KR20070066377A - 광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기 - Google Patents

광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기 Download PDF

Info

Publication number
KR20070066377A
KR20070066377A KR1020050127460A KR20050127460A KR20070066377A KR 20070066377 A KR20070066377 A KR 20070066377A KR 1020050127460 A KR1020050127460 A KR 1020050127460A KR 20050127460 A KR20050127460 A KR 20050127460A KR 20070066377 A KR20070066377 A KR 20070066377A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
frame mark
sampling
pixel
image
matching
Prior art date
Application number
KR1020050127460A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100749100B1 (ko
Inventor
황의석
Original Assignee
주식회사 대우일렉트로닉스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 대우일렉트로닉스 filed Critical 주식회사 대우일렉트로닉스
Priority to KR1020050127460A priority Critical patent/KR100749100B1/ko
Publication of KR20070066377A publication Critical patent/KR20070066377A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100749100B1 publication Critical patent/KR100749100B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/007—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track
    • G11B7/00772—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track on record carriers storing information in the form of optical interference patterns, e.g. holograms
    • G11B7/00781—Auxiliary information, e.g. index marks, address marks, pre-pits, gray codes
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/007—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track
    • G11B7/013—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track for discrete information, i.e. where each information unit is stored in a distinct discrete location, e.g. digital information formats within a data block or sector
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/13—Optical detectors therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)

Abstract

본 발명은 광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기에 관한 것으로, 좀더 상세하게는, 소스 데이터페이지의 이미지를 1:n(n은 1보다 큰 비정수) 오버픽셀로 검출하는 단계와; 상기 검출된 데이터페이지의 이미지에서 매칭 식별 영역을 검출하는 단계와; 상기 검출된 매칭 식별 영역의 광분포를 이용하여, 매칭 케이스를 판별하는 단계; 및 상기 판별된 프레임 마크의 매칭 상태에 대응되는 기 설정된 샘플링 패턴에 따라 상기 소스 데이터페이지의 이미지를 복원하기위한 샘플링을 수행하는 단계를 포함하는 광 정보 검출 방법 및 이를 실현할 수 있도록 하는 광 정보 검출기에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 매칭 상태 별로 적절한 샘플링 패턴을 선택하여 데이터를 샘플링하므로, 픽셀 매칭법에 비하여 더 높은 신뢰성을 가지는 광 정보의 검출이 가능하며, 1:2 오버샘플링법 또는 1:3 오버샘플링법 등과 같은 다른 정수배의 오버샘플링법 보다 저장밀도를 월등히 높일 수 있다.

Description

광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기 {METHOD FOR DETECTING OPTICAL INFORMATION AND OPTICAL INFORMATION DETECTOR}
도 1a 및 1b는 종래의 1:1 픽셀 매칭법을 이용하여 데이터페이지의 이미지를 검출한 예를 보여주는 예시도이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광 정보 검출기를 구비하는 광 정보 재생 장치의 구성을 도시하는 블록도이다.
도 3은 도 2에 도시된 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광 정보 검출기의 구성을 도시하는 블록도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광 정보 검출 방법의 흐름을 도시하는 흐름도이다.
도 5는 광 검출부를 통하여 검출된 데이터페이지의 이미지의 일부 영역을 도시하는 예시도이다.
도 6a, 도 6b 및 도 6c는 수직 프레임 마크 영역을 이용하여 프레임 마크의 수평 매칭을 판별하는 개념을 보여주는 예시도이다.
도 7a, 도 7b 및 도 7c는 수평 프레임 마크 영역을 이용하여 프레임 마크의 수직 매칭 상태를 판별하는 개념을 보여주는 예시도이다.
도 8a 내지 도 8d는 데이터 픽셀 내에 존재하는 검출 픽셀간의 교차점 수에 따른 데이터 픽셀의 단위 샘플링 패턴을 각각 도시하는 예시도로서,
도 9a 내지 도 9i는 프레임 마크 상태 판별 단계를 통하여 판별된 프레임 마크의 매칭 상태에 따른 샘플링 방법을 각각 도시하는 예시도이다.
도 10a 내지 도 10c는 상술한 방법으로 샘플링되어 데이터페이지의 이미지가 검출된 예를 보여주는 예시도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명>
10 : 광 조사부
20 : 광 정보 저장매체
30 : 신호 처리부
40 : 디코딩부
100 : 광 정보 검출기
110 : 광 검출부
120 : 광 정보 처리부
121 : 프레임 마크 영역 검출 모듈
123 : 프레임 마크 상태 판별 모듈
125 : 샘플링 모듈
130 : 메모리
본 발명의 광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기에 관한 것으로, 좀더 상세하게는, 신뢰성 높은 광 정보의 검출이 가능하며, 저장 밀도를 향상시킬 수 있는 광 정보 검출 방법 및 이를 실현할 수 있도록 하는 광 정보 검출기에 관한 것이다.
최근 들어, 대용량 저장 능력을 가지는 차세대 저장 시스템에 대한 요구가 증대되면서, 홀로그래피(Holography)를 이용한 광 처리 시스템 즉, 홀로그래픽(Holographic) 광 처리 시스템이 주목받고 있다.
홀로그래픽 광 정보 처리 시스템은 데이터를 담은 신호광과 그 신호광과 다른 각도로부터 제공되는 기준광을 광 정보 저장매체의 기 설정된 위치에 조사하여 서로 교차시킴으로써, 그 간섭패턴을 광 정보 저장매체에 기록한다. 또한, 저장된 정보의 재생 시에는 저장된 간섭패턴에 기준광을 조사하고, 이때 간섭패턴에 의하여 발생하는 회절을 이용하여 원래의 데이터를 복원한다.
이러한 홀로그래픽 광 정보 처리 시스템은 다양한 다중화 기법을 이용하여 광 정보 저장매체의 동일 위치에 데이터를 중첩시켜 저장하는 것이 가능하고, 그 중첩 저장된 데이터를 서로 분리하여 재생할 수 있기 때문에 초 대용량의 데이터 저장 시스템을 구현할 수 있다. 이때, 상기 다중화 기법에는 각도 다중화, 파장 다중화, 위상 부호 다중화 등이 있다.
한편, 홀로그래픽 광 정보 처리 시스템은 디지털 데이터를 소정의 페이지 단 위로 처리하는데, 이러한 페이지 단위의 데이터를 데이터페이지라고 한다. 즉, 홀로그래픽 광 정보 처리 시스템은 데이터페이지 단위로 데이터를 처리한다. 이러한 데이터페이지 단위의 광 정보 처리 과정은 미국등록특허 제 670923호, 일본공개특허 제 1998-97792 등에 상세히 기재되어 있다.
일례로, 홀로그래픽 광 정보 처리 시스템은 입력 데이터를 데이터페이지 단위로 인코딩하고, 인코딩된 각 2진 데이터를 각각의 픽셀에 대응시켜 2차원적인 데이터페이지의 이미지를 생성한 뒤, 이를 신호광에 투영시켜 광 정보 저장매체로 조사한다. 이러한 광학적 변조는 공간 광변조기(SLM : Spatial Light Modulator)를 통하여 수행될 수 있다.
이때, 광 정보 저장매체에는 상기 신호광과 다른 각도로부터 조사되는 기준광이 입사된다. 상기 신호광과 기준광은 광 정보 저장매체 내에서 서로 간섭을 일으켜, 상기 신호광에 담긴 데이터페이지의 이미지가 간섭패턴의 형태로 광 정보 저장매체에 기록된다.
이와 같은 과정에 의하여 광 정보 저장매체에 기록된 데이터페이지의 이미지는 기준광을 상기 간섭패턴에 조사함으로써 재생될 수 있다. 재생된 데이터페이지의 이미지는 수광배열소자, 예를 들면, CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor) 또는 CCD(Charge Coupled Device) 등을 통하여 검출될 수 있다. 이때, 검출된 데이터페이지의 이미지는 소정의 신호 처리 및 디코딩 과정을 거쳐 원본 데이터로 재생된다.
한편, 상기 수광배열소자를 이용하여 데이터페이지의 이미지를 검출할 때는 다음과 같은 다양한 샘플링 기법들이 사용될 수 있다.
1. 1:1 픽셀 매칭(Pixel Matching)법
1:1 픽셀 매칭 기법은 재생된 데이터페이지 이미지의 픽셀(이하, 데이터 픽셀로 약칭)과 수광배열소자의 픽셀(이하, 검출픽셀로 약칭)을 1:1로 매칭시키는 방법이다. 이러한 1:1 픽셀 매칭 기법은 하나의 데이터 픽셀이 하나의 검출픽셀에 직접 대응되므로, 이미지 검출 시의 저장 밀도가 높다.
그런데, 실제로 데이터페이지의 이미지 재생 시에는 광 정보 저장매체의 수축(Shrinkage)이나 회전(Rotation)의 영향으로 수광배열소자에 결상되는 재생 이미지의 위치가 변하고, 그 결과 미스얼라인(Misalignment)이 발생하여 데이터 픽셀과 수광픽셀이 서로 비매칭되게 된다.
그러나, 상기 1:1 픽셀 매칭 기법은 데이터 픽셀 크기의 1/2 이상의 비매칭이 발생할 경우, 소광배열소자에 의하여 검출된 데이터페이지의 이미지가 심하게 열화(Degradation)되는 현상을 가져온다. 따라서, 픽셀 비매칭이 심하면 정확한 정보를 얻을 수 없다.
도 1a 및 1b는 이러한 1:1 픽셀 매칭법을 이용하여 데이터페이지의 이미지를 검출한 예를 보여주는 예시도로서, 도 1a는 미스얼라인이 발생하지 않은 경우의 영상을 보여주고 있으며, 도 1b는 0.4 픽셀의 미스얼라인이 발생한 경우의 영상을 보여주고 있다.
도 1a 및 도 1b를 참조하면, 미스얼라인이 발생하지 않은 도 1a의 이미지에 비하여 0.4 픽셀의 미스얼라인이 발생한 도 1b의 이미지는 오류가 굉장히 많음을 알 수 있다.
2. 1:3 오버샘플링(Oversampling)법
1:3 오버샘플링법은 한 개의 데이터 픽셀을 9개(3×3)의 검출픽셀로 검출하도록 하는 방법이다. 1:3 오버샘플링법의 경우, 데이터 픽셀과 검출픽셀간의 비매칭이 임의적으로 발생하더라도 9개의 검출픽셀 중 중심에 위치하는 검출픽셀은 데이터 픽셀의 광을 검출할 수 있다. 따라서, 재생된 데이터페이지의 이미지가 수광배열소자의 어느 위치에 존재하더라도 중심의 검출픽셀로 검출해낸 이미지로부터 신뢰성 있는 데이터를 얻을 수 있다.
그러나, 이러한 1:3 오버샘플링법은 이미지 검출 시에 1개의 데이터 픽셀을 검출하기 위하여 9개의 검출픽셀이 필요하므로 저장밀도가 너무 낮다. 예를 들면, 1200×1200 검출픽셀로 이루어진 수광배열소자를 사용할 경우, 하나의 데이터페이지에는 400×400의 데이터만을 포함시켜야 한다. 따라서, 시스템의 안정성은 확보할 수 있으나 홀로그래픽 메모리의 가장 큰 강점인 저장능력은 저하시키는 심각한 단점이 가진다.
3. 1:2 오버샘플링법
1:2 오버샘플링법은 하나의 데이터 픽셀을 4개(2×2)의 검출픽셀로 검출하도록 하는 방법이다. 1:2 오버샘플링법도 앞서 설명한 1:3 오버샘플링법과 마찬가지로 임의의 픽셀 비매칭이 발생하더라도 4개의 검출픽셀 중 하나는 데이터 픽셀의 광을 검출할 수 있어 신뢰성있는 데이터를 얻을 수 있다. 그러나, 이러한 1:2 오버샘플링법도 픽셀 매칭법과 비교하여 정보 저장밀도가 25% 밖에 미치지 못하는 단점 이 있다.
이와 같이, 종래의 픽셀 매칭법은 저장밀도는 좋으나 픽셀간의 미스얼라인에 너무 취약한 단점이 있고, 종래의 1:3 오버샘플링법 및 1:2 오버샘플링법의 경우 데이터 검출의 신뢰성은 높으나 저장밀도가 너무 낮은 문제점이 있다. 따라서, 데이터 검출의 신뢰성을 보장하면서 높은 저장밀도를 만족시킬 수 있는 광 정보 검출 방법이 요구되고 있다.
본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 광 정보를 1:n(n은 1보다 큰 비정수) 오버샘플링를 통하여 보다 효율적으로 검출할 수 있도록 하는 광 정보 검출 방법을 제공하는데 본 발명의 제 1 목적이 있다.
또한, 상기 광 정보 검출 방법을 실현할 수 있는 광 정보 검출기를 제공하는데 본 발명의 제 2 목적이 있다.
이러한 본 발명의 제 1 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광 정보 검출 방법은, 소스 데이터페이지의 이미지를 1:n(n은 1보다 큰 비정수) 오버픽셀로 검출하는 단계와; 상기 검출된 데이터페이지의 이미지에서 매칭 식별 영역을 검출하는 단계와; 상기 검출된 매칭 식별 영역의 광분포를 이용하여, 매칭 케이스를 판별하는 단계; 및 상기 판별된 프레임 마크의 매칭 상태에 대응되는 기 설정된 샘플링 패턴에 따라 상기 소스 데이터페이지의 이미지를 복원하기위한 샘플링을 수행하는 단계를 포함한다.
상기 매칭 식별 영역은 상기 소스 데이터페이지의 프레임 마크에 대응되는 프레임 마크 영역일 수 있다. 또한, 상기 매칭 케이스는 상기 프레임 마크의 매칭 상태를 의미할 수 있다.
상기 프레임 마크 영역은 수직 프레임 마크 영역 및 수평 프레임 마크 영역을 포함할 수 있다. 이 경우 상기 판별 단계는 상기 수직 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 상기 프레임 마크의 수평 매칭 상태를 판별할 수 있다. 상기 수직 프레임 마크 영역은 상기 검출된 데이터페이지의 이미지 상에서 광세기가 가장 큰 칼럼(Column) 및 상기 칼럼의 적어도 하나 이상의 이웃 칼럼이 포함한 영역일 수 있다.
상기 수평 매칭 상태는, 상기 광세기가 가장 큰 칼럼의 광세기가 상기 이웃 칼럼의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '센터' 상태와; 상기 광세기가 가장 큰 칼럼의 광세기와 그 좌측 칼럼의 광세기가 비슷하고 우측 칼럼의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '좌측' 상태; 및 상기 광세기가 가장 큰 칼럼의 광세기와 그 우측 칼럼의 광세기가 비슷하고 좌측 칼럼의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '우측' 상태 등을 포함할 수 있다.
또한, 상기 판별 단계는 상기 수평 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 상기 프레임 마크의 수직 매칭 상태를 판별할 수 있다. 상기 수평 프레임 마크 영역은 상기 검출된 데이터페이지의 이미지 상에서 광세기가 가장 큰 로우(Column) 및 상기 로우의 적어도 하나 이상의 이웃 로우가 포함된 영역일 수 있다.
상기 수직 매칭 상태는, 상기 광세기가 가장 큰 로우의 광세기가 상기 이웃 로우의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '센터' 상태와; 상기 광세기가 가장 큰 로우의 광세기와 그 상측 로우의 광세기가 비슷하고 하측 로우의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '상측' 상태; 및 상기 광세기가 가장 큰 로우의 광세기와 그 하측 로우의 광세기가 비슷하고 상측 로우의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '하측' 상태 등을 포함할 수 있다.
상기 샘플링 패턴은 상기 프레임 마크의 수평 매칭 상태의 수와 및 상기 프레임 마크의 수직 매칭 상태의 수를 조합한 경우의 수에 대응되게 설정될 수 있다.또한, 상기 샘플링 패턴은 검출할 데이터 픽셀 내에 존재하는 검출 픽셀간의 교차점을 고려한 적어도 하나 이상의 단위 샘플링 패턴을 포함할 수 있다.
상기 단위 샘플링 패턴은, 상기 데이터 픽셀 내에 존재하는 상기 교차점의 수가 한 개이면 상기 교차점에 접하는 네 개의 검출 픽셀의 값을 평균한 값을 샘플링하는 패턴과; 상기 교차점의 수가 두 개이면 상기 두 교차점에 모두 접하는 두 개의 검출 픽셀의 값을 평균한 값을 샘플링하는 패턴; 및 상기 교차점의 수가 네 개이면 상기 네 개의 교차점에 모두 접하는 하나의 검출 픽셀의 값을 샘플링하는 패턴 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 상기 샘플링 패턴은 상기 프레임 마크 매칭 상태에 대응되게 복수의 상기 단위 샘플링 패턴이 블록 단위로 설정될 수 있다.
상기 샘플링 단계는 상기 판별된 프레임 마크의 매칭 상태에 대응되는 샘플 링 패턴에 따라 상기 데이터 픽셀에 대응되는 적어도 하나 이상의 검출 픽셀을 샘플링하여 상기 데이터 픽셀을 복원할 수 있다.
한편, 상술한 본 발명의 제 1 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광 정보 검출 방법은, 본 발명의 복수의 데이터 픽셀을 포함하는 소스 데이터페이지의 이미지를 상기 데이터 픽셀의 수보다 비정수배의 많은 검출 픽셀을 통하여 검출하는 단계와; 상기 검출된 데이터페이지의 이미지의 광분포를 이용하여, 상기 이미지 검출 시의 매칭 상태를 판별하는 단계; 및 상기 판별된 매칭 상태에 따라 복수의 단위 샘플링 패턴을 선택하여, 상기 소스 데이터페이지의 이미지를 복원하기 위한 샘플링을 수행하는 단계를 포함할 수도 있다.
이때, 상기 단위 샘플링 패턴은 복원할 데이터 픽셀 내에 존재하는 검출 픽셀간의 교차점의 수에 따른 샘플링 패턴일 수 있다. 상기 단위 샘플링 패턴은, 상기 데이터 픽셀 내에 존재하는 상기 교차점의 수가 한 개이면 상기 교차점에 접하는 네 개의 검출 픽셀의 값을 평균한 값을 샘플링하는 패턴과; 상기 교차점의 수가 두 개이면 상기 두 교차점에 모두 접하는 두 개의 검출 픽셀의 값을 평균한 값을 샘플링하는 패턴; 및 상기 교차점의 수가 네 개이면 상기 네 개의 교차점에 모두 접하는 하나의 검출 픽셀의 값을 샘플링하는 패턴 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.
한편, 상술한 본 발명의 제 2 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광 정보 검출기는, 소스 데이터페이지의 이미지를 1:n(1보다 큰 비정수) 오버픽셀로 검출하는 광 검출부; 및 상기 검출된 데이터페이지의 이미지에서 프레임 마크 영역을 검 출하고, 상기 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 프레임 마크의 상태를 검출하고, 상기 프레임 마크의 상태에 대응하는 기 설정된 샘플링 패턴에 따라 상기 소스 데이터페이지의 이미지를 복원하기 위한 샘플링을 수행하는 광 정보 처리부를 포함할 수 있다. 또한, 상기 광 정보 검출기는 상기 프레임 마크의 상태에 대응하는 샘플링 패턴이 저장되는 메모리를 더 포함할 수 있다.
상기 광 정보 처리부는, 상기 검출된 데이터페이지의 이미지에서 상기 소스 데이터페이지의 프레임 마크에 대응되는 상기 프레임 마크 영역을 검출하는 프레임 마크 영역 검출 모듈과, 상기 검출된 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 상기 프레임 마크의 매칭 상태를 검출하는 프레임 마크 상태 판별 모듈; 및 상기 판별된 프레임 마크의 매칭 상태에 대응하는 기 설정된 샘플링 패턴에 따라 상기 소스 데이터페이지의 이미지를 복원하기 위한 샘플링을 수행하는 샘플링 모듈을 포함할 수 있다.
상기 프레임 마크 영역은 수직 프레임 마크 영역 및 수평 프레임 마크 영역을 포함할 수 있다. 상기 광 신호 처리부는 상기 수직 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 상기 프레임 마크의 수평 매칭 상태를 판별하고, 상기 수평 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 상기 프레임 마크의 수직 매칭 상태를 판별할 수 있다. 상기 샘플링 패턴은 상기 프레임 마크의 수평 매칭 상태의 수와 및 상기 프레임 마크의 수직 매칭 상태의 수를 조합한 경우의 수에 대응되게 설정될 수 있다.
이하, 본 발명이 속하는 분야에 통상의 지식을 가진자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 또한, 도면에 예시된 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함에 있어서 내용의 명료성을 위하여 특정한 기술 용어를 사용한다. 하지만, 본 발명은 이와 같은 선택된 특정 용어에 한정되지 않으며, 각각의 특정 용어가 유사한 목적을 달성하기 위하여 유사한 방식으로 동작하는 모든 기술 동의어를 포함함을 밝혀둔다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광 정보 검출기를 구비하는 광 정보 재생 장치의 구성을 도시하는 블록도이다.
도 2를 참조하면, 광 정보 재생 장치는 레이저광 같은 광을 발생시켜 광 정보 저장매체(20)로 조사하는 광 조사부(10)를 포함할 수 있다. 광 조사부(10)에 의하여 조사되는 광은 광 정보 저장매체(20)에 소정의 각도로 입사된다. 상기 광 정보 저장매체(20)에는 다수의 데이터페이지가 간섭패턴의 형태로 저장되어 있다. 이때, 상기 광 조사부(10)에 의하여 입사되는 광은 광 정보 저장매체(20)에 저장된 간섭패턴을 재생하기 위한 기준광(Reference Beam) 및 위상 공액(Phase Conjugation) 기준광 중 어느 하나일 수 있다.
상기 광 정보 저장매체(20)에 저장된 간섭패턴에 광이 입사되면, 간섭패턴에 의한 회절에 의하여 데이터페이지의 이미지가 재생된다. 이때, 재생된 데이터페이지의 이미지는 광 정보 검출기(100)에 의하여 검출된다. 이어서, 검출된 데이터페이지의 이미지(100)는 신호 처리부(30)에 의하여 2진 데이터로 변환된 뒤, 디코딩부(40)에 의하여 디코딩되어 원본 데이터로 재생된다.
도 3은 도 2에 도시된 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광 정보 검출기 (100)의 구성을 도시하는 블록도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광 정보 검출기(100)는 광 검출부(110), 메모리(130) 및 광 정보 처리부(120)를 포함할 수 있다. 이때, 상기 광 정보 처리부(120)는 프레임 마크 영역 검출 모듈(121), 프레임 마크 상태 판별 모듈(123) 및 샘플링 모듈(125)을 포함할 수 있다.
먼저, 광 검출부(110)는 광 정보 저장매체(20)에 저장되어 기준광에 의하여 재생되는 소스 데이터페이지의 이미지를 1:n(n은 1보다 큰 비정수) 오버픽셀(Over-Pixel)로 검출한다. 이때, 1:n 오버픽셀이란 하나의 데이터 픽셀이 n×n개의 검출 픽셀에 대응되게 광학계를 구성하여 이미지를 검출한다는 의미이다.
예를 들면, 1:1.5 오버픽셀에서는, 1개의 데이터 픽셀이 1.5×1.5개의 검출 픽셀에 대응되므로, 2×2 데이터 픽셀은 광 검출부(110)의 3×3 검출 픽셀에 매핑(Mapping)될 수 있다. 또한, 다른 예로 n이 1.33인 1:1.33 오버픽셀에서는, 1개의 데이터 픽셀이 1.33개의 검출 픽셀에 대응되므로, 3×3 데이터 픽셀은 4×4 검출 픽셀과 매핑 될 수 있다.
상기 광 검출부(110)는 다수의 수광 소자가 배열을 이루는 수광배열소자일 수 있다. 예를 들면, CMOS (Complementary Metal-Oxide Semiconductor) 또는 CCD(Charge Coupled Device) 등을 일 수 있다.
광 정보 처리부(120)는 광 검출부(110)에 의하여 검출된 데이터페이지의 이미지 상에서 프레임 마크 영역을 검출하고, 검출된 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 프레임 마크의 매칭 상태를 판별한 뒤, 판별된 프레임 마크의 매칭 상태 에 대응되는 샘플링 패턴에 따라 샘플링을 수행하여 각각의 데이터 픽셀 이미지를 검출한다. 상기 광 신호 처리부(120)는 프레임 마크 영역 검출 모듈(121), 프레임 마크 상태 판별 모듈(123) 및 샘플링 모듈(125)로 구성될 수 있다.
프레임 마크 영역 검출 모듈(121)은 광 검출부(110)에 의하여 검출된 데이터페이지의 이미지에서 프레임 마크 영역을 검출한다. 이때, 프레임 마크 영역 검출 모듈은 상기 프레임 마크 영역을 수직 프레임 마크 영역과 수평 프레임 마크 영역으로 구분하여 검출할 수 있다.
프레임 마크 상태 판별 모듈은 프레임 마크 영역 검출 모듈에 의하여 검출된 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 프레임 마크의 매칭 상태를 판별한다. 이때, 프레임 마크 상태 판별 모듈은 프레임 마크 영역 검출 모듈에 의하여 검출된 수평 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 수평 프레임 마크의 수직 매칭 상태를 판별할 수 있으며, 수직 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 수직 프레임 마크의 수평 매칭 상태를 판별할 수 있다.
샘플링 모듈(125)은 판별된 프레임 마크의 매칭 상태에 따른 샘플링 패턴에 따라 샘플링을 수행하여 각각의 데이터 픽셀 이미지를 검출한다. 즉, 프레임 마크의 수직 매칭 상태 및 수평 매칭 상태에 대응하는 샘플링 패턴에 따라 검출 픽셀을 샘플링하여 각각의 데이터 픽셀을 검출함으로써 소스 데이터페이지의 이미지를 복원한다.
이때, 상기 수직 매칭 상태 및 수평 매칭 상태에 대응하는 데이터 샘플링 패턴은 메모리(130)에 기 저장되어 있을 수 있다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광 정보 검출 방법의 흐름을 도시하는 흐름도로서, 1:1.5 오버샘플링을 통하여 광 정보를 검출하는 방법을 보여주고 있다. 도 4의 설명에 있어서, 광 정보 검출 방법의 실현을 위한 장치적인 구성은 도 3에 도시된 광 정보 검출기(100)를 이용한다. 따라서, 이하의 개시되는 내용에 의하여, 앞서 설명한 광 정보 검출기(100)가 가지는 각 구성요소들의 기능도 더욱 명확해질 것이다.
도 4를 참조하면, 먼저, 광 검출부(110)는 광 정보 저장매체(20)에 저장되어 기준광에 의하여 재생되는 소스 데이터페이지의 이미지를 1:1.5 오버픽셀을 통하여 검출한다(단계:S1). 따라서, 2×2의 데이터 픽셀은 3×3의 검출 픽셀에 대응될 것이다.
이어서, 프레임 마크 영역 검출 모듈(121)은 광 검출부(110)에 의하여 검출된 데이터페이지의 이미지 상에서 프레임 마크 영역을 검출한다(단계:S2).
상기 프레임 마크 영역은 소스 데이터페이지의 이미지에 존재하는 프레임 마크의 이미지가 반영되어 검출되는 것이다. 상기 프레임 마크는 통상 데이터페이지의 테두리 형태로 존재할 수도 있지만, 실시 환경에 따라서는 데이터페이지의 수평 및 수직 영역을 식별할 수 있도록 하는 다양한 픽셀 배열의 형태로 존재할 수 있다.
이러한 프레임 마크는 식별의 용이성을 위하여 온 픽셀들이 연속적으로 배열되기 때문에 광세기(intensity)가 매우 크다. 따라서, 프레임 마크 영역은 광 검출부(110)에 의하여 검출된 데이터페이지의 이미지 상에서 다른 부분에 비하여 광세 기가 월등히 큰 부분을 찾음으로써 용이하게 검출될 수 있다.
도 5는 광 검출부(110)를 통하여 검출된 데이터페이지의 이미지의 일부 영역을 도시하는 예시도이다.
도 5를 참조하면, 데이터페이지 이미지(200)의 정보 영역(203) 바깥부분에 다수의 온 픽셀들이 테두리의 형태로 배치된 프레임 마크 영역(201, 202)이 존재하는 것을 알 수 있다.
이때, 수평 방향으로 배치된 온 픽셀들의 배열을 수평 프레임 마크 영역(202)이라 칭하고, 수직 방향으로 배치된 온 픽셀들의 배열을 수직 프레임 마크 영역(201)이라 칭할 수 있다. 상기 프레임 마크 영역(201, 202)과 정보 영역(203)의 사이에는 프레임 마크 영역(201, 202)과 정보 영역(203)을 명확히 구분할 수 있도록 다수의 오프픽셀들이 배치된 식별 영역이 검출될 수 있다.
도 5의 우측에 도시된 측정 그래프(a)를 살펴보면, 수평 프레임 마크 영역(202)이 위치한 부분의 광세기가 다른 부분의 광세기보다 월등히 높은 것을 알 수 있다. 또한, 도 5의 하단에 도시된 측정 그래프(b)를 살펴보면, 수직 프레임 마크 영역(201)의 광세기가 다른 부분의 광세기보다 월등히 높은 것을 알 수 있다.
이러한 프레임 마크 영역(201, 202)은 1:1.5의 오버픽셀로 검출된 데이터페이지의 이미지(200) 상에서 검출된 것이므로, 실제 데이터페이지의 프레임 마크가 하나의 라인으로 구성될 경우 검출된 이미지에서의 프레임 마크 영역(201, 202)은 최대 3개까지의 라인으로 검출될 수 있다.
도 5를 살펴보면, 수직 프레임 마크 영역(201)은 하나의 칼럼에 비교적 또렷 하게 검출되나, 수평 프레임 마크 영역(202)은 2개의 로우로 분산된 형태를 띠는 것을 알 수 있다. 이러한 검출 프레임 마크 영역(201, 202)의 광분포를 이용하면 실제 프레임 마크의 매칭 상태를 판별할 수 있다.
이에, 프레임 마크 상태 판별 모듈(123)은 상기 검출된 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 프레임 마크의 매칭 상태를 판별한다(단계:S3). 즉, 검출된 수직 프레임 마크 영역 및 수평 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 프레임 마크의 수평 매칭 및 수직 매칭 상태를 판별하는 것이다. 따라서, 프레임 마크 영역은 매칭 케이스를 판별하기 위한 매칭 케이스 식별 영역이라 할 수 있다.
먼저, 수직 프레임 마크 영역을 이용하여, 프레임 마크의 수평 매칭 상태를 판별하는 과정을 설명한다.
도 6a, 도 6b 및 도 6c는 수직 프레임 마크 영역을 이용하여 프레임 마크의 수평 매칭을 판별하는 개념을 보여주는 예시도로서, 작은 그리드(Grid)로 표현된 픽셀은 검출 픽셀을 의미하며, 큰 그리드로 표현된 픽셀은 데이터 픽셀을 의미한다. 또한, 도 6a 내지 도 6c 상에 수직으로 진하게 표시된 데이터픽셀들의 배열 라인은 수직 프레임 마크를 의미한다.
우선, 수평 매칭 상태를 검출하기 위한 수직 프레임 마크 영역에서는 3개의 칼럼(Column) 즉, Cmax-1, Cmax, Cmax+1이 고려되어야 한다. 이때, 상기 Cmax는 검출된 칼럼 중 가장 광세기가 높은 칼럼을 의미하며, Cmax-1 및 Cmax+1은 상기 Cmax의 전후 칼럼을 의미하는 것으로 정의한다. 이러한 Cmax, Cmax-1 및 Cmax+1의 광분 포는 다음과 같은 세 가지의 경우로 나뉠 수 있다.
첫째로, Cmax의 광세기가 Cmax-1 및 Cmax+1의 광세기에 비하여 월등히 큰 경우는 Cmax가 실지 수직 프레임 마크와 거의 일치한다는 것을 의미할 수 있다. 즉, 도 6a에 도시된 상태와 같다고 볼 수 있다. 이러한 프레임 마크의 상태를 '수평(Horizontal)-센터(Center)'즉,'H-C'라고 정의한다.
둘째로, Cmax의 광세기와 Cmax-1의 광세기의 차이가 많지 않고, 이들에 비하여 Cmax+1의 광세기가 월등히 적을 경우, 이는 수직 프레임 마크가 좌측으로 이동하였다는 것을 의미할 수 있다. 즉, 도 6b에 도시된 상태와 같다고 볼 수 있다. 이러한 수직 프레임 마크의 상태를 '수평(Horizontal)-좌측(Left)'즉, 'H-L'라고 정의한다.
셋째로, Cmax의 광세기와 Cmax+1의 광세기의 차이가 많지 않고, 이들에 비하여 Cmax-1의 광세기가 월등히 적을 경우, 이는 수직 프레임 마크가 우측으로 이동하였다는 것을 의미할 수 있다. 즉, 도 6c에 도시된 상태와 같다고 볼 수 있다. 이러한 수직 프레임 마크의 상태를 '수평(Horizontal)-우측(Right)'즉, 'H-R'라고 정의한다.
이와 같이, 수직 프레임 마크 영역의 광분포에 의하여 프레임 마크가 가지는 세 가지의 수평 매칭 상태 즉, 수평 매칭 케이스가 정의된다.
한편, 수평 프레임 마크 영역을 이용하여, 프레임 마크의 수직 매칭 상태를 판별할 수 있다.
도 7a, 도 7b 및 도 7c는 수평 프레임 마크 영역을 이용하여 프레임 마크의 수직 매칭 상태를 판별하는 개념을 보여주는 예시도이다. 도 7a 내지 도 7c 상에 수평으로 진하게 표시된 데이터픽셀들의 배열 라인은 수평 프레임 마크를 의미한다.
수평 매칭 상태를 검출하기 위한 수직 프레임 마크 영역에서는 3개의 로우(Row) 즉, Rmax-1, Rmax, Rmax+1이 고려되어야 한다. 이때, 상기 Rmax는 검출된 로우 중 가장 광세기가 높은 로우를 의미하며, Rmax-1 및 Rmax+1은 상기 Rmax의 전후 로우를 의미하는 것으로 정의한다. 이러한 Rmax, Rmax-1 및 Rmax+1의 광분포는 다음과 같은 세 가지의 경우로 나뉠 수 있다.
첫째로, Rmax의 광세기가 Rmax-1 및 Rmax+1의 광세기에 비하여 월등히 큰 경우는 Rmax가 실지 수평 프레임 마크와 거의 일치한다는 것을 의미할 수 있다. 즉, 도 7a에 도시된 상태와 같다고 볼 수 있다. 이러한 프레임 마크의 상태를 '수직(Vertical)-센터(Center)'즉,'V-C'라고 정의한다.
둘째로, Rmax의 광세기와 Rmax-1의 광세기의 차이가 많지 않고, 이들에 비하여 Rmax+1의 광세기가 월등히 적을 경우, 이는 수평 프레임 마크가 상측으로 이동하였다는 것을 의미할 수 있다. 즉, 도 7b에 도시된 상태와 같다고 볼 수 있다. 이러한 프레임 마크의 상태를 '수직(Vertical)-상측(Upper)'즉, 'V-U'라고 정의한다.
셋째로, Rmax의 광세기와 Rmax+1의 광세기의 차이가 많지 않고, 이들에 비하여 Rmax-1의 광세기가 월등히 적을 경우, 이는 수평 프레임 마크가 하측으로 이동하였다는 것을 의미할 수 있다. 즉, 도 7c에 도시된 상태와 같다고 볼 수 있다. 이러한 수평 프레임 마크의 상태를 '수직(Vertical)-하측(Lower)'즉, 'V-L'라고 정의 한다.
이와 같이, 수평 프레임 마크 영역의 광분포에 의하여 프레임 마크가 가지는 세 가지의 수직 매칭 상태 즉, 수직 매칭 케이스가 정의된다.
따라서, 이러한 프레임 마크 상태 판별 과정(단계:S3)을 거쳐 프레임 마크가 가지는 수평 매칭 상태가 및 수직 매칭 상태가 모두 정의될 수 있다.
이어서, 샘플링 모듈(125)은 상기 판별된 프레임 마크의 매칭 상태에 대응되는 샘플링 패턴에 따라 샘플링을 수행하여(단계:S4) 각각의 데이터 픽셀을 복원함으로써, 소스 데이터페이지의 이미지를 복원한다(단계:S5).
이때 먼저 고려될 점은 검출할 데이터 픽셀의 영역 내에 존재하는 검출 픽셀간의 교차점(Point)에 따른 단위 샘플링 패턴이다.
도 8a 내지 도 8d는 데이터 픽셀 내에 존재하는 검출 픽셀간의 교차점 수에 따른 데이터 픽셀의 단위 샘플링 패턴을 각각 도시하는 예시도로서, 작은 그리드로 표현된 픽셀은 검출 픽셀을 나타내며, 큰 그리드로 표현된 픽셀은 검출할 데이터 픽셀을 나타낸다. 또한, '×'로 표현된 점은 검출 픽셀간의 교차점(Cross Pts)을 의미하는 것이다.
도 8a를 참조하면, 검출할 데이터 픽셀 내에 검출 픽셀간의 교차점이 4개가 존재하는 것을 알 수 있다. 이 경우에는 검출 픽셀(a)가 데이터 픽셀에 완전히 대응되므로, 검출 픽셀(a)의 이미지를 그대로 샘플링하여 데이터 픽셀의 이미지로 복원한다. 즉, 교차점이 4개(4 Cross Pts)인 경우에는 그 4개의 교차점에 모두 접하 는 검출 픽셀 즉, 검출할 데이터 픽셀 내에 존재하는 검출 픽셀의 값을 그대로 샘플링한다.
도 8b를 참조하면, 검출할 데이터 픽셀 내에 검출 픽셀간의 교차점이 수직으로 두개 존재한다. 이 경우 두 개의 검출 픽셀(b, c)이 데이터 픽셀에 영향을 줄 수 있으므로, 두 검출 픽셀(b, c)의 평균값을 샘플링하여 데이터 픽셀의 이미지로 복원한다. 즉, 수직 교차점이 2개(2 Cross Pts)일 때는 그 2개의 수직 교차점에 모두 접하는 두 개의 검출 픽셀의 평균값을 샘플링한다.
도 8c를 참조하면, 검출할 데이터 픽셀 내에 검출 픽셀간의 교차점이 수평으로 두개 존재한다. 이 경우 두 개의 검출 픽셀(d, f)이 데이터 픽셀에 영향을 줄 수 있으므로, 두 검출 픽셀(d, f)의 평균값을 샘플링하여 데이터 픽셀의 이미지로 복원한다. 즉, 수평 교차점이 2개(2 Cross Pts)일 때는 그 2개의 수평 교차점에 모두 접하는 두 개의 검출 픽셀의 평균값을 샘플링한다.
도 8d를 살펴보면, 검출할 데이터 픽셀 내에 검출 픽셀간의 교차점이 한개 존재한다. 이 경우 4개의 검출 픽셀(g, h, I, j)이 모두 데이터 픽셀에 영향을 줄 수 있으므로, 4개의 검출 픽셀(g, h, I, j)의 평균값을 샘플링하여 데이터 픽셀의 이미지로 복원한다. 즉, 교차점이 1개(1 Cross Pts)일 때는 그 교차점에 접하는 4 개의 검출 픽셀의 평균값을 샘플링한다.
이와 같은 단위 샘플링 패턴은 메모리(130)에 기 설정될 수 있다.
한편, 앞서 언급 했듯이, 프레임 마크의 매칭 상태는 수평방향으로, '센터 (C)', '좌측(L)'및 '우측(R)'의 3가지로 정의되며, 수직 방향으로 '센터(C)', '상측(U)'및 '하측(L)'의 3가지로 정의되었다.
따라서, 프레임 마크의 매칭은 다음과 같은 9가지의 조합이 발생할 수 있다.
즉, [(수평-센터)and(수직-센터)], [(수평-좌측)and(수직-센터)], [(수평-우측)and(수직-센터)], [(수평-센터)and(수직-상측)], [(수평-센터)and(수직-하측)], [(수평-좌측)and(수직-상측)], [(수평-좌측)and(수직-하측)], [(수평-우측)and(수직-상측)] 및 [(수평-우측)and(수직-하측)] 과 같은 조합이 가능하다. 따라서, 이러한 9가지의 조합에 대한 샘플링 패턴이 정의될 수 있다.
도 9a 내지 도 9i는 프레임 마크 상태 판별 단계를 통하여 판별된 프레임 마크의 매칭 상태에 따른 샘플링 방법을 각각 도시하는 예시도이다.
도 9a 내지 도 9b에 도시된 작은 그리드는 검출 픽셀을 의미하며, 큰 그리드는 데이터 픽셀을 의미한다. 또한, 본 실시예에서는 1:1.5 오버샘플링으로 데이터를 샘플링하는 경우를 설명하고 있으므로, 2×2 데이터 픽셀은 3×3 검출 픽셀에 대응된다. 따라서, 2×2의 데이터 픽셀 블록 단위로 이미지를 복원하면 된다.
이때, 이해의 편의성을 위하여, 상기 각 2×2의 데이터 픽셀 블록에서 좌상측에 위치한 데이터 픽셀은 제 1 데이터 픽셀로 칭하고, 우상측에 위치한 데이터 픽셀은 제 2 데이터 픽셀로 칭하고, 좌하측에 위치한 데이터 픽셀은 제 3 데이터 픽셀로 칭하고, 우하측에 위치한 데이터 픽셀을 제 4 데이터 픽셀로 칭하기로 한다.
이하, 도 9a 내지 도 9i를 각각 참조하여, 프레임 마크의 매칭 상태의 조합 에 따른 샘플링 패턴을 각각 설명한다.
1. (수평-센터)and(수직-센터) : Case CC
도 9a를 참조하면, 검출된 프레임 마크의 상태가 앞서 도 6a 및 도 7a에서 각각 정의한 '수평-센터' 및 '수직-센터'임을 알 수 있다. 이 경우의 데이터 픽셀 블록 내의 각 데이터 픽셀을 검출하기 위한 샘플링 패턴은 다음과 같다.
첫째, 제 1 데이터 픽셀에는 검출 픽셀간의 교차점이 1개가 존재하므로 그 교차점에 접한 4개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(1Cross Pt -> 4 Pixel Mean).
둘째, 제 2 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
셋째, 제 3 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
넷째, 제 4 데이터 픽셀에는 교차점이 4개 존재하므로, 그 4개의 교차점에 접한 1개의 검출 픽셀이 가지는 값을 그대로 검출한다(4Cross Pts -> 1 Pixel Mean).
2. (수평-좌측)and(수직-센터) : Case LC
도 9b를 참조하면, 검출된 프레임 마크의 상태가 앞서 도 6b 및 도 7a에서 각각 정의한 '수평-좌측'및 '수직-센터'임을 알 수 있다. 이 경우의 데이터 픽셀 블록 내의 각 데이터 픽셀을 검출하기 위한 샘플링 패턴은 다음과 같다.
첫째, 제 1 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
둘째, 제 2 데이터 픽셀에는 검출 픽셀간의 교차점이 1개가 존재하므로 그 교차점에 접한 4개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(1Cross Pt -> 4 Pixel Mean).
셋째, 제 3 데이터 픽셀에는 교차점이 4개 존재하므로, 그 4개의 교차점에 접한 1개의 검출 픽셀이 가지는 값을 그대로 검출한다(4Cross Pts -> 1 Pixel Mean).
넷째, 제 4 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
3. (수평-우측)and(수직-센터) : Case RC
도 9c를 참조하면, 프레임 마크의 매칭 상태가 '수평-우측'및 '수직-센터'일 경우 데이터 픽셀 블록 내의 각 데이터 픽셀을 검출하기 위한 샘플링 패턴은 다음과 같다.
첫째, 제 1 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
둘째, 제 2 데이터 픽셀에는 검출 픽셀간의 교차점이 1개가 존재하므로 그 교차점에 접한 4개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(1Cross Pt -> 4 Pixel Mean).
셋째, 제 3 데이터 픽셀에는 교차점이 4개 존재하므로, 그 4개의 교차점에 접한 1개의 검출 픽셀이 가지는 값을 그대로 검출한다(4Cross Pts -> 1 Pixel Mean).
넷째, 제 4 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
4. (수평-센터)and(수직-상측) : Case CU
도 9d를 참조하면, 프레임 마크의 매칭 상태가 '수평-센터'및 '수직-상측'일 경우 데이터 픽셀 블록 내의 각 데이터 픽셀을 검출하기 위한 샘플링 패턴은 다음과 같다.
첫째, 제 1 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
둘째, 제 2 데이터 픽셀에는 교차점이 4개 존재하므로, 그 4개의 교차점에 접한 1개의 검출 픽셀이 가지는 값을 그대로 검출한다(4Cross Pts -> 1 Pixel Mean).
셋째, 제 3 데이터 픽셀에는 검출 픽셀간의 교차점이 1개가 존재하므로 그 교차점에 접한 4개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(1Cross Pt -> 4 Pixel Mean).
넷째, 제 4 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
5. (수평-센터)and(수직-하측) : Case CL
도 9e를 참조하면, 프레임 마크의 매칭 상태가 '수평-센터'및 '수직-하측'일 경우 데이터 픽셀 블록 내의 각 데이터 픽셀을 검출하기 위한 샘플링 패턴은 다음과 같다.
첫째, 제 1 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
둘째, 제 2 데이터 픽셀에는 교차점이 4개 존재하므로, 그 4개의 교차점에 접한 1개의 검출 픽셀이 가지는 값을 그대로 검출한다(4Cross Pts -> 1 Pixel Mean).
셋째, 제 3 데이터 픽셀에는 검출 픽셀간의 교차점이 1개가 존재하므로 그 교차점에 접한 4개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(1Cross Pt -> 4 Pixel Mean).
넷째, 제 4 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
6. (수평-좌측)and(수직-상측) : Case LU
도 9f를 참조하면, 프레임 마크의 매칭 상태가 '수평-좌측'및 '수직-상측'일 경우 데이터 픽셀 블록 내의 각 데이터 픽셀을 검출하기 위한 샘플링 패턴은 다음과 같다.
첫째, 제 1 데이터 픽셀에는 교차점이 4개 존재하므로, 그 4개의 교차점에 접한 1개의 검출 픽셀이 가지는 값을 그대로 검출한다(4Cross Pts -> 1 Pixel Mean).
둘째, 제 2 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
셋째, 제 3 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
넷째, 제 4 데이터 픽셀에는 검출 픽셀간의 교차점이 1개가 존재하므로 그 교차점에 접한 4개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(1Cross Pt -> 4 Pixel Mean).
7. (수평-좌측)and(수직-하측) : Case LL
도 9g를 참조하면, 프레임 마크의 매칭 상태가 '수평-좌측'및 '수직-하측'일 경우 데이터 픽셀 블록 내의 각 데이터 픽셀을 검출하기 위한 샘플링 패턴은 다음과 같다.
첫째, 제 1 데이터 픽셀에는 교차점이 4개 존재하므로, 그 4개의 교차점에 접한 1개의 검출 픽셀이 가지는 값을 그대로 검출한다(4Cross Pts -> 1 Pixel Mean).
둘째, 제 2 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
셋째, 제 3 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
넷째, 제 4 데이터 픽셀에는 검출 픽셀간의 교차점이 1개가 존재하므로 그 교차점에 접한 4개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(1Cross Pt -> 4 Pixel Mean).
8. (수평-우측)and(수직-상측) : Case RU
도 9h를 참조하면, 프레임 마크의 매칭 상태가 '수평-우측'및 '수직-상측'일 경우 데이터 픽셀 블록 내의 각 데이터 픽셀을 검출하기 위한 샘플링 패턴은 다음과 같다.
첫째, 제 1 데이터 픽셀에는 교차점이 4개 존재하므로, 그 4개의 교차점에 접한 1개의 검출 픽셀이 가지는 값을 그대로 검출한다(4Cross Pts -> 1 Pixel Mean).
둘째, 제 2 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
셋째, 제 3 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
넷째, 제 4 데이터 픽셀에는 검출 픽셀간의 교차점이 1개가 존재하므로 그 교차점에 접한 4개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(1Cross Pt -> 4 Pixel Mean).
9. (수평-우측)and(수직-하측) : Case RL
도 9i를 참조하면, 프레임 마크의 매칭 상태가 '수평-우측'및 '수직-하측'일 경우 데이터 픽셀 블록 내의 각 데이터 픽셀을 검출하기 위한 샘플링 패턴은 다음과 같다.
첫째, 제 1 데이터 픽셀에는 교차점이 4개 존재하므로, 그 4개의 교차점에 접한 1개의 검출 픽셀이 가지는 값을 그대로 검출한다(4Cross Pts -> 1 Pixel Mean).
둘째, 제 2 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
셋째, 제 3 데이터 픽셀에는 교차점이 2개 존재하므로 두 교차점에 접한 2개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(2Cross Pts -> 2 Pixel Mean).
넷째, 제 4 데이터 픽셀에는 검출 픽셀간의 교차점이 1개가 존재하므로 그 교차점에 접한 4개의 검출 픽셀이 가지는 값의 평균값을 검출한다(1Cross Pt -> 4 Pixel Mean).
이와 같은 9가지의 샘플링 패턴을 통하여, 샘플링 모듈(125)은 각 데이터 픽셀에 대응되는 검출 픽셀을 샘플링하여 각각의 데이터 픽셀의 값들을 검출할 수 있게 된다.
도 10a 내지 도 10c는 상술한 방법으로 샘플링되어 데이터페이지의 이미지가 검출된 예를 보여주는 예시도이다. 이때, 10a는 공간 광변조기에 의한 소스 데이터 페이지의 이미지를 나타내며, 10b는 프레임 마크의 매칭 상태가 '수평-센터'및 '수직-상측'일 경우, 도 9d에 도시된 샘플링 패턴(Case CU)을 통하여 샘플링한 검출 이미지 및 2진화 이미지를 나타낸다. 또한, 도 10c는 프레임 마크의 매칭 상태가 '수평-센터'및 '수직-상측'이나, 이를 도 9g(Case LL)을 통하여 잘못 샘플링한 검출 이미지 및 2진화 이미지를 나타낸다.
도 10a 및 도 10b를 참조하면, 도 10a에 도시된 소스 데이터페이지의 이미지가 해당 샘플링 패턴 의한 복원을 통하여 도 10b에 도시된 바와 같이 에러 없이 완벽히 재생된 것을 알 수 있다.
반면, 도 10a 및 도 10c를 참조하면, 도 10a에 도시된 소스 데이터페이지의 이미지가 잘못된 샘플링 패턴의 선택으로 인하여 도 10c에 도시된 바와 같이 많은 에러가 발생된 것을 알 수 있다.
이상 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시켜 실시할 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
특히, 상술한 실시예에서는 1:n(n은 1보다 큰 비정수)의 오버샘플링 중 1:1.5의 오버샘플링에 대해서 설명하였다. 그러나, 실시 환경에 따라서는 3×3의 데이터 픽셀이 4×4의 검출 픽셀에 매핑되는 1:1.33 오버샘플링, 또는 4×4의 데이터 픽셀이 5×5의 검출 픽셀에 매핑되는 1:1.25 오버샘플링 등과 같은 다양한 실시가 가능함을 알 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 앞으로의 실시예들의 변경은 본 발명의 기술을 벗어날 수 없을 것이다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 매칭 식별 영역인 프레임 마크 영역을 이용하여, 매칭 케이스를 판별하고, 그 매칭 케이스 별로 적절한 샘플링 패턴을 선택하여 데이터를 샘플링하므로, 픽셀 매칭 법에 비하여 더 높은 신뢰성을 가지는 광 정보의 검출이 가능하며, 1:2 오버샘플링법 또는 1:3 오버샘플링법 등과 같은 다른 정수배의 오버샘플링법보다 저장밀도를 월등히 높일 수 있다.
따라서, 종래의 픽셀 매칭이 가지는 미스얼라인에 대한 취약성과, 정수배의 오버샘플링법 등이 가지는 저 저장밀도의 문제점을 동시에 해결함으로써, 신뢰성 높은 데이터 검출 및 고 저장밀도에 대한 요구를 모두 만족시킬 수 있다.

Claims (24)

  1. 소스 데이터페이지의 이미지를 1:n(n은 1보다 큰 비정수) 오버픽셀로 검출하는 단계;
    상기 검출된 데이터페이지의 이미지에서 매칭 식별 영역을 검출하는 단계;
    상기 검출된 식별 영역의 광분포를 이용하여, 매칭 케이스를 판별하는 단계; 및
    상기 판별된 매칭 케이스에 대응되는 기 설정된 샘플링 패턴에 따라 상기 소스 데이터페이지의 이미지를 복원하기위한 샘플링을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 매칭 식별 영역은 상기 소스 데이터페이지의 프레임 마크에 대응되는 검출되는 프레임 마크 영역인 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 매칭 케이스는 상기 프레임 마크의 매칭 상태인 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 프레임 마크 영역은 수직 프레임 마크 영역 및 수평 프레임 마크 영역 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 판별 단계는 상기 수직 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 상기 프레임 마크의 수평 매칭 상태를 판별하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  6. 제 4 항에 있어서, 상기 수직 프레임 마크 영역은 상기 검출된 데이터페이지의 이미지 상에서 광세기가 가장 큰 칼럼(Column) 및 상기 칼럼의 적어도 하나 이상의 이웃 칼럼이 포함된 영역인 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 수평 매칭 상태는,
    상기 광세기가 가장 큰 칼럼의 광세기가 상기 이웃 칼럼의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '센터' 상태;
    상기 광세기가 가장 큰 칼럼의 광세기와 그 좌측 칼럼의 광세기가 비슷하고 우측 칼럼의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '좌측' 상태; 및
    상기 광세기가 가장 큰 칼럼의 광세기와 그 우측 칼럼의 광세기가 비슷하고 좌측 칼럼의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '우측' 상태 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  8. 제 4 항에 있어서, 상기 판별 단계는 상기 수평 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 상기 프레임 마크의 수직 매칭 상태를 판별하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 수평 프레임 마크 영역은 상기 검출된 데이터페이지의 이미지 상에서 광세기가 가장 큰 로우(Row) 및 상기 로우의 적어도 하나 이상의 이웃 로우가 포함된 영역인 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 수직 매칭 상태는,
    상기 광세기가 가장 큰 로우의 광세기가 상기 이웃 로우의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '센터' 상태;
    상기 광세기가 가장 큰 로우의 광세기와 그 상측 로우의 광세기가 비슷하고 하측 로우의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '상측' 상태; 및
    상기 광세기가 가장 큰 로우의 광세기와 그 하측 로우의 광세기가 비슷하고 상측 로우의 광세기보다 월등히 큰 경우인 '하측' 상태 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  11. 제 4 항에 있어서, 상기 샘플링 패턴은 상기 프레임 마크의 수평 매칭 상태의 수와 및 상기 프레임 마크의 수직 매칭 상태의 수를 조합한 경우의 수에 대응되게 설정되는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  12. 제 1 항에 있어서, 상기 샘플링 패턴은 검출할 데이터 픽셀 내에 존재하는 검출 픽셀간의 교차점을 고려한 적어도 하나 이상의 단위 샘플링 패턴을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  13. 제 12 항에 있어서, 상기 단위 샘플링 패턴은,
    상기 데이터 픽셀 내에 존재하는 상기 교차점의 수가 한 개이면 상기 교차점에 접하는 네 개의 검출 픽셀의 값을 평균한 값을 샘플링하는 패턴;
    상기 교차점의 수가 두 개이면 상기 두 교차점에 모두 접하는 두 개의 검출 픽셀의 값을 평균한 값을 샘플링하는 패턴; 및
    상기 교차점의 수가 네 개이면 상기 네 개의 교차점에 모두 접하는 하나의 검출 픽셀의 값을 샘플링하는 패턴 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  14. 제 12 항에 있어서, 상기 샘플링 패턴은 상기 매칭 케이스에 대응되게 복수의 상기 단위 샘플링 패턴이 블록 단위로 설정되는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  15. 제 12 항에 있어서, 상기 샘플링 단계는 상기 판별된 매칭 케이스에 대응되는 샘플링 패턴에 따라 상기 데이터 픽셀에 대응되는 적어도 하나 이상의 검출 픽셀을 샘플링하여 상기 데이터 픽셀을 복원하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  16. 복수의 데이터 픽셀을 포함하는 소스 데이터페이지의 이미지를 상기 데이터 픽셀의 수보다 비정수배의 많은 검출 픽셀을 통하여 검출하는 단계;
    상기 검출된 데이터페이지의 이미지의 광분포를 이용하여, 상기 이미지 검출 시의 매칭 상태를 판별하는 단계; 및
    상기 판별된 매칭 상태에 따라 복수의 단위 샘플링 패턴을 선택하여, 상기 소스 데이터페이지의 이미지를 복원하기 위한 샘플링을 수행하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  17. 제 16 항에 있어서, 상기 단위 샘플링 패턴은 복원할 데이터 픽셀 내에 존재하는 검출 픽셀간의 교차점의 수에 따른 샘플링 패턴인 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  18. 제 17 항에 있어서, 상기 단위 샘플링 패턴은,
    상기 데이터 픽셀 내에 존재하는 상기 교차점의 수가 한 개이면 상기 교차점에 접하는 네 개의 검출 픽셀의 값을 평균한 값을 샘플링하는 패턴;
    상기 교차점의 수가 두 개이면 상기 두 교차점에 모두 접하는 두 개의 검출 픽셀의 값을 평균한 값을 샘플링하는 패턴; 및
    상기 교차점의 수가 네 개이면 상기 네 개의 교차점에 모두 접하는 하나의 검출 픽셀의 값을 샘플링하는 패턴 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출 방법.
  19. 소스 데이터페이지의 이미지를 1:n(1보다 큰 비정수) 오버픽셀로 검출하는 광 검출부; 및
    상기 검출된 데이터페이지의 이미지에서 프레임 마크 영역을 검출하고, 상기 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 프레임 마크의 상태를 검출하고, 상기 프레임 마크의 상태에 대응하는 기 설정된 샘플링 패턴에 따라 상기 소스 데이터페이지의 이미지를 복원하기 위한 샘플링을 수행하는 광 정보 처리부를 포함하는 것을 특징으로 광 정보 검출기.
  20. 제 19 항에 있어서, 상기 프레임 마크의 상태에 대응하는 샘플링 패턴이 저장되는 메모리를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출기.
  21. 제 19 항에 있어서, 상기 광 정보 처리부는,
    상기 검출된 데이터페이지의 이미지에서 상기 소스 데이터페이지의 프레임 마크에 대응되는 상기 프레임 마크 영역을 검출하는 프레임 마크 영역 검출 모듈;
    상기 검출된 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 상기 프레임 마크의 매칭 상태를 검출하는 프레임 마크 상태 판별 모듈; 및
    상기 판별된 프레임 마크의 매칭 상태에 대응하는 기 설정된 샘플링 패턴에 따라 상기 소스 데이터페이지의 이미지를 복원하기 위한 샘플링을 수행하는 샘플링 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 검출기.
  22. 제 19 항에 있어서, 상기 프레임 마크 영역은 수직 프레임 마크 영역 및 수평 프레임 마크 영역을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출기.
  23. 제 22 항에 있어서, 상기 광 신호 처리부는 상기 수직 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 상기 프레임 마크의 수평 매칭 상태를 판별하고, 상기 수평 프레임 마크 영역의 광분포를 이용하여 상기 프레임 마크의 수직 매칭 상태를 판별하는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출기.
  24. 제 23 항에 있어서, 상기 샘플링 패턴은 상기 프레임 마크의 수평 매칭 상태의 수와 및 상기 프레임 마크의 수직 매칭 상태의 수를 조합한 경우의 수에 대응되게 설정되는 것을 특징으로 하는 광 정보 검출기
KR1020050127460A 2005-12-22 2005-12-22 광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기 KR100749100B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050127460A KR100749100B1 (ko) 2005-12-22 2005-12-22 광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050127460A KR100749100B1 (ko) 2005-12-22 2005-12-22 광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070066377A true KR20070066377A (ko) 2007-06-27
KR100749100B1 KR100749100B1 (ko) 2007-08-13

Family

ID=38365441

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050127460A KR100749100B1 (ko) 2005-12-22 2005-12-22 광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100749100B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009084845A2 (en) * 2007-12-27 2009-07-09 Daewoo Electronics Corporation Method for detecting pattern of over-sampling image and an optical information processing apparatus and method using the same

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5491678A (en) 1990-05-25 1996-02-13 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for recording/reproducing information data in a two-dimensional format
US5511058A (en) 1993-12-23 1996-04-23 Tamarack Storage Devices Distortion correction of a reconstructed holographic data image
KR100578181B1 (ko) * 2004-03-08 2006-05-11 주식회사 대우일렉트로닉스 홀로그래픽 디지털 데이터 저장 시스템의 오버 샘플링 방법
JP2006065272A (ja) * 2004-07-28 2006-03-09 Sony Corp ホログラム装置、空間光変調器と撮像素子の位置決め方法及びホログラム記録材料
KR100601283B1 (ko) * 2004-12-15 2006-07-19 주식회사 대우일렉트로닉스 홀로그램 재생 시스템에서의 오우버 샘플링용 얼라인 마크검출 장치 및 그 방법

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009084845A2 (en) * 2007-12-27 2009-07-09 Daewoo Electronics Corporation Method for detecting pattern of over-sampling image and an optical information processing apparatus and method using the same
WO2009084845A3 (en) * 2007-12-27 2009-09-11 Daewoo Electronics Corporation Method for detecting pattern of over-sampling image and an optical information processing apparatus and method using the same
US7933187B2 (en) 2007-12-27 2011-04-26 Daewoo Electronics Ltd. Method for detecting pattern of over-sampling image and an optical information processing apparatus and method using the same
KR101456297B1 (ko) * 2007-12-27 2014-11-04 메이플 비젼 테크놀로지스 인크. 오버샘플링 이미지의 패턴 검출방법, 이를 이용한 광정보처리장치 및 처리방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR100749100B1 (ko) 2007-08-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100420005B1 (ko) 홀로그래픽 디지털 저장 및 재생 시스템과 데이터코딩/디코딩 방법
KR100728818B1 (ko) 광 정보 검출 방법, 광 정보 검출기 및 데이터 샘플링 방법
KR100676870B1 (ko) 광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기
KR100749100B1 (ko) 광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기
EP1531463A1 (en) Apparatus and method for processing holographic data reproduced from a holographic medium
KR100578181B1 (ko) 홀로그래픽 디지털 데이터 저장 시스템의 오버 샘플링 방법
KR100999099B1 (ko) 홀로그래피 광메모리 시스템에서의 데이터 기록 방법
KR100601283B1 (ko) 홀로그램 재생 시스템에서의 오우버 샘플링용 얼라인 마크검출 장치 및 그 방법
KR100681901B1 (ko) 광 정보 검출기 및 광 정보 검출을 위한 검출 픽셀 배치구조
KR100681902B1 (ko) 광 정보 검출 방법, 광세기 보정 방법 및 광 정보 검출기
KR100739315B1 (ko) 회전 검출 기능을 갖는 홀로그래픽 디지털 데이터 재생 및저장 시스템과 방법
KR100569480B1 (ko) 홀로그래픽 데이터 인코딩/디코딩 방법
KR100551371B1 (ko) 홀로그래픽 데이터 처리 방법
KR100676871B1 (ko) 광정보 검출장치, 이를 이용한 광정보 검출방법
KR101520703B1 (ko) 데이터 인코딩 방법, 데이터 기록 방법 및 데이터 기록 장치
KR100738976B1 (ko) 광 정보 검출 방법, 광 정보 검출 장치 및 데이터페이지구조
KR100551384B1 (ko) 홀로그래픽 데이터 디코딩 방법
KR100589620B1 (ko) 홀로그래픽 데이터 엔코딩/디코딩 방법
WO2015011745A1 (ja) 光情報記録媒体、光情報記録方法および光情報再生方法
KR100551368B1 (ko) Ｈｄｄｓ 시스템에서 홀로그래픽 데이터 기록/재생시2단계 넌밸런스드 듀얼 웨이트 코딩/디코딩 방법
KR100551370B1 (ko) 홀로그래픽 데이터 처리 방법
EP1962285A1 (en) Data page with increased data capacity
KR100772040B1 (ko) 홀로그래픽 디지털 데이터 저장 시스템의 오버 샘플링 방법
KR100727776B1 (ko) 광 정보 검출 방법 및 광 정보 검출기
KR100794026B1 (ko) 광정보 기록방법, 광정보 검출방법 및 광정보 검출장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20110801

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee