KR20080037784A - Glass substrate dimension gauging device - Google Patents
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- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 69
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 56
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 4
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000006060 molten glass Substances 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
Images
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/04—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
- G01B11/043—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring length
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
- G01M11/025—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by determining the shape of the object to be tested
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/38—Concrete; Lime; Mortar; Gypsum; Bricks; Ceramics; Glass
- G01N33/386—Glass
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N2021/0181—Memory or computer-assisted visual determination
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Food Science & Technology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
도 1은 본 발명에 따른 유리치수 측정기에 대한 개략 정면도, 1 is a schematic front view of a glass size measuring device according to the present invention,
도 2는 본 발명에 따른 유리치수 측정기에 대한 개략 측면도, 2 is a schematic side view of a glass size measuring device according to the present invention;
도 3은 본 발명에 따른 유리치수 측정기에 대한 블록구성도이다. 3 is a block diagram of a glass size measuring device according to the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
10 : 운송 시스템 100 : 유리치수 측정기10: transportation system 100: glass size measuring instrument
110(110-1~4) : 광학부 112 : CCD카메라110 (110-1 ~ 4): Optical part 112: CCD camera
114 : 조명수단 120 : 장착프레임114: lighting means 120: mounting frame
130 : 연산제어부 132 : 메모리부130: operation control unit 132: memory unit
134 : 실행프로그램 136 : 디스플레이부134: execution program 136: display unit
140 : 유입감지센서 G : 유리기판 140: inflow detection sensor G: glass substrate
본 발명은 유리치수 측정기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 생산되는 유리기판에 대한 여러 외관치수를 실시간으로 자동 측정할 수 있는 유리치수 측정기에 관한 것이다. The present invention relates to a glass size measuring device, and more particularly, to a glass size measuring device capable of automatically measuring in real time various appearance dimensions for the glass substrate to be produced.
일반적으로, 용융 제조되는 유리기판은 그 생산라인에서 운반 이송되면서 여러 단계의 가공 및 검사과정을 거치게 되는데, 그에 대한 검사는 자체 품질관리를 위한 필요성 및 후속공정으로의 불량품 유입을 사전에 차단하기 위해 필수적으로 실시되게 된다. In general, molten glass substrates are transported from the production line and subjected to various stages of processing and inspection, which are necessary to prevent the need for in-house quality control and inflow of defective products into subsequent processes. It will be implemented.
이러한 검사공정중에는 앞선 공정에서 사각 평판체 형상으로 절단된 유리기판의 여러 외곽치수(가로길이, 세로길이, 대각선방향 길이 및 직각도 등)를 측정하여 원하는 규격으로 이상없이 절단되었는지를 확인하는 것이 있으며, 그 검사방법은 운송 시스템에 의해 연속적으로 순차 이송되는 유리기판이 정지되는 상태에서 수작업으로 직접 치수를 측정하는 방식으로 실시되었으며, 샘플링 검사를 실시하였다. Among these inspection processes, various outer dimensions (horizontal length, vertical length, diagonal length and squareness, etc.) of the glass substrate cut in the shape of a rectangular flat plate in the previous process are measured to check whether they are cut to the desired standard without any abnormality. The inspection method was carried out by manually measuring the dimensions of the glass substrate continuously transported by the transport system, and sampling inspection was performed.
따라서, 수작업에 의하므로 검사시간이 너무 과다하게 소요되고, 측정의 부정확성의 문제가 야기되며, 측정과정에서 유리기판에의 물리적인 접촉이 발생되어 유리기판상에 표면 흠결 등을 발생시킬 우려가 있고, 전수검사를 실시할 수 없다는 등의 문제점이 있었다. Therefore, due to manual work, the inspection time is excessively excessive, causing inaccuracy of measurement, and physical contact with the glass substrate occurs during the measurement process, which may cause surface defects on the glass substrate. There were problems such as the inability to conduct a full inspection.
특히, 최근에는 유리기판의 급속한 대형화에 따라 더더욱 검사시간이 지연되고, 측정작업 자체의 곤란성도 더해졌으며, 측정결과도 더욱 부정확해지고 있는 실정이다. In particular, in recent years, due to the rapid enlargement of the glass substrate, the inspection time is further delayed, the difficulty of the measurement operation itself is added, and the measurement results are becoming more inaccurate.
따라서, 현 시점에서는 유리기판에 대한 여러 치수측정을 실시간으로 신속하게 완료할 수 있고, 또한 물리적인 접촉이 원천적으로 방지되도록 비접촉방식으로 측정가능하며, 정밀하고 정확한 측정데이터를 얻을 수 있는 자동화 장치의 필요성 이 날로 증대되고 있는 상황이다. Therefore, at this time, it is possible to quickly complete various dimensional measurements on glass substrates in real time, and to measure in a non-contact manner so that physical contact is prevented at the source, and to obtain accurate and accurate measurement data. The need is increasing day by day.
본 발명은 상기와 같은 제반 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로서, 유리기판의 여러 외관치수를 비접촉방식으로 신속하게 측정할 수 있고, 정확한 측정데이터를 제공할 수 있는 자동화 장치인 유리치수 측정기를 제공하는데 그 목적이 있다. The present invention was devised to solve the above problems, and provides a glass size measuring device that is an automated device that can quickly measure various appearance dimensions of a glass substrate in a non-contact manner and provide accurate measurement data. The purpose is.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 유리치수 측정기는, 생산라인에서 연속적으로 생산되어 순차적으로 이송되는 투명한 사각 평판체인 유리기판의 여러 외관치수를 실시간으로 자동 측정하기 위한 장치로서, 상기 유리기판이 정지되는 특정위치의 상기 유리기판의 네 모서리부분에 각각 대응되도록 동일 이격거리의 측부에 설치되어 상기 유리기판의 네 모서리부분을 동시에 촬상하게 되는 광학부와, 상기 광학부들에서 동시에 제공되는 촬상정보를 획득하고 상기 촬상정보로부터 상기 유리기판의 네 모서리부분의 위치를 검출한 후 그 검출된 위치정보를 이용한 좌표치 분석과 자체 연산을 통해 상기 유리기판의 치수정보를 구하여 저장하거나 표시하게 되는 연산제어부를 포함한다. Glass dimension measuring device of the present invention for achieving the above object is a device for automatically measuring in real time the various dimensions of the glass substrate is a transparent rectangular flat plate that is continuously produced in the production line and conveyed sequentially, the glass substrate is An optical unit installed at the side of the same separation distance to correspond to the four corner portions of the glass substrate at a specific position to be stopped, and simultaneously photographing the four corner portions of the glass substrate, and the imaging information simultaneously provided by the optical units. Acquiring and detecting the position of the four corners of the glass substrate from the imaging information, and the coordinate control unit using the coordinate position analysis and the self-calculation to obtain the dimensional information of the glass substrate through the calculation and storage or display unit do.
바람직하게, 상기 광학부는, 상기 유리기판의 모서리부분을 촬상하여 그 촬상정보를 전기적인 신호로서 상기 연산제어부로 송출하게 되는 CCD카메라와, 상기 CCD카메라의 촬상시점에서 촬상영역에 대해 조명을 조사하게 되는 조명수단으로 구성되게 된다. Preferably, the optical unit is configured to irradiate illumination with respect to a CCD camera which captures an edge of the glass substrate and transmits the captured image information as an electrical signal to the operation control unit, and an image capturing area at the time of imaging of the CCD camera. It is to be configured as a lighting means.
본 발명의 상기 목적과 여러가지 장점은 이 기술분야에 숙련된 사람들에 의 해 첨부된 도면을 참조하여 아래에 기술되는 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.The above objects and various advantages of the present invention will become more apparent from the preferred embodiments of the invention described below with reference to the accompanying drawings by those skilled in the art.
이하, 첨부된 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 유리치수 측정기에 대한 개략 정면도이고, 도 2는 그 개략 측면도이며, 도 3은 그 블록구성도이다. 1 is a schematic front view of a glass size measuring instrument according to the present invention, FIG. 2 is a schematic side view thereof, and FIG. 3 is a block configuration diagram thereof.
본 발명에 따른 유리치수 측정기(100)는 생산라인에서 연속적으로 생산되어 기립된 상태(또는, 수평된 상태)로 순차적으로 이송되는 투명한 사각 평판체인 유리기판(G)의 여러 외관치수 즉, 가로길이, 세로길이, 대각선방향 길이 및 직각도 등을 실시간으로 측정하게 된다. Glass
이를 위해, 그 구성은, 운송 시스템(10)에 의해 순차적으로 이송되는 유리기판(G)이 정지되게 되는 특정위치의 해당 유리기판(G)의 네 모서리부분에 각각 대응되도록 동일 이격거리(즉, 광학거리)의 측부에 평행되게 구비되어 해당 유리기판(G)의 네 모서리부분을 동시에 촬상하게 되는 광학부(110)와, 이들 광학부(110)에서 동시에 제공되는 촬상정보를 획득하고 해당 촬상정보로부터 해당 유리기판(G)의 네 모서리부분의 위치를 검출한 후 그 검출된 위치정보를 이용한 좌표치 분석과 자체 연산을 통해 해당 유리기판(G)의 치수정보를 구하여 저장하거나 외부에 표시하게 되는 연산제어부(130)를 포함하게 된다. To this end, the configuration is the same separation distance (ie, corresponding to each of the four corners of the glass substrate (G) at a specific position where the glass substrate (G) sequentially transported by the
전술한 광학부(110)는 유리기판(G)의 모서리부분을 각각 촬상하여 그 촬상정 보를 전기적인 신호로서 연산제어부(130)로 송출하게 되는 CCD(Charge Coupled Device)카메라(112)와, 이 CCD카메라(112)의 촬상시점에서 촬상영역에 대해 조명을 조사하게 되는 조명수단(114)으로 구성되게 된다. The above-described
CCD카메라(112)는 잘 알려진 바와 같이, 자체적으로 전하결합소자(CCD)와 함께 렌즈, 조리개와 같은 광학계를 구비하여, 그 렌즈와 조리개를 통해 그 내부로 빛이 전달되면, 전하결합소자는 해당 빛의 강약에 따른 영상을 전기적 신호로 변환하게 된다. As is well known, the
물론, 네개의 광학부(110)는 장착프레임(120)을 통해 각각 해당하는 위치에 견고히 고정되도록 설치되게 된다. Of course, the four
전술한 연산제어부(130)는 자체 분석 및 연산을 통해 얻어지는 치수정보의 결과데이터를 기록하여 저장하기 위한 메모리부(132)를 구비하며, 또한 구해진 해당 치수정보를 외부에 표시하기 위한 디스플레이부(136)를 구비할 수 있다. The aforementioned
그리고, 연산제어부(130)는 CCD카메라(112)로부터 제공되는 촬상정보로부터 피검 유리기판(G)의 네 모서리부분의 위치를 검출하고 그 검출된 위치정보를 이용한 좌표치 분석 및 자체 연산을 통해 해당 유리기판(G)의 치수정보를 구하게 되는 일렬된 과정을 자동으로 실행하기 위한 실행프로그램(134)을 포함하며, 해당 실행프로그램(134)은 그 메모리부(132)의 일부 영역에 할당되도록 기록되어 있을 수 있다. And, the
덧붙여, 본 발명에 따른 유리치수 측정기(100)는 운송 시스템(10)에 의해 이송되어 치수측정을 위한 특정위치측으로 유입되는 유리기판(G)을 앞서 감지하여 측 정준비 신호를 송출할 수 있는 유입감지센서(140)를 별도로 구비할 수 있으며, 해당 유입감지센서(140)는 연산제어부(130)에 연결되도록 구비될 수 있다. In addition, the glass
이상과 같은 구성을 갖는 본 발명에 따른 유리치수 측정기(100)의 작용에 대하여 이하 설명하기로 한다. The operation of the glass size measuring
생산라인에서 연속적으로 생산되어 운송 시스템(10)에 의해 그 상단 에지부가 클램핑되어 기립된 상태로 순차적으로 이송되는 유리기판(G)이 치수측정을 위한 특정위치측으로 유입되면, 유입감지센서(140)가 앞서 해당 유리기판(G)을 감지하여 감지신호를 연산제어부(130)로 송출하게 된다. When the glass substrate G, which is continuously produced in the production line and sequentially conveyed in the state where the upper edge part is clamped by the
이어서, 해당 유리기판(G)은 운송 시스템(10)에 의해 검사위치에서 정확하게 정지되게 되며, 연산제어부(130)는 정지된 해당 유리기판(G)의 네 모서리부분에 각각 대응되도록 측부에 구비되어 있는 네개의 광학부(110)를 통해 해당 유리기판(G)의 네 모서리부분을 동시에 촬상하도록 작동제어하게 된다. Subsequently, the glass substrate G is stopped at the inspection position accurately by the
여기서, 물론 광학부(110)는 연산제어부(130)의 작동제어를 받지 않고 운송 시스템(10)이 정지되는 시점에서 자체적으로 즉시 작동될 수도 있을 것이다. Here, of course, the
즉, 광학부(110)는 그 조명수단(114)에 의해 유리기판(G)의 네 모서리부분의 해당하는 촬상영역으로 조명이 조사되고 있는 상태에서 그 CCD카메라(112)로 해당 유리기판(G)의 모서리부분을 촬상하게 되며, 촬상에 따라 얻어지는 촬상정보를 전기적인 신호로서 연산제어부(130)측으로 즉시 송출하게 된다. That is, the
따라서, 연산제어부(130)는 네개의 CCD카메라(112)로부터 수신되는 촬상정보를 수집하여 획득하고, 그 실행프로그램(134)에 의해 각 촬상정보로부터 유리기 판(G)의 네 모서리부분의 위치를 검출한 후 그 검출된 위치정보를 이용한 좌표치 분석과 자체 연산을 통해 해당 유리기판(G)의 치수정보 즉, 가로길이, 세로길이, 대각선방향 길이 및 직각도 등을 구한 다음, 구해진 해당 치수정보들을 내부의 메모리부(132)에 기록하여 저장하거나 그 디스플레이부(136)를 통해 외부에 표시하게 된다. Therefore, the
물론, 연산제어부(130)는 구해진 치수값이 규격치에서 벗어나는 경우 불량발생을 외부에 즉시 표시하도록 구현될 수도 있을 것이다. Of course, the
그리고, 이상의 CCD카메라(112)에서의 촬상이 완료되는 즉시 운송 시스템(10)이 재차 구동되어 해당 피검 유리기판(G)은 검사위치로부터 언로딩되도록 이송되고, 다음 수순의 유리기판(G)이 검사위치로 이송되어 전술한 검사과정이 재차 반복 실시되게 된다. As soon as the imaging by the above-described
이로써, 생산되는 모든 유리기판(G)에 대하여 실시간으로 매우 신속하면서 정확하게 여러 외관치수를 측정할 수 있게 되는 것이다. As a result, all the glass substrates G produced can be measured in various dimensions in real time very quickly and accurately.
이상, 상기 내용은 본 발명의 바람직한 일 실시예를 단지 예시한 것으로 본 발명의 당업자는 본 발명의 요지를 변경시킴이 없이 본 발명에 대한 수정과 변경을 가할 수 있음을 인지해야 한다.In the foregoing description, it should be understood that those skilled in the art can make modifications and changes to the present invention without changing the gist of the present invention as merely illustrative of a preferred embodiment of the present invention.
본 발명에 따르면, 생산과정에서 유리기판에 대한 치수측정을 자동으로 신속하게 실시할 수 있어 생산성 향상과 원가절감을 기할 수 있고, 비접촉방식으로 측정하므로 유리기판에 손상을 가하지 않아 불량을 발생시키지 않으며, 정확한 측정 이 가능하여 측정데이터의 신뢰성을 제공할 수 있는 등의 효과가 달성될 수 있다. According to the present invention, it is possible to automatically and quickly measure the dimensions of the glass substrate in the production process to improve productivity and reduce the cost, and to measure the non-contact method does not cause damage to the glass substrate does not cause defects For example, an accurate measurement can be performed to provide reliability of the measurement data.
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060104853A KR100855769B1 (en) | 2006-10-27 | 2006-10-27 | Glass substrate dimension gauging device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060104853A KR100855769B1 (en) | 2006-10-27 | 2006-10-27 | Glass substrate dimension gauging device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080037784A true KR20080037784A (en) | 2008-05-02 |
KR100855769B1 KR100855769B1 (en) | 2008-09-01 |
Family
ID=39646679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060104853A KR100855769B1 (en) | 2006-10-27 | 2006-10-27 | Glass substrate dimension gauging device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100855769B1 (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114102619A (en) * | 2021-11-19 | 2022-03-01 | 扬州大学 | Intelligent curtain wall maintenance robot and control method thereof |
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-
2006
- 2006-10-27 KR KR1020060104853A patent/KR100855769B1/en not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100855769B1 (en) | 2008-09-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130612 Year of fee payment: 6 |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140711 Year of fee payment: 7 |
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LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |