KR100855769B1 - Glass substrate dimension gauging device - Google Patents

Glass substrate dimension gauging device Download PDF

Info

Publication number
KR100855769B1
KR100855769B1 KR1020060104853A KR20060104853A KR100855769B1 KR 100855769 B1 KR100855769 B1 KR 100855769B1 KR 1020060104853 A KR1020060104853 A KR 1020060104853A KR 20060104853 A KR20060104853 A KR 20060104853A KR 100855769 B1 KR100855769 B1 KR 100855769B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
glass substrate
dimensions
measuring
information
corners
Prior art date
Application number
KR1020060104853A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20080037784A (en
Inventor
송구회
문상호
김경은
Original Assignee
삼성코닝정밀유리 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성코닝정밀유리 주식회사 filed Critical 삼성코닝정밀유리 주식회사
Priority to KR1020060104853A priority Critical patent/KR100855769B1/en
Publication of KR20080037784A publication Critical patent/KR20080037784A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100855769B1 publication Critical patent/KR100855769B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/04—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
    • G01B11/043—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring length
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
    • G01M11/025—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by determining the shape of the object to be tested
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/38—Concrete; ceramics; glass; bricks
    • G01N33/386—Glass
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N2021/0181—Memory or computer-assisted visual determination

Abstract

본 발명은 유리기판의 치수 측정장치에 관한 것이다. The present invention relates to an apparatus for measuring dimensions of glass substrates.

본 발명은, 생산라인에서 연속적으로 생산되어 순차적으로 이송되는 투명한 사각 평판체인 유리기판의 여러 외관치수를 실시간으로 자동 측정하기 위한 장치로서, 상기 유리기판이 정지되는 특정위치의 상기 유리기판의 네 모서리부분에 각각 대응되도록 동일 이격거리의 측부에 설치되어 상기 유리기판의 네 모서리부분을 동시에 촬상하게 되는 광학부와, 상기 광학부들에서 동시에 제공되는 촬상정보를 획득하고 상기 촬상정보로부터 상기 유리기판의 네 모서리부분의 위치를 검출한 후 그 검출된 위치정보를 이용한 좌표치 분석과 자체 연산을 통해 상기 유리기판의 치수정보를 구하여 저장하거나 표시하게 되는 연산제어부를 포함한다. The present invention is a device for automatically measuring in real time the various dimensions of the glass substrate is a transparent rectangular flat plate that is continuously produced in the production line and conveyed sequentially, the four corners of the glass substrate at a specific position where the glass substrate is stopped An optical part installed at the side of the same separation distance corresponding to each of the parts to simultaneously capture the four corners of the glass substrate, and obtaining imaging information provided simultaneously from the optical parts, After detecting the position of the corner portion includes a calculation control unit for obtaining and storing or displaying the dimensional information of the glass substrate through coordinate value analysis and self-calculation using the detected position information.

따라서, 생산과정에서 유리기판에 대한 치수측정을 자동으로 신속하게 실시할 수 있어 생산성 향상과 원가절감을 기할 수 있고, 비접촉방식으로 측정하므로 유리기판에 손상을 가하지 않아 불량을 발생시키지 않으며, 정확한 측정이 가능하여 측정데이터의 신뢰성을 제공할 수 있는 등의 효과가 있다.Therefore, it is possible to automatically and quickly measure the dimensions of the glass substrate in the production process, thereby improving productivity and reducing the cost, and measuring by the non-contact method does not damage the glass substrate and does not cause defects. This is possible to provide the reliability of the measurement data and the like.

유리, 기판, 평판, 패널, 치수, 외관, 측정, CCD카메라, 광학 Glass, substrate, flat panel, panel, dimensions, appearance, measurement, CCD camera, optics

Description

유리기판의 치수 측정장치{GLASS SUBSTRATE DIMENSION GAUGING DEVICE}GLASS SUBSTRATE DIMENSION GAUGING DEVICE

도 1은 본 발명에 따른 유리기판의 치수 측정장치에 대한 개략 정면도, 1 is a schematic front view of an apparatus for measuring a dimension of a glass substrate according to the present invention;

도 2는 본 발명에 따른 유리기판의 치수 측정장치에 대한 개략 측면도, 2 is a schematic side view of an apparatus for measuring a dimension of a glass substrate according to the present invention;

도 3은 본 발명에 따른 유리기판의 치수 측정장치에 대한 블록구성도이다. 3 is a block diagram of an apparatus for measuring a dimension of a glass substrate according to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10 : 운송 시스템 100 : 유리기판의 치수 측정장치10: transportation system 100: measuring device of the glass substrate

110(110-1~4) : 광학부 112 : CCD카메라110 (110-1 ~ 4): Optical part 112: CCD camera

114 : 조명수단 120 : 장착프레임114: lighting means 120: mounting frame

130 : 연산제어부 132 : 메모리부130: operation control unit 132: memory unit

134 : 실행프로그램 136 : 디스플레이부134: execution program 136: display unit

140 : 유입감지센서 G : 유리기판 140: inflow detection sensor G: glass substrate

본 발명은 유리기판의 치수 측정장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 생산되는 유리기판에 대한 여러 외관치수를 실시간으로 자동 측정할 수 있는 유리기판의 치수 측정장치에 관한 것이다. The present invention relates to an apparatus for measuring dimensions of a glass substrate, and more particularly, to an apparatus for measuring dimensions of a glass substrate capable of automatically measuring various appearance dimensions of a glass substrate to be produced in real time.

일반적으로, 용융 제조되는 유리기판은 그 생산라인에서 운반 이송되면서 여러 단계의 가공 및 검사과정을 거치게 되는데, 그에 대한 검사는 자체 품질관리를 위한 필요성 및 후속공정으로의 불량품 유입을 사전에 차단하기 위해 필수적으로 실시되게 된다. In general, molten glass substrates are transported from the production line and subjected to various stages of processing and inspection, which are necessary to prevent the need for in-house quality control and inflow of defective products into subsequent processes. It will be implemented.

이러한 검사공정중에는 앞선 공정에서 사각 평판체 형상으로 절단된 유리기판의 여러 외곽치수(가로길이, 세로길이, 대각선방향 길이 및 직각도 등)를 측정하여 원하는 규격으로 이상없이 절단되었는지를 확인하는 것이 있으며, 그 검사방법은 운송 시스템에 의해 연속적으로 순차 이송되는 유리기판이 정지되는 상태에서 수작업으로 직접 치수를 측정하는 방식으로 실시되었으며, 샘플링 검사를 실시하였다. Among these inspection processes, various outer dimensions (horizontal length, vertical length, diagonal length and squareness, etc.) of the glass substrate cut in the shape of a rectangular flat plate in the previous process are measured to check whether they are cut to the desired standard without any abnormality. The inspection method was carried out by manually measuring the dimensions of the glass substrate continuously transported by the transport system, and sampling inspection was performed.

따라서, 수작업에 의하므로 검사시간이 너무 과다하게 소요되고, 측정의 부정확성의 문제가 야기되며, 측정과정에서 유리기판에의 물리적인 접촉이 발생되어 유리기판상에 표면 흠결 등을 발생시킬 우려가 있고, 전수검사를 실시할 수 없다는 등의 문제점이 있었다. Therefore, due to manual work, the inspection time is excessively excessive, causing inaccuracy of measurement, and physical contact with the glass substrate occurs during the measurement process, which may cause surface defects on the glass substrate. There were problems such as the inability to conduct a full inspection.

특히, 최근에는 유리기판의 급속한 대형화에 따라 더더욱 검사시간이 지연되고, 측정작업 자체의 곤란성도 더해졌으며, 측정결과도 더욱 부정확해지고 있는 실정이다. In particular, in recent years, due to the rapid enlargement of the glass substrate, the inspection time is further delayed, the difficulty of the measurement operation itself is added, and the measurement results are becoming more inaccurate.

따라서, 현 시점에서는 유리기판에 대한 여러 치수측정을 실시간으로 신속하게 완료할 수 있고, 또한 물리적인 접촉이 원천적으로 방지되도록 비접촉방식으로 측정가능하며, 정밀하고 정확한 측정데이터를 얻을 수 있는 자동화 장치의 필요성 이 날로 증대되고 있는 상황이다. Therefore, at this time, it is possible to quickly complete various dimensional measurements on glass substrates in real time, and to measure in a non-contact manner so that physical contact is prevented at the source, and to obtain accurate and accurate measurement data. The need is increasing day by day.

본 발명은 상기와 같은 제반 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로서, 유리기판의 여러 외관치수를 비접촉방식으로 신속하게 측정할 수 있고, 정확한 측정데이터를 제공할 수 있는 자동화 장치인 유리기판의 치수 측정장치를 제공하는데 그 목적이 있다. The present invention was devised to solve the above problems, and it is possible to quickly measure various external dimensions of the glass substrate in a non-contact manner, and it is an automatic device capable of providing accurate measurement data. The purpose is to provide.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 유리기판의 치수 측정장치는, 생산라인에서 연속적으로 생산되어 순차적으로 이송되는 투명한 사각 평판체인 유리기판의 여러 외관치수를 실시간으로 자동 측정하기 위한 장치로서, 상기 유리기판이 정지되는 특정위치의 상기 유리기판의 네 모서리부분에 각각 대응되도록 동일 이격거리의 측부에 설치되어 상기 유리기판의 네 모서리부분을 동시에 촬상하게 되는 광학부와, 상기 광학부들에서 동시에 제공되는 촬상정보를 획득하고 상기 촬상정보로부터 상기 유리기판의 네 모서리부분의 위치를 검출한 후 그 검출된 위치정보를 이용한 좌표치 분석과 자체 연산을 통해 상기 유리기판의 치수정보를 구하여 저장하거나 표시하게 되는 연산제어부를 포함한다. Dimension measuring apparatus of the glass substrate of the present invention for achieving the above object, as a device for real-time automatic measurement of the various appearance dimensions of the glass substrate is a transparent rectangular flat plate that is continuously produced and sequentially transported in the production line, An optical unit which is installed at sides of the same separation distance so as to correspond to four corner portions of the glass substrate at a specific position at which the glass substrate is stopped, and simultaneously photographs the four corner portions of the glass substrate; Acquisition of image information, the position of the four corners of the glass substrate from the image information to detect the coordinates using the detected position information and calculation to obtain the dimension information of the glass substrate through the self-calculation operation to save or display It includes a control unit.

바람직하게, 상기 광학부는, 상기 유리기판의 모서리부분을 촬상하여 그 촬상정보를 전기적인 신호로서 상기 연산제어부로 송출하게 되는 CCD카메라와, 상기 CCD카메라의 촬상시점에서 촬상영역에 대해 조명을 조사하게 되는 조명수단으로 구성되게 된다. Preferably, the optical unit is configured to irradiate illumination with respect to a CCD camera which captures an edge of the glass substrate and transmits the captured image information as an electrical signal to the operation control unit, and an image capturing area at the time of imaging of the CCD camera. It is to be configured as a lighting means.

본 발명의 상기 목적과 여러가지 장점은 이 기술분야에 숙련된 사람들에 의 해 첨부된 도면을 참조하여 아래에 기술되는 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.The above objects and various advantages of the present invention will become more apparent from the preferred embodiments of the invention described below with reference to the accompanying drawings by those skilled in the art.

이하, 첨부된 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 유리기판의 치수 측정장치에 대한 개략 정면도이고, 도 2는 그 개략 측면도이며, 도 3은 그 블록구성도이다. 1 is a schematic front view of an apparatus for measuring dimensions of a glass substrate according to the present invention, FIG. 2 is a schematic side view thereof, and FIG. 3 is a block configuration diagram thereof.

본 발명에 따른 유리기판의 치수 측정장치(100)는 생산라인에서 연속적으로 생산되어 기립된 상태(또는, 수평된 상태)로 순차적으로 이송되는 투명한 사각 평판체인 유리기판(G)의 여러 외관치수 즉, 가로길이, 세로길이, 대각선방향 길이 및 직각도 등을 실시간으로 측정하게 된다. Dimension measuring apparatus 100 of the glass substrate according to the present invention is a series of appearance dimensions of the glass substrate (G) is a transparent rectangular flat plate that is continuously produced in the production line and conveyed in a standing state (or horizontal) sequentially , Length, length, diagonal length and squareness are measured in real time.

이를 위해, 그 구성은, 운송 시스템(10)에 의해 순차적으로 이송되는 유리기판(G)이 정지되게 되는 특정위치의 해당 유리기판(G)의 네 모서리부분에 각각 대응되도록 동일 이격거리(즉, 광학거리)의 측부에 평행되게 구비되어 해당 유리기판(G)의 네 모서리부분을 동시에 촬상하게 되는 광학부(110)와, 이들 광학부(110)에서 동시에 제공되는 촬상정보를 획득하고 해당 촬상정보로부터 해당 유리기판(G)의 네 모서리부분의 위치를 검출한 후 그 검출된 위치정보를 이용한 좌표치 분석과 자체 연산을 통해 해당 유리기판(G)의 치수정보를 구하여 저장하거나 외부에 표시하게 되는 연산제어부(130)를 포함하게 된다. To this end, the configuration is the same separation distance (ie, corresponding to each of the four corners of the glass substrate (G) at a specific position where the glass substrate (G) sequentially transported by the transport system 10 is stopped An optical unit 110 that is provided in parallel with the side of the optical distance and simultaneously captures the four corners of the glass substrate G, and acquires the imaging information simultaneously provided by the optical unit 110, and acquires the corresponding imaging information. After calculating the position of the four corners of the glass substrate (G) from the coordinate calculation using the detected position information and its calculations to obtain the dimension information of the glass substrate (G) to save or display to the outside The controller 130 will be included.

전술한 광학부(110)는 유리기판(G)의 모서리부분을 각각 촬상하여 그 촬상정 보를 전기적인 신호로서 연산제어부(130)로 송출하게 되는 CCD(Charge Coupled Device)카메라(112)와, 이 CCD카메라(112)의 촬상시점에서 촬상영역에 대해 조명을 조사하게 되는 조명수단(114)으로 구성되게 된다. The above-described optical unit 110 is a CCD (Charge Coupled Device) camera 112 for capturing each corner portion of the glass substrate (G) and sending the image information to the operation control unit 130 as an electrical signal, and It is composed of a lighting means 114 for irradiating the illumination to the imaging area at the time of imaging the CCD camera 112.

CCD카메라(112)는 잘 알려진 바와 같이, 자체적으로 전하결합소자(CCD)와 함께 렌즈, 조리개와 같은 광학계를 구비하여, 그 렌즈와 조리개를 통해 그 내부로 빛이 전달되면, 전하결합소자는 해당 빛의 강약에 따른 영상을 전기적 신호로 변환하게 된다. As is well known, the CCD camera 112 has an optical system, such as a lens and an aperture, together with a charge coupling element (CCD) itself, and when light is transmitted to the inside through the lens and the aperture, the charge coupling element corresponds to the corresponding element. The image of the intensity of light is converted into an electrical signal.

물론, 네개의 광학부(110)는 장착프레임(120)을 통해 각각 해당하는 위치에 견고히 고정되도록 설치되게 된다. Of course, the four optical unit 110 is installed to be firmly fixed to the corresponding position through the mounting frame 120, respectively.

전술한 연산제어부(130)는 자체 분석 및 연산을 통해 얻어지는 치수정보의 결과데이터를 기록하여 저장하기 위한 메모리부(132)를 구비하며, 또한 구해진 해당 치수정보를 외부에 표시하기 위한 디스플레이부(136)를 구비할 수 있다. The aforementioned operation control unit 130 includes a memory unit 132 for recording and storing the result data of the dimension information obtained through self analysis and calculation, and also a display unit 136 for displaying the obtained dimension information to the outside. ) May be provided.

그리고, 연산제어부(130)는 CCD카메라(112)로부터 제공되는 촬상정보로부터 피검 유리기판(G)의 네 모서리부분의 위치를 검출하고 그 검출된 위치정보를 이용한 좌표치 분석 및 자체 연산을 통해 해당 유리기판(G)의 치수정보를 구하게 되는 일렬된 과정을 자동으로 실행하기 위한 실행프로그램(134)을 포함하며, 해당 실행프로그램(134)은 그 메모리부(132)의 일부 영역에 할당되도록 기록되어 있을 수 있다. And, the operation control unit 130 detects the position of the four corners of the glass substrate (G) to be detected from the imaging information provided from the CCD camera 112, and the corresponding glass through the coordinate value analysis and self-calculation using the detected position information And an execution program 134 for automatically executing a series of processes for obtaining the dimension information of the substrate G. The execution program 134 may be recorded so as to be allocated to a partial area of the memory unit 132. Can be.

덧붙여, 본 발명에 따른 유리기판의 치수 측정장치(100)는 운송 시스템(10)에 의해 이송되어 치수측정을 위한 특정위치측으로 유입되는 유리기판(G)을 앞서 감지하여 측정준비 신호를 송출할 수 있는 유입감지센서(140)를 별도로 구비할 수 있으며, 해당 유입감지센서(140)는 연산제어부(130)에 연결되도록 구비될 수 있다. In addition, the apparatus 100 for measuring the size of a glass substrate according to the present invention may detect a glass substrate G which is transferred by the transport system 10 and flows into a specific position for dimension measurement, and transmits a measurement ready signal. The inflow detection sensor 140 may be provided separately, and the inflow detection sensor 140 may be provided to be connected to the operation control unit 130.

이상과 같은 구성을 갖는 본 발명에 따른 유리기판의 치수 측정장치(100)의 작용에 대하여 이하 설명하기로 한다. The operation of the dimension measuring apparatus 100 of the glass substrate according to the present invention having the above configuration will be described below.

생산라인에서 연속적으로 생산되어 운송 시스템(10)에 의해 그 상단 에지부가 클램핑되어 기립된 상태로 순차적으로 이송되는 유리기판(G)이 치수측정을 위한 특정위치측으로 유입되면, 유입감지센서(140)가 앞서 해당 유리기판(G)을 감지하여 감지신호를 연산제어부(130)로 송출하게 된다. When the glass substrate G, which is continuously produced in the production line and sequentially conveyed in the state where the upper edge part is clamped by the transportation system 10 and stands up, is introduced to the specific position for dimension measurement, the inflow detection sensor 140 Is previously detected by the glass substrate (G) to send a detection signal to the operation control unit 130.

이어서, 해당 유리기판(G)은 운송 시스템(10)에 의해 검사위치에서 정확하게 정지되게 되며, 연산제어부(130)는 정지된 해당 유리기판(G)의 네 모서리부분에 각각 대응되도록 측부에 구비되어 있는 네개의 광학부(110)를 통해 해당 유리기판(G)의 네 모서리부분을 동시에 촬상하도록 작동제어하게 된다. Subsequently, the glass substrate G is stopped at the inspection position accurately by the transportation system 10, and the operation control unit 130 is provided at the side portions so as to correspond to four corner portions of the stopped glass substrate G, respectively. Through the four optical unit 110, the four corners of the glass substrate (G) is controlled to operate at the same time.

여기서, 물론 광학부(110)는 연산제어부(130)의 작동제어를 받지 않고 운송 시스템(10)이 정지되는 시점에서 자체적으로 즉시 작동될 수도 있을 것이다. Here, of course, the optical unit 110 may be immediately activated by itself when the transportation system 10 is stopped without the operation control of the operation control unit 130.

즉, 광학부(110)는 그 조명수단(114)에 의해 유리기판(G)의 네 모서리부분의 해당하는 촬상영역으로 조명이 조사되고 있는 상태에서 그 CCD카메라(112)로 해당 유리기판(G)의 모서리부분을 촬상하게 되며, 촬상에 따라 얻어지는 촬상정보를 전기적인 신호로서 연산제어부(130)측으로 즉시 송출하게 된다. That is, the optical unit 110 is irradiated to the corresponding imaging area of the four corners of the glass substrate G by the illumination means 114 to the corresponding glass substrate G with the CCD camera 112. The edge portion of the image is taken, and the imaging information obtained by the imaging is immediately sent to the operation control unit 130 as an electrical signal.

따라서, 연산제어부(130)는 네개의 CCD카메라(112)로부터 수신되는 촬상정보를 수집하여 획득하고, 그 실행프로그램(134)에 의해 각 촬상정보로부터 유리기 판(G)의 네 모서리부분의 위치를 검출한 후 그 검출된 위치정보를 이용한 좌표치 분석과 자체 연산을 통해 해당 유리기판(G)의 치수정보 즉, 가로길이, 세로길이, 대각선방향 길이 및 직각도 등을 구한 다음, 구해진 해당 치수정보들을 내부의 메모리부(132)에 기록하여 저장하거나 그 디스플레이부(136)를 통해 외부에 표시하게 된다. Therefore, the operation control unit 130 collects and acquires the imaging information received from the four CCD cameras 112, and the position of the four corners of the glass substrate G from the respective imaging information by the execution program 134. After the detection, the coordinate value analysis and self-calculation using the detected position information are performed to obtain the dimension information of the glass substrate G, ie, the length, length, diagonal length and perpendicularity, and then the corresponding dimension information is obtained. The data is recorded and stored in the internal memory unit 132 or displayed externally through the display unit 136.

물론, 연산제어부(130)는 구해진 치수값이 규격치에서 벗어나는 경우 불량발생을 외부에 즉시 표시하도록 구현될 수도 있을 것이다. Of course, the operation control unit 130 may be implemented to immediately display the occurrence of a failure when the obtained dimension value is out of the standard value.

그리고, 이상의 CCD카메라(112)에서의 촬상이 완료되는 즉시 운송 시스템(10)이 재차 구동되어 해당 피검 유리기판(G)은 검사위치로부터 언로딩되도록 이송되고, 다음 수순의 유리기판(G)이 검사위치로 이송되어 전술한 검사과정이 재차 반복 실시되게 된다. As soon as the imaging by the above-described CCD camera 112 is completed, the transportation system 10 is driven again so that the inspection glass substrate G is unloaded from the inspection position, and the glass substrate G of the next procedure is transferred. The inspection process is transferred to the inspection position and is repeatedly performed.

이로써, 생산되는 모든 유리기판(G)에 대하여 실시간으로 매우 신속하면서 정확하게 여러 외관치수를 측정할 수 있게 되는 것이다. As a result, all the glass substrates G produced can be measured in various dimensions in real time very quickly and accurately.

이상, 상기 내용은 본 발명의 바람직한 일 실시예를 단지 예시한 것으로 본 발명의 당업자는 본 발명의 요지를 변경시킴이 없이 본 발명에 대한 수정과 변경을 가할 수 있음을 인지해야 한다.In the foregoing description, it should be understood that those skilled in the art can make modifications and changes to the present invention without changing the gist of the present invention as merely illustrative of a preferred embodiment of the present invention.

본 발명에 따르면, 생산과정에서 유리기판에 대한 치수측정을 자동으로 신속하게 실시할 수 있어 생산성 향상과 원가절감을 기할 수 있고, 비접촉방식으로 측정하므로 유리기판에 손상을 가하지 않아 불량을 발생시키지 않으며, 정확한 측정 이 가능하여 측정데이터의 신뢰성을 제공할 수 있는 등의 효과가 달성될 수 있다. According to the present invention, it is possible to automatically and quickly measure the dimensions of the glass substrate in the production process to improve productivity and reduce the cost, and to measure the non-contact method does not cause damage to the glass substrate does not cause defects For example, an accurate measurement can be performed to provide reliability of the measurement data.

Claims (3)

생산라인에서 연속적으로 생산되어 운송 시스템에 의해 일면이 클램프되어 순차적으로 수직으로 이송되는 투명한 사각 평판체인 유리기판의 여러 외관치수를 실시간으로 자동 측정하기 위한 장치로서,As a device for automatically measuring in real time the various dimensions of the glass substrate, which is a transparent rectangular flat plate which is continuously produced in the production line and clamped on one side by a transport system and sequentially transferred vertically, 상기 수직 이송되는 유리기판의 치수를 측정하기 위한 측정위치의 전면에 설치된 장착 프레임과, A mounting frame installed at the front of the measurement position for measuring the dimensions of the vertically transported glass substrate, 상기 유리기판의 네 모서리부분을 동시에 촬상하여 그 촬상정보를 전기적인 신호로 변환하는 CCD 카메라와, 상기 CCD 카메라의 촬상시점에서 촬상영역에 대해 조명을 조사하게 되는 조명수단을 포함하되, 상기 검사위치에 위치된 유리기판의 네 모서리부분에 각각 대응되도록 상기 장착 프레임에 설치되는 광학부와, A CCD camera for simultaneously imaging four corners of the glass substrate and converting the imaging information into an electrical signal, and illumination means for irradiating illumination to the imaging area at the time of imaging of the CCD camera, wherein the inspection position An optical unit installed in the mounting frame so as to correspond to four corner portions of the glass substrate positioned at 상기 광학부들의 각 CCD 카메라가 제공하는 전기적인 신호로 부터 상기 유리기판의 네 모서리부분의 위치를 검출한 후 그 검출된 위치정보를 이용한 좌표치 분석과 자체 연산을 통해 상기 유리기판의 치수정보를 구하는 실행프로그램을 포함하여, 구해진 상기 유리기판의 치수정보를 저장하거나 표시하게 되는 연산제어부를 포함하는 유리기판의 치수 측정장치. Detecting the position of the four corners of the glass substrate from the electrical signals provided by the CCD cameras of the optical units, and obtaining the dimension information of the glass substrate through coordinate value analysis and self-calculation using the detected position information. And an operation control unit for storing or displaying the obtained dimension information of the glass substrate, including an execution program. 삭제delete 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 치수정보는, The dimension information, 가로길이, 세로길이, 대각선방향 길이 또는 직각도 중에서 선택되는 것인 것을 특징으로 하는 유리기판의 치수 측정장치. Dimension measuring apparatus of the glass substrate, characterized in that selected from the horizontal length, length, diagonal length or right angle.
KR1020060104853A 2006-10-27 2006-10-27 Glass substrate dimension gauging device KR100855769B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060104853A KR100855769B1 (en) 2006-10-27 2006-10-27 Glass substrate dimension gauging device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060104853A KR100855769B1 (en) 2006-10-27 2006-10-27 Glass substrate dimension gauging device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080037784A KR20080037784A (en) 2008-05-02
KR100855769B1 true KR100855769B1 (en) 2008-09-01

Family

ID=39646679

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060104853A KR100855769B1 (en) 2006-10-27 2006-10-27 Glass substrate dimension gauging device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100855769B1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114102619B (en) * 2021-11-19 2023-10-03 扬州大学 Intelligent curtain wall maintenance robot and control method thereof

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000019784A (en) * 1998-09-15 2000-04-15 김광호 System for measuring slab size
KR20000074246A (en) * 1999-05-19 2000-12-15 이구택 Method of measuring width of slab using ccd camera
KR20040005013A (en) * 2002-07-08 2004-01-16 삼성코닝정밀유리 주식회사 System for inspecting edge of glass substrate
KR20050082639A (en) * 2004-02-19 2005-08-24 태화일렉트론(주) Position compensator in removal for glass processing

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000019784A (en) * 1998-09-15 2000-04-15 김광호 System for measuring slab size
KR20000074246A (en) * 1999-05-19 2000-12-15 이구택 Method of measuring width of slab using ccd camera
KR20040005013A (en) * 2002-07-08 2004-01-16 삼성코닝정밀유리 주식회사 System for inspecting edge of glass substrate
KR20050082639A (en) * 2004-02-19 2005-08-24 태화일렉트론(주) Position compensator in removal for glass processing

Also Published As

Publication number Publication date
KR20080037784A (en) 2008-05-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106468668B (en) Industrial camera cylinder detection method
JP7058624B2 (en) Electrical equipment inspection equipment
CN103674976A (en) Optical detection method and system for cellular array type long and thin through holes
CN111610190B (en) Appearance inspection device for household appliances
CN204027528U (en) A kind of vision inspection apparatus
KR100855769B1 (en) Glass substrate dimension gauging device
KR100662209B1 (en) Vision and luminance detection system for back light unit
JPWO2012153718A1 (en) Glass sheet end face inspection method and glass sheet end face inspection apparatus
CN103091332B (en) Detection method and detection system of U-shaped powder pipe based on machine vision
CN210720179U (en) Rechecking camera focusing and ranging device and glass rechecking equipment
CN104180772A (en) Visual inspection device
CN203587517U (en) Capturing device for capturing object image and image detection device
JP5702634B2 (en) Camera resolution automatic measurement method, automatic adjustment method, and image inspection method and apparatus
CN205655799U (en) Metal sheet surface detection device that can adjusting position
KR20200046149A (en) Area-based vision testing device
JP5758474B2 (en) Sitting posture determination device for semiconductor package test
US20220021813A1 (en) Workpiece inspection device and workpiece inspection method
KR20110109576A (en) Method for inspecting defect of display panel glass
KR100710703B1 (en) Inspection system for a measuring plating line width of semiconductor reed frame and thereof method
CN201218722Y (en) Optical detector for printed circuit board
JP2001241921A (en) Method of measuring size of sheet glass
CN205580384U (en) Metal sheet surface detection device
JP2019178933A (en) Defect inspection system and defect inspection method
CN115388778B (en) Computer screen quality control device
WO2021261302A1 (en) Defect inspection device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130612

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140711

Year of fee payment: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee