KR20060091208A - 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 화상처리 방법 - Google Patents

플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 화상처리 방법 Download PDF

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KR20060091208A
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이종학
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엘지전자 주식회사
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Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 화면에 표시되는 에지(edge)를 강화할 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 화상처리 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른, 영상신호를 처리하여 화상을 구현하기 위한 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치에 있어서, 서로 이웃하는 픽셀 간의 영상신호의 계조값을 비교하여 에지(edge)를 검출하는 에지 검출부 및 상기 에지 검출부에서 검출된 에지 부분의 계조값 차이가 소정의 문턱값 이상 일때, 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값을 증가시키는 에지 향상부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 화상처리 방법{Image Processing Device and Method for Plasma Display Panel}
도 1은 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 구조를 나타낸 도이다.
도 2는 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 화상 계조를 구현하는 방법을 나타낸 도이다.
도 3은 플라즈마 디스플레이 패널과 CRT의 휘도 특성을 비교한 그래프이다.
도 4는 종래의 플라즈마 디스플레이 패널에서 역감마 보정을 나타낸 그래프이다.
도 5a 및 도 5b는 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 디더링 방법을 나타낸 도이다.
도 6은 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 오차 확산 방법을 나타낸 도이다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 화상처리 장치를 개략적으로 나타낸 블럭도이다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 에지 향상부의 동작 특성을 설명하기 위한 도이다.
***** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*****
710; 역감마 보정부 720; 하프토닝부
730; 에지 검출부 740; 에지 향상부
750; 제어부 760; 서브필드 맵핑부
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 화면에 표시되는 에지(edge)를 강화할 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 화상처리 방법에 관한 것이다.
일반적으로 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel)은 상부기판과 하부기판 사이에 형성된 격벽이 하나의 단위 셀을 이루는 것으로, 각 셀 내에는 네온(Ne), 헬륨(He) 또는 네온 및 헬륨의 혼합기체(Ne+He)와 같은 주 방전 기체와 소량의 크세논을 함유하는 불활성 가스가 충진되어 있다. 고주파 전압에 의해 방전이 될 때, 불활성 가스는 진공자외선(Vacuum Ultraviolet rays)을 발생하고 격벽 사이에 형성된 형광체를 발광시켜 화상이 구현된다. 이와 같은 플라즈마 디스플레이 패널은 얇고 가벼운 구성이 가능하므로 차세대 표시장치로서 각광받고 있다.
도 1은 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 구조를 나타낸 도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 플라즈마 디스플레이 패널은 화상이 디스플레이 되는 표시면인 전면 글라스(101)에 스캔 전극(102)과 서스테인 전극(103)이 쌍을 이뤄 형성된 복수의 유지전극쌍이 배열된 전면기판(100) 및 배면을 이루는 후면 글라스(111) 상에 상술한 복수의 유지전극쌍과 교차되도록 복수의 어드레스 전극(113)이 배열된 후면기판(110)이 일정거리를 사이에 두고 평행하게 결합된다.
전면기판(100)은 하나의 방전셀에서 상호 방전시키고 셀의 발광을 유지하기 위한 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103), 즉 투명한 ITO 물질로 형성된 투명 전극(a)과 금속재질로 제작된 버스 전극(b)으로 구비된 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103)이 쌍을 이뤄 포함된다. 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103)은 방전 전류를 제한하며 전극 쌍 간을 절연시켜주는 하나 이상의 상부 유전체층(104)에 의해 덮혀지고, 상부 유전체층(104) 상면에는 방전 조건을 용이하게 하기 위하여 산화마그네슘(MgO)을 증착한 보호층(105)이 형성된다.
후면기판(110)은 복수개의 방전 공간 즉, 방전셀을 형성시키기 위한 스트라이프 타입(또는 웰 타입)의 격벽(112)이 평행을 유지하여 배열된다. 또한, 어드레스 방전을 수행하여 진공자외선을 발생시키는 다수의 어드레스 전극(113)이 격벽(112)에 대해 평행하게 배치된다. 후면기판(110)의 상측면에는 어드레스 방전시 화상표시를 위한 가시광선을 방출하는 R, G, B 형광체(114)가 도포된다. 어드레스 전극(113)과 형광체(114) 사이에는 어드레스 전극(113)을 보호하기 위한 하부 유전체층(115)이 형성된다. 이와 같은 플라즈마 디스플레이 패널에서 화상 계조를 구현하는 방법은 다음 도 2와 같다.
도 2는 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 화상 계조를 구현하는 방법을 나타낸 도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 화상 계조(Gray Level) 표현 방법은 한 프레임을 발광횟수가 다른 여러 서브필드로 나누고, 각 서브필드는 다시 모든 셀들을 초기화시키기 위한 리셋 기간(RPD), 방전될 셀을 선택하기 위한 어드레스 기간(APD) 및 방전횟수에 따라 계조를 구현하는 서스테인 기간(SPD)으로 나뉘어진다.
예를 들어, 256 계조로 화상을 표시하고자 하는 경우에 1/60 초에 해당하는 프레임기간(16.67ms)은 도 2와 같이 8개의 서브필드들(SF1 내지 SF8)로 나누어지고, 8개의 서브 필드들(SF1 내지 SF8) 각각은 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간으로 다시 나누어지게 된다.
각 서브필드의 리셋 기간 및 어드레스 기간은 각 서브필드마다 동일하다. 방전될 셀을 선택하기 위한 어드레스방전은 어드레스 전극과 스캔 전극인 투명전극 사이의 전압차에 의해 일어난다. 서스테인 기간은 각 서브필드에서 2n(단, n = 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7)의 비율로 증가된다.
도 3은 플라즈마 디스플레이 패널과 CRT의 휘도 특성을 비교한 그래프이다. 도 3에 도시된 바와 같이, CRT(음극선관) 및 LCD는 입력되는 비디오 신호에 대하여, 표시되는 광을 아날로그 방식으로 제어하여 원하는 계조(Gray level)를 표현하므로, 통상적으로 비선형의 휘도 특성을 갖는다. 이와 달리, PDP는 온(on)/오프(off)를 할 수 있는 방전 셀의 매트릭스 어레이를 이용하여 광 펄스의 수를 변조하여 계조를 표현하므로, 선형의 휘도 특성을 갖는다.
이러한, 플라즈마 디스플레이 패널의 계조 표현방법을 PWM(Pulse Width Modulation) 방법이라 한다. PDP의 휘도는 펄스 수에 선형으로 변화하지만 우리의 시각이 인지하는 정도는 비선형적이기 때문에 저계조 영역에서 계조를 표현할때 노이즈를 발생시킨다. 따라서, 상기 문제를 해결하기 위해 PDP에서는 다음 도 4와 같이 입력되는 영상신호 데이터를 역감마 보정한다.
도 4는 종래의 플라즈마 디스플레이 패널에서 역감마 보정을 나타낸 그래프이다. 도 4에서, 목표 휘도는 보정하고자 하는 이상적인 역감마 결과를 나타낸 것이고, 실제 휘도는 역감마 보정후의 결과로서 나타나는 측정된 휘도값이며, 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도는 역감마 보정이 없는 상테에서 측정된 휘도값 3이하를 나타낸 것이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 목표 휘도는 0 - 60까지 61단계의 계조값이 각각 다른 휘도값으로 표현된다. 이와 달리, 실제 휘도는 0 - 60까지 61단계의 계조값이 단지 8가지의 휘도값으로 표현된다. 따라서, 플라즈마 디스플레이 패널에서 역감마 보정이 수행될 때 어두운 영역에서 충분한 계조 표현을 할 수 없게 되어 영상이 뭉쳐 보이는 의사윤곽(Contour Noise)이 발생하게 된다.
이러한, 플라즈마 디스플레이 패널의 부족한 계조를 표현하기 위하여 디더링(dithering) 방법 및 오차 확산(error diffusion) 방법 등의 하프톤(half tone) 방법을 사용하고 있다.
먼저, 디더링 방법에 대하여 살펴보면 다음 도 5와 같다.
도 5a 및 도 5b는 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 디더링 방법을 나타낸 도이다. 도 5a는 종래의 2×2 디더 마스크이며, 도 5b는 2×2 디더 마스크에 의한 디더 마스크 패턴이다. 도 5a 및 도 5b에 도시된 바와 같이, 디더링 방법은 각 픽셀(pixel)의 계조값을 디더 마스크의 특정 문턱(threshold)값과 비교하여 캐리(carry) 발생여부를 판별하는 방법이다. 이때, 캐리가 발생된 픽셀에 대하여 온(on)을, 그렇지 않은 픽셀에 대하여 오프(off)를 시킴으로써 부족한 계조 표현력을 높이고자 하였다.
또한, 디더링 방법은 적당한 노이즈를 부가하여 의사윤곽이 눈에 띄지 않도록 하는 방법이다. 종래에는 PDP의 다수의 프레임, 다수의 라인 및 다수의 열에 대응하는 3차원 디더 마스크 패턴을 반복적으로 사용하였다.
하지만, 디더링 방법은 정지된 영상이나 균일한 값을 갖는 지역에 대해 디더 패턴이 보이는 문제점이 있다. 그리고, 자리 올림을 발생시킬 때 문턱값보다 얼마나 큰지 적은지를 나타내는 오차가 전혀 고려되지 않는 문제점이 있다.
또 다른 방법인 오차 확산(error diffusion) 방법에 대하여 살펴보면 다음 도 6과 같다.
도 6은 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 오차 확산 방법을 나타낸 도이다. 도 6에 도시된 바와 같이, 오차 확산 방법은 해당 픽셀이 양자화(Quantization)될 때 발생하는 오차를 이웃하는 픽셀에 영향을 주게 함으로써 버려지는 오차에 대한 보정을 공간적으로 해결하고자 하는 방법이다. 여기서, 오차 확산 방법은 이웃하는 픽셀들 a, b, c, d에서 발생한 각각의 오차값에 특정한 계수를 곱한다. 이후, 상기 계수를 곱한 오차값들을 i 값에 더한 후 양자화를 실시한다. 이후, 상기 양자화로 발생하는 오차값을 다시 라인 메모리에 저장하여 이를 매 픽셀마다 반복하는 방법이다.
이와 같은 오차 확산 방법은 인접한 픽셀에 대해 계조값을 고려하지 않고 오차를 확산시킨다.
여기서, 화면에 표시되는 에지(edge), 즉 이웃하는 픽셀간 계조값 차이가 큰 부분에서는 이러한 오차 확산으로 인해, 오히려 인접 픽셀 간의 계조값 차이가 줄어든다. 이에 따라, 오차 확산으로 인해 표시되는 화면의 샤프니스(sharpness)가 나빠지는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위한 것으로, 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 화상처리 방법을 개선하여 에지(edge)를 강화할 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 그 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명의 다른 목적은 종래의 오차 확산으로 인해 나빠진 샤프니스를 향상시킬 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 그 방법을 제공하는 것이다.
상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 영상신호를 처리하여 화상을 구현하기 위한 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치에 있어서, 서로 이웃하는 픽셀 간의 영상신호의 계조값을 비교하여 에지(edge)를 검출하는 에지 검출부 및 상기 에지 검출부에서 검출된 에지 부분의 계조값 차이가 소정의 문턱값 이상 일때, 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값을 증가시키는 에지 향상부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 소정의 문턱값은 50 이상인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 계조 향상부는 계조값의 차이값에 대해 소정 비율을 갖는 값을 상기 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값에 더하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 소정 비율은 5 % 이상 15 % 이하인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 계조값 증가는 좌측 또는 우측 방향으로 서로 이웃한 픽셀에 대하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
본 발명은 서로 인접한 소정 개수의 픽셀들에 대하여 문턱값 이상인 에지가 적어도 둘이상 검출되었을 때, 가장 큰 계조값 차이를 갖는 에지에 대하여 계조값 증가를 적용하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 서로 인접한 소정 개수의 픽셀은 4개의 좌측 또는 우측 방향으로 서로 인접한 픽셀인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널에 표시되는 모드를 구분하고, 상기 모드에 따라 상기 에지 검출부 및 에지 향상부의 동작 여부를 제어하는 제어부가 더 포함되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 영상신호를 처리하여 화상을 구현하기 위한 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법에 있어서, 서로 이웃하는 픽셀 간의 영상신호의 계조값을 비교하여 에지(edge)를 검출하는 에지 검출 단계 및 상기 에지 검출 단계에서 검출된 에지 부분의 계조값 차이가 소정의 문턱값 이상 일때, 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값을 증가시키는 에지 향상 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 특징에 따르면, 에지 부분에서 계조값 차의 5% 이상 15% 이하를 계조값이 큰 픽셀에 더한다. 이와 같은 에지 향상 방향은 수직 방향으로, 좌측 또는 우측으로 서로 이웃한 픽셀 간에 에지 향상을 수행하도록 한다. 이때, 플라즈마 디스플레이 패널의 모드에 따라 에지 향상 수행 여부를 판단하여, 에지 향상이 필요한 모드에 대해서만 수행하도록 한다. 이로써, 에지가 향상되고, 표시되는 화상의 샤프니스를 향상시킬 수 있다.
이하에서는 본 발명에 따른 구체적인 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 화상처리 장치를 개략적으로 나타낸 블럭도이다. 도 7에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 화상처리 장치는 역감마 보정부(710), 하프토닝부(720), 에지 검출부(730), 에지 향상부(740), 제어부(750) 및 서브필드 맵핑부(760)를 구비한다.
역감마 보정부(710)는 입력되는 영상신호 데이터를 미리 저장된 감마 데이터로 감마 보정하여 영상신호의 계조값에 따른 휘도값을 선형적으로 변환시킨다.
하프토닝부(720)는 해당 픽셀이 양자화될 때 발생하는 오차를 이웃하는 픽셀에 영향을 주게 함으로써 계조표현력을 향상시킨다. 이러한 오차는 계조표현력을 향상시키는 한편, 샤프니스를 나쁘게하는 문제점이 있다.
에지 검출부(730)는 서로 이웃하는 픽셀 간의 영상신호의 계조값을 비교하여 에지(edge)를 검출한다.
에지 향상부(740)는 에지 검출부(730)에서 검출된 에지 부분의 계조값 차이가 소정의 문턱값 이상 일때, 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값을 증가시킨다. 이에 관한 보다 상세한 설명은 이후 기술하기로 한다.
제어부(750)는 플라즈마 디스플레이 패널에 표시되는 모드를 구분하고, 상기 모드에 따라 상기 에지 검출부 및 에지 향상부의 동작 여부를 제어한다.
일반적으로, 플라즈마 디스플레이 패널에 표시되는 모드는, 사용자 모드(User Mode), 다이나믹 모드(Dynamic Mode), 노멀 모드(Normal Mode) 및 시네마 모드(Cinema Mode)로 구분하여, 서로 다른 밝기와 샤프니스를 적용한다. 여기서, 시네마 모드는 보통 어두운 주변 환경에서 사용되므로, 사용자는 부드러운 화면을 선호한다.
이에 따라, 시네마 모드에서는 본 발명의 일실시예에 따른 에지 검출부 및 에지 향상부를 작동시키지 않는다. 즉, 사용자 모드, 다이나믹 모드 및 노멀 모드에서만 에지 검출부 및 에지 향상부를 통해 샤프니스를 향상시키도록 한다.
서브필드 맵핑부(760)는 에지 향상부(740)로부터 입력된 영상신호의 데이터를 미리 설정된 서브필드 맵핑 테이블에 맵핑한다.
이후, 서브필드 맵핑부(760)로부터 출력되는 영상신호 데이터를 플라즈마 디스플레이 패널의 해상도 포맷에 적합하게 변환시키는 데이터 정렬부(미도시) 및 데이터 정렬부로부터 변환된 영상신호 데이터를 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레 스전극의 구동장치로 공급하는 데이터 구동부(미도시)를 구동시킴으로써 플라즈마 디스플레이 패널의 화상을 구현하게 된다.
이와 같은 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 중 에지 향상부 동작을 더욱 상세히 살펴 보면 다음 도 7과 같다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 에지 향상부의 동작 특성을 설명하기 위한 도이다. 도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 에지 향상부는 에지 검출부에서 검출된 에지 부분의 계조값 차이가 소정의 문턱값 이상 일때, 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값을 증가시키도록 한다.
이때, 소정의 문턱값은 50 이상으로 한다. 즉, 계조값 차이가 50 이상인 에지 부분에 대해 계조값을 증가시키는 에지 향상을 수행한다.
본 발명의 일실시예에 따른 계조값을 증가시키는 방법은, 계조값의 차이값에 대해 소정 비율을 갖는 값을 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값에 더하는 것이다. 여기서, 소정 비율은 5 % 이상 15 % 이하가 되는 것이 바람직하다.
또한, 계조값 증가는 좌측 또는 우측 방향으로 서로 이웃하는 픽셀에 대하여 이루어지도록 한다. 즉, 에지 향상 방향은 플라즈마 디스플레이 패널에 표시되는 수직 방향으로 수행한다.
또한, 서로 인접한 소정 개수의 픽셀들에 대하여 문턱값을 넘는 에지가 적어도 둘이상 검출되었을 때, 가장 큰 계조값 차이를 갖는 에지에 대하여 계조값 증가를 적용하도록 한다. 이는, 가장 큰 계조값 차이를 갖는 에지 부분에 대해서만 샤프니스를 강조시키는 것을 의미한다.
여기서, 서로 인접한 소정 개수의 픽셀은 4개의 좌측 또는 우측 방향으로 서로 인접한 픽셀이다.
본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법은 도 7의 각각의 기능부와 결부하여 살펴보면, 다음과 같은 단계로 이루어진다.
먼저, 영상신호의 데이터를 미리 저장된 감마 데이터로 감마 보정하는 역감마 보정한다.
이후, 역감마 보정된 영상신호 데이터의 오차를 인접한 픽셀에 확산시켜 캐리를 발생시킨다.
이후, 서로 이웃하는 픽셀 간의 영상신호의 계조값을 비교하여 에지를 검출한다.
이후, 에지 검출 단계에서 검출된 에지 부분의 계조값 차이가 소정의 문턱값 이상 일때, 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값을 증가시킨다.
이후, 영상신호 데이터에 따라 미리 저장된 서브필드 맵핑 테이블에 맵핑한다.
본 발명의 일실시에서는 플라즈마 디스플레이 패널에 표시되는 모드를 구분하고, 모드에 따라 에지 검출 단계 및 에지 향상 단계의 수행 여부를 제어하는 제어 단계를 더 포함시킬 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법의 각 단계에서의 특징은 도 6 내지 도 7의 각각의 기능부의 동작 특성을 통해 충분히 설명하였으므로, 생략하기로 한다.
이와 같이, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.
그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
이상에서와 같이 본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 화상처리 방법을 개선함으로써, 에지(edge)를 강화할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 화상처리 방법을 개선함으로써, 샤프니스를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (16)

  1. 영상신호를 처리하여 화상을 구현하기 위한 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치에 있어서,
    서로 이웃하는 픽셀 간의 영상신호의 계조값을 비교하여 에지(edge)를 검출하는 에지 검출부 및
    상기 에지 검출부에서 검출된 에지 부분의 계조값 차이가 소정의 문턱값 이상 일때, 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값을 증가시키는 에지 향상부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 소정의 문턱값은 50 이상인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 계조 향상부는
    상기 계조값의 차이값에 대해 소정 비율을 갖는 값을 상기 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값에 더하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 소정 비율은 5 % 이상 15 % 이하인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 계조값 증가는 좌측 또는 우측 방향으로 서로 이웃한 픽셀에 대하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    서로 인접한 소정 개수의 픽셀들에 대하여 문턱값 이상인 에지가 적어도 둘이상 검출되었을 때, 가장 큰 계조값 차이를 갖는 에지에 대하여 계조값 증가를 적용하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    서로 인접한 소정 개수의 픽셀은 4개의 좌측 또는 우측 방향으로 서로 인접한 픽셀인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 플라즈마 디스플레이 패널에 표시되는 모드를 구분하고, 상기 모드에 따라 상기 에지 검출부 및 에지 향상부의 동작 여부를 제어하는 제어부가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치.
  9. 영상신호를 처리하여 화상을 구현하기 위한 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법에 있어서,
    서로 이웃하는 픽셀 간의 영상신호의 계조값을 비교하여 에지(edge)를 검출하는 에지 검출 단계 및
    상기 에지 검출 단계에서 검출된 에지 부분의 계조값 차이가 소정의 문턱값 이상 일때, 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값을 증가시키는 에지 향상 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 소정의 문턱값은 50 이상인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 계조 향상 단계는
    상기 계조값의 차이값에 대해 소정 비율을 갖는 값을 상기 계조값이 큰 픽셀의 영상신호의 계조값에 더하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 소정 비율은 5 % 이상 15 % 이하인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법.
  13. 제9항에 있어서,
    상기 계조값 증가는 좌측 또는 우측 방향으로 서로 이웃한 픽셀에 대하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법.
  14. 제9항에 있어서,
    서로 인접한 소정 개수의 픽셀들에 대하여 문턱값 이상인 에지가 적어도 둘이상 검출되었을 때, 가장 큰 계조값 차이를 갖는 에지에 대하여 계조값 증가를 적용하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    서로 인접한 소정 개수의 픽셀은 4개의 좌측 또는 우측 방향으로 서로 인접한 픽셀인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법.
  16. 제9항에 있어서,
    상기 플라즈마 디스플레이 패널에 표시되는 모드를 구분하고, 상기 모드에 따라 상기 에지 검출 단계 및 에지 향상 단계의 수행 여부를 제어하는 제어 단계가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 방법.
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