KR20060046734A - Producing method for thin metal laminated body - Google Patents

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Abstract

기재의 종류에 관계없이, 단시간으로, 한편 박막 금속층과 기재와의 사이에 우수한 밀착성을 가지는 박막 금속 적층체를 얻을 수 있는 박막 금속 적층체의 제조 방법을 제공한다.Irrespective of the kind of base material, the manufacturing method of the thin film metal laminated body which can obtain the thin film metal laminated body which has excellent adhesiveness between a thin film metal layer and a base material in a short time is provided.

기재상에의 박막 금속 적층체의 제조 방법으로서, 하기 공정(1)~(3)을 포함하는 것을 특징으로 한다. As a manufacturing method of the thin film metal laminated body on a base material, it is characterized by including following process (1)-(3).

(1) 기재를 준비하는 공정 (1) step of preparing the base material

(2) 기재 표면에 대해서, 규소 함유 화합물을 포함한 연료 가스의 화염을 분사 처리하든가, 혹은, 규소 함유 화합물의 기체형상물을 400℃ 이상의 열원을 개입시켜 분사 처리하는 공정 (2) A step of injecting a flame of a fuel gas containing a silicon-containing compound or spraying a gaseous product of the silicon-containing compound through a heat source of 400 ° C. or higher on the substrate surface;

(3') 자외선 경화형 수지로 되는 기초층을 형성하는 공정 (3 ') Process of forming base layer which becomes ultraviolet curable resin

(3) 박막 금속층을 금속 이온의 환원 처리, 예를 들면, 은거울 반응에 의해 형성하는 공정(3) Process of forming thin metal layer by metal ion reduction treatment, for example, silver mirror reaction

박막 금속 적층체, 규소 함유 화합물, 분사 처리, 이온의 환원반응 Thin film metal laminate, silicon-containing compound, spray treatment, ion reduction reaction

Description

박막 금속 적층체의 제조 방법{Producing method for thin metal laminated body}Producing method for thin metal laminated body

도 1은 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 플로차트이다. 1 is a manufacturing flowchart of the thin film metal laminate of the present invention.

도 2는 본 발명의 다른 박막 금속 적층체의 제조 플로차트이다. 2 is a manufacturing flowchart of another thin film metal laminate of the present invention.

도 3(a)~(c)는 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의해 얻어진 적층체를 설명하기 위해서 제공하는 도면이다. FIG.3 (a)-(c) is a figure provided in order to demonstrate the laminated body obtained by the manufacturing method of a thin film metal laminated body.

도 4는 화염형 표면 개질 장치를 설명하기 위해서 제공하는 도면이다. It is a figure provided in order to demonstrate a flame-type surface modification apparatus.

도 5는 열원형 표면 처리 장치를 설명하기 위해서 제공하는 도면이다. It is a figure provided in order to demonstrate a heat source surface treatment apparatus.

도 6은 니들형의 표면 처리 장치를 설명하기 위해서 제공하는 도면이다. It is a figure provided in order to demonstrate a needle-type surface treatment apparatus.

도 7은 금속 이온의 환원 처리 장치를 설명하기 위해서 제공하는 도면이다.It is a figure provided in order to demonstrate the reduction treatment apparatus of a metal ion.

도 8은 금속 이온의 환원 처리 장치로서의 스프레이건을 설명하기 위해서 제공하는 도면이다.It is a figure provided in order to demonstrate the spray gun as a reduction apparatus of a metal ion.

도 9는 금속 이온의 환원 처리 장치로서의 스프레이 장치를 설명하기 위해서 제공하는 도면이다. It is a figure provided in order to demonstrate the spray apparatus as a reduction apparatus of a metal ion.

도 10은 유희도구를 설명하기 위해서 제공하는 도면이다. 10 is a view provided to explain the play tool.

도 11은 종래의 박막 금속 적층체의 제조 플로차트이다.11 is a manufacturing flowchart of a conventional thin film metal laminate.

부호의 설명Explanation of the sign

10, 10': 화염형 표면 개질 장치 10, 10 ': Flame type surface modification device

12: 규소 함유 화합물의 저장탱크(제1 저장탱크) 12: Storage tank (1st storage tank) of a silicon containing compound

14: 규소 함유 화합물 14 silicon-containing compound

16: 가열 수단 16: heating means

18: 압력계 18 : pressure gauge

22: 혼합실 22 : Mixing room

24: 이송부 24 : Transfer section

25: 열원25 : heat source

27: 캐리어 가스의 저장탱크 27 : Storage tank of carrier gas

28: 압력계 28 : Pressure gauge

32: 분사부 32 : injection part

35: 제2 열원 35 : second heat source

37: 캐리어 가스의 제2 저장탱크 37 : Second storage tank of carrier gas

40: 기재 40: mention

80, 80', 80'': 적층체80, 80 ', 80' ': laminated body

82: 기재 82: mention

84: 표면 처리층(실리카층) 84 : Surface treatment layer (silica layer)

86: 박막 금속층 86 : Thin film metal layer

87: 보호층(보호 필름) 87 : Protective layer (protective film)

100: 열원형 표면 처리 장치 100 : heat source surface treatment apparatus

200: 니들형 표면 처리 장치 200: needle type surface treatment apparatus

300: 스프레이건(spray gun)300 : spray gun

400, 400': 금속 이온의 환원 처리 장치 400, 400 ': Reduction treatment apparatus of metal ions

500: 유희도구500 : Play Tool

본 발명은 박막 금속 적층체의 제조 방법에 관한 것으로, 특히, 기재(基材)(기초층 첨부의 기재를 포함하는 경우가 있다. 이하, 동일하다.)와 박막 금속층 사이의 밀착력이 우수한 박막 금속 적층체의 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing a thin film metal laminate, and in particular, a thin film metal having excellent adhesion between a substrate (substrate with base layer, which is the same below) and the thin film metal layer. The manufacturing method of a laminated body is related.

종래, 은거울 반응을 이용해서 박막 금속층을 형성하는 경우, 도 11의 제조 플로차트에 나타내는 바와 같이, 공정순서 4에 나타내는 프라이머 도포나 공정순서 6에 나타내는 언더코트 도포 이외에, 공정순서 8이나 공정순서 10, 혹은 공정순서 13에 나타내는 바와 같이, 특정의 활성화 처리제(제1 주석이온이나 페러디엄 이온의 염산 용액)나 안정화제를 사용하여 복수의 활성화 처리나 안정화 처리를 행하는 것이 필수로 여겨져 왔다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).Conventionally, when forming a thin-film metal layer using a silver mirror reaction, as shown in the manufacturing flowchart of FIG. 11, in addition to the primer application | coating shown by process sequence 4 and the undercoat application | coating shown by process sequence 6, process sequence 8 and process sequence 10 Alternatively, as shown in step 13, it has been considered essential to perform a plurality of activation treatments or stabilization treatments using a specific activation treatment agent (a hydrochloric acid solution of a first tin ion or a ferridium ion) or a stabilizer (for example, See Patent Document 1).

그러나, 특정의 활성화 처리제나 안정화제를 사용하여 복수의 활성화 처리나 안정화 처리를 실시하기 위해서는 장시간을 필요로 하는 한편, 활성화 처리 효과나 안정화 처리 효과가 불충분하기 쉬워서, 형성한 박막 금속층과 기재 사이의 밀착성 이 여전히 부족하므로, 기재로부터 박막 금속층이 용이하게 박리되거나 사용하는 염산등에 인해서 박막 금속층이 부식하거나 갈라지기 쉽다고 하는 문제를 보였다.However, in order to perform a plurality of activation treatments or stabilization treatments using a specific activation treatment agent or stabilizer, a long time is required, and the activation treatment effect or stabilization treatment effect is likely to be insufficient. Since the adhesiveness is still insufficient, the thin film metal layer is easily corroded or cracked due to hydrochloric acid which is easily peeled off from the substrate or used.

또한, 상술한 박막 금속층 뿐만 아니라, 종래의 박막 금속층은 기재 종류와의 선택성이 뚜렷하여, 폴리프로필렌이나 폴리에스테르 등에 대해서 박막 금속층을 균일하고 튼튼하게 형성하는 것이 곤란했다.In addition to the above-described thin film metal layer, the conventional thin film metal layer has a high selectivity with respect to the substrate type, and it was difficult to form a thin film metal layer uniformly and firmly with respect to polypropylene, polyester, or the like.

한편, 본 발명의 발명자는 기재에 대해서 규소 함유 화합물을 포함한 연료 가스로 되는 화염을 분사 처리해서 규산화염 처리할 때에 실란 원자 등을 함유하는 규소 함유 화합물을 비교적 다량으로 사용했을 경우이더라도, 효율적으로 연소하기 쉽게하여, 기재 등의 표면을 균일하고 충분히 개질할 수 있는 표면 개질 방법을 제안하고 있다(예를 들면, 특허 문헌 2 참조).On the other hand, the inventor of the present invention efficiently burns even when the silicon-containing compound containing a silane atom is used in a relatively large amount when spraying a flame which is a fuel gas containing a silicon-containing compound to the substrate to perform a silicate treatment. The surface modification method which makes it easy to carry out and which can uniformly and fully modify surfaces, such as a base material, is proposed (for example, refer patent document 2).

그러나, 이러한 규산화염 처리를 실시함으로서 체적 저항률(표면 저항)의 값을 조절할 수 있다고 하는 사실은 몰랐고, 또한, 그것을 이용해서 금속 이온의 환원 반응에 의해 형성되는 박막 금속층 혹은 그 기초층으로서의 밀착 효과나 도전성(導電性)의 안정화 효과를 높이기 위해 사용할 수 있다고 하는 사실은 몰랐다.However, it was not known that the value of the volume resistivity (surface resistance) can be adjusted by performing such a silicate salt treatment, and the adhesion effect as a thin film metal layer or its base layer formed by the reduction reaction of metal ions using the same, It was not known that it could be used to increase the stabilization effect of the electroconductivity.

[특허 문헌 1] 일본국 특허공개 제2004-190061호 공보(특허 청구의 범위) [Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2004-190061 (Patent Claims)

[특허 문헌 2] WO03/069017호 공보(특허 청구의 범위) [Patent Document 2] WO03 / 069017 Publication (claim)

따라서, 본 발명의 발명자 등은, 예의 노력한 결과, 기재상에 은거울 반응 등으로 대표되는 금속 이온의 환원 반응에 의해, 박막 금속층을 형성함에 앞서, 소정의 규산화염 처리 등을 함으로써, 기재의 종류에 관계없이 단시간에, 또 박막 금 속층과 기재의 사이에 우수한 밀착성을 가지는 박막 금속 적층체를 얻을 수 있는 것을 발견하여, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.Therefore, the inventors of the present invention, as a result of diligent effort, perform a predetermined silicate salt treatment or the like before forming a thin film metal layer by a reduction reaction of metal ions represented by a silver mirror reaction or the like on a substrate. Irrespective of whether it was possible to obtain the thin film metal laminated body which has the outstanding adhesiveness between a thin film metal layer and a base material in a short time, it came to complete this invention.

따라서, 본 발명의 목적은 신속하고 간단하고 쉬운 사전 처리 방법에 의해, 박막 금속층과 기재의 사이에 우수한 밀착성을 얻을 수 있는 박막 금속 적층체의 제조 방법을 제공하는 것이다.Therefore, the objective of this invention is providing the manufacturing method of the thin film metal laminated body which can obtain the outstanding adhesiveness between a thin film metal layer and a base material by a quick, simple and easy preprocessing method.

본 발명에 의하면, 기재상에의 박막 금속 적층체의 제조 방법으로서, 하기 공정(1)~(3)을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법이 제공되어 상술한 문제를 해결할 수가 있다. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, as a manufacturing method of the thin film metal laminated body on a base material, the manufacturing method of the thin film metal laminated body characterized by including the following process (1)-(3) is provided, and the above-mentioned problem can be solved. have.

(1) 기재를 준비하는 공정 (1) step of preparing the base material

(2) 기재 표면에 대해서, 규소 함유 화합물을 포함한 연료 가스의 화염을 분사 처리하든가, 혹은, 규소 함유 화합물의 기체(氣體)형상물을 400℃ 이상의 열원(熱原)을 개입시켜 분사 처리하는 공정 (2) A step of injecting a flame of a fuel gas containing a silicon-containing compound or spraying a gaseous substance of the silicon-containing compound through a heat source of 400 ° C. or higher on the substrate surface;

(3) 박막 금속층을 금속 이온의 환원 반응에 의해 형성하는 공정(3) Process of Forming Thin Film Metal Layer by Reduction of Metal Ions

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 박막 금속층의 두께를 0.01~100 ㎛ 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, it is preferable to make thickness of a thin film metal layer into the value within 0.01-100 micrometers range.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 박막 금속층이 주성분으로서 금, 은, 구리, 니켈, 및 알루미늄 중의 적어도 하나, 특히 은을 포함하는 것이 바람직하다.Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, it is preferable that a thin film metal layer contains at least 1 among gold, silver, copper, nickel, and aluminum as a main component, especially silver.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 공정 (2)의 기재 표면의 젖음 지수(측정 온도 25℃)를 40~80 dyn/cm 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다. Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, it is preferable to make the wetness index (measurement temperature 25 degreeC) of the base material surface of a process (2) into the value within 40-80 dyn / cm range.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 공정(2)의 기재 표면의 체적 저항률을 1×104~1×1010Ω·cm 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, it is preferable to make the volume resistivity of the surface of the base material of a process (2) into the value within the range of 1 * 10 <4> -1 * 10 <10> ( ohm) * cm.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 공정(2)와 공정(3)의 사이에, (3') 기초층을 형성하는 공정을 추가로 마련해, 기재와 박막 금속층과의 사이에 기초층을 형성하는 것이 바람직하다. Furthermore, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, the process of forming a base layer (3 ') between process (2) and process (3) is further provided, and a base material and a thin film metal layer It is preferable to form a base layer between and.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 화염 또는 기체형상물의 분사 시간을 단위면적(100 ㎠)당, 0.1초~100초 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, it is preferable to make the injection time of a flame or gaseous form into the value within 0.1 second-100 second per unit area (100 cm <2>).

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 기재가 주성분으로서 유리 재료, 폴리카보네이트 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리에스테르 수지 및 폴리이미드 수지 중의 적어도 하나를 포함하는 것이 바람직하다.Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, it is preferable that a base material contains at least 1 among a glass material, a polycarbonate resin, a polyolefin resin, a polyester resin, and a polyimide resin as a main component.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 공정(3)의 뒤에 (4)보호층을 형성하는 공정을 추가로 마련해, 박막 금속층의 표면에 보호층을 형성하는 것이 바람직하다. Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, it is preferable to provide the process of forming a protective layer (4) further after a process (3), and to form a protective layer on the surface of a thin film metal layer. Do.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 기초층 및 보호층, 혹은 어느쪽이든 한쪽을, 자외선 경화형 수지로 형성하는 것이 바람 직하다.Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, it is preferable to form either a base layer, a protective layer, or either one by ultraviolet curable resin.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 박막 금속 적층체를 유희도구, 전기 제품, 차량, 기계 부품, 공구, 가구, 또는 장식품의 일부로서 형성하는 것이 바람직하다.Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, it is preferable to form a thin film metal laminated body as a part of a play tool, an electrical appliance, a vehicle, a mechanical component, a tool, furniture, or an ornament.

본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 기재에 대해서, 박막 금속층을 은거울 반응 등의 금속 이온의 환원 반응에 의해 형성하기 전에, 규소 함유 화합물을 포함한 연료 가스의 화염을 분사 처리하든가, 혹은, 규소 함유 화합물의 기체형상물을 소정의 온도 이상의 열원을 개입시켜 분사 처리함으로써, 박막 금속층과 기재와의 사이에 우수한 밀착성을 얻을 수 있다.According to the method for producing a thin film metal laminate of the present invention, before forming the thin film metal layer by a reduction reaction of metal ions such as silver mirror reaction, a flame of fuel gas containing a silicon-containing compound is sprayed or Or by spray-processing the gaseous substance of a silicon containing compound through the heat source more than predetermined temperature, the outstanding adhesiveness between a thin film metal layer and a base material can be obtained.

즉, 규소 함유 화합물이 화염 또는 열원에 의해 신속히 열분해하며 반응하여 기재의 표면에 있어서, 요철 형상을 가지는 동시에, 소정의 체적 저항률을 가지는 실리카층을 형성해서 특수한 도전성 기초층으로서의 기능을 발휘시킬 수가 있다. 그 결과, 박막 금속층과 기재와의 사이에 우수한 밀착성을 얻을 수 있다.In other words, the silicon-containing compound rapidly reacts with pyrolysis by a flame or a heat source to react to form a silica layer having a concave-convex shape and a predetermined volume resistivity on the surface of the substrate, thereby exerting a function as a special conductive base layer. . As a result, excellent adhesiveness can be obtained between the thin film metal layer and the substrate.

또한, 기재의 표면에 있어서 형성되는 요철 형상을 가짐과 동시에, 소정의 체적 저항률을 가지는 실리카층이 소정의 평활화 기능을 발휘할 수가 있으므로 보다 균일하고 매끄러운 박막 금속층 혹은 그 기초층을 형성할 수가 있다.In addition, since the silica layer having a concave-convex shape formed on the surface of the substrate and having a predetermined volume resistivity can exhibit a predetermined smoothing function, a more uniform and smooth thin film metal layer or a base layer thereof can be formed.

한편, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 복수의 표면 활성화 처리나 자외선 경화 처리의 사전 처리등에 대해서도 적당히 생략 할 수 있기 때문에, 연속적이고 신속한 제조를 실시할 수가 있어서 결과적으로, 박막 금속 적층체를 저비용으로 제조할 수도 있다.On the other hand, according to the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, since it can abbreviate | omit suitably also about several surface activation treatment, the ultraviolet-ray hardening pretreatment, etc., continuous and rapid manufacture can be performed and as a result, thin film metal The laminate can also be produced at low cost.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 박막 금속층의 두께를 소정의 두께로 함으로서 소정의 도전성, 광반사 특성, 장식성, 혹은 내구성 등을 얻을 수 있다.Moreover, according to the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, predetermined electroconductivity, light reflection characteristic, decorativeness, durability, etc. can be obtained by making thickness of a thin film metal layer into a predetermined thickness.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 박막 금속층이 주성분으로서 은 이나 구리 등에서 적어도 하나를 포함함으로써, 박막 금속층에 있어서 소정의 도전성이나 광반사 특성을 얻을 수 있는 것과 동시에, 박막 금속층의 저항에 대해서도 안정화 시킬 수가 있다.Moreover, according to the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, when a thin film metal layer contains at least one in silver, copper, etc. as a main component, predetermined | prescribed electroconductivity and light reflection characteristic can be obtained in a thin film metal layer, and a thin film metal layer It can also stabilize the resistance of.

한편, 종래부터 금속 이온의 환원 반응에 사용되고 있는 질산은 및 그 환원제의 편성이 그대로 사용될 수 있고 또한 도전성이나 광반사 특성이 우수하므로 박막 금속층의 주성분으로서는 은을 포함하는 것이 보다 바람직하다.On the other hand, since the combination of silver nitrate and the reducing agent conventionally used for the reduction reaction of metal ions can be used as it is, and since it is excellent in electroconductivity and a light reflection characteristic, it is more preferable to contain silver as a main component of a thin film metal layer.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 공정(2)에 있어서, 기재 표면의 젖음 지수(측정 온도 25℃)를 소정의 범위의 값으로 조정함으로써, 박막 금속층과 기재와의 사이에 한층 더 우수한 밀착성을 안정적으로 얻을 수 있다.Moreover, according to the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, in the process (2), between the thin film metal layer and a base material by adjusting the wetness index (measurement temperature of 25 degreeC) of the surface of a base material to the value of a predetermined range. Further excellent adhesiveness can be obtained stably.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 공정(2)에 있어서, 기재 표면의 체적 저항률을 소정의 범위의 값으로 조정함으로써, 특수한 도전성 개선층으로서의 기능을 발휘시킬 수가 있다. 따라서, 박막 금속층과 기재와의 사이에 한층 더 우수한 밀착성을 얻을 수 있고 한편, 박막 금속층의 저항에 대해서도 안정화 시킬 수가 있다. Moreover, according to the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, in the process (2), by adjusting the volume resistivity of the surface of a base material to the value of a predetermined range, the function as a special conductivity improvement layer can be exhibited. Therefore, more excellent adhesiveness can be obtained between the thin film metal layer and the substrate, and the resistance of the thin film metal layer can be stabilized.

또한, 기초층에 착색제나 도전 입자 등을 첨가함으로써, 박막 금속 적층체의 장식 효과나 외관성, 또 박막 금속층의 저항에 대해서도 보다 안정화 시킬 수가 있다.Moreover, by adding a coloring agent, electroconductive particle, etc. to a base layer, the decorative effect, external appearance, and resistance of a thin film metal layer can be stabilized more.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 특정의 기초층을 형성하는 공정(3')를 추가로 마련함으로써, 박막 금속층의 하부에 마련한 기초층과 기재와의 사이에 한층 더 우수한 밀착성을 얻을 수 있다. Moreover, according to the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, by providing the process (3 ') which forms a specific base layer further, it is further excellent between the base layer provided in the lower part of the thin film metal layer, and a base material. Adhesion can be obtained.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 소정의 화염 또는 기체형상물의 분사 시간을 단위면적당 소정의 시간 범위내의 값으로 함으로써, 해당 기재의 체적 저항률이나 젖음 지수의 제어를 용이하게 실시할 수가 있다.In addition, according to the method for producing a thin film metal laminate of the present invention, by controlling the injection time of a predetermined flame or gaseous product to a value within a predetermined time range per unit area, it is possible to easily control the volume resistivity and the wettability index of the substrate. You can do it.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 기재가 주성분으로서 유리 재료, 폴리카보네이트 수지 혹은 폴리이미드 수지 등을 포함함으로써, 소정의 내열성을 얻을 수 있다. 또한, 기재가 주성분으로서 폴리에스테르 수지나 폴리올레핀 수지 등을 포함함으로써, 소정의 유연성이나 경량성(輕量性)을 얻을 수 있다.Moreover, according to the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, predetermined | prescribed heat resistance can be obtained when a base material contains a glass material, a polycarbonate resin, a polyimide resin, etc. as a main component. Moreover, predetermined | prescribed flexibility and light weight can be acquired when a base material contains polyester resin, a polyolefin resin, etc. as a main component.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 공정(4)를 추가로 마련해, 박막 금속층의 표면에 보호층을 형성함으로써, 박막 금속 적층체의 내구성을 뚜렷하게 향상시킬 수가 있다. 또한, 보호층에 착색제나 도전 입자 등을 첨가함으로써, 박막 금속 적층체의 장식 효과나 외관성을 향상시키거나 또 박막 금속층의 저항에 대해서도 보다 안정화 시킬 수가 있다.Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, the durability of a thin film metal laminated body can be remarkably improved by providing process (4) further and forming a protective layer on the surface of a thin film metal layer. . Moreover, by adding a coloring agent, electroconductive particle, etc. to a protective layer, the decorative effect and external appearance of a thin film metal laminated body can be improved, or the resistance of a thin film metal layer can be stabilized more.

또한, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법을 실시하는 데 있어서, 박막 금속 적층체를 유희도구 등의 일부로 형성함으로써, 그 유희도구 등의 장식을 용이 하고 신속히 행할 수가 있다.Moreover, in implementing the manufacturing method of the thin film metal laminated body of this invention, by forming a thin film metal laminated body as a part of a play tool, etc., decoration of the play tool etc. can be performed easily and quickly.

한편, 유희도구 등은 도금 형성 부분이 많아서 그것을 본 발명의 박막 금속 적층체로 옮겨놓음으로써, 지극히 경제적으로 제조할 수가 있다고 하는 잇점을 얻을 수 있다.On the other hand, the play tool etc. have many plating formation parts, and it can obtain the advantage that it can manufacture extremely economically by replacing it with the thin film metal laminated body of this invention.

본 발명은, 기재상에의 박막 금속 적층체의 제조 방법으로서, 도 1이나 도 2에 예시되는 바와 같이, 하기 공정(1)~(3)을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법이다. This invention is a manufacturing method of the thin film metal laminated body on a base material, As shown to FIG. 1 or FIG. 2, manufacture of the thin film metal laminated body characterized by including following process (1)-(3). It is a way.

(1) 기재를 준비하는 공정(이하, 준비 공정이라고 칭하는 경우가 있다.) (1) Process of preparing base material (Hereinafter, it may be called preparation process.)

(2) 기재 표면에 대해서, 규소 함유 화합물을 포함한 연료 가스의 화염을 분사 처리하든가, 혹은, 규소 함유 화합물의 기체형상물을 400℃ 이상의 열원을 개입시켜 분사 처리하는 공정(이하, 표면 처리 공정이라고 칭하는 경우가 있다.) (2) Process of spray-injecting flame of fuel gas containing silicon-containing compound or gaseous substance of silicon-containing compound through heat source of 400 ° C or higher (hereinafter referred to as surface treatment step) There is a case.)

(3) 박막 금속층을 금속 이온의 환원 반응에 의해 형성하는 공정(이하, 금속 이온의 환원 처리 공정이라고 칭하는 경우가 있다.)(3) Process of forming thin film metal layer by reduction reaction of metal ion (Hereinafter, it may be called metal ion reduction process.)

이하, 도 1~도 10을 적절히 참조하면서, 본 발명의 양태를 준비 공정, 표면 처리 공정, 금속 이온의 환원 처리 공정, 그리고 이들 다음 공정인 검사공정으로 나누어 구체적으로 설명한다.1-10, the aspect of this invention is divided into a preparation process, a surface treatment process, a reduction process of a metal ion, and these inspection process which is these next processes, and demonstrates concretely.

한편, 도 1에 나타내는 박막 금속 적층체의 제조 방법은 금속 이온의 환원 반응을 이용한 가장 간단하고 쉬운 제조 플로차트이고, 도 2에 나타내는 박막 금속 적층체의 제조 방법은 기초층의 형성을 포함한 박막 금속 적층체의 제조 플로차트이다.On the other hand, the manufacturing method of the thin film metal laminate shown in FIG. 1 is the simplest and easiest manufacturing flowchart using the reduction reaction of metal ion, and the manufacturing method of the thin film metal laminate shown in FIG. 2 is a thin film metal lamination which includes formation of a base layer. A manufacturing flowchart of the sieve.

또한, 도 3(a)~(c)는 본 발명에 의해 얻어진 박막 금속층(86)을 갖춘 박막 금속 적층체(80),(80'),(80'')의 양태의 예를 각각 나타내고 있으며, 도 3(a)에 나타내는 박막 금속 적층체(80)은 기재(82)상에 특정의 표면 처리층(실리카층)(84) 및 박막 금속층(86)을 마련한 예이고, 도 3(b)에 나타내는 박막 금속 적층체(80')는 기재(82)상에 특정의 표면 처리층(84)와 기초층(85)와 박막 금속층(86)을 마련한 예이고, 도 3(c)에 나타내는 박막 금속 적층체(80'')는 기재(82)상에 특정의 표면 처리층(84)와 박막 금속층(86)과 보호층(87)을 마련한 예이다.3 (a) to 3 (c) show examples of aspects of the thin film metal laminates 80, 80 ', and 80' 'provided with the thin film metal layer 86 obtained by the present invention, respectively. 3A is an example in which a specific surface treatment layer (silica layer) 84 and a thin film metal layer 86 are provided on a base material 82, and FIG. The thin film metal laminate 80 ′ shown in FIG. 2 is an example in which a specific surface treatment layer 84, a base layer 85, and a thin film metal layer 86 are provided on a base material 82, and the thin film shown in FIG. 3 (c). The metal laminate 80 ″ is an example in which a specific surface treatment layer 84, a thin film metal layer 86, and a protective layer 87 are provided on a substrate 82.

또한, 도 4~도 6은 각각 표면 처리 장치(10),(10'),(50)의 개요를 나타내는 도면이고, 도 7은 표면 처리 장치(10) 및 금속 이온의 환원 처리 장치(400)을 포함한 박막 금속 적층체의 제조 라인의 개요를 나타내는 도면이다. 한편, 도 8은 금속 이온의 환원 처리 장치(400)에 사용되는 스프레이건(spray gun)(300)의 한 종류를 나타내는 도면이고, 도 9는 이러한 스프레이 타입의 금속 이온의 환원 처리 장치 (400')의 개략도이고, 도 10은 박막 금속 적층체(80)의 사용예로서의 유희도구(500) 개요를 나타내는 도면이다.4 to 6 are views showing the outlines of the surface treatment apparatuses 10, 10 ', and 50, respectively, and FIG. 7 shows the surface treatment apparatus 10 and the metal ion reduction treatment apparatus 400. FIG. It is a figure which shows the outline | summary of the manufacturing line of the thin film metal laminated body containing this. FIG. 8 is a view showing one type of spray gun 300 used in the metal ion reduction treatment apparatus 400, and FIG. 9 is a reduction treatment apparatus 400 'for such a spray type metal ion. ) Is a schematic diagram, and FIG. 10: is a figure which shows the outline of the play tool 500 as an example of use of the thin film metal laminated body 80. As shown in FIG.

1. 준비 공정 1. Preparation process

본 발명의 준비 공정에 있어서 준비되는 기재의 종류는 특별히 제한되지는 않지만, 예를 들면, 유리, 금속, 세라믹, 수지 등을 구성 재료로서 들 수 있다. Although the kind in particular of the base material prepared in the preparation process of this invention is not restrict | limited, For example, glass, a metal, a ceramic, resin, etc. are mentioned as a constituent material.

그리고, 기재를 구성하는 유리로서는 구체적으로, 소다 유리(알칼리 유리), 무알칼리 유리, 저알칼리 유리, 석영 유리, 보로실리케이트 유리, 인산 유리, 납유리, 착색유리, 도전성 유리 등을 들 수 있다.And as glass which comprises a base material, soda glass (alkali glass), an alkali free glass, low alkali glass, quartz glass, borosilicate glass, phosphate glass, lead glass, colored glass, electroconductive glass, etc. are mentioned specifically ,.

예를 들면, 무알칼리 유리는 그대로라면 체적 저항률이 높고, 표면 활성화 처리를 행했다고 해도, 금속 이온의 환원 처리에 의해 균일한 박막 금속층을 형성하는 것이 곤란했다. 따라서, 무알칼리 유리의 표면에 대해서 규소 함유 화합물의 규산화 화염 처리 등을 실시한 후, 소정의 금속 이온의 환원 처리를 실시함으로서 밀착성이 우수한 박막 금속층을 형성할 수가 있다.For example, the alkali free glass had high volume resistivity as it is, and even if surface activation treatment was performed, it was difficult to form a uniform thin film metal layer by reduction treatment of metal ions. Therefore, the thin film metal layer which is excellent in adhesiveness can be formed by performing the silicication flame treatment of a silicon containing compound, etc. with respect to the surface of an alkali free glass, and then performing a reduction process of predetermined metal ion.

또한, 기재를 구성하는 금속으로서는 금, 은, 구리, 알루미늄, 철, 마그네슘, 스텐레스, 니켈, 크롬, 텅스텐, 아연, 주석, 납 등의 1종류 단독 또는 2종류 이상의 편성을 들 수 있다.Moreover, as a metal which comprises a base material, single type | mold or 2 or more types of knitting, such as gold, silver, copper, aluminum, iron, magnesium, stainless steel, nickel, chromium, tungsten, zinc, tin, and lead, are mentioned.

예를 들면, 알루미늄은 경량 금속으로서 많이 사용되고 있지만, 표면에 산화막을 형성하기 쉽고, 그대로라면 금속 이온의 환원 처리를 행할수 없다고 하는 문제를 보였다. 따라서, 알루미늄 표면에 대해서, 규소 함유 화합물의 규산화 화염 처리 등을 행한 후, 금속 이온의 환원 처리를 행함으로써, 밀착성이 우수한 박막 금속층을 형성할 수가 있다.For example, although aluminum is widely used as a light weight metal, it is easy to form an oxide film on the surface, and it showed the problem that the reduction process of a metal ion cannot be performed as it is. Therefore, the thin film metal layer excellent in adhesiveness can be formed by performing the silicication flame treatment of a silicon containing compound, etc. with respect to an aluminum surface, and then performing a reduction process of a metal ion.

또한, 마그네슘은 재활용 가능한 금속 부재로서 퍼스널 컴퓨터 등의 케이스에 최근 많이 사용되고 있지만 표면의 평활성이 결여되기 때문에 스패터링 처리나 금속 이온의 환원 처리를 행하여도, 박막 금속층이 용이하게 박리되어 버린다고 하는 문제를 보였다. 따라서, 마그네슘 표면에 대해서, 규소 함유 화합물의 규산화 화염 처리 등을 행한 후, 금속 이온의 환원 처리를 행함으로서 밀착성이 우수한 박막 금속층을 형성할 수가 있다.In addition, magnesium is widely used in cases such as personal computers as a recyclable metal member, but since the surface smoothness is lacking, the thin film metal layer is easily peeled off even if sputtering or reduction of metal ions is performed. Seemed. Therefore, the thin film metal layer which is excellent in adhesiveness can be formed by performing the silicication flame treatment of a silicon containing compound, etc. with respect to a magnesium surface, and then reducing metal ions.

또한, 기재를 구성하는 세라믹으로서는 산화 알류미늄, 산화 규소, 산화 티 탄, 산화 지르코늄, 산화 아연, 산화 인듐, 산화 주석, 산화 마그네슘, 산화칼슘, 질화 알루미늄, 질화 규소, 질화 티탄, 질화 지르코늄, 질화 아연, 질화 인듐, 질화 주석, 질화 마그네슘, 질화 칼슘, 혹은 이들 세라믹 재료로 되는 벽돌, 내화벽(耐火壁), 용기, 도자기, 세라믹기재 등의 1종류 단독 또는 2종류 이상의 편성을 들 수 있다.As the ceramic constituting the base material, aluminum oxide, silicon oxide, titanium oxide, zirconium oxide, zinc oxide, indium oxide, tin oxide, magnesium oxide, calcium oxide, aluminum nitride, silicon nitride, titanium nitride, zirconium nitride, zinc nitride And one type or two or more types of knitting such as indium nitride, tin nitride, magnesium nitride, calcium nitride or bricks made of these ceramic materials, fireproof walls, containers, ceramics, ceramic base materials, and the like.

예를 들면, 산화 알류미늄 등으로 되는 세라믹기재는, 내열성, 경량성의 회로 기판으로서 많이 사용되고 있지만, 열전도성이 양호해서 표면 온도를 소정의 온도로 유지하는 것이 곤란하므로, 스패터링 처리나 금속 이온의 환원 처리를 행하여도 박막 금속층이 용이하게 박리되어 버린다고 하는 문제를 보였다. 따라서, 세라믹기재의 표면에 대해서, 규소 함유 화합물을 이용한 규산화염 처리 등을 행한 후, 금속 이온의 환원 처리를 행함으로써, 밀착성이 우수한 박막 금속층을 형성할 수가 있다.For example, ceramic substrates made of aluminum oxide or the like are widely used as heat resistant and lightweight circuit boards. However, since the thermal conductivity is good and it is difficult to keep the surface temperature at a predetermined temperature, sputtering and reduction of metal ions are required. Even if a process was performed, the problem that the thin film metal layer peels easily was shown. Therefore, the thin film metal layer which is excellent in adhesiveness can be formed by performing the silicate salt process using a silicon containing compound, etc. with respect to the surface of a ceramic base material, and then reducing metal ions.

또한, 기재를 구성하는 수지로서는 폴리에틸렌 수지(고밀도 폴리에틸렌, 중밀도 폴리에틸렌, 저밀도 폴리에틸렌, 고압법 폴리에틸렌, 중압법 폴리에틸렌, 저압법 폴리에틸렌, 선형 저밀도 폴리에틸렌, 분기상 저밀도 폴리에틸렌, 고압법 선형 저밀도 폴리에틸렌, 초(超)고체량 폴리에틸렌, 가교 폴리에틸렌), 폴리프로필렌 수지, 변성 폴리프로필렌 수지, 폴리메틸펜텐 수지, 노르보르넨 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리아크릴 수지, 폴리 에테르 에테르 케톤 수지, 폴리술폰 수지, 폴리스티렌 수지, 폴리아미드 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 페놀 수지, 요소 수지, 염화 비닐 수지, ABS 수지, 폴리페닐렌설파이드 수지, 에틸렌-테트라 플루오르 에틸렌 공중합체, 폴리불화비닐 수지, 테트라플루오로 에틸렌-퍼플루오로 에테르 공중합체, 테트라플루오로에틸렌-헥사 플루오르프로필렌 공중합체, 폴리테트라플루오르에틸렌 수지, 폴리불화비닐리덴 수지, 폴리트리플루오르클로로 에틸렌 수지, 및 에틸렌-트리플루오르클로로에틸렌 공중합체 등을 들 수 있다.As the resin constituting the substrate, polyethylene resin (high density polyethylene, medium density polyethylene, low density polyethylene, high pressure polyethylene, medium pressure polyethylene, low pressure polyethylene, linear low density polyethylene, branched low density polyethylene, high pressure linear low density polyethylene, ultra ( Solid polyethylene, crosslinked polyethylene), polypropylene resin, modified polypropylene resin, polymethylpentene resin, norbornene resin, polyester resin, polycarbonate resin, polyethersulfone resin, polyacrylic resin, polyether ether ketone Resin, polysulfone resin, polystyrene resin, polyamide resin, polyimide resin, polyamideimide resin, phenol resin, urea resin, vinyl chloride resin, ABS resin, polyphenylene sulfide resin, ethylene-tetrafluoroethylene copolymer, poly Vinyl fluoride resin, tetraflu Low ethylene-perfluoro ether copolymers, tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymers, polytetrafluoroethylene resins, polyvinylidene fluoride resins, polytrifluorochloroethylene resins, ethylene-trifluorochloroethylene copolymers, and the like. Can be mentioned.

따라서, 이들 수지를 주성분으로서 포함한 기재에 대해서 규소 함유 화합물을 이용한 규산화염 처리 등을 행한 후, 소정의 금속 이온의 환원 처리를 행함으로써, 밀착성이 우수한 박막 금속층을 형성할 수가 있어 박막 금속층의 박리를 유효하게 방지할 수가 있다.Therefore, by performing a silicate salt treatment using a silicon-containing compound or the like on a base material containing these resins as a main component, a predetermined metal ion reduction treatment can be performed to form a thin film metal layer excellent in adhesion, thereby removing the thin film metal layer. This can be effectively prevented.

또한, 본 발명에 사용하는 기재의 형태에 대해서도 특별히 제한되지는 않지만, 예를 들면, 판형상, 시트형상, 필름형상, 테이프형상, 단책(短冊)형상, 패널형상, 끈형상 등의 평면구조를 부분적으로 가지는 것이어도 되고, 혹은, 용기형상, 통형상, 기둥형상, 구형상, 블록형상, 튜브형상, 파이프형상, 요철형상, 막형상, 섬유형상, 직물형상, 다발(束)형상 등의 삼차원 구조를 가지는 것이더라도 좋다.Further, the shape of the base material used in the present invention is not particularly limited. For example, planar structures such as a plate shape, a sheet shape, a film shape, a tape shape, a sheet shape, a panel shape, and a string shape may be used. It may be partially or have three dimensions such as a container shape, a cylindrical shape, a columnar shape, a spherical shape, a block shape, a tube shape, a pipe shape, an uneven shape, a film shape, a fiber shape, a fabric shape, and a bundle shape. It may have a structure.

더욱이, 상술한 유리, 금속, 세라믹, 수지 등의 복합체이어도 된다. 예를 들면, 섬유형상의 유리나 탄소 섬유에 대해서, 본 발명에 따라, 규소 함유 화합물을 이용한 규산화염 처리 등을 행한 후, 금속 이온의 환원 처리를 행함으로써, 박막 금속층을 형성할 수가 있다. 따라서, 이러한 도전성 섬유를 에폭시 수지나 폴리에스테르 수지 등의 매트릭스 수지에 균일하게 분산시킴으로써, 소정의 도전성 복합체를 얻을 수 있다. 즉, FRP나 CFRP를 심재(心材)로 한 도전성 복합체로서 우수한 기계적 강도나 내열성, 또 전자파 쉴드 효과 등을 발휘할 수가 있다.Furthermore, the above-mentioned composites of glass, metal, ceramic, resin and the like may be used. For example, according to the present invention, a thin film metal layer can be formed by performing a silicate salt treatment using a silicon-containing compound or the like on a fibrous glass or carbon fiber, followed by a reduction treatment of metal ions. Therefore, predetermined conductive composites can be obtained by uniformly dispersing such conductive fibers in matrix resins such as epoxy resins and polyester resins. That is, it is possible to exhibit excellent mechanical strength, heat resistance, electromagnetic shielding effect, etc. as a conductive composite having FRP or CFRP as the core material.

2. 표면 처리 공정 2. Surface Treatment Process

이어서, 도 1 및 도 2에 나타내는 제조 플로차트에 나타내는 바와 같이, 표면 처리 공정으로서 기재상에 규소 함유 화합물을 이용한 규산화염 처리 등을 실시한다.Subsequently, as shown in the manufacturing flowchart shown in FIG. 1 and FIG. 2, the silicate salt process etc. which used the silicon containing compound on the base material are performed as a surface treatment process.

(1) 규소 함유 화합물 (1) silicon-containing compounds

본 발명의 표면 처리 공정에 있어서 사용하는 규소 함유 화합물의 비점(대기압하)을 10~200℃ 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.It is preferable to make the boiling point (under atmospheric pressure) of the silicon containing compound used in the surface treatment process of this invention into the value within 10-200 degreeC range.

그 이유는, 이러한 규소 함유 화합물의 비점이 10℃ 미만의 값이면, 휘발성이 격렬해서 취급이 곤란해지는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 규소 함유 화합물의 비점이 200℃를 초과하면, 공기와의 혼합성이 저하되어 기재의 표면 개질이 불균일하게 되거나 장시간에 걸쳐서 개질 효과를 지속시키는 것이 곤란해지는 경우가 있기 때문이다.The reason is that when the boiling point of such a silicon-containing compound is a value of less than 10 ° C, volatility may be intense and handling may be difficult. On the other hand, when the boiling point of such a silicon-containing compound exceeds 200 ° C., the mixing property with air may be lowered, resulting in uneven surface modification of the substrate or it may be difficult to sustain the modifying effect for a long time.

따라서, 이러한 규소 함유 화합물의 비점을 15~180℃ 범위내의 값으로 하는 것이 보다 바람직하고, 20~120℃ 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, it is more preferable to make the boiling point of such a silicon containing compound into the value within 15-180 degreeC range, and it is still more preferable to set it as the value within 20-120 degreeC range.

또한, 이러한 규소 함유 화합물의 비점은, 규소 함유 화합물 자체의 구조를 제한하는 것으로도 조정할 수가 있지만, 그 밖에 비교적 비점이 낮은 알킬실란 화합물 등과 비교적 비점이 높은 알콕실란 화합물 등을 적당히 혼합 사용하는 것으로도 조정할 수가 있다.In addition, although the boiling point of such a silicon containing compound can also be adjusted by restrict | limiting the structure of a silicon containing compound itself, In addition, using the alkylsilane compound with a relatively low boiling point, the alkoxysilane compound etc. with a comparatively high boiling point, etc. are used suitably. I can adjust it.

또한, 규소 함유 화합물의 종류에 대해서도 특별히 제한되지는 않지만, 예를 들면, 알킬실란 화합물이나 알콕시실란 화합물 등을 들 수 있다. Moreover, it does not restrict | limit especially about the kind of silicon containing compound, For example, an alkylsilane compound, an alkoxysilane compound, etc. are mentioned.

이러한 알킬실란 화합물이나 알콕시실란 화합물의 적합한 예로서는 테트라메틸실란, 테트라에틸실란, 디메틸디클로로실란, 디메틸디페닐실란, 디에틸디클로로실란, 디에틸디페닐실란, 메틸트리클로로실란, 메틸트리페닐실란, 디메틸디에틸실란, 테트라메톡시실란, 테트라에톡시실란, 메틸트리메톡시실란, 디메틸디메톡시실란, 페닐트리메톡시실란, 디클로로디메톡시실란, 디클로로디에톡시실란, 디페닐디메톡시실란, 디페닐디디에톡시실란, 트리클로로메톡시실란, 트리클로로에톡시실란, 트리페닐메톡시실란, 트리페닐에톡시실란 등의 1종류 단독 또는 2종류 이상의 조합을 들 수 있다.Suitable examples of such alkylsilane compounds or alkoxysilane compounds include tetramethylsilane, tetraethylsilane, dimethyldichlorosilane, dimethyldiphenylsilane, diethyldichlorosilane, diethyldiphenylsilane, methyltrichlorosilane, methyltriphenylsilane, dimethyl Diethylsilane, tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, methyltrimethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, dichlorodimethoxysilane, dichlorodiethoxysilane, diphenyldimethoxysilane, diphenyldidie One type single or 2 types or more combinations, such as a methoxysilane, a trichloromethoxysilane, a trichloroethoxysilane, a triphenyl methoxysilane, and a triphenylethoxysilane, are mentioned.

또한, 규소 함유 화합물에 있어서 분자내 또는 분자 말단에 질소 원자, 할로겐 원자, 비닐기 및 아미노기 중에서 적어도 하나를 가지는 것이 보다 바람직하다.Moreover, it is more preferable to have at least one among a nitrogen atom, a halogen atom, a vinyl group, and an amino group in a molecule | numerator or a molecular terminal in a silicon containing compound.

보다 구체적으로는, 헥사메틸디실라잔(비점:126℃), 비닐트리메톡시실란(비점:123℃), 비닐트리에톡시실란(비점:161℃), 트리플루오로프로필트리메톡시실란(비점:144℃), 트리플루오로프로필트리클로로실란(비점:113~114℃), 3-아미노프로필트리메톡시실란(비점:215℃), 3-아미노프로필트리에톡시실란(비점:217℃), 헥사메틸디실록산(비점: 100~101℃), 및 3-클로로프로필트리메톡시실란(비점: 196℃) 중에서 적어도 하나의 화합물인 것이 바람직하다.More specifically, hexamethyldisilazane (boiling point: 126 ° C), vinyltrimethoxysilane (boiling point: 123 ° C), vinyltriethoxysilane (boiling point: 161 ° C), trifluoropropyltrimethoxysilane ( Boiling point: 144 ° C), trifluoropropyltrichlorosilane (boiling point: 113-114 ° C), 3-aminopropyltrimethoxysilane (boiling point: 215 ° C), 3-aminopropyltriethoxysilane (boiling point: 217 ° C ), Hexamethyldisiloxane (boiling point: 100-101 ° C), and 3-chloropropyltrimethoxysilane (boiling point: 196 ° C) are preferably at least one compound.

그 이유는, 이러한 규소 함유 화합물이면, 캐리어 가스와의 혼합성이 향상하고 기재의 표면에 입상물(粒狀物)(실리카층)을 형성해서 개질이 보다 균일하게 되는 것과 동시에, 비점 등의 관계로 이러한 규소 함유 화합물이 기재의 표면에 일부 잔류하기 쉬워지므로, 기재와 박막 금속층과의 사이에 보다 우수한 밀착력을 얻을 수가 있기 때문이다.The reason for this is that such a silicon-containing compound improves the mixing properties with the carrier gas, forms a granular material (silica layer) on the surface of the substrate, makes the modification more uniform, and the relationship between boiling point and the like. This is because such a silicon-containing compound tends to remain partly on the surface of the base material, so that better adhesion can be obtained between the base material and the thin film metal layer.

(2) 화염 (2) flame

본 발명의 표면 처리 공정에 있어서, 도 4에 나타내는 바와 같이, 규소 함유 화합물(14)를 기재(40)에 대해서 균일하게 내뿜는 것과 동시에, 규소 함유 화합물(14)를 용이하게 열분해하여 산화시키기 위해서 화염을 이용하는 것이 바람직하다.In the surface treatment process of this invention, as shown in FIG. 4, the silicon-containing compound 14 is sprayed uniformly with respect to the base material 40, and the flame is made to thermally decompose and oxidize the silicon-containing compound 14 easily. It is preferable to use.

즉, 소정량의 규소 함유 화합물을 연료 가스중에 혼합해, 그것을 연소시켜 화염으로 해서, 그것을 기재의 표면에 내뿜는 것이 바람직하다.That is, it is preferable to mix a predetermined amount of silicon-containing compound in the fuel gas, to burn it, to make it a flame, and to blow it onto the surface of the substrate.

그렇기 때문에, 화염의 온도를 500~1,500℃ 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.Therefore, it is preferable to make flame temperature into the value within the range of 500-1,500 degreeC.

그 이유는, 이러한 화염의 온도가 500℃ 미만의 값이 되면, 규소 함유 화합물의 불완전 연소를 유효하게 방지하는 것이 곤란하게 되는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 화염의 온도가 1,500℃를 초과하면, 표면 개질하는 대상의 기재가 열변형하거나 열열화(熱劣化) 하는 경우가 있어서 사용 가능한 기재의 종류가 과도하게 제한되는 경우가 있기 때문이다. 따라서, 화염의 온도를 550~1,200℃ 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하고, 600~900℃ 미만의 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.This is because when the temperature of such a flame reaches a value below 500 ° C, it may be difficult to effectively prevent incomplete combustion of the silicon-containing compound. On the other hand, when the temperature of such a flame exceeds 1,500 degreeC, the base material of surface modification may thermally deform or thermally deteriorate, and the kind of base material which can be used may be excessively restrict | limited. Therefore, it is preferable to make the temperature of a flame into the value within the range of 550-1,200 degreeC, and it is more preferable to set it as the value within the range of less than 600-900 degreeC.

또한, 화염을 이용하는 데 있어서, 규소 함유 화합물의 첨가량을 연료 가스의 전체량을 100 몰%로 했을 때, 1×10-10~10 몰%의 범위내의 값으로 하는 것이 바 람직하다.In addition, when using a flame, it is preferable to make the addition amount of a silicon containing compound into the value within the range of 1 * 10 <-10> -10 mol% when the total amount of fuel gas is 100 mol%.

그 이유는, 이러한 규소 함유 화합물의 첨가량이 1×10-10몰% 미만의 값이 되면, 기재에 대한 개질 효과가 발현되지 않는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 규소 함유 화합물의 첨가량이 10 몰%를 초과하면, 규소 함유 화합물과 공기 등과의 혼합성이 저하되어 그에 따라 규소 함유 화합물이 불완전 연소하는 경우가 있기 때문이다.This is because when the addition amount of such a silicon-containing compound becomes a value of less than 1 × 10 -10 mol%, the modifying effect on the substrate may not be expressed. On the other hand, when the addition amount of such a silicon containing compound exceeds 10 mol%, the mixing property of a silicon containing compound, air, etc. may fall, and a silicon containing compound may incompletely burn accordingly.

따라서, 규소 함유 화합물의 첨가량을 기체형상물의 전체량을 100 몰%로 했을 때, 1×10-9~5 몰% 범위내의 값으로 하는 것이 보다 바람직하고, 1×10-8~1 몰% 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, when the total amount of the silicon-containing compound is 100 mol%, the amount of the silicon-containing compound is more preferably in the range of 1 × 10 -9 to 5 mol%, more preferably in the range of 1 × 10 -8 to 1 mol%. It is more preferable to set it as an internal value.

또한, 이러한 화염온도의 제어를 용이하게 할 수 있기 때문에 연소가스 중에 통상 인화성가스나 가연성 가스, 혹은 공기 등(이하, 인화성 가스 등으로 칭하는 경우가 있다)을 첨가하는 것이 바람직하다.Moreover, since control of such a flame temperature can be made easy, it is preferable to add a flammable gas, a flammable gas, or air etc. (it may be called a flammable gas etc. hereafter) normally in combustion gas.

이러한 인화성 가스 등으로서는 프로판 가스나 천연가스 등의 탄화수소, 수소, 산소 등을 들 수 있다. 한편, 연료 가스를 에어졸 캔에 넣어 사용하는 경우에는, 이러한 인화성 가스 등으로서 프로판 가스 및 압축 공기 등을 사용하는 것이 바람직하다.As such a flammable gas, hydrocarbon, such as propane gas and natural gas, hydrogen, oxygen, etc. are mentioned. On the other hand, when using fuel gas in an aerosol can, it is preferable to use propane gas, compressed air, etc. as such flammable gas.

또한, 연료 가스의 전체량을 100 몰%로 했을 때, 이러한 인화성 가스 등의 함유량을 80~99.9 몰% 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.Moreover, when the total amount of fuel gas is 100 mol%, it is preferable to make content of such a flammable gas etc. into the value within the range of 80-99.9 mol%.

그 이유는, 이러한 인화성가스 등의 함유량이 80 몰% 미만의 값이 되면, 규 소 함유 화합물과의 혼합성이 저하되어 그에 따라 규소 함유 화합물이 불완전 연소하는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 인화성 가스 등의 첨가량이 99.9 몰%를 초과하면, 기재에 대한 개질 효과가 발현되지 않는 경우가 있기 때문이다.The reason for this is that when the content of such flammable gas or the like is less than 80 mol%, the miscibility with the silicon-containing compound may deteriorate and the silicon-containing compound may be incompletely burned accordingly. On the other hand, when the addition amount of such a flammable gas exceeds 99.9 mol%, the modifying effect with respect to a base material may not be expressed.

따라서, 연료 가스의 전체량을 100 몰%로 했을 때, 인화성 가스 등의 첨가량을 85~99 몰% 범위내의 값으로 하는 것이 보다 바람직하고, 90~99 몰% 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, when the total amount of fuel gas is 100 mol%, it is more preferable to make the addition amount of flammable gas etc. into the value within the range of 85-99 mol%, and it is still more preferable to set it as the value within the range of 90-99 mol%. .

또한, 규소 함유 화합물을 용이하게 이송하여 연료 가스 중에 균일하게 혼합하기 위해서 캐리어 가스를 사용하는 것도 바람직하다. 즉, 규소 함유 화합물과 캐리어 가스를 미리 혼합해, 그것을 소정의 부분에 이송한 후, 인화성 가스 등에 혼합하는 것이 바람직하다.It is also preferable to use a carrier gas in order to easily transport the silicon-containing compound and uniformly mix it in the fuel gas. That is, it is preferable to mix a silicon-containing compound and a carrier gas in advance, transfer it to a predetermined portion, and then mix the flammable gas or the like.

그 이유는, 이러한 캐리어가스를 사용함으로써, 비교적 분자량이 크고, 이동하기 어려운 규소 함유 화합물을 이용했을 경우이더라도, 소정의 부분에 용이하게 이송할 수가 있는 것과 동시에, 인화성 가스 등과 균일하게 혼합할 수가 있기 때문이다. 즉, 캐리어 가스를 이용함으로써, 규소 함유 화합물의 취급이 용이하게 될 뿐더러, 연소하기 쉽게 하여, 기재의 표면 개질을 균일하고 충분히 실시할 수가 있다.The reason for this is that by using such a carrier gas, even when using a silicon-containing compound having a relatively high molecular weight and difficult to move, it can be easily transported to a predetermined portion and can be mixed uniformly with a flammable gas. Because. That is, by using the carrier gas, not only the handling of the silicon-containing compound becomes easy, but also the combustion is easy, and the surface modification of the substrate can be uniformly and sufficiently performed.

또한, 이러한 캐리어 가스로서, 상술한 연료 가스에 첨가하는 동종의 가스를 사용할 수 있지만, 구체적으로, 공기나 산소, 혹은 프로판 가스나 천연가스 등의 탄화수소를 들 수가 있다.In addition, as the carrier gas, the same kind of gas to be added to the above-described fuel gas can be used. Specifically, hydrocarbons such as air and oxygen, propane gas and natural gas can be cited.

(3) 열원(3) heat source

또한, 본 발명의 표면 처리 공정에 있어서, 도 5에 나타내는 바와 같이, 화염 대신에 규소 함유 화합물(14)를 열분해하기 위한 열원(25)를 사용함과 함께, 그 열원(25)의 온도를 400~2,500℃ 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.In addition, in the surface treatment process of this invention, as shown in FIG. 5, while using the heat source 25 for thermally decomposing the silicon-containing compound 14 instead of a flame, the temperature of the heat source 25 is 400-. It is preferable to set it as the value within 2,500 degreeC range.

그 이유는, 이러한 열원의 온도가 400℃ 미만의 값이 되면, 규소 함유 화합물을 열분해하여, 기재의 표면 등에 소정 형상을 가지는 입상물을 형성하는 것이 곤란하게 되는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 열원의 온도가 2,500℃를 초과하면, 기체형상물이 과도하게 가열되어서, 표면 개질하는 대상의 기재가 열변형하거나 열열화 하는 경우가 있기 때문이다.This is because when the temperature of such a heat source is less than 400 ° C, it may be difficult to thermally decompose the silicon-containing compound to form a granular material having a predetermined shape on the surface of the substrate or the like. On the other hand, when the temperature of such a heat source exceeds 2,500 degreeC, a gaseous substance may be heated excessively, and the base material of surface modification may heat-deform or deteriorate.

따라서, 열원의 온도를 500~1,800℃ 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하고, 800~1,200℃ 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, it is preferable to make the temperature of a heat source into the value within 500-1,800 degreeC, and it is more preferable to set it as the value within 800-1,200 degreeC range.

또한, 열원의 종류는 특별히 제한되지는 않지만, 예를 들면, 레이저, 할로겐 램프, 적외선 램프, 고주파 코일, 유도 가열 장치, 열풍 히터, 및 세라믹 히터, 이들에서 선택된 적어도 하나의 가열 수단을 이용하는 것이 바람직하다.In addition, the kind of heat source is not particularly limited, but for example, it is preferable to use at least one heating means selected from a laser, a halogen lamp, an infrared lamp, a high frequency coil, an induction heating device, a hot air heater, and a ceramic heater. Do.

예를 들면, 레이저를 이용함으로써, 집중적으로 지극히 신속히 가열하여 규소 함유 화합물을 열분해시켜, 예를 들면, 기재로서 나노 오더의 패턴화된 반도체 기판에 대한 표면 처리가 가능해진다.For example, by using a laser, the silicon-containing compound can be thermally decomposed by intensively and extremely rapidly heating, for example, the surface treatment of the nano-order patterned semiconductor substrate becomes possible as a base material.

또한, 할로겐 램프나 적외선 램프를 이용함으로써, 지극히 균일한 온도 분포에서도 대량의 규소 함유 화합물의 열분해가 가능해져, 예를 들면, 기재로서 올레핀 필름 등의 효율적인 표면 처리가 가능해진다.In addition, by using a halogen lamp or an infrared lamp, thermal decomposition of a large amount of silicon-containing compounds becomes possible even at an extremely uniform temperature distribution, and for example, efficient surface treatment of an olefin film or the like as a substrate becomes possible.

또한, 고주파 코일이나 유도 가열 장치를 이용함으로써, 지극히 신속히 가열 해, 규소 함유 화합물을 열분해시켜, 예를 들면, 기재의 효율적인 표면 처리가 가능해진다.Moreover, by using a high frequency coil and an induction heating apparatus, it heats extremely quickly and thermally decomposes a silicon-containing compound, and for example, efficient surface treatment of a base material is attained.

한편, 열풍 히터나 세라믹 히터를 이용함으로써, 예를 들면, 2000℃를 초과하는 온도 처리가 소규모로부터 대규모까지 각종 사이즈에 있어서 가능해져, 규소 함유 화합물을 용이하게 열분해시켜, 예를 들면, 기재로서 세라믹기재 등의 효율적인 표면 처리가 가능해진다.On the other hand, by using a hot air heater or a ceramic heater, for example, a temperature treatment exceeding 2000 ° C. is possible in various sizes from small to large scale, so that the silicon-containing compound is easily thermally decomposed, for example, as a substrate. Efficient surface treatment of a substrate and the like becomes possible.

(4) 처리 시간(4) processing time

또한, 본 발명에 있어서 화염 또는 열원을 개입시킨 기체형상물의 내뿜는 시간(분사 시간)을, 단위면적(100 ㎠)당, 0.01초~100초 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.In addition, in this invention, it is preferable to make the flushing time (injection time) of the gaseous substance through a flame or a heat source into the value within 0.01 second-100 second per unit area (100 cm <2>).

그 이유는, 이러한 분사 시간이 0.01초 미만의 값이 되면, 규소 함유 화합물에 의한 개질 효과가 균일하게 발현되지 않는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 분사 시간이 100초를 초과하면, 표면 개질하는 대상의 기재가 열변형하거나 열열화 하는 경우가 있어, 사용 가능한 기재의 종류가 과도하게 제한되는 경우가 있기 때문이다.The reason is that when such injection time becomes a value of less than 0.01 second, the modification effect by a silicon containing compound may not be expressed uniformly. On the other hand, when such injection time exceeds 100 second, the base material of surface modification may thermally deform or deteriorate, and the kind of base material which can be used may be excessively restrict | limited.

따라서, 이러한 분사 시간을 단위면적(100 ㎠)당, 0.3~30초 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하고, 0.5~20초 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, it is preferable to make such injection time into the value within 0.3-30 second range per unit area (100 cm <2>), and it is more preferable to set it as the value within the range of 0.5-20 second.

(5) 화염형 표면 처리 장치(5) Flame Surface Treatment Apparatus

또한, 본 발명의 소정의 화염을 내뿜는데 있어서, 도 4에 나타내는 바와 같이, 규소 함유 화합물(14)를 저장하기 위한 제1 저장탱크(12)와 압축 공기나 인화 성 가스 등을 저장하기 위한 제2 저장탱크(27)과 압축 공기 등과 규소 함유 화합물(14)를 혼합해 연료 가스로 하는 혼합실(22)와 얻어진 연료 가스를 이송하기 위한 이송부(24)와 연료 가스의 화염(34)를 내뿜기 위한 분사부(32)를 포함한 화염형 표면 처리 장치(10)을 이용할 수가 있다.In addition, in the predetermined flame of the present invention, as shown in Fig. 4, the first storage tank 12 for storing the silicon-containing compound 14 and the agent for storing compressed air, flammable gas, or the like. 2 Mixing the storage tank 27, the compressed air, and the silicon-containing compound 14 with fuel, the mixing chamber 22 as fuel gas, the conveying part 24 for conveying the obtained fuel gas, and the flame 34 of the fuel gas being blown out. The flame-type surface treatment apparatus 10 including the injection part 32 for this can be used.

즉, 이 예에서는, 제1 저장탱크(12)의 아래쪽에 히터나 전열선, 혹은 열교환기에 접속한 가열판 등으로 되는 가열 수단(16)을 구비하고 있어, 통상, 상온, 상압 상태에서는 액상의 규소 함유 화합물(14)를 기화할 수 있도록 구성되어 있다.That is, in this example, the heating means 16 which consists of a heating plate connected to a heater, a heating wire, or a heat exchanger is provided in the lower part of the 1st storage tank 12, and usually contains liquid silicon at normal temperature and a normal pressure state. It is comprised so that the compound (14) may be vaporized.

그리고, 기재(40)을 표면 처리할 때에, 가열 수단(16)에 의해, 제1 저장탱크(12) 내의 규소 함유 화합물(14)를 소정의 온도로 가열하여 기화시킨 상태에서 혼합실(22)의 제2 저장탱크(27)로부터 이송한 압축 공기나 인화성 가스 등과 혼합하여 연료 가스로 한다.Then, when the substrate 40 is surface treated, the mixing chamber 22 is heated by the heating means 16 in a state where the silicon-containing compound 14 in the first storage tank 12 is heated to a predetermined temperature and vaporized. It is mixed with compressed air, flammable gas, etc. conveyed from the 2nd storage tank 27, and it is set as fuel gas.

한편, 연료 가스 중에 있어서의 규소 함유 화합물의 함유량은 지극히 중요하기 때문에, 그 규소 함유 화합물의 함유량을 간접적으로 제어하기 위하여, 제1 저장탱크(12)에 압력계(또는 액면의 레벨계)(18)을 설치하여, 규소 함유 화합물(14)의 증기압(또는 규소 함유 화합물량)을 모니터 해서, 제1 저장탱크(12)에 있어서의 규소 함유 화합물량이 감소했을 경우에는 그 규소 함유 화합물을 예비 탱크(19)로부터 추가하는 것이 바람직하다.On the other hand, since the content of the silicon-containing compound in the fuel gas is extremely important, in order to indirectly control the content of the silicon-containing compound, a pressure gauge (or liquid level gauge) 18 is placed on the first storage tank 12. If the amount of silicon-containing compounds in the first storage tank 12 is reduced by monitoring the vapor pressure (or the amount of silicon-containing compounds) of the silicon-containing compound 14, the silicon-containing compound is stored in the preliminary tank 19. It is preferred to add from.

또한, 연료 가스의 이송부(24)는, 통상, 관구조로서, 상술한 것처럼 규소 함유 화합물(14)와 압축 공기나 인화성 가스 등을 균일하게 혼합해 연료가스로 하기 위한 혼합실(22)를 구비하는 동시에, 그 혼합실(22)와 후술하는 분사부와 사이의 배관(24)에는 유량을 제어하기 위한 판(30)이나 유량계, 혹은 연료 가스의 압력을 제어하기 위한 압력계(28)을 구비하고 있다. 또한, 혼합실(22)에 있어서, 규소 함유 화합물과 압축 공기나 인화성 가스 등을 균일하게 혼합한 다음, 연료 가스로서의 유량을 엄격하게 제어할 수 있도록 혼합 펌프나, 체류 시간을 길게 하기 위한 방해판(邪魔板) 등을 구비하는 것도 바람직하다.In addition, the fuel gas delivery unit 24 is generally a tubular structure, and has a mixing chamber 22 for uniformly mixing the silicon-containing compound 14 with compressed air, flammable gas, or the like as the fuel gas as described above. At the same time, the pipe 24 between the mixing chamber 22 and the injector described later includes a plate 30 for controlling the flow rate, a flow meter, or a pressure gauge 28 for controlling the pressure of the fuel gas. have. In the mixing chamber 22, the silicon-containing compound and the compressed air or flammable gas are mixed uniformly, and then a mixing pump or a baffle plate for lengthening the residence time so as to strictly control the flow rate as the fuel gas. It is also preferable to provide (i).

또한, 분사부(32)는 도 4에 나타내는 바와 같이, 이송부(24)의 배관을 통해 보내져 온 연료 가스를 태워 얻어진 화염(34)를 피처리물인 기재(40)에 내뿜기 위한 버너를 구비하고 있다.Moreover, the injection part 32 is equipped with the burner for blowing out the flame 34 obtained by burning the fuel gas sent through the piping of the transfer part 24 to the base material 40 to be processed, as shown in FIG. .

이러한 버너의 종류도 특별히 제한되지는 않지만, 예를 들면, 예혼합형 버너, 확산형 버너, 부분예혼합형 버너, 분무 버너, 증발 버너, 미분탄 버너 등에서 어느 것이더라도 좋다. 또한, 버너의 형태에 대해서도 특별히 제한되지 않아, 예를 들면 선단부를 향하여 확대되어 전체로서 부채형의 구성이더라도 좋고, 또는 대체로 직사각형이고 복수의 분사구가 가로방향으로 배열된 버너 이더라도 좋다.The kind of such burner is not particularly limited either, but may be any of a premixed burner, a diffusion burner, a partial premixed burner, a spray burner, an evaporation burner, a pulverized coal burner and the like. In addition, the shape of the burner is not particularly limited, and may be, for example, a fan-shaped constitution as a whole extending toward the tip portion, or may be a generally rectangular and burner having a plurality of injection holes arranged in the horizontal direction.

또한, 분사부(32)의 배치, 즉, 버너의 배치는 피처리물인 기재(40)의 표면 개질의 용이함 등을 고려하여 결정하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 분사부(32)를 원형 또는 타원형에 따라 배치하는 것도 바람직하고, 혹은, 피처리물인 기재(40)의 양쪽에 근접하여 배치하는 것도 바람직하다.In addition, it is preferable to arrange | position the injection part 32, ie, the position of a burner, in consideration of the ease of surface modification of the base material 40 which is a to-be-processed object, and the like. For example, it is preferable to arrange | position the injection part 32 along a circular or elliptical shape, or it is also preferable to arrange | position to both sides of the base material 40 which is a to-be-processed object.

한편, 분사부(32)를 피처리물인 기재(40)의 한쪽에 소정 거리만큼 거리를 두고 배치하는 것도 바람직하고, 피처리물인 기재(40)의 양쪽에 각각 소정 거리만큼 거리를 두고 배치하는 것도 바람직하다.On the other hand, it is also preferable to arrange the injection part 32 at a distance of a predetermined distance on one side of the substrate 40 to be processed, and to arrange the injection portion 32 at a distance of a predetermined distance to both sides of the substrate 40 to be processed. desirable.

(6) 열원형 표면 처리 장치 (6) heat source surface treatment apparatus

또한, 본 발명에 있어서, 규소 함유 화합물(14)를 포함한 기체형상물을 열원을 개입시켜 내뿜는데 있어서, 도 5에 나타내는 바와 같이, 규소 함유 화합물(14)를 저장하기 위한 제1 저장탱크(12)와 압축 공기 등의 캐리어 가스를 저장하기 위한 제2 저장탱크(27)과 압축 공기 등의 캐리어 가스를 가열하기 위한 열원(제1 열원)(25)과 기화한 규소 함유 화합물(14) 및 압축 공기 등의 캐리어 가스를 혼합해 규소 함유 화합물을 포함한 기체형상물로 하기 위한 혼합실(22)와 규소 함유 화합물을 포함한 기체형상물을 소정의 장소에 이송하기 위한 이송부(24)와 그 규소 함유 화합물을 포함한 기체형상물을 기재(40)에 대해서 내뿜기 위한 분사부(32)를 포함한 열원형 표면 개질 장치(10')를 이용할 수가 있다.In the present invention, the first storage tank 12 for storing the silicon-containing compound 14, as shown in FIG. 5, in blowing gaseous substances including the silicon-containing compound 14 through a heat source. And a second storage tank 27 for storing carrier gas such as compressed air, a heat source (first heat source) 25 for heating carrier gas such as compressed air, vaporized silicon-containing compound 14 and compressed air A mixing chamber 22 for mixing a carrier gas such as a gas into a gaseous substance containing a silicon-containing compound, and a conveying unit 24 for transferring the gaseous substance containing a silicon-containing compound to a predetermined place and a gas containing the silicon-containing compound. It is possible to use a heat source surface modification apparatus 10 ′ including an injection section 32 for blowing the shaped object against the base 40.

또한, 이러한 열원형 표면 개질 장치(10')를 이용해 기재(40)을 표면 처리할 때에 가열 수단(16)에 의해, 제1 저장탱크(12)내의 규소 함유 화합물(14)를 소정의 온도로 가열해 기화시킨 상태에서, 화살표 C로 나타내는 바와 같이 이송시키는 것과 동시에, 화살표 A로 나타내는 바와 같이 도입된 가열 상태의 캐리어 가스와 혼합해서 소정의 온도의 기체형상물로 한다. 한편, 이러한 열원형 표면 개질 장치(10')에도 상술한 화염형 표면 처리 장치(10)과 같은 압력계(18)이나 예비 탱크 등의 설비를 구비할 수가 있다.Further, when the substrate 40 is surface treated using such a heat source surface modification apparatus 10 ', the silicon-containing compound 14 in the first storage tank 12 is heated to a predetermined temperature by the heating means 16. In the heated and vaporized state, it conveys as shown by arrow C, and mixes with the carrier gas of the heated state introduce | transduced as shown by arrow A, and sets it as a gaseous substance of predetermined temperature. On the other hand, such a heat source surface modification apparatus 10 'can also be equipped with facilities, such as a pressure gauge 18 and a reserve tank, similar to the flame-type surface treatment apparatus 10 mentioned above.

더욱이, 규소 함유 화합물을 포함한 기체형상물의 치밀한 온도 제어를 위해서, 이송부(24)의 도중에 제1 열원(25)와는 별도로, 제2 열원(35)를 설치해서 화살표 B로 나타내는 바와 같이, 가열 상태의 캐리어 가스를 도입하는 것도 바람직하 다. 한편, 이러한 제2 열원(35)로서 레이저나 할로겐 램프, 혹은 세라믹 히터, 이들에서 선택된 적어도 하나의 가열 수단을 이용할 수가 있다.Furthermore, for the precise temperature control of the gaseous product containing the silicon-containing compound, the second heat source 35 is provided separately from the first heat source 25 in the middle of the conveying part 24 and indicated by an arrow B, so as to be in a heated state. It is also preferable to introduce a carrier gas. As the second heat source 35, at least one heating means selected from a laser, a halogen lamp, a ceramic heater, and the like can be used.

즉, 이러한 구성의 열원형 표면 개질 장치(10')라면, 소정의 온도로 제어된 규소 함유 화합물을 포함한 기체형상물을 기재(40)에 대해서 모든 방향으로 부터 내뿜을 수가 있어서 기재를 균일하고 충분하게 처리할 수가 있다. 또한, 화염을 이용하지 않고, 표면 개질 작업중에 기체형상물을 발화하거나 소화할 필요가 없고, 발화 장치 등에의 부담이 작고, 표면 처리 장치를 용이하게 소형화할 수가 있다. 또한, 규소 함유 화합물의 연소성을 고려할 필요가 없고, 규소 함유 화합물에 대한 사용 제한도 적게 된다.That is, in the heat source surface modifying apparatus 10 'having such a configuration, a gaseous substance containing a silicon-containing compound controlled at a predetermined temperature can be flushed with respect to the substrate 40 from all directions, thereby treating the substrate uniformly and sufficiently. You can do it. Moreover, it is not necessary to ignite or extinguish a gaseous substance during surface modification without using a flame, and the burden on a ignition apparatus or the like is small, and the surface treatment apparatus can be easily miniaturized. In addition, there is no need to consider the combustibility of the silicon-containing compound, and the use restrictions on the silicon-containing compound are also reduced.

또한, 다른 열원형 표면 처리 장치로서, 도 6에 나타내는 바와 같이, 니들형의 표면 처리 장치(50)을 사용하는 것도 바람직하다. 즉, 이러한 니들형의 표면 처리 장치(50)은 규소 함유 화합물(14)를 저장함과 함께, 소정의 온도로 가열해 기화시키기 위한 가열 수단(16)을 구비한 저장탱크(12)와 기화한 규소 함유 화합물(14)를 이송하기 위한 펌프(도시하지 않음)와 규소 함유 화합물(14)의 유량을 제어하기 위한 유량판(66)과 이송관(64)와 거기에 연결되는 규소 함유 화합물(14)의 가열실 (56)과 규소 함유 화합물(14)를 소정의 온도로 가열하기 위한 열원(58)을 구비하고 있다. 한편, 규소 함유 화합물의 저장탱크(12)로 부터 기화한 규소 함유 화합물(14)의 흐름을 화살표 A'로 나타내고 있다.Moreover, as another heat source surface treatment apparatus, it is also preferable to use the needle-type surface treatment apparatus 50 as shown in FIG. That is, the needle surface treatment apparatus 50 stores the silicon-containing compound 14 and vaporizes the storage tank 12 and the vaporized silicon provided with heating means 16 for heating and vaporizing at a predetermined temperature. Pump (not shown) for conveying the containing compound 14 and the flow plate 66 for controlling the flow rate of the silicon containing compound 14, the conveying pipe 64, and the silicon containing compound 14 connected to it The heat source 58 for heating the heating chamber 56 and the silicon-containing compound 14 to predetermined temperature is provided. In addition, the flow of the silicon containing compound 14 vaporized from the storage tank 12 of a silicon containing compound is shown by arrow A '.

그리고, 압축 공기 등의 캐리어 가스를 이송하기 위한 펌프(78)과 그 캐리어 가스의 유량을 제어하기 위한 유량판(76)과 니들형의 표면 처리 장치(50)을 구성하 기 위해서 가열실(56)의 주위에 설치되어 있는 캐리어 가스의 도입로(54a),(54b)와 소정의 온도로 가열된 규소 함유 화합물(14) 및 캐리어 가스를 혼합함과 함께 기재(40)에 대해 내뿜기 위한 분사부(60)을 구비하고 있다.The heating chamber 56 is configured to form a pump 78 for transporting a carrier gas such as compressed air, a flow plate 76 for controlling the flow rate of the carrier gas, and a needle-type surface treatment apparatus 50. Injecting the carrier gas (54a, 54b), the silicon-containing compound (14) heated to a predetermined temperature, and the carrier gas, which are installed around the carrier gas, and blown out of the substrate (40). 60 is provided.

따라서, 이와 같이 구성된 니들형의 표면 처리 장치(50)라면, 화살표 A'로 나타내는 바와 같이 흐르는 규소 함유 화합물(14)와 화살표 B'로 나타내는 바와 같이 흐르는 캐리어 가스를 균일하게 혼합해서 소정의 온도로 제어한 규소 함유 화합물을 포함한 기체형상물로서 기재(40)에 대해 모든 방향으로 부터 내뿜을 수가 있다.Therefore, in the needle surface treatment apparatus 50 configured as described above, the silicon-containing compound 14 flowing as shown by arrow A 'and the carrier gas flowing as shown by arrow B' are uniformly mixed to a predetermined temperature. As the gaseous substance containing the controlled silicon-containing compound, the substrate 40 can be flushed from all directions.

또한, 이러한 니들형의 표면 처리 장치(50)라면, 집중적으로 소정의 부분에만 표면 처리를 가할 수가 있다. 게다가, 이러한 형태의 표면 처리 장치(50)이면, 용이하게 소형화할 수가 있어서 휴대형의 표면 처리 장치로서 운반할 수도 있다.In addition, with such a needle-type surface treatment apparatus 50, it is possible to concentrate the surface treatment only on a predetermined portion. In addition, the surface treatment apparatus 50 of this type can be easily downsized and can be transported as a portable surface treatment apparatus.

(7) 젖음 지수 (7) wetness index

또한, 본 발명의 표면 처리 공정에 있어서 표면 개질된 기재의 젖음 지수(측정 온도 25℃)를 40~80dyn/cm 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.In addition, in the surface treatment process of this invention, it is preferable to make the wetness index (measurement temperature of 25 degreeC) of the surface-modified base material into the value within 40-80dyn / cm range.

그 이유는, 이러한 기재의 젖음 지수가 40 dyn/cm 미만의 값이 되면, 금속 이온의 환원 처리전에 금속 활성화 처리를 충분히 실시해도, 밀착성이 우수한 박막 금속층을 형성하는 것이 곤란해지는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 기재의 젖음 지수가 80 dyn/cm를 초과하면, 과도하게 표면 처리를 실시하게 되어서, 기재를 열열화 시키거나 연료를 과도하게 소비하는 경우가 있기 때문이다.The reason is that when the wetness index of such a substrate is less than 40 dyn / cm, it may be difficult to form a thin film metal layer having excellent adhesion even if the metal activation treatment is sufficiently performed before the reduction treatment of the metal ions. . On the other hand, if the wettability index of such a substrate exceeds 80 dyn / cm, surface treatment may be performed excessively and the substrate may be thermally deteriorated or fuel may be consumed excessively.

따라서, 표면 개질된 기재에 있어서, 젖음 지수를 45~78 dyn/cm 범위내의 값 으로 하는 것이 보다 바람직하고, 50~75 dyn/cm 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, in the surface-modified substrate, the wetness index is more preferably in the range of 45 to 78 dyn / cm, more preferably in the range of 50 to 75 dyn / cm.

(8) 접촉각 (8) contact angle

또한, 본 발명의 표면 처리 공정에 있어서, 표면 개질된 기재의 물을 사용하여 측정되는 접촉각(측정 온도 25℃)을 0.1~30° 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.Moreover, in the surface treatment process of this invention, it is preferable to make the contact angle (measurement temperature 25 degreeC) measured using the water of the surface-modified base material to the value within 0.1-30 degree range.

그 이유는, 이러한 기재의 접촉각이 0.1° 미만의 값이 되면, 과도하게 표면 처리를 실시하게 되어, 기재를 열열화 시키거나 연료를 과도하게 소비하는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 기재의 접촉각이 30°를 초과하면, 금속 이온의 환원 처리전에 금속 활성화 처리를 충분히 실시해도 밀착성이 우수한 박막 금속층을 형성하는 것이 곤란해지는 경우가 있기 때문이다.The reason for this is that when the contact angle of such a substrate is less than 0.1 °, surface treatment is excessively performed, and the substrate may be thermally deteriorated or fuel may be excessively consumed. On the other hand, when the contact angle of such a base material exceeds 30 degrees, it may become difficult to form the thin film metal layer excellent in adhesiveness even if metal activation process is fully performed before metal ion reduction treatment.

따라서, 표면 개질된 기재에 있어서, 물을 사용하여 측정되는 접촉각(측정 온도 25℃)을 0.5~20° 범위내의 값으로 하는 것이 보다 바람직하고, 1~10° 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, in the surface-modified substrate, it is more preferable to set the contact angle (measurement temperature of 25 ° C) measured using water to a value within the range of 0.5 to 20 °, and more preferably to a value within the range of 1 to 10 °. .

3. 금속 이온의 환원 처리 공정 3. Reduction Treatment Process of Metal Ions

이어서, 도 1 및 도 2에 나타내는 바와 같이, 표면 처리 공정(S2, S2')의 뒤에, 금속 이온의 환원 처리 공정(S3,S4')를 실시해서 박막 금속층을 형성한다.Subsequently, as shown in FIG. 1 and FIG. 2, after the surface treatment process (S2, S2 '), a metal ion reduction treatment process (S3, S4') is performed to form a thin film metal layer.

(1) 사전 처리 공정 (1) pretreatment process

우선, 표면 처리 공정(S2')를 실시한 후, 금속 이온의 환원 처리 공정(S4')를 실시하기 전의 사전 처리 공정으로서 도 2에 나타내는 바와 같이, 기초층 형성 공정(S3')를 마련해서 기재 표면에 기초층을 형성하는 것이 바람직하다.First, after performing surface treatment process (S2 ') and providing a base layer formation process (S3') as a pretreatment process before performing metal reduction process (S4 '), as shown in FIG. It is preferable to form a base layer on the surface.

그 이유는, 이러한 기초층을 형성함으로써, 박막 금속층과 기재와의 사이에 한층 더 우수한 밀착성을 얻을 수 있는 것과 동시에, 박막 금속층의 전기 저항에 대해서도 안정화 시킬 수가 있기 때문이다.The reason for this is that by forming such a base layer, further excellent adhesion between the thin film metal layer and the substrate can be obtained and the electrical resistance of the thin film metal layer can be stabilized.

또한, 기재 표면에 문자, 도형, 기호 등의 패턴화한 기초층을 형성함으로써, 거기에 대응시켜서 패턴화한 박막 금속층을 형성할 수가 있기 때문이다. 즉, 기재 표면의 소정의 부분에 패턴화한 기초층을 형성한 다음, 전면적으로 박막 금속층을 마련하여 한층 더 기계적 자극을 부여하거나 점착 테이프를 적용함으로서 패턴화한 박막 금속층을 용이하고 신속히 형성할 수가 있다.This is because by forming a patterned base layer such as letters, figures, symbols, etc. on the surface of the substrate, a thin film metal layer patterned corresponding thereto can be formed. That is, by forming a patterned base layer on a predetermined portion of the surface of the substrate and then providing a thin film metal layer on the entire surface to impart further mechanical stimulation or by applying an adhesive tape, the patterned thin film metal layer can be easily and quickly formed. have.

여기서, 형성되는 기초층의 양태는 특별히 제한되지는 않지만, 예를 들면, 자외선 경화형 수지나 열경화형 수지, 혹은 열가소성 수지로 되는 기초층을 형성하는 것이 바람직하다.Although the aspect of the base layer formed here is not specifically limited, For example, it is preferable to form the base layer which consists of an ultraviolet curable resin, a thermosetting resin, or a thermoplastic resin.

그 이유는, 이러한 자외선 경화형 수지로 되는 기초층을 형성함으로써, 가열 처리 공정 등을 마련함 없이 신속히 형성할 수가 있기 때문이다. 한편, 열경화형 수지로 되는 기초층을 형성하는 경우에는 노광 장치 등을 생략 할 수가 있어서 저렴한 가격으로 형성할 수가 있기 때문이다. 한편, 열가소성 수지로 되는 기초층을 형성하는 경우에는 경화 처리가 불필요해지는 것과 동시에, 그 열가소성 수지를 포함한 도포액 등의 보존 안정성이 우수하고 제조 관리가 용이하게 되기 때문이다.The reason for this is that by forming the base layer made of such an ultraviolet curable resin, it can be formed quickly without providing a heat treatment step or the like. On the other hand, when forming the base layer which consists of thermosetting resins, an exposure apparatus etc. can be omitted and it can form at low cost. On the other hand, when the base layer made of a thermoplastic resin is formed, curing treatment becomes unnecessary, and excellent storage stability of the coating liquid containing the thermoplastic resin and the like is facilitated in manufacturing management.

또한, 기초층을 구성하는 자외선 경화형 수지 등의 종류는 특별히 제한되지는 않지만, 예를 들면, 에폭시아크릴레이트계 자외선 경화형 수지, 우레탄 아크릴 레이트계 자외선 경화형 수지, 및 폴리에스테르 아크릴레이트계 자외선 경화형 수지 등에서 적어도 1종류를 사용하는 것이 바람직하다.In addition, although the kind of ultraviolet curable resin etc. which comprise a base layer are not specifically limited, For example, epoxyacrylate type ultraviolet curable resin, urethane acrylate type ultraviolet curable resin, polyester acrylate type ultraviolet curable resin, etc. It is preferable to use at least one type.

한편, 에폭시아크릴레이트계의 자외선 경화형 도료는 인산기 등의 극성기를 가져도 되는 에폭시아크릴레이트 올리고머와 아크릴레이트 모노머와 개시제와 게다가 원하는 수지로 기본적으로 구성되어 있는 자외선 경화형 도료인 것이 바람직하다.On the other hand, it is preferable that the epoxy acrylate type UV curable coating material is an ultraviolet curable coating material comprised basically from the epoxy acrylate oligomer which may have polar groups, such as a phosphate group, an acrylate monomer, an initiator, and desired resin.

또한, 우레탄 아크릴레이트계의 자외선 경화형 도료는 우레탄 아크릴레이트 올리고머와 아크릴레이트 모노머와 개시제와 게다가 원하는 수지로 기본적으로 구성되어 있는 자외선 경화형 도료인 것이 바람직하다. Moreover, it is preferable that a urethane acrylate ultraviolet curable coating material is an ultraviolet curable coating material comprised fundamentally with urethane acrylate oligomer, an acrylate monomer, an initiator, and desired resin.

한편, 폴리에스테르 아크릴레이트계의 자외선 경화형 도료는 폴리에스테르 아크릴레이트 올리고머와 아크릴레이트 모노머와 개시제와 게다가 원하는 수지로 기본적으로 구성되어 있는 자외선 경화형 도료인 것이 바람직하다.On the other hand, it is preferable that the polyester acrylate-type ultraviolet curable coating material is an ultraviolet curable coating material comprised basically from polyester acrylate oligomer, an acrylate monomer, an initiator, and desired resin.

또한, 기초층을 형성하는 자외선 경화형 수지의 종류는 밀착성에 관해서 적지 않은 선택성이 존재하기 때문에, 표면 처리 공정에 사용하는 규소 함유 화합물의 종류를 고려해 정하는 것이 보다 바람직하다.Moreover, since the kind of ultraviolet curable resin which forms a base layer has a selectivity with respect to adhesiveness, it is more preferable to consider and consider the kind of silicon-containing compound used for a surface treatment process.

예를 들면, 헥사메틸디실라잔, 트리플루오로프로필트리메톡시실란, 트리플루오로프로필트리클로로실란, 3-클로로프로필트리메톡시실란 등의 분자내에 질소 원자 및 할로겐 원자를 포함한 규소 함유 화합물을 사용하는 경우에는, 에폭시아크릴레이트계 자외선 경화형 수지나 우레탄 아크릴레이트계 자외선 경화형 수지를 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 비닐트리메톡시실란, 비닐트리에톡시실란, 3-아미노 프로필트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리에톡시실란 등의 분자 말단에 비닐기나 아미노기를 가지는 규소 함유 화합물을 사용하는 경우에는, 폴리에스테르 아크릴레이트계 자외선 경화형 수지를 사용하는 것이 바람직하다.For example, silicon-containing compounds containing nitrogen atoms and halogen atoms in molecules such as hexamethyldisilazane, trifluoropropyltrimethoxysilane, trifluoropropyltrichlorosilane, and 3-chloropropyltrimethoxysilane may be used. When using, it is preferable to use epoxy acrylate type ultraviolet curable resin or urethane acrylate type ultraviolet curable resin. In addition, when using the silicon containing compound which has a vinyl group or an amino group in molecular terminal, such as vinyl trimethoxysilane, vinyl triethoxysilane, 3-aminopropyl trimethoxysilane, and 3-aminopropyl triethoxysilane, It is preferable to use polyester acrylate type ultraviolet curable resin.

또한, 기초층의 두께를 1~100 ㎛ 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다. 그 이유는, 이러한 기초층의 두께가 1 ㎛ 미만이 되면, 박막 금속층과 기재와의 사이의 밀착성의 향상이 곤란해지거나 소정의 전기 저항이나 광반사 특성, 게다가 적당한 장식성이나 내구성을 얻을 수 없거나 하는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 박막 금속층의 두께가 100 ㎛를 초과하면, 반투명경에 사용하는 것이 곤란하게 되거나 혹은, 제조 시간이 과도하게 걸려서, 제조 비용이 비싸지는 경우가 있기 때문이다.Moreover, it is preferable to make thickness of a base layer into the value within 1-100 micrometers. The reason for this is that when the thickness of the base layer is less than 1 µm, it is difficult to improve the adhesion between the thin film metal layer and the substrate, or it is impossible to obtain a predetermined electrical resistance, light reflection characteristics, and also proper decorability and durability. Because there are cases. On the other hand, when the thickness of this thin film metal layer exceeds 100 micrometers, it will become difficult to use for a translucent mirror, or it may take too much manufacturing time, and manufacturing cost may become expensive.

따라서, 박막 금속층의 두께를 0.1~50 ㎛ 범위내의 값으로 하는 것이 보다 바람직하고, 0.5~10 ㎛ 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, it is more preferable to make thickness of a thin film metal layer into the value within 0.1-50 micrometers range, and it is still more preferable to set it as the value within 0.5-10 micrometers range.

(2) 금속 이온의 환원 처리 장치 (2) reduction treatment device for metal ions

이어서, 금속 이온의 환원 처리 공정에 있어서 사용하는 금속 이온의 환원 처리 장치(400)에 대해 설명한다.Next, the reduction processing apparatus 400 of metal ions used in the reduction treatment process of metal ions is demonstrated.

이러한 금속 이온의 환원 처리 장치(400)으로서는, 도 7에 예시되는 바와 같은 장치를 전형적으로 사용할 수가 있다.As the reduction treatment apparatus 400 for such metal ions, an apparatus as illustrated in FIG. 7 can be typically used.

즉, 이러한 금속 이온의 환원 처리 장치(400)으로서는, 적어도 금속염 용액 및 환원제를 포함한 처리액(이하, 단지, 처리액이라고 칭한다.)(402)를 수용할 수 있는 금속 이온의 환원 처리조(401)을 갖추는 것이 바람직하다. 또한, 후술하는 바 와 같이 처리액(402)의 온도를 제어하기 위해서 히터(403)을 갖추는 것이 바람직하고, 그 외에, 도시하지는 않지만, 처리액(402)를 일정 조건으로 관리하기 위한 pH계, 점도계, 교반 장치, 초음파 진동 장치 등을 구비하는 것이 바람직하다.That is, as the metal ion reduction treatment apparatus 400, a metal ion reduction treatment tank 401 capable of accommodating at least a treatment liquid (hereinafter, simply referred to as a treatment liquid) 402 containing a metal salt solution and a reducing agent. It is desirable to have In addition, it is preferable to equip the heater 403 in order to control the temperature of the processing liquid 402, as will be described later. Besides, although not shown, a pH meter for managing the processing liquid 402 under constant conditions, It is preferable to provide a viscometer, a stirring device, an ultrasonic vibration device, and the like.

한편, 이러한 금속 이온의 환원 처리 장치(400)은 도 7에 나타내는 바와 같이, 박막 금속층의 제조 라인에 있어서의 표면 처리 공정의 다음 공정으로 설치되고 있는 것이 바람직하고, 그 경우, 도시하지 않지만, 표면 처리 공정과의 사이에, 간단하고 쉬운 금속 활성화 처리 공정이나 세정 공정을 마련하거나 다음 공정으로서 별도의 세정 공정이나, 패턴 형성 공정이나, 레지스터의 제거 공정 등을 마련하거나 하는 것도 바람직하다.On the other hand, it is preferable that such a metal ion reduction treatment apparatus 400 is provided in the following process of the surface treatment process in the manufacturing line of a thin film metal layer, as shown in FIG. It is also preferable to provide a simple and easy metal activation treatment step or cleaning step between the treatment step, or to provide another washing step, a pattern forming step, a resistor removal step, or the like as the next step.

또한, 이러한 금속 이온의 환원 처리 장치(400)의 변형예로서, 도 8에 나타내는 바와 같은 스프레이건(300)을 사용하는 것도 바람직하다.Moreover, it is also preferable to use the spray gun 300 as shown in FIG. 8 as a modification of such a metal ion reduction processing apparatus 400. As shown in FIG.

즉, 이러한 스프레이건(300)을 사용함으로써, 금속 이온의 환원 처리 장치의 소형화가 가능하게 될 뿐더러, 금속 이온의 환원 반응의 제어가 용이하게 되거나 혹은 원하는 부분에 대해서만 처리액(402)를 내뿜어서 박막 금속층을 선택적으로 형성하는 것도 가능해진다.That is, by using such a spray gun 300, not only the reduction of the metal ion reduction treatment apparatus can be reduced, but also the control of the metal ion reduction reaction can be easily controlled, or the treatment liquid 402 is sprayed only on a desired portion. It is also possible to selectively form a thin film metal layer.

여기서, 이러한 스프레이건(300)을 보다 자세하게 설명하면, 도 8에 나타내는 바와 같이, 건(gun) 본체(302)는 손잡이의 상단에 몸통부를 배치한 피스톨 형상을 이루고, 이 몸통부에 방아쇠(304)가 부착되어 있다. 그리고, 건(gun) 본체(302)의 선단에 헤드부(303)이 설치되어 있고, 이 헤드부(303)의 앞면에 금속염 용액을 분출하는 제1 토출구(吐出口) J1, 그 제1 토출구 J1의 주위에 동심원 형상으로 배 치된 환원제로서의 제2액을 분출하는 제2 토출구 J2, 공기를 분출하기 위한 공기 노즐구 J3, 순수한 물을 분출하기 위한 순수한 물 노즐구 J4를 구비하고 있다.Herein, the spray gun 300 will be described in more detail. As shown in FIG. 8, the gun main body 302 forms a pistol shape in which a body portion is disposed at an upper end of a handle, and the trigger portion 304 is formed in the body portion. ) Is attached. And the head part 303 is provided in the front-end | tip of the gun main body 302, The 1st discharge port J1 which ejects a metal salt solution in the front surface of this head part 303, and the 1st discharge port A second discharge port J2 for jetting the second liquid as a reducing agent arranged concentrically around J1, an air nozzle port J3 for jetting air, and a pure water nozzle port J4 for jetting pure water.

따라서, 방아쇠(304)의 개폐밸브 V3의 개방에 의해 고압 공기가 공기 유출로 P3을 통해 공기 노즐구로부터 분출되고, 이 때 고압 공기의 일부가 실린더실(319)에 유입되어 니들밸브(317)을 후퇴 시킨다. 이것에 의해, 개폐밸브 V4가 개방되어 순수한 물 도입구 A4로부터 순수한 물 유출로 P4에 대해서도 분출된다.Therefore, the high pressure air is blown out from the air nozzle port through the air outlet P3 by opening of the on-off valve V3 of the trigger 304, and at this time, a part of the high pressure air flows into the cylinder chamber 319 and the needle valve 317 Retreat. As a result, the opening / closing valve V4 is opened to eject the pure water outflow passage P4 from the pure water inlet A4.

따라서, 이러한 스프레이건(300)으로 부터, 예를 들면, 금속염 용액 및 환원제를 동시에 내뿜고, 또, 이러한 분사와 동시에, 혹은 그 후에, 순수한 물 및 공기를 내뿜어 금속 이온의 환원 반응을 균일하게 일으키게 할 수가 있다.Therefore, from the spray gun 300, for example, the metal salt solution and the reducing agent are simultaneously flushed, and at the same time as or after the spraying, the pure water and the air are flushed to make the reduction reaction of the metal ions uniformly. There is a number.

한편, 도 8에 나타내는 바와 같은 스프레이건(300)의 변형예로서, 박막 금속층의 형성 부분에 대해서, 금속염 용액 및 환원제를 내뿜기 위한 제1 스프레이건과 순수한 물 및 공기를 내뿜기 위한 제2 스프레이건을 각각 사용하는 것도 바람직하다.On the other hand, as a modification of the spray gun 300 as shown in FIG. 8, the first spray gun for blowing out the metal salt solution and the reducing agent and the second spray gun for blowing out pure water and air are formed in the forming portion of the thin film metal layer. It is also preferable to use each.

또한, 이러한 금속 이온의 환원 처리 장치(400)의 한층 변형한 예로서 도 9에 나타내는 바와 같은 스프레이 유니트(400')를 사용하는 것도 바람직하다.Moreover, it is also preferable to use the spray unit 400 'as shown in FIG. 9 as a further modified example of such a metal ion reduction processing apparatus 400. As shown in FIG.

즉, 컨베이어(403)에 의해 워크(W)가 화살표 L로 나타내어진 방향에 반송되는 과정에서, 활성화 처리액이나 세정액을 스프레이 유니트(406), (457)로 부터 분사 처리한 후, 제1 분사용 스프레이 유니트(454)로 부터 금속염 용액, 예를 들면, 질산은 수용액이 분사되고 제2 분사용 스프레이 유니트(455)로 부터 환원제, 예를 들면, 암모니아 수용액이 분사되면, 워크(W)의 표면에서 질산은 수용액 중의 질산 은이 환원되어 은이 석출하게 된다. 한편, 남은액은 순수한 물 스프레이 유니트(453), (456)으로 부터 분사되는 순수한 물에 의해 씻겨서 흘러가게 되므로, 워크(W) 표면에 은막이 균일한 층두께로 연속적으로 형성되어 간다.따라서, 금속 이온의 환원 반응에 의해 형성된 은막은 건조 유니트에 의해, 수분이 완전하게 제거되므로 은막표면의 수분에 기인하는 황변이 방지되어 고품위인 은광택을 얻을 수 있다.That is, in the process in which the workpiece | work W is conveyed to the direction shown by the arrow L by the conveyor 403, after spraying an activation process liquid or a cleaning liquid from the spray unit 406, 457, the 1st minute When a metal salt solution, for example, an aqueous solution of silver nitrate, is sprayed from the spray unit 454 used, and a reducing agent, for example, an aqueous solution of ammonia, is sprayed from the second spray unit 455, the surface of the workpiece W Silver nitrate in the silver nitrate solution is reduced, and silver precipitates. On the other hand, since the remaining liquid is washed and flowed by the pure water sprayed from the pure water spray units 453 and 456, the silver film is continuously formed on the surface of the workpiece W with a uniform layer thickness. Since the silver film formed by the reduction reaction of the metal ions is completely removed by the drying unit, yellowing due to moisture on the surface of the silver film is prevented, and high quality silver gloss can be obtained.

한편, 도 9에 나타내는 스프레이 유니트(400')의 경우, 환원제나 순수한 물과 혼합하면서 워크(W) 표면에 대해서, 경사 방향으로 분사시키기 위한 환원액 분사용 스프레이 유니트(451)이나 순수한 물 스프레이 유니트(452)가 설치되어 있다. 즉, 은막의 두께나 환원 정도를 보다 정확하게 조정하기 때문이다.On the other hand, in the case of the spray unit 400 'shown in FIG. 9, the reducing liquid spray unit 451 or the pure water spray unit for spraying the surface of the workpiece W in an oblique direction while mixing with a reducing agent or pure water. 452 is installed. That is, it is because the thickness and the degree of reduction of the silver film are adjusted more accurately.

(3) 금속염 용액 및 환원제(3) metal salt solutions and reducing agents

이어서, 금속 이온의 환원 처리 공정에 있어서 이용되는 처리액, 즉, 금속염 용액 및 환원제에 대해 상세하게 설명한다.Next, the treatment liquid used in the reduction treatment step of the metal ions, that is, the metal salt solution and the reducing agent will be described in detail.

우선, 사용하는 금속염 용액(금속 착체 용액을 포함한다.)의 종류로서는, 질산금, 질산은, 질산구리, 질산알루미늄, 질산니켈 등에서 적어도 1 종류를 들 수 있다.First, as a kind of metal salt solution (including a metal complex solution) to be used, at least 1 type can be mentioned from gold nitrate, silver nitrate, copper nitrate, aluminum nitrate, nickel nitrate, and the like.

또한, 이러한 금속염 용액 중의 금속 농도를 0.001~3 mol/리터 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable to make metal concentration in such a metal salt solution into the value within 0.001-3 mol / liter range.

그 이유는, 이러한 금속 농도가 0.001 mol/리터 미만의 값이 되면, 금속의 석출량이 현저하게 저하하여 박막 금속층의 생산성이 저하되는 경우가 있기 때문이 다. 한편, 이러한 금속 농도가 3 mol/리터를 초과하면, 기재 표면에 박막 금속층을 균일하게 형성하는 것이 곤란해져서 마찬가지로 박막 금속층의 생산성이 저하되는 경우가 있기 때문이다. 따라서, 금속염 용액 중의 금속 농도를 0.01~2.5 mol/리터 범위내의 값으로 하는 것이 보다 바람직하고, 0.1~2 mol/리터 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.The reason for this is that when the metal concentration is less than 0.001 mol / liter, the amount of precipitation of the metal may be remarkably lowered, which may lower the productivity of the thin film metal layer. On the other hand, when such a metal concentration exceeds 3 mol / liter, it becomes difficult to form a thin film metal layer uniformly on the surface of a base material, and productivity of a thin film metal layer may fall similarly. Therefore, it is more preferable to make the metal concentration in a metal salt solution into the value within 0.01-2.5 mol / liter, and it is still more preferable to set it as the value within 0.1-2 mol / liter.

한편, 환원제로서는 포름알데히드, 수소화붕소나트륨, 히드라진, 히드라진 화합물, 히드로퀴논, L-아스코르빈산 및 그 염, 피로카테콜, 암모니아, 포도당, 차아인산나트륨, 아황산염, 포름산, 무수아황산나트륨, L(+) 주석산, 포름산암모늄 등의 1종류 단독 또는 2종류 이상의 편성을 들 수 있다.On the other hand, as a reducing agent, formaldehyde, sodium borohydride, hydrazine, hydrazine compound, hydroquinone, L-ascorbic acid and salts thereof, pyrocatechol, ammonia, glucose, sodium hypophosphite, sulfite, formic acid, sodium sulfite anhydrous, L (+ ) One type single or two types or more combinations, such as tartaric acid and ammonium formate, are mentioned.

이들 환원제 가운데, 금속 이온의 환원반응을 용이하게 제어하기 쉽다는 점으로부터, L-아스코르빈산 및 그 염, 암모니아, 혹은, L-아스코르빈산 및 그 염과 피로카테콜과의 편성을 사용하는 것이 보다 바람직하다.Among these reducing agents, since it is easy to control the reduction reaction of metal ions, L-ascorbic acid and its salt, ammonia, or L-ascorbic acid and its salt and pyrocatechol are used. It is more preferable.

또한, 이러한 환원제의 농도를 0.001~3 mol/리터 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable to make the density | concentration of such a reducing agent into the value within 0.001-3 mol / liter range.

그 이유는, 이러한 환원제의 농도가 0.001 mol/리터 미만의 값이 되면, 금속의 석출량이 현저하게 저하하여, 박막 금속층의 생산성이 저하되는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 환원제의 농도가 3 mol/리터를 초과하면, 기재 표면에 박막 금속층을 균일하게 형성하는 것이 곤란해져서 마찬가지로 박막 금속층의 생산성이 저하되는 경우가 있기 때문이다.The reason for this is that when the concentration of such a reducing agent is less than 0.001 mol / liter, the amount of precipitation of the metal may be remarkably lowered, which may lower the productivity of the thin film metal layer. On the other hand, when the concentration of such a reducing agent exceeds 3 mol / liter, it is difficult to uniformly form the thin film metal layer on the surface of the substrate, which may lower the productivity of the thin film metal layer in the same manner.

따라서, 환원제의 농도를 0.01~2.5 mol/리터 범위내의 값으로 하는 것이 보 다 바람직하고, 0.1~2 mol/리터 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, it is more preferable to set the concentration of the reducing agent to a value within the range of 0.01 to 2.5 mol / liter, and more preferably to a value within the range of 0.1 to 2 mol / liter.

(4) 금속 이온의 환원 처리 조건 (4) Reduction Treatment Condition of Metal Ions

이어서, 금속 이온의 환원 처리 공정에 있어서의 환원 처리 조건에 대해 상세하게 설명한다.Next, the reduction process conditions in the reduction process of a metal ion are demonstrated in detail.

우선, 금속 이온의 환원 처리를 실시하는 온도, 즉, 금속 이온의 환원 처리 온도를 0~80℃ 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.First, it is preferable to make the temperature which performs the reduction process of metal ion, ie, the reduction process temperature of metal ion, be a value within the range of 0-80 degreeC.

그 이유는, 이러한 처리 온도가 0℃ 미만이 되면, 소정의 두께의 박막 금속층을 형성하는데 과도하게 시간이 걸리는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 처리 온도가 80℃를 초과하면, 금속 이온의 환원 처리액의 농도 조정이 곤란해져서, 기재 표면에 균일한 두께의 박막 금속층을 형성하는 것이 곤란해지는 경우가 있기 때문이다.The reason for this is that when such processing temperature is less than 0 ° C, it may take an excessive time to form a thin film metal layer having a predetermined thickness. On the other hand, when such a processing temperature exceeds 80 degreeC, it may become difficult to adjust the density | concentration of the reducing process liquid of a metal ion, and it may become difficult to form the thin film metal layer of uniform thickness on the surface of a base material.

따라서, 금속 이온의 환원 처리할 때의 처리 온도를 5~50℃ 범위내의 값으로 하는 것이 보다 바람직하고, 10~30℃ 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, it is more preferable to make the process temperature at the time of the reduction process of metal ion into the value within the range of 5-50 degreeC, and it is still more preferable to set it as the value within the range of 10-30 degreeC.

또한, 단위면적(100 ㎠)당의 금속 이온의 환원 처리를 실시하는 시간, 즉, 금속 이온의 환원 처리 시간은 원하는 박막 금속층의 두께 등에도 따르지만, 통상, 0.1~60분 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.In addition, although the reduction time of the metal ion per unit area (100 cm 2), that is, the reduction treatment time of the metal ions, depends also on the thickness of the desired thin film metal layer or the like, it is generally preferable to set the value within the range of 0.1 to 60 minutes. Do.

그 이유는, 이러한 처리 시간이 0.1분 미만이 되면, 원하는 박막 금속층의 두께를 안정적으로 얻을 수 없는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 처리 시간이 60분을 초과하면, 제조 시간이 과도하게 걸려서, 제조 비용이 비싸지는 경우가 있기 때문이다. The reason for this is that when the processing time is less than 0.1 minutes, the thickness of the desired thin film metal layer may not be obtained stably. On the other hand, when this processing time exceeds 60 minutes, it will take too much manufacturing time, and manufacturing cost may become expensive.

따라서, 금속 이온의 환원 처리할 때의 처리 시간을 0.5~30분 범위내의 값으로 하는 것이 보다 바람직하고, 1~10분 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, it is more preferable to make the processing time at the time of the reduction process of metal ion into the value within the range of 0.5-30 minutes, and it is still more preferable to set it as the value within the range of 1-10 minutes.

4. 검사공정 4. Inspection process

이어서, 도 1 및 도 2에 나타내는 바와 같이, 금속 이온의 환원 처리 공정에 있어서 얻어진 박막 금속층(전면 베타패턴을 포함)의 검사공정에 대해 설명한다.Next, as shown to FIG. 1 and FIG. 2, the inspection process of the thin film metal layer (including the front beta pattern) obtained in the reduction process of a metal ion is demonstrated.

우선, 도 7에 나타내는 박막 금속층(86)을 포함한 박막 금속 적층체(80'')의 제조 라인에 있어서, 라미네이트 장치(410)에 의해 보호 필름(87)을 적층하기 전, 혹은 그 후에, 박막 금속층(86)의 두께, 폭, 혹은 형상 등을 검사하는 것이 바람직하다.First, in the manufacturing line of the thin film metal laminate 80 ″ including the thin film metal layer 86 shown in FIG. 7, before or after laminating the protective film 87 by the laminating apparatus 410, the thin film It is preferable to inspect the thickness, width, shape, or the like of the metal layer 86.

이러한 검사공정에 있어서, 예를 들면, 박막 금속층의 두께가 0.01~100 ㎛ 범위내의 값인지를 검사하는 것이 바람직하다. In such an inspection process, it is preferable to test whether the thickness of a thin film metal layer is a value in the range of 0.01-100 micrometers, for example.

그 이유는, 이러한 박막 금속층의 두께가 0.01 ㎛ 미만이 되면, 소정의 전기 저항이나 광반사 특성, 또 적당한 장식성이나 내구성을 얻을 수 없는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 박막 금속층의 두께가 100 ㎛를 초과하면, 반투명경에 사용하는 것이 곤란하게 되거나 혹은, 제조 시간이 과도하게 걸려서, 제조 비용이 비싸지거나 하는 경우가 있기 때문이다.The reason for this is that when the thickness of such a thin metal layer is less than 0.01 µm, predetermined electrical resistance, light reflection characteristics, and proper decorativeness and durability may not be obtained. On the other hand, when the thickness of such a thin film metal layer exceeds 100 micrometers, it may become difficult to use for a translucent mirror, or it may take too much manufacturing time, and manufacturing cost may become expensive.

따라서, 박막 금속층의 두께를 0.1~50 ㎛ 범위내의 값으로 하는 것이 보다 바람직하고, 0.5~10 ㎛ 범위내의 값으로 하는 것이 더욱 바람직하다.Therefore, it is more preferable to make thickness of a thin film metal layer into the value within 0.1-50 micrometers range, and it is still more preferable to set it as the value within 0.5-10 micrometers range.

또한, 박막 금속층의 형상은 용도에 따르지만, 검사공정에 있어서, 예를 들 면, 직선 형상, 나선 형상, 곡선 형상, 원 형상, 루프 형상, 혹은, 삼차원 구조 등, 여러 가지 형태로 형성되고 있는지 아닌지를 검사하는 것이 바람직하다.In addition, although the shape of a thin-film metal layer depends on a use, whether it is formed in various forms, such as a linear form, a spiral form, a spiral form, a curve form, a circular form, a loop form, or a three-dimensional structure in an inspection process, for example. It is preferable to check.

한편, 금속 이온의 환원 처리 공정 뒤에 패터닝 공정이나 레지스터 처리 공정, 혹은 도금 처리 공정 등을 마련했을 경우에는, 문자, 도형, 기호 등의 패턴화한 박막 금속층의 양태가 좋은지 나쁜지를 검사하는 것도 바람직하다.On the other hand, when a patterning process, a resist processing process, a plating process, etc. are provided after a metal ion reduction process, it is also preferable to check whether the aspect of the patterned thin-film metal layer, such as a character, a figure, a symbol, is good or bad. .

한편, 검사공정을 실시할때, 상술한 것처럼 박막 금속층의 표면에 보호 필름을 적층하기 전에, 추가로 보호층을 형성하는 공정을 마련하는 것도 바람직하다.On the other hand, when performing an inspection process, it is also preferable to provide the process of forming a protective layer further, before laminating | stacking a protective film on the surface of a thin film metal layer as mentioned above.

그 이유는, 박막 금속층의 표면에 자외선 경화형 수지나 열경화형 수지 혹은 열가소성 수지나 무기 재료 등으로 되는 보호층을 형성함으로써, 박막 금속층의 내구성이나 내스크래치성을 현저하게 향상시킬 수가 있기 때문이다. 또, 형성하는 보호층 안에 착색제나 도전 입자 등을 첨가함으로써, 박막 금속 적층체의 장식 효과나 외관성을 향상시키는 한편 박막 금속층의 저항에 대해서도 보다 안정화 시킬 수가 있기 때문이다.The reason for this is that by forming a protective layer made of an ultraviolet curable resin, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, an inorganic material, or the like on the surface of the thin film metal layer, the durability and scratch resistance of the thin film metal layer can be significantly improved. Moreover, by adding a coloring agent, electroconductive particle, etc. to the protective layer to form, it is because the decorative effect and external appearance of a thin film metal laminated body can be improved, and the resistance of a thin film metal layer can be stabilized more.

여기서, 보호층을 구성하는 자외선 경화형 수지 등으로서는 상술한 기초층과 같은 자외선 경화형 수지 등으로서 형성할 수도 있고, 혹은, 기초층과 다른 자외선 경화형 수지 등을 이용할 수도 있다.Here, as ultraviolet curable resin which comprises a protective layer, you may form as ultraviolet curable resin etc. similar to the base layer mentioned above, or ultraviolet curable resin etc. different from a base layer can also be used.

또한, 보호층의 두께에 대해서도 용도 등을 고려해서 정할 수가 있지만, 통상, 0.01~100 ㎛ 범위내의 값으로 하는 것이 바람직하다.In addition, although the use etc. can also be determined about the thickness of a protective layer, it is preferable to set it as the value within 0.01-100 micrometers normally.

그 이유는, 이러한 보호층의 두께가 0.01 ㎛ 미만의 값이 되면, 박막 금속층에 대한 보호 효과가 불충분하게 되거나 균일한 두께를 형성하는 것이 곤란해지는 경우가 있기 때문이다. 한편, 이러한 보호층의 두께가 100 ㎛를 초과하면, 박막 금속층에 대한 보호 효과가 불충분하게 되거나 균일한 두께로 형성하는 것이 곤란해지는 경우가 있기 때문이다.The reason for this is that when the thickness of the protective layer is less than 0.01 µm, the protective effect on the thin film metal layer may become insufficient or it may be difficult to form a uniform thickness. On the other hand, when the thickness of such a protective layer exceeds 100 micrometers, it is because the protective effect with respect to a thin film metal layer may become inadequate, or it may become difficult to form to a uniform thickness.

5. 대상물 5. Object

본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 각종 용도의 대상물의 제조 방법으로 전개할 수가 있지만, 예를 들면, 유희도구, 전기 제품, 차량, 기계 부품, 공구, 가구, 또는 장식품의 일부로서 본 발명의 박막 금속 적층체를 형성하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 도 10에 나타내는 바와 같은 박막 금속 적층체를 일부에 구비한 유희도구(500)을 제공할 수가 있다.According to the manufacturing method of the thin film metal laminate of the present invention, it can be developed by the manufacturing method of the object of various uses, but, for example, as a part of a play tool, an electric product, a vehicle, a mechanical part, a tool, a furniture, or an ornament It is preferable to form the thin film metal laminate of the present invention. For example, the amusement tool 500 provided with one part of the thin film metal laminated body as shown in FIG. 10 can be provided.

또한, 대상물로서 박막 금속 적층체를 박막 금속 패턴으로서 통신용 안테나, 전자 태그용 안테나, 전기 회로용 배선 패턴, 전자파 쉴드용 금속패턴 또는 장식용 금속 패턴으로서 사용하는 것도 바람직하다.Moreover, it is also preferable to use a thin-film metal laminated body as a target object as a thin film metal pattern as a communication antenna, an antenna tag antenna, an electrical circuit wiring pattern, the electromagnetic shield metal pattern, or a decorative metal pattern.

[실시예 1] Example 1

1. 박막 금속 적층체의 제조 1. Fabrication of Thin Metal Laminates

기재로서 폴리프로필렌 필름(세로 10 cm×가로 10 cm×두께 125 ㎛, 표 1에서 PP라고 칭한다.)을 준비하여, 그 폴리프로필렌 필름의 표면에 대해서, 도 4에 나타내는 표면 개질 장치를 이용해 규산화염 처리를 단위면적당(100 ㎠), 0.2초간 실시했다. 한편, 연료 가스로서 헥사메틸디실라잔을 0.01 몰%, 나머지 99.99 몰%가 프로판 가스를 소정량 포함한 압축 공기인 카트리지 포함의 혼합 가스를 이용했다.A polypropylene film (10 cm in height X 10 cm in width X thickness 125 µm, referred to as PP in Table 1) was prepared as a substrate, and the surface of the polypropylene film was silicate using a surface modifying device shown in FIG. 4. The treatment was performed for 0.2 seconds per unit area (100 cm 2). On the other hand, as a fuel gas, a mixed gas containing a cartridge, which is compressed air containing 0.01 mol% of hexamethyldisilazane and 99.99 mol% of the remaining amount of propane gas, was used.

이어서, 자외선 경화형 수지인 PES-B(SC)((주) 이시마트·재팬 제조)를 표 면 처리한 기재상에 도포한 후, 자외선을 300 mJ/㎠ 조사해서 두께 10 ㎛의 기초층을 형성했다.Subsequently, after apply | coating PES-B (SC) (made by Ishimart Japan Co., Ltd.) which is ultraviolet curable resin on the surface-treated base material, 300 mJ / cm <2> of ultraviolet-rays were irradiated, and the foundation layer of thickness 10micrometer was formed. did.

이어서, 형성한 기초층상에 도 7에 나타내는 금속 이온의 환원 처리 장치를 이용하여 두께 0.5 ㎛의 은층을 전면적으로 형성했다. 그 후, 오븐을 이용하여 100℃, 10분간의 조건으로 가열 처리를 실시해, 한층 더 건조시킨 후, 형성한 은층 위에 기초층과 같은 자외선 경화형 수지로 되는 두께 10 ㎛의 보호층을 형성해서 실시예 1의 박막 금속 적층체로 했다.Subsequently, a 0.5-micrometer-thick silver layer was entirely formed on the formed base layer using the metal ion reduction processing apparatus shown in FIG. Thereafter, heat treatment was performed under conditions of 100 ° C. for 10 minutes using an oven, and further dried, a protective layer having a thickness of 10 μm made of the same ultraviolet curable resin as the base layer was formed on the formed silver layer. It was set as the thin film metal laminated body of 1.

2. 기재 및 박막 금속층의 평가 2. Evaluation of Substrate and Thin Film Metal Layer

(1) 체적 저항률 (1) volume resistivity

규산화염 처리한 단계에의 폴리프로필렌 필름에 있어서의 체적 저항률(표면 저항)을, JIS K6911에 준거해 측정했다. 또한, 규산화염 처리전의 폴리프로필렌 필름의 체적 저항률을 마찬가지로 측정했다. 얻어진 결과를 표 1에 나타낸다.The volume resistivity (surface resistance) in the polypropylene film in the step of silicate treatment was measured based on JIS K6911. In addition, the volume resistivity of the polypropylene film before silicate treatment was measured similarly. The obtained results are shown in Table 1.

(2) 젖음 지수 (2) wetness index

규산화염 처리한 단계의 폴리프로필렌 필름에 있어서의 젖음 지수를 표준액을 이용해 측정했다. 또한, 규산화염 처리전의 폴리프로필렌 필름의 젖음 지수를 마찬가지로 측정했다. 얻어진 결과를 표 1에 나타낸다.The wetness index in the polypropylene film of the silicate-treated step was measured using a standard solution. In addition, the wetness index of the polypropylene film before silicate treatment was measured similarly. The obtained results are shown in Table 1.

(3) 밀착성 (3) adhesion

JIS K-5400에 준거한 바둑판시험을 실시하여 이하의 기준에 따라 박막 금속층과 폴리프로필렌 필름과의 사이의 밀착성을 평가했다. 얻어진 결과를 표 1에 나타낸다. The board | substrate test based on JISK-5400 was performed, and the adhesiveness between the thin film metal layer and the polypropylene film was evaluated according to the following criteria. The obtained results are shown in Table 1.

◎ : 100개의 바둑판 눈금시험에서 전혀 박리가 없다.(Double-circle): There is no peeling at all in 100 board scale test.

○ : 100개의 바둑판 눈금시험에서 박리수는 1~2개이다. (Circle): In 100 board scale test, peeling water is 1-2 pieces.

△ : 100개의 바둑판 눈금시험에서 박리수는 3~10개이다. (Triangle | delta): The peeling water is 3-10 pieces in 100 board scale tests.

× : 100개의 바둑판 눈금시험에서 박리수는 11개 이상이다.X: In 100 board scale tests, peeling water is 11 or more.

[실시예 2~6] EXAMPLES 2-6

실시예 2~6에서는, 표 1에 나타내는 바와 같이, 규소 함유 화합물의 종류 및 표면 처리 시간을 바꾼것 이외에는, 각각 실시예 1과 같게, 폴리프로필렌 필름상에 박막 금속층을 형성하여 박막 금속층의 밀착성 등의 평가를 실시했다. 얻어진 결과를 표 1에 나타낸다.In Examples 2-6, as shown in Table 1, except having changed the kind and surface treatment time of a silicon-containing compound, the thin film metal layer was formed on the polypropylene film like Example 1, respectively, and the adhesiveness of a thin film metal layer, etc. Was conducted. The obtained results are shown in Table 1.

[실시예 7~10]EXAMPLES 7-10

실시예 7~10 에서는, 폴리프로필렌 필름 대신에, PET 필름(세로 10 cm×가로 10 cm×두께 125 ㎛, 표 1에서 PET라고 칭한다.) 을 이용한것 이외에는, 각각 실시예 1~4와 같게 박막 금속층을 형성한 PET 필름을 작성하여 밀착성 등의 평가를 실시했다. 얻어진 결과를 표 1에 나타낸다.In Examples 7-10, instead of the polypropylene film, except having used PET film (10 cm x 10 cm x thickness 125 micrometers, PET is called in Table 1), it was a thin film similarly to Examples 1-4, respectively. The PET film in which the metal layer was formed was created and evaluation of adhesiveness etc. was performed. The obtained results are shown in Table 1.

[실시예 11~14] [Examples 11-14]

실시예 11~14에서는, 폴리프로필렌 필름 대신에, 폴리카보네이트 필름(세로 10 cm×가로 10 cm×두께 2 mm, 표 1에서 PC라고 칭한다.)을 이용한것 이외에는, 각각 실시예 1~4와 같게 박막 금속층을 형성한 폴리카보네이트 필름을 작성하여, 밀착성 등의 평가를 실시했다. 얻어진 결과를 표 1에 나타낸다.In Examples 11-14, it carried out similarly to Examples 1-4 except having used polycarbonate film (10cm in height X 10cm in width X thickness 2mm, PC in Table 1) instead of the polypropylene film. The polycarbonate film in which the thin film metal layer was formed was created, and adhesiveness etc. were evaluated. The obtained results are shown in Table 1.

[실시예 15~18] [Examples 15-18]

실시예 15~18에서는, 폴리프로필렌 필름 대신에, 저알칼리 유리판(세로 10 cm×가로 10 cm×두께 2 mm, 표 1에서 유리라고 칭한다.) 을 이용한것 이외에는, 각각 실시예 1~4와 같게 박막 금속층을 형성한 유리판을 작성하여 밀착성 등의 평가를 실시했다. 얻어진 결과를 표 1에 나타낸다.In Examples 15-18, instead of the polypropylene film, except having used the low alkali glass board (10 cm in height X 10 cm in width x 2 mm in thickness, Table 1 is called glass), it carried out similarly to Examples 1-4, respectively. The glass plate in which the thin film metal layer was formed was created, and adhesiveness etc. were evaluated. The obtained results are shown in Table 1.

[비교예 1~4][Comparative Examples 1-4]

비교예 1~4에서는, 폴리프로필렌 필름, PET 필름, 폴리카보네이트 필름 및 저알칼리 유리판의 표면에 규산화염 처리를 행하지 않고, 주석 및 페러디엄에 의한 복수의 활성화 처리를 행한 후, 금속 이온의 환원 처리를 실시한것 이외에는, 각각 실시예 1, 실시예 7, 실시예 11 및 실시예 15와 같게 박막 금속층을 형성하여 밀착성 등의 평가를 실시했다. 얻어진 결과를 표 1에 나타낸다.In Comparative Examples 1 to 4, after performing a plurality of activation treatments with tin and a parodydium without performing silicate treatment on the surfaces of the polypropylene film, PET film, polycarbonate film and low alkali glass plate, reduction treatment of metal ions A thin film metal layer was formed in the same manner as in Example 1, Example 7, Example 11, and Example 15, except that the adhesion and the like were evaluated. The obtained results are shown in Table 1.

Figure 112005040310366-PAT00001
Figure 112005040310366-PAT00001

*HMDN:헥사메틸디실라잔* HMDN: Hexamethyldisilazane

*VTMS:비닐트리메톡시실란* VTMS: Vinyltrimethoxysilane

*HMDN/ETA:헥사메틸디실라잔/에탄올* HMDN / ETA: Hexamethyldisilazane / ethanol

*HMDS:헥사메틸디실록산* HMDS: Hexamethyldisiloxane

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 박막 금속 적층체의 제조 방법에 의하면, 기재상에 금속 이온의 환원 처리를 실시하여 박막 금속층을 형성하기 전에, 혹은 기재상에 이러한 박막 금속층의 기초층을 형성하기 전에, 그 기재의 표면에 대해서, 규소 함유 화합물을 포함한 연료 가스의 화염을 분사 처리하든가, 혹은, 규소 함유 화합물의 기체형상물을 소정의 온도 이상의 열원을 개입시켜 분사 처리함으로서 균일한 두께를 가지는 한편, 밀착성이 우수한 박막 금속층을 갖춘 박막 금속 적층체를 얻을 수 있게 되었다.As described above, according to the manufacturing method of the thin film metal laminate of the present invention, before the reduction treatment of metal ions on the substrate is performed to form the thin film metal layer, or before the base layer of the thin film metal layer is formed on the substrate. On the surface of the substrate, the flame of the fuel gas containing the silicon-containing compound is sprayed or the gaseous substance of the silicon-containing compound is sprayed through a heat source having a predetermined temperature or higher to have a uniform thickness and adhesiveness. A thin film metal laminate having this excellent thin film metal layer can be obtained.

따라서, 유리나 세라믹 등 혹은, 폴리에스테르 수지나 폴리프로필렌 수지 등의 각종 기재에 대해서도, 간단하고 쉬우며 또 신속한 제조 공정에 의해 밀착성이 우수한 박막 금속층을 형성할 수가 있다.Therefore, also about various base materials, such as glass, a ceramic, or a polyester resin, a polypropylene resin, etc., the thin film metal layer excellent in adhesiveness can be formed by a simple, easy, and quick manufacturing process.

즉, 박막 금속 적층체를 갖춘 대상물로서 박막 금속 적층체를 많이 사용하는 유희도구나 전기 제품 등을 저렴한 가격으로 제공하는 것을 기대할 수 있다.In other words, it can be expected to provide a game device or an electric product that uses a thin film metal laminate as a target having a thin film metal laminate at a low price.

Claims (12)

기재상에의 박막 금속 적층체의 제조 방법으로, 하기 공정(1)~(3)을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법. In the manufacturing method of the thin film metal laminated body on a base material, the following processes (1)-(3) are included, The manufacturing method of the thin film metal laminated body characterized by the above-mentioned. (1) 기재를 준비하는 공정 (1) step of preparing the base material (2) 기재 표면에 대해서 규소 함유 화합물을 포함한 연료 가스의 화염을 분사 처리하든가, 혹은, 규소 함유 화합물의 기체형상물을 400℃ 이상의 열원(熱源)을 개입시켜 분사 처리하는 공정 (2) A step of spraying a flame of a fuel gas containing a silicon-containing compound on the surface of the substrate or spraying a gaseous product of the silicon-containing compound through a heat source of 400 ° C or higher. (3) 박막 금속층을 금속 이온의 환원 반응에 의해 형성하는 공정(3) Process of Forming Thin Film Metal Layer by Reduction of Metal Ions 제1항에 있어서, 상기 박막 금속층의 두께를 0.01~100 ㎛ 범위내의 값으로 하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법. The method for producing a thin film metal laminate according to claim 1, wherein the thickness of the thin film metal layer is set to a value within the range of 0.01 to 100 µm. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 박막 금속층이, 주성분으로서 금, 은, 동, 니켈, 및 알루미늄 중의 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법.The method for producing a thin film metal laminate according to claim 1 or 2, wherein the thin film metal layer contains at least one of gold, silver, copper, nickel, and aluminum as main components. 제3항에 있어서, 상기 박막 금속층이, 주성분으로서 은을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법.The said thin film metal layer contains silver as a main component, The manufacturing method of the thin film metal laminated body of Claim 3 characterized by the above-mentioned. 제1항에 있어서, 상기 박막 금속층이, 공정(2)의 상기 기재 표면의 젖음 지수(측정 온도 25℃)를 40~80 dyn/cm 범위내의 값으로 하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법.2. The thin film metal laminate according to claim 1, wherein the thin film metal layer has a wetness index (measurement temperature of 25 ° C) on the surface of the substrate in the step (2) within a range of 40 to 80 dyn / cm. Way. 제1항에 있어서, 상기 박막 금속층이, 공정(2)의 상기 기재 표면의 체적 저항률을 1×104~1×1010Ω·cm 범위내의 값으로 하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법.The thin film metal layer production process according to claim 1, wherein the thin film metal layer has a volume resistivity of the surface of the substrate in the step (2) in a range of 1 × 10 4 to 1 × 10 10 Ω · cm. Way. 제1항에 있어서, 상기 박막 금속층이, 공정(2)와 공정(3)의 사이에, (3')기초층을 형성하는 공정을 추가로 마련해, 상기 기재와 박막 금속층과의 사이에 기초층을 형성하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법. The said thin film metal layer is further provided with the process of forming a (3 ') base layer between a process (2) and a process (3), The base layer between the said base material and a thin film metal layer Forming a thin film metal laminate. 제1항에 있어서, 상기 박막 금속층이, 화염 또는 기체(氣體)형상물의 분사 시간을 단위면적(100 ㎠)당, 0.1초~100초 범위내의 값으로 하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법.The thin film metal laminate according to claim 1, wherein the thin film metal layer has a spraying time of a flame or gaseous product in a range of 0.1 second to 100 seconds per unit area (100 cm 2). Way. 제1항에 있어서, 상기 박막 금속층이, 상기 기재가 주성분으로서 유리 재료, 폴리카보네이트 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리에스테르 수지 및 폴리이미드 수지 중의 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법.The method for producing a thin film metal laminate according to claim 1, wherein the thin film metal layer contains at least one of a glass material, a polycarbonate resin, a polyolefin resin, a polyester resin, and a polyimide resin as the main component. . 제1항에 있어서, 상기 박막 금속층이, 상기 공정(3)의 뒤에, (4)보호층을 형성하는 공정을 추가로 마련해, 상기 박막 금속층의 표면에 보호층을 형성하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법. The thin film metal according to claim 1, wherein the thin film metal layer further includes (4) a step of forming a protective layer after the step (3), and forms a protective layer on the surface of the thin film metal layer. The manufacturing method of a laminated body. 제10항에 있어서, 상기 기초층 및 보호층, 혹은 어느쪽이든 한쪽을, 자외선 경화형 수지로서 형성하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법.The said base layer, the protective layer, or either one is formed as an ultraviolet curable resin, The manufacturing method of the thin film metal laminated body of Claim 10 characterized by the above-mentioned. 제1항에 있어서, 상기 박막 금속층이, 상기 박막 금속 적층체를, 유희도구, 전기 제품, 차량, 기계 부품, 공구, 가구, 또는 장식품의 일부로서 형성하는 것을 특징으로 하는 박막 금속 적층체의 제조 방법. The thin film metal laminate according to claim 1, wherein the thin film metal layer forms the thin film metal laminate as part of a play tool, an electric appliance, a vehicle, a mechanical part, a tool, a furniture, or an ornament. Way.
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