KR20050106919A

KR20050106919A - 영상 신호의 에지 검출 방법

Info

Publication number: KR20050106919A
Application number: KR1020040031989A
Authority: KR
Inventors: 송동섭; 안현주
Original assignee: 매그나칩 반도체 유한회사
Priority date: 2004-05-06
Filing date: 2004-05-06
Publication date: 2005-11-11
Also published as: USRE44717E1; US7366347B2; KR100587143B1; US20050249417A1

Abstract

본 발명은 이미징 장치들로부터 야기된 잡음에 의해 야기되는 문제점과 색 보간 후에 휘도 신호를 이용하여 에지를 검출하기 때문에 색 보간때 야기된 잡음에 의한 영향을 배제할 수 있는 에지 검출 방법을 제공하기 위한 것으로, 이를 위해 본 발명은, 모자이크 배열의 화소 데이터에서 중심 화소를 기준으로 제1커널을 형성하는 단계; 상기 제1커널 내에서 상기 중심 화소를 기준으로 제2커널을 형성하는 단계; 상기 제2커널에서 G(Green)값을 갖는 화소가 불량 화소 인지를 감지하여 보정하는 단계; 상기 제2커널을 이루는 모든 화소가 G 값을 갖도록 변환하는 단계; 상기 제2커널에서 에지 검출을 위한 마스크를 이용하여 기울기 값을 구하는 단계; 및 색 공간 변환을 얻어진 강도값에 상기 기울기 값을 가산하여 에지를 검출하는 단계를 포함하는 에지 검출 방법을 제공한다.

Description

영상 신호의 에지 검출 방법{METHOD FOR EDGE DETECTION OF IMAGE SIGNAL}

본 발명은 영상 신호 처리 방법에 관한 것으로, 특히 영상 신호에서의 에지 검출 방법에 관한 것이다.

이미지 센서의 응용 분야는 핸드폰, PC(Personal Computer)용 카메라, 의학용, 완구용 등 다양하며, 화상 신호를 이용할 수 있는 모든 분야에 사용되고 있다.

한편, 이러한 이미지센서로부터 촬영되어 디스플레이 되는 영상의 화질은 대부분 에지의 선명도에 따라 좌우된다. 따라서, 영상의 에지를 향상시키기 위한 보정 기술은 다양하게 제시되고 있다.

도 1은 종래기술에 따른 일반적인 이미지센서의 구성을 개략적으로 도시한 블럭도이다.

도 1을 참조하면, 이미지센서는 제어 및 외부시스템 인터페이스부(11)와, 화소 배열부(Pixel array, 10)와, 아날로그/디지털 변환부(12, Analog to Digital Converter; 이하 ADC라 함)와, 라인 메모리부(13)와 화상 신호 처리부(14)를 구비하여 구성된다.

이하, 전술한 이미지센서를 구성하는 각 구성 요소들의 동작을 자세히 살펴본다.

화소 배열부(10)는 빛에 반응하는 성질을 극대화시키도록 화소(Pixel)를 가로 N개, 세로 M개(N,M은 정수)로 배치하여 외부에서 들어오는 이미지에 대한 정보를 감지하는 부분으로 전체적인 이미지센서의 가장 핵심적인 부분이며, 제어 및 외부시스템 인터페이스부(11)는 FSM(Finite State Machine)을 이용하여 이미지센서의 이미지센서의 전체적인 동작을 제어하며, 외부 시스템에 대한 인터페이스 동작을 담당하는 바, 배치 레지스터(도시하지 않음)를 갖고 있어 여러가지 내부 동작에 관련된 사항에 대한 프로그램이 가능하며, 이 프로그램된 정보에 따라 전체 칩의 동작을 제어하는 역할을 한다.

한편, 도면에 도시되지는 않았지만, 아날로그 라인 버퍼부는 선택된 한 로의 화소들의 전압을 감지하여 저장하는 역할을 하며, 아날로그 라인 버퍼부에 저장된 아날로그 데이터는 칼럼 디코더의 제어에 의해 선택된 칼럼의 데이터 값이 아날로그 버스를 통해 가변증폭부로 전송된다.

가변증폭부 예컨대, PGA(Programmable Gain Amplifier)는 아날로그 라인 버퍼부에 저장된 화소 전압이 작은 경우 이를 증폭하는 역할을 하며, 가변증폭부를 거친 아날로그 데이터는 색상 보정 등의 과정을 거친 후, ADC(12)를 통해 디지털 값으로 변환된다.

라인 메모리부(13)는 디지털 변환된 RGB 영상 신호를 라인별로 저장하는 역할을 하며, 화상 신호 처리부(14)는 오류 보정(Error correction), 색상 보간(Color interpolation), 감마 보정(Gamma correction), 색 공간 변환(Color space conversion) 등의 기능을 수행한다.

한편, 이미지센서는 제조 공정 상의 미세한 차이에 의해 오프셋 전압(Offset voltage)에 의한 고정 패턴 잡음(Fixed pattern noise)이 발생한다. 이러한 고정 패턴 잡음을 보상하기 위해 이미지센서는 화소 배열부(11)의 각 화소에서 리셋 신호(Reset voltage signal)를 읽고 데이터 신호(Data voltage signal)를 읽은 후 그 차를 출력하는 상호 연관된 이중 샘플링(Correlated Double Sampling; 이하 CDS라 함) 방식을 사용한다.

전술한 바와 같이, 화상 신호 처리부(14)는 색상 보간과 색 공간 변환, 감마 보정, 에지 검출 및 향상(Enhancement) 등의 기능을 수행한다.

한편, 종래의 에지 검출 및 보정 방법은 일단 색 공간 변환(Color space Conversion)을 수행해서 RGB 베이어 패턴을 YCbCr컬러 공간으로 바꾼 영상 신호를 이용하며, 이중 휘도 신호 Y를 이용하여 에지를 검출하게 된다.

이하에서는 에지 검출 순서를 간단히 살펴 본다.

휘도 신호는 일단 라인 버퍼에 저장 되었다가 1차 미분기에 입력되어 영상 신호를 미분함으로써 강도 및 방향을 구하게 된다. 다시 2차 미분기에 입력되어 1차 미분기와 동일한 조건의 미분을 다시 수행하여 입력되는 영상 신호의 에지를 추출하게 된다. 이 때, 2차 미분기는 에지의 강도 만을 구한다. 2차 미분기에서 추출된 에지는 폐곡선을 이룬다. 추출된 에지는 다시 승산기로 전송디며, 승산기는 추출된 에지의 선명도가 향상되도록 보정하기 위하여 사전에 설정된 이득 값을 입력되는 에지에 승산한다. 이득값이 승산된 에지 정보는 코링(Coring)으로 전송된다.

코링은 낮은 주파수 대역에 존재하는 노이즈의 증폭을 막는 역할을 수행하는 바, 승산기로부터 전송되는 에지 정보 중 정해진 값보다 낮은 주파수 대역의 에지 정보는 모두 '0'으로 변환시킨다. 이와 같이 변환된 에지 정보는 다시 가산기로 전송된다.

가산기는 코링으로부터 전송된 변형된 에지 정보와 입력되는 영상 신호를 가산하여 클리핑(Clipping) 회로로 전송하며, 클리핑 회로는 입력되는 영상 신호의 휘도 레벨이 0 ~ 255 범위 내에서 존재하도록 자른다. 클리핑 처리된 영상 신호는 에지의 선명도가 향상된 영상 신호로서 출력된다.

그러나, 전술한 종래의 에지 검출 및 보정 방법은 불량 화소나 도 1에 도시된 바와 같이 이 단계까지의 이미징 장치들(화소 배열부(10), ADC(12), 라인 메모리부(13))로부터 야기된 잡음에 대하여 고려를 하지 않기 때문에 원치 않는 에지를 검출하게 되는 문제점이 있다.

또한, 색 보간 후에 휘도 신호를 이용하여 에지를 검출하기 때문에 색 보간 때 야기된 잡음에 영향을 받게 된다. 이로 인해 색 보간으로 생긴 허위 색(False color)이 더 선명해지는 문제점이 있다.

상기의 문제점을 극복하기 위해 제안된 본 발명은, 이미징 장치들로부터 야기된 잡음에 의해 야기되는 문제점과 색 보간 후에 휘도 신호를 이용하여 에지를 검출하기 때문에 색 보간때 야기된 잡음에 의한 영향을 배제할 수 있으며, 기존의 라인 메모리없이 에지를 검출할 있는 영상 신호의 에지 검출 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.

상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 모자이크 배열의 화소 데이터에서 중심 화소를 기준으로 제1커널을 형성하는 단계; 상기 제1커널 내에서 상기 중심 화소를 기준으로 제2커널을 형성하는 단계; 상기 제2커널에서 G(Green)값을 갖는 화소가 불량 화소 인지를 감지하여 보정하는 단계; 상기 제2커널을 이루는 모든 화소가 G값을 갖도록 변환하는 단계; 상기 제2커널에서 에지 검출을 위한 마스크를 이용하여 기울기 값을 구하는 단계; 및 색 공간 변환을 얻어진 강도값에 상기 기울기 값을 가산하여 에지를 검출하는 단계를 포함하는 에지 검출 방법을 제공한다.

본 발명은 휘도(Y)신호를 이용하지 않고, 대신 색 보간 이전의 RGB 베이어 신호를 이용하여 에지를 검출함으로써, 색 보간시 발생하는 잡음의 영향을 받지 않는다. 또한, 에지를 검출할 때 불량 화소나 이전 단계까지의 이미징 장치들로부터 야기된 잡음에 대하여 보상을 해줌으로서 보다 정확한 에지를 검출할 수 있다.

이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시 할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 에지 검출 방법을 도식화한 플로우 챠트로서, 이를 참조하여 본 발명의 에지 검출 방식을 살펴 본다.

먼저, 모자이크 배열의 화소 데이터에서 중심 화소를 기준으로 에지 검출을 위한 제1커널(또는 지역화 영역) 예컨대, 5*5의 커널을 설정한다(S201). 이것은 칼라필터 어레이(Color Filter Array; 이하 CFA라 함) 영역에서 각 화소가 어떤 특정 컬러 하나에만 강도값을 가지기 때문에 G값을 보간해주기 위해서이다.

이어서, 제1커널 내에서 상기의 중심 화소를 기준으로 제2커널 예컨대, 3*3의 커널을 설정한다(S202). 제2커널의 모든 화소는 제1커널에 있는 G화소(Green 성분에 강도값을 가지는 화소)를 이용하여 G값을 보간하게 된다(S203). 이렇게 보간된 G값을 기본으로 에지 검출을 하게 되는 바, 일단 G값을 보간하게 된다. 즉, 'S205' 단계에서는 제2커널을 이루는 모든 화소가 G값을 갖도록 한다.

한편, 제2커널을 이루는 모든 화소가 G 값을 갖도록 하기 전에 'S203' 단계에서 제2커널을 이루는 모든 화소가 G 값을 갖는 지를 판단한다.

판단 결과, 제2커널을 이루는 화소 중 G값을 갖는 화소에 대해서는 'S204' 단계에서와 같이 불량 화소 또는 잡음 인지를 파악하여 그 강도값을 보정한 후, 'S206' 단계에서 제2커널을 이루는 화소 중 G값을 갖지 않고 남는 화소가 있는 지를 판단하여, 남은 화소가 있을 경우 'S203' 단계로 리턴한다.

남은 화소가 없을 경우, 제2커널에서 에지 검출을 위한 여러가지 마스크를 이용하여 기울기 값을 구한다(S207). 이 때, 라플라시안 필터를 이용한다.

기울기 값이 구해지면, 색 공간 변환을 통해 구해진 광도(Lumnance)값에 기울기 값을 가산한다(S208).

그 다음으로, 노이즈 증폭을 막기 위한 코링과 영상 신호의 오버 플로우(Over flow)를 막기 위한 클리핑을 수행하게 된다(S209). 이러한 과정이 끝나고 나면 다시 새로운 제2커널을 설정하고(S210), 다시 위의 과정을 반복하게 된다.

도 3a 및 도 3b는 도 2의 'S204' 단계를 구체적으로 도시한 플로우 챠트로서, 이를 참조하여 구체적으로 살펴 본다.

먼저, 왜곡된 강도값을 보정하기 위한 제2커널을 설정한다(S301). 제2커널의 설정은 도 2의 'S202' 단계에서의 제2커널 설정과 동일한 단계이다.

이어서, 제2커널에서 G값을 갖는 중심 화소(중심화소의 강도값)가 왜곡되었는지를 판단하기 위해 문턱값들(Th1,Th2)을 정하고 모든 카운터를 초기화한다(S302).

이어서, 영역 중심 화소의 강도값과 문턱값(Th2)를 비교하여 중심 화소의 강도값이 클 경우 'S305' 단계를 진행하고, 그 반대일 경우 문턱값(Th1)을 재설정한다(S304). 즉, 현재 화소의 강도값에 따라 문턱값(Th1)을 조정하게 된다. 이는 화소의 강도값이 작을 때와 클 때 똑 같은 임계값을 적용하면 노이즈를 제대로 찾지 못하기 때문이다.

문턱값(Th1)이 결정되면 중심 화소와 제2커널 안에 있는 화소(같은 컬러 특성을 갖는 주변 화소)와의 강도값 차이(Δ)를 구한다(S305). 이 때, Δ값이 문턱값(Th1) 보다 크면 중심 화소와의 강도값이 임계값 보다 큰 주변 화소의 수를 카운트하는 Count1을 증가시키고(S307), 문턱값(Th1) 보다 작으면 중심 화소와 같은 컬러 특성을 갖는 화소의 수를 나타내는 Count2를 증가시킨다(S308). 이 과정이 중심 화소의 모든 주변 화소에 대하여 끝나면 Count1의 값을 보고(S310), 그 값이 '0'이면 노이즈가 없는 것으로 간주하여 Edge(i,j)를 0으로 하고(S311), 다음 커널을 설정하게 된다(S318).

여기서, Count2는 현재 보정하려고 하는 G화소(G값의 강도값을 갖는 화소)의 수직 혹은 수평에 있는 주변 화소의 수를 카운트하기 위해 사용되며, 보정하려고 하는 화소나 주변 하소 모드 제2커널 안에 있는 화소이다.

만약, Count1의 값이 '0'이 아니면 다음 과정을 수행한다.

즉, 현재 중심 화소의 위치가 i행 j열에 있다고 하자. Count1과 Count2가 같은지 및 중심 화소와 동일한 G값을 갖는 화소와의 강도값 차이들이 서로 동일한 지의 조건을 만족하는 지를 판단한다(S312).

여기서 행은 이미지의 폭(Height)에 해당되고, 열은 넓이(Width)에 해당된다고 할 수 있겠다. Count1 값과 Count2 값이 같고 모든 주변 화소에 대한 Δ값의 부호가 같다면 이전(i-1)행의 화소 강도값이 왜곡되었는가를 나타내는 신호(Edge)에 따라 가중치를 곱해주게 된다(S313 ∼ S316).

부연하면, Edge(i-1,j-1), Edge(i-1,j), Edge(i-1,j+1)는 이전 행의 j-1, j, j+1 열의 화소값이 튀었는지를 나타내는데, 만약 이중에 튀는 값이 있고 현재 i행 j열의 화소값이 튀는 값이라면 이것은 에지라고 판단해서 보정하지 않는다. 그리고, 이전 행에서 튀는 값이 없었는데 현재 행의 화소값이 튄다면 이것은 잡음이라고 판단해서 보정을 하게 된다. 또한, 왜곡된 신호의 가중치를 다르게 해서 보정하는 이유는 화이트 디펙트(White defect)의 경우는 값을 좀 더 올려서 보정해 주어야 하고 다크 디펙트(Dark defect)의 경우는 값을 더욱 낮게 보정해 주어야 한다.

그리고, 만약 두개의 카운터 값이 같지않고 Δ값들의 부호가 서로 같지 않다면 Edge(i,j)를 1으로 하고 다음 커널을 설정하게 된다(S317).

도 4는 에지 검출을 위해 설정된 5*5의 커널에서 G컬러 성분에 강도값을 갖는 화소(G화소)들을 이용해 R과 B의 컬러 성분에 강도값을 갖는 화소(R화소와 B화소)의 G강도값을 메디안 필터를 사용하여 보간하는 예를 도시한 도면이다.

Gb형태의 커널에서 화소 R23의 G 강도값을 보간하는 한 예를 보여주고 있다.

Gb형태의 커널에서 화소 R23의 G 강도값(ExG12)을 구하기 위해서는 그 주변의 G화소의 강도값이 필요하다. 즉 메디안 필터를 이용하여 4개 화소(G13,G22,G24,G33)의 강도값의 메디안 출력(강도값 중에서 값이 작은 순으로 2개를 선택하여, 그 값의 평균을 취한 값)인 ExG12를 R23의 G 강도값으로 사용하게 된다. 마찬가지로 B32,B34,R43의 G 강도값인 ExG21, ExG23, ExG32도 같은 방식으로 구하게 된다.

또한, B형태의 커널에서 G 강도값을 보간하는 예를 도시하고 있는 바, R22, R24, B33, R42, R44의 G 강도값을 구하는 예를 나타내고 있다.

도 5는 R과 B의 컬러 성분에 강도값을 갖는 화소(R화소와 B화소)의 G 강도값을 평균값을 이용하여 보간하는 또 다른 예를 도시한 도면이다.

먼저, Gb형태의 커널에서 화소 R23의 G 강도값을 보간하기 위해서 G13화소와 G33화소의 강도값 차이(VDiff1),G13화소와 R23화소의 강도값 차이(VDiff2), G33화소와 R23화소의 강도값 차이(VDiff3), G22화소와 G24화소의 강도값 차이(HDiff1), G22화소와 R23화소의 강도값 차이(HDiff2), G24화소와 R23화소의 강도값 차이(HDiff3)를 구한다. 그 다음으로, 수직 방향의 차이값들의 합(VDiff)과 수평방향의 차이값들의 합(HDiff)을 구한 다음 절대값을 취한다.

즉, AbsVDiff = abs(VDiff1+VDiff2+VDiff3)

AbsHDiff = abs(HDiff1+HDiff2+HDiff3)이다.

일단 AbsVdiff와 AbsHDiff가 구해지면, 이 두개의 값을 비교하여 AbsVDiff가 크면 G22 + G24의 합을, 그렇지 않으면 G13+G33의 합을 R23의 G 강도값으로 사용하게 된다.

전술한 바와 같이 이루어지는 본 발명은, 휘도(Y)신호를 이용하지 않고, 대신 색 보간 이전의 RGB 베이어 신호를 이용하여 에지를 검출함으로써, 색 보간시 발생하는 잡음의 영향을 받지 않으며, 에지를 검출할 때 불량 화소나 이전 단계까지의 이미징 장치들로부터 야기된 잡음에 대하여 보상을 해줌으로서 보다 정확한 에지를 검출할 수 있음을 실시예를 통해 알아 보았다.

아울러, 본 발명에서 제시된 에지 검출 알고리즘은 색 보간과 동시에 이루어짐을 알 수 있다.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.

본 발명은 색 보간 이전의 RGB 베이어 신호를 이용하여 에지를 검출함으로써 색 보간때 생기는 잡음에 영향을 받지 않으며, 불량 화소가 이전단계까지의 이미징 장치들로 부터 야기된 잡음을 제거해 줌으로서 보다 정확한 에지 검출 및 보정을 할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 종래기술에 따른 일반적인 이미지센서의 구성을 개략적으로 도시한 블럭도.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 에지 검출 방법을 도식화한 플로우 챠트.

도 3a 및 도 3b는 도 2의 'S204' 단계를 구체적으로 도시한 플로우 챠트.

도 4는 에지 검출을 위해 설정된 5*5의 커널에서 G컬러 성분에 강도값을 갖는 화소들을 이용해 R과 B의 컬러 성분에 강도값을 갖는 화소의 G강도값을 메디안 필터를 사용하여 보간하는 예를 도시한 도면.

도 5는 R과 B의 컬러 성분에 강도값을 갖는 화소의 G 강도값을 수직 혹은 수평 라인 화소 평균값을 이용하여 보간하는 또 다른 예를 도시한 도면.

Claims

모자이크 배열의 화소 데이터에서 중심 화소를 기준으로 제1커널을 형성하는 단계;

상기 제1커널 내에서 상기 중심 화소를 기준으로 제2커널을 형성하는 단계;

상기 제2커널에서 G(Green)값을 갖는 화소가 불량 화소 인지를 감지하여 보정하는 단계;

상기 제2커널을 이루는 모든 화소가 G값을 갖도록 변환하는 단계;

상기 제2커널에서 에지 검출을 위한 마스크를 이용하여 기울기 값을 구하는 단계; 및

색 공간 변환을 통해 얻어진 강도값에 상기 기울기 값을 가산하여 에지를 검출하는 단계

를 포함하는 에지 검출 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 제1커널은 5*5이며, 상기 제2커널은 3*3의 형태인 것을 특징으로 하는 에지 검출 방법.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

상기 제2커널을 이루는 모든 화소가 G 값을 갖도록 변환하는 단계 전에,

상기 제2커널을 이루는 모든 화소가 G 값을 갖는 지를 판단하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에지 검출 방법.
제 3 항에 있어서,

상기 판단 결과, 상기 제2커널을 이루는 화소 중 G값을 갖는 화소에 대해서는 불량 화소 또는 잡음 인지를 파악하여 그 강도값을 보정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에지 검출 방법.
제 4 항에 있어서,

상기 보정하는 단계는,

상기 제2커널에서 G값을 갖는 중심 화소가 왜곡되었는지를 판단하기 위해 상기 중심 화소의 강도값에 따라 제1 및 제2문턱값을 설정하는 단계;

상기 중심 화소와 동일한 G값을 갖는 화소와의 강도값 차이를 구하는 단계;

상기 강도값의 차이와 상기 제1문턱값의 대소를 비교하는 단계;

상기 강도값의 차이가 상기 제1문턱값 보다 작음에 따라 상기 중심 화소와 동일한 컬러 특성을 갖는 화소의 수를 나타내는 카운트의 수를 증가시키는 단계;

상기 중심 화소의 주변에 같은 컬러 특성을 갖는 화소가 존재하는 지의 유무를 판단하는 단계;

판단 결과, 상기 같은 컬러 특성을 갖는 화소가 존재하지 않음에 따라 상기 중심 화소와의 강도값의 차가 상기 제1문턱값 보다 큰 주변 화소의 수를 나타내는 카운트의 수가 '0'인지를 판단하는 단계; 및

판단 결과, 상기 카운트의 수가 '0'임에 따라 에지를 '0'으로 하고 다음의 3*3 커널을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 에지 검출 방법.
제 5 항에 있어서,

상기 강도값의 차이가 상기 제1문턱값 보다 큼에 따라, 상기 중심 화소와의 강도값의 차가 상기 제1문턱값 보다 큰 주변 화소의 수를 나타내는 카운트의 수를 증가시키는 것을 특징으로 하는 에지 검출 방법.
제 5 항에 있어서,

상기 중심 화소와의 강도값의 차가 상기 제1문턱값 보다 큰 주변 화소의 수를 나타내는 카운트의 수가 '0'이 아님에 따라,

상기 제1문턱값 보다 큰 주변 화소의 수를 나타내는 카운트의 수와 상기 중심 화소와 동일한 컬러 특성을 갖는 화소의 수를 나타내는 카운트의 수가 같으며, 상기 각 중심 화소와 동일한 G값을 갖는 화소와의 강도값 차이들이 서로 동일한 조건을 만족하는 지를 판단하며,

상기 조건을 만족하면, 이전 행의 화소의 강도값이 왜곡되었는지에 따라 상기 중심 화소의 강도값에 가중치를 곱해주는 것을 특징으로 하는 에지 검출 방법.
제 7 항에 있어서.

상기 조건을 만족하지 않으면, 상기 에지를 '1'로 하고 다음의 제2커널을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 에지 검출 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 기울기 값을 구하는 단계에서, 라플라시안 필터를 이용하는 것을 특징으로 하는 에지 검출 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 제2커널을 이루는 모든 화소가 G값을 갖도록 변환하는 단계에서,

메디안 필터를 사용하거나, 평균값을 이용하는 것을 특징으로 하는 에지 검출 방법.