KR20070103198A

KR20070103198A - 광픽업 장치

Info

Publication number: KR20070103198A
Application number: KR1020060034999A
Authority: KR
Inventors: 임부빈
Original assignee: 엘지전자 주식회사
Priority date: 2006-04-18
Filing date: 2006-04-18
Publication date: 2007-10-23
Also published as: US8045427B2; CN100552782C; CN101059969A; US20070242574A1

Abstract

본 발명은 광저장매체의 기록/미기록 영역에 진입되는 시간의 차이, 내외주 축상에서 비축배치되는 경우의 대물렌즈의 위치 차이에 영향 받지 않고 오프셋 성분을 효과적으로 제거하는 광픽업 장치에 관한 것으로서, 본 발명에 의한 광픽업 장치는 빔을 방출하는 광원; 상기 빔이 광저장매체에 반사되어 분기된 회절광들의 원형(Baseball) 패턴 중 서브 빔의 원형 패턴 영역, 메인 빔의 원형 패턴과 상기 서브 빔의 원형 패턴이 중첩되는 영역의 신호는 제외되도록 격자 패턴이 형성된 회절 격자; 상기 빔 또는 회절광을 투과 또는 반사시키는 빔스플리터; 상기 빔스플리터에서 투과된 빔을 상기 광저장매체로 집광시키는 제1렌즈; 상기 광 디스크에서 반사된 빔에 대해 비점을 발생시키는 제2렌즈; 및 상기 제2렌즈를 통과한 광이 입사되면 트랙제어신호를 검출하는 광검출수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 의하면, 대물렌즈가 광저장매체의 내외주를 잇는 축상에서 비축배치되는 경우 푸쉬풀 신호의 오프셋 성분을 제거할 수 있으며, 특히 미기록/기록 경계역에서 넓게 발생되는 오프셋 성분을 효율적으로 제거할 수 있는 효과가 있다. 또한, 상이한 트랙구조 상에서, 대물렌즈의 변위, 서브빔의 트랙 상 위치 에러 등의 변수에 영향을 받지 않고, DPP 레벨 및 광효율의 저하없이 오프셋 성분을 제거할 수 있는 효과가 있다.

Description

광픽업 장치{Apparatus for optical pick-up}

도 1은 광 디스크의 랜드/그루브 구조를 설명하는 도면.

도 2는 일반적인 광픽업 장치에 장착된 광저장매체 및 광저장매체 상에서의 렌즈 위치를 예시적으로 도시한 도면.

도 3은 종래 DPP 방법에 의하여 발생되는 푸쉬풀 신호를 예시적으로 도시한 그래프.

도 4는 종래의 다분할 회절격자의 형태를 예시적으로 도시한 정면도.

도 5는 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치의 구성 요소를 개략적으로 도시한 도면.

도 6은 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치에 장착된 광저장매체에 의하여 빔이 분기되는 형태를 예시적으로 도시한 도면.

도 7은 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치에 의하여 분기된 빔들이 이루는 원형 패턴을 예시적으로 도시한 도면.

도 8은 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치에 구비되는 회절 격자의 제1실시예 형태를 예시적으로 도시한 정면도.

도 9는 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치에 구비되는 회절 격자의 제2실시예 형태를 예시적으로 도시한 정면도.

도 10은 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치에 구비되는 회절 격자의 제3실시예 형태를 예시적으로 도시한 정면도.

도 11은 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치의 회절 격자 구조에 의하여 생성되는 푸쉬풀 신호를 예시적으로 도시한 그래프.

도 12는 종래 광픽업 장치 상에서 광저장매체의 미기록/기록 구간에서의 3개 빔이 배치되는 형태를 예시적으로 도시한 도면.

도 13은 광저장매체의 미기록/기록 구간에서 대물렌즈가 레디얼축 방향으로 변위되는 경우 발생된 오프셋 성분을 도시한 그래프.

도 14는 종래 광픽업 장치의 광저장매체의 미기록/기록 구간에서의 3개 빔이 배치되는 형태 및 서브빔 에러에 의한 오프셋 성분을 예시적으로 도시한 도면.

도 15는 종래 광픽업 장치의 광저장매체의 미기록/기록 구간에서의 3개 빔이 배치되는 형태 및 서브빔 에러, 대물렌즈 변위에 의한 오프셋 성분을 예시적으로 도시한 도면.

도 16은 종래 광픽업 장치 중 광저장매체 상에 3개 빔이 비축배치되는 형태를 예시적으로 도시한 도면.

도 17은 광저장매체의 미기록/기록 구간에서 3개 빔이 비축배치되고, 대물렌즈 변위에 의하여 발생된 오프셋 성분을 도시한 그래프.

도 18은 대물렌즈 변위 서브빔 편차의 동일 조건을 가정하고, 본 발명의 실시예에 따른 광픽업 장치 및 종래 광픽업 장치 상에서 발생되는 오프셋 성분을 예시적으로 도시한 그래프.

도 19는 본 발명의 제2실시예에 따른 광픽업 장치의 구성 요소를 개략적으로 도시한 도면.

〈도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉

100, 200: 제1,2 실시예에 따른 광픽업 장치

110, 210: 광원 120, 220: 컬리메이터 렌즈

130, 230: 빔스플리터 140, 240: 회절 격자

140a, 140b, 140c: 제1,2,3 실시예에 따른 회절 격자

150: 파장판 160, 260: 집광렌즈

170, 270: 광검출수단 180, 280: 광저장매체

본 발명은 광픽업 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 3개 이상으로 분기된 광신호가 광저장매체의 트랙 상에서 비축배치되는 경우 기록/미기록 구간에서 발생되는 오프셋 성분을 최소화하는 광픽업 장치에 관한 것이다.

광디스크와 같은 광저장매체는 광학적인 특성을 이용하여 정보를 기록, 재생하는 제품으로 일반적으로 작은 원판형상을 가지며, 드라이버에 장착된 후 드라이버 내부의 광픽업 장치에 의하여 정보가 재생되거나 기록된다.

광저장매체로는 CD(Compact disc), DVD(Digital Versatile Disc), BD(Blu-ray Disc) 등을 들 수 있으며, 가령, DVD는 DVD-RW, DVD+RW, DVD-RAM 등의 여러가 지 스펙을 가지는 등 광저장매체의 종류는 다양해져 가는 추세이다.

도 1은 광 디스크의 랜드/그루브 구조를 설명하는 도면이다.

도 1에 도시된 것처럼, 광저장매체들은 랜드(Land)/그루브(Groove) 구조 상에 데이터가 기록되는데, 예를 들어 DVD-RW 및 DVD+RW는 그루브(11)에 데이터가 기록되고 DVD-RAM은 랜드(10)와 그루브(11)에 데이터가 기록되며, 광저장매체의 종류에 따라 랜드(10)와 그루브(11)의 간격에 차이가 있다. DVD+RW 및 DVD-RW의 경우 랜드(10)와 랜드(10) 사이의 간격, 즉 데이터가 기록되는 한 주기인 트랙 피치(track pitch)의 값이 0.74㎛이고, 랜드(10)와 그루브(11)의 간격은 0.37㎛이다.

그리고, DVD-RAM의 경우 랜드(10)와 랜드(10) 사이의 간격이 1.23㎛이고, 랜드(10)와 그루브(11)에 데이터가 모두 기록되므로 트랙 피치의 값은 0.615㎛이다.

광픽업 장치는 광원으로부터 방출된 빔이 랜드(10)와 그루브(11)를 적절히 추종하면서 트랙 중심에서 벗어나지 않도록 하기 위한 제어신호를 검출하는데, 이렇게 상이한 트랙 피치를 가지는 광저장매체들의 트랙킹 방법들이 개발되고 있다.

도 2는 일반적인 광픽업 장치에 장착된 광저장매체 및 광저장매체 상에서의 렌즈 위치를 예시적으로 도시한 도면이다.

특히, BD, DVD, HD DVD 등을 동시에 재생/기록하기 위해서 최근 두 개의 (대물)렌즈를 사용하는 광픽업 장치가 개발되고 있으며, 도 2에 도시된 것처럼 두개의 렌즈가 디스크의 트랙방향(t) 또는 내외주 방향(l1, l2)으로 배열된다.

이러한 경우, 렌즈들이 트랙방향(t)으로 배열되면 두 렌즈 중 적어도 하나는 내외주를 잇는 축(l1)상에서 벗어나게 된다(l2). 이와 같이, 서로 다른 트랙피치를 가지거나 렌즈가 비축 배치되는 등의 경우에도 안정적인 에러제어신호를 검출하기 위한 방법들이 제시되고 있는데, 이들에 대하여 간단히 살펴보면 다음과 같다.

첫째, 푸쉬풀(Push-pull)법을 개량한 DPP(Differential Push Pull)법이 있는데, 이는 회절격자를 이용하여 빔을 3개(+1차, 0차, -1차 회절광)로 나누고 주빔이 그루브에 있을 때 부빔이 랜드에 배치(+1차, -1차 회절광이 0차 회절광과 각각 1/2 트랙피치만큼 떨어지게 배치)되도록 조정하여 각 빔에서 나오는 좌우 차 신호를 검출하는 방식으로서, 디스크 경사 또는 대물렌즈의 이동(레디얼 방향)에 의해 발생하는 오프셋(Offset) 성분을 제거함으로써 푸쉬풀 신호의 오차를 정확히 보정할 수 있다.

즉, SPP(Sub Push Pull)신호의 DC성분은 오프셋 제거되고 AC성분은 0차빔의 AC성분에 더해져서 증폭된다.

도 3은 종래 DPP 방법에 의하여 발생되는 푸쉬풀 신호를 예시적으로 도시한 그래프인데, 광저장매체의 트랙(Track)에 해당되는 0차 빔(MPP; Main Push Pull) 신호, +1차 빔(SPP1) 신호, -1차 빔(SPP2) 신호가 도시되어 있는 것을 볼 수 있다.

그러나, 종래 DPP 방법을 사용하는 경우 부빔이 그루브에 있으면 주빔이 랜드에 있어야 하므로, 다른 트랙피치를 갖는 디스크에는 동시에 적용할 수 없는 문제점이 있다. 예를 들어, DVD-R/RW의 트랙피치는 0.74um이고 DVD-RAM의 트랙피치는 1.23um이어서 어느 하나의 트랙피치에 맞게 조정된 광픽업 장치는 다른 트랙피치의 디스크 상에서는 AC성분의 위상이 변하므로 트랙킹 에러 신호도 영향을 받게 된다.

둘째, 회절광을 생성하는 회절소자(격자)를 적절히 분할하여 신호 간 위상차 를 부여함으로써, 서브 빔(+1차/-1차 빔)을 메인 빔(0차 빔)과 동일 트랙에 위치시켜 트랙 피치에 따른 위상변화가 발생되지 않도록 하는 방법이 있다.

도 4는 종래의 다분할 회절격자(20)의 형태를 예시적으로 도시한 정면도이며, 도 4에 의하면, 2분할된 회절격자(도 4의 (a); 20)와 4분할된 회절격자(도 4의 (b); 30)가 도시되어 있는데, 각 회절 격자는 분할 영역의 패턴이 1/2 피치 만큼 어긋난 형태를 가진다.

이렇게 다분할 회절격자(20, 30)에 의해 회절되는 서브빔은 중앙을 경계로 180도의 위상차를 가지고 ±1차광으로 분리되는 반면, 메인빔은 위상차 없이 0차광으로 투과되며, ±1차광은 대물렌즈를 통과하여 광저장매체에 집광될 때, 쌍봉형(원형이 아닌)의 2개 빔을 형성한다.

따라서, 이 신호는 트랙피치에 따른 위상변화가 일어나지 않으므로 트랙의 간격 주기가 다른 다양한 광저장매체에 상관없이 에러교정신호를 검출할 수 있다.

그러나, 다분할 회절격자의 중앙과 대물렌즈의 중심은 조립 오차에 의하여, 그리고 대물렌즈가 광저장매체의 트랙을 따라 레디얼 방향으로 이동하기 때문에 분할 영역의 중심과 대물렌즈의 중심은 정확히 일치되기 어렵다.

이와 같이 회절격자의 분할 영역 중심과 대물렌즈의 중심이 일치하지 않는 현상을 "축 틀어짐" 이라 하는데, 가령, 상기 4분할(32, 34, 36, 38)된 회절격자(30)는 2분할(22, 24)된 회절격자(20)에 비하여 상대적으로 축 틀어짐 현상에 대한 대항력이 있으나 역시 광저장매체의 종류에 따라 동일한 문제에 노출된다.

또한, 다분할 회절격자를 이용한 방법은 렌즈가 비축배치되는 경우에는 적용 할 수 없으며, MPP 신호의 크기와 DPP 신호와 동일해짐으로써 DPP 방식에 비하여 DPP 레벨이 저하되는 문제점이 있다.

셋째, 광저장매체 입사광의 NA(Numerical Aperture; 렌즈의 집속 특성을 나타냄)를 작게하거나 HOE(Holographic Optical Element)를 이용함으로써 광저장매체에 맺히는 서브빔의 크기를 크게하는 방법이 있는데, 가령, 광축 방향으로 일부만 디포커싱된 영역에 빔을 조사하여 반사광의 광량 분포를 트랙 방향 성분에 따라 이분하고, 각각 별개의 광검출장치(PD; Photo Detector)로 신호를 검출하며, 검출 신호(SPP신호로서)를 증배한 후 MPP신호로부터 감산함으로써 오프셋 성분만을 억압하는 방식을 예로 들 수 있다.

그러나, 이러한 방법은 광저장매체에 맺히는 서브빔의 크기가 커짐에 따라 트랙 구조에 차별적으로 대응되지 못하는 점, 광효율이 저하되는 등의 문제점이 있다.

넷째, 광저장매체로부터 반사되는 광의 ±1차 광과 0차 광이 겹치는 영역 상에서 발생되는 SPP신호가 "0"이 되도록 회절 격자를 세분화하여 위상차를 부여하는 방법이 있는데, 예를 들어 광저장매체의 트랙 방향과 일치되도록 분할되는 수광 영역을 가지는 광검출장치를 구비하고, 트랙방향과 수직의 요철 형상을 이루는 제1요철패턴, 트랙방향과 소정 피치 수치만큼 어긋나도록 요철 형상을 이루는 제2요철패턴, 제1요철패턴 및 제2요철패턴과 경계를 이루며 트랙방향에 평행한 요철 형상을 이루는 제3요철패턴 등을 포함하도록 회절격자를 구성할 수 있다.

그러나, 이러한 방법은 MPP 신호의 크기가 DPP 신호와 동일해짐으로써 DPP 방식에 비하여 DPP 레벨이 저하되는 문제점이 있다.

다섯째, SPP 신호의 AC성분은, 광검출장치에서 검출되는 MPP 신호의 베이스볼 패턴에서 겹치는 부분에 의해서 발생하므로, 종래와 같이 회절 격자를 다분할하고 각 신호 성분을 감산하는 방식에 의하지 않고, 회절격자 자체의 형상을 신호의 검출 패턴과 대응되도록 구성하여 MPP 신호 패턴과 SPP 신호 성분이 겹치는 부분을 제거하여 잔존하는 영역만을 이용함으로써 AC성분을 제거하는 "개구제한에 의한 방법"이 있다.

그러나, 개구제한에 의한 방법을 포함하여 상기 설명한 종래의 기술들은 "비축 배치에서의 문제점"을 해결하는데는 문제점이 있다.

즉, 위에서 설명한 방식들은 회절격자, 빔스프리터(Splitter), 파장판 등을 통하여 광신호를 3개 이상의 광으로 분기시키는 방식으로서, 분기된 3개 이상의 광들이 트랙방향과 일치되게 놓여있는 경우에는 광저장매체의 기록/미기록 경계에서의 트랙킹 서보 신호의 오프셋 성분이 크게 발생하지 않지만, 트랙방향이 일정하지 않게 비축배치되는 경우에는 광저장매체의 기록/미기록 경계에서 오프셋 성분이 넓은 영역에 걸쳐 발생되는 문제점이 있다.

본 발명은 다수개의 빔을 사용하여 트래킹 서보를 수행하는 경우, 광저장매체의 기록/미기록 영역에 진입되는 시간의 차이, 내외주 축상에서 비축배치되는 경우의 대물렌즈의 위치 차이에 영향 받지 않고 오프셋 성분을 효과적으로 제거하는 광픽업 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.

또한, 본 발명은 광저장매체의 종류에 따른 트랙피치의 차이, 서브빔의 위치 에러, 대물렌즈의 변위, 비축 배치 시의 서브빔 트랙 이탈 등의 요인에 영향받지 않고 트래킹 서보를 수행하는 광픽업 장치를 제공하는 것을 다른 목적으로 한다.

상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 의한 광픽업 장치는 빔을 방출하는 광원; 상기 빔이 광저장매체에 반사되어 분기된 회절광들의 원형(Baseball) 패턴 중 서브 빔의 원형 패턴 영역, 메인 빔의 원형 패턴과 상기 서브 빔의 원형 패턴이 중첩되는 영역의 신호는 제외되도록 격자 패턴이 형성된 회절 격자; 상기 빔 또는 회절광을 투과 또는 반사시키는 빔스플리터; 상기 빔스플리터에서 투과된 빔을 상기 광저장매체로 집광시키는 제1렌즈; 상기 광 디스크에서 반사된 빔에 대해 비점을 발생시키는 제2렌즈; 및 상기 제2렌즈를 통과한 광이 입사되면 트랙제어신호를 검출하는 광검출수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 의한 광픽업 장치에서 처리되는 상기 메인 빔은 0차 빔으로서, MPP신호로 생성되고, 상기 서브 빔은 +1차 빔 및 -1차 빔으로서, 각각 제1 SPP신호 및 제2 SPP신호로 생성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 의한 광픽업 장치에서 생성되는 상기 원형 패턴의 크기는 상기 제1렌즈의 EPD(Entrance Pupil Deameter)와 동일한 수치로서, "2×f(상기 제1렌즈의 초점)×NA(Numerical Aperture; 개구수)"의 수식에 의하여 결정되는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 의한 광픽업 장치에서 생성되는 상기 서브빔의 원형패턴은 "서브빔의 차수×f(상기 제1렌즈의 초점)×빔의 파장÷TP(상기 광저장매체의 트랙 피치)"의 수식 결과치에 해당되는 이동량을 가지는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 의한 광픽업 장치에 구비되는 상기 회절 격자는 상기 서브 빔의 원형 패턴 영역 및 상기 메인 빔의 원형 패턴과 상기 서브 빔의 원형 패턴이 중첩되는 영역을 제외하여 형성되는 제1 격자패턴; 및 상기 제1 격자패턴을 제외한 영역에 형성되는 제2 격자패턴을 포함하거나, 상기 서브 빔의 원형 패턴 영역 및 상기 메인 빔의 원형 패턴이 접하는 4개의 꼭지점을 기준으로 상측 꼭지점 2개 및 하측 꼭지점 2개를 연결하는 분할선들의 내부로 형성되는 제1 격자패턴; 및 상기 분할선들의 위/아래로 각각 형성되는 제2격자패턴을 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 의한 광픽업 장치의 상기 회절 격자는 상기 빔스플리터 및 상기 제1렌즈 사이에 위치되고, 상기 회절 격자 및 상기 제1렌즈 사이에 파장판이 더 구비되는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 의한 광픽업 장치에 구비되는 상기 회절 격자는 상기 메인 빔의 원형 패턴과 상기 서브 빔의 원형 패턴이 중첩되는 영역 내부에 위치되는 상기 서브 빔의 원형 패턴의 Y축과 접하는 최끝단점들이 포함되지 않도록 상기 중첩 영역 내부에 직사각형으로 형성되는 제1 격자패턴; 및 상기 제1 격자패턴을 제외한 영역에 형성되는 제2 격자패턴을 포함하고, 상기 회절 격자는 상기 빔스플리터 및 상기 제2렌즈 사이에 위치되는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 의한 광픽업 장치의 상기 제2 격자패턴은, 상기 메인빔은 위상변위 없이 투과시키고, 상기 서브빔은 위상변위되어 상기 트랙제어신호에서 제 외되도록 격자 형태를 가지며, 상기 격자 형태는 트랙 피치, 트랙 깊이, 격자 무늬 중 하나 이상의 요소를 조합하여 형성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 의한 광픽업 장치가 가지는 트래킹(Tracking) 에러 레벨은 "상기 MPP신호―k×(제1 SPP신호＋제2 SPP신호), 여기서 상기 "k"는 "MPP신호의 DC레벨의 크기÷(2×SPP신호의 DC레벨의 크기)임"의 수식에 의하여 정의되는 것을 특징으로 한다.

이하에서 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 광픽업 장치에 대하여 상세히 설명한다.

도 5는 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치(100)의 구성 요소를 개략적으로 도시한 도면이다.

도 5에 의하면, 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치(100)는 광원(110), 콜리메이터 렌즈(Collimator lens)(120), 빔스플리터(Beam Splitter)(130), 회절 격자(140), 파장판(QWP; Quater Wave Plate; 150), 대물렌즈(155), 집광렌즈(160) 및 광검출수단(170)을 포함하여 이루어지며, 상기 대물렌즈(155) 상측으로는 광저장매체(180)가 장착된다.

상기 광원(110)은 레이저 빔을 방출하고, 상기 콜리메이터 렌즈(120)는 광원에서 ±±방출된 빔을 평행광으로 변환한다.

상기 빔스플리터(130)는 광 분기 수단으로서, 콜리메이터 렌즈(120)로부터 입사되는 빔의 편광 방향에 따라 입사 빔을 회절 격자(140)로 투과시키고, 상기 광저장매체(180) 측으로부터 입사되는 빔은 집광렌즈(160)로 반사시킨다.

상기 회절 격자(140)는 광저장매체(180)로부터 반사되어 오는 광을 0차광(메인빔) ±1차광(서브빔)으로 분리하는데, 이때 분리된 회절광들은 원형(Baseball) 패턴을 형성한다.

상기 회절 격자(140)는 메인빔의 원형 패턴과 상기 서브빔의 원형 패턴이 중첩되는 영역, 그리고 서브빔의 나머지 원형 패턴 영역의 신호는 제외되도록 격자 패턴이 형성되는데, 회절 격자(140)의 구조에 대해서는 도 8 이하의 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.

또한, 상기 메인빔은 0차빔으로서 회절되지 않은 채 투과되어 광검출수단(170)에서 MPP신호로 생성되고, 상기 0차빔과 각각 다른 위상차를 가지도록 회절되어 +1차빔 및 -1차빔의 2개 빔으로 분기되는 SPP신호는 광검출수단(170)에서 각각 제1 SPP신호 및 제2 SPP신호로 생성된다.

상기 파장판(150)은 입사되는 빔을 1/4λ로 위상을 지연시켜 원편광의 형태를 가지도록 하고, 대물렌즈(155)는 파장판(150)으로부터 입사되는 빔을 광저장매체(180)의 표면으로 집속시키거나 광저장매체(180)측으로부터 입사되는 빔을 평행광으로 변환시킨다.

즉, 원편광으로 변환된 광은 대물렌즈(155)를 통하여 광저장매체(180)로 집속되고 집속된 광은 랜드/그루브 구조를 가지는 광저장매체(180)에 반사되어 다시 대물렌즈(130)로 향하게 되며, 반사된 빔은 대물렌즈(130)를 통하여 평행빔으로 전환된다.

상기 파장판(150)을 경유한 빔은 회절 격자(140)에 의하여 3개의 빔, 0차광, +1차광, -1차광으로 분리되고 빔스플리터(130)에서 반사되어 집광렌즈(160)로 입사되며, 상기 집광렌즈(160)는 입사빔에 대하여 비점을 발생시켜 광검출수단(170)으로 전달한다.

상기 광검출수단(170)은 PD(Photo Detector)와 같은 소자로 구비될 수 있으며, 상기 0차 빔, +1차 빔, -1차 빔이 입사되면 각각 MPP신호, 제1 SPP신호, 제2 SPP신호를 생성하여 이들로부터 트랙에러제어신호(TES; Track Error Signal)를 검출한다.

도 6은 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치(100)에 장착된 광저장매체(180)에 의하여 빔이 분기되는 형태를 예시적으로 도시한 도면이고, 도 7은 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치(100)에 의하여 분기된 빔들이 이루는 원형 패턴(Baseball Pattern)을 예시적으로 도시한 도면이다.

도 6의 (a) 도면에 의하면, 입사된 광은 소정의 트랙피치(TP)를 갖는 광저장매체(180)의 트랙(랜드/그루브) 구조에 의하여 소정의 각도(θ)를 이루어 반사되고, 회절 격자(140)에 의하여 세 개의 빔으로 분리되는데, 도 6의 (b) 도면을 보면, 반사된 빔이 원형 패턴을 이루는 0차 빔(b2), +1차 빔(b1), -1차 빔(b3)으로 회절되어 분리되는 형태가 예시적으로 도시되어 있다.

여기서, 상기 빔들이 이루는 상기 원형 패턴의 크기(S)는 대물렌즈(155)의 EPD(Entrance Pupil Deameter)와 동일한 수치를 이루는데, 상기 EPD는 다음의 수학식에 의하여 계산될 수 있다.

EPD = 2×f×NA

단, 상기 "f"는 "상기 대물렌즈의 초점"이고,

상기 "NA"는 "개구수(Numerical Aperture)"를 의미함.

또한, +1차 빔(b1)과 -1차 빔(b3)에 의한 원형 패턴은 도 6의 (b)도면에 도시된 것처럼, 0차 빔(b2)을 중심으로 하여 좌우로 위치(이동)되는데, 이때의 이동량은 다음의 수식에 의하여 계산될 수 있다.

서브빔의 이동량 = 서브빔의 차수×f×λ÷TP

단, 상기 "서브빔의 차수"는 본 발명의 실시예에 따르면, "+1 또는 -1"이고,

상기 "f"는 "상기 대물렌즈의 초점"이며,

상기 "λ"는 "해당 서브빔의 파장"이고,

상기 "TP"는 "상기 광저장매체의 트랙 피치를 의미함.

상기의 수식들에 근거하여, 상기 0차 빔(b2), +1차 빔(b1), -1차 빔(b3)은 회절 격자(140)를 경유하여 광검출수단(170)의 수광면에 도 7과 같은 원형패턴들을 형성하게 되며, 0차 빔에의 원형 패턴(P2)은 +1차 빔에 의한 원형패턴(P1) 및 -1차 빔에 의한 원형패턴(P3)과 양단의 일부가 겹치는 형상을 이룬다.

이때, 광저장매체(180)의 종류에 따라 상기 원형패턴들(P1, P2, P3)의 크기, 겹치는 정도가 상이해지며, 가령, BD(Blu-Disc) 혹은 DVD-RW의 경우는 상기 이동량이 크게 계산되므로 겹치는 정도가 상대적으로 감소된다.

본 발명에 의한 광픽업 장치(100)의 회절 격자(140) 구조에 의하면, 광저장 매체(180)의 원형패턴 중 0차광과 ±1차광이 겹치지 않는 부분이 상대적으로 넓을수록 그 효과가 우수해지는데, 예를 들어 HD DVD-R, DVD-R, DVD-RW, BD-R, BD-RE 등의 광저장매체가 이에 해당한다.

도 8은 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치(100)에 구비되는 회절 격자의 제1실시예(140a) 형태를 예시적으로 도시한 정면도이다.

본 발명에 의한 광픽업 장치(100)는 전술한 바와 같이, 회절 격자(140a)의 구조가 도 7에 도시된 빔들의 원형 패턴(P1, P2, P3)에 대응되어, 서브빔(±1차 빔)의 원형패턴 영역(P4, P6) 및 서브빔의 원형패턴 영역(P4, P6)과 메인빔의 원형패턴 영역(P5)이 접하는 영역(P7)이 상기 트랙에러제어신호를 생성하는데 이용되지 않게 하는 구조로 개선된다.

즉, 상기 회절 격자(140a)에 의하여, SPP1, SPP2 신호의 AC성분이 광검출수단(170)에 도달하기전에 원천적으로 배제될 수 있다.

이렇게 회절 격자(140a)의 구조가 개선됨에 있어서, 그 구조는 다양한 형태로 개선될 수 있으며 본 발명의 실시예에서는 세가지의 예를 들어 설명하는데, 우선, 도 8을 참조하여 회절 격자 구조의 제1실시예(140a)에 대하여 설명한다.

도 8에 의하면, 제1실시예에 의한 회절 격자(140a)는 Y(Tangential)축을 트랙 방향으로 하고, X(Radial)축을 내외주 방향으로 기준하였을때, 수직으로 세워진 장구("I"자) 형태의 제1 격자패턴(A1)을 형성하고, 나머지 영역에 제2 격자패턴(A2)을 형성한다.

여기서, 제2 격자패턴(A2)이 ±1차 빔(b1, b3)을 상기 광검출수단(170)의 수 광면으로부터 제외시킴으로써, SPP신호들의 AC성분이 단지 격자 구조에 의하여 분리 시 배제될 수 있다.

즉, 제1실시예에 의한 회절 격자(140a)의 제1 격자패턴(A1)은 서브 빔(b1, b3)의 원형 패턴 영역(P1, P3) 및 메인 빔(b2)의 원형 패턴 영역(P2)과 서브 빔(b1, b3)의 원형 패턴 영역(P1, P3)이 중첩되는 영역(P7)을 제외하여 형성되고, 제2 격자패턴(A2)은 제1 격자패턴(A1)을 제외한 영역에 형성되는데, 제1 격자패턴(A1)의 상측/하측 끝단부(중간 원형 오목부를 제외한 사각형 부분)는 서브 빔(b1, b3)의 원형 패턴 영역(P4, P6)을 침범하지 않는 한도 내에서 회절 격자(140a)의 양측면까지 연장되는 형태를 가질 수 있다.

도 9는 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치(100)에 구비되는 회절 격자의 제2실시예(140b) 형태를 예시적으로 도시한 정면도이다.

도 9에 의하면, 제2실시예에 따른 회절 격자(140b)는 제1실시예와 유사하게 제1 격자패턴(A3) 및 제2 격자패턴(A4)을 포함하여 이루어지는데, 제1 격자패턴(A3)은 중앙부에 상하로 긴 직사각형태를 가지고, 제2 격자패턴(A4)은 두 부분으로서 제1 격자패턴(A3)의 양측으로 형성된다.

여기서, 제1 격자패턴(A3)의 위치 및 폭이 중요한 요소인데, 상기 제1 격자패턴(A3)은 상기 메인 빔(b2)의 원형 패턴(P5)과 상기 서브 빔(b1, b3)의 원형 패턴(P4, P6)이 중첩되는 영역(P7) 내부에 위치되는 상기 서브 빔의 원형 패턴(P4, P6)의 Y축과 접하는 최끝단점들이 포함되지 않도록 상기 중첩 영역 내부에 직사각형으로 형성된다.

상기 제1 격자패턴(A3)은 상기 서브빔의 원형 패턴(P4, P6)의 최끝단점들과 양측이 접하도록 형성되는 것이 바람직하며, 상기 제1 격자패턴(A3)의 세로측 길이는 메인빔(b2)의 원형패턴 영역(P5)을 침범하지 않는 범위 내에서 조정가능하다.

도 10은 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치(100)에 구비되는 회절 격자의 제3실시예(140c) 형태를 예시적으로 도시한 정면도이다.

도 10에 의하면, 제3실시예에 따른 회절 격자(140c)는 제1실시예, 제2실시예와 유사하게, 제1 격자패턴(A5) 및 제2격자패턴(A6)을 포함하여 이루어지는데, 제1 격자패턴(A5)은 중앙부에 좌우로 긴 직사각형태를 가지고, 제2 격자패턴(A6)은 두 부분으로서 제1 격자패턴(A5)의 상하로 형성된다.

여기서, 제1 격자패턴(A5)의 위치 및 폭이 중요한 요소인데, 상기 제1 격자패턴(A5)은 상기 서브 빔(b1, b3)의 원형 패턴 영역(P4, P6) 및 상기 메인 빔(b2)의 원형 패턴(P7)이 접하는 4개의 꼭지점을 기준으로 상측 꼭지점 2개 및 하측 꼭지점 2개를 연결하는 분할선들의 내부에 직사각형태로 형성된다.

상기 제1 격자패턴(A5)의 상하 경계면은 상기 분할선에 접하도록 형성되는 것이 바람직하며, 상기 제1격자패턴(A5)의 가로측 길이는 메인빔(b2)의 원형패턴 영역(P5)을 침범하지 않는 범위 내에서 조정가능하다.

도 11은 본 발명의 제1실시예에 따른 광픽업 장치(100)의 회절 격자(140) 구조에 의하여 생성되는 푸쉬풀 신호를 예시적으로 도시한 그래프이다.

도 11에 의하면, 트랙(Track)에 대응되어 0차 빔(b2)에 의하여 발생되는 푸쉬풀 신호인 MPP신호, +1차 빔에 의하여 발생되는 푸쉬풀 신호인 제1 SPP신호, -1 차 빔에 의하여 발생되는 푸쉬풀 신호인 제2 SPP신호가 차례대로 도시되어 있는 형태를 볼 수 있다.

본 발명의 제1,2,3 실시예에 따른 회절 격자(140a, 140b, 140c) 구조에 의하여 푸쉬풀 신호 중 MPP신호는 영향을 받지 않고 원형대로 생성된 반면, 제1 SPP신호와 제2 SPP신호의 AC성분은 제거된 형태를 확인할 수 있다.

또한, DC 오프셋 성분 역시 효과적으로 제거된 결과를 확인할 수 있는데, 이에 대해서는 도 12 이하의 도면을 참조하여 설명한다.

한편, 상기 광검출수단(170)에서 검출된 트랙에러제어신호에 의한 트래킹(Tracking) 에러 레벨은 다음의 수식에 의하여 계산될 수 있으며, 본 발명에 의하면 회절 격자(140)의 구조가 개선되어 광검출수단(170)에 광신호가 도달되기 전에 이미 SPP신호의 AC성분이 제거되는 효과를 가지므로, 트래킹 에러 레벨이 현저히 좋아짐을 알 수 있다.

트래킹 에러 레벨 = MPP신호―k×(제1 SPP신호＋제2 SPP신호)

단, 상기 "k"는 "MPP신호의 DC레벨의 크기÷(2×SPP신호의 DC레벨의 크기)"임.

그리고, 상기 제2 격자패턴(A2, A4, A6)은, 상기 메인빔(b2)은 위상변위 없이 투과시키고, 서브빔(b1, b3)은 위상변위되어 상기 트랙에러제어신호에서 제외되도록 격자 형태를 가지며, 상기 격자 형태는 트랙 피치, 트랙 깊이, 격자 무늬 중 하나 이상의 요소를 조합하여 형성될 수 있다.

예를 들어 도 8 내지 도 10에 도시된 것처럼, 동일한 트랙 피치와 트랙 깊이를 이루고 평행선 형태의 격자 무늬를 가지는 패턴으로서, 제1 격자패턴(A1, A3, A5)과 제 2 격자패턴(A2, A4, A6)은 90°의 각도를 이루어 형성될 수 있다.

이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 트랙에러제어신호(TES)의 오프셋(Offset) 성분이 본 발명에 의한 회절 격자(140) 구조를 통하여 제거되는 경우에 대하여 살펴보기로 한다.

우선, 일반적인 DPP(Differential Push Pull)법에 의하여 오프셋 성분이 발생되는 현상에 대하여 설명하면 다음과 같다.

도 12는 종래 광픽업 장치 상에서 광저장매체의 미기록(U)/기록(R) 구간에서의 3개 빔(B1, B2, B3)이 배치되는 형태를 예시적으로 도시한 도면이고, 도 13은 광저장매체의 미기록(U)/기록 구간(R)에서 대물렌즈가 레디얼축 방향으로 변위되는 경우 발생된 오프셋 성분을 도시한 그래프이다.

광저장매체의 미기록(U)/기록(R) 구간의 차이는 반사율의 차이로 나타나는데, 도 12에 도시된 것처럼, 0차 빔(B2), ±1차 빔(B1, B3)의 3개 빔을 이용한 DPP(Differential Push Pull)법에 의하면, 상기 미기록(U)/기록(R) 구간에서 대물렌즈가 변위(주행)되는 경우 각각의 구간에서 푸쉬풀 신호의 레벨 차이가 발생된다.

도 13의 (a)도면을 보면, 대물렌즈의 변위가 없는 경우 푸쉬풀 신호에 오프셋 영향이 거의 없는 것을 확인할 수 있으며, (b)도면을 보면, 대물렌즈의 변위(Radial shift-5 a.u.)가 있는 경우, 미기록(U)/기록(R) 구간의 경계(X좌표축의 "0" 기준)에서 푸쉬풀 신호에 오프셋 성분(보통, 시간 축상에서 도해되므로 "타임 오프셋"이라 지칭되기도 함)이 발생함을 알 수 있다.

도 14는 종래 광픽업 장치의 광저장매체의 미기록(U)/기록(R) 구간에서의 3개 빔(B1, B2, B3)이 배치되는 형태 및 서브빔(B1, B3) 에러에 의한 오프셋 성분을 예시적으로 도시한 도면이고, 도 15는 종래 광픽업 장치의 광저장매체의 미기록(U)/기록(R) 구간에서의 3개 빔(B1, B2, B3)이 배치되는 형태 및 서브빔(B1, B3) 에러, 대물렌즈 변위에 의한 오프셋 성분을 예시적으로 도시한 도면이다.

도 14 및 도 15에 도시된 것처럼, 광저장매체의 미기록(U)/기록(R) 구간에서의 푸쉬풀 신호의 레벨 차이(오프셋 성분)는, 대물렌즈가 변위되는 경위 이외에, 디스크 틸트(Tilt; 축 기울어짐 현상), 서브빔의 거리 오차 등에 의하여 발생될 수 있다.

도 14의 (a)도면을 참조하면, ±1차빔(B1, B3)이 각각 0차빔(B2) 측으로 약 10TP(Track Pitch) 정도 이동된 형태(위치 에러남)를 볼 수 있고, 이에 따라 (b)도면을 참조하면, 오프셋 성분이 시간축 상의 "0" 위치에서 크게 발생됨을 볼 수 있다.

또한, 도 15의 (a)도면을 참조하면, ±1차빔(B1, B3)이 각각 0차빔(B2) 측으로 약 10TP 정도 이동되고, 대물렌즈가 약 5a.u. 정도 레디얼 축 방향으로 변위된 경우로서, (b)도면을 참조하면, 오프셋 성분이 시간축 상의 "0" 위치에서 크게 발생됨을 볼 수 있으며, 이때의 오프셋 성분이 도 14에 의한 경우보다 더 커졌음을 알 수 있다.

도 16은 종래 광픽업 장치 중 광저장매체 상에 3개 빔(B1, B2, B3)이 비축배치되는 형태를 예시적으로 도시한 도면이고, 도 17은 광저장매체의 미기록(U)/기록(R) 구간에서 3개 빔(B1, B2, B3)이 비축배치되고, 대물렌즈 변위에 의하여 발생된 오프셋 성분을 도시한 그래프이다.

일반적인 DPP의 경우, ±1차빔이 0차빔에 대하여 1/2 TP 만큼 변위(shift)되기 때문에 비교적 적은 양의 오프셋 성분이 발생하지만, 광저장매체 상에서 2개의 대물렌즈가 비축배치되는 경우는 내외주에 따라 변위 거리가 상당량 길어지므로 특히 기록/미기록 구간의 오프셋 성분은 상대적으로 크게 발생된다.

이때, 변위 거리에 따라 오프셋 구간도 비례하여 증가하게 된다.

도 16을 보면, 배축 배치의 경우 3개의 빔(B1, B2, B3)이 트랙상에 배치되는 형태를 확인할 수 있는데, 내외주 트랙킹 시 서브빔(B4 또는 B5)이 메인빔(B2)을 기준으로 하여 트랙을 많이 벗어나게 됨을 알 수 있으며, 도 17을 참조하면, 오프셋 성분이 시간축 상의 "0"좌표(기록/미기록 경계면)를 기준으로 하여 크게 발생됨을 알 수 있다.

도 17의 (a)도면은 대물렌즈가 1a.u. 변위되고 트랙 이탈이 ±3TP로 발생된 경우의 오프셋 그래프이며, (b)도면은 대물렌즈가 5a.u. 변위되고 트랙 이탈이 ±3TP로 발생된 경우의 오프셋 그래프로서, 후자의 오프셋 현상이 보다 심함을 알 수 있다.

도 18은 대물렌즈 변위 서브빔 편차의 동일 조건을 가정하고, 본 발명의 실시예에 따른 광픽업 장치(100) 및 종래 광픽업 장치 상에서 발생되는 오프셋 성분 을 예시적으로 도시한 그래프이다.

위에서 설명한 바와 같이, 광저장매체의 기록/미기록 경계에서 발생되는 오프셋 성분은 3개 빔(B1, B2, B3)을 사용하는 경우 경계면에 진입하는 시간차에 의하여 발생되는 것인데, 본 발명의 제1실시예에 의한 광픽업 장치(100)에 의하면 이러한 오프셋 성분이, 회절 격자(140) 구조에 의하여 광신호가 광검출수단(170)에 도달하기 전에(전단계 상에서) 제거될 수 있다.

도 18의 (a)도면을 보면, 광저장매체 상에서 서브빔(B1, B3)이 메인빔(B2) 측으로 10 TP 트랙 편차(동일 트랙 상에서)을 가지고, 대물렌즈 변위가 5 a.u.로 일어난 경우를 동일한 조건으로 적용한 것이고, (b)도면을 보면, 종래 DPP법에 의하여 오프셋 성분이 발생된 것을 볼 수 있다.

또한, 도 18의 (c)도면을 보면, 1 Tp로 비축배치된 경우 종래 DPP법에 의하여 오프셋 성분이 훨씬 크게 발생된 경우를 확인할 수 있다.

그러나, 도 18의 (d)도면을 참조하면, 본 발명은 광저장매체(180)에 입사되는 하나의 광신호에 대하여 반사되는 광신호를 3개로 회절하고, 서브빔 회절 영역을 원천적으로 배제시켜 오프셋 성분을 제거시킴으로써, 전술한 도 12 내지 도 17, 도 18의 (b), (c) 도면을 참조하여 설명한 종래 방식에서 발생되는 문제점들을 해결할 수 있게 된다.

즉, 도 18의 (d)도면을 참조하면, 시간축상의 좌표 "0"을 기준으로 AC성분의 크기 변화는 약간 있으나(트랙에러제어신호를 처리하는데 지장 없음), 오프셋 성분이 거의 발생되지 않았음을 확인할 수 있다.

도 19는 본 발명의 제2실시예에 따른 광픽업 장치(200)의 구성 요소를 개략적으로 도시한 도면이다.

도 19에 의하면, 본 발명의 제2실시예에 따른 광픽업 장치(200)는 광원(210), 콜리메이터 렌즈(220), 빔스플리터(230), 대물렌즈(255), 회절 격자(240), 집광렌즈(260) 및 광검출수단(270)을 포함하여 이루어지며, 상기 대물렌즈(255) 상측으로는 광저장매체(280)가 장착된다.

이와 같은 본 발명의 제2실시예에 따른 광픽업 장치(200)의 구성은 전술한 제1실시예(100)와 거의 유사하나, 제1실시예(100)에서 구비된 파장판(150)이 구비되지 않는 점, 회절 격자(240)의 위치가 빔스플리터(230)와 집광렌즈(260) 사이에 위치되는 점이 상이하다.

또한, 본 발명의 제1실시예에 의한 광픽업 장치(100)는 전술한 대로 제1,2,3 실시예에 따른 회절 격자(140a, 140b, 140c)가 모두 이용가능하나, 제2실시예에 의한 광픽업 장치(200)는 상기 제1,3 실시예에 따른 회절 격자(140a, 140c)만이 이용가능한 점이 차별화된다.

즉, 제2실시예에 의한 회절 격자(140b)는 제1실시예에 의한 광픽업장치(100)와 같이 대물렌즈(155)와 같이 구동되는 방식으로서, 파장판(150)이 필수적으로 구비되어야 하므로, 제2실시예에 의한 광픽업장치(200)의 구조에서는 이용될 수 없다.

이러한 차이를 제외하고는 제2실시예에 의한 광픽업장치(200)에 구비되는 다른 구성부의 구조와 동작은 제1실시예(100)와 동일하므로 이하에서 상세한 설명은 생략하기로 한다.

이상에서 본 발명에 대하여 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 본 발명의 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

본 발명에 의한 광픽업 장치에 의하면 다음과 같은 효과가 있다.

첫째, 대물렌즈가 광저장매체의 내외주를 잇는 축상에서 비축배치되는 경우 푸쉬풀 신호의 오프셋 성분을 제거할 수 있으며, 특히 미기록/기록 경계역에서 넓게 발생되는 오프셋 성분을 효율적으로 제거할 수 있는 효과가 있다.

둘째, HD DVD, DVD-R, DVD-RW, BD 등과 같은 광저장매체의 종류에 따라 상이한 트랙구조 상에서 트랙킹 서보를 수행하는 경우, 대물렌즈의 변위, 서브빔의 트랙 상 위치 에러 등의 변수에 영향을 거의 받지 않고, DPP 레벨 및 광효율의 저하없이 오프셋 성분을 제거할 수 있는 효과가 있다.

Claims

빔을 방출하는 광원;

상기 빔이 광저장매체에 반사되어 분기된 회절광들의 원형(Baseball) 패턴 중 서브 빔의 원형 패턴 영역, 메인 빔의 원형 패턴과 상기 서브 빔의 원형 패턴이 중첩되는 영역의 신호는 제외되도록 격자 패턴이 형성된 회절 격자;

상기 빔 또는 회절광을 투과 또는 반사시키는 빔스플리터;

상기 빔스플리터에서 투과된 빔을 상기 광저장매체로 집광시키는 제1렌즈;

상기 광 디스크에서 반사된 빔에 대해 비점을 발생시키는 제2렌즈; 및

상기 제2렌즈를 통과한 광이 입사되면 트랙제어신호를 검출하는 광검출수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
제 1항에 있어서,

상기 메인 빔은 0차 빔으로서, MPP신호로 생성되고,

상기 서브 빔은 +1차 빔 및 -1차 빔으로서, 각각 제1 SPP신호 및 제2 SPP신호로 생성되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
제 1항에 있어서, 상기 원형 패턴의 크기는

상기 제1렌즈의 EPD(Entrance Pupil Deameter)와 동일한 수치로서,

"2×f(상기 제1렌즈의 초점)×NA(Numerical Aperture; 개구수)"의 수식에 의 하여 결정되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
제 1항에 있어서, 상기 서브빔의 원형패턴은

"서브빔의 차수×f(상기 제1렌즈의 초점)×빔의 파장÷TP(상기 광저장매체의 트랙 피치)"의 수식 결과치에 해당되는 이동량을 가지는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
제 1항에 있어서, 상기 회절 격자는

상기 서브 빔의 원형 패턴 영역 및 상기 메인 빔의 원형 패턴과 상기 서브 빔의 원형 패턴이 중첩되는 영역을 제외하여 형성되는 제1 격자패턴; 및

상기 제1 격자패턴을 제외한 영역에 형성되는 제2 격자패턴을 포함하는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
제 1항에 있어서, 상기 회절 격자는

상기 메인 빔의 원형 패턴과 상기 서브 빔의 원형 패턴이 중첩되는 영역 내부에 위치되는 상기 서브 빔의 원형 패턴의 Y축과 접하는 최끝단점들이 포함되지 않도록 상기 중첩 영역 내부에 직사각형으로 형성되는 제1 격자패턴; 및

상기 제1 격자패턴을 제외한 영역에 형성되는 제2 격자패턴을 포함하는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
제 1항에 있어서, 상기 회절 격자는

상기 서브 빔의 원형 패턴 영역 및 상기 메인 빔의 원형 패턴이 접하는 4개의 꼭지점을 기준으로 상측 꼭지점 2개 및 하측 꼭지점 2개를 연결하는 분할선들의 내부로 형성되는 제1 격자패턴; 및

상기 분할선들의 위/아래로 각각 형성되는 제2격자패턴을 포함하는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
제 6항에 있어서,

상기 회절 격자는 상기 빔스플리터 및 상기 제1렌즈 사이에 위치되고,

상기 회절 격자 및 상기 제1렌즈 사이에 파장판이 더 구비되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
제 5항 내지 제7항 중 어느 하나의 항에 있어서, 상기 회절 격자는

상기 빔스플리터 및 상기 제2렌즈 사이에 위치되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
제 5항 내지 제7항 중 어느 하나의 항에 있어서, 상기 제2 격자패턴은

상기 메인빔은 위상변위 없이 투과시키고, 상기 서브빔은 위상변위되어 상기 트랙제어신호에서 제외되도록 격자 형태를 가지며,

상기 격자 형태는 트랙 피치, 트랙 깊이, 격자 무늬 중 하나 이상의 요소를 조합하여 형성되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.
제 2항에 있어서,

트래킹(Tracking) 에러 레벨은 "상기 MPP신호―k×(제1 SPP신호＋제2 SPP신호), 여기서 상기 "k"는 "MPP신호의 DC레벨의 크기÷(2×SPP신호의 DC레벨의 크기)임"의 수식에 의하여 정의되는 것을 특징으로 하는 광픽업 장치.