JP7457746B2 - 測定装置および測定方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施形態に係る測定装置1の構成を示すブロック図である。測定装置1は、O-RANを構成する構成機器群から任意に選択された機器である測定対象機器2について、他ベンダーの構成機器との相互接続試験や、O-RANシステムでの動作試験など各種試験を行うものである。図1に示すように、測定装置1は、操作部11と、表示部12と、統括制御部13と、機器制御部群14と、テストケース作成部15と、記憶部16とを備えている。測定システム100は、測定装置1と制御対象機器群20とを備えて構成される。以下、各構成要素について説明する。なお、本発明でいうO-RANは、広義にはOpen RANとされ、RANを構成要素ごとに分離し、組み合わせて利用できるようにすることを含んでいる。
次に、テストケース作成部15について説明する。
図4は、測定装置1の表示部12に表示される表示画面30の例を示す図である。図4に示すように、表示画面30は、例えば、測定対象設定エリア31と、制御対象選択エリア32と、処理部品表示エリア33と、テストケース作成エリア34とを有している。
測定装置1は、制御対象機器群20と通信を行なうための通信インタフェースが設けられたコンピュータ装置によって構成される。このコンピュータ装置は、CPU(Central Processing Unit)と、ROM(Read Only Memory)と、RAM(Random Access Memory)と、補助記憶装置と、通信インタフェースとを有する。
次に、測定装置1の動作について、相互接続試験を例に説明する。
次に、測定方法について、O-RUの試験を例に説明する。
上記説明したように、本実施形態に係る測定装置1は、測定対象設定部151が、O-RANを構成する構成機器群からユーザにより任意に選択された構成機器を測定対象機器2として設定するようになっているので、O-RANを構成する構成機器群から測定対象を自由に選択して試験を実行することができる。機器制御部群14が、O-RANを構成する構成機器群の構成機器をそれぞれ模擬するエミュレータ(UEエミュレータ203、O-RUエミュレータ204、O-DUエミュレータ205、O-CUエミュレータ206)や試験に使用される計測用機器(シグナルアナライザ201、シグナルジェネレータ202、GNSSシミュレータ207)をそれぞれ制御する機器制御部を網羅的に含んでいる。そして、テストケース作成部15が、機器制御部群14のうち測定対象機器2の試験に使用される機器制御部の使用順序を、ユーザが設定可能なように表示部12に表示させてテストケースを効率よく作成できるようになっている。この構成により、O-RANを構成する構成機器に対して統括的かつ効率的に試験を実行することができる。
100 測定システム
2 測定対象機器
11 操作部
12 表示部
13 統括制御部
131 試験制御部
132 テストケース実行部
133 結果取得部
134 テストケース管理部
135 テストケース設定部
136 結果判定部
14 機器制御部群
141 シグナルアナライザ制御部
142 シグナルジェネレータ制御部
143 UEエミュレータ制御部
144 O-RUエミュレータ制御部
145 O-DUエミュレータ制御部
146 O-CUエミュレータ制御部
147 GNSSシミュレータ制御部
15 テストケース作成部
151 測定対象設定部
152 制御対象選択部
153 処理部品抽出部
154 処理部品配置部
155 処理部品詳細設定部
16 記憶部
161 測定対象データベース
162 制御対象データベース
163 処理部品データベース
164 詳細処理部品データベース
165 テストケースデータベース
20 制御対象機器群
201 シグナルアナライザ
202 シグナルジェネレータ
203 UEエミュレータ
204 O-RUエミュレータ
205 O-DUエミュレータ
206 O-CUエミュレータ
207 GNSSシミュレータ
30 表示画面
31 測定対象設定エリア
32 制御対象選択エリア
33 処理部品表示エリア
34 テストケース作成エリア
Claims (9)
- Open RAN(Open Radio Access Network)を構成する構成機器群に含まれる構成機器の試験を行う測定装置(1)であって、
前記試験に関連する情報を表示する表示部(12)と、
前記構成機器群の構成機器をそれぞれ模擬する複数のエミュレータを制御対象機器として少なくとも含む制御対象機器群(20)に対し、該制御対象機器群の制御対象機器(201~207)をそれぞれ制御する複数の機器制御部(141~147)からなる機器制御部群(14)と、
前記構成機器群から選択された構成機器を測定対象機器として設定する測定対象設定部(151)と、
前記機器制御部群のうち前記測定対象機器の試験に使用される機器制御部の使用順序を、ユーザが設定可能なように前記表示部に表示させてテストケースを作成するテストケース作成部(15)と、
前記試験に使用される機器制御部を設定された使用順序で使用して前記テストケースを実行するテストケース実行部(132)と、
を備える測定装置。 - 前記制御対象機器群のうち、前記測定対象機器の試験に使用可能な制御対象機器の識別情報を、ユーザが選択可能なように前記表示部に表示させる制御対象選択部(152)をさらに備える、請求項1に記載の測定装置。
- 前記制御対象選択部は、前記Open RANにおいて少なくとも前記測定対象機器に隣接する構成機器のエミュレータを制御対象機器として選択する、請求項2に記載の測定装置。
- 前記制御対象選択部により選択された制御対象機器に対し実行可能な制御処理の識別情報を、処理部品データベース(163)から抽出し処理部品としてユーザが選択可能なように前記表示部に表示させる処理部品抽出部(153)をさらに備え、前記ユーザにより選択された前記処理部品は、前記テストケースにおいて使用順序が指定された機器制御部に関連付けられる、請求項2または3に記載の測定装置。
- 前記処理部品抽出部により抽出された処理部品から選択された処理部品を、ユーザが順序変更可能なように前記表示部に並べて表示させ、順に配置された一連の処理部品の情報をテストケースとして記憶部に格納する処理部品配置部(154)をさらに備える、請求項4に記載の測定装置。
- 前記処理部品配置部により前記表示部に表示させた処理部品の処理内容を、ユーザが設定可能なように前記表示部に表示させる処理部品詳細設定部(155)をさらに備える、請求項5に記載の測定装置。
- 前記構成機器群は、前記Open RANの無線ユニット(O-RU)、前記Open RANの分散ユニット(O-DU)、前記Open RANの中央ユニット(O-CU)、およびユーザ端末(UE)を含む、請求項1~6のいずれか一項に記載の測定装置。
- 前記機器制御部群は、前記試験に用いる1または複数の計測用機器をそれぞれ制御する1または複数の機器制御部をさらに含む、請求項1~7のいずれか一項に記載の測定装置。
- Open RANを構成する構成機器群に含まれる構成機器の試験を行う測定方法であって、
前記試験に関連する情報を表示部(12)に表示する表示ステップと、
前記構成機器群の構成機器をそれぞれ模擬する複数のエミュレータを制御対象機器として少なくとも含む制御対象機器群(20)に対し、該制御対象機器群の制御対象機器(201~207)をそれぞれ制御する複数の機器制御部(141~147)からなる機器制御部群(14)を用意する用意ステップと、
前記構成機器群から選択された構成機器を測定対象機器として設定する測定対象設定ステップ(S1)と、
前記機器制御部群のうち前記測定対象機器の試験に使用される機器制御部の使用順序を、ユーザが設定可能なように前記表示部に表示させてテストケースを作成するテストケース作成ステップ(S4)と、
前記試験に使用される機器制御部を設定された使用順序で使用して前記テストケースを実行するテストケース実行ステップ(S7)と、
を含む測定方法。
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