KR20060036081A - 토모신디사이즈를 위한 스캐닝 기반의 전리 방사선 검출 - Google Patents

토모신디사이즈를 위한 스캐닝 기반의 전리 방사선 검출 Download PDF

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KR20060036081A
KR20060036081A KR1020067000313A KR20067000313A KR20060036081A KR 20060036081 A KR20060036081 A KR 20060036081A KR 1020067000313 A KR1020067000313 A KR 1020067000313A KR 20067000313 A KR20067000313 A KR 20067000313A KR 20060036081 A KR20060036081 A KR 20060036081A
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Abstract

대상물(5)의 토모신디사이즈 데이터를 얻는 장치는 대칭축선(3) 주위에 집중된 방사선(2)을 방출하는 소스(1); 각각의 각도(
Figure 112006000923969-PCT00082
1, ...,
Figure 112006000923969-PCT00083
n, ...,
Figure 112006000923969-PCT00084
N)에서 소스를 향하여 각각 방향이 잡혀져 있는 다수의 라인 검출기(6a)를 구비하는 방사선 검출기(6); 및 대상물과 선형적으로 관계가 있는 소스 및 방사선 검출기를 대칭축에 직각인 방향(8)으로 이동시키는 디바이스(7)를 포함하며, 각각의 라인 검출기는 각각의 각도에서 대상물을 통해 투과된 방사선의 라인 이미지를 기록하기에 적합화되어 있다.

Description

토모신디사이즈를 위한 스캐닝 기반의 전리 방사선 검출{SCANNING-BASED DETECTION OF IONIZING RADIATION FOR TOMOSYNTHESIS}
본 발명은 전반적으로 대상물 검사용 토모신디사이즈 데이터를 얻는 스캐닝 기반의 장치 및 방법에 관한 것이다.
유방 뢴트겐선 조영법(mammography)와 같은 X-레이 의료 진단방법은 예컨대, 암의 조기단계의 검출을 위해 검사되어야 할 환자의 흉부와 같은 환자의 일부분의 하나 이상의 이미지를 생성하는 저선량 방식이다.
유방 뢴트겐선 조영법 진단 방식은 일반적으로 환자의 흉부들의 각각의 2개의 이미지, 즉 위편으로부터 하나의 이미지와 측편으로부터 하나의 이미지를 얻는 단계를 포함한다. 그 다음, 의사 또는 방사선 기사는 흉부의 이미지들, 즉 유방 X-레이 사진들을 관찰하여 유방암을 확인한다.
이런 방식은 유방암의 조기 형성을 검출하는 최선의 방법들 중의 한 방법이지만, 유방암의 검출이 유방 X-레이 사진을 관찰하는 의사 또는 방사선 기사에 의해 실패될 가능성이 여전히 있다. 예컨대, 유방암은 방사선 사진적으로 조밀하고, 섬유샘이 있는 유방 조직에 의해 가리게 됨으로써 검사 실패될 수도 있다.
복수의 이미지가 상이한 각도에서 포착된 토모신디사이즈 이미지는 유방암의 조기 형성을 검출하려고 연구되고 있다. 복수의 이미지들을 결합함으로써, 검출기에 평행하게 이미지화된 흉부에서의 어떤 평면이라도 재구성하는 것은 가능하다. 더 많은 개수의 이미지들이 이용되면 될수록, 재구성된 토모신디사이즈 이미지들에서의 더욱 더 양질의 이미지가 획득된다.
또한, 전리 방사선을 검출하는 다양한 라인 검출기들이 당업계에 공지되어 있다. 이러한 검출기는 순간적인 일차원 이미지를 제공하지만, 이차원 이미지는 일차원 검출기 어레이를 가로지르는 방향에서, 라인 검출기 그리고 선택적으로 방사선 소스를 스캔함에 의해서만 수행될 수 있다. 토모신디사이즈에서 이러한 검출기를 사용하는 것은 복수의 이미지들이 상이한 각도에서 포착되어야 하므로 매우 시간 소모적일 것이다.
그러므로, 본 발명의 주목적은 종래의 스캐닝 기반의 장치들 및 방법들을 이용함으로써 얻을 수 있는 것보다 더 고속으로 대상물의 토모신디사이즈 데이터를 얻는 스캐닝 기반의 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
이러한 관점에서, 대상물의 다수의 일차원 이미지를 다수의 일차원 검출기에 의해, 그리고, 대상물의 다수의 이차원 이미지를 스캐닝함으로써 순간적으로 기록할 수 있는 스캐닝 기반의 장치 및 스캐닝 기반의 방법을 제공하는데 특정 목적이 있는데, 여기에서, 상기 대상물의 각각의 일차원 이미지들은 상이한 각도에서 기록된다.
본 발명의 다른 목적은 대상물 위에 있는 다수의 일차원 검출기들을 스캐닝함으로써 대상물의 다수의 이차원 이미지들을 기록할 수 있는 스캐닝 기반의 장치 및 스캐닝 기반의 방법을 제공하는데 있는데, 여기에서, 상기 대상물의 각각의 이차원 이미지는 상이한 각도에서 기록되고, 상기 이차원 이미지들의 개수는 상기 일차원 검출기들의 개수보다 많다.
본 발명의 또 다른 목적은 복잡하지 않으면서도, 덮는 조직으로부터 높은 공간 분해능, 높은 신호대 잡음비, 높은 동적범위, 높은 이미지 선명도(명암대비도) 및 저잡음을 갖는 고양질의 이차원 토모신디사이즈 이미지를 생성할 수 있는 스캐닝 기반의 장치 및 스캐닝 기반의 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 신뢰성 있고, 정밀하며, 저렴한 스캐닝 기반의 장치 및 스캐닝 기반의 방법을 제공하는 것이다.
특히, 이들 목적은 첨부된 청구범위에 청구된 바와 같은 장치들 및 방법들에 의해 달성된다.
본 발명자들은 대칭축선 주위에 집중된 방사선을 방출하는 발산 방사선 소스와, 상기 발산 방사선 소스를 향하여 각각 방향이 잡혀져, 복수의 상이한 각도들의 각각의 각도에서 전파하는 방사선의 광선 번들이 검사될 대상물에 투과된 후에 라인 검출기에 입사하게 하는 일군의 라인 검출기를 포함하는 방사선 검출기를 제공함으로써, 각각의 라인 검출기들이 상이한 각도들의 각각의 각도에서 대상물에 투과됨에 따라 방사선의 라인 이미지를 기록하는 동안, 대상물에 관계가 있는 방사선 소스 및 방사선 검출기를 대칭축선에 직각인 방향에서 선형적으로 이동시킴으로써, 복수의 이차원 이미지들이 형성될 수 있다는 것을 알아냈는데, 여기서, 각각의 이차원 이미지는 라인 검출기들 중 단 하나의 검출기에 의해 기록됨에 따라 복수의 라인 이미지들로부터 형성된다.
그러므로, 상이한 각도에 있는 복수의 이차원 이미지들은 단일 스캔으로 생성되는데, 이것은 생성된 이차원 이미지들의 개수에 대응하는 인자만큼 검출시간을 감소시킨다.
바람직하게는, 하나의 디바이스가 대칭축선에 직각인 회전축선을 중심으로 방사선 검출기를 회전시키기 위해 준비되는데, 여기에서 상기 라인 검출기들은 회전 후, 발산 방사선 소스를 향하여 각각 방향이 잡혀지게 되어, 또 다른 복수의 상이한 각도들의 각각의 각도에서 전파하는 방사선의 광선 번들이 라인 검출기에 입사되게 하여서, 상기 이동시키는 디바이스가 대상물과 관계가 있는 발산 방사선 소스 및 방사선 검출기의 선형 이동을 반복하게 더 배열되는 한편, 각각의 라인 검출기는 또 다른 복수의 상이한 각도들의 각각의 각도에서 대상물에 투과됨에 따라 방사선의 또 다른 복수의 라인 이미지를 기록하기에 적합화되어 있다.
상기 디바이스로부터의 데이터는 토모신디사이즈 또는 라미노그래픽(laminographic) 이미징화에 사용되기에 우수하다.
라인 검출기들은 전적으로는 아니지만, 가스 기반의 평행한 평판 검출기를 사용하는 것이 바람직하다. 사용될 수 있는 기타의 라인 검출기들은 신틸레이터 기반의 어레이들, CCD 어레이들, TFT 및 CMOS 기반의 검출기들, 액체 검출기들 및 다이오드 어레이들, 예컨대 X-레이의 에지 상의 입사, 에지 상에 가까운 입사 또는 수직 입사를 갖는 핀-다이오드 어레이들을 포함한다. 시준기 구조는 산란된 X 레이들을 부분적으로 거부하기 위해 검출기들의 전방에 배열될 수 있다.
본 발명의 다른 특징 및 장점은 예시만을 위해 주어진 것이어서 본 발명을 제한하지 않은 이하에 주어진 본 발명의 바람직한 실시예의 상세한 설명 및 첨부한 도 1 내지 도 4로부터 명백해질 것이다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 대상물의 X-레이 검사용의 토모신디사이즈 데이터를 획득하기 위한 장치를 평면도로 개략적으로 예시하는 도면.
도 2a 내지 도 2c는 도 1의 장치에 의한 제 1 스캐닝 운동 시, 특정 X-레이 번들이 검사 대상물을 가로지름에 따른 상기 X-레이 번들을 평면도로 각각 개략적으로 예시하는 도면.
도 3a 내지 도 3c는 도 1의 장치에 의한 제 2 스캐닝 운동 시, 특정 X-레이 번들이 검사 대상물을 가로지름에 따른 특정 X-레이 번들을 평면도로 각각 개략적으로 예시하는 도면.
도 4는 라인 I-I를 따라 취해진 도 1의 라인 검출기의 단면을 개략적으로 예시하는 도면.
도 1의 장치는 대칭축선(3)(z축선에 평행) 주위에 집중된 X-레이(2)를 생성하는 발산 X-레이 소스(1), 시준기(4), 방사선 검출기(6) 그리고 상기 X-레이 소스(1)와, 상기 시준기(4)와, 상기 방사선 검출기(6)를 서로 견고하게 연결시켜, 상기 X-레이 소스(1)와, 상기 시준기(4)와, 상기 방사선 검출기(6)를 대칭축선(3)에 직 각인 방향(8)(전형적으로 x축선에 평행한 방향)으로 선형적으로 이동시켜서 검사되어야 할 대상물(5)을 스캔하는 디바이스(7)를 포함한다.
방사선 검출기(6)는 일군의 라인 검출기(6a)들을 포함하는데, 이 라인 검출기들 각각은 발산 방사선 소스(1)를 향하여 방향이 잡혀져, 방사선 검출기(6)의 전면에 대하여 복수의 상이한 각도(
Figure 112006000923969-PCT00001
1, ...,
Figure 112006000923969-PCT00002
n, ...
Figure 112006000923969-PCT00003
N)들의 각각의 각도에서 전파하는 방사선(2)의 각각의 광선 번들(b1, ..., bn, ..., bN)이 각각의 라인 검출기(6a)에 입사하게 한다. 라인 검출기(6a)들은 y 방향으로 확장하는 라인 이미지들을 기록하기 위해 y 방향으로 확장하고 있다.
시준기(4)는 에칭처리에 의해 형성된 좁은 방사선 통과 슬릿들을 갖는 예를 들면 텅스턴 재질의 박막일 수 있는데, 그 개수는 방사선 검출기(6)의 라인 검출기(6a)들의 개수에 대응한다. 상기 슬릿들은 라인 검출기(6a)들에 맞춰져서, 시준기(4)의 슬릿들을 통과하는 X-레이들이 검출기 유닛(6a)에, 즉 각각의 광선 번들(b1, ..., bn, ..., bN)로서 도달하게 할 것이다. 선택적인 시준기(4)는 라인 검출기(6a)에 곧바로 향하지 않게 방향이 잡힌 방사선이 대상물(5)에 충돌하는 것을 방지하여, 대상물에 대한 방사선량을 감소시킨다. 이것은 대상물이 인간 또는 동물, 또는 그 일부분인 경우의 모든 적용분야에 유용하다.
스캐닝 중, 디바이스(7)는 화살표(8)로 표시되어 있는 바와 같이, 전방의 방사선 검출기에 평행한 선형방식으로 대상물(5)과 관계가 있는 방사선 소스(1), 시준기(4) 및 방사선 검출기(6)를 이동시키는 한편, 각각의 라인 검출기(6a)들은 상 이한 각도(
Figure 112006000923969-PCT00004
1, ...,
Figure 112006000923969-PCT00005
n, ...,
Figure 112006000923969-PCT00006
N)들의 각각의 각도에서 대상물(5)에 투과되는 방사선의 복수의 라인 이미지를 기록한다.
대상물(5)의 스캐닝은 충분히 큰 길이를 가지고서 바람직하게 수행되어서, 이 각각의 라인 검출기(6a)들의 상이한 각도(
Figure 112006000923969-PCT00007
1, ...,
Figure 112006000923969-PCT00008
n, ...,
Figure 112006000923969-PCT00009
N)들의 각각의 각도에서 대상물(5)에 투과됨에 따라 방사선의 이차원 이미지를 각각의 라인 검출기(6a)들이 얻을 수 있게 라인 검출기(6a)들의 각각이 전체 대상물을 가로질러 스캔될 수 있게 한다.
도 2a 내지 도 2c에는, 도 1의 장치에 의한 스캐닝 시, 검사 대상물(5)을 가로지를 때의 3개의 상이한 X-레이 번들(b1, bn 및 bN)이 개략적으로 예시되어 있다. 참조부호 9는 x축선과 평행한 평면을 나타내는데, 이것은 스캐닝 방향(8) 및 방사선 검출기(6)의 전방과 일치한다.
도 2a 내지 도 2c에서 알 수 있는 바와 같이, 각각의 라인 검출기/X-레이 번들 쌍은 상이한 각도들에서 완전한 이차원 이미지를 생성한다. 도 2a는 각도
Figure 112006000923969-PCT00010
1에서 대상물에 투과된 방사선의 이차원 이미지의 형성을 예시하고, 도 2b는 각도
Figure 112006000923969-PCT00011
n이지만, 동일한 대상물에 투과된 방사선의 이차원 이미지의 형성을 예시하며, 도 2c는 각도
Figure 112006000923969-PCT00012
N이지만, 유사한 이차원 이미지의 형성을 예시한다.
바람직하게, 상이한 각도는 대상물 검사용의 고양질의 토모신디사이즈 데이터를 얻기 위해 검사의 적용 또는 종류에 따라 적어도 5°, 바람직하게는 적어도 10°, 가장 바람직하게는 적어도 15°의 각도 범위
Figure 112006000923969-PCT00013
N-
Figure 112006000923969-PCT00014
1 에 걸쳐 분포된다. 일군의 라인 검출기들에 있는 라인 검출기(6a)들의 개수는 상이한 각도에서 기록된 이미지들의 개수(검사 시에 요구됨)에 따라 적어도 3개, 바람직하게는 적어도 10개, 가장 바람직하게는 적어도 25개이다.
sl로 지시된 도 2a 내지 도 2c의 스캐닝 단계는 일차원 기록들로부터 형성된 이차원 이미지의 공간 분해능에 따른다. 전형적으로, 스캐닝 단계(sl)는 대략 10-500 미크론이 될 수 있고, 각각의 라인 검출기들의 개개의 검출요소들은 유사한 크기로 될 수 있다.
유용하게, 스캐닝 운동을 수행하는 디바이스(7), 또는 다른 디바이스(예시생략)는 방사선 소스(1), 시준기(4) 및 방사선 검출기(6)를 예컨대, 방사선 소스(1) 또는 기타 지점을 통과하고, 대칭축선(3)에 직각이며, 바람직하게는 y축선에 평행한 회전축선 주위의 각도(
Figure 112006000923969-PCT00015
) 만큼 회전시킨다. 각도(
Figure 112006000923969-PCT00016
)는 바람직하게 상이한 각도(
Figure 112006000923969-PCT00017
1, ...,
Figure 112006000923969-PCT00018
n, ...,
Figure 112006000923969-PCT00019
N 중 하나의 인접한 각도인 2개의 각도들 사이의 차보다 작다.
그러나, 방사선 소스(1)는, 라인 검출기(6a)가 회전 후, 방사선 소스(1)에 의해 방출된 방사선의 입체각 내에 머무르면, 회전 중 여전히 유지될 수 있다.
그 다음, 상기 이동하는 디바이스(7)는 제 2 스캔에서 대상물(5)과 관계가 있는 방사선 소스(1), 시준기(4) 및 방사선 검출기(6)의 선형 운동을 반복하는 한편, 각각의 라인 검출기는 또 다른 상이한 각도(
Figure 112006000923969-PCT00020
1+
Figure 112006000923969-PCT00021
, ...,
Figure 112006000923969-PCT00022
n+
Figure 112006000923969-PCT00023
, ...,
Figure 112006000923969-PCT00024
N+
Figure 112006000923969-PCT00025
) 들 각각의 각도에서 대상물(5)에 투과된 방사선의 또 다른 다수의 라인 이미지들을 기록한다.
도 3a 내지 도 3c에서는, 3개의 상이한 X-레이 번들(b1, bn 및 bN)이 도 1의 장치에 의한 제 2 스캐닝 운동 중, 검사 대상물(5)을 가로지를 때의 상기 3개의 상이한 X-레이 번들이 개략적으로 예시되어 있다. 참조부호 9는 도 2a에서와 같이, x축선과 평행한 평면을 나타내는데, 여기서는 이 평면은 회전으로 인해 스캐닝 방향(8)으로부터 및 방사선 검출기(2)의 전방으로부터 약간 편위되어 있다.
도 3a 내지 도 3c에서 알 수 있는 바와 같이, 각각의 라인 검출기/X-레이 번들 쌍은 상이한 각도들에서 완전한 이차원 이미지를 생성한다. 도 3a는 각도(
Figure 112006000923969-PCT00026
1+
Figure 112006000923969-PCT00027
)에서 대상물에 투과된 방사선의 이차원 이미지의 형성을 예시하고, 도 3b는 각도(
Figure 112006000923969-PCT00028
n+
Figure 112006000923969-PCT00029
)이지만, 동일한 대상물에 투과된 방사선의 이차원 이미지의 형성을 예시하며, 도 3c는 각도(
Figure 112006000923969-PCT00030
N+
Figure 112006000923969-PCT00031
)이지만, 유사한 이차원 이미지의 형성을 예시한다.
그러므로, 자체들 사이에서 약간의 회전을 갖는 2개의 선형 스캔은 상이한 각도(
Figure 112006000923969-PCT00032
1,
Figure 112006000923969-PCT00033
1+
Figure 112006000923969-PCT00034
, ...,
Figure 112006000923969-PCT00035
n,
Figure 112006000923969-PCT00036
n+
Figure 112006000923969-PCT00037
, ...,
Figure 112006000923969-PCT00038
N,
Figure 112006000923969-PCT00039
N+
Figure 112006000923969-PCT00040
)에서 2N의 이차원 이미지의 형성에 대비된 것이다. 유사하게, 회전 및 선형 스캐닝은 P회 반복되어 P×N의 이차원 이미지를 얻을 수 있다. 이러한 방식으로, 상이한 각도들에서의 다수의 이미지들은 한정된 개수의 라인 검출기를 사용함으로써 얻어질 수 있다. 이 결과, 저가의 방사선 검출기가 연장된 스캐닝 및 검사 시간을 희생하여 제공될 수 있다. 그러 나, 검사 중 대상물(5)에 대한 총 방사선량은 증가될 필요가 없다.
선택적으로, 또는 부가적으로, 회전은 상술한 종류의 선형 스캔들 사이에서 x축선과 평행한 회전축선 중심으로 수행될 수 있다.
상이한 각도들에서의 더 많은 이미지들이 제공되면 될수록, 재구성된 토모신디사이즈에서의 겹침 대상물들로부터 야기하는 노이즈가 더 작게 된다.
본 발명이 예컨대 유방 뢴트겐선 조영법(mammography) 검사 및 기타 연조직 검사를 포함하는 토모신디사이즈 또는 라미노그래픽(laminographic) 이미징 기법을 사용하는 어떤 종류의 검사에도 적용할 수 있는 것은 주의되어야 할 것이다.
본 발명에서 사용하기 위한 바람직한 라인 검출기는 전자 애벌런치 증폭기로 바람직하게 구비된 가스 기반의 평행한 평판 검출기이다. 이러한 가스 기반의 평행한 평판 검출기는 전리 검출기이며, 여기서, 방사선의 이온화에 의한 전리의 결과로서 자유롭게 된 전자들은 방사선의 방향에 수직인 방향으로 가속화된다.
도 1의 라인 I-I를 따라 취해진 도 1의 라인 검출기의 단면이 도 4에 개략적으로 예시되어 있다.
라인 검출기는 광선 번들의 입사를 위한 윈도우(30) 및 유전체 기판(28) 상에 배열되어 확장된 일렬의 각각의 도전성 검출기 소자인 스트립(27)을 포함한다. 바람직하게, 각각이 입사 방사선 광자를 개별적으로 검출할 수 있는 상기 도전성 검출기 소자인 스트립(27)들을, 또한 라인 검출기 내의 이온화 가능한 가스의 전리 중에 방출된 전자들을 끌어 당기도록 라인 검출기의 애노드라는 구성요소가 될 수도 있다. 바람직하게, 유전체 기판(28) 및 윈도우(30)는 이온화 가능한 가스로 채 워질 수 있는 기밀 구획부를 측벽(29, 31, 32) 및 도시생략된 유전체 캐소드 기판과 함께 구획 형성한다. 선택적으로, 라인 검출기는 외부의 기밀 케이스(도시생략) 내에 배열된다.
개개의 도전성 검출기/애노드 소자(27)는 y방향에 평행한 열의 상태에서 나란히 배열되어, xz 평면에 대한 각각의 각도(β1, ..., βm, ..., βM)을 한정하여서, 모든 검출기/애노드 소자(27)가 X-레이 소스(1) 쪽을 향하게 하여, 발산 방사선에 의해 야기된 어떠한 시차 에러도 회피한다는 것을 주의해야 한다. 그 결과, 상이한 검출기/애노드 소자(27)는 라인 검출기 내로 입사된 광선 번들의 상이한 각도 부분(β1, ..., βm, ..., βM)을 검출한다.
본 발명에서 사용하기 위한 이러한 종류의 가스 기반의 라인 검출기들에 관한 보다 상세한 설명을 위해, 톰 프랭크 등에 의해 출원되어 스웨덴의 XCounter AB에 양도된 이하의 미국 특허에 참조가 이루어지는데, 이 특허들이 즉, 특허번호 6,546,070; 6,522,722; 6,518,578; 6,118,125; 6,373,065; 6,337,482; 6,385,282; 6,414,317; 6,476,397; 및 6,477,223가 참조로서 본 명세서에 편입되어 있다.
특히, 이러한 종류의 검출기가 탄성 산란된 방사선(Compton scattered radiation)이 검출되는 것을 방지하는데 매우 유효하다는 것은 주목되어야 할 것이다. 이 특성은 고양질의 토모신디사이즈 데이터를 얻는데 가장 큰 중요성이 있다.
평행 평판들사이의, 즉 라인 검출기의 전극들 사이의 거리는 대략 2㎜ 이하, 바람직하게는 대략 1㎜ 이하, 더욱 바람직하게는 대략 0.5㎜ 이하, 가장 바람직하 게는 대략 0.1㎜ 내지 0.5㎜ 사이일 수 있다. XCounter AB는 최근에 실험적으로 라인 검출기의 탄성 산란 거부특성을 증명하기 시작했고, 고 에너지 X-레이들의 광폭 X-레이 스펙트럼을 이용하여 양질의 명암대비가 관찰되었으며, 이 상태에서 종래의 검출기 시스템은 어떤 구조도 전혀 보일 수 없었다. 상술한 가스 기반의 라인 검출기가 산란된 광자의 99% 이상을 식별한다고 생각되며, 그리고 적절한 설계에 의해, 산란된 광자의 대략 99.9% 이상이 검출되는 것이 방지될 수 있다고 생각된다.
그럼에도 불구하고, 어떤 다른 타입의 검출기가 본 발명에 사용될 수 있다는 것이 인식되어야 할 것이다. 이러한 라인 검출기들은 신틸레이터 기반의 어레이들, CCD 어레이들, TFT 및 CMOS 기반의 검출기들, 액체 검출기들 그리고 X-레이들의 에지 상의 입사, 에지 상에 가까운 또는 수직한 입사를 갖고 필요하다면 X-레이들을 부분적으로 거부하도록 전방에 시준기 구조를 가질 수 있는 일차원 핀-다이오드 어레이들과 같은 고체 상태 검출기들을 포함한다.
X-레이 소스(1), 시준기(4) 및 방사선 검출기(6)를 견고하게 연결하기 위한 디바이스(7)가 X-레이 소스(1), 시준기(4) 및 방사선 검출기(6)용 별개의 지바이스들(도시생략)로 교체될 수 있는데, 이 디바이스들은 상기 별개의 디바이스들의 동시적인 운동을 얻어서 유사한 스캐닝 운동을 얻을 수 있게 전기적으로 제어될 수 있다는 것이 또한 주의되어야 할 것이다. 또한, 도 1의 장치는 방사선 소스(1), 시준기(4) 및 방사선 검출기(6)가 휴지상태로 유지되는 동안 대상물(5)이 스캐닝 중에 이동되게 변형될 수 있다.
각각의 회전 동안 선형 스캔을 수행하는 대신, 선형 스캐닝이 단계적으로 수 행될 수 있고, 이러한 각각의 선형 스캐닝 단계에서, 측정이 상이한 회전 동안 이루어질 수 있다는 것은 또한 주의되어야 할 것이다. 그 결과는 동일하지만, 측정은 상이한 순서로 수행된다.
본 발명의 다른 실시예에서, 선형 스캐닝은 y 방향으로 수행되고, 선형 스캐닝들 사이의 회전은 x축선과 평행한 축선을 중심으로 수행된다는 것은 또한 주의되어야 할 것이다. 이것은 각각의 라인 검출기로부터의 하나의 검출기 스트립이 순간적인 일차원 이미지를 제공하므로, 군 상태에 있는 라인 검출기들 사이의 매우 짧은 거리를 요구한다. y 방향에서 하나의 완전한 스캔은 각각의 라인 검출기들의 각각의 검출기 스트립들이 완전한 대상물을 가로질러 이동되는 것을 수반한다. 각도(β1)를 갖고서 xz 평면에 경사진 복수의 라인 검출기들의 스트립들은 스캔 중 일차원 이미지를 기록하며, 인접한 스트립들은 상이한 각도에서 다른 이차원 이미지들을 기록한다. 제 1 스캔 후, 검출기는 x축선에 평행한 축선을 중심으로 각도(+
Figure 112006000923969-PCT00041
) 만큼 회전된다. 제 2 스캐닝 중, 복수의 라인 검출기들의 스트립들은 β1+
Figure 112006000923969-PCT00042
, ..., βm+
Figure 112006000923969-PCT00043
, ..., βM+
Figure 112006000923969-PCT00044
을 갖고서 xz 평면에 경사지게 된다. 그러므로, 자체들 사이에서 약간의 회전을 갖는 2개의 선형 스캔은 상이한 각도들(β1, β1+
Figure 112006000923969-PCT00045
, ..., βm, βm+
Figure 112006000923969-PCT00046
, ..., βM, βM+
Figure 112006000923969-PCT00047
)에서 2M의 이차원 이미지의 형성을 제공한다. 유사하게, 회전 및 선형 스캐닝은 P회 반복되어 P×M의 이차원 이미지를 얻을 수 있게 한다.

Claims (18)

  1. 대상물(5)의 토모신디사이즈 데이터를 얻는 스캐닝 기반의 장치로서,
    대칭축선(3) 주위에 집중된 방사선(2)을 방출하기 위해 제공된 발산 방사선 소스(1);
    상기 발산 방사선 소스를 향하여 각각 방향이 잡혀져, 복수의 상이한 각도(
    Figure 112006000923969-PCT00048
    1, ...,
    Figure 112006000923969-PCT00049
    n, ...,
    Figure 112006000923969-PCT00050
    N)들의 각각의 각도들에서 전파하는 상기 방사선의 광선 번들(b1, ..., bn, ..., bN)이 라인 검출기에 입사되게 하는 일군의 라인 검출기(6a)를 포함하는 방사선 검출기(6);
    상기 대상물을 수납하기 위해 상기 발산 방사선 소스와, 상기 방사선 검출기 사이의 방사선 통로에 배열된 대상물 영역; 및
    상기 각각의 라인 검출기가 상기 복수의 상이한 각도들의 각각의 각도에서 상기 대상물에 투과된 방사선의 복수의 라인 이미지를 기록하기에 적합화되어 있는 동안, 상기 대상물에 관계가 있는 상기 발산 방사선 소스 및 상기 방사선 검출기를 상기 대칭축선에 직각인 방향(8)에서 선형적으로 이동시키기 위해 제공된 디바이스(7)를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 방사선 검출기(6)를 상기 대칭축선(3)에 직각인 회전축선을 중심으로 각도(
    Figure 112006000923969-PCT00051
    )만큼 회전시키기 위해 제공된 디바이스를 포함하고, 상기 라인 검출기(6a)는 상기 회전 후, 상기 발산 방사선 소스를 향하여 각각 방향이 잡혀져, 또 다른 복수의 상이한 각도(
    Figure 112006000923969-PCT00052
    1+
    Figure 112006000923969-PCT00053
    , ...,
    Figure 112006000923969-PCT00054
    n+
    Figure 112006000923969-PCT00055
    , ...,
    Figure 112006000923969-PCT00056
    N+
    Figure 112006000923969-PCT00057
    )들의 각각의 각도에서 각각 전파하는 상기 방사선의 광선 번들이 상기 라인 검출기에 입사되게 하며,
    상기 이동시키기 위해 제공된 디바이스(7)는 상기 대상물과 관계가 있는 상기 발산 방사선 소스 및 상기 방사선 검출기의 선형 이동을 반복하게 더 배열되는 한편, 각각의 상기 라인 검출기는 상기 또 다른 복수의 상이한 각도(
    Figure 112006000923969-PCT00058
    1+
    Figure 112006000923969-PCT00059
    , ...,
    Figure 112006000923969-PCT00060
    n+
    Figure 112006000923969-PCT00061
    , ...,
    Figure 112006000923969-PCT00062
    N+
    Figure 112006000923969-PCT00063
    )들의 각각의 각도에서 상기 대상물에 투과된 방사선의 또 다른 복수의 라인 이미지를 기록하기에 적합화된 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 회전축선은 상기 발산 방사선 소스(1)를 통과하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  4. 제 2항 또는 제 3항에 있어서,
    상기 회전하는 디바이스는 상기 회전축선을 중심으로 상기 방사선 검출기(6)를 반복적으로 회전하기에 적합화되어, 상기 라인 검출기(6a)들이 각각의 상기 회전 후, 각각 상기 발산 방사선 소스를 향하여 방향이 잡혀져, 각각의 각도에서 전 파하는 상기 방사선의 광선 번들이 라인 검출기에 입사되게 하며,
    상기 이동시키기 위해 제공된 디바이스(7)는 각각의 상기 회전 후, 상기 대상물과 관계가 있는 상기 발산 방사선 소스 및 상기 방사선 검출기의 선형 이동을 반복시키기에 적합화되어 있는 한편, 각각의 상기 라인 검출기들은 각각의 각도에서 상기 대상물에 투과된 방사선의 라인 이미지를 기록하기에 적합화된 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  5. 제 2항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 라인 검출기는 상기 대칭축선(3)에 직각이면서 상기 방향(8)에 직각인 방향(y)으로 확장하는 라인 이미지를 검출하도록 방향이 잡혀져 있고, 상기 이동하는 디바이스(7)는 상기 대상물과 관계가 있는 상기 발산 방사선 소스 및 상기 방사선 검출기를 이동시키도록 제공되는 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 라인 이미지가 확장하고 있는 상기 방향(y)은 상기 회전축선과 평행한 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  7. 제 2항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 라인 검출기들은 상기 대칭축선(3)에 직각이면서 상기 방향(y)과 평행한 방향(y)으로 확장하는 라인 이미지를 검출하도록 방향이 잡혀져 있고, 상기 이 동하는 디바이스(7)는 상기 대상물과 관계가 있는 상기 발산 방사선 소스 및 상기 방사선 검출기를 이동시키도록 제공되며;
    상기 라인 이미지가 연장하고 있는 상기 방향(y)은 상기 회전축선(x)에 직각인 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  8. 제 1항 내지 제 7항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 복수의 상이한 각도들은 적어도 5°, 바람직하게는 적어도 10°, 가장 바람직하게는 적어도 15°의 각도 범위(
    Figure 112006000923969-PCT00064
    N 내지
    Figure 112006000923969-PCT00065
    1)에 걸쳐 분포된 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  9. 제 1항 내지 제 8항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 일군의 라인 검출기에 있는 라인 검출기(6a)의 개수는 적어도 3개, 바람직하게는 적어도 10개, 가장 바람직하게는 적어도 25개인 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  10. 제 1항 내지 제 9항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 이동하는 디바이스(7)는 상기 각각의 라인 검출기들이, 상기 복수의 상이한 각도들의 각각의 각도에서 상기 대상물에 투과된 방사선의 이차원 이미지를 얻도록, 전체 대상물을 가로질러 각각의 상기 라인 검출기를 스캐닝하기에 충분한 길이 만큼, 상기 대상물과 관계가 있는 상기 발산 방사선 소스 및 상기 방사선 검출기를 이동시키기에 적합화된 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  11. 제 1항 내지 제 10항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 발산 방사선 소스는 X-레이 소스(1)이고; 그리고,
    상기 라인 검출기는 각각 가스 기반의 전리 검출기(6a)이며,
    각각의 광선 번들에 의한 전리의 결과로서 자유롭게 된 전자들은 그 광선 번들의 방향에 수직인 방향으로 가속화되는 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 가스 기반의 전리 검출기는 전자 애벌런치 검출기(6a)인 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  13. 제 1항 내지 제 12항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 라인 검출기는 각각 다이오드 어레이, 신틸레이터 기반의 어레이, CCD 어레이, TFT 또는 CMOS 기반의 검출기, 또는 액체 검출기(6a) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  14. 제 1항 내지 제 13항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 방사선 소스 및 상기 대상물 영역 사이의 방사선 통로에 배열된 시준기 (4)를 포함하고,
    상기 시준기는 상기 라인 검출기를 향하여 방향이 잡혀있지 않은 방사선이 상기 대상물에 충돌하는 것을 방지하여, 상기 대상물에 대한 방사선량을 감소시키는 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 장치.
  15. 대칭축선(3) 주위에 집중된 방사선(2)을 방출하는 발산 방사선 소스(1); 및
    발산 방사선 소스를 향하게 각각 방향이 잡혀져, 복수의 상이한 각도(
    Figure 112006000923969-PCT00066
    1, ...,
    Figure 112006000923969-PCT00067
    n, ...,
    Figure 112006000923969-PCT00068
    N)들의 각각의 각도에서 전파하는 상기 방사선의 광선 번들(b1, ..., bn, ..., bN)이 라인 검출기에 입사되게 하는 일군의 라인 검출기(6a)를 포함하는 방사선 검출기(6)를 이용하여 대상물(5)의 토모신디사이즈 데이터를 얻는 스캐닝 기반의 방법으로서,
    상기 대상물을 상기 발산 방사선 소스 및 상기 방사선 검출기 사이의 방사선 통로 내에 배열하는 단계; 및
    상기 대상물과 관계가 있는 상기 발산 방사선 소스 및 상기 방사선 검출기를 상기 대칭축선에 직각인 방향(8)에서 선형으로 이동시킴과 동시에, 각각의 상기 라인 검출기에 의해, 상기 복수의 상이한 각도들의 각각의 각도에서 상기 대상물에 투과된 방사선의 복수의 라인 이미지를 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 방법.
  16. 제 15항에 있어서,
    상기 방사선 검출기(6)를 상기 대칭축선(3)에 직각인 회전축선을 중심으로 각도(
    Figure 112006000923969-PCT00069
    )만큼 회전시켜서, 상기 라인 검출기(6a)들이 상기 회전 후, 상기 발산 방사선 소스를 향하여 각각 방향이 잡혀져, 또 다른 복수의 상이한 각도(
    Figure 112006000923969-PCT00070
    1+
    Figure 112006000923969-PCT00071
    , ...,
    Figure 112006000923969-PCT00072
    n+
    Figure 112006000923969-PCT00073
    , ...,
    Figure 112006000923969-PCT00074
    N+
    Figure 112006000923969-PCT00075
    )들의 각각의 각도에서 전파하는 상기 방사선의 광선 번들이 상기 라인 검출기에 입사되게 하는 단계; 및
    상기 각각의 라인 검출기가 상기 또 다른 복수의 상이한 각도(
    Figure 112006000923969-PCT00076
    1+
    Figure 112006000923969-PCT00077
    , ...,
    Figure 112006000923969-PCT00078
    n+
    Figure 112006000923969-PCT00079
    , ...,
    Figure 112006000923969-PCT00080
    N+
    Figure 112006000923969-PCT00081
    )들의 각각의 각도에서 상기 대상물에 투과된 방사선의 또 다른 복수의 라인 이미지를 기록하도록 적합화되어 있는 동안, 상기 대상물과 관계가 있는 상기 발산 방사선 소스 및 상기 방사선 검출기의 선형 운동을 반복시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 방법.
  17. 제 16항에 있어서,
    상기 회전축선은 상기 발산 방사선 소스(1)를 통과하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 방법.
  18. 제 16항 또는 제 17항에 있어서,
    상기 이동시키는 단계는 각각의 상기 라인 검출기가, 상기 복수의 상이한 각 도들의 각각의 각도에서 상기 대상물에 투과된 방사선의 이차원 이미지를 얻도록, 전체 대상물을 가로질러 각각의 상기 라인 검출기를 스캐닝하기에 충분한 길이 만큼, 상기 대상물과 관계가 있는 상기 발산 방사선 소스 및 상기 방사선 검출기를 이동시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐닝 기반의 방법.
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DE (1) DE602004024681D1 (ko)
WO (1) WO2005002443A1 (ko)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009091198A2 (ko) * 2008-01-15 2009-07-23 Vatech Co.,Ltd 프레임방식의 영상획득장치 및 영상획득방법
KR101225173B1 (ko) * 2010-07-29 2013-01-22 마루엘에스아이 주식회사 간접변환방법을 이용한 라인타입 방사선 영상센서, 이로 이루어진 영상센싱유닛 및 이를 포함하여 이루어진 방사선 영상 촬영장치
KR20130118509A (ko) * 2012-04-20 2013-10-30 한국과학기술원 Ｘ-선 단층촬영 시스템 및 방법
KR101448889B1 (ko) * 2012-08-09 2014-10-13 아스텔 주식회사 엑스레이 이미지 촬영방법 및 이를 이용한 엑스레이 디텍터 시스템
KR102624602B1 (ko) 2023-07-10 2024-01-12 남영전설(주) 전기차 충전용 콘센트 상자

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7389517B2 (en) 2003-12-19 2008-06-17 Rce Emergis, Inc. Method and system for creating and providing a multi-tier network service using separated function and presentation components
US7180977B2 (en) * 2005-10-24 2007-02-20 Xcounter Ab Scanning-based detection of ionizing radiaion for tomosynthesis
US7302031B2 (en) * 2005-10-27 2007-11-27 Sectra Mamea Ab Method and arrangement relating to X-ray imaging
SE529702C8 (sv) * 2006-03-21 2007-11-27 Scanningsbaserad detektering av joniserande strålning medelst dubbla källor
JP4851296B2 (ja) * 2006-10-26 2012-01-11 富士フイルム株式会社 放射線断層画像取得装置および放射線断層画像取得方法
WO2009058092A1 (en) * 2007-11-01 2009-05-07 Sectra Mamea Ab X-ray detector
JP6487855B2 (ja) * 2014-01-23 2019-03-20 株式会社ジョブ Ｘ線検査装置及びｘ線検査方法
WO2017170408A1 (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 株式会社ジョブ Ｘ線検出システム、ｘ線装置、並びに、ｘ線検出データを処理する装置及び方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2476474A1 (fr) * 1980-02-22 1981-08-28 Radiologie Cie Gle Dispositif de tomodensitometrie et procede d'exploration et de reconstruction d'images utilisant un tel dispositif
US5032990A (en) * 1989-05-30 1991-07-16 General Electric Company Translate rotate scanning method for x-ray imaging
DE19905974A1 (de) * 1999-02-12 2000-09-07 Siemens Ag Verfahren zur Abtastung eines Untersuchungsobjekts mittels eines CT-Geräts
SE0000957D0 (sv) * 2000-02-08 2000-03-21 Digiray Ab Detector and method for detection of ionizing radiation

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009091198A2 (ko) * 2008-01-15 2009-07-23 Vatech Co.,Ltd 프레임방식의 영상획득장치 및 영상획득방법
WO2009091198A3 (ko) * 2008-01-15 2009-09-17 주식회사바텍 프레임방식의 영상획득장치 및 영상획득방법
KR100923101B1 (ko) * 2008-01-15 2009-10-22 주식회사바텍 프레임방식의 영상획득장치 및 영상획득방법
KR101225173B1 (ko) * 2010-07-29 2013-01-22 마루엘에스아이 주식회사 간접변환방법을 이용한 라인타입 방사선 영상센서, 이로 이루어진 영상센싱유닛 및 이를 포함하여 이루어진 방사선 영상 촬영장치
KR20130118509A (ko) * 2012-04-20 2013-10-30 한국과학기술원 Ｘ-선 단층촬영 시스템 및 방법
KR101448889B1 (ko) * 2012-08-09 2014-10-13 아스텔 주식회사 엑스레이 이미지 촬영방법 및 이를 이용한 엑스레이 디텍터 시스템
KR102624602B1 (ko) 2023-07-10 2024-01-12 남영전설(주) 전기차 충전용 콘센트 상자

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