KR100995633B1 - Cog 방식의 액정패널 검사방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 액정패널을 구동하기 위한 드라이버 IC의 출력 패드와 입력 패드의 숏트 및 오픈 검사를 시행하여 소자의 신뢰성을 향상시키도록 한 COG 방식의 액정패널 검사방법에 관한 것으로서, 일측 끝단에 출력 패드를 갖고 서로 수직한 방향으로 형성되는 게이트 라인 및 데이터 라인과, 상기 게이트 라인 및 데이터 라인의 출력 패드에 대향하여 형성된 입력 패드와, 상기 입력 패드와 출력 패드 사이에 개재되는 드라이버 IC를 포함하여 구성된 COG 방식의 액정패널 검사방법에 있어서, 상기 입력 패드 및 출력 패드에 대향하도록 검사 패턴을 형성하는 단계, 상기 검사 패턴을 상기 입력 패드 및 출력 패드에 연결하여 상기 입력 패드 및 출력 패드를 검사하는 단계를 포함하고, 상기 입력 패드와 출력 패드를 연결할 때 상기 입력 패드와 출력 패드의 평탄면을 확보하여 상기 검사 패턴에 유동층을 형성하는 것을 특징으로 한다.
COG, 액정패널, 출력 패드, 입력 패드, 검사
Description
도 1은 일반적인 COG 방식의 액정패널을 나타낸 평면도
도 2는 도 1의 어레이 기판을 나타낸 레이 아웃도
도 3은 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널을 나타낸 평면도
도 4는 도 3의 Ⅳ - Ⅳ'선에 따른 COG 방식의 액정패널을 나타낸 단면도
도 5는 본 발명에서 COG 방식의 액정패널을 검사하기 위한 검사패턴을 나타낸 단면도
도 6은 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 검사방법을 나타낸 단면도
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
31 : 어레이 기판 32 : 컬러필터 기판
33 : 출력 패드 34 : 입력 패드
35 : 드라이버 IC 36 : 절연막
37 : PCB 기판 38 : 금속전극
39 : 절연막 패턴
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 입력 패드 및 출력 패드의 숏트(short) 및 오픈(open) 여부를 검사하는데 적당한 COG(Chip On Glass) 방식의 액정패널 검사방법에 관한 것이다.
최근 정보화 사회로 시대가 급 발전함에 따라 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 우수한 특성을 가지는 평판 표시 장치(flat panel display)의 필요성이 대두되었는데, 이 중 액정표시장치(liquid crystal display device)가 해상도, 컬러표시, 화질 등에서 우수하여 노트북이나 데스크탑 모니터에 활발하게 적용되고 있다.
일반적으로 액정표시장치는 전극이 각각 형성되어 있는 두 기판을 두 전극이 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고 두 기판 사이에 액정 물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정 분자를 움직이게 함으로써, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율에 의해 화상을 표현하는 장치이다.
이러한 액정표시장치는 두 기판 사이에 액정이 주입되어 있는 액정패널과 액정패널 하부에 배치되고 광원으로 이용되는 백라이트, 그리고 액정패널 외곽에 위치하며 액정 패널을 구동시키기 위한 구동부로 이루어진다.
여기서, 구동부는 액정 패널의 배선에 신호를 인가하기 위한 구동회로(이하 드라이브 IC(drive integrated circuit)라고 함)를 포함하는데, 드라이브 IC를 액정패널에 실장(packaging)시키는 방법에 따라, 칩 온 글래스(COG : chip on glass), 테이프 캐리어 패키지(TCP : tape carrier package), 칩 온 필름(COF : chip on film) 등으로 나누어진다.
상기 COG는 액정패널의 어레이 기판상에 드라이브 IC를 실장하는 기술이고, 상기 TCP나 COF는 별도의 필름을 이용하여 드라이브 IC를 실장하고 상기 드라이브 IC가 내장된 필름을 액정 패널의 배면으로 구부릴 수 있어 콤팩트한 구조를 가지게 된다.
이하, 첨부된 도면을 참고하여 종래의 COG 방식의 액정패널 검사방법을 설명하면 다음과 같다.
도 1은 일반적인 COG 방식의 액정패널을 나타낸 평면도이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 어레이 기판(11)과 컬러필터 기판(12)으로 이루어지고, 상기 어레이 기판(11)과 컬러필터 기판(12) 사이에는 액정층(도시되지 않음)이 주입되어 있다.
여기서, 상기 어레이 기판(11)은 상기 컬러필터 기판(12)보다 더 넓은 면적을 가지므로, 상기 컬러필터 기판(12)으로 덮이지 않는 부분이 존재하는데, 이 부분에는 액정 패널의 배선에 신호를 인가하기 위한 출력 패드(13) 및 입력 패드(14)가 위치한다.
그리고 상기 출력 패드(13)와 입력 패드(14) 사이에 액정패널을 구동하기 위한 드라이버 IC(15)가 구성된다.
한편, 전술한 바와 같이 액정패널의 하부에는 광원으로 이용되는 백라이트(도시하지 않음)가 배치되어 있다.
도 2는 도 1의 어레이 기판을 나타낸 레이 아웃도이다.
도 2에 도시한 바와 같이, 기판상에 일정한 간격을 갖고 일방향으로 복수개의 게이트 라인(21)이 배열되고, 상기 각 게이트 라인(21)에 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 복수개의 데이터 라인(22)이 배열된다.
상기 각 게이트 라인(21)과 데이터 라인(22)의 일측 끝단에는 출력 패드(23)가 형성되며, 상기 각 출력 패드(23)에 대향되는 부분에는 일정 간격을 갖고 복수개의 입력 패드(24)가 형성된다.
여기서, 상기 출력 패드(23)에 대향되도록 입력 패드(24)가 형성된 부분이 드라이버 IC 실장 영역(25)이다.
상기와 같이 구성하여 박막트랜지스터 및 화소전극 등을 구비한 TFT-LCD를 형성한 다음 출력 패드(23)의 숏트(short) 및 오픈(open) 등의 어레이 검사를 실시한다.
즉, 종래에는 TFT LCD의 검사방법으로 프로빙 니들(probing needle)을 출력 패드(23)에 콘택(contact)시켜 어레이 검사를 하였다.
따라서 상기 출력 패드(23)의 니들 콘택(needle contact) 공간이 필요하고, 입력 패드(24)의 문제점에 대해 검출할 수가 없었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로 액정패널을 구동하기 위한 드라이버 IC의 출력 패드와 입력 패드의 숏트 및 오픈 검사를 시행하여 소자의 신뢰성을 향상시키도록 한 COG 방식의 액정패널 검사방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 검사방법은 일측 끝단에 출력 패드를 갖고 서로 수직한 방향으로 형성되는 게이트 라인 및 데이터 라인과, 상기 게이트 라인 및 데이터 라인의 출력 패드에 대향하여 형성된 입력 패드와, 상기 입력 패드와 출력 패드 사이에 개재되는 드라이버 IC를 포함하여 구성된 COG 방식의 액정패널 검사방법에 있어서, 상기 입력 패드 및 출력 패드에 대향하도록 검사 패턴을 형성하는 단계, 상기 검사 패턴을 상기 입력 패드 및 출력 패드에 연결하여 상기 입력 패드 및 출력 패드를 검사하는 단계를 포함하고, 상기 입력 패드와 출력 패드를 연결할 때 상기 입력 패드와 출력 패드의 평탄면을 확보하여 상기 검사 패턴에 유동층을 형성하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 검사방법을 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 3은 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널을 나타낸 평면도이다.
도 3에 도시한 바와 같이, 어레이 기판(31)과 컬러필터 기판(32)으로 이루어지고, 상기 어레이 기판(31)과 컬러필터 기판(32) 사이에는 액정층(도시되지 않음)이 주입되어 있다.
여기서, 상기 어레이 기판(31)은 상기 컬러필터 기판(32)보다 더 넓은 면적을 가지므로, 상기 컬러필터 기판(32)으로 덮이지 않는 부분이 존재하는데, 이 부분에는 액정 패널의 배선에 신호를 인가하기 위한 출력 패드(33) 및 입력 패드(34)가 위치한다.
그리고 상기 출력 패드(33)와 입력 패드(34) 사이에 액정패널을 구동하기 위 한 드라이버 IC(35)가 구성되어 있다.
도 4는 도 3의 Ⅳ - Ⅳ'선에 따른 COG 방식의 액정패널을 나타낸 단면도이다.
도 4에 도시한 바와 같이, 어레이 기판(31)상에 일정한 간격을 갖고 형성되는 출력 패드(33) 및 입력 패드(34)와, 상기 출력 패드(33) 및 입력 패드(34)의 표면이 소정부분 노출되도록 콘택홀을 갖고 드라이버 IC가 실장될 영역(A)이 정의되는 절연막(36)으로 이루어져 있다.
한편, 상기 어레이 기판(31)은 화상정보가 인가되는 데이터 라인들과 게이트신호가 인가되는 게이트 라인들이 서로 수직 교차하여 배치되고, 그 교차부에 액정 셀들을 스위칭하기 위한 박막트랜지스터와, 상기 박막트랜지스터에 접속되어 액정 셀을 구동하는 화소전극과, 상기 화소전극과 박막트랜지스터를 보호하기 위해 전면에 형성된 보호막이 구비되어 있다.
여기서, 상기 출력 패드(33)와 입력 패드(34)는 상기 게이트 라인 및 데이터 라인의 일 끝단에 연결되어 있다.
그리고 상기 컬러필터 기판(32)에는 블랙 매트릭스에 의해 셀 영역별로 분리되어 도포된 칼라 필터들과, 상기 어레이 기판(31)에 형성된 화소전극의 상대전극인 공통전극이 구비되어 있다.
상기한 바와 같이 구성된 어레이 기판(31)과 컬러필터 기판(32)은 스페이서(spacer)에 의해 일정하게 이격되도록 셀-갭(cell-gap)이 마련되고, 상기 화상표시부의 외곽에 형성된 실 패턴(seal pattern)에 의해 합착되어 단위 액정패 널을 이루게 된다.
도 5는 본 발명에서 COG 방식의 액정패널을 검사하기 위한 검사패턴을 나타낸 단면도이다.
도 5에 도시한 바와 같이, 검사 패턴은 PCB 기판(37)상에 상기 어레이 기판(31)상에 형성된 입력 패드(34)의 요(凹)부에 삽입될 수 있도록 돌출부를 갖고 형성되는 금속전극(38)으로 이루어져 있다.
여기서, 상기 검사 패턴은 상기 PCB 기판(37)상에 절연막 패턴(39)을 형성한 후, 상기 절연막 패턴(39)을 포함한 전면에 도전성 금속을 갖는 금속막을 증착함으로서 얻을 수 있다.
도 6은 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 검사방법을 나타낸 단면도이다.
도 6에 도시한 바와 같이, PCB 기판(37)상에 돌출부를 갖고 형성되는 금속전극(38)을 상기 입력 패드(34)에 삽입하여 상기 입력 패드(34)의 숏트 및 오픈 등을 검사한다.
여기서, 상기 입력 패드(34)에 연결되는 금속전극(38)만을 도시하고 있지만, 상기 출력 패드(33)에 연결되는 금속전극을 형성하여 입력 패드(34)와 출력 패드(33)를 동시에 검사할 수도 있다.
즉, 본 발명에서는 COG 방식의 액정패널에서 입력 패드(34) 및 출력 패드(33)에 연결되는 별도의 검사 패턴을 제작하고, 상기 검사 패턴을 상기 입력 패드(34) 및 출력 패드(33)에 연결하여 검사를 시행한다.
또한, 상기 PCB 기판(37) 대신에 웨이퍼나 글라스(glass), 필름위에 절연막 등을 형성하여 사용할 수도 있다.
한편, 상기 검사 패턴을 입력 패드(34) 및 출력 패드(33)에 연결할 때 단차가 우려되는 경우에는 상기 입력 패드(34)와 출력 패드(33)의 평탄면을 확보하여 검사 패턴에 유동층(도시되지 않음)을 형성하여 완충 작용을 할 수 있도록 한다.
이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 검사방법은 다음과 같은 효과가 있다.
즉, 액정패널을 구동하기 위해 탑제되는 드라이버 IC의 입력 패드와 출력 패드의 숏트 및 오픈 등을 검사할 수 있어 소자의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
Claims (3)
- 일측 끝단에 출력 패드를 갖고 서로 수직한 방향으로 형성되는 게이트 라인 및 데이터 라인과, 상기 게이트 라인 및 데이터 라인의 출력 패드에 대향하여 형성된 입력 패드와, 상기 입력 패드와 출력 패드 사이에 개재되는 드라이버 IC를 포함하여 구성된 COG 방식의 액정패널 검사방법에 있어서,상기 입력 패드 및 출력 패드에 대향하도록 검사 패턴을 형성하는 단계;상기 검사 패턴을 상기 입력 패드 및 출력 패드에 연결하여 상기 입력 패드 및 출력 패드를 검사하는 단계를 포함하고,상기 입력 패드와 출력 패드를 연결할 때 상기 입력 패드와 출력 패드의 평탄면을 확보하여 상기 검사 패턴에 유동층을 형성하는 것을 특징으로 하는 COG 방식의 액정패널 검사방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 검사 패턴은 기판상에 절연막 패턴을 형성하고, 상기 절연막 패턴을 포함한 기판의 전면에 금속막을 형성하는 것을 특징으로 하는 COG 방식의 액정패널 검사방법.
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