KR20060005022A - Printed circuit board and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 인쇄 회로 기판 및 이의 제작 방법에 관한 것으로, 배리어막 패턴을 이용한 자기정렬 회로 및 돌기 형성공정을 통해 상하 층의 내부 회로가 금속 돌기를 통해 접속되는 인쇄회로 기판 및 이의 제작 방법을 제공한다. 여기서, 정렬 회로 및 돌기 형성공정은, 중심기판의 금속층 상에 내부 회로가 형성될 영역을 차폐하는 제 1 배리어막 패턴을 형성한 다음, 중심기판 양측면에 제 1 금속 도금층을 형성하고, 상기 제 1 금속 도금층 상에 선택적으로 상기 금속 돌기용 제 2 금속 도금층과 제 2 배리어막을 형성하고, 상기 제 1 배리어막 패턴과 상기 제 2 배리어막을 에칭 마스크로 하는 자기 정렬 에칭 공정을 실시하여 상기 제 1 금속 도금층 및 상기 금속층을 에칭하여 상기 금속돌기와 상기 내부 회로를 형성한 후, 상기 제 1 배리어막 패턴과 상기 제 2 배리어막을 제거한다. 이후에 절연층 및 동박을 적층한 다음, 절연층 및 동박이 적층된 기판을 중심기판으로 하는 자기 정렬 회로 및 돌기 형성공정을 계속적으로 실시하여 빌드업 다층 인쇄 회로 기판을 제공한다. The present invention relates to a printed circuit board and a method for manufacturing the same, and provides a printed circuit board and a method for manufacturing the same, in which internal circuits of upper and lower layers are connected through metal protrusions through a self-aligning circuit and a protrusion forming process using a barrier film pattern. . Here, in the alignment circuit and the protrusion forming process, the first barrier layer pattern is formed on the metal layer of the center substrate to shield the region where the internal circuit is to be formed, and then the first metal plating layers are formed on both sides of the center substrate. Selectively forming a second metal plating layer and a second barrier film for the metal projection on the metal plating layer, and performing a self-aligned etching process using the first barrier film pattern and the second barrier film as an etching mask to perform the first metal plating layer. And etching the metal layer to form the metal protrusion and the internal circuit, and then removing the first barrier layer pattern and the second barrier layer. Thereafter, the insulating layer and the copper foil are laminated, and then a self-aligning circuit and a projection forming step of using the substrate on which the insulating layer and the copper foil are laminated are continuously performed to provide a build-up multilayer printed circuit board.

이로써, 내부 회로와 구리 돌기를 동시에 형성할 수 있고, 구리 도금층을 한번에 두껍게 형성하지 않기 때문에 도금 편차를 없앨 수 있고, 구리 도금층이 식각되는 양을 줄일 수 있으며, 필요한 부분에 원하는 두께만큼의 도금층을 형성할 수 있고, 구리 돌기의 두께 및 폭을 목표로 하는 데로 쉽게 조절할 수 있다. 또한, 구리 돌기를 갖는 다층의 중심회로 기판의 제작시 재료비를 절감할 수 있어 비용절감을 할 수 있다. As a result, the internal circuit and the copper protrusions can be formed at the same time, since the copper plating layer is not formed thick at one time, the plating deviation can be eliminated, and the amount of etching of the copper plating layer can be reduced. Can be formed and can be easily adjusted to target the thickness and width of the copper protrusions. In addition, it is possible to reduce the material cost when manufacturing a multi-layered central circuit board having a copper projection can reduce the cost.

중심기판, 내부 회로, 구리 돌기, 다층 인쇄 회로 기판, 배리어막, 니켈 도금층, 구리 도금층, 자기 정렬 에칭공정Center Board, Internal Circuit, Copper Protrusion, Multilayer Printed Circuit Board, Barrier Film, Nickel Plating Layer, Copper Plating Layer, Self Alignment Etching Process

Description

인쇄 회로 기판 및 이의 제작 방법{Printed circuit board and Method of manufacturing the same}Printed circuit board and method of manufacturing the same

도 1a 내지 도 1l은 종래의 빌드업 다층 인쇄 회로 기판의 제작 방법을 설명하기 위한 단면도들이다. 1A to 1L are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a conventional build-up multilayer printed circuit board.

도 2는 도 1a 내지 도 1l의 제작 방법에 따라 형성된 다층 인쇄 회로 기판의 문제점을 설명하기 위한 단면도이다. 2 is a cross-sectional view illustrating a problem of a multilayer printed circuit board formed according to the manufacturing method of FIGS. 1A to 1L.

도 3a 내지 도 3f는 종래의 구리 돌기를 이용한 빌드업 다층 인쇄회로기판의 제작 방법을 설명하기 위한 단면도들이다. 3A to 3F are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a build-up multilayer printed circuit board using a conventional copper protrusion.

도 4a 내지 도 4d는 별도 제작된 구리 돌기를 압착하여 형성된 다층 인쇄회로판의 제작 방법을 설명하기 위한 단면도들이다. 4A to 4D are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a multilayer printed circuit board formed by pressing separately manufactured copper protrusions.

도 5a 내지 도 5i는 본 발명의 일 실시예에 따른 빌드업 다층 인쇄회로 기판의 제작방법을 설명하기 위한 단면도들이다. 5A to 5I are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a build-up multilayer printed circuit board according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 6 내지 도 9는 본 발명의 다른 일 실시예들을 설명하기 위한 단면도들이다. 6 to 9 are cross-sectional views for describing other exemplary embodiments of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

1, 30, 52, 100, 600, 700, 800, 900 : 중심기판1, 30, 52, 100, 600, 700, 800, 900: center board

2, 13, 18 : 도전층 3, 16, 100b : 관통구멍2, 13, 18: conductive layers 3, 16, 100b: through holes

4, 195 : 동박 5 : 충전체4, 195: copper foil 5: filler

6, 14, 200 : RCC 7, 56, 190 : 절연수지6, 14, 200: RCC 7, 56, 190: Insulation resin

8, 15 : 비아홀 11, 12 : 금속도금8, 15: via hole 11, 12: metal plating

17 : 도금층 20 : PSR17 plating layer 20 PSR

32, 54, 170, 615, 715, 810, 910 : 내부 회로32, 54, 170, 615, 715, 810, 910: internal circuit

34 : 무전해 화학동 42, 46 : 동판34: electroless chemical copper 42, 46: copper plate

36, 120, 160, 620, 720, 820 , 920: 니켈 도금층36, 120, 160, 620, 720, 820, 920: nickel plated layer

38, 130, 150, 610b, 710b, 730, 830, 930 : 구리 도금층38, 130, 150, 610b, 710b, 730, 830, 930: copper plating layer

40, 48, 58, 180, 630, 740, 840, 940 : 구리 돌기40, 48, 58, 180, 630, 740, 840, 940: copper protrusion

44 : 니켈판 50, 110, 140 : 감광막 패턴44 nickel plate 50, 110, 140 photosensitive film pattern

100a : 절연층 100c, 610a, 710a : 금속층100a: insulation layer 100c, 610a, 710a: metal layer

본 발명은 인쇄 회로 기판 및 이의 제작 방법에 관한 것으로, 특히, 전기도금에 의해 형성된 구리 돌기를 이용한 빌드업 다층 인쇄 회로 기판의 제조 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a printed circuit board and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a method for manufacturing a build-up multilayer printed circuit board using copper protrusions formed by electroplating.

인쇄 회로 기판은 현재 제조되고 있는 많은 분야의 전자제품이 가장 기초가 되는 부품으로서 휴대폰, 세탁기, TV, 시스템 보드인 라우터, 서버, 인공위성 및 자동차에도 적용되는 등 그 활용분야가 대단히 높다. 또한, 최근에는 보다 소형화 를 위한 고밀도의 다층 인쇄회로기판이 핸드폰, PCS, IMT 2000, 노트북, 팜탑, 캠코더등과 BGA(Ball grid array), CSP(Chip Scale Packaging), MCM(Multi Chip Module)등과 같은 반도체용 패키지 기판에 많이 적용되고 있다. 이하, 상술한 인쇄 회로 기판의 종래의 제작 방법을 도면을 참조하여 설명한다. Printed circuit boards are the most basic components of many electronic products currently manufactured, and are widely used in mobile phones, washing machines, TVs, system boards such as routers, servers, satellites, and automobiles. In addition, recently, high-density multilayer printed circuit boards for miniaturization include mobile phones, PCS, IMT 2000, notebooks, palmtops, camcorders, ball grid arrays (CGA), chip scale packaging (CSP), and multi chip modules (MCM). It is applied to many package substrates for the same semiconductor. Hereinafter, the conventional manufacturing method of the above-mentioned printed circuit board is demonstrated with reference to drawings.

도 1a 내지 도 1l은 종래의 빌드업 다층 인쇄 회로 기판의 제작 방법을 설명하기 위한 단면도들이다. 1A to 1L are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a conventional build-up multilayer printed circuit board.

도 1a 및 도 1b를 참조하면, 양면에 동박이 입혀져 있는 중심기판(1)을 사용한다. 중심기판(1)의 상면과 하면이 도전체층을 접속하기 위해 드릴로 관통구멍(3)을 뚫고 그 관통구멍(3)에 도금을 실시하여 구멍 내부에 동박(4)을 형성한다. 이로써, 상면과 하면의 동박이 접속된다. 이후, 관통 구멍(3) 내부를 절연체 성분의 충전재(5)로 매립한다. 이후, 상면 및 하면에 위치한 동박을 패터닝하여 제 1 도전체층(2)을 형성한다. 1A and 1B, a center substrate 1 having copper foil coated on both surfaces thereof is used. In order to connect the conductor layer, the upper and lower surfaces of the central substrate 1 drill a through hole 3 with a drill and plate the through hole 3 to form a copper foil 4 inside the hole. Thereby, the copper foil of an upper surface and a lower surface is connected. Thereafter, the inside of the through hole 3 is filled with the filler 5 of the insulator component. Thereafter, the copper foils located on the upper and lower surfaces are patterned to form the first conductor layer 2.

도 1c를 참조하면, 일면에 동박이 입혀져 있는 제 1 RCC(Resin Coated Copper Foil; 6)를 중심기판의 상하면에 압착하여 적층(Laminate)한다. 상기의 RCC는 동박의 일면에 접착성 절연수지(7)가 코팅된 것을 지칭한다. Referring to FIG. 1C, a first Resin Coated Copper Foil (RCC) 6 having copper foil coated on one surface thereof is pressed and laminated on the upper and lower surfaces of the center substrate. The RCC refers to an adhesive insulating resin 7 coated on one surface of the copper foil.

도 1d를 참조하면, 제 1 RCC(6 및 7)의 표면에 비아홀을 형성하기 위한 부분의 동박을 에칭하여 절연수지를 노출시킨다(도 1d의 A 영역 참조). Referring to FIG. 1D, the copper foil of the portion for forming the via holes on the surfaces of the first RCCs 6 and 7 is etched to expose the insulating resin (see region A in FIG. 1D).

도 1e를 참조하면, 레이져 드릴로 노출된 절연수지(7)를 제거하여 제 1 도전층(2)의 일부를 노출하는 제 1 비아홀(8)을 형성한다. Referring to FIG. 1E, the insulating resin 7 exposed by the laser drill is removed to form a first via hole 8 exposing a part of the first conductive layer 2.

도 1f 및 도 1g를 참조하면, 전체 구조상에 그 단차를 따라 무전해 도금 및 금속도금(11)을 실시한 다음 소정의 패터닝 공정을 실시하여 제 2 도전층(13)을 형성한다. 이로써, 제 1 비아홀(8)의 내부 영역에도 금속도금(12)이 이루어져 제 1 도전층(2)과 제 2 도전층(13)이 전기적으로 접속된다. 1F and 1G, the second conductive layer 13 is formed by performing electroless plating and metal plating 11 along the step on the entire structure and then performing a predetermined patterning process. As a result, the metal plating 12 is also formed in the inner region of the first via hole 8 so that the first conductive layer 2 and the second conductive layer 13 are electrically connected to each other.

도 1h를 참조하면, 상기의 도 1c 내지 도 1g에서 설명한 공정을 반복하여 제 2 비아홀(14)을 형성한다. 즉, 제 2 RCC(14)를 상하면에 형성된 제 1 RCC(6 및 7) 상에 압착하여 적층한다. 이를 통해 제 1 비아홀(8)이 매립된다. 소정의 에칭 공정을 실시하여 제 2 RCC(14)상의 동막을 제거하여 절연 수지를 노출시킨다. 레이져 드릴로 노출된 절연수지를 제거하여 제 2 도전층(13)의 일부를 노출하는 제 2 비아홀(15)을 형성한다.Referring to FIG. 1H, the second via hole 14 is formed by repeating the process described with reference to FIGS. 1C to 1G. That is, the second RCC 14 is compressed and laminated on the first RCCs 6 and 7 formed on the upper and lower surfaces thereof. As a result, the first via hole 8 is buried. A predetermined etching step is performed to remove the copper film on the second RCC 14 to expose the insulating resin. The insulating resin exposed by the laser drill is removed to form a second via hole 15 exposing a part of the second conductive layer 13.

도 1i를 참조하면, 층간 접속 및 부품의 실장을 위한 관통 구멍(16)을 소정의 드릴로 뚫는다. 즉, 상부 제 2 RCC(14), 상부 제 1 RCC(6), 중심기판(1), 하부 제 1 RCC(6) 및 하부 제 2 RCC(14)를 제거하여 관통 구멍(16)을 형성한다. Referring to FIG. 1I, a drill drills through holes 16 for interlayer connection and mounting of components. That is, the through hole 16 is formed by removing the upper second RCC 14, the upper first RCC 6, the central substrate 1, the lower first RCC 6, and the lower second RCC 14. .

도 1j 및 도 1k를 참조하면, 전체 구조상에 무전해 도금 및 금속도금을 실시하여 비아홀 및 관통구멍의 내부에 도금층(17)을 형성하고, 소정의 패터닝 공정을 실시하여 제 3 도전층(18)을 형성하고, 관통 구멍(16)내에 내부 도전층을 형성한다. 이로써, 제 2 도전층(13)과 제 3 도전층(18)간이 전기적으로 접속되고, 관통구멍(16)에 의해 전기적으로 연결된다. Referring to FIGS. 1J and 1K, the electroless plating and metal plating are performed on the entire structure to form a plating layer 17 inside the via hole and the through hole, and a predetermined patterning process is performed to form the third conductive layer 18. Is formed, and an inner conductive layer is formed in the through hole 16. Thereby, the 2nd conductive layer 13 and the 3rd conductive layer 18 are electrically connected, and are electrically connected by the through-hole 16. As shown in FIG.

도 1l을 참조하면, 제 3 도전층(18) 간의 절연수지 상에 PSR(솔더마스크; 20)을 형성한다.Referring to FIG. 1L, a PSR (solder mask) 20 is formed on an insulating resin between the third conductive layers 18.

상술한 방법을 통해 다층의 인쇄 회로 기판을 제조할 수 있었다. 하지만, 최 근 전자제품의 소형화, 경량화, 박형화에 따라 인쇄회로판의 비아홀들의 직경도 점점 감소하는 추세이다. 따라서, 미세 비아홀을 일반적인 무전해 및 전기 도금방식을 이용하여 도금할 경우에는, 비아홀의 종횡비가 높기 때문에 비아홀의 내측면을 도금하기가 어렵고, 도금이 된다고 하더라도 도금 밀착력등 신뢰도에 문제가 발생한다. Through the above-described method, a multilayer printed circuit board could be manufactured. However, as the size of electronic products has become smaller, lighter, and thinner, the diameter of via holes in printed circuit boards is gradually decreasing. Therefore, when the fine via holes are plated by using a general electroless and electroplating method, since the aspect ratio of the via holes is high, it is difficult to plate the inner surface of the via holes.

도 2는 도 1a 내지 도 1l의 제작 방법에 따라 형성된 다층 인쇄 회로 기판의 문제점을 설명하기 위한 단면도이다. 2 is a cross-sectional view illustrating a problem of a multilayer printed circuit board formed according to the manufacturing method of FIGS. 1A to 1L.

도 2를 참조하면, 동박을 구비하는 중심기판(1)을 사용한 빌드업 다층 인쇄회로기판의 제조공정에서는 기존의 동박(6)위에 무전해도금층(11a)과 전기도금층(11b)이 또다시 형성되므로 전체적으로 금속도체층의 두께가 두꺼워지게된다. 금속도체층의 두께가 두꺼워지게 되면 회로 패턴 제조를 위한 에칭 공정에서 미세한 회로 패턴을 제조할 수 없게 된다. 이는 에칭 공정에서 사용되는 에천트(etchant)가 일정한 에치 팩터(Etch Factor)를 가지므로 일정한 수준의 종횡비 이상으로 금속도체층을 에칭할 수 없기 때문이다. Referring to FIG. 2, in the manufacturing process of the build-up multilayer printed circuit board using the center board 1 having the copper foil, the electroless plating layer 11a and the electroplating layer 11b are formed on the existing copper foil 6 again. Therefore, the thickness of the metal conductor layer as a whole becomes thick. When the thickness of the metal conductor layer becomes thick, it is impossible to manufacture a fine circuit pattern in an etching process for manufacturing a circuit pattern. This is because the etchant used in the etching process has a constant etch factor, so that the metal conductor layer cannot be etched more than a certain aspect ratio.

또한, 비아홀의 하부 및 상부 영역에 비해 그 측벽에 도금된 도금층이 상대적으로 매우 얇다. 이로인해 측벽에 형성된 도금층(특히, 비아홀의 하부와 측벽영역의 경계면)에 소정의 크랙이 발생하여 전기적으로 단전되는 취약영역이 발생한다(도 2의 B영역 참조). In addition, the plating layer plated on the sidewall of the via hole is relatively very thin as compared to the lower and upper regions of the via hole. As a result, a predetermined crack is generated in the plating layer formed on the sidewall (particularly, the interface between the lower portion of the via hole and the sidewall region) to generate a weakly electrically disconnected region (see region B in FIG. 2).

또한, 상술한 방법에 의한 종래의 다층 인쇄 회로 기판은 ㎡ 당 수십만개 이상의 비아홀이 뚫어야 하기 때문에 가공속도가 매우 느려 생산성이 없는 문제점이 있다. 이를 해결하기 위해서는 설비투자비를 증가하여야 한다. In addition, the conventional multi-layer printed circuit board by the above-described method has a problem that there is no productivity because the processing speed is very slow because more than hundreds of thousands of via holes per m 2 must be drilled. To solve this problem, the capital investment cost should be increased.

또한, 앞서 설명한 바와 같이 제 1 비아홀을 형성한 다음, 비아홀이 형성되지 않는 상부영역에 제 2 비아홀을 형성하여야 한다(도 1h 참조). 즉, 다층의 도전층을 전기적으로 연결하기 위해서는 제 1 비아홀과 제 2 비아홀을 엇갈리게 형성하여야 한다. 이로인해 비아홀이 형성된 영역에는 소정의 회로 소자를 장착하지 못하기 때문에 다층의 인쇄 회로기판상에 소정의 회로를 제작함에 있어서 많은 제한이 있게된다. 즉, 면적 손실과 같은 문제점이 발생한다. In addition, as described above, after forming the first via hole, a second via hole should be formed in the upper region where the via hole is not formed (see FIG. 1H). That is, in order to electrically connect the multilayer conductive layers, the first via hole and the second via hole must be alternately formed. As a result, since a predetermined circuit element cannot be mounted in a region where a via hole is formed, there are many limitations in manufacturing a predetermined circuit on a multilayer printed circuit board. That is, problems such as area loss occur.

상술한 종래의 문제점을 해결하기 위해서 구리 돌기를 형성하여 상하 층간을 전기적으로 연결하는 AGP공정을 도입하였다. In order to solve the above-mentioned problems, an AGP process is formed in which copper protrusions are formed to electrically connect the upper and lower layers.

도 3a 내지 도 3f는 종래의 구리 돌기를 이용한 빌드업 다층 인쇄회로기판의 제작 방법을 설명하기 위한 단면도들이다. 3A to 3F are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a build-up multilayer printed circuit board using a conventional copper protrusion.

도 3a 및 도 3b를 참조하면, 양면에 동박이 입혀져 있는 중심기판(30)의 동박을 에칭하여 내부 회로(32)를 형성한다. Referring to FIGS. 3A and 3B, the internal circuit 32 is formed by etching the copper foil of the center substrate 30 on which copper foil is coated on both surfaces.

도 3c 및 도 3d를 참조하면, 내부 회로(32)가 형성된 중심기판(30)의 양면에 무전해 화학동(34)을 형성하고, 니켈을 이용한 전기도금을 실시하여 중심기판(30)의 양면에 니켈 도금층(36)을 형성한다. Referring to FIGS. 3C and 3D, the electroless chemical copper 34 is formed on both surfaces of the central substrate 30 on which the internal circuit 32 is formed, and electroplating using nickel is performed on both surfaces of the central substrate 30. The nickel plating layer 36 is formed in this.

도 3e를 참조하면, 구리를 이용한 전기도금을 실시하여 중심기판(30)의 양면에 구리 도금층(36)을 형성한다. 이때 구리 도금층(36)은 80 내지 100㎛의 두께로 형성한다. Referring to FIG. 3E, the copper plating layer 36 is formed on both surfaces of the center substrate 30 by electroplating using copper. At this time, the copper plating layer 36 is formed to a thickness of 80 to 100㎛.

도 3f를 참조하면, 내부 회로(32) 상부의 소정영역을 제외한 영역의 구리 도 금층(38)을 에칭하여 내부 회로(32)의 중심영역(30)에 구리 돌기(40)를 형성한 후, 니켈 도금층(36)과 무전해 도금층을 제거한다. 상술한 내부 회로 상에 구리 돌기가 형성된 중심기판 양면에 계속적인 적층 공정을 실시하여 다층 구조의 인쇄회로판을 제작할 수 있다. 이때, 각층간에 형성된 회로들의 전기적 연결은 구리 돌기를 통해 이루어진다. Referring to FIG. 3F, after the copper plating layer 38 in a region other than the predetermined region above the internal circuit 32 is etched, the copper protrusion 40 is formed in the center region 30 of the internal circuit 32. The nickel plating layer 36 and the electroless plating layer are removed. The multilayered printed circuit board may be manufactured by performing a lamination process on both surfaces of the central substrate on which the copper protrusions are formed on the internal circuit described above. At this time, the electrical connection of the circuits formed between each layer is made through a copper protrusion.

상술한 돌기를 이용한 방법을 통해서는 비아홀을 형성하지 않기 때문에 비아홀로 인한 문제를 해결할 수 있다. 하지만, 구리 돌기를 형성하기 위해서는 약 80㎛이상의 두께의 구리 도금층을 형성하기 때문에, 전체 구리 도금층 두께의 약 10 내지 20%에 해당하는 도금 오차가 발생하는 문제가 있다. 또한, 구리 돌기를 제외한 모든 영역의 구리 도금층을 제거하기 때문에, 구리 도금층의 손실이 많아지게 되어 제조 단가가 높아지는 단점이 있다. 또한, 고가의 무전해 화학 도금공정을 실시하여야 하는 문제점이 있었다. Since the via hole is not formed through the above-described protrusion, the problem caused by the via hole can be solved. However, in order to form a copper protrusion, since a copper plating layer having a thickness of about 80 μm or more is formed, there is a problem in that a plating error corresponding to about 10 to 20% of the thickness of the entire copper plating layer occurs. In addition, since the copper plating layers of all regions except for the copper protrusions are removed, the loss of the copper plating layers increases, resulting in an increase in manufacturing cost. In addition, there has been a problem that an expensive electroless chemical plating process should be performed.

또한, 비아홀을 형성함으로 인해 발생하는 문제를 해결하기 위해 구리 돌기가 형성된 구리판을 외부에서 별도로 제작한 다음 이를 내부 회로가 형성된 중심기판의 상하면에 압착하여 빌드업 다층 인쇄회로판을 제작할 수 있다. In addition, in order to solve the problems caused by the formation of via holes, a copper plate having copper protrusions may be manufactured separately from the outside, and then pressed on the upper and lower surfaces of the center board on which the internal circuits are formed, thereby manufacturing a build-up multilayer printed circuit board.

도 4a 내지 도 4e는 별도 제작된 구리 돌기를 압착하여 형성된 다층 인쇄회로판의 제작 방법을 설명하기 위한 단면도들이다. 4A to 4E are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a multilayer printed circuit board formed by pressing separately manufactured copper protrusions.

도 4a를 참조하면, 제 1 동판(42), 니켈판(44) 및 제 2 동판(46)이 순차적으로 적층된 소정의 도전성 판을 마련한다. 제 1 동판(42)은 후속 패터닝 공정을 통해 외부 회로가 될 도전성 동판이고, 제 2 동판(46)은 구리돌기가 형성될 도전성 동판이다. 따라서, 제 1 동판(42)은 얇게 형성하지만, 제 2 동판(46)은 약 100㎛ 두께로 형성한다. 또한, 니켈판(44)은 제 1 동판(42)과 제 2 동판(46)간의 패터닝시 각각의 판을 보호하기 위한 배리어 역할을 하는 막이다. Referring to FIG. 4A, a predetermined conductive plate in which the first copper plate 42, the nickel plate 44, and the second copper plate 46 are sequentially stacked is provided. The first copper plate 42 is a conductive copper plate to be an external circuit through a subsequent patterning process, and the second copper plate 46 is a conductive copper plate on which copper protrusions are to be formed. Therefore, the first copper plate 42 is formed thin, but the second copper plate 46 is formed to a thickness of about 100 μm. In addition, the nickel plate 44 is a film serving as a barrier for protecting each plate during patterning between the first copper plate 42 and the second copper plate 46.

도 4b를 참조하면, 제 2 동판(46)을 패터닝하여 구리돌기(48)를 형성한다. 상기 패터닝은 제 2 동판(46) 상에 리소 그라피 공정을 통해 감광막 패턴(50)을 형성한다. 상기 감광막 패턴(50)을 에칭마스크로 하는 에칭 공정을 실시하여 제 2 동판(46)을 제거하여 구리 돌기(48)를 형성한다. 소정의 스트립 공정을 실시하여 구리 돌기가 형성된 도전성 판을 마련한다. Referring to FIG. 4B, the second copper plate 46 is patterned to form a copper protrusion 48. The patterning forms the photoresist pattern 50 on the second copper plate 46 through a lithography process. An etching process using the photosensitive film pattern 50 as an etching mask is performed to remove the second copper plate 46 to form a copper protrusion 48. The predetermined strip process is performed to prepare a conductive plate having copper protrusions.

도 4c를 참조하면, 내부 회로(54)가 형성된 중심기판(52)을 마련한다. 즉, 양면에 동박이 입혀져 있는 중심기판(52)의 동박을 에칭하여 내부 회로(54)를 형성한다. Referring to FIG. 4C, a center substrate 52 having an internal circuit 54 is provided. That is, the internal circuit 54 is formed by etching the copper foil of the center substrate 52 on which copper foil is coated on both surfaces.

도 4d를 참조하면, 구리 돌기(48)가 형성된 도전성 판을 양면에 내부 회로(54)가 형성된 중심기판(52)에 압착되도록 한다. 이때, 도전성 판의 구리 돌기(58)와, 중심기판(52)의 내부회로(54)가 전기적으로 접속되도록 한다. 또한, 도전성 판과 중심회로 기판(52)사이를 절연성 수지(56)로 가득채운다. 이후, 도전성 판의 제 1 동판(42)을 패터닝 하여 외부 회로를 제작할 수 있다. Referring to FIG. 4D, the conductive plate on which the copper protrusions 48 are formed is pressed onto the center substrate 52 having the internal circuits 54 formed on both surfaces thereof. At this time, the copper protrusion 58 of the conductive plate and the internal circuit 54 of the center substrate 52 are electrically connected. Further, the insulating plate 56 is filled between the conductive plate and the center circuit board 52. Thereafter, the first copper plate 42 of the conductive plate can be patterned to produce an external circuit.

상술한 바와 같이 구리 돌기가 형성된 도전성 판을 무수히 압착하여 원하는 개수의 층을 갖는 인쇄회로기판을 제작할 수 있다. 하지만, 도전성 판과 중심기판을 압착함에 있어서, 조그마한 정렬오차가 발생할 경우 다층으로 적층된 회로기판전체가 불량이 되는 문제가 발생한다. 또한, 미리 만들어진 3층의 소정 판을 사용 하여야만 하므로 재료가 제한되고, 제작 단가가 높아지게 된다. As described above, the conductive plate on which the copper protrusions are formed may be pressed to produce a printed circuit board having a desired number of layers. However, in the crimping of the conductive plate and the center board, there is a problem that the entire circuit board laminated in a multilayer becomes defective when a small alignment error occurs. In addition, since the predetermined three-layer predetermined plate must be used, the material is limited, and the manufacturing cost increases.

따라서, 본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 자기 정렬 회로 및 돌기(Self-Align circuit and bump) 형성공정을 통해 다층의 중심기판의 양측면에 내부 회로패턴과 구리 돌기를 동시에 형성할 수 있고, 두꺼운 구리 도금층 형성시 발생하는 도금 오차를 방지할 수 있고, 구리 도금층의 막대한 손실을 미연에 방지할 수 있으며, 하부 회로패턴과 상부 구리 돌기간의 정렬 오차를 방지할 수 있는 빌드업 다층 인쇄 회로 기판 및 이의 제작 방법을 제공함을 그 목적으로 한다. Therefore, in order to solve the above problems, the present invention can simultaneously form internal circuit patterns and copper protrusions on both sides of the multi-layered central substrate through a self-aligning circuit and bump forming process. The build-up multilayer printed circuit board which can prevent the plating error occurring when the copper plating layer is formed, prevent the enormous loss of the copper plating layer in advance, and prevent the alignment error between the lower circuit pattern and the upper copper bump. Its purpose is to provide a method for producing the same.

본 발명에 따른 중심기판과, 상기 중심기판상에 형성된 적어도 한층의 내부 회로와, 상기 내부 회로 상에 형성된 적어도 한층의 배리어막 및 상기 배리어막상에 형성된 적어도 한층의 금속돌기를 포함하며, 상기 내부 회로와 금속돌기가 동시에 형성되는 인쇄 회로 기판을 제공한다. A central substrate according to the present invention, at least one internal circuit formed on the central substrate, at least one barrier film formed on the internal circuit and at least one metal protrusion formed on the barrier film, the internal circuit Provided is a printed circuit board on which a metal protrusion is formed.

또한, 배리어막 패턴을 이용하여 내부 회로와 금속돌기를 동시에 형성할 수 있는 자기정렬 회로 및 돌기 형성공정을 통해 상하 층의 내부 회로가 금속 돌기를 통해 접속되는 인쇄 회로 기판의 제작 방법을 제공한다. The present invention also provides a method of manufacturing a printed circuit board in which internal circuits of upper and lower layers are connected through metal protrusions through a self-aligning circuit and a protrusion forming process that can simultaneously form an internal circuit and a metal protrusion using a barrier film pattern.

상기에서, 상기 배리어막 패턴, 상기 내부 회로 및 상기 금속돌기는 적어도 한층으로 형성될 수 있다. The barrier layer pattern, the internal circuit, and the metal protrusion may be formed in at least one layer.

여기에서, 상기 자기 정렬 회로 및 돌기 형성공정은, 중심기판의 금속층 상에 내부 회로가 형성될 영역을 보호하는 제 1 배리어막 패턴을 형성하는 단계와, 제 1 배리어막 패턴이 형성된 상기 중심기판 양측면에 제 1 금속 도금층을 형성하는 단계와, 상기 제 1 금속 도금층 상에 선택적으로 제 2 배리어막을 형성하는 단계 및 상기 제 1 배리어막 패턴과 상기 제 2 배리어막을 에칭 마스크로 하는 자기 정렬 에칭 공정을 실시하여 상기 제 1 금속 도금층 및 상기 금속층을 에칭하여 상기 금속돌기와 상기 내부 회로를 형성하는 단계를 포함한다. The self-aligning circuit and the protrusion forming process may include forming a first barrier layer pattern on a metal layer of the central substrate, the first barrier layer pattern protecting a region where an internal circuit is to be formed, and both side surfaces of the central substrate on which the first barrier layer pattern is formed. Forming a first metal plating layer on the substrate, selectively forming a second barrier film on the first metal plating layer, and performing a self-aligned etching process using the first barrier film pattern and the second barrier film as an etching mask. By etching the first metal plating layer and the metal layer to form the metal protrusions and the internal circuit.

상기의 제 1 금속도금층을 형성하는 단계 후에, 상기 제 1 금속도금층 상에 선택적으로 상기 금속 돌기용 제 2 금속 도금층을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있으며, 또한, 상기 금속돌기와 상기 내부 회로를 형성하는 단계 후에, 상기 제 1 배리어막 패턴과 상기 제 2 배리어막을 제거하는 단계를 더 포함할 수도 있고, 뿐만 아니라 상기 금속돌기와 상기 내부 회로를 형성하는 단계 후에, 상기 내부 회로와 상기 금속 돌기가 형성된 상기 중심기판의 상하에 절연층 및 도체층을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다. After the forming of the first metal plating layer, the method may further include selectively forming the second metal plating layer for the metal protrusions on the first metal plating layer, and further, forming the metal protrusions and the internal circuit. The method may further include the step of removing the first barrier layer pattern and the second barrier layer, as well as after the forming of the metal protrusion and the internal circuit, the internal circuit and the metal protrusion formed thereon. The method may further include forming an insulating layer and a conductor layer above and below the center substrate.

상기 배리어막 패턴은 상기 내부회로 및 상기 구리돌기와의 에칭 특성이 다른 물질을 사용하는 것이 바람직하다. 그리고, 상기 제 1 및 제 2 금속 도금층 형성시 전기적 특성이 다른 물질을 사용할 수 있다. The barrier layer pattern may be formed of a material having different etching characteristics from the internal circuit and the copper protrusion. In addition, when the first and second metal plating layers are formed, materials having different electrical characteristics may be used.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 더욱 상세히 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described an embodiment of the present invention in more detail. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in various forms, and only the embodiments are intended to complete the disclosure of the present invention, and to those skilled in the art to fully understand the scope of the invention. It is provided to inform you. Like numbers refer to like elements in the figures.

본 발명의 자기 정렬 회로 및 돌기 형성공정은 동박상에 목표로 하는 회로 패턴과 동일한 패턴의 제 1 배리어막을 형성하고, 제 1 배리어막 상에 소정의 두께로 형성된 도금층 상에 목표로 하는 돌기와 동일한 패턴의 제 2 배리어막을 형성한 다음, 제 1 및 제 2 배리어막을 에칭마스크로 하는 에칭 공정을 통해 회로패턴과 돌기를 동시에 형성할 수 있는 공정을 지칭한다. 이때, 제 1 및 제 2 배리어막은 회로패턴 및 돌기와의 에칭 특성이 다른 물질을 사용한다. 여기서, 제 1 배리어막은 에칭 특성이 다른 도전성 물질을 사용할 수 있고, 제 2 배리어막은 에칭 특성이 다른 도전성 물질 또는 비 도전성 물질을 사용할 수 있다. The self-aligning circuit and the protrusion forming step of the present invention form a first barrier film having the same pattern as the target circuit pattern on the copper foil, and the same pattern as the target protrusion on the plating layer formed with a predetermined thickness on the first barrier film. After the formation of the second barrier film, the process refers to a process of simultaneously forming a circuit pattern and a projection through an etching process using the first and second barrier films as an etching mask. In this case, the first and second barrier films use materials different in etching characteristics from the circuit pattern and the protrusions. Here, the first barrier film may use a conductive material having different etching characteristics, and the second barrier film may use a conductive material or non-conductive material having different etching characteristics.

이하, 상술한 자기 정렬 회로 및 돌기 형성공정을 이용한 본 발명의 인쇄 회로 기판의 제작방법의 예를 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다. Hereinafter, an example of the manufacturing method of the printed circuit board of the present invention using the above-described self-aligning circuit and the protrusion forming step will be described in detail with reference to the drawings.

도 5a 내지 도 5i는 본 발명의 일 실시예에 따른 빌드업 다층 인쇄회로 기판의 제작방법을 설명하기 위한 단면도들이다. 5A to 5I are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a build-up multilayer printed circuit board according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5a를 참조하면, 상하면에 금속층(100c)이 형성된 중심기판(100)을 제작한다. 중심기판(100)으로 절연층(100a)을 중심으로 양면에 동이 입혀진 양면 동입힘 적층판을 사용한다. 또한, 중심기판(100)으로 양면, 다층의 기판을 사용할 수도 있다. 양면 동입힘 적층판에 소정의 관통홀을 형성하고, 관통홀의 내측벽에 소정의 도금층을 형성하여 상하의 금속층을 연결할 수 있다. 이후, 소정의 충전체(100b)로 관통구멍을 매립하여 상하의 금속층이 연결된 중심기판(100)을 제작할 수 있다. 상기의 금속층(100c)으로는 구리를 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 충전체로 (100b)는 잉크, 수지와 같은 절연성 물질을 사용하는 것이 바람직하다. Referring to FIG. 5A, a central substrate 100 having a metal layer 100c formed on upper and lower surfaces thereof is manufactured. As the center substrate 100, a double-sided copper clad laminate having copper coated on both surfaces of the insulating layer 100a is used. In addition, a double-sided or multi-layered substrate may be used as the central substrate 100. A predetermined through hole may be formed in the double-sided copper clad laminate, and a predetermined plating layer may be formed on the inner wall of the through hole to connect the upper and lower metal layers. Subsequently, the through hole may be filled with a predetermined filler 100b to manufacture the center substrate 100 to which the upper and lower metal layers are connected. It is preferable to use copper as said metal layer 100c. In addition, as the filler, it is preferable to use an insulating material such as ink and resin.

도 5b를 참조하면, 내부 회로가 형성될 영역에 제 1 니켈 도금층 패턴(120)을 형성한다. Referring to FIG. 5B, the first nickel plating layer pattern 120 is formed in a region where an internal circuit is to be formed.

이를 위해 먼저 중심기판(100)의 상부 및 하부면에 감광막을 도포한 다음, 소정의 마스크를 이용한 사진식각공정을 실시하여 제 1 감광막 마스크 패턴(110)을 형성한다. 사진 식각공정은 마스크를 이용한 노광 및 현상 공정을 지칭한다. 상술한 방법에 의해 형성된 제 1 감광막 마스크 패턴(110)은 내부 회로가 형성될 영역은 개방되고, 나머지 영역은 감광막에 의해 차폐된 패턴으로 형성된다. 제 1 감광막 마스크 패턴(110)을 도금 레지스트로 사용하는 니켈 도금 공정을 실시하여 제 1 감광막 마스크 패턴(110)에 의해 노출된 영역에 제 1 니켈 도금층(120)을 형성한다. 니켈 도금은 전기 도금 및 무전해 도금과 같은 다양한 표면 처리 방법을 이용하여 형성할 수 있다. 이와 같이 감광막 마스크 패턴을 이용하여 전체 중심기판(100)상에 니켈 도금층을 형성하지 않고, 목표로 하는 영역에만 효과적으로 제 1 니켈 도금층 패턴(120)을 형성할 수 있으며, 제 1 니켈 도금층 패턴(120)을 배리어막으로 이용하여 후속공정에서 구리 돌기와 내부 회로 패턴을 동시에 형성할 수 있게된다. 이에 상술한 이유로 인해 본 발명에서는 니켈뿐만 아니라 하부의 동박과의 식각차(에칭 특성차)를 갖는 어떠한 도전성의 물질을 사용할 수도 있다. 예를 들어 금속페이스트를 인쇄할 수도 있다. To this end, first, a photoresist film is coated on upper and lower surfaces of the center substrate 100, and then a photolithography process using a predetermined mask is performed to form the first photoresist mask pattern 110. Photolithographic etching refers to an exposure and development process using a mask. In the first photoresist mask pattern 110 formed by the above-described method, an area in which an internal circuit is to be formed is opened, and the remaining regions are formed in a pattern shielded by the photoresist film. A nickel plating process using the first photoresist mask pattern 110 as a plating resist is performed to form the first nickel plating layer 120 in an area exposed by the first photoresist mask pattern 110. Nickel plating can be formed using various surface treatment methods such as electroplating and electroless plating. As such, the first nickel plating layer pattern 120 may be effectively formed only on a target region without forming a nickel plating layer on the entire center substrate 100 using the photoresist mask pattern, and the first nickel plating layer pattern 120. ) Can be used as a barrier film to simultaneously form a copper protrusion and an internal circuit pattern in a subsequent step. For this reason, in the present invention, any conductive material having an etching difference (etching characteristic difference) not only with nickel but also with the lower copper foil may be used. For example, a metal paste may be printed.

이후, 소정의 스트립 공정을 통해 제 1 감광막 마스크 패턴(110)을 제거한다. Thereafter, the first photoresist mask pattern 110 is removed through a predetermined strip process.

도 5c를 참조하면, 하부의 제 1 니켈 도금층 패턴(120)이 형성된 중심기판(100) 상하면에 제 1 구리 도금층(130)을 형성한다. 제 1 구리 도금층(130)은 표면처리를 위한 다양한 도금공정을 통해 형성될 수 있고, 본실시예에서는 전기도금을 통해 형성되는 것이 바람직하다. 또한, 제 1 구리 도금층(130)은 후속공정을 통해 형성될 구리돌기의 전체 높이의 10 내지 90% 정도의 높이로 형성한다. 이로써, 구리돌기 전체를 한번의 도금과 식각을 통해 형성함으로 인한 구리 도금층의 손실과 식각의 어려움을 해결할 수 있다. 이로써, 비용절감을 할 수 있고, 도금 편차를 없앨 수 있다. Referring to FIG. 5C, a first copper plating layer 130 is formed on upper and lower surfaces of the central substrate 100 on which the lower first nickel plating layer pattern 120 is formed. The first copper plating layer 130 may be formed through various plating processes for surface treatment. In the present embodiment, the first copper plating layer 130 may be formed through electroplating. In addition, the first copper plating layer 130 is formed to a height of about 10 to 90% of the total height of the copper protrusion to be formed through a subsequent process. As a result, the loss of the copper plating layer and the difficulty of etching may be solved by forming the entire copper protrusion through one plating and etching. As a result, cost can be reduced and plating variation can be eliminated.

도 5d를 참조하면, 제 1 구리 도금층(130) 상부에 선택적으로 구리 돌기용 제 2 구리 도금층(150)과 제 2 니켈 도금층(160)을 형성한다. Referring to FIG. 5D, a second copper plating layer 150 and a second nickel plating layer 160 for copper protrusions are selectively formed on the first copper plating layer 130.

선택적으로 제 2 구리 도금층(150)과 제 2 니켈 도금층(160)을 형성하기 위해, 먼저 제 1 구리 도금층(130) 상부에 감광막을 도포한다. 소정의 감광막 마스크를 이용한 사진식각공정을 실시하여 제 2 감광막 마스크 패턴(140)을 형성한다. 제 2 감광막 마스크 패턴(140)은 구리 돌기가 형성될 영역의 제 1 구리 도금층(130)은 노출시키고 구리 돌기가 형성되지 않는 영역은 차폐한다. 또한, 제 2 감광막 마스크 패턴(140)에 의해 노출되는 영역은 목표로 하는 구리 돌기와 동일한 형상과 동일한 폭을 갖는다. In order to selectively form the second copper plating layer 150 and the second nickel plating layer 160, first, a photosensitive film is coated on the first copper plating layer 130. A photolithography process using a predetermined photoresist mask is performed to form a second photoresist mask pattern 140. The second photoresist mask pattern 140 exposes the first copper plating layer 130 of the region where the copper protrusion is to be formed and shields the region where the copper protrusion is not formed. In addition, the region exposed by the second photosensitive film mask pattern 140 has the same shape and the same width as the target copper protrusion.

제 2 감광막 마스크 패턴(140)을 도금 레지스트로 사용하는 도금공정을 실시하여 제 2 구리 도금층(150)을 형성한다. 제 2 구리 도금층(150)은 전기 도금공정을 통해 형성되는 것이 바람직하다. The second copper plating layer 150 is formed by performing a plating process using the second photoresist mask pattern 140 as a plating resist. The second copper plating layer 150 is preferably formed through an electroplating process.

이때, 제 1 및 제 2 구리 도금층(130 및 150)은 후속 공정을 통해 본 발명의 구리 돌기를 형성하게 된다. 이에 구리 돌기의 높이를 정한 다음, 앞서 설명한 바와 같이 제 1 구리 도금층(130)으로 10 내지 90% 정도 높이로 형성하였을 경우, 제 2 구리 도금층(150)은 90 내지 10%의 높이로 형성함으로써, 목표로 하는 높이의 구리 돌기를 형성하게 된다. 또한, 감광막 패턴의 높이와 도금편차와 같은 공정여건에 따라 제 1 및 제 2 도금층의 도금 높이가 다양하게 변화할 수 있다. 본 실시예에서는 제 1 구리 도금층(130)으로 전체 구리 돌기 높이의 50 내지 80%의 높이로 형성하고, 제 2 구리 도금층(150)으로 전체 구리 돌기 높이의 20 내지 50%의 높이로 형성하는 것이 바람직하다. 또한, 본 발명에서는 적어도 2번 이상의 구리 도금층을 형성하여 목표로 하는 구리 돌기를 형성할 수도 있다. 이에 관해서는 후술하도록 한다. 뿐만 아니라 제 2 구리 도금층을 형성하지 않고 한번의 도금을 통해서도 목표로 하는 구리 돌기를 형성할 수 있다. At this time, the first and second copper plating layers 130 and 150 form the copper protrusions of the present invention through a subsequent process. When the height of the copper protrusions is determined, and as described above, when the first copper plating layer 130 is formed to about 10 to 90% of the height, the second copper plating layer 150 is formed to a height of 90 to 10%, A copper bump of the target height is formed. In addition, the plating height of the first and second plating layers may vary in accordance with process conditions such as the height of the photoresist pattern and the plating deviation. In this embodiment, the first copper plating layer 130 is formed to have a height of 50 to 80% of the total copper protrusion height, and the second copper plating layer 150 is formed to have a height of 20 to 50% of the total copper protrusion height. desirable. In the present invention, at least two or more copper plating layers may be formed to form a target copper protrusion. This will be described later. In addition, the target copper protrusion can be formed through one plating without forming the second copper plating layer.

상술한 바와 같이 제 2 감광막 마스크 패턴(140)에 의해 노출된 구리 돌기 영역의 제 1 구리 도금층(130) 상에 제 2 구리 도금층(150)을 형성한 다음, 니켈 도금 공정을 실시하여 제 2 구리 도금층(150) 상에 제 2 니켈 도금층(160)을 형성한다. 본 발명에서는 니켈 도금층 뿐만 아니라 하부의 동막과의 식각 특성이 다른 도전성의 물질을 사용할 수도 있다.As described above, the second copper plating layer 150 is formed on the first copper plating layer 130 of the copper protrusion region exposed by the second photoresist mask pattern 140, and then a nickel plating process is performed to perform second copper plating. The second nickel plating layer 160 is formed on the plating layer 150. In the present invention, not only the nickel plating layer but also a conductive material having different etching characteristics from the copper film below may be used.

이와 같이 구리 돌기가 형성될 영역의 제 1 구리 도금층(130) 상에 제 2 구리 도금층(150)과 제 2 니켈 도금층(160)을 형성한 다음, 소정의 스트립 공정을 통해 제 2 감광막 마스크 패턴(140)을 제거한다. As such, after forming the second copper plating layer 150 and the second nickel plating layer 160 on the first copper plating layer 130 in the region where the copper protrusion is to be formed, the second photoresist mask pattern ( 140).

도 5e 및 도 5f를 참조하면, 제 1 및 제 2 니켈 도금층(120 및 160)을 에칭 마스크로 하는 제 1 에칭 공정을 실시하여 구리 돌기(180)와 내부 회로(170)를 형성한다. 노출된 제 1 및 제 2 니켈 도금층(120 및 160)을 제 2 에칭 공정을 통해 제거한다. Referring to FIGS. 5E and 5F, a first etching process using the first and second nickel plating layers 120 and 160 as an etching mask is performed to form a copper protrusion 180 and an internal circuit 170. The exposed first and second nickel plating layers 120 and 160 are removed through a second etching process.

상기의 제 1 에칭 공정은 제 1 및 제 2 니켈 도금층(120 및 160) 보다 제 1 및 제 2 구리 도금층(130 및 150)에 대한 식각특성이 다른(에칭 율이 각기 다른) 에천트를 이용하여 실시한다. 본 실시예에서는 제 1 에칭 공정의 에쳔트로 염화동을 이용한 에칭을 실시하되, 제 1 및 제 2 니켈 도금층(120 및 160)을 에칭 마스크즉, 배리어막으로 하여 제 1 니켈 도금층(120) 하부영역(즉, 구리 돌기가 형성될 영역)을 제외한 영역의 제 1 구리 도금층(130)을 제거하고, 제 2 니켈 도금층(160) 하부영역(즉, 내부 회로 영역)를 제외한 영역의 금속층(100c)을 제거함으로써, 제 1 및 제 2 구리 도금층(130 및 150)으로 이루어진 구리 돌기(180)를 형성하고, 내부 회로(170)를 형성한다. 이와 같이 본 발명은 기 형성된 배리어막을 이용하여 구리 돌기와 내부 회로를 동시에 형성할 수 있다. The first etching process uses an etchant having a different etching rate (different etching rate) for the first and second copper plating layers 130 and 150 than the first and second nickel plating layers 120 and 160. Conduct. In the present exemplary embodiment, etching is performed using copper chloride as an etchant of the first etching process, but the first and second nickel plating layers 120 and 160 are used as etching masks, that is, barrier layers. That is, the first copper plating layer 130 except for the region where the copper protrusions are to be formed is removed, and the metal layer 100c is removed except for the lower region of the second nickel plating layer 160 (that is, the internal circuit region). As a result, the copper protrusions 180 formed of the first and second copper plating layers 130 and 150 are formed, and the internal circuit 170 is formed. As described above, the present invention can simultaneously form the copper protrusion and the internal circuit using the pre-formed barrier film.

이후 제 2 에칭 공정을 실시하여 구리 돌기(180) 상부에 잔류하는 제 1 니켈 도금층(120)과 내부 회로(170) 상에 노출된 제 2 니켈 도금층(160)의 일부를 제거한다. 제 2 에칭 공정은 제 1 및 제 2 구리 도금층(130 및 150) 보다 제 1 및 제 2 니켈 도금층(120 및 160)에 대한 에칭 특성이 다른 에천트를 이용하되, 본 실시예에서는 염화철을 이용하는 것이 바람직하다. 물론 제 2 에칭 공정을 실시하지 않고 다음 공정을 진행 할 수 있다. Thereafter, a second etching process is performed to remove a portion of the first nickel plating layer 120 remaining on the copper protrusion 180 and the second nickel plating layer 160 exposed on the internal circuit 170. The second etching process uses an etchant having different etching characteristics for the first and second nickel plating layers 120 and 160 than the first and second copper plating layers 130 and 150, but in this embodiment, iron chloride is used. desirable. Of course, the next step can be performed without performing the second etching step.

본 발명에서는 상술한 각공정의 단계마다 소정의 세정공정을 함께 실시할 수도 있다. 이 뿐만 아니라, 이때, 각각의 구리 도금층내에 전기적 특성이 다른 금속을 주입하여 목적하는 특성의 수동소자(R, L, C)를 제조할 수 있다. In the present invention, a predetermined washing step may be performed together for each step of the above-described steps. In addition, at this time, the passive element (R, L, C) of the desired characteristics can be manufactured by injecting a metal having different electrical characteristics into each copper plating layer.

도 5g를 참조하면, 내부 회로(170)와 구리 돌기(180)가 형성된 중심기판(100)의 상하에 RCC(200)을 적층한다. Referring to FIG. 5G, the RCC 200 may be stacked above and below the center substrate 100 on which the internal circuit 170 and the copper protrusion 180 are formed.

상기의 RCC(200)는 동박(195)의 일면에 접착성 절연수지(190)가 코팅된 것을 지칭한다. 소정의 압착공정을 통해 중심기판(100)의 상하면에 RCC(200)를 적층하되, RCC(200)표면의 상부 동박(195)과 구리 돌기(180)가 전기적 및 물리적으로 접속되도록 한다. The RCC 200 refers to an adhesive insulating resin 190 coated on one surface of the copper foil 195. The RCC 200 is stacked on the upper and lower surfaces of the central substrate 100 through a predetermined crimping process, and the upper copper foil 195 and the copper protrusion 180 on the surface of the RCC 200 are electrically and physically connected.

이후, 상술한 도 5b 및 도 5f에서 설명한 공정을 계속적으로 반복 적용하여 다층의 내부 회로(250) 및 이들을 연결하는 구리 돌기(240)를 형성할 수 있다. Subsequently, the process described above with reference to FIGS. 5B and 5F may be repeatedly applied to form a multilayer internal circuit 250 and a copper protrusion 240 connecting them.

즉, 도 5h 및 도 5i에서와 같이 RCC(200)의 동박 상에 제 3 니켈 도금층 패턴(210)을 형성한 다음, 그 상부에 제 3 구리 도금층(220)을 형성한다. 제 3 구리 도금층(220) 상에 제 4 구리 도금층 패턴(230)을 형성하고, 그 상부에 제 4 니켈 도금층 패턴(미도시)을 형성한다. 이후 에칭 공정을 실시하여 제 3 및 제 4 니켈 도금층(210) 하부를 제외한 영역의 제 3 및 제 4 구리 도금층(220 및 230)을 에칭하고, RCC(200) 상의 동박(195)을 에칭하여 상부 구리 돌기(180)와 상부 내부 회로(250)를 형성한다. 이후, 잔류하는 제 3 및 제 4 니켈 도금층(210)을 제거한다. 이로써, 내부 회로(170)와 상부 내부 회로(250)가 구리 돌기(180)에 의해 접속되고, 그 상부에 상부 구리 돌기(240)가 형성된다. 또한, 상부 구리 돌기(240)는 RCC 층( 미도시)을 한층 더 적층할 경우 그 상부의 회로와 접속된다.That is, as shown in FIGS. 5H and 5I, a third nickel plating layer pattern 210 is formed on the copper foil of the RCC 200, and then a third copper plating layer 220 is formed thereon. A fourth copper plating layer pattern 230 is formed on the third copper plating layer 220, and a fourth nickel plating layer pattern (not shown) is formed thereon. Thereafter, an etching process is performed to etch the third and fourth copper plating layers 220 and 230 except for the lower portions of the third and fourth nickel plating layers 210, and to etch the copper foil 195 on the RCC 200. The copper protrusion 180 and the upper internal circuit 250 are formed. Thereafter, the remaining third and fourth nickel plating layers 210 are removed. As a result, the internal circuit 170 and the upper internal circuit 250 are connected by the copper protrusion 180, and the upper copper protrusion 240 is formed thereon. In addition, the upper copper protrusion 240 is connected to a circuit thereon when further stacking an RCC layer (not shown).

상술한 바와 같이 본 발명은 니켈 도금층을 에칭 마스크로 이용하여 구리 돌기와 내부 회로를 동시에 형성할 수 있고, 전체 구조상에 제 1 구리도금과 마스크를 이용한 선택적 구리 도금을 실시하여 구리 돌기 형성시 구리도금층의 에칭량을 줄일 수 있다. As described above, the present invention can simultaneously form a copper protrusion and an internal circuit by using a nickel plating layer as an etching mask, and perform selective copper plating using a first copper plating and a mask on the entire structure to form a copper protrusion when forming a copper protrusion. The etching amount can be reduced.

뿐만 아니라 본 발명의 자기 정렬 회로 및 구리 돌기 형성공정을 응용하여 구리 돌기의 형상(높이, 폭, 적층되는 막의 개수등등)을 매우 다양하게 제조할 수 있다. 예를 들어, 다수의 구리도금층이 적층된 형태의 구리 돌기를 형성할 수도 있고, 또한, 계단형의 단차를 갖는 모양의 구리 돌기를 형성할 수 있고, 그 폭이 종래에 비해 얇게 형성할 수 있다. 또한, 상술한 공정을 통해 완정된 빌드업 다층 인쇄 회로 기판상에 소정의 PSR을 형성할 수도 있다. In addition, by applying the self-aligning circuit and the copper protrusion forming process of the present invention, it is possible to manufacture a variety of shapes of the copper protrusions (height, width, the number of laminated films, etc.). For example, it is possible to form a copper protrusion in which a plurality of copper plating layers are laminated, or to form a copper protrusion having a stepped step, and the width thereof can be formed thinner than in the prior art. . In addition, a predetermined PSR may be formed on the build-up multilayer printed circuit board completed through the above-described process.

도 6 내지 도 9는 본 발명의 다른 일 실시예들을 설명하기 위한 단면도들이다. 6 to 9 are cross-sectional views for describing other exemplary embodiments of the present invention.

도 6을 참조하면, 본 발명은 중심기판(600)의 금속층(610a)과 그 상부에 별도의 금속도금층(610b)을 형성한 다음, 그 상부에 본 발명의 자기 정렬 회로 및 구리 돌기 형성공정을 실시하여 한층 구리 도금층으로 이루어진 구리 돌기(630)와 두층의 금속층으로 이루어진 내부 회로(615)를 형성할 수 있다. Referring to FIG. 6, the present invention forms a metal layer 610a of the central substrate 600 and a separate metal plating layer 610b thereon, and then forms a self-aligning circuit and a copper protrusion forming process thereon. In this case, the copper protrusion 630 made of a single copper plating layer and the internal circuit 615 made of two metal layers may be formed.

즉, 중심기판(600)의 금속층(610a) 상에 도금 공정을 통해 금속도금층(610b)을 형성한다. 금속도금층(610b) 상부 중 내부 회로가 형성될 영역에 제 1 니켈 도금층 패턴(620)을 형성한다. 상기의 제 1 니켈 도금층 패턴(620)은 도 5에서 설명 한 바와 같이 감광막 패턴을 이용하여 선택적으로 니켈 도금층을 형성한다. 이후, 전체 구조상에 구리 도금층을 형성하고, 그 상부에 구리 돌기가 형성될 영역에 제 2 니켈 도금층 패턴(미도시)을 형성한다. 제 2 니켈 도금층 패턴 또한 제 1 니켈 도금층 패턴(620)과 동일한 방법으로 형성할 수 있다. 이후, 제 1 및 제 2 니켈 도금층(620)을 에칭 마스크로 하는 자기정렬 에칭을 실시하여 구리 도금층, 금속층(610a)과 금속도금층(610b)을 식각한 다음, 노출된 제 1 및 제 2 니켈 도금층(620)을 제거하여 구리 돌기(630)와 내부 회로(615)를 형성한다. 이때, 구리 도금층은 도 5에서 설명한 바와 같이 감광막을 이용하여 구리 돌기가 형성될 영역에만 선택적으로 형성하여 구리 돌기(630)를 형성할 수 있다. 즉, 구리 도금층 패턴과 그 상부에 제 2 니켈 도금층 패턴을 형성한 다음, 자기 정렬 에칭 공정을 통해 금속층(610a)과 금속도금층(610b)을 식각하여 구리 돌기(630) 하부에 다수의 금속층으로 이루어진 내부 회로(615)을 형성할 수 있다. That is, the metal plating layer 610b is formed on the metal layer 610a of the center substrate 600 through a plating process. The first nickel plating layer pattern 620 is formed in the region where the internal circuit is to be formed on the metal plating layer 610b. As described above with reference to FIG. 5, the first nickel plating layer pattern 620 forms a nickel plating layer using a photosensitive film pattern. Subsequently, a copper plating layer is formed on the entire structure, and a second nickel plating layer pattern (not shown) is formed in a region where a copper protrusion is to be formed thereon. The second nickel plating layer pattern may also be formed in the same manner as the first nickel plating layer pattern 620. Thereafter, self-aligned etching using the first and second nickel plating layers 620 as an etching mask is performed to etch the copper plating layer, the metal layer 610a and the metal plating layer 610b, and then the exposed first and second nickel plating layers. 620 is removed to form a copper protrusion 630 and an internal circuit 615. In this case, the copper plating layer may be selectively formed only in a region where the copper protrusion is to be formed using the photosensitive film as described with reference to FIG. 5 to form the copper protrusion 630. That is, after forming the copper plating layer pattern and the second nickel plating layer pattern thereon, the metal layer 610a and the metal plating layer 610b are etched through a self-aligned etching process to form a plurality of metal layers under the copper protrusion 630. Internal circuits 615 may be formed.

이 뿐만 아니라, 제 2 니켈 도금층 대신 포지티브 포토 레지스트를 이용할 수 있다. 이를 통해 제 2 니켈 도금층을 도금하기 위한 공정과, 제 2 니켈 도금층을 제거하기 위한 공정을 생략할 수 있다. 즉, 상술한 바와 같이 구리 도금층을 형성한 다음, 그 상부에 포지티브 포토 레지스트를 이용한 감광막 패턴을 형성한다. 상기의 포지티브 포토 레지스트 특성상 빛에 노광된 영역이 잔류하게 되어, 이를 이용한 감광막 패턴은 앞서 설명한 제 2 니켈 도금층과 동일한 패턴으로 형성된다(구리 돌기 영역 차폐). 다음으로, 감광막 패턴과 제 1 니켈 도금층(620)을 에칭 마스크로 하는 자기 정렬 에칭 공정을 실시하여 구리 돌기(630)와 내부 회로(615) 를 형성할 수 있다. 이후, 소정의 스트립 공정을 통해 감광막 패턴을 제거한다. 이와 같이 포지티브 포토 레지스트를 이용한 감광막 패턴을 통해 빌드업 다층 인쇄회로 기판의 제작 공정을 단순화 할 수 있고, 제작 비용을 줄일 수 있다. In addition to this, a positive photoresist may be used instead of the second nickel plating layer. As a result, a process for plating the second nickel plating layer and a process for removing the second nickel plating layer may be omitted. That is, after forming a copper plating layer as described above, a photosensitive film pattern using a positive photoresist is formed thereon. Due to the positive photoresist characteristic, the region exposed to light remains, and the photoresist pattern using the same is formed in the same pattern as the second nickel plating layer described above (copper protrusion region shielding). Next, a self-aligned etching process using the photosensitive film pattern and the first nickel plating layer 620 as an etching mask may be performed to form the copper protrusion 630 and the internal circuit 615. Thereafter, the photoresist pattern is removed through a predetermined strip process. As described above, the photoresist pattern using the positive photoresist may simplify the manufacturing process of the build-up multilayer printed circuit board and reduce the manufacturing cost.

도 7을 참조하면, 다층의 금속층으로 이루어진 내부 회로(715)와 그 상부에 다층의 구리 도금층으로 이루어진 구리 돌기(740)를 형성할 수 있다.Referring to FIG. 7, an inner circuit 715 made of a multilayer metal layer and a copper protrusion 740 made of a multilayer copper plating layer may be formed thereon.

여기에서 내부 회로(715)와 구리 돌기(740)는 자기 정렬 공정을 통해 동시에 형성되지만, 이를 구성하는 각각의 금속층과 구리 도금층은 다양한 방법으로 형성되고 에칭될 수 있다. 예를 들어 금속층(710a)이 형성된 중심기판(700)의 양면에 금속 도금층(710b)을 형성하고, 그 상부에 제 1 니켈 도금층 패턴(720)을 형성한다. 전체 구조상에 제 1 및 제 2 구리 도금층(730a 및 730b)을 형성하고, 그 상부에 감광막 패턴을 이용한 제 3 구리 도금층(730c)을 형성한다. 이후 제 3 구리 도금층(730c) 상에 제 2 니켈 도금층 패턴(미도시)을 형성한다. 이후 제 1 및 제 2 니켈 도금층(720)을 에칭 마스크로 하는 자기 정렬 에칭공정을 통해 제 1 내지 제 3 구리 도금층(730a 내지 730c)을 에칭하여 구리 돌기(740)를 형성하고, 금속도금층(710b)과 금속층(710a)을 에칭하여 내부 회로(715)를 형성한다. 이후, 잔류하는 니켈 도금층을 제거한다. 물론 이에 한정되지 않고, 제 1 내지 제 3 구리 도금층(730a 내지 730c)은 하나의 도금층으로 형성할 수 있다. 이를 위해 제 1 니켈 도금층 패턴(720) 상에 감광막 패턴을 두껍게 형성한다. 감광막 패턴은 구리 돌기가 형성된 영역의 제 1 니켈 도금층 패턴(720)을 개방하도록 형성한다. 개방된 제 1 니켈 도금층(720) 상에 구리 도금층을 선택적으로 형성할 수 있다. 이로써, 구리 돌 기(740)를 형성할 수 있다. 또한. 구리 도금층 상에 제 2 니켈 도금층을 형성한 다음 감광막 패턴을 제거하고, 자기 정열 에칭 공정을 실시하여 내부 회로를 형성할 수도 있다. 또한, 제 1 구리 도금층(730a)을 제 1 니켈 도금층(720)이 형성된 중심 기판(700)상에 도금한 다음, 감광막 패턴을 이용하여 구리 돌기(740)가 형성될 영역에 선택적으로 제 2 및 제 3 구리 도금층(730b 및 730c)을 형성할 수도 있다. 물론 이뿐만 아니라 다양한 공정의 순서와 방법이 적용될 수 있다. Here, the internal circuit 715 and the copper protrusion 740 are simultaneously formed through a self-aligning process, but each metal layer and the copper plating layer constituting the same may be formed and etched in various ways. For example, the metal plating layer 710b is formed on both surfaces of the central substrate 700 on which the metal layer 710a is formed, and the first nickel plating layer pattern 720 is formed thereon. First and second copper plating layers 730a and 730b are formed on the entire structure, and a third copper plating layer 730c using a photosensitive film pattern is formed thereon. Thereafter, a second nickel plating layer pattern (not shown) is formed on the third copper plating layer 730c. Thereafter, the first to third copper plating layers 730a to 730c are etched through a self-aligned etching process using the first and second nickel plating layers 720 as etching masks to form the copper protrusions 740, and the metal plating layer 710b. ) And the metal layer 710a are etched to form the internal circuit 715. Thereafter, the remaining nickel plating layer is removed. Of course, the present invention is not limited thereto, and the first to third copper plating layers 730a to 730c may be formed of one plating layer. To this end, a thick photoresist pattern is formed on the first nickel plating layer pattern 720. The photosensitive film pattern is formed to open the first nickel plating layer pattern 720 in the region where the copper protrusion is formed. A copper plating layer may be selectively formed on the open first nickel plating layer 720. As a result, the copper protrusions 740 may be formed. Also. After forming the second nickel plating layer on the copper plating layer, the photosensitive film pattern may be removed, and an internal circuit may be formed by performing a self alignment etching process. In addition, after the first copper plating layer 730a is plated on the center substrate 700 on which the first nickel plating layer 720 is formed, the second copper plating layer 730a may be selectively formed on the region where the copper protrusion 740 is to be formed using the photosensitive film pattern. Third copper plating layers 730b and 730c may be formed. Of course, not only this but various order and method of process can be applied.

도 8을 참조하면, 계단형 단차를 갖는 구리 돌기(840)와 내부 회로(810)를 동시에 형성할 수 있다. 이 또한 상술한 도 5에서 설명한 니켈 도금층을 이용하여 자기정렬로 형성할 수 있다.Referring to FIG. 8, a copper protrusion 840 having a stepped step and an internal circuit 810 may be simultaneously formed. This can also be formed by self-alignment using the nickel plating layer described in FIG. 5 described above.

즉, 금속층이 형성된 중심기판(800)상에 제 1 니켈 도금층 패턴(820a)을 형성한다. 그 상부에 제 1 구리 도금층(830a)을 형성하고, 그 상부에 제 2 니켈 도금층 패턴(820b)을 형성한다. 제 2 니켈 도금층 패턴(820b) 상에 감광막 패턴을 이용하여 구리 돌기가 형성될 영역에 제 2 구리 도금층(830b)을 형성하고, 그 상에 제 3 니켈 도금층 패턴(미도시)을 형성한다. 상기에서 제 2 니켈 도금층 패턴(820b)의 크기 보다 제 3 니켈 도금층 패턴이 더 작게 형성된다. 이후 제 1 내지 제 3 니켈 도금층 패턴(820a 및 820b)을 에칭 마스크로 하는 에칭 공정을 실시하여 소정의 단차를 갖는 구리 돌기(840)와 내부 회로(810)를 형성한다. That is, the first nickel plating layer pattern 820a is formed on the central substrate 800 on which the metal layer is formed. The first copper plating layer 830a is formed on the upper portion thereof, and the second nickel plating layer pattern 820b is formed on the upper portion thereof. A second copper plating layer 830b is formed on the second nickel plating layer pattern 820b using a photosensitive film pattern, and a third nickel plating layer pattern (not shown) is formed thereon. The third nickel plating layer pattern is smaller than the size of the second nickel plating layer pattern 820b. Thereafter, an etching process using the first to third nickel plating layer patterns 820a and 820b as an etching mask is performed to form the copper protrusion 840 and the internal circuit 810 having a predetermined step.

도 9를 참조하면, 상하층의 내부 회로(910)를 연결하기 위한 구리 돌기(940)의 폭을 매우 좁게 형성할 수도 있다. Referring to FIG. 9, the width of the copper protrusion 940 for connecting the inner circuit 910 of the upper and lower layers may be very narrow.

즉, 금속층이 형성된 중심기판(900)상에 제 1 니켈 도금층 패턴(920a)을 형 성한다. 제 1 니켈 도금층 패턴(920a) 상에 제 1 구리 도금층(930a)을 형성하고, 그 상부에 제 2 니켈 도금층 패턴(920b)을 형성한다. 제 2 니켈 도금층 패턴(920b) 상에 감광막을 이용하여 제 2 구리 도금층(930b)을 형성하고 그 상부에 제 3 니켈 도금층 패턴(920c)을 형성한다. 제 3 니켈 도금층 패턴(920c)상에 제 3 구리 도금층(930c)을 형성하고, 제 3 구리 도금층(930) 상에 제 4 니켈 도금패턴(미도시)을 형성한 다음, 제 1 내지 제 4 니켈 도금패턴(920)을 에칭 마스크로 하는 에칭 공정을 실시하여 매우 얇은 폭을 갖는 구리 돌기(940)와 그 하부에 내부회로(910)를 동시에 형성할 수 있다. 이때, 다층의 구리 도금층이 형성될 수 있고, 이는 구리 돌기의 높이에 따라 적어도 2층 이상의 도금층을 형성하는 것이 바람직하다. 뿐만 아니라, 제 1 구리 도금층(930a) 및 제 2 구리 도금층(930b) 형성시, 적어도 한층의 도금층내에 전기적 특성이 다른 도체층을 형성하여 목적하는 특성의 수동소자를 제조할 수 있다. That is, the first nickel plating layer pattern 920a is formed on the central substrate 900 on which the metal layer is formed. The first copper plating layer 930a is formed on the first nickel plating layer pattern 920a, and the second nickel plating layer pattern 920b is formed on the first nickel plating layer pattern 920a. A second copper plating layer 930b is formed on the second nickel plating layer pattern 920b using a photosensitive film, and a third nickel plating layer pattern 920c is formed thereon. The third copper plating layer 930c is formed on the third nickel plating layer pattern 920c, and the fourth nickel plating pattern (not shown) is formed on the third copper plating layer 930. An etching process using the plating pattern 920 as an etching mask may be performed to simultaneously form a copper protrusion 940 having a very thin width and an internal circuit 910 under the copper protrusion 940. In this case, a multilayer copper plating layer may be formed, which preferably forms at least two or more plating layers according to the height of the copper protrusions. In addition, when the first copper plating layer 930a and the second copper plating layer 930b are formed, a conductive layer having different electrical characteristics may be formed in at least one plating layer to manufacture a passive device having desired characteristics.

상기에서 감광막 패턴은 액상의 감광막을 적어도 1회 이상 도포한 다음, 마스크를 이용한 사진식각공정을 통해 형성될 수도 있으며, 필름 형태의 레지스트를 롤러 압착방식을 이용하여 중심기판의 상면 및 하면에 압착할 수도 있다. 또한, 다층으로 이루어진 중심기판을 적층할 경우, 밀착력을 증가시키기 위하여 내부 회로와 구리돌기가 형성된 중심기판의 상부 및 하부에 산화층(Oxide)을 형성할 수도 있다. 또한, 상기와 같이 산화층이 형성된 중심기판의 상부 하면에 절연층의 역할을 하는 프리프레그와 동박, 또는 RCC를 진공상태에서 일정한 온도와 압력을 가하여 내부 회로와 상부 회로가 될 동박이 구리 돌기를 통해 접속될 수 있다. 이는 진 공상태에서 소정의 온도와 압력을 가하게 될 경우, 프리프레그와 RCC의 절연성분을 관통하여, 동박과 구리 돌기 사이에 물리적인 접촉이 가능하게 되어 층간이 전기적으로 접속될 수 있다. 이러한 기판을 다시 중심기판으로 하여 또 다른 한층을 더 형성할 수 있다. 본 발명의 구리 도금층은 구리 뿐만 아니라 소정의 불순물이 더 참가 될 수도 있고, 또한, 도금층의 전기적 특성을 변화시키기 위한 소정의 금속물질이 사용될 수도 있다. The photoresist pattern may be formed by applying a liquid photoresist at least once and then using a photolithography process using a mask. The photoresist may be pressed onto the top and bottom surfaces of the center substrate by roller pressing. It may be. In addition, in the case of stacking a multi-layered central substrate, an oxide layer may be formed on the upper and lower portions of the central substrate on which the internal circuit and the copper protrusion are formed to increase the adhesion. In addition, the prepreg and the copper foil serving as the insulating layer on the upper lower surface of the center substrate on which the oxide layer is formed as described above, or the copper foil to be the internal circuit and the upper circuit by applying a constant temperature and pressure to the RCC under vacuum. Can be connected. When a predetermined temperature and pressure are applied in a vacuum state, it penetrates through the insulating component of the prepreg and the RCC, and physical contact is possible between the copper foil and the copper protrusion, and the interlayers can be electrically connected. Another substrate can be further formed by using the substrate as a center substrate again. In the copper plating layer of the present invention, a predetermined impurity may further participate in addition to copper, and a predetermined metal material may be used to change the electrical properties of the plating layer.

따라서, 상술한 바와 같이 본 발명은 별도의 내부 회로 형성을 위한 에칭 공정을 실시하지 않을 수 있다. 또한, 구리 도금층을 한번에 두껍게 형성하지 않기 때문에 도금 편차를 없앨 수 있고, 그 상부에 목표로 하는 두께만큼의 별도의 도금층을 감광막을 이용하여 선택적으로 형성한 다음, 이전에 형성된 구리 도금층을 식각하여 구리 돌기를 형성하여 구리 도금층이 식각되는 양을 줄일 수 있다. 즉, 필요한 부분에 원하는 두께만큼의 도금층을 형성할 수 있다. 이로써, 구리 돌기를 갖는 다층의 중심회로 기판의 재료비를 절감할 수 있고, 비용절감을 할 수 있다. 또한, 회로에 대응하여 회로 두께나 구리 돌기의 두께 및 폭을 목표로 하는 데로 쉽게 조절할 수 있다. 또한, 한번의 식각공정을 실시하여 한번에 구리 돌기와 내부 회로를 동시에 형성할 수 있다. Therefore, as described above, the present invention may not perform an etching process for forming a separate internal circuit. In addition, since the copper plating layer is not formed thick at one time, plating variation can be eliminated, and a separate plating layer having a target thickness is selectively formed on the upper portion of the copper plating layer by using a photosensitive film, and then the copper plating layer previously formed is etched to copper. By forming protrusions, the amount of etching of the copper plating layer may be reduced. That is, the plating layer of the desired thickness can be formed in a required part. Thereby, the material cost of the multi-layered central circuit board having the copper protrusions can be reduced, and the cost can be reduced. In addition, it can be easily adjusted to target the circuit thickness or the thickness and width of the copper projection corresponding to the circuit. In addition, one etching process may be performed to simultaneously form a copper protrusion and an internal circuit at a time.

상술한 바와 같이, 본 발명은 자기 정렬 회로 및 돌기 형성공정을 통해 내부 회로와 구리 돌기를 동시에 형성할 수 있어 층간 접속을 완성하는 빌드업 다층 인쇄 회로 기판을 제조할 수 있다. As described above, the present invention can form an internal circuit and a copper protrusion at the same time through a self-aligning circuit and a projection forming step, thereby manufacturing a build-up multilayer printed circuit board for completing the interlayer connection.                     

또한, 별도의 내부 회로 형성을 위한 에칭 공정을 실시하지 않고, 한번의 식각공정을 실시하여 한번에 구리 돌기와 내부 회로를 동시에 형성할 수 있다. In addition, the copper protrusion and the internal circuit may be simultaneously formed by performing one etching process without performing an etching process for forming a separate internal circuit.

또한, 얇은 두께의 제 1 구리 도금층을 형성한 다음, 그 상부에 구리 돌기가 형성될 영역에 선택적으로 제 2 구리 도금층을 형성하여 구리 돌기 영역을 제외한 영역의 제 1 구리 도금층을 제거하여 구리 돌기를 형성함으로 인해 구리 도금층을 한번에 두껍게 형성하지 않기 때문에 도금 편차를 없앨 수 있고, 구리 도금층이 식각되는 양을 줄일 수 있다.In addition, after forming the first copper plating layer of a thin thickness, and selectively forming a second copper plating layer in the region where the copper protrusions are to be formed thereon to remove the first copper plating layer in the region except the copper protrusion region to remove the copper protrusions By forming, the copper plating layer is not formed thick at one time, thereby eliminating the plating variation, and reducing the amount of etching of the copper plating layer.

또한, 필요한 부분에 원하는 두께만큼의 도금층을 형성할 수 있고, 구리 돌기를 갖는 다층의 중심회로 기판의 제작시 재료비를 절감할 수 있어 비용절감을 할 수 있다. In addition, a plating layer having a desired thickness can be formed on a required portion, and material costs can be reduced when fabricating a multi-layered central circuit board having copper protrusions, thereby reducing costs.

또한, 내부 회로에 대응하여 구리 돌기의 두께 및 폭을 목표로 하는 데로 쉽게 조절할 수 있다.In addition, it can be easily adjusted to target the thickness and width of the copper protrusion corresponding to the internal circuit.

Claims (9)

중심기판;Center substrate; 상기 중심기판상에 형성된 적어도 한층의 내부 회로;At least one internal circuit formed on the central substrate; 상기 내부 회로 상에 형성된 적어도 한층의 배리어막; 및At least one barrier film formed on the internal circuit; And 상기 배리어막상에 형성된 적어도 한층의 금속돌기를 포함하며, At least one metal protrusion formed on the barrier film, 상기 내부 회로와 금속돌기가 동시에 형성되는 인쇄 회로 기판.The printed circuit board is formed with the internal circuit and the metal projection at the same time. 배리어막 패턴을 이용하여 내부 회로와 금속돌기를 동시에 형성할 수 있는 자기정렬 회로 및 돌기 형성공정을 통해 상하 층의 내부 회로가 금속 돌기를 통해 접속되는 인쇄 회로 기판의 제작 방법.A method of manufacturing a printed circuit board in which internal circuits of the upper and lower layers are connected through metal protrusions through a self-aligning circuit and a protrusion forming process capable of simultaneously forming an internal circuit and a metal protrusion using a barrier film pattern. 제 2 항에 있어서, The method of claim 2, 상기 배리어막 패턴, 상기 내부 회로 및 상기 금속돌기는 적어도 한층으로 형성된 인쇄 회로 기판의 제작 방법.The barrier layer pattern, the internal circuit and the metal protrusions are formed in at least one layer. 제 2 항에 있어서, 상기 자기 정렬 회로 및 돌기 형성공정은, The method of claim 2, wherein the self-alignment circuit and the projection forming step, 중심기판의 금속층 상에 내부 회로가 형성될 영역을 보호하는 제 1 배리어막 패턴을 형성하는 단계;Forming a first barrier layer pattern on a metal layer of the central substrate to protect a region where an internal circuit is to be formed; 제 1 배리어막 패턴이 형성된 상기 중심기판 양측면에 제 1 금속 도금층을 형성하는 단계;Forming first metal plating layers on both sides of the central substrate on which the first barrier layer pattern is formed; 상기 제 1 금속 도금층 상에 선택적으로 제 2 배리어막을 형성하는 단계; 및Selectively forming a second barrier film on the first metal plating layer; And 상기 제 1 배리어막 패턴과 상기 제 2 배리어막을 에칭 마스크로 하는 자기 정렬 에칭 공정을 실시하여 상기 제 1 금속 도금층 및 상기 금속층을 에칭하여 상기 금속돌기와 상기 내부 회로를 형성하는 단계를 포함하는 인쇄 회로 기판의 제작 방법.Performing a self-aligned etching process using the first barrier layer pattern and the second barrier layer as an etching mask to etch the first metal plating layer and the metal layer to form the metal protrusions and the internal circuits. How to make. 제 4 항에 있어서, 상기 제 1 금속도금층을 형성하는 단계 후에, The method of claim 4, wherein after forming the first metal plating layer, 상기 제 1 금속도금층 상에 선택적으로 상기 금속 돌기용 제 2 금속 도금층을 형성하는 단계를 더 포함하는 인쇄 회로 기판의 제작 방법.And selectively forming the second metal plating layer for the metal protrusion on the first metal plating layer. 제 4 항에 있어서, 상기 금속돌기와 상기 내부 회로를 형성하는 단계 후에, The method of claim 4, wherein after forming the metal protrusions and the internal circuit, 상기 제 1 배리어막 패턴과 상기 제 2 배리어막을 제거하는 단계를 더 포함하는 인쇄 회로 기판의 제작 방법.The method of claim 1, further comprising removing the first barrier layer pattern and the second barrier layer. 제 4 항에 있어서, 상기 금속돌기와 상기 내부 회로를 형성하는 단계 후에, The method of claim 4, wherein after forming the metal protrusions and the internal circuit, 상기 내부 회로와 상기 금속 돌기가 형성된 상기 중심기판의 상하에 절연층 및 도체층을 형성하는 단계를 더 포함하는 인쇄 회로 기판의 제작 방법.And forming an insulating layer and a conductor layer above and below the center substrate on which the internal circuit and the metal protrusion are formed. 제 2 항에 있어서, The method of claim 2, 상기 배리어막 패턴은 상기 내부회로 및 상기 구리돌기와의 에칭 특성이 다른 물질을 사용하는 인쇄 회로 기판의 제작 방법.The barrier layer pattern is a manufacturing method of a printed circuit board using a material different from the etching characteristics of the internal circuit and the copper projections. 제 4 항 또는 제 5 항에 있어서, The method according to claim 4 or 5, 상기 제 1 및 제 2 금속 도금층 형성시 전기적 특성이 다른 물질을 사용하는 인쇄 회로 기판의 제작 방법.Method of manufacturing a printed circuit board using a material having a different electrical characteristics when forming the first and second metal plating layer.
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