KR20070065618A

KR20070065618A - 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법

Info

Publication number: KR20070065618A
Application number: KR1020050126245A
Authority: KR
Inventors: 남승희; 금창석
Original assignee: 엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority date: 2005-12-20
Filing date: 2005-12-20
Publication date: 2007-06-25

Abstract

본 발명은 제조 공정 중 디스플레이 패널 상에 발생된 불량을 리페어(repair) 하기 위한 디스플레이 패널 리페어 방법에 관한 것이다.

특히 제1기판과 제2기판 사이에 배향막과 액정층이 위치하고, 상기 액정층에 이물이 포함된 디스플레이 패널의 리페어 방법으로서, 상기 제1기판 또는 제2기판에 상기 이물에 대응되는 홀을 형성하는 단계와; 상기 홀에 수지를 주입하는 단계와; 상기 수지에 300nm 이하 또는 400nm 이상의 파장을 갖는 자외선을 조사하는 단계를 포함하는 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법을 제공한다. 이러한 본 발명에 따르면, 휘점으로 나타나는 디스플레이 패널의 불량을 리페어하는 방법을 제시하되 특히 자외선 조사로 인해 발생할 수 있는 배향막의 손상을 최소화함으로써 보다 고품위의 평판 디스플레이 장치를 제공할 수 있는 장점이 있다.

Description

평판 디스플레이 패널의 리페어 방법{Repair method for flat display panel}

도 1은 액정 디스플레이 패널에서의 휘점 발생 원인을 설명하기 위한 구조단면도

도 2는 도 1에 도시된 구조단면도에 따른 액정 디스플레이 패널에서 이물 삽입에 의해 발생한 휘점을 보여주는 사진

도 3a 내지 도 3c는 각각 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법을 설명하기 위한 공정도

도 4는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법 중 수지의 경화를 위해 조사되는 자외선 파장의 선별방법을 설명하기 위한 그래프

<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명>

10 : 제1기판 12 : 컬러필터층

14 : 제1배향막 20 : 제2기판

22 : 제2배향막 30 : 액정층

40 : 홀 50 : 이물

60 : 수지 70 : 자외선 광원

80 : 광학필터

본 발명은 제조방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 제조 공정 중 디스플레이 패널 상에 발생된 불량을 리페어(repair) 하기 위한 디스플레이 패널 리페어 방법에 관한 것이다.

평판표시장치의 일종인 액정표시장치(LCD)는 종래 음극선관(Cathode Ray Tube)에 비해 소비전력이 낮고, 경박단소화가 용이하며 대형화 및 고정세화가 가능하여 널리 사용되고 있다.

이러한 액정표시장치(LCD)의 디스플레이 패널은 일반적으로 각 화소를 구동시키는 박막트랜지스터가 형성되어 있는 하부 기판과 공통전극이 형성되어있는 상부 기판 사이에 액정이 밀봉되어 있는 형태로 구성된다. 상기 기판은 투명기판, 예를 들어 석영 기판 상에 공통전극이나 화소전극 패턴 등을 형성하고, 상기 화소전극 및 공통전극 패턴간의 전기적 단락을 방지하기 위하여 절연막을 형성한다.

그 다음 상기 절연막 상에 배향막을 형성하고, 액정이 일정한 방향으로 배열될 수 있도록 상기 배향막을 러빙하여 일정한 방향의 골들을 형성한 후, 상기 상하부 기판을 일정한 간격을 갖도록 씰 패턴을 사용하여 봉합하고, 그 사이의 공간에 액정을 주입하여 밀봉한다.

그런데, 상기와 같이 진행되는 액정 디스플레이 패널의 제조공정 중, 도 1과 같이, 컬러필터층(3)이 형성된 상부기판(1)의 제1배향막(4) 또는 하부기판(2)의 제2배향막(5)에 이물(8)이 고착된 상태로 상기 두 기판(1,2) 사이에 액정을 주입하여 액정층(6)을 형성할 경우, 전계가 걸리지 않았을 때 블랙 화면을 표시하는 노멀리 블랙(Normally Black) 구동의 액정표시장치에서는, 도 2의 사진과 같이, 백라이트에 의해 상기 이물(8)이 삽입된 위치가 주위보다 밝게 보이는 휘점 또는 약휘점으로 디스플레이 패널 상에서 표시된다.

이는 상기 제1배향막(4) 또는 제2배향막(5)에 고착된 이물(8)에 의해 주입된 액정 분자의 배열이 비틀어짐으로써 발생하는 현상으로써, 디스플레이 패널의 구동을 위한 전계가 형성될 경우에도 역시 휘점으로 표시되어 액정표시장치의 품질을 저하시키는 원인이 된다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 디스플레이 패널에 발생된 휘점을 제거하는 데에 목적이 있으며, 특히 휘점을 제거함에 있어서도 기판에 형성된 배향막의 손상을 최소화하는데 또다른 목적이 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명은, 제1기판과 제2기판 사이에 배 향막과 액정층이 위치하고, 상기 액정층에 이물이 포함된 디스플레이 패널의 리페어 방법으로서, 상기 제1기판 또는 제2기판에 상기 이물에 대응되는 홀을 형성하는 단계와; 상기 홀에 수지를 주입하는 단계와; 상기 수지에 300nm 이하 또는 400nm 이상의 파장을 갖는 자외선을 조사하는 단계를 포함하는 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법을 제공한다.

상기 홀은 기판을 관통하지 않으며, 기판면에 대해 수직 방향으로 형성되는 것을 특징으로 한다.

상기 수지는 블랙 컬러의 수지인 것을 특징으로 한다.

상기 수지에 300nm 이하 또는 400nm 이상의 파장을 갖는 자외선을 조사하는 단계는, 상기 디스플레이 패널 외부에 자외선 광원을 배치하는 단계와; 상기 디스플레이 패널과 상기 자외선 광원 사이에 광학필터를 배치하는 단계와; 상기 자외선 광원으로부터 상기 광학필터를 통해 상기 수지에 자외선을 조사화되, 파장이 300nm 이하 또는 400nm 이상인 자외선을 조사하는 단계를 포함한다.

상기 광학필터는 파장이 300nm 이상이고 400nm 이하인 자외선을 걸러내는 것을 특징으로 한다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세하게 설명한다.

도 3a 내지 도 3c는 각각 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법을 설명하기 위한 공정도이다.

먼저 도 3a에 도시한 바와 같이, 컬러필터층(12)과 제1배향막(14)이 형성된 제1기판(10)과, 제2배향막(22)이 형성된 제2기판(20) 사이에 액정층(30)이 형성된 액정 디스플레이 패널의 제조 공정 중에, 상기 액정층(30) 형성을 위한 액정주입 이전에 상기 제1배향막(14) 상에 이물(50)이 고착된 상태로 액정이 주입되어진 액정 디스플레이 패널의 일 기판에 홀(40)을 형성한다.

이때 상기 홀(40)은 상기 제2기판(20) 상에서 기판면에 수직하도록, 즉 상기 제2기판(20)의 두께 방향으로 형성하되 상기 제2기판(20)을 관통하지 않도록 형성된다.

다음으로 도 3b와 같이 상기 홀(40)에 마이크로 노즐(Micro nozzle)(미도시됨) 등을 이용하여 수지(resin)(60)를 채우는데, 상기 수지(60)는 디스플레이 패널에 나타나는 휘점을 커버하기 위한 광차단용 소재이므로 어두운 컬러이고 가장 바람직하게는 블랙 컬러의 수지를 이용한다. 또한 상기 홀(40)에 채워지는 수지(60)의 양(quantity)은 백라이트 광이 전혀 투과되지 않을 정도이면 그 양은 무관하나 상기 홀(40) 체적의 10퍼센트 이상을 채우는 것이 바람직하다.

상기와 같이 홀(40)에 수지(60)를 채운 후, 도 3c와 같이, 상기 수지(60)의 경화(hardening)를 위해 자외선(UV)을 조사하는데, 이때 조사되는 자외선은 제1 및 제2배향막(14,22)에 영향을 미치는 특정 파장이 제거된, 다시 말해 광학필터(80)에 의해 특정 파장이 필터링된 자외선이다.

도 4는 상기 수지(60)의 경화를 위해 조사되는 자외선 중 필터링될 파장에 대해 설명하는 그래프이다.

그래프①은 배향막에 흡수되는 자외선의 스펙트럼에 대한 파장별 광흡수도를 나타낸 그래프이고, 그래프②는 글라스 기판을 투과하는 자외선의 스펙트럼에 대한 파장별 광투과도를 나타낸 그래프이다.

그래프①을 보면, 배향막이 약 400nm 이하의 파장에서 배향막의 광흡수율이 높아짐을 알 수 있으며, 또한 그래프②에서 보면 약 300nm 이상의 파장에서 글라스 기판의 광투과율이 높아짐을 알 수 있다.

따라서, 상기 홀(40)에 채워진 수지(60)의 경화를 위해서 자외선을 조사하되 상기 제2기판(20)을 잘 투과하지 못하는 약 300nm 이하의 파장(P1 이하)을 가진 자외선을 조사거나 또는 상기 제2기판(20)을 투과하더라도 상기 제1 및 제2배향막(14,22)에 잘 흡수되지 않는 약 400nm 이상의 파장(P2 이상)을 가진 자외선을 조사한다. 물론, 기판을 투과하는 파장의 자외선이라 하더라도 배향막에 끼치는 영향은 매우 미미하므로 400nm 이상의 파장이라도 충분히 사용가능하다.

요약하면, 상기 자외선 광원(70)과 상기 제2기판(20) 사이에 광학필터(80)를 위치시켜, 자외선 광원(70)으로부터 조사되는 자외선에서 파장이 300nm 이하 또는 400nm 이상인 자외선을 상기 수지(60)에 조사하여 상기 수지(60)는 경화시키면서도 제1 및 제2배향막(14,22)에는 손상을 최소화한다.

이때 상기 광학필터(80)에 의해 필터링되어 조사되는 자외선의 세기는 무관하며, 또한 상기 광학필터(80)는 크기 또는 상기 자외선 광원(70)과의 거리 등을 조절함으로써 필터링되지 않은 자외선이 상기 제1기판(10)과 제2기판(20) 측으로 직접 조사되지 않도록 하는 것이 바람직할 것이다.

상기와 같이 설명한 본 발명은, 휘점으로 나타나는 디스플레이 패널의 불량을 리페어하는 방법을 제시하되 간단한 장비 구성으로 수행할 수 있으며, 특히 자외선 조사로 인해 발생할 수 있는 배향막의 손상을 최소화함으로써 보다 고품위의 평판 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

Claims

제1기판과 제2기판 사이에 배향막과 액정층이 위치하고, 상기 액정층에 이물이 포함된 디스플레이 패널의 리페어 방법으로서,

상기 제1기판 또는 제2기판에 상기 이물에 대응되는 홀을 형성하는 단계와;

상기 홀에 수지를 주입하는 단계와;

상기 수지에 300nm 이하 또는 400nm 이상의 파장을 갖는 자외선을 조사하는 단계

를 포함하는 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법
청구항 제 1 항에 있어서,

상기 홀은 기판을 관통하지 않으며, 기판면에 대해 수직 방향으로 형성되는 것을 특징으로 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법
청구항 제 1 항에 있어서,

상기 수지는 블랙 컬러의 수지인 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법
청구항 제 1 항에 있어서,

상기 수지에 300nm 이하 또는 400nm 이상의 파장을 갖는 자외선을 조사하는 단계는,

상기 디스플레이 패널 외부에 자외선 광원을 배치하는 단계와;

상기 디스플레이 패널과 상기 자외선 광원 사이에 광학필터를 배치하는 단계와;

상기 자외선 광원으로부터 상기 광학필터를 통해 상기 수지에 자외선을 조사화되, 파장이 300nm 이하 또는 400nm 이상인 자외선을 조사하는 단계

를 포함하는 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법
청구항 제 4 항에 있어서,

상기 광학필터는 파장이 300nm 이상이고 400nm 이하인 자외선을 걸러내는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 리페어 방법