KR20050095532A - 편광판 테스트 방법 및 장치 - Google Patents

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KR20050095532A
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첸제종
왕보르핑
리아유충
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옵티맥스 테크놀러지 코포레이션
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Abstract

편광판 테스트 장치와 방법에서, 편광판 테스트 장치는 단색광을 제공할 수 있는 단색광원;과, 상기 단색광원에 대향하여 배치되어, 상기 단색광의 광신호를 판독가능한 데이터로 변환시킬 수 있는 광 검사 모듈;과, 상기 단색광원과 상기 광 검사 모듈사이에 배치되어, 테스트용 편광판을 지지하고 상기 테스트용 편광판의 각도를 미세하게 조정할 수 있으며, 여기서 상기 테스트용 편광판을 통과한 후에 상기 광 검사 모듈에 의해 상기 단색광이 검사되어지는 조정가능 기저부;로 이루어지며, 여기서 단색 광원은 테스트용 편광판을 통과하여 지나가는 광 검사 모듈에 의해 검사된다. 고정 기저부가 편광판 테스트 장치 내에 더 배치될 수 있으며, 여기서 고정 기저부는 분극된 편광판을 지지하여 통과된 빛이 분극된 빛을 형성하도록 할 수 있는 단색 광원과 조정가능 기저부 사이에 배치된다.

Description

편광판 테스트 방법 및 장치{METHOD AND DEVICE FOR TESTING POLARIZERS}
본 발명은 편광판을 테스트하기 위한 방법과 장치에 관한 것이며, 특히 적어도 0.1도의 정확도를 가지며 실시간으로 현장에서 테스트하는 기능을 제공할 수 있어 신속하고 정확한 테스트라는 목적을 달성할 수 있는 테스트 장치와 방법에 관한 것이다.
현재 시장에서 판매되고 있는 LCD 패널들의 액정 단분자들은 고체와 액체사이의 상태에 있다. 말하자면, 액정은 고체 또는 액체 상태 사이의 과도기적 상태에서 존재한다.
이러한 중간적 상태에서, 액정 단분자들은 고체 상태의 단분자들처럼 동일한 방향을 가리키는 경향을 가질 뿐만 아니라, 액체 상태의 단분자들과 같이 서로 다른 위치들을 떠돌아다니는 것 또한 가능하다.
액정 단분자들이 어떠한 방향을 따라 가리키는 이와 같은 경향은 액정 표시의 어떠한 특성으로 귀결되며, 이 특성들은 이러한 특성들이 측정되어지는 방향에 따라 특유한 것이다.
이방성이라 불리는 액정의 이러한 기본적 특성은, LCD의 공학에서 이용되어지고 있다. 액정은 또한 특유한 구조와 특성들에 의해 비틀린(TN) 네마틱 LCD와 초비틀린(STN) 네마틱 LCD 및 박막 트랜지스터(TFT) LCD 패널과 같이 더 분류되어질 수 있다.
도 1a는 종래의 비틀린(TN) LCD 패널에 외부 전압을 가하기 전의 개략도이다. 도 1b는 종래의 비틀린(TN) LCD 패널에 외부 전압을 가한 후의 개략도이다.
도 1a에 나타나듯이, 비틀린(TN) LCD 패널(100)은 주로 러빙(Rubbing, 문지름)에 의해 형성되는 미세한 홈(Groove)(105),(106)들을 각각 갖는 두개의 정렬 필름(110),(120):과, 입사광을 편광시킬 수 있는 두개의 편광판(130),(140):을 포함한다.
네마틱 액정(150)이 정렬 필름(110),(120) 사이에 채워지면, 일단 네마틱 액정(150) 단분자들은 액정의 유동 특성을 가지게 되므로 액정은 쉽게 홈들의 방향을 따라 배향된다.
일단 홈(105),(106)의 근처에 있는 네마틱 액정(150)은 보다 큰 구속력에 종속되며, 네마틱 액정(150)은 홈(105),(106)의 방향을 따라 배향된다.
그리고, 일단 중앙에 있는 네마틱 액정(150)이 보다 더 작은 구속력을 경험하면, 그 배치상태는 꼬여질 수 있다. 이는 정렬 필름(110),(120)의 사이에 있는 네마틱 액정(150)이 90도로 꼬이는 현상에 기인하여 비틀린 네마틱 타입이라고 불려진다.
그래서, 정렬 필름(110),(120)의 사이에 외부 전기장을 적용하지 않으면, 편광판(140)과 정렬 필름(120)을 통과한 빛(160)의 편광(偏光)은 액정(150)의 배향에 따라 90도로 회전되어 정렬 필름(110)과 편광판(130)의 편광들과 일치하게 된다. 그 결과로서, 광은 성공적으로 편광판을 통과할 수 있다.
도 1b에 따르면, 외부 전기장이 정렬 필름(110),(120)에 인가되면, 네마틱 액정(150)은 도 1b에 나타난 것처럼 인가된 전기장의 방향과 평행하게 정렬되는 경향이 있다. 네마틱 액정(150)은 현재 정렬 필름(110),(120)의 표면에 수직으로 정렬되어 있다. 만약 편광판(140)와 정렬 필름(120)을 지나는 빛의 편광이 회전되지 않을 것이라면, 그 빛은 편광판(130)를 지나갈 수 없다.
요약하면, 편광판들(130),(140)의 편광 방향들 사이의 각도가 90도이고, 또한, 각도의 정확성은 LCD 패널의 품질에 지대하게 영향을 미친다. 따라서, 편광판들 사이의 각도 교정의 정확성은 매우 중요하다. 그렇지만, 종래의 교정 방법은 편광판들사이의 각도를 테스트하기 위하여 별도로 구매되는 기계가 이용이 된다. 광원의 불충분한 해상도에 의해, 그 에러는 보통 1도를 초과한다. 게다가, 편광판들은 그 기계의 내부에 위치되어야 하고, 이것은 제조 공정을 더욱 복잡하게 만든다.
결론적으로, 종래의 편광판 테스트 장치와 방법은 적어도 다음과 같은 불편들을 가지고 있다.
1. 종래의 기계를 이용하는 편광판 각도의 테스트 정확성이 불충분하여 교정의 질이 보증(보장)되지 못한다.
2. 서로 다른 기계들은 각기 다른 사이즈의 편광판들을 위해 이용되어져야 하므로, 테스트되어 질 수 있는 편광판의 크기가 사용되는 기계의 스펙(specs)들에 의해 제한된다.
3. 종래의 기계를 사용하면 테스트가 현장에서 자동화될 수 없으며, 이는 테스트의 효율을 저하시키고 수율을 감소시키게 된다.
4. 편광판의 사이즈가 바뀔 때, 새로운 기계들이 구매되어야 하고 테스트 기술자들은 종래의 방법을 이용하여 재교육되어야 하며, 이것은 제조비용을 증가시킨다.
종래 기술의 불편함들의 관점에서 고려할 때, 본 발명의 주 목적은 테스트 정확도를 0.1 도 이하로 증가시켜 테스트의 질을 보장할 수 있는 편광판 테스트 장치와 그 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 제 2 목적은 테스트의 비용과 에러발생 가능성을 감소시킬 수 있게 서로 다른 사이즈의 편광판들의 테스트에 적용할 수 있는 편광판 테스트 장치와 그 방법을 제공하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 테스트의 효율성과 제조 수율을 동시에 향상시킬 수 있는 현장 자동화된 편광판 테스트 장치와 그 방법을 제공하는데 있다.
한편, 본 발명의 또 다른 목적은 서로 다른 사이즈의 편광판들의 테스트에 적용할 수 있는 편광판 테스트 장치와 그 방법을 제공하여 추가적인 기계 구입 비용과 테스트 기술자들의 훈련을 피하여 제조 비용을 감소시키는데 있다.
상술한 바와 같은 목적들을 달성하기 위하여, 본 발명의 바람직한 실시예는 편광판 테스트 장치를 제공하며, 이 편광판 테스트 장치는 단색광을 제공할 수 있는 단색광원;과, 상기 단색광원에 대향하여 배치되어, 상기 단색광의 광신호를 판독가능한 데이터로 변환시킬 수 있는 광 검사 모듈;과, 상기 단색광원과 상기 광 검사 모듈사이에 배치되어, 테스트용 편광판을 지지하고 상기 테스트용 편광판의 각도를 미세하게 조정할 수 있으며, 여기서 상기 테스트용 편광판을 통과한 후에 상기 광 검사 모듈에 의해 상기 단색광이 검사되어지는 조정가능 기저부;로 이루어지며, 여기서 단색 광원은 테스트용 편광판을 통과하여 지나가는 광 검사 모듈에 의해 검사된다.
여기서, 편광판 테스트 장치는 단색광원과, 단색광이 통과할 수 있도록 편광판을 지지할 수 있는 조정가능 기저부 사이에 배치되는 고정 기저부를 더 구비하며, 단색광원은 레이저 시스템이다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 편광판 테스트 방법에서는, 테스트를 위한 편광판이 조정가능 기저부 상에 배치되고 그 방법은 아래의 단계들을 포함한다.
(a) 적정 각도로 단색광을 테스트용 편광판에 조사하는 단계;
(b) 테스트용 편광판을 통과하는 단색광을 검사하여 소정의 테스트 값을 얻는 단계;
(c) 상기 테스트 값을 표준값과 비교하는 단계;
(d) 조정가능 기저부를 회전시킴으로써 태스트용 편광판의 각도를 조정하여 상기 테스트 값이 상기 표준값에 가까워질수 있도록 조정하는 단계;
아래의 도면들을 이용하여, 본 발명의 목적들과 특징들 및 이점들이 상세히 서술된다.
도 2에 따르면, 도 2는 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 편광판 테스트 장치의 개략도이다. 본 발명에 따른 편광판 테스트 장치는 단색광원(200)이 단색광을 제공하도록 이용한다.
레이저 시스템이 본 발명에서 단색광원(200)으로서 이용된다. 고해상도와 고농도 및 단색성을 가지는 레이저 광(206)의 파장은 380㎚에서 780㎚의 범위내에서 조절될 수 있으며, 이것은 생성된 파형 패턴이 검사자에게 보여지고 식별되어질 수 있는 가시광선의 범위 이내이다. 게다가, 0.01㎚의 해상도를 가지는 레이저 광(206)과 함께하면, 편광판들의 각도 테스팅에서의 정확도는 0.1도 보다 훨씬 향상될 수 있다.
다음, 레이저 광(206)은 단색광원(200)과 조정가능 기저부(2020)사이에 배치되는 고정 기저부(2010)에 의해 지지되는 편광판(201)을 향하게 된다.
레이저 광(206)이 편광판(201)을 통과할 때, 빛의 편광은 편광판(201)의 편광과 같아진다. 레이저 광(206)의 편광을 유지하기 위해 이 테스트 과정을 걸쳐 고정 기저부(2010)는 고정된 위치에서 유지된다. 분극화된 레이저 광(206)은 조정가능 기저부(202)에 의해 지지되는 테스트용 편광판을 향하게 되는데, 조정가능 기저부(2020)는 편광판(202) 또는 테스트용 편광판(202)의 각도를 미세하게 조정할 수 있다. 분극화된 레이저 광(206)은 이때 레이저 광(206)을 판독가능한 데이터로 바꾸기 위하여 단색광원(200)에 대해 정렬된 광 검사 모듈(203)에 의해 검사된다.
대체로, 광 검사 모듈(203)은 광 검사 유니트(2031)과 광 모니터링 장치(2032)로 구성된다. 여기서, 일반적으로 CCD, CMOS 또는 PMT 등의 광 검사 유니트(2031)은 레이저 광(206)을 검사할 수 있으며, 일반적으로 오실로스코프인 광 모니터링 장치(2032)는 광 검사 유니트(2031)에 의해 검사된 레이저 광(206)을 판독가능한 데이터로 바꿀 수 있다.
컴퓨터(205)는 광 검사 모듈(203)에 기록 및 비교 장치로서 연결될 수 있으며, 여기서 컴퓨터는 광 검사 모듈(203)로부터의 데이터를 기록 및 비교한 후 조정가능 기저부(2020)를 조절하여 테스트용 편광판(202)의 편광을 조절할 수 있다.
도 3과 도 4에 따르면, 이들은 각각 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 편광판 테스트 장치의 순서도와, 편광판 각도와 명암의 상관관계를 나타내는 도표이며, 여기서 테스트용 편광판은 조정가능 기저부상에 정렬된다. 본 발명의 바람직한 실시예의 편광판 테스트 방법은 아래의 단계들을 포함한다.
단계 400: 적정 각도로 단색광을 테스트용 편광판에 조사하는데, 여기서 단색광은 380㎚에서 780㎚ 사이의 파장 범위와 0.01㎚의 해상도를 갖는 레이저 광이며, 상기 적정 각도는 90도 또는 0도의 편광 방향의 분극화된 빛일 수 있다.
단계 401: 도 4에 나타난 IT 곡선(curve)과 같은 테스트 값을 얻기 위해 테스트용 편광판을 통과한 단색광을 검사하며,
여기서 광 검사 모듈에 의해 검사되는 레이저 광은, 각도의 기능이 빛의 명암과 편광 각도사이의 상관관계를 보여줄 수 있도록 점을 이어 곡선을 그림에 따라 보여지는 명암 프로파일(profile,도표)를 컴퓨터가 비교할 수 있도록 하기 위하여 판독가능한 데이터로 변환된다.
단계 402: 상기 테스트 값을 도 4에 나타난 Is곡선과 같은 표준 값에 비교하며, 표준 값은 명암과 표준 편광판의 각도 사이의 관계의 표준 데이터이며, 여기서, 본 발명의 바람직한 실시예에서의 표준 편광판의 편광 각도는 90도이며, Is 곡선은 90도에서 최대 명암을 가지고 0도와 180도에서 최소 명암을 가진다.
단계 403: 조정가능 기저부를 회전시킴에 의해 테스트용 편광판의 편광 각도를 조절하여 테스트 값이 표준값에 근접되도록 하고, 여기서 회전과 함께 테스트용 편광판의 편광 각도가 조절됨에 의해 도 4에 나타난 IT곡선은 Is곡선을 향하여 이동할 것이며, 이는 테스트용 편광판의 편광 각도가 90도에 근접되는 것을 의미하고, 이 테스트가 어떠한 사이즈를 가지는 편광판들과 행해질 수 있는 동안 그 결과로서 테스트용 편광판의 편광 각도는 기록되어 질 수 있다
도 5에 따르면, 도 5는 본 발명의 바람직한 제 2 실시예에 따른 편광판 테스트 장치의 개략도이다. 바람직한 제 2 실시예에서의 단색광원 또한 레이저 시스템이다. 단색광원의 기능은 바람직한 제 1 실시예에서 서술된 것과 유사하므로, 여기에서는 생략되어질 것이다. 편광판(504)의 기능 또한 바람직한 제 1 실시예에서 서술된 편광판(201)과 유사하므로, 이것 또한 여기에서는 생략될 것이다. 여기에서, 테스트용 편광판(502)은 그 편광판이 롤러(503a)로부터 롤러(503b)로 이송되어 질 수 있도록 이송 롤러(503a)(503b)상에 놓여진다.
이동가능한 스탠드(504)상의 단색광원(500)은 광 검사 모듈(505)과 상응하여 이동가능함에 따라 테스트용 편광판(502)의 완전히 스캔한 레이저 광(507)이 광 검사 모듈(505)에 의해 검사되어질 수 있다.
광 검사 모듈(505)는 검사된 레이저 광(507)을 컴퓨터(506)가 비교할 수 있는 판독가능 데이터로 변환한다. 그 후에 절단 각도 정보가 커터(cutter)(508)로 보내어져 커터(508)의 절단 각도를 결정한다. 따라서, 이 테스트 절차는 자동화되어 질 수 있어 테스트 효율성과 수율이 증가되어 질 수 있다.
도 6에 나타난 바와 같이, 도 6은 다음과 같은 단계들을 포함하는 본 발명의 바람직한 제 2 실시예를 서술하기 위한 편광판 테스트 방법의 순서도이다.
단계 600: 단색광으로 테스트용 편광판을 축방향에서 스캐닝하는 단계; 여기서 단색광원은 0,01㎚ 이상의 해상도를 갖는 380에서 780㎚ 범위 내의 파장을 갖는 레이저 광이고, 그 방향은 테스트용 편광판의 방향과 반대방향이며, 여기서 서로 다른 위치들에서 테스트용 편광판으로부터의 광신호들은 테스트용 편광판의 폭이 대체적으로 130㎝ 정도일 때 테스트용 편광판의 역방향으로 완전히 스캐닝함에 따라 얻어질 수 있다.
단계 601: 몇개의 테스트 값들을 얻기 위하여 테스트용 편광판을 지난 단색광을 검사하고, 레이저광(이것이 단색광원이다.)의 광신호를 광 검사 모듈로써 판독가능한 데이터로 변환하며, 여기서 일단 레이저 광이 테스트용 편광판을 역방향으로 스캔하고 나면, 서로 다른 위치에서의 편광판의 광신호들은 차후의 비교와 검사를 위한 몇개의 테스트 값들로 변환된다.
단계 602: 전술한 테스트 값들을 데이터베이스와 함께 비교하고, 여기서 서로 다른 위치들에서 얻어지는 테스트 값들은 기록과 비교 장치내의 데이터베이스로 비교되어지는데, 이 데이터베이스는 명암과 여러가지 표준 편광판들을 위한 각도사이의 관계 정보를 포함하며, 그리고, 교차 비교에 의해 테스트용 편광판의 각도 분포(distribution)가 그때 얻어진다.
단계 603: 커터로 테스트용 편광판을 절단하고, (c) 단계로부터 테스트용 편광판의 각도 분포를 알게 됨에 의해, 커터의 절단 각도는 테스트용 편광판을 희망하는 각도로 절단할 수 있게 조절될 수 있으며 이에 따라 테스트용 편광판은 0.1도 보다 훨씬 작은 정도까지의 높은 정확도를 가질 수 있다.
결론적으로, 본 발명의 편광판 테스트 장치와 그 방법은 0.1도 이하까지의 테스트의 정확성, 서로 다른 사이즈들을 갖는 테스트 편광판들 및 현장 자동화된 절차들을 갖는 테스트를 개선시킬 수 있으며, 이는 테스트와 수율의 효율성을 개선시킨다.
더욱이, 추가적인 테스트 기계들과 기술자들의 재교육이 더 이상 필요하지 않으며, 이는 더 나아가 제조 비용을 감소시킨다.
상술한 바람직한 실시예들은 본 발명을 상세히 설명하도록 적용되었으며, 그렇지만, 이 실시예들은 본 발명의 한정된 범위가 아니다. 예를 들면, 다른 편광 각도를 갖도록 편광된 광의 사용, 편광된 편광판의 제거, 조정가능 기저부의 회전 방향 변경 등 이다.
따라서, 통상의 지식을 가진 모든 사람들에게 대등 및 근소한 변형 및 수정과 같은 기술들은 여전히 본 발명의 장점을 가진다는 것과 여전히 본 발명의 범위와 사상 내에 있음은 자명한 것이다.
본 발명의 바람직한 실시예가 공개할 목적으로 공포되는 것이지만, 본 발명의 공개된 실시예의 변형들 뿐만 아니라 그 다른 실시예들 또한 해당 분야에서 통상의 기술을 가진 자들에게는 창작될 수 있다. 따라서, 첨부된 청구항들은 본 발명의 정신 및 범위로부터 벗어나지 않는 모든 실시예들을 포함하고자 의도되어 있다.
본 발명에 따른 편광판 테스트 장치와 그 방법은, 테스트의 정확도가 0.1 도 이하 까지 증가되어 테스트의 질을 보장할 수 있고, 테스트에 소요되는 비용과 에러 발생 가능성이 감소되어 테스트의 효율성과 제조 수율이 동시에 향상되고, 현장에서 자동화가 가능해지는 효과가 있다.
그리고, 서로 다른 사이즈의 편광판등의 테스트에도 공통적으로 적용할 수 있어 추가적인 기계 구입 비용과 테스트 기술자들의 훈련을 피하여 제조 비용을 감소시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1a는 외부 전기장을 적용하기 전의 종래 비틀린 네마틱 LCD 패널의 개략도.
도 1b는 외부 전기장을 적용한 후의 종래 비틀린 네마틱 LCD 패널의 개략도.
도 2는 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 편광판 테스트 장치의 개략도.
도 3은 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 편광판 부스트 장치의 순서도.
도 4는 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 편광판 각도와 명암의 상관관계를 나타내는 도표.
도 5는 본 발명의 바람직한 제 2 실시에에 따른 편광판 테스트 장치의 개략도.
도 6은 본 발명의 바람직한 제 2 실시예에 따른 편광판 테스트 장치의 순서도.

Claims (36)

  1. 단색광을 제공할 수 있는 단색광원;
    상기 단색광원에 대향하여 배치되어, 상기 단색광의 광신호를 판독가능한 데이터로 변환시킬 수 있는 광 검사 모듈;
    상기 단색광원과 상기 광 검사 모듈사이에 배치되어, 테스트용 편광판을 지지하고 상기 테스트용 편광판의 각도를 미세하게 조정할 수 있으며, 여기서 상기 테스트용 편광판을 통과한 후에 상기 광 검사 모듈에 의해 상기 단색광이 검사되어지는 조정가능 기저부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  2. 제 1항에 따른 편광판 테스트 장치에서, 상기 편광판 테스트 장치는,
    상기 단색광원과 상기 조정가능 기저부 사이에 배치되고, 상기 단색광이 지나갈 수 있게 분극된 평광판을 지지할 수 있는 고정 기저부:를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  3. 제 1항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 단색광원은 레이저 시스템임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  4. 제 1항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 단색광원의 파장은 380에서 780㎚의 범위 이내의 것임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  5. 제 1항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 단색광의 해상도는 0.01㎚임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  6. 제 1항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 검사 모듈은,
    상기 단색광을 검사할 수 있는 광 검사 유니트;
    상기 광 검사 유니트에 연결되어, 상기 단색광을 판독가능한 데이터로 변환할 수 있는 광 신호 모니터링 장치;로 구성되는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  7. 제 6항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 검사 유니트는 CCD 임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  8. 제 6항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 검사 유니트는 CMOS임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  9. 제 6항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 검사 유니트는 PMT 임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  10. 제 6항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 신호 모니터링 장치는 오실로스코프임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  11. 제 1항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 검사 모듈은 기록/비교 장치에 더 연결되는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  12. 제 11항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 기록/비교 장치는 컴퓨터임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  13. 테스트용 편광판가 조정가능 기저부상에 배치된, 편광판 테스트 방법은,
    (a) 적정 각도로 단색광을 테스트용 편광판에 조사하는 단계;
    (b) 테스트용 편광판을 통과하는 단색광을 검사하여 소정의 테스트 값을 얻는 단계;
    (c) 상기 테스트 값을 표준값과 비교하는 단계;
    (d) 조정가능 기저부를 회전시킴으로써 테스트용 편광판의 각도를 조정하여 상기 테스트 값이 상기 표준값에 가까워질 수 있도록 조정하는 단계:로 구성되는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법.
  14. 제 13항에 따른 편광판 테스트 방법에서,
    상기 (a) 단계에서 미리 정의된 각도는 90도임을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법
  15. 제 13항에 따른 편광판 테스트 방법에서,
    상기 (a) 단계에서 미리 정의된 각도는 0도 임을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법.
  16. 제 13항에 따른 편광판 테스트 방법에서,
    상기 단색광은 레이저 광임을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법.
  17. 제 16항에 따른 편광판 테스트 방법에서,
    상기 레이저 광의 파장은 380에서 780㎚의 범위 내임을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법.
  18. 제 16항에 따른 편광판 테스트 방법에서,
    상기 레이저 광의 해상도는 0.01㎚임을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법.
  19. 이동가능한 스탠드;
    상기 이동가능한 스탠드 상에 배치되고, 단색광을 제공할 수 있는 단색광원; 및
    상기 단색광원에 대향한 위치에서 상기 이동가능한 스탠드 상에 배치되고, 상기 단색광의 광 신호를 판독가능한 데이터로 변환할 수 있는 광 검사 모듈;을 포함하며,
    여기서, 테스트용 편광판은 상기 단색광원과 상기 광 검사 모듈 사이에 배치되고, 상기 단색광원과 상기 광 검사 모듈은 따라 움직일 수 있어 상기 테스트용 편광판을 지나는 상기 단색광이 상기 광 검사 모듈에 의해 검사될 수 있는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  20. 제 19항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 편광판 테스트 장치는 상기 단색 광원과 상기 테스트용 편광판 사이에서 상기 단색광이 지나가도록 배치되는 분극된 평광판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  21. 제 19항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 단색광원은 레이저 시스템인 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  22. 제 19항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 단색광원의 파장은 380nm 내지 780nm의 범위 이내임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  23. 제 19항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 단색광원의 해상도는 0.01nm임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  24. 제 19항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 검사 모듈은,
    상기 단색광을 검사할 수 있는 광 검사 유니트;와,
    상기 광 검사 유니트에 연결되어 상기 단색광의 광신호를 판독가능한 데이터로 변환할 수 있는 광 신호 모니터링 장치;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  25. 제 24항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 검사 유니트는 CCD임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  26. 제 24항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 검사 유니트는 CMOS임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  27. 제 24항에 따른 편광판 테스트 장치에서.
    상기 광 검사 유니트는 PMT임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  28. 제 24항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 신호 모니터링 장치는 오실로스코프임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  29. 제 19항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 광 신호 검사 모듈은 기록/비교 장치에 더 연결되는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  30. 제 29항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    상기 기록/비교 장치는 컴퓨터임을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  31. 제 29항에 따른 편광판 테스트 장치에서,
    커터가 상기 기록 및 비교 장치에 더 연결될 수 있는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 장치.
  32. (a) 테스트용 편광판을 단색광으로 반대방향으로 스캐닝하는 단계;
    (b) 복수 개의 테스트 값들을 얻기 위하여 상기 테스트용 편광판을 지난 단색광을 검사하는 단계; 및
    (c) 상기 복수 개의 테스트 값들을 데이터베이스에 비교하는 단계;들로 이루어지는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법.
  33. 제 32항에 따른 편광판 테스트 방법에서,
    상기 (c) 단계 이후에, (d) 상기 테스트용 편광판을 커터로 절단하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법.
  34. 제 32항에 따른 편광판 테스트 방법에서,
    상기 단색광은 레이저 광임을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법.
  35. 제 34항에 따른 편광판 테스트 방법에서,
    상기 레이저 광의 파장은 380nm 내지 780nm의 범위 이내임을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법.
  36. 제 34항에 따른 편광판 테스트 방법에서,
    상기 레이저 광의 해상도는 0.01nm임을 특징으로 하는 편광판 테스트 방법.
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