KR20080062660A - 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (7)
- 회전 샤프트가 삽입될 수 있는 관통공이 마련된 바디 휠; 및상기 바디 휠의 둘레를 따라 견고하게 결합된 연마 그루브 어셈블리;를 포함하고,상기 연마 그루브 어셈블리는 트루잉 그루브, 금속 본드 그루브 및 레진 본드 그루브를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠.
- 제1항에 있어서,상기 연마 그루브 어셈블리는 트루잉 그루브, 금속 본드 그루브 및 레진 본드 그루브 순서 또는 그 반대의 순서로 배치되는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠.
- 제1항에 있어서,상기 연마 그루브 어셈블리는 트루잉 그루브, 금속 본드 그루브 및 레진 본드 그루브 순서로 입도가 증가하는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠.
- 제1항에 있어서,상기 금속 본드 그루브의 표면에 형성된 그루브의 수보다 레진 본드 그루브 의 표면에 형성된 그루브의 수가 많은 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠.
- 제1항에 있어서,상기 금속 본드 그루브의 표면에 형성된 그루브의 상부 폭 및 하부의 곡률 반경이 레진 본드 그루브의 표면에 형성된 그루브의 상부폭 및 하부의 곡률 반경보다 큰 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠.
- 제5항에 있어서,상기 금속 본드 그루브는 입도가 서로 다른 복수의 금속 본드 그루브가 연접하고 있고,입도가 클수록 그루브의 상부폭과 하부의 곡률 반경이 감소하는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠.
- 제6항에 있어서,상기 금속 본드 그루브는 입도가 서로 다른 2개의 금속 본드 그루브가 연접하고 있고, 각 금속 본드 그루브는 입도가 작은 순서 또는 그 반대로 배치되는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060138709A KR100866421B1 (ko) | 2006-12-29 | 2006-12-29 | 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060138709A KR100866421B1 (ko) | 2006-12-29 | 2006-12-29 | 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080062660A true KR20080062660A (ko) | 2008-07-03 |
KR100866421B1 KR100866421B1 (ko) | 2008-10-31 |
Family
ID=39814768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060138709A KR100866421B1 (ko) | 2006-12-29 | 2006-12-29 | 반도체 웨이퍼 엣지 연마 휠 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100866421B1 (ko) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2006
- 2006-12-29 KR KR1020060138709A patent/KR100866421B1/ko active IP Right Grant
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR100866421B1 (ko) | 2008-10-31 |
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