KR20050053441A - 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치 및 검사방법 - Google Patents

수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치 및 검사방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 수평 전계 인가형 액정표시패널의 불량 판별능력을 향상시킬 수 있는 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
본 발명은 데이터전압을 액정표시패널의 데이터 라인에 공급하는 데이터전압생성회로와; 상기 액정표시패널의 정상구동시의 구동전압과 다른 테스트 전압을 상기 액정표시패널의 공통전극에 공급하는 공통전압생성회로를 구비하는 것을 특징으로 한다.

Description

수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치 및 검사방법{APPARATUS AND METHOD OF TESTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL OF HORIZONTAL ELECTRONIC FIELD APPLYING TYPE}
본 발명은 불량 판별능력을 향상시킬 수 있는 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
액정표시장치는 스위칭 소자로서 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : 이하 "TFT"라 함)를 이용하여 자연스러운 동화상을 표시하고 있다. 이러한 액정표시장치는 브라운관에 비하여 소형화가 가능하여 퍼스널 컴퓨터(Personal Computer)와 노트북 컴퓨터(Note Book Computer)는 물론, 복사기 등의 사무자동화기기, 휴대전화기나 호출기 등의 휴대기기까지 광범위하게 이용되고 있다.
액정 표시 장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이러한 액정 표시 장치는 액정을 구동시키는 전계의 방향에 따라 수직 전계형과 수평 전계형으로 대별된다.
수직 전계형 액정 표시 장치는 상부기판 상에 형성된 공통전극과 하부기판 상에 형성된 화소전극이 서로 대향되게 배치되어 이들 사이에 형성되는 수직 전계에 의해 TN(Twisted Nemastic) 모드의 액정을 구동하게 된다. 이러한 수직 전계형 액정 표시 장치는 개구율이 큰 장점을 가지는 반면 시야각이 90도 정도로 좁은 단점을 가진다.
수평 전계형 액정 표시 장치는 하부 기판에 나란하게 배치된 화소 전극과 공통 전극 간의 수평 전계에 의해 인 플레인 스위치(In Plane Switch; 이하, IPS라 함) 모드의 액정을 구동하게 된다. 이러한 수평 전계형 액정 표시 장치는 시야각이 160도 정도로 넓은 장점을 가진다. 이하, 수평 전계형 액정 표시 장치에 대하여 상세히 살펴보기로 한다.
수평 전계형 액정 표시 장치는 서로 대향하여 합착된 박막 트랜지스터 어레이 기판(하부 기판) 및 칼러 필터 어레이 기판(상부 기판)과, 두 기판 사이에서 셀갭을 일정하게 유지시키기 위한 스페이서와, 스페이서에 의해 마련된 액정공간에 채워진 액정을 구비한다.
박막 트랜지스터 어레이 기판은 화소 단위의 수평 전계 형성을 위한 다수의 신호 라인들 및 박막 트랜지스터와, 그들 위에 액정 배향을 위해 도포된 배향막으로 구성된다. 칼라 필터 어레이 기판은 칼러 구현을 위한 칼라 필터 및 빛샘 방지를 위한 블랙 매트릭스와, 그들 위에 액정 배향을 위해 도포된 배향막으로 구성된다.
수평 전계형 액정표시장치의 제조공정은 기판 세정과, 기판 패터닝, 배향막형성, 기판합착/액정주입, 실장 공정으로 나뉘어진다. 기판세정 공정에서는 상/하부기판의 패터닝 전후에 기판들의 이물질을 세정제를 이용하여 제거하게 된다. 기판 패터닝 공정에서는 상부기판의 패터닝과 하부기판의 패터닝으로 나뉘어진다. 상부기판에는 칼라필터, 블랙 매트릭스 등이 형성된다. 그리고 하부기판에는 데이터라인과 게이트라인 등의 신호배선이 형성되고, 데이터라인과 게이트라인의 교차부에 TFT가 형성되며, TFT의 소스전극에 접속되도록 데이터라인과 게이트라인 사이의 화소영역에 화소전극이 형성된다. 기판합착/액정주입 공정에서는 하부기판 상에 배향막을 도포하고 러빙하는 공정에 이어서, 실(Seal)재를 이용한 상/하부기판 합착공정, 액정주입, 주입구 봉지공정이 순차적으로 이루어진다. 실장공정에서는 게이트 드라이브 집적회로 및 데이터 드라이브 집적회로 등의 집적회로가 실장된 테이프 케리어 패키지(Tape Carrier Package : TCP)를 기판 상의 패드부에 접속시키게 된다.
액정표시장치는 제조공정 중의 공정오류, 액정패널 내에 도전성 물질의 잔류 등에 의해 화상 구현시 점결함, 라인 결함 등이 발생될 수 있다. 이러한 결함을 검출하기 위하여, 액정표시장치의 제조공정에는 테스트 공정이 포함된다.
도 1은 종래의 테스트 공정시의 수평 전계형 액정표시패널을 나타내는 평면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 수평 전계형 액정표시패널은 다수개의 액정셀들이 마련된 표시영역과, 표시영역의 외곽에 형성되며 검사과정에서 이용되는 게이트검사패드(14), 데이터검사패드(15) 및 공통검사패드(16)가 위치하는 비표시영역을 구비한다.
표시영역에는 기판 상에 교차되게 형성된 게이트 라인(G) 및 데이터 라인(D)과, 그 교차부마다 형성된 박막 트랜지스터(13)와, 그 교차 구조로 마련된 화소 영역에 수평 전계를 이루도록 형성된 화소 전극(미도시) 및 공통 전극(미도시)과, 공통 전극과 접속된 공통 라인(C)을 구비한다.
게이트라인(G)은 박막 트랜지스터(13)에 게이트전압을 공급하고, 공통라인(C)은 화소영역을 사이에 두고 게이트라인(G)과 나란하게 형성되며 액정 구동을 위한 공통전압(Vcom)을 공통전극(18)에 공급한다.
데이터라인(D)은 박막 트랜지스터(13)를 통해 공통전압을 중심으로 교류형태로 교번하는 데이터 전압(Vd)을 화소전극에 공급한다.
박막 트랜지스터(13)는 게이트 라인(G)의 게이트 전압에 응답하여 데이터 라인(D)의 데이터전압이 화소전극에 충전되어 유지되게 한다. 화소전극은 충전된 데이터 전압에 의해 공통 전극과 전위차를 발생시키게 된다. 이러한 전위차에 의해 액정분자들이 유전 이방성에 의해 회전하게 된다. 액정 분자들의 회전 정도에 따라 화소 영역을 투과하는 광 투과율이 달라지게 됨으로써 화상을 구현하게 된다.
비표시영역에는 게이트라인(G)과 접속되는 게이트검사패드(14)와, 데이터라인(D)과 접속되는 데이터검사패드(15)와 공통라인(C)과 접속되는 공통검사패드(16)가 구비한다. 여기서, 게이트검사패드(14), 데이터 검사패드(15) 및 공통검사패드(16)는 검사공정 이후 스크라이빙공정에 의해 제거된다.
게이트 검사 패드(14)는 액정표시소자의 검사과정에서 필요로 하는 테스트전압들을 게이트 패드(17)를 통해 표시영역의 게이트라인(G)에 공급한다. 이러한 게이트 검사 패드(140)는 기수번째 게이트라인(G1,G3,G5...)과 접속된 기수 게이트검사 패드(140a)와, 우수번째 게이트라인(G2,G4,G6....)과 접속된 우수 게이트 검사 패드(140b)를 구비한다.
데이터 검사패드(15)는 액정표시장치의 검사과정에서 필요로 하는 테스트전압들을 데이터패드(18)를 통해 표시영역의 데이터라인(D)에 공급한다. 이러한 데이터 검사패드(15)는 기수번째 데이터라인(D1,D3,D5...)과 접속된 기수 데이터 검사패드(15a)와, 우수번째 데이터라인(D2,D4,D6...)과 접속된 우수 데이터 검사패드(15b)를 구비한다.
공통 검사패드(16)는 액정표시장치의 검사과정에서 필요로 하는 공통전압들을 공통패드(19)를 통해 표시영역의 공통라인(C)에 공급한다.
이러한 구성의 액정표시장치의 검사과정시 각각의 검사패드에 도시하지 않은 전압 발생회로로부터 발생된 전기적 신호가 검사용 프로브(prove)를 통해 각각의 패드(17,18,19)를 경유하여 게이트라인(G)에 공급되고, 도 2에 도시된 바와 같이 액정패널의 구동을 위한 정상구동시의 일정 DC전압이 공통라인(C)에 공급되고 공통전압을 중심으로 +,-로 교번하는 정상구동시의 데이터 전압이 데이터라인(D)에 공급됨으로써 테스트 화상이 구현된다. 이로써, 관찰자는 화면을 관찰함으로써 액정표시소자의 점결함, 라인결함 등의 불량 유무를 판단하게 된다.
한편, 이와 같은 테스트 공정은 패널 내부에 점결함, 라인결함, 기타 강한 얼룩 등을 화면에 구현시키는 결함 등은 판별할 수 있으나, 배향막 형성 등 다수의 어레이 형성시 잔존하여 러빙공정에 의해 러빙방향을 따라 라인 형태로 위치하는 작은 도전성 이물질에 의한 불량의 판별은 어렵게 된다.
구체적으로 설명하면, 화소전극(50)과 공통전극(70) 사이에 도전성 이물질 등이 존재하게 되면 도 3에 도시된 바와 같이 화소전극(50)과 공통전극(70) 사이에 수평전계(E) 이외에 도전성 이물질(60)과 화소전극(50)간 또는 도전성 이물질(60)과 공통전극(70)간에도 전계(ε)가 발생하는 등의 전계왜곡 현상이 일어난다. 이러한 전계왜곡은 화소전극(50)과 공통전극(70) 사이의 유효전계를 감소시킴으로써 도 4에 도시된 바와 같이 도전성 이물질이 잔류하지 않는 영역에 비해 도전성 이물질이 잔류하는 영역에 빛의 투과량(또는 광투과율)이 감소되는 등 광투과율을 변화시킨다. 이러한, 광투과율의 변화는 휘도에 영향을 미치게 됨으로써 테스트 화면에 얼룩 등이 나타나게 된다. 그러나, 이러한 얼룩은 단시간에 걸쳐 실시되는 테스트공정, 즉 단시간에 의한 젼계왜곡의 경우에는 도 5에 도시된 바와 같이 관찰되지 않고 장시간 예를 들어, 2시간 이상 테스트 공정에 의해 도전성 이물질(60)에 많은 전하가 쌓여 도전성 이물질(60)과 화소전극(50)간 또는 도전성 이물질(60)과 공통전극(70)간에 전계(ε)세기가 증가됨으로써 비로소 도 6에 도시된 바와 같이 길이 2㎜정도의 수직 라인형태로 화면에 나타나게 된다.
따라서, 일반적인 테스트 공정에 의해 발견되지 않은 도전성 이물질(60) 등이 포함된 액정표시패널은 정상적인 액정표시패널로 판단되어 시중에 출시되게 된다. 이후, 도전성 이물질(60) 등은 사용자가 일정기간 사용한 후에 비로서 얼룩 등으로 화면에 나타나는 문제가 발생된다. 따라서, 도전성 이물질(60) 등의 불량을 조기에 발견할 수 있는 검사장치 및 검사방법이 요구된다.
따라서, 본 발명의 목적은 수평 전계 인가형 액정표시패널의 불량 판별능력을 향상시킬 수 있는 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치 및 검사방법을 제공함에 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치는 데이터전압을 액정표시패널의 데이터 라인에 공급하는 데이터전압생성회로와; 상기 액정표시패널의 정상구동시의 구동전압과 다른 테스트 전압을 상기 액정표시패널의 공통전극에 공급하는 공통전압생성회로를 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 데이터전압은 교류형태로 상기 액정표시패널에 공급되는 것을 특징으로 한다.
상기 테스트 전압은 상기 정상 구동시의 구동전압을 기준으로 하여 ±3V 내에서 상기 구동전압과 다른 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사방법은 액정표시패널의 데이트 라인에 데이트 전압을 인가하는 단계와; 상기 액정표시패널의 공통전극에 정상구동시의 공통전압과 다른 테스트 전압을 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 테스트 전압을 인가하는 단계는, 상기 데이터전압을 교류형태로 상기 액정표시패널에 공급하는 것을 특징으로 한다.
상기 테스트 전압을 인가하는 단계는, 상기 정상 구동시의 구동전압을 기준으로 하여 ±3V 내에서 상기 테스트전압을 상기 구동전압과 다르게 하는 것을 특징으로 한다.
상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부한 도면들을 참조한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.
이하, 도 7 내지 도 12를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하기로 한다.
본 발명에 따른 수평 전계형 액정표시패널의 검사장치는 액정표시패널의 데이터 라인에 교류형태의 데이터 전압을 공급하는 데이터 전압생성회로와, 공통라인에 접속된 공통전극에 정상구동시의 구동전압을 공급한 후 스위칭을 통해 가변된 테스트 공통전압을 공급하는 공통전압생성회로를 구비한다.
데이터 전압생성회로에서 생성된 교류형태의 데이터 전압이 액정표시패널의 데이터 라인에 공급되고, 공통전압생성회로에서는 공통라인에 접속된 공통전극에 정상구동시의 기준 구동전압을 공급한 후 스위칭을 통해 가변된 테스트 공통전압 예를 들어, 구동전압을 기준으로 ±3V내의 공통전압을 공통라인에 공급하게 된다. 이에 따라, 수평전계왜곡이 증폭되어 액정 거동 또한 크게 제한됨으로써 광 투과율이 급격히 변화된다. 이러한 광투과율의 변화는 휘도에 영향을 미치게 됨으로써 작은 도전성 이물질 등에 의한 얼룩이 도 7에 도시된 바와 같이 테스트 화면 상에 수초내에 나타나게 된다. 이로써, 도전성 이물질 등의 불량을 조기에 판별할 수 있게 된다.
이하, 도 8 및 도 9를 참조하여 본 발명에 따른 수평 전계형 액정표시패널의 검사방법에 관하여 설명하기로 한다.
공통라인에 액정패널의 정상구동시의 일정 공통전압(Vcom)이 공급된 후 스위칭을 통해 가변된 다른 테스트공통전압(Vtest)이 공급되고, 데이터 라인에는 공통전압을 중심으로 +,-로 교번하는 정상구동시의 데이터 전압(Vd)이 공급됨으로써 테스트 화상이 구현된다. 이 때, 공통라인에 접속된 공통전극(130)과 화소전극(110) 사이에 도전성이물질(120) 등이 존재하는 경우에는 공통전극(130)과 도전성 이물질(120)간에 또는 화소전극(110)과 도전성 이물질(120)간의 전계(ε)에 의해 공통전극(130)과 화소전극(110)의 수평전계(E)가 왜곡됨으로써 액정의 유전이방성 성질이 제한되게 된다. 이에 따라, 광 투과율의 변화가 생기고 이는 휘도에 영향을 미치게 됨으로써 테스트 화면에 얼룩 등이 나타나게 된다. 이로써, 관찰자는 도전성 이물질에 의한 불량을 판별할 수 있게 된다.
이를 상세히 설명하면, 각각의 검사패드에 도시하지 않은 전압생성회로로부터 발생된 전압들을 검사용 프로브(prove)를 통해 각각의 패드에 공급한다. 한편, 이러한 테스트를 위한 전압들은 액정이 주입된 액정표시패널이 제작되고 백라이트, 구동 드라이브 IC 등이 조립된 후에 구동 드라이브 IC에 의해서 각각의 패드에 공급될 수 도 있다.
게이트 라인에는 게이트 검사패드로 부터 정상구동시의 게이트 전압이 공급된다. 공통라인에 접속된 공통전극에는 정상구동시의 DC 공통전압(Vcom)이 공급된 후 스위칭을 통해 가변된 테스트공통전압(Vtest)이 공급되면 도전성 이물질(120)에 순간적으로 많은 전하(125)가 축적된다. 도전성 이물질(120)에 축적된 전하는 화소전극(110)과 도전성 이물질(120)간 또는 공통전극(130)과 도전성 이물질(120)간의 전계(ε)의 세기를 급격이 증가시키는 역할을 하게 된다. 즉, 정상구동시의 공통전압(Vcom)과 데이터 전압(Vd)과의 전위차(ΔV1)에 비해 테스트공통전압(Vtest)과 데이터 전압(Vd)과의 전위차(ΔV2)가 더 커지게 됨으로써 도전성 이물질(120)과 화소전극(110) 또는 공통전극(130)간의 전계(ε)의 세기가 증가하게 된다.
예를 들어 도 10에 도시된 바와 같이, 화소전극(110)에 +14V 와 0V 의 데이터 전압이 교번적으로 인가되고 공통전극(130)에는 7V 의 공통전압(Vcom)이 인가되면 화소전극(110)과 공통전극(130) 사이에 존재하는 도전성 이물질(120)은 약 7V의 전위차에 의한 영향을 받게 된다. 이로써, 도전성 이물질(120)과 화소전극(110) 또는 도전성 이물질(120)과 공통전극(130)간의 전계(ε)가 발생된다. 그러나, 7V의 전위차에 의해 발생된 도전성 이물질(120)과 화소전극(110) 및 공통전극(130)간의 전계(ε)는 단시간 내에서는 화소전극(110)과 공통전극(130) 간의 수평전계(E1)에 큰 영향을 미치지 않게 된다. 다시 말해서, 도 11에 도시된 바와 같이 도전성 이물질(120)이 존재하지 않는 수평전계(E2)와 도전성 이물질(120)이 존재하는 수평전계(E2)의 세기는 단시간 내에는 거의 차이가 나지 않게 된다. 이에 따라, 도전성 이물질의 존재를 단시간 내에 검사할 수 없게 된다. 그러나, 4V의 가변된 테스트 공통전압(Vtest)이 공통전극(130)에 공급되면 14V의 데이터전압과 10V 정도의 전위차가 발생된다. 이러한 10V 정도의 전위차에 의해 도전성 이물질(120)과 화소전극 및 공통전극(110,130)간의 전계(ε)의 세기는 급격하게 증가하게 된다. 이렇게 증가된 도전성 이물질(120)과 화소전극 및 공통전극(110,130)간의 전계(ε)는 도 12에 도시된 바와 같이 도전성 이물질(120)이 존재하는 공통전극(130)과 화소전극(110)의 수평전계(E1)의 세기를 약하게 함으로써 액정의 유전이방성 성질에 제한을 가하게 된다. 즉, 가변된 테스트공통전압(Vtest)이 인가됨으로써 공통전극(130)과 화소전극(110)의 수평전계(E)의 왜곡이 급격히 증폭되어 액정의 거동의 이상이 발생된다. 이에 따라, 도전성 이물질(120)이 존재하는 영역의 광 투과율이 감소되고 이러한 광투과율의 감소는 휘도에 영향을 미치게 됨으로써 테스트 화면에 얼룩 등이 나타나게 된다. 이로써, 관찰자는 수초 내에 도전성 이물질에 의한 불량을 판별할 수 있게 된다.
이와 같이, 본 발명에 따른 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치 및 검사방법은 액정패널의 정상구동시의 기준 공통전압을 공급한 후 스위칭을 통해 가변된 테스트 공통전압을 공통라인에 공급한다. 이에 따라, 수평전계의 세기가 왜곡되어 액정의 거동이 제한됨으로써 광 투과율이 변화하게 된다. 이러한 광투과율의 변화는 휘도에 영향을 미치게 됨으로써 테스트 화면에 얼룩으로 관찰된다. 이로써, 도전성 이물질 등의 불량을 조기에 판별할 수 있게 된다.
이와 같이, 가변된 테스트 공통전압을 이용한 액정표시패널의 검사장치 및 검사방법은 TN(Twisted Nematic)모드의 액정표시패널뿐만 아니라, 나아가 VA(Vertical Alignment) 모드의 액정표시패널에도 용이하게 적용될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치 및 검사방법은 액정패널의 정상구동시의 기준 공통전압을 공급한 후 스위칭을 통해 가변된 테스트 공통전압을 공통라인에 공급함으로써 광 투과율의 변화를 일으킨다. 이러한 광투과율의 변화는 휘도에 영향을 미쳐 테스트 화면에 얼룩으로 관찰됨으로써 도전성 이물질 등의 불량을 조기에 판별할 수 있게 된다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.
도 1은 종래의 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 종래의 액정표시패널의 테스트 공정시 인가되는 공통전압 및 데이터 전압을 나타내는 도면이다.
도 3은 액정표시패널에 잔류하는 도전성 이물질에 전계가 발생됨을 나타내는 도면이다.
도 4는 전계왜곡에 의한 빛의 투과량의 저하를 나타내는 도면이다.
도 5는 일반적인 테스트 공정의 경우 도전성 이물질에 의한 불량이 검출되지 않음을 나타내는 실험결과이다.
도 6은 장시간의 테스트 공정시 나타나는 화질 불량을 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명에 따른 테스트에 의해 검출되는 도전성 이물질 등에 의한 화질 불량이 검출됨을 나타내는 실험결과이다.
도 8는 본 발명에 따른 수평 전계 인가형 액정표시패널의 테스트 공정시 인가되는 공통전압 및 데이터 전압을 나타내는 도면이다.
도 9는 도 8에 도시된 전압 인가시 액정표시패널에 잔류하는 도전성 이물질에 전계가 발생됨을 나타내는 도면이다.
도 10은 액정표시패널의 테스트 공정시 인가되는 공통전압 및 데이터 전압의 일예를 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 도 10에 도시된 정상적인 공통전압이 인가된 경우 액정표시패널에 잔류하는 도전성 이물질과 전극간에 전계가 발생됨을 나타내는 도면이다.
도 12은 도 11에 도시된 가변된 테스트 전압이 인가된 경우 액정표시패널에 잔류하는 도전성 이물질과 전극간에 전계가 발생됨을 나타내는 도면이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
14 : 게이트 검사 패드 15 : 데이터 검사 패드
16 : 공통검사 패드 17 : 게이트 패드
18 : 데이터 패드 19 : 공통 패드
50,110 : 화소전극 60,120 : 도전성 이물질
70,130 : 공통전극

Claims (6)

  1. 데이터전압을 액정표시패널의 데이터 라인에 공급하는 데이터전압생성회로와;
    상기 액정표시패널의 정상구동시의 구동전압과 다른 테스트 전압을 상기 액정표시패널의 공통전극에 공급하는 공통전압생성회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 데이터전압은 교류형태로 상기 액정표시패널에 공급되는 것을 특징으로 하는 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 전압은 상기 정상 구동시의 구동전압을 기준으로 하여 ±3V 내에서 상기 구동전압과 다른 것을 특징으로 하는 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사장치.
  4. 액정표시패널의 데이트 라인에 데이트 전압을 인가하는 단계와;
    상기 액정표시패널의 공통전극에 정상구동시의 공통전압과 다른 테스트 전압을 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 테스트 전압을 인가하는 단계는,
    상기 데이터전압을 교류형태로 상기 액정표시패널에 공급하는 것을 특징으로 하는 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사방법.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 테스트 전압을 인가하는 단계는,
    상기 정상 구동시의 구동전압을 기준으로 하여 ±3V 내에서 상기 테스트전압을 상기 구동전압과 다르게 하는 것을 특징으로 하는 수평 전계 인가형 액정표시패널의 검사방법.
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KR101383785B1 (ko) * 2011-08-02 2014-04-11 부산대학교 산학협력단 수평 스위칭 모드 액정 표시 장치

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