, 공통전극 등이 형성된다. 또한 하부기판에는 표시영역에 데이터라인과 게이트라인 등의 신호배선이 형성되고, 데이터라인과 게이트라인의 교차부에 박막트랜지스터(TFT)가 형성되며, 박막트랜지스터의 일 전극에 접속되도록 인접한 데이터라인과 인접한 게이트라인 사이의 화소영역에 화소전극이 형성된다.The pattern forming step S2 is divided into patterning of the upper substrate and patterning of the lower substrate. A color filter, a black matrix, a common electrode, etc. are formed on the upper substrate through the patterning process. In addition, signal lines such as data lines and gate lines are formed on the lower substrate, thin film transistors (TFTs) are formed at intersections of the data lines and gate lines, and adjacent data lines are connected to one electrode of the thin film transistors. The pixel electrode is formed in the pixel region between adjacent gate lines.
또한, 상기 표시영역을 둘러싸는 부분인 비표시영역에는 게이트드라이버가 형성되며, 상기 박막트랜지스터와 접속하기 위해 게이트 및 데이터접속라인이 형성된다. In addition, a gate driver is formed in the non-display area surrounding the display area, and a gate and a data connection line are formed to connect to the thin film transistor.
이때, 상기 게이트드라이버의 입력단에는 외부시스템과 연결되기 위한 연결라인이 더욱 형성되며, 이 연결라인 중 일부에는 오토-프로브 공정을 위한 패드가 형성된다. 이에 대해서는 이후 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명하도록 한다.In this case, a connection line for connecting to an external system is further formed at an input terminal of the gate driver, and some of the connection lines are formed with a pad for an auto-probe process. This will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
여기서, 상기 게이트드라이버는 액정패널상에 형성되고, 데이터드라이버는 종래와 동일하게 별도의 드라이버IC로 형성되어 이후 액정패널에 본딩되는 게이트-인-패널(Gate In Panel, GIP)구조이다.Here, the gate driver is formed on the liquid crystal panel, and the data driver is a gate-in-panel (Gate In Panel, GIP) structure formed by a separate driver IC as in the prior art and then bonded to the liquid crystal panel.
배향막 형성단계(S3)에서는 상/하부기판 상에 배향막을 각각 도포하고 러빙며, 이후 기판합착/액정주입 공정단계(S4)에서는 실(Seal)재를 이용한 상/하부기판 합착공정, 액정주입, 주입구 봉지, 세정, 연마(grinding)공정 순차적으로 진행한다.In the alignment film forming step (S3), the alignment film is applied and rubbed on the upper and lower substrates, respectively, and then, in the substrate bonding / liquid crystal injection process step (S4), the upper and lower substrate bonding processes using a seal material, liquid crystal injection, Inlet encapsulation, cleaning, grinding
이러한 공정을 거친 액정패널은, 검사단계(S5)를 거쳐 박막트랜지스터, 신호라인 등의 단선 또는 단락 유무를 검사하게 된다.The liquid crystal panel which has undergone such a process is inspected for disconnection or short circuit of the thin film transistor, signal line, etc. through the inspection step S5.
이후 FPC 본딩단계(S6)를 진행한다. FPC에는 외부시스템으로부터 구동에 필요한 전원, 제어신호, 및, 데이터신호를 공급받기 위한 신호라인이 형성되어 있으며, 액정패널의 일단에 본딩하여 액정패널을 완성하게 된다.Thereafter, the FPC bonding step S6 is performed. The FPC has signal lines for supplying power, control signals, and data signals required for driving from an external system, and are bonded to one end of the liquid crystal panel to complete the liquid crystal panel.
이하, 도면을 참조하여 상술한 제조공정을 거쳐 완성된 액정표시장치에 대하여 보다 상세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, a liquid crystal display device completed through the above-described manufacturing process with reference to the drawings will be described in more detail.
도 3은 본 발명의 실시예에 의한 액정표시장치를 개략적으로 도시한 도면이다.3 is a schematic view of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도시한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 의한 액정표시장치는, 액정패널(100)과, 게이트 구동신호를 공급하는 게이트드라이버(400)와, 영상신호를 공급하는 데이터드라이버(500)와, 외부시스템(미도시)과 접속되는 FPC(600)를 포함한다.As shown, the liquid crystal display according to the embodiment of the present invention includes a
보다 상세하게는, 액정패널(100)은 실제 영상이 표시되는 표시영역(120)과, 이를 둘러싸는 비표시영역(130)으로 구분되는데, 상기 표시영역(120)상에는 액정의 배열방향을 제어하는 다수의 박막트랜지스터(미도시)가 형성된다.In more detail, the
또한, 비표시영역(130)상에는 표시영역(120)의 게이트라인(미도시)에 게이트 구동신호를 공급하는 게이트드라이버(400)와, 상기 표시영역(120)을 각각 전기적으로 연결하는 게이트접속라인(140)이 배치된다.In addition, a
그리고, 게이트드라이버(400)를 FPC(600)을 연결하는 연결라인(160)이 배치된다.In addition, a
또한, 비표시영역(130)에는 별도의 드라이버IC가 본딩되는 데이터드라이버(500)가 배치된다.In addition, a
여기서, 상기 연결라인(160)중, 일부에는 오토-프로브 장비와 컨택되는 패드(미도시)가 형성된다.Here, some of the
이하, 도면을 참조하여 상술한 구조의 액정표시장치에 적용되는 오토-프로브 검사방법을 보다 상세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, an auto-probe inspection method applied to the liquid crystal display device having the above-described structure will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
도 4는 본 발명의 실시예에 의한 액정표시장치 및 오토-프로브 검사장비의 일부를 도시한 도면이다.4 is a view showing a part of the liquid crystal display device and the auto-probe inspection equipment according to an embodiment of the present invention.
도시한 바와 같이, 액정패널(100)의 일면에 각 연결라인(도 3의 160)상에 패드(pad)(166)를 구성하고, 상기 패드(166)를 통해 프로브 검사장비(미도시)와 접속하여 신호라인의 단선검사를 수행하게 된다. As shown, a
이때, 상기 프로브 검사장비(미도시)는 일 방향으로 연장되는 하나 이상의 신호전달용 프로브(probe)(456)가 구성된 니들(needle)(450)이 구비되어 있으며, 상기 니들(450)의 하부에 패드(166)를 위치시킨 후 상기 액정패널(100) 또는 니들(450)을 상/하로 이동시켜 상기 패드(166)와 프로브(456)를 결합시킨 후 검사를 위한 신호를 전달하여 오토-프로브 공정을 수행하게 된다.In this case, the probe inspection device (not shown) is provided with a needle (450) configured with at least one signal transmission probe (456) extending in one direction, the lower portion of the
여기서, 상기 패드(166)는 상술한 바와 같이 게이트에 공급되는 전원신호 및 제어신호를 전달하는 연결라인 중 일부에 형성되는 것이 바람직하며, 도 5는 도 3의 A 부분을 확대한 도면으로서, 도 5에 도시한 바와 같이, FPC(도 3의 600)가 본딩되는 부분(605)과 연결되고, 제1 전원전압(VDD), 제2 전원전압(VSS), 시작신호(VST), 제1 및 제2 클럭신호(CLK1, CLK2)가 입력되는 연결라인(160)에 패드(166)를 형성하는 것이 바람직하다.Here, the
즉, 게이트드라이버의 구동을 위한 전원전압 입력단 및 제어신호 입력단에 특정 DC신호를 인가하여 표시영역의 박막트랜지스터를 구동함으로서, 오토-프로브 공정을 진행하게 된다. That is, the thin film transistor of the display area is driven by applying a specific DC signal to the power voltage input terminal and the control signal input terminal for driving the gate driver, thereby performing the auto-probe process.
이하, N 개의 스테이지를 가지는 게이트드라이버의 일 스테이지의 예를 참조하여, 상술한 오토-프로브 공정의 구동원리를 설명하도록 한다.Hereinafter, the driving principle of the above-described auto-probe process will be described with reference to an example of one stage of the gate driver having N stages.
도 6은 본 발명의 실시예에 의한 액정표시장치의 게이트드라이버의 일 스테이지를 도시한 도면으로서, 액정패널내에 형성되며 다수의 트랜지스터로 구성되는 게이트드라이버의 예를 도시한 것이다.FIG. 6 is a diagram illustrating one stage of a gate driver of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention, and illustrates an example of a gate driver formed in a liquid crystal panel and composed of a plurality of transistors.
여기서, 예시한 게이트드라이버는 도면과 동일한 신호가 입/출력되는, 동일 기능을 수행하는 쉬프트레지스터이면 어떠한 구조도 가능하다.Here, the illustrated gate driver may have any structure as long as it is a shift register that performs the same function to input / output the same signal as shown in the figure.
이러한 구조의 게이트 드라이버(400)의 동작을 간단히 설명하면, 하이레벨의 N 단 시작신호(VST N)(N은 자연수)가 입력되면 제1 트랜지스터(T1)가 턴-온되어, 제1 노드(N1)가 하이레벨이 되고, 이에 따라 풀-업 트랜지스터(TPU)가 턴-온되며 클럭신호(CLK)에 대응하여 하이레벨의 N 단 게이트구동신호(Vout N)가 출력되고 또한, N번째 게이트구동신호(Vout N)가 N+1단 시작신호(Vst N+1)로서 다음단에 입력된다. 이때, 제2 및 제3 트랜지스터(T2, T3)는 제2 노드(N2)를 방전시켜 로우레벨로 유지한다.The operation of the
이후, N 단 시작신호(Vst N)가 로우레벨이 되고, N+1 단 출력신호(Vout N+1)가 제4 트랜지스터(T4)에 입력되면, N1노드(N1)는 방전되고, 제 5 트랜지스터(T5)에 의하여 제2 노드(N2)가 하이레벨이 되어, 풀-다운 트랜지스터(TPD)를 턴-온시키켜 N 단 출력신호(Vout N)는 로우레벨이 된다. 이때, 제 6 트랜지스터(T6)는 제1 노드를 방전시켜 로우레벨로 유지한다.Thereafter, when the N-stage start signal Vst N becomes the low level and the N + 1-stage output signal Vout N + 1 is input to the fourth transistor T4, the N1 node N1 is discharged, and the fifth The second node N2 is turned high by the transistor T5, and the pull-down transistor TPD is turned on so that the N-stage output signal Vout N is turned low. At this time, the sixth transistor T6 discharges the first node to maintain the low level.
게이트드라이버(400)는 상술한 동작을 통해 순차적으로 게이트구동신호를 생 성, 출력한다.The
이러한 구동의 게이트드라이버(400)는 오토 프로브 공정시, 상기 패드(도 5의 166)을 통하여 제1 전원전압(VDD)단, 시작신호(VST N)단, 클럭신호(CLK)단에 하이레벨의 전압을 인가하고, 제2 전원전압(VSS)단에는 하이 또는 로우레벨의 전압을 인가하게 되면, 게이트드라이버(400)의 각 스테이지에서 하이레벨의 전압신호가 출력되게 된다. The driving
따라서, 게이트드라이버가 일률적으로 하이레벨이 전압을 출력하게 되어 액정패널의 박막트랜지스터를 구동하여, 검사공정을 수행 할 수 있다.Therefore, the gate driver outputs a voltage at a high level uniformly, thereby driving the thin film transistor of the liquid crystal panel, thereby performing the inspection process.
본 발명의 실시예에서는 게이트드라이버가 액정패널내에 형성되는 GIP구조만을 예시하였으나, 이는 데이터드라이버 및 시스템전체구동회로가 액정패널내에 형성되는 시스템-온-패널(System On Panel, SOP)구조의 액정표시장치에도 적용될 수 있을 것이다.In the exemplary embodiment of the present invention, only the GIP structure in which the gate driver is formed in the liquid crystal panel is illustrated, but this is a liquid crystal display of a system on panel (SOP) structure in which the data driver and the entire system driving circuit are formed in the liquid crystal panel. Applicable to the device as well.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art various modifications and variations of the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention described in the claims below I can understand that you can.
상기와 같이 설명한 본 발명에 실시에에 따른 액정표시장치와, 이의 검사공정을 포함하는 액정표시장치의 제조방법은, 게이트드라이버가 액정패널내에 형성되는 GIP구조의 액정표시장치에서, 게이트드라이버를 외부시스템과 연결하기 위한 연 결라인상에 패드를 형성하고 이를 통해 DC신호를 공급하여, 게이트드라이버를 일률적으로 턴-온 함으로서, 검사공정을 진행하기 위한 별도의 스위칭소자를 구비하고 이를 제거하는 공정을 생략할 수 있으며, 원활하게 오토-프로브 공정을 진행할 수 있는 효과가 있다.In the liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention described above, and a method of manufacturing a liquid crystal display device including the inspection step thereof, the gate driver is externally provided in the liquid crystal display device having a GIP structure in which the gate driver is formed in the liquid crystal panel. Forming a pad on the connection line for connecting with the system and supplying a DC signal through it to turn on the gate driver uniformly, a separate switching device for the inspection process and to remove it It can be omitted, there is an effect that can proceed smoothly the auto-probe process.
Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070027862A KR20080086126A (en) | 2007-03-21 | 2007-03-21 | Lcd, fabricating method of the same including test process |
Applications Claiming Priority (1)
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KR1020070027862A KR20080086126A (en) | 2007-03-21 | 2007-03-21 | Lcd, fabricating method of the same including test process |
Publications (1)
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KR20080086126A true KR20080086126A (en) | 2008-09-25 |
Family
ID=40025543
Family Applications (1)
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KR1020070027862A KR20080086126A (en) | 2007-03-21 | 2007-03-21 | Lcd, fabricating method of the same including test process |
Country Status (1)
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KR (1) | KR20080086126A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101022002B1 (en) * | 2008-12-02 | 2011-03-16 | 주식회사 토비스 | Manufacturing method for touch panel |
KR20210152748A (en) * | 2020-06-09 | 2021-12-16 | 주식회사 탑 엔지니어링 | Inspection device and inspection method using the same |
-
2007
- 2007-03-21 KR KR1020070027862A patent/KR20080086126A/en not_active Application Discontinuation
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