KR20080040943A - Method of setting reference value for electronic measuring instrument and measuring instrument therefor - Google Patents

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Abstract

A reference value setting method for an electronic measuring instrument and the measuring instrument are provided to set a reference value for a reference value storing unit simply and to maintain precision for setting of the reference value over the predetermined level. An electronic measuring instrument(10) is composed of a signal processing unit(13) measuring the size of a frequency signal inputted from the outside, a reference value storing unit(20) storing a physical absolute value corresponding to the value measured by the signal processing unit, and a control unit(30) storing a reference value in the reference value storing unit. A method for setting a reference value in the reference value storing unit comprises the steps of: setting a measurement point to be measured by the measuring instrument; inputting a measurement signal corresponding to the set measurement point, to the measuring instrument; inputting the physical absolute value of the measurement signal to the control unit as a reference value; generating a measured value by measuring the size of the signal inputted to the measuring instrument, by the signal processing unit; setting a first reference value for the measurement point in the reference value storing unit on the basis of the measured value and the reference value by the control unit; and setting a second reference value for points except for the measurement point, on the basis of the set first reference value by the control unit.

Description

전자 계측장치를 위한 계측 기준값 설정방법과 이를 위한 계측장치{Method of setting reference value for electronic measuring instrument and measuring instrument therefor}METHOD OF SETTING REFERENCE VALUE FOR ELECTRONIC MEASUREMENT INSTRUMENT AND MEASUREMENT INSTRUMENT FOR FOR MEASUREMENT

도 1은 종래의 전자 계측장치에 대하여 기준값을 설정하기 위한 시스템 요부 구성을 나타낸 블록구성도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a block diagram showing a main component structure for setting a reference value for a conventional electronic measuring apparatus.

도 2는 본 발명에 따른 전자 계측장치(10)와, 이 전자 계측장치에 대하여 기준값을 설정하기 위한 시스템 요부 구성을 나타낸 블록구성도.Fig. 2 is a block diagram showing the main component structure of the electronic measuring device 10 according to the present invention and a system for setting a reference value for the electronic measuring device.

도 3은 도 2에서 기준값 저장부(20)의 메모리 맵 구성을 나타낸 도면.FIG. 3 is a diagram illustrating a memory map configuration of the reference value storage unit 20 in FIG. 2.

도 4는 본 발명에 따른 기준값 설정방법을 설명하기 위한 도면.4 is a view for explaining a reference value setting method according to the present invention.

*** 도면의 주요 부분에 대한 간단한 설명 ****** Brief description of the main parts of the drawing ***

2 : 외부 제어장치, 3 : 신호발생기,2: external controller, 3: signal generator,

10 : 전자계측장치, 20 : 기준값 저장부,10: electronic measuring device, 20: reference value storage,

30 : 제어부, 31 : 연산부,30: control unit, 31: arithmetic unit,

40 : 입력부.40: input unit.

본 발명은 예컨대 스펙트럼 분석장치 등의 전자 계측장치에 관한 것으로, 특히 입력되는 측정 주파수의 크기값을 판정하기 위한 기준값을 설정하기 위한 방법 과 이를 위한 계측장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to electronic measuring devices, such as spectrum analyzers, and more particularly, to a method for setting a reference value for determining the magnitude value of an input measurement frequency and a measuring device therefor.

일반적으로 전기 및 전자 분야에 있어서는 실험이나 제품 개발 등을 위해 다양한 종류의 계측장치가 이용되고 있다, 이러한 계측장치로는 오실로스코프(Oscilloscope)나 스펙트럼 분석기(Spectrum analyzer) 등 다양한 종류의 것이 있다. 이들 계측장치들은 입력되는 아날로그 신호의 전압값, 전류값, 주파수별 크기값, 위상값 등 입력신호의 각종 성분별 크기 데이터를 측정하는 용도로 사용된다.In general, various types of measuring devices are used for experiments and product development in the electric and electronic fields. Such measuring devices include various types of devices such as an oscilloscope and a spectrum analyzer. These measuring devices are used for measuring size data of various components of an input signal such as voltage value, current value, magnitude value for each frequency, and phase value of an input analog signal.

입력되는 아날로그 신호를 디지탈적으로 처리하는 계측장치의 경우에는 입력되는 신호의 측정레벨에 대응되는 절대적인 크기값으로서 계측 기준값이 미리 설정된다. 그리고, 이후 입력되는 신호의 크기 값을 상기 계측 기준값을 근거로 판정하게 된다. 이때, 계측 기준값의 정밀도는 제품의 정밀도와 직접적으로 관련이 있기 때문에 매우 조심스럽게 설정할 필요가 있다.In the case of a measuring device that digitally processes an input analog signal, the measurement reference value is set in advance as an absolute magnitude value corresponding to the measurement level of the input signal. Subsequently, the magnitude value of the signal to be input is determined based on the measurement reference value. At this time, since the precision of the measurement reference value is directly related to the precision of the product, it is necessary to set it very carefully.

도 1은 그 일례로서 현재 스펙트럼 분석장치에 채용되고 있는 계측 기준값 설정과정을 설명하기 위한 도면이다.1 is a diagram for explaining a measurement reference value setting process currently employed in a spectrum analyzer as an example.

도 1에서 참조번호 1은 예컨대 스펙트럼 분석장치 등의 계측장치이고, 2는 이 계측장치(2)의 기준값 설정을 위한 외부 제어장치, 3은 이 외부 제어장치(2)의 제어에 따라 일련의 크기 및 주파수를 갖는 신호를 생성하여 출력하는 신호발생기이다.In Fig. 1, reference numeral 1 denotes a measuring device such as a spectrum analyzer, 2 denotes an external control device for setting a reference value of the measuring device 2, and 3 denotes a series of sizes according to the control of the external control device 2; And a signal generator for generating and outputting a signal having a frequency.

상기 계측장치(1)는 도면에 개략적으로 나타낸 바와 같이 증폭부(11)와 IF(중간주파수) 회로(12), 신호처리부(13), 기준값 저장부(14) 및 제어부(15)를 포함하여 구성된다.The measuring device 1 includes an amplifier 11, an IF (intermediate frequency) circuit 12, a signal processor 13, a reference value storage 14, and a controller 15 as schematically shown in the drawing. It is composed.

상기 증폭부(11)는 입력되는 주파수신호를 증폭하고, IF 회로(12)는 입력되는 신호의 주파수를 내부 처리를 위한 중간주파수로 변환한다. 신호처리부(13)는 입력되는 신호의 레벨값을 아날로그/디지탈 변환하여 제어부(15)로 인가하고, 이에 대하여 제어부(15)로부터 인가되는 절대적인 크기 데이터를 근거로 입력되는 신호의 크기 값을 측정값으로서 예컨대 디스플레이장치 등을 통하여 시각적인 데이터로 출력한다. 이하, 신호처리부(13)가 외부로부터 입력되는 신호의 레벨을 측정하여 제어부(15)에 인가하는 데이터값을 측정값이라 칭하고, 이러한 측정값에 대응하는 실제 물리적인 레벨값을 기준값이라 칭한다.The amplifier 11 amplifies the input frequency signal, the IF circuit 12 converts the frequency of the input signal into an intermediate frequency for internal processing. The signal processing unit 13 converts the level value of the input signal into analog / digital conversion and applies it to the control unit 15, and measures the magnitude value of the input signal based on the absolute size data applied from the control unit 15. For example, the data is output as visual data through a display device or the like. Hereinafter, the data value measured by the signal processor 13 and applied to the controller 15 by measuring the level of a signal input from the outside is called a measurement value, and the actual physical level value corresponding to the measured value is called a reference value.

또한, 기준값 저장부(14)는 상기 신호처리부(13)에서 얻어지는 입력 신호의 레벨값에 대응하는 절대적인 크기값이 기준값으로서 저장된다.In addition, the reference value storage section 14 stores an absolute magnitude value corresponding to the level value of the input signal obtained by the signal processing section 13 as the reference value.

그리고, 제어부(15)는 장치 전체를 제어한다. 제어부(15)는 기본적으로 외부 제어장치(2)와 연동하여 상기 기준값 저장부(14)에 대하여 기준값 저장을 실행하고, 이후 신호처리부(13)로부터 인가되는 측정값에 대응하는 기준값을 기준값 저장부(14)로부터 독출하여 이를 신호처리부(13)로 인가한다.And the control part 15 controls the whole apparatus. The control unit 15 basically stores the reference value for the reference value storage unit 14 in cooperation with the external control device 2, and then stores the reference value corresponding to the measured value applied from the signal processor 13. Read from (14) and apply it to the signal processing unit (13).

외부 제어장치(2)로서는 예컨대 개인용 컴퓨터가 사용된다. 외부 제어장치(2)는 예컨대 RS232C를 통해 제어부(15)나 신호발생기(3)와 결합된다. 외부 제어장치(2)는 신호발생기(3)로 신호발생을 위한 주파수값 및 크기 데이터를 전송하고, 이러한 데이터를 제어부(15)로 인가한다. 외부 제어장치(3)의 제어동작에 대해서는 이후에 상세히 설명될 것이다.As the external controller 2, for example, a personal computer is used. The external control device 2 is coupled with the control unit 15 or the signal generator 3 via, for example, RS232C. The external controller 2 transmits frequency value and magnitude data for signal generation to the signal generator 3 and applies this data to the controller 15. The control operation of the external control device 3 will be described later in detail.

신호발생기(3)는 외부 제어장치(2)로부터 인가되는 제어데이터에 따라 일정한 크기를 갖는 주파수신호를 생성한다. 이와 같이 생성된 주파수신호는 계측장치(1)로 입력된다.The signal generator 3 generates a frequency signal having a constant magnitude in accordance with the control data applied from the external control device 2. The frequency signal thus generated is input to the measuring device 1.

상기한 구성에서, 외부 제어장치(2)는 신호발생기(3)로 주파수값과 그 크기값 데이터를 전송하고, 그 크기값 데이터를 제어부(15)에 대하여 전송한다. 신호발생기(3)로부터 출력되는 일정 크기값의 주파수신호는 증폭부(11)와 IF 회로(12)를 통해 신호처리부(13)로 인가되고, 신호처리부(13)는 입력되는 신호의 레벨을 검출하여 이를 제어부(15)로 인가한다. 제어부(15)는 신호처리부(13)로부터 인가되는 신호레벨값에 대응하여 외부 제어장치(2)로부터 인가되는 크기값 데이터를 그 절대적인 기준값으로서 기준값 저장부(14)에 저장한다.In the above configuration, the external control device 2 transmits the frequency value and its magnitude value data to the signal generator 3 and transmits the magnitude value data to the controller 15. A frequency signal having a predetermined magnitude output from the signal generator 3 is applied to the signal processor 13 through the amplifier 11 and the IF circuit 12, and the signal processor 13 detects the level of the input signal. This is applied to the controller 15. The control unit 15 stores the magnitude value data applied from the external control device 2 in the reference value storage unit 14 as its absolute reference value in response to the signal level value applied from the signal processing unit 13.

외부 제어장치(2)와 제어부(15)는 하나의 주파수 신호에 대하여 그 크기값을 단계적으로 변경하면서 상기한 동작을 반복하여 실행함으로써 신호처리부(13)로부터 인가되는 일련의 레벨값에 대응하는 절대적인 크기값을 기준값으로서 기준값 저장부(14)에 저장하게 된다.The external control device 2 and the control unit 15 perform the above-described operation repeatedly while changing the magnitude value of one frequency signal step by step so as to correspond to the series of level values applied from the signal processing unit 13. The size value is stored in the reference value storage unit 14 as a reference value.

이어, 정상적인 동작상태, 즉 본 계측장치를 이용하여 실제 측정을 실행하는 경우에는 제어부(15)는 신호처리부(13)로부터 주파수신호의 레벨값이 입력되면 해당 레벨값에 대응하는 절대적인 크기값을 기준값 저장부(14)로부터 독출하여 신호처리부(13)로 인가하고, 신호처리부(13)는 제어부(15)로부터 입력되는 크기값을 근 거로 해당 입력신호의 레벨값을 디스플레이하게 된다.Subsequently, in the normal operation state, that is, when the actual measurement is performed by using the measuring device, the control unit 15 receives the absolute magnitude value corresponding to the level value when the level value of the frequency signal is input from the signal processing unit 13. The data is read from the storage 14 and applied to the signal processor 13, and the signal processor 13 displays the level value of the corresponding input signal based on the magnitude value input from the controller 15.

한편, 전자 및 전기 회로에 있어서는 해당 회로를 통해 전달되는 신호의 주파수에 따라 그 크기값이 변동될 수 있고, 또한 IF 회로(12)에서 중간주파수 변환을 위해 사용되는 발진기의 미세한 오차 등으로 인하여 신호처리부(13)로 인가되는 주파수신호에 변동이 발생하게 됨으로써 신호처리부(13)에서 검출되는 신호의 레벨값에 변동이 발생될 수 있게 된다. 즉, 증폭부(11)를 통해 입력되는 동일한 크기의 신호가 그 주파수에 따라 신호처리부(13)에서 다른 레벨 신호로서 검출될 수 있게 된다. 그리고, 이러한 경우에는 제어부(15)에서 신호처리부(13)로 인가되는 절대적인 크기값이 달라지게 됨으로써 다른 측정 결과값이 제공될 우려가 있게 된다.On the other hand, in the electronic and electrical circuits, the magnitude value may vary according to the frequency of the signal transmitted through the corresponding circuit, and the signal processing unit may be caused due to the minute error of the oscillator used for intermediate frequency conversion in the IF circuit 12. As the variation occurs in the frequency signal applied to (13), the variation may occur in the level value of the signal detected by the signal processing unit 13. That is, a signal of the same magnitude input through the amplifier 11 can be detected as a different level signal by the signal processor 13 according to its frequency. In this case, since an absolute magnitude value applied from the controller 15 to the signal processor 13 is changed, another measurement result value may be provided.

상기한 사정을 고려하여, 종래에는 기준값 저장부(14)에 대한 기준값 설정 시에, 신호 크기별 레벨 측정을 다수의 주파수 신호에 대하여 동일하게 실행하고, 신호들간의 레벨 차이가 제거되도록 하드웨어 및 소프트웨어적인 보정을 실행하는 방법을 채택하고 있다.In view of the above circumstances, conventionally, when setting a reference value for the reference value storage unit 14, level measurement for each signal magnitude is equally performed for a plurality of frequency signals, and hardware and software are implemented so that level differences between signals are eliminated. The method of performing the correction is adopted.

그러나, 상기한 방법에 있어서는 우선 다양한 입력신호에 대한 레벨 측정에 많은 시간이 소요됨은 물론, 하드웨어 및 소프트웨어의 보정에 많은 시간 및 노력이 소요됨으로써 결과적으로 계측장치의 가격이 높아지는 문제가 발생하게 된다.However, in the above method, it takes a lot of time to measure the level of various input signals, as well as a lot of time and effort to calibrate the hardware and software, resulting in a problem that the price of the measuring device increases.

이에, 본 발명은 상기한 사정을 감안해서 창출된 것으로서, 계측장치에 대한 기준값 설정을 매우 용이하면서도 간단하게 실행할 수 있는 전자 계측장치를 위한 계측 기준값 설정방법 및 이를 위한 계측장치를 제공함에 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention has been made in view of the above-described circumstances, and an object thereof is to provide a measuring reference value setting method for an electronic measuring device and a measuring device therefor that can easily and simply set the reference value for the measuring device. have.

상기 목적을 실현하기 위한 본 발명의 제1 관점에 따른 전자 계측장치를 위한 계측 기준값 설정방법은 외부에서 입력되는 주파수 신호의 크기를 측정하기 위한 신호처리부와, 상기 신호처리부에 의해 측정된 측정값에 대응하는 물리적인 절대값이 저장되는 기준값 저장부 및, 상기 기준값 저장부에 대하여 기준값 저장을 실행제어하는 제어부를 구비하여 구성되는 계측장치에 적용하여 상기 기준값 저장부에 기준값을 설정하는 방법에 있어서, 계측장치로 측정을 실행할 측정 포인트를 설정하는 측정 포인트 설정단계와, 상기 측정 포인트 설정단계에서 설정된 측정 포인트에 대응하는 측정신호를 계측장치로 입력하는 측정신호 입력단계, 상기 측정신호의 물리적인 절대값을 기준값으로서 상기 제어부로 입력하는 기준값 입력단계, 상기 신호처리부가 계측장치로 입력되는 신호의 크기를 측정하여 측정값을 생성하는 입력신호 측정단계, 상기 제어부가 측정값과 기준값에 근거해서 기준값 저장부에 측정 포인트에 대한 기준값을 설정하는 제1 기준값 설정단계 및, 상기 제어부가 제1 기준값 설정단계에서 설정된 기준값을 근거로 측정 포인트 이외의 포인트에 대한 기준값을 설정하는 제2 기준값 설정단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The measuring reference value setting method for an electronic measuring device according to the first aspect of the present invention for realizing the above object comprises a signal processor for measuring the magnitude of the frequency signal input from the outside, and a measured value measured by the signal processor. A method of setting a reference value in the reference value storage unit by applying to a measurement device comprising a reference value storage unit for storing a corresponding physical absolute value and a control unit for executing control of the reference value storage for the reference value storage unit, A measurement point setting step of setting a measurement point for performing measurement with a measurement device, a measurement signal input step of inputting a measurement signal corresponding to the measurement point set in the measurement point setting step to the measurement device, and a physical absolute value of the measurement signal Inputting a reference value as a reference value to the control unit; An input signal measuring step of measuring a magnitude of a signal input to a measuring device to generate a measurement value, a first reference value setting step of setting, by the controller, a reference value for a measurement point in a reference value storage unit based on the measured value and the reference value; And a second reference value setting step of setting, by the control unit, a reference value for points other than the measurement point based on the reference value set in the first reference value setting step.

또한, 상기 측정신호 입력단계와 입력신호 측정단계가 하나의 측정 포인트에 대하여 복수회 반복해서 실행되는 것을 특징으로 한다.The measuring signal input step and the input signal measuring step may be repeatedly performed a plurality of times for one measuring point.

또한, 상기 제2 기준값 설정단계는 선형 방정식을 이용하여 실행하는 것을 특징으로 한다.In addition, the setting of the second reference value may be performed using a linear equation.

또한, 상기 제2 기준값 설정단계는 비선형 방정식을 이용하여 실행하는 것을 특징으로 한다.In addition, the setting of the second reference value may be performed using a nonlinear equation.

또한, 상기 목적을 실현하기 위한 본 발명의 제2 관점에 따른 전자 계측장치는 외부에서 입력되는 주파수 신호의 크기를 측정하여 측정값을 생성하는 신호처리부와, 상기 신호처리부에 의해 측정된 측정값에 대응하는 물리적인 절대값이 저장되는 기준값 저장부를 구비하여, 상기 기준값을 근거로 입력되는 주파수 신호의 크기값을 표시해 주는 전자 계측장치에 있어서, 상기 기준값 저장부에는 계측 신호의 주파수값과 측정값에 대응되게 기준값이 저장되고, 사용자가 계측장치의 측정 주파수값을 입력하기 위한 입력부와, 상기 입력부를 통해 입력된 주파수값과 측정값을 근거로 기준값 저장부로부터 기준값을 독출하는 제어부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.In addition, the electronic measuring device according to the second aspect of the present invention for achieving the above object is a signal processing unit for measuring the magnitude of the frequency signal input from the outside to generate a measurement value, and the measured value measured by the signal processing unit An electronic measuring device having a reference value storage unit for storing a corresponding physical absolute value, and displaying a magnitude value of an input frequency signal based on the reference value, wherein the reference value storage unit has a frequency value and a measured value of the measurement signal. A reference value is stored correspondingly, and includes an input unit for a user to input a measurement frequency value of the measuring device, and a control unit for reading the reference value from the reference value storage unit based on the frequency value and the measured value inputted through the input unit. It is characterized by.

또한, 상기 제어부는 연산부를 추가로 구비하여 구성되고, 상기 연산부는 기준값 저장부에 저장되는 기준값을 산출하며, 기준값 산출은 인접하는 2개의 기준값을 근거로 실행하는 것을 특징으로 한다.The control unit may further include an operation unit, wherein the operation unit calculates a reference value stored in the reference value storage unit, and the reference value calculation is performed based on two adjacent reference values.

이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 설명한다. 단, 이하의 실시예에서는 본 발명을 스펙트럼 분석장치에 대하여 적용한 경우를 예로 들어 설명한다. 그러나 이러한 실시예의 예시는 본 발명의 권리범위를 제한하기 위한 것이 아니다. 본 발명은 절대적인 기준값을 저장하고, 입력되는 신호로부터 측정되는 측정값에 대한 절대적인 물리값을 상기 기준값을 근거로 제공하는 어떠한 형태의 전자 계측장치에 대하여도 동일한 방식으로 적용할 수 있다.Hereinafter, an embodiment according to the present invention will be described with reference to the drawings. However, in the following examples, a case where the present invention is applied to a spectrum analyzer is described as an example. However, examples of such embodiments are not intended to limit the scope of the present invention. The present invention can be applied in the same manner to any type of electronic measuring device that stores an absolute reference value and provides an absolute physical value for a measured value measured from an input signal based on the reference value.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 전자 계측장치(10)와, 이 전자 계측장치(10)에 대하여 기준값을 설정하기 위한 주변 장치를 포함하는 시스템 요부 구성을 나타낸 블록구성도이다. 또한, 도 2에서 상술한 도 1과 실질적으로 동일한 부분에는 동일한 참조번호를 붙이고, 그 상세한 설명은 생략한다.FIG. 2 is a block diagram showing a main configuration of a system including an electronic measuring device 10 according to an embodiment of the present invention and a peripheral device for setting a reference value for the electronic measuring device 10. In addition, in FIG. 2, the same reference numeral is attached | subjected to the substantially same part as FIG. 1 mentioned above, and the detailed description is abbreviate | omitted.

도 2에서 본 실시예에 따른 계측장치(10)는 종래의 것과 마찬가지로 증폭부(11)와 IF 회로(12) 및 신호처리부(13)를 구비한다. 이들 장치들은 계측장치(10) 외부로부터 입력되는 주파수신호의 크기를 측정하기 위한 것이다. 그리고, 신호처리부(13)에서 측정된 측정값은 제어부(30)로 인가된다.In FIG. 2, the measuring apparatus 10 according to the present embodiment includes an amplifier 11, an IF circuit 12, and a signal processor 13, as in the related art. These devices are for measuring the magnitude of the frequency signal input from the outside of the measuring device (10). The measured value measured by the signal processor 13 is applied to the controller 30.

이에 대하여, 제어부(30)는 신호처리부(13)로부터 인가되는 측정값에 대응하는 물리적인 절대값, 즉 기준값을 기준값 저장부(20)로부터 독출하여 이를 신호처리부(13)로 제공하고, 신호처리부(13)는 제어부(30)로부터 인가되는 기준값을 근거로 도시되지 않은 디스플레이장치를 통해 입력 주파수신호의 크기값을 표시해 주게 된다. 이상의 동작은 도 1에 나타낸 종래 계측장치(1)와 실질적으로 동일하다.On the other hand, the controller 30 reads the physical absolute value corresponding to the measured value applied from the signal processor 13, that is, the reference value from the reference value storage 20, and provides it to the signal processor 13. Reference numeral 13 denotes a magnitude value of an input frequency signal through a display device (not shown) based on a reference value applied from the controller 30. The above operation is substantially the same as the conventional measuring apparatus 1 shown in FIG.

도 3은 본 실시예에서 기준값 저장부(20)의 메모리 맵 구조를 나타낸 도면이다. 도 3에 나타낸 바와 같이 본 실시예에 따른 기준값 저장부(20)에는 다수의 주파수(f1~fn)에 대하여 측정값(0~n)에 따른 기준값이 저장된다.3 is a diagram illustrating a memory map structure of the reference value storage unit 20 according to the present embodiment. As shown in FIG. 3, the reference value storage unit 20 according to the present embodiment stores reference values according to measurement values 0 to n for a plurality of frequencies f1 to fn.

도 1에 나타낸 종래의 장치에 있어서는 기준값 저장부(14)에는 단지 측정값에 대한 기준값이 상호 대응되게 저장된다. 상술한 바와 같이 도 1의 장치에 있어서는 증폭부(11)를 통해 입력되는 동일한 크기를 갖는 신호는 그 주파수값에 상관없이 신호처리부(13)로부터 동일한 측정값이 얻어지도록 하드웨어 및 소프트웨어적 인 조정이 실행된다.In the conventional apparatus shown in FIG. 1, the reference value storage unit 14 stores only reference values for measured values corresponding to each other. As described above, in the apparatus of FIG. 1, a signal having the same magnitude input through the amplifier 11 has hardware and software adjustments such that the same measurement value is obtained from the signal processor 13 regardless of its frequency value. Is executed.

본 실시예에 있어서는 종래의 하드웨어 및 소프트웨어적인 조정을 간단화 하고, 그 대신에 기준값 저장부(20)에 각 주파수(f1~fn)에 대하여 측정값(0~n)에 대한 기준값이 상호 대응되게 저장된다. 이때 각각의 주파수값(f1~fn) 및 측정값(0~n) 간의 간격은 측정장치의 특성이나 정밀도 등에 따라 적절하게 균등 설정된다.In the present embodiment, the conventional hardware and software adjustments are simplified, and instead, the reference value storage section 20 corresponds to the reference values for the measured values 0 to n for each frequency f1 to fn. Stored. At this time, the intervals between the respective frequency values f1 to fn and the measured values 0 to n are appropriately set according to the characteristics, the precision, and the like of the measuring device.

도 2에서, 입력부(40)는 사용자가 본 측정장치를 통해 측정하고자 하는 주파수의 값 또는 범위를 입력하기 위한 것이다. 이 입력부(40)는 통상적인 것이다. 사용자는 이 입력부(40)를 통해 측정 주파수를 설정한 후, 본 장치에 측정하고자 하는 주파수 신호를 입력하는 방법을 통해 주파수 분석을 실행하게 된다.In FIG. 2, the input unit 40 is for inputting a value or range of frequencies to be measured by the user through the measuring device. This input unit 40 is conventional. After setting the measurement frequency through the input unit 40, the user performs frequency analysis by inputting a frequency signal to be measured to the apparatus.

제어부(30)는 본 장치 전체를 제어하는 기능을 실행한다. 본 제어부(30)는 사용자가 본 장치를 이용하여 주파수 분석을 실행하는 측정모드와, 기준값 저장부(20)에 대하여 기준값 설정을 실행하는 기준값 설정모드를 수행한다. 제어부(30)에는 기준값 설정을 위해 필요한 연산처리를 수행하기 위한 연산부(30)가 구비된다. 이 연산부(30)는 하드웨어나 소프트웨어로 구성된다. 이 연산부(30)에 대해서는 이후에 상세히 설명될 것이다.The control unit 30 executes a function for controlling the entire apparatus. The controller 30 performs a measurement mode in which the user performs frequency analysis using the apparatus and a reference value setting mode in which the reference value storage unit 20 executes the reference value setting. The control unit 30 is provided with an operation unit 30 for performing a calculation process necessary for setting the reference value. This calculating section 30 is composed of hardware or software. This operation unit 30 will be described later in detail.

측정모드에서, 제어부(30)는 신호처리부(13)로부터 측정값이 입력되면, 입력부(40)에 의해 설정된 주파수값과 측정값을 근거로 기준값 저장부(20)로부터 기준값을 독출한다. 그리고, 이와 같이 독출된 기준값을 측정값에 대한 물리적인 절대값으로서 신호처리부(13)로 제공하게 된다.In the measurement mode, when the measured value is input from the signal processor 13, the controller 30 reads the reference value from the reference value storage 20 based on the frequency value and the measured value set by the input unit 40. The reference value thus read is provided to the signal processor 13 as a physical absolute value with respect to the measured value.

상기 실시예에 따른 계측장치(10)에 있어서는 기준값 저장부(20)에 측정값에 대응하는 기준값이 저장되고, 이러한 기준값은 입력되는 주파수와 그 측정값에 각각 대응되도록 저장된다. 따라서, 상기 실시예에 있어서는 외부로부터 입력되는 신호의 주파수값에 따라 신호처리부(13)에 의한 측정값이 변경되는 경우에도 그 물리적인 절대값을 정확하게 판정할 수 있게 된다. 즉, 계측 정밀도의 유지를 위해 하드에어나 소프트웨어적인 조정을 실행하는 작업이 생략되거나 매우 간단화 된다.In the measurement apparatus 10 according to the embodiment, the reference value corresponding to the measured value is stored in the reference value storage unit 20, and the reference value is stored to correspond to the input frequency and the measured value, respectively. Therefore, in the above embodiment, even when the measured value by the signal processor 13 is changed according to the frequency value of the signal input from the outside, the physical absolute value can be determined accurately. In other words, in order to maintain the measurement accuracy, a hard air or software adjustment operation is omitted or greatly simplified.

따라서, 계측장치의 제조가 용이해 짐은 물론, 그 제조가격을 대폭 낮출 수 있게 된다.Therefore, it becomes easy to manufacture a measuring apparatus, and can also significantly reduce the manufacturing price.

이어, 상술한 계측장치(10)의 기준값 저장부(20)에 대하여 기준값을 설정하는 방법에 대하여 설명한다.Next, a method of setting the reference value for the reference value storage unit 20 of the measurement apparatus 10 will be described.

도 2에 나타낸 계측장치(20)에 있어서는 기준값 저장부(20)에 저장되어야 할 기준값의 수효가 매우 많게 된다. 따라서, 이들 기준값들을 종래와 마찬가지로 외부 제어장치(2) 및 신호발생기(3)를 이용하여 일일히 설정하게 되면 그 기준값 설정에 매우 많은 시간 및 노력이 소요되게 된다.In the measurement apparatus 20 shown in FIG. 2, the number of reference values to be stored in the reference value storage unit 20 becomes very large. Therefore, if these reference values are set by using the external control device 2 and the signal generator 3 as in the prior art, it takes a lot of time and effort to set the reference values.

본 실시예에 따른 방법에 있어서는 기준값 저장부(20)에 저장되어야 할 기준값 중 일부 값만을 상술한 과정을 통해서 설정하고, 나머지 값들은 적절한 연산동작을 통해서 설정하는 방법을 통해 간단하면서도 용이하게 모든 기준값들을 설정하게 된다.In the method according to the present exemplary embodiment, only some of the reference values to be stored in the reference value storage unit 20 are set through the above-described process, and the other values are simply and easily set through the appropriate calculation operation. Will be set.

본 실시예 방법에 있어서는 도 4에 검정색 점으로 나타낸 바와 같이, 전체 기준값 중 측정 포인트(21)에 해당되는 일부 기준값 만을 외부 제어장치(2)와의 연 동을 통해 설정한다. 즉, 도 1에서 설명한 바와 마찬가지로 외부 제어장치(2)는 측정 대상이 되는 주파수값과 그 크기값을 신호발생기(3)로 인가함과 더불어 그 동일한 값들을 제어부(30)로 인가하게 된다. 이때, 측정 대상이 되는 주파수값 및 크기값, 즉 측정 포인트(21)는 미리 프로그램적으로 설정된다. 또한, 측정 포인트의 수효와 위치는 계측장치의 정밀도와 기준값 설정시간에 영향을 미치게 되므로, 계측장치의 특성 등을 고려하여 적절하게 설정하는 것이 바람직하다.In the method of the present embodiment, as shown by the black dots in FIG. 4, only a part of the reference values corresponding to the measurement points 21 is set through interlocking with the external control device 2 of the entire reference values. That is, as described with reference to FIG. 1, the external control device 2 applies the frequency value and the magnitude value to be measured to the signal generator 3 and also applies the same values to the controller 30. At this time, the frequency value and the magnitude value, that is, the measurement point 21, to be measured, are set in advance programmatically. In addition, since the number and position of the measuring points affect the precision of the measuring device and the reference value setting time, it is preferable to set them properly in consideration of the characteristics of the measuring device and the like.

신호발생기(3)는 외부 제어장치(2)로부터 인가되는 주파수값 및 크기값을 근거로 일정 크기를 갖는 주파수신호를 발생시키게 되고, 이 주파수신호는 계측장치(10)로 입력되어 신호처리부(13)에 의해 그 크기값이 측정된다. 그리고, 신호처리부(13)는 해당 측정값을 제어부(30)로 인가하게 된다.The signal generator 3 generates a frequency signal having a predetermined size based on the frequency value and the magnitude value applied from the external control device 2, and the frequency signal is input to the measuring device 10 to receive the signal processor 13. The magnitude value is measured by In addition, the signal processor 13 applies the corresponding measured value to the controller 30.

제어부(30)는 외부 제어장치(2)로부터 인가된 주파수값과 연산처리부(13)로부터 인가되는 측정값을 근거로 외부 제어장치(2)로부터 인가된 크기값, 즉 현재 입력된 주파수신호의 물리적인 절대값을 기준값으로서 기준값 저장부(20)에 저장한다.The controller 30 controls the magnitude of the magnitude value applied from the external controller 2, that is, the physical value of the currently input frequency signal, based on the frequency value applied from the external controller 2 and the measured value applied from the calculation processor 13. Is stored in the reference value storage unit 20 as a reference value.

상기한 기준값 저장은 미리 정해진 모든 측정 포인트에 대하여 실행된다. 특히 바람직하게는 상기 측정 포인트에 대한 기준값 설정 동작은 예컨대 10-20회 정도 반복적으로 실행되어, 가장 바람직한 결과값이 기준값 저장부(20)에 저장된다. 이때 바람직한 결과값의 판정은 얻어진 측정값 중 최대값 및 최소값을 버리고 나머지 값들을 산술평균하거나 가장 빈도수가 높은 결과값을 선택하는 방법을 통해 실행된다.The reference value storage described above is performed for all predetermined measurement points. Particularly preferably, the reference value setting operation for the measurement point is repeatedly performed, for example, about 10-20 times, and the most preferable result value is stored in the reference value storage unit 20. At this time, the determination of the desired result value is performed by discarding the maximum value and the minimum value of the obtained measured values and arithmetically averaging the remaining values or selecting the most frequent result value.

상기한 과정을 통해 기준값 저장부(20)에 특정 기준값들이 설정되면, 제어부(30)는 연산부(31)를 구동하여 아직 설정되지 않은 기준값들을 산출한다.When specific reference values are set in the reference value storage unit 20 through the above process, the controller 30 drives the operation unit 31 to calculate reference values that are not yet set.

상술한 바와 같이 연산부(31)는 소프트웨어나 하드웨어적으로 구성된다. 연산부(31)는 예컨대 이분법, 고정점 반복법, 뉴턴(Newton)법 등을 이용하는 비선형 방정식이나 태일러(Taylor)나 리차드슨(Richardson) 등의 수치 미분법을 이용하는 선형방정식을 이용하여 인접하는 측정 포인트값 사이의 미설정값을 산출한다. 이러한 미설정값의 산출은 특정한 알고리즘이나 방법에 한정되지 않고, 선형 또는 비선형 관계에 있는 2개 값 사이에 존재하는 미지의 값들을 결정할 수 있는 어떠한 알고리즘도 적용하여 사용할 수 있다.As described above, the calculation unit 31 is configured by software or hardware. The calculation unit 31 uses nonlinear equations using, for example, dichotomy, fixed-point iteration, Newton's method, or between adjacent measurement point values using a linear equation using a numerical differential method such as Taylor or Richardson. Calculate the unset value. The calculation of the non-set value is not limited to a specific algorithm or method, and any algorithm capable of determining an unknown value existing between two values in a linear or nonlinear relationship may be applied.

그리고, 상기한 연산과정을 통해 미설정값들에 대한 설정동작이 종료되면 기준값 설정동작을 종료하게 된다.When the setting operation for the non-set values is finished through the above-described calculation process, the reference value setting operation is terminated.

상기한 방법에 있어서는 기준값 저장부(20)에 저장되어야 하는 전체 기준값 중 일부 측정 포인트에 대해서만 외부 제어장치(30)를 이용한 기준값 설정동작이 이루어지게 된다. 그리고, 이때 설정되지 않은 기준값은 일정 연산 알고리즘을 통해 산출되어 저장되게 된다. 따라서, 기준값 저장부(20)에 대한 기준값 설정이 매우 간단하면서도 용이하게 실행됨은 물론, 기준값 설정에 대한 정밀도를 일정 레벨 이상 유지할 수 있게 된다. In the above method, the reference value setting operation using the external control device 30 is performed only for some measurement points among all the reference values to be stored in the reference value storage unit 20. In this case, the reference value that is not set is calculated and stored through a predetermined algorithm. Therefore, the reference value setting for the reference value storage unit 20 can be performed very simply and easily, and the precision for the reference value setting can be maintained at a predetermined level or more.

이상으로 본 발명에 따른 실시예를 설명하였다. 그러나, 상술한 실시예는 본 발명의 하나의 바람직한 구현예를 예시적으로 나타낸 것으로, 본 발명은 그 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 다양하게 변형시켜 실시할 수 있다.The embodiment according to the present invention has been described above. However, the above-described embodiment shows one preferred embodiment of the present invention by way of example, the present invention can be carried out in various modifications within the scope without departing from the spirit.

이상 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 계측장치에 대한 기준값 설정을 매우 용이하면서도 간단하게 실행할 수 있는 전자 계측장치를 위한 계측 기준값 설정방법 및 이를 위한 계측장치를 구현할 수 있게 된다.As described above, according to the present invention, it is possible to implement a measuring reference value setting method for an electronic measuring device and a measuring device therefor that can easily and simply set the reference value for the measuring device.

Claims (6)

외부에서 입력되는 주파수 신호의 크기를 측정하기 위한 신호처리부와, 상기 신호처리부에 의해 측정된 측정값에 대응하는 물리적인 절대값이 저장되는 기준값 저장부 및, 상기 기준값 저장부에 대하여 기준값 저장을 실행제어하는 제어부를 구비하여 구성되는 계측장치에 적용하여 상기 기준값 저장부에 기준값을 설정하는 방법에 있어서,A reference processor for storing a magnitude of a frequency signal input from the outside, a reference value storage unit for storing a physical absolute value corresponding to the measured value measured by the signal processor, and storing the reference value for the reference value storage unit In the method for setting a reference value in the reference value storage unit by applying to a measuring device comprising a control unit for controlling, 계측장치로 측정을 실행할 측정 포인트를 설정하는 측정 포인트 설정단계와,A measurement point setting step of setting a measurement point at which a measurement device is to perform a measurement; 상기 측정 포인트 설정단계에서 설정된 측정 포인트에 대응하는 측정신호를 계측장치로 입력하는 측정신호 입력단계,A measuring signal input step of inputting a measuring signal corresponding to the measuring point set in the measuring point setting step to a measuring device; 상기 측정신호의 물리적인 절대값을 기준값으로서 상기 제어부로 입력하는 기준값 입력단계,A reference value input step of inputting the physical absolute value of the measurement signal as the reference value to the controller; 상기 신호처리부가 계측장치로 입력되는 신호의 크기를 측정하여 측정값을 생성하는 입력신호 측정단계,An input signal measuring step of measuring a magnitude of a signal input to the measuring device by the signal processor to generate a measured value; 상기 제어부가 측정값과 기준값에 근거해서 기준값 저장부에 측정 포인트에 대한 기준값을 설정하는 제1 기준값 설정단계 및,A first reference value setting step of setting, by the control unit, a reference value for the measurement point in a reference value storage unit based on the measured value and the reference value; 상기 제어부가 제1 기준값 설정단계에서 설정된 기준값을 근거로 측정 포인트 이외의 포인트에 대한 기준값을 설정하는 제2 기준값 설정단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 전자 계측장치를 위한 계측 기준값 설정방법.And a second reference value setting step of setting, by the controller, a reference value for points other than the measurement point based on the reference value set in the first reference value setting step. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 측정신호 입력단계와 입력신호 측정단계가 하나의 측정 포인트에 대하여 복수회 반복해서 실행되는 것을 특징으로 하는 전자 계측장치를 위한 계측 기준값 설정방법. And the measuring signal input step and the input signal measuring step are repeated a plurality of times for one measuring point. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제2 기준값 설정단계는 선형 방정식을 이용하여 실행하는 것을 특징으로 하는 전자 계측장치를 위한 계측 기준값 설정방법.And setting the second reference value using a linear equation. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제2 기준값 설정단계는 비선형 방정식을 이용하여 실행하는 것을 특징으로 하는 전자 계측장치를 위한 계측 기준값 설정방법.And setting the second reference value using a nonlinear equation. 외부에서 입력되는 주파수 신호의 크기를 측정하여 측정값을 생성하는 신호처리부와, 상기 신호처리부에 의해 측정된 측정값에 대응하는 물리적인 절대값이 저장되는 기준값 저장부를 구비하여, 상기 기준값을 근거로 입력되는 주파수 신호의 크기값을 표시해 주는 전자 계측장치에 있어서,A signal processor for measuring a magnitude of an external frequency signal and generating a measured value; and a reference value storage unit for storing a physical absolute value corresponding to the measured value measured by the signal processor, based on the reference value. In the electronic measuring device for displaying the magnitude value of the input frequency signal, 상기 기준값 저장부에는 계측 신호의 주파수값과 측정값에 대응되게 기준값이 저장되고,The reference value storage unit stores a reference value corresponding to the frequency value and the measured value of the measurement signal, 사용자가 계측장치의 측정 주파수값을 입력하기 위한 입력부와,An input unit for a user to input a measurement frequency value of the measuring device; 상기 입력부를 통해 입력된 주파수값과 측정값을 근거로 기준값 저장부로부터 기준값을 독출하는 제어부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 전자 계측장치.And a control unit for reading a reference value from the reference value storage unit based on the frequency value and the measured value inputted through the input unit. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 제어부는 연산부를 추가로 구비하여 구성되고,The control unit is configured to further include a calculation unit, 상기 연산부는 기준값 저장부에 저장되는 기준값을 산출하며,The calculation unit calculates a reference value stored in the reference value storage unit, 기준값 산출은 인접하는 2개의 기준값을 근거로 실행하는 것을 특징으로 하는 전자 계측장치.An electronic measuring device, characterized in that the reference value calculation is performed based on two adjacent reference values.
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