KR20060078570A - Shift register - Google Patents
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Abstract
본 발명은 게이트 바이어스 스트레스로 인한 오동작을 방지할 수 있는 쉬프트 레지스터를 제공하는 것이다.The present invention is to provide a shift register that can prevent the malfunction due to the gate bias stress.
본 발명의 쉬프트 레지스터는 다수의 스테이지 각각이, 상기 스타트 펄스에 응답하여 출력 라인으로 펄스를 출력하는 풀-업 박막 트랜지스터와; 상기 출력 라인과 병렬 접속되어 상기 펄스가 출력된 다음에 상기 출력 라인으로 제1 구동 전압을 교번적으로 공급하는 한 쌍의 풀-다운 박막 트랜지스터를 포함하고; 상기 한 쌍의 풀-다운 박막 트랜지스터 각각의 게이트 전극은 턴-오프 기간에서 자신의 소스 전극 또는 드레인 전극 보다 낮은 전압을 유지하는 것을 특징으로 한다.The shift register of the present invention comprises: a pull-up thin film transistor each of the plurality of stages outputs a pulse to an output line in response to the start pulse; A pair of pull-down thin film transistors connected in parallel with the output line to alternately supply a first driving voltage to the output line after the pulse is output; The gate electrode of each of the pair of pull-down thin film transistors may maintain a lower voltage than its source electrode or drain electrode in the turn-off period.
Description
도 1은 종래의 2상 쉬프트 레지스터를 도시한 블록도.1 is a block diagram showing a conventional two-phase shift register.
도 2은 도 1에 도시된 제1 스테이지를 출력 버퍼 위주로 도시한 회로도.FIG. 2 is a circuit diagram mainly showing an output buffer of the first stage shown in FIG.
도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 쉬프트 레지스터에서 한 스테이지에 대한 상세 회로도.3 is a detailed circuit diagram of one stage in a shift register according to the first embodiment of the present invention;
도 4는 도 3에 도시된 스테이지의 구동 파형도.4 is a drive waveform diagram of the stage shown in FIG.
도 5는 도 3에 도시된 풀-다운 TFT의 각 노드별 전압 파형도.5 is a voltage waveform diagram for each node of the pull-down TFT shown in FIG. 3;
도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 쉬프트 레지스터의 한 스테이지에 대한 상세 회로도.6 is a detailed circuit diagram of one stage of a shift register according to a second embodiment of the present invention.
도 7은 도 6에 도시된 풀-다운 TFT의 각 노드별 전압 파형도.7 is a voltage waveform diagram for each node of the pull-down TFT shown in FIG. 6;
〈 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 〉<Description of the code | symbol about the principal part of drawing>
10 : 제어부 30 : 출력 버퍼10: control unit 30: output buffer
본 발명은 액정 표시 장치의 구동 회로에 관한 것으로, 특히 아모퍼스-실리콘(a-Si) 박막 트랜지스터를 이용한 쉬프트 레지스터에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
텔레비젼(Television) 및 컴퓨터(Computer)의 표시 장치로 사용되는 액정 표시 장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여, 액정 표시 장치는 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정 패널과, 액정 패널을 구동하기 위한 구동 회로를 구비한다.A liquid crystal display device used as a display device of a television and a computer displays an image by adjusting the light transmittance of the liquid crystal using an electric field. To this end, the liquid crystal display includes a liquid crystal panel in which liquid crystal cells are arranged in a matrix, and a driving circuit for driving the liquid crystal panel.
액정 패널은 게이트 라인과 데이터 라인의 교차로 정의된 영역마다 형성된 액정셀과, 게이트 라인 및 데이터 라인과 액정셀에 포함된 화소 전극 사이에 접속된 박막 트랜지스터(이하, TFT)를 구비한다. TFT는 게이트 라인으로부터의 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인으로부터 데이터 신호를 화소 전극에 공급한다. 액정 셀은 화소 전극과 공통 전극과의 전압차에 따라 유전 이방성을 갖는 액정 분자들이 회전하여 광 투과율을 조절함으로써 계조를 표시한다.The liquid crystal panel includes a liquid crystal cell formed for each region defined by the intersection of the gate line and the data line, and a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT) connected between the gate line and the data line and the pixel electrode included in the liquid crystal cell. The TFT supplies the data signal from the data line to the pixel electrode in response to the scan signal from the gate line. The liquid crystal cell displays gray scales by rotating liquid crystal molecules having dielectric anisotropy according to the voltage difference between the pixel electrode and the common electrode to adjust light transmittance.
구동 회로는 게이트 라인을 구동하는 게이트 드라이버와, 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버를 구비한다. 게이트 드라이버는 게이트 라인으로 스캔 신호를 순차적으로 공급한다. 데이터 드라이버는 디지털 데이터를 아날로그 데이터 신호로 변환하여 스캔 신호가 공급될 때마다 데이터 라인으로 공급한다.The driving circuit includes a gate driver for driving a gate line and a data driver for driving a data line. The gate driver sequentially supplies a scan signal to the gate line. The data driver converts digital data into analog data signals and supplies them to the data lines whenever a scan signal is supplied.
게이트 드라이버는 순차적인 스캔 신호를 발생하기 위하여 쉬프트 레지스터를 포함한다. 데이터 드라이버도 외부로부터 입력되는 데이터 신호를 순차적으로 샘플링할 수 있게 하는 순차적인 샘플링 신호를 발생하기 위하여 쉬프트 레지스터를 포함한다.The gate driver includes a shift register to generate sequential scan signals. The data driver also includes a shift register to generate a sequential sampling signal that can sequentially sample data signals input from the outside.
도 1을 참조하면, 스타트 펄스(Vst) 입력 라인에 종속적으로 접속된 제1 내지 제n 스테이지를 구비하는 일반적인 쉬프트 레지스터가 도시되어 있다.Referring to FIG. 1, there is shown a general shift register having first to nth stages connected dependently to a start pulse Vst input line.
도 1에 도시된 쉬프트 레지스터의 제1 내지 제n 스테이지에는 고전위 및 저전위 구동 전압(VDD, VSS)과 함께 제1 및 제2 클럭 신호(C1, C2)가 공통으로 공급되고, 스타트 펄스(Vst) 또는 전단 스테이지의 출력 신호가 공급된다. 제1 스테이지는 스타트 펄스(Vst)와 제1 및 제2 클럭 신호(C1, C2)에 응답하여 제1 출력 신호(Out1)를 출력한다. 그리고, 제2 내지 제n 스테이지는 이전단 스테이지의 출력 신호와 제1 및 제2 클럭 신호(C1, C2)에 응답하여 제2 내지 제n 출력 신호(Out2 내지 Outn) 각각을 출력한다. 제1 내지 제n 스테이지는 동일한 회로 구성을 갖고, 제1 및 제2 클럭 신호(C1, C2)에 응답하여 스타트 펄스(Vst)를 순차적으로 쉬프트시켜 출력하게 된다. 이러한 제1 내지 제n 스테이지로부터의 제1 내지 제n 출력 신호(Out1 내지 Outn)는 액정 패널의 게이트 라인들을 순차적으로 구동하기 위한 스캔 신호로 공급되거나, 데이터 드라이버내에서 비디오 신호를 순차적으로 샘플링하기 위한 샘플링 신호로 공급된다.The first and second clock signals C1 and C2 are commonly supplied to the first to nth stages of the shift register illustrated in FIG. 1 together with the high potential and the low potential driving voltages VDD and VSS. Vst) or the output signal of the preceding stage is supplied. The first stage outputs the first output signal Out1 in response to the start pulse Vst and the first and second clock signals C1 and C2. The second through n-th stages output the second through n-th output signals Out2 through Outn in response to the output signal of the previous stage and the first and second clock signals C1 and C2. The first to n-th stages have the same circuit configuration, and sequentially output the start pulse Vst in response to the first and second clock signals C1 and C2. The first to nth output signals Out1 to Outn from the first to nth stages are supplied as scan signals for sequentially driving the gate lines of the liquid crystal panel, or sequentially sampling the video signals in the data driver. Is supplied as a sampling signal.
도 2는 도 1에 도시된 한 스테이지의 구성을 출력 버퍼 위주로 도시한 것이다.FIG. 2 illustrates a configuration of one stage shown in FIG. 1 based on an output buffer.
도 2에 도시된 스테이지는 Q노드의 제어에 의해 클럭 신호(C)를 출력 라인으로 출력하는 풀-업 TFT(Tpu)와, QB노드의 제어에 의해 저전위 구동 전압(VSS)을 출력 라인으로 출력하는 풀-다운 TFT(Tpd)로 구성된 출력 버퍼부(30)와, Q노드와 QB 노드를 제어하는 제어부(10)를 구비한다.The stage shown in FIG. 2 includes a pull-up TFT Tpu which outputs the clock signal C to an output line under the control of the Q node, and a low potential drive voltage VSS as the output line under the control of the QB node. An
제어부(10)는 이전단 스테이지의 출력 신호, 즉 스타트 펄스(Vst)에 의해 Q 노드를 충전하여 풀-업 TFT(Tpu)가 클럭 신호(C)의 하이 전압을 출력 신호(Out_i) 로 출력하게 한다. 그리고, 제어부(10)는 클럭 신호(C)에 의해 Q노드를 방전하고, QB노드를 충전하여 풀-다운 TFT(Tpd)가 저전위 전압(VSS)을 출력 신호(Out_i)로 출력하게 한다. 여기서, 풀-다운 TFT(Tpd)는 풀-업 TFT(Tpu)가 턴-온되는 기간을 제외한 대부분의 기간동안 턴-온되어 출력 신호(Out_i)로 저전위 전압(VSS)을 출력한다. 이를 위하여, QB노드는 제어부(10)에 의해 대부분의 기간동안 하이 상태를 유지함으로써 풀-다운 TFT(Tpd)가 게이트 바이어스 스트레스를 크게 받아 문턱 전압(Vth)이 변동하여 오동작하게 되는 문제점이 있다.The
따라서, 본 발명의 목적은 게이트 바이어스 스트레스로 인한 오동작을 방지할 수 있는 쉬프트 레지스터를 제공하는 것이다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a shift register that can prevent malfunction due to gate bias stress.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시 예에 따른 쉬프트 레지스터는 입력된 스타트 펄스를 쉬프트시켜 각각의 출력 신호와 다음단의 스타트 펄스로 공급하는 다수의 스테이지를 구비하는 쉬프트 레지스터에 있어서, 상기 다수의 스테이지 각각은 상기 스타트 펄스에 응답하여 출력 라인으로 펄스를 출력하는 풀-업 박막 트랜지스터와; 상기 출력 라인과 병렬 접속되어 상기 펄스가 출력된 다음에 상기 출력 라인으로 제1 구동 전압을 교번적으로 공급하는 한 쌍의 풀-다운 박막 트랜지스터를 포함하고; 상기 한 쌍의 풀-다운 박막 트랜지스터 각각의 게이트 전극은 턴-오프 기간에서 자신의 소스 전극 또는 드레인 전극 보다 낮은 전압을 유지하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the shift register according to the embodiment of the present invention is a shift register having a plurality of stages for supplying each output signal and the next stage start pulse by shifting the input start pulse, Each stage of the pull-up thin film transistor outputs a pulse to an output line in response to the start pulse; A pair of pull-down thin film transistors connected in parallel with the output line to alternately supply a first driving voltage to the output line after the pulse is output; The gate electrode of each of the pair of pull-down thin film transistors may maintain a lower voltage than its source electrode or drain electrode in the turn-off period.
상기 스테이지는 상기 풀-업 트랜지스터의 게이트 전극에 상기 제1 구동 전압을 교번적으로 공급하는 다른 한 쌍의 풀-다운 박막 트랜지스터를 포함하는 제1 제어부를 추가로 구비한다.The stage further includes a first control unit including another pair of pull-down thin film transistors alternately supplying the first driving voltage to a gate electrode of the pull-up transistor.
상기 다른 한 쌍의 풀-다운 박막 트랜지스터 각각의 게이트 전극은 턴-오프 기간에서 자신의 소스 전극 또는 드레인 전극 보다 낮은 전압을 유지한다.The gate electrode of each of the other pair of pull-down thin film transistors maintains a lower voltage than its source electrode or drain electrode in the turn-off period.
상기 각각의 풀-다운 박막 트랜지스터의 턴-오프를 위하여 그의 게이트 전극에는 제2 구동 전압이 공급되고; 상기 제1 구동 전압은 상기 제2 구동 전압 보다 높은 것을 특징으로 한다.A second driving voltage is supplied to its gate electrode for turning off each of the pull-down thin film transistors; The first driving voltage is higher than the second driving voltage.
상기 제2 구동 전압은 상기 펄스 신호에 포함된 제2 구동 전압 보다 낮고, 상기 제1 구동 전압은 상기 제1 구동 전압에서 상기 풀-다운 박막 트랜지스터의 문턱 전압을 뺀 차전압 보다 큰 것을 특징으로 한다.The second driving voltage is lower than the second driving voltage included in the pulse signal, and the first driving voltage is greater than the difference voltage obtained by subtracting the threshold voltage of the pull-down thin film transistor from the first driving voltage. .
상기 스테이지는 상기 스타트 펄스와 다음단 스테이지의 출력 신호에 의해 제어되어 상기 풀-업 박막 트랜지스터의 게이트 전극과 접속된 제1 노드를 충방전하는 제1 노드 제어부와; 상기 제1 노드에 의해 제어되어 제2 노드가 상기 제1 노드와 상반된 전압을 갖도록 충방전하는 제2 노드 제어부와; 상기 클럭 신호의 제어에 의해 상기 한 쌍의 풀-다운 박막 트랜지스터 중 제1 풀-다운 박막 트랜지스터의 게이트 전극과 접속된 제3 노드를 충방전하는 제3 노드 제어와; 상기 클럭 신호의 제어에 의해 상기 한 쌍의 풀-다운 박막 트랜지스터 중 제2 풀-다운 박막 트랜지스터의 게이트 전극과 접속된 제4 노드를 상기 제3 노드와 상반되게 충방전하는 제4 노드 제어부를 추가로 구비한다.The stage includes a first node controller controlled by an output signal of the start pulse and a next stage stage to charge and discharge a first node connected to a gate electrode of the pull-up thin film transistor; A second node controller controlled by the first node to charge and discharge the second node to have a voltage opposite to that of the first node; Third node control for charging and discharging a third node connected to a gate electrode of a first pull-down thin film transistor among the pair of pull-down thin film transistors by controlling the clock signal; A fourth node controller configured to charge and discharge a fourth node connected to a gate electrode of a second pull-down thin film transistor among the pair of pull-down thin film transistors opposite to the third node by controlling the clock signal; It is provided with.
상기 제1 노드 제어부는 상기 스타트 펄스 입력 라인과 상기 제1 노드 사이에 다이오드 타입으로 접속된 제1 박막 트랜지스터와; 상기 제1 노드와 상기 제2 구동 전압의 입력 라인 사이에 접속되어 상기 다음단 스테이지의 출력 신호에 의해 제어되는 제2 박막 트랜지스터를 구비한다.The first node controller includes: a first thin film transistor connected in a diode type between the start pulse input line and the first node; And a second thin film transistor connected between the first node and an input line of the second driving voltage and controlled by an output signal of the next stage.
상기 제2 노드 제어부는 상기 제3 구동 전압 입력 라인과 상기 제2 노드 사이에 다이오드 타입으로 접속된 제3 박막 트랜지스터와; 상기 제2 노드와 상기 제2 구동 전압의 입력 라인 사이에 접속되어 상기 제1 노드에 의해 제어되는 제4 박막 트랜지스터를 구비한다.The second node controller may include a third thin film transistor connected in a diode type between the third driving voltage input line and the second node; And a fourth thin film transistor connected between the second node and the input line of the second driving voltage and controlled by the first node.
상기 제4 박막 트랜지스터는 상기 제3 박막 트랜지스터 보다 크게 형성된다.The fourth thin film transistor is formed larger than the third thin film transistor.
상기 풀-업 박막 트랜지스터는 제1 클럭 신호의 입력 라인과 상기 출력 라인 사이에 접속되어 상기 제1 노드에 의해 제어되는 제5 박막 트랜지스터를 구비하고; 상기 한 쌍의 풀-다운 박막 트랜지스터는 상기 스테이지의 출력 라인과 상기 제1 구동 전압의 입력 라인 사이에 접속되어 상기 제3 노드에 의해 제어되는 제6 박막 트랜지스터와; 상기 제6 박막 트랜지스터와 병렬 접속되어 상기 제4 노드에 의해 제어되는 제7 박막 트랜지스터를 구비한다.The pull-up thin film transistor has a fifth thin film transistor connected between an input line and the output line of a first clock signal and controlled by the first node; The pair of pull-down thin film transistors include a sixth thin film transistor connected between an output line of the stage and an input line of the first driving voltage and controlled by the third node; And a seventh thin film transistor connected in parallel with the sixth thin film transistor and controlled by the fourth node.
상기 스테이지는 상기 제5 박막 트랜지스터에 접속되어, 상기 제1 노드를 상기 제1 클럭 신호를 이용하여 부트스트래핑시키기 위한 캐패시터를 추가로 구비한다.The stage is further provided with a capacitor connected to the fifth thin film transistor for bootstrapping the first node using the first clock signal.
상기 제3 노드 제어부는 상기 제2 노드와 상기 제3 노드 사이에 접속되어 상기 제1 클럭 신호에 의해 제어되는 제8 박막 트랜지스터와, 상기 제2 구동 전압의 입력 라인과 상기 제3 노드 사이에 접속되어 제2 클럭 신호에 의해 제어되는 제9 박막 트랜지스터를 구비한다.The third node controller is connected between the second node and the third node and is connected between an eighth thin film transistor controlled by the first clock signal, an input line of the second driving voltage, and the third node. And a ninth thin film transistor controlled by a second clock signal.
상기 제4 노드 제어부는 상기 제2 노드와 상기 제4 노드 사이에 접속되어 상기 제2 클럭 신호에 의해 제어되는 제10 박막 트랜지스터와; 상기 제2 구동 전압의 입력 라인과 상기 제4 노드 사이에 접속되어 상기 제1 클럭 신호에 의해 제어되는 제11 박막 트랜지스터를 구비한다.The fourth node controller includes: a tenth thin film transistor connected between the second node and the fourth node and controlled by the second clock signal; And an eleventh thin film transistor connected between the input line of the second driving voltage and the fourth node and controlled by the first clock signal.
상기 다른 한 쌍의 풀-다운 박막 트랜지스터는 상기 제1 노드와 상기 제1 구동 전압의 입력 라인 사이에 접속되어 상기 제3 노드에 의해 제어되는 제12 박막 트랜지스터와; 상기 제12 박막 트랜지스터와 병렬 접속되어 상기 제4 노드에 의해 제어되는 제13 박막 트랜지스터를 구비한다.The other pair of pull-down thin film transistors may include: a twelfth thin film transistor connected between the first node and an input line of the first driving voltage and controlled by the third node; A thirteenth thin film transistor connected in parallel with the twelfth thin film transistor and controlled by the fourth node is provided.
상기 스테이지는 동일 채널 타입의 박막 트랜지스터로 구성된다.The stage is composed of thin film transistors of the same channel type.
상기 스테이지는 NPMOS 박막 트랜지스터로 구성된다.The stage is composed of an NPMOS thin film transistor.
상기 스테이지는 아모퍼스-실리콘 박막 트랜지스터로 구성된다.The stage is composed of amorphous-silicon thin film transistors.
상기 제1 및 제2 클럭 신호는 위상 반전된다.The first and second clock signals are phase inverted.
상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 이점들은 첨부한 도면들을 참조한 본 발명의 바람직한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and advantages of the present invention in addition to the above object will become apparent from the description of the preferred embodiment of the present invention with reference to the accompanying drawings.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 도 4 내지 도 8을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 4 to 8.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 쉬프트 레지스터에서 한 스테이지에 대한 상세 회로를 도시한 것이고, 도 5는 구동 파형을 도시한 것이다.4 illustrates a detailed circuit for one stage in a shift register according to an embodiment of the present invention, and FIG. 5 illustrates a driving waveform.
도 4에 도시된 쉬프트 레지스터의 한 스테이지는 Q노드의 제어에 의해 클럭 신호(C1)를 출력 라인으로 출력하는 제5 NMOS TFT(T5)와, QB1 및 QB2 노드의 제어에 의해 저전위 구동 전압(VSS)을 출력 라인으로 출력하는 제6 및 제7 NMOS TFT(T6, T7)를 구비하는 출력 버퍼와; Q노드를 제어하는 제1 및 제2 NMOS TFT(T1, T2)와, 제12 및 제13 NMOS TFT(T12, 13)을 구비하는 Q노드 제어부와; QB노드를 제어하는 제3 및 제4 NMOS TFT(T3, T4)를 구비하는 QB노드 제어부와; QB1노드를 제어하는 제8 및 제9 NMOS TFT(T8, T9)를 구비하는 QB1노드 제어부와, QB2노드를 제어하는 제10 및 제11 NMOS TFT(T10, T11)를 구비하는 QB2노드 제어부를 구비한다.One stage of the shift register shown in FIG. 4 includes a fifth NMOS TFT T5 for outputting the clock signal C1 to the output line under the control of the Q node, and a low potential driving voltage under the control of the QB1 and QB2 nodes. An output buffer having sixth and seventh NMOS TFTs T6 and T7 for outputting VSS to an output line; A Q node control unit including first and second NMOS TFTs T1 and T2 for controlling the Q node, and twelfth and thirteenth NMOS TFTs T12 and 13; A QB node controller having third and fourth NMOS TFTs T3 and T4 for controlling the QB node; QB1 node control unit having eighth and ninth NMOS TFTs (T8, T9) for controlling the QB1 node, and QB2 node control unit having tenth and eleventh NMOS TFTs (T10, T11) for controlling the QB2 node. do.
출력 버퍼에서 풀-업 트랜지스터인 제5 NMOS TFT(T5)는 클럭 신호(C1) 입력 라인과 스테이지의 출력 라인 사이에 접속되어 Q노드에 의해 제어된다. 그리고, 풀-다운 트랜지스터인 제6 및 제7 NMOS TFT(T6, T7)는 스테이지의 출력 라인과 저전위 전압(VSS) 입력 라인 사이에 병렬 접속되어 QB1 및 QB2 노드 각각에 의해 제어된다.The fifth NMOS TFT T5, which is a pull-up transistor in the output buffer, is connected between the clock signal C1 input line and the output line of the stage and controlled by the Q node. The sixth and seventh NMOS TFTs T6 and T7, which are pull-down transistors, are connected in parallel between the output line of the stage and the low potential voltage VSS input line, and are controlled by the QB1 and QB2 nodes, respectively.
Q노드 제어부는 Q노드를 프리차지시키는 프리차지부와, 방전시키는 방전부로 구성된다. Q노드 프리차지부의 제1 NMOS TFT(T1)는 스타트 펄스(Vst) 입력 라인과 Q노드 사이에 다이오드 타입으로 접속된다. Q노드 방전부는 저전위 전압(VSS) 공급 라인과 Q노드 사이에 접속되어 다음단 스테이지의 출력 신호(Out_i+1)에 의해 제어되는 제2 NMOS TFT(T2), Q노드와 저전위 전압(VSS) 공급 라인 사이에 병렬 접속되어 QB1 및 QB2 노드 각각에 의해 제어되는 제12 및 제13 NMOS TFT(T12, T13)를 구비한다The Q node control unit includes a precharge unit for precharging the Q node and a discharge unit for discharging. The first NMOS TFT T1 of the Q node precharge part is connected in a diode type between the start pulse Vst input line and the Q node. The Q node discharge portion is connected between the low potential voltage (VSS) supply line and the Q node to control the second NMOS TFT (T2), the Q node and the low potential voltage (VSS) controlled by the output signal Out_i + 1 of the next stage. 12th and 13th NMOS TFTs (T12, T13) connected in parallel between the supply lines and controlled by the QB1 and QB2 nodes, respectively.
QB노드 제어부의 제3 NMOS TFT(T3)는 고전위 구동 전압(VDD) 공급 라인과 QB노드 사이에 다이오드 타입으로 접속되고, 제4 NMOS TFT(T4)는 QB노드와 저전위 전압(VSS) 공급 라인 사이에 접속되어 Q노드에 의해 제어된다.The third NMOS TFT T3 of the QB node controller is connected in a diode type between the high potential driving voltage VDD supply line and the QB node, and the fourth NMOS TFT T4 supplies the QB node and the low potential voltage VSS. It is connected between lines and controlled by the Q node.
QB1노드 제어부의 제8 NMOS TFT(T8)는 QB노드와 QB1 노드 사이에 접속되어 제1 클럭 신호(C1)에 의해 제어되고, 제9 NMOS TFT(T9)는 저전위 전압(VSS) 입력 라인과 QB1노드 사이에 접속되어 제2 클럭 신호(C2)에 의해 제어된다.The eighth NMOS TFT T8 of the QB1 node controller is connected between the QB node and the QB1 node and controlled by the first clock signal C1, and the ninth NMOS TFT T9 is connected to the low potential voltage VSS input line. It is connected between the QB1 nodes and controlled by the second clock signal C2.
QB2노드 제어부의 제10 NMOS TFT(T10)는 QB노드와 QB2 노드 사이에 접속되어 제2 클럭 신호(C2)에 의해 제어되고, 제11 NMOS TFT(T11)는 저전위 전압(VSS) 입력라인과 QB2노드 사이에 접속되어 제1 클럭 신호(C1)에 의해 제어된다.The tenth NMOS TFT T10 of the QB2 node controller is connected between the QB node and the QB2 node and controlled by the second clock signal C2, and the eleventh NMOS TFT T11 is connected to the low potential voltage VSS input line. It is connected between the QB2 nodes and controlled by the first clock signal C1.
이러한 제1 내지 제13 NMOS TFT(T1 내지 T13)로는 NMOS 또는 PMOS TFT가 적용될 수 있지만, 이하에서는 NMOS TFT가 적용된 경우만을 예로 들어 설명하기로 한다.NMOS or PMOS TFT may be applied to the first to thirteenth NMOS TFTs (T1 to T13), but the following description will be given only by using an NMOS TFT.
이러한 스테이지의 동작 과정을 도 4에 도시된 구동 파형을 참조하여 설명하기로 한다.An operation process of such a stage will be described with reference to the driving waveform shown in FIG. 4.
A기간에서 스타트 펄스(Vst)의 하이 전압에 의해 제1 NMOS TFT(T1)가 턴-온되어 Q노드는 스타트 펄스(Vst)에 의해 하이 상태로 프리차지된다. 하이 상태로 프리차지된 Q노드에 의해 제5 NMOS TFT(T5)가 턴-온되어 클럭 신호(C1)의 로우 전압이 출력 라인으로 공급된다. 동시에, 하이 상태로 프리차지된 Q노드에 의해 제4 PMOS 트랜지스터(T4)가 턴-온되고, 고전위 전압(VDD) 입력 라인에 다이오드형으로 접속된 제3 NMOS TFT(T3)가 턴-온된다. 이 경우, 제4 NMOS TFT(T4)를 제3 NMOS TFT(T3) 보다 크게 형성하여 저전위 전압(VSS)이, 고전위 전압(VDD) 보다 빠르게 QB노드에 도달되게 함으로써 QB노드는 로우 상태가 된다. 예를 들면, 제3 및 제4 NMOS TFT(T3, T4)의 크기 비는 1:3 정도가 되도록 형성한다. 제2 클럭 신호(C2)에 의해 제9 및 제10 NMOS TFT(T9, T10)가 턴-온됨으로써, QB1노드에는 QB노드에 공급된 로우 전압이, QB2노드에는 저전위 전압(VSS)이 공급된다. 이에 따라, 제6 및 제7 NMOS TFT(T6, T7)와 제12 및 제13 NMOS TFT(T12, T13)는 턴-오프된다. 이 결과, A기간에서 스테이지의 출력 라인은 로우 상태의 출력 신호(Out_i)를 출력한다.In the period A, the first NMOS TFT T1 is turned on by the high voltage of the start pulse Vst, and the Q node is precharged to the high state by the start pulse Vst. The fifth NMOS TFT T5 is turned on by the Q node precharged to the high state to supply the low voltage of the clock signal C1 to the output line. At the same time, the fourth PMOS transistor T4 is turned on by the Q node precharged to the high state, and the third NMOS TFT T3, which is diode-connected to the high potential voltage VDD input line, is turned on. do. In this case, the fourth NMOS TFT T4 is formed larger than the third NMOS TFT T3 so that the low potential voltage VSS reaches the QB node faster than the high potential voltage VDD so that the QB node becomes low. do. For example, the size ratio of the third and fourth NMOS TFTs T3 and T4 is formed to be about 1: 3. The ninth and tenth NMOS TFTs T9 and T10 are turned on by the second clock signal C2, so that the low voltage supplied to the QB node is supplied to the QB1 node, and the low potential voltage VSS is supplied to the QB2 node. do. Accordingly, the sixth and seventh NMOS TFTs T6 and T7 and the twelfth and thirteenth NMOS TFTs T12 and T13 are turned off. As a result, in the period A, the output line of the stage outputs the output signal Out_i in the low state.
B기간에서 스타트 펄스(Vst)의 로우 전압에 의해 제1 NMOS TFT(T1)가 턴-오프됨으로써 Q노드는 하이 상태로 플로팅되므로 제5 NMOS TFT(T5)는 턴-온 상태를 유지한다. 이때, 제1 클럭 신호(C1)의 하이 전압이 공급됨에 따라 플로팅된 Q노드는 제5 NMOS TFT(T5)의 게이트 전극과 소스 전극 사이에 형성된 캐패시터(CB) 영향으로 부트스트래핑(Bootstrapping)된다. 이에 따라, Q노드 전압이 더욱 상승하여 제5 NMOS TFT(T5)가 확실하게 턴-온됨으로써 제1 클럭 신호(C1)의 하이 전압이 출력 라인으로 빠르게 공급된다. 이때, 부트스트래핑된 Q노드에 의해 턴-온된 제4 PMOS 트랜지스터(T4)에 의해 제3 NMOS TFT(T3)가 턴-온 상태를 유지하고 있더라도 QB노드는 로우 상태가 된다. 그리고, 제1 클럭 신호(C1)에 의해 제8 및 제11 NMOS TFT(T8, T11)가 턴-온됨으로써, QB1노드에는 QB노드에 공급된 로우 전압이, QB2노드에는 저전위 전압(VSS)이 공급된다. 이에 따라, 제6 및 제7 NMOS TFT(T6, T7)와 제12 및 제13 NMOS TFT(T12, T13)는 턴-오프된다. 이 결과, B기간에서 스테이지의 출력 라인은 하이 상태의 출력 신호(Out_i+1)를 출력한다. 결과적으로, A기간에 공 급된 스타트 펄스(Vst)가 제1 및 제5 NMOS TFT(T1, T5)를 통해 쉬프트되어 B기간에서 출력 신호(Out_i)로 출력된다.In the period B, the first NMOS TFT T1 is turned off by the low voltage of the start pulse Vst, so that the Q node floats to a high state, and thus the fifth NMOS TFT T5 maintains the turn-on state. In this case, as the high voltage of the first clock signal C1 is supplied, the floating Q node is bootstrapping under the influence of the capacitor CB formed between the gate electrode and the source electrode of the fifth NMOS TFT T5. As a result, the Q-node voltage further rises and the fifth NMOS TFT T5 is reliably turned on, so that the high voltage of the first clock signal C1 is quickly supplied to the output line. At this time, even if the third NMOS TFT T3 is turned on by the fourth PMOS transistor T4 turned on by the bootstrapped Q node, the QB node is turned low. The eighth and eleventh NMOS TFTs T8 and T11 are turned on by the first clock signal C1, so that the low voltage supplied to the QB node is supplied to the QB1 node, and the low potential voltage VSS is applied to the QB2 node. Is supplied. Accordingly, the sixth and seventh NMOS TFTs T6 and T7 and the twelfth and thirteenth NMOS TFTs T12 and T13 are turned off. As a result, in the period B, the output line of the stage outputs the high output
C기간에서 다음단 스테이지의 출력 신호(Out_i+1)의 하이 전압에 의해 제2 NMOS TFT(T2)가 턴-온되어 Q노드에는 저전위 전압(VSS)이 공급되므로 제5 NMOS TFT(T5)는 턴-오프된다. 그리고, Q노드의 저전위 전압(VSS)에 의해 제4 NMOS TFT(T4)가 턴-오프되어 QB노드에는 턴-온 상태를 유지하는 제3 NMOS TFT(T3)를 통해 고전위 전압(VDD)이 공급된다. 그리고, 제2 클럭 신호(C2)에 의해 제9 및 제10 NMOS TFT(T9, T10)가 턴-온됨으로써, QB1노드에는 저전위 구동 전압(VSS)이, QB2노드에는 QB노드에 공급된 고전위 구동 전압(VDD)이 공급된다. 이에 따라, 제7 NMOS TFT(T7)가 턴-온되어 출력 라인으로 저전위 구동 전압(VSS)이 공급된다. 또한, 제13 NMOS TFT(T13)가 턴-온되어 Q노드에 저전위 구동(VSS)을 공급한다. 이에 따라, 다음단 스테이지의 출력 신호(Out_i+1)가 로우 상태가 되어 제2 NMOS TFT(T2)가 턴-오프된 경우에도 Q노드가 확실한 로우 상태가 되게 한다. 이 결과, C기간에서 스테이지의 출력 라인은 로우 상태의 출력 신호(Out_i)를 출력한다.In the C period, since the second NMOS TFT T2 is turned on by the high voltage of the output signal Out_i + 1 of the next stage, the low potential voltage VSS is supplied to the Q node, so that the fifth NMOS TFT T5 is supplied. Is turned off. In addition, the fourth NMOS TFT T4 is turned off by the low potential voltage VSS of the Q node, and the high potential voltage VDD is applied through the third NMOS TFT T3 that maintains the turn-on state of the QB node. Is supplied. In addition, the ninth and tenth NMOS TFTs T9 and T10 are turned on by the second clock signal C2 so that the low potential driving voltage VSS is supplied to the QB1 node and the QB node is supplied to the QB node. The above driving voltage VDD is supplied. As a result, the seventh NMOS TFT T7 is turned on to supply the low potential driving voltage VSS to the output line. In addition, the thirteenth NMOS TFT T13 is turned on to supply the low potential driving VSS to the Q node. Accordingly, the output node Out_i + 1 of the next stage becomes low so that the Q node is surely low even when the second NMOS TFT T2 is turned off. As a result, in the period C, the output line of the stage outputs the output signal Out_i in the low state.
D기간에서 스타트 펄스(Vst) 및 다음단 스테이지의 출력 신호(Out_i+1)의 로우 전압에 의해 제1 및 제2 NMOS TFT(T1, T2)는 턴-오프된다. 이에 따라, Q노드의 로우 전압에 의해 제4 NMOS TFT(T4)가 턴-오프되므로 QB노드에는 턴-온 상태를 유지하는 제3 NMOS TFT(T3)를 통해 고전위 전압(VDD)이 공급된다. 그리고, 클럭 신호(C1)에 의해 제8 및 제11 NMOS TFT(T9)가 턴-온됨으로써, QB1노드에는 QB노드에 공급된 고전위 전압(VDD)이, QB2노드에는 저전위 전압(VSS)이 공급된다. 이에 따라, 제6 NMOS TFT(T6)가 턴-온되어 출력 라인으로 저전위 구동 전압(VSS)을 공급한다. 또한, 제12 NMOS TFT(T12)가 턴-온되어 Q노드에 저전위 구동(VSS)을 공급한다. 이에 따라, 제1 및 제2 제2 NMOS TFT(N2)가 턴-오프된 경우에도 Q노드가 확실한 로우 상태가 되게 한다. 이 결과, D기간에서 스테이지의 출력 라인은 로우 상태의 출력 신호(Out_i)를 출력한다.In the D period, the first and second NMOS TFTs T1 and T2 are turned off by the low voltage of the start pulse Vst and the output signal Out_i + 1 of the next stage. Accordingly, since the fourth NMOS TFT T4 is turned off by the low voltage of the Q node, the high potential voltage VDD is supplied to the QB node through the third NMOS TFT T3 that maintains the turn-on state. . The eighth and eleventh NMOS TFTs T9 are turned on by the clock signal C1, so that the high potential voltage VDD supplied to the QB node is supplied to the QB1 node, and the low potential voltage VSS is supplied to the QB2 node. Is supplied. Accordingly, the sixth NMOS TFT T6 is turned on to supply the low potential driving voltage VSS to the output line. In addition, the twelfth NMOS TFT T12 is turned on to supply the low potential driving VSS to the Q node. Accordingly, even when the first and second second NMOS TFTs N2 are turned off, the Q node is surely brought into a low state. As a result, in the period D, the output line of the stage outputs the output signal Out_i in the low state.
그리고, 나머지 기간에서도 스테이지는 상기 C 및 D기간과 동일하게 동작하므로 스테이지의 출력 신호(Out_i)는 로우 상태를 유지하게 된다.In the remaining periods, the stage operates in the same manner as the C and D periods, so that the output signal Out_i of the stage is kept low.
이와 같이, 본 발명에 따른 쉬프트 레지스터는 한 쌍의 풀-다운 TFT, 즉 제6 및 제7 NMOS TFT(T6, T7)를 구비하고, 그들을 제어하는 QB1 및 QB2노드를 제1 및 제2 클럭 신호(C1, C2)에 따라 교류 구동시킴으로써 게이트 바이어스 스트레스가 감소하게 된다. 또한, Q노드를 로우 전압으로 홀딩시키는 제12 및 제13 NMOS TFT(T12, T13)의 게이트 전극 또한 QB1 및 QB2에 의해 교류 구동시킴으로써 게이트 바이어스 스트레스가 감소하게 된다.As such, the shift register according to the present invention includes a pair of pull-down TFTs, i.e., sixth and seventh NMOS TFTs (T6, T7), and the QB1 and QB2 nodes for controlling them include first and second clock signals. The gate bias stress is reduced by alternating current driving according to (C1, C2). In addition, gate bias stress is reduced by alternatingly driving the gate electrodes of the twelfth and thirteenth NMOS TFTs (T12, T13) holding the Q node at a low voltage by QB1 and QB2.
그런데, 제6 및 제7 NMOS TFT(T6, T7)와 제12 및 제13 NMOS TFT(T12, T13) 각각의 게이트/소스/드레인 전극은 도 5와 같이 턴-오프 기간마다 저전위 전압(VSS)으로 동일해지게 된다.However, the gate / source / drain electrodes of each of the sixth and seventh NMOS TFTs T6 and T7 and the twelfth and thirteenth NMOS TFTs T12 and T13 have a low potential voltage VSS for each turn-off period as shown in FIG. 5. Will be the same.
도 5를 참조하면, B 기간에서 출력 라인과 접속된 제6 및 제7 NMOS TFT(T6, T7)의 소스 전극에 하이 전압이 인가된다. 그리고, 제6 및 제7 NMOS TFT(T6, T7)의 소스 전극에 로우 전압이 인가되는 C 및 D 기간이 반복되는 동안 QB1 노드에 접속된 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)의 게이트 전극과, QB1 노드에 접속된 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)의 게이트 전극에 교번적으로 하이 전압이 공급된다. 이에 따라, 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)와, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)는 교번적으로 턴-온된다. 다시 말하여, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)가 턴-오프되는 C기간과, 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)가 턴-오프되는 D기간이 교번적으로 반복된다. 그런데, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)가 턴-오프되는 C기간에서 그들의 소스/드레인/게이트 전극은 저전위 구동 전압(VSS)으로 동일하고, 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)가 턴-오프되는 D기간에서 그들의 소스/드레인/게이트 전극이 저전위 구동 전압(VSS)으로 동일하게 된다. 이로 인하여, 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)와, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)의 게이트 전극이 턴-온 기간 뿐만 아니라, 턴-오프되는 기간에서도 바이어스 스트레스를 받게 되어 그들의 문턱 전압(Vth)이 쉬프트되는 문제가 발생할 수 있게 된다.Referring to FIG. 5, a high voltage is applied to the source electrodes of the sixth and seventh NMOS TFTs T6 and T7 connected to the output line in the period B. FIG. The gates of the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 connected to the QB1 node during the C and D periods in which the low voltage is applied to the source electrodes of the sixth and seventh NMOS TFTs T6 and T7 are repeated. The high voltage is alternately supplied to the electrode and the gate electrodes of the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12 connected to the QB1 node. Accordingly, the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 and the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12 are alternately turned on. In other words, the C period in which the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12 are turned off and the D period in which the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 are turned off are alternately repeated. . However, in the C period in which the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12 are turned off, their source / drain / gate electrodes are the same as the low potential driving voltage VSS, and the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7. In the period D where T13 is turned off, their source / drain / gate electrodes become equal to the low potential driving voltage VSS. Thus, the gate electrodes of the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 and the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12 are subjected to bias stress not only during the turn-on period but also during the turn-off period. This may cause a problem that their threshold voltages Vth are shifted.
이를 해결하기 위하여, 도 6에 도시된 본 발명의 제2 실시 예에 따른 쉬프트, 레지스터는 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)와, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)가 턴-오프되는 기간마다 그들의 게이트 전압이 드레인 전압 보다 낮게 유지될 수 있게 한다.In order to solve this problem, the shift and register according to the second embodiment of the present invention illustrated in FIG. 6 include the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 and the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12. Each period of turn-off allows their gate voltage to remain below the drain voltage.
다시 말하여, 도 6에 도시된 쉬프트 레지스터의 스테이지는 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)와, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)의 드레인 전극이 저전위 구동 전압(VSS) 보다 높은 제2 저전위 구동 전압(VSS2)의 공급 라인과 접속된다. 그리고, 도 6에 도시된 스테이지의 나머지 구성 요소들은 도 3에 도시된 스테이지와 중복되므로 그들에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.In other words, in the stage of the shift register illustrated in FIG. 6, the drain electrodes of the seventh and thirteenth NMOS TFTs (T7 and T13) and the drain electrodes of the sixth and twelfth NMOS TFTs (T6 and T12) may have a low potential driving voltage (VSS). Is connected to the supply line of the second low potential driving voltage VSS2 higher than). Since the remaining components of the stage illustrated in FIG. 6 overlap with the stage illustrated in FIG. 3, a detailed description thereof will be omitted.
도 6에 도시된 제2 저전위 구동 전압(VSS2)은 도 8에 도시된 바와 같이 저전위 구동 전압(VSS) 보다는 높게 설정된다. 또한, 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)와, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)의 게이트 전극에 하이 전압(즉, VDD)이 공급되면 턴-온될 수 있도록 제2 저전위 구동 전압(VSS2)은 고전위 구동 전압(VDD)-문턱전압(Vth) 보다는 낮게 설정된다.As shown in FIG. 8, the second low potential driving voltage VSS2 shown in FIG. 6 is set higher than the low potential driving voltage VSS. In addition, when the high voltage (ie, VDD) is supplied to the gate electrodes of the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 and the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12, the second low voltage is turned on. The potential driving voltage VSS2 is set lower than the high potential driving voltage VDD-threshold voltage Vth.
도 7을 참조하면, B 기간에서 출력 라인과 접속된 제6 및 제7 NMOS TFT(T6, T7)의 소스 전극에 하이 전압이 인가된 다음, 제6 및 제7 NMOS TFT(T6, T7)의 소스 전극에 로우 전압이 인가되는 C 및 D 기간이 반복되는 동안 QB1 노드에 접속된 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)의 게이트 전극과, QB1 노드에 접속된 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)의 게이트 전극에 교번적으로 하이 전압이 공급된다. 이에 따라, 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)가 턴-온되는 C기간과, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)가 턴-온되는 D기간이 반복된다. 다시 말하여, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)가 턴-오프되는 C기간과, 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)가 턴-오프되는 D기간이 교번적으로 반복된다.Referring to FIG. 7, a high voltage is applied to the source electrodes of the sixth and seventh NMOS TFTs T6 and T7 connected to the output line in the period B, and then the sixth and seventh NMOS TFTs T6 and T7 are applied. The gate electrodes of the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 connected to the QB1 node and the sixth and twelfth NMOS TFTs connected to the QB1 node during C and D periods in which a low voltage is applied to the source electrode are repeated. The high voltage is alternately supplied to the gate electrodes of T6 and T12. Accordingly, the C period in which the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 are turned on and the D period in which the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12 are turned on are repeated. In other words, the C period in which the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12 are turned off and the D period in which the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 are turned off are alternately repeated. .
이 경우, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)가 턴-오프되는 C기간에서 그들의 게이트/소스 전극에는 저전위 구동 전압(VSS)이 인가되는 반면에, 그들의 드레인 전극에는 제2 저전위 구동 전압(VSS2)가 공급된다. 또한, 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)가 턴-오프되는 D기간에서 그들의 게이트/소스 전극에는 저전위 구동 전압(VSS)가 인가되는 반면에, 그들의 드레인 전극에는 제2 저전위 구동 전압(VSS)가 공급된다. 이에 따라, 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)와, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)의 게이트 전극은 턴-오프 기간에서 드레인 전극에 공급된 제2 저전위 구동 전압(VSS2) 보다 낮은 저전위 구동 전압(VSS)을 유지할 수 있게 된다. 이 결과, 제7 및 제13 NMOS TFT(T7, T13)와, 제6 및 제12 NMOS TFT(T6, T12)의 게이트 전극은 턴-온 기간에서 받은 바이어스 스트레스를 턴-오프 기간에서 보상하여 문턱 전압(Vth)의 쉬프트를 방지할 수 있게 된다.In this case, the low potential driving voltage VSS is applied to their gate / source electrodes in the C period when the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12 are turned off, while the second low potential is applied to their drain electrodes. The driving voltage VSS2 is supplied. Further, in the D period in which the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 are turned off, a low potential driving voltage VSS is applied to their gate / source electrodes, while a second low potential driving is applied to their drain electrodes. The voltage VSS is supplied. Accordingly, the gate electrodes of the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 and the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12 may have a second low potential driving voltage supplied to the drain electrode during the turn-off period. It is possible to maintain the low potential driving voltage VSS lower than VSS2). As a result, the gate electrodes of the seventh and thirteenth NMOS TFTs T7 and T13 and the gate electrodes of the sixth and twelfth NMOS TFTs T6 and T12 compensate for the bias stress received in the turn-on period in the turn-off period and thus the thresholds. The shift of the voltage Vth can be prevented.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 쉬프트 레지스터는 출력 라인에 교번적으로 로우 전압을 인가하는 한 쌍의 풀-다운 TFT와, Q노드에 교번적으로 로우 전압을 인가하는 다른 한 쌍의 풀-다운 TFT의 게이트 전극이 턴-오프 기간에서는 드레인 전극 보다 낮은 전압을 유지하게 한다. 이에 따라, 본 발명에 따른 쉬프트 레지스터는 풀-다운 TFT가 턴-온 기간에서 받은 바이어스 스트레스를 턴-오프 기간에서 보상하여 문턱 전압(Vth)의 쉬프트로 인한 오동작을 방지할 수 있게 된다.As described above, the shift register according to the present invention includes a pair of pull-down TFTs alternately applying a low voltage to an output line, and another pair of pull-downs alternately applying a low voltage to a Q node. The gate electrode of the TFT keeps the voltage lower than the drain electrode in the turn-off period. Accordingly, the shift register according to the present invention can prevent the malfunction due to the shift of the threshold voltage Vth by compensating the bias stress received by the pull-down TFT in the turn-on period in the turn-off period.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.
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