KR200421990Y1 - Lcd 모듈 pcb 검사장치 - Google Patents

Lcd 모듈 pcb 검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR200421990Y1
KR200421990Y1 KR2020060012354U KR20060012354U KR200421990Y1 KR 200421990 Y1 KR200421990 Y1 KR 200421990Y1 KR 2020060012354 U KR2020060012354 U KR 2020060012354U KR 20060012354 U KR20060012354 U KR 20060012354U KR 200421990 Y1 KR200421990 Y1 KR 200421990Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
inspection
signal
lcd module
module pcb
processing unit
Prior art date
Application number
KR2020060012354U
Other languages
English (en)
Inventor
옥순봉
Original Assignee
옥순봉
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 옥순봉 filed Critical 옥순봉
Priority to KR2020060012354U priority Critical patent/KR200421990Y1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR200421990Y1 publication Critical patent/KR200421990Y1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 고안은 부품이 실장된 LCD 모듈 PCB의 정상 작동 여부를 검사할 수 있도록 하는 LCD 모듈 PCB 검사장치에 관한 것으로,
종래의 검사장치는 고가이면서 부피가 큰 패널조립체를 사용하기 때문에 장비의 원가가 많이 들게 될 뿐 아니라 패널조립체 및 작업자를 수용하기 위하여 넓고 충분한 검사공간을 확보해야 하고, LCD 모듈 PCB 모델별로 패널조립체를 준비하여야 하며, LCD 모듈 PCB의 디스플레이 신호를 작업자가 일일이 패널조립체(40)의 패널에 나타나는 색상 및 패턴신호를 통해 육안으로 검사하기 때문에 작업자의 판단오류가 발생될 여지가 매우 많게 되고, 검사시간 및 검사인력, 검사비용이 많이 소요되는 문제가 있었던 바,
중계보드(20)로부터 고속으로 입력되는 검사신호를 분주하여 자료처리부(62)의 중앙처리장치(CPU)로 전달할 수 있도록 하는 신호분주부(61)와; 중앙처리장치(62a;CPU), 휘발성메모리(RAM)와 비휘발성메모리(Flash Memory)를 구비하는 저장장치(62b), 통신모듈(62c)을 구비하고, 신호분주부(61)로부터 입력되는 분주된 검사신호를 중앙처리장치(62a)에서 처리하여 양, 불량을 판단할 수 있도록 하며, 그 판단결과를 통신모듈(62c)을 통해 퍼스날컴퓨터로 전송할 수 있도록 하는 자료처리부(62);로 이루어지는 디스플레이 신호검사기(60)를 통해 디스플레이 신호를 검사할 수 있도록 한 것을 특징으로 하는 본 고안에 의하면 고가이면서 공간을 많이 차지할 뿐 아니라 숙련된 작업자를 필요로 하는 큰 부피의 패널조립체를 사용하지 않 고서도 간편하게 디스플레이 신호를 자동 검사할 수 있게 되므로 LCD 모듈 PCB 검사장치의 원가를 크게 절감할 수 있게 될 뿐 아니라 검사시간 및 검사비용, 검사인력을 절감할 수 있게 되는 등의 효과를 얻을 수 있게 된다.
LCD 모듈 PCB, 패널조립체, 디스플레이 신호검사기

Description

LCD 모듈 PCB 검사장치 {a LCD Module PCB Inspection Apparatus}
도 1은 종래의 검사장치의 구성도
도 2는 본 고안의 검사장치의 구성도
도 3은 동 검사장치의 디스플레이 신호검사기의 구성도
도 4는 본 고안의 디스플레이 신호 검사흐름도
도 5는 본 고안에 따른 LCD 디스플레이 검사신호의 분주상태도
< 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 >
10 : 적재지그 20 : 중계보드
30 : 퍼스날컴퓨터 50 : LCD 모듈 PCB
60 : 디스플레이 신호검사기 61 : 신호분주부
62 : 자료처리부 62a : 중앙처리장치
62b : 저장장치 62c : 통신모듈
본 고안은 부품이 실장된 LCD 모듈 PCB의 정상 작동 여부를 검사할 수 있도록 하는 LCD 모듈 PCB 검사장치에 관한 것으로, 더 자세하게는 작업자가 모니터를 포함하는 패널조립체를 통해 육안으로 디스플레이 신호를 확인하지 않고서도 간편하게 LCD 모듈 PCB를 검사할 수 있도록 한 것에 관한 것이다.
일반적으로 LCD 모듈 PCB는 PCB 본체에 각 부품을 실장한 후에 전기특성검사와 디스플레이 신호 검사 등의 다양한 검사항목을 통과한 양품의 것만을 조립라인에 공급하게 된다.
도 1에는 종래의 LCD 모듈 PCB 검사장치의 구성도가 도시되어 있는 바, 종래의 검사장치는 도 1과 같이 검사할 LCD 모듈 PCB(50)를 적재할 수 있도록 하는 적재지그(10)와; 검사프로그램을 통해 LCD 모듈 PCB(50)의 전압, 전류, 저항, 파형 등의 전기특성을 검사할 수 있도록 하는 퍼스날컴퓨터(30;PC)와; 작업자가 육안으로 색상과 패턴신호 등으로 디스플레이 신호를 검사할 수 있도록 하는 패널조립체(40)와; 적재지그(10)와 퍼스날컴퓨터(30), 패널조립체(40) 사이에 설치되어 적재지그(10)에 적재된 LCD 모듈 PCB(50)로부터 공급되는 각종 검사신호를 패널조립체(40) 및 퍼스날컴퓨터(30)로 공급할 수 있도록 하는 중계보드(20)로 이루어진 것이 주로 사용되었다.
상기 종래의 검사장치에 있어서는 적재지그(10)에 LCD 모듈 PCB(50)를 장착하게 되면 검사프로그램이 내장된 퍼스날컴퓨터(30)에서 전기특성을 검사하게 되 고, 숙련된 작업자가 패널조립체(40)의 패널에 나타나는 색상 및 패턴신호를 통해 디스플레이 신호를 검사한 후에 양, 불량을 판정하게 된다.
이렇듯 종래의 검사장치는 고가이면서 부피가 큰 패널조립체를 사용하기 때문에 장비의 원가가 많이 들게 될 뿐 아니라 패널조립체 및 작업자를 수용하기 위하여 넓고 충분한 검사공간을 확보해야 할 뿐 아니라 LCD 모듈 PCB 모델별로 패널조립체를 준비하여야 하며, LCD 모듈 PCB의 디스플레이 신호를 작업자가 일일이 패널조립체(40)의 패널에 나타나는 색상 및 패턴신호를 통해 육안으로 검사하기 때문에 작업자의 판단오류가 발생될 여지가 매우 많게 되고, 검사시간 및 검사인력, 검사비용이 많이 소요되는 문제가 있었다.
본 고안은 상기와 같은 종래의 실정을 감안하여 안출한 것이며, 그 목적이 보다 저렴하게 검사장치를 구성할 수 있도록 함은 물론 별도의 작업자 없이도 보다 신속하고 정확하게 LCD 모듈 PCB의 디스플레이 신호를 검사할 수 있도록 하는 LCD 모듈 PCB 검사장치를 제공하는 데에 있는 것이다.
본 고안은 상기의 목적을 달성하기 위하여 중계보드와 퍼스날컴퓨터 사이에 신호분주부와 자료처리부로 이루어지는 디스플레이 신호검사기를 설치하여 중계보드로부터 공급되는 LCD 디스플레이 검사신호를 별도의 작업자 없이 디스플레이 신 호검사기로 자동 검사할 수 있도록 하는 것을 특징으로 하며, 이하 그 구체적인 기술내용을 첨부도면에 의거하여 더욱 자세히 설명하면 다음과 같다.
즉, 도 2에는 본 고안의 검사장치의 구성도가 도시되어 있는 바, 본 고안의 LCD 모듈 PCB 검사장치는 검사할 LCD 모듈 PCB(50)를 적재할 수 있도록 하는 적재지그(10)와; 검사프로그램을 통해 LCD 모듈 PCB(50)의 전압, 전류, 저항, 파형 등의 전기특성을 검사할 수 있도록 하는 퍼스날컴퓨터(30)와; 디스플레이 신호를 검사할 수 있도록 하는 디스플레이 신호검사기(60)와; 적재지그(10)와 퍼스날컴퓨터(30), 디스플레이 신호검사기(60) 사이에 설치되어 적재지그(10)에 적재된 LCD 모듈 PCB(50)로부터 공급되는 각종 검사신호를 디스플레이 신호검사기(60) 및 퍼스날컴퓨터(30)로 공급할 수 있도록 하는 중계PCB(20);로 이루어진 것이다.
도 3에는 본 고안의 디스플레이 신호검사기의 구성도가 도시되어 있는 바, 본 고안에 있어서 디스플레이 신호를 검사할 수 있도록 하는 디스플레이 신호검사기(60)는 중계보드(20)로부터 고속으로 입력되는 검사신호를 주문형 집적회로(ASIC; Application Specific Integrated Circuit)를 통해 분주하여 자료처리부(62)의 중앙처리장치(CPU)로 전달할 수 있도록 하는 신호분주부(61)와; 중앙처리장치(CPU;62a), 휘발성메모리(RAM)와 비휘발성메모리(Flash Memory)를 구비하는 저장장치(62b), 통신모듈(62c)을 구비하고, 신호분주부(61)로부터 입력되는 분주된 검사신호를 중앙처리장치(62a)에서 처리하여 양, 불량을 판단할 수 있도록 하며, 그 판단결과를 통신모듈(62c)을 통해 퍼스날컴퓨터로 전송할 수 있도록 하는 자료처리부(62);로 이루어진다.
본 고안에 있어서 신호분주부(61)의 주문형 집적회로(ASIC)는 복잡하고 많은 입력이 필요한 논리회로를 프로그램할 수 있도록 하나의 소자로 만든 CPLD(Complex Programmable Logic Divice)소자나 미리 열거된 논리회로를 사용자가 요구에 맞게 프로그램할 수 있는 FRGA(Field Programmable Gate Array)소자 등을 사용할 수 있다.
상기와 같이 구성된 본 고안의 LCD 모듈 PCB 검사장치에 있어서는 적재지그(10)에 LCD 모듈 PCB(50)를 장착하게 되면 중계보드(20)를 거쳐 퍼스날컴퓨터(30)로 전기특성신호 데이터가 전달되어 검사프로그램이 내장된 퍼스날컴퓨터(30)에서 LCD 모듈 PCB(50)의 전압, 전류, 저항, 파형 등의 각종 전기특성을 직접 검사하게 되며, 중계보드(20)를 거쳐 디스플레이 신호검사기(60)로 디스플레이 신호 데이터가 전달되어 별도의 작업자 없이도 디스플레이 신호검사기(60)에서 디스플레이 신호를 검사하여 그 결과를 퍼스날컴퓨터(30)로 전달하게 되고, 최종적으로 퍼스날컴퓨터(30)를 통해 양, 불량을 판정하게 된다.
한편 도 4에는 본 고안의 디스플레이 신호 검사흐름도가 도시되어 있는 바, 본 고안의 LCD 모듈 PCB 검사장치로 디스플레이 신호를 검사할 때는 디스플레이 신호검사기(60)의 신호분주부(61)에서 중계보드(20)로부터 공급되는 디지털정보를 저전압을 사용하여 고속으로 신호를 보내기 위한 전송방식인 RSDS방식 신호 및 그와 유사하지만 더 낮은 전압을 요구하는 mimi-LVDS방식 신호, LCDS방식 신호, TLDS방식 신호를 신호의 전압폭을 전원-전압을 사용하여 데이터를 전송하는 방식인 TTL신호로 디스플레이 신호를 변환하는 신호변환단계(S10);
신호분주부(61)에서 고속의 TTL신호를 자료처리부(62)에서 처리할 수 있도록 저속의 신호로 분주하는 신호분주단계(S20);
분주된 신호를 자료처리부(62)의 저장장치(62b)의 각 메모리(RAM, Flash Memory)에 전달하는 신호전달단계(S30);
상기 저장장치(62b)의 비휘발성메모리(Flash Memory)에 저장된 기준신호 및 검사할 LCD 모듈 PCB(50)의 디스플레이 신호를 중앙처리장치(CPU)로 입력하는 기준신호입력단계(S40);
중앙처리장치(62a;CPU)에서 입력된 기준신호 및 검사대상의 디스플레이 신호를 비교하여 양, 불량을 판단하는 비교판단단계(S50);
상기 판단 정보를 통신모듈(62c)을 통해 퍼스날컴퓨터(30)로 전달하는 PC전달단계(S60);로 이루어지는 검사방법 등을 사용할 수 있다.
본 고안에 있어서는 중계PCB(20)를 거쳐 디스플레이 신호검사기(60)로 입력되는 고속의 LCD 디스플레이 검사신호를 자료처리부(62)에 직접 전달하지 않고 신호분주부(61)의 주문형 집적회로(ASIC)를 통해 분주함으로써 자료처리부(62)에서 처리할 수 있는 저속 신호로 변환하게 되며, 신호분주부(61)를 통해 분주되어 입력되는 LCD 디스플레이 검사신호를 자료처리부(62)의 중앙처리장치(CPU;62a)에서 처리하고 처리된 결과를 저장장치(62b)로 출력하여 저장하게 된다.
자료처리부(62)의 각종 데이터는 통신모듈(62c)을 통해 그에 접속된 퍼스날컴퓨터(PC;30) 등의 다른 장치에 전송될 수 있게 되고, 반대로 퍼스날컴퓨터(30) 등의 다른 장치에 의해 수정, 변경, 삭제될 수 있음은 물론 퍼스날컴퓨터(30) 등의 데이터 역시 자료처리부(62)의 저장장치(62b)에 전송되어 저장될 수 있다.
자료처리부 저장장치(62b)의 비휘발성메모리(Flash Memory)는 대용량을 작은 카드 크기에 저장할 수 있는 CF(Compact Flash) 카드나 하드디스크 등을 사용할 수 있다.
한편 자료처리부(62)의 통신모듈(62c)은 중앙처리장치(62a)의 통제를 받으며 저장장치(62b)에 저장되어 있는 자료를 다른 장치와 주고받을 수 있도록 하는 것으로, USB와 TCP/IP 통신이 가능하도록 하는 것이 바람직하다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 고안은 중계보드(20)로부터 고속으로 입력되는 LCD 디스플레이 검사신호를 분주하여 자료처리부(62)의 중앙처리장치(CPU)로 전달할 수 있도록 하는 신호분주부(61)와; 중앙처리장치(CPU;62a), 휘발성메모리(RAM)와 비휘발성메모리(Flash Memory)를 구비하는 저장장치(62b), 통신모듈(62c)을 구비하고, 신호분주부(61)로부터 입력되는 분주된 검사신호를 중앙처리장치(62a)에서 처리하여 양, 불량을 판단할 수 있도록 하며, 그 판단결과를 통신모듈(62c)을 통해 퍼스날컴퓨터로 전송할 수 있도록 하는 자료처리부(62);로 이루어지는 디스플레이 신호검사기(60)를 통해 디스플레이 신호를 검사할 수 있도록 한 것으로, 본 고안에 의하면 고가이면서 공간을 많이 차지할 뿐 아니라 숙련된 작업자를 필요로 함은 물론 LCD 모듈 PCD 모델별로 구비하여야 하는 큰 부피의 패널조립체를 사용하지 않고서도 간편하게 디스플레이 신호를 자동 검사할 수 있게 되므 로 LCD 모듈 PCB 검사장치의 원가를 크게 절감할 수 있게 될 뿐 아니라 검사시간 및 검사비용, 검사인력을 절감할 수 있게 되는 등의 효과를 얻을 수 있게 된다.

Claims (2)

  1. LCD 모듈 PCB(50)를 적재할 수 있도록 하는 적재지그(10)와; 검사프로그램을 통해 LCD 모듈 PCB(50)의 전압, 전류, 저항, 파형 등의 전기특성을 검사할 수 있도록 하는 퍼스날컴퓨터(30)와; 디스플레이 신호를 검사할 수 있도록 하는 디스플레이 신호검사기(60)와; 적재지그(10)와 퍼스날컴퓨터(30), 디스플레이 신호검사기(60) 사이에 설치되어 적재지그(10)에 적재된 LCD 모듈 PCB(50)로부터 공급되는 각종 검사신호를 디스플레이 신호검사기(60) 및 퍼스날컴퓨터(30)로 공급할 수 있도록 하는 중계보드(20);로 이루어진 것을 특징으로 하는 LCD 모듈 PCB 검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 디스플레이 신호검사기(60)는 중계보드(20)로부터 고속으로 입력되는 검사신호를 주문형 집적회로(ASIC)를 통해 분주하여 자료처리부(62)의 중앙처리장치(CPU)로 전달할 수 있도록 하는 신호분주부(61)와; 중앙처리장치(CPU;62a), 휘발성메모리(RAM)와 비휘발성메모리(Flash Memory)를 구비하는 저장장치(62b), 통신모듈(62c)을 구비하고, 신호분주부(61)로부터 입력되는 분주된 검사신호를 중앙처리장치(62a)에서 처리하여 양, 불량을 판단할 수 있도록 하며, 그 판단결과를 통신모듈(62c)을 통해 퍼스날컴퓨터로 전송할 수 있도록 하는 자료처리부(62);로 이루어진 것을 특징으로 하는 LCD 모듈 PCB 검사장치.
KR2020060012354U 2006-05-09 2006-05-09 Lcd 모듈 pcb 검사장치 KR200421990Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020060012354U KR200421990Y1 (ko) 2006-05-09 2006-05-09 Lcd 모듈 pcb 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020060012354U KR200421990Y1 (ko) 2006-05-09 2006-05-09 Lcd 모듈 pcb 검사장치

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060038365A Division KR100779824B1 (ko) 2006-04-27 2006-04-27 Lcd 모듈 pcb 검사장치 및 디스플레이 신호 검사방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR200421990Y1 true KR200421990Y1 (ko) 2006-07-20

Family

ID=41770629

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2020060012354U KR200421990Y1 (ko) 2006-05-09 2006-05-09 Lcd 모듈 pcb 검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR200421990Y1 (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7412342B2 (en) Low cost test for IC&#39;s or electrical modules using standard reconfigurable logic devices
US20090158093A1 (en) Motherboard tester
TW201317591A (zh) 印刷電路板測試裝置
CN110268277A (zh) 用于印刷电路板的功能性测试器,以及相关的系统和方法
CN102901905B (zh) 一种并行总线测试方法
CN111610393A (zh) 多通道宽带微波集成组件自动测试系统及方法
CN105372536B (zh) 航空电子通用测试平台
CN104572382A (zh) I2c总线测试治具
CN209842010U (zh) 一种ct电路的故障检测系统
US8217674B2 (en) Systems and methods to test integrated circuits
CN101865976A (zh) 边界扫描测试系统及测试方法
KR100920820B1 (ko) 자동 검사기
CN207764782U (zh) 快捷外设互联标准插槽的检测系统
KR200421990Y1 (ko) Lcd 모듈 pcb 검사장치
JP5018997B1 (ja) 検査システム、検査情報集計装置、及び検査情報集計プログラム
CN103777386A (zh) 一种lcm测试机
KR100779824B1 (ko) Lcd 모듈 pcb 검사장치 및 디스플레이 신호 검사방법
KR20100076641A (ko) 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치
CN104750101A (zh) 一种机载询问机数字信号处理模块检测仪及其检测方法
CN102135582A (zh) 主板测试装置
KR20090125615A (ko) 실장형 테스트 장비 및 그 방법
KR20060132143A (ko) 다수의 테스트될 반도체 소자를 동시에 테스트하는 반도체소자 실장 테스트 장치
US20110215792A1 (en) Probe and testing apparatus including the same
CN203775231U (zh) 一种测试设备
CN103308844B (zh) 测试样板、故障定位方法、控制板和夹具的调试方法

Legal Events

Date Code Title Description
U107 Dual application of utility model
REGI Registration of establishment
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070711

Year of fee payment: 3

EXTG Extinguishment