KR20050023276A - 분류기용 조명원 - Google Patents

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KR20050023276A
KR20050023276A KR10-2004-7019265A KR20047019265A KR20050023276A KR 20050023276 A KR20050023276 A KR 20050023276A KR 20047019265 A KR20047019265 A KR 20047019265A KR 20050023276 A KR20050023276 A KR 20050023276A
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shroud
article
axis
receptor
hole
Prior art date
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KR10-2004-7019265A
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English (en)
Inventor
오이스트라이히클라우스
폴리이제프
오그번로버트
Original Assignee
사타케 유에스에이 인코포레이티드
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    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21KNON-ELECTRIC LIGHT SOURCES USING LUMINESCENCE; LIGHT SOURCES USING ELECTROCHEMILUMINESCENCE; LIGHT SOURCES USING CHARGES OF COMBUSTIBLE MATERIAL; LIGHT SOURCES USING SEMICONDUCTOR DEVICES AS LIGHT-GENERATING ELEMENTS; LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21K2/00Non-electric light sources using luminescence; Light sources using electrochemiluminescence
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
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    • F21K2/06Non-electric light sources using luminescence; Light sources using electrochemiluminescence using chemiluminescence

Abstract

본 발명은 스캔 라인을 따른 물품의 유동을 제공하는 분류기용의 머신 비전 뷰어에 사용되는 조명원에 관한 것으로, 이 조명원은 슈라우드의 내부에 장착되어 있다. 조명원은 슈라우드 내에 종방향으로 배치되고, 슈라우드의 내주를 따라 각도를 두고 배치되어 있다. 대상 물품이 슈라우드의 내외로 출입할 수 있도록 슈라우드 축선과 평행하게 연장되는 선형 슬롯이 슈라우드에 마련되어 있다. 슈라우드를 통과하는 물품을 리셉터에 의해 검사하도록 슈라우드 축선과 평행하게 연장되는 선형 슬롯이 마련되어 있다. 이와 달리, 원통의 내부는 균일하며 광을 반사한다. 변형예에 따른 슈라우드는 2개의 호형(arc) 슈라우드 부품을 구비하며, 물품이 호형 슈라우드 부품을 통과하는 것을 허용하도록 호형 부품 사이에 구멍이 마련되어 있다.

Description

분류기용 조명원{ILLUMINATION SOURCE FOR SORTING MACHINE}
본 발명은 분류기에 관한 것으로, 구체적으로 말하면 머신 비전 시스템용 조명원(illumination source)에 관한 것이다.
머신 비전 시스템을 채용하는 분류기는 통상적으로 반사된 에너지파에 의해 물품을 인식하여 분류한다. 머신 비전 시스템의 주요 부품 중 하나가 조명원이다. 조명원은 비전 시스템의 수용 품질을 위한 기준점을 제공한다. 통상적으로, 조명원은 비전 시스템의 목표 지점〔종종 스캔 라인(scan line)으로 지칭〕에서 고강도를 갖고 균일할 필요가 있다. 대부분의 검사 시스템은 일부 종류의 광원을 포함한다. 통상의 광원으로는 백열등 및 형광등, 그리고 발광 다이오드가 포함된다. 링형 램프 어레이, 집속형 필라멘트 투사기 및 광섬유 방사기와 같이 보다 양호한 조명을 위하여 각종의 광학 기구가 설계되어 왔다. 종래의 조명기에 있어서는, 불균일한 조명으로 인하여 결점으로서의 음영이 검출될 수 있다. 통상적으로 측정되는 특징은 육안으로 볼 수 있는 광원(human-visible light source)을 포함한 광원을 채용하고 있지만, 머신 비전 시스템은 육안으로 볼 수 있는 범위 밖의 에너지파를 측정할 수 있다.
Bjork의 미국 특허 제6,355,897호는, 투명한 펠릿 운반 트랙 위에 배치된 광 검출기와, 트랙의 반대측에 배치된 광원을 구비하여 알갱이(granule)를 분류하는 장치 및 방법을 개시하고 있다. 검출기는 광원이 있는 챔버의 일단에 있고, 타단에는 광원과 트랙이 있다. 챔버는 균일하게 조사(照射)되며, 반사층을 구비할 수도 있다. 광원은 트랙의 위로부터 또는 둘레에서 펠릿을 조사할 수도 있다. 결점은 검출기에서 저강도 포텐셜로서 지시된다.
Squyres의 미국 특허 제5,201,576호는 내부 반사면으로 덮여 있는 구형 챔버를 개시하고 있으며, 광원이 상기 구형 챔버 내에 있다. 투명한 튜브가 챔버의 축선을 통과한다. 검사 대상 물품은 튜브를 통하여 운반된다. 적어도 2개의 관찰 구멍이 챔버에 마련되어 있으며, 검사 카메라가 관찰 구멍을 통하게 정향되어 있다. 이 특허는 Krylon에서 제조하는 아크릴계 백색 페인트의 사용을 개시하고 있으며, 90% 이상의 반사율을 제공하는 물품의 용량(product's capacity)을 청구하고 있다. 이 특허는 광학 통합 영역에 종래 기술에서와 같은 산화 티타늄 코팅을 사용하는 것을 개시하고 있다.
챔버에는 원형의 관상 램프, 2개의 비디오 카메라, 그리고 2개의 단부가 있는 투명한 원통형 튜브가 마련되어 있다. 물품은 튜브를 통하여 이송되고, 램프에 의해 조사(照射)되며 카메라에 의해 검사된다. 이러한 해결책과 관련하여 일어날 수 있는 한 가지 문제는 챔버 내측에서의 광 분포에 영향을 끼치지 않으면서 카메라를 조정하기가 어려울 있다는 것이다. 이는 미국 특허 제5,201,576호에 개시되어 있는 램프 조사광의 강도가 챔버 내측에서 변경된다는 사실과, 램프에 인접한 곳에서의 강도가 램프로부터 어느 정도 떨어져 있는 곳에서의 강도보다 높다는 사실에 기인한다. 다른 문제는 튜브가 반사 형태로 광 굴절에 영향을 끼칠 수 있다는 것인데, 예컨대 렌즈의 경면 이미지가 보일 수 있다는 것이다. 또한, 이러한 해결책은 일련의 물품의 한면을 동시에 검사하는 데에 한계가 있다.
Bourn 등의 미국 특허 제6,238,060호는 물품을 검사할 수 있는 영역에 음영이 없으면서 집속된 균일한 광을 제공하기 위한 발광 다이오드의 링형 광원 또는 유사한 광 포인트를 개시하고 있다. 그러나, 이 특허는 많은 편차를 나타내기 때문에, 긴 스캔 라인에는 적합하지 않은 것으로 여겨진다.
Sommer의 미국 특허 제6,234,317호는 시간이 경과함에 따라 와이퍼로 닦이거나 공압으로 세정될 수 있는 광 투과성 원통 내에 각각 마련되어 있는 복수의 광원을 개시하고 있다. 물품은 검사 공정 중에 광 투과성 원통 사이를 통과한다.
Lebens의 미국 특허 제5,745,176호는 선형 어레이의 광을 제공하는 광원과 광원 중간에 있는 집속 소자를 개시하고 있으며, 물품에 집속광을 조사하여 물품을 검사하고 있다. 광원은, 집속광과 간섭하여 광원으로부터의 광 강도의 편차를 야기하는 내부 반사를 방지하는 배경(background)을 포함한다. 검사 대상 물품은 이동하는 물품이 아니다.
Graudejus 등의 미국 특허 제5,586,663호는 청결하게 유지될 수 있는 회전 배경을 개시하고 있다. 그러나, 회전 배경은 검사 대상 물품의 경로를 둘러싸는 원통이 아니다.
선형 또는 긴 스캔 라인을 따라 검사 대상 물품을 강하고 균일하게 조사하여, 순수하게 음영에 의해 초래된 폐색이나 다른 결점 등과 같은 물품의 선택된 특징을 지속적으로 인식하여 오류-특징(mis-characterization)을 실질적으로 감소시키는 머신 비전 시스템용의 조명 시스템을 제공함으로써 종래 기술을 개선한다.
도 1은 본 발명의 조명 시스템을 구비하는 머신 비전 시스템을 도시하고,
도 2는 본 발명의 조명 시스템의 단면도이고,
도 3은 본 발명의 조명 시스템의 변형예의 단면도이고,
도 4는 본 발명의 조명 시스템의 변형예의 단면도이고,
도 5는 본 발명의 조명 시스템의 변형예의 단면도이고,
도 6은 본 발명의 조명 시스템의 변형예의 단면도이다.
본 발명은 스캔 라인을 따른 물품의 유동을 제공하는 분류기용 머신 비전 뷰어에 사용되는 조명원을 포함한다. 본 발명은 긴 원통형의 슈라우드 구조를 포함하며, 이 슈라우드의 내부에 조명원이 장착되어 있다. 조명원은 형광등, 아크 램프, 가스 방전 램프, 필라멘트 광원의 어레이 또는 반도체 광원을 포함할 수 있다. 조명원은 슈라우드 내에 종방향으로 배치되며, 슈라우드의 내부를 따라 각도를 두고 배치되어 있다.
슈라우드 축선에 평행한 선형 구멍이 슈라우드에 마련되어 대상 물품을 슈라우드 내로 도입하고, 슈라우드 축선에 평행한 제2 선형 구멍이 슈라우드에 마련되어 물품을 슈라우드로부터 배출한다. 슈라우드 축선에 평행한 선형 관찰 구멍이 마련되어 있어서, 검출기가 슈라우드를 통과하는 물품을 검사한다. 이와 달리, 원통의 내부는 균일하고 광을 반사한다.
원통의 직경은, 스캔 라인에서의 조명 강도를 최대화하고, 선택된 물품을 보다 정확하게 거절하도록 스캔 라인에 실용적으로 근접하게 이젝터를 배치할 수 있도록 하기 위하여 실용상의 최소 사이즈로 제한된다. 그러나, 원통의 직경은 구멍의 영역에서 제거된 원통 표면의 원치 않는 효과를 줄일 수 있을 정도로 충분히 커야 한다.
조명의 균일성을 더욱 개선하기 위하여, 원통을 필요한 통과 영역보다 길게 할 수 있으며, 슈라우드 단부를 폐쇄할 수 있다. 원통 부분과 슈라우드 단부의 전체 내면은, 원통 부분 내에서 조명 에너지의 최적의 반사에 적합한 스펙트럼 특성을 갖고 분류 대상 물품에 최대의 콘트라스트를 제공하는 재료를 이용하여 마무리 처리될 수 있다.
먼저 도 1을 참고하면, 본 발명의 조명 시스템(10)을 구비하는 예시적인 머신 비전 분류기 시스템(100)이 도시되어 있다. 머신 비전 분류기 시스템(100)은 호퍼(110), 컨베이어(120), 비전 시스템(10), 선별기(130), 분리된 물품용 용기(140) 및 통(150)을 구비한다.
본 발명의 머신 비전 분류기 시스템(100)에 의해 검사 및 분류되는 물품이 호퍼(110) 내에 유지되어 있고, 컨베이어(120)로 분배된다. 컨베이어(120)는 검사 및 분류할 개별 물품(도시 생략)을 분리하는 진동 수단(도시 생략)을 구비할 수 있다. 컨베이어(120)는 물품의 분리를 위한 진동 수단의 대안으로서, 또는 그 진동 수단에 부가하여 트랙 또는 채널(도시 생략)을 더 구비할 수 있다.
예시적인 머신 비전 분류기 시스템(100)에 있어서, 분류 대상 물품은 컨베이어(120)의 쇼울더(122) 위로 운반된다. 컨베이어(120)는 그 컨베이어(120)로부터의 물품의 유동을 소정 속도로 제공하도록 구성되어, 물품은 조명 시스템(10)을 균일하게 통과한다. 조명 시스템(10)을 통한 물품의 유동 경로는 물품 궤적(102)으로 표시되어 있다. 도 1 및 도 2에 도시된 실시예에 따른 머신 비전 분류기 시스템(100)에 있어서는, 물품이 컨베이어(120)로부터 배출될 때에 자유 낙하한다. 물품의 이러한 유동은 물품 궤적(102)을 형성한다.
도 3에 도시된 머신 비전 분류기 시스템(100)의 실시예는 중력식 슬라이드(201)를 구비한다. 이러한 실시예에 따르면, 중력식 슬라이드(201)는 진동 피더(도 3에는 도시 생략됨)와 비전 시스템(10)의 중간에 위치되어 있다. 이러한 경우에, 중력식 슬라이드(210)로부터의 물품의 자유 유동이 물품 궤적(202)을 형성한다.
물품은 예컨대 그레인(grain), 너트, 플라스틱 펠릿과 같은 복수의 유기질 또는 무기질 물품 중 임의의 것일 수 있다. 물품은 사이즈, 칼라, 결점 및 다른 특징을 비롯하여 사용자가 정한 각종의 기준을 기초로 검사 및 분류될 수 있다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 조명 시스템(10)은 긴 원통형의 슈라우드(16)를 구비한다. 원통형 슈라우드(16)는 내부 반사면(20)이 있는 슈라우드 벽(18)과 슈라우드 축선(22)을 구비한다. 수직 축선(24) 및 수평 축선(26)을 표시하는 선이 도시되어 있다. 이러한 축선(24, 26)은 슈라우드 축선(22)에 대해 수직이다.
본 발명의 예시적인 실시예에서, 컨베이어(120)와 슈라우드(16)는 물품 궤적(102)이 슈라우드(16)를 통과하도록 구성되고 동작된다. 물품 궤적(102)은 궤적(102)의 임의의 위치에서 슈라우드 축선(22)에 본질적으로 평행하다.
물품 유입 슬롯(30)과 물품 유출 슬롯(32)이 슈라우드(16)에 마련되어 있다. 예시적인 실시예에 따르면, 유입 슬롯(30)과 유출 슬롯(32)은 슈라우드 벽(18)에 있는 긴 구멍이며, 각각 슈라우드 축선(22)에 평행하게 연장된다. 슬롯(30, 32)은 물품 궤적(102)의 측방향 에지(도시 생략)를 넘어서 연장된다.
도 1에 도시된 예시적인 실시예에 따르면, 유입 슬롯(30)은 수평 축선(26) 위에 위치되어 있다. 유출 슬롯(32)은, 수직 축선(24)으로 분할했을 때에, 유입 슬롯(30)과 슈라우드(16)의 반대측에서 수평 축선(26) 아래에 위치되어 있다. 슈라우드(16) 상에서 슬롯(30, 32)의 위치는 검사 대상 물품의 비중에 따른 조정을 필요로 할 수 있다. 이러한 조정은 슬롯(30, 32)의 위치를 변경함으로써 또는 슈라우드 축선(22)을 중심으로 슈라우드(16)를 회전시킴으로써 달성될 수 있다. 슬롯(30, 32)의 폭은 반사면(20)의 최대 반사 표면적을 유지하면서도 물품의 유동을 방해하지 않도록 최소 레벨로 유지된다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 유입 슬롯(30), 유출 슬롯(32) 및 물품 궤적(102)은 물품 궤적(102)이 슈라우드 축선(22)과 일치하도록 배치되어 있다.
슈라우드 벽(18)에 스캐닝 슬롯(34)이 마련되어 있다. 예시적인 실시예에 있어서, 스캐닝 슬롯(34)은 슈라우드 축선(22)에 평행한 선형 또는 긴 구멍이다. 스캐닝 슬롯(34)은 스캐닝 리셉터(50)가 스캐닝 및 분류할 물품의 예정된 특징을 인식할 수 있도록 구성되어 있다. 리셉터(50)는 하나의 리셉터로 이루어질 수도 있고, 복수 개의 리셉터로 이루어질 수도 있다.
도 2를 참조하면, 리셉터(50)는 스캐닝 슬롯(34)으로부터 간격을 두고 있다. 리셉터(50)는 스캐닝 축선(38)을 따라 집속되어 있다. 스캐닝 축선(38)과 물품 궤적(102)의 교차로 인하여, 검사할 물품의 스캔 라인(23)을 인식한다. 스캔 라인(23)은 슈라우드 축선(22)과 일치하거나 그에 인접하게 있다. 바람직한 실시예에 따르면, 복수의 리셉터(50)가 물품 궤적(102)의 측방향 길이를 따라 스캐닝 슬롯(34)에 평행하게 배치되어 있다.
슈라우드 벽(18)과 리셉터(50)의 중간에서 리셉터 슈라우드(35)가 연장된다. 리셉터 슈라우드(35)는 스캐닝 슬롯(34)과 리셉터(50) 사이에 폐쇄 환경을 제공하여, 리셉터(50)와 스캐닝 슬롯(34)의 중간에 주변광이 들어오는 것을 제한한다. 리셉터 슈라우드(35)에는 비반사 내면(33)이 마련되는 것이 바람직하다.
슈라우드(16) 내에는 복수의 광원(12)이 마련되어 있다. 도시된 예시적인 실시예에 따르면, 광원(12)은 슈라우드 축선(22)에 평행하게 정렬된 4개의 긴 벌브를 포함한다. 광원이 유동 경로(102) 또는 스캔 축선(38)과 간섭하지 않게 하는 물리적 제한과 일치하게 임의의 수의 광원(12)이 하우징을 점유할 수도 있다.
슈라우드 벽(18)의 내부에 반사면(20)이 마련되어 있다. 반사면(20)은 슈라우드(16) 내의 조명 에너지의 최적 반사에 적합한 스펙트럼 특성을 갖는 반사 코팅을 포함한다. 반사면(20)은 분류할 물품의 리셉터(50)에 의해 관찰되는 배경을 더 포함한다. 임의의 특정 용례에 적용되는 반사면(20)의 코팅은 광원(12)이 방사하는 파장을 고려하여 검사 대상 재료의 특징과 그러한 배경 사이의 스펙트럼 콘트라스트를 제공하도록 최적화될 것이다.
도 2 내지 도 4에 도시된 긴 광원(12)은 슈라우드 축선(22)에 평행하게 배치되어 있다. 각각의 광원(12)은 슈라우드 벽(18)에 인접하게 위치되어 있지만, 슈라우드 축선(22)으로부터 멀리 있는 각 광원(12)에 의해 발생된 광을 원통형 반사면(20)에 의해 반사할 수 있도록 슈라우드 벽(18)으로부터 충분한 간격을 두고 있다. 광원(12)은 슈라우드(16)의 내부에서 슈라우드 벽(18)의 둘레에 서로 간격을 두고 있다.
예시적인 실시예에 따르면, 광원(12)은 슈라우드 축선(22)으로부터 등간격으로 배치되어 있다. 광원(12)은 그 자체가 방위 방향(orientation direction)으로 집속되지 않고, 대신에 고강도의 확산된 광원이다. 따라서, 확산광은 반사면(20)에 의해 반사되어 슈라우드(16) 내에 강한 광을 발생시킨다. 광원(12)이 광을 반경 방향으로 투사하고 광원(12)이 슈라우드 벽(18) 내에 수용되므로, 복수의 광원(12)에 의해 발생된 광은 슈라우드 벽(18) 내에서 계속적으로 반사될 것이다. 슈라우드 축선(22)에 인접한 스캔 라인(23)에서, 광원(12)으로부터의 광과 반사면(20)에서 반사된 광을 포함한 강한 광이 모든 방향에서 수용되어, 스캔 라인(23)은 모든 방향의 강한 광을 상응하게 수용할 있다.
광원(12)은 형광 튜브, 필라멘트 광의 어레이, 아크 램프, 가스 방전 램프 또는 발광 다이오드와 같은 광-발생 반도체의 어레이를 포함할 수 있다. 이러한 변형 광원(12)을 채용하는 변형예에 따르면, 광원(12)은 슈라우드 벽(18) 근처에 위치되지만 슈라우드 축선(22)으로부터 간격을 두고 있어서, 스캔 라인(23)에 강한 광을 제공하는데, 그러한 광은 광원(12)으로부터의 직접 광 및 반사면(20)으로부터의 반사광을 포함한다.
원통형 슈라우드(16)의 직경은, 스캔 라인에서의 조명 강도를 최대화하고, 선택된 물품을 보다 정확하게 거절하도록 스캔 라인에 실용적으로 근접하게 이젝터를 배치할 수 있도록 하기 위하여 실용상의 최소 사이즈로 제한된다. 그러나, 원통의 직경은 슬롯의 영역에서 제거된 원통 표면의 원치 않는 효과를 줄일 수 있을 정도로 충분히 커야 한다.
조명의 균일성을 더욱 개선하기 위하여, 슈라우드(16)는 검사할 물품에 필요한 통과 면적보다 길게 구성되어 있다. 슈라우드 벽(18)은 궤적(122)의 측방향 에지를 넘어서 축선(22)을 따라 측방향으로 연장되어, 궤적(122) 중의 최종 생성 입자를 완전히 조사하도록 충분한 반사면(20)이 존재한다.
도시된 예시적인 실시예에 따르면, 원통의 단부(40)가 슈라우드 벽(18)의 양단에 마련되어 있다. 있는 경우에, 원통의 단부(40)는 내부 반사면(20)으로 각각 덮여 있다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 긴 벌브 광원(12)을 포함하는 실시예에 따르면, 원통 단부(40)는 벌브의 광 생성 세그먼트의 종단에 배치되고, 그 외측에 광을 생성하지 않는 커넥터가 연장되어 있다. 원통 단부(40)를 이와 같이 배치하면, 슈라우드(16) 내에서의 반사가 개선되어, 상이한 스펙트럼 표면을 갖는 커넥터 또는 커넥터 베이스의 임의의 부정적 영향을 제거할 수 있다.
도 1 내지 도 3에 도시되어 있는 본 발명의 실시예에 따르면, 선별기(130)는 압축 공기(131)를 궤적(102) 내로 선택하여 간헐적으로 분출하는 일련의 노즐(134)을 구비한다. 노즐(134)은 물품 궤적(102)을 따라 라인을 형성하여, 분류된 것으로 인식된 물품(도시 생략)의 임의의 개별 피스(piece)가 물품의 비인식 피스를 전환시키지 않고도 궤적(102b)으로 전환될 수 있다.
동작 시에, 비전 시스템(10)을 통하여 소정 양의 물품이 궤적(102)을 따라 유동할 때에, 리셉터(50)는 스캔 라인(23)을 따라 통과하는 물품에 대한 광학 데이터를 얻어서, 그러한 데이터를 처리 수단으로 보내어, 획득된 데이터가 허용 가능한 레벨의 범위 안에 있는지 그러한 범위의 밖에 있는가를 결정한다. 데이터가 허용 가능한 범위의 밖에 있으면, 선별기(130)는 궤적(102)을 따라 특정 지점에서 궤적(102) 중의 물품에 압축 공기(131)를 분출하도록 맞물려서, 인식된 낙하 물품의 궤적을 변경시킨다. 단지 예시 목적으로, 거절된 물품의 궤적이 102b로서 지시되어 있으며, 거절되지 않은 물품의 궤적은 102a로서 지시되어 있다. 통상의 작업 시에, 선별기(130)는, 노즐(134)이 짧은 송풍 시간동안 압축 공기를 거절된 물품에 재분사하도록 스캔 라인(23)을 지난 후의 물품 유동과 관련하여 시간이 조정되어 있다.
본 발명의 머신 비전 시스템(10)은 물품의 측정된 특징을 인식하기 위하여 각종의 용례에서 유용하다. 스캔 라인(23)에서 슈라우드(16) 내의 조명이 비교적 균일하게 고강도를 가지면, 본 발명은 플라스틱 펠릿과 같은 투명한 물품의 흠(flaw)을 인식하는 데에 특히 유용하다.
플라스틱 펠릿과 같은 투명한 물품을 포함하는 용례에 있어서, 분류를 행할 때에 기준이 되는 스캐닝할 특징은 물품에 있어서의 오염 존재 여부이다. 투명한 물품은 렌즈 효과를 수반하는데, 여기서 물품 외부에서의 광 변동이 물품에 의해 반사될 수 있다. 본 발명은 비교적 작은 유입 슬롯(30), 유출 슬롯(32) 및 관찰 슬롯(34)을 마련함으로써 그러한 렌즈 효과를 부분적으로 최소화하지만, 보다 중요하게는 슈라우드(16) 내의 광의 강도를 유지하기 위하여 슈라우드(16) 내에 배치되어 복수의 확산 광원(12)을 둘러싸는 원통형 반사면(20)을 제공함으로써, 스캔 라인(23)에서 균형을 이룬 다방향 광을 발생시킬 수 있다.
불투명한 오염물을 측정하는 방법은 물품이 스캔 라인(23)을 통과할 때에 리셉터(50)에서 측정한 광 강도의 전체 크기의 변동을 결정하는 것이다. 불투명한 오염물은 특정 레벨의 조명을 흡수하여, 리셉터에 의한 조명 판독치가 오염물을 포함하지 않는 물품에 대한 판독치보다 작게 된다. 본 발명의 머신 비전 시스템(10)은, 스캔 및 분류할 물품의 표면 결함 및 불균일한 광에 의해 발생된 음영에 의해 왜곡되지 않은 조명 레벨을 스캔 라인(23)에 발생시킨다.
이제 도 3을 참조하면, 본 발명의 변형예가 도시되어 있다. 도 3의 실시예는 경사진 중력식 슬라이드(201)로부터 자유 낙하하는 물품의 물품 궤적(202)을 제공한다. 도 3은 2개의 긴 호형 슈라우드(216a, 216b)를 도시하고 있으며, 이들 슈라우드를 함께 슈라우드(216)로서 지칭할 수 있다.
호형 슈라우드(216a, 216b)는 중공 원통의 호로서 구성되어 있고, 공통 반경을 갖는다. 슈라우드(216a, 216b)의 반경 방향 중심에 중앙 축선(222)이 있다. 호형 슈라우드(216a, 216b)의 인접 에지 사이의 개방 공간에 의해 물품 유입 구멍(230) 및 물품 유출 구멍(232)이 형성되어 있다.
도 1 및 도 2의 실시예에서와 같이 관찰 축선(238)을 갖도록 정렬된 리셉터(250)와 함께 관찰 슬롯(234)이 슈라우드(216a)에 마련되어 있다. 관찰 축선(238)과 물품 궤적(202)의 교차부에 스캔 라인(223)이 형성되어 있다. 도 1 및 도 2의 실시예에서와 같이, 슈라우드(216a, 216b)의 내부에 복수의 광원(212)이 마련되어 있다. 내부 반사면(220a, 220b)이 슈라우드(216a, 216b)에 마련되어 있다. 광원(212)은 스캔 라인(223)에 평행하게 배치되고, 내부 벽(218a, 218b)의 둘레에 간격을 두고 있다. 전술한 바와 같은 방식으로, 광원(212)이 제공하는 광은, 광원(212)으로부터의 직접 광과 반사면(220a, 220b)으로부터의 반사광을 포함하여 다방향으로부터 강한 레벨의 광을 스캔 라인(223)에 발생시킨다.
이제 도 4를 참조하면, 본 발명의 제2 변형예가 도시되어 있다. 도 4의 실시예에 따르면, 스캐닝할 물품은 2개의 긴 호형 슈라우드(316a, 316b) 사이에서 유리와 같이 적합한 스펙트럼의 투명 패널(302)에 지지되어 있으며, 이들 호형 슈라우드를 함께 슈라우드(316)로서 지칭할 수 있다. 호형 슈라우드(316a, 316b)는 중공 원통의 호로서 구성되어 있고 공통 반경을 갖는다. 슈라우드(316a, 316b)의 반경 방향 중심에 중앙 축선(322)이 있다.
호형 슈라우드(316a, 316b)의 인접 에지 사이의 개방 공간에 의해 물품 유입 구멍(330)과 물품 유출 구멍(332)이 형성되어 있다. 도 1 및 도 2의 실시예에서와 같이, 관찰 축선(338)을 갖도록 정렬되게 슈라우드(316a)와 리셉터(350)에 관찰 슬롯이 형성되어 있다. 관찰 축선(338)과 패널(302)의 교차부로서 스캔 라인(323)이 형성된다. 도 1 내지 도 3의 실시예에서와 같이, 슈라우드(316a, 316b)의 내부에 복수의 고강도 광원(312)이 마련되어 있고, 슈라우드(316a, 316b) 상에 내부 반사면(320a, 320b)이 마련되어 있다. 광원(312)은 스캔 라인(323)에 평행하게 배치되고, 내부 벽(318a, 318b)으로부터 간격을 두고 있다. 전술한 바와 같은 방식으로, 광원(312)이 제공하는 광은, 광원(312)으로부터의 직접 광과 반사면(320a, 320b)으로부터의 반사광을 포함하여 다방향으로부터 강한 레벨의 광을 스캔 라인(223)에 발생시킨다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 제3 변형예가 도시되어 있다. 이 실시예는 스캐닝 슬롯(434)으로부터 수직 축선(424)의 대향측에서 슈라우드(416)에 위치된 제2 스캐닝 슬롯(434b)을 구비한다. 스캐닝 슬롯(434)과 유사하게, 스캐닝 슬롯(434b)은 슈라우드 축선(422)에 평행한 긴 구멍이다. 제2 스캐닝 슬롯(434b)은, 제2 스캐닝 리셉터(450b)가 스캔 및 분류할 물품의 예정된 특징을 인식할 수 있도록 구성되어 있다. 리셉터(450b)는 하나의 리셉터로 이루어질 수도 있고, 복수 개의 리셉터로 이루어질 수도 있다. 리셉터(450, 450b)에 의해 복수의 화면이 제공된다. 이들 화면은 물품의 예정된 특징을 인식하기 위하여 개별적으로 사용될 수도 있고 프로세서를 이용하여 비교할 수도 있다.
리셉터(450b)는 스캐닝 축선(438b)을 따라 집속되어 있다. 리셉터(450, 450b)는 정반대측에 있지 않고, 스캐닝 축선(438a, 438b)이 리셉터(450, 450b) 사이의 반사 또는 간섭을 피하도록 소정 각도로 오프셋되어 있는 것이 바람직하다.
스캐닝 축선(438)을 따라 관찰 슬롯(434)의 반대측에서 슈라우드(416)에 배경 구멍(536; background opening)이 위치되어 있다. 스캐닝 축선(438b)을 따라 관찰 슬롯(434b)의 반대측에서 슈라우드(416)에 제2 배경 구멍(536b)이 위치되어 있다. 배경 구멍(436, 436b)은 슈라우드 축선(422)에 평행한 긴 구멍이다. 배경 구멍(436)은 리셉터 슈라우드(435b)로의 구멍을 제공하며, 이 슈라우드는 내부 비반사면(433b)을 구비한다. 따라서, 리셉터(450)는 비반사 배경을 구비하고, 이 배경을 향하여 물품을 스캐닝한다. 비반사 배경을 이용하면, 물품을 스캐닝할 때에 반사면으로부터의 임의의 왜곡이 최소화된다. 배경 구멍(436b)은 리셉터 슈라우드(435)로 개방되어 있으며, 이 리셉터 슈라우드도 내부 비반사면을 또한 구비한다. 따라서, 리셉터(450b)는 비반사 배경을 또한 구비하고, 이 배경을 향하여 물품을 스캐닝한다.
스캐닝 축선(438, 438b) 축선 사이의 각도에 따라서, 스캐닝 슬롯(434)과 배경 구멍(436b)은 단일의 슬롯(도시 생략)으로 합쳐져 스캐닝과 비반사 배경을 제공하는 데에 사용될 수 있다. 마찬가지로, 스캐닝 슬롯(434b)과 배경 구멍(436)이 그와 같이 합쳐질 수도 있다.
도면에는 스캔 라인(523)에서 교차하는 스캐닝 축선(438, 438b)을 도시하고 있지만, 본 실시예는 스캐닝 축선(438, 438b)이 유동 라인(102) 상의 특정의 위치에서 물품의 유동과 각각 교차하는 상태로 구현될 수 있다.
도 6을 참조하면, 본 발명의 제4 변형예가 도시되어 있다. 이 실시예에서, 배경 구멍(536)은 관찰 슬롯(534)과 반대측에서 스캐닝 축선(538)을 따라 슈라우드(516)에 배치되어 있다. 배경 구멍(536)은 슈라우드 축선(522)에 평행한 긴 구멍이다. 배경 구멍(536)은 배경 슈라우드(535b)로 개방되어 있으며, 이 배경 슈라우드는 비반사 내면(533)을 구비한다. 따라서, 리셉터(550)는 비반사 배경을 구비하고, 이 배경을 향하여 물품을 스캐닝한다.
본 발명에 대한 이상의 설명 및 개시 내용은 단지 본 발명을 예시하는 것이다. 본 발명의 사상을 벗어나지 않으면서 첨부된 청구범위의 범위 내에서 예시된 공정에 다양한 변형이 있을 수 있다. 본 발명은 이하의 청구범위와 그 균등물에 의해서만 한정된다.

Claims (37)

  1. 길고 대략 원통형이며 내부 반사면이 있는 슈라우드 벽을 포함하고, 중앙 슈라우드 축선을 갖는 슈라우드와,
    상기 슈라우드 벽에 있는 물품 유입 슬롯과,
    상기 슈라우드 벽에 있는 물품 유출 슬롯과,
    상기 슈라우드 벽에 있는 하나 이상의 관찰 구멍(viewing opening)과,
    상기 슈라우드와 상기 슈라우드 축선의 중간에 위치된 하나 이상의 광원
    을 구비하는 머신 비전 분류기용의 조명원.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 슈라우드 축선은 수평하게 정향되어 있으며,
    상기 물품 유입 슬롯과 상기 물품 유출 슬롯은 각각 수평 방향으로 길고,
    상기 물품 유입 슬롯은 상기 슈라우드 축선 위에 위치되며,
    상기 물품 유출 슬롯은 상기 슈라우드 축선 아래에 위치되는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  3. 제2항에 있어서, 상기 물품 유입 슬롯은 물품이 상기 슈라우드 내로 유동할 수 있게 배치되고, 상기 물품 유출 슬롯은 물품이 상기 슈라우드로부터 외부로 유동할 수 있게 배치되어, 상기 물품은 상기 슈라우드 축선 근처를 통과하여 유동할 수 있는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  4. 제2항에 있어서, 상기 물품 유입 슬롯과 물품 유출 슬롯은 상기 물품이 상기 슈라우드를 통하여 유동할 수 있도록 배치되어, 상기 물품이 상기 슈라우드 축선을 통과하여 유동할 수 있는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 광원은 복수의 긴 광 벌브(light bulb)를 포함하며,
    상기 복수의 광 벌브는 각각 상기 슈라우드 축선에 평행하게 위치되며,
    상기 복수의 광 벌브는 상기 슈라우드 축선 둘레에서 각도를 두고 배치되어 있는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 복수의 광 벌브는 각각 상기 슈라우드 벽으로부터 간격을 두고 배치되며,
    상기 복수의 광 벌브는 각각 상기 슈라우드 축선으로부터 간격을 두고 배치되는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 광원은 어레이로 배치된 복수의 벌브를 포함하며,
    상기 어레이는 각각 상기 슈라우드 축선에 평행하고 상기 슈라우드 축선 둘레에서 각도를 두고 배치되어 있으며,
    상기 어레이는 각각 상기 슈라우드 벽으로부터 간격을 두고, 그리고 상기 슈라우드 축선으로부터 간격을 두고 배치되는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 광원은 어레이로 배치된 복수의 발광 반도체를 포함하며,
    상기 어레이는 각각 상기 각각 상기 슈라우드 축선에 평행하고 상기 슈라우드 축선 둘레에서 각도를 두고 배치되어 있으며,
    상기 어레이는 각각 상기 슈라우드 벽으로부터 간격을 두고, 그리고 상기 슈라우드 축선으로부터 간격을 두고 배치되는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 슈라우드 벽에 있는 상기 하나 이상의 관찰 구멍은 상기 슈라우드 벽의 제1 섹션에 배치되어 있으며,
    상기 슈라우드 벽의 제2 섹션에 있는 제2 구멍과,
    상기 제1 관찰 구멍을 덮는 리셉터 슈라우드와,
    상기 리셉터 슈라우드 내에 위치된 제1 리셉터와,
    상기 반대측 제2 구멍을 덮는 배경 슈라우드를 더 포함하며,
    상기 리셉터 슈라우드와 상기 배경 슈라우드는 비반사 내면을 각각 구비하며,
    상기 제2 구멍과 상기 배경 슈라우드는 상기 리셉터에 비반사 배경을 제공하는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  10. 제1항에 있어서, 상기 슈라우드 벽에 있는 상기 하나 이상의 관찰 구멍은
    상기 슈라우드 벽의 제1 섹션에 있는 제1 관찰 구멍과,
    상기 슈라우드 벽의 제2 섹션에 있는 제2 관찰 구멍과,
    상기 제1 관찰 구멍을 덮는 제1 리셉터 슈라우드와,
    상기 제2 관찰 구멍을 덮는 제2 리셉터 슈라우드와,
    상기 제1 리셉터 슈라우드 내에 배치된 제1 리셉터와,
    상기 제2 리셉터 슈라우드 내에 배치된 제2 리셉터를 더 포함하며,
    상기 제1 리셉터 슈라우드와 제2 리셉터 슈라우드는 각각 비반사 내면을 구비하는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 슈라우드 벽의 제2 섹션에 있고 상기 제2 리셉터 슈라우드에 의해 덮이는 제1 배경 구멍과,
    상기 슈라우드 벽의 제1 섹션에 있고 상기 제1 리셉터 슈라우드에 의해 덮이는 제2 배경 구멍을 더 포함하며,
    상기 제1 배경 구멍과 상기 제2 리셉터 슈라우드는 상기 제1 관찰 구멍에 비반사 배경을 제공하고,
    상기 제2 배경 구멍과 상기 제1 리셉터 슈라우드는 상기 제2 관찰 구멍에 비반사 배경을 제공하는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  12. 긴 중공 원통의 호를 이루는 제1 슈라우드 벽을 구비하며 제1 슈라우드 축선을 갖는 제1 슈라우드와,
    긴 중공 원통의 호를 이루는 제2 슈라우드 벽을 구비하며 제2 슈라우드 축선을 갖는 제2 슈라우드와,
    상기 제1 슈라우드 벽 또는 상기 제2 슈라우드 벽 중 하나에 있는 하나 이상의 관찰 구멍과,
    상기 제1 슈라우드와 상기 제1 슈라우드 축선의 중간에 위치된 하나 이상의 광원과,
    상기 제2 슈라우드와 상기 제2 슈라우드 축선의 중간에 위치된 하나 이상의 광원을 포함하는 머신 비전 분류기용의 조명원으로서,
    상기 제1 슈라우드 벽과 상기 제2 슈라우드 벽은 각각 내부 반사면을 구비하고,
    상기 제1 슈라우드와 상기 제2 슈라우드는 상기 제1 슈라우드와 상기 제2 슈라우드 사이에 제1 구멍과 제2 구멍을 구비하는 대략 원통형의 슈라우드 구조를 형성하도록 배치되며,
    상기 제1 슈라우드 구멍은 물품 유입 구멍을 이루고,
    상기 제2 슈라우드 구멍은 물품 유출 구멍을 이루는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 제1 슈라우드 축선은 상기 제2 슈라우드 축선과 일치하며,
    상기 제1 슈라우드 축선과 상기 제2 슈라우드 축선은 수평으로 정향되어 있으며,
    상기 물품 유입 구멍과 상기 물품 유출 구멍은 각각 수평으로 정향되어 있으며,
    상기 물품 유입 구멍은 상기 슈라우드 축선 위에 있고, 상기 물품 유출 구멍은 상기 슈라우드 축선 아래에 위치되어 있는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 물품 유입 구멍은 물품이 상기 슈라우드 내로 유동할 수 있게 배치되고, 상기 물품 유출 구멍은 물품이 상기 슈라우드로부터 외부로 유동할 수 있게 배치되어, 상기 물품은 상기 제1 및 제2 슈라우드 축선 근처를 통과하여 유동하는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  15. 제13항에 있어서,
    상기 물품 유입 구멍은 물품이 상기 슈라우드 내로 유동할 수 있게 배치되고, 상기 물품 유출 구멍은 물품이 상기 슈라우드로부터 외부로 유동할 수 있게 배치되어, 상기 물품은 상기 제1 및 제2 슈라우드 축선을 통과하여 유동하는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  16. 제12항에 있어서,
    상기 광원은 복수의 긴 광 벌브를 포함하며,
    상기 복수의 광 벌브는 각각 상기 슈라우드 축선에 평행하게 배치되며,
    상기 복수의 광 벌브는 각각 상기 슈라우드 축선 둘레에서 각도를 두고 배치되어 있는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 복수의 광 벌브는 각각 상기 슈라우드 벽으로부터 간격을 두고 있으며,
    상기 복수의 광 벌브는 각각 상기 슈라우드 축선으로부터 간격을 두고 배치되는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  18. 제12항에 있어서,
    상기 광원은 선형 어레이로 배치된 복수의 벌브를 포함하며,
    상기 선형 어레이는 각각 상기 슈라우드 축선에 평행하고 상기 슈라우드 축선 둘레에서 각도를 두고 배치되며,
    상기 선형 어레이는 각각 상기 슈라우드 벽으로부터 간격을 두고, 그리고 상기 슈라우드 축선으로부터 간격을 두고 배치되는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  19. 제12항에 있어서,
    상기 광원은 선형 어레이로 배치된 복수의 발광 반도체를 포함하며,
    상기 선형 어레이는 각각 상기 슈라우드 축선에 평행하고, 상기 슈라우드 축선 둘레에서 각도를 두고 배치되며,
    상기 선형 어레이는 각각 상기 슈라우드 벽으로부터 간격을 두고, 그리고 상기 슈라우드 축선으로부터 간격을 두고 배치되는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  20. 제12항에 있어서, 상기 제1 슈라우드 벽 또는 제2 슈라우드 벽 중 하나에 있는 하나 이상의 관찰 구멍은,
    상기 제1 슈라우드 벽에 있는 제1 관찰 구멍과,
    상기 제2 슈라우드 벽에 있는 제2 관찰 구멍과,
    상기 제1 관찰 구멍을 덮는 제1 리셉터 슈라우드와,
    상기 제2 관찰 구멍을 덮는 제2 리셉터 슈라우드와,
    상기 제1 리셉터 슈라우드 내에 배치된 제1 리셉터와,
    상기 제2 리셉터 슈라우드 내에 배치된 제2 리셉터를 더 포함하며,
    상기 제1 리셉터 슈라우드와 제2 리셉터 슈라우드는 각각 비반사 내면을 구비하는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  21. 제20항에 있어서,
    상기 제2 슈라우드 벽에 있고 상기 제2 리셉터 슈라우드에 의해 덮이는 제1 배경 구멍과,
    상기 제1 슈라우드 벽에 있고 상기 제1 리셉터 슈라우드에 의해 덮이는 제2 배경 구멍을 더 포함하며,
    상기 제1 배경 구멍은 상기 제1 리셉터에 비반사 배경을 제공하고,
    상기 제2 배경 구멍은 상기 제2 리셉터에 비반사 배경을 제공하는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  22. 제12항에 있어서,
    상기 제1 슈라우드 벽 또는 제2 슈라우드 벽 중 하나에 있는 하나 이상의 배경 구멍과,
    상기 하나 이상의 배경 구멍 각각을 덮고 비반사 내면을 구비하는 하나 이상의 배경 슈라우드와,
    상기 슈라우드 벽의 외부에 있는 리셉터를 더 포함하며,
    상기 하나 이상의 배경 구멍은 상기 하나 이상의 관찰 구멍에 비반사 배경을 제공하는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  23. 제12항에 있어서, 상기 물품을 바람직한 위치에 지지하도록 상기 물품 유입 구멍과 상기 물품 유출 구멍을 통하여 연장되는 투명 패널을 더 포함하는 것인 머신 비전 분류기용의 조명원.
  24. 호퍼와,
    컨베이어와,
    슈라우드 및 리셉터를 구비하는 비전 시스템으로서, 상기 슈라우드는 길고 대략 원통형인 슈라우드 벽을 구비하고 중앙 슈라우드 축선을 가지며 수평하게 정향되어 있고, 상기 슈라우드 벽은 내부 반사면을 구비하는 것인 비전 시스템과,
    선별기와,
    상기 슈라우드 벽에 있는 물품 유입 슬롯과,
    상기 슈라우드 벽에 있는 물품 유출 슬롯과,
    상기 슈라우드 벽에 있는 하나 이상의 관찰 구멍과,
    상기 슈라우드 벽과 상기 슈라우드 축선의 중간에 위치된 하나 이상의 광원
    을 포함하는 머신 비전 분류기.
  25. 제24항에 있어서, 상기 컨베이어와 상기 비전 시스템의 중간에 중력식 슬라이드를 더 포함하는 것인 머신 비전 분류기.
  26. 제24항에 있어서,
    상기 물품 유입 슬롯과 상기 물품 유출 슬롯은 각각 수평 방향으로 길고,
    상기 컨베이어, 상기 물품 유입 슬롯 및 물품 유출 슬롯은 상기 슈라우드 축선 근처를 통과하는 물품의 자유 유동을 허용하도록 위치되어 있고,
    상기 리셉터와 상기 관찰 구멍은 상기 슈라우드 축선 근처에서 물품의 유동을 스캐닝할 수 있도록 위치되어 있는 것인 머신 비전 분류기.
  27. 제24항에 있어서,
    상기 물품 유입 슬롯과 상기 물품 유출 슬롯은 각각 수평 방향으로 길고,
    상기 컨베이어, 상기 물품 유입 슬롯 및 물품 유출 슬롯은 상기 슈라우드 축선을 통과하는 물품의 자유 유동을 허용하도록 위치되어 있고,
    상기 리셉터와 상기 관찰 구멍은 상기 슈라우드 축선에서 물품의 유동을 스캐닝할 수 있도록 위치되어 있는 것인 머신 비전 분류기.
  28. 제24항에 있어서,
    상기 물품 유입 슬롯과 상기 물품 유출 슬롯은 각각 수평 방향으로 길고,
    상기 물품 유입 슬롯과 상기 물품 유출 슬롯은 슈라우드 벽이 2개의 연결된 슈라우드 벽 세그먼트를 포함하도록 슈라우드 벽의 전체 길이에 걸쳐 각각 연장되며,
    상기 컨베이어, 상기 물품 유입 슬롯 및 상기 물품 유출 슬롯은 상기 슈라우드 축선 근처를 통과하는 물품의 자유 유동을 허용하도록 위치되어 있고,
    상기 리셉터와 상기 관찰 구멍은 상기 슈라우드 축선 근처에서 물품의 유동을 스캐닝할 수 있도록 위치되어 있는 것인 머신 비전 분류기.
  29. 제24항에 있어서,
    상기 물품 유입 슬롯과 상기 물품 유출 슬롯은 각각 수평 방향으로 길고,
    상기 물품 유입 슬롯과 상기 물품 유출 슬롯은 슈라우드 벽이 2개의 연결된 슈라우드 벽 세그먼트를 포함하도록 슈라우드 벽의 전체 길이에 걸쳐 각각 연장되며,
    상기 컨베이어, 상기 물품 유입 슬롯 및 상기 물품 유출 슬롯은 상기 슈라우드 축선을 통과하는 물품의 자유 유동을 허용하도록 위치되어 있고,
    상기 리셉터와 상기 관찰 구멍은 상기 슈라우드 축선에서 물품의 유동을 스캐닝할 수 있도록 위치되어 있는 것인 머신 비전 분류기.
  30. 제24항에 있어서,
    상기 광원은 복수의 긴 광 벌브를 포함하며,
    상기 복수의 광 벌브 각각은 상기 슈라우드 축선에 평행하게 배치되고,
    상기 복수의 광 벌브는 상기 슈라우드 축선 둘레에서 각도를 두고 배치되며,
    상기 복수의 광 벌브 각각은 상기 슈라우드 벽으로 간격을 두고 배치되며,
    상기 복수의 광 벌브 각각은 상기 슈라우드 축선으로부터 간격을 두고 배치되는 것인 머신 비전 분류기.
  31. 제24항에 있어서,
    상기 광원은 선형 어레이로 배치된 복수의 광원을 포함하며,
    상기 선형 어레이 각각은 상기 슈라우드 축선에 평행하고, 상기 슈라우드 축선의 둘레에 각도를 두고 배치되며,
    상기 선형 어레이 각각은 상기 슈라우드 벽으로 간격을 두고, 그리고 상기 슈라우드 축선으로부터 간격을 두고 배치되는 것인 머신 비전 분류기.
  32. 제24항에 있어서,
    상기 슈라우드 벽에 있는 상기 하나 이상의 관찰 구멍은 상기 슈라우드 벽의 제1 섹션에 있는 제1 관찰 구멍과, 상기 슈라우드 벽의 제2 섹션에 있는 제2 관찰 구멍을 포함하며,
    상기 제1 관찰 구멍을 덮는 제1 관찰 커버와,
    상기 제1 관찰 커버에 있는 제1 리셉터와,
    상기 제2 관찰 구멍을 덮는 제2 관찰 커버와,
    상기 제2 관찰 커버에 있는 제2 리셉터를 더 포함하며,
    상기 제1 관찰 커버와 상기 제2 관찰 커버는 각각 비반사 내면을 구비하는 것인 머신 비전 분류기.
  33. 제24항에 있어서,
    상기 슈라우드 벽의 제2 섹션에 있는 제1 배경 구멍과,
    상기 제1 배경 구멍을 덮는 제2 관찰 커버와,
    상기 슈라우드 벽의 제1 섹션에 있는 제2 배경 구멍과,
    상기 제2 배경 구멍을 덮는 제1 관찰 커버를 더 포함하며,
    상기 제1 배경 구멍과 상기 제2 관찰 커버는 상기 제1 리셉터에 비반사 배경을 제공하며,
    상기 제2 배경 구멍과 상기 제1 관찰 커버는 상기 제2 리셉터에 비반사 배경을 제공하는 것인 머신 비전 분류기.
  34. 제24항에 있어서,
    상기 슈라우드 벽에 있는 하나 이상의 배경 구멍과,
    상기 하나 이상의 배경 구멍 각각을 덮고 비반사 내면을 구비하는 하나 이상의 배경 커버와,
    하나 이상의 리셉터를 더 포함하며,
    상기 관찰 구멍은 상기 리셉터와 상기 배경 구멍 사이에 위치하며,
    상기 하나 이상의 배경 구멍과 상기 배경 커버의 비반사 내면은 상기 하나 이상의 리셉터에 비반사 배경을 제공하는 것인 머신 비전 분류기.
  35. 검사 대상 물품의 유동을 확립하는 확립 단계와,
    길고 수평 방향으로 위치된 원통형 슈라우드의 중앙 축선 근처로 상기 물품을 유동시키는 유동 단계와,
    상기 슈라우드의 내부에 반사면을 마련하는 단계와,
    상기 슈라우드 축선에서 상기 원통형 슈라우드의 내부에 확산 고강도 광 영역을 마련하는 단계와,
    상기 물품이 상기 슈라우드 축선 근처를 통과할 때 상기 원통형 슈라우드를 통과하는 물품을 스캐닝하는 스캐닝 단계와,
    물품이 물품의 유동으로부터 분리되었는가를 측정하는 측정 단계와,
    상기 측정된 물품을 전환시키는 전환 단계
    를 포함하는 미립자 재료 분류 방법.
  36. 제35항에 있어서,
    상기 유동 확립 단계는 상기 물품을 결정된 위치로 운반하는 것과, 상기 물품의 자유 낙하를 허용하는 것을 수반하며,
    상기 스캐닝 단계는 상기 물품으로부터 반사된 광파를 수용하는 것을 수반하며,
    상기 측정 단계는 상기 반사된 광파로부터의 데이터를 수신하는 것과, 상기 데이터를 처리하는 것과, 전환 기구에 별도의 지시를 전달하는 것을 수반하고,
    상기 전환 단계는 상기 결정된 물품에 지향 공기를 송풍하는 것을 수반하는 것인 미립자 재료 분류 방법.
  37. 제35항에 있어서, 상기 확산 고강도 광 영역을 제공하는 단계는, 상기 원통형 슈라우드로부터 간격을 두고, 그리고 상기 슈라우드 축선으로부터 간격을 두고 복수의 고강도 확산 광원을 마련하는 것을 수반하는 것인 미립자 재료 분류 방법.
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