KR200410966Y1 - Sorting apparatus for the high voltages test of chip capacitors - Google Patents

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KR200410966Y1
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쳉 밍-찬
리우 신-칸
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보스 윙 코퍼레이션 리미티드
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Abstract

본 고안은 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치에 관한 것으로, 정렬/위치선정 모듈, 흡입기/이송 모듈, 클램프/검사 모듈, 및 전환기/저장 모듈을 포함하며, 정렬/위치선정 모듈은 여러 개의 칩 커패시터를 동시에 정렬할 수 있으며, 흡입기/이송 모듈은 여러 개의 칩 커패시터를 동시에 흡입하여 검사를 위해 클램프/검사 모듈로 보낼 수 있으며, 전환기/저장 모듈은 칩 커패시터를 검사 결과에 따라 분류할 수 있다. 본 고안에서는, 여러 개의 칩 커패시터가 동시에 검사될 수 있다는 것 외에, 흡입기/이송 모듈은 클램프/검사 모듈이 칩 커패시터를 검사하는 동안 검사 대기 상태의 다음의 칩 커패시터를 동시에 흡입할 수 있으므로, 본 고안은 칩 커패시터를 신속하게 분류할 수 있으며 분류 효율을 향상시킬 수 있다.The present invention relates to a sorting device for high voltage inspection of chip capacitors, and includes an alignment / positioning module, an inhaler / transfer module, a clamp / inspection module, and a diverter / storage module, and the alignment / positioning module includes a plurality of chip capacitors. Can be sorted at the same time, the aspirator / transfer module can suck multiple chip capacitors simultaneously and send them to the clamp / test module for inspection, and the converter / storage module can sort the chip capacitors according to the test results. In the present invention, in addition to the fact that several chip capacitors can be tested at the same time, the inhaler / transfer module can simultaneously suck the next chip capacitor in a test standby state while the clamp / test module examines the chip capacitor. Can quickly classify chip capacitors and improve sorting efficiency.

칩 커패시터, 고압검사, 분류 Chip Capacitors, Autoclave, Classified

Description

칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치{SORTING APPARATUS FOR THE HIGH VOLTAGES TEST OF CHIP CAPACITORS}SORTING APPARATUS FOR THE HIGH VOLTAGES TEST OF CHIP CAPACITORS}

도 1은 본 고안의 일실시예에 의한 외관을 보여주는 사시도.1 is a perspective view showing the appearance according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 고안의 공급장치 모듈의 우측면도.2 is a right side view of the feeder module of the present invention.

도 3은 본 고안의 정렬/위치선정 모듈의 정면도.Figure 3 is a front view of the alignment / positioning module of the present invention.

도 4는 본 고안의 흡입기/이송 모듈의 우측면도.Figure 4 is a right side view of the inhaler / transfer module of the present invention.

도 5는 본 고안에 따라 흡입기/이송 모듈이 칩 커패시터를 흡입하는 것을 개략적으로 도시하는 도면.5 schematically illustrates the inhaler / transfer module inhaling chip capacitors in accordance with the present invention;

도 6은 본 고안의 클램프/검사 모듈의 정면도.Figure 6 is a front view of the clamp / inspection module of the present invention.

도 7은 본 고안에 따라 클램프/검사 모듈이 침 커패시터를 파지하는 것을 개략적으로 도시하는 도면.7 schematically illustrates the clamp / checking module gripping a needle capacitor in accordance with the present invention;

도 8은 본 고안의 전환장치/저장 모듈의 정면도.8 is a front view of the switching device / storage module of the present invention.

**도면의 주요부분에 대한 부호의 설명**** Description of the symbols for the main parts of the drawings **

10: 공급기 모듈 11: 저장 탱크10: feeder module 11: storage tank

12: 공급 슈트 13: 진동 컨베이어12: supply chute 13: vibrating conveyor

14: 검출기 20: 정렬/위치선정 모듈14: detector 20: alignment / position module

21: 진동 컨베이어 22: 정렬 플랫폼21: vibrating conveyor 22: alignment platform

30: 흡입기/이송 모듈 40: 클램프/검사 모듈30: Inhaler / Transport Module 40: Clamp / Inspection Module

50: 전환기/저장 모듈 90: 칩 커패시터50: diverter / storage module 90: chip capacitor

본 고안은 분류 장치(Sorting Apparatus)에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 칩 커패시터의 고압(High voltages) 검사용 분류 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a sorting device (Sorting Apparatus), and more particularly to a sorting device for testing the high voltage (chip) of the chip capacitor.

칩 커패시터는 중요한 전자소자이며, 제조 후에는 정상적으로 기능을 하는지 확인하기 위한 고압 검사를 거쳐 분류될 것이다.Chip capacitors are important electronic devices, and after fabrication, they will be categorized through high voltage tests to verify that they function normally.

종래의 분류 장치에서, 공급장치는 단일의 칩 커패시터를 선택하여 검사를 수행하는 검사장치로 보내고, 검사장치에서의 검사결과에 따라, 전환장치는 적합한 칩 커패시터와 부적합한 칩 커패시터를 다른 용기 안으로 분리한다. 이와 같이 적합한 칩 커패시터를 분류하게 된다.In a conventional sorting device, the supply unit selects a single chip capacitor and sends it to a test device which performs the inspection, and depending on the test result of the test device, the switching device separates the appropriate chip capacitor and the unsuitable chip capacitor into another container. . This classifies suitable chip capacitors.

이러한 종래의 분류 장치는 하나의 칩 커패시터를 각각 검사하고 분류할 수 있을 뿐이므로, 느린 분류 속도 때문에 종래의 분류 장치는 비효율적이며 사용자의 요구에 부응하기 어려운 문제점이 있었다.Since the conventional sorting apparatus can only inspect and classify one chip capacitor, respectively, the conventional sorting apparatus is inefficient and difficult to meet the user's demand because of the slow sorting speed.

이에 본 고안은 상기와 같은 종래의 제반 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 본 고안의 목적은 분류효율을 높이고 사용자의 요구에 부응하여 분류 장치의 생산을 촉진할 수 있는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치를 제공하는 데 있다.Therefore, the present invention is proposed to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to improve the classification efficiency and categorize the high voltage inspection of the chip capacitor, which can promote the production of the classification device in response to user demands. To provide a device.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 고안의 일실시예에 의한 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치는, 칩 커패시터를 분류하는데 사용하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치에 있어서, 정렬/위치선정 모듈, 흡입/이송 모듈, 클램프/검사 모듈, 및 전환장치/저장 모듈을 포함하여 이루어짐을 그 기술적 구성상의 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a classification apparatus for high voltage inspection of chip capacitors according to an embodiment of the present invention includes a sorting / positioning module for a high voltage inspection classification apparatus for chip capacitors used to classify chip capacitors. It comprises a suction / transfer module, a clamp / inspection module, and a diverter / storage module.

상기 정렬/위치선정 모듈은 적어도 하나의 칩 커패시터를 특정 방향으로 정렬하여 상기 정렬된 칩 커패시터를 특정 지점으로 이송한다. 상기 흡입/이송 모듈은 상기 칩 커패시터를 흡입하는 적어도 하나의 흡입기와 상기 칩 커패시터를 상기 클램프/검사 모듈로 이송하는 적어도 하나의 이송 장치를 사용한다. 상기 클램프/검사 모듈은 적어도 한 쌍의 클램퍼와 적어도 하나의 구동 장치를 사용하여 상기 칩 커패시터를 파지하여 검사하고 검사결과를 출력한다. 상기 전환 장치 모듈은 상기 검사 결과에 따라 상기 칩 커패시터를 분리하고 다른 용기에 저장한다.The alignment / position module aligns at least one chip capacitor in a specific direction and transfers the aligned chip capacitor to a specific point. The suction / transfer module uses at least one inhaler for sucking the chip capacitor and at least one transfer device for transferring the chip capacitor to the clamp / test module. The clamp / inspection module grips and inspects the chip capacitor using at least one pair of clampers and at least one driving device and outputs a test result. The switching device module separates the chip capacitor according to the test result and stores it in another container.

이하, 상기와 같은 본 고안, 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치의 기술적 사상에 따른 목적, 특징, 및 효과를 명확히 하기 위하여 본 고안의 일실시예를 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings so as to clarify the purpose, features, and effects of the present invention as described above, the technical idea of a high voltage test classification device for chip capacitors.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 고안의 칩 커패시터(90)의 고압 검사용 분류 장치는 공급장치 모듈(10), 정렬/위치선정 모듈(20), 흡입기/이송 모듈(30), 클램 프/검사 모듈(40), 및 전환기/저장 모듈(50)을 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 1, the classification device for high pressure inspection of the chip capacitor 90 of the present invention includes a supply module 10, an alignment / positioning module 20, an inhaler / transfer module 30, and a clamp / Inspection module 40, and diverter / storage module 50.

도 2에 도시된 바와 같이, 상기 공급기 모듈(10)은 깔때기 형상의 저장탱크(11), 공급 슈트(12), 및 진동 컨베이어(13)를 구비한다. 상기 저장 탱크(11)의 바닥에는 상기 공급 슈트(12)에 대향하는 개구가 형성되고, 상기 공급 슈트(12)의 단부는 상기 정렬/위치선정 모듈(20)의 상부에 위치된다. 따라서, 상기 진동 컨베이어(13)는 진동 운동을 이용하여 상기 칩 커패시터(90)를 상기 저장탱크(11)로부터 이송하여 상기 공급 슈트(12)를 통하여 상기 정렬/위치선정 모듈(20)로 떨어뜨린다. 상기 공급 슈트(12)의 단부(121)는 상기 공급슈트(12)에 대한 경사각을 가짐으로써 상기 칩 커패시터(90)는 상기 정렬/위치선정 모듈(20) 위로 균일하게 떨어질 수 있다. 너무 많은 칩 커패시터(90)가 상기 정렬/위치선정 모듈(20) 위로 쌓이는 것을 방지하기 위하여, 상기 공급 슈트(12) 위와 상기 정렬/위치선정 모듈(20) 상부에 검출기(14)가 설치되며, 상기 진동 컨베이어(13) 상기 정렬/위치선정 모듈(20) 상의 상기 칩 커패시터(90)가 미리 설정된 높이까지 쌓일 때 자동적으로 정지된다.As shown in FIG. 2, the feeder module 10 includes a funnel-shaped storage tank 11, a feed chute 12, and a vibration conveyor 13. An opening is formed in the bottom of the storage tank 11 opposite the feed chute 12, and an end of the feed chute 12 is located above the alignment / positioning module 20. Thus, the vibration conveyor 13 transfers the chip capacitor 90 from the storage tank 11 using the vibration motion and drops it to the alignment / positioning module 20 through the supply chute 12. . The end 121 of the supply chute 12 has an inclination angle with respect to the supply chute 12 such that the chip capacitor 90 may fall uniformly above the alignment / positioning module 20. In order to prevent too many chip capacitors 90 from stacking up above the alignment / positioning module 20, a detector 14 is installed above the supply chute 12 and above the alignment / positioning module 20, The vibration conveyor 13 automatically stops when the chip capacitor 90 on the alignment / position module 20 is stacked up to a predetermined height.

도 3에 도시된 바와 같이, 상기 정렬/위치선정 모듈(20)은 적어도 하나의 칩 커패시터(90)를 특정 방향으로 정렬하고 이를 특정 지점으로 보낸다. 상기 정렬/위치선정 모듈(20)은 진동 컨베이어(21), 정렬 플랫폼(22), 및 덮개(23)를 추가로 구비한다. 상기 정렬 플랫폼(22)은 상기 진동 컨베이어(21) 상부에 설치되고, 그 표면에 적어도 하나의 정렬홈(221)을 가진다. 상기 진동 컨베이어(21)의 진동 운동은 상기 칩 커패시터(90)가 상기 정렬홈(221) 안으로 떨어지게 하고, 이에 의해 특정 방향으로 정렬된다. 상기 덮개(23)는 상기 정렬 플랫폼(22)의 상부에 설치되고 상기 정렬 플랫폼(22)을 덮지만 상기 정렬 플랫폼(22)의 일측(222)을 노출시킨다. 상기 덮개(23)와 상기 정렬 플랫폼(22) 사이의 간격은 상기 정렬홈(221)을 따라 진동에 의해 이동하는 하나의 칩 커패시터(90)가 통과하여 상기 정렬 플랫폼(22)의 상기 일측(222)으로 활주하기 충분하며, 상기에서 언급한 상기 특정 지점은 바로 상기 정렬 플랫폼(22)의 상기 일측(222)이다. 조정 가능한 저지 플레이트(24)는 상기 정렬 플랫폼(22) 상부에 더 설치될 수 있으며 나사(241)에 의해 상기 덮개(23)에 고정된다. 상기 칩 커패시터(90)의 단면은 사각형이면, 상기 칩 커패시터(90)는 상기 조정 가능한 저지 플레이트(24)와 상기 정렬 플랫폼(22) 사이의 상기 간격을 조정함으로써 상기 정렬 플랫폼(22)과 접촉되는 상기 사각형의 긴 면을 가질 때에만 상기 덮개(23) 안으로 들어갈 수 있다. 이로 인하여, 상기 정렬 플랫폼(22)의 정렬 효율은 개선된다.As shown in FIG. 3, the alignment / position module 20 aligns at least one chip capacitor 90 in a particular direction and sends it to a specific point. The alignment / positioning module 20 further comprises a vibration conveyor 21, an alignment platform 22, and a lid 23. The alignment platform 22 is installed above the vibration conveyor 21 and has at least one alignment groove 221 on the surface thereof. Vibration movement of the vibration conveyor 21 causes the chip capacitor 90 to fall into the alignment groove 221, thereby aligning in a specific direction. The cover 23 is installed on top of the alignment platform 22 and covers the alignment platform 22 but exposes one side 222 of the alignment platform 22. The gap between the cover 23 and the alignment platform 22 passes through one chip capacitor 90 moving by vibration along the alignment groove 221 so that the one side 222 of the alignment platform 22 passes. Is sufficient to slide, and the specific point mentioned above is the one side 222 of the alignment platform 22. An adjustable jersey plate 24 may be further installed on top of the alignment platform 22 and secured to the cover 23 by screws 241. If the cross section of the chip capacitor 90 is square, the chip capacitor 90 is in contact with the alignment platform 22 by adjusting the gap between the adjustable resistant plate 24 and the alignment platform 22. It can only enter the lid 23 when it has the long side of the rectangle. By this, the alignment efficiency of the alignment platform 22 is improved.

도 4에 도시된 바와 같이, 상기 흡입기/이송 모듈(30)은 적어도 하나의 흡입기(31)와 적어도 하나의 이송 장치(32)를 구비한다. 상기 흡입기(31)의 양은 상기 정렬홈(221)의 양과 같고, 본 실시예에서는 8개의 흡입기(31)가 사용되었지만 상기 흡입기(31)의 숫자는 본 고안에서 8개로 한정하는 것은 아니다. 상기 흡입기(31)는 상기 이송 장치(32) 상에 설치되며 진공 발생기(도시하지 않음)에 연결되고, 상기 칩 커패시터(90)가 상기 흡입기(31)에 의해 흡입되었는 지를 검출하는 데 이용되는 압력 검출기(33)는 상기 흡입기(31)와 상기 진공 발생기 사이에 설치된다. 상기 이송 장치(32)는 횡방향 활주 레일(321)과 종방향 활주 레일(322)을 따라 수평 및 수 직으로 이동할 수 있다.As shown in FIG. 4, the inhaler / transport module 30 has at least one inhaler 31 and at least one transport device 32. The amount of the inhaler 31 is equal to the amount of the alignment groove 221, and eight inhalers 31 are used in this embodiment, but the number of the inhalers 31 is not limited to eight in the present invention. The inhaler 31 is mounted on the transfer device 32 and connected to a vacuum generator (not shown), and a pressure used to detect whether the chip capacitor 90 has been sucked by the inhaler 31. The detector 33 is installed between the inhaler 31 and the vacuum generator. The conveying device 32 can move horizontally and vertically along the transverse slide rail 321 and the longitudinal slide rail 322.

도 5에 도시된 바와 같이, 상기 칩 커패시터(90)가 상기 정렬홈(221)을 따라 진동에 의해 상기 정렬 플랫폼(22)의 상기 일측(222)으로 이동될 때, 상기 이송 장치(32)는 상기 칩 커패시터(90)와 접촉하여 이를 흡입하는 상기 흡입기(31)를 이동시킬 것이며, 상기 압력 검출기(33)는 상기 흡입기(31)가 상기 칩 커패시터(33)를 흡입하였는지 검출할 것이다. 본 고안은 차폐 플레이트(60)를 추가로 구비할 수 있다. 상기 칩 커패시터(90)가 상기 특정 지점에 머물고 있을 때, 상기 차폐 플레이트(60)가 상기 칩 커패시터(90)를 덮으며, 상기 흡입기(31)가 상기 칩 커패시터(90)를 흡입하고자 할 때, 상기 차폐 플레이트(60)는 상기 칩 커패시터(90)를 노출시키도록 이송할 것이다. 이렇게 함으로써, 상기 칩 커패시터(90)는 상기 정렬 플랫폼(22)으로부터 쉽게 떨어지지 않는다.As shown in FIG. 5, when the chip capacitor 90 is moved to the one side 222 of the alignment platform 22 by vibration along the alignment groove 221, the transfer device 32 It will move the inhaler 31 in contact with and inhale the chip capacitor 90, and the pressure detector 33 will detect whether the inhaler 31 has sucked the chip capacitor 33. The present invention may further include a shielding plate 60. When the chip capacitor 90 is staying at the specific point, when the shielding plate 60 covers the chip capacitor 90, the inhaler 31 is trying to suck the chip capacitor 90, The shield plate 60 will transfer to expose the chip capacitor 90. By doing so, the chip capacitor 90 is not easily separated from the alignment platform 22.

도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 클램프/검사 모듈(40) 적어도 한 쌍의 클램퍼(41)를 구비하며, 상기 클램퍼(41)의 쌍의 숫자는 상기 흡입기(31)의 숫자와 같다. 상기 클램퍼(41)는 고압 검사 장비(도시하지 않음)와 결합되어 상기 구동 장치(42)의 양측에 개별적으로 설치된다. 상기 흡입기(31)는 상기 특정 지점에서 상기 칩 커패시터(90)를 흡입한다. 다음으로, 상기 이송 장치(32)는 상기 칩 커패시터(90)를 상기 클램프/검사 모듈(40)로 이송한다. 그리고, 다음으로, 상기 구동 장치(42)는 상기 칩 커패시터(90)를 파지하도록 상기 클램퍼(41)의 쌍들을 이동시키고, 상기 검사 장비는 상기 칩 커패시터(90)를 검사하여 검사 결과를 출력한다.As shown in FIGS. 6 and 7, the clamp / inspection module 40 has at least one pair of clampers 41, the number of pairs of clampers 41 being equal to the number of the inhalers 31. . The clamper 41 is coupled to the high pressure test equipment (not shown) and installed separately at both sides of the drive device 42. The inhaler 31 sucks the chip capacitor 90 at the particular point. Next, the transfer device 32 transfers the chip capacitor 90 to the clamp / check module 40. Then, the driving device 42 moves the pairs of the clampers 41 to hold the chip capacitor 90, and the test equipment inspects the chip capacitor 90 and outputs a test result. .

도 8에 도시된 바와 같이, 상기 전환기/저장 모듈(50)은 2개의 용기(51)를 구비하며 적어도 하나의 전환기 장치(52)를 구비하며, 상기 전환기 장치(52)의 숫자는 상기 클램퍼(41)의 쌍들의 숫자와 동일하다. 상기 전환기 장치(52)는 상기 클램퍼(41)의 쌍들 아래에 설치된다. 상기 검사가 완료되면, 상기 칩 커패시터(90)는 상기 전환기 장치(52) 안으로 낙하하게 되어, 상기 전환기 장치(52)는 상기 검사 결과 각각에 따라 상기 칩 커패시터(90)를 수용할 상기 용기(51) 중 하나를 선택할 것이다. 따라서, 상기 칩 커패시터(90)가 분류된다.As shown in FIG. 8, the diverter / storage module 50 has two containers 51 and at least one diverter device 52, the number of the diverter devices 52 being the clamper ( Is equal to the number of pairs of 41). The diverter device 52 is installed under the pair of clampers 41. When the test is completed, the chip capacitor 90 falls into the switch device 52 so that the switch device 52 receives the container 51 to receive the chip capacitor 90 according to each of the test results. Will choose one. Thus, the chip capacitor 90 is classified.

상기 전환기 장치(52)는 활주 슈트(521), 푸시 로드(522), 복원 스프링(523), 및 각각 입구(53)를 가지는 2개의 용기(51)를 추가로 포함한다. 상기 활주 슈트(521)는 수납 개구(521a) 및 바닥 개구(521b)를 가진다. 상기 푸시 로드(522) 및 상기 복원 스프링(523)은 상기 2개의 용기(51) 상부 및 정상 위치 및 가능 위치 사이에서 수평으로 움직이도록 상기 활주 슈트(521)를 구동한다. 상기 바닥 개구(521b)는 상기 활주 슈트(521)는 상기 정상 위치 또는 상기 가능 위치에 있을 때 2개의 입구(53) 중 하나에 정확하게 정렬될 것이다. 상기 수납 개구(521a)는 상기 활주 슈트(521)가 상기 정상 위치 또는 상기 가능 위치에 있는지 간에 상기 클램퍼(41)로부터 낙하하는 상기 칩 커패시터(90)를 항상 수용할 수 있다. 상기 전환기 장치(52)는 또한 상기 활주 슈트(521)가 상기 가능 위치에 있는지를 검출하고, 상기 전환기 장치(52)가 정상적으로 작동하는지를 결정하는데 사용되는 센서(524)를 구비한다. 본 실시예에서는, 상기 칩 커패시터(90)가 검사될 때, 상기 푸시 로드(522)는 상기 활주 슈트(521)를 상기 가능 위치로 밀어 상기 적합한 칩 커패시터 (90)는 좌측의 용기(51) 안으로 수집되고, 한편, 상기 센서(524)는 상기 활주 슈트(521)가 상기 가능 위치에 있는지를 검출하고 상기 전환기 장치(52)가 정상적으로 작동하는지 결정한다. 상기 칩 커패시터(9O)가 상기 검사를 통과하지 않거나 상기 칩 커패시터(90)가 상기 검사 전에 알려지지 않은 이유로 인하여 낙하될 때, 상기 활주 슈트(521)는 상기 정상 위치에 머물게 되며, 상기 칩 커패시터(90)는 추가적인 검사를 위해 우측의 용기(51) 안으로 수집될 것이다. 따라서, 상기 좌측 용기(51) 안에 수집된 모든 칩 커패시터(90)는 실제 적합한 칩 커패시터가 된다.The diverter device 52 further comprises a slide chute 521, a push rod 522, a restoring spring 523, and two vessels 51 each having an inlet 53. The slide chute 521 has a receiving opening 521a and a bottom opening 521b. The push rod 522 and the restoring spring 523 drive the slide chute 521 to move horizontally between the two vessels 51 top and between the normal and possible positions. The bottom opening 521b will be correctly aligned with one of the two inlets 53 when the slide chute 521 is in the normal position or the possible position. The receiving opening 521a can always accommodate the chip capacitor 90 falling from the clamper 41 whether the slide chute 521 is in the normal position or the possible position. The diverter device 52 also has a sensor 524 used to detect whether the slide chute 521 is in the possible position and to determine whether the diverter device 52 is operating normally. In this embodiment, when the chip capacitor 90 is inspected, the push rod 522 pushes the slide chute 521 to the possible position so that the suitable chip capacitor 90 is inserted into the container 51 on the left side. On the other hand, the sensor 524 detects whether the slide chute 521 is in the possible position and determines whether the diverter device 52 is operating normally. When the chip capacitor 90 does not pass the test or the chip capacitor 90 drops for an unknown reason before the test, the slide chute 521 remains in the normal position and the chip capacitor 90 ) Will be collected into the container 51 on the right for further inspection. Thus, all chip capacitors 90 collected in the left vessel 51 are actually suitable chip capacitors.

이상에서 본 고안의 바람직한 실시예에 한정하여 설명하였으나, 본 고안은 이에 한정되지 않고 다양한 변화와 변경 및 균등물을 사용할 수 있다. 따라서 본 고안은 상기 실시예를 적절히 변형하여 응용할 수 있고, 이러한 응용도 하기 실용신안등록청구범위에 기재된 기술적 사상을 바탕으로 하는 한 본 고안의 권리범위에 속하게 됨은 당연하다 할 것이다.As described above, the present invention is limited to the preferred embodiment, but the present invention is not limited thereto, and various changes, modifications, and equivalents may be used. Therefore, the present invention can be applied by appropriately modifying the above embodiment, and such application will be within the scope of the right of the present invention as long as it is based on the technical idea described in the utility model registration claims below.

상술한 바와 같이, 본 고안은 여러 개의 칩 커패시터를 동시에 검사할 수 있으며, 나아가, 상기 클램프/검사 모듈이 상기 칩 커패시터를 검사하고 있을 때, 상기 흡입기/이송 모듈은 검사를 위해 준비된 다음의 칩 커패시터를 흡입할 수 있어, 결국, 분류 속도는 증가하여 그 분류 효율 또한 촉진되어 사용자의 요구를 만족시킬 수 있는 효과가 있다.As described above, the present invention can test several chip capacitors simultaneously, and furthermore, when the clamp / test module is checking the chip capacitor, the aspirator / transfer module is the next chip capacitor prepared for the test. As a result, the sorting speed is increased, so that the sorting efficiency is also promoted, thereby satisfying the user's demand.

Claims (11)

칩 커패시터를 분류하는데 사용되는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치에 있어서,In the sorting apparatus for high voltage inspection of chip capacitors used to classify chip capacitors, 적어도 하나의 칩 커패시터를 특정 방향으로 정렬하며, 정렬된 상기 칩 커패시터를 특정 지점으로 보내는 정렬/위치선정 모듈과;An alignment / positioning module for aligning at least one chip capacitor in a specific direction and sending the aligned chip capacitors to a specific point; 적어도 하나의 흡입기와 적어도 하나의 이송 장치를 구비하며, 상기 흡입기는 상기 이송 장치 상에 각각 설치되고 진공 발생기에 연결되며, 상기 정렬/위치선정 모듈에 의해 특정 지점으로 보내진 상기 칩 커패시터를 흡입하고 이송하는 흡입기/이송 모듈과;At least one inhaler and at least one conveying device, each of which is installed on the conveying device and connected to a vacuum generator, and sucks and conveys the chip capacitors sent to a specific point by the alignment / positioning module An inhaler / feed module; 구동 장치의 양측에 각각 독립적으로 설치되며 고압 검사 장비와 결합하는 적어도 한 쌍의 클램퍼를 포함하며, 상기 흡입기는 상기 특정 지점으로부터 상기 칩 커패시터를 흡입하고, 다음으로 상기 이송 장치는 상기 칩 커패시터를 클램프/검사 모듈로 이송하고, 그 다음으로, 상기 구동 장치는 상기 클램퍼의 쌍이 상기 칩 커패시터를 파지하도록 이송하여, 상기 검사 장비는 상기 칩 커패시터를 검사하여 그 검사 결과를 출력하는 클램프/검사 모듈; 및At least two pairs of clampers, each independently installed on both sides of the drive device, coupled with the high pressure inspection equipment, the inhaler sucks the chip capacitors from the specific point, and then the transfer device clamps the chip capacitors. Transfer to the inspection module, and then the driving device transfers the pair of clampers to grip the chip capacitor, and the inspection equipment inspects the chip capacitor and outputs the inspection result; And 2개의 용기와 상기 클램퍼의 쌍 아래에 설치되는 적어도 하나의 전환기 장치를 구비하며, 상기 클램프/검사 모듈에 의해 검사가 완료될 때, 상기 칩 커패시터가 상기 전환기 장치 안으로 떨어지고, 상기 전환기 장치는 상기 칩 커패시터의 각각의 검사 결과에 따라 상기 칩 커패시터를 수용할 상기 용기 중 하나를 선택하여 상기 칩 커패시터가 분류되는 전환기/저장 모듈;을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.At least one diverter device installed below the pair of vessels and the clamper, when the inspection is completed by the clamp / inspection module, the chip capacitor falls into the diverter device, and the diverter device is And a switcher / storage module in which the chip capacitor is sorted by selecting one of the containers for accommodating the chip capacitor according to each test result of the capacitor. 청구항 1에 있어서, 상기 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치는,The method of claim 1, wherein the classification device for high voltage inspection of the chip capacitor, 공급기 모듈을 추가로 포함하여 구성되며, 상기 공급기 모듈은,It further comprises a feeder module, wherein the feeder module, 깔때기 형상의 저장 탱크, 공급 슈트, 및 진동 컨베이어를 포함하고,A funnel-shaped storage tank, a feed chute, and a vibrating conveyor, 상기 저장 탱크의 바닥에는 상기 공급 슈트에 대향하는 개구가 형성되고, 상기 공급 슈트는 상기 진동 컨베이어의 상부에 설치되며, 상기 공급 슈트의 단부는 상기 정렬/위치선정 모듈의 상부에 위치되며, 상기 진동 컨베이어는 진동 운동을 이용하여 상기 칩 커패시터를 상기 저장 탱크로부터 이송하여 상기 공급 슈트를 통하여 상기 정렬/위치선정 모듈로 낙하시키는 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.An opening is formed in the bottom of the storage tank opposite the supply chute, the supply chute is installed on top of the vibration conveyor, the end of the supply chute is located on top of the alignment / positioning module, and the vibration The conveyor transfers the chip capacitor from the storage tank using a vibration movement to drop the chip capacitor to the alignment / positioning module through the supply chute characterized in that the sorting device for high-voltage inspection of the chip capacitor. 청구항 2에 있어서, 상기 공급 슈트의 상기 단부는,The method of claim 2, wherein the end of the supply chute, 상기 공급 슈트에 대하여 경사각을 가지는 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.And a tilt angle with respect to the supply chute. 청구항 2에 있어서, 상기 공급 슈트는,The method of claim 2, wherein the supply chute, 상기 정렬/위치선정 모듈 상부에 위치되는 검출기를 구비하는 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.And a detector positioned above the alignment / positioning module. 청구항 1에 있어서, 상기 정렬/위치 선정 모듈은,The method according to claim 1, wherein the alignment / positioning module, 진동 컨베이어, 정렬 플랫폼, 및 덮개를 추가로 구비하며,Further comprising a vibrating conveyor, alignment platform, and cover, 상기 정렬 플랫폼은 상기 진동 컨베이어 상부에 설치되고 적어도 하나의 정렬홈을 가지며, 상기 진동 컨베이어의 진동 운동에 의해 상기 칩 커패시터는 상기 정렬홈 안으로 떨어지고 상기 특정 방향으로 정렬되고, 상기 덮개는 상기 정렬 플랫폼 상부에 설치되어 상기 정렬 플랫폼을 덮지만 상기 정렬 플랫폼의 일측을 노출시키고, 상기 덮개와 상기 정렬 플랫폼 사이의 간격은 상기 정렬홈을 따라 진동에 의해 이동되는 단일의 상기 칩 커패시터가 통과하여 상기 정렬 플랫폼의 일측으로 활주되기에 충분하도록 구성하며, 상기 특정 지점은 정확하게 상기 정렬 플랫폼의 일측인 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.The alignment platform is installed on the vibration conveyor and has at least one alignment groove, and the chip capacitor falls into the alignment groove and is aligned in the specific direction by vibrating movement of the vibration conveyor, and the cover is on the alignment platform. Installed on the cover to expose the alignment platform but exposing one side of the alignment platform, and a gap between the cover and the alignment platform is passed through a single chip capacitor which is moved by vibration along the alignment groove of the alignment platform. And configured to be sufficient to slide to one side, and the specific point is exactly one side of the alignment platform. 청구항 5에 있어서, 상기 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치는,The method of claim 5, wherein the classification device for high voltage inspection of the chip capacitor, 차폐 플레이트를 추가로 포함하여 구성되며,It further comprises a shielding plate, 상기 칩 커패시터가 상기 특정 지점에 머물고 있을 때, 상기 차폐 플레이트는 상기 칩 커패시터를 덮으며, 상기 흡입기가 상기 칩 커패시터를 흡입하고자 할 때 상기 차폐 플레이트는 상기 칩 커패시터를 노출시키도록 이동하는 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.The shielding plate covers the chip capacitor when the chip capacitor stays at the specific point, and the shielding plate moves to expose the chip capacitor when the inhaler attempts to suck the chip capacitor. Classification device for high voltage inspection of chip capacitors. 청구항 5에 있어서, 상기 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치는,The method of claim 5, wherein the classification device for high voltage inspection of the chip capacitor, 조정 가능한 저지 플레이트가 상기 정렬 플랫폼의 상부에 설치되고 나사에 의해 상기 덮개에 고정되며, 상기 조정 가능한 저지 플레이트는 상기 정렬 플랫폼과 상기 조정 가능한 조지 플레이트 사이의 상기 칩 커패시터용 통과 간격을 조정하는데 사용되는 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.An adjustable jersey plate is installed on top of the alignment platform and secured to the cover by screws, the adjustable jersey plate being used to adjust the pass gap for the chip capacitor between the alignment platform and the adjustable george plate. Classification device for high voltage inspection of chip capacitors, characterized in that. 청구항 1에 있어서, 상기 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치는,The method of claim 1, wherein the classification device for high voltage inspection of the chip capacitor, 압력 검출기가 상기 흡입기와 상기 진공 발생기 사이에 설치되며, 상기 흡입기가 상기 칩 커패시터를 흡입하였는지를 검출하도록 사용되는 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.A pressure detector is provided between the inhaler and the vacuum generator, and is used to detect whether the inhaler has sucked the chip capacitor. 청구항 1에 있어서, 상기 이송 장치는,The method according to claim 1, The transfer device, 횡방향 활주 레일과 종방향 활주 레일을 구비하며, 상기 횡방향 활주 레일과 상기 종방향 활주 레일을 따라 수평 및 수직으로 이동될 수 있는 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.And a transverse slide rail and a longitudinal slide rail, the sorting apparatus for the high-voltage inspection of the chip capacitor, characterized in that it can be moved horizontally and vertically along the transverse slide rail and the longitudinal slide rail. 청구항 1에 있어서, 상기 전환기 장치는,The method according to claim 1, wherein the converter device, 활주 슈트, 푸시 로드, 및 복원 스프링을 추가로 포함하고,Additionally includes a slide chute, a push rod, and a restoring spring, 상기 2개의 용기는 각각 입구를 구비하며, 상기 활주 슈트는 수납 개구와 바닥 개구를 구비하며, 상기 푸시 로드 및 상기 복원 스프링은 상기 2개의 용기 상부에서 정상 위치와 가능 위치 사이를 수평으로 이동하도록 구동할 수 있으며, 상기 바닥 개구는 상기 활주 슈트가 상기 정상 위치 또는 상기 가능 위치에 있을 때 상기 2개의 입구 중 하나에 정확하게 정렬되며, 상기 수납 개구는 상기 활주 슈트가 상기 정상 위치 또는 상기 가능 위치에 있든지 상관 없이 상기 클램퍼의 쌍들로부터 떨어지는 상기 칩 커패시터를 항상 수납할 수 있는 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.The two vessels each have an inlet, the slide chute has a receiving opening and a bottom opening, and the push rod and the restoring spring are driven to move horizontally between a normal position and a possible position on top of the two vessels. Wherein the bottom opening is precisely aligned with one of the two inlets when the slide chute is in the normal position or in the possible position, and the receiving opening is in which the slide chute is in the normal position or in the possible position. The sorting apparatus for the high voltage inspection of the chip capacitor, characterized in that it can always accommodate the chip capacitor falling from the pair of the clamper. 청구항 10에 있어서, 상기 전환기 장치는,The method according to claim 10, wherein the converter device, 센서를 추가로 구비하여 구성되고,Is configured with an additional sensor, 상기 센서는 상기 활주 슈트가 상기 가능 위치에 있는지 검출하도록 사용되는 것을 특징으로 하는 칩 커패시터의 고압 검사용 분류 장치.And the sensor is used to detect whether the slide chute is in the possible position.
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