KR20050080433A - 독립적으로 가스가 흐르는 독립분리셀을 이용한원자층박막 증착장치 및 증착방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (62)
- 서셉터에 안착된 복수개의 기판에 원자층박막을 형성하기 위한 반응챔버를 구비한 원자층박막 증착장치에 있어서,외부로부터 각각의 공급가스를 지속적으로 제공하는 가스공급모듈;상기 가스공급모듈로부터 공급되는 공급가스를 하나씩 각각 분배하는 가스분배장치;상기 가스분배장치로부터 분배된 각각의 가스를 구획 수용하는 복수개의 독립분리셀을 구비하며, 회전하면서 상기 기판으로 해당가스를 순차적으로 노출시켜 증착시키는 회전체모듈;상기 회전체모듈에 의하여 증착 반응된 가스를 반응챔버의 외부로 펌핑시키는 펌핑모듈; 및상기 회전체모듈을 회전구동시키는 회전체모듈 구동장치를 포함하는 원자층박막 증착장치.
- 외부와 차단되어 밀폐되고, 원자층박막을 형성할 기판의 반응공간을 제공하는 반응챔버;외부의 기판이송장치에 의하여 기판이 로딩 및 언로딩되고, 상기 반응챔버내 하측에 구비되는 서셉터모듈;상기 서셉터모듈을 회전 및 승강가능하게 지지하여 그 서셉터모듈을 회전 및 승강구동시키는 서셉터모듈 구동장치;상기 반응챔버의 내부 상측에 회전가능하게 설치되고, 공급될 가스에 대응하는 복수개의 독립분리셀을 구비하며, 회전과 동시에 상기 서셉터모듈에 안착된 기판에 각 독립분리셀로 공급된 가스를 노출시키는 회전체모듈;상기 회전체모듈 중심부에 결합되고, 그 회전체모듈과 일체로 회전하면서 각 독립분리셀로 각각의 가스를 분배하는 가스분배장치;상기 가스분배장치와 일체로 회전하면서 외부에서 제공되는 각각의 공급가스를 상기 가스분배장치로 공급하는 가스공급모듈;상기 가스공급모듈의 타단부에 결합되어 상기 가스공급모듈을 회전구동시키는 가스공급모듈 구동장치; 및상기 반응챔버의 기판으로 공급된 가스를 반응챔버 외부로 펌핑시키기 위한 펌핑모듈를 포함하는 원자층박막 증착장치.
- 외부와 차단되어 밀폐되고, 원자층박막을 형성할 기판의 반응공간을 제공하는 반응챔버;외부의 기판이송장치에 의하여 기판이 로딩 및 언로딩되고, 상기 반응챔버내 하측에 구비되는 서셉터모듈;상기 서셉터모듈을 회전 및 승강가능하게 지지하여 그 서셉터모듈을 회전 및 승강구동시키는 서셉터모듈 구동장치;상기 반응챔버의 내부 상측에 설치되고, 공급될 가스에 대응하는 복수개의 독립분리셀을 구비하며, 상기 서셉터모듈에 안착된 기판에 각 독립분리셀로 공급된 가스를 제공하는 독립분리셀 모듈;상기 독립분리셀 모듈 중심부에 결합되어 상기 각 독립분리셀로 각각의 가스를 분배하도록 분배구를 구비한 가스분배장치;외부에서 제공되는 각각의 공급가스를 상기 가스분배장치로 공급하는 가스공급모듈; 및상기 반응챔버의 기판으로 공급된 가스를 반응챔버 외부로 펌핑시키기 위한 펌핑모듈를 포함하는 원자층박막 증착장치.
- 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,원자층박막의 증착과정에서 반응속도와 반응특성을 보다 향상시키도록 반응가스가 공급되는 독립분리셀 내에 플라즈마를 여기시키기 위하여 일단은 하나 이상의 독립분리셀에 전기전도적으로 접속되고, 타단은 외부의 알에프파워 인가장치에 접속되어 지속적인 전류를 공급하는 플라즈마 여기장치를 더 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,공급되는 가스중 래디칼화 시키고자 하는 반응가스를 반응챔버로의 인입전부터 래디칼화하여 공급할 수 있도록 해당 공급가스의 공급로에 설치되는 래디칼 발생장치를 더 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,원자층박막의 증착과정에서 반응속도와 반응특성을 향상시키도록 반응가스가 공급되는 독립분리셀 내에 플라즈마를 여기시키기 위하여 일단은 하나 이상의 독립분리셀에 전기전도적으로 접속되고, 타단은 외부의 알에프파워 인가장치에 접속되어 지속적인 전류를 공급하는 플라즈마 여기장치; 및공급되는 가스중 래디칼화 시키고자 하는 반응가스를 반응챔버로의 인입전부터 래디칼화하여 공급할 수 있도록 해당 공급가스의 공급로에 설치되는 래디칼 발생장치를 더 포함하되,상기 플라즈마 여기장치와 래디칼 발생장치는 공정 목적에 맞게 선택적으로 조합되어 구비되는원자층박막 증착장치.
- 제2항에 있어서,상기 반응챔버는내부에 소정공간을 갖는 일면 밀폐된 실린더 형상으로 이루이지고, 회전체모듈이 위치되는 상부하우징; 및상기 상부하우징과 대응하는 형상으로 이루어지고, 상기 상부하우징과 밀착 결합되어 폐쇄공간을 이루며, 상기 서셉터모듈이 위치되는 하부하우징을 포함하며,상기 상부하우징의 중앙부에는 상기 회전체모듈을 회전시키기 위한 샤프트가 통과하는 관통공이 형성되고,상기 하부하우징의 측벽 일측에는 외부의 기판이송장치에 의하여 기판을 서셉터모듈로 로딩 및 언로딩하기 위한 기판인입출구가 형성되고,상기 하부하우징의 중앙부에는 상기 서셉터모듈을 회전 및 승강가능하게 지지하는 샤프트가 통과하는 관통공이 형성되는상기 하부하우징에는 로딩 및 언로딩되는 기판이 상기 서셉터모듈에 안정적으로 안착 및 이격될 수 있도록 승하강구동부재가 구비되는원자층박막 증착장치.
- 제3항에 있어서,상기 반응챔버는내부에 소정공간을 갖는 일면 밀폐된 실린더 형상으로 이루이지고, 독립분리셀 모듈이 위치되는 상부하우징; 및상기 상부하우징과 대응하는 형상으로 이루어지고, 상기 상부하우징과 밀착 결합되어 폐쇄공간을 이루며, 상기 서셉터모듈이 위치되는 하부하우징을 포함하며,상기 상부하우징의 중앙부에는 상기 가스공급모듈이 장착되도록 천공된 관통공이 형성되고,상기 하부하우징의 측벽 일측에는 외부의 기판이송장치에 의하여 기판을 서셉터모듈로 로딩 및 언로딩하기 위한 기판인입출구가 형성되고,상기 하부하우징의 중앙부에는 상기 서셉터모듈을 회전 및 승강가능하게 지지하는 샤프트가 통과하는 관통공이 형성되며,상기 하부하우징에는 로딩 및 언로딩되는 기판이 상기 서셉터모듈에 안정적으로 안착 및 이격될 수 있도록 승하강구동부재가 구비되는원자층박막 증착장치.
- 제7항 또는 제8항에 있어서,상기 상부하우징의 내주연에는 상기 서셉터모듈의 상승동작을 제한하는 서셉터리미트 플레이트를 더 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제2항 또는 제3항에 있어서,상기 서셉터모듈은상기 기판이 안착되는 복수개의 안착면을 갖는 서셉터 플레이트;상기 안착면에 대응하는 서셉터 플레이트의 하부에 설치되고, 안착되는 기판을 가열하기 위한 히터;상기 히터를 각각 지지하고 서셉터 플레이트에 고정되는 지지프레임; 및상기 서셉터 플레이트에 구비되어 외부 기판이송장치에 의하여 기판이 인입되거나 반송될 때, 그 서셉터 플레이트의 안착면에 기판을 안착시키거나 이격시키는 기판리프트장치를 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제10항에 있어서,상기 서셉터 플레이트는 원형으로 이루어지는원자층박막 증착장치.
- 제10항에 있어서,상기 기판이 밀착되어 안착되는 안착면은 그래파이트, 실리콘카바이드 또는 알루미늄 나이트라이드 중 어느 하나로 이루어지는원자층박막 증착장치.
- 제10항에 있어서,상기 기판 리프트장치는,상기 지지프레임, 히터, 서셉터 플레이트를 관통하며, 상하이동가능하게 구비되는 승강부재인 승강로드;상기 승강로드의 일단에 결합되어 로딩 및 언로딩되는 기판을 서셉터플레이트의 안착면으로 안내하는 안착바; 및상기 안착바를 승강구동시키는 승강구동장치를 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제13항에 있어서,상기 서셉터 플레이트의 안착면에는 상기 안착바에 대응하는 형상의 관통공이 형성되어 상기 안착바는 상기 관통공을 통해 서셉터 플레이트의 상부측으로 돌출되거나 하부측으로 인입하게 승강되는원자층박막 증착장치.
- 제2항 또는 제3항에 있어서,상기 서셉터모듈 구동장치는일단이 하부하우징의 중앙 관통공을 통과하여 서셉터모듈 중심에 결합되는 샤프트;상기 샤프트를 회전가능하게 지지하는 샤프트 하우징;상기 샤프트를 회전구동시키는 구동모터;상기 샤프트와 구동모터 간을 구동가능하게 연결하는 기어어셈블리; 및상기 샤프트 하우징의 외면 일측에 결합되고, 상기 샤프트 하우징을 승강구동시키는 승강구동수단을 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제15항에 있어서,상기 구동모터는 회전속도 및 위치를 제어할 수 있는 엔코더가 설치된 스텝핑 모터로 이루어지는원자층박막 증착장치.
- 제15항에 있어서,상기 샤프트에는 외부에서 전달되는 전력을 상기 서셉터 모듈의 히터로 전달될 수 있도록 전기적 절연특성의 세라믹절연봉이 내부에 구성되고,상기 세라믹 절연봉내에는 히터에 연결되는 여러 개의 전선줄이 지나갈 수 있도록 복수개의 관통홀이 형성된원자층박막 증착장치.
- 제2항에 있어서,상기 회전체모듈은상부 고정판; 및상기 상부 고정판의 일면에 결합되며, 소정간격을 갖고 구획되어 복수개의 독립분리셀을 형성하는 소정 높이의 복수개의 구획벽을 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제3항에 있어서,상기 독립분리셀 모듈은상부 고정판; 및상기 상부 고정판의 일면에 결합되며, 소정간격을 갖고 구획되어 복수개의 독립분리셀을 형성하는 소정 높이의 복수개의 구획벽을 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제2항에 있어서,상기 회전체모듈은상부고정판;상기 상부고정판의 일면에 구비되고, 밀폐된 가스공급챔버를 형성하며, 공급된 가스가 하면에 형성된 배출공으로 배출되어 기판으로 노출되는 복수개로 구획된 샤워헤드;상기 샤워헤드의 구획부에 각각 구비되며, 소정간격을 갖고 구획되어 복수개의 독립분리셀을 형성하는 복수개의 구획벽을 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제3항에 있어서,상기 독립분리셀 모듈은상부고정판;상기 상부고정판의 일면에 구비되고, 밀폐된 가스공급챔버를 형성하며, 공급된 가스가 하면에 형성된 배출공으로 배출되어 기판으로 노출되는 복수개로 구획된 샤워헤드;상기 샤워헤드의 구획부에 각각 구비되며, 소정간격을 갖고 구획되어 복수개의 독립분리셀을 형성하는 복수개의 구획벽을 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제18항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서,상기 구획벽은 10 내지 30mm의 높이를 갖는원자층박막 증착장치.
- 제18항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서,상기 구획벽은 그 하단부에 이웃하는 다른 독립분리셀로의 가스가 침투되지 않도록 양측으로 연장되는 연장판이 더 구비되는원자층박막 증착장치.
- 제23항에 있어서,상기 연장판은 상기 서셉터모듈이 원자층박막증착반응을 위해 상향으로 이동하여 서셉터모듈의 상면으로부터 1mm 이상의 간극을 유지하는원자층박막 증착장치.
- 제18항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서,상기 상부 고정판은상기 독립분리셀 중에 퍼지가스가 공급되는 측의 독립분리셀 상부에만 구비되는원자층박막 증착장치.
- 제18항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서,상기 구획벽은 이웃하는 두 구획벽의 외측 단부를 연결하여 제공되는 반응가스의 체류시간을 연장시키는 흐름지연 가이드벽이 더 구비되는원자층박막 증착장치.
- 제26항에 있어서,상기 흐름지연 가이드벽은외부에서 제공되는 가스 중 반응가스가 제공되는 독립분리셀의 두 구획벽 사이에 형성되는원자층박막 증착장치.
- 제2항 또는 제3항에 있어서,상기 가스분배장치는소정형상의 분배기 바디;상기 분배기 바디에 형성되어, 가스분배장치로부터 제공된 각각의 가스가 인입되는 복수개의 인입공;상기 각 인입공과 연통되고, 상기 분배기 바디 내부에 소정크기로 형성되며, 서로 구획된 분배가스챔버;상기 분배가스챔버와 바디의 외부를 연통시켜 상기 분배가스챔버로 분배된 가스를 분사시키기 위한 복수개의 분사구; 및상기 분배기 바디를 회전체모듈에 고정시키기 위한 고정수단을 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제28항에 있어서,상기 분배가스챔버 중 동일가스가 공급되는 분배가스챔버는 연통로에 의하여 서로 연통되는원자층박막 증착장치.
- 제28항에 있어서,상기 고정수단은,상기 분배기 바디에 형성되는 결합홈; 및상기 회전체모듈을 구성하는 부재의 일단부에 형성되되, 상기 결합홈의 형상에 대응되게 형성되어 상기 결합홈으로 삽입 결합되는 결합돌기로 이루어지는원자층박막 증착장치.
- 제30항에 있어서,상기 결합홈은상기 분배기 바디의 외면으로부터 분배기 바디의 반경방향 내측으로 소정길이 연장되어 형성된 연장홈부; 및상기 연장홈부의 내측 연장단부에서 연장홈부에 비해 원주방향으로 확장된 크기를 갖는 확장홈부로 이루어지는원자층박막 증착장치.
- 제28항에 있어서,상기 고정수단은볼트결합, 스크류결합, 클램핑부재에 의한 결합 중 어느 하나의 결합으로 이루어지는원자층박막 증착장치.
- 제2항에 있어서,상기 가스공급모듈은외부로부터 가스가 인입되며, 종방향으로 소정간격을 갖고 형성된 복수개의 가스라인을 구비한 모듈 하우징;상기 가스라인에 각각 대응하는 위치에 구비되고, 가스를 공급하는 공급통로가 구비된 복수개의 가스분배베플;상기 각 가스분배베플 사이에 개재되어 모듈 하우징과 가스분배베플간의 기밀을 유지하기 위한 복수개의 기밀유지부재; 및상기 상기 가스분배베플의 내측에 회전가능하게 장착되고, 가스분배베플로부터 제공된 각각의 가스가 독립되게 공급되는 가스공급통로를 가지며, 타단부는 가스공급모듈 구동장치와 연결된 가스안내샤프트를 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제33항에 있어서,상기 가스분배베플은소정 두께 및 소정폭을 갖는 환형상의 베플바디;상기 베플바디의 전체 외주면을 따라 형성되는 외측환형홈;상기 베플바디의 전체 내주면을 따라 형성되는 내측환형홈; 및상기 외측환형홈과 내측환형홈을 서로 연통시키며, 등간격으로 형성되는 복수개의 가스연통공을 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제33항에 있어서,상기 기밀유지부재는자성유체를 이용한 씰링 방법과 기계적 씰링 방법인 에릭 씰링 방법에 의하여 형성되는원자층박막 증착장치.
- 제33항에 있어서,상기 가스안내샤프트는실린더 바디;상기 각 가스분배베플이 설치된 위치와 대응하는 위치의 각 주연상에 하나 이상 구비되며, 상기 실린더 바디의 주연으로부터 실린더 바디의 하단부 외측으로 가스를 가이드하기 위한 복수개의 가이드연통로를 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제3항에 있어서,상기 가스공급모듈은원통형의 모듈 하우징:종방향으로 소정간격을 갖고 상기 모듈 하우징에 형성된 복수개의 가스라인;상기 모듈 하우징 내벽에 압착 고정되며, 상기 가스라인에 각각 대응하는 위치에 환형홈이 형성된 원기둥 형태의 바디; 및상기 환형홈 상에 각각 형성되어 상기 가스라인로부터 제공된 각각의 가스가 하단측으로 공급되는 독립적인 가스공급통로를 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제37항에 있어서,원자층박막의 증착과정에서 반응속도와 반응특성을 보다 향상시키도록 반응가스가 공급되는 독립분리셀 내에 플라즈마를 여기시키기 위하여 일단은 하나 이상의 독립분리셀에 전기전도적으로 접속되고, 타단은 외부의 알에프파워 인가장치에 접속되어 지속적인 전류를 공급하는 플라즈마 여기장치를 더 포함하되,상기 플라즈마 여기장치는,상기 바디의 중앙부에 형성된 관통공;상기 관통공을 통과하고, 일단은 플라즈마 여기를 위하여 전력을 공급하기 위한 외부 전력공급장치에 접속되고 타단은 독립분리셀 모듈에 접속되는 전기전도성 로드;상기 전기전도성 로드를 바디로부터 절연시키는 절연부재;상기 전기전도성 로드의 타단에 도통되게 구비되고, 플라즈마를 여기시키고자 하는 가스가 공급되는 해당 독립분리셀에 구비되는 도전편; 및상기 도전편과 전기적으로 도통되게 연결되며, 해당 독립분리셀의 상측에 구비되는 도전성 플레이트를 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제2항에 있어서,상기 가스공급모듈 구동장치는상기 가스공급모듈와 구동가능하게 연결되는 기어어셈블리; 및상기 기어어셈블리를 구동시키는 구동모터로 이루어지는원자층박막 증착장치.
- 제2항 또는 제3항에 있어서,상기 펌핑모듈은상기 반응챔버 가장자리부에 소정폭과 높이를 갖고 형성되는 확장부;상기 독립분리셀의 원주방향 범위에 대응하는 범위로 상기 확장부 내에 구획되어 형성되는 펌핑셀;상기 펌핑셀과 독립분리셀간을 연통시키며, 독립분리셀로부터 펌핑가스가 배출되는 복수개의 펌핑구;상기 각 펌핑셀을 상부하우징 외부로 연통시키는 배출구; 및상기 각 배출구에 연결되는 펌핑라인을 구비하며, 상기 독립분리셀에서 공급된 가스를 펌핑하도록 구동하는 가스펌핑수단을 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제2항 또는 제3항에 있어서,상기 펌핑모듈은상기 반응챔버 가장자리부에 소정폭과 높이를 갖고 형성되는 확장부;상기 확장부에 홈 형성되되, 독립분리셀의 개수에 대응하고, 서로 구회된 호형상의 펌핑셀;상기 펌핑셀의 개구부를 폐쇄하되, 독립분리셀로부터 가스가 펌핑되는 펌핑구를 가지며, 서셉터모듈의 상승동작을 제한하는 폐쇄 플레이트;상기 각 펌핑셀을 상부하우징 외부로 연통시키는 배출구;상기 각 배출구에 연결되는 펌핑라인을 구비하며, 상기 각 펌핑라인이 결집된 하나의 라인에 위치되며, 가스를 펌핑시키도록 구동하는 가스펌핑수단을 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제40항 또는 제41항에 있어서,상기 펌핑셀은 수직방향으로 단차지는 단차부를 형성하여 크기가 다른 두 형태의 1차 및 2차터널로 이루어지는원자층박막 증착장치.
- 제42항에 있어서,상기 1차터널과 2차터널 사이에는 다수개의 홀을 갖는 구획플레이트가 더 구비되는원자층박막 증착장치.
- 제41항에 있어서,상기 폐쇄 플레이트는상기 펌핑셀의 전체 개구부를 따라 설치되는 환형 플레이트로 이루어지고, 상기 펌핑구가 형성되는 상기 폐쇄 플레이트의 일단부 전체에는 돌출부가 형성된원자층박막 증착장치.
- 제40항에 있어서,상기 가스펌핑수단은이웃하는 두 배출구를 각각 연결하는 제1펌핑파이프 및 제2펌핑파이프;상기 제1펌핑파이프와 제2펌핑파이프에서 각각 분지되어 하나로 결집되는 펌핑가스 배출파이프;상기 펌핑가스 배출파이프 상의 결집부에 구비되어 펌핑가스가 모아지는 펌핑트램모듈;상기 펌핑트랩모듈에 연결되는 경유파이프에 연결되어 펌핑가스량을 제어하는 밸브수단; 및상기 밸브수단에 연결되어 가스를 펌핑하는 펌프를 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제45항에 있어서,상기 펌핑트랩모듈은 냉각수가 흐르는 파이프가 내부에 설치되어 기판에서 반응이 완료되지 않은 반응가스들이 2차 반응을 일으키도록 하는원자층박막 증착장치.
- 제45항에 있어서,상기 1차 및 2차펌핑파이프는 각각 반응가스와 퍼지가스가 배출되는 배출구에 연결되는원자층박막 증착장치.
- 제2항에 있어서,원자층박막의 증착과정에서 반응속도와 반응특성을 보다 향상시키도록 반응가스가 공급되는 독립분리셀 내에 플라즈마를 여기시키기 위하여 일단은 하나 이상의 독립분리셀에 전기전도적으로 접속되고, 타단은 외부의 알에프파워 인가장치에 접속되어 지속적인 전류를 공급하는 플라즈마 여기장치를 더 포함하되,상기 플라즈마 여기장치는중앙에 소정크기의 장착공이 형성된 수용바디;외부 전류공급장치에 연결되며 일단이 상기 수용바디의 장착공으로 연장된 고정커넥터;상기 수용바디의 장착공 내부에서 회전하면서 상기 고정커넥터와 전기적으로 도통되는 전류흐름 변환모듈;일단은 상기 전류흐름 변환모듈에 결합되고, 타단은 회전체모듈로 연장되는 전기전도성 부재;상기 전기전도성 부재를 절연시키는 절연부재;상기 전기전도성 부재의 타단에 도통되게 구비되는 인입단자;상기 인입단자와 전기적으로 도통되게 연결되며, 독립분리셀의 상측에 구비되는 도전성 플레이트를 포함하는원자층박막 증착장치.
- 제48항에 있어서,상기 전류흐름 변환모듈은상기 고정커넥터와 접속되고, 상기 장착공의 내면에 고정된 고정단자;상기 환형 고정단자 내측에 구비되는 슬라이딩 브러시단자;전기전도성을 갖고 상기 고정단자와 슬라이딩 브러시단자 사이에 구비되며, 슬라이딩 브러시단자를 장착공 내측으로 탄성지지하는 탄성지지부재;상기 슬라이딩 브러지단자 내측에 구비되고 전기전도성을 가지며, 중심부에 전기전도성 부재의 일단이 고정되는 회전단자로 이루어지는원자층박막 증착장치.
- 서셉터에 복수개의 기판이 안착된 상태에서 원자층박막을 형성하는 증착방법에 있어서,외부로부터 각각의 공급가스를 지속적으로 제공하는 가스공급단계;상기 각각의 공급가스를 각각 구획하는 독립분리셀로 각각 분배하는 가스분배단계;상기 각각 분배된 가스를 수용 및 유지시키면서 독립분리셀을 갖는 회전체모듈을 회전시켜 각 기판에 분배된 가스를 노출시키는 증착단계; 및상기 증착단계에서 반응된 가스를 외부로 펌핑시키는 펌핑단계를 포함하는 원자층박막 증착방법.
- 제50항에 있어서,반응속도와 반응특성을 보다 향상시키기 위하여, 상기 독립분리셀에서 기판에 해당반응가스를 노출시키는 단계에서 플라즈마를 여기시키도록 플라즈마 여기단계를 더 포함하는원자층박막 증착방법.
- 제50항에 있어서,래디칼화 시키고자 하는 해당가스의 공급로에 래디칼 발생장치를 구비하여 가스의 초기 공급시부터 래디칼화된 반응가스를 동시에 공급할 수 있는 가스 래디칼화단계를 더 포함하는원자층박막 증착방법.
- 제50항에 있어서,상기 가스분배단계는각각의 공급가스가 기판의 반경방향으로 흐르는 층상흐름방식으로 공급되는원자층박막 증착방법.
- 제50항에 있어서,상기 가스분배단계는각각의 공급가스가 샤워헤드에 의하여 기판에 직교하는 방향으로 흐르는 샤워헤드방식으로 공급되는원자층박막 증착방법.
- 제51항에 있어서,상기 가스분배단계는각각의 공급가스가 기판의 반경방향으로 흐르는 층상흐름방식으로 공급되고, 샤워헤드에 의하여 기판에 직교하는 방향으로 흐르는 샤워헤드방식으로 공급되는원자층박막 증착방법.
- 외부의 기판이송장치에 의해 서셉터모듈로 기판을 로딩하는 단계;기판을 서셉터모듈의 안착면으로 로딩 완료된 후, 서셉터모듈의 상승 이동시키고, 서셉터모듈과, 상기 서셉터모듈 상측에 구비되며 가스가 각각 독립적으로 흐르는 다수개의 독립분리셀을 갖는 회전체모듈 사이에 소정 간극을 유지시키는 단계;상기 서셉터모듈의 상측에서 상기 회전체모듈을 회전시키는 단계;상기 회전체모듈의 각 독립분리셀로 가스를 지속적으로 공급하는 단계;상기 회전체모듈의 독립분리셀로 공급된 가스가 그 회전체모듈의 회전에 의하여 기판에 순차적으로 노출되는 단계; 및상기 기판으로의 노출이 완료된 잉여가스를 상기 서셉터모듈과 회전체모듈 간극의 가장자리부를 거쳐 반응챔버 외부로 펌핑하는 단계를 포함하는 원자층박막 증착방법.
- 외부의 기판이송장치에 의해 서셉터모듈로 기판을 로딩하는 단계;기판을 서셉터모듈의 안착면으로 로딩 완료된 후, 서셉터모듈의 상승 이동시키고, 상기 서셉터모듈 상측에 구비되며 가스가 각각 독립적으로 흐르는 다수개의 독립분리셀을 갖는 독립분리셀 모듈 사이에 소정간극을 유지시키는 단계;상기 독립분리셀 모듈의 하측에 구비된 서셉터모듈을 회전시키는 단계;상기 독립분리셀 모듈의 각 독립분리셀로 가스를 지속적으로 공급하는 단계;상기 독립분리셀 모듈의 각 독립분리셀로 공급된 가스가 서셉터모듈의 회전에 의하여 기판에 순차적으로 노출되는 단계; 및상기 기판으로의 노출이 완료된 잉여가스를 상기 서셉터모듈과 회전체모듈 간극의 가장자리부를 거쳐 반응챔버 외부로 펌핑하는 단계를 포함하는 원자층박막 증착방법.
- 제50항 내지 제57항 중 어느 한 항에 있어서,상기 가스노출단계에서반응가스가 공급되는 독립분리셀에서 그 반응가스의 체류시간을 연장시켜 반응가스가 기판으로부터 충분한 양으로 노출될 수 있도록 하는 노출지연단계를 더 포함하는원자층박막 증착방법.
- 제58항에 있어서,상기 노출지연단계는공급되는 반응가스가 공급방향에 대한 최종지점의 독립분리셀 가장자리부에 흐름지연가이드벽을 구비시켜 공급되는 가스가 흐름지연가이드벽에 부딪혀 독립분리셀 내에서의 체류시간을 연장시켜 기판에 노출되는원자층박막 증착방법.
- 제58항에 있어서,상기 가스노출단계에서 공정 목적에 맞게 선택된 독립분리셀로 플라즈마를 여기시키기 위한 플라즈마 여기단계를 더 포함하는원자층박막 증착방법.
- 제57항에 있어서,상기 가스공급단계에서반응가스가 반응로로 인입되기 전에 공정 목적에 맞게 선택된 독립분리셀로 래디칼화된 가스를 제공하기 위하여 반응가스의 가스공급로에 래디칼 발생장치를 구비하여 제공되는 가스를 래디칼화시키는 단계를 더 포함하는원자층박막 증착방법.
- 제58항에 있어서,상기 가스노출단계에서 공정 목적에 맞게 선택된 독립분리셀로 플라즈마를 여기시키기 위한 플라즈마 여기단계; 및상기 가스공급단계에서 반응가스가 반응로에 인입되기 전에 공정 목적에 맞게 선택된 독립분리셀로 래디칼화된 가스를 제공하기 위하여 반응가스의 가스공급로에 래디칼 발생장치를 구비하여 제공되는 가스를 래디칼화시키는 단계를 더 포함하되,상기 플라즈마 여기단계와 래디칼화 단계는 공정 목적에 맞게 선택적으로 조합되어 제공되는원자층박막 증착방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20040008314 | 2004-02-09 | ||
KR1020040008314 | 2004-02-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050080433A true KR20050080433A (ko) | 2005-08-12 |
KR100616486B1 KR100616486B1 (ko) | 2006-08-28 |
Family
ID=37267233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040046688A KR100616486B1 (ko) | 2004-02-09 | 2004-06-22 | 독립적으로 가스가 흐르는 독립분리셀을 이용한원자층박막 증착장치 및 증착방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
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US12060638B2 (en) | 2020-12-13 | 2024-08-13 | Applied Materials, Inc. | Deposition apparatus and methods using staggered pumping locations |
KR20220089371A (ko) * | 2020-12-21 | 2022-06-28 | 주식회사 테스 | 기판처리장치 및 기판이동방법 |
WO2022220338A1 (ko) * | 2021-04-12 | 2022-10-20 | 주식회사 한화 | 리프트부를 구비한 기판 처리 장치 |
KR102306905B1 (ko) * | 2021-04-12 | 2021-09-29 | 주식회사 한화 | 리프트부를 구비한 기판 처리 장치 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR100616486B1 (ko) | 2006-08-28 |
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A201 | Request for examination | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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