KR20070048346A - 타이밍 컨트롤러와 이를 이용한 표시 모듈 및 그의 테스트방법 - Google Patents

타이밍 컨트롤러와 이를 이용한 표시 모듈 및 그의 테스트방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 테스트 패턴을 내장하여 별도의 구동 장비가 필요없이도 표시 모듈의 구동 신뢰성 테스트를 가능하게 하는 타이밍 컨트롤러와 그를 이용한 표시 모듈 및 그의 테스트 방법을 제공하는 것이다.
이를 위하여, 본 발명의 타이밍 컨트롤러는 제1 옵션 핀의 입력 신호에 대응하여 정상 모드와 테스트 모드를 구분하는 제1 모드 제어 신호를 발생하는 옵션 제어부와; 상기 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드인 경우 내장된 테스트 패턴을 이용하여 테스트 패턴 데이터와 내부 동기 신호를 출력하는 테스트 패턴 발생부와; 상기 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드인 경우 내부 클럭 신호를 생성하여 출력하는 오실레이터와; 외부 데이터와 외부 동기 신호를 입력하여 공급하는 입력 버퍼와; 상기 제1 모드 제어 신호에 응답하여 상기 테스트 패턴 발생부 및 입력 버퍼로부터의 데이터를 선택하여 출력하는 멀티플렉서와; 상기 멀티플렉서로부터의 데이터를 정렬하여 출력하는 데이터 정렬부와; 상기 입력 버퍼로부터의 외부 동기 신호를 이용하거나 테스트 패턴 발생부로부터의 상기 내부 동기 신호와 상기 오실레이터로부터의 내부 클럭 신호를 이용하여 다수의 타이밍 제어 신호를 생성하여 출력하는 타이밍 제어 신호 생성부를 구비한다.
신뢰성, 테스트 패턴, 타이밍 컨트롤러, 패턴 순환 모드, 패턴 정지 모드

Description

타이밍 컨트롤러와 이를 이용한 표시 모듈 및 그의 테스트 방법{TIMING CONTROLLOR AND DISPLAY MODULE USING THE SAME AND TEST METHOD OF DISPLAY MODULE}
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 표시 모듈의 타이밍 컨트롤러를 도시한 블록도.
도 2는 도 1에 도시된 타이밍 컨트롤러를 이용한 액정 표시 모듈을 도시한 블록도.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
2 : 제어 스위치 4 : 타이밍 컨트롤러
6 : 게이트 드라이버 8 : 데이터 드라이버
10 : 액정 패널 12 : 입력 버퍼
14 : 테스트 패턴 발생부 16 : 멀티플렉서(MUX)
18 : 디더링부 20 : 데이터 정렬부
22 : 오실레이터 24, 26 : 옵션 핀
28 : 옵션 신호 입력부 30 : 레귤레이터
32 : 타이밍 제어 신호 발생부
본 발명은 표시 모듈에 관한 것으로, 특히 테스트 패턴을 내장하여 별도의 테스트 구동 장비 필요없이 표시 모듈의 구동 신뢰성 테스트를 가능하게 하는 타이밍 컨트롤러와 그를 이용한 표시 모듈 및 그의 테스트 방법에 관한 것이다.
최근 표시 장치로 각광 받고 있는 평판 표시 장치로는 유전 이방성을 액정을 이용한 액정 표시 장치(LCD), 불활성 가스의 방전을 이용한 플라즈마 디스플레이 패널(PDP), 유기 발광 다이오드를 이용한 유기 전계 발광 표시 장치(OLED) 등이 대표적이다. 이들 중 플라즈마 디스플레이 패널은 대형 TV로만 응용되고 반면에 액정 표시 장치 및 유기 전계 발광 표시 장치는 휴대폰, 노트북, 모니터, TV 등과 같이 소형부터 대형까지 다양한 크기로 많은 분야에 응용되고 있다.
이러한 평판 표시 장치는 화소 매트릭스를 통해 화상을 표시하는 표시 패널과, 표시 패널을 구동하는 구동 회로와, 구동 회로를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함한다. 이러한 구성을 갖는 표시 장치는 모듈 제조 및 조립 공정 이후에 에이징(Aging) 공정과 구동 신뢰성 테스트 공정을 거치게 된다.
에이징 공정은 표시 모듈을 에이징 장치 내에 수납하고 온도 및 습도를 변화시켜 특성 및 신뢰성을 시험하고 성능을 안정화시키게 된다.
구동 신뢰성 테스트 공정은 구동 장비로부터 공급된 테스트 패턴을 표시 모 듈에 표시하여 구동 불량 및 화질 불량을 검출하게 된다.
그런데 구동 신뢰성 테스트는 구동 장비가 부착된 테스트 챔버내에서만 수행되어야 함에 따라 테스트할 표시 모듈이 많을 경우 한정된 테스트 챔버 수에 의해 테스트 대기 시간이 필요하게 된다. 이러한 테스트 대기 기간이 10일 또는 그 이상이므로 표시 모듈 개발시 빠른 개발 대응이 어려울 뿐만 아니라 부족한 구동 신뢰성 챔버를 확보하기 위한 투자 비용이 필요하게 된다.
따라서, 본 발명은 종래의 기술적 과제를 해결하기 위하여 안출된 것으로 테스트 패턴을 내장하여 별도의 구동 장비가 필요없이도 표시 모듈의 구동 신뢰성 테스트를 가능하게 하는 타이밍 컨트롤러와 그를 이용한 표시 모듈 및 그의 테스트 방법을 제공하는 것이다.
이를 위하여, 본 발명에 따른 타이밍 컨트롤러는 제1 옵션 핀의 입력 신호에 대응하여 정상 모드와 테스트 모드를 구분하는 제1 모드 제어 신호를 발생하는 옵션 제어부와; 상기 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드인 경우 내장된 테스트 패턴을 이용하여 테스트 패턴 데이터와 내부 동기 신호를 출력하는 테스트 패턴 발생부와; 상기 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드인 경우 내부 클럭 신호를 생성하여 출력하는 오실레이터와; 외부 데이터와 외부 동기 신호를 입력하여 공급하는 입력 버 퍼와; 상기 제1 모드 제어 신호에 응답하여 상기 테스트 패턴 발생부 및 입력 버퍼로부터의 데이터를 선택하여 출력하는 멀티플렉서와; 상기 멀티플렉서로부터의 데이터를 정렬하여 출력하는 데이터 정렬부와; 상기 입력 버퍼로부터의 외부 동기 신호를 이용하거나 테스트 패턴 발생부로부터의 상기 내부 동기 신호와 상기 오실레이터로부터의 내부 클럭 신호를 이용하여 다수의 타이밍 제어 신호를 생성하여 출력하는 타이밍 제어 신호 생성부를 구비한다.
상기 옵션 제어부는 제2 옵션 핀의 입력 신호에 대응하여 상기 테스트 패턴 발생부를 패턴 출력 모드를 제2 모드 제어 신호를 추가로 발생한다.
상기 테스트 패턴 발생부는 상기 제2 모드 제어 신호에 응답하여 다수의 테스트 패턴을 일정 간격으로 순환시키면서 출력하는 패턴 순환 모드로 동작하거나, 동일한 테스트 패턴을 출력하는 패턴 정지 모드로 동작한다.
상기 멀티플렉서로부터의 데이터를 디더링 처리하여 비트수가 감소된 데이터를 상기 데이터 정렬부로 공급하는 디더링부를 추가로 구비한다.
그리고, 본 발명에 따른 타이밍 컨트롤러를 이용한 표시 모듈은 제1 옵션 핀의 제어로 내장된 테스트 패턴을 이용하여 테스트 패턴 데이터를 공급하고, 게이트 제어 신호 및 데이터 제어 신호를 생성하여 공급하는 상기 타이밍 컨트롤러와; 상기 게이트 제어 신호에 응답하여 게이트 신호를 출력하는 게이트 드라이버와; 상기 데이터 제어 신호에 응답하여 상기 테스트 패턴 데이터를 출력하는 데이터 드라이버와; 상기 게이트 신호에 응답하여 상기 테스트 패턴 데이터를 화면에 표시하는 표시 패널을 구비한다.
그리고, 본 발명에 따른 표시 모듈은 상기 타이밍 컨트롤러의 제1 및 제2 옵션 핀을 제어하기 위한 제어 스위치를 추가로 구비한다.
또한, 본 발명에 따른 표시 모듈의 테스트 방법은 제1 옵션 핀의 제어로 테스트 모드인 경우 타이밍 컨트롤러에 내장된 테스트 패턴을 이용하여 테스트 패턴 데이터를 공급하는 단계와; 상기 타이밍 컨트롤러의 내부에서 생성된 동기 신호와 클럭 신호를 이용하여 다수의 타이밍 제어 신호를 생성하여 공급하는 단계와: 상기 다수의 타이밍 제어 신호에 응답하여 상기 테스트 패턴 데이터를 표시 패널에 표시하는 단계를 포함한다.
상기 테스트 패턴 데이터를 공급하는 단계는 다수의 패턴 데이터를 일정 간격으로 순환시키면서 출력하는 패턴 순환 모드 단계를 포함한다.
또한, 상기 테스트 패턴 데이터를 공급하는 단계는 제2 옵션 핀의 제어로 동일한 패턴 데이터를 출력하는 패턴 정지 모드 단계를 추가로 포함한다.
그리고, 본 발명에 따른 표시 모듈의 테스트 방법은 상기 패턴 정지 모드로 출력된 동일한 패턴 데이터가 상기 표시 패널에 정지 화면으로 표시되면 불량을 검사하는 단계를 추가로 포함한다.
상기 기술적 과제 외에 본 발명의 다른 기술적 과제 및 이점들은 첨부한 도면을 참조한 실시 예에 대한 상세한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예들을 첨부한 도 1 및 도 2를 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 표시 모듈의 타이밍 컨트롤러를 도시한 블 록도이다.
도 1에 도시된 본 발명에 따른 타이밍 컨트롤러(4)는 표시 패널을 구동하는 게이트 드라이버와 데이터 드라이버를 제어한다. 다시 말하여, 타이밍 컨트롤러(4)는 게이트 드라이버와 데이터 드라이버의 구동 타이밍을 제어하기 위한 다수의 제어 신호를 발생하고 외부로부터 입력된 데이터를 정렬하여 데이터 드라이버에 공급한다. 그리고, 본 발명에 따른 타이밍 컨트롤러(4)는 테스트 패턴을 내장하고 옵션 핀의 제어로 정상 모드 이외에도 테스트 모드로도 동작하여 표시 패널에 테스트 패턴이 표시되도록 게이트 드라이버와 데이터 드라이버를 제어하게 된다.
이를 위하여, 도 1에 도시된 타이밍 컨트롤러(4)는 외부로부터의 데이터를 입력하는 입력 버퍼(12), 테스트 패턴을 내장한 테스트 패턴 발생부(14), 입력 버퍼(12) 및 테스트 패턴 발생부(14) 중 어느 하나로부터의 데이터를 출력하는 멀티플렉서(이하, MUX)(16), MUX(16)로부터의 데이터를 정렬하여 데이터 드라이버로 출력하는 데이터 정렬부(20), 옵션 핀(24, 26)에 대응하는 제어 신호를 발생하는 옵션 신호 발생부(28) 및 레귤레이터(30)를 포함하는 옵션 제어부, 레귤레이터(30)로부터의 제어로 내부 클럭 신호를 생성하여 공급하는 오실레이터(22), 입력 버퍼(12) 또는 테스트 패턴 발생부(14) 및 오실레이터(22)의 출력 신호를 이용하여 게이트 및 데이터 제어 신호(GCS, DCS)를 생성하여 게이트 드라이버와 데이터 드라이버 각각에 출력하는 타이밍 제어 신호 발생부(32)를 구비한다. 또한, 타이밍 컨트롤러(4)는 MUX(16)와 데이터 정렬부(20) 사이에 접속된 디더링부(18)를 추가로 구비하기도 한다.
옵션 제어부에 포함되는 옵션 신호 발생부(28)는 타이밍 컨트롤러(4)에 마련된 다수의 옵션 핀을 통해 신호가 입력되면 해당 옵션 신호를 발생하여 레귤레이터(30)로 공급하고, 레귤레이터(30)는 옵션 신호 발생부(28)로부터의 옵션 신호에 따른 제어 신호를 발생하여 해당 회로 블록으로 출력한다.
예를 들면, 제1 옵션 핀(24)은 타이밍 컨트롤러(4)의 동작 모드, 즉 외부 신호를 받아서 동작하는 정상 동작 모드인지 내장된 테스트 패턴을 사용하여 동작하는 테스트 모드인지를 설정한다. 옵션 신호 입력부(28)는 제1 옵션 핀(24)을 통해 특정(하이 또는 로우) 논리의 신호가 입력되면 레귤레이터(30)로 제1 옵션 신호를 출력한다. 레귤레이터(30)는 입력된 제1 옵션 신호에 대응하여 정상 모드인지 테스트 모드인지를 알리는 제1 모드 제어 신호를 생성하여 테스트 패턴 발생부(14) 및 오실레이터(22)와 MUX(16)로 출력한다. 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드를 나타낸 경우 테스트 패턴 발생부(14) 및 오실레이터(22)가 동작하게 되고, MUX(16)는 테스트 패턴 발생부(14)로부터의 테스트 패턴 데이터를 출력하게 된다. 반면에 제1 모드 제어 신호가 정상 모드를 나타낸 경우 테스트 패턴 발생부(14) 및 오실레이터(22)는 동작하지 않게 되고, MUX(16)는 입력 버퍼(12)를 통해 외부로부터 입력된 데이터를 출력하게 된다.
제2 옵션 핀(26)은 테스트 모드에서 다수의 테스트 패턴이 일정 간격으로 순환되면서 출력되게 하는 순환 모드와, 불량 검출을 위해 패턴 순환을 멈추고 정지 패턴이 출력되게 하는 정지 모드를 설정한다. 옵션 신호 입력부(28)는 제2 옵션핀(26)을 통해 특정(하이 또는 로우) 논리값을 갖는 제2 제어 신호(C2)가 입력되면 레귤레이터(30)로 제2 옵션 신호를 출력한다. 레귤레이터(30)는 입력된 제2 옵션 신호에 대응하여 패턴 순환 모드인지 패턴 정지 모드를 알리는 제2 모드 제어 신호를 생성하여 테스트 패턴 발생부(14)로 공급한다. 제2 모드 제어 신호가 순환 모드를 나타낸 경우 테스트 패턴 발생부(14)는 저장된 다수의 테스트 패턴을 순환하면서 출력하고, 정지 모드를 나나탠 경우 동일한 패턴을 출력하게 된다.
이와 같이 모드 설정 기능을 갖는 제1 및 제2 옵션 핀(24, 26)은 외부의 제어 스위치를 통해 제어된다.
그리고, 타이밍 컨트롤러(4)에는 이러한 제1 및 제2 옵션 핀(24, 26) 이외에도 다수의 옵션 핀이 추가로 마련된다. 이에 따라, 옵션 신호 발생부(28)는 다수의 옵션 핀 각각의 설정에 대응하는 옵션 신호를 생성하여 레귤레이터(30)로 공급한다. 레귤레이터(30)는 입력된 옵션 신호에 따라 데이터 정렬부(20)의 출력단에 내장된 증폭기의 출력 전류를 제어하거나, 디더링부(18)를 제어하거나, 타이밍 제어 신호 발생부(32)의 타이밍 쉬프트 정도를 제어하는 등의 다수의 제어 신호를 발생하게 된다.
입력 버퍼(12)는 외부의 시스템으로부터 공급된 데이터와 다수의 동기 신호, 예를 들면 데이터의 전송 타이밍을 결정하는 클럭 신호(CLK)와 데이터의 유효 구간을 알리는 데이터 이네이블 신호(DE)를 입력하여 데이터는 MUX(16)로, 다수의 동기 신호는 타이밍 제어 신호 발생부(32)로 공급한다. 이때 다수의 동기 신호로는 데이터의 한 수평 라인 구간을 알리는 수평 동기 신호와 한 프레임 구간을 알리는 수직 동기 신호 등이 추가로 입력되어 타이밍 제어 신호 발생부(32)로 공급되기도 한다. 이러한 입력 버퍼(12)에서 데이터와 다수의 동기 신호가 입력되는 입력핀은 테스트 모드시에는 플로팅된다.
테스트 패턴 발생부(14)는 테스트 패턴을 저장하고 레귤레이터(30)로부터의 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드를 나타낸 경우 동작하여 저장된 테스트 패턴을 읽어들여 MUX(16)로 공급한다. 이때 테스트 패턴 발생부(14)는 레귤레이터(30)로부터의 제2 모드 제어 신호가 순환 모드를 나타낸 경우 다수의 패턴을 일정 간격으로 순환하면서 출력하고, 정지 모드를 나타낸 경우 동일한 패턴 데이터를 출력한다. 그리고 테스트 패턴 발생부(14)는 동기 신호, 즉 테스트 패턴 데이터의 유효 구간을 알리는 내부 데이터 이네이블 신호를 발생하거나, 내부 수평 동기 신호와 내부 수직 동기 신호 등을 추가로 발생하여 타이밍 제어 신호 발생부(32)로 공급한다.
MUX(16)는 레귤레이터(16)로부터의 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드를 나타낸 경우 테스트 패턴 발생부(14)로부터의 데이터를, 정상 모드를 나타낸 경우 입력 버퍼(12)로부터의 데이터를 데이터 정렬부(20)로, 또는 디더링부(18)가 추가된 경우 그 디더링부(18)로 출력한다.
디더링부(18)는 입력 데이터를 디더링 처리로 비트수를 감소시켜 출력한다. 다시 말하여 디더링부918)는 일정 크기의 화소 블록에 대응하는 디더 마스크 패턴을 이용하여 입력 데이터의 일부 하위 비트로 디더값을 선택하고 선택된 디더값을 나머지 상위 비트 데이터에 가산하여 출력한다. 이에 따라, 화소 블록 단위로 그 디더값의 조합으로 화소 밝기를 조절하고, 또 그 화소 블록 밝기를 프레임마다 다 르게 조절함으로써 데이터의 비트수로 정해진 계조 수 보다 더욱 많은 계조를 표시할 수 있게 한다. 예를 들면, 디더링부(18)는 MUX(16)로부터 8비트의 데이터가 입력된다고 가정하는 경우 그 8비트의 데이터 중 하위 2비트와 디더 마스크 패턴을 이용하여 한 비트의 디더값을 산출하고, 산출된 디더값을 나머지 상위 6비트 중 최하위 비트에 가산하여 6비트의 데이터를 출력하게 된다. 이에 따라 6비트를 데이터를 이용하여 8비트의 데이터에 해당되는 256계조를 표현할 수 있게 된다.
데이터 정렬부(20)는 MUX(16) 또는 디더링부(18)로부터의 데이터를 정렬하여 데이터 드라이버로 출력한다.
오실레이터(22)는 레귤레이터(30)로부터의 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드를 나타낸 경우 동작하여 내부 클럭 신호를 생성하여 타이밍 제어 신호 발생부(32)로 출력한다.
타이밍 제어 신호 발생부(32)는 정상 모드인 경우 입력 버퍼(12)를 통해 외부로부터 공급된 동기 신호, 즉 클럭 신호(CLK)와 데이터 이네이블 신호(DE)를 이용하여 게이트 드라이버에 공급되어질 다수의 게이트 제어 신호(GCS)와, 데이터 드라이버에 공급되어질 다수의 데이터 제어 신호(DCS)를 생성하여 출력한다. 이때 타이밍 제어 신호 발생부(32)는 입력 버퍼(12)를 통해 추가적으로 입력된 수평 및 수직 동기 신호를 더 이용하기도 한다. 또한 타이밍 제어 신호 발생부(32)는 테스트 모드인 경우 테스트 패턴 발생부(14) 및 오실레이터(22)로부터 공급된 내부 동기 신호, 즉 테스트 패턴 발생부(14)로부터 공급된 내부 데이터 이네이블 신호와 오실레이터(22)로부터 공급된 내부 클럭 신호를 이용하여 게이트 및 데이터 제어 신호(GCS, DCS)를 생성한다. 이때 타이밍 제어 신호 발생부(32)는 테스트 패턴 발생부(14)로부터 추가적으로 공급된 내부 수평 및 수직 동기 신호를 더 이용하기도 한다.
이와 같이 본 발명에 따른 타이밍 컨트롤러(4)는 테스트 패턴을 내장하여 제1 옵션 핀(24)을 통해 테스트 모드로 설정되면 내장된 테스트 패턴을 이용하여 게이트 및 데이터 드라이버를 제어함으로써 표시 패널에 다수의 테스트 패턴이 일정 간격으로 순환되면서 표시되게 한다. 또한 본 발명에 따른 타이밍 컨트롤러(4)는 제2 옵션 핀(26)을 통해 패턴 정지 모드로 설정되면 동일한 테스트 패턴을 출력하여 표시 패널의 정지 화면에서 화질 불량 및 구동 불량 등을 검출해낼 수 있게 한다. 이러한 타이밍 컨트롤러(4)는 테스트 모드시 외부로부터 전원 신호와 제1 및 제2 옵션 핀(24, 26)을 제어하는 신호가 입력되면 되므로 기존과 같이 테스트 패턴을 공급하는 별도의 테스트 구동 장비를 필요로 하지 않게 된다. 따라서, 본 발명에 따른 타이밍 컨트롤러(4)를 내장한 표시 모듈은 저장 챔버내에서도 구동 신뢰성을 테스트할 수 있게 되므로 테스트 대기 시간을 현저하게 단축시킬 수 있게 된다.
도 2는 도 1에 도시된 타이밍 컨트롤러(4)에 적용된 액정 표시 모듈을 도시한 블록도이다.
도 2에 도시된 액정 표시 모듈은 화상을 표시하는 액정 패널(10)과, 액정 패널(10)을 구동하는 게이트 드라이버(6) 및 데이터 드라이버(8)와, 게이트 드라이버(6) 및 데이터 드라이버(8)를 제어하는 타이밍 컨트롤러(4)를 구비한다. 그리고, 액정 표시 모듈은 타이밍 컨트롤러(4)의 제1 및 제2 옵션 핀(24, 26)을 제어하는 제어 스위치를 추가로 구비한다.
타이밍 컨트롤러(4)는 도 1에서 전술한 바와 같이 제1 옵션 핀(24)의 제어로 테스트 모드 또는 정상 모드로 동작하게 된다. 테스트 모드인 경우 타이밍 컨트롤러(4)는 테스트 패턴 발생부(14)에 내장된 테스트 패턴을 정렬하여 데이터 드라이버(8)로 공급한다. 이때, 타이밍 컨트롤러(4)는 제2 옵션 핀(26)의 제어로 패턴 순환 모드 또는 정지 패턴 모드로 동작하게 된다. 패턴 순환 모드인 경우 타이밍 컨트롤러(4)는 다수의 테스트 패턴을 일정 간격으로 순환하면서 출력하고, 패넌 정지 모드인 경우 타이밍 컨트롤러(4)는 동이한 테스트 패턴을 출력한다. 또한, 타이밍 컨트롤러(4)는 테스트 패턴 발생부(14)와 오실레이터(22)에서 발생된 다수의 동기 신호, 즉 내부 데이터 이네이블 신호, 내부 클럭 신호 등을 이용하여 게이트 제어 신호(GCS) 및 데이터 제어 신호(DCS)를 생성하여 게이트 드라이버(6) 및 데이터 드라이버(8)로 공급한다.
반면에, 정상 모드인 경우 타이밍 컨트롤러(4)는 외부로부터 입력된 데이터를 정렬하여 데이터 드라이버(8)로 공급하고, 외부로부터 다수의 동기 신호를 이용하여 게이트 드라이버(6) 및 데이터 드라이버(8)를 제어하는 제어 신호(GCS, DCS)를 생성하여 공급한다.
타이밍 컨트롤러(4)의 제1 및 제2 옵션 핀(24, 26)을 제어하는 제어 스위치(2)는 타이밍 컨트롤러(4)가 실장된 인쇄 회로 기판에 장착되거나, 액정 표시 모듈의 외부 예를 들면 저장 챔버 외부에 전원 스위치와 함께 장착되어 검사자에 의해 구동된다. 검사자는 제어 스위치(2)를 통해 액정 표시 모듈의 구동 신뢰성을 테스 트하고, 화면을 정지시켜 화질 불량, 구동 불량 등을 검출해낼 수 있게 된다,
게이트 드라이버(6)는 타이밍 컨트롤러(4)로부터의 게이트 제어 신호(GCS)에 응답하여 액정 패널(10)의 게이트 라인(GL)을 순차적으로 구동한다.
데이터 드라이버(8)는 타이밍 컨트롤러(4)로부터의 데이터 제어 신호(DCS)에 응답하여 타이밍 컨트롤러(4)로부터의 데이터를 액정 패널(10)의 데이터 라인(DL)으로 공급한다. 테스트 모드시 데이터 드라이버(8)는 타이밍 컨트롤러(4)의 내부에서 발생된 테스트 패턴 데이터를 데이터 라인(DL)으로 공급하고, 정상 모드시에는 외부로부터 타이밍 컨트롤러(4)를 경유하여 공급된 데이터를 데이터 라인(DL)으로 공급한다. 이때, 데이터 드라이버(8)는 감마 전압을 이용하여 디지털 데이터를 아날로그 데이터로 변환하여 데이터 라인(DL)으로 공급한다.
액정 패널(10)은 액정셀(Clc) 매트릭스와, 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)과 접속되어 액정셀(Clc) 각각을 구동하는 박막 트랜지스터(TFT)를 구비한다. 박막 트랜지스터(TFT)는 게이트 라인의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(DL)의 데이터 신호를 액정셀(Clc)에 공급하여 액정셀(Clc)이 공통 전압과 데이터 신호와의 차전압을 충전하여 유지하게 한다. 액정셀(Clc)은 충전된 전압에 따라 액정을 구동하여 광투과율을 조절함으로써 계조를 구현한다. 이러한 액정 패널(10)은 테스트 모드시 타이밍 컨트롤러(4)에 내장된 다수의 테스트 패턴을 일정 간격으로 순환하면서 표시하게 되고, 정지 모드시 정지 화면을 표시하여 검사자가 화질 불량, 구동 불량 등을 검출할 수 있게 한다.
여기서, 본 발명에 따른 타이밍 컨트롤러가 액정 표시 모듈에 적용된 경우만 을 설명하였지만 이에 한정되지 않고, 유기 발광 표시 패널이나 플라즈마 표시 패널 등에도 적용될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 타이밍 컨트롤러와 표시 모듈 및 그의 테스트 방법은 타이밍 컨트롤러가 테스트 패턴을 내장하고 옵션 핀의 제어로 타이밍 컨트롤러에 내장된 테스트 패턴을 이용하여 테스트 모드로 동작함으로써 별도의 테스트 구동 장비 없이 일반 저장 챔버 내에서도 표시 모듈의 구동 신뢰성을 테스트할 수 있게 된다. 이에 따라, 표시 모듈의 테스트 대기 시간이 현저하게 감소되므로 표시 모듈의 빠른 개발 대응이 용이할 뿐만 아니라 투자 비용을 절감할 수 있게 된다.
또한, 본 발명에 따른 타이밍 컨트롤러와 표시 모듈 및 그의 테스트 방법은 테스트 모드에서 옵션 핀의 제어로 테스트 패턴의 순환을 멈추고 표시 패널에 정지 화면이 표시되게 함으로써 화질 불량, 구동 불량 등을 검출할 수 있게 된다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.

Claims (14)

  1. 제1 옵션 핀의 입력 신호에 대응하여 정상 모드와 테스트 모드를 구분하는 제1 모드 제어 신호를 발생하는 옵션 제어부와;
    상기 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드인 경우 내장된 테스트 패턴을 이용하여 테스트 패턴 데이터와 내부 동기 신호를 출력하는 테스트 패턴 발생부와;
    상기 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드인 경우 내부 클럭 신호를 생성하여 출력하는 오실레이터와;
    외부 데이터와 외부 동기 신호를 입력하여 공급하는 입력 버퍼와;
    상기 제1 모드 제어 신호에 응답하여 상기 테스트 패턴 발생부 및 입력 버퍼로부터의 데이터를 선택하여 출력하는 멀티플렉서와;
    상기 멀티플렉서로부터의 데이터를 정렬하여 출력하는 데이터 정렬부와;
    상기 입력 버퍼로부터의 외부 동기 신호를 이용하거나 테스트 패턴 발생부로부터의 상기 내부 동기 신호와 상기 오실레이터로부터의 내부 클럭 신호를 이용하여 다수의 타이밍 제어 신호를 생성하여 출력하는 타이밍 제어 신호 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 타이밍 컨트롤러.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 옵션 제어부는
    제2 옵션 핀의 입력 신호에 대응하여 상기 테스트 패턴 발생부를 패턴 출력 모드를 제2 모드 제어 신호를 추가로 발생하는 것을 특징으로 하는 타이밍 컨트롤러.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 테스트 패턴 발생부는
    상기 제2 모드 제어 신호에 응답하여 다수의 테스트 패턴을 일정 간격으로 순환시키면서 출력하는 패턴 순환 모드로 동작하거나, 동일한 테스트 패턴을 출력하는 패턴 정지 모드로 동작하는 것을 특징으로 하는 타이밍 컨트롤러.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 멀티플렉서로부터의 데이터를 디더링 처리하여 비트수가 감소된 데이터를 상기 데이터 정렬부로 공급하는 디더링부를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 타이밍 컨트롤러.
  5. 제1 옵션 핀의 제어로 내장된 테스트 패턴을 이용하여 테스트 패턴 데이터를 공급하고, 게이트 제어 신호 및 데이터 제어 신호를 생성하여 공급하는 타이밍 컨트롤러와;
    상기 게이트 제어 신호에 응답하여 게이트 신호를 출력하는 게이트 드라이버와;
    상기 데이터 제어 신호에 응답하여 상기 테스트 패턴 데이터를 출력하는 데 이터 드라이버와;
    상기 게이트 신호에 응답하여 상기 테스트 패턴 데이터를 화면에 표시하는 표시 패널을 구비하는 것을 특징으로 하는 표시 모듈.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 타이밍 컨트롤러는
    상기 제1 옵션 핀의 입력 신호에 대응하여 정상 모드와 테스트 모드를 구분하는 제1 모드 제어 신호를 발생하는 옵션 제어부와;
    상기 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드인 경우 내장된 테스트 패턴을 이용하여 상기 테스트 패턴 데이터와 내부 동기 신호를 출력하는 테스트 패턴 발생부와;
    상기 제1 모드 제어 신호가 테스트 모드인 경우 내부 클럭 신호를 생성하여 출력하는 오실레이터와;
    외부 데이터와 외부 동기 신호를 입력하여 공급하는 입력 버퍼와;
    상기 제1 모드 제어 신호에 응답하여 상기 테스트 패턴 발생부 및 입력 버퍼로부터의 데이터를 선택하여 출력하는 멀티플렉서와;
    상기 멀티플렉서로부터의 데이터를 정렬하여 출력하는 데이터 정렬부와;
    상기 입력 버퍼로부터의 외부 동기 신호를 이용하거나 테스트 패턴 발생부로부터의 상기 내부 동기 신호와 상기 오실레이터로부터의 내부 클럭 신호를 이용하여 다수의 타이밍 제어 신호를 생성하여 출력하는 타이밍 제어 신호 생성부를 구비 하는 것을 특징으로 하는 표시 모듈.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 옵션 제어부는
    제2 옵션 핀의 입력 신호에 대응하여 상기 테스트 패턴 발생부를 패턴 출력 모드를 제2 모드 제어 신호를 추가로 발생하는 것을 특징으로 하는 표시 모듈.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 테스트 패턴 발생부는
    상기 제2 모드 제어 신호에 응답하여 다수의 테스트 패턴을 일정 간격으로 순환시키면서 출력하는 패턴 순환 모드로 동작하거나, 동일한 테스트 패턴을 출력하는 패턴 정지 모드로 동작하는 것을 특징으로 하는 표시 모듈.
  9. 제 6 항에 있어서,
    상기 타이밍 컨트롤러는
    상기 멀티플렉서로부터의 데이터를 디더링 처리하여 비트수가 감소된 데이터를 상기 데이터 정렬부로 공급하는 디더링부를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 표시 모듈.
  10. 제 6 항에 있어서,
    상기 타이밍 컨트롤러의 제1 및 제2 옵션 핀을 제어하기 위한 제어 스위치를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 표시 모듈.
  11. 제1 옵션 핀의 제어로 테스트 모드인 경우 타이밍 컨트롤러에 내장된 테스트 패턴을 이용하여 테스트 패턴 데이터를 공급하는 단계와;
    상기 타이밍 컨트롤러의 내부에서 생성된 동기 신호와 클럭 신호를 이용하여 다수의 타이밍 제어 신호를 생성하여 공급하는 단계와:
    상기 다수의 타이밍 제어 신호에 응답하여 상기 테스트 패턴 데이터를 표시 패널에 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 모듈의 테스트 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 테스트 패턴 데이터를 공급하는 단계는
    다수의 패턴 데이터를 일정 간격으로 순환시키면서 출력하는 패턴 순환 모드 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 것을 표시 모듈의 테스트 방법.
  13. 제 11 항에 있어서,
    상기 테스트 패턴 데이터를 공급하는 단계는
    제2 옵션 핀의 제어로 동일한 패턴 데이터를 출력하는 패턴 정지 모드 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 모듈의 테스트 방법.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 패턴 정지 모드로 출력된 동일한 패턴 데이터가 상기 표시 패널에 정지 화면으로 표시되면 불량을 검사하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 모듈의 테스트 방법.
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