KR20070001832A - 자동 테스트 장비에 대한 테스트를 실시하는 방법 및컴퓨터 프로그램 - Google Patents

자동 테스트 장비에 대한 테스트를 실시하는 방법 및컴퓨터 프로그램 Download PDF

Info

Publication number
KR20070001832A
KR20070001832A KR1020060058918A KR20060058918A KR20070001832A KR 20070001832 A KR20070001832 A KR 20070001832A KR 1020060058918 A KR1020060058918 A KR 1020060058918A KR 20060058918 A KR20060058918 A KR 20060058918A KR 20070001832 A KR20070001832 A KR 20070001832A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
branch
code
computer programs
displaying
Prior art date
Application number
KR1020060058918A
Other languages
English (en)
Inventor
젱롱 조우
Original Assignee
애질런트 테크놀로지스, 인크.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 애질런트 테크놀로지스, 인크. filed Critical 애질런트 테크놀로지스, 인크.
Publication of KR20070001832A publication Critical patent/KR20070001832A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/263—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318314—Tools, e.g. program interfaces, test suite, test bench, simulation hardware, test compiler, test program languages
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/048—Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI]
    • G06F3/0481—Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI] based on specific properties of the displayed interaction object or a metaphor-based environment, e.g. interaction with desktop elements like windows or icons, or assisted by a cursor's changing behaviour or appearance
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00—Arrangements for program control, e.g. control units

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • User Interface Of Digital Computer (AREA)

Abstract

일 실시예에서, 자동 테스트 실시 환경의 GUI 내에 계층적 테스트 실시 트리를 디스플레이하는 코드를 포함하는 컴퓨터 프로그램이 제공된다. 이 계층적 테스트 실시 트리는 DUT에 대응하는 장치 분기가 추가되는 노드를 포함한다. 또한, 컴퓨터 프로그램은 핀 구성 분기 및 테스트 설정 분기를 각각의 장치 분기와 자동적으로 관련짓는 코드 및 트리의 분기와의 사용자의 상호작용에 응답하여, DUT 및 테스트 설정을 특정하기 위한 다수의 윈도우를 디스플레이하는 코드를 포함한다.

Description

자동 테스트 장비에 대한 테스트를 실시하는 방법 및 컴퓨터 프로그램{METHODS AND APPARATUS USING A HIERARCHICAL TEST DEVELOPMENT TREE TO SPECIFY DEVICES AND THEIR TEST SETUPS}
도 1 및 도 9는 장치 및 장치의 테스트 설정을 특정하는 컴퓨터 구현 방법을 나타내는 도면,
도 2 내지 도 8은 도 1 및 도 9에 도시된 방법을 구현하기 위한 그래픽 사용자 인터페이스의 다양한 상태를 나타내는 도면.
전기 장치(회로 보드, 집적 회로 또는 시스템 온칩(SOC; system-on-a-chip)과 같은 구성요소 또는 시스템을 포함함)의 제작 및/또는 배급에 앞서, 통상, 설계된 대로 만들어 졌는지 또는 기능하는지를 판정하기 위해 그 장치를 테스트한다. 종종, 이러한 테스팅은 자동 테스트 장비(ATE; automated test equipment)("테스터"라고도 함)에 의해 수행된다.
ATE를 사용하여 장치를 테스트하기에 앞서, 테스트 실시자는, 그 장치를 테 스팅하는 동안 ATE가 실행하는 일련의 테스트를 실시하여야 한다. 종래, ATE가 테스트할 각각의 장치에 대해 맞춤형으로 행해졌다. 테스트 실시자가 맞춤형 테스트를 실시할 때 상당한 범위를 고려하면, 이는 장치의 "시장 진입 시간" 사이클에 상당한 양의 지연을 추가시킬 수 있는 고비용이고 시간이 많이 요하는 과정이다.
어떤 경우에, 테스트 실시는 테스트를 수행하는 하드웨어 자원 및 디폴트 파라미터를 특정하는 테스트 템플릿(templates)에 의해 도움을 받을 수 있다. 이러한 경우는, 애질런트(Agilent) 93000 SOC 시리즈 테스터에게 테스트 실시 성능을 제공하는 스마트테스트(SmartTest) 프로그램 생성기 소프트웨어이다(2개 모두 Agilent Technologies, Inc. of Palo Alto, California, USA에 의해 배급되었음).
일 실시예에서, 컴퓨터 프로그램은 자동 테스트 실시 환경의 그래픽 사용자 인터페이스(GUI; graphical user interface) 내에 계층적 테스트 실시 트리를 디스플레이하는 코드를 포함한다. 이 계층적 테스트 실시 트리는 테스트 중인 장치(DUT; devices under test)에 대응하는 장치 분기(branches)가 추가되는 노드를 포함한다. 또한, 컴퓨터 프로그램은 핀 구성 분기 및 테스트 설정 분기를 각각의 장치 분기와 자동적으로 관련짓는 코드 및 트리의 분기와의 사용자의 상호작용에 응답하여, DUT 및 DUT의 테스트 설정을 특정하기 위한 다수의 윈도우을 디스플레이하는 코드를 포함한다.
다른 실시예에서, 컴퓨터 프로그램은 자동 테스트 실시 환경의 GUI를 디스플 레이하는 코드, GUI 내에 다수의 접이식 윈도우을 디스플레이하는 코드, 아이콘 중 어느 하나를 사용자가 선택하는 것에 응답하여, GUI 내에 계층적 테스트 실시 트리를 디스플레이하는 코드 및 계층적 테스트 실시 트리의 분기와의 사용자의 상호작용에 응답하여, 상기 장치 및 상기 장치의 테스트 설정을 특정하기 위한 다수의 윈도우를 디스플레이하는 코드를 포함한다. 상기 접이식 윈도우는 자동 테스트 실시 툴을 액세스하기 위한 아이콘을 포함한다. 계층적 테스트 실시 트리는 DUT에 대응하는 장치 분기가 추가되는 노드를 포함한다.
또다른 실시예에서, 자동 테스트 장비에 대한 테스트를 실시하는 방법은 자동 테스트 실시 환경의 GUI 내에 계층적 테스트 실시 트리와의 소정의 상호작용을 개시하는 단계를 포함한다. 계층적 테스트 실시 트리는 DUT 및 DUT의 테스트 설정에의 액세스를 제공한다. 소정의 상호작용의 개시에 따라, 다수의 디스플레이되는 윈도우에의 입력을 제공하여 상기 DUT 중 어느 하나에 대한 테스트 설정을 특정한다.
또한, 다른 실시예가 개시된다.
본 발명의 실시예가 도면에 도시된다.
도 1 및 도 9는 장치 및 장치의 테스트 설정을 특정하기 위한 바람직한 컴퓨터 구현 방법(100, 900)을 나타낸다. 이 방법(100, 900)은 독립적으로 또는 결합되어 사용될 수 있다.
방법(100)(도 1)은 자동 테스트 실시 환경의 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)(202) 내에 계층적 테스트 실시 트리(200)(도 2)를 디스플레이하는 단계(102)를 포함한다. 도 2에 도시된 바와 같이, 트리(200)는 장치 분기(206, 208, 210 및 212)(즉, 테스트 중인 장치(DUT)에 대응하는 분기)가 추가되는 하나 이상의 노드(204)을 포함한다. 핀 구성 분기 및 테스트 설정 분기는 장치 분기(206 내지 212) 각각과 자동적으로 관련지어 진다(104). 예를 들어, 장치 분기(208)를 확장한 결과 도 2에 표시되는 핀 구성 분기(214) 및 테스트 설정 분기(216)를 살펴본다. 장치 분기(206 내지 212)를 포함하는 트리(200)의 분기(206 내지 218)와의 사용자 상호작용에 응답하여, 다수의 윈도우(예를 들어, 윈도우(220))가 DUT 및 DUT의 테스트 설정을 특정하기 위해 디스플레이된다(106).
일 실시예에서, 방법(100)은 다수의 장치 판독가능 매체(예를 들어, 하나 이상의 고정식 또는 이동식 메모리 또는 디스크) 상에 저장된 일련의 명령(즉, 컴퓨터 프로그램)으로 실시된다. 장치(예를 들어, 컴퓨터 또는 컴퓨터 네트워크)에 의해 실행될 때, 일련의 명령은 그 장치로 하여금 방법(100)의 단계(102 내지 106)를 실행하게 한다.
도 2 내지 도 8은 방법(100)을 실행한(또는 방법(100) 또는 다양한 확장예가 실시되는 일련의 명령을 실행한) 결과로서 예시적인 GUI(202)가 얻을 수 있는 다양한 예시적인 상태를 나타낸다.
도 2에 도시된 바와 같이, 메뉴(222)(예를 들어, 드롭다운 메뉴)는 트리(200)와의 소정의 상호작용에 따라 디스플레이될 수 있다. 일 실시예에서, 소정 의 상호작용은 트리(200)의 장치 분기(206) 상의 마우스 클릭이다. 메뉴(222)는 새로운 장치를 생성하는 "New Device" 옵션, 장치 사양을 열고 그 장치에의 레퍼런스(예를 들어, 장치 분기)를 트리(200) 내에서 보이게 하는 "Open Device" 옵션, 장치의 사양을 저장하는 "Save" 및 "Save As" 옵션, 장치 사양을 닫고 장치에의 레퍼런스를 트리(200)로부터 숨기는(예를 들어, 장치 분기를 숨기는) "Close" 옵션, GUI(202)를 디스플레이하는 자동 테스트 실시 시스템으로부터 장치 사양을 삭제하는 "Delete" 옵션 및 분기의 장치의 특성을 디스플레이하는 "Properities" 옵션과 같이, DUT를 특정하기 위한 다양한 옵션에의 액세스를 제공할 수 있다. 이러한 옵션에의 액세스는 GUI(202)의 메뉴바(224) 또는 툴바(226)를 통해 제공될 수 있다.
도 2는 메뉴(222)의 확장을 나타낼 뿐만 아니라, 메뉴(222) 내로부터 장치 생성 옵션(즉, "New Device" 옵션)의 사용자 선택을 나타낸다. 도시된 바와 같이, "New Device" 옵션을 선택하면, DUT의 다양한 설명을 특정하기 위해 인터페이스(220)(예를 들어, 윈도우)를 디스플레이한다. 일 실시예에서, 설명은 DUT의 경로("Device Path"), 이름("Device Name") 및 기술("Device Technology")을 포함한다. 예로서, 장치의 기술은 CMOS 또는 TTL일 수 있다. 인터페이스(220)는 장치가 처음 생성된 날짜("Creation Date"), 장치가 최종으로 수정된 날짜("Last Modified Date") 및 장치를 최종 수정한 사람에 대한 정보("Last Modified by")와 같은 로그 정보를 더 제공할 수 있다.
또한, 도 2는 장치 분기(210)와의 호버(hover) 상호작용(예를 들어, 마우스 포인터 호버)이 장치 분기(210)와 관련된 DUT에 대해 장치 경로(246)를 디스플레이 하는 방법을 나타낸다.
도 3에 도시된 바와 같이, 메뉴(300)(예를 들어, 드롭다운 메뉴)는 트리(200)의 핀 구성 분기(214)와의 소정의 상호작용에 따라 디스플레이될 수 있다. 일 실시예에서, 소정의 상호작용은 트리(200)의 핀 구성 분기(214)에 대한 마우스 클릭이다. 메뉴(300)는 새로운 핀 그룹을 추가(또는 설정)하는 "New" 옵션, 하나의 또는 다수 사이트(multi-site) 테스트를 위해 핀 설정을 여는 "Open" 옵션, 핀의 구성을 저장하는 "Save" 및 "Save As" 옵션, 선택된 핀 설정 내에서 디스플레이되거나 또는 숨겨져야 할 핀의 그룹을 특정하는 "View" 옵션, 저장된 파일(소정의 신택스(syntax)로 된 아스키(ascii) 파일과 같음)로부터 핀의 구성을 불러오는 "Import from File" 옵션 및 핀의 구성의 특성을 디스플레이하는 "Properities" 옵션과 같이, DUT의 핀 또는 핀을 구성하기 위해 다양한 옵션에의 액세스를 제공할 수 있다. 이러한 옵션에의 액세스는 GUI(202)의 메뉴바(224) 또는 툴바(226 및 228)를 통해 제공될 수 있다. 일 실시예에서, 불러올 수 있는 아스키 파일의 신택스는 다음과 같다.
Figure 112006046483948-PAT00001
도 3은 메뉴(300)의 확장을 나타낼 뿐만 아니라, 메뉴(300) 내로부터 "View" 옵션의 선택을 나타낸다. 도시된 바와 같이, "View" 옵션의 선택은, "All Digital Pins", "All Analog Pins" 또는 "All RF Pins"와 같이, 트리(200) 내에 디스플레이 되는 핀 그룹을 선택하기 위한 제2 메뉴(308)를 디스플레이할 수 있다. 이러한 핀 그룹에 대응하는 분기(310, 312 및 314)은, 소정의 핀 분기(302, 304, 306)가 핀 그룹 분기(310 내지 314) 하에서 조직되도록, 트리(200) 내에 디스플레이될 수 있다.
바람직하게는, 트리(200)는 트리(200) 내에 다수 사이트 테스트 정보를 직접 디스플레이하는 수단을 제공할 수 있다. 일 실시예에서, 하나의 또는 다수 사이트 핀 세트는, 메뉴(300)로부터 "Open" 옵션을 선택함으로써 열린다. "Open" 옵션을 선택하면, 예를 들어, "default", "multi_site_try", "multi_site_final" 또는 "single_site_final" 핀 세트와 같이, 사용자가 선택할 수 있는 제2 메뉴(316)를 디스플레이한다. 도시된 바와 같이, 다수 사이트 핀 세트를 선택하면, 핀 그룹 분기(310 내지 314)의 분기(318, 320, 322, 324)와 같이, 각각의 핀 구성 분기(214)와 결합하여, 사이트 정보(예를 들어, Site#1, Site#2, Site#3 및 Site#4)를 디스플레이할 수 있다. 핀 분기(302 내지 306)는 사이트 분기(318 내지 324) 하에서 조직될 수 있다.
도 4 내지 도 8은 GUI(202)를 사용하여 DUT의 테스트 설정을 특정하는 것을 나타낸다. 도 4에 도시된 바와 같이, 트리(200)는 DUT의 테스트 설정 분기(216)의 다양한 서브 분기를 나타내도록 확장될 수 있다. 도시된 바와 같이, 서브 분기는 1) RF 및 아날로그 테스트 설정 분기(400) 및 2) 디지털 테스트 설정 분기(402) 하에서 DUT의 테스트 설정을 그룹지울 수 있다. RF 및 아날로그 테스트 설정 분기(400) 하에서, RF 분기(406) 및 아날로그 분기(408)가 제공될 수 있다. 이러한 분기(406, 408) 각각 하에서, 자극(stimulus) 및 측정 서브 분기(410, 412, 414, 416)가 제공될 수 있다. 테스트 설정은 자극 및 측정 서브 분기(410 내지 416) 하에서 조직되는 것이 바람직하다.
일 실시예에서, 장치의 RF 및 아날로그 테스트 설정은 자극 싱글톤(singleton), 측정 싱글톤 및 자극 및 측정 그룹 서브 분기(418, 410 내지 416 및 420) 하에서 그룹지어 진다. 자극 및 측정 그룹(420)은 다수의 RF 및 아날로그 싱글톤을 결합하는 역할을 한다.
장치의 디지털 테스트 설정(402)을 디지털 빌트인 셀프 테스트(BIST; digital built-in self test) 및 벡터 라벨 서브 분기(422 및 424) 하에서 그룹지우는 것이 유용할 수 있다. 복잡한 테스트 설정 분기(404)가 제공될 수 있다. 일 실시예에서, 복잡한 테스트 설정은 벡터 라벨을 아날로그 또는 RF 테스트 설정과 결합시킨다.
서브 분기 중 어느 한 서브 분기와의 호버 상호작용에 따라, 대응하는 테스트 설정의 요약(426)이 디스플레이될 수 있다.
테스트 설정 분기(216, 400 내지 424)와의 소정의 상호작용(또는 상호작용들)에 따라, 도 5 내지 도 8에 도시된 바와 같이, 새로운 테스트 설정을 실시하기 위한 옵션이 디스플레이될 수 있다. 도 5는 테스트 설정 분기(216)를 클릭한 후 일련의 계층적 메뉴(500, 502, 504, 506, 508)를 거친 결과로서의 일련의 메뉴의 디스플레이를 나타낸다. 다른 방법으로는, 메뉴(500 내지 508)의 적어도 일부를 포함하는 메뉴의 세트는, RF 테스트 설정 분기(406), 아날로그 테스트 설정 분기(406) 또는 디지털 테스트 설정 분기(402)와 같이, 다른 분기와의 사용자 상호작용에 의해 트리거링될 수 있다. 메뉴(504)는 템플릿을 사용하여 테스트 설정을 특정하기 위한 옵션을 나타낸다. 테스트 템플릿을 사용하여 테스트 설정을 특정하는 것은, Zhou 등에 의한 미국 특허출원, 발명의 명칭 "Method and Apparatus that Provide for Configuration of Hardware Resources Specified in a Test Template", 대리인 서류 번호 10050009-1로서 본 출원과 동일자로 출원되었고, 참고로 여기에 인용된 것에 더 상세히 설명되어 있다. 아날로그 테스트 설정 템플릿의 예시적인 형태가 메뉴(508)에 도시된다. AnalogSet 템플릿을 선택하면, 도 6에 도시된 바와 같이, 아날로그 설정 툴(600), 아날로그 혼합 신호 툴(602) 및 아날로그 라우팅 툴(604)과 같은 다양한 테스트 설정 툴이 시작된다. 이러한 툴 또는 다른 툴을 사용하여 특정될 수 있는 다양한 테스트 설정 옵션에 대한 설명은 상세한 설명의 범위를 벗어난다. 그러나, 바람직하게는, 테스트 설정 텟플릿은 실행가능한 테스트를 정의하기에 충분한 디폴트 파라미터들 및 하드웨어 자원들을 특정한다. 즉, 자극 테스트의 실행은 자극 신호를 적어도 하나의 ATE 핀으로 가져오고, 측정 테스트의 실행은 적어도 하나의 ATE 핀에 대해 측정을 기록해야 한다. 이러한 방법으로, 사용자는 장치 테스트를 구성하기 위해 테스트 설정 템플릿을 선택하여야 한다.
도 7은 테스트 설정 분기(216)를 클릭한 후 일련의 계층적 메뉴(700, 702, 704)를 거친 결과로서의 다른 일련의 메뉴의 디스플레이를 나타낸다. 메뉴(700 내지 704)의 세트는 디지털 테스트 설정 분기(402)와의 사용자 상호작용에 의해 트리거링될 수 있다는 것을 주목해야 한다. 일련의 메뉴(700 내지 704)는 새로운 벡터 라벨의 생성이 트리(200)를 사용하여 선택될 수 있는 방법을 나타낸다. 메뉴(704)로부터 "Vector Label"을 선택하면, 도 8에 도시된 벡터 패턴 에디터 툴(또는 윈도우)이 시작될 수 있다.
툴(800)을 사용하면, 사용자는 기존의 핀 그룹들(804)로부터 선택하고, 디지털 패턴들 스프레드 시트(810)를 사용하여 핀들과 관련된 디지털 패턴들을 편집할 수 있다. 또한, 레벨 세트(806) 및 패턴 타이밍(808)을 특정할 수 있다. 사용자가 패턴 타이밍을 더 상세히(예를 들어, 새로운 또는 맞춤(custom) 타이밍) 특정하고 싶으면, 사용자는 타이밍 윈도우(808) 내에서 "New"를 선택하여 타이밍 에디터 툴(또는 윈도우)(802)을 시작할 수 있다. 툴(802)를 사용하여, 사용자는 기존의 타이밍(812)을 더 상세히 볼 수 있고, 사용자는 새로운 타이밍(814)을 생성할 수 있다. 도 8에 도시되지는 않았지만, 레벨 세트(806)는 "레벨 에디터 툴"과 같은 레벨 세트들을 조절하는 툴을 통해 유사한 방법으로 조절될(예를 들어, 생성되거나 또는 수정되는 등) 수 있다. 새로운 벡터 라벨을 생성하면, 새로운 벡터 라벨은 트리(200)의 벡터 라벨 분기(424) 하에 디스플레이된다.
테스트 설정을 특정하기 위한 다른 툴은 도 6 및 도 8에 도시된 툴(600 내지 604, 800 및 802)과 유사하게 시작될 수 있다. 바람직하게는, DUT의 모든 테스트 설정은 트리(200)를 통해 액세스가능하다.
도 9는 장치 및 장치의 테스트 설정을 특정하기 위한 제2 방법(900)을 나타낸다. 상술한 바와 같이, 방법(900)은 방법(100)과 결합하여 사용될 수 있다. 예를 들어, 후술에서 명백해지는 바와 같이, 방법(900)은 방법(100)을 시작하는 수단으 로서 사용될 수 있다.
방법(900)은 자동 테스트 실시 환경의 그래픽 사용자 인터페이스(GUI(202); 도 2)를 디스플레이하는 단계(902)를 포함한다. GUI(202) 내에, 다수의 접이식(collapsible) 윈도우(228, 230, 232)를 디스플레이하며(904), 이 윈도우 중 적어도 일부가 자동 테스트 실시 툴을 액세스하기 위한 아이콘들(234, 236, 238, 240, 242 및 244)을 포함한다. 계층적 테스트 실시 트리(200)를 GUI(202) 내에 디스플레이한다(906). 트리는 장치 분기(206 내지 212)가 추가되는 노드(204)를 포함한다. 장치 분기(206 내지 212)를 포함하는 트리(200)의 분기(206 내지 218)와의 사용자 상호작용에 응답하여, DUT 및 이들의 테스트 설정을 특정하기 위해 다수의 인터페이스들(220, 600 내지 604(도 6), 800 및 802(도 8))이 디스플레이할 수 있다(908).
도 2는 방법(900)에 의해 디스플레이되는 GUI(202)의 바람직한 일 실시예를 나타낸다. 예로서, GUI(202)는 "Operation Control"(230), "Production Settings"(228) 및 "TestFlow Flags"(232)라고 명명된 접이식 윈도우를 포함한다. 도시된 GUI 상태에서, "Production Settings"라고 명명된 윈도우(228)는 확장된(또는 열린) 형태인 반면에, "Operation Control" 및 "TestFlow Flags"라고 명명된 윈도우(230 및 232)는 접혀있게 도시된다. 일 실시예에서, "Operation Control" 윈도우(230)는 다른 툴(예를 들어, 상술한 테스트 설정 툴)의 액세스가능성의 서로 다른 레벨을 제어한다. 예를 들어, "Operation Control" 윈도우(230)는 "Operator" 및 "Developer"에의 액세스를 제공할 수 있으며, 통상의 테스트 설정 툴은 "Developer" 모드에서는 액세스가능하지만 "Operator"모드에서는 액세스가능하지 않다. "TestFlow Flags" 윈도우(232)는 테스트 제어 플래그들을 제어/조작하기 위한 툴을 포함한다. 예를 들어, 동시에 테스트되어야 하는 사이트들의 수를 인에이블 또는 디스에이블하는 테스트 제어 플래그들, 또는 데이터를 로그하는 방법, 로그할 데이터의 양 등을 제어하는 테스트 실행 플래그들일 수 있다. 윈도우(230 및 232)에 대해서는 더 이상 설명하지 않지만, 상세한 설명의 주요 초점은 "Production Setting"(이 단락 전후에 자세히 설명됨)이다.
도 2에 도시된 바와 같이, "Production Settings" 윈도우(228)는 핀 구성 툴(234), 테스트 설정 에디터(236) 및 테스트플로우 에디터(238)와 같이, 자동 테스트 실시 툴을 액세스하기 위한 아이콘들(234 내지 244)을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 이러한 툴(234 및 238) 중 어느 하나의 선택은 트리(200)의 디스플레이를 트리거링한다.
여기서 개시된 방법(100, 900) 및 장치(202)는 사용자들이 장치 및 장치의 테스트 설정을 특정하기 위해 효과적인 수단을 제공한다는 점에서 유용하다. 다수의 테스트 실시 환경들은, 사용자가 어디서 시작해야 하는지에 대해 안내를 제공하지 못하며, 다양한 테스트 실시 툴이 장치 및 장치의 테스트 설정에 관한 계층적 특성의 지식없이 서로 다른 자원들로부터 시작된다. 계층적 테스트 환경 트리(200)에 대한 신뢰를 가지는 여기서 개시된 방법들(100 및 900) 및 장치(202)의 전체적 인 특성은 방법들 및 장치를 종래의 툴보다 더 효과적이게 함으로써, 테스팅된 장치의 시장 진입 시간을 앞당긴다.

Claims (27)

  1. 자동 테스트 실시 환경의 그래픽 사용자 인터페이스(GUI; graphical user interface) 내에 계층적 테스트 실시 트리를 디스플레이하는 코드와 - 상기 계층적 테스트 실시 트리는 테스트 중인 장치(DUT; devices under test)에 대응하는 장치 분기(branches)가 추가되는 노드를 포함함 - ,
    핀 구성 분기 및 테스트 설정 분기를 각각의 장치 분기와 자동적으로 관련짓는 코드와,
    상기 계층적 테스트 실시 트리의 분기와의 사용자의 상호작용에 응답하여, 상기 DUT 및 상기 DUT의 테스트 설정을 특정하기 위한 다수의 윈도우를 디스플레이하는 코드를 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 DUT의 모든 테스트 설정은 상기 계층적 테스트 실시 트리를 통해 액세스가능한
    컴퓨터 프로그램.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 계층적 테스트 실시 트리와의 소정의 상호작용시에, 장치 생성 옵션에의 액세스를 제공하는 드롭다운 메뉴를 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 장치 생성 옵션을 사용자가 선택했을 때, DUT의 경로, 이름 및 기술을 특정하기 위한 인터페이스를 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 장치 분기와의 소정의 상호작용에 따라, i) 상기 장치 분기를 숨기기 위한 옵션 및 ii) 장치 특성 옵션에의 액세스를 제공하는 드롭다운 메뉴를 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 소정의 상호작용은 마우스 클릭인
    컴퓨터 프로그램.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 장치 분기와의 호버 상호작용시에, 상기 장치 분기와 관련된 상기 DUT에 대한 장치 경로를 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 핀 구성 분기와의 소정의 상호작용시에, 핀 구성 불러오기 옵션에의 액세스를 제공하는 드롭다운 메뉴를 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 소정의 상호작용은 마우스 클릭인
    컴퓨터 프로그램.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 트리내에 다수 사이트 핀 정보가 각각의 핀 구성 분기와 결합하여, 직접 디스플레이되는
    컴퓨터 프로그램.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 핀 구성 분기와의 소정의 상호작용시에, 핀 그룹 보기 옵션에의 액세스를 제공하는 드롭다운 메뉴를 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 핀 그룹 보기 옵션은 모든 아날로그 핀들, 모든 RF 핀들 및 모든 디지털 핀들의 보기를 제공하는
    컴퓨터 프로그램.
  13. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 설정 분기와의 소정의 상호작용시에, 새로운 테스트 설정을 실시하기 위한 옵션을 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 새로운 테스트 설정을 실시하기 위한 옵션은 모든 아날로그 핀들, 모든 RF 핀들 및 모든 디지털 핀들의 보기를 제공하는
    컴퓨터 프로그램.
  15. 제 13 항에 있어서,
    상기 새로운 테스트 설정을 실시하기 위한 옵션은 벡터 라벨을 실시하기 위한 옵션을 포함하며,
    상기 컴퓨터 프로그램은,
    상기 벡터 라벨을 실시하기 위한 옵션의 선택시에, 디폴트 또는 맞춤 패턴 타이밍을 포함하는 상기 벡터 라벨을 특정하기 위한 벡터 패턴 에디터 윈도우를 디스플레이하는 코드와,
    상기 맞춤 패턴 타이밍의 선택시에, 타이밍 에디터 윈도우를 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  16. 제 1 항에 있어서,
    상기 장치의 테스트 설정 분기는 상기 장치의 테스트 설정에 대응하는 서브 분기를 포함하며,
    상기 컴퓨터 프로그램은,
    상기 서브 분기 중 어느 하나의 서브 분기와의 호버 상호작용시에, 상기 대응하는 테스트 설정의 요약을 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  17. 제 1 항에 있어서,
    상기 장치의 테스트 설정 분기의 서브 분기 하에 상기 장치의 테스트 설정을 그룹짓는 코드로서, 상기 서브 분기는 i) RF 및 아날로그 테스트 설정 분기 및 ii) 디지털 테스트 설정 분기를 포함하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  18. 제 17 항에 있어서,
    자극 및 측정 서브 분기 하에 장치의 RF 및 아날로그 테스트 설정을 그룹짓는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  19. 제 17 항에 있어서,
    자극 싱글톤, 측정 싱글톤 및 자극 및 측정 그룹 서브 분기 하에 장치의 RF 및 아날로그 테스트 설정을 그룹짓는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  20. 제 17 항에 있어서,
    디지털 빌트인 셀프 테스트(BIST; built-in self-test) 및 디지털 테스트 패턴 서브 분기 하에 장치의 디지털 설정을 그룹짓는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  21. 제 17 항에 있어서,
    상기 서브 분기는 복잡한 테스트 설정 분기를 더 포함하며, 상기 복잡한 테스트 설정은 디지털 테스트 패턴들을 아날로그 또는 RF 테스트 설정과 결합시키는
    컴퓨터 프로그램.
  22. 자동 테스트 실시 환경의 그래픽 사용자 인터페이스(GUI; graphical user interface)를 디스플레이하는 코드와,
    상기 GUI 내에 다수의 접이식 윈도우를 디스플레이하는 코드와 - 상기 접이식 윈도우는 자동 테스트 실시 툴을 액세스하기 위한 아이콘드을 포함함 - ,
    상기 아이콘들 중 어느 하나의 아이콘과의 사용자의 선택에 응답하여, 상기 GUI 내에 계층적 테스트 실시 트리를 디스플레이하는 코드로서, 상기 계층적 테스트 실시 트리는 테스트 중인 장치(DUT; devices under test)에 대응하는 장치 분기(branches)가 추가되는 노드를 포함하는 코드와,
    상기 계층적 테스트 실시 트리의 분기와의 사용자의 상호작용에 응답하여, 상기 장치 및 상기 장치의 테스트 설정을 특정하기 위한 다수의 윈도우를 디스플레이하는 코드를 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  23. 제 22 항에 있어서,
    상기 자동 테스트 실시 툴은 핀 구성 툴, 테스트 설정 에디터 및 테스트플로우 에디터를 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  24. 제 22 항에 있어서,
    상기 DUT의 모든 테스트 설정은 상기 계층적 테스트 실시 트리를 통해 액세스가능한
    컴퓨터 프로그램.
  25. 제 22 항에 있어서,
    각각의 장치 분기에 대응하는 테스트 설정 분기를 디스플레이하는 코드와,
    테스트 설정 분기와의 소정의 상호작용시에, 새로운 아날로그 및 RF 테스트 설정을 특정하기 위한 옵션을 디스플레이하는 코드와,
    상기 새로운 아날로그 및 RF 테스트 설정을 특정하기 위한 옵션 중 어느 하나의 옵션을 선택했을 때, 상기 선택된 새로운 테스트 설정을 특정하기 위한 다수의 인터페이스 윈도우를 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  26. 제 22 항에 있어서,
    각각의 장치 분기에 대응하는 테스트 설정 분기를 디스플레이하는 코드와,
    테스트 설정 분기와의 소정의 상호작용시에, 벡터 라벨을 특정하기 위한 옵션을 디스플레이하는 코드와,
    상기 벡터 라벨을 특정하기 위한 옵션의 선택시에, 디폴트 또는 맞춤 패턴 타이밍을 포함하는 상기 벡터 라벨을 특정하기 위한 디지털 패턴 에디터 윈도우를 디스플레이하는 코드와,
    상기 맞춤 패턴 타이밍의 선택시에, 타이밍 에디터 윈도우를 디스플레이하는 코드를 더 포함하는
    컴퓨터 프로그램.
  27. 자동 테스트 실시 환경의 그래픽 사용자 인터페이스(GUI; graphical user interface) 내에 디스플레이된 계층적 테스트 실시 트리와의 소정의 상호작용을 개시하는 단계로서, 상기 계층적 테스트 실시 트리는 테스트 중인 장치(DUT; devices under test) 및 DUT 테스트 설정에의 액세스를 제공하는 단계와,
    상기 소정의 상호작용의 개시시에, 다수의 디스플레이되는 윈도우에의 입력을 제공하여 상기 DUT 중 어느 하나의 DUT에 대한 테스트 설정을 특정하는 단계를 포함하는
    자동 테스트 장비에 대한 테스트를 실시하는 방법.
KR1020060058918A 2005-06-29 2006-06-28 자동 테스트 장비에 대한 테스트를 실시하는 방법 및컴퓨터 프로그램 KR20070001832A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/170,374 2005-06-29
US11/170,374 US20070006038A1 (en) 2005-06-29 2005-06-29 Methods and apparatus using a hierarchical test development tree to specify devices and their test setups

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20070001832A true KR20070001832A (ko) 2007-01-04

Family

ID=37591271

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060058918A KR20070001832A (ko) 2005-06-29 2006-06-28 자동 테스트 장비에 대한 테스트를 실시하는 방법 및컴퓨터 프로그램

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20070006038A1 (ko)
JP (1) JP2007010662A (ko)
KR (1) KR20070001832A (ko)
CN (1) CN1892245A (ko)
TW (1) TW200700754A (ko)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070109398A (ko) * 2006-05-11 2007-11-15 김선권 트리구조 문서편집기 및 문서편집방법
US8433953B1 (en) 2007-08-13 2013-04-30 The Mathworks, Inc. Automatic configuration of a test environment
US7437686B1 (en) * 2007-11-16 2008-10-14 International Business Machines Corporation Systems, methods and computer program products for graphical user interface presentation to implement filtering of a large unbounded hierarchy to avoid repetitive navigation
US20100023294A1 (en) * 2008-07-28 2010-01-28 Credence Systems Corporation Automated test system and method
US8266254B2 (en) * 2008-08-19 2012-09-11 International Business Machines Corporation Allocating resources in a distributed computing environment
US8347147B2 (en) * 2009-03-09 2013-01-01 Wipro Limited Lifecycle management of automated testing
CN101546248B (zh) * 2009-05-05 2014-04-09 阿里巴巴集团控股有限公司 一种级联式选择菜单的呈现方法及装置
EP2534580A4 (en) * 2010-05-05 2017-11-29 Teradyne, Inc. System for concurrent test of semiconductor devices
JP5599857B2 (ja) * 2012-10-01 2014-10-01 アンリツ株式会社 移動端末試験装置及び移動端末試験方法
US9488315B2 (en) * 2013-03-15 2016-11-08 Applied Materials, Inc. Gas distribution apparatus for directional and proportional delivery of process gas to a process chamber
CN110095711B (zh) * 2019-05-06 2021-10-15 苏州盛科通信股份有限公司 一种基于测试向量乱序和丢弃行为的验证方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5557559A (en) * 1992-07-06 1996-09-17 Motay Electronics, Inc. Universal burn-in driver system and method therefor
US5412776A (en) * 1992-12-23 1995-05-02 International Business Machines Corporation Method of generating a hierarchical window list in a graphical user interface
US6128759A (en) * 1998-03-20 2000-10-03 Teradyne, Inc. Flexible test environment for automatic test equipment
US6625785B2 (en) * 2000-04-19 2003-09-23 Georgia Tech Research Corporation Method for diagnosing process parameter variations from measurements in analog circuits
US7100133B1 (en) * 2000-06-23 2006-08-29 Koninklijke Philips Electronics N.V Computer system and method to dynamically generate system on a chip description files and verification information
US7165074B2 (en) * 2002-05-08 2007-01-16 Sun Microsystems, Inc. Software development test case analyzer and optimizer
US6968285B1 (en) * 2003-04-09 2005-11-22 Hamid Adnan A Method and apparatus for scenario search based random generation of functional test suites
US7237161B2 (en) * 2005-03-30 2007-06-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Remote integrated circuit testing method and apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
CN1892245A (zh) 2007-01-10
US20070006038A1 (en) 2007-01-04
TW200700754A (en) 2007-01-01
JP2007010662A (ja) 2007-01-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20070001832A (ko) 자동 테스트 장비에 대한 테스트를 실시하는 방법 및컴퓨터 프로그램
KR100808504B1 (ko) 자동 테스트 장비를 프로그램하기 위한 방법 및 시스템
US5910895A (en) Low cost, easy to use automatic test system software
US6212650B1 (en) Interactive dubug tool for programmable circuits
US5828674A (en) Production interface for integrated circuit test system
US5995744A (en) Network configuration of programmable circuits
US6449744B1 (en) Flexible test environment for automatic test equipment
US8291390B2 (en) Testing a graphical program intended for a programmable hardware element
US8225152B2 (en) Method and apparatus for generating electronic test and data structure
EP0869433A2 (en) A test development system and method for software with a graphical user interface
KR20070001828A (ko) 테스트 템플릿에서 특정된 하드웨어 자원의 구성을제공하는 방법 및 장치
Grechanik et al. Creating GUI testing tools using accessibility technologies
KR20030033972A (ko) 전자 테스트 시스템 및 전자 테스트 결과의 디스플레이 방법
JP2000122886A (ja) 半導体試験装置のプログラム作成方式
US6594599B1 (en) System, work station and method for testing a product and generating a statistical model that predicts the processibility of making like products
US7073109B2 (en) Method and system for graphical pin assignment and/or verification
KR20030087933A (ko) 전자 테스트 시스템, 테스트 실행 프로그램 제공 제품 및전자 테스트 시스템의 동작 방법
JP2004004050A (ja) 試験実行システムを供給する製品および試験実行システムを動作させる方法
Klinger Reusable test executive and test programs methodology and implementation comparison between HP VEE and LabView
US20060015845A1 (en) Method and system for managing measurement operations of testing and analysis devices
JP7457746B2 (ja) 測定装置および測定方法
Tondre et al. VLSTA: virtual instrument standard test architecture
Atkins et al. TRSL standard supports current and future test processes
Kittross Easy mixed signal test creation with test elements and procedures
CN108984385A (zh) 一种动态测试方法和系统

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid